JP6170929B2 - 質量分析器の有効ダイナミックレンジを改善させる、イオン群の適合され、かつ、標的化された制御 - Google Patents

質量分析器の有効ダイナミックレンジを改善させる、イオン群の適合され、かつ、標的化された制御 Download PDF

Info

Publication number
JP6170929B2
JP6170929B2 JP2014537735A JP2014537735A JP6170929B2 JP 6170929 B2 JP6170929 B2 JP 6170929B2 JP 2014537735 A JP2014537735 A JP 2014537735A JP 2014537735 A JP2014537735 A JP 2014537735A JP 6170929 B2 JP6170929 B2 JP 6170929B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ion
group
species
ions
mass
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2014537735A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2014535049A5 (ja
JP2014535049A (ja
Inventor
ジョージ リチャードソン、キース
ジョージ リチャードソン、キース
リー ワイルドグース、ジェイソン
リー ワイルドグース、ジェイソン
Original Assignee
マイクロマス ユーケー リミテッド
マイクロマス ユーケー リミテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by マイクロマス ユーケー リミテッド, マイクロマス ユーケー リミテッド filed Critical マイクロマス ユーケー リミテッド
Publication of JP2014535049A publication Critical patent/JP2014535049A/ja
Publication of JP2014535049A5 publication Critical patent/JP2014535049A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6170929B2 publication Critical patent/JP6170929B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/0027Methods for using particle spectrometers
    • H01J49/0031Step by step routines describing the use of the apparatus
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/025Detectors specially adapted to particle spectrometers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/06Electron- or ion-optical arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/42Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
    • H01J49/426Methods for controlling ions
    • H01J49/4265Controlling the number of trapped ions; preventing space charge effects
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/42Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
    • H01J49/426Methods for controlling ions
    • H01J49/427Ejection and selection methods

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

本発明は質量分析計および質量分析の方法に関する。好ましい実施形態は、質量分析計のスペクトル内のダイナミックレンジを改善するための装置および方法に関する。
関連案件の相互参照
本願は、2011年11月7日に出願された米国暫定特許出願番号第61/556475号および2011年10月27日に出願された英国特許出願第118579.0号に対する優先権および利益を主張する。これらの出願の全内容を、引用により本明細書に組み込む。
質量分析の現代の応用の多くは、広ダイナミックレンジを有する構成成分を含む複合サンプルの高速の分析に用いられる。代表的な例としては、ペプチドまたはより小さな分子を分析するため、エレクトロスプレーのイオン源に接続した高圧液体クロマトグラフィー(High Pressure Liquid Chromatography 'HPLC')である。これらの実験では、質量分析器へ導入される混合物の構成は、数秒のタイムスケールで変化する。解析されているサンプルの構成が急速に変わることを考慮すれば、短期間にできるだけ多くの構成成分を識別することが利点となるのは明白である。
しかしながら、サンプルのダイナミックレンジが広いため、分析器のダイナミックレンジの大部分は最も量が多い種に対応する必要がある。
種をすべて同時に抑制することによりダイナミックレンジを拡張する試みが知られている。
改良された質量分析計および質量分析の方法の提供が望まれる。
本発明の態様によれば、質量分析法が提供されるが、これは、
第1イオン群を供給すること;
第2イオン群を形成するように第1イオン群における比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を選択的に減衰させること;および
第3イオン群を形成するように第2イオン群の全イオン電流を調節または最適化して、それによりイオン検出器により受信されたイオンの全イオン電流が、イオン検出器のダイナミックレンジ内にあるようにすることを含む。
本発明の態様によれば、質量分析法が提供されるが、これは、
第1イオン群を供給すること;
第2イオン群を形成するように第1イオン群の全イオン電流を調節または最適化すること;および
第3イオン群を形成するように第2イオン群における比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を選択的に減衰させて、それによりイオン検出器により受信されたイオンの全イオン電流が、イオン検出器のダイナミックレンジ内にあるようにすることを含む。
本発明の態様によれば、質量分析法が提供されるが、これは、
第1イオン群を生成するためにイオン源を使用すること;
第2イオン群を形成するように第1イオン群における比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を選択的に減衰させること;および
イオン源から放出されたイオンの全イオン電流を調節または最適化するようにイオン源からのイオンの生成効率を変動させて、それによりイオン検出器により受信されたイオンの全イオン電流が、イオン検出器のダイナミックレンジ内にあるようにすることを含む。
本発明の態様によれば、質量分析法が提供されるが、これは、
複数のイオンを生成するためにイオン源を使用すること;
イオン源から放出される第1イオン群の全イオン電流を調節または最適化するようにイオン源からのイオンの生成効率を変動させること;および
第2イオン群を形成するように第1イオン群における比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を選択的に減衰させて、それによりイオン検出器により受信されたイオンの全イオン電流が、イオン検出器のダイナミックレンジ内にあるようにすることを含む。
本発明の態様によれば、質量分析法が提供されるが、これは:
第1イオン群を供給すること;
第2イオン群を形成するように第1イオン群における比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を選択的に減衰させること;および
イオン検出器のゲインを調節、または最適化して、イオン検出器により受信されたイオンに対応して検出されたイオン信号が、イオン検出器のダイナミックレンジ内にあるようにすることを含む。
本発明の態様によれば、質量分析法が提供されるが、これは、
第1イオン群を供給すること;
イオン検出器のゲインを調節、または最適化すること;および
第2イオン群を形成するように第1イオン群における比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を選択的に減衰させて、イオン検出器により受信されたイオンに対応して検出されたイオン信号が、イオン検出器のダイナミックレンジ内にあるようにすることを含む。
本発明の態様によれば、質量分析法が提供されるが、これは、
比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を選択的に減衰させること、および全イオン電流を調節または最適化して、検出されたイオン信号がイオン検出器のダイナミックレンジ内にあるようにすることを含む。
比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数の種を選択的に減衰させるステップ、および全イオン電流を調節または最適化するステップは、第1イオン光学装置および1つまたは複数の第2の異なるイオン光学装置の操作を調整することにより達成されてもよい。
第1イオン光学装置は、イオンの質量、質量電荷比の範囲、イオン移動度、微分型イオン移動度または他の物理化学的性質に従ってイオンを分離するための装置を含むのが好ましい。
第1イオン光学装置は飛行時間領域、イオン移動度分離器もしくは分析計、または微分型イオン移動度分離器もしくは分析計を含むのが好ましい。
1つまたは複数の第2イオン光学装置は、特定の質量、質量電荷比の範囲、イオン移動度、微分型イオン移動度または他の物理化学的性質を有するイオンをろ過する、または減衰するための装置を含むのが好ましい。
1つまたは複数の第2イオン光学装置は、マスフィルター、イオントラップ、イオンゲートまたはダイナミックレンジ拡張(DRE:Dynamic Range Enhancement)レンズを含むのが好ましい。
あるいは、比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数の種を選択的に減衰させる、および全イオン電流を調節または最適化するステップは、単一のイオン光学装置の操作を制御することにより達成されてもよい。
イオン群にある比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を選択的に減衰させる、およびイオン群の全イオン電流を調節、または最適化するステップは、実質上同時に実行されるのが好ましい。
単一のイオン光学装置は、可変のデータ取り込み時間に合わせて段階的に調整されるマスフィルター、またはイオントラップを含むのが好ましい。
本方法はさらに、マスフィルター、イオントラップまたはダイナミックレンジ拡張(DRE)レンズを使用して、全イオン電流またはあるイオン電流を調節または最適化することを含むのが好ましい。
比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を選択的に減衰させるステップは:
(i)1つまたは複数のイオン種を減少させる、または完全に除去すること;および/または
(ii)1つまたは複数のイオン種を少なくとも10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%減衰させることを含むのが好ましい。
比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を選択的に減衰させる、および/または、全イオン電流を調節もしくは最適化するステップは;
(i)イオントラップから比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を共鳴放出すること;および/または
(ii)四重極ロッドセットマスフィルターを使用して、連続的なイオンビームから比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を共鳴放出すること;および/または
(iii)イオン移動度分離によりイオン群を分離し、次いで、1つまたは複数の特定のイオン移動度の範囲内のイオン移動度を有するイオンの時間依存性減衰により、比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を減衰すること;および/または
(iv)軸方向の飛行時間分離によりイオン群を分離し、次いで時間依存性減衰により比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を減衰すること;および/または
(v)1つまたは複数の重複しない質量または質量電荷比の範囲および/または1つまたは複数の重複しないイオン移動度の範囲でイオン群を1回以上ろ過し、次に、1つまたは複数の重複しない質量または質量対電荷比の範囲内の質量または質量対電荷比を有するイオン、および/または、1つまたは複数の重複しないイオン移動度範囲内のイオン移動度を有するイオンをイオントラップ内に蓄積すること;および/または
(vi)マスフィルターへイオン群を導入させ、ある速度で、または質量または質量電荷比に依存するデータ取り込み時間で、ある質量または質量電荷比の範囲でマスフィルターをスキャンすること;および/または
(vii)連続して動作する1つまたは複数の装置を使用して、比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を減衰すること;および/または
(viii)マスフィルターまたは四重極マスフィルターを段階的に調節し、マスフィルターまたは四重極マスフィルターを調節する際にデータ取り込み時間を変動させること、を含むのが好ましい。
本方法は、さらに、時間Tの間に、選択的に減衰されるイオン群において比較的量が多いまたは強度の高いイオン種の数を変動、増加、減少、漸進的に増加、漸進的に減少させることを含む。
時間Tは、(i)0−1秒;(ii)1−2秒;(iii)2−3秒;(iv)3−4秒;(v)4−5秒;(vi)5−6秒;(vii)6−7秒;(viii)7−8秒;(ix)8−9秒;(x)9−10秒;(xi)10−15秒;(xii)15−20秒;(xiii)20−25秒;(xiv)25−30秒;(xv)30−35秒;(xvi)35−40秒;(xvii)40−45秒;(xviii)45−50秒;(xix)50−55秒;(xx)55−60秒;および(xxi)>60秒。から成る群から選択されるのが好ましい。
比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を選択的に減衰させるステップは:
(i)漸進的に量が減少する、または強度が減少するイオン種を検出できるようにするように減衰される、比較的量が多い強度の高いイオン種の数を増加させること、または、
(ii)漸進的に量が増加する、または強度が増加するイオン種を検出できるようにするように減衰される、比較的量が多い強度の高いイオン種の数を減少させること、のいずれかを含むのが好ましい。
本方法はさらに、選択的に減衰される、イオン群において比較的量が多いまたは強度の高いイオン種の数を変動、増加、または減少させた後に、イオン群のイオン電流を再調節、もしくは最適化する、および/またはイオン検出器のゲインを再調節、もしくは最適化することを含む。
比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を減衰させるステップは:
(i)マスフィルターまたはイオントラップの使用;および/または
(ii)イオンゲートまたはダイナミックレンジ拡張(DRE)レンズを使用する時間依存性減衰により、比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を選択的に減衰させることを含むのが好ましい。
全イオン電流を調節、または最適化するステップは:
(i)1つまたは複数の静電レンズを使用して、イオンビームを変化させる、偏向させる、焦点を合わせる、焦点をずらさせる、減弱させる、遮断する、拡大させる、収縮させる、方向転換させる、または反射させること;および/または
(ii)1つまたは複数の電極、ロッドセット、イオンゲートまたはイオン光学装置を使用して、イオンビームを変化させる、偏向させる、焦点を合わせる、焦点をずらさせる、減弱させる、遮断する、拡大させる、収縮させる、方向転換させる、または反射させること;を含むのが好ましい。
全イオン流を調節、または最適化するステップは、減衰装置を低透過率モード操作および高透過率モード操作の間で繰り返し切り替えることを含み、減衰装置は、低透過率モード操作で時間ΔT1維持され、減衰装置は、高透過率モード操作で時間ΔT2維持され、減衰装置のデューティ比はΔT2/(ΔT1+ΔT2)で与えられる。
イオン群の全イオン電流を調節、または最適化するステップは、
(i)イオン検出器により検出されたイオン種の数が最適化、または最大化される;および/または
(ii)イオン検出器が実質上線形レジームで動作するよう配置される;および/または、
(iii)質量分析器に導入され、続いてイオン検出器により検出されたイオンの全イオン電流またはイオン電流は、時間が経過しても実質上一定のままとなるようにイオン群の全イオン電流を調節することを含む。
本方法は、さらに飛行時間型質量分析器またはイオントラップ質量分析器を使用して、イオン群を質量分析することを含むのが好ましい。
本方法はさらに、イオントラップ質量分析器において全電荷がほぼ一定のままとなるように、イオントラップ質量分析器の充填時間を調節することを含むのが好ましい。
本発明の態様によれば、質量分析法が提供されるが、これは:
第1イオン群を供給すること;
第2イオン群を形成するように第1イオン群における比較的量が多い、または強度の高いイオン種Nを選択的に減衰させること;
第2イオン群または第2イオン群から誘導したイオン群を検出すること;続いて、
第3イオン群を形成するように選択的に減衰される、比較的量が多いまたは強度の高いイオン種の数Nを増加、減少、変動、最適化させることを含む。
本方法はさらに、第3イオン群または第3イオン群から誘導したイオン群を検出することを含むのが好ましい。
本方法はさらに、イオン検出器により受信されたイオンのイオン電流が、イオン検出器のダイナミックレンジ内にあるように、第1イオン群、および/または第2イオン群、および/または第3イオン群のイオン電流を増加、減少、変動、最適化させることを含むのが好ましい。
イオン電流を増加、減少、変動、最適化させるステップは:
(i)イオン源によるイオン生成の効率を変動させること;および/または
(ii)1つまたは複数のイオン光学装置により前方へ送られるイオンの強度を変動させること;および/または
(iii)検出されたイオン信号がイオン検出器のダイナミックレンジ内にあるように、イオン検出器のゲインを変動させることを含むのが好ましい。
本発明の態様によれば、質量分析計が供給されるが、これは:
第1イオン群を供給するために配置され適合された装置;
第2イオン群を形成するように第1イオン群における比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を選択的に減衰させるために配置され適合された選択的な減衰装置;および
第3イオン群を形成するように第2イオン群の全イオン電流を調節または最適化して、イオン検出器により受信されるイオンの全イオン電流がイオン検出器のダイナミックレンジ内にあるように配置され適合された装置を含む。
本発明の態様によれば、質量分析計が供給されるが、これは:
第1イオン群を供給するために配置され適合された装置;
第2イオン群を形成するように第1イオン群の全イオン電流を調節または最適化して配置され適合された選択的な減衰装置;および
第3イオン群を形成するように第2イオン群における比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を選択的に減衰させて、それによりイオン検出器により受信されたイオンの全イオン電流が、イオン検出器のダイナミックレンジ内にあるように配置され適合された選択的な減衰装置を含む。
本発明の態様によれば、質量分析計が供給されるが、これは:
第1イオン群を生成するために配置され適合されたイオン源;
第2イオン群を形成するように第1イオン群における比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を選択的に減衰させるために配置され適合された選択的な減衰装置;および
イオン源から放出されたイオンの全イオン電流を調節、または最適化するように、イオン源からのイオンの生成効率を変動させて、それによりイオン検出器により受信されたイオンの全イオン電流が、イオン検出器のダイナミックレンジ内にあるようにするために配置され適合された装置を含む。
本発明の態様によれば、質量分析計が供給されるが、これは:
複数のイオンを生成するために配置され適合されたイオン源;
イオン源から放出された第1イオン群の全イオン電流を調節、または最適化するようにイオン源からのイオンの生成効率を変動させるために配置され適合された装置;および
第2イオン群を形成するように第1イオン群における比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を選択的に減衰させて、イオン検出器により受信されたイオンの全イオン電流が、イオン検出器のダイナミックレンジ内にあるように配置され適合された選択的な減衰装置を含む。
本発明の態様によれば、質量分析計が供給されるが、これは:
第1イオン群を供給するために配置され適合された装置;
第2イオン群を形成するように第1イオン群における比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を選択的に減衰させるために配置され適合された選択的な減衰装置;および
イオン検出器のゲインを調節、または最適化して、イオン検出器により受信されたイオンに対応して検出されたイオン信号が、イオン検出器のダイナミックレンジ内にあるようにするために配置され適合された装置を含む。
本発明の態様によれば、質量分析計が供給されるが、これは:
第1イオン群を供給するために配置され適合された装置;
イオン検出器のゲインを調節、または最適化するために配置され適合された装置;および
第2イオン群を形成するように第1イオン群における比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を選択的に減衰させて、イオン検出器により受信されたイオンに対応して検出されたイオン信号がイオン検出器のダイナミックレンジ内にあるように配置され適合された選択的な減衰装置を含む。
本発明の態様によれば、質量分析計が供給されるが、これは:
検出されたイオン信号がイオン検出器のダイナミックレンジ内にあるように全イオン電流を調節、または最適化するように配置され適合された装置と併用される、比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を選択的に減衰させるために配置され適合された選択的な減衰装置を含む。
質量分析計は、さらに、比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数の種を選択的に減衰させるために配置され適合された第1イオン光学装置、および全イオン電流を調節、または最適化するために配置され適合された1つまたは複数の第2の異なるイオン光学装置を含み、第1イオン光学装置の操作は、1つまたは複数の第2の異なるイオン光学装置の操作と連携される。
第1イオン光学装置は、イオンの質量、質量電荷比の範囲、イオン移動度、微分型イオン移動度または他の物理化学的性質に従ってイオンを分離するための装置を含むのが好ましい。
第1イオン光学装置は飛行時間領域、イオン移動度分離器もしくは分析計、または微分型イオン移動度分離器もしくは分析計を含むのが好ましい。
1つまたは複数の第2のイオン光学装置は、特定の質量、質量電荷比の範囲、イオン移動度、微分型イオン移動度または他の物理化学的性質を有するイオンをろ過する、または減衰するための装置を含むのが好ましい。
1つまたは複数の第2イオン光学装置は、マスフィルター、イオントラップ、イオンゲートまたはダイナミックレンジ拡張(DRE)レンズを含むのが好ましい。
ある実施形態によれば、質量分析計は、比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数の種を選択的に減衰させるために、および全イオン電流を調節、または最適化するために配置され適合された単一のイオン光学装置を含む。
単一のイオン光学装置は、イオン群にある比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種の選択的な減衰、および、イオン群の全イオン電流の調節、または最適化を実質上同時に実施するために配置され適合されるのが好ましい。
単一のイオン光学装置は、可変のデータ取り込み時間に合わせて段階的に調整されるマスフィルター、またはイオントラップを含むのが好ましい。
質量分析計はさらに、全イオン電流またはあるイオン電流のさらなる調節、または最適化のために配置され適合されたマスフィルター、イオントラップ、またはダイナミックレンジ拡張(DRE)レンズを含むのが好ましい。
選択的な減衰装置は、
(i)1つまたは複数のイオン種を減少させる、または完全に除去すること;および/または
(ii)1つまたは複数のイオン種を少なくとも10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%減衰させるために配置され適合されるのが好ましい。
選択的な減衰装置、および/または全イオン電流を調節、または最適化するために配置され適合された装置は、
(i)イオントラップから比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を共鳴放出すること;および/または
(ii)四重極ロッドセットマスフィルターを使用して、連続的なイオンビームから比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を共鳴放出すること;および/または
(iii)イオン移動度分離によりイオン群を分離し、次に、1つまたは複数の特定のイオン移動度範囲内のイオン移動度を有するイオンの時間依存性減衰により、比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を減衰すること;および/または
(iv)軸方向の飛行時間分離によりイオン群を分離し、次に、時間依存性減衰により比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を減衰すること;および/または
(v)1つまたは複数の重複しない質量または質量電荷比の範囲および/または1つまたは複数の重複しないイオン移動度の範囲でイオン群を1回以上ろ過し、次に1つまたは複数の重複しない質量または質量対電荷比の範囲内の質量または質量対電荷比を有するイオン、および/または、1つまたは複数の重複しないイオン移動度範囲内のイオン移動度を有するイオンをイオントラップ内に蓄積すること;および/または
(vi)マスフィルターへイオン群を導入させ、ある速度で、または質量または質量電荷比に依存するデータ取り込み時間で、ある質量または質量電荷比の範囲でマスフィルターをスキャンすること;および/または
(vii)連続して動作する1つまたは複数の装置を使用して、比較的量が多い、または強度の高い1つまたは複数のイオン種を減衰すること;および/または
(viii)マスフィルターまたは四重極マスフィルターを段階的に調節し、マスフィルターまたは四重極マスフィルターを調節する際にデータ取り込み時間を変動させることのために、配置され適合されるのが好ましい。
質量分析計はさらに、時間Tの間に、選択的に減衰される、イオン群において比較的量が多いまたは強度の高いイオン種の数を変動、増加、減少、漸進的に増加、漸進的に減少させるために配置され適合される制御システムを含むのが好ましい。
時間Tは、(i)0−1秒;(ii)1−2秒;(iii)2−3秒;(iv)3−4秒;(v)4−5秒;(vi)5−6秒;(vii)6−7秒;(viii)7−8秒;(ix)8−9秒;(x)9−10秒;(xi)10−15秒;(xii)15−20秒;(xiii)20−25秒;(xiv)25−30秒;(xv)30−35秒;(xvi)35−40秒;(xvii)40−45秒;(xviii)45−50秒;(xix)50−55秒;(xx)55−60秒;および(xxi)60秒以上、からなる群から選択されるのが好ましい。
質量分析計はさらに、
(i)漸進的に量が減少する、または強度が減少するイオン種を検出できるようにするように減衰される比較的量が多いまたは強度の高いイオン種の数を増加させる、または
(ii)漸進的に量が増加する、または強度が増加するイオン種を検出できるようにするように減衰される比較的量が多いまたは強度の高いイオン種の数を減少させるために配置され適合される制御システムを含むのが好ましい。
質量分析計はさらに、イオン群のイオン電流を再調節、または最適化するために、および/または、選択的に減衰される、イオン群において比較的量が多いまたは強度の高いイオン種の数を変動、増加、または減少させた後にイオン検出器のゲインを再調節、または最適化するために配置され適合される制御システムを含むのが好ましい。
選択的な減衰装置は、
(i)マスフィルターまたはイオントラップ;および/または
(ii)使用時に、時間依存性減衰方式においてイオンを減衰するために配置されるイオンゲートまたはダイナミックレンジ拡張(DRE)レンズ、を含むのが好ましい。
イオン群の全イオン電流を調節、または最適化するために配置され適合された装置は;
(i)イオンビームを変化させる、偏向させる、焦点を合わせる、焦点をずらさせる、減弱させる、遮断する、拡大させる、収縮させる、方向転換させる、または反射させるために配置され適合された1つまたは複数の静電レンズ;および/または
(ii)イオンビームを変化させる、偏向させる、焦点を合わせる、焦点をずらさせる、減弱させる、遮断する、拡大させる、収縮させる、方向転換させる、または反射させるために配置され適合された1つまたは複数の電極、ロッドセット、イオンゲートまたはイオン光学装置;を含むのが好ましい。
イオン群の全イオン電流を調節、または最適化するために配置され適合された装置は;使用時に低透過率モード操作と高透過率モード操作の間で繰り返し切り替え可能な減衰装置を含むのが好ましく、減衰装置は、低透過率モード操作で時間ΔT1維持され、減衰装置は、高透過率モード操作で時間ΔT2維持され、減衰装置のデューティ比はΔT2/(ΔT1+ΔT2)で与えられる。
イオン群の全イオン電流を調節、または最適化するため配置され適合された装置は、
(i)イオン検出器による検出されたイオン種の数が最適化、または最大化される;および/または
(ii)イオン検出器が実質上線形レジームで動作するよう配置される;および/または
(iii)質量分析器に供給され、続いてイオン検出器により検出されたイオンの全イオンまたはイオン電流が、時間が経過しても実質上一定のままとなるように、イオン群の全イオン電流を調節または最適化するために配置され適合されるのが好ましい。
本質量分析計は、さらに飛行時間型質量分析器またはイオントラップ質量分析器を含むのが好ましい。
本質量分析計はさらに、イオントラップ質量分析器において全電荷がほぼ一定のままとなるようにイオントラップ質量分析器の充填時間を調節するために配置され適合された装置を含むのが好ましい。
本発明の態様によれば、質量分析計が供給されるが、これは:
第1イオン群を供給するために配置され適合された装置;
第2イオン群を形成するように第1イオン群における比較的量が多い、または強度の高いイオンN種を選択的に減衰させるために配置され適合された選択的な減衰装置;
第2イオン群または第2イオン群から誘導したイオン群を検出するために配置され適合されたイオン検出器;および
第3イオン群を形成するように選択的に減衰される、比較的量が多いまたは強度の高いイオン種の数Nを増加、減少、変動、最適化させるために配置され適合された制御システムを含む。
ある実施形態によれば、イオン検出器は、使用時に、第3イオン群または第3イオン群から誘導したイオン群を検出する。
質量分析計はさらに、イオン検出器により受信されたイオンのイオン電流が、好ましく
はイオン検出器のダイナミックレンジ内にあるように、第1イオン群、および/または第2イオン群、および/または第3イオン群のイオン電流を増加、減少、変動、最適化させるために配置され適合される制御システムを含むのが好ましい。
制御システムは、
(i)イオン源によるイオン生成の効率を変動させることにより;および/または
(ii)1つまたは複数のイオン光学装置により前方へ送られるイオンの強度を変動させることにより;および/または
(iii)検出されたイオン信号がイオン検出器のダイナミックレンジ内にあるように、イオン検出器のゲインを変動させることにより、イオン電流を増加、減少、変動または最適化させるために配置され適合されるのが好ましい。
本発明の好ましい実施形態によれば、全応答制御は、すべての種に対して観察された信号をイオン検出器のダイナミックレンジ内に収めるために使用される。全応答制御は、イオン源でのイオン生成の効率の変更(例えば、ESIまたはAPCIイオン源のニードル電圧の調節)により、および/または非標的化モードで減衰装置を使用することにより、および/または光電子増倍管または電子増倍管を使用して、検出器に対して検出器ゲインを調節(すなわち、イオン群ではなく検出器応答を制御)することにより、達成されてもよい。
ある状況においては、単一の減衰装置は標的の減衰および全応答制御の両方に使用してもよい。この場合、種はすべて減衰されるが、標的となった種は大幅に減衰される。
減衰は、(例えば、イオン移動度による)分離とそれに続く、分離のタイムスケールより短いタイムスケールでの(例えば、DREレンズの使用した)減衰により実行できる。一般に、この組み合わせでは全イオン電流および標的制御の両方が可能である。
同様に、イオントラップを使用して、異なる大きさの異なる種を放出することで、両方の機能を同時に実行してもよい。
任意のフィルター(例えば、四重極またはFAIMS装置)は、可変速度でスキャンされ、またはその後DRE装置を用いて、比較的低いデューティサイクルだが両方の機能を果たせる。
特定の実施形態によれば、選択的な減衰ステップおよび全イオン電流制御ステップは入れ替えられるが、例えばこの場合、器具の異なる部分は異なる方法で飽和する(例えば、検出器飽和は通常種特異的であるが、イオントラップでの空間電荷効果は全イオン電流と関連している)。
ある実施形態によれば、フィルターは、連続的に(例えば、四重極をスキャン)、または不連続的に(例えば、四重極を段階的に)操作され得る。後者の場合は、各チャンネルは、フィルターのデータ取り込み時間を変化させることにより、または別の手段(例えば、DRE装置)により異なった減衰を受ける。
ある実施形態によれば、クロマトグラフィー実験が実行され得、データはある時間、例えば1秒間取得され得る。この時間がクロマトグラフィーのピーク幅と比較して短い場合、異なる値N(したがって異なる検出限界)を有するピーク幅にわたって数ポイント取得することが可能である。ある実施形態によれば、減衰後の全イオン電流は、(減衰により)Nに合わせて増加しない可能性もあり、もし量が多い数種が支配的な場合、およそ一定となる場合もある。
好ましい実施形態は、四重極飛行時間型質量分析計(Q−TOFs:Quadrupole Time of Flight mass spectrometers)およびイオントラップ質量分析器を含む既存の装置に対する改良に関する。
好ましい実施形態によれば、質量分析器に供給された全イオン電流、およびイオン群の詳細な構成の両方が、質量分析器の有効なダイナミックレンジを向上させるためにデータ依存方式で制御されるのが好ましい。
本発明の態様によれば、質量分析器に供給されたイオン群を制御する装置、および方法が提供されるが、これにより質量分析器の利用可能なダイナミックレンジを全て利用しながら、イオン群の構成を変更して、量が多い1つまたは複数の種を減衰、または完全に除去できる。
好ましい実施形態は、高デューティサイクルを有しており、複合混合物、例えばペプチド、または代謝物質の高速分離に対応する。
好ましい実施形態によれば、複合混合物の高速分離において、構成成分の増大数は質量分析により正確に評価できる。
一実施形態によれば、質量分析計はさらに、
(a)(i)エレクトロスプレーイオン化(Electrospray ionisation 'ESI')イオン源;(ii)大気圧光イオン化(Atmospheric Pressure Photo Ionisation 'APPI')イオン源;(iii)大気圧化学イオン化(Atmospheric pressure Chemical Ionisation 'APCI')イオン源;(iv)マトリックス支援レーザー脱離イオン化(Matrix Assisted Laser Desorption Ionisation 'MALDI')イオン源;(v)レーザー脱離イオン化(Laser Desorption Ionisation 'LDI')イオン源;(vi)大気圧イオン化(Atmospheric Pressure Ionisation 'API')イオン源;(vii)シリコン上の脱離イオン化(Desorption Ionisation on Silicon 'DIOS')イオン源;(viii)電子衝撃(Electron Impact 'EI')イオン源;(ix)化学イオン化(Chemical Ionisation 'CI')イオン源;(x)電界イオン化(Field Ionisation 'FI')イオン源;(xi)電界脱離(Field Desorption 'FD')イオン源;(xii)誘導結合プラズマ(Inductively Coupled Plasma 'ICP')イオン源;(xiii)高速原子衝突(Fast Atom Bombardment 'FAB')イオン源;(xiv)液体二次イオン質量分析(Liquid Secondary Ion Mass Spectro metry 'LSIMS')イオン源;(xv)脱離エレクトロスプレーイオン化(Desorption Electrospray Ionisation 'DESI')イオン源;(xvi)ニッケル−63放射性イオン源;(xvii)大気圧マトリックス支援レーザー脱離イオン化イオン源;(xviii)サーモスプレーイオン源;(xix)大気圧サンプリンググロー放電イオン化(Atmospheric Sampling Glow Discharge Ionisation 'ASGDI')イオン源;(xx)グロー放電(Glow Discharge 'GD')イオン源;及び(xxi)衝撃子イオン源からなる群から選択されるイオン源、および/または、
(b)1つまたは複数の連続またはパルスイオン源、および/または、
(c)1つまたは複数のイオンガイド、および/または、
(d)1つまたは複数のイオン移動度分離装置および/または1つまたは複数の電界非対称イオン移動度分光計、および/または、
(e)1つもしくは複数のイオントラップ、または1つもしくは複数のイオン捕捉領域、および/または、
(f)(i)衝突誘導性解離(Collisional Induced Dissociation 'CID')フラグメント化装置;(ii)表面誘導性解離(Surface Induced Dissociation 'SID')フラグメント化装置;(iii)電子移動解離(Electron Transfer Dissociation 'ETD')フラグメント化装置;(iv)電子捕獲解離(Electron Capture Dissociation 'ECD')フラグメント化装置;(v)電子衝突または衝撃解離フラグメント化装置;(vi)光誘導解離(Photo Induced Dissociation 'PID')フラグメント化装置;、(vii)レーザー誘起解離フラグメンテーション装置、(viii)赤外線誘起解離装置、(ix)紫外線誘起解離装置、(x)ノズル・スキマー・インターフェース・フラグメンテーション装置、(xi)インソースフラグメンテーション装置、(xii)インソース衝突誘起解離フラグメンテーション装置、(xiii)熱源または温度源フラグメンテーション装置、(xiv)電場誘起フラグメンテーション装置、(xv)磁場誘起フラグメンテーション装置、(xvi)酵素消化または酵素分解フラグメンテーション装置、(xvii)イオン−イオン反応フラグメンテーション装置、(xviii)イオン−分子反応フラグメンテーション装置、(xix)イオン−原子反応フラグメンテーション装置、(xx)イオン−準安定イオン反応フラグメンテーション装置、(xxi)イオン−準安定分子反応フラグメンテーション装置、(xxii)イオン−準安定原子反応フラグメンテーション装置、(xxiii)イオンの反応により付加イオンまたはプロダクトイオン(生成イオン)を形成するイオン−イオン反応装置、(xxiv)イオンの反応により付加イオンまたはプロダクトイオンを形成するイオン−分子反応装置、(xxv)イオンの反応により付加イオンまたはプロダクトイオンを形成するイオン−原子反応装置、(xxvi)イオンの反応により付加イオンまたはプロダクトイオンを形成するイオン−準安定イオン反応装置、(xxvii)イオンの反応により付加イオンまたはプロダクトイオンを形成するイオン−準安定分子反応装置、(xxviii)イオンの反応により付加イオンまたはプロダクトイオンを形成するイオン−準安定原子反応装置、および(xxix)電子イオン化解離(Electron Ionisation Dissociation 'EID')フラグメンテーション装置、からなる群から選択される1つまたは複数の衝突、フラグメンテーションまたは反応セル、および/または、
(g)(i)四重極質量分析器、(ii)2次元またはリニア四重極質量分析器、(iii)ポールトラップ型または3次元四重極質量分析器、(iv)ペニングトラップ型質量分析器、(v)イオントラップ型質量分析器、(vi)磁場型質量分析器、(vii)イオンサイクロトロン共鳴(Ion Cyclotron Resonance 'ICR')質量分析器(viii)フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴(Fourier Transform Ion Cyclotron resonance 'FTICR')質量分析器、(ix)静電またはオービトラップ型質量分析器、(x)フーリエ変換静電またはオービトラップ型質量分析器、(xi)フーリエ変換質量分析器、(xii)飛行時間型質量分析器、(xiii)直交加速飛行時間型質量分析器、及び(xiv)線形加速飛行時間型質量分析器、からなる群から選択される質量分析器、および/または、
(h)1つまたは複数のエネルギー分析器または静電エネルギー分析器、および/または、
(i)1つまたは複数のイオン検出器、および/または、
(j)(i)四重極マスフィルター、(ii)2次元またはリニア四重極イオントラップ、(iii)ポールまたは3次元四重極イオントラップ、(iv)ペニングイオントラップ、(v)イオントラップ、(vi)磁気セクタ型マスフィルター、(vii)飛行時間型マスフィルター、及び(viii)ウィーンフィルター、からなる群から選択される1つまたは複数のマスフィルター、および/または、
(k)イオンをパルス状にする装置またはイオンゲート、および/または、
(l)、実質的に連続的なイオンビームをパルスイオンビームに変換する装置、をさらに含んでもよい。
質量分析計はさらに、次のいずれかを含む;
(i)アウターバレル状の電極および共軸のインナースピンドル状の電極を含むC−trapおよびorbitrap(RTM)質量分析器であり、第1運転モードで、イオンはC−trapに送られ、次に、orbitrap(RTM)質量分析器に注入され、第2運転モードでは、イオンは、C−trapへ送られ、次に衝突セルまたは電子移動解離装置に送られ、少なくともいくつかのイオンは断片イオンへ開裂され、その後、断片イオンはorbitrap(RTM)質量分析器に導入される前にC−trapに送られる;および/または
(ii)使用時にイオンを透過させる開口部をそれぞれ有する複数の電極を含む積層リングイオンガイドであり、電極の間隔はイオン通路の長さに沿って増大し、イオンガイドの上流部分にある電極の開口部は第1の直径を有し、イオンガイドの下流部分にある電極の開口部は、第1の直径より小さい第2の直径を有し、使用時に、連続する電極に、逆相のACまたはRF電圧が印加される。
複合混合物のLC分離からのイオン種分布を、最も数の多いイオン種の除去前後でシミュレートしたものを示す。
本発明の種々の実施形態を、ほんの一例として、添付の図面を参照して以下に説明する。
本発明の好ましい実施形態を以下に記述する。好ましい実施形態によれば、質量分析計は、イオン検出器を含む質量分析器の上流に提供される標的減衰装置を含んで供給される。標的減衰装置はイオンが質量分析器へ導入される前に、量が多くない他のイオン種に比して最も量が多いイオン種を減衰するために配置され適合されるのが好ましい。全イオン電流は、イオンが質量分析器へ導入される前に再最適化されるのが好ましい。したがって、標的減衰装置は、質量分析器へイオンが導入されるのに先立って最も量が多いイオン種を減衰させ、スペクトル内のダイナミックレンジを向上させることが好ましい。
好ましい実施形態によれば、質量分析器に供給されたイオンの全イオン電流は、質量分析器により検出できるイオン種の数を最適化、または最大化するため、制御または変動されるのが好ましい。同時に、分析されるすべてのイオン種に対して、質量分析器が線形レジームで動作することが保証されるのが好ましい。
ある実施形態によれば、イオン群の全イオン電流を制御する代わりに、検出器応答を制御してもよい。この実施形態では、検出された信号がイオン検出器のダイナミックレンジ内に収まるように、イオン検出器のゲインを制御または調節してもよい。例えば、光電子増倍管または電子増倍管検出器を使用する場合、これが実行され得る。
好ましい実施形態によれば、すべてのイオン種で観察される信号は、質量分析計の全応答を制御することにより、イオン検出器のダイナミックレンジ内に収まるのが好ましい。全応答の制御は多くの方法で達成され得る。
ある実施形態によれば、質量分析器に供給されたイオンの全イオン電流は、イオン源でのイオン生成の量または効率を変更することにより制御、または調節され得る。エレクトロスプレイイオン化(ESI)または大気圧化学イオン化(APCI)源では、これはニードル電圧の調節により達成され得る。
別の実施形態によれば、質量分析器に供給されたイオンの全イオン電流は、非標的化、または非選択運転モードで動作する減衰装置(下に述べるものを含む)を使用して、制御または調節され得る。この実施形態によれば、実質的にイオン種はすべて等しく減衰される。
別の実施形態によれば、単一の減衰装置は標的の減衰および全応答制御または全イオン電流制御の両方に使用してもよい。この実施形態では、イオン種はすべて減衰されるのが好ましいが、標的となったイオン種または選択されたイオン種は大幅に減衰されるのが好ましい。
質量分析器に供給されているサンプルの構成は、非常に量が多い、または強度の高いイオン種を1つまたは複数識別するために、実施形態に従って頻繁にモニターされ得る。例えば、非常に量が多いイオン種Nが識別され得る。
標的減衰装置は、あらかじめ識別された最も量が多いイオン種Nの濃度を減少(または完全に除去)するために使用されるのが好ましい。最も量が多いイオン種Nは他の残存するイオン種に比して減衰されるのが好ましい。最も量が多いイオン種Nは質量分析器への注入に先立って減衰されるのが好ましい。
好ましい実施形態によれば、全イオン電流またはイオン電流は、質量分析器にイオンを導入する前に再最適化され得、および/またはイオン検出器のゲインが再最適化され得る。
特に好ましい実施形態では、上述したような好ましい実施形態によるアプローチが十分短いタイムスケールで反復され、最も量が多いイオン種がより多く連続スペクトルから減衰され得る。このように、比較的強度の高いまたは量が多いイオンは、質量分析器に供給されたイオンから連続的に減衰され得る。例えば、量が最も多いイオン種5つが最初に、次に量が最も多い種10種が、次に量が最も多い種15種が減衰され得、同様に続く。異なる数のイオン種を減衰する各連続ステップの後で、全イオン電流またはイオン電流は再最適化されてもよく、および/または、イオン検出器のゲインが再最適化されてもよい。
この反復のタイムスケールはLCクロマトグラフィー源からの構成成分の溶出と適合するよう選択してもよい。例えば、反復は数秒、またはこれより短いタイムスケールで実施され得る。この実施形態では、漸進的に減少するイオン種を検出できる。
各イオン種が減衰される程度は一般的に既知である。したがって、好ましい実施形態によれば、一旦質量スペクトルが記録されたならば、減衰された構成成分は適切な係数によってデータ内でスケールアップされる。このようにして、正確な質量スペクトルが作成され得る。
ある実施形態によれば、多くの反復から生成されたデータは例えば、LCピークは適切なスケーリングと組み合わせられ、拡張された有効なダイナミックレンジに合わせたLCピークのマススペクトルを生成する。
減衰されたイオン種の数N、および減衰させるイオン種を選択する方法は、サンプル、およびスペクトルにより、意図通りに変動しえる。減衰の特異性は、減衰装置の特性に依存するだろう。質量または質量電荷比(またはイオン移動度のような他の物理化学的特性)が標的の種に近いイオン種は、ある程度まで減衰する場合がある。しかしながら、好ましい実施形態により、量が少ないイオン種により流れるイオン電流の割合は高くなるであろう。
好ましい実施形態の様々な側面を例示するために、シミュレーションを実施した。シミュレーションでは、対数正規分布からサンプリングされた最初の存在度を有するイオン種を生成した。分布の幅は存在度のダイナミックレンジ1ディケード当たりおよそ5000種を与えるように選択された。この特定の分布選択は、複合タンパク質混合物のタンパク質分解の分析において観察されるペプチド種の存在度に対する適切な近似数である。
その後、種を長さ100分のシミュレートしたLC分離にかけたが、この間に各種は無作為に選ばれた保持時間で溶出させたクロマトグラフィーの半値全幅は12秒であった。
全イオン電流を調節し、最も量が多い種に対するイオン電流がほぼ一定の値に保たれるようにした。最も量が多い種が存在するイオンの総数の多数を占めるため、これは全イオン電流をほぼ一定に保つことにもなる。
上述のシミュレーションにおいて利用された特定の値は、割り当てられた存在度分布およびシミュレートされたLC条件の詳細にいくぶん影響を受ける場合があるが、それでも一般的な結論が様々な動作条件に適用されることが認識されるだろう。
図1は、シミュレーションの結果を図示する。複合混合物のLC分離からシミュレートした単一のスペクトルにおいて最も量が多いイオン種を本発明の好ましい実施形態によって除去した。
1秒間に観察された存在度分布を、減衰無しの曲線として図1に示す。
図1で、イオンは存在度の降順でソートされ、垂直軸は、各種のイオン電流の10を底とする対数を示す。イオン検出器が存在度において4.5ディケードのダイナミックレンジを、または1×106イオンを保持するのに十分な電荷容量を持っていると仮定すること、この保持時間で確実に測定できるイオン種の数は、40あまりである。
トップ5つの種が本発明の実施形態に従って完全に除去され、全イオン電流が補完するよう調節する場合、この数は50あまりに増加する。(つまり、種の数がダイナミックレンジの限界を超えた部分で25%増加することが観察される)。最終実験では量が最も多いトップ20の種を除去し、全イオン電流を補完するよう再度調節することが含まれる。これにより、イオン検出器のダイナミックレンジ内で70種以上が検出された。これは、ダイナミックレンジの限界を超える部分の種の数が、減衰がない場合の約70%増加したことを表わす。
したがって、本発明は当業界において大きな前進を意味することは明らかである。
選択的な減衰装置は多くの異なる形態をとり得る。例えば、一実施形態によれば、選択的な減衰装置は、イオントラップからの選択した質量または質量電荷比範囲のイオンの共鳴放出を利用してもよい。別の実施形態によれば、選択的な減衰装置は、四重極ロッドセットマスフィルターを使用した、連続的なイオンビームからのイオンの共鳴放出を利用してもよい。別の実施形態によれば、選択的な減衰装置は、特定の移動度範囲のイオンを減衰するようにイオンを閉じ込め、イオン移動度によってイオンを分離し、次いで時間依存性方式においてイオンを減衰させてもよい。
さらなる実施形態では、例えば、選択的な減衰装置はイオンを閉じ込め、次いで、飛行時間領域を利用して軸方向にイオンを分離することで、イオントラップから放出されたイオンを分離してもよい。その後、イオンは時間依存性方式で減衰されてもよい。
別の実施形態によれば、選択的な減衰装置は、異なるスペクトルにおいて重複しない特異性で動作する濾過装置(四重極ロッドセットマスフィルタ等)の次に、イオントラップの複数回分の充填量を利用してもよい。別の実施形態によれば、選択的な減衰装置は、ある速度で質量または質量対電荷比の範囲、またはそれにリンクされたデータ取り込み時間にわたり、四重極マスフィルター等のマスフィルターのスキャン、または段階的な調整を利用してもよい。この実施形態によれば、スキャンの速度またはデータ取り込み時間の段階的調整は、目的でない、または選択されていない質量または質量電荷比の範囲にわたって高速(または低速)であり、および、目的のまたは選択された質量または質量電荷比にわたって低速(または高速)であることが好ましいこの実施形態によれば、高分解能四重極マスフィルターは1Daより優れた質量または質量電荷比特異性での減衰に利用され得る。
他の実施形態によれば、上述された実施形態の組み合わせは、連続して動作するいくつかの装置による、異なる質量もしくは質量電荷比の範囲、またはイオン移動度を有するイオンの減衰を含み利用され得る。
時間依存性減衰は、1つまたは複数の既知のダイナミックレンジ拡張(DRE)レンズまたはイオンゲートを使用して、デューティサイクルの減少を通じて達成され得る。
さらに、他の様々な減衰方式が使用可能である。
質量分析計は、飛行時間質量分析計(ToF)、および特に、特定のイオン検出機構、または信号をディジタル化する工程により、高イオン到着率で非線形の挙動を表示するイオン検出器を有する飛行時間質量分析計を含むのが好ましい。
あるいは、質量分析計はイオントラップ質量分析計を含んでもよく、特に、イオントラップの電荷容量により器具の線形のダイナミックレンジが決定されるイオントラップ質量分析計を含んでいてもよい。そのような質量分析計には、C−trapの電荷容量により同時に測定できるイオンの数が決まるOrbitrap(RTM)質量分析が含まれる。
イオントラップに基づいた検出器システムについては、イオントラップ内での全電荷をほぼ一定に維持するよう充填時間を調節してもよい。
本明細書に記述された一般的な原則は、ダイナミックレンジが限定されたイオン群およびイオン検出器を含む他の操作方式にも適用可能である。
本発明を好適な実施形態を参照して説明してきたが、形態および細部における様々な変更が、添付の特許請求の範囲に記載されるような本発明の範囲から逸脱することなく実行され得ることが当業者であれば理解されるであろう。

Claims (15)

  1. 第1イオン群を供給すること;
    第2イオン群を形成するように前記第1イオン群における比較的量が多いまたは強度の高い1つまたは複数のイオン種を選択的に減衰させること;および
    第3イオン群を形成するように前記第2イオン群の全イオン電流を調節または最適化して、それによりイオン検出器により受信されたイオンの全イオン電流が、前記イオン検出器のダイナミックレンジ内にあるようにすることを含み、前記全イオン電流の調節または最適化は全イオン種を実質上等しく減衰することを含む、質量分析法。
  2. 第1イオン群を供給すること;
    第2イオン群を形成するように前記第1イオン群の全イオン電流を調節または最適化して、前記全イオン電流の調節または最適化は全イオン種を実質上等しく減衰すること;および
    第3イオン群を形成するように前記第2イオン群における比較的量が多いまたは強度の高い1つまたは複数のイオン種を選択的に減衰させて、それによりイオン検出器により受信されたイオンの全イオン電流が、前記イオン検出器のダイナミックレンジ内にあるようにすることを含む、質量分析法。
  3. 比較的量が多いまたは強度の高い1つまたは複数のイオン種を選択的に減衰させること、および全イオン電流を調節または最適化して、検出されたイオン信号がイオン検出器のダイナミックレンジ内にあるようにすることを含み、
    前記全イオン電流の調節または最適化はイオン種をすべて減衰することを含み、前記比較的量が多いまたは強度の高い1つまたは複数のイオン種が大幅に減衰され;
    比較的量が多いまたは強度の高い1つまたは複数の種を選択的に減衰させる、および全イオン電流を調節または最適化するステップが、単一のイオン光学装置の操作を制御することにより達成され;および
    イオン群にある比較的量が多いまたは強度の高い1つまたは複数のイオン種を選択的に減衰させる、および前記イオン群の全イオン電流を調節または最適化するステップが、実質上同時に実行される、質量分析法。
  4. 比較的量が多いまたは強度の高い1つまたは複数の種を選択的に減衰させるステップ、および全イオン電流を調節または最適化するステップが、第1イオン光学装置および1つまたは複数の第2の異なるイオン光学装置の操作を調整することにより達成される、請求項1または2に記載の方法。
  5. 前記第1イオン光学装置が質量、質量電荷比、イオン移動度、微分型イオン移動度または他の物理化学的性質に従ってイオンを分離するための装置を含む、請求項4に記載の方法。
  6. 前記第1イオン光学装置が飛行時間領域、イオン移動度分離器もしくは分光計、または微分型イオン移動度分離器もしくは分光計を含む、請求項5に記載の方法。
  7. 前記1つまたは複数の第2イオン光学装置は、特定の質量、質量電荷比、イオン移動度、微分型イオン移動度または他の物理化学的性質を有するイオンをろ過する、または減衰するための装置を含む、請求項4、5または6に記載の方法。
  8. 前記1つまたは複数の第2イオン光学装置は、マスフィルター、イオントラップ、イオンゲートまたはダイナミックレンジ拡張(DRE)レンズを含む、請求項7に記載の方法。
  9. 比較的量が多いまたは強度の高い1つまたは複数のイオン種を選択的に減衰させるステップが:
    (i)1つまたは複数のイオン種を減少させる、または完全に除去すること;および/または
    (ii)1つまたは複数のイオン種を少なくとも10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%減衰させる、請求項1から8のいずれかに記載の方法。
  10. 時間Tの間に、選択的に減衰されるイオン群において比較的量が多いまたは強度の高いイオン種の数を変動、増加、減少、漸進的に増加、漸進的に減少させることをさらに含む、請求項1から9のいずれかに記載の方法。
  11. 選択的に減衰される、イオン群において比較的量が多いまたは強度の高いイオン種の数を変動、増加、または減少させた後、イオン群のイオン電流を再調節もしくは最適化する、および/またはイオン検出器のゲインを再調節、もしくは最適化することをさらに含む、請求項1から10のいずれかに記載の方法。
  12. イオン群の全イオン電流を調節または最適化するステップが、
    (i)イオン検出器により検出されたイオン種の数が最適化または最大化される;および/または
    (ii)イオン検出器が実質上線形レジームで動作するよう配置される;および/または
    (iii)質量分析器に供給され、続いてイオン検出器により検出されたイオンの全イオン電流またはイオン電流が、時間が経過しても実質上一定のままとなるように、前記イオン群の全イオン電流を調節することを含む、請求項1から11のいずれかに記載の方法。
  13. 第1イオン群を供給するために配置され適合された装置;
    第2イオン群を形成するように前記第1イオン群における比較的量が多いまたは強度の高い1つまたは複数のイオン種を選択的に減衰させるために配置され適合された選択的な減衰装置;および
    第3イオン群を形成するように前記第2イオン群の全イオン電流を調節または最適化して、それによりイオン検出器により受信されるイオンの全イオン電流が前記イオン検出器のダイナミックレンジ内にあるようにするために配置され適合された装置を含み、前記装置は、全イオン種を実質上等しく減衰することにより全イオン電流を調節または最適化するために配置され適合される、質量分析計。
  14. 第1イオン群を供給するために配置され適合された装置;
    第2イオン群を形成するように前記第1イオン群の全イオン電流を調節または最適化するために配置され適合された装置であって、全イオン種を実質上等しく減衰することにより全イオン電流を調節または最適化するために配置され適合される装置;および
    第3イオン群を形成するように前記第2イオン群における比較的量が多いまたは強度の高い1つまたは複数のイオン種を選択的に減衰させて、それによりイオン検出器により受信されたイオンの全イオン電流が、前記イオン検出器のダイナミックレンジ内にあるようにするために配置され適合された選択的な減衰装置を含む、質量分析計。
  15. 検出されたイオン信号がイオン検出器のダイナミックレンジ内にあるように、全イオン電流を調節するまたは最適化するために配置され適合された装置と組み合わせられる装置、すなわち比較的量が多いまたは強度の高い1つまたは複数のイオン種を大幅に、選択的に減衰させるために配置され適合される選択的な減衰装置を含み、
    単一のイオン光学装置が、比較的量が多いまたは強度の高い1つまたは複数のイオン種を選択的に減衰させるために、および全イオン流を調節または最適化するために配置され適合され;
    前記単一のイオン光学装置は、イオン群にある比較的量が多いまたは強度の高い1つまたは複数のイオン種の選択的な減衰、および、前記イオン群の全イオン電流の調節または最適化を実質上同時に実施するために配置され適合され;および
    前記全イオン電流の調節または最適化には全イオン種を減衰することが含まれ、前記減衰装置は、前記比較的量が多いまたは強度の高い1つまたは複数のイオン種を大幅に減衰させるために配置され適合される、質量分析計。
JP2014537735A 2011-10-27 2012-10-29 質量分析器の有効ダイナミックレンジを改善させる、イオン群の適合され、かつ、標的化された制御 Active JP6170929B2 (ja)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GBGB1118579.0A GB201118579D0 (en) 2011-10-27 2011-10-27 Control of ion populations
GB1118579.0 2011-10-27
US201161556475P 2011-11-07 2011-11-07
US61/556,475 2011-11-07
PCT/GB2012/052692 WO2013061097A2 (en) 2011-10-27 2012-10-29 Adaptive and targeted control of ion populations to improve the effective dynamic range of mass analyser

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2014535049A JP2014535049A (ja) 2014-12-25
JP2014535049A5 JP2014535049A5 (ja) 2017-03-02
JP6170929B2 true JP6170929B2 (ja) 2017-07-26

Family

ID=45373514

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014537735A Active JP6170929B2 (ja) 2011-10-27 2012-10-29 質量分析器の有効ダイナミックレンジを改善させる、イオン群の適合され、かつ、標的化された制御

Country Status (6)

Country Link
US (2) US9870903B2 (ja)
EP (1) EP2771902B1 (ja)
JP (1) JP6170929B2 (ja)
CA (1) CA2852828A1 (ja)
GB (2) GB201118579D0 (ja)
WO (1) WO2013061097A2 (ja)

Families Citing this family (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
PL2578688T5 (pl) 2011-02-25 2023-05-29 Regeneron Pharmaceuticals, Inc. Myszy adam6
GB201118579D0 (en) * 2011-10-27 2011-12-07 Micromass Ltd Control of ion populations
EP2973644B1 (en) * 2013-03-14 2020-05-06 Micromass UK Limited Data dependent control of the intensity of ions separated in multiple dimensions
GB201304583D0 (en) * 2013-03-14 2013-05-01 Micromass Ltd Data dependent control of the intensity of ions separated in multiple dimensions
CN105492903B (zh) * 2013-08-26 2017-08-01 株式会社岛津制作所 色谱质谱分析装置
GB201319942D0 (en) * 2013-11-12 2013-12-25 Micromass Ltd Ion Trap Mass Spectrometers
US11049709B2 (en) 2013-11-12 2021-06-29 Micromass Uk Limited Ion trap mass spectrometers with space charge control
WO2015185941A1 (en) * 2014-06-06 2015-12-10 Micromass Uk Limited Mobility selective attenuation
GB2528875A (en) * 2014-08-01 2016-02-10 Thermo Fisher Scient Bremen Detection system for time of flight mass spectrometry
GB201613988D0 (en) 2016-08-16 2016-09-28 Micromass Uk Ltd And Leco Corp Mass analyser having extended flight path
US20180286656A1 (en) * 2017-03-28 2018-10-04 Thermo Finnigan Llc Systems and methods for electron ionization ion sources
GB2567794B (en) 2017-05-05 2023-03-08 Micromass Ltd Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometers
GB2563571B (en) 2017-05-26 2023-05-24 Micromass Ltd Time of flight mass analyser with spatial focussing
EP3662502A1 (en) 2017-08-06 2020-06-10 Micromass UK Limited Printed circuit ion mirror with compensation
US11211238B2 (en) 2017-08-06 2021-12-28 Micromass Uk Limited Multi-pass mass spectrometer
US11049712B2 (en) 2017-08-06 2021-06-29 Micromass Uk Limited Fields for multi-reflecting TOF MS
US11081332B2 (en) 2017-08-06 2021-08-03 Micromass Uk Limited Ion guide within pulsed converters
CN111164731B (zh) 2017-08-06 2022-11-18 英国质谱公司 进入多通道质谱分析仪的离子注入
EP3662501A1 (en) 2017-08-06 2020-06-10 Micromass UK Limited Ion mirror for multi-reflecting mass spectrometers
US11817303B2 (en) 2017-08-06 2023-11-14 Micromass Uk Limited Accelerator for multi-pass mass spectrometers
GB201806507D0 (en) 2018-04-20 2018-06-06 Verenchikov Anatoly Gridless ion mirrors with smooth fields
GB201807605D0 (en) 2018-05-10 2018-06-27 Micromass Ltd Multi-reflecting time of flight mass analyser
GB201807626D0 (en) 2018-05-10 2018-06-27 Micromass Ltd Multi-reflecting time of flight mass analyser
GB201808530D0 (en) 2018-05-24 2018-07-11 Verenchikov Anatoly TOF MS detection system with improved dynamic range
GB201810573D0 (en) 2018-06-28 2018-08-15 Verenchikov Anatoly Multi-pass mass spectrometer with improved duty cycle
DE102018116308A1 (de) 2018-07-05 2020-01-09 Analytik Jena Ag Dynamische Ionenfilterung zur Reduzierung hochabundanter Ionen
GB201901411D0 (en) 2019-02-01 2019-03-20 Micromass Ltd Electrode assembly for mass spectrometer
US10892152B1 (en) * 2019-08-27 2021-01-12 Thermo Finnigan Llc Adjustable dwell time for SRM acquisition
KR20240026444A (ko) * 2021-04-23 2024-02-28 브라운 유니버시티 시간 정보를 갖는 단일-이온 질량 분광법을 위한 시스템들 및 방법들
GB2606357A (en) * 2021-05-04 2022-11-09 Kratos Analytical Ltd Time of flight mass spectrometer

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2585616B2 (ja) * 1987-08-12 1997-02-26 株式会社日立製作所 二次イオン質量分析計方法
US6075244A (en) * 1995-07-03 2000-06-13 Hitachi, Ltd. Mass spectrometer
JPH09320516A (ja) 1996-05-29 1997-12-12 Shimadzu Corp 四重極質量分析計
JP3665823B2 (ja) 1999-04-28 2005-06-29 日本電子株式会社 飛行時間型質量分析装置及び飛行時間型質量分析方法
GB0029040D0 (en) * 2000-11-29 2001-01-10 Micromass Ltd Orthogonal time of flight mass spectrometer
US7038197B2 (en) 2001-04-03 2006-05-02 Micromass Limited Mass spectrometer and method of mass spectrometry
US6958473B2 (en) * 2004-03-25 2005-10-25 Predicant Biosciences, Inc. A-priori biomarker knowledge based mass filtering for enhanced biomarker detection
GB0407713D0 (en) * 2004-04-05 2004-05-12 Micromass Ltd Mass spectrometer
GB2423867B (en) 2004-04-05 2007-01-17 Micromass Ltd Mass spectrometer
US7323682B2 (en) 2004-07-02 2008-01-29 Thermo Finnigan Llc Pulsed ion source for quadrupole mass spectrometer and method
US7238936B2 (en) 2004-07-02 2007-07-03 Thermo Finnigan Llc Detector with increased dynamic range
GB0425426D0 (en) * 2004-11-18 2004-12-22 Micromass Ltd Mass spectrometer
JP5329967B2 (ja) * 2005-11-10 2013-10-30 マイクロマス ユーケー リミテッド 質量分析計
US7679051B2 (en) * 2006-05-17 2010-03-16 Southwest Research Institute Ion composition analyzer with increased dynamic range
GB0622780D0 (en) * 2006-11-15 2006-12-27 Micromass Ltd Mass spectrometer
EP1933366B1 (en) * 2006-12-14 2019-06-12 Tofwerk AG Apparatus for mass analysis of ions
EP1933365A1 (en) * 2006-12-14 2008-06-18 Tofwerk AG Apparatus for mass analysis of ions
GB0717146D0 (en) 2007-09-04 2007-10-17 Micromass Ltd Mass spectrometer
US7745781B2 (en) * 2008-05-30 2010-06-29 Varian, Inc. Real-time control of ion detection with extended dynamic range
US7960690B2 (en) * 2008-07-24 2011-06-14 Thermo Finnigan Llc Automatic gain control (AGC) method for an ion trap and a temporally non-uniform ion beam
GB0900917D0 (en) * 2009-01-20 2009-03-04 Micromass Ltd Mass spectrometer
DE102010032823B4 (de) 2010-07-30 2013-02-07 Ion-Tof Technologies Gmbh Verfahren sowie ein Massenspektrometer zum Nachweis von Ionen oder nachionisierten Neutralteilchen aus Proben
US20130181125A1 (en) * 2010-08-19 2013-07-18 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Method and system for increasing the dynamic range of ion detectors
CA2836423C (en) * 2011-06-03 2019-05-21 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Removal of ions from survey scans using variable window band-pass filtering to improve intrascan dynamic range
US8969798B2 (en) * 2011-07-07 2015-03-03 Bruker Daltonics, Inc. Abridged ion trap-time of flight mass spectrometer
US8927940B2 (en) * 2011-06-03 2015-01-06 Bruker Daltonics, Inc. Abridged multipole structure for the transport, selection and trapping of ions in a vacuum system
GB201118579D0 (en) * 2011-10-27 2011-12-07 Micromass Ltd Control of ion populations

Also Published As

Publication number Publication date
WO2013061097A2 (en) 2013-05-02
CA2852828A1 (en) 2013-05-02
GB2502650B (en) 2016-06-08
GB2502650A (en) 2013-12-04
US20180138025A1 (en) 2018-05-17
US20140291504A1 (en) 2014-10-02
JP2014535049A (ja) 2014-12-25
US9870903B2 (en) 2018-01-16
GB201219436D0 (en) 2012-12-12
GB201118579D0 (en) 2011-12-07
WO2013061097A3 (en) 2013-08-15
US20190019659A9 (en) 2019-01-17
EP2771902B1 (en) 2020-07-29
EP2771902A2 (en) 2014-09-03
US10930482B2 (en) 2021-02-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6170929B2 (ja) 質量分析器の有効ダイナミックレンジを改善させる、イオン群の適合され、かつ、標的化された制御
EP2380186B1 (en) Ion population control device for a mass spectrometer
CA2905316C (en) Data dependent control of the intensity of ions separated in multiple dimensions
JP5329967B2 (ja) 質量分析計
JP6040174B2 (ja) 質量電荷比範囲のプレスキャン
JP6057924B2 (ja) 飛行時間型機器におけるm/z標的減衰
CN107690690B (zh) 使用离子过滤的质量分析方法
US10088451B2 (en) Ion mobility spectrometer
GB2534431A (en) Mobility selective attenuation
CA2909125C (en) Improved ion mobility spectrometer
GB2515617A (en) Improved ion mobility spectrometer
EP3069371B1 (en) Ion trap mass spectrometers
US20170110310A1 (en) Synchronised Variation of Source Conditions of an Atmospheric Pressure Chemical Ionisation Mass Spectrometer Coupled to a Gas Chromatograph to Improve Stability During Analysis
GB2577991A (en) Ion filtering devices

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20151020

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20160720

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160728

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20161019

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20161219

A524 Written submission of copy of amendment under article 19 pct

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A524

Effective date: 20170130

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170606

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170703

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6170929

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250