JP6546292B2 - フォールトトレラントシンドローム抽出およびBacon−Shor量子誤り訂正における復号化 - Google Patents

フォールトトレラントシンドローム抽出およびBacon−Shor量子誤り訂正における復号化 Download PDF

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Description

本発明は、概して量子計算に関し、詳しくは、フォールトトレラントシンドローム抽出およびBacon-Shor量子誤り訂正における復号化に関する。
量子情報処理は、量子アルゴリズムを実装するのに多数かつ高密度の量子ビットを必要とし、また、量子ビットを動作させるためにも古典的な制御および読み出しハードウェアを多数必要とする。超伝導量子ビットの分野では、量子ビットの制御や読み出しを可能にする高密度極低温ハードウェアが必要とされている。コヒーレンス時間と処理忠実度について現在の記録を有する量子ビットとしてのトランスモンは、現在、大型の室温マイクロ波装置によって制御される。
一実施例では、量子システムは、量子情報の項目を記憶するように構成されたキュービットアレイを含む。キュービットアレイは、複数のデータ量子ビットと、複数のデータ量子ビット間の一致を表すシンドロームを抽出するように構成された複数の測定量子ビットとを含む。量子システムはさらに集積回路を含む。この集積回路は、シンドロームが有効かどうか判定するように構成された検証ロジックと、シンドロームを評価して複数のデータ量子ビット内の誤りの位置を決定するように構成された復号化ロジックと、決定された誤りの位置を記憶するように構成された誤りレジスタとを備える。
別の実施例では、量子誤り訂正の方法が提供される。シンドロームがキュービットアレイから抽出され、抽出されたシンドロームが有効シンドロームであるかどうかが判定される。抽出されたシンドロームが有効である場合は、抽出されたシンドロームと最新の有効シンドロームとの間のビットXORが計算される。計算されたビットXORが復号されることにより、誤り状態が変化した量子ビットの位置が決定され、この決定された位置により、キュービットアレイ内における位置を表す誤りレジスタが更新される。
さらに別の実施例では、量子システムは、量子情報の項目を記憶するように構成されたキュービットアレイを含む。キュービットアレイは、複数のデータ量子ビットと、複数のデータ量子ビット間の一致を表すシンドロームを抽出するように構成された複数の測定量子ビットとを含む。量子システムはさらに、レシプロカル量子論理を用いて実現される集積回路を含む。この集積回路は、シンドロームが有効かどうか判定するように構成された検証ロジックと、シンドロームを評価して複数のデータ量子ビット内の誤りの位置を決定するように構成された復号化ロジックと、決定された誤りの位置を記憶するように構成される誤りレジスタとを含む。
本発明の特徴、目的、利点は、図面を参照することで、以下の詳細な説明からより明らかとなる。
誤り訂正を利用する量子システムを示す図。 最近傍相互作用により行および列毎にシンドロームを決定するためのデータ量子ビットと測定量子ビットのアレイを示す図。 5ビットシンドロームを復号化するための回路を示す図。 データ量子ビットのアレイにおける量子誤りを追跡するための方法を示す図。 図4の方法を実現するためのシステムを示す図。
Bacon-Shor量子誤り訂正符号を用いて量子データアレイ内の誤りシンドロームを抽出し復号するためのシステムおよび方法が提供される。一例では、システムは、シンドローム抽出方法を実現し、復号化ロジックを実行し、復号された誤りを追跡するRQL回路として実現される。シンドローム復号として知られる古典的計算により誤りの位置を診断するために、マルチキュービット(Pauli)チェック演算子の測定を使用することができる。これらのチェック演算子は、古典的な線形符号化のパリティチェックに相当する。実際に、多くの量子符号についてシンドロームを復号する処理を古典的な2進線形符号対を復号することに低減することができる。これは、Bacon-Shor符号の場合には、nの量子ビットを有するBacon-Shor符号のシンドローム復号をnビットの古典的反復符号におけるシンドローム復号問題の2つのインスタンスにマッピングすることが可能である。本明細書に提示されるシステムでは、各列がX誤りの診断に使用される単一ビットの古典的反復符号に対応しつつ、各行がZ誤りの診断に使用されるアダマール(Hadamard)回転基底における単一ビットの古典的反復符号に対応するように、Bacon-Shor符号の量子ビットが格子状に配置され得る。チェック演算子の過剰完全基底は、ZijikおよびXjikiによって与えられる。ここで、XおよびZは、標準パウリ(Pauli)演算子であり、最初のインデックスは演算子が動作する量子ビットの行を示し、2番目のインデックスは量子ビットの列を示している。測定結果が0と1で表される場合、シンドロームビットは、それぞれ次式の形をとる。
これは、X誤りの診断に使用される反復符号のj番目およびk番目のビットのパリティに相当する。
これは、Z誤りの診断に使用される反復符号のj番目およびk番目のビットのパリティに相当する。
完全な抽出が与えられる場合、これらのシンドロームは、対応する古典的反復符号内の誤りの位置、すなわち、X誤りまたはZ誤りを含む列または行を示す。Bacon-Shor符号の場合、列における偶数個のX誤り、または行もしくは列における偶数個のZ誤りは問題ではなく、従って、列または行における単一のX誤りまたはZ誤りの位置は重要ではない。シンドロームビットを抽出するために使用される量子ゲートは不可避的に欠陥があり得るので、システムはチェック演算子を測定して、故障に対する信頼性が得られるようにシンドロームビットを処理する。これは、シンドロームを抽出しそれに影響を与える処理がフォールトトレラントであることを保証することによって達成される。すなわち、tが符号について訂正可能な誤りの数よりも少ない限り、処理中におけるt個の量子ゲートの故障は、量子符号ブロック上のt個の誤りよりも多くは生じ得ないことを意味する。
図1は、誤り訂正を利用する量子システム10を示す。このシステム10は、量子情報の項目を記憶するように構成されたキュービットアレイ12を含む。キュービットアレイ12は、複数のデータ量子ビット(データキュービット(data qubit))と、複数のデータ量子ビット間の一致を表すシンドロームを抽出するように構成された複数の測定量子ビット(測定キュービット(measurement qubit))とを含む。一実施形態では、キュービットアレイは、格子状に配置された25個のデータ量子ビットを含み、周期的境界条件を仮定して、データ量子ビットの隣接対の間に50個の測定量子ビットが介在している。複数の測定量子ビットは、X誤りなどの第1の基底に関する複数のデータ量子ビット間の一致を表す第1のシンドロームと、Z誤りなどの第2の基底に関する複数のデータ量子ビット間の一致を表す第2のシンドロームとを抽出するように構成されている。このような場合、半分の測定量子ビットが各基底に適用され得る。一例では、所与の行における測定量子ビットはX基底誤りを検出し、列内の測定量子ビットはZ基底誤りを検出する。
システム10はさらに、抽出されたシンドロームを処理し量子システム10の誤り状態を更新するように構成された集積回路20を含む。一実施形態では、検証ロジック22と復号化ロジック24と誤りレジスタ26とを含む集積回路20をレシプロカル量子論理で実現可能であり、このロジックは量子システム10の極低温領域内部に配置可能である。実際には、集積回路20は、相補型金属酸化物半導体、特定用途向け集積回路チップ、またはフィールドプログラマブルゲートアレイとして実現することが可能である。
集積回路20は、シンドロームが有効かどうかを決定するように構成された検証ロジック22を含む。一実施形態では、検証ロジック22は、抽出されたシンドロームが、隣接する量子ビット間の不一致を表す偶数ビットを有するかどうかを判定することで、有効なシンドロームであるかどうかを判定するように構成されている。無効なシンドロームはすべて棄却され、シンドロームの新しい抽出が実行され得る。追加的または代替的に、複数の測定量子ビットは、第1の基底に関する複数のデータ量子ビット間の一致を表す第1のシンドロームと、第1の基底に関する複数のデータ量子ビット間の一致を表す第2のシンドロームとを抽出するように構成され得る。これら2つの抽出されたシンドロームを用いることにより、検証ロジック22は、第1のシンドロームと第2のシンドロームとを比較し、第1のシンドロームが第2のシンドロームと一致しない場合には、抽出されたシンドロームを棄却し得る。
別の実施形態では、シンドロームが最新の有効シンドローム、すなわち、他のいずれの検証が利用されても成功裏に合格する最後のシンドロームと比較され得る。そして、抽出されたシンドロームが最新の有効シンドロームと同一である場合は、そのシンドロームを復号化ロジック24や誤りレジスタ26に渡さないようにする。これにより、システムの誤り状態に変化がないときの消費電力を節約することができる。一例では、検証ロジック22は、抽出されたシンドロームと最新の有効シンドロームとの対応するビット間のビットXORを計算して更新シンドロームをもたらし、その更新シンドロームを復号化ロジック24に渡すように構成されている。以下に詳しく説明するように、復号化ロジック24は、ヌル[00000]シンドロームが提供される場合には完全に非アクティブであり、これは復号化ロジック24に何も供給しないことと機能的に同じである。
集積回路20は、シンドロームを評価し複数のデータ量子ビット内の誤りの位置を決定するように構成された復号化ロジック24をさらに含む。シンドロームの評価は、抽出されたシンドロームと最後の有効シンドロームとのXORを評価してシステムの誤り状態の以前の状態からの変化を評価することを含み得る。この構成は、集積回路20がレシプロカル量子論理で実現される場合に特に有効であり得る。そのような場合、復号化ロジック24にヌルシンドロームが供給されるとき、換言すれば、誤り状態の変化を表すビットを有さないときには、復号化ロジック24を非アクティブのままにして、復号化ロジックを構成する複数のジョセフソン接合のいずれもトリガされないように復号化ロジック24を実現することができる。これにより、デバイスの消費電力を大幅に低減することができることが理解され得る。復号化ロジック24がレシプロカル量子論理として実現される場合、復号化ロジックは、1つ以上のAndOrゲート、1つ以上のAnotBゲート、およびジョセフソン伝送路として実現される1つ以上の遅延構成要素を含み得る。
誤りレジスタ26は、決定された誤りの位置を記憶するように構成されている。一実施形態では、誤りレジスタは、第1の基底における誤りの位置を記憶する第1の誤りレジスタと、第2の基底における誤りの位置を記憶する第2の誤りレジスタとを含む。これらの抽出は独立して行われるため、以下では2つを別々に説明する。一例では、誤りレジスタ26は複数のフリップフロップとして実現され、各フリップフロップはアレイ内の複数の位置のうちの1つを表す。インクリメンタル更新が使用される場合、最後の有効シンドローム以降に変化した位置を復号化することで、復号化ロジック24は、誤り状態の変化が検出された各位置について、対応するフリップフロップのT入力にビットを供給するのみで、記憶された誤り状態を調整することができる。
図2〜図5は、25キュービットシステムにおけるBacon-Shor量子誤り訂正符号の抽出および復号化のための量子システムの一実施形態を集合的に示す。図2は、最近傍相互作用により行および列毎にシンドロームを決定するためのデータ量子ビットと測定量子ビットのアレイ30を示す。図示されたアレイには、「D」で標示された25個のデータ量子ビットと、「M」で標示された50個の測定量子ビットとが存在する。隣接するデータ量子ビットの各対は、それらの間に介在する1つの測定量子ビットを有し、行または列の最後の量子ビットも隣接量子ビットとして扱われる。すなわち、境界条件は周期的である。図示された実施形態では、各測定量子ビットは、その測定量子ビットのいずれかの側のデータ量子ビットを表すチェック動作を実行し得る。このようなアレイを使用して、周期的境界条件を考慮しながら、格子状に配置される際に隣接する量子ビットをサポートするすべてのチェック演算子を測定することによって、25キュービットのBacon-Shor符号に対するフォールトトレラント量子誤り訂正の手順が開始される。一実施形態では、まず、Z型のチェック演算子が並列に測定されて、各行に対して5つのチェック値が生成された後に、X型のチェック演算子が並列に測定される。従って、Z基底における誤りを検出するために使用される5つのチェック値が各行に生成され、同様に、X基底における誤りを検出するために使用される5つのチェック値が各列に生成される。一実施形態では、これらの値がXORされることで、X基底およびZ基底の各々に対して単一のシンドロームが生成される。
アレイから収集されたシンドロームは、隣接する量子ビット間の不一致を示すのみであり、その示唆された誤りをどの量子ビットまたは量子ビット群が含むかを示すためにはさらに復号化する必要があることが理解され得る。図3は、5ビットのシンドロームを復号するための回路50を示す。具体的に、図3は、表1に含まれる真理値表を単一クロックサイクルで実現するための回路の一例を示す。
図3の回路50は、レシプロカル量子論理(RQL)を利用して単一クロックサイクルで真理値表を実現する。ロジック構成要素60,70,80,90の各セットは、個別のRQLクロック位相を表すことが理解され得る。この回路は、RQLによるAndOr(A/O)ゲート、AnotBゲートと、AndOrゲートやAnotBゲートから得られるXORゲート、ANDゲート、ORゲートと、RQLジョセフソン伝送路により実現された遅延ブロックとにより実現されている。図示された実施形態では、回路50は約120個のジョセフソン接合を含み、そのうちの約70%が任意の所与の時間でアクティブとされる。また、ゼロ誤り位置のワード[00000]に復号するゼロシンドロームのワード[00000]はいずれの接合スイッチングも含まない。以下に詳しく説明するように、これはデコーダのアイドル状態でもある。このため、アイドル状態のときにデコーダでの電力の消費はない。
第1のロジック構成要素60のセットは、第1、第2、および第3のAndOrゲート62,64,66と第1のANDゲート68とを含む。第1のAndOrゲート62は、第1のシンドロームビット(A)と第2のシンドロームビット(B)を入力として受け取り、これら2つのビットの論理積(AND)と論理和(OR)の各々を出力する。第2のAndOrゲート64は、第2のシンドロームビット(B)と第4のシンドロームビット(D)を入力として受け取り、これら2つのビットの論理積と論理和の各々を出力する。第3のAndOrゲート66は、第4のシンドロームビット(D)と第5のシンドロームビット(E)を入力として受け取り、これら2つのビットの論理積と論理和の各々を出力する。第1のANDゲート68は、第1のシンドロームビット(A)と第5のシンドロームビット(E)を入力として受け取り、これらのビット間の論理積を出力する。
第2のロジック構成要素70のセットは、5つのAnotBゲート72〜76と2つの遅延構成要素78,79とを含む。第1のAnotBゲート72は、第1のAndOrゲート62からの論理積(AND)と論理和(OR)を入力として受け取る。このとき、第1のAnotBゲート72は、論理積を否定入力として受け取る。そして、第1および第2のシンドロームビットの論理和が真であり、かつ、論理積が真でない場合にのみ、論理真理を表す出力が第1のAnotBゲート72によって提供される。実際上は、第1のAnotBゲート72と第1のAndOrゲート62は、第1のシンドロームビットと第2のシンドロームビットとの間の論理XORを集合的に形成する。同様に、第2のAnotBゲート73は、第2のAndOrゲート64からの論理積と論理和を入力として受け取る。このとき、第2のAnotBゲート73は、論理積を否定入力として受け取る。そして、第2のAnotBゲート73は、第2のシンドロームビットと第4のシンドロームビットとの間の論理XORを提供する。また、第3のAnotBゲート74は、第3のAndOrゲート66からの論理積と論理和を入力として受け取る。このとき、第3のAnotBゲート74は、論理積を否定入力として受け取る。そして、第3のAnotBゲート74は、第4のシンドロームビットと第5のシンドロームビットとの間の論理XORを提供する。
第4のAnotBゲート75は、第2のAndOrゲート64から出力された論理積(AND)を否定入力として受け取るとともに、第1のANDゲート68の出力を第2の入力として受け取る。実際上は、この第4のAnotBゲートは、第1および第5のシンドロームビットが1であり、第2および第4のシンドロームビットの少なくとも1つが0である場合にのみ、論理真理を表す出力を提供する。第5のAnotBゲート76は、第3のシンドロームビット(C)を否定入力として受け取るとともに、第2のAnotBゲート73の出力を第2の入力として受け取る。実際上は、第5のAnotBゲート76は、第3のシンドロームビットが0であり、第2および第4のシンドロームビットが異なる値を有する場合に、論理真理を表す出力を提供する。第1の遅延構成要素78は、アクティブ構成要素62,64,66,68,72〜76が機能している間に、第1のシンドロームビットの値をバッファする。同様に、第2の遅延構成要素79は、第5のシンドロームビットの値をバッファする。
第3のロジック構成要素80のセットは、第2のANDゲート82と、ORゲート84と、第3、第4、および第5の遅延構成要素86〜88とを含む。第2のANDゲート82は、第1のAnotBゲート72の出力を第1の入力として受け取るとともに、第5のAnotBゲート76の出力を第2の入力として受け取る。実際上は、第2のANDゲート82は、第3のシンドロームビットが0であり、かつ、第2のシンドロームビットと第1および第4のシンドロームの論理積(AND)とのXORが真である場合に、論理真理を表す出力を提供する。記号で表すと、このゲートの出力は、以下のように表すことができる。
ORゲート84は、第2のANDゲート82の出力を第1の入力として受け取るとともに、第4のAnotBゲート75の出力を第2の入力として受け取る。第4のAnotBゲート75は、第1および第5のシンドロームビットの双方が1であり、第2および第4のシンドロームビットの少なくとも1つが0である場合にのみ、論理真理を表す出力を提供する。従って、ORゲート84の出力は、記号では以下のように表すことができる。
ORゲート84の出力は、セット内の第1の量子ビットが誤りを含むかどうかを示し、このORゲートからの出力は、第1の量子ビット(Q1)の誤りを示す論理真理を表す。第3の遅延構成要素86は、アクティブ構成要素82,84が機能している間に、第1のシンドロームビットの値をバッファする。同様に、第4の遅延構成要素87は、第3のAnotBゲート74の出力をバッファし、第5の遅延構成要素88は、第5のシンドロームビットの値をバッファする。
第4のロジック構成要素90のセットは、4つのXORゲート92〜95を含む。XORゲート92〜95の各々は、ORゲート84の出力を第1の入力として受け取る。第1のXORゲート92は、遅延された第1のシンドロームビットを第2の入力として受け取り、第2の量子ビット(Q2)の誤りを表す出力を提供する。第2のXORゲート93は、第1のAnotBゲート72の出力を第2の入力として受け取り、第3の量子ビット(Q3)の誤りを表す出力を提供する。第3のXORゲート94は、第3のAnotBゲート74の出力を第2の入力として受け取り、第4の量子ビット(Q4)の誤りを表す出力を提供する。第5のXORゲート95は、遅延された第5のシンドロームビットを第2の入力として受け取り、第5の量子ビット(Q5)の誤りを表す出力を提供する。このようにして、回路50は、提供されたシンドロームを復号して、アレイ内の誤りの特定の位置を示す。
実際上は、誤り訂正アルゴリズムが時間的に進行するときには、誤りの追跡を維持し、誤り状態が変化したときにのみ誤り位置レジスタを更新することが望ましい。クリフォード(Clifford)群の量子ゲートを介して誤りを古典的データとして追跡して伝播すれば十分である。誤りは、非クリフォードゲートを実行する場合にのみ訂正する必要がある。図2〜図5に示す実施形態では、誤り追跡は、シンドロームベクトルへの更新を決定するために現在の有効シンドロームワードと最後の有効シンドロームワードとの間のXOR演算を利用する。現在の有効シンドロームと最後の有効シンドロームとの間で異なるビットのみが復号化されることとなる。そして、復号されたシンドロームベクトルが誤り位置レジスタにおいてXORされて、誤り状態のインクリメンタル更新が本質的に実行される。ハードウェアレベルでは、レジスタビットがTフリップフロップとして実現されている場合、誤り位置レジスタへのインクリメンタル更新を容易に実施することができる。
図4は、この目的のために、データ量子ビットのアレイ132における量子誤りを追跡するための方法100を示す。図5は、図4の方法を実現するためのシステム130を示す。102では、例えば検証の目的で、所与のシンドロームに対する再抽出であるかどうかが判定される。それでなければ(N)、方法は104に進み、アレイ132からシンドロームが抽出され、方法は106に進む。この処理では、同じ行のZ型測定または列のX型測定にわたるチェック演算子の測定結果がともにXORされてシンドロームビットが得られる。図5のアレイを参照すると、回路へのデータ入力は、アレイ132内における25個のダイヤモンド形状のポートである。各入力は、測定量子ビットの読み出しから得られる古典的ビットを伝え、パリティチェック演算子の値を表す。25個の入力は、XパリティまたはZパリティを測定する量子ビットの5つの列または行にそれぞれ対応する5つのグループでXORされる。従って、5つのXシンドロームビットと5つのZシンドロームビットが存在する。
106では、関連する検証ロジック134においてシンドロームが有効であるかどうかが判定される。図示の処理では、X誤りを診断するためのシンドロームビットと、Z誤りを診断するためのシンドロームビットがそれぞれ独立して処理される。以下の説明では、単一の5ビットシンドロームを仮定する。一実施形態では、シンドロームが偶数個の論理1を含む場合、シンドロームは有効である。シンドロームが有効でない場合(N)には、108で再抽出フラグがクリアされ、システムは102に戻る。シンドロームが有効である場合(Y)には、方法は110に続く。110では、シンドロームが最後に知られている有効シンドロームに比べて重要であるかどうかが判定される。具体的には、記憶されたシンドロームが最終有効シンドロームバッファ136に記憶されたシンドロームと比較されることで、システムの誤り状態が変化したかどうかを判定することができる。シンドロームが同じである場合(N)には、108で再抽出フラグがクリアされ、システムは102に戻る。シンドロームが同じでない場合(Y)には、112でシンドロームが現シンドロームバッファ138に記憶され、114で再抽出フラグがセットされる。その後、方法は102に戻る。
102に戻ると、所与のシンドロームに対する最初の抽出でないと判定された場合(Y)には、方法は116に進む。116では、再抽出フラグがセットされているかどうか判定される。これは、検証ロジック134によって行うことができる。再抽出フラグがセットされていない場合(N)には、方法は、クロックサイクルの残りの期間アイドルとなり、102に戻る。再抽出フラグがセットされている場合(Y)には、方法は118に進み、第2のシンドロームが抽出される。120では、第2のシンドロームが有効であるかどうかが判定される。有効でない場合(N)には方法は102に戻り、有効である場合(Y)には方法は122に進む。122では、第2のシンドロームが、抽出された第1のシンドロームと一致するかどうかが判定される。2つのシンドロームが一致しない場合(N)には方法は102に戻り、2つのシンドロームが一致する場合(Y)には方法は124に進む。124では、抽出されたシンドロームと最後の有効シンドロームとの対応するビット間でそれぞれXOR演算が実行される。その結果得られた値が、図3に示されるものなどのようなデコーダ142に供給され、126において、アレイ内のいずれかの位置の誤り状態が変化したかどうかが判定される。そして、128において、誤りレジスタ144に新たな誤り状態が供給され得る。129では、新たに有効と評価されたシンドロームが最終有効シンドロームバッファ136に記憶され得る。
現在のシンドロームと最後の有効シンドロームとの間で異なるビットのみが図5の回路で復号される。そして、復号されたシンドロームベクトルが誤り位置レジスタにおいてXORされ、誤り状態のインクリメンタル更新が本質的に実行される。ハードウェアレベルでは、レジスタビットがTフリップフロップとして実現されている場合、誤り位置レジスタへのインクリメンタル更新を容易に実施することができる。誤りレジスタの入力にあるマルチプレクサは、他の誤り訂正ユニットとの情報交換を可能とし、論理クリフォードゲートを実行するときに論理量子ビット間の誤り伝搬を容易にする。その後、方法は102に戻り、別のシンドロームを抽出する。
制御方法の簡潔さは、ハードウェアでの符号化に適している。制御システムを実現する特定用途向け集積回路はレシプロカル量子論理(RQL)で実現することができ、量子ビットと同じチップ上に、または量子ビットチップに近接して取り付けられた別個のチップ上に、例えばマルチチップキャリアモジュールを使用して配置することができる。全てのデータ経路は古典的情報を伝達するので、コントローラもCMOS技術で実現することができる。RQLで実現される場合、回路は約1,500のジョセフソン接合を含むものとなり、1回の抽出につき約10回のRQLクロックサイクルを要するものとなる。抽出の間、回路はアイドル状態であり、電力を消費しない。回路の平均動作係数は2%未満になると予想される。このことから、クロックレートとRQL接合パラメータに応じて、平均消費電力を見積もることができる。現実的なパラメータの場合、チップ上の平均電力損失は1ナノワットのオーダである。
以下、本開示の技術に関する技術的思想を付記する。
[付記1]
量子システムであって、
量子情報の項目を記憶するように構成され、複数のデータ量子ビットと、前記複数のデータ量子ビット間の一致を表すシンドロームを抽出するように構成された複数の測定量子ビットとを含むキュービットアレイと、
レシプロカル量子論理を用いて実現される集積回路と、
を備え、前記集積回路は、
前記シンドロームが有効かどうかを判定するように構成された検証ロジックと、
前記シンドロームを評価して前記複数のデータ量子ビット内の誤りの位置を決定するように構成された復号化ロジックと、
決定された前記誤りの位置を記憶するように構成された誤りレジスタと、
を備える、量子システム。
[付記2]
前記復号化ロジックは、少なくとも1つのAndOrゲートと、少なくとも1つのAnotBゲートとを含む、付記1に記載の量子システム。
[付記3]
前記復号化ロジックは複数のジョセフソン接合を含み、前記複数のジョセフソン接合の関連位置における誤り状態の変化を表したゼロビットを有するシンドロームが前記復号化ロジックに供給されるとき、前記ジョセフソン接合のいずれもトリガされないように構成されている、付記1に記載の量子システム。
[付記4]
前記検証ロジックは、抽出された前記シンドロームと最新の有効シンドロームとの対応するビット間のビットXORを計算して更新シンドロームをもたらし、前記更新シンドロームを前記復号化ロジックに渡すように構成されている、付記3に記載の量子システム。
[付記5]
前記復号化ロジックは、ジョセフソン伝送路として実現される少なくとも1つの遅延構成要素を含む、付記1に記載の量子システム。
[付記6]
前記誤りレジスタは、前記キュービットアレイ内の複数の位置のうちの1つをそれぞれ表す複数のフリップフロップとして実現されている、付記1に記載の量子システム。
[付記7]
前記復号化ロジックは、前記キュービットアレイ内の前記複数の位置の各々について、前記複数のフリップフロップのうちそれぞれのフリップフロップのT入力にビットを供給し、供給される前記ビットはその関連位置における誤り状態の変化を表す、付記6に記載の量子システム。
[付記8]
前記検証ロジックは、抽出された前記シンドロームと最新の有効シンドロームとを比較し、抽出された前記シンドロームが前記最新の有効シンドロームと同一である場合には、前記復号化ロジックおよび前記誤りレジスタに前記シンドロームを渡さないように構成されている、付記1に記載の量子システム。
[付記9]
前記検証ロジックは、抽出された前記シンドロームと前記最新の有効シンドロームとの対応するビット間のビットXORを計算して更新シンドロームをもたらし、前記更新シンドロームを前記復号化ロジックに渡すように構成されている、付記8に記載の量子システム。
[付記10]
前記複数の測定量子ビットは、第1の基底に関する前記複数のデータ量子ビット間の一致を表す第1のシンドロームと、前記第1の基底に関する前記複数のデータ量子ビット間の一致を表す第2のシンドロームとを抽出するように構成されており、前記検証ロジックは、前記第1のシンドロームと前記第2のシンドロームとを比較して、前記第1のシンドロームが前記第2のシンドロームに適合しない場合には、抽出された前記シンドロームを棄却するように構成されている、付記1に記載の量子システム。
[付記11]
前記複数の測定量子ビットは、第1の基底に関する前記複数のデータ量子ビット間の一致を表す第1のシンドロームと、第2の基底に関する前記複数のデータ量子ビット間の一致を表す第2のシンドロームとを抽出するように構成されており、前記誤りレジスタは、前記第1の基底における誤りの位置を記憶する第1の誤りレジスタを含み、前記量子システムはさらに、前記第2の基底における誤りの位置を記憶する第2の誤りレジスタを備える、付記1に記載の量子システム。
[付記12]
前記検証ロジックは、抽出された前記シンドロームが、隣接する量子ビット間の不一致を表す偶数ビットを有しているかどうか判定するように構成されている、付記1に記載の量子システム。
[付記13]
量子誤り訂正のための方法であって、
キュービットアレイからシンドロームを抽出すること、
抽出された前記シンドロームが有効シンドロームかどうか判定すること、
抽出された前記シンドロームが有効である場合に、抽出された前記シンドロームと最新の有効シンドロームとの間のビットXORを計算すること、
計算された前記ビットXORを復号化して誤り状態が変化した量子ビットの位置を決定すること、
前記キュービットアレイ内における位置を表す誤りレジスタを、決定された前記位置により更新すること、
を備える方法。
[付記14]
前記キュービットアレイからシンドロームを抽出することは、前記キュービットアレイから第1のシンドロームを抽出することを含み、
前記キュービットアレイから第2のシンドロームを抽出すること、
抽出された前記第1のシンドロームと抽出された前記第2のシンドロームとを比較すること、をさらに備え、
前記抽出された前記シンドロームと最新の有効シンドロームとの間のビットXORを計算することは、抽出された前記第1のシンドロームが有効であり、かつ抽出された前記第1のシンドロームが抽出された前記第2のシンドロームと同一である場合に、抽出された前記シンドロームと最新の有効シンドロームとの間のビットXORを計算することを含む、付記13に記載の方法。
[付記15]
前記抽出された前記第1のシンドロームが有効シンドロームであるかどうかを判定することは、抽出された前記シンドロームが、隣接する量子ビット間の不一致を表す偶数ビットを有しているかどうか判定することを含む、付記14に記載の方法。
[付記16]
量子システムであって、
量子情報の項目を記憶するように構成され、複数のデータ量子ビットと複数の測定量子ビットとを含むキュービットアレイであって、前記複数の測定量子ビットが、第1の基底に関する前記複数のデータ量子ビット間の一致を表す第1のシンドロームと、前記第1の基底に関する前記複数のデータ量子ビット間の一致を表す第2のシンドロームとを抽出するように構成された前記キュービットアレイと、
集積回路と、
を備え、前記集積回路は、
シンドロームが有効かどうかを判定し、前記第1のシンドロームと前記第2のシンドロームとを比較して、前記第1のシンドロームが前記第2のシンドロームに適合しない場合には、抽出された前記シンドロームを棄却するように構成された検証ロジックと、
前記シンドロームを評価して前記複数のデータ量子ビット内における誤りの位置を決定するように構成された復号化ロジックと、
決定された前記誤りの位置を記憶するように構成された誤りレジスタと、
を備える、量子システム。
[付記17]
前記集積回路は、相補型金属酸化物半導体として実現されている、付記16に記載の量子システム。
[付記18]
前記集積回路は、特定用途向け集積回路チップとして実現されている、付記16に記載の量子システム。
[付記19]
前記検証ロジック、前記復号化ロジック、および前記誤りレジスタの各々は、レシプロカル量子論理として実現されている、付記16に記載の量子システム。
[付記20]
前記復号化ロジックは複数のジョセフソン接合を含み、前記複数のジョセフソン接合の関連位置における誤り状態の変化を表したゼロビットを有するシンドロームが前記復号化ロジックに供給されるとき、前記ジョセフソン接合のいずれもトリガされないように構成されている、付記19に記載の量子システム。
[付記21]
前記集積回路は、プログラマブルゲートアレイとして実現されている、付記16に記載の量子システム。
本発明は、例示的に開示されている。従って、本開示を通じて使用される用語は、限定的なものではなく例示的なものとして解釈されるべきである。本発明のわずかな変更がもたらされる場合でも、当業者には、本明細書で保証される特許請求の範囲内に限定されることが意図されるものは、本技術の進歩により貢献がもたらされる範囲内に合理的に含まれるような全ての実施形態であることが理解され得る。権利の範囲は、添付の特許請求の範囲およびそれらの等価物の観点であることを除いて、限定されるべきではない。

Claims (8)

  1. 量子システムであって、
    量子情報の項目を記憶するように構成され、複数のデータ量子ビットと、シンドロームを抽出するように構成された複数の測定量子ビットとを含むキュービットアレイであって、前記シンドロームの各ビットは、前記複数のデータ量子ビットのうちの隣接する量子ビットの対の間の一致を表している、前記キュービットアレイと、
    積回路と、
    を備え、前記集積回路は、
    前記シンドロームが有効かどうかを判定するように構成された検証ロジックであって、有効なシンドロームは、前記複数のデータ量子ビットのうちの隣接する量子ビット間の不一致を表す偶数個のビットを有している、前記検証ロジックと、
    前記シンドロームを評価して前記複数のデータ量子ビット内の誤りの位置を決定するように構成された復号化ロジックと、
    決定された前記誤りの位置を記憶するように構成された誤りレジスタと、
    を備え、前記検証ロジックは、抽出された前記シンドロームと前の有効シンドロームとを比較し、抽出された前記シンドロームが前記前の有効シンドロームと同一である場合には、前記復号化ロジックおよび前記誤りレジスタに前記シンドロームを渡さないように構成されている、量子システム。
  2. 前記復号化ロジックは、少なくとも1つのAndOrゲートと、少なくとも1つのAnotBゲートとを含む、請求項1に記載の量子システム。
  3. 前記復号化ロジックは、ジョセフソン伝送路として実現される少なくとも1つの遅延構成要素を含む、請求項1に記載の量子システム。
  4. 前記誤りレジスタは、前記キュービットアレイ内の複数の位置のうちの1つをそれぞれ表す複数のフリップフロップとして実現されている、請求項1に記載の量子システム。
  5. 前記復号化ロジックは、前記キュービットアレイ内の前記複数の位置の各々について、前記複数のフリップフロップのうちそれぞれのフリップフロップのT入力にビットを供給し、供給される前記ビットはその関連位置における誤り状態の変化を表す、請求項に記載の量子システム。
  6. 前記検証ロジックは、抽出された前記シンドロームと前記の有効シンドロームとの対応するビット間のビットXORを計算して更新シンドロームをもたらし、前記更新シンドロームを前記復号化ロジックに渡すように構成されている、請求項に記載の量子システム。
  7. 前記複数の測定量子ビットは、第1の複数の測定量子ビットであり、前記シンドロームは、第1のシンドロームであり、前記第1のシンドロームは、第1の測定基底を表し、前記システムは、第2の測定底を表す第2のシンドロームを抽出するように構成された第2の複数の測定量子ビットをさらに備え、前記誤りレジスタは、前記第1の測定基底における誤りの位置を記憶する第1の誤りレジスタ、前記第2の測定基底における誤りの位置を記憶する第2の誤りレジスタとを含む、請求項1に記載の量子システム。
  8. 量子誤り訂正のための方法であって、
    キュービットアレイからシンドロームを抽出することであって、前記シンドロームの各ビットは、複数のデータ量子ビットのうちの隣接する量子ビットの対の間の一致を表している、前記抽出すること
    抽出された前記シンドロームが有効シンドロームかどうか判定することであって、有効なシンドロームは、前記複数のデータ量子ビットのうちの隣接する量子ビット間の不一致を表す偶数個のビットを有している、前記判定すること
    抽出された前記シンドロームが有効である場合に、抽出された前記シンドロームとの有効シンドロームとの間のビットXORを計算すること、
    抽出された前記シンドロームが前記前の有効シンドロームと同一でない場合に、計算された前記ビットXORを復号化して誤り状態が変化した量子ビットの位置を決定すること、
    前記キュービットアレイ内における位置を表す誤りレジスタを、決定された前記位置により更新すること、を備える方法。
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