JP6543198B2 - 多次元に分離されたイオン強度のデータ依存制御 - Google Patents
多次元に分離されたイオン強度のデータ依存制御 Download PDFInfo
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Description
本出願は、2014年3月14日出願の英国特許出願第1304583.6号及び2014年3月14日出願の欧州特許出願第13159164.6号の優先権及び利益を主張する。これらの出願の内容全体は、参照により本明細書に組み込まれる。
イオン源のイオン化効率を第1の値に設定し、かつ/または減衰装置の減衰係数を第1の値に設定し、かつ/またはイオン検出器もしくはイオン検出システムのゲインを第1の値に設定することと、
第1の物理化学特性に従ってイオンを分離またはフィルタリングし、第2の物理化学的特性に従ってイオンを分離またはフィルタリングし、多次元配列データを取得することと、
多次元配列データの1つ以上のサブセット内で最も強いイオンピークを決定することと、
最も強いイオンピークがイオン検出器もしくはイオン検出システムの飽和を生じさせるか、またはさもなければイオン検出器もしくはイオン検出システムの動作に悪影響を及ぼすか否かを決定することと、を含む質量分析方法であって、
最も強いイオンピークが前記イオン検出器もしくはイオン検出システムの飽和を生じさせるか、またはさもなければイオン検出器もしくはイオン検出システムの動作に悪影響を及ぼすと決定された場合、
(i)イオン源の前記イオン化効率を第2の値に調整し、かつ/または減衰装置の減衰係数を第2の値に調整し、かつ/またはイオン検出器もしくはイオン検出システムのゲインを第2の値に調整することと、
(ii)質量スペクトルデータを取得することであって、イオン源の前記イオン化効率の調整、及び/または減衰装置の減衰係数の調整、及び/またはイオン検出器もしくはイオン検出システムのゲインの調整が、実質的に均等にかつ前記イオンの質量対電荷比に実質的に関係なく、イオン検出器もしくはイオン検出システムによって検出される実質的にすべてのイオン強度を変更する、取得することと、
(iii)イオン源のイオン化効率及び/または減衰装置の減衰係数及び/またはイオン検出器もしくはイオン検出システムのゲインが増加または減少した程度に基づいて、質量スペクトルデータの強度を計測することと、をさらに含む、質量分析方法が提供される。
第1の物理化学的特性に従ってイオンを分離またはフィルタリングする第1の装置と、
第2の物理化学的特性に従ってイオンを分離またはフィルタリングする第2の装置と、
イオン検出器もしくはイオン検出システムと、
制御システムと、を備え、この制御システムは、
(i)イオン源のイオン化効率を第1の値に設定し、かつ/または減衰装置の減衰係数を第1の値に設定し、かつ/またはイオン検出器もしくはイオン検出システムのゲインを第1の値に設定し、その後、
(ii)第1の装置内でイオンが第1の物理化学的特性に従って分離またはフィルタリングされ、イオンが第2の物理化学的特性に従って分離またはフィルタリングされ、多次元配列データを取得し、
(iii)多次元配列データの1つ以上のサブセット内で最も強いイオンピークを決定し、
(iv)最も強いイオンピークが、イオン検出器もしくはイオン検出システムの飽和を生じさせるか、またはさもなければイオン検出器もしくはイオン検出システムの動作に悪影響を及ぼすか否かを決定するように配置及び適合され、
最も強いイオンピークがイオン検出器もしくはイオン検出システムの飽和を生じさせるか、またはさもなければイオン検出器もしくはイオン検出システムの動作に悪影響を及ぼすと決定された場合、制御システムが、
(v)イオン源のイオン化効率を第2の値に調整し、かつ/または減衰装置の減衰係数を第2の値に調整し、かつ/またはイオン検出器もしくはイオン検出システムのゲインを第2の値に調整し、
(vi)イオン源のイオン化効率の調整、及び/または減衰装置の減衰係数の調整、及び/またはイオン検出器もしくはイオン検出システムのゲインの調整が、実質的に均等にかつイオンの質量対電荷比に実質的に関係なく、イオン検出器もしくはイオン検出システムによって検出される実質的にすべてのイオン強度を変更する、質量スペクトルデータを取得し、
(vii)イオン源のイオン化効率及び/または減衰装置の減衰係数及び/またはイオン検出器もしくはイオン検出システムのゲインが増加または減少した程度に基づいて、質量スペクトルデータの強度を計測するようにさらに配置及び適合される、質量分析計が提供される。
第1の物理化学的特性に従ってイオンを分離またはフィルタリングすることと、
第2の物理化学的特性に従ってイオンを分離またはフィルタリングすることと、
イオン検出器または質量分析計のその他の構成要素の飽和を回避するために、第1の範囲内の第1の物理化学的特性及び第2の範囲内の第2の物理化学的特性を有するイオンの強度を制御または変更することと、を含む、質量分析方法が提供される。
第1の物理化学的特性に従ってイオンを分離またはフィルタリングする第1の装置と、
第2の物理化学的特性に従ってイオンを分離またはフィルタリングする第2の装置と、
イオン検出器と、
制御システムであって、
(i)イオン検出器または質量分析計のその他の構成要素の飽和を回避するために、第1の範囲内の第1の物理化学的特性及び第2の範囲内の第2の物理化学的特性を有するイオンの強度を制御または変更するように配置及び適合される、制御システムと、を備える、質量分析計が提供される。
少なくとも第1及び第2の物理化学的特性に従ってイオンを分離またはフィルタリングすることと、
質量分析計の構成要素が必要なダイナミックレンジ内で動作するよう、特定の第1及び第2の物理化学的特性を有するイオンの強度を制御または変更することと、を含む、質量分析方法が提供される。
少なくとも第1及び第2の物理化学的特性に従ってイオンを分離またはフィルタリングするように配置及び適合された装置と、
質量分析計の構成要素が必要なダイナミックレンジ内で動作するように、特定の第1及び第2の物理化学的特性を有するイオンの強度を制御または変更するように配置及び適合された制御システムと、を備える、質量分析計が提供される。
多次元配列データを取得することと、
多次元配列データのサブセット内で最も強いイオンピークを決定し、それに応じて、イオンの強度とイオン検出器のゲインを増加または減少させることと、
イオンの強度とイオン検出器のゲインが増加または減少した程度に基づいて、その後の多次元データの強度を計測することと、を含む、質量分析方法が提供される。
制御システムであって、
(i)多次元配列データを取得し、
(ii)多次元配列データのサブセット内で最も強いイオンピークを決定し、それに応じて、イオンの強度とイオン検出器のゲインを増加または減少させ、
(iii)イオンの強度とイオン検出器のゲインが増加または減少した程度に基づいて、その後の多次元データの強度を計測するように配置及び適合される、制御システムを備える、質量分析計が提供される。
(i)第1の期間内での複数の実質的に直交の分離方法、または複数の実質的に直交の分離方法によってイオンが分離された多次元配列データまたは複数の配列データを収集すること、
(ii)所定の領域または配列及び/または複数の前の配列の領域内の信号の強度に基づいて、質量分析計の運転パラメータを調整して、信号の強度を変更する必要があるかを決定すること、
(iii)所定の範囲(複数可)内の最大信号が、第2の次の期間でのデータの取得中に、検出器またはデータ記録システムのダイナミックレンジ内にあるように、第2の期間内の信号強度が変化されるように、質量分析計の運転パラメータを調整すること、
(iv)質量分析計の運転パラメータの既知の変化または状態に基づいて、次の多次元配列データの強度を計測することによって、質量分析計のダイナミックレンジを拡張する方法が提供される。
(a)イオン源であって、(i)エレクトロスプレーイオン化(「ESI」)イオン源、(ii)大気圧光イオン化(「APPI」)イオン源、(iii)大気圧化学イオン化(「APCI」)イオン源、(iv)マトリクス支援レーザー脱離イオン化(「MALDI」)イオン源、(v)レーザー脱離イオン化(「LDI」)イオン源、(vi)大気圧イオン化(「API」)イオン源、(vii)シリコン上脱離イオン化(「DIOS」)イオン源、(viii)電子衝撃(「EI」)イオン源、(ix)化学イオン化(「CI」)イオン源、(x)フィールドイオン化(「FI」)イオン源、(xi)フィールド脱離(「FD」)イオン源、(xii)誘導結合プラズマ(「ICP」)イオン源、(xiii)高速原子衝撃(「FAB」)イオン源、(xiv)液体二次イオン質量分析(「LSIMS」)イオン源、(xv)脱離エレクトロスプレーイオン化(「DESI」)イオン源、(xvi)ニッケル63放射性イオン源イオン源、(xvii)大気圧マトリクス支援レーザー脱離イオン化イオン源、(xviii)サーモスプレーイオン源、(xix)大気圧サンプリンググロー放電イオン化(「ASGDI」)イオン源、(xx)グロー放電(「GD」)イオン源、(xxi)インパクタイオン源、(xxii)リアルタイム直接質量分析(「DART」)イオン源、(xxiii)レーザースプレーイオン化(「LSI」)イオン源、(xxiv)ソニックスプレーイオン化(「SSI」)イオン源、(xxv)マトリクス支援流入イオン化(「MAII」)イオン源、及び(xxvi)溶媒支援流入イオン化(「SAII」)イオン源からなる群から選択されるイオン源、及び/または、
(b)1つ以上の連続またはパルス状イオン源、及び/または、
(c)1つ以上のイオンガイド、及び/または
(d)1つ以上のイオン移動度分離装置及び1つ以上の非対称場イオン移動度分光計装置、及び/または、
(e)1つ以上のイオントラップまたは1つ以上のイオントラップ領域、及び/または、
(f)1つ以上の衝突、断片化、または反応セルであって、(i)衝突誘起解離(「CID」)断片化装置、(ii)表面誘起解離(「SID」)断片化装置、(iii)電子移動解離(「ETD」)断片化装置、(iv)電子捕獲解離(「ECD」)断片化装置、(v)電子衝突または衝撃解離断片化装置、(vi)光誘起解離(「PID」)断片化装置、(vii)レーザー誘起解離断片化装置、(viii)赤外線放射誘起解離装置、(ix)紫外線放射誘起解離装置、(x)ノズル−スキマーインターフェイス断片化装置、(xi)インソース断片化装置、(xii)インソース衝突誘起解離断片化装置、(xiii)熱源または温源断片化装置、(xiv)電界誘起断片化装置、(xv)磁界誘起断片化装置、(xvi)酵素消化または酵素分解断片化装置、(xvii)イオン−イオン反応断片化装置、(xviii)イオン−分子反応断片化装置、(xix)イオン−原子反応断片化装置、(xx)イオン−準安定原子反応断片化装置、(xxi)イオン−準安定原子分子反応断片化装置、(xxii)イオン−準安定原子反応断片化装置、(xxiii)イオンを反応させ、付加または生成イオンを形成するイオン−イオン反応装置、(xxiv)イオンを反応させ、付加または生成イオンを形成するイオン−分子反応装置、(xxv)イオンを反応させ、付加または生成イオンを形成するイオン−原子反応装置、(xxvi)イオンを反応させ、付加または生成イオンを形成するイオン−準安定原子反応装置、(xxvii)イオンを反応させ、付加または生成イオンを形成するイオン−準安定原子分子反応装置、(xxviii)イオンを反応させ、付加または生成イオンを形成するイオン−準安定原子反応装置、及び(xxix)電子イオン化解離(「EID」)断片化装置からなる群から選択されるセル、及び/または、
(g)質量分析器であって、(i)四極子質量分析器、(ii)2次元または直線四極子質量分析器、(iii)ポール3次元四極子質量分析器、(iv)ペニングトラップ質量分析器、(v)イオントラップ質量分析器、(vi)磁場型質量分析器、(vii)イオンサイクロトロン共鳴(「ICR」)質量分析器、(viii)フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴(「FTICR」)質量分析器、(ix)四対数電位分布を有する静電場を生成するように配置された静電質量分析器、(x)フーリエ変換静電質量分析器、(xi)フーリエ変換質量分析器、(xii)飛行時間質量分析器、(xiii)直交加速飛行時間質量分析器、及び(xiv)直線加速飛行時間質量分析器からなる群から選択される質量分析器、及び/または
(h)1つ以上のエネルギー分析器または静電エネルギー分析器、及び/または、
(i)1つ以上のイオン検出器、及び/または、
(j)1つ以上の質量フィルターであって、(i)四極子質量フィルター、(ii)2次元または直線四極子イオントラップ、(iii)ポール3次元四極子イオントラップ、(iv)ペニングイオントラップ、(v)イオントラップ、(vi)磁場型質量フィルター、(vii)飛行時間質量フィルター、及び(viii)ウィーンフィルターからなる群から選択される、質量フィルター、及び/または、
(k)イオンをパルス化する装置またはイオンゲート、及び/または、
(l)実質的に連続するイオンビームをパルス状のイオンビームに変換する装置をさらに備えてもよい。
(i)四対数電位分布で静電場を形成する外部の樽状電極と同軸内部のスピンドル状電極を備えるCトラップ及び質量分析器であって、第1の動作モードで、イオンが、Cトラップに透過され、次に質量分析器に注入され、第2の動作モードで、イオンが、Cトラップに透過され、次に衝突セルまたは電子移動解離装置に透過され、少なくとも一部のイオンが断片イオンに断片化され、次に、質量分析器に注入される前に、断片イオンがCトラップに透過される、Cトラップ及び質量分析器、及び/または、
(ii)使用時、イオンがそれを通って透過される開口部をそれぞれが有する複数の電極を備える積層リングイオンガイドであって、電極の間隔がイオン経路の長さに沿って増加し、イオンガイドの上流にある電極内の開口部が、第1の直径を有し、イオンガイドの下流にある電極内の開口部が、第1の直径よりも小さい第2の直径を有し、使用時、ACまたはRF電圧の逆位相が連続する電極に印加される、積層リングイオンガイドのいずれかをさらに備えてもよい。
Claims (28)
- 質量分析方法であって、
イオン源のイオン化効率を第1の値に設定し、かつ/または減衰装置の減衰係数を第1の値に設定し、かつ/またはイオン検出器もしくはイオン検出システムのゲインを第1の値に設定することと、
第1の物理化学的特性に従ってイオンを分離またはフィルタリングし、第2の物理化学的特性に従ってイオンを分離またはフィルタリングし、多次元配列データを取得することと、
前記多次元配列データの1つ以上の多次元サブセット内で最も強いイオンピークを決定することと、
前記最も強いイオンピークが、イオン検出器もしくはイオン検出システムの飽和を生じさせるか、またはさもなければ前記イオン検出器もしくはイオン検出システムの動作に悪影響を及ぼすか否かを決定することと、を含み、
前記最も強いイオンピークが、前記イオン検出器もしくはイオン検出システムの飽和を生じさせるか、またはさもなければ前記イオン検出器もしくはイオン検出システムの動作に悪影響を及ぼすと決定された場合、前記方法が、
(i)前記イオン源の前記イオン化効率を第2の値に調整し、かつ/または前記減衰装置の前記減衰係数を第2の値に調整し、かつ/または前記イオン検出器もしくはイオン検出システムの前記ゲインを第2の値に調整することと、
(ii)質量スペクトルデータを取得することであって、前記イオン源の前記イオン化効率の前記調整、及び/または前記減衰装置の前記減衰係数の前記調整、及び/または前記イオン検出器もしくはイオン検出システムの前記ゲインの前記調整が、実質的に均等にかつ前記イオンの質量対電荷比に実質的に関係なく、前記イオン検出器もしくはイオン検出システムによって検出される実質的にすべてのイオンの強度を変更する、取得することと、
(iii)前記イオン源の前記イオン化効率及び/または前記減衰装置の前記減衰係数及び/または前記イオン検出器もしくはイオン検出システムの前記ゲインが増加または減少した程度に基づいて、前記質量スペクトルデータの強度を計測することと、をさらに含む、前記方法。 - 前記第1の物理化学的特性が、イオン移動度または微分イオン移動度を含む、請求項1に記載の方法。
- 前記第2の物理化学的特性が、質量、質量対電荷比、または飛行時間を含む、請求項1または2に記載の方法。
- 前記第1及び/または前記第2の物理化学的特性が、質量、質量対電荷比、飛行時間、イオン移動度、微分イオン移動度、保持時間、液体クロマトグラフィー保持時間、ガスクロマトグラフィー保持時間、またはキャピラリー電気泳動保持時間を含む、請求項1に記載の方法。
- 減衰装置の減衰係数を調整することが、イオン透過が実質的に0%である期間ΔT1中の第1の動作モードと前記イオン透過が>0%である期間ΔT2中の第2の動作モードとの間で減衰装置を繰り返し切り替えることを含む、請求項1〜4のいずれかに記載の方法。
- 前記減衰装置の前記減衰係数を調整することが、前記減衰装置の透過または減衰を調整するまたは変化させるために、マークスペース比ΔT2/ΔT1を調整することを含む、請求項5に記載の方法。
- (i)<1Hz、(ii)1〜10Hz、(iii)10〜50Hz、(iv)50〜100Hz、(v)100〜200Hz、(vi)200〜300Hz、(vii)300〜400Hz、(viii)400〜500Hz、(ix)500〜600Hz、(x)600〜700Hz、(xi)700〜800Hz、(xii)800〜900Hz、(xiii)900〜1000Hz、(xiv)1〜2kHz、(xv)2〜3kHz、(xvi)3〜4kHz、(xvii)4〜5kHz、(xviii)5〜6kHz、(xix)6〜7kHz、(xx)7〜8kHz、(xxi)8〜9kHz、(xxii)9〜10kHz、(xxiii)10〜15kHz、(xxiv)15〜20kHz、(xxv)20〜25kHz、(xxvi)25〜30kHz、(xxvii)30〜35kHz、(xxviii)35〜40kHz、(xxix)40〜45kHz、(xxx)45〜50kHz、及び(xxxi)>50kHz周波数で前記第1の動作モードと前記第2の動作モードとの間を切り替えることをさらに含む、請求項5または6に記載の方法。
- ΔT1>ΔT2である、請求項5、6、または7に記載の方法。
- ΔT1≦ΔT2である、請求項5、6、または7に記載の方法。
- 前記期間ΔT1が、(i)<0.1μs、(ii)0.1〜0.5μs、(iii)0.5〜1μs、(iv)1〜50μs、(v)50〜100μs、(vi)100〜150μs、(vii)150〜200μs、(viii)200〜250μs、(ix)250〜300μs、(x)300〜350μs、(xi)350〜400μs、(xii)400〜450μs、(xiii)450〜500μs、(xiv)500〜550μs、(xv)550〜600μs、(xvi)600〜650μs、(xvii)650〜700μs、(xviii)700〜750μs、(xix)750〜800μs、(xx)800〜850μs、(xxi)850〜900μs、(xxii)900〜950μs、(xxiii)950〜1000μs、(xxiv)1〜10ms、(xxv)10〜50ms、(xxvi)50〜100ms、及び(xxvii)>100msからなる群から選択される、請求項5〜9のいずれかに記載の方法。
- 前記期間ΔT2が、(i)<0.1μs、(ii)0.1〜0.5μs、(iii)0.5〜1μs、(iv)1〜50μs、(v)50〜100μs、(vi)100〜150μs、(vii)150〜200μs、(viii)200〜250μs、(ix)250〜300μs、(x)300〜350μs、(xi)350〜400μs、(xii)400〜450μs、(xiii)450〜500μs、(xiv)500〜550μs、(xv)550〜600μs、(xvi)600〜650μs、(xvii)650〜700μs、(xviii)700〜750μs、(xix)750〜800μs、(xx)800〜850μs、(xxi)850〜900μs、(xxii)900〜950μs、(xxiii)950〜1000μs、(xxiv)1〜10ms、(xxv)10〜50ms、(xxvi)50〜100ms、及び(xxvii)>100msからなる群から選択される、請求項5〜10のいずれかに記載の方法。
- 前記第1の動作モードで、電圧が前記減衰装置の1つ以上の電極に印加され、前記電圧が、イオンビームを遅らせ、かつ/または屈折させ、かつ/または反射し、かつ/または迂回させるように作用する電界を発生させる、請求項5〜11のいずれかに記載の方法。
- 前記減衰装置が、1つ以上の静電レンズを備える、請求項1〜11のいずれかに記載の方法。
- 前記減衰装置の前記減衰係数を調整することが、前記減衰装置をオンとオフに繰り返し切り替えることによって、前記減衰装置によって前方に透過されるイオンの強度を制御することを含み、前記減衰装置のデューティサイクルが、前記イオンの減衰度を制御するために変化し得る、請求項1〜13のいずれかに記載の方法。
- 質量分析計であって、
第1の物理化学的特性に従ってイオンを分離またはフィルタリングする第1の装置と、
第2の物理化学的特性に従ってイオンを分離またはフィルタリングする第2の装置と、
イオン検出器もしくはイオン検出システムと、
制御システムと、を備え、前記制御システムが、
(i)イオン源のイオン化効率を第1の値に設定し、かつ/または減衰装置の減衰係数を第1の値に設定し、かつ/またはイオン検出器もしくはイオン検出システムのゲインを第1の値に設定し、その後、
(ii)前記第1の装置内でイオンが前記第1の物理化学的特性に従って分離またはフィルタリングされ、イオンが前記第2の物理化学的特性に従って分離またはフィルタリングされ、多次元配列データを取得し、
(iii)前記多次元配列データの1つ以上の多次元サブセット内で最も強いイオンピークを決定し、かつ
(iv)前記最も強いイオンピークが前記イオン検出器もしくは前記イオン検出システムの飽和を生じさせるか、またはさもなければ前記イオン検出器もしくはイオン検出システムの動作に悪影響を及ぼすか否かを決定するように配置及び適合され、
前記最も強いイオンピークが前記イオン検出器もしくは前記イオン検出システムの飽和を生じさせるか、またはさもなければ前記イオン検出器もしくはイオン検出システムの動作に悪影響を及ぼすと決定された場合、前記制御システムが、
(v)前記イオン源の前記イオン化効率を第2の値に調整し、かつ/または前記減衰装置の前記減衰係数を第2の値に調整し、かつ/または前記イオン検出器もしくはイオン検出システムの前記ゲインを第2の値に調整し、
(vi)前記イオン源の前記イオン化効率の前記調整、及び/または前記減衰装置の前記減衰係数の前記調整、及び/または前記イオン検出器もしくはイオン検出システムの前記ゲインの前記調整が、実質的に均等にかつ前記イオンの質量対電荷比に実質的に関係なく、前記イオン検出器もしくはイオン検出システムによって検出される実質的にすべてのイオン強度を変更する、質量スペクトルデータを取得し、
(vii)前記イオン源の前記イオン化効率及び/または前記減衰装置の前記減衰係数及び/または前記イオン検出器もしくはイオン検出システムの前記ゲインが増加または減少した程度に基づいて、前記質量スペクトルデータの強度を計測するようにさらに配置及び適合される、前記質量分析計。 - 前記第1の装置が、イオン移動度または微分イオン移動度分離器またはフィルターを備える、請求項15に記載の質量分析計。
- 前記第2の装置が、質量、質量対電荷比、または飛行時間分離器またはフィルターを備える、請求項15または16に記載の質量分析計。
- 前記第1及び/または第2の装置が、質量、質量対電荷比、飛行時間、イオン移動度、微分イオン移動度、保持時間、液体クロマトグラフィー保持時間、ガスクロマトグラフィー保持時間またはキャピラリー電気泳動保持時間分離器またはフィルターを含む、請求項15に記載の質量分析計。
- 前記制御システムが、イオン透過が実質的に0%である期間ΔT1中の第1の動作モードとイオン透過が>0%である期間ΔT2中の第2の動作モードとの間で減衰装置を繰り返し切り替えることによって、前記減衰装置の前記減衰係数を調整するように配置及び適合される、請求項15〜18のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記制御システムが、前記減衰装置の前記イオン透過または減衰を調整するまたは変化させるために、マークスペース比ΔT2/ΔT1を調整することによって、前記減衰装置の前記減衰係数を調整するように配置及び適合される、請求項19に記載の質量分析計。
- 前記制御システムが、(i)<1Hz、(ii)1〜10Hz、(iii)10〜50Hz、(iv)50〜100Hz、(v)100〜200Hz、(vi)200〜300Hz、(vii)300〜400Hz、(viii)400〜500Hz、(ix)500〜600Hz、(x)600〜700Hz、(xi)700〜800Hz、(xii)800〜900Hz、(xiii)900〜1000Hz、(xiv)1〜2kHz、(xv)2〜3kHz、(xvi)3〜4kHz、(xvii)4〜5kHz、(xviii)5〜6kHz、(xix)6〜7kHz、(xx)7〜8kHz、(xxi)8〜9kHz、(xxii)9〜10kHz、(xxiii)10〜15kHz、(xxiv)15〜20kHz、(xxv)20〜25kHz、(xxvi)25〜30kHz、(xxvii)30〜35kHz、(xxviii)35〜40kHz、(xxix)40〜45kHz、(xxx)45〜50kHz、及び(xxxi)>50kHzの周波数で前記第1の動作モードと前記第2の動作モードとの間を切り替えるように配置及び適合される、請求項19または20に記載の質量分析計。
- ΔT1>ΔT2である、請求項19、20または21に記載の質量分析計。
- ΔT1≦ΔT2である、請求項19、20または21に記載の質量分析計。
- 前記期間ΔT1が、(i)<0.1μs、(ii)0.1〜0.5μs、(iii)0.5〜1μs、(iv)1〜50μs、(v)50〜100μs、(vi)100〜150μs、(vii)150〜200μs、(viii)200〜250μs、(ix)250〜300μs、(x)300〜350μs、(xi)350〜400μs、(xii)400〜450μs、(xiii)450〜500μs、(xiv)500〜550μs、(xv)550〜600μs、(xvi)600〜650μs、(xvii)650〜700μs、(xviii)700〜750μs、(xix)750〜800μs、(xx)800〜850μs、(xxi)850〜900μs、(xxii)900〜950μs、(xxiii)950〜1000μs、(xxiv)1〜10ms、(xxv)10〜50ms、(xxvi)50〜100ms、及び(xxvii)>100msからなる群から選択される、請求項19〜23のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記期間ΔT2が、(i)<0.1μs、(ii)0.1〜0.5μs、(iii)0.5〜1μs、(iv)1〜50μs、(v)50〜100μs、(vi)100〜150μs、(vii)150〜200μs、(viii)200〜250μs、(ix)250〜300μs、(x)300〜350μs、(xi)350〜400μs、(xii)400〜450μs、(xiii)450〜500μs、(xiv)500〜550μs、(xv)550〜600μs、(xvi)600〜650μs、(xvii)650〜700μs、(xviii)700〜750μs、(xix)750〜800μs、(xx)800〜850μs、(xxi)850〜900μs、(xxii)900〜950μs、(xxiii)950〜1000μs、(xxiv)1〜10ms、(xxv)10〜50ms、(xxvi)50〜100ms、及び(xxvii)>100msからなる群から選択される、請求項19〜24のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記第1の動作モードで、前記制御システムが、電圧を前記減衰装置の1つ以上の電極に印加させ、前記電圧が、イオンビームを遅らせ、かつ/または屈折させ、かつ/または反射し、かつ/または迂回させるように作用する電界を発生させる、請求項19〜25のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記減衰装置が、1つ以上の静電レンズを備える、請求項15〜25のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記制御システムが、前記減衰装置をオンとオフに繰り返し切り替えることによって、前記減衰装置によって前方に透過される前記イオンの強度を制御することによって前記減衰装置の前記減衰係数を調整するように配置及び適合され、前記減衰装置のデューティサイクルが、前記イオンの減衰度を制御するために変化し得る、請求項15〜27のいずれかに記載の質量分析計。
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