JP6550279B2 - microscope - Google Patents

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Description

本発明は、焦点合わせを容易に行いうる顕微鏡に関する。   The present invention relates to a microscope that can be easily focused.

従来、医学や生物学等の分野では、細胞等の観察に、標本を照明して観察する顕微鏡が用いられている。また、工業分野においても、金属組織等の品質管理や、新素材の研究開発、電子デバイスや磁気ヘッドの検査等、種々の用途で顕微鏡が利用されている。このような顕微鏡では、まず、顕微鏡の対物レンズに対する標本の相対位置を合焦目安範囲とした後、精密に焦点合わせを行う。標本の相対位置を合焦目安範囲とする際、標本と対物レンズとが衝突しないよう、標本と対物レンズの間隔に注意しながら、慎重にステージ等を移動させる必要があり、焦点合わせには相当な時間を要していた。   Conventionally, in the fields of medicine, biology and the like, a microscope for illuminating and observing a sample is used for observation of cells and the like. Also in the industrial field, microscopes are used in various applications such as quality control of metal structures, research and development of new materials, inspection of electronic devices and magnetic heads, and the like. In such a microscope, first, the relative position of the sample to the objective lens of the microscope is set as the focusing standard range, and then focusing is performed precisely. When setting the relative position of the sample to the focusing target range, it is necessary to carefully move the stage etc. while paying attention to the distance between the sample and the objective lens so that the sample and the objective lens do not collide. It took a long time.

これに対し、標本から発せられる観察光を光電検出する光電検出手段と、光電検出手段により検出された検出値をもとに、合焦目安範囲内であるか否かを判定する判定手段と、合焦目安範囲内であることを報知する報知手段と、を備えた顕微鏡が提案されている(例えば、特許文献1参照)。   On the other hand, photoelectric detection means for photoelectrically detecting the observation light emitted from the sample, and judgment means for judging whether or not it is within the focusing standard range based on the detection value detected by the photoelectric detection means; There has been proposed a microscope provided with informing means for informing that it is within the focusing standard range (see, for example, Patent Document 1).

特開2008−158089号公報JP, 2008-158089, A

特許文献1では、報知手段が標本と対物レンズとの相対位置が合焦目安範囲となったことを観察者に報知するため、焦点合わせは容易となる。しかしながら、合焦目安範囲であるか否かを判定する輝度の閾値の範囲設定が必要となり、また、標本や、対物レンズ等の観察条件が変更された場合には、閾値の再設定が必要となる可能性があり、操作が煩雑となるおそれがある。さらに、光電検出手段や判定手段が必要となるため、システムが複雑になるだけでなく、高価となってしまう。   In Patent Document 1, focusing is facilitated because the notification means notifies the observer that the relative position between the sample and the objective lens has become the in-focus standard range. However, it is necessary to set the range of the threshold of the brightness to determine whether it is within the focusing standard range, and it is necessary to set the threshold again when the observation conditions such as the sample and the objective lens are changed. The operation may be complicated. Furthermore, the need for photoelectric detection means and determination means makes the system complicated and expensive.

本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、対物レンズと標本との焦点合わせを、簡易、かつ安価に行いうる顕微鏡を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above, and it is an object of the present invention to provide a microscope which can perform focusing of an objective lens and a sample easily and inexpensively.

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明の顕微鏡は、ステージ上の標本に、対物レンズを介して光を照射するとともに、前記標本からの反射光を集光して観察する顕微鏡において、少なくともベース部と、前記ベース部の背面側に立設する柱部と、を有する顕微鏡本体部と、前記ステージまたは前記対物レンズを昇降させて、前記対物レンズの焦点位置と前記ステージ上面との間隔を調整する焦準機構と、前記対物レンズの焦点位置と前記ステージ上面との間隔を表示する位置情報表示部と、を備え、前記焦準機構は、前記ベース部に設けられて前記ステージを昇降させ、前記位置情報表示部は、前記対物レンズの焦点位置と前記ステージ上面との間隔を表示するスケールを有し、前記スケールは、基準位置が前記対物レンズの焦点位置と一致するよう前記柱部に、前記顕微鏡の正面側または側面側から前記ステージの上面とともに視認可能な位置に配置され、前記スケールの基準位置と前記ステージ上面との間隔を、前記標本の高さ情報から調整することにより、前記標本の上面に前記対物レンズの焦点位置近傍に調整することを特徴とする。 In order to solve the problems described above and achieve the purpose, the microscope of the present invention irradiates light on a specimen on a stage through an objective lens, and collects and observes reflected light from the specimen. In a microscope, a microscope main body having at least a base portion and a pillar portion erected on the back side of the base portion, and the stage or the objective lens is moved up and down to focus the objective lens and the upper surface of the stage. And a position information display unit for displaying the distance between the focal position of the objective lens and the upper surface of the stage , wherein the focusing mechanism is provided on the base portion and the focusing mechanism is provided. The stage is raised and lowered, and the position information display unit has a scale for displaying the distance between the focal position of the objective lens and the upper surface of the stage, and the scale has a reference position corresponding to the objective lens. It is disposed on the column to match the focal position and at a position where it can be viewed with the upper surface of the stage from the front or side of the microscope, and the distance between the reference position of the scale and the upper surface of the stage by adjusting the height information, it characterized that you adjusted in the vicinity of the focal point of the objective lens on the upper surface of the specimen.

また、本発明の顕微鏡は、上記発明において、前記焦準機構は、前記位置情報表示部は、前記スケールの近傍に配置され、前記スケールとともに前記対物レンズの焦点位置と前記ステージ上面との間隔を表示する第1の指標と、を有し、前記スケールおよび前記第1の指標のいずれか一方は、基準位置が前記対物レンズの焦点位置と一致するよう前記柱部に配置され、他方は前記ステージの昇降に連動して移動するよう焦準機構に配置されていることを特徴とする。 Further, the microscope of the present invention, in the above invention, the focusing mechanism, the pre-Symbol position information display section, is disposed in the vicinity of the front Symbol scale, and the stage upper surface and the focal position of the objective lens with the scale A first indicator for displaying a distance, and one of the scale and the first indicator is disposed on the pillar so that the reference position coincides with the focal position of the objective lens, and the other is It is characterized in that it is disposed in a focusing mechanism so as to move in conjunction with the elevation of the stage.

また、本発明の顕微鏡は、上記発明において、前記位置情報表示部は、前記スケールの近傍に移動可能に設けられ、前記スケールとともに前記標本の高さを表示する第2の指標と、を有することを特徴とする。 Further, the microscope of the present invention, in the above invention, before Symbol position information display unit, movably disposed in the vicinity of the front Symbol scale, and a second indicator for displaying the height of the specimen with the scale, the It is characterized by having.

また、本発明の顕微鏡は、上記発明において、前記位置情報表示部は、前記スケールの近傍に移動可能に設けられ、前記スケールとともに前記標本の高さを表示する第2の指標をさらに有することを特徴とする。   Further, in the microscope of the present invention according to the above-mentioned invention, the position information display unit is movably provided in the vicinity of the scale, and further having a second index for displaying the height of the sample together with the scale. It features.

また、本発明の顕微鏡は、上記発明において、前記第1の指標は、矢印で構成されることを特徴とする。
また、本発明の顕微鏡は、上記発明において、前記第2の指標は、矢印で構成されることを特徴とする。
Further, the microscope of the present invention, in the above invention, the first index -, characterized in that it is constituted by the arrow.
In the microscope of the present invention according to the above-mentioned invention, the second index is constituted by an arrow.

また、本発明の顕微鏡は、上記発明において、前記第1の指標は、副尺目盛で構成されることを特徴とする。   In the microscope of the present invention according to the above-mentioned invention, the first index is constituted by a vernier scale.

また、本発明の顕微鏡は、上記発明において、前記柱部に配置される前記スケールは、前記対物レンズの光軸方向に移動可能であることを特徴とする。   In the microscope of the present invention according to the above-mentioned invention, the scale disposed on the column portion is movable in the optical axis direction of the objective lens.

本発明にかかる顕微鏡は、対物レンズの焦点位置とステージ上面との間隔に関する情報を表示する位置情報表示部を備えることにより、対物レンズと標本とを簡易、かつ安価に合焦目安範囲に設定することができる。   The microscope according to the present invention simply and inexpensively sets the objective lens and the specimen within the focusing standard range by providing the position information display unit for displaying information on the distance between the focal position of the objective lens and the upper surface of the stage. be able to.

図1は、実施の形態1にかかる顕微鏡の概略構成を示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing a schematic configuration of a microscope according to a first embodiment. 図2Aは、図1の顕微鏡の位置情報表示部近傍の一部拡大斜視図である(対象標本なし)。FIG. 2A is a partially enlarged perspective view of the vicinity of the position information display unit of the microscope of FIG. 1 (without a target sample). 図2Bは、図1の顕微鏡の位置情報表示部近傍の一部拡大斜視図である(対象標本あり)。FIG. 2B is a partially enlarged perspective view of the vicinity of the position information display unit of the microscope of FIG. 1 (with a target sample). 図3は、実施の形態2にかかる顕微鏡の概略構成を示す斜視図である。FIG. 3 is a perspective view showing a schematic configuration of a microscope according to a second embodiment. 図4Aは、図3の顕微鏡の位置情報表示部近傍の一部拡大斜視図である(対象標本なし)。FIG. 4A is a partially enlarged perspective view of the vicinity of the position information display unit of the microscope of FIG. 3 (without a target sample). 図4Bは、図3の顕微鏡の位置情報表示部近傍の一部拡大斜視図である(対象標本あり)。FIG. 4B is a partially enlarged perspective view of the vicinity of the position information display unit of the microscope of FIG. 3 (with a target sample). 図5は、実施の形態2の変形例にかかる顕微鏡の概略構成を示す斜視図である。FIG. 5 is a perspective view showing a schematic configuration of a microscope according to a modification of the second embodiment. 図6は、図5の顕微鏡の位置情報表示部近傍の一部拡大斜視図である。6 is a partially enlarged perspective view of the vicinity of the position information display unit of the microscope of FIG. 図7は、実施の形態3にかかる顕微鏡の概略構成を示す斜視図である。FIG. 7 is a perspective view showing a schematic configuration of a microscope according to the third embodiment. 図8Aは、図7の顕微鏡の位置情報表示部近傍の一部拡大斜視図である。FIG. 8A is a partially enlarged perspective view of the vicinity of the position information display unit of the microscope of FIG. 7. 図8Bは、図7の顕微鏡の位置情報表示部近傍の一部拡大斜視図である(対象標本あり)。FIG. 8B is a partially enlarged perspective view of the vicinity of the position information display unit of the microscope of FIG. 7 (with a target sample).

以下に、本発明にかかる顕微鏡の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、本発明は、これらの実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。   Hereinafter, embodiments of a microscope according to the present invention will be described in detail based on the drawings. In addition, this invention is not limited to these embodiment, A various change is possible in the range which does not deviate from the summary of this invention.

(実施の形態1)
図1は、本発明の実施の形態1にかかる顕微鏡100の概略構成を示す斜視図である。
Embodiment 1
FIG. 1 is a perspective view showing a schematic configuration of a microscope 100 according to a first embodiment of the present invention.

顕微鏡100は、顕微鏡本体部1と、対象標本2を載置するステージ3と、ステージ3を上下方向に移動する焦準機構4と、複数の対物レンズ5を保持し、選択された対物レンズ5を観察光軸上に挿脱するレボルバ6と、落射照明部を構成するランプハウス7および投光管8と、投光管8上部に載置された鏡筒9と、対物レンズ5の焦点位置とステージ3上面との間隔を視認できる位置情報表示部10と、を備える。また、鏡筒9には、対象標本2の標本像を目視観察するための接眼レンズ11が搭載されている。   The microscope 100 holds the microscope main body 1, the stage 3 on which the target sample 2 is placed, the focusing mechanism 4 for moving the stage 3 in the vertical direction, and the plurality of objective lenses 5. Of the observation light axis, the lamp house 7 and the light projection tube 8 constituting the epi-illumination unit, the lens barrel 9 mounted on the light projection tube 8 and the focal position of the objective lens 5 And a position information display unit 10 capable of visually recognizing the distance between the stage 3 and the upper surface of the stage 3 Further, an eyepiece lens 11 for visually observing a sample image of the target sample 2 is mounted on the lens barrel 9.

顕微鏡本体部1はベース部1aと、ベース部1aの背面側に立設する柱部1bと、柱部1bに支持されて正面側に向かって延在するアーム部1cとを有する。ベース部1aは、机上等の顕微鏡100が設置される場所に直接載置される部分である。柱部1bは、ベース部1aの背面側(奥側)に立設され、焦準機構4を介してステージ3を保持する。柱部1bは、水平方向の断面が略V字型の柱状をなし、略V字型の折り曲り部の下端部でベース部1aと一体化されている。アーム部1cは、柱部1bの上端から顕微鏡100の正面側に向かって延在し、下面側にレボルバ6が取り付けられるとともに、上面側に投光管8が搭載されている。なお、本明細書において、顕微鏡100の正面側は観察者が位置する側であり、背面側は正面側に対向する側を意味する。   The microscope main body 1 includes a base 1a, a pillar 1b erected on the back side of the base 1a, and an arm 1c supported by the pillar 1b and extending toward the front. The base portion 1a is a portion directly mounted on a place such as a desk top where the microscope 100 is installed. The column portion 1 b is erected on the back side (rear side) of the base portion 1 a and holds the stage 3 via the focusing mechanism 4. The pillar 1b has a pillar shape having a substantially V-shaped cross section in the horizontal direction, and is integrated with the base 1a at the lower end of the substantially V-shaped bent portion. The arm portion 1c extends from the upper end of the column portion 1b toward the front side of the microscope 100, the revolver 6 is attached to the lower surface side, and the light projecting tube 8 is mounted on the upper surface side. In the present specification, the front side of the microscope 100 is the side on which the observer is located, and the back side means the side opposite to the front side.

焦準機構4は、焦準ハンドル4aと、ガイド部4bと、焦準移動部4cと、を備える。ガイド部4bは、焦準移動部4cを上下方向に移動可能とするガイドであって、ベース部1aおよび柱部1bに締結されている。焦準移動部4cは、焦準ハンドル4aのハンドル軸に設けられるピニオンと噛合するラックを備える。焦準ハンドル4aを回転させると、ハンドル軸に設けられるピニオンが回転し、ピニオンと噛合するラックが上下方向に移動し、焦準移動部4cがガイド部4bをガイドとして上下方向に移動することにより、焦準移動部4cに固定されるステージ3を昇降移動する。顕微鏡100では、焦準ハンドル4aを時計回り、または、反時計回りに回転することにより、ステージ3を上下方向に移動させて、対象標本2と対物レンズ5との焦点合わせを行なう。また、ステージ3は、端部にハンドル3aを有し、ハンドル3aの回転動作に応じ、対物レンズ5の光軸に直交した面内で対象標本2を移動させ、対物レンズ5に対する対象標本2の観察位置を変化させる。   The focusing mechanism 4 includes a focusing handle 4a, a guide 4b, and a focusing moving unit 4c. The guide portion 4b is a guide that allows the focusing movement portion 4c to move in the vertical direction, and is fastened to the base portion 1a and the column portion 1b. The focusing moving unit 4c includes a rack that meshes with a pinion provided on the handle shaft of the focusing handle 4a. When the focusing handle 4a is rotated, the pinion provided on the handle shaft is rotated, the rack meshing with the pinion is moved in the vertical direction, and the focusing movement unit 4c is moved in the vertical direction using the guide portion 4b as a guide. And vertically move the stage 3 fixed to the focusing movement unit 4c. In the microscope 100, by rotating the focusing handle 4a clockwise or counterclockwise, the stage 3 is moved up and down to focus the target specimen 2 and the objective lens 5. The stage 3 has a handle 3a at its end, and moves the target sample 2 in a plane orthogonal to the optical axis of the objective lens 5 according to the rotational movement of the handle 3a. Change the observation position.

レボルバ6は、アーム部1cに対して回転自在に保持され、対物レンズ5を対象標本2の上方に配置する。対物レンズ5は、レボルバ6に対して倍率(観察倍率)の異なる他の対物レンズとともに交換自在に装着されており、レボルバ6の切り換え操作に応じて観察光の光路上に挿入されて対象標本2の観察に用いる対物レンズ5が択一的に切り換えられるようになっている。   The revolver 6 is rotatably held with respect to the arm unit 1 c, and the objective lens 5 is disposed above the target sample 2. The objective lens 5 is exchangeably mounted on the revolver 6 together with other objective lenses having different magnifications (observation magnifications), and is inserted into the optical path of the observation light in accordance with the switching operation of the revolver 6. The objective lens 5 used for the observation of is selectively switched.

ランプハウス7は、落射照明光を照射する落射光源であり、投光管8は、ランプハウス7から照射された落射照明光を集光するコレクタレンズや、落射照明光の光路を対物レンズ5の光軸に沿って偏向させる折曲げミラー等の照明光学系が、落射照明光の光路に沿って適所に配置されて構成される。光源から射出された落射照明光は、照明光学系によって対象標本2に照射され、対象標本2から反射した光が観察光として対物レンズ5に入射する。   The lamp house 7 is an epi-illumination light source that emits epi-illumination light. The light projection tube 8 is a collector lens that condenses the epi-illumination light emitted from the lamp house 7 or the light path of the epi-illumination light. An illumination optical system such as a bending mirror that deflects along the optical axis is disposed at a suitable position along the optical path of the incident illumination light. The epi-illumination light emitted from the light source is irradiated onto the target sample 2 by the illumination optical system, and the light reflected from the target sample 2 is incident on the objective lens 5 as observation light.

鏡筒9は、対物レンズ5が集光した観察光を接眼レンズ11へと導くビームスプリッタを内設している。対象標本2の標本像は、ビームスプリッタによって接眼レンズ11内に導入され、接眼レンズ11を介して観察者に目視観察される。   The barrel 9 incorporates a beam splitter for guiding the observation light collected by the objective lens 5 to the eyepiece 11. The sample image of the target sample 2 is introduced into the eyepiece lens 11 by the beam splitter and is visually observed by the observer through the eyepiece lens 11.

位置情報表示部10は、対物レンズ5の焦点位置とステージ3上面との間隔を測長可能なスケール10aを有する。図2Aおよび図2Bは、図1の顕微鏡100の位置情報表示部10近傍の一部拡大斜視図であり、図2Aは、ステージ3上に対象標本2を載置していない場合、図2Bは対象標本2を載置している場合を示している。   The position information display unit 10 has a scale 10 a capable of measuring the distance between the focal position of the objective lens 5 and the upper surface of the stage 3. 2A and 2B are partially enlarged perspective views in the vicinity of the position information display unit 10 of the microscope 100 of FIG. 1, and FIG. 2A is the case where the target sample 2 is not placed on the stage 3, FIG. The case where the target sample 2 is placed is shown.

スケール10aは、顕微鏡100の正面側および側面側から視認可能な位置に配置される。スケール10aは、基準位置(0点)が対物レンズ5の焦点位置と一致するように配置される。顕微鏡100では、図2Aに示すように、スケール10aの基準位置(0点)にステージ3上面を合わせることにより、ステージ3上面を対物レンズ5の合焦目安範囲とすることができる。   The scale 10 a is disposed at a position visible from the front side and the side of the microscope 100. The scale 10 a is disposed such that the reference position (0 point) coincides with the focal position of the objective lens 5. In the microscope 100, as shown in FIG. 2A, the upper surface of the stage 3 can be made to be the focusing standard range of the objective lens 5 by aligning the upper surface of the stage 3 with the reference position (0 point) of the scale 10a.

対象標本2をステージ3上に載置して観察を行う際、対象標本2の上面fが対物レンズ5の焦点位置、すなわち、図2Bに示すように、ステージ3の上面がスケール10aの目盛で対象標本2の高さRとなるように、焦準ハンドル4aを回転して調整することにより、合焦目安範囲とすることができる。例えば、対象標本2の高さRが15mmのとき、ステージ3上面をスケール10aの15mmの目盛に合わせるよう移動すればよい。 When the target sample 2 is placed on the stage 3 for observation, the upper surface f of the target sample 2 is at the focal position of the objective lens 5, that is, as shown in FIG. 2B, the upper surface of the stage 3 is indicated by the scale 10a. By adjusting the focusing handle 4 a by rotating it so that the height R 1 of the target sample 2 is obtained, it is possible to set a focusing standard range. For example, when the height R 1 of the target specimen 2 is 15mm, it may be moved so as to align the stage 3 top the scale of 15mm of the scale 10a.

次に、顕微鏡100における対象標本2への焦点合わせの手順について説明する。   Next, the procedure of focusing on the target sample 2 in the microscope 100 will be described.

まず、焦準ハンドル4aを回転させてステージ3を下方向に移動させ、対物レンズ5とステージ3との間隔を確保する。対物レンズ5とステージ3との間隔は、観察する対象標本2の高さRに応じて適宜決定すればよい。 First, the focusing handle 4a is rotated to move the stage 3 downward, and a space between the objective lens 5 and the stage 3 is secured. The distance between the objective lens 5 and the stage 3 may be appropriately determined according to the height R 1 of the target sample 2 to be observed.

対物レンズ5とステージ3との間隔を確保した後、ステージ3に対象標本2を載置する。観察する対象標本2のおよその高さRは、実測等により把握しておくことが好ましい。 After securing the distance between the objective lens 5 and the stage 3, the target sample 2 is placed on the stage 3. It is preferable that the approximate height R 1 of the target sample 2 to be observed is grasped by measurement or the like.

ステージ3に対象標本2を載置後、スケール10aの基準位置(対物レンズ5の焦点位置)とステージ3上面との間隔が対象標本2の高さRとなるように、スケール10aで視認しながらステージ3上面の位置を焦準ハンドル4aの回転により上下方向に移動する。スケール10aの基準位置(対物レンズ5の焦点位置)とステージ3上面との間隔を対象標本2の高さRとすることにより、対象標本2の上面fを対物レンズ5の焦点位置近傍(合焦目安範囲内)とすることができる。 After incubation mounting the target specimen 2 on the stage 3, so that the distance of the reference position of the scale 10a and (the focal position of the objective lens 5) and stage 3 top is height R 1 of the target specimen 2, visible on the scale 10a At the same time, the position of the upper surface of the stage 3 is moved vertically by the rotation of the focusing handle 4a. Reference position of the scale 10a by the height R 1 of the target specimen 2 the distance between the stage 3 the upper surface (the focal position of the objective lens 5), the focal position vicinity (if the objective lens 5 a top f the target specimen 2 Within the target range).

位置情報表示部10により対象標本2上面fを合焦目安範囲とした後、観察者は接眼レンズ11を覗きながら微小な焦点調節を行うことにより、焦点合わせを完了し、対象標本2の表面を観察する。   After setting the upper surface f of the target sample 2 to the focusing standard range by the position information display unit 10, the observer performs fine focusing while looking through the eyepiece lens 11 to complete focusing, and the surface of the target sample 2 is completed. Observe.

実施の形態1では、位置情報表示部10としてスケール10aを使用し、ステージ3上面を対象標本2の高さに調整することにより、対象標本2の上面fを対物レンズ5の焦点位置近傍に容易に一致させることができるので、焦点合わせ作業を簡易かつ短時間に行うことが可能となる。   In the first embodiment, the scale 10a is used as the position information display unit 10, and the upper surface f of the target sample 2 can be easily made near the focal position of the objective lens 5 by adjusting the upper surface of the stage 3 to the height of the target sample 2. It is possible to perform the focusing operation easily and in a short time.

なお、実施の形態1では、対物レンズ5の焦点位置と一致する基準位置としてスケール10aの0点を使用しているが、スケール10aの基準位置として他の値を使用してもよい。   In the first embodiment, the zero point of the scale 10a is used as the reference position coincident with the focal position of the objective lens 5, but another value may be used as the reference position of the scale 10a.

また、位置情報表示部10は、柱部1bに固定配置されるものではなく、上下方向に移動できるものであってもよい。顕微鏡100は、使用する光学系によりベース部1aと投光管8との間が嵩上げされて、対物レンズ5の取付け位置が変動、すなわち対物レンズ5の焦点位置が変動する場合がある。かかる場合に、変動した対物レンズ5の焦点位置とスケール10aの基準位置が一致するようスケール10aの配置位置を上下方向に移動することで、多様なユニットおよび/または部位を備えた顕微鏡システムにおいても、焦点合わせを容易に行うことができる。   Further, the position information display unit 10 may not be fixed to the column portion 1b, and may be movable in the vertical direction. In the microscope 100, the space between the base portion 1a and the light projecting tube 8 may be raised by an optical system to be used, and the mounting position of the objective lens 5 may change, that is, the focal position of the objective lens 5 may change. In such a case, by moving the arrangement position of the scale 10a up and down so that the focal position of the varied objective lens 5 and the reference position of the scale 10a coincide, even in a microscope system provided with various units and / or parts , Easy to focus.

さらに、実施の形態1は、ステージ3側に焦準機構4を備え、ステージ3を上下方向に移動して焦点合わせを行うが、対物レンズ5側に焦準機構を備え、対物レンズ5を上下方向に移動することにより焦点合わせを行う顕微鏡においても、柱部1bに基準位置が対物レンズ5の焦点位置と一致するよう位置情報表示部10を配置することにより、焦点合わせを容易に行うことができる。   Furthermore, in the first embodiment, the focusing mechanism 4 is provided on the stage 3 side, and focusing is performed by moving the stage 3 in the vertical direction. However, the focusing mechanism is provided on the objective lens 5 side. Even in a microscope that performs focusing by moving in a direction, focusing can be easily performed by arranging the position information display unit 10 on the column portion 1 b so that the reference position matches the focus position of the objective lens 5. it can.

(実施の形態2)
実施の形態2では、位置情報表示部は、スケールと、第1の指標を備える。図3は、実施の形態2にかかる顕微鏡の概略構成を示す斜視図である。図4Aおよび図4Bは、図3の顕微鏡の位置情報表示部近傍の一部拡大斜視図であり、図4Aは、ステージ3上に対象標本2を載置していない場合、図4Bは対象標本2を載置している場合である。
Second Embodiment
In the second embodiment, the position information display unit includes a scale and a first index. FIG. 3 is a perspective view showing a schematic configuration of a microscope according to a second embodiment. 4A and 4B are partially enlarged perspective views in the vicinity of the position information display unit of the microscope of FIG. 3, and FIG. 4A shows the target sample in the case where the target sample 2 is not placed on the stage 3; It is a case where 2 is placed.

実施の形態2にかかる顕微鏡100Aにおいて、位置情報表示部10Aは、対物レンズ5の焦点位置とステージ3上面との間隔を測長可能なスケール10aと、スケール10aの近傍に配置され、スケール10aとともに対物レンズ5の焦点位置とステージ3上面との間隔を視認できる第1の指標10bと、を備える。第1の指標10bは、矢印で構成され、スケール10a側に矢印の先端が向いている。スケール10aは、実施の形態1と同様に、基準位置(0点)が対物レンズ5の焦点位置と一致するよう柱部1bに配置され、第1の指標10bは、焦準移動部4cに配置され、ステージ3の昇降に連動して移動する。第1の指標10bは、顕微鏡100Aの正面側および側面側から視認可能な位置に配置される。第1の指標10bは、図4Aに示すように、基準位置(矢印の先端)がステージ3上面と同位置、すなわち、ステージ3上面を対物レンズ5の焦点位置(スケール10aの基準位置)とした際、第1の指標10bの基準位置(矢印の先端)が、スケール10aの基準位置(0点)に一致するように焦準移動部4cに配置される。なお、第1の指標10bの基準位置(矢印の先端)は、ステージ3上面と同じ位置(スケール10aの基準位置)にかならずしも一致させる必要はない。   In the microscope 100A according to the second embodiment, the position information display unit 10A is disposed in the vicinity of the scale 10a capable of measuring the distance between the focal position of the objective lens 5 and the upper surface of the stage 3 and the scale 10a, together with the scale 10a. And a first index 10b capable of visually recognizing the distance between the focal position of the objective lens 5 and the upper surface of the stage 3. The first index 10 b is constituted by an arrow, and the tip of the arrow is directed to the scale 10 a side. The scale 10a is disposed on the column portion 1b so that the reference position (0 point) coincides with the focal position of the objective lens 5 as in the first embodiment, and the first index 10b is disposed on the focusing movement unit 4c. And move in conjunction with the elevation of the stage 3. The first indicator 10b is disposed at a position where it can be viewed from the front side and the side of the microscope 100A. In the first index 10b, as shown in FIG. 4A, the reference position (the tip of the arrow) is the same position as the upper surface of the stage 3, that is, the upper surface of the stage 3 is the focal position of the objective lens 5 (the reference position of the scale 10a) In this case, the reference position (the tip of the arrow) of the first index 10b is disposed in the focusing movement unit 4c so as to coincide with the reference position (0 point) of the scale 10a. The reference position (the tip of the arrow) of the first index 10b does not have to be the same as the top surface of the stage 3 (the reference position of the scale 10a).

実施の形態2では、図4Bに示すように、対象標本2をステージ3上に載置して観察を行う際、ステージ3の上面または第1の指標10bの基準位置が、スケール10aの目盛で対象標本2の高さRとなるように、焦準ハンドル4aを回転して調整することにより、対象標本2の上面fが対物レンズ5の焦点位置、すなわち、合焦目安範囲とすることができる。例えば、対象標本2の高さRが15mmのとき、ステージ3上面、または第1の指標10bの基準位置をスケール10aの15mmの目盛に合わせるよう移動すればよい。 In the second embodiment, as shown in FIG. 4B, when the target sample 2 is placed on the stage 3 for observation, the upper surface of the stage 3 or the reference position of the first index 10b is indicated by the scale of the scale 10a. The upper surface f of the target sample 2 may be set to the focal position of the objective lens 5, that is, the focusing standard range, by rotating and adjusting the focusing handle 4a so that the height R 1 of the target sample 2 is obtained. it can. For example, when the height R 1 of the target specimen 2 is 15mm, Stage 3 top, or the reference position of the first indicator 10b may be moved to match the scale of 15mm of the scale 10a.

実施の形態2では、スケール10aおよび第1の指標10bを使用して、対象標本2の上面fを対物レンズ5の焦点位置に容易に焦点合わせすることができる。また、第1の指標10bをスケール10aに近接する焦準移動部4cに配置するため、視線をステージ3と平行にしなくとも第1の指標10bの位置確認が容易であり、斜め方向から位置確認する作業姿勢でも焦点合わせを容易に行うことができる。   In the second embodiment, the upper surface f of the target sample 2 can be easily focused on the focal position of the objective lens 5 using the scale 10 a and the first index 10 b. Further, since the first indicator 10b is disposed on the focusing moving unit 4c in proximity to the scale 10a, the position confirmation of the first indicator 10b is easy without making the sight line parallel to the stage 3, and the position confirmation from the oblique direction Even in the working posture, focusing can be easily performed.

なお、実施の形態2では、スケール10aを柱部1bに、第1の指標10bを焦準移動部4cに配置しているが、スケール10aを焦準移動部4c(またはステージ3)に配置し、第1の指標10bを柱部1bに配置しても、同様に焦点合わせを行うことができる。   In the second embodiment, the scale 10a is disposed in the column portion 1b, and the first index 10b is disposed in the focusing movement unit 4c. However, the scale 10a is disposed in the focusing movement unit 4c (or the stage 3). Even if the first index 10b is disposed on the column portion 1b, focusing can be performed similarly.

また、第1の指標として、副尺目盛を使用することもできる。図5は、実施の形態2の変形例にかかる顕微鏡の概略構成を示す斜視図である。図6は、図5の顕微鏡の位置情報表示部近傍の一部拡大斜視図である。   A vernier scale can also be used as a first indicator. FIG. 5 is a perspective view showing a schematic configuration of a microscope according to a modification of the second embodiment. 6 is a partially enlarged perspective view of the vicinity of the position information display unit of the microscope of FIG.

実施の形態2の変形例にかかる顕微鏡100Bにおいて、位置情報表示部10Bは、対物レンズ5の焦点位置とステージ3上面との間隔を測長可能なスケール10aと、スケール10aの近傍に配置され、スケール10aとともに対物レンズ5の焦点位置とステージ3上面との間隔を視認できる第1の指標10b’と、を備える。第1の指標10b’は、副尺目盛で構成されている。スケール10aは、実施の形態1と同様に、対物レンズ5の焦点位置がスケール10aの基準位置(0点)と一致するよう柱部1bに配置される。第1の指標10b’は、ステージ3の昇降に連動して移動するよう、焦準移動部4cに配置されている。第1の指標10b’は、基準位置(0点)がステージ3上面と同じ位置、すなわち、ステージ3上面を対物レンズ5の焦点位置(スケール10aの基準位置)とした際、第1の指標10b’の基準位置(0点)が、スケール10aの基準位置(0点)に一致する。なお、第1の指標10b’の基準位置(0点)は、ステージ3上面と同じ位置(スケール10aの基準位置)にかならずしも一致させる必要はない。   In the microscope 100B according to the modification of the second embodiment, the position information display unit 10B is disposed in the vicinity of the scale 10a capable of measuring the distance between the focal position of the objective lens 5 and the upper surface of the stage 3 and the scale 10a. The scale 10a is provided with a first indicator 10b 'that allows visual recognition of the distance between the focal position of the objective lens 5 and the upper surface of the stage 3 together with the scale 10a. The first index 10b 'is formed of a vernier scale. As in the first embodiment, the scale 10a is disposed on the column portion 1b such that the focal position of the objective lens 5 coincides with the reference position (0 point) of the scale 10a. The first index 10 b ′ is disposed in the focusing movement unit 4 c so as to move in conjunction with the elevation of the stage 3. When the reference position (0 point) is the same position as the upper surface of the stage 3, that is, the upper surface of the stage 3 is the focal position of the objective lens 5 (the reference position of the scale 10a), the first index 10b ' The reference position (0 point) of 'corresponds to the reference position (0 point) of the scale 10a. The reference position (0 point) of the first index 10b 'does not have to coincide with the same position as the top surface of the stage 3 (the reference position of the scale 10a).

実施の形態2の変形例では、対象標本2をステージ3上に載置して観察を行う際、ステージ3の上面または第1の指標10b’の基準位置が、スケール10aの目盛で対象標本2の高さRとなるように、焦準ハンドル4aを回転して調整することにより、対象標本2の上面fが対物レンズ5の焦点位置、すなわち、合焦目安範囲とすることができる。 In the modification of the second embodiment, when the target sample 2 is placed on the stage 3 for observation, the top surface of the stage 3 or the reference position of the first index 10b ′ is the target sample 2 with the scale of the scale 10a. of so that the height R 1, by adjusting by rotating a focusing handle 4a, the focal position of the upper surface f of the target specimen 2 is the objective lens 5, i.e., may be a focusing guide range.

実施の形態2では、スケール10aおよび第1の指標10b’を使用して、対象標本2の上面fを対物レンズ5の焦点位置に容易に焦点合わせすることができる。また、第1の指標10b’をスケール10aに近接する焦準移動部4cに配置するため、視線をステージ3と平行にしなくとも第1の指標10bの位置確認が容易であり、斜め方向から位置確認する作業姿勢でも焦点合わせを容易に行うことができる。さらに、第1の指標10b’を副尺目盛で構成するため、より精度よく焦点合わせを行うことができる。   In the second embodiment, the upper surface f of the target sample 2 can be easily focused on the focal position of the objective lens 5 using the scale 10a and the first index 10b '. Further, since the first indicator 10b 'is disposed on the focusing movement unit 4c in proximity to the scale 10a, the position confirmation of the first indicator 10b is easy without making the sight line parallel to the stage 3, and the position from the oblique direction Even in the working posture to be confirmed, focusing can be easily performed. Furthermore, since the first indicator 10b 'is configured by the vernier scale, focusing can be performed with higher accuracy.

なお、実施の形態2の変形例では、スケール10aを柱部1bに、第1の指標10b’を焦準移動部4cに配置しているが、スケール10aを焦準移動部4c(またはステージ3)に配置し、第1の指標10b’を柱部1bに配置しても、同様に焦点合わせを行うことができる。   In the modification of the second embodiment, the scale 10a is disposed on the column portion 1b, and the first index 10b 'is disposed on the focusing movement unit 4c. However, the scale 10a is disposed on the focusing movement unit 4c (or stage 3). , And the first indicator 10b 'is disposed on the column portion 1b, focusing can be performed in the same manner.

(実施の形態3)
実施の形態3では、位置情報表示部は、スケール、第1の指標、および第2の指標を備える。図7は、実施の形態3にかかる顕微鏡の概略構成を示す斜視図である。図8Aおよび図8Bは、図7の顕微鏡の位置情報表示部近傍の一部拡大斜視図である。
Third Embodiment
In the third embodiment, the position information display unit includes a scale, a first indicator, and a second indicator. FIG. 7 is a perspective view showing a schematic configuration of a microscope according to the third embodiment. 8A and 8B are partially enlarged perspective views in the vicinity of the position information display unit of the microscope of FIG.

実施の形態3にかかる顕微鏡100Cにおいて、位置情報表示部10Cは、対物レンズ5の焦点位置とステージ3上面との間隔を測長可能なスケール10aと、スケール10aの近傍に配置され、スケール10aとともに対物レンズ5の焦点位置とステージ3上面との間隔を視認できる第1の指標10bと、対象標本2の高さRを示す第2の指標10cと、を備える。第1の指標10bは、矢印で構成され、スケール10a側に矢印の先端が向いている。第2の指標10cは、矢印で構成され、第1の指標10bと対向するようにスケール10a側に矢印の先端が向いている。第2の指標10cは、移動可能な指標であって、スケール10aに隣接して移動できるように、ガイド等を設けてこのガイド上を移動させて第2の指標10cの位置を移動したり、あるいは第2の指標10cをマグネットで形成し、柱部1bに着脱可能としてもよい。 In the microscope 100C according to the third embodiment, the position information display unit 10C is disposed in the vicinity of the scale 10a capable of measuring the distance between the focal position of the objective lens 5 and the upper surface of the stage 3 and the scale 10a, together with the scale 10a. The first index 10 b allows visual recognition of the distance between the focal position of the objective lens 5 and the upper surface of the stage 3, and the second index 10 c indicates the height R 1 of the target sample 2. The first index 10 b is constituted by an arrow, and the tip of the arrow is directed to the scale 10 a side. The second indicator 10c is constituted by an arrow, and the tip of the arrow is directed to the scale 10a side so as to face the first indicator 10b. The second index 10c is a movable index, and a guide or the like is provided on the second index 10c so as to move adjacent to the scale 10a so as to move the position of the second index 10c. Alternatively, the second indicator 10c may be formed of a magnet and be removable from the column portion 1b.

スケール10aは、対物レンズ5の焦点位置がスケール10aの基準位置(0点)と一致するよう柱部1bに配置される。第1の指標10bは、ステージ3の昇降に連動して移動するよう、焦準移動部4cに配置されている。第1の指標10bは、基準位置(矢印の先端)がステージ3上面と同じ位置、すなわち、ステージ3上面を対物レンズ5の焦点位置(スケール10aの基準位置)とした際、第1の指標10bの基準位置(矢印の先端)が、スケール10aの基準位置(0点)に一致するよう焦準移動部4cに配置される。第2の指標10cは、基準位置(矢印の先端)が対象標本2の高さRに対応するスケール10aの目盛の位置となるよう、観察する対象標本2に応じて配置する位置を変更する。 The scale 10a is disposed on the column portion 1b such that the focal position of the objective lens 5 coincides with the reference position (zero point) of the scale 10a. The first index 10 b is disposed in the focusing movement unit 4 c so as to move in conjunction with the elevation of the stage 3. When the first index 10b has the same reference position (the tip of the arrow) as the upper surface of the stage 3, that is, the upper surface of the stage 3 is the focal position of the objective lens 5 (the reference position of the scale 10a), the first index 10b The reference position (the tip of the arrow) is arranged in the focusing movement unit 4c so as to coincide with the reference position (0 point) of the scale 10a. The second index 10 c changes the position to be arranged according to the target sample 2 to be observed so that the reference position (the tip of the arrow) becomes the position of the scale of the scale 10 a corresponding to the height R 1 of the target sample 2 .

実施の形態3では、対象標本2をステージ3上に載置して観察を行う際、図に示すように、ステージ3の上面または第1の指標10bの基準位置が、スケール10aの目盛で対象標本2の高さR、または第2の指標10cの基準位置となるように、焦準ハンドル4aを回転して調整することにより、合焦目安範囲とすることができる。例えば、図8Bに示すように、対象標本2の高さRが15mmのとき、第2の指標10cの基準位置がスケール10aの15mmの目盛を指すように第2の指標10cが配置され、ステージ3上面または第1の指標10bの基準位置を、スケール10aの15mmの目盛または第2の指標10cの基準位置に合わせるよう移動すればよい。 In the third embodiment, when the target sample 2 is placed on the stage 3 for observation, as shown in the figure, the upper surface of the stage 3 or the reference position of the first index 10b is the target of the scale 10a. The focusing standard range can be obtained by rotating and adjusting the focusing handle 4 a so that the height R 1 of the sample 2 or the reference position of the second index 10 c is obtained. For example, as shown in FIG. 8B, when the height R 1 of the target sample 2 is 15 mm, the second index 10 c is arranged such that the reference position of the second index 10 c points to the 15 mm scale of the scale 10 a. The reference position of the top surface of the stage 3 or the first indicator 10b may be moved to align with the 15 mm scale of the scale 10a or the reference position of the second indicator 10c.

実施の形態3では、スケール10a、第1の指標10bおよび第2の指標10cを使用して、対象標本2の上面fを対物レンズ5の焦点位置に容易に焦点合わせすることができる。また、第1の指標10bをスケール10aに近接する焦準移動部4cに配置するため、視線をステージ3と平行にしなくとも第1の指標10bの位置確認が容易であり、斜め方向から位置確認する作業姿勢でも焦点合わせを容易に行うことができる。さらに、第2の指標10cは移動可能であって、基準位置(矢印の先端)を対象標本2の高さRに対応するスケール10aの目盛を示すように配置できるので、繰り返し同じ高さRの対象標本2を観察する際、第2の指標10cを目印として容易に焦点合わせを行うことができる。 In the third embodiment, the upper surface f of the target sample 2 can be easily focused on the focal position of the objective lens 5 using the scale 10a, the first index 10b and the second index 10c. Further, since the first indicator 10b is disposed on the focusing moving unit 4c in proximity to the scale 10a, the position confirmation of the first indicator 10b is easy without making the sight line parallel to the stage 3, and the position confirmation from the oblique direction Even in the working posture, focusing can be easily performed. Further, the second indicator 10c be movable, the reference position (tip of arrow) can be arranged to indicate the scale of the corresponding scale 10a on the height R 1 of the target specimen 2, repeat the same height R When observing one target sample 2, focusing can be easily performed using the second index 10c as a mark.

なお、第2の指標10cは、複数配置してもよく、高さの異なる種々の対象標本の高さRを示す目印として使用するほか、ステージ3の移動範囲の設定に使用することもできる。 A plurality of second indicators 10c may be arranged, and may be used as a mark indicating the height R 1 of various target specimens having different heights, or may be used for setting the movement range of the stage 3 .

また、実施の形態3では、スケール10aおよび第2の指標10cを柱部1bに、第1の指標10bを焦準移動部4cに配置しているが、スケール10aおよび第2の指標10bを焦準移動部4c(またはステージ3)に配置し、第1の指標10bを柱部1bに配置しても、同様に焦点合わせを行うことができる。   In the third embodiment, the scale 10a and the second index 10c are arranged in the column portion 1b, and the first index 10b is arranged in the focusing movement unit 4c. However, the scale 10a and the second index 10b are focused. Even if it arrange | positions to the semi-moving part 4c (or stage 3) and arrange | positions the 1st parameter | index 10b to the pillar part 1b, it can focus similarly.

さらに、実施の形態3において、矢印から構成される第1の指標1bに変えて、副尺目盛から構成される第1の指標1b’を使用してもよい。   Furthermore, in the third embodiment, instead of the first indicator 1b composed of an arrow, a first indicator 1b 'composed of a vernier scale may be used.

さらにまた、位置情報表示部は、対物レンズ5の焦点位置とステージ3上面との間隔を測長可能なスケール10a、および対象標本2の高さRを示す第2の指標10cのみから構成されてもよい。かかる場合、ステージ3の上面が、スケール10aの目盛で対象標本2の高さRまたは第2の指標10cの基準位置となるように、焦準ハンドル4aを回転して調整することにより、対象標本2の上面fが対物レンズ5の焦点位置、すなわち、合焦目安範囲とすることができる。例えば、対象標本2の高さRが15mmのとき、第2の指標10cの基準位置が、スケール10aの15mmの目盛を指すように配置され、ステージ3上面は、スケール10aの15mmの目盛または第2の指標10cの基準位置に合わせるよう移動すればよい。 Furthermore, the position information display section is configured the distance between the focal position and the stage 3 the upper surface of the objective lens 5 measurement can scale 10a, and only the second index 10c indicating the height R 1 of the target specimen 2 May be In such a case, the upper surface of the stage 3, so that the reference position of the height R 1 or second index 10c of the target specimen 2 in graduated scale 10a, by adjusting by rotating a focusing handle 4a, the subject The upper surface f of the sample 2 can be set as the focal position of the objective lens 5, that is, the focusing standard range. For example, when the height R 1 of the target specimen 2 is 15mm, the reference position of the second indicator 10c is disposed to point to the scale of 15mm scale 10a, stage 3 the upper surface of 15mm of the scale 10a graduation or It may move so as to match the reference position of the second indicator 10c.

1 顕微鏡本体部
1a ベース部
1b 柱部
1c アーム部
2 対象標本
3 ステージ
3a ハンドル
4 焦準機構
4a 焦準ハンドル
4b ガイド部
4c 焦準移動部
5 対物レンズ
6 レボルバ
7 ランプハウス
8 投光管
9 鏡筒
10、10A、10B、10C 位置情報表示部
10a スケール
10b、10b’ 第1の指標
10c 第2の指標
11 接眼レンズ
100、100A、100B、100C 顕微鏡
Reference Signs List 1 microscope main body 1a base 1b column 1c arm 2 target specimen 3 stage 3a handle 4 focusing mechanism 4a focusing handle 4b guide 4c focusing unit 5 objective lens 6 revolver 7 lamp house 8 floodlight 9 mirror Tube 10, 10A, 10B, 10C Position information display part 10a Scale 10b, 10b '1st index 10c 2nd index 11 eyepiece 100, 100A, 100B, 100C microscope

Claims (8)

ステージ上の標本に、対物レンズを介して光を照射するとともに、前記標本からの反射光を集光して観察する顕微鏡において、
少なくともベース部と、前記ベース部の背面側に立設する柱部と、を有する顕微鏡本体部と、
前記ステージまたは前記対物レンズを昇降させて、前記対物レンズの焦点位置と前記ステージ上面との間隔を調整する焦準機構と、
前記対物レンズの焦点位置と前記ステージ上面との間隔を表示する位置情報表示部と、
を備え
前記焦準機構は、前記ベース部に設けられて前記ステージを昇降させ、
前記位置情報表示部は、前記対物レンズの焦点位置と前記ステージ上面との間隔を表示するスケールを有し、
前記スケールは、基準位置が前記対物レンズの焦点位置と一致するよう前記柱部に、前記顕微鏡の正面側または側面側から前記ステージの上面とともに視認可能な位置に配置され、
前記スケールの基準位置と前記ステージ上面との間隔を、前記標本の高さ情報から調整することにより、前記標本の上面を前記対物レンズの焦点位置近傍に調整することを特徴とする顕微鏡。
In a microscope that irradiates light on a sample on a stage through an objective lens and collects and observes reflected light from the sample,
A microscope main body having at least a base and a column standing upright on the back side of the base;
A focusing mechanism that raises and lowers the stage or the objective lens to adjust the distance between the focal position of the objective lens and the upper surface of the stage;
A position information display unit that displays the distance between the focal position of the objective lens and the upper surface of the stage;
Equipped with
The focusing mechanism is provided on the base unit to raise and lower the stage.
The position information display unit has a scale that displays the distance between the focal position of the objective lens and the upper surface of the stage.
The scale is disposed on the column portion such that the reference position coincides with the focal position of the objective lens, and at a position visible with the upper surface of the stage from the front side or the side of the microscope.
Wherein the distance between the reference position of the scale and the stage upper surface, by adjusting the height information of the specimen, a microscope characterized that you adjust the upper surface of the specimen in the vicinity of the focal point of the objective lens.
記位置情報表示部は、前記スケールの近傍に配置され、前記スケールとともに前記対物レンズの焦点位置と前記ステージ上面との間隔を表示する第1の指標と、を有し、
前記スケールおよび前記第1の指標のいずれか一方は、基準位置が前記対物レンズの焦点位置と一致するよう前記柱部に配置され、他方は前記ステージの昇降に連動して移動するよう焦準機構に配置されていることを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡。
Before Symbol position information display section is disposed in the vicinity of the front Symbol scale, we have a first indicator that displays the distance together with the scale and the focal position of the objective lens and the stage upper surface,
One of the scale and the first index is disposed on the column so that the reference position coincides with the focal position of the objective lens, and the other is moved so as to interlock with the elevation of the stage. The microscope according to claim 1, characterized in that it is arranged in.
記位置情報表示部は、前記スケールの近傍に移動可能に設けられ、前記スケールとともに前記標本の高さを表示する第2の指標と、
を有することを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡。
Before Symbol position information display unit, movably disposed in the vicinity of the front Symbol scale, and a second indicator for displaying the height of the specimen with the scale,
The microscope according to claim 1, characterized in that
前記位置情報表示部は、前記スケールの近傍に移動可能に設けられ、前記スケールとともに前記標本の高さを表示する第2の指標をさらに有することを特徴とする請求項に記載の顕微鏡。 The microscope according to claim 2 , wherein the position information display unit further includes a second index movably provided in the vicinity of the scale and displaying the height of the sample together with the scale. 前記第1の指標は、矢印で構成されることを特徴とする請求項2または4に記載の顕微鏡。 Wherein the first indicators are microscope according to claim 2 or 4, characterized in that it is constituted by the arrow. 前記第2の指標は、矢印で構成されることを特徴とする請求項3または4に記載の顕微鏡。  The microscope according to claim 3, wherein the second index is configured by an arrow. 前記第1の指標は、副尺目盛で構成されることを特徴とする請求項2または4に記載の顕微鏡。 The microscope according to claim 2 or 4 , wherein the first index is constituted by a vernier scale. 前記柱部に配置される前記スケールは、前記対物レンズの光軸方向に移動可能であることを特徴とする請求項〜7のいずれか一つに記載の顕微鏡。 The microscope according to any one of claims 1 to 7, wherein the scale disposed on the column portion is movable in the optical axis direction of the objective lens.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005114999A (en) * 2003-10-07 2005-04-28 Olympus Corp Focusing device for microscope
JP2006106567A (en) * 2004-10-08 2006-04-20 Nikon Corp Lighting apparatus and optical microscope equipped with the same
JP2007316432A (en) * 2006-05-26 2007-12-06 Omron Corp Enlarging observation device
JP2009265526A (en) * 2008-04-28 2009-11-12 Olympus Corp Microscope
JP4610666B1 (en) * 2009-10-02 2011-01-12 株式会社ミラック光学 Shaft fixed sliding stage
CN104076500A (en) * 2014-06-27 2014-10-01 苏州科德溯源仪器有限公司 Rapid focusing device for microscope

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