JP6538721B2 - レーザー・コンプトンx線源を用いた二色放射線撮影の方法 - Google Patents

レーザー・コンプトンx線源を用いた二色放射線撮影の方法 Download PDF

Info

Publication number
JP6538721B2
JP6538721B2 JP2016566988A JP2016566988A JP6538721B2 JP 6538721 B2 JP6538721 B2 JP 6538721B2 JP 2016566988 A JP2016566988 A JP 2016566988A JP 2016566988 A JP2016566988 A JP 2016566988A JP 6538721 B2 JP6538721 B2 JP 6538721B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
energy
region
ray
area
detector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2016566988A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2017514632A (ja
Inventor
ピー.ジェイ. バーティ,クリストファー
ピー.ジェイ. バーティ,クリストファー
Original Assignee
ローレンス リバモア ナショナル セキュリティー, エルエルシー
ローレンス リバモア ナショナル セキュリティー, エルエルシー
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from US14/274,348 external-priority patent/US9706631B2/en
Application filed by ローレンス リバモア ナショナル セキュリティー, エルエルシー, ローレンス リバモア ナショナル セキュリティー, エルエルシー filed Critical ローレンス リバモア ナショナル セキュリティー, エルエルシー
Publication of JP2017514632A publication Critical patent/JP2017514632A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6538721B2 publication Critical patent/JP6538721B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G01N23/083Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays
    • G01N23/087Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays using polyenergetic X-rays
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/06Diaphragms
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/40Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis
    • A61B6/405Source units specially adapted to modify characteristics of the beam during the data acquisition process
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/42Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
    • A61B6/4208Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
    • A61B6/4241Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector using energy resolving detectors, e.g. photon counting
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/48Diagnostic techniques
    • A61B6/481Diagnostic techniques involving the use of contrast agents
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/48Diagnostic techniques
    • A61B6/482Diagnostic techniques involving multiple energy imaging
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/02Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/02Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
    • G21K1/04Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators using variable diaphragms, shutters, choppers
    • G21K1/043Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators using variable diaphragms, shutters, choppers changing time structure of beams by mechanical means, e.g. choppers, spinning filter wheels
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05GX-RAY TECHNIQUE
    • H05G2/00Apparatus or processes specially adapted for producing X-rays, not involving X-ray tubes, e.g. involving generation of a plasma
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05GX-RAY TECHNIQUE
    • H05G2/00Apparatus or processes specially adapted for producing X-rays, not involving X-ray tubes, e.g. involving generation of a plasma
    • H05G2/001X-ray radiation generated from plasma
    • H05G2/008X-ray radiation generated from plasma involving a beam of energy, e.g. laser or electron beam in the process of exciting the plasma
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/20Sources of radiation
    • G01N2223/206Sources of radiation sources operating at different energy levels
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/40Imaging
    • G01N2223/408Imaging display on monitor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/40Imaging
    • G01N2223/423Imaging multispectral imaging-multiple energy imaging
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/50Detectors
    • G01N2223/501Detectors array

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

発明の詳細な説明
〔関連出願に対するクロスレファレンス〕
本願は、US仮出願番号61/990、642「レーザー・コンプトンX線源を用いた二色放射線撮影システムおよび方法」(出願日:2014年5月8日)に基づく優先権を主張するものであり、当該仮出願は参照によって本明細書に含まれる。本願はUS特許出願番号14/274、348「効率的な狭帯域レーザー・コンプトンX線およびガンマ線源の調節された方法」(出願日:2014年5月9日)の部分継続出願であり、当該出願は参照によって本明細書に含まれる。US特許出願番号14/274、348は、US仮出願番号61/821、813「効率的な狭帯域レーザー・コンプトンX線およびガンマ線源の調節された長パルスの方法」(出願日:2013年5月10日)に基づく優先権を主張するものであり、当該仮出願は参照によって本願に含まれる。US特許出願番号14/274、348は、US仮出願番号61/990、637「レーザー・コンプトンX線またはガンマ線源を用いた超低線量フィードバック撮像システムおよび方法」(出願日:2014年5月8日)に基づく優先権を主張するものであり、当該仮出願は参照によって本明細書に含まれる。US特許出願番号14/274、348は、US仮出願番号61/990、642「レーザー・コンプトンX線源を用いた2色放射線撮影システムおよび方法」(出願日:2014年5月8日)に基づく優先権を主張するものであり、当該仮出願は参照によって本明細書に含まれる。
〔連邦政府資金による研究または開発に関する表明〕
合衆国政府は、合衆国エネルギー省とローレンス・リバモア・ナショナル・セキュリティ、エルエルシーとのあいだで、ローレンス・リバモア・ナショナル・ラボラトリーの運営に関して締結された契約番号DE‐AC52‐07NA27344に基づき、本発明に対する権利を有する。
〔背景技術〕
〔技術分野〕
本発明は、レーザー・コンプトン散乱によるX線およびガンマ線発生に関する。より詳しくは、本発明は、レーザー・コンプトンX線源を用いたサブトラクション放射線医学に関する。
〔背景技術〕
従来の二次元X線/ガンマ線撮影では、患者または対象は広域のX線またはガンマ線を照射され、送られた信号が二次元フィルムまたは検出器アレイに記録される。対象内の物質の密度のばらつきは、貫通放射のためにビーム伝達におけるばらつきを引き起こし、こうしたばらつきはフィルムまたは検出器アレイ上で影として現れる。この撮像技術のダイナミック・レンジは、検出器システムの応答反応、および対象の厚みと対象によるX線の二次散乱によって決まる。さらに、対象のすべての部位は、同じ入力束(単位面積当たりの光子)を受け、対象に衝突する総線量は、対象の面積および対象の最も密度の高い領域を貫通するのに必要な束、すなわち、対象内の対象構造を決定するのに必要な束によって設定される。この撮像の様相では、対象全体が高い線量を受ける。
目標の対象が小さいか低密度である撮像手順の場合は、原子番号の大きな造影剤を注入または摂取させ、目標の構造について特定の情報を提供する。例えば、冠動脈造影法では、目的は、血管の画像を得ること、とりわけ、血管の孔径が狭まったり血管が詰まったりした領域を特定することである。血液および血管は軟部組織でありサイズが小さいため、それらによるX線の減衰全体は、それらが存在する背景マトリクスに比べれば小さなものであり、そのため、従来の全身X線画像でそれらを十分に決定することは、不可能ではないにしても難しい。この問題を解決するため、周囲の生物学的物質より概して大きな原子番号を有する密度の高い物質を血流に注入して、対象領域でのX線減衰を増大させ、それによりコントラストを改善する。当然ながら、ヒトの撮像作業に用いる造影剤は、生物学的に不活性であるか、あるいは少なくとも比較的不活性であると保証されなければならない。冠動脈造影法の場合、ヨウ素含有化合物が造影剤として用いられてきた。ただ、このやり方は確かにコントラストを向上させ必要な空間的情報を提供してくれるが、患者が受ける線量は極めて高くなりうる。冠動脈造影法の中には、患者を丸一年分の許容線量にさらしうるものもある。
コントラストを向上させ、かつ/または、必要なコントラストレベルの画像に必要な線量を下げるため、二色サブトラクション撮像法が提案され、実施されてきた。この様相では、患者は、調整可能な、準単一エネルギーX線源を用いて二度照射される。一度目は、X線源のエネルギーを造影剤のK殻吸収端よりわずかに高く設定し、二度目は、わずかに低く設定する。図1に示すように、造影剤の吸収断面は、K殻吸収領域の周りで劇的に変化するが、一方、周囲の物質の吸収断面は比較的変わらない。二つの画像を標準化して、造影剤を含まない領域において同じ信号を有するようにすると、標準化された二つの画像のサブトラクションから、主に造影剤による画像が得られる。
シンクロトロンX線源からのフィルター光を用いて行った初期の実験により、このやり方は画像のコントラストを劇的に上げ、かつ/または患者に対する線量を劇的に減らすことができることが示されたものの、臨床的に互換性のある準単一エネルギーX線源がないために、実際の臨床現場での実施は比較的限定されていた。シンクロトロン源は高価であり(10億ドル超)、大きく(直径100メートル超)、比較的珍しい。それに加えて、シンクロトロン源の出力は一定で、急に調整することも、対象を容易にスキャンすることもできない。
なお、回転陽極に衝突する電子ビームの終端エネルギーを変化させて、最もエネルギーの高い光子が、求められるK端吸収より高いかわずかに低いようにすることで、K端撮像用に従来の制動放射線源を用いようとした試みもある。しかし実際には、これはあまりうまくいかない。制動放射線源の総X線量は、電子ビームの終端エネルギーからDCへと広がっており、そのため、ビームスペクトルのうち、K端を超える部分は総X線生成に比べて比較的小さく、そのため、画像は背景の吸収が支配的となる。このモードでは、患者に対する線量も高い。前記源の制動放射線スペクトラムの低いエネルギーテールに主に由来するためである。この問題は、スペクトルの高エネルギー部分と比較して低エネルギー部分を優先的に減らす原子番号の小さい物質でビームを減衰することで、ある程度は最小にすることができる。しかし、当然ながら、これは、撮像に利用可能なX線束の総量を減らし、照射X線ビーム内での画像品質を下げる散乱X線の比率を増やし、対象におけるK端を超える使用可能な光子およびそれ未満の使用可能な光子を同数生成するのにより高電流の陽極装置が必要となる。
なお、二色臨床撮像には、外殻の吸収端、すなわちLやMではなく、K殻端が一般的に用いられる。これは、K殻電子を取り除くのに必要なX線エネルギーは、臨床用の放射線撮影にとって重要なX線領域に一般的に含まれるのに対し、外殻吸収はより低いX線エネルギーで生じるからである。しかし、もし対象と源とが適合するならば、同じ二色画像サブトラクションスキームを、外殻吸収端を用いてより低いエネルギーで実施してもよい。
〔発明の概要〕
対象の高コントラストサブトラクションX線画像をレーザー・コンプトンX線源によるスキャン照射で生成する新たな方法を記載する。本発明はレーザー・コンプトン散乱プロセスのスペクトルと角度の相関関係および特別に設計した開口部および/または検出器を用いて、細いX線ビームを生成/記録する。当該ビームのスペクトルは、高エネルギーX線の軸上領域と、その周辺のわずかに低いエネルギーX線の領域とからなる。レーザー・コンプトン源の終端エネルギーは、高エネルギーX線領域が、対象内の特定の造影剤または特定物質のK殻吸収端(K端)を超える光子を含み、一方、その外側の領域が、同じ造影剤または特定物質のK端より小さいエネルギーを有する光子からなるように設定される。対象をこのビームで照射することで、当該ビームのそれぞれの部分で照射された領域について、当該対象のK端を超える吸収反応とK端未満の吸収反応とを同時に記録する。ビームをスキャンするかあるいはビームに対して対象をスキャンすることで、当該対象のK端を超える空間反応およびK端未満の空間反応を構築することができる。これらの空間反応は、適切に標準化され互いからサブトラクトされると、対象内の特定の造影剤または特定物質の存在または不在に対する感度を有するマップを生成する。それゆえ、サブトラクション画像は、対象内の造影剤または特定物質の存在を示す高コントラスト放射線写真となる。
上記技術をさまざまなX線撮像作業に用いて、対象に対して一定のX線線量が当てられた際の画像コントラストを高めるか、あるいは求められるコントラストのX線画像を得るのに必要なX線線量を減らすことができる。特に注目すべきは、この方法は、対象のK端を超えるマップとK端未満のマップの双方を、X線源の終端エネルギーの調整またはX線源のビーム全体のフィルタリングなしに得ることであり、しかもそれを、従来の回転陽極X線源には通常存在する低エネルギー非貫通X線で対象を照射することなしに行えることである。可能な用途としては、血液を造影剤としてのヨウ素でドープして動脈閉塞の画像を提供するのに使われる冠動脈造影法、あるいは胸部にガドリニウムベースの造影剤を注入して前癌物質と関連している血管新生の画像を得るのに使われる低線量マンモグラフィが挙げられるが、これらに限定されるものではない。どちらの場合でも、造影剤のサブトラクションX線画像は重要な情報を提供でき、しかもそれを、従来のX線放射撮影法と同等のあるいはよりよい画質で、かつ/または従来のX線放射線撮影法よりもずっと少ない線量で行う。
本発明は広範囲の用途に用いられる。そうした用途としては、高コントラストX線撮像、医療用X線撮像(例えば、血管造影法やマンモグラフィ)、対象または患者内の特定の原子種のサブトラクションX線撮像、X線を用いた多数の構成要素の非破壊的鑑定(例えばコンピュータのチップや構成要素の要素特定放射線撮影)が挙げられる。
〔図面の簡単な説明〕
添付の図面は、本開示に組み込まれその一部を成すものであり、本発明の実施形態を示し、明細書とともに本発明の本質を説明するものである。
図1は、さまざまな要素のK端吸収係数対エネルギーを示す。
図2Aは、開口部を設けたレーザー・コンプトンX線源からのビームの、ゆるく開口部を通した広帯域スペクトルを示す。
図2Bは、開口部を設けたレーザー・コンプトンX線源からのビームの、軸上高エネルギー狭帯域スペクトルを示す。
図2Cは、開口部を設けたレーザー・コンプトンX線源からのビームの軸上スペクトルを取り囲む狭帯域のより低いエネルギースペクトルを示す。
図2Dは、図2Aから2Cの開口ビームの角関連スペクトルを示す。
図3Aは、K端を超えるレーザー・コンプトンX線源を撮像する構成を示す。
図3Bは、K端未満のレーザー・コンプトンX線源を撮像する構成を示す。
図4Aは、本発明の二画素の様相の実施形態を示す。
図4Bは、図4Aの二画素の様相とともに用いる二画素検出器の実施形態を示す。
図5Aは、本発明の「多画素」の様相の実施形態を示す。
図5Bは、図5Aの実施形態とともに用いる検出器を示す。当該検出器は画素の二次元アレイからなっており、ビームの高エネルギー部分と低エネルギー部分両方の範囲を定める。
図6Aは、本発明の「均等な空間寸法」の様相の実施形態を示す。この実施形態では、ビームがスリットを通過することで、ビームの諸部分が横または縦の寸法において等しくなるようにする。
図6Bは、図6Aの実施形態とともに用いる検出器を示す。
図7Aは、本発明の「非連続環状ビーム」の様相の実施形態を示す。この実施形態では、ビームは開口部/ビームブロックのセットであり、高エネルギーX線および低エネルギーX線を用いてそれぞれ異なる環状ビームを作る。
図7Bは、図7Aの実施形態とともに用いる検出器を示す。
図7Cは、X線内に位置する環状ビームブロック90の拡大図を示す。
図8Aは、本発明に係る「ディザリング検出器」の様相を示す。
図8B−8Dは、図8Aの実施形態のビーム内における検出器のさまざまな位置を示す。
図9A−9Bは、本発明に係る「ディザリング開口部」の様相を示す。
〔発明を実施するための形態〕
本発明では、レーザー・コンプトン散乱プロセスを用いてX線ビームを生成する。このX線ビームは、二つの異なるX線スペクトルを有する二つの異なる空間的領域から成っている。一方の領域は軸上にあり、より高いエネルギーの光子を有する。他方の領域は上記一方の領域を取り巻き、より低いエネルギーの光子を有する。このビームはそれから、スキャン撮像の様相で用いられて、対象の二色サブトラクションX線画像を生成する。レーザー・コンプトンX線ビームエネルギーを適切に設定しているので、このサブトラクション画像は、放射線撮影された対象内の特定の物質の存在に対してのみ高い感度を有する。この高コントラスト低線量の画像は、レーザー・コンプトンX線源の終端エネルギーを調整することなしに、つまり、X線源を調整することなしに、得られる。
レーザー・コンプトン散乱(逆コンプトン散乱とも称される)は、エネルギーレーザーパルスが相対論的電子の短期間の集団から散乱するプロセスである。このプロセスは、準単一エネルギーX線ガンマ線放射の短期間の突発を生じさせるのに便利な方法だと認識されてきた。電子と相互に作用する際、入射したレーザー光は、上記集団内の電子の横軸の動きを引き起こす。実験室の静止座標で観察した際のこの動きからの放射は、前方に向かう、ドップラー偏移した、高エネルギー光子のビームとして見える。正面衝突するため、レーザー・コンプトン源の全スペクトルはDCから入射レーザーのエネルギーの4γまで広がる。ここで、ガンマは電子ビームの標準化されたエネルギーである。すなわち、ガンマ=1 when Electron energy?=511KeVである。レーザー・コンプトン源の終端エネルギーは、電子の集団のエネルギーおよび/またはレーザー光子のエネルギーを変えることで調整できる。数KeVから1MeVを超えるまでの範囲の高エネルギー放射のビームがこのプロセスによって生成され、広範囲の用途に用いられてきた。
放射されたコンプトン光のスペクトルは、正方向にのみ出射された最も高いエネルギーの光子を有する電子ビームの進行方向と、角度において高い相関関係がある。図2を参照のこと。レーザー・コンプトンビームの通路に適切に設計した開口部を設けることで、帯域幅(DE/E)が通常は10%以下である準単一エネルギーX線またはガンマ線ビームを容易に作ることができる。
レーザー・コンプトンX線源は、特に従来の回転陽極X線またはガンマ線制動放射線源と比較して極めて平行化されている。レーザー・コンプトン源の半帯域幅スペクトルの出射の円錐角は、ガンマで1ラジアンまたはミリラジアンのオーダーであり、最も狭い帯域幅の円錐角、スペクトルの軸上部分は、10マイクロラジアンのオーダーであってもよい。典型的な回転陽極源は、0.5ラジアンまでのビームの開きを有する。このように極めて平行であるために、レーザー・コンプトンX線源は画素毎に撮像する様相に理想的に適している。
さらに、レーザー・コンプトンX線源は、衝突点(相互干渉点)においてレーザー光子と電子が同時に存在することに依存している。どちらかを取り除くと、レーザー源の出力はなくなる。そのため、X線またはガンマ線出力を急に点けたり消したりするのが容易である。
図2Aから2Dに示すように、本発明は、レーザー・コンプトンX線ビームの、角度と相関関係のあるスペクトル出力の二つの領域を用いている。最も高いエネルギーの光子を含むビームの軸上部分と、そのすぐ外を取り囲む、それより低いエネルギーの光子を含むビームの部分である。ビームの軸上部分と比較しての、取り囲む領域の範囲や、取り囲む領域のスペクトルや、取り囲む領域の光子の数は、ビーム全体を適切な開口部および/または決まったサイズのビームブロックに通すことで簡単に決めることができる。レーザー・コンプトンX線源を、一定のレーザーパルスエネルギーおよび一定のバンチ電荷で作動させることで、レーザー・コンプトンX線源の総出力および上記二つの領域におけるX線光子総数同士の比を一定で定まったものにできる。
具体的には、図2Aに、レーザー・コンプトンX線源からの拡散出力ビーム10の側面断面図を示す。当該断面は、ビーム10の中心を通るページの平面で切り取ったものである。以下の説明では、「軸」という用語は、ビーム10が伝搬する中心の光学軸を示す。ビーム10のエネルギーは軸上領域12の中心で最も高く、中心軸からのビームの半径距離とともに減少する。このため、領域14は領域12よりもエネルギーが小さく、領域16は領域14よりもエネルギーが小さい。図2A、2B、2Cの諸領域は互いに分離するはっきりとした線を有しているが、実際には、最も中心の最もエネルギーの高いビームから外半径の最も低いエネルギーまで、エネルギーが連続的に変化している。この図は、円形開口部20の断面図も含んでいる。図2Aでは、開口部20は、領域12と14は通すが、領域16の大部分は通さず、ただし小さな部分だけは通す大きさの開口直径を有している。図2Dの曲線40より下の領域は、ビーム領域12、14、16の各部分のエネルギーの合計である光(X線エネルギー)の、ゆるい開口部を通った、広帯域スペクトルである。図2Bに、小直径開口部22の使用を示す。図2Dの曲線より下の領域は、ビーム領域12だけの、軸上高エネルギー狭帯域スペクトルを示す。図2Cは、ビーム領域12および14は通すがビーム領域16は通さない大きさの直径を有する開口部24の使用を示す。ビームブロック26が設けられてビーム領域12をブロックし、これにより、ビーム領域14だけが目標に向かって伝搬できる。なお、ビーム14は側面図で示されている。したがって、実際には、ビームは円形であり、ビーム領域12が開口部26でブロックされているため中心領域にはエネルギーがない。このため、図2Dの曲線44より下の領域は、ビーム領域14だけの、狭帯域低エネルギースペクトルを示す。なお、本明細書に記載した例示的な実施形態の多くでは円形の開口部を用いているが、本発明は特定の開口部の形状に限定されるものではない。送られた正確なスペクトルは、開口部および/またはビームブロックの形状およびサイズ、およびレーザーの偏光によって決まる。
二色サブトラクションX線画像を生成するために、低拡散のレーザー・コンプトンX線ビームで対象をスキャンするか、あるいは固定されたビームで対象をラスタスキャンするか、あるいはビームのスキャンと対象のスキャンを組み合わせる。例示のため(図3Aおよび3Bを参照)、ビームが固定されてZ方向に伝搬し、対象がXY平面でラスタスキャンされると仮定する。二色サブトラクション画像の目的は、この対象内部に、自然に生じるあるいは造影剤として人工的に加えられた特定の原子物質の存在を検出することである。レーザー・コンプトン源用のビームエネルギーは、軸上高エネルギーX線ビーム光子が原子物質/造影剤のK殻吸収端を超えており、外側のそれを取り囲む低エネルギーX線ビーム光子がK殻吸収閾値より下にあるように選択される。スキャンの位置毎に、送られたX線ビームは、当該X線ビームと一直線上にあり当該X線ビームに対して空間的に固定されている電子X線高感度検出器に衝突する。検出器は、X線ビームの内側部分および外側部分から当該検出器に衝突する、弾道光子の数をそれぞれ記録する。対象を十分にスキャンしたら、ビームの内側部分と外側部分双方はそれぞれ、対象の二次元の範囲全体を露光し終えているであろう。検出器がX線の光子の数をビームの内側部分の位置の関数として記録することは、対象が造影剤のK端を超える光子を減衰することを表す。一方、検出器がビームの外側部分に対してX線の光子の数を記録することは、対象が造影剤のK端未満の光子を減衰することを表す。造影剤の吸収原子とは異なる原子からなる対象内の物質に対して、X線ビームの二つの領域に含まれる光子の相対的な減衰は基本的に同じである。したがって、スキャンによって得られた二つの画像を、適切に標準化して数値の上でサブトラクトすると、造影剤がある場所以外はすべて、差は一次ゼロとなる。この技術は、対象内の造影剤や特定の原子物質が当該対象の全マトリクスと原子量が大きく異なる場合、そうした造影剤や特定の原子物質の撮像用に、極めて高感度で低線量の様相を提供する。
より具体的には、図3Aに、図2Bのシステムによって提供されるビーム領域12を示す。レーザー・コンプトンX線源は、ビーム領域12が対象50における対象物質のK端を超えるエネルギーを有するように、構成されている。対象例50はヒトの組織でもよいが、もちろん他の対象をビームの中に配置してもよい。ビーム領域12は、対象50を通ってZ方向へ伝搬し、X線検出器52へと達する。そのような検出器は本技術分野で知られている。また、図は対象をヒトとしている。そのような場合、その人間は、対象物質を含む造影剤を摂取または注入される。その人間または対象をXY方向にラスタスキャンして、造影剤によって吸収されないK端を超えるX線光子の画像を集めたり取得したりできる。図3Bに、図2Cのシステムによって提供されるビーム14を示す。この場合、ビーム領域14だけが、物体50を通って伝搬し、X線検出器52に達する。その人間または対象をXY方向にラスタスキャンして、物体を通過するK端を下回るX線光子の画像を集めたり取得したりできる。本明細書で論じたように、スキャンによって得られた二つの画像を、適切に標準化して数値の上でサブトラクトすると、造影剤がある場所以外はすべて、差は一次ゼロとなる。
一つの特別な例としては、ヨウ素を含有する造影剤を血流に注射する血管造影法が挙げられる。ヨウ素は原子番号が53であり、33.2KeVのK端吸収エネルギーを有する。それを取り囲む組織は、通常、より原子量の低い原子、例えば炭素、酸素、水素などからなる。これらの原子は、ヨウ素のK端である33.2KeV前後ではさほど減衰しない。このようにして、ヨウ素のK端に合わせたレーザー・コンプトンX線ビームを用いた二色サブトラクション画像により、ヨウ素の位置を示す高コントラストマップが生成され、その結果、ヨウ素を含む血管の高コントラスト画像が生成される。
以下に、レーザー・コンプトンX線源を用いた二色サブトラクション撮像の変形例をいくつか示す。本発明はこれらの例に限定されるものではない。
1.図4Aに、本発明の二画素の様相の実施形態を示す。図4Bに、図4Aの二画素の様相とともに用いる二画素検出器の実施形態を示す。この例においては、検出器は二つの検出領域だけを有する。ビームの軸上高エネルギー領域(ビーム領域12)の範囲を定める検出領域と、ビームの所望の周辺低エネルギー領域(ビーム領域14)の範囲を定める検出領域である。そのような検出器は、珪素X線ダイオードを形成するのに用いるのと同じ微細成形加工技術を用いて組み立ててもよい。あるいは、検出器の画素が上記二つの領域と関連する二つのグループに分けられるならば、X線CCDのような二次元検出器を用いてもよい。この様相の利点は、検出器を単純化できることと、データの削減である。しかしながら、画像の空間分解能は、二つの領域におけるビームの空間的範囲に限定される。図4Aは、対象50と二画素X線検出器56とのあいだに高Zチューブ70を有する。高Zチューブ70は、散乱したX線が検出器54に到達するのを防ぐため、ビームの直径に合わせてある。図4Bに、二画素X線検出器54の面を示す。内側の丸い画素領域64はK端「を超える」光子を記録し、外側の環状の画素領域66はK端「未満の」光子を記録する。
2.図5Aに、本発明の「多画素」の様相の実施形態を示す。図5Bに、図5Aの実施形態とともに用いる例示的な検出器の面を示す。当該検出器は画素の二次元アレイからなっており、ビームの高エネルギー部分と低エネルギー部分両方の範囲を定める。図5Aの要素は図4Aの要素と同じなので、同じ番号を与えられている。違いは、本実施形態が二次元X線検出器アレイ56を用いていることである。この例では、検出器は、高分解能二次元検出器、例えば二次元X線CCD検出器だが、これに限定されるものではない。画像の空間分解能はCCD要素の間隔とレーザー・コンプトンX線源のサイズで決まる。画像の数値上の登録およびサブトラクションは、上記の変形例1よりも多くの計算を必要とする。アレイタイプの検出器を用いる実施形態では、高エネルギー領域内に完全にある画素だけが、当該領域のエネルギーレベルを計算するのに用いられる。同じことはより低いエネルギー領域にも当てはまる。より低いエネルギービーム領域を検出するアレイの領域内に完全にある画素だけが、より低いビームエネルギーレベルを計算するのに用いられる。それぞれのビーム領域内に完全に存在するわけではない画素は、計算の際に捨てられる。図5Bに、検出器アレイの面を示す。内側の画素領域74はK端「を超える」光子を記録し、外側の画素領域76はK端「未満の」光子を記録する。
3.均等な面積の様相を用いる実施形態においては、二つのX線領域の面積は等しく設定される。これは、ビームの中に開口部を置いて外側の周囲のビームの範囲を限定することでも達成できるし、あるいはビームの外側領域によって範囲を定められる検出器の範囲を限定して、ビームのこの部分によって照射される面積がビームの内側部分によって照射される面積に等しくすることでも達成できる。このモードは、画像の再構成と関わる演算オーバーヘッドを減らし、ビームの一方の部分が、他方の部分より多く、対象をサンプルしないようにする。
4.均等な束の様相を用いる実施形態では、周辺領域のサイズは、当該領域に含まれる光子の総数が軸上領域に含まれる光子の総数に等しくなるように設定される。二つの領域で記録された画像は当然、標準化され、それにより画像の再構築を容易にする。
5.図6Aに、本発明の「均等な空間寸法」の様相の実施形態を示す。この実施形態では、ビームがスリットを通過することで、ビームの諸部分が横または縦の寸法において等しくなるようにする。図6Bに、図6Aの実施形態とともに用いる検出器56を示す。図5Aの要素と同じ要素は同じ番号を与えられている。この例では、ビーム全体がスリット開口部80を通過することで、周辺領域が横または縦の寸法において限定され、軸上高エネルギーX線領域の横または縦の寸法と等しくなる。これにより、スキャンとデータ検索アルゴリズムが単純化される。図6Bに、検出器アレイの面を示す。内側の画素領域84はK端「を超える」光子を記録し、外側の画素領域86はK端「未満の」光子を記録する。
6.図7Aに、本発明の「非連続環状ビーム」の様相の実施形態を示す。図5Aの実施形態と同じ要素は同じ番号を与えられる。環状開口部90は、ビーム領域12’とビーム領域14’のあいだに光子のない領域92を作るように配置されている。図7Bに、図7Aの実施形態とともに用いる検出器の面を示す。直線偏光レーザー光のレーザー・コンプトンX線ビームプロファイルは、長円形をしている。この様相では、円形の環状オブスキュレーションがビーム内に配置され、ビームの二つの異なるスペクトル領域を形成している。これは、異なるビーム領域を物理的に形成する最も単純な方法である。
7.図8Aに、本発明に係る「ディザリング検出器」の様相を示す。図5Aの実施形態と同じ要素は同じ番号を与えられる。図8Bから8Dに、図8Aの実施形態のビーム内における検出器のさまざまな位置を示す。この例では、X線ダイオードとコリメータ開口部/チューブとから成る単一画素検出器58が、X線ビームの高エネルギー部分に等しい領域の範囲を定める。X線ビームを固定して、検出器をレーザーの伝搬方向を横切る面でディザリングし、当該検出器がビームの低エネルギー部分と高エネルギー部分を交互に受けるようにする。図8Bに、「上」位置に配置してK端「未満の」光子14のみを受け取るようにした検出器58を示す。図8Cに、「中」位置に配置してK端「を超える」光子12のみを受け取るようにした検出器を示す。図8Dに、「下」位置に配置してK端「未満の」光子14のみを受け取るようにした検出器を示す。この様相により、最も速く、最も単純で、かつ/または最も安価な検出器を用いてX線画像を生成することが可能になる。しかしこの様相は、対象が受ける線量が二倍になる。
8.図9Aと9Bに、本発明に係る「ディザリング開口部」の様相を示す。図5Aの実施形態と同じ要素は同じ番号を与えられる。この例では、ビーム領域12と14双方の全領域の範囲を定める固定検出器60が用いられる。X線ビームを生成するレーザー電子相互作用点の後ろで対象の前に、可動開口部またはビームブロック110がビーム中に配置される。この開口部の役割は、ビームのうち軸上高エネルギー部分と周辺低エネルギー部分とを、レーザー・コンプトンX線源のパルス出力に合わせて交互にブロックすることである。図9Aに、「中」位置に配置されて、高エネルギーX線からなるビーム領域12だけを通す開口部110を示す。図9Bに、「上」位置に配置されて、低エネルギー線からなるビーム領域14だけを通す開口部110を示す。この交互のビームブロックは、幾通りものやり方で作ることができる。例えば、適切な形状の高Z物質を低Zディスク上に配置し、当該ディスクをビームの中で開口部を設けるような速度で回転させ、所望のビーム部分がブロックされ所望のビーム部分が送られるようにすることによってである。この様相は、対象のK端「を超える」減衰とK端「未満の」減衰とを交互に記録する。この様相により、速く、単純で、かつ/または安価な検出器を用いてX線画像を生成することができ、対象は上記1から6の例以上の線量にさらされない。しかし、この様相は、画像を蓄積するのに二倍長くかかる。なお、ディザリング検出器とディザリング開口部の様相を組み合わせて、より面積の狭いX線検出器を用いることができる。原則として、本開示に示された散乱減少チューブ70は、開口部および/または検出器と同期してディザリングすることができ、それにより、チューブ直径を小さくし、撮像された対象の背面から現れる不必要な散乱X線光子をより多く区別することができる。
9.本発明の一実施形態を二重環状様相と呼ぶ。この例では、ビームの軸上部分は用いられず、ビームの二つの環状部分が選ばれる。ビームのスペクトルのエネルギーは角の関数として減少するので、外側の環より高いエネルギー光子を含んでいる内側の環を選ぶことができる。上記したように、これら二つの環を用いて、二色サブトラクション画像を形成することができる。この様相特有の利点は、二つのビームは同様の形状を持つということのみである。この実施形態では、内側の環はX線ビームの光軸上に中心を置いてはいないが、源の電力を高めて、内側の環が対象物質のK端を超えるエネルギーレベルを有するようにできる。
10.他の実施形態では、開口部を用いてレーザー・コンプトンビームの範囲を制限することはせず、全ビームが撮像対象に入射する。ビーム通路から対象を取り除くことで、全レーザー・コンプトンビームのプロファイルが下流の二次元検出器上に得られる。この検出器上の画像位置は、X線光子エネルギーの特定の範囲と関連しており、上記のように用いて二色サブトラクションレントゲン写真を生成することができる。この様相は、レーザー・コンプトン源で対象をスキャンし、外側のビーム範囲を制限する可動開口部が非実際的である用途に適している。
11.他の様相では、タイムゲート検出器を用いて、当該検出器に届くK端光子を超えるかそれ未満の弾道光子を記録し、検査中の対象によって散乱され検出器の位置に達しうる任意の光子と区別する。当該検出器のタイムゲートは、レーザー・コンプトンX線パルスの持続時間のオーダー、つまり数ピコ秒から数十ピコ秒である必要がある。タイムゲートはX線パルスと同期している必要がある。この様相は、画像から背後で散乱したX線光子を取り除くことで一定の線量につきより高いコントラストを可能にするのみならず、K端を超える画像およびK端未満の画像それぞれにおいて正確なエネルギーの弾道光子のみが存在するようにすることでサブトラクション画像を改良する。この様相は、ゲート二次元検出器で実現してもよいし、ゲート単一画素検出器で実現してもよい。
本発明に関する上記記載は例示および説明のために提示されたものであり、網羅的である意図、または開示されたそのままの形態に本発明を限定する意図によるものではない。上記教示に照らして、多数の変形や変更が可能である。開示された実施形態はあくまでも本発明の本質およびその実際の応用を説明するためのものであり、それによって、当業者が、意図された実際的な利用に適したさまざまな実施形態およびさまざまな変形例において最もよく本発明を用いることができるようにするためのものである。本発明の範囲は、以下の請求項により定められるべきものである。
さまざまな要素のK端吸収係数対エネルギーを示す。 開口部を設けたレーザー・コンプトンX線源からのビームの、ゆるく開口部を通した広帯域スペクトルを示す。 開口部を設けたレーザー・コンプトンX線源からのビームの、軸上高エネルギー狭帯域スペクトルを示す。 開口部を設けたレーザー・コンプトンX線源からのビームの軸上スペクトルを取り囲む狭帯域のより低いエネルギースペクトルを示す。 図2Aから2Cの開口ビームの角関連スペクトルを示す。 K端を超えるレーザー・コンプトンX線源を撮像する構成を示す。 K端未満のレーザー・コンプトンX線源を撮像する構成を示す。 本発明の二画素の様相の実施形態を示す。 図4Aの二画素の様相とともに用いる二画素検出器の実施形態を示す。 本発明の「多画素」の様相の実施形態を示す。 図5Aの実施形態とともに用いる検出器を示す。当該検出器は画素の二次元アレイからなっており、ビームの高エネルギー部分と低エネルギー部分両方の範囲を定める。 本発明の「均等な空間寸法」の様相の実施形態を示す。この実施形態では、ビームがスリットを通過することで、ビームの諸部分が横または縦の寸法において等しくなるようにする。 図6Aの実施形態とともに用いる検出器を示す。 本発明の「非連続環状ビーム」の様相の実施形態を示す。この実施形態では、ビームは開口部/ビームブロックのセットであり、高エネルギーX線および低エネルギーX線を用いてそれぞれ異なる環状ビームを作る。 図7Aの実施形態とともに用いる検出器を示す。 X線内に位置する環状ビームブロック90の拡大図を示す。 本発明に係る「ディザリング検出器」の様相を示す。 図8Aの実施形態のビーム内における検出器のさまざまな位置を示す。 本発明に係る「ディザリング開口部」の様相を示す。

Claims (30)

  1. 試験要素のK殻吸収端より大きなエネルギーを有する第一ビーム領域を含むX線ビームを供給する工程であって、当該X線ビームはさらに、当該試験要素のK殻吸収端より小さなエネルギーを有する第二ビーム領域を含む、工程と、
    前記第一ビーム領域と前記第二ビーム領域とが重複しないように前記X線ビームを対象上の第一の位置に向ける工程と、
    前記第一ビーム領域の第一エネルギーと前記第二ビーム領域の第二エネルギーそれぞれの部分が前記第一の位置を通過したあと、前記第一エネルギーと前記第二エネルギーとを検出する工程と、
    前記第一エネルギーのパターンと前記第二エネルギーのパターンとの差異を計算する工程と、
    前記差異を表示する工程と、を含む方法。
  2. 前記X線ビームをレーザー・コンプトンX線源で生成する工程をさらに含む、請求項1に記載の方法。
  3. 前記差異を表示する工程は、前記差異をデータまたは画像として表示する工程を含む、請求項1に記載の方法。
  4. 請求項1に記載の諸工程を異なる位置で複数回繰り返す工程をさらに含む、請求項1に記載の方法。
  5. 前記対象と前記X線ビームそれぞれの相対的位置を互いにラスターすることにより、請求項1に記載の諸工程を複数回繰り返す工程をさらに含む、請求項1に記載の方法。
  6. 前記X線ビームは前記源と前記対象とのあいだの開口部を通され、前記X線ビームの前記第一ビーム領域と前記第二ビーム領域のみが前記対象へと伝搬する、請求項1に記載の方法。
  7. 前記第一ビーム領域または前記第二ビーム領域のうち一度に一方しか前記位置に伝搬できず、その後、他方が前記位置に伝搬する、請求項6に記載の方法。
  8. 前記対象によって散乱されたX線の少なくとも一部を、高Zチューブを用いて検出されないようにする、請求項1に記載の方法。
  9. 前記検出する工程は、前記第一エネルギーを検出する内側領域および前記第二エネルギーを検出する外側領域を有するX線検出器を用いて行われる、請求項1に記載の方法。
  10. 前記検出する工程は、二次元X線検出器アレイを用いて行われる、請求項1に記載の方法。
  11. 前記二次元検出器アレイの画素のうち、前記第一エネルギーに完全に覆われた画素だけを用いて前記第一エネルギーを計算し、前記二次元検出器アレイの画素のうち、前記第二エネルギーに完全に覆われた画素だけを用いて前記第二エネルギーを計算する、請求項10に記載の方法。
  12. 前記X線ビームをスリットに通すことで、前記第一ビーム領域の一つの寸法と前記第二ビーム領域の一つの寸法とを同じにする、請求項1に記載の方法。
  13. 前記X線ビームを開口部に通すことで、前記第一ビーム領域と前記第二ビーム領域とのあいだに、どちらの領域の光子も存在しない異なる領域を存在させる、請求項1に記載の方法。
  14. 前記検出する工程は、面積が小さいので前記第一エネルギーと前記第二エネルギーのうち一方しか一度に検出できないX線検出器を用いて行われ、当該方法はさらに、前記検出器を前記第一ビーム領域と前記第二ビーム領域とのあいだでディザリングする工程を含む、請求項1に記載の方法。
  15. 前記第一領域と前記第二領域は開口部を通されることでほぼ同じ面積を有する、請求項1に記載の方法。
  16. 前記第二領域のサイズは、前記第二ビーム領域に含まれる光子の数が前記第一領域に含まれる光子の数に等しくなるように設定される、請求項1に記載の方法。
  17. 前記ビームの通路内で前記対象より前に開口部が設けられ、当該開口部は前記第一ビーム領域と前記第二ビーム領域のうち一方だけが通るように構成されており、当該方法はさらに、前記開口部をディザリングして、まず一方のビーム領域を、続いて他方のビーム領域を通す、請求項1に記載の方法。
  18. 試験要素のK殻吸収端より大きなエネルギーを有する第一ビーム領域を含むX線ビームを供給する源であって、当該X線ビームはさらに、当該試験要素のK殻吸収端より小さなエネルギーを有する第二ビーム領域を含む、源と、
    前記第一ビーム領域の第一エネルギーと前記第二ビーム領域の第二エネルギーそれぞれの部分が対象の第一の位置を通過したあと(ここで、前記第一ビーム領域と前記第二ビーム領域とは、前記対象上の第一の位置に向ける際に重複しない)、前記第一エネルギーと前記第二エネルギーとを検出するよう構成された検出器と、
    前記第一エネルギーのパターンと前記第二エネルギーのパターンとの差異を計算するよう構成された処理装置と、
    前記差異を表示するよう構成された表示装置と、を備える装置。
  19. 前記源はレーザー・コンプトンX線源を含んでいる、請求項18に記載の装置。
  20. 前記源と前記対象とのあいだに位置する第一開口部をさらに備え、当該開口部は、前記第一ビーム領域と前記第二ビーム領域のみを前記対象へと伝搬させる、請求項18に記載の装置。
  21. 前記第一ビーム領域または前記第二ビーム領域のうち一度に一方しか前記位置に伝搬できず、その後、他方が前記位置に伝搬する、請求項20に記載の装置。
  22. 前記対象と前記検出器との間に位置する高Zチューブをさらに備え、前記高Zチューブは、前記対象によって散乱されたX線の少なくとも一部を検出されないようにする、請求項18に記載の装置。
  23. 前記検出器は、前記第一エネルギーを検出する内側領域および前記第二エネルギーを検出する外側領域を有する、請求項18に記載の装置。
  24. 前記検出器は二次元X線検出器アレイを含む、請求項18に記載の装置。
  25. 前記源と前記対象とのあいだに位置するスリット開口部をさらに備え、前記スリットは、前記第一ビーム領域の一つの寸法と前記第二ビーム領域の一つの寸法とをほぼ同じにする、請求項18に記載の装置。
  26. 前記ビーム内に位置する環をさらに備え、当該環は、前記X線ビームを開口部に通すことで、前記第一ビーム領域と前記第二ビーム領域とのあいだに、どちらの領域の光子も存在しない異なる領域を存在させる、請求項18に記載の装置。
  27. 前記検出器は面積が小さいので前記第一エネルギーと前記第二エネルギーのうち一方しか一度に検出できず、当該装置はさらに、前記検出器を前記第一ビーム領域と前記第二ビーム領域とのあいだでディザリングする手段を備えている、請求項18に記載の装置。
  28. 前記ビーム内に位置する開口部を有し、当該開口部は、(i)前記第一領域と前記第二領域がほぼ同じ面積を持つよう設定すること、(ii)前記第二領域のサイズを、前記第二ビーム領域に含まれる光子の数が前記第一領域に含まれる光子の数に等しくなるように設定すること、(iii)前記第一ビーム領域と前記第二ビーム領域のうち一方だけを通すこと、から成る群から選ばれる一つの機能を果たし、当該装置はさらに、前記開口部をディザリングして、まず一方のビーム領域を、続いて他方のビーム領域を通させる手段を備えている、請求項18に記載の装置。
  29. レーザー・コンプトンX線源により生成されたX線ビームを用いた二色放射線撮影の方法であって、当該方法は、
    レーザー・コンプトンX線源からX線ビームを供給する工程であって、当該X線ビームは、試験要素のK殻吸収端より大きなエネルギーを有する第一ビーム領域と、当該試験要素のK殻吸収端より小さなエネルギーを有する第二ビーム領域とを含む、工程と、
    前記第一ビーム領域を対象の第一の位置に向ける工程と(ここで、前記第一ビーム領域と前記第二ビーム領域とは重複しない)
    前記対象を前記第一の位置で通過した前記第一ビーム領域からの任意の光子の一部分の第一エネルギー測定値を取得する工程と、
    前記第二ビーム領域を前記第一の位置に向ける工程と、
    前記対象を前記第一の位置で通過した前記第二ビーム領域からの任意の光子の一部分の第二エネルギー測定値を取得する工程と、
    前記第一エネルギー測定値と前記第二エネルギー測定値との差異を計算する工程と、
    前記差異を表示する工程と、を含む方法。
  30. レーザー・コンプトンX線源により生成されたX線ビームを用いた二色放射線撮影の装置であって、当該装置は、
    X線ビームを供給するレーザー・コンプトンX線源であって、当該X線ビームは、試験要素のK殻吸収端より大きなエネルギーを有する第一ビーム領域と、当該試験要素のK殻吸収端より小さなエネルギーを有する第二ビーム領域とを含む、レーザー・コンプトンX線源と、
    第一エネルギー測定値と第二エネルギー測定値とを取得するよう構成され位置している検出器であって、当該第一エネルギー測定値は、対象を当該対象上の第一の位置で通過した前記第一ビーム領域からの任意の光子の一部分の測定値であり、当該第二エネルギー測定値は、前記対象を前記第一の位置で通過した前記第二ビーム領域からの任意の光子の一部分の測定値である、検出器と(ここで、前記第一ビーム領域と前記第二ビーム領域とは、前記対象を通過して伝播する際に重複しない)
    前記第一エネルギー測定値と前記第二エネルギー測定値との差異を計算する手段と、
    前記差異を表示する手段と、を備える装置。
JP2016566988A 2014-05-08 2015-05-07 レーザー・コンプトンx線源を用いた二色放射線撮影の方法 Active JP6538721B2 (ja)

Applications Claiming Priority (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201461990637P 2014-05-08 2014-05-08
US201461990642P 2014-05-08 2014-05-08
US61/990,637 2014-05-08
US61/990,642 2014-05-08
US14/274,348 2014-05-09
US14/274,348 US9706631B2 (en) 2013-05-10 2014-05-09 Modulated method for efficient, narrow-bandwidth, laser Compton X-ray and gamma-ray sources
PCT/US2015/029737 WO2015171923A1 (en) 2014-05-08 2015-05-07 Methods for 2-color radiography with laser-compton x-ray sources

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017514632A JP2017514632A (ja) 2017-06-08
JP6538721B2 true JP6538721B2 (ja) 2019-07-03

Family

ID=54393010

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016566988A Active JP6538721B2 (ja) 2014-05-08 2015-05-07 レーザー・コンプトンx線源を用いた二色放射線撮影の方法

Country Status (12)

Country Link
US (1) US10508998B2 (ja)
EP (1) EP3139837B1 (ja)
JP (1) JP6538721B2 (ja)
KR (1) KR102177991B1 (ja)
CN (1) CN106488743B (ja)
AU (1) AU2015255868B2 (ja)
CA (1) CA2951639C (ja)
DK (1) DK3139837T3 (ja)
ES (1) ES2815376T3 (ja)
NZ (2) NZ727182A (ja)
WO (1) WO2015171923A1 (ja)
ZA (1) ZA201608420B (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6810549B2 (ja) * 2016-07-22 2021-01-06 トリニティ工業株式会社 塗装ガン洗浄装置
JP7252938B2 (ja) * 2017-07-31 2023-04-05 ローレンス リバモア ナショナル セキュリティ,エルエルシー 収束x線イメージング形成装置及び方法
EP3614813A1 (en) * 2018-08-21 2020-02-26 ASML Netherlands B.V. High harmonic generation radiation source
WO2020093140A1 (en) 2018-11-05 2020-05-14 Socpra Sciences Et Génie S.E.C. Pulsed x-ray imaging
CN113984815B (zh) * 2021-10-29 2023-09-05 北京师范大学 基于逆康普顿散射x光源的高效康普顿散射成像系统

Family Cites Families (58)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA931668A (en) 1970-05-06 1973-08-07 D. Sowerby Brian Applications of nuclear resonance fluorescence of gamma rays to elemental analysis
US3854049A (en) 1973-12-10 1974-12-10 Wisconsin Alumni Res Found Compensation for patient thickness variations in differential x-ray transmission imaging
US4598415A (en) 1982-09-07 1986-07-01 Imaging Sciences Associates Limited Partnership Method and apparatus for producing X-rays
US4843619A (en) 1988-04-22 1989-06-27 Keithley Instruments Inc. Apparatus for measuring the peak voltage applied to a radiation source
US5040200A (en) 1989-05-08 1991-08-13 Scientific Innovations, Inc. Gamma-gamma resonance in activation analysis, and particularly, its application to detection of nitrogen based explosives in luggage
US5323004A (en) 1989-05-08 1994-06-21 Scientific Innovations, Inc. Nuclear resonances in activation analysis, and particularly, its application to detection of nitrogen based explosives in luggage
WO1992003722A1 (en) 1990-08-15 1992-03-05 Massachusetts Institute Of Technology Detection of explosives and other materials using resonance fluorescence, resonance absorption, and other electromagnetic processes with bremsstrahlung radiation
US5115459A (en) 1990-08-15 1992-05-19 Massachusetts Institute Of Technology Explosives detection using resonance fluorescence of bremsstrahlung radiation
US5247562A (en) 1992-07-16 1993-09-21 The Massachusetts Institute Of Technology Tunable source of monochromatic, highly-directional x-rays and a method for producing such radiation
JPH06205767A (ja) 1992-11-25 1994-07-26 Xerox Corp 放射線画像形成システム
US5353291A (en) 1993-02-19 1994-10-04 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Laser synchrotron source (LSS)
US6052433A (en) * 1995-12-29 2000-04-18 Advanced Optical Technologies, Inc. Apparatus and method for dual-energy x-ray imaging
US6236050B1 (en) 1996-02-02 2001-05-22 TüMER TüMAY O. Method and apparatus for radiation detection
US5847863A (en) 1996-04-25 1998-12-08 Imra America, Inc. Hybrid short-pulse amplifiers with phase-mismatch compensated pulse stretchers and compressors
US5825847A (en) 1997-08-13 1998-10-20 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Compton backscattered collimated x-ray source
US6442233B1 (en) 1998-06-18 2002-08-27 American Science And Engineering, Inc. Coherent x-ray scatter inspection system with sidescatter and energy-resolved detection
US6687333B2 (en) 1999-01-25 2004-02-03 Vanderbilt University System and method for producing pulsed monochromatic X-rays
US6684010B1 (en) 2000-03-03 2004-01-27 Digital Optics Corp. Wavelength compensated optical wavelength division coupler and associated methods
US6661818B1 (en) 2000-04-05 2003-12-09 Digital Optics Corporation Etalon, a wavelength monitor/locker using the etalon and associated methods
US6501825B2 (en) * 2001-01-19 2002-12-31 Keymaster Technologies, Inc. Methods for identification and verification
US7098470B2 (en) 2001-12-04 2006-08-29 Landauer, Inc. Method for non-destructive measuring of radiation dose
US7356115B2 (en) 2002-12-04 2008-04-08 Varian Medical Systems Technology, Inc. Radiation scanning units including a movable platform
US7064899B2 (en) 2002-08-30 2006-06-20 Digital Optics Corp. Reduced loss diffractive structure
JP4019029B2 (ja) * 2002-09-03 2007-12-05 株式会社リガク 平行x線ビームの取り出し方法及び装置並びにx線回折装置
US7330301B2 (en) 2003-05-14 2008-02-12 Imra America, Inc. Inexpensive variable rep-rate source for high-energy, ultrafast lasers
CA2589047C (en) 2003-11-24 2014-02-11 Passport Systems, Inc. Adaptive scanning of materials using nuclear resonance fluorescence imaging
US20050179911A1 (en) 2004-02-17 2005-08-18 Digital Optics Corporation Aspheric diffractive reference for interferometric lens metrology
US7804864B2 (en) 2004-03-31 2010-09-28 Imra America, Inc. High power short pulse fiber laser
US7277526B2 (en) 2004-04-09 2007-10-02 Lyncean Technologies, Inc. Apparatus, system, and method for high flux, compact compton x-ray source
US7486769B2 (en) 2004-06-03 2009-02-03 Brondo Jr Joseph H Advanced multi-resonant, multi-mode gamma beam detection and imaging system for explosives, special nuclear material (SNM), high-z materials, and other contraband
JP4649607B2 (ja) * 2004-11-25 2011-03-16 学校法人日本大学 小型可変エネルギー単色コヒーレントマルチx線発生装置
EP2685243B1 (en) 2005-02-22 2016-06-08 Passport Systems, Inc. Use of nearly monochromatic and tunable photon sources with nuclear resonance fluorescence in non-intrusive inspection of containers for material detection and imaging
WO2006104956A2 (en) 2005-03-25 2006-10-05 Massachusetts Institute Of Technology Compact, high-flux, short-pulse x-ray source
JP4639928B2 (ja) 2005-04-26 2011-02-23 三菱電機株式会社 電磁波発生装置
US8934608B2 (en) 2005-09-26 2015-01-13 Lawrence Livermore National Security, Llc High flux, narrow bandwidth compton light sources via extended laser-electron interactions
US8369480B2 (en) 2005-09-26 2013-02-05 Lawrence Livermore National Security, Llc Dual isotope notch observer for isotope identification, assay and imaging with mono-energetic gamma-ray sources
WO2007038527A1 (en) 2005-09-26 2007-04-05 Lawrence Livermore National Security, Llc Isotopic imaging via nuclear resonance fluorescene with laser-based thomson radiation
JP4774544B2 (ja) * 2006-01-30 2011-09-14 学校法人日本大学 パラメトリックx線を利用したアンギオグラフィーシステム
FR2896910A1 (fr) 2006-01-31 2007-08-03 Quantic Comm Sarl E Procede pour generer des faisceaux intriques d'electrons, de rayons infrarouges, visibles, ultraviolets, x et gamma.
US7477667B2 (en) 2006-02-02 2009-01-13 Polar Onyx, Inc. Practical approach for one mJ femtosecond fiber laser
JP4822267B2 (ja) * 2006-04-04 2011-11-24 独立行政法人産業技術総合研究所 二帯域短パルス高輝度光源装置
US7561666B2 (en) * 2006-08-15 2009-07-14 Martin Annis Personnel x-ray inspection system
RU2466678C2 (ru) * 2006-12-04 2012-11-20 Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. Компьютерная томографическая (ст) система визуализации
US20090052621A1 (en) * 2007-08-23 2009-02-26 Deborah Joy Walter Method and apparatus for basis material decomposition with k-edge materials
JP5339325B2 (ja) * 2007-11-30 2013-11-13 独立行政法人産業技術総合研究所 X線発生装置及びx線発生方法
US7742566B2 (en) * 2007-12-07 2010-06-22 General Electric Company Multi-energy imaging system and method using optic devices
US8023618B2 (en) 2007-12-12 2011-09-20 Passport Systems, Inc. Methods and apparatus for the identification of molecular and crystalline materials by the doppler broadening of nuclear states bound in molecules, crystals and mixtures using nuclear resonance fluorescence
WO2009086503A1 (en) 2007-12-27 2009-07-09 Passport Systems, Inc. Methods and systems for computer tomography of nuclear isotopes using nuclear resonance fluorescence
GB0802562D0 (en) 2008-02-12 2008-03-19 Fianium Ltd A source of femtosecond laser pulses
KR101044698B1 (ko) 2009-12-01 2011-06-28 한국기초과학지원연구원 전자 맴돌이 공명 이온원 장치를 이용한 엑스선 발생 장치 및 방법
JP2012018136A (ja) * 2010-07-09 2012-01-26 Japan Atomic Energy Agency 元素分析装置、元素分析方法
JP2012075798A (ja) * 2010-10-05 2012-04-19 Fujifilm Corp 放射線撮影装置、放射線撮影システム、画像処理装置及びプログラム
JP5737749B2 (ja) 2011-02-21 2015-06-17 国立大学法人京都大学 光子ビーム走査装置及び光子ビーム走査方法
JP5833325B2 (ja) 2011-03-23 2015-12-16 スタンレー電気株式会社 深紫外光源
US8787529B2 (en) 2011-05-11 2014-07-22 Massachusetts Institute Of Technology Compact coherent current and radiation source
JP5624253B2 (ja) 2011-07-29 2014-11-12 ザ・ジョンズ・ホプキンス・ユニバーシティ 微分位相コントラストx線イメージングシステム及びそのためのコンポーネント
US9361730B2 (en) 2012-07-26 2016-06-07 Qualcomm Incorporated Interactions of tangible and augmented reality objects
US9706631B2 (en) * 2013-05-10 2017-07-11 Lawrence Livermore National Security, Llc Modulated method for efficient, narrow-bandwidth, laser Compton X-ray and gamma-ray sources

Also Published As

Publication number Publication date
EP3139837A1 (en) 2017-03-15
ES2815376T3 (es) 2021-03-29
US20170241920A1 (en) 2017-08-24
CN106488743A (zh) 2017-03-08
NZ741924A (en) 2019-04-26
AU2015255868A1 (en) 2016-12-22
DK3139837T3 (da) 2020-09-28
WO2015171923A1 (en) 2015-11-12
NZ727182A (en) 2018-05-25
CA2951639A1 (en) 2015-11-12
AU2015255868B2 (en) 2020-03-19
EP3139837A4 (en) 2018-02-07
ZA201608420B (en) 2017-07-26
KR20170002592A (ko) 2017-01-06
CA2951639C (en) 2021-01-26
CN106488743B (zh) 2019-09-20
EP3139837B1 (en) 2020-07-08
JP2017514632A (ja) 2017-06-08
US10508998B2 (en) 2019-12-17
KR102177991B1 (ko) 2020-11-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6538721B2 (ja) レーザー・コンプトンx線源を用いた二色放射線撮影の方法
EP3663749A1 (en) X-ray imaging system and method of x-ray imaging
CN106687042B (zh) 用于生成对象的x射线投影的系统和方法
US8520800B2 (en) Method and apparatus for radiation resistant imaging
US9599577B2 (en) X-ray imaging with pixelated detector
EP2442315A2 (en) Hybrid collimator for X-rays and method of making same
US6940942B2 (en) Scanning-based detection of ionizing radiation for tomosynthesis
JP2009530018A (ja) 電離放射線の二重線源走査式検出
US7099436B2 (en) Coherent scatter imaging
US10085702B2 (en) X-ray micro imaging
JP4732341B2 (ja) トモシンセシス用電離放射線の走査ベース検出装置及びその方法
JP4874232B2 (ja) 撮像データを取得するための構造及び方法
EP3871014B1 (en) Pulsed x-ray imaging
JP2007512081A (ja) 検査方法および装置
Yanoff et al. Quantum x-ray imaging for medical and industrial applications
Gregory Objective Characterization of In-line Phase Contrast X-ray Imaging Prototype Using a Mid-energy Beam
EP3469988A1 (en) Apparatus and methods for imaging an object by cone beam tomography
KR20220046933A (ko) 컴프턴 효과를 활용한 방사선 민감도 증진 방법 및 방사선 민감도 증진 시스템
Zhang et al. SNR Analysis of Polychromatic Fan-Beam XFCT System Using a CZT Detector Array
JP2009018024A (ja) 放射線ct装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180413

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20181018

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20181106

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190206

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190521

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190606

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6538721

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250