JP6519661B2 - 質量分析装置 - Google Patents
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Description
a)プリカーサイオン選択条件を分析者が設定するための条件設定部と、
b)分析実行中にMSn-1分析によって得られるMSn-1スペクトルデータに基づいて、そのときに分析している成分についてのMSn分析の実行を許可する許可開始時間を決定する時間決定部と、
c)分析実行中に現在時間と前記許可開始時間とを比較する時間判定部と、
d)前記時間判定部により現在時間が前記許可開始時間を超えていると判定された場合に、MSn-1分析によって得られるMSn-1スペクトルデータにおいて前記プリカーサイオン選択条件に適合するピークをプリカーサイオンとして選択するプリカーサイオン選択部と、
e)前記プリカーサイオン選択部によって選択されたプリカーサイオンに対するMSn分析を実行するように各部を制御する分析制御部と、
を備えることを特徴としている。
一般的に、クロマトグラムピークの立ち上がり部分のカーブの変曲点はその信号強度が該ピークのピークトップの信号強度に対し相対的に或る程度以上のレベルになったときに現れる。そのため、変曲点を許可開始時間とすることで、十分な信号強度のイオンをプリカーサイオンとしたMSn分析を実行することができる。
プリカーサイオン選択条件の一つとして、除外するイオン又は質量電荷比を示す除外イオン情報を含み、
前記時間決定部は、MSn-1分析によってMSn-1スペクトルデータが得られたとき、上記除外イオン情報に該当するデータを除外したうえで許可開始時間を決定する構成とするとよい。
また本発明に係る質量分析装置の好ましい構成によれば、例えばLCの移動相中に存在する成分などの不要な成分についてのMSn分析の実行を回避することができ、実際にユーザが観測したい目的成分についてのMSn分析を実行する可能性を高めることができる。
なお、一般に、分析制御部5はCPU、RAM、ROM、タイマー等を含むマイクロコンピュータを中心に構成され、LC部1や質量分析部2を含む装置本体に組み込まれている。一方、中央制御部6及びデータ処理部4に含まれる機能の全て又は一部は、装置本体と接続されたパーソナルコンピュータ(又はワークステーション)にインストールされた専用のソフトウエアを該コンピュータ上で実行することにより達成される。
LC部1のカラム13からの溶出液がESIスプレー26に導入されると、ESIスプレー26は片寄った電荷を溶出液に付与しつつ該溶出液をイオン化室21中に噴霧する。帯電した微小液滴は大気ガスと接触して微細化され、該液滴中の溶媒が蒸発する過程で該液滴に含まれる成分がイオン化される。生成されたイオンは脱溶媒管27、イオンガイド28、30を経て、四重極マスフィルタ31に導入される。四重極マスフィルタ31を構成するロッド電極には特定の質量電荷比を有するイオンのみを通過させるような電圧が印加され、それによって、試料成分由来の様々なイオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンのみが選択的に四重極マスフィルタ31を通り抜け、プリカーサイオンとしてコリジョンセル32内に導入される。
なお、このときに得られるMS2スペクトルは、三連四重極型質量分析装置において後段の四重極マスフィルタで所定の質量電荷比範囲のスキャン測定(プロダクトイオンスキャン測定)を実行することで得られるプロダクトイオンスペクトルと実質的に同じである。
・LC部1における分離条件(例えばカラムの種類、移動相の種類、移動相の流速、グラジエント分析の場合にはグラジエント条件など)。
・DDAの際にプリカーサイオンとして選択しないイオン(以下「除外イオン」という)の質量電荷比。
・プリカーサイオン選択判定処理に使用される強度閾値Ith、及び、プリカーサイオンを選択する際の詳細な条件(例えばイオンが存在する場合に優先的に選択するイオンの質量電荷比、イオン強度順、質量電荷比順などのプリカーサイオン選択の優先順位など)。
・選択されたプリカーサイオンについてのMS2分析の実行条件(例えばMS2分析時の質量電荷比範囲、コリジョンエネルギやCIDガス圧等のCID条件など)。
図8はこの処理を説明するためのクロマトグラムの一例である。ここでは、MS信号強度が強度閾値Ithを超えた(図8におけるデータD2が得られた)以降に、そのMS信号強度とそれより以前に取得した一又は複数のMS信号強度とに基づいて平滑化(スムージング)処理を行いつつ近似曲線(例えば二次曲線又は三次曲線)を描く。そして、その近似曲線上で現時点における微分値を計算し、その微分値を利用して近似曲線の変曲点を求める。変曲点が見つかったならば、その変曲点よりもあとの最初のデータ取得時点をMS2実行許可開始時間Tsとして定めDDAの実行を開始する。
また、LC−MSでなくGC−MSに本発明を適用可能であることも当然である。
10…移動相容器
11…送液ポンプ
12…インジェクタ
13…カラム
2…質量分析部
20…チャンバ
21…イオン化室
22…第1中間真空室
23…第2中間真空室
24…第1分析室
25…第2分析室
26…ESIスプレー
27…脱溶媒管
28、35…イオンガイド
29…スキマー
31…四重極マスフィルタ
32…コリジョンセル
33…多重極型イオンガイド
34…イオン通過孔
36…飛行時間型質量分析器
361…直交加速部
362…飛行空間
363…反射器
37…イオン検出器
4…データ処理部
40…スペクトルデータ収集部
41…プリカーサイオン選択判定処理部
42…プリカーサイオン選択条件記憶部
43…半値幅データベース
5…分析制御部
51…制御シーケンス記憶部
6…中央制御部
61…制御シーケンス作成部
7…入力部
8…表示部
Claims (8)
- MSn-1分析(nは2以上の整数)によって得られるMSn-1スペクトルデータに基づいてプリカーサイオンを決定し、そのMSn-1分析に引き続いて該プリカーサイオンについてのMSn分析を実行する質量分析装置であって、含有成分の濃度が時間経過に従いピーク状に変化するように試料が導入される質量分析装置において、
a)プリカーサイオン選択条件を分析者が設定するための条件設定部と、
b)分析実行中にMSn-1分析によって得られるMSn-1スペクトルデータに基づいて、そのときに分析している成分についてのMSn分析の実行を許可する許可開始時間を決定する時間決定部と、
c)分析実行中に現在時間と前記許可開始時間とを比較する時間判定部と、
d)前記時間判定部により現在時間が前記許可開始時間を超えていると判定された場合に、MSn-1分析によって得られるMSn-1スペクトルデータにおいて前記プリカーサイオン選択条件に適合するピークをプリカーサイオンとして選択するプリカーサイオン選択部と、
e)前記プリカーサイオン選択部によって選択されたプリカーサイオンに対するMSn分析を実行するように各部を制御する分析制御部と、
を備えることを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置であって、
前記時間決定部は、複数のMSn-1スペクトルデータに基づいて、含有成分の濃度が時間経過に従いピーク状に変化するのに対応したクロマトグラム上のピークの開始時点を推定するピーク開始点推定部を含み、該ピーク開始時点から所定の遅延時間が経過した時点を許可開始時間として決定することを特徴とする質量分析装置。 - 請求項2に記載の質量分析装置であって、
前記時間決定部は、前記クロマトグラム上のピークの半値幅の推定値に基づいて前記遅延時間を定めることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項3に記載の質量分析装置であって、
当該質量分析装置の前段にはクロマトグラフが接続され、
前記時間決定部は、該クロマトグラフにおける分離条件に基づいて前記クロマトグラム上のピークの半値幅を推定する半値幅推定部をさらに備えることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項3に記載の質量分析装置であって、
前記時間決定部は、複数のMSn-1スペクトルデータに基づいて前記クロマトグラム上のピークの半値幅を推定する半値幅推定部をさらに備えることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項2に記載の質量分析装置であって、
前記ピーク開始点推定部は、MSn-1スペクトルデータに基づいて算出した信号強度が所定の閾値を超えたときに、該信号強度及びそれ以前のMSn-1スペクトルデータに基づいて算出した一つ以上の信号強度に基づいてピーク開始時点を推定することを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1に記載の質量分析装置であって、
前記時間決定部は、時間的に連続して得られる複数のMSn-1スペクトルデータに基づいて、含有成分の濃度が時間経過に従いピーク状に変化するのに対応したクロマトグラム上のピークの立ち上がり部分の曲線を推定し、該曲線の変曲点を求め、該変曲点の時点を許可開始時間として決定することを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1〜7のいずれかに記載の質量分析装置であって、
前記プリカーサイオン選択条件の一つとして、除外するイオン又は質量電荷比を示す除外イオン情報を含み、
前記時間決定部は、MSn-1分析によってMSn-1スペクトルデータが得られたとき、前記除外イオン情報に該当するデータを除外したうえで前記許可開始時間を決定することを特徴とする質量分析装置。
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