JP6553128B2

JP6553128B2 - 端末試験装置

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Publication number: JP6553128B2
Application number: JP2017128671A
Authority: JP
Inventors: 上田　真; 真上田; 豊弘栢沼; 健吾内原
Original assignee: Anritsu Corp
Current assignee: Anritsu Corp
Priority date: 2017-06-30
Filing date: 2017-06-30
Publication date: 2019-07-31
Anticipated expiration: 2037-06-30
Also published as: JP2019012932A

Description

本発明は、端末の試験を行なう端末試験装置に関する。

昨今、電子機器、チップ、センサーなどあらゆるモノをインターネットなどの通信網に接続し、情報交換を促すことによりモノを相互に制御する「モノのインターネット」、いわゆるＩｏＴ（Internet of Things）実現に向けての動きが活発化している。このような動きを受け、３ＧＰＰ（Third Generation Partnership Project）では、第３世代移動体通信規格（３Ｇ）を更に高速化させたいわゆるＬＴＥ（Long Term Evolution）をベースに、ＩｏＴ向けに特化した要素技術、ネットワーク技術等の拡張を検討している。特許文献１は、そのような仕様に対応した端末試験装置を開示している。

各種のＩｏＴサービスを対象とした端末（ＵＥ；User Equipment）について、様々な団体で検討がされている。ＬＴＥにおいては、そのリリース１２から引き続いて、リリース１３において、さらなる低価格化、カバレッジの拡張などを実現すべく、２つのＵＥカテゴリがサポートされている。一つはカテゴリＭ１、もう一つはＮＢ（Narrow Band）−ＩｏＴカテゴリである。特にＮＢ−ＩｏＴは狭帯域化により、さらなる低価格化を実現することが期待されている（非特許文献１、２）。

特開２０１７−６９９０５号公報

ＥＴＳＩＴＳ１３６１０１Ｖ１３．５．０（２０１６−１２）、http://www.etsi.org/deliver/etsi_ts/136100_136199/136101/13.05.00_60/ts_136101v130500p.pdf LTE Release 13におけるＩｏＴを実現する新技術、ＮＴＴドコモテクニカルジャーナル、Vol.24、No.2、https://www.nttdocomo.co.jp/binary/pdf/corporate/technology/rd/technical_journal/bn/vol24_2/vol24_2_009jp.pdf

ＮＢ−ＩｏＴでは、ＬＴＥのバンド周波数内等での運用形態が提案されている。このようなＮＢ−ＩｏＴ端末との通信状態を試験する端末試験においては、予め、ＮＢ−ＩｏＴ端末が使用する周波数帯域を適正なもの、すなわち通常のＬＴＥバンドとの干渉を抑制したものを選択する必要がある。このような選択は、試験装置のユーザ（利用者、試験者等）の試行錯誤により行われており、より円滑な選択方法が求められている。

本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであって、ＮＢ−ＩｏＴ端末の端末試験において、試験装置のユーザの利便性を向上させる端末試験装置を提供する。

本発明は、端末との間で通信を行い、当該端末の試験を行う端末試験装置であって、当該端末試験装置は、制御部と表示部を備え、前記制御部は、試験に用いるＬＴＥ周波数帯内において、ＮＢ−ＩｏＴに利用可能なＮＢ−ＩｏＴ周波数帯を決定し、前記表示部は、前記ＮＢ−ＩｏＴ周波数帯に対応した識別情報を表示し、前記識別情報は、前記ＮＢ−ＩｏＴ周波数帯に割り付けられたインデックスを含む。
また、本発明は、端末との間で通信を行い、当該端末の試験を行う端末試験装置であって、当該端末試験装置は、制御部と表示部を備え、前記制御部は、試験に用いるＬＴＥ周波数帯内において、ＮＢ−ＩｏＴに利用可能なＮＢ−ＩｏＴ周波数帯を決定し、前記表示部は、前記ＮＢ−ＩｏＴ周波数帯に対応した識別情報を表示し、前記識別情報は、前記ＬＴＥ周波数帯の中心周波数であるＬＴＥ中心周波数と、前記ＮＢ−ＩｏＴ周波数帯のＮＢ−ＩｏＴ中心周波数との差分である差分周波数を含む。
また、本発明は、端末との間で通信を行い、当該端末の試験を行う端末試験装置であって、当該端末試験装置は、制御部と表示部を備え、前記制御部は、試験に用いるＬＴＥ周波数帯内において、ＮＢ−ＩｏＴに利用可能なＮＢ−ＩｏＴ周波数帯を決定し、前記表示部は、前記ＮＢ−ＩｏＴ周波数帯に対応した識別情報を表示し、ＥＡＲＦＣＮにより、１００ｋＨｚ単位の周波数が決定され、前記識別情報は、前記１００ｋＨｚ単位の周波数に対する、前記ＮＢ−ＩｏＴ周波数帯のＮＢ−ＩｏＴ中心周波数のオフセットであるラスタオフセットを含む。

本発明によれば、端末の試験にあたって適切なＮＢ−ＩｏＴ周波数帯があらかじめ通知されるため、ユーザにとっての利便性が向上する。

図１は、本発明の一実施形態に係る端末試験装置の概念ブロック図である。図２は、ＮＢ−ＩｏＴの三つの動作モードの概念を示す概念図であり、（ａ）はスタンドアローン型、（ｂ）はＬＴＥインバンド型、（ｃ）はガードバンド型。図３は、実施形態の端末試験装置によるＮＢ−ＩｏＴ周波数帯を決定するプロセスを示す概念図である。図４は、従来の手法によるＮＢ−ＩｏＴ周波数帯を決定するプロセスを示す概念図である。

以下、図面を参照して、本発明の実施形態に係る端末試験装置について詳細に説明する。

図１において、本発明の一実施形態に係る端末試験装置１は、例えばＬＴＥ規格に対応しており、擬似基地局として同軸ケーブル等の有線で、端末２と無線信号を送受信するようになっている。なお、端末試験装置１は、アンテナを介して無線で端末２と信号を送受信するようにしてもよい。

端末試験装置１は、無線信号処理部１０と、無線ハードウェア制御部１１と、コールプロセッシング部１２と、無線信号測定部１３と、ユーザインターフェース部１４と、制御部１５とを含んで構成されている。

無線信号処理部１０は、端末２との間で無線信号を送受信するものである。無線信号処理部１０は、コールプロセッシング部１２及び無線信号測定部１３の送信データを、符号化や、変調、周波数変換などして無線信号を生成して送信する。また、無線信号処理部１０は、端末２から受信した無線信号を、周波数変換や、復調、復号などしてコールプロセッシング部１２及び無線信号測定部１３に出力する。

無線ハードウェア制御部１１は、無線信号処理部１０を制御して、無線信号の送受信レベルや周波数などを制御するものである。

コールプロセッシング部１２は、無線信号処理部１０及び無線ハードウェア制御部１１と接続され、試験条件に応じて設定された周波数や多重化方式などのコンポーネントキャリアのパラメータに従って無線ハードウェア制御部１１に設定信号を送信して、無線信号処理部１０に試験条件に適合した無線信号を送信させる。また、コールプロセッシング部１２は、無線信号処理部１０を介して、端末２との間で無線信号を送受信して、コンポーネントキャリアとしての試験条件に適合した呼接続を端末２との間で行なったり、試験条件に対応したコンポーネントキャリアとしての呼制御を行なったりするものである。また、コールプロセッシング部１２は、設定された多重化方式などのパラメータに従って無線信号処理部１０に設定信号を送信して、無線信号処理部１０に試験条件に適合した無線信号を送信させる。

無線信号測定部１３は、無線信号処理部１０と接続され、無線信号処理部１０の送受信する無線信号の送受信レベルやスループットなどを測定し、測定結果を制御部１５に出力するようになっている。制御部１５は、無線信号測定部１３からの測定結果を時刻情報などと関連付けてハードディスク等に記憶しておき、ユーザの要求によりユーザインターフェース部１４に表示出力させたり、ログとしてファイルに出力したりするようになっている。

ユーザインターフェース部１４は、ユーザからの操作入力を受け付ける入力部１４１と、コンポーネントキャリアのパラメータの設定画面や無線信号測定部１３の測定結果などを表示する表示部１４２とを備えている。入力部１４１は、タッチパッドやキーボードやプッシュボタンなどによって構成される。表示部１４２は、液晶表示装置などによって構成される。

制御部１５は、図示しないＣＰＵ（Central Processing Unit）と、ＲＡＭ（Random Access Memory）と、ＲＯＭ（Read Only Memory）と、ハードディスク装置と、入出力ポートとを備えたコンピュータユニットによって構成されている。

このコンピュータユニットのＲＯＭ及びハードディスク装置には、各種制御定数や各種マップ等とともに、当該コンピュータユニットを制御部１５として機能させるためのプログラムが記憶されている。すなわち、ＣＰＵがＲＯＭ及びハードディスク装置に記憶されたプログラムを実行することにより、当該コンピュータユニットは、制御部１５として機能する。

制御部１５の入出力ポートには、無線ハードウェア制御部１１、コールプロセッシング部１２、無線信号測定部１３、ユーザインターフェース部１４が接続されている。

なお、本実施形態において、無線ハードウェア制御部１１、コールプロセッシング部１２、無線信号測定部１３は、各処理を実行するようにプログラミングされたＤＳＰ（Digital Signal Processor）等のプロセッサによってそれぞれ構成されている。また、無線信号処理部１０は、通信モジュールによって構成されている。

制御部１５は、表示部１４２に表示させたパラメータ設定画面に従って入力部１４１による入力操作により設定されたパラメータに基づいて、無線ハードウェア制御部１１に設定信号を送信して無線信号処理部１０が送受信する無線信号の周波数や多重化方式を制御して、無線信号測定部１３に測定を行なわせる。また、制御部１５は、設定されたパラメータをコールプロセッシング部１２に通知して、設定されたパラメータに適合したコンポーネントキャリアの通信を確立させる。

また、制御部１５は、入力部１４１に入力された指示に従って、無線ハードウェア制御部１１及びコールプロセッシング部１２に信号を送信して、試験用の呼制御などを行なわせるようになっている。

端末２は、端末試験装置１や他の装置と無線通信可能な装置であり、スマートフォンや携帯電話の様な移動する人が携帯する携帯端末や、車両等の移動体に設置された移動端末のみならず、固定端末をも含む。端末２の他の例として、電気メータ、ガスメータ等の各種のスマートメータ、道路、水道等各種のインフラに搭載されるセンサー、チップ等が挙げられるが、その種類や用途は限定されない。通常の利用において、端末２はＬＴＥによりＬＴＥ基地局等と通信するが、端末２の通信動作の試験においては、疑似通信局として動作する端末試験装置１と通信可能である。

昨今、電子機器、チップ、センサーなどあらゆるモノをインターネットなどの通信網に接続し、情報交換を促すことによりモノを相互に制御する「モノのインターネット」、いわゆるＩｏＴ実現に向けての動きが活発化している。このような動きを受け、３ＧＰＰでは、第３世代移動体通信規格（３Ｇ）を更に高速化させたいわゆるＬＴＥをベースに、ＩｏＴ向けに特化した要素技術、ネットワーク技術等の拡張を検討している。

各種のＩｏＴサービスを対象とした端末（ＵＥ）について、様々な団体で検討がされている。本実施形態における端末２は、そのような端末としての利用を意図したものである。そして、ＬＴＥにおいては、そのリリース１２の後継のリリース１３において、さらなる低価格化、カバレッジの拡張などを実現すべく、２つのＵＥカテゴリがサポートされている。一つはカテゴリＭ１、もう一つはＮＢ−ＩｏＴカテゴリである。特にＮＢ−ＩｏＴは狭帯域化により、さらなる低価格化を実現することが期待されている。

以下の主たる三つの動作モードが、ＮＢ−ＩｏＴでは存在する。図２は三つの動作モードの概念を示す概念図であり、横軸が周波数に相当する。図２（ａ）は、ＮＢ−ＩｏＴが利用するリソースの周波数帯であるＮＢ−ＩｏＴ周波数帯ＮＢが、通常のＬＴＥ通信に利用されるＬＴＥ周波数帯ＬＢ及び他の周波数帯との干渉を防ぐガードバンドの周波数帯ＧＢからは別個独立した、専用周波数帯である例を示す。図２（ａ）のモードは、スタンドアローン型と呼ばれるものであり、ＮＢ−ＩｏＴ端末が、通常のＬＴＥ通信とは独立して動作するモードである。

図２（ｂ）は、ＮＢ−ＩｏＴ周波数帯ＮＢが、ＬＴＥ周波数帯ＬＢの一部を利用する例を示す。図２（ｂ）のモードは、ＬＴＥインバンド型と呼ばれるものであり、ＮＢ−ＩｏＴ端末が通常のＬＴＥのリソースの一部を用いて動作するモードである。

図２（ｃ）は、ＮＢ−ＩｏＴ周波数帯ＮＢが、ガードバンドの周波数帯ＧＢを利用する例を示す。図２（ｃ）のモードは、ガードバンド型と呼ばれるものであり、ＮＢ−ＩｏＴ端末がＬＴＥのガードバンドのリソースを用いて動作するモードである。

上述した様に、ＮＢ−ＩｏＴは、特に図２（ｂ）及び図２（ｃ）の場合において、ＬＴＥ周波数帯やガードバンドの周波数帯内での運用形態を提案するものである。この場合、ＮＢ−ＩｏＴのリソースの選択にあたっては、ＬＴＥ周波数帯やガードバンドの周波数帯との干渉を抑制したものを選択する必要があり、端末試験装置１による端末２の試験の際にも、同様な選択が要求される。

より具体的には、図２（ｂ）の場合、設定されたＮＢ−ＩｏＴ周波数帯ＮＢが、ＬＴＥ周波数帯ＬＢにおいて、通常のＬＴＥ通信に利用されているリソースブロック（ＲＢ；Resource Block）以外のリソースブロックに設定される必要がある。また、図２（ｂ）及び図２（ｃ）の場合、設定されたＮＢ−ＩｏＴ周波数帯ＮＢが、ＬＴＥ周波数帯ＬＢ及びガードバンドの周波数帯ＧＢのそれぞれにおいて、一つのリソースブロック内に納められるべきことを意味する。ＬＴＥにおいて、リソースブロックの長さ、すなわちその周波数帯域幅は１８０ｋＨｚに設定されている。

ＮＢ−ＩｏＴ周波数帯をリソースブロック内に納める手法として、ＮＢ−ＩｏＴ周波数帯の基準位置となるＮＢ−ＩｏＴの中心周波数（ＮＢ−ＩｏＴ中心周波数）を適切に設定する手法が存在する。この設定にあたっては、まず、試験や通常の通信で利用対象となるＬＴＥ周波数帯（キャリア）内において、通常のＬＴＥ通信に利用されていない（空の）リソースブロックを選択する。

ここで、ＮＢ−ＩｏＴ中心周波数Ｆ_ＤＬは、以下の式（１）により求められることが知られている（非特許文献１参照）。

Ｆ_ＤＬ＝Ｆ_{ＤＬ＿ＬＯＷ}＋０．１（Ｎ_ＤＬ−Ｎ_{Ｏｆｆｓ−ＤＬ}）＋０．００２５＊（２Ｍ_ＤＬ＋１）
・・・（１）

式（１）の各項は以下の意味である。単位はすべてＭＨｚである。
Ｆ_{ＤＬ＿ＬＯＷ}：周波数バンド毎のＬＴＥ周波数帯に定められた最低周波数
Ｎ_{Ｏｆｆｓ−ＤＬ}：周波数バンド毎のＬＴＥ周波数帯に定められたオフセット周波数
Ｎ_ＤＬ：ＥＡＲＦＣＮ（E-UTRA Absolute radio-frequency channel number；E-UTRA絶対無線周波数チャネル番号）
Ｍ_ＤＬ：ＮＢ−ＩｏＴ用のオフセット

第１項である、Ｆ_{ＤＬ＿ＬＯＷ}＋０．１（Ｎ_ＤＬ−Ｎ_{Ｏｆｆｓ−ＤＬ}）は、利用対象となるＬＴＥ周波数帯の選択、すなわちＬＴＥ中心周波数の選択にあたって、前提となる１００ｋＨｚ毎の区切りである１００ｋＨｚ単位の周波数を定める計算式に相当する。すなわち、この区切りは１００ｋＨｚ単位の周波数、１００＊ｍ（ｋＨｚ）で設定される（ｍは正の整数であり、ｍ＝０，１，２，３・・・）。１００ｋＨｚは、キャリアの中心周波数を決定する際の最小設定単位であるチャネルラスタに相当し、１００ｋＨｚのチャネルラスタの場合、１００ｋＨｚ単位で中心周波数が設定可能となる。尚、Ｆ_{ＤＬ＿ＬＯＷ}＋０．１（Ｎ_ＤＬ−Ｎ_{Ｏｆｆｓ−ＤＬ}）のうち、ＥＡＲＦＣＮであるＮ_ＤＬを選択することにより、Ｆ_{ＤＬ＿ＬＯＷ}、Ｎ_{Ｏｆｆｓ−ＤＬ}は一義的に決定される。

一方、第２項である、０．００２５＊（２Ｍ_ＤＬ＋１）の部分は、上記第１項で設定された１００ｋＨｚ単位の周波数を、１８０ｋＨｚの周波数帯域幅を持つ（ＮＢ−ＩｏＴに利用可能な）リソースブロックに合わせるためのものである。すなわち第２項は、最終的にＮＢ−ＩｏＴ中心周波数をこのリソースブロックの中心周波数に合致させるためにオフセットするものであり、特に第２項のＭ_ＤＬは、第１項の値、選択したＬＴＥ中心周波数、ＬＴＥの帯域幅（図２のＬＢ、ＧＢをあわせたものに相当）に応じて定められる。第１項で設定された１００ｋＨｚ単位の周波数は、最終的に設定されるべきＮＢ−ＩｏＴ中心周波数に最も近いものが選ばれる。Ｍ_ＤＬが実質的なＮＢ−ＩｏＴ用のオフセットに相当する。

従来の試験においては、ユーザが、入力部１４１を通じて、試行錯誤しながら決定したＭ_ＤＬを入力し、通信状態を確認し、得られた結果が適切なＮＢ−ＩｏＴ中心周波数になっているかを判定している。しかしながら、式（１）の第１項の値等により、適切なＭ_ＤＬは決定されるにもかかわらず、ユーザが第１項等を何ら考慮せずに入力するＭ_ＤＬは必ずしも適切なものとは言えず、適切な値からかけ離れた値を入力してしまうことがある。このような値を入力しても当然ながらＮＢ−ＩｏＴ下における通信試験をうまく行うことはできず、ユーザは、再度新しい値Ｍ_ＤＬの値を入力し、再度通信の可否を検証する。このような操作の繰り返しは、時間、コストの浪費を招き、円滑な端末試験の障害となり得る。

そこで本実施形態では、ユーザが試行錯誤しながらオフセット（Ｍ_ＤＬ）を指定するのではなく、端末試験装置１が、利用対象としている一のＬＴＥ周波数帯において、利用可能なＮＢ−ＩｏＴ周波数帯を、所定の識別情報を用いて通知する。ユーザは通知された識別情報を選択しさえすれば、設定誤り、無駄な時間等なしに、適切なＮＢ−ＩｏＴ周波数帯を選択することができる。これにより、ユーザにとっての利便性が大幅に向上する。

以下の表１は、端末試験装置１等が予め保有する表であり、利用可能なＮＢ−ＩｏＴ周波数帯に対応した識別情報を含む。本例では、識別情報には、周波数インデックス、ＬＴＥ中心周波数からの差分周波数、ラスタオフセット（rasteroffset）の三つが含まれる。この表は、端末試験装置１や他の記憶装置に記憶されており、表示部１４２がこの表を表示することもできる。ユーザが、装置に付属した取扱説明書、インターネットを通じた所定のサーバーからのダウンロード等により、この表を参照できる形式であってもよい。

周波数インデックスは、ＮＢ−ＩｏＴ周波数帯に個別に割り付けたインデックス（識別番号）である。周波数インデックスは、例えば、ＬＴＥ周波数帯のリソースブロックに対し、周波数の小さい方から順番に付与したインデックスを用いることがある。一般的には、端末試験装置１を提供する側が周波数インデックスを決め、ユーザがいずれかを選択することになる。ただし、インデックスの付与の方法は特に限定されず、ＮＢ−ＩｏＴ周波数帯を特定できるものであればよい。

ＬＴＥ中心周波数からの差分周波数は、ＬＴＥ中心周波数と、一列目の周波数インデックスが割り当てられたＮＢ−ＩｏＴ周波数帯のＮＢ−ＩｏＴ中心周波数との差分である（ｋＨｚ単位）。

また、試験や通常の通信に用いるＬＴＥ周波数帯（キャリア）とその中心周波数は、ユーザが予め設定しており、そこからＥＡＲＦＣＮは一義的に導かれる。このＥＡＲＦＣＮにより、式（１）の第１項、Ｆ_{ＤＬ＿ＬＯＷ}＋０．１（Ｎ_ＤＬ−Ｎ_{Ｏｆｆｓ−ＤＬ}）を用いて、１００ｋＨｚ単位の周波数が決定される。ラスタオフセットは、この１００ｋＨｚ単位の周波数に対する、ＮＢ−ＩｏＴ周波数帯のＮＢ−ＩｏＴ中心周波数のオフセットである（ｋＨｚ単位）。

識別情報のユーザへの通知にあたって、制御部１５がＬＴＥ周波数帯内において、ＮＢ−ＩｏＴに利用可能なＮＢ−ＩｏＴ周波数帯を決定する。この決定は、従来の手法によって行われる（ＥＴＳＩＴＳ１３６２１３Ｖ１３．３．０（２０１６−１１）の表１６．８−１のラスタオフセット等を利用）。そして、表示部１４２が、この決定を受けて、識別情報として表１の少なくとも一部（基本的には一の周波数インデックスに対応した一行）を表示する。ユーザは表示部１４２に表示された識別情報を、入力部１４１を用いて選択すればよい。

識別情報の表示の方法は特に限定されない。例えば、表示部１４２が表１の全体を表示し、ユーザが選択すべきＮＢ−ＩｏＴ周波数帯のみ（表１の一行）を所定の方法で強調し、ユーザに選択を促すようにしてもよいし、周波数インデックスのみを表示してもよい。また、識別情報は上述のものには限定されず、ユーザが適切なＮＢ−ＩｏＴ周波数帯を選択可能な形式のものであればよい。以下、図面を用いて、識別情報の内容をよりわかりやすく説明する。

図３は、実施形態の端末試験装置１によるＮＢ−ＩｏＴ周波数帯を決定するプロセスを示す概念図である。本例では、試験に用いるＬＴＥ周波数帯ＬＢが、０〜１４の周波数インデックスが付与された１５個のリソースブロックを含むとともに、その両端には、他のＬＴＥ周波数帯との干渉を防止するためのガードバンドの周波数帯ＧＢが付与されている。周波数インデックス７のリソースブロックがＬＴＥ周波数帯ＬＢの中央に位置し、ＬＴＥ中心周波数は、周波数インデックス７のリソースブロックの中央に位置する。なお、ＬＴＥ規格に従って、ＬＴＥ中心周波数が存在する周波数インデックス７のリソースブロックのみに、１５ｋＨｚの使用不可領域（ＤＣサブキャリア）ＤＣが存在する。

端末試験装置１は、ＬＴＥ周波数帯ＬＢの中のいずれか一つであって、利用可能なリソースブロックを、ＮＢ−ＩｏＴのリソース、すなわちＮＢ−ＩｏＴ周波数帯として利用する。本例では、端末試験装置１は、周波数インデックス８のリソースブロックをＮＢ−ＩｏＴ周波数帯として利用する。

ＬＴＥ通信においては、互いに別キャリアである複数のＬＴＥ周波数帯を設定する際、その周波数間隔の設定は、ＥＡＲＦＣＮの概念に則って行われる。具体的には、図３で示したＬＴＥ周波数帯ＬＢの中心周波数であるＬＴＥ中心周波数として所望のものを選択するにあたり、対応するＥＡＲＦＣＮにより、式（１）の第１項、Ｆ_{ＤＬ＿ＬＯＷ}＋０．１（Ｎ_ＤＬ−Ｎ_{Ｏｆｆｓ−ＤＬ}）を用いて、１００ｋＨｚ単位の周波数が決定される。

式（１）の第１項から、キャリアごとのＬＴＥ周波数帯は、ＥＡＲＦＣＮの概念より１００ｋＨｚ単位でずれることが決まっており、本例は、１００ｋＨｚ＊２＝２００ｋＨｚずれた例を示している。

一方、ＮＢ−ＩｏＴ周波数帯の幅は、ＬＴＥ周波数帯のリソースブロックの周波数帯域幅である１８０ｋＨｚと同じであることが規格により定められている。よって、ＮＢ−ＩｏＴ中心周波数と、上述したＮＢ−ＩｏＴに利用可能なリソースブロックの中心周波数を合致させ、ＮＢ−ＩｏＴ周波数帯をＬＴＥ周波数帯のリソースブロックの中に納めて（両者の周波数帯域幅は１８０ｋＨｚで同じ場合、正確には両者を重ね合わせて）、ＮＢ−ＩｏＴ周波数帯とＬＴＥ周波数帯（の他のリソースブロック）との干渉を防止する必要がある。

そこで、式（１）の第２項である、０．００２５＊（２Ｍ_ＤＬ＋１）を用いて、式（１）の第１項により定められた１００ｋＨｚ単位の周波数を、対応するリソースブロックの中心周波数に合致させ、ＮＢ−ＩｏＴ中心周波数にすることが行われる。このプロセスが、上述したラスタオフセットの実行であり、ラスタオフセットは、１００ｋＨｚ単位の周波数に対する、ＮＢ−ＩｏＴ周波数帯のＮＢ−ＩｏＴ中心周波数のオフセットである（ｋＨｚ単位）。本例では、ラスタオフセットは、１００ｋＨｚ＊２−（１８０ｋＨｚ＋７．５ｋＨｚ）＝１２．５ｋＨｚになる。＋７．５ｋＨｚは、ＤＣサブキャリアＤＣの半分の周波数帯域幅に相当し、ＤＣサブキャリアがない場合は不要である。また、１８０ｋＨｚ＋７．５ｋＨｚ＝１８７．５ｋＨｚは、結果的にＬＴＥ中心周波数からの差分周波数となる。

本例は表１の周波数インデックス８に該当し、表示部１４２は、例えばこの部分のみを識別情報として表示する。ユーザは、式（１）の第２項である、１２．５ｋＨｚを計算することなく、単に表示された識別情報を指定しさえすれば、図３に示したようなＮＢ−ＩｏＴ周波数帯を決定するプロセスが実行される。

図４は、従来の手法によるＮＢ−ＩｏＴ周波数帯を決定するプロセスであり、結果的に不適切なＮＢ−ＩｏＴ周波数帯が決定されるプロセスを示す概念図である。ユーザが、入力部１４１を操作して、端末試験装置１に、０．００２５＊（２Ｍ_ＤＬ＋１）またはＭ_ＤＬに相当するオフセットを任意に入力する。本例では、ユーザがオフセット＝４７．５ｋＨｚを任意に設定し、入力した例を示している。

このような不適切な値を入力した結果、適切なＮＢ−ＩｏＴ中心周波数が設定されなくなり、割り当てたＮＢ−ＩｏＴ周波数帯が、別のＬＴＥリソース、本例では周波数インデックス７のリソースブロックに食い込んでしまう。周波数インデックス７のリソースブロックは、通常のＬＴＥ通信に利用中と考えられ、試験にあたって干渉、障害が生じ、円滑な試験が妨げられるおそれがある。再度ユーザは他の値を入力してトライする必要があり、時間、コストが費やされることとなる。

本発明によれば、特にＮＢ−ＩｏＴを利用する端末の試験にあたって、適切なＮＢ−ＩｏＴ周波数帯に相当する識別情報が、あらかじめユーザに対し提示される。ユーザは容易に適切なＮＢ−ＩｏＴ周波数帯を指定することが可能となり、円滑な試験が可能となり、ユーザの利便性を向上させる。

尚、上述した試験を行うための試験プログラムも本発明に含まれる。このような試験プログラムは、端末試験装置１の制御部１５のＲＯＭやハードディスク装置や、他の記憶装置に記憶され、ＣＰＵが読み出して実行する。

以上、図面を参照しながら各種の実施形態について説明したが、本開示はかかる例に限定されないことは言うまでもない。当業者であれば、特許請求の範囲に記載された範疇内において、各種の変更例又は修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本開示の技術的範囲に属するものと了解される。また、開示の趣旨を逸脱しない範囲において、上記実施形態における各構成要素を任意に組み合わせてもよい。

１端末試験装置
２端末
１０無線信号処理部
１１無線ハードウェア制御部
１２コールプロセッシング部
１３無線信号測定部
１４ユーザインターフェース部
１５制御部
１４１入力部
１４２表示部

Claims

端末との間で通信を行い、当該端末の試験を行う端末試験装置であって、当該端末試験装置は、制御部と表示部を備え、
前記制御部は、試験に用いるＬＴＥ周波数帯内において、ＮＢ−ＩｏＴに利用可能なＮＢ−ＩｏＴ周波数帯を決定し、
前記表示部は、前記ＮＢ−ＩｏＴ周波数帯に対応した識別情報を表示し、
前記識別情報は、前記ＮＢ−ＩｏＴ周波数帯に割り付けられたインデックスを含む、
端末試験装置。
端末との間で通信を行い、当該端末の試験を行う端末試験装置であって、当該端末試験装置は、制御部と表示部を備え、
前記制御部は、試験に用いるＬＴＥ周波数帯内において、ＮＢ−ＩｏＴに利用可能なＮＢ−ＩｏＴ周波数帯を決定し、
前記表示部は、前記ＮＢ−ＩｏＴ周波数帯に対応した識別情報を表示し、
前記識別情報は、前記ＬＴＥ周波数帯の中心周波数であるＬＴＥ中心周波数と、前記ＮＢ−ＩｏＴ周波数帯のＮＢ−ＩｏＴ中心周波数との差分である差分周波数を含む、
端末試験装置。
端末との間で通信を行い、当該端末の試験を行う端末試験装置であって、当該端末試験装置は、制御部と表示部を備え、
前記制御部は、試験に用いるＬＴＥ周波数帯内において、ＮＢ−ＩｏＴに利用可能なＮＢ−ＩｏＴ周波数帯を決定し、
前記表示部は、前記ＮＢ−ＩｏＴ周波数帯に対応した識別情報を表示し、
ＥＡＲＦＣＮにより、１００ｋＨｚ単位の周波数が決定され、
前記識別情報は、前記１００ｋＨｚ単位の周波数に対する、前記ＮＢ−ＩｏＴ周波数帯のＮＢ−ＩｏＴ中心周波数のオフセットであるラスタオフセットを含む、
端末試験装置。
請求項３に記載の端末試験装置であって、
前記ＮＢ−ＩｏＴ周波数帯は、前記ＬＴＥ周波数帯のリソースブロックの周波数帯域幅である１８０ｋＨｚの中に納められる、
端末試験装置。