JP6521720B2 - プロセス制御のためのリアルタイム厚さ測定と共にテラヘルツ放射を用いる密度の動的測定 - Google Patents

プロセス制御のためのリアルタイム厚さ測定と共にテラヘルツ放射を用いる密度の動的測定 Download PDF

Info

Publication number
JP6521720B2
JP6521720B2 JP2015092207A JP2015092207A JP6521720B2 JP 6521720 B2 JP6521720 B2 JP 6521720B2 JP 2015092207 A JP2015092207 A JP 2015092207A JP 2015092207 A JP2015092207 A JP 2015092207A JP 6521720 B2 JP6521720 B2 JP 6521720B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ribbon
terahertz
thickness
refractive index
compacted
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2015092207A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2015215347A (ja
Inventor
キング エドワード
キング エドワード
ヒープス ディビッド
ヒープス ディビッド
サリバン マーク
サリバン マーク
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Publication of JP2015215347A publication Critical patent/JP2015215347A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6521720B2 publication Critical patent/JP6521720B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3581Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using far infrared light; using Terahertz radiation
    • G01N21/3586Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using far infrared light; using Terahertz radiation by Terahertz time domain spectroscopy [THz-TDS]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/06Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
    • G01B11/0691Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of objects while moving
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3563Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing solids; Preparation of samples therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/85Investigating moving fluids or granular solids
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8901Optical details; Scanning details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8914Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the material examined
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3563Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing solids; Preparation of samples therefor
    • G01N2021/3572Preparation of samples, e.g. salt matrices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3581Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using far infrared light; using Terahertz radiation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/9508Capsules; Tablets
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06Illumination; Optics
    • G01N2201/061Sources
    • G01N2201/06113Coherent sources; lasers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N9/00Investigating density or specific gravity of materials; Analysing materials by determining density or specific gravity
    • G01N9/24Investigating density or specific gravity of materials; Analysing materials by determining density or specific gravity by observing the transmission of wave or particle radiation through the material

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

本発明による実施態様は、広くは自動試験装置に係り、更に詳細には自動試験装置におけるテラヘルツ(THz)分光法を用いた測定の実行に関する。
自動試験装置(ATE)は、試験対象のデバイス又は材料に対して試験を行う何らかの試験アセンブリに関係するものである。ATEアセンブリは、測定を迅速に実行すると共に、次いで分析することができる試験結果を発生する自動化された試験を実行するために使用することができる。ATEアセンブリは、計測器に結合されたコンピュータシステムから、特注の専用コンピュータ制御システム並びに電子部品を自動的に試験し及び/又は測定を実行することができる多くの異なる試験装置を含むことができる複雑な自動試験アセンブリまでの如何なるものとすることもできる。ATEシステムは、当該デバイス又は材料が設計された通りに機能することを保証すべくデバイスを試験するために消費される時間の量を低減すると共に、当該デバイス又は材料が顧客に届く前に何らかの問題又は混乱の存在を決定するための診断ツールとしても働く。
例えば、ATEは、製薬工業において乾燥造粒工程(dry granulation process)が成功したことを確かめるために使用することができる。乾燥造粒法は、液体を加えないで混合製品を製造する製薬調剤工程である。水分無しで顆粒を形成することは、粉体を圧縮成形する(compact:締め固める)ことを要する。乾燥造粒は、均一な粉体混合物の粒子が圧力下で互いに付着させられ、次いで結果的な圧縮成形体(compact)が、所望の流動特性を持つ大きな粒子に粉砕される工程である。粉体混合物が該粉体に力を付与することにより圧縮成形される場合、相当の寸法の拡大が生じる。結果としての圧縮成形体はリボンと称される。
上記顆粒における材料の接着は、処理の間において成分が分離する傾向を低下させ、最終剤形における含量均一性が得られる。
乾燥造粒法を用いて圧縮成形体を得る従来の2つの方法は、スラッギング(slugging)及びローラー圧縮成形(roller compaction)である。スラッギングは、典型的に、圧縮成形工程のためにタブレットプレス機を用いることを含む。大きな錠剤は耐久型タブレットプレス機で製造される。しかしながら、この方法は非効率的であるので、殆ど使用されない。例えば、粉体は製品を均一に供給するための十分な自然流動性を有さないので、最終製品に種々の度合の密度が生じる。
薬剤用の圧縮成形を実行するための好ましい方法はローラー圧縮成形である。ローラー圧縮成形法は、粉体を2つのローラーの間で圧搾して、材料のシート又はリボンを生成するステップを有する。当該ローラーに運ばれる粉体の量に依存する所与の力において、該粉体は所定のリボン厚に圧縮成形される。
図1は従来のローラー圧縮成形機(又は、チルソネータ)の一例を示す。ローラー圧縮成形機は、典型的に、3つの主要な部分、即ち、a)攪拌機を備える投入漏斗120、投入漏斗124、供給オーガ121及び詰めオーガ122を有する粉体供給機;b)粉体が互いに逆回転するプレスローラー125の間でリボンに圧縮成形される圧縮成形ユニット;並びにc)上記リボンが所望の粒径に粉砕されるロータ126を有する粉砕ユニット(size reduction unit)を有している。該ローラー圧縮成形機は、プレスローラー125の間に粉体を均一に連続的に供給するオーガ供給システムを使用している。上記リボンは、次いで、タブレットプレス機に供給することができる流動性粉体を形成するために顆粒に粉砕される。このように、当該粉体はローラー125の間でリボンへと圧縮成形され、低剪断粉砕機を介して粉砕される。
従来、2つのタイプのローラー圧縮成形機、即ち、固定ギャップローラー圧縮成形機及び可変ギャップローラー圧縮成形機、が存在する。両者は上述した3つの主要な部分からなっているが、ローラーの間の最小距離又はギャップが実現される方法で相違する。固定ギャップローラー圧縮成形機において、圧縮力は当該ローラーに入る粉体の量に従って変化する。対照的に、可変ギャップローラー圧縮成形機においては、ローラーの間の距離は、一定の力を生じさせるために、圧縮成形領域に送り込まれる粉体の量に従って変化する。固定ギャップローラー圧縮成形機は一定の厚さであるが変化する密度のリボンを生じる一方、可変ギャップローラー圧縮成形機は一定の密度であるが変化する厚さのリボンを生じる。
リボン密度の変化は、典型的に、顆粒特性に大きな変動を生じさせる。リボンの形成に際しては、リボンの混合物は当該調合薬の成分構成を表すので、リボンの均一性及び密度を決定するための努力がなされる。伝統的に、リボンの密度は微小押込硬度試験法を用いて測定されている。微小押込硬度試験法は、典型的に、当該リボンの異なる領域上の指定された位置に一定圧力の窪みを形成するステップを含む。次いで、該窪みの深さが顕微鏡を用いて測定される。このステップは、リボンを物理的に切断し、該リボンを押込装置により凹ませ、最後に顕微鏡で窪みを測定することを要する手動測定である。
微小押込硬度試験法は、低速で、且つ、侵襲的であり、従ってオンライン試験には適さないので理想的なものではない。このように微小押込硬度試験法はオンライン方法ではないので、リボンの密度を検証するための試験と分析との間の期間が長くなる。このことは、問題が当該工程の遙か内部で検出された場合、大幅な遅延と大量の無駄な製品とにつながり得る。
マイクロX線コンピュータトモグラフィは、リボンの局部密度を測定するために使用される良く知られた空間局部撮像技術である。しかしながら、微小押込硬度試験法と同様に、マイクロX線トモグラフィはリアルタイムなオンライン用途には余り適していない。
従って、上述したシステムの問題に対処することができる試験器システム及び/又は方法に対する要求が存在する。必要とされるものは、ローラー圧縮成形工程により生成されるリボンの密度を測定するための高速で、非侵襲性で、且つ、一層効率的なメカニズムである。更に、必要とされるものは、リボンの密度を該リボンがプレスローラーの間から送り出される際にリアルタイムで測定することができるように、当該試験をオンライン/アットラインで実施する方法及び装置である。
記載されるシステムの有益な態様を、これら態様の対応する制限なしで用いれば、本発明の実施態様は、乾燥造粒工程の間にローラー圧縮成形機により生成されるリボンの密度に関する試験に固有の難題に対する新規な解決策を提供する。
一実施態様においては、プレスローラーから送り出された後のリボンの1以上の点における当該圧縮成形体の屈折率を測定するためにテラヘルツ時間ドメイン分光法(THz-TDS)が使用される。一実施態様において、テラヘルツ(THz)放出器及び検出器を当該リボンの両側に配置して、該リボンがプレスローラーの間から送り出される際に透過モードで測定値を得ることができる。
屈折率の変化は、密度の変化に直接関係付けることができる(又は、直接比例し得る)。従って、一実施態様において、前記圧縮成形体の密度を、当該サンプルの厚さを測定することができることを条件に決定することができる。この実施態様において、本発明はリボンの厚さのオンライ測定を行うレーザマイクロメータを含む。該レーザマイクロメータは、当該リボンの両側に前記THz放出器及び検出器に隣接して取り付けることができる。レーザマイクロメータを組み込むことにより、リボンがテラヘルツ光路を経て移動する際に、該リボンの厚さの微視的変化を検出することができる。従って、レーザマイクロメータからの厚さ測定値は前記テラヘルツ分光から得られる測定値と併せて、当該リボン材料の屈折率を計算するために使用することができ、該屈折率は校正方程式を用いて当該製薬圧縮成形体の密度を決定するために用いることができる。
一実施態様においては、ローラー圧縮成形されたリボンの密度を決定する方法が提供される。該方法は、乾燥した薬剤粉体(粉末)をローラー圧縮成形機のプレスローラー間で締め固めて、圧縮成形体リボンを生成するステップを有する。該方法は、上記圧縮成形体リボンがプレスローラーの間から送り出された後に該リボンの或る点における厚さを非侵襲的に決定するステップも有する。更に、該方法は、上記圧縮成形体リボンを前記テラヘルツ放出器とテラヘルツ検出器との間のギャップを通過させるステップを有する。次に、該方法は、上記圧縮成形体リボンの上記点における屈折率を上記テラヘルツ放出器及びテラヘルツ検出器からの測定値並びに該点における厚さの測定値を用いて決定するステップを有する。最後に、該方法は、上記点における当該圧縮成形体リボンの密度を上記屈折率の値を用いて計算するステップを有する。
他の実施態様においては、ローラー圧縮成形されたリボンの密度を決定する装置が提供される。該装置は、乾燥薬剤粉体をプレスローラーの間で圧縮成形して圧縮成形体リボンを生成するように動作するローラー圧縮成形機を有する。該装置は、上記圧縮成形体リボンがプレスローラーの間から送り出された後に該リボンの或る点における厚さを非侵襲的に決定するよう動作する少なくとも1つのレーザマイクロメータも有する。更に、該装置は、当該圧縮成形体リボンの上記点を経てテラヘルツ放射パルスを放出するように動作するテラヘルツ放出器を有する。次に、該装置は、上記テラヘルツ放射パルスを検出するように動作するテラヘルツ検出器を有する。また、該装置は、メモリと、(a)上記圧縮成形体リボンの上記点における屈折率を上記テラヘルツ放出器及びテラヘルツ検出器からの測定値並びに厚さの測定値を用いて決定すると共に;(b)上記点における当該圧縮成形体リボンの密度を上記屈折率の値を用いて計算するように構成されたプロセッサとを有する。
別の実施態様においては、試験器システムが開示される。該試験器システムは、乾燥薬剤粉体をプレスローラーの間で圧縮成形して圧縮成形体リボンを生成するよう動作するローラー圧縮成形機を有する。該システムは、上記圧縮成形体リボンが上記プレスローラーの間から送り出された後に該リボンの複数の点における厚さを非侵襲的に決定するよう動作する複数のレーザマイクロメータ対も有し、上記複数のレーザマイクロメータ対は第2軸方向のリボンの流れに沿って専用のトラックを走査するために第1軸方向に互いに隣接して配置され、これらレーザマイクロメータの各対は当該圧縮成形体リボンの上記複数の点のうちの単一の点における厚さを決定するように動作する。また、該システムは複数のテラヘルツ放出器を有し、各テラヘルツ放出器は当該圧縮成形体リボンの上記複数の点のうちの対応する点を経てテラヘルツ放射パルスを放出するように動作する。更に、該システムは複数のテラヘルツ検出器を有し、各テラヘルツ検出器は当該圧縮成形体リボンの上記複数の点のうちの対応する点を通過する上記テラヘルツ放射パルスを検出するように動作する。最後に、該システムは、メモリと、(a)当該圧縮成形体リボンの上記複数の点の各々における屈折率を上記テラヘルツ放出器及びテラヘルツ検出器からの対応する測定値並びに厚さに関する対応する測定値を用いて決定すると共に;(b)上記複数の点の各々における当該圧縮成形体リボンの密度を上記屈折率の対応する値を用いて計算するように構成されたプロセッサとを有する。
後述する詳細な説明及び添付図面は、本発明の性質及び利点に関する、より良い理解を提供するであろう。
尚、本発明の実施態様は添付図面の各図に、限定するものとしてではなく例示として示されており、これら図において同様の符号は同様の構成要素を示している。また、各図において、同一の符号を有する構成要素は同一又は同様の機能を有する。
図1は、従来のローラー圧縮成形機の一例を示す。 図2は、本発明の一実施態様による乾燥造粒リボン密度を決定するためにテラヘルツ分光法を用いる例示的装置の概要図である。 図3は、サンプルリボンの屈折率を決定することができる方法を示す。 図4は、本発明の一実施態様による、測定された屈折率を用いてリボン密度を決定することができる方法を示す。 図5は、本発明の一実施態様による図2に図示された装置の斜視図である。 図6は、本発明の一実施態様によるテラヘルツ周波数に対する標準的基準HDPEと比較した標準的リボンサンプルの測定された屈折率のグラフを示す。 図7は、標準的リボンサンプルに対して実施された試験の結果を表示するために使用される屈折率等高線図を示す。 図8は、本発明の一実施態様による乾燥造粒ローラー圧縮成形体リボンの密度を決定する例示的方法のフローチャートを示す。
以下、本開示の種々の実施態様を詳細に説明するが、これら実施態様の例は添付図面に図示されている。これら実施態様に関連して説明がなされるが、これは、これら実施態様に当該開示を限定しようとするものではないと理解される。逆に、当該開示は、添付請求項に記載される該開示の趣旨及び範囲内に含まれ得る代替例、変形例及び均等物もカバーすることを意図している。更に、本開示の以下の詳細な説明においては、本開示の完全な理解を提供するために多数の固有な細部が記載されている。しかしながら、これらの固有の細部なしでも本発明を実施することができることが理解されよう。他の事例では、本開示の態様を不必要に不明瞭にすることがないように、良く知られた方法、手順、構成要素及び回路は詳細には記載されていない。
以下の詳細な説明のうちの幾つかの部分は、手順、論理ブロック、処理、及びコンピュータメモリ内のデータビットに対する演算の他の記号的表現に関して提示される。これらの記述及び表現は、作業の要旨を他の当業者に最も効果的に伝達するためにデータ処理分野における当業者により使用される手段である。本出願において、手順、論理ブロック又は処理等は、所望の結果につながるステップ又は命令の自己矛盾のないシーケンスであると考えられる。上記ステップは、物理量の物理的操作を利用するステップである。必ずしもということではないが、通常、これらの量は、コンピュータシステムにおいて記憶し、伝送し、結合し、比較し、及びそれ以外で操作することができる電気又は磁気信号の形態をとる。時には、主に慣例という理由で、これらの信号を処理(トランザクション)、ビット、値、エレメント、シンボル、文字、サンプル又はピクセル等として参照することが便利であることが分かっている。
しかしながら、これら及び同様の用語の全ては適切な物理量に関連付けられるべきであり、これらの量に適用される便利なラベルに過ぎないことを心に留めるべきである。特にそうでないと言及しない限り、下記の説明から明らかなように、本開示を通して、 “決定する”、“構成する(configuring)”、“計算する”、“圧縮成形する(compacting)”、“通過させる”(例えば、図8のフローチャート800)等の用語を使用する説明は、コンピュータシステム又は同様の電子計算デバイス若しくはプロセッサのものであることが分かる。該コンピュータシステム又は同様の電子計算装置は、物理(電子)量として表されたデータを、コンピュータシステムメモリ、レジスタ又は他の斯様な情報記憶、伝送若しくは表示装置内で操作し及び変換する。
プロセス制御のためのリアルタイム厚さ測定と共にテラヘルツ放射を用いる密度の動的測定。
製薬材料の粉体特性は、固形投薬形態(剤形)の製造可能性及び性能を決定する際に重要な役割を果たす。乾燥造粒法により製造される製品の場合、結果としての顆粒の特性は、粉砕(milling)及び製錠(tabletting)等の下流側の処理に対して、並びに製品性能に対して直接的影響を有し得る。乾燥造粒法は、前述したように、ローラー圧縮成形工程を用いて達成することができる。ローラー圧縮成形工程から生成された出力リボンの密度は、典型的に重要な品質属性であり、粉砕顆粒の粒径、混合物の流動性及び製錠可能性に影響し得る。従って、リボン密度を測定すると共に、リボン密度が最適であることを確かなものとすることは、薬剤製品開発過程の重要な要素の1つである。
本発明の実施態様は、乾燥造粒工程の間にローラー圧縮成形機により生成されるリボンの密度を測定するための高速で、非侵襲的で且つ効率的なメカニズムを提供する。更に、本発明の実施態様は、上記リボンの密度を該リボンがプレスローラーの間から送り出される際にリアルタイムに測定することができるように、試験をオンライン/アットラインで実施する方法及び装置を提供する。
一実施態様においては、上記リボンの乾燥造粒圧縮成形体の屈折率を該リボンが前記プレスローラーにより送り出された後に該リボン上の1以上の点において測定するために、テラヘルツ時間ドメイン分光法(THz-TDS)が使用される。後に詳細に説明するように、一実施態様において、テラヘルツ(THz)放出器及び検出器は、上記リボンが上記プレスローラーの間から送り出される際に測定値を得るために該リボンの両側に配置することができる。
屈折率の変化は、密度の変化に直接関係付けることができる。上記圧縮成形体の密度は、サンプル厚を測定することができるならば、決定することができる。一実施態様において、本発明は上記リボンの厚さをオンライ測定するレーザマイクロメータを含む。該レーザマイクロメータは、リボンの両側に前記テラヘルツ放出器及び検出器に隣接して(又は、極近傍に)取り付けることができる。レーザマイクロメータを組み込むことにより、上記リボンがテラヘルツ光路を経て移動する際に、該リボンの厚さの微視的変化を検出することができる。該レーザマイクロメータからの厚さ測定値は、上記テラヘルツ分光法から得られる測定値と併せて、当該リボン材料の屈折率を計算するために使用することができ、該屈折率は校正方程式を用いて当該薬剤圧縮形成体の密度を決定するために使用することができる。
従って、本発明の実施態様は、有利には、リボンの密度がサンプル又は測定値を手動で得るためにローラー圧縮成形機を停止させることを要せずに非侵襲的且つ効率的にリアルタイムで決定されることを可能にする。
図2は、本発明の一実施態様によるテラヘルツ分光法を用いて乾燥造粒リボンの密度を決定する例示的装置の概要図である。
テラヘルツ時間ドメイン分光法は、物質の特性がテラヘルツ放射の短いパルスにより調査される分光技術である。該発生及び検出方式は、テラヘルツ放射の振幅及び位相の両方に対するサンプル物質の影響に対して敏感である。典型的に、上記テラヘルツパルスは超短パルスレーザにより発生され、数ピコ秒だけ持続する。単一のパルスは、0.05〜4THzのテラヘルツ範囲をカバーする周波数成分を含み得る。斯かるテラヘルツ放射パルスの極めて短い幅は、調べるのが困難な物質に対する測定(例えば、厚み測定)を可能にする。更に、テラヘルツ測定は非接触的である。
パルス化テラヘルツ技術は、固形圧縮成形体の実効屈折率を測定する能力を有する。テラヘルツ技術は、非破壊的であり、屈折率の小さな変化に対しても高感度である。前述したように、リボンの屈折率の変化は、当該サンプルの厚さが分かるならば、該リボンの密度の変化に直接関係付けることができる。言い換えると、乾燥造粒リボンのサンプル厚を測定することができるなら、リボン材料の実効屈折率を計算することができる。次いで、リボン密度を、該屈折率を用いて校正方程式から計算することができる。
従って、テラヘルツ測定がオンライン/アットライン設定において乾燥造粒ビームの密度を有効に決定するためには、当該テラヘルツ測定を行う自動試験装置は当該材料の厚さも正確に決定する必要がある。
ここで図2を参照すると、本発明の実施態様はリボン上の所与の点又は複数の点に関する屈折率及び厚さを並行して測定する方法を提供する。測定値は、次いで、該リボンの密度を決定するために使用することができる。図2に図示された例示的装置に示されるように、移動する薬剤リボンの流れ230はテラヘルツ放出器220及び検出器240の対の間のギャップを通過する。一実施態様において、該リボンは典型的に例えば25〜50mm幅及び約1〜2mm厚である。上記放出器により放出されると共に上記検出器により検出されるテラヘルツパルスは、当該テラヘルツビームが収束される点(又はピクセル)において該リボンの密度を決定するために使用することができる。一実施態様において、該リボン上に収束されるテラヘルツビームの寸法は、例えば1〜6mmであり得る。
図3は、サンプルリボンの屈折率を決定することができる方法を図示している。当業者であれば、測定される点におけるリボンの屈折率は、該リボンの材料を介しての飛行時間と比較した、放出テラヘルツパルスの空気中での飛行時間を評価することにより得ることができることが分かるであろう。上記2つの持続時間の比(空気中のテラヘルツパルスの速度/サンプルを介してのテラヘルツパルスの速度)を、屈折率を決定するために使用することができ、該屈折率は該リボンの材料の密度に依存して異なるであろう。所与の厚さに対して、当該リボンの媒体が密であるほど、前記放射パルスが該媒体を通過するのに長く掛かり、結果として一層高い屈折率の値となる。一実施態様においては、例えば0.8THzにおける屈折率が広帯域応答から選択される。0.8THzにおいては、高い信号対雑音比が最小限のエタロン干渉で得られる。
一実施態様において、屈折率は(Δt*c)/d+1なる式を用いて計算することができ、ここで、Δt(320)は厚さdのサンプル媒体を通過するテラヘルツパルスに対する乾燥空気中で同じ距離を通過するテラヘルツパルスの飛行時間の差であり、cは光の速度であり、d(321)は当該リボン材料の厚さである。この式は屈折率を計算する1つの例示的方法に過ぎないことに注意すべきである。本発明の他の実施態様は、リボン材料の屈折率を計算する別の方法に良く適するものである。別の実施態様は、例えば、上記式に他の変数を追加することができるか、又は当該測定の精度を向上させるために別の手順をソフトウェアで実行することができる。
図2に戻ると、一実施態様において、当該装置は、テラヘルツ測定がなされたのと同一の点における当該リボンの厚さ(d 321)を、前記テラヘルツ放出器220及び検出器240に隣接して(又は、これらの近傍に)取り付けられた2つのレーザマイクロメータ250から同時の測定値を取り込むことにより測定することもできる。各テラヘルツ装置と共にレーザマイクロメータを組み込むことにより、当該リボンの厚さの微視的変化を、該リボンが該テラヘルツ光路を経て移動する際に非侵襲的に検出することができる。この構成はローラー圧縮成形体リボンの密度を決定する従来の方法(リボンの厚さをリニアキャリパ(ノギス)又はマイクロメータを用いて手動的にオフラインで測定することを要する)に対して大きな利点をもたらす。
一実施態様において、図2に示される装置は、ローラー圧縮成形機にプレスローラーとロータとの間において追加することができる。従って、密度を決定するための測定値はローラー圧縮成形工程と粉砕工程との間で得られる。
本発明の一実施態様において、図2に示された構成は、リボンの動的厚さをテラヘルツ測定に対して連続的に決定するために使用することができる。例えば、リボンの速度は、該リボンがプレスローラーから送り出される際に決定することができる(モニタリング又はその他により)。当該リボンがy方向に平行移動(又はオフセット)された後にテラヘルツ測定値が厚さの読み込みと同じ位置で取り込まれることを保証するために、当該ATEに時間遅延(又はオフセット)をプログラムとして組み込むことができる。この場合、リボンの厚さのデータは、測定される点における当該リボンの実効屈折率の計算に供給することができる。更に後述されるように、リボンの密度は、続いて、上記屈折率を有する校正方程式を用いて上記測定点に関して計算され、その結果は記録されると共にユーザに対して表示され、又は代わりに制御システムにフィードバックされてローラー圧縮成形条件を調整する。
図2の装置は自動試験装置(ATE)内に組み込まれ、該ATEは本開示の実施態様を実施することができる計算システムを有することに注意すべきである。該計算システムは、例えば、コンピュータ読取可能な命令を実行することができる如何なるシングル若しくはマルチプロセッサの計算装置又はシステムとすることもできる。計算システムの例は、限定するものではないが、ワークステーション、ラップトップ、クライアント側端末、サーバ、分散計算システム、手持ち装置又は何らかの他の計算システム若しくは装置を含む。最も基本的な構成において、該計算システムは少なくとも1つのプロセッサ及びシステムメモリを含むことができる。該計算システムは、例えばマウス、ディスプレイ及びキーボード等の他の接続された周辺機器も有することができる。
図4は、本発明の一実施態様による、測定された屈折率を用いてリボン密度を決定することができる方法を示す。適切な範囲の密度に跨がる一連のサンプルに対して屈折率測定がなされた後、これらの点に関するリボン密度対屈折率のグラフを得ることができる(密度を決定するための所定の方程式又は手動測定の何れかを用いることにより)。斯様にプロットされた種々の点を結ぶ最良適合線が描かれ、該最良適合線から校正方程式(例えば、図4における式420)が決定される。次いで、同じ材料に関して測定及び計算された他の屈折率に対し、該校正方程式(又はグラフ)を用いて、当該リボンの密度を正確に予測することができる。その後、当該リボン圧縮成形体に関する密度のx−y空間分布を決定することができる。
一実施態様において、前記テラヘルツビームに対して一層大きなスポット寸法を用いることができる。この実施態様において、当該試験器は当該スポット内の幾つかの点において複数の厚さ測定値を取り込むように構成することができる。その後、当該スポット内の全ピクセルに関する密度を決定し、斯様にして得られた値を平均することにより、スポット全体にわたる平均密度を計算することができる。
図2に戻ると、本発明の一実施態様において、y方向に加えてx方向の測定値も得るために、前記テラヘルツビームを、リボン230を横切って平行移動させることができる。従って、リボンの断面的密度分布を得ることができる。例えば、当該ビームをリボンを横切ってx方向に平行移動させ、これをy方向に移動させる前に特定の数のサンプル点に関する測定値を得ることができる。当該ATEは、前記レーザマイクロメータをリボンを横切ってx方向に移動させ、y方向の適切なオフセット又は遅延の後に対応する各サンプル点において厚さ測定値を得ることができるように構成することもできる。
一実施態様において、前記放出器/検出器の対は、前記ギャップ内の空気だけの走査を得ることができるように、リボンを横切りx方向に該リボンの幅を超えて移動するよう構成することができる。開放状態のビームによる走査を得る動作は、当該装置を再校正するために必然的に周期的とすることができる。また、該開放ビームは、サンプル走査の前記時間差分が測定される基準走査である。別の実施態様においては、デュアルビームを用いて基準を参照する代替方法が採用される。この実施態様において、源のテラヘルツビームは2つの道に分割され、一方の経路は当該サンプルを通過するが、他方の経路は該サンプルを迂回し空気を介して伝わる。このように、サンプルは基準参照のために決して変位される必要はなく、各走査と並行して新たな基準が得られ、事実上、ドリフトの影響を除去する。
一実施態様において、前記放出器/検出器対は、前記リボンを横切ってx方向に移動する一方、該リボンも同時にy方向に移動しているように構成することができる。リボンが同時にy方向に移動するので、正味の結果は該リボンにわたるジグザグのサンプリングパターンとなる。
別の実施態様においては、y方向のリボンの流れに沿って専用の“各トラック”を走査するために、複数の放出器/検出器対が、x方向において互いに隣接する固定の配置を有することができる。この実施態様においては、複数のレーザマイクロメータも上記の各放出器/検出器対に隣接して配置され、厚さ測定値が対応する各トラックに沿った点で取得され得るようにする。
図5は、本発明の一実施態様による図2に示した装置の斜視図である。リボン540は、放出器520と検出器525との間を通過すると共に、一対のレーザマイクロメータ530の間も通過する。前述したように、該装置は厚さの読取値がテラヘルツ測定と同一の点において得られるように構成することができる。該厚さ読取値は、次いで、測定された点における屈折率を得るために使用することができる。次いで、該屈折率は当該リボン上の上記測定点における該リボン圧縮成形体の密度を決定するために使用される。
図6は、本発明の一実施態様による、テラヘルツ周波数に対する標準的基準HDPEと比較して標準的リボンサンプルに関して測定された屈折率のグラフを示す。図6は、標準的リボンサンプルに対する標準的基準HDPEの屈折率測定の精度を示している。
図7は、標準的リボンサンプルに対して実行された試験の結果を表示するために使用される屈折率等高線図を示す。図7の等高線図を得るために、当該リボンは、ビームに対してx(2mmステップ)及びy(4mmステップ)次元的に点毎に移動された。該リボンは手動で移動されたので、各点又はピクセルは4096の走査平均を集めるために30秒走査された。測定値は、測定位置を制御するための位置合わせ装置を用いて10x8mm格子に記録された。
使用されたTHzビームのプロファイルは円形であったが、測定された平均屈折率はピクセル全体に帰属された。この場合、平均リボン厚が全ピクセルの屈折率計算に使用された。このように収集された生のデータは、レンダリングソフトウェアの補助によって図7に示された等高線図を生成するために使用された。
図8は、本発明の一実施態様による乾燥造粒ローラー圧縮成形体リボンの密度を決定する例示的方法のフローチャート800を示す。しかしながら、本発明はフローチャート800により提示される説明に限定されるものではない。むしろ、当業者であれば、本明細書で提示される教示内容から、他の機能的流れも本発明の範囲及び趣旨内であることは明らかであろう。
フローチャート800を、これまでの図に関連して上述した実施態様を参照して説明する(もっとも、当該方法は、これら実施態様に限定されるものではない)。
図8を参照すると、ステップ802において、乾燥薬剤粉体がローラー圧縮成形機のプレスローラーの間で圧縮成形される。前述したように、乾燥造粒法は、均一な粉体混合物の粒子が圧力下で互いに接着させられ、次いで、結果としての圧縮成形体が所望の流動特性を持つ大きな粒子に粉砕される工程である。当該粉体混合物が該粉体に力を付与することにより圧縮成形される場合、結果としての圧縮成形体はリボンと称される。
ステップ804において、当該リボンがローラー圧縮成形機から送り出される際に、1以上の点における厚さが非侵襲的に決定される。一実施態様において、該厚さの非侵襲的測定を行うために1以上のレーザマイクロメータが使用される。
ステップ806において、該リボンは、前述したようにテラヘルツ放出器とテラヘルツ検出器との間のギャップを介して送られる。
ステップ808において、テラヘルツ放射の短いパルスが上記放出器により放出され、ステップ804において厚さ測定値が得られたのと同一の点(又は複数の点)において上記検出器により検出される。当該リボン材料を通過する際の上記パルスの飛行時間が、所与の点に関する当該圧縮成形体リボンの厚さと一緒に使用されて、該点における屈折率を測定する。
ステップ810において、測定された上記1以上の点における当該圧縮成形体リボンの密度が、上記屈折率の値及び校正方程式を用いて決定される。その結果は、次いで、記録されると共に、当該ATE上のディスプレイを用いてユーザに対し表示される。
ここに記載及び/又は図示されたプロセスパラメータ及びステップの順序は、例示としてのみ示されたものである。例えば、ここに図示及び/又は記載されたステップは特定の順番で示され又は説明されているが、これらステップは必ずしも図示又は説明された順番で実行される必要はない。ここに記載及び/又は図示された種々の例示的方法は、ここに記載又は図示されたステップの1以上を省略することもでき、又は開示されたものに加えて追加のステップを含むこともできる。
以上、種々の実施態様を完全に機能する計算システムに関連して記載及び/又は図示したが、これら実施態様の1以上は、実際に分配を行うために使用される特定のタイプのコンピュータ読取可能な媒体に拘わらず、種々の形態のプログラム製品として分配することができる。ここに開示された実施態様は、特定のタスクを実行するソフトウェアモジュールを用いて実施化することもできる。これらのソフトウェアモジュールは、スクリプト、バッチ、又はコンピュータ読取可能な媒体若しくは計算システムに記憶することができる他の実行可能なファイルを含むことができる。
以上の説明は、解説の目的で、特定の実施態様を参照して記載した。しかしながら、上記解説的説明は、網羅的であることを、又は本発明を開示された正確な形態に限定することを意図するものではない。上述した教示内容を考慮すれば多くの修正例及び変形例が可能である。前記実施態様は、本発明の原理及び実用的な適用例を最もうまく説明し、これにより、当業者が本発明及び種々の変更を伴う種々の実施態様を、目論まれる特定の用途に適するように最良に利用することができるように選択及び記載された。
本発明の実施態様は、以上のように説明された。尚、本発明は特定の実施態様において説明されたが、本発明は斯様な実施態様により限定されるものではなく、後述する請求項に従って解釈されるべきであることが理解される。

Claims (20)

  1. ローラー圧縮成形されたリボンの密度を決定する方法であって、
    乾燥薬剤粉体をローラー圧縮成形機のプレスローラーの間で圧縮成形して、圧縮成形体リボンを生成するステップと、
    前記圧縮成形体リボンが前記プレスローラーの間から送り出された後に、該圧縮成形体リボンの或る点における厚さを非侵襲的に決定するステップと、
    前記圧縮成形体リボンを、テラヘルツ放出器とテラヘルツ検出器との間のギャップを通過させるステップと、
    前記圧縮成形体リボンの前記点における屈折率を、前記テラヘルツ放出器及びテラヘルツ検出器からの測定値並びに前記点における前記厚さの測定値を用いて決定するステップと、
    前記圧縮成形体リボンの前記点における密度を、前記屈折率の値を用いて計算するステップと、
    を有する方法。
  2. 前記厚さを決定するステップが、該厚さをレーザマイクロメータを用いて測定するステップを有する請求項1に記載の方法。
  3. 前記厚さを決定するステップが、
    前記圧縮成形体リボンを2つのレーザマイクロメータの間のギャップを通過させるステップと、
    前記厚さを決定するために前記2つのレーザマイクロメータから同時の読取情報を得るステップと、
    を更に有する請求項2に記載の方法。
  4. 前記屈折率を決定するステップが、
    前記圧縮成形体リボンの前記点に関して前記テラヘルツ放出器により放出されると共に前記テラヘルツ検出器により検出された放射パルスの飛行時間を決定するステップと、
    該飛行時間及び前記厚さを用いて前記点における前記屈折率を計算するステップと、
    を有する請求項1に記載の方法。
  5. 前記屈折率を決定するステップが、
    前記テラヘルツ放出器及び前記テラヘルツ検出器をx方向に平行移動させて、前記圧縮成形体リボンの複数の点に関する屈折率の値を取得するステップ、
    を更に有する請求項1に記載の方法。
  6. 前記厚さを決定するステップが、
    1対のレーザマイクロメータを前記圧縮成形体リボンを横切りx方向に平行移動させて、前記複数の点に対応する厚さの値を取得するステップ、
    を更に有する請求項5に記載の方法。
  7. 前記複数の点に関する密度の値を、前記複数の点に対応する各厚さの値及び各屈折率の値を用いて計算するステップ、
    を更に有する請求項6に記載の方法。
  8. ローラー圧縮成形されたリボンの密度を決定する装置であって、
    乾燥薬剤粉体をプレスローラーの間で圧縮成形して、圧縮成形体リボンを生成するローラー圧縮成形機と、
    前記圧縮成形体リボンが前記プレスローラーの間から送り出された後に、該圧縮成形体リボンの或る点における厚さを非侵襲的に決定する少なくとも1つのレーザマイクロメータと、
    前記圧縮成形体リボンの前記点を介してテラヘルツ放射パルスを放出するテラヘルツ放出器と、
    前記テラヘルツ放射パルスを検出するテラヘルツ検出器と、
    メモリと、
    プロセッサと、
    を有し、前記プロセッサが、
    前記圧縮成形体リボンの前記点における屈折率を、前記テラヘルツ放出器及び前記テラヘルツ検出器からの測定値並びに前記厚さの測定値を用いて決定し、
    前記圧縮成形体リボンの前記点における密度を、前記屈折率の値を用いて計算する、
    ように構成される装置。
  9. 前記少なくとも1つのレーザマイクロメータは2つのレーザマイクロメータを有し、各レーザマイクロメータは前記圧縮成形体リボンの各側に配置され、前記厚さの測定値が前記2つのレーザマイクロメータから同時に得られる請求項8に記載の装置。
  10. 前記2つのレーザマイクロメータのうちの第1のものは前記テラヘルツ放出器に隣接して配置され、前記2つのレーザマイクロメータのうちの第2のものは前記テラヘルツ検出器に隣接して配置される請求項9に記載の装置。
  11. 前記テラヘルツ放出器及び前記テラヘルツ検出器からの前記測定値が、前記圧縮成形体リボンの前記点に関して前記テラヘルツ放出器により放出されると共に前記テラヘルツ検出器により検出された放射パルスの飛行時間を有する請求項8に記載の装置。
  12. 前記テラヘルツ放出器及び前記テラヘルツ検出器が、前記圧縮成形体リボンの複数の点に関する屈折率の値を取得するためにx方向に平行移動される請求項8に記載の装置。
  13. 前記少なくとも1つのレーザマイクロメータが、前記圧縮成形体リボンの前記複数の点に対応する厚さの値を取得するためにx方向に平行移動される請求項12に記載の装置。
  14. 前記プロセッサが、更に、前記複数の点に関する密度の値を前記複数の点に対応する各厚さの値及び各屈折率の値を用いて計算するよう構成される請求項13に記載の装置。
  15. 乾燥薬剤粉体をプレスローラーの間で圧縮成形して、圧縮成形体リボンを生成するローラー圧縮成形機と、
    前記圧縮成形体リボンが前記プレスローラーの間から送り出された後に、該圧縮成形体リボンの複数の点における厚さを非侵襲的に決定する複数対のレーザマイクロメータであって、前記複数対のレーザマイクロメータは第1軸方向に互いに隣接して配置されて第2軸方向のリボンの流れに沿う専用のトラックを走査するようにし、各対のレーザマイクロメータが前記圧縮成形体リボンの前記複数の点のうちの単一の点における厚さを決定する複数対のレーザマイクロメータと、
    複数のテラヘルツ放出器であって、各テラヘルツ放出器が前記圧縮成形体リボンの前記複数の点のうちの各点を介してテラヘルツ放射パルスを放出する複数のテラヘルツ放出器と、
    複数のテラヘルツ検出器であって、各テラヘルツ検出器が前記圧縮成形体リボンの前記複数の点のうちの各点を通過した前記テラヘルツ放射パルスを検出する複数のテラヘルツ検出器と、
    メモリと、
    プロセッサと、
    を有し、前記プロセッサが、
    前記圧縮成形体リボンの前記複数の点の各々における屈折率を、前記テラヘルツ放出器及び前記テラヘルツ検出器からの各測定値並びに前記厚さの各測定値を用いて決定し、
    前記圧縮成形体リボンの前記複数の点の各々における密度を、前記屈折率の各値を用いて計算する、
    ように構成される試験器システム。
  16. 各対のレーザマイクロメータは2つのレーザマイクロメータを有し、各レーザマイクロメータは前記圧縮成形体リボンの各側に配置され、前記厚さの測定値が前記2つのレーザマイクロメータから同時に得られる請求項15に記載の試験器システム。
  17. 前記複数のテラヘルツ放出器の各々及び前記複数のテラヘルツ検出器の各々からの前記測定値が、前記圧縮成形体リボンの各点に関して各テラヘルツ放出器により放出されると共に各テラヘルツ検出器により検出された放射パルスの飛行時間を有する請求項15に記載の試験器システム。
  18. 前記複数対のレーザマイクロメータが、前記複数のテラヘルツ放出器及び前記複数のテラヘルツ検出器の対に隣接して配置される請求項15に記載の試験器システム。
  19. 前記テラヘルツ放射パルスが、直径が実質的に1〜6mmの範囲内のテラヘルツビームを用いて伝送される請求項15に記載の試験器システム。
  20. 前記プロセッサが、更に、前記複数の点における測定値に対応する複数の密度値を記録するように構成され、当該試験器システムが前記複数の密度値を表示するディスプレイを更に有する請求項15に記載の試験器システム。
JP2015092207A 2014-05-08 2015-04-28 プロセス制御のためのリアルタイム厚さ測定と共にテラヘルツ放射を用いる密度の動的測定 Active JP6521720B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US14/273,252 US9417181B2 (en) 2014-05-08 2014-05-08 Dynamic measurement of density using terahertz radiation with real-time thickness measurement for process control
US14/273,252 2014-05-08

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2015215347A JP2015215347A (ja) 2015-12-03
JP6521720B2 true JP6521720B2 (ja) 2019-05-29

Family

ID=53489274

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015092207A Active JP6521720B2 (ja) 2014-05-08 2015-04-28 プロセス制御のためのリアルタイム厚さ測定と共にテラヘルツ放射を用いる密度の動的測定

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9417181B2 (ja)
JP (1) JP6521720B2 (ja)
DE (1) DE102015208449A1 (ja)
GB (1) GB2527416A (ja)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE202016008526U1 (de) * 2015-03-03 2018-05-22 Sikora Ag Vorrichtung zum Messen des Durchmessers und/oder der Wanddicke eines Strangs
DE102016118905A1 (de) * 2016-10-05 2018-04-05 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung und Verfahren zum zeitaufgelösten Erfassen gepulster elektromagnetischer Hochfrequenzstrahlung
US11420212B2 (en) 2016-10-24 2022-08-23 Paul Gerteis Methods and devices for controlling the dry granulation process
US20180292633A1 (en) * 2017-04-07 2018-10-11 Archit Lens Technology Inc. Terahertz-gigahertz illuminator
WO2018204724A1 (en) * 2017-05-03 2018-11-08 The Regents Of The University Of California Terahertz systems and methods for materials imaging and analysis
GB2563861A (en) * 2017-06-27 2019-01-02 Res Center Pharmaceutical Engineering Gmbh Device and method for measuring a density of provided granular matter
CH714053A1 (de) 2017-08-11 2019-02-15 Pantec Ag Verabreichungsvorrichtung und Verfahren zur Herstellung einer solchen.
WO2019057802A1 (en) * 2017-09-21 2019-03-28 F. Hoffmann-La Roche Ag PHARMACEUTICAL MANUFACTURING FACILITY AND METHOD FOR MANUFACTURING PHARMACEUTICAL PRODUCT
WO2019180556A1 (en) * 2018-03-22 2019-09-26 3M Innovative Properties Company Time-domain terahertz measurement system having a single reference surface
DE102018124175A1 (de) * 2018-10-01 2020-04-02 Sikora Ag Verfahren und Vorrichtung zum Steuern einer Produktionsanlage für plattenförmige oder strangförmige Körper
AU2020338055A1 (en) * 2019-08-28 2022-02-24 The University Of Western Australia A method of imaging a sample material
CN111998783B (zh) * 2020-07-13 2021-12-31 北京工业大学 基于进化优化算法的反射式太赫兹时域光谱厚度测量方法
CN114894105B (zh) * 2022-05-16 2023-07-28 西南科技大学 一种在大气环境下测量非金属材料厚度的方法及系统
CN116608774B (zh) * 2023-07-18 2024-05-14 宁德时代新能源科技股份有限公司 结构件刻痕残厚检测方法、厚度检测设备及检测装置

Family Cites Families (61)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3800940A (en) 1971-07-15 1974-04-02 M Thomas Programmed pill dispenser
US6078047A (en) 1997-03-14 2000-06-20 Lucent Technologies Inc. Method and apparatus for terahertz tomographic imaging
US5973316A (en) 1997-07-08 1999-10-26 Nec Research Institute, Inc. Sub-wavelength aperture arrays with enhanced light transmission
US6887431B1 (en) 1999-02-16 2005-05-03 Applera Corporation Bead dispensing system
US6443307B1 (en) 2000-01-25 2002-09-03 Michael D. Burridge Medication dispenser with an internal ejector
JP3793707B2 (ja) 2001-09-28 2006-07-05 株式会社日立製作所 真空装置の監視装置および監視方法
US7087281B2 (en) 2001-10-02 2006-08-08 University Of Cincinnati Dielectric thin-film color optical memory device and fabrication process
EP1463971A2 (en) 2001-12-12 2004-10-06 The Regents of the University of California INTEGRATED CRYSTAL MOUNTING AND ALIGNMENT SYSTEM FOR HIGH−THROUGHPUT BIOLOGICAL CRYSTALLOGRAPHY
US20030198619A1 (en) 2001-12-19 2003-10-23 Dong Liang C. Formulation and dosage form for increasing oral bioavailability of hydrophilic macromolecules
ATE329581T1 (de) 2002-02-14 2006-07-15 Glaxo Group Ltd Pharmazeutische formulierung, die n-((1-n-butyl-4-piperidinyl)menthyl)-3,4-dihydr -2h-(1, 3)oxazino(3,2-a)indol-10-carboxamid oder ein entsprechendes salz hiervon enthält, sowie deren herstellungsprozess, welcher trockengranulierung beinhaltet
SE0200782D0 (sv) 2002-03-14 2002-03-14 Astrazeneca Ab Method of analysing a pharmaceutical sample
US7368280B2 (en) * 2002-05-23 2008-05-06 Rensselaer Polytechnic Institute Detection of biospecific interactions using amplified differential time domain spectroscopy signal
JP2004108905A (ja) 2002-09-18 2004-04-08 Inst Of Physical & Chemical Res テラヘルツ波を用いた差分イメージング方法及び装置
JP2004117703A (ja) 2002-09-25 2004-04-15 Osaka Industrial Promotion Organization 位相差板
US7129491B2 (en) 2002-11-13 2006-10-31 Rensselaer Polytechnic Institute Diffraction mode terahertz tomography
EP1597577A4 (en) 2003-02-10 2007-02-21 Pointilliste Inc SELF-ARRANGING ARRAYS AND ITS APPLICATION
US20050216075A1 (en) 2003-04-08 2005-09-29 Xingwu Wang Materials and devices of enhanced electromagnetic transparency
GB2402471B (en) 2003-06-02 2006-01-18 Teraview Ltd An analysis method and apparatus
GB2405200B (en) * 2003-08-22 2005-09-07 Teraview Ltd A method and apparatus for investigating a sample
GB2405466B (en) 2003-08-27 2006-01-25 Teraview Ltd Method and apparatus for investigating a non-planner sample
US7145148B2 (en) 2003-09-25 2006-12-05 Alfano Robert R Systems and methods for non-destructively detecting material abnormalities beneath a coated surface
US7649633B2 (en) 2003-11-20 2010-01-19 National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology Method and instrument for measuring complex dielectric constant of a sample by optical spectral measurement
US7105820B2 (en) 2004-01-16 2006-09-12 New Jersey Institute Of Technology Terahertz imaging for near field objects
TWI547431B (zh) 2004-06-09 2016-09-01 史密斯克萊美占公司 生產藥物之裝置及方法
US7709247B2 (en) 2004-08-04 2010-05-04 Intel Corporation Methods and systems for detecting biomolecular binding using terahertz radiation
JP4480146B2 (ja) 2004-09-01 2010-06-16 独立行政法人理化学研究所 テラヘルツ波を用いた散乱物検出装置と方法
US20060228420A1 (en) * 2005-03-15 2006-10-12 Queen Mary & Westfield College Pharmaceutical compositions comprising microparticles for delivery into neurons
US7642205B2 (en) 2005-04-08 2010-01-05 Mattson Technology, Inc. Rapid thermal processing using energy transfer layers
JP4724822B2 (ja) 2005-06-28 2011-07-13 株式会社アドバンテスト 一体型構造体、測定装置、方法およびプログラム
JP5132146B2 (ja) 2006-03-17 2013-01-30 キヤノン株式会社 分析方法、分析装置、及び検体保持部材
JP4732201B2 (ja) 2006-03-17 2011-07-27 キヤノン株式会社 電磁波を用いたセンシング装置
US7851761B2 (en) 2006-03-27 2010-12-14 Liviu Popa-Simil Multi-band terahertz receiver and imaging device
US7808636B2 (en) 2007-01-11 2010-10-05 Rensselaer Polytechnic Institute Systems, methods, and devices for handling terahertz radiation
GB2446166B (en) * 2007-01-29 2010-05-12 Teraview Ltd A pharmaceutical analysis method and apparatus
GB2445957B (en) 2007-01-29 2009-08-19 Tera View Ltd A method and apparatus for analysing an LCD
US9389172B2 (en) * 2007-01-30 2016-07-12 New Jersey Institute Of Technology Methods and apparatus for the non-destructive measurement of diffusion in non-uniform substrates
JP5147454B2 (ja) 2007-03-07 2013-02-20 キヤノン株式会社 画像形成装置、及び画像形成方法
EP2031374B1 (en) 2007-08-31 2012-10-10 Canon Kabushiki Kaisha Apparatus and method for obtaining information related to terahertz waves
JP5371293B2 (ja) * 2007-08-31 2013-12-18 キヤノン株式会社 テラヘルツ波に関する情報を取得するための装置及び方法
CN101802593B (zh) * 2007-09-25 2012-06-06 爱科来株式会社 分光测量用压片、其制造方法和分光测量方法
US7795582B2 (en) 2007-10-19 2010-09-14 Honeywell International Inc. System and method of monitoring with temperature stabilization
US7609366B2 (en) * 2007-11-16 2009-10-27 Honeywell International Inc. Material measurement system for obtaining coincident properties and related method
US7781736B2 (en) 2008-05-19 2010-08-24 Emcore Corporation Terahertz frequency domain spectrometer with controllable phase shift
GB0811742D0 (en) 2008-06-26 2008-07-30 Glaxo Group Ltd Method for analysis of a pharmaceutical sample
US8271128B1 (en) 2008-07-30 2012-09-18 Kirby Lester, Llc Pharmacy workflow management system including plural counters
US8187424B2 (en) * 2008-08-01 2012-05-29 Honeywell Asca Inc. Time domain spectroscopy (TDS)-based method and system for obtaining coincident sheet material parameters
US8803738B2 (en) 2008-09-12 2014-08-12 Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. Planar gradient-index artificial dielectric lens and method for manufacture
US20100102256A1 (en) 2008-10-27 2010-04-29 Nokia Corporation Surface plasmon device
CA2777381C (en) * 2009-10-13 2017-10-03 Picometrix, Llc System and method for detection and measurement of interfacial properties in single and multilayer objects
JP5540236B2 (ja) * 2010-09-22 2014-07-02 王子ホールディングス株式会社 単位面積あたりの重量及びその面内均一性の測定方法
FR2965665B1 (fr) 2010-09-30 2012-10-26 Centre Nat Rech Scient Sources et capteurs de lumière comprenant au moins une microcavite a mode de tamm plasmonique localise
US20120225475A1 (en) 2010-11-16 2012-09-06 1087 Systems, Inc. Cytometry system with quantum cascade laser source, acoustic detector, and micro-fluidic cell handling system configured for inspection of individual cells
CN102207457A (zh) * 2011-04-01 2011-10-05 中国计量学院 一种杀菌剂固体农药光学参数的测定方法
US8969850B2 (en) 2011-09-23 2015-03-03 Rockwell Collins, Inc. Nano-structure arrays for EMR imaging
US9040913B2 (en) 2011-12-19 2015-05-26 Nanohmics, Inc. Wavelength-selective, integrated resonance detector for electromagnetic radiation
US9140542B2 (en) * 2012-02-08 2015-09-22 Honeywell Asca Inc. Caliper coating measurement on continuous non-uniform web using THz sensor
US9116887B2 (en) 2012-02-24 2015-08-25 Peter O Botten Medicinal substance recognition system and method
CN104870931B (zh) * 2012-10-19 2017-08-29 派克米瑞斯有限责任公司 利用反射太赫兹辐射计算材料属性
US8712163B1 (en) 2012-12-14 2014-04-29 EyeNode, LLC Pill identification and counterfeit detection method
JP5280593B1 (ja) * 2013-02-21 2013-09-04 株式会社日立パワーソリューションズ ロールプレス設備およびそれに用いる厚み計
JP6195052B2 (ja) 2013-03-08 2017-09-13 セイコーエプソン株式会社 標本検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
GB201507830D0 (en) 2015-06-17
GB2527416A (en) 2015-12-23
US20150323451A1 (en) 2015-11-12
US9417181B2 (en) 2016-08-16
JP2015215347A (ja) 2015-12-03
DE102015208449A1 (de) 2015-11-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6521720B2 (ja) プロセス制御のためのリアルタイム厚さ測定と共にテラヘルツ放射を用いる密度の動的測定
US20150323452A1 (en) Dynamic measurement of material properties using terahertz radiation with real-time thickness measurement for process control
Asachi et al. A review of current techniques for the evaluation of powder mixing
May et al. Hardness and density distributions of pharmaceutical tablets measured by terahertz pulsed imaging
Sarraguca et al. Determination of flow properties of pharmaceutical powders by near infrared spectroscopy
Khorasani et al. Near-infrared chemical imaging (NIR-CI) as a process monitoring solution for a production line of roll compaction and tableting
Nadeem et al. Review of noninvasive methods to characterize granular mixing
Markl et al. Non-destructive determination of disintegration time and dissolution in immediate release tablets by terahertz transmission measurements
Peinado et al. Development, validation and transfer of a near infrared method to determine in-line the end point of a fluidised drying process for commercial production batches of an approved oral solid dose pharmaceutical product
Vanarase et al. Development of a methodology to estimate error in the on-line measurements of blend uniformity in a continuous powder mixing process
US20060235621A1 (en) Imaging techniques and associated apparatus
Austin et al. The use of near-infrared and microwave resonance sensing to monitor a continuous roller compaction process
Matero et al. Towards better process understanding: chemometrics and multivariate measurements in manufacturing of solid dosage forms
Dave et al. Emerging technologies for the non-invasive characterization of physical-mechanical properties of tablets
Zhang et al. The application of terahertz pulsed imaging in characterising density distribution of roll-compacted ribbons
JP2007503576A (ja) 試料を調査する方法及び装置
Bawuah et al. Non-contact weight measurement of flat-faced pharmaceutical tablets using terahertz transmission pulse delay measurements
Mantanus et al. Building the quality into pellet manufacturing environment–feasibility study and validation of an in-line quantitative near infrared (NIR) method
Mazel et al. Confocal micro-X-ray fluorescence analysis as a new tool for the non-destructive study of the elemental distributions in pharmaceutical tablets
Boiret et al. Use of near-infrared spectroscopy and multipoint measurements for quality control of pharmaceutical drug products
Léonard et al. An experimental investigation of effusivity as an indicator of powder blend uniformity
Bawuah et al. Noninvasive porosity measurement of biconvex tablets using terahertz pulses
Crouter et al. Methods to assess mixing of pharmaceutical powders
Belyaev et al. Determination of the diffusion coefficient in nondestructive testing of thin articles of anisotropic porous materials
Lillotte et al. UV–VIS spectra as potential process analytical technology (PAT) for measuring the density of compressed materials: evaluation of the CIELAB color space

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180411

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20190327

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190419

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190423

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6521720

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250