JP6509975B2 - 超音波マトリックス検査 - Google Patents
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Description
前記導管の周縁に嵌合可能となっているカフと、
前記カフに摺動可能に載置され、前記導管の前記周縁を横断するようになっているキャリアと、
前記キャリアに載置され、該キャリアが前記導管の前記周縁を横断する際に前記導管の前記周縁をスキャンするように位置決めされる超音波プローブと、
前記カフ又は前記キャリアに載置され、前記物体の前記周縁の回りでの前記キャリアの移動を駆動するのに用いられるキャリアモーターと、
前記キャリアモーター及び前記超音波プローブに制御情報を提供するとともに、前記超音波プローブからスキャンデータを受信する1つ又は複数のデータ接続と、
を備える、装置を対象とする。
前記装置は、液体スキャン媒質を受け取り、前記カフの前記内部と前記導管の前記外部との間に画定される前記容積に前記液体スキャン媒質を充填する液体供給源を更に備える。
前記キャリアに載置される調整可能なリフレクターと、
前記物体の縦軸に実質的に直交する平面において前記調整可能なリフレクターの角度を制御するリフレクターモーターと、
を更に備え、
前記超音波プローブは、前記調整可能なリフレクターからの超音波信号の反射を介して前記物体をスキャンするように位置決めされ、
前記1つ又は複数のデータ接続は、前記リフレクターモーターに制御情報を提供する。
前記導管の縦軸に実質的に平行して配列された複数の超音波要素を有する超音波アレイを提供するステップと、
前記超音波アレイを、前記物体の外面の、前記導管の前記周縁の回りの第1の点に向けて超音波信号を照射するように位置決めするステップと、
前記超音波アレイ内の第1の超音波要素から超音波信号を送信するステップと、
前記超音波アレイ内の他の各超音波要素によって受信された超音波信号を検知し記録するステップと、
前記送信するステップ、前記検知し記録するステップを繰り返すことであって、前記送信するステップは順に、前記超音波アレイ内の、前記第1の超音波要素以外の各超音波要素によって実行される、繰り返すステップと、
を含み、前記導管の前記周縁の回りの前記第1の点のフルマトリックス捕捉スキャンを実行するステップと、
前記導管の前記周縁の回りの第2の点に前記超音波アレイを再位置決めするステップと、
前記導管の前記周縁の回りの前記第2の点のフルマトリックス捕捉スキャンを実行するステップと、
前記再位置決めするステップ及び前記フルマトリックス捕捉スキャンを実行するステップを繰り返すステップと、
を含む、方法を対象とする。
前記超音波アレイ内の少なくとも1つの超音波要素から、少なくとも1つの超音波信号を送信するステップと、
前記超音波アレイ内の少なくとも1つの超音波要素によって受信された少なくとも1つの超音波信号を検知するステップと、
プロセッサにおいて、前記少なくとも1つの検知された信号の前記品質を評価するステップと、
前記評価の前記結果に基づいて、前記超音波アレイのスキャン角度を調整するステップと、
を更に含む。
前記超音波アレイの前記スキャン角度を調整するステップは、前記調整可能なリフレクターの前記角度を調整することを含む。
前記スキャン平面内のスキャンエリアに対応する1組のフルマトリックス捕捉超音波スキャンデータを提供するステップであって、
前記超音波アレイ内の第1の超音波要素から超音波信号を送信するステップと、
前記超音波アレイ内の他の各超音波要素によって超音波信号を検知し記録するステップと、
前記送信するステップ、前記検知し記録するステップを繰り返すステップであって、前記送信するステップは、前記超音波アレイ内の、前記第1の超音波要素以外の各超音波要素によって実行される、ステップと、
を実行し、前記フルマトリックス捕捉超音波スキャンデータは、前記超音波アレイと前記物体の前記近面との間に配置されるスキャン媒質を介して超音波アレイが送信する超音波信号及び超音波アレイが検知する超音波信号を用いて捕捉される、ステップと、
前記スキャンエリアの第1の強度マップを構築するステップであって、前記スキャンエリアは、前記フルマトリックス捕捉超音波スキャンデータに基づいて、前記スキャン媒質を通る超音波信号の移動時間を計算することによって、該スキャンエリア内に、関連付けられた強度値を有する複数の点を含む、ステップと、
前記第1の強度マップをフィルタリングするステップであって、それにより、前記スキャンエリア内の前記近面の前記境界をモデル化する、ステップと、
前記スキャンエリア内に、関連付けられた強度値を有する複数の点を含む第2の強度マップを構築するに当たり、フェルマーの原理の適用により、レンズとして前記近面の前記モデル化された境界を用いるステップであって、それにより、前記フルマトリックス捕捉超音波スキャンデータに基づいて前記スキャン媒質及び前記物体の両方を通る超音波信号移動時間を計算する、ステップと、
前記第2の強度マップをフィルタリングするステップであって、それにより、前記スキャンエリア内の前記遠面の前記境界をモデル化する、ステップと、
を含む、方法を対象とする。
前記第2の強度マップをフィルタリングするステップは、前記強度マップをエッジ検出フィルターに通すステップと、出力を、前記スキャンエリア内の前記遠面の前記境界のモデルとして用いるステップとを含む。
上記の方法を、前記物体の前記近面及び前記遠面を通る複数のスキャン平面に対応する、複数の組のフルマトリックス捕捉超音波スキャンデータに適用するステップと、
各スキャン平面内の前記モデル化された境界及び各スキャン平面の前記相対位置に基づいて、前記物体の前記近面及び前記遠面をモデル化するステップと、
を含む、方法を対象とする。
前記物体に嵌合するように構成された本体と、
前記本体に搭載され、前記本体をスキャンするように位置決めされる超音波プローブと、
前記キャリアモーター及び超音波プローブに制御情報を提供し、前記超音波プローブからスキャンデータを受信する1つ又は複数のデータ接続と、
前記キャリアに搭載される調整可能なリフレクターと、
前記物体の縦軸に実質的に直交する平面での前記調整可能なリフレクターの角度を制御するリフレクターモーターと、
を備え、
前記超音波プローブは、前記調整可能なリフレクターからの超音波信号の反射を介して前記物体をスキャンするように位置決めされ、
前記1つ又は複数のデータ接続は、前記リフレクターモーターに制御情報を提供する、装置を対象とする。
前記装置は、液体スキャン媒質を受け取り、前記本体の前記内部と前記物体の前記外部との間に画定される前記容積に前記液体スキャン媒質を充填する液体供給源を更に備える。
本発明の実施形態例は、超音波検査データを捕捉し、事後処理する超音波撮像装置及び方法に関する。特に、説明される実施形態例は、機械的カフを用いてパイプ溶接部を検査する装置及び方法に関し、機械的カフは、溶接部領域でパイプの回りに嵌まり、超音波送受信機アレイがフルマトリックス捕捉データ取得技法を介してパイプ容積の複数の送受信サイクルを実行する際に、パイプの円周で超音波送受信機アレイを回転させる。送受信サイクルからの全てのデータが保持される。次に、データは、2ステップアルゴリズムを用いて事後処理される。第1に、表面の強度マップを構築し、このマップをフィルタリングして、外面の境界を検出することによって、パイプの外面がモデル化される。第2に、フェルマーの原理を用いて、パイプの内面のモデル化において第1のステップ中に構築された外面のモデルをレンズとして用いる。内面は、外面と同じ方法でモデル化される:強度マップが構築され、次に、強度マップがフィルタリングされて、境界を検出する。
図面を参照すると、図1は、超音波プローブマニピュレーター100を備える一実施形態例を示す。マニピュレーター100はカフ106を備え、カフ106は、スキャンプロセス中、パイプ2の円周の回りに嵌められる。カフ106の中心は、パイプ2の縦軸4に位置合わせされる。マニピュレーター100は、モーター128によってカフ106の円周を横断するキャリア(図示せず)に取り付けられた超音波プローブ要素の線形アレイを用いて、カフ106に包囲されるパイプのスライスをスキャンする。
幾つかの実施形態において用いられるフルマトリックス捕捉(FMC)技法は、超音波スキャンに広く用いられるフェーズドアレイデータ捕捉技法の既知の改良である。FMCでは一般に、同等なフェーズドアレイスキャンよりも多量のデータを捕捉する必要があるが、1回のスキャンからより多くの情報を抽出することができる。フルマトリックス捕捉では、超音波アレイ200のうちの1つの要素202がパルス化され、超音波エネルギーを、スキャン中の媒質に伝える。アレイ200の各要素202は、このエネルギーの受信機として用いられ、このパルスに続く期間にわたるその座標での超音波振動を検出する。検出されたこの振動は、事後処理のために記録され記憶される。データがn個全ての要素202で記録されると、第2の要素202がパルス化され、記録プロセスが全ての受信要素202に対して繰り返される。次に、このプロセスは再び繰り返され、n個の各要素202は順にパルス化され、各受信要素202でデータが記録され、記録データのn×nマトリックスを生成し、各受信要素202は、各送信要素202からのパルスからのスキャンデータを記録する。このマトリックスは図8に示され、図8は、n個の送信要素206×n個の受信要素204のマトリックスを示す。
捕捉されたデータの処理は、スキャンと同時に、又はスキャン後に行うことができる。捕捉されたデータを処理する技法を、実施形態例により以下に説明する。これらの技法は、アパーチャフォーカスシフト法(SFM:Shifting Aperture Focusing Method)、内部フォーカス法(IFM:Interior Focus Method)、並びに境界の検出及び認識を適用して、パイプ壁の内面及び外面の輪郭等のスキャンされた物体の構造を特定することを含むことができる。これらの技法により、パイプ厚の僅かなばらつき、パイプ壁の欠陥、並びにパイプの任意の内面及び外面の他の構造的詳細を検出することを可能にすることができる。様々な実施形態によって適用される数学的原理の幾つかについて、数学的原理の動作をより十分に説明するために本明細書に説明する。
音速変動−材料の物理学的考察
超音波の応用形態では、絶対距離測定値は、音響パルスの移動時間から直接計算することができ、したがって、研究中の材料での超音波の速度の影響を受けやすいことがある。パイプ溶接部検査に関する後述する幾つかの実施形態では、厚さは、外面の点から内面への最短距離として定義される。図72は、壁厚のこの定義を示す。L1及びL2は、フィーダー溶接部の外面の2つの異なる位置での厚さである。内面プロファイル及び外面プロファイルは、外面又は内面の任意の位置での壁厚の特定に用いられる必須情報である。
温度の関数としての水の音速は、Vfw(T)=1405.03+4.624T−0.0383T2である。但し、Vfwは、秒単位当たりのm単位での真水の音速を示し、Tは摂氏温度単位での温度を示す。
要素指向性は、プローブアレイの設計において潜在的に重要な係数である。一般的に言えば、要素指向性は、検査容積上の異なる点にわたる振幅圧力場の分散として考えることができる。指向性を論述する場合、デカルト座標(x−y−z)及び球面座標(φ−θ−γ)は両方とも標準である(図73参照)。便宜上、近距離場要素の指向性を論述する場合にはデカルト座標が役立ち、一方、遠距離場の指向性を論述する場合には球面座標が役立つ。遠距離場では、aよりもはるかに長いLを有する矩形要素及び所与の距離rの場合、x−z平面での指向性は、θ、励起周波数f、及びaのみの関数を介して良好に近似される。
要素の遠距離場(超音波トランスデューサー要素の寸法が、検査距離と比較して非常に小さい場合)では、x−z平面での所与の半径rの場合、トランスデューサーの長さLがトランスデューサーの幅aよりもはるかに長いとき、指向性は、θ、要素幅a、及び周波数fのみで変化する関数によって良好に近似することができる。遠距離場指向性は、溶接部検査に関わる幾つかの実施形態では、関連があることがある。その理由は、溶接部は多くの場合、超音波アレイトランスデューサー要素の遠距離場(軸方向、x−z平面)にあるためである。x−z平面での要素の遠距離場指向性の公式は以下に与えられる。
要素幅aは、上記式に示されるように、要素の指向性を左右する。要素幅が小さいほど、音を全方向(全ての方向)に放射する。要素幅が大きいほど、音は表面法線の方向に集束する。これは図75に示され、図75は、要素サイズaの関数としての要素指向性を示す。
・要素数=10、
・周波数=7.5MHz、
・ピッチ(要素の中心間隔)=0.28mm
を有する同じアレイをシミュレートする。
要素の高さは、図73ではLとして表される。遠距離場では、(aと比較して)大きなLは、表面に直交する方向(z方向)においてエネルギーをフォーカスし、一方、Lの値が小さくなるほど、yにおいてより大きな成分を有するエネルギーを放射する。しかしながら、検査がLと同等の距離で実行される場合に一般に対象となる近距離場では、トランスデューサーから放射されるエネルギーは、z方向においてトランスデューサーの表面から均一に投射される。これらの検査距離では、検査点がトランスデューサーの高さ焦点距離と同様であるため、これは予想に一致する。
アナログ/デジタル変換では、各データサンプルの大きさは、有限精度で近似値に変換される。量子化は非線形プロセスである。最小量子化レベルは解像度である。解像度は、アナログ/デジタル(A/D)コンバーターのフルスケール入力振幅と、通常均等に離間される量子化レベルの総数とによって決まる。解像度は多くの場合、量子化レベル数で表される。10ビットA/Dコンバーターは1024の量子化レベルを有する。12ビットA/Dコンバーターは4096の量子化レベルを有する。12ビットA/Dコンバーターの解像度は、10ビットA/Dコンバーターの解像度より4倍小さい。量子化誤差は、最小量子化レベルよりも小さいと予想されるため、一般に解像度のより高いA/Dコンバーターが好まれる。
幾つかの実施形態では、事前処理は、SFMサブルーチン及びIFMサブルーチンを介して解析に向けて未処理データを整える幾つかの演算からなる。図18に示される一実施形態例では、これらの演算は以下である:フルマトリックス捕捉未処理データをサンプリング周波数100MHzにアップサンプリングし(1804)、フルマトリックス捕捉未処理データからDCオフセットを減算し(1806)、デジタルソフトウェアフィルター係数1810を用いて、フルマトリックス捕捉データセットをフィルタリングし、不要なノイズを除去し(1808)、取得されたRFフルマトリックス捕捉データセット1802から解析時間領域フルマトリックス捕捉データセット1814を計算する(1812)。
事前処理1704が行われると、アパーチャフォーカスシフト法(SFM)が、ステップ1706において、事前処理されたデータに適用される。アパーチャフォーカスシフト法は、フルマトリックス捕捉未処理データを所与として、強度マップを出力することを目的とするアルゴリズムである。OD強度マップを求めるSFMの演算は図20のフローチャートに示される。事前処理されたFMCデータ2004は、実施形態又は処理のユーザー定義のパラメーターに応じて、最初に正規化されてもよく、又はされなくてもよい。正規化する決定は、ステップ2010において下される。データ2004を正規化すべき場合、ステップ2012において、更に後述するように、予め定義されるか、又はユーザーによって設定されるOD正規化パラメーター2006に基づいて正規化が行われる。次に、正規化されたデータ又は正規化されないデータを用いて、ステップ2014において、更に後述するように検査座標移動時間を計算し、OD撮像パラメーター2002に基づいて、ステップ2016において計算される強度座標を考慮に入れることができるプロセス。ステップ2018において、現在の検査座標での強度が計算される。ステップ2020において、検査座標及び各強度は記憶される。ステップ2022において、アルゴリズムは、高強度座標周囲を更にフォーカスすることができ、そうする場合、ステップ2016において強度座標が計算され、ステップ2014〜2022の反復ループが作られる。アルゴリズムは、このプロセスを通して1回又は複数回反復されると、再フォーカスを停止し、OD強度マップ2008を出力する。これらの様々なステップについて後述する。
トータルフォーカス法及びアパーチャフォーカスシフト法(並びに後述する、更なる変形である内部フォーカス法)は、ビーム正規化を用いることができる。アレイに直交する方向から離れる角度でのビーム操舵は、個々の要素が全方向性である場合に最適化することができる。ビーム拡散全方向性をエミュレートするために、撮像に補正係数を導入することができる。この方法に伴う潜在的な問題は、値をI(r,a)に割り振る場合、g(i)j(t)で見つけられる信号がrの方向に配置されると仮定することである。これは、小さな物体を撮像しようとする場合には大きな関心の問題ではないことがあるが、表面を撮像する場合、これは格子の増幅に繋がることがある。増幅した格子は、真の表面と格子とが重なる画像のエリアでの信号対雑音比を低減させる。ビーム拡散を正規化する、本明細書に提示される方法は、g(i)j(t)、|g(i)j(t)|の包絡線が任意の定数に等しいピーク(複数の場合もある)を有するように、g(i)j(t)の実数部及び虚数部で見つけられる波束を正規化することである。簡単にするために、この例では、この定数は1に等しい。したがって、g(i)j(t)が波束W={w1,w2,・・・,wn}を含み、|g(i)j(t)|がピークP={p1,p2,・・・,pn}を有する場合、|g(i)j(t)|のピークを1に正規化するために、波束Wは{P1 −1,p2 −1,・・・,pn −1}によってスケーリングされる。g’(i)j(t)は、正規化された波束を有するg(i)j(t)を示すものとする。図15及び図16は、解析時間領域信号正規化のこの概念を示す。図15でのAスキャンデータ1500は、第1のピーク1506及び第2のピーク1508を示す実数部1502を有する。信号の包絡線1504は、第2のピーク1508よりも第1のピーク1506のものが高い。上述したように波束正規化を適用した後、正規化されたAスキャン1600を図16に示す。Aスキャンの実数部1602は、同じ定数値に正規化された第1のピーク1606及び第2のピーク1608の包絡線1604を有した。
ステップ2022において、予め設定されるか又はユーザー定義されるパラメーターに応じて、SFMサブルーチンは終了して、強度マップ2008を境界検出サブルーチンに出力するか、又はステップ2016において、対応する強度を計算する新しい座標を定義することに進む。新しい座標の定義に進む場合、新たに定義される座標が、高強度が既に割り当てられた座標の周囲に位置決めされる。新たに定義される座標が周囲でフォーカスされる座標の遮断強度は、予め定義されるベクトルによって定義することができる。新しい座標が定義されると、潜在的にユーザー定義のパラメーターに応じて、SFMサブルーチンは、終了するか、又は高強度の座標周囲への更なるフォーカスに進む。高強度座標を識別し、次に、高強度座標周囲に再フォーカスするプロセスは、任意の回数分実行することができ、幾つかの実施形態では、回数はユーザーによって指定することができる。
パイプ2のOD(外面)の強度マップ例を図12に示す。OD強度マップ50は、図11と同じ平面内でマッピングされ、スキャンの深さ28を垂直軸として有し、縦軸4に沿った軸方向位置30を水平軸として有する。OD強度マップ50での高強度OD領域32は、現在の送受信サイクル中のプローブアレイ200の半径方向位置での軸方向でのパイプ外面の形状を示す。
OD強度マップ50は、それ自体で、又は別個の送受信サイクルからの近傍強度マップと併せて更に処理して、パイプ外面のモデルを構築することができる。図17に示される実施形態例では、ステップ1708において、境界認識が実行され、次に、ステップ1710における境界の画定が続く。
本明細書の以下の部分は、続くサブセクションにおいて定義されるより高レベルの演算についての基礎をなす、画像に対する幾つかの基本的な集合演算を定義する。まず、並進演算及び反射演算を紹介する。画像Aでは、x=(p,q)によるAの並進はAで表され、
画像の連結成分をラベル付けする異なるアルゴリズムが存在する。一般に、画像Aを所与として、新しい画像Bは、そのピクセルの値が画像Aにおいて連結成分のラベルであるように定義することができる。所与の対象画像Aの場合、「構造化要素」と呼ばれる構造化集合Bは、膨脹演算又は収縮演算のいずれかとともに用いられて、対象画像を変更する画像である。
膨脹演算は、
エッジ検出は、当該技術分野で既知のエッジ検出アルゴリズムを用いて実行することができる。最も普及しており、ロバストで、多様性のある、用いられるエッジ検出器の1つは、キャニーエッジ検出器である。この検出器について詳細に後述する。
細線化アルゴリズムを境界検出に用いることもできる。画像内の連結成分を各自の細線表現に低減することは、データ圧縮、単純な構造解析、及び輪郭歪みの除去等の幾つかの有用な用途を有する。一実施形態例で用いられる1つの反復的細線化が本明細書において提示される。∧、∨、及び−の記号は論理積演算、論理和演算、及び否定演算をそれぞれ表す。
条件G1は以下である。
条件G2は以下である。
ピクセルが2値画像での線の接合点であるか否かをテストするアルゴリズムを適用することもできる。ピクセルpの3×3近傍を所与として、pは、pの周縁を移動する際、0と1との間の遷移数が6又は8である場合のみ、線の接合部である。図28aは線の接合部を与え、図28bはこの接合部をズームインし、その3×3近傍を示す。図28aから、接合部が0と1との間の6回の遷移を有することが明らかである。したがって、接合部識別の基準が満たされる。
実施形態例においてOD強度マップ又はID強度マップからOD境界又はID境界を抽出するのに利用されるアルゴリズムは、前サブセクションにおいて紹介された多くのツールを利用することができ、ツールの使用を超音波スキャンの特定の領域に向けて適合させることができる。
図33〜図36は、誤ったエッジを除去するアルゴリズム例の実行における様々な段階での境界を与える。上に与えられたアルゴリズムから出力される元の境界を図33に示す。真の境界よりも下にある収差での高強度内容に起因して、出力境界は誤りを含む。これは、出力された境界の小さな領域が収差の上に現れるという点で明らかである。図34は、膨脹演算が、矩形構造化要素を用いて実行された後の境界を示す。境界があるべき位置(図33)の小さなギャップが除去されている。境界の細線化は、境界を所望の幅に再び低減する。細線化された境界を図35に示す。最後に、境界ピクセルの比較が実行される。強度マップの任意の垂直スライスに交差する2つ以上の境界ピクセルがある場合、(考慮中のピクセルの)最大サイズの連結成分に属するピクセルのみが保存される。残りは除去される。これは、誤った境界ピクセルを除去するように機能する。図36は、誤ったピクセルが除去された境界を与える。
膨脹演算及び細線化演算は、上記で定義されたような線接合部を導入するおそれがある。境界検出アルゴリズムのこの時点において、画定された境界に接合部がなくなるまで、上述したように接合部を除去することができる。これは、後述するアルゴリズムを介して実行される、より多くの誤ったエッジを除去するために境界を準備する目的に適う。
エッジ検出プロセスの次のフェーズは、連結成分の下部の除去である。連結成分の下部の除去は、連結成分の下部ピクセルの除去からなる。連結成分の下部ピクセルは、同じ連結成分内の或る他のピクセル(複数の場合もある)と同じx成分を有するが、より大きなz成分値を有する(大きなz成分値を有するピクセルほど強度マップのより下に現れることを想起する)、或る連結成分内のピクセルとして本明細書では定義される。図41は、連結成分の下部が除去された図40の境界を示す。
誤ったエッジの小さな連結成分がなお、強度マップに残っていることがある。これらのエッジの除去は、画定される境界の精度を増大させる。強度マップの垂直ストリップごとに、2つ以上の連結成分がこのスライスに交差する場合、最大の成分のみが強度マップに保存される。図42は、小さな連結成分が除去されたエッジ境界を示す。この画像は、図37に示される強度マップの真のエッジ境界の識別においてこれまでの中で最も正確である。
強度マップは、超音波未処理データから形成される。境界の両端部近くの使用可能な超音波未処理データの低減は、高強度内容の細線化に繋がる。キャニーエッジ検出プロセスを用いて、これらのエリアでの真の境界を特定することは、実際には真の境界が平坦であるのに、エッジが高強度内容周囲に曲線で出力されることがあるため、真のOD/ID境界の不良な特定に繋がる。図43は、キャニーエッジ検出器4302からのエッジ出力を赤で示す。実際に、強度が先細りするエリア4304において規定される曲率は非常に大きく、真の境界を画定するよい働きをしない。強度内容が先細りするエリアにおいて境界を画定するよりよい方法は、(垂直寸法における)最大強度ピクセルの曲率を用いて、真の境界の曲率を近似することである。図43は、最大強度ピクセル4306(黒)が、真の境界の形状を近似するよい例を提供する。この場合での真の境界は平板である。
真の境界エッジが画定されない真の境界の画定間のエリアでは、真の境界エッジが一緒に接続されるように、真の境界を補間することができる。これは、境界画定プロセスの最後のステップである。図44は、境界をいかに補間することができるかを示す。エッジ検出プロセスから抽出された境界セグメント4402間のエリアは、直線4404で接続される。
アパーチャフォーカスシフト法(SFM)のような内部フォーカス法(IFM)は、フルマトリックス捕捉未処理データ及びOD境界表面の平滑化近似を所与として、強度マップ(強度が対象検査座標に割り当てられた画像)を出力することを目的とするアルゴリズムである。
上述した境界認識手順から出力される境界は、ノイズの影響を受けやすいことがある。2つの主要因子がこのノイズの原因となる。第1の因子は、SFMを介して計算される強度マップでの回折等の収差の撮像に起因する。第2の因子は、強度マップ格子の量子化に起因する。誤差(ノイズ)は、状態空間の量子化により数量を定義する際に生じるおそれがある。
1.平滑化幅:mm単位で表される平滑化ウィンドウ幅。アルゴリズムは、適切な「X間隔」パラメーターを用いて、要素でのウィンドウ幅を決定する。
内部フォーカス法(IFM)は、フェルマーの原理を介して、プローブアレイ要素から外径下の点までの移動時間を計算する。ODでの屈折率の変化に起因して、超音波の屈折がこの界面で生じる。OD表面の画定での非常に小さな高周波変動は、画定されたOD表面での小さな領域に交差する、プローブアレイ要素とOD下の検査点との間に多数の移動経路解をもたらす。これらの移動経路解は、OD表面での真の高周波変動、OD画定に導入された高周波ノイズ、又は両方の組合せに起因する。後述する信号処理技法が、入力OD境界での高周波ノイズ内容によって生じる誤った移動時間解をなくすとともに、IFM計算時間を短縮するように機能する。
幾つかの実施形態例は、スキャン中の表面に対して超音波プローブアレイ200の投射角度を調整することが可能である場合がある。例えば、パイプ壁をスキャンしている場合、マニピュレーター100の幾つかの実施形態は調整可能なミラー154を利用することができ、このミラーは、プローブアレイ200から投射された超音波及び反射された超音波を反射する。図46及び図47は、調整可能なミラー154を有するキャリア102の一実施形態例を示す。超音波プローブアレイ200は、能動面152に配置された要素の線形アレイから超音波を投射する。超音波はミラー154に向けて投射され、ミラー154の角度は、モーターを含むミラー調整組立体156によって調整することができる。超音波を1つ又は複数の要素から投射し、異なる反射角での1つ又は複数の要素を用いて検知することにより、ミラーの角度を最適化して、超音波がパイプ表面に直交して投射されていることを保証することが可能である。幾つかの実施形態では、この最適化手順は、FMCデータ収集の各フレームの前に実行することができる。ミラー調整組立体156は、プローブデータコネクタ108を介して外部コントローラーによって制御することができる。
OD表面プロファイル及びID表面プロファイルは、モデル化されると、パイプ壁又は他のスキャンされた物体の構造的特徴を特定するのに用いることができる。例えば、単一の送受信サイクルのODプロファイル36及びIDプロファイル38は、図14に示されるグラフにおいて結合される。これらの2つのプロファイルを並置することにより、パイプ壁のスキャンされた部分での最も薄いポイント40についての情報を評価し、ユーザーに見せることができる。
以下の定義は、後述するパイプ溶接部検査の文脈内で用いられる。
FMC:フルマトリックス捕捉。トランスデューサー内の各要素が個々にパルス化される間、全ての要素が受信する超音波データ収集戦略。これは、全ての要素が発射されるまで、トランスデューサー内の各要素に対して繰り返される。この戦略は、n×nのデータアレイを生成する。但し、nはトランスデューサー内の要素数である。その結果、FMC検査のデータファイルは、同じ解像度での同等の従来の(例えば、フェーズドアレイ)技法よりもはるかに多い。
ホーム位置:マニピュレーターを閉位置から安全にアンロックすることができるような、内部回転リングの円周位置。ホーム位置は、マニピュレーターのホールセンサーによって識別されるように、VIM及びソフトウェアの両方で示される。
主対角線:各送信要素が各自の受信機である、FMCを用いて収集されたデータ内の送受信要素のグループ。FMCデータセットの主対角線ビューは、従来の線形電子Bスキャンと同一である。主対角線ビューは、FMCデータBスキャンのデフォルトビューである。
マトリックス:FMCデータ収集戦略を用いる場合に作成されるデータ構造。マトリックスの列が、送信要素の識別に割り当てられる場合、マトリックスの行は受信要素に対応する。そして、アレイの各要素は、その送信機受信機対に関連するAスキャンに対応する。例えば、要素17での送信、要素32での受信の組合せは、FMCデータマトリックスの17列目及び32行目に配置されるAスキャンを生成する。
開始位置:スキャンが開始される、マニピュレーターに対する円周位置。開始位置は、ホーム位置に対応することができるか、又はホーム位置からオフセットすることができる。
TFM:トータルフォーカス法。FMC法を介して作成されたデータを用いる様々な自動データ解析戦略の総称。TFMは、様々な送信機と受信機との組合せからのAスキャンでの時間指標範囲内の振幅値の合算に依る。有効な表面が存在する場合、振幅は建設的に干渉し、表面を撮像する。そのような表面が存在しない場合、振幅は相殺的に干渉し、画像を形成しない。TFMはまた、検査容積全体を通してフォーカスされるフェーズドアレイと同等であるものとして説明される。
以下の略語及び頭字語を、後述するパイプ溶接部検査の文脈内で用いることができる。
FMC検査は、円筒形幾何学的形状のプローブ軌跡を溶接部構成に重ね合わせる。接合部の性質及び接合部上のマニピュレーターの配置に応じて、OD信号及びID信号のいくらかの歪みが生じることがある。これが生じるおそれがあるエリアは、直線からの湾曲幾何学的形状又はGrayloc(登録商標)からの湾曲幾何学的形状への側面(cheek)エリアである。このために可能な救済策は、歪みを受ける領域での信号の最適化を目的として、接合部上へのマニピュレーターの再位置決めを図ることである。
従来のUTデータ収集機器は、検出、区別、及びサイズ表示の手段として信号振幅を利用する技法を利用する場合、定期的な較正から恩恵を受けることができる。フィーダー厚測定で適用される従来の通常のビーム技法は、機器時間基準の正確性及び安定性に依る。デジタル機器の時間基準は、システムクロックに依存し、システムクロックは長期間の安定性で知られている装置である。したがって、信号振幅は係数ではないため、機器の年ごとの較正の実行だけでよいことがある。本願において論述される実施形態も同様に、測定を信号振幅に依らないため、定期的な機器較正は必須ではない。
トランスデューサーは、製造業者から受け取った際又は最初に業務を開始する際に特徴付けることができる。次に、トランスデューサーは、業務についてから年に1回特徴付けることができる。特徴付けの作業は、適任の保守技師によって行うことができる。特徴付けタスクは、システム保守作業の一環として見なされ、検査中の較正作業の一環ではない。トランスデューサーについての製造業者のリポートを、特徴付け中に参照することができる。検査データの修正処理は、プローブパラメーターの正確な測定に依存する。これらのパラメーターは以下を含む。
(1)要素機能チェック
NEOVISION(登録商標)アプリケーションは、見たところ、鋸刃パターンのように見える一連の線形変化遅延を各チャネルに導入する機能を有する。この機能はプローブ要素テストであり、UT較正タブ下で見つけられる。主対角線上Bスキャン応答の高速チェックは、任意の欠落要素を強調表示する。オペレーターは、カーソルを用いて、欠落要素(複数の場合もある)のチャネル番号を識別することができる。任意の欠落要素(複数の場合もある)のチャネル番号は、保守記録に記録することができる。
(2)トランスデューサー遅延
トランスデューサーは、参照ブロックで評価することができる。しかしながら、僅かな位置合わせずれが誤差を遅延測定値に導入することがある。マニピュレーターの様々な構成要素での隙間寸法を所与として、参照ブロック表面に対するプローブの精密な位置を保証することは難しい。この検査のために、トランスデューサー遅延は、計測学的治具で別個に測定される。トランスデューサーがマニピュレーターに搭載され、参照ブロックで測定されると、この値は記録され、続けて許容可能な範囲内にあることが確認される。
(3)要素遅延
全体のトランスデューサー遅延に加えて、各要素の遅延を評価することもできる。トランスデューサー要素は、トランスデューサーの面にわたり遅延が大きく変動すること、幾つかの場合では最高で1/2サイクル変動することがわかった。大きな変動は、誤差を検査データの後続処理に導入する。
(4)周波数スペクトルテスト
周波数スペクトルテストは、定義されたターゲットからの要素の個々の応答を取得し、次に、Aスキャンのセグメントにフーリエ変換を実行する。その結果生成される周波数スペクトルは、製造業者リポートで提供される本来の周波数スペクトルと比較される。トランスデューサーがマニピュレーター100に搭載され、保守中、参照ブロックで測定されると、この値は記録され、続けて許容可能な範囲内にあることが確認される。
(5)パルス持続時間テスト
パルス持続時間テストは、周波数スペクトルテストに関連付けられる。この特定のテストは、6dB及び20dBの降下点の両方での反射波形の持続時間を測定することを含む。トランスデューサーがマニピュレーター100に搭載され、ゴムエリアの保守中、参照ブロックで測定されると、この値は記録され、続けて許容可能な範囲内にあることが確認される。
(6)ビームの向き
このテストは、トランスデューサーの受動平面及び能動平面に対する、発せられたビームの方向(角度)を検証する。ビームは一般に、トランスデューサー表面に直交するベクトルの0.5度以内にあるべきである。この仕様外にあることがわかったトランスデューサーは、FMC検査に適さないことがある。
この一連のテスト及びステップは、トランスデューサーのみに関連するのではなく、続くデータ解析プロセスに影響する。これらのチェックは、保守設備で実行されるか、又は適宜装備されたゴムエリアで実行されることが意図される。
水DAC曲線は、DAC曲線が非アクティブである間、参照管の水中段差にわたってスキャンすることによって作成される。利得は、界面エコーが、段差のアレイで80%フルスクリーン高さ(FSH:Full Screen Height)を超えないように調整される。データファイルは保存され、次に解析される。
トランスデューサー内の要素の感度は、互いから+/−4dB以上変動することがある。機器、ケーブル、及びコネクタのばらつきも、要素間の感度変動を悪化させることがある。TFM結果の一貫性は、これらのばらつきが補正される場合に改善することができる。
(a)次に、取得オペレーターは、界面信号を包含するように較正ゲートを設定することによって利得トリミング較正を準備する。取得オペレーターは、トランスデューサー面又は参照管のいずれかに泡がないことを保証する。その理由は、これらが利得トリミング調整を無効化するためである。
(b)取得オペレーターは較正を開始する。NEOVISION(登録商標)は、利得を自動的に調整し、それから短時間後(約5秒〜10秒)、個々の要素を調整する必要がある利得の範囲を示すメッセージを返す。幾つかの場合、要素が公称利得トリミング範囲外にあるとき、利得トリミングユーティリティはエラー(複数の場合もある)を報告する。これは、欠落/故障した要素及び/又は気泡がトランスデューサー/ミラー又は参照管表面のいずれかに存在する状況の場合であることがある。取得オペレーターは、エラーメッセージを調べ、期待される結果を超える一切の状況を修正することができる。
(c)取得オペレーターは、報告された範囲を評価し、それを前の利得トリミング調整と比較することができる。
(d)取得オペレーターは一般に、前の調整からの個々の要素応答の任意の違いに気付くはずである。利得トリミング調整は、幾つかの実施形態では、同じトランスデューサーについての前の評価の2.0dB内にあることができる。違いは、非常に小さな気泡の存在又はトランスデューサーの経年劣化に起因することがある。違いは、処理前に解消することができる。利得トリミングが許容可能な限度内である場合、取得オペレーターは、プローブファイルを更新し、利得トリミング設定を現在の検査に適用することができる。トランスデューサーがマニピュレーターに搭載され、参照ブロックで測定されると、この値は記録され、続けて許容可能範囲内にあることが確認される。
金属DACは、水DACを用いるが、二次DACを用いない間、金属経路段差にわたってスキャンすることによって作成される。利得は、第1の後壁エコーが40%FSHを超えないように、水DACのベースライン利得から調整される。水DACベースライン利得と、第1の後壁反射が40%になるために必要な利得とのこの差は、金属DACの利得オフセットである。次に、ファイルは保存され、解析される。
温度トランスデューサーは機能についてチェックされ、これはトランスデューサー特徴付けの一環ではない。これは、氷水浴及び沸騰する湯での温度を測定することによって行うことができる。代替的には、熱量計算装置を用いて、温度トランスデューサーをテストし較正することができる。温度トランスデューサーは、限られた範囲にわたって較正されるが、範囲の反復可能な実証により、トランスデューサーが正常動作中であることが示される。
システム較正は、運転変数の値の検証及びFMCデータ取得システム全体の連続実行の確認として定義される。UTデータを最終的な結果に変換するプロセスは時間がかかり、したがって、解析は較正手順の一環ではない。その代わり、このプロセスは一般に、関連するUTパラメーターが、検査過程中に推奨値から逸脱しないことを実証するのに十分である。
1.エンコーダー検証
2.要素機能チェック
3.トランスデューサー−マニピュレーター位置合わせ/プローブ軸機能チェック
4.金属経路測定検証
5.トランスデューサー遅延テスト
6.水路減衰チェック
7.温度センサー検証
8.水路測定チェック
較正機器は以下の物品からなる。
1.2’’参照ブロック標本(図55参照)
2.6度構成の2’’参照ブロック標本(図56参照)
3.2.5’’参照ブロック標本(図57参照)
4.参照ブロックスタンド
5.UT機器に接続されたトランスデューサー/マニピュレーター組合せ
プラットフォームオペレーターは、適切なサイズの参照管にマニピュレーターをしっかりと留め、マニピュレーターの外部リングがスタンドロケーターピンに係合することを保証する。幾つかの実施形態では、従来のマニピュレーター構成及び6度マニピュレーター構成に別個の参照管がある。各マニピュレーター構成の較正は、適切な参照管で行われる。
適切な挙動及びエンコーダーの値の検証は、マニピュレーターを駆動して、ホーム位置から完全に1回転させて再びホーム位置に到達させることによって最も容易に実行される。これらの位置は、内部リング半体の分割線を、静止したリング半体の分割線と並べることによって容易に観測される。値は一般に、円周の+/−0.3mm以内で一致すべきである。2’’マニピュレーター及び2.5’’マニピュレーターを用いる実施形態例では、距離は、2’’マニピュレーターの場合では195mmであり、21/2’’マニピュレーターの場合では245mmである。
(a)正方向に駆動することによって負の側からホーム位置に接近する。
(b)内部リングの分割部が、外部リングの分割部に位置合わせされる場合、位置を「モーター/リレー」下の0.0に設定する。この位置を通り越す場合、マニピュレーターを負の方向に駆動してはならない。その理由は、そうすることで、マニピュレーターの振れが較正に組み込まれるおそれがあるためである。この位置を通り超す場合、負の側からの接近を繰り返す。
(c)このゼロ位置から、順方向にマニピュレーターを、2’’マニピュレーターの場合では195mm、2.5’’マニピュレーターの場合では245mm駆動する。
(d)マニピュレーターは一般に、360度回転を実行し、内部回転リングの分割部が外部リングの分割部と位置合わせされるように停止すべきである。この位置からのいかなるオフセットも、マニピュレーターの較正誤差又は機械的動作の誤差を呈するおそれがある。
(e)テストは、マニピュレーターをホーム位置に戻すことによって逆方向で行われる。
幾つかの実施形態では、最終値は0mmから+/−0.3mm以内であるべきである。
NEOVISION(登録商標)アプリケーションは、見たところ、鋸刃パターンのように見える一連の線形変化遅延を各チャネルに導入する機能を有する。このテストは、参照サンプルでのセットアップモードである間、静止位置で行うことができる。代替的には、このテストは、参照サンプルでの較正機能中の要素応答の有/無に気付くことによって較正記録の一環として行うこともできる。
トランスデューサー−マニピュレーター位置合わせは、参照ブロック(図55〜図57に示されるブロック例等)の5つの平坦領域にわたってスキャンすることによって評価することができる。幾つかの実施形態では、これらの領域は、参照ブロック軸から傾斜する。正確に設定される場合、信号振幅は2度表面から1度表面に上昇し、トランスデューサー面に平行する表面でピークになり、次に1度表面に下降し、再び2度表面になる。取得オペレーターは、マニピュレーターをホーム位置から順方向にブロックの周囲を、例えば2’’マニピュレーターの場合では145mmの距離、例えば2.5’’マニピュレーターの場合では185mmの距離、駆動することができる。次に、取得オペレーターは、移動増分を0.1mmに設定し、界面信号を観測しながら現在の位置から増分することができる。オペレーターは、信号がピークになり、それから降下するのを観測するまで、位置を増分し続けることができる。この時点では、オペレーターは、マニピュレーターの現在位置を、2’’マニピュレーターの場合には149.1mm、2.5’’マニピュレーターの場合には189.6mmに設定することができる。逆方向に駆動すると、マニピュレーターバックラッシュを設定に組み込むことができる。
金属経路測定の正確性は、参照ブロックでの様々な段差をチェックすることによって検証することができる。幾つかの実施形態では、2mm、8mm、及び14mmの段差がチェックされる。図55〜図57に示される各参照ブロック例に固有の測定が、本説明の末尾の表A12〜表A15に見られる。
(a)この測定は、選択された、線形電子Bスキャンに対応するマトリックス主対角線チャネルのAスキャンウィンドウに対して行われる。Bスキャンからの任意のチャネルをこの測定に選択することができる。
(b)この測定では、時間軸は半路に設定され、速度は、表示オプションタブ下の炭素鋼に設定される。
(c)測定は、個々のデータサンプルを区別することができるように、Aスキャンでの最初の2つの後壁エコーの領域にズームインすることによって行われる。
(d)両対のカーソルを用いて、測定は、一方のカーソルを第1のエコーの第1の立ち上がり零交差に配置し、他方のカーソルを第2のエコーの対応する零交差に配置することによって行われる。測定は、これらの2つのカーソルの金属経路値間の差である。この値は、AスキャンウィンドウマージンでのINFOボタンから直接得られる。
(e)これらのステップの値は、較正記録に記録される。
マニピュレーターを参照サンプルに精密に配置することの難しさに起因して、トランスデューサー遅延は、単に位置の不正確性に起因して変化することがある。したがって、トランスデューサー遅延は一般に、単なる目安として実行される。
水路減衰曲線は、界面信号の振幅をチェックすることによって検証することができる。
これらのタイプの装置のロバスト性を所与とすれば、通常、温度読み取り値が安定しており、かつ期待される範囲内にあることを検証するのに十分である。検査に予想される公称範囲は一般に摂氏15度〜摂氏45度である。
水路測定チェックの実行に、補足スキャンが必要なことがある。スキャンは一般に、0.5mmの段差で参照ブロックの60mm〜100mmに及ぶ。このスキャンは、0度構成及び6度構成の両方で行うことができるが、0度の結果のみをこのときに評価することができる。
以下の表3は、測定されるパラメーター及び得られる適切な目標値を識別する。
FMCフィーダー較正記録は一般に、以下の情報を含むことができる。
・較正ファイルの日時
・較正ファイルの名称
・トランスデューサーシリアル番号、マニピュレーターシリアル番号
・Micropulseシリアル番号、保管室インターフェースモジュールシリアル番号
・参照管シリアル番号
・較正を実行する取得オペレーターの氏名
・較正を実行するプラットフォームオペレーターの氏名
・較正の結果を記録するデータ表
参照ブロックの較正スキャンは、以下の間隔で行うことができる。
・シフトの開始
・4時間間隔
・取得オペレーターの変更
超音波機器設定は、予め定義される較正(セットアップファイル)において利用可能なことがある。検査キャンペーンへの機器の初期セットアップを担当する検査監督者は、全てのセットアップファイルの最新版がNEOVISION(登録商標)ソフトウェアにロードされることを保証することができる。
上記の表4は、この検査に一般に用いられる公称超音波パラメーターを識別する。取得オペレーターは、較正実行後に、適切なパラメーターがロードされたことを確認することができる。
幾つかの実施形態は、データセット評価の際に、取得オペレーターへの支援としてデータ有効性インジケーターソフトウェア機能を含むことができる。インジケーターは、OD表面及びID表面のそれぞれでの界面ゲート及びゲート1での信号の存在を表示する。
・界面ゲート
・界面ゲート振幅
・ゲート1
・ゲート1振幅
・ODアパーチャサイズ、最小割合、好ましい割合
・IDアパーチャサイズ、最小割合、好ましい割合
入力パラメーターは、セットアップモードで調整することができる。
2’’マニピュレーター及び2.5’’マニピュレーターに別個の検査シーケンスを定義することができる。マニピュレーターの設定を以下の表5及び表6に与える。
フィーダーとマニピュレーターとのオフセット及びフィーダーの表面のばらつきに起因して、幾つかの実施形態例では、マニピュレーターは、特定の向きでしかUT信号を取得することができない。マニピュレーターが、0度モードで内輪エリア及び外輪エリアを取得し、6度順方向構成で左側面を取得し、6度逆方向で右側面を取得するように構成される妥協を行うことができる。マニピュレーターが意図される領域以外のエリアにわたってスキャンされる場合、UT信号は劣化するおそれがある。
以下のステップは一般に、全てのスキャンタイプで実行することができる。
(1)プラットフォームオペレーターは、マニピュレーターをフィーダーに設置し、マニピュレーターの両半体が接触し、しっかりと固定されることを保証することができる。検査エリアの直接アクセスが可能ではない場合、プラットフォームオペレーターは、マニピュレーターをフィーダーのアクセス可能なエリアに設置し、検査されるエリア上にマニピュレーターを再位置決めすることができる。マニピュレーターの駆動エンクロージャは一般に、水平フィーダーが延びる場合、フィーダーの上部にあるべきであり、垂直に延びる場合は下部にギア列とともにあるべきである。プラットフォームオペレーターは、マニピュレーターのシールをチェックして、シールが曲がる方向が均一であることを保証することもできる。
(2)プラットフォームオペレーターは、ケーブルを隣接する端部継手にループさせ、マニピュレーターへの緊張を緩め、意図される方向でのマニピュレーターの回転を可能にするのに十分なトランスデューサーケーブル緩みが利用可能なことを保証することができる。
(3)プラットフォームオペレーター及び取得オペレーターは、マニピュレーターをフィーダーに設置した後、検査されるフィーダーの識別情報を再確認することができる。
(4)マニピュレーターの配置が確認されると、取得オペレーターは、カップラントポンプを開始して、マニピュレーターを充填することができる。プラットフォームオペレーターは、過度の漏出についてマニピュレーターシールをチェックすることができる。シールの調整は、漏出を低減するために必要なことがある。プラットフォームオペレーターは、カップラントフローソレノイド組立体の弁を介して、カップラントの消費を最適化するように流量を調整することが求められることがある。
(5)シールのチェックと同時に、プラットフォームオペレーターは、マニピュレーターの両半体がしっかりとラッチされていることをチェックし確認することもできる。半体同士が完全には係合していない場合、過度の漏出及び不良な移動制御に直面するおそれがある。
検査プロセスのフローチャートを図60に与える。取得オペレーターは、直面する状況に応じて、異なるマニピュレータースキャンモードを使用するオプションを有する。以下のステップは一般に、全てのスキャンタイプで実行することができる。
(1)カップラントポンプが開始され、カップラントがマニピュレーターから漏出していると確認されると、取得オペレーターは、静的スキャンを開始することができる。Bスキャンウィンドウには、線形Bスキャン画像が埋められるべきであり、Aスキャンウィンドウには、BスキャンウィンドウからのAスキャンが埋められるべきである。Bスキャンが存在し、Aスキャンがない場合、取得オペレーターは、Bスキャンウィンドウへの選択されたAスキャンリンクを再確立することができる。いずれのウィンドウも埋められていない場合、取得オペレーター及び検査監督者は、処理前に原因を調べて修理することができる。Aスキャン及びBスキャンが確立されると、取得オペレーターは、スキャン品質のカーソル評価を行い、任意の明らかな欠陥を識別して修正すべきである。
(2)取得オペレーターは、ホーム位置が開始位置として用いられない場合、トランスデューサーを所望の開始位置にそっと動かすことができる。代替では、プラットフォームオペレーターは、VIMへの局所的制御を用いてこのタスクを実行することができる。トランスデューサーがスキャン開始位置に位置決めされると、取得オペレーターは、開始位置をゼロに設定することができる。ここでも、プラットフォームオペレーターは、意図される移動方向での十分なケーブルの緩み及び適切なケーブル供給を保証することができる。
(3)任意の時間に、プラットフォームオペレーターは、検査への干渉又はアクセス制限の可能性に気付く場合、取得オペレーターに通知することができる。取得オペレーターは、隙間が問題である場合、より有利な位置でのスキャンの開始を選ぶことができる。
(4)取得オペレーターは、任意選択的なテストランの実行を選ぶことができる。テストランの目的は、溶接部の位置、溶接部カップにわたる信号振幅、マニピュレーター位置合わせ、気泡若しくはポケットの存在、又は他の状況/アーチファクトをチェックするためである。幾つかの実施形態では、円周解像度の推奨値は10mm〜15mmである。テストランで気付かれた任意の悪条件は、スキャンが行われる前に修正することができる。
(5)取得オペレーターは、開始位置からスキャンを開始することができる。プラットフォームオペレーターは、マニピュレーターの進行を監視し、適切なケーブル供給に細心の注意を払うことができる。取得オペレーターは、データ品質に関して主対角線Bスキャン及び対応するAスキャンを監視することができる。隙間が低減する領域では、トランスデューサーは隣接する障害物に接触するおそれがある。通常、トランスデューサーがマニピュレーターを脇に押しやるよりも、マニピュレーターが失速することが好ましい。トランスデューサーがマニピュレーターを脇に押しやる場合、誤ったデータが記録されるおそれがある。
(6)マニピュレーター制御装置は、失速状況が検出されない場合、スキャン完了時にマニピュレーターを開始位置に戻すことができる。失速状況が検出された場合、マニピュレーターの挙動は、取得オペレーターによって選ばれたスキャンオプションに従うことができる。
(7)取得オペレーターは、スキャンの許容可能性に影響する係数について、完成されたファイルを検討することができる。取得オペレーターは、ファイルを検討している間、カップラントポンプをシャットオフすることができる。スキャンが許容可能ではない場合、取得オペレーター及びプラットフォームオペレーターは、欠陥の修正及び溶接部の再スキャンを試みることができる。許容可能なデータの取得での試行回数には指定される限度はない。取得オペレーターは、幾つかのスキャン試行が行われた場合、1組の品質基準を満たさないデータを保存することができる。制限を説明する注記を検査記録に作成することができる。
(8)取得オペレーターは、ファイルを許容可能と見なす場合、ファイル及び検査記録を保存することができる。
(9)取得オペレーターは、マニピュレーターがまだホーム位置にない場合、マニピュレーターをホーム位置に駆動することができる。
(10)取得オペレーターは、プラットフォームオペレーターに、マニピュレーターを取り外すか、又は同じフィーダー上である場合には次の位置に移動させるように指示することができる。
(11)取得オペレーター及びプラットフォームオペレーターは、上述したように指定された間隔で較正を実行することができる。最新の有効較正スキャンに続いて得られたデータは破棄することができ、影響された溶接部を再検査することができる。
検査の範囲は、上記及び図49及び図50に定義される範囲に従うことができる。これらの幾何学的形状に定義される検査ゾーンは、溶接部中心線の既知の位置に基づくことに留意する。マニピュレーターは、幾つかの実施形態では、円筒形プロファイルを追跡するように構築することができ、必ずしも複雑な幾何学的形状の溶接部中心線を追跡する必要はないことがある。これらの幾何学的形状では、溶接部中心線は、スキャンデータでの正弦軌跡を辿ることができる。ユーザーは、フィーダーの他のエリアからデータを取得する必要があると考えられる場合、マニピュレーターを第2の経路に再位置決めすることを選ぶことができる。
NEOVISION(登録商標)アプリケーションに関して、界面信号後の全ての信号を記録することができる。
アプリケーションオペレーターは、以下の基準に関してデータファイルを検討し、スキャン許容可能性を判断することができる。信号品質に寄与する係数の数を所与として、取得オペレーターは、データが取得される際にデータを監視し、取得後、選択されたエリアの任意の詳細検討の実行に時間を費やすことができる。
(1)スキュー及びオフセット:スキュー状況は、トランスデューサーが軸方向において検査表面と位置合わせされていない場合に生じることがある。オフセットも同様の状況であるが、代わりに、トランスデューサーが、パイプ軸に平行しながら、パイプ軸から片側の側方距離にある場合に生じることがある。これらの状況は両方とも、OD信号振幅の大幅な低下及びOD信号の分割をもたらすおそれがある。これらの状況下では、ID信号は完全に失われることがある。これらの状況は、或る程度まで、きつい曲がり管又は接合部から接合部への構成体を検査する場合には固有であり得るが、一般に、全周の40%を超えるべきではない。マニピュレーターをパイプ表面に対して軸方向位置及び/又は半径方向位置に再位置決めすることにより、スキャンでの歪み量を低減することができる。
(2)気泡:気泡は、3つの場所で発生するおそれがある:検査表面、トランスデューサー表面、又は水柱内の振動。気泡は一般に、データ品質にマイナスの影響を有する。3つの状況のうち、パイプ表面の気泡は、その局所的な性質及びサイズが小さい傾向に起因して最小の影響を有する。これらの泡のうち大きい泡ほど、取得を時期尚早に行わせる応答をもたらすことがある。OD信号振幅又はID信号振幅の観測可能な低減に繋がる場合、表面気泡は過剰である。パイプ上の気泡は、パイプ表面の適切な清掃と、清掃プロセス中の界面活性剤の使用との組合せによって低減することができる。代替的には、シールが表面をこすって洗うように、マニピュレーターをパイプに沿って軸方向に動かすことにより、泡の大部分を除去することができる。トランスデューサー/ミラー面に位置する気泡は、検査の持続時間全体にわたり、特定の要素からのパルスを常に弱める限りにおいてより重大である。このタイプの気泡は、特に少数の要素へのOD/ID信号の異常な永続的低下によって検出される。この挙動は参照ブロックで確認することができる。このタイプの気泡は、幾つかの実施形態では、スキャン長にわたってOD/ID信号の2dB以上の低下を生じさせる場合、許容不可能なことがある。トランスデューサー/ミラー面上の気泡は、トランスデューサーの表面を、承認されたUTゲルカップラントで優しく拭くことによって軽減することができる。
水柱内の気泡は、データ取得インターフェースの誤ったトリガーとして表れる。このタイプの気泡の最も一般的な原因は、カップラント供給源に同伴された空気である。データ取得の不適切なトリガーは、データ解析ルーチンに問題を生じさせるおそれがあり、幾つかの条件下では、誤った結果を生成するおそれがある。水柱のサイズを所与として、水柱内の気泡は一般に、幾つかの実施形態では、データファイル全体の少数の個々のスキャン線よりも多くを占有すべきではない。水柱内の気泡が、任意のかなりの量(幾つかの実施形態では、スキャン位置の5%を超える)見つかった場合、気泡源を識別してなくすべきである。影響を受けた溶接部の再スキャンを行い、検査記録に記すことができる。
(3)エアポケット:エアポケットは、マニピュレーターの上限部に生じることがあり、漏出率がカップラント供給率を超える場合に生じることがある。連続したスキャン線上のトランスデューサーにわたるUT信号の部分的損失、又は完全な損失がある場合、エアポケットが観察される。信号の損失が数チャネルに分離されるか、又は持続時間が短い(約5フレーム)場合、取得オペレーターはスキャンファイルを許容することができる。その他の場合、過度の漏出率の原因に対処し、及び/又はマニピュレーターへの流れを増大させ、フィーダー溶接部を再スキャンすることが賢明なことがある。
(4)信号範囲限度:フィーダー表面上のマニピュレーターの位置、溶接部カップの高さ、及びフィーダーの幾何学的形状等の要因は、スキャンでの水路距離の範囲に著しい影響を有することがある。水路長の過度のばらつきは、スキャン品質に悪影響を有するおそれがある。最も問題となる状況は、トランスデューサーが検査表面に近すぎる(幾つかの実施形態では、200DP未満)場合に生じることがある。この場合、界面信号はマージし、送信要素の初期パルスからのランダウン(run down)に、潜在的に偽のトリガーを生じさせることがある。さらに、この時点での界面信号は、要素の近傍ゾーンに隣接することがあり、その場合、信号の振幅はかなり変動する。これらの両状況は、解析プロセスに誤りをもたらすおそれがある。しかしながら、最も大きな影響は、第2の水柱界面がデータに捕捉されることであり得る。振幅は真のID信号よりも大きくなることがあるため、この特徴は後壁として誤って識別されることがある。溶接ビード高さが過度である等の極端な場合、トランスデューサーと検査表面との間に十分な隙間がないことがあり、トランスデューサー自体の破損が生じる。
潜在的にあまり問題のない状況は、トランスデューサーと検査表面との間に過度の距離がある場合である。これは、上記段落で見出された状況から、フィーダーの逆側で生じることがある。トランスデューサーが検査表面から遠いほど、任意の所与の特徴への閲覧角度は制限されるため、データ解析への影響はより僅かである。
範囲制限に関連する問題を修正する一方法は、マニピュレーターを短い水柱側ではパイプから離れて動かしながら、長い水柱側ではマニピュレーターをパイプに近付けることを目的として、マニピュレーターを再位置決めすることである。溶接部は、マニピュレーターを再位置決めした後、再スキャンすることができる。なお、過度の溶接部カップ高さによって導入される問題は、マニピュレーターの再位置決めによって対処されないことがある。
(5)電気ノイズ:スキャンの電気ノイズは、1つ又は複数のAスキャントレースにおいてランダム(反復することは殆どない)信号として識別されることがある。ノイズが相関付けられない、すなわち、反復信号を形成しないとの前提の下、ノイズはデータ解析において効率的に平均化してなくすことができる。ノイズの振幅がID信号の振幅よりも高くなる(幾つかの実施形態では、IDの−6dB以内)場合、問題が生じることがある。電気ノイズの原因は、トランスデューサーに関連する幾つかのエリア、ケーブル若しくはコネクタの破損からであることがあり、又は幾つかの場合では、Micropulse(登録商標)ユニット自体に関連することがある。
電気ノイズがスキャンデータにおいて識別される場合、その問題に対処する一手段は、トランスデューサー又はMicropulse(登録商標)機器を配置し直し、溶接部を再スキャンすることである。
(6)温度範囲:データの温度範囲は、幾つかの実施形態では、摂氏15度〜摂氏45度であることができる。この範囲外の温度は、不正確な結果を生じさせるおそれがある。取得オペレーターは、温度がこれらの限度内にあるように再スキャンすることができる。
(7)欠落/故障要素:欠落するか、又は故障した要素が、トランスデューサーの自然な経年劣化、ケーブル若しくはコネクタに対して破損、又はMicropulse(登録商標)機器の故障から生じることがある。13個以下の故障/欠落要素しか識別されない場合、それらの13個の要素のうち、3個以下しか互いに直に隣接していないことを条件として、スキャンは一般に許容可能である。故障の原因がMicropulse(登録商標)であり得る場合、Micropulse(登録商標)を取り外して修理し、溶接部を再スキャンすることが一般に推奨される。
(8)界面振幅:利得は、公称条件下で、界面振幅が6dBで飽和するレベルに設定することができる。この設定の目的は、溶接部カップ界面信号が、データ取得をトリガーするのに十分高いレベルに留まることを保証することである。過度の利得設定は、続くデータ解析にとって問題であることがある。溶接部カップ信号が、データ取得をトリガーするのに不十分である場合、幾つかの実施形態では、界面ゲート信号を増大させるとともに、好ましくは6dB以下だけ利得を上昇させることができる。不要な信号がここで、誤った取得を生じさせることがあるため、ゲート振幅を低減する場合には注意する。
(9)ID信号振幅:トランスデューサーは表面に直交し、水柱は安定し、検査表面は中間範囲にあるという公称条件下で、パイプID信号は、幾つかの実施形態では、約10%のFSHの振幅を取得するはずである。パイプID信号が、この値から+/−6dBを超えて逸脱する場合、原因(気泡、遊離した表面の汚れ)を調べ、可能な場合には修正することができる。
(10)検査カバレッジ:所望のカバレッジに対する不適切な検査エリアカバーでは、マニピュレーターの再位置決め及び再スキャンが必要なことがある。幾つかの場合では、検査ジオメトリは一経路カバレッジを制限し、所望のカバレッジの達成に2つの経路を必要とすることがある。これが当てはまる場合、2つのファイルを検査に用いることができ、適切な注記が検査記録に作成される。障害物により、必要なカバレッジを達成するのに、マニピュレーターを位置決めする能力が制限される場合、適切な注記を検査記録に作成することができる。
(11)開始/終了対応性:全周スキャンの開始フレーム及び最終フレームは、幾つかの実施形態では、同じ位置の同じUT特徴を、軸方向では+/−2.0mm以内、半径方向では+/−50DP以内で表示することができる。開始フレーム及び終了フレームがこれらの限度内に対応しない場合、マニピュレーターはスキャン中に変位された可能性がある。その場合、スキャンを繰り返すことができる。
取得オペレーターは、デーファイルを解析サイトにエクスポートすることができる。解析サイトは、データファイルを保持する複数の冗長記憶装置を有することができる。データの解析は、データ取得フェーズの完了時に行うことができる。
幾つかの実施形態では、検査記録は、行われた検査のパラメーターを記録する文書である。検査された各フィーダーに別個の検査記録があることができる。なお、任意の所与のフィーダーに関連付けられた複数の溶接部が存在することができる。
説明される本例でのフィーダー溶接部プロファイルを検査するデータ取得方法は、フルマトリックス捕捉(FMC)検査技法の適用である。この方法は、複数の独立した要素を用いて、音を送受信し、したがって、非常に大きなデータアレイを取得する。このアレイは、データの手動解析を効率的に除外するには大きすぎる。
以下の表7は、一実施形態例でのこの手順下で用いられる機器例を列挙する。
データ解析
解析結果の検証は、第2の適格な解析者に、同じデータセットに対して独立して解析を実行させることによって達成される。この戦略では、最初の作業は一次解析と呼ばれ、一方、後続作業は二次解析と呼ばれる。
結果コーディネーターが、解析がこの手順に従って行われることの保証を担当することができる。
FMCデータセットの解析は、処理ステップの連鎖であり、任意の所与のステップの結果が、前のステップの結果の上に構築される。したがって、データの任意の不正確性又は損失は、全ての後続ステップを大きく損なうおそれがある。結果の信頼性は、入力されるデータの品質に応じる。
ワークフローでの最初のステップは、データ取得フェーズにおいて開始される。取得オペレーターは、許容可能性基準を満たす完成されたスキャンファイルをゲートウェイサーバーにアップロードする。完成された検査記録は一般に、データファイルも伴う。
解析者データフローを図62に示す。現在説明される実施形態例では、プロセスは、データを取得サイトからゲートウェイサーバーに転送することで開始される。ゲートウェイがデータを受信し、データの事前処理が即座に開始されると、ジョブリストは更新される。事前処理は、データファイル変換及びデジタルフィルタリングのようなステップを含む。
・100MHzサンプリングレート相当にデータセットをアップサンプリング。
・DCオフセットの補償及びUTデータのデジタルフィルタリング。
・OD強度マップ形成。OD強度マップは、パラメーターセットに従って各要素の検査容積内の定義される各点への時間指標を評価することによって形成される。時間指標は、各送信機−受信機対で合算され、その時間指標でのAスキャンの振幅が合算されて、強度マップが生成される。合算プロセスは、検査容積内の指定された点で有効な全ての送信機−受信機対に対して繰り返される。
・OD表面認識。OD表面は、提供されるパラメーターを用いて画定される。X、Z座標対が、アルゴリズムによって生成される。強度マップの低レベル部分又は欠落部分に対して補間を行うことができる。OD表面は、次の処理ステップへの入力として平滑化される。別個の平滑化値が、出力のために適用される。なお、OD表面X、Z対は結果出力の一部をなす。
・ID強度マップ形成。ID強度マップは、変更されたパラメーターを適用して計算される。ID強度マップは、OD強度マップと同様に計算されるが、OD表面のX、Z座標を用いて、様々な送信機−受信機対に適切な時間指標を特定する。OD信号抑制及び信号正規化等のオプションが、ID強度マップを形成する前のこの段階で実施される。
・ID表面認識。ID表面は、提供されるパラメーターを用いて画定される。X、Z座標対が、アルゴリズムによって生成される。強度マップの低レベル部分又は欠落部分に対して補間を行うことができる。X、Z座標対は、出力のために平滑化される。なお、ID表面X、Z座標対は結果出力の一部をなす。
メイン結果ウィンドウ
メイン結果ウィンドウを図63に示す。解析者はこのウィンドウを用いて、フレームのそれぞれ1つの結果をステップスルーすることができる。メイン結果ウィンドウの内容を以下に列挙する。
(1)OD強度マップが、結果ウィンドウの左上にプロットされる。
(2)ID強度マップが、結果ウィンドウの左側中央にプロットされる。
(3)OD/ID結合プロファイル(X、Z座標)が、結果ウィンドウの左下にプロットされる。
(4)取得情報、解析情報、及びファイル情報が、結果ウィンドウの右下に列挙される。
(5)全てのTMIN値及び各フレームの位置のリストが、結果ウィンドウの右側中央に配置される。
(6)大域的TMINが、結果ビューの右上側に見出される。
(7)結果データのスクロール及びソートを行う制御機構が、右上に見出される。
(8)様々な3Dビューを生成するオプションが、結果ビューの右上に配置される。
3D生成ウィンドウは、検査された容積の3D再構築を提供するグループである。再構築は、ODプロファイル及びIDプロファイルを線形空間又は半径方向フォーマットでプロットすることによって達成される。これらのビューは、OD表面若しくはID表面に関連する特徴を評価する場合、又は細線化傾向を評価する場合に特に有用である。しかしながら、この有用性は、適切な数のスキャンプロファイルが大きな補間を有するか、又は強度マップアーチファクトを不正確に識別する場合には損なわれる。
3Dウィンドウは、基本の3D展開及び3D半径方向ビューを提供する。このウィンドウの一例を図64に与える。ウィンドウの右側に配置された表示オプションにより、解析者は、ビュー内の詳細の程度、ビューの内容、適用される表面フィルタリング、パン、回転、ズーム、及びカラースケールを変更することができる。
概観ウィンドウは、検査容積の3D半径方向再構築を解析者に提供する。加えて、このビューは、検査容積に対してプロットされた軸方向プロファイル及び半径方向プロファイルも解析者に提供する。これは、いずれかの表面での細線化傾向を評価する際に有用である。ここでも、プロットに、異なる表面及び詳細レベルを提示しながらパン、回転、ズームを行うことができる。図65を概説ウィンドウの一例として参照のこと。
ポップアップウィンドウは、任意の選択されたビュータイプの専用ウィンドウを解析者に提供する。このウィンドウの目的は、評価又は報告のためにビューを最適化することである。ポップアップウィンドウの一例として、図66を参照のこと。
解析方法
以下は、図62による解析方法の手短な大要である。各ステップの更なる詳細が、そのステップに対して識別される段落において提供される。
解析者は、現在のセッションの較正スキャン及び較正記録をまだ検証していない場合、較正データファイル及び較正記録の両方を索出することができる。これらの記録は両方とも、以下の表8に概説されるメトリックについてチェックすることができる。較正が有効ではない場合、解析者は、主任解析者に、作業パッケージ所有者及び取得FLMを用いて問題を解決するように通知することができる。
解析者は、提供される基準に従ってUTデータファイル及び対応する検査記録を検討することができる。データ品質への任意の例外は、検査記録に注記することができる。例外が検査記録で識別されていない場合、解析者は再スキャンを要求することができる。
解析者は、フィーダーのUTデータ測定固有の特徴の検討を繰り返すことができる。次に、これらの特徴を、必要に応じて解析パラメーターを変更する基本として用いる。測定可能な幾つかの特定の特徴を以下の表10に記載する。
デフォルトパラメーターを、解析プロセスでの第1のパスに適用することができる。特定の検査データ特徴は、幾つかの処理パラメーターの変更を必要なこととする場合がある。各パスに用いられるパラメーターは、結果ファイルに関連付けられた固有のファイルに保存することができる。
解析者は、結果を索出し検討することができる。結果検討で発見されたものに応じて、解析者は、ファイル全体又はファイルのサブセットでの1回又は複数回のデータの再処理を選ぶことができる。解析者は、処理パラメーターの各セットを各処理ラウンドの別個のファイル名の下に保存することができる。
解析者は、特定の結果情報を結果記録に記録することができる。解析者は傾向ファイルを作成することもできる。補足出力も同様に含めることができる。
幾つかの実施形態では、ソフトウェアは、取得されたUTデータの品質を特定するにあたり解析者を支援する追加情報をユーザーに提供する。幾つかの実施形態では、この解析はステップ5:結果の検討及び検証中に行うことができる。
1)強度マップの任意の場所で見つけられた最大強度(平均化によって無視されたエリアのうちの1つで見つかる可能性が高い)及び/又は、
2)ODの幾何学的形状に基づいて達成可能な理論上でのUT値に基づく、可能な最大強度。
様々な手順の実行に用いられるソフトウェアについて、一実施形態例の一環として以下に詳述する。本説明の末尾の表A1〜表A10は、この実施形態例の文脈の中で用いられる関数及びパラメーターの例を提供する。この実施形態例で用いられるソフトウェアを説明する以下のセクションは、上記のより一般的な用語で説明されたシステムの可能な一実施態様として、単に例示であることを目的とする。
フィーダー溶接部エリア厚測定ツール(WPIT)は、フィーダー溶接部エリアプロファイルの取得、解析、及び表示を行い、流れによって助長される腐食によって生じる最小フィーダー厚を特定するソフトウェアスイートを含む。
これは、Neovisionデータファイルを解析する際のデータフローステップである。
(1)Neovision(登録商標)データファイルが取得された後、取得オペレーター又は解析者のいずれかは、有効データファイルをNeovision(登録商標)に提出することができ、Neovision(登録商標)はデータファイルをグリッドミドルウェアゲートウェイモードに送信し、このデータファイルのジョブを作成する。
(2)解析者はジョブを選択し、データファイルを検査する。解析者は、データファイルを検討した後、解析パラメーターを入力し、ジョブを開始する。Neovision(登録商標)は、要求をグリッドミドルウェアに送信し、グリッドミドルウェアゲートウェイエージェントは、エクスポータープログラムを呼び出すことによって解析を開始する。
(3)エクスポータープログラムは、Neovision(登録商標)データファイルを、MATLAB(登録商標)フォーマットの個々のFMCデータファイルに変換した後、ゲートウェイに送り返す。
(4)ゲートウェイは、利用可能なエージェント機械を見つける場合、FMC.MATファイルをグリッドミドルウェアエージェントに送信する。
(5)エージェントはノードを作成し、FMC.MATファイルを入力パラメーターのうちの1つとして用いる解析プログラムを呼び出す。
(6)解析プログラムは、計算を完了した後、結果FMC.MATファイルをエージェントに送り返す。
(7)エージェントは、結果FMC.MATファイルをゲートウェイに送信し、より多くの解析計算に利用可能なノードを有することをゲートウェイに通知する。
(8)ゲートウェイは、Neovision(登録商標)データファイルの全ての結果FMC.MATファイルを受信すると、統合プログラムを呼び出し、全ての結果FMC.MATファイルを統合プログラムに送信する。
(9)統合プログラムは、報告可能なデータを抽出し、個々の結果を意味がある順序に統合し、結合結果ファイルを元のゲートウェイに出力する。
(10)ゲートウェイは、結果の準備ができたことをNeovision(登録商標)に通知する。次に、ユーザーは、Neovision(登録商標)を介して結合結果ファイルをゲートウェイから索出し、結合結果ファイルのローカルコピーを保存する。
(11)Neovision(登録商標)は、結合結果ファイルを受信した後、結果表示プログラムを呼び出して、データを表示する。ユーザーは、結果表示プログラムにおいてデータの検討、検査、変更、及びエクスポートを行うことができる。
グリッドミドルウェア構成要素は、非常に異なるように挙動する2つのモードで実行することが可能である。一方はゲートウェイであり、他方はエージェントである。機能解析システムは、Neovision(登録商標)の1つのインスタンス、1つのゲートウェイ、及び1つ又は複数のエージェントを有する。ゲートウェイは、解析中、メッセージをNeovision(登録商標)及びエージェント(複数の場合もある)の両方から受信する。一般に、ゲートウェイは通信を開始しないが、これには例外がある。
FMCデータの解析は、上述したように実施される。
プロファイルベースの結果を作成
プロファイルベースの結果は解析結果に基づく。データは再マッピングされ、軸値は必要に応じて変更される。各プロファイルの厚さ値が作成される。スキャン位置及び他のプロファイルに基づく情報が、このセクションで作成される。
統合結果はスタンドアロンMATLAB(登録商標)実行可能ファイルである。統合結果により、スキャンでの個々のプロファイルに基づく結果を統合し、結果ファイルを作成する。結果ファイルが既に存在する場合には、統合結果により、プロファイルに基づく結果のうちの指定されたプロファイルを結果ファイルに統合する。
これは、表示結果プログラムのメインGUIである。全ての他の表示ウィンドウは、このウィンドウに基づいて作成される。ユーザーは、このウィンドウから残りの表示ウィンドウを呼び出すことができ、ユーザーはまた、TMinを変更し、このウィンドウからデータをエクスポートすることができる。
ポップアップウィンドウは、メインウィンドウに基づき、これは、解析表示プログラム内に2つ以上のインスタンスを有することができる唯一のウィンドウである。
概観ウィンドウはメインウィンドウに基づき、シングルトンウィンドウである。
3Dウィンドウはメインウィンドウに基づき、シングルトンウィンドウである。このウィンドウの主な用途は、スキャンの3D表現を提供することである。3Dウィンドウは、展開ビュー及び3Dビューを含む。展開ビューは、プロファイル順に基づいてデータの全てのプロファイルを表示し、かつそれらを並べて表示する。3Dビューは、スキャンの3D再構築である。
TMinを変更する機能は、LoadModifiedTMin関数、SaveModifiedTMin関数、DisplayTMin関数、TMinUitableCellEditCallback関数、及びmenuui_ExportToFigures_Callback関数によって処理される。
エクスポート3Dポイントクラウドは、OD表面及びID表面をポイントクラウド値としてエクスポートする。
エクスポート傾向結果は、スキャンの傾向情報をExcel(登録商標)ファイルにエクスポートする。
1.プロファイル番号
2.TMin
3.周位置(mm)
4.OD軸方向位置(mm単位のX)
5.OD深さ(mm単位のZ)
6.IF軸方向位置(mm単位のX)
7.ID深さ(mm単位のz)
1.プロファイル番号
2.周位置(mm)
3.軸方向位置(mm)
Claims (13)
- 導管の内側及び外側の超音波スキャンを実行する装置であって、
前記導管の外側周縁に嵌合可能となっているカフと、
前記カフに摺動可能に載置され、前記導管の前記外側の周縁を横断するようになっているキャリアと、
前記キャリアに搭載され、該キャリアが前記導管の外側の前記周縁を横断するときに前記導管の内側及び外側の前記周縁をスキャンするように位置決めされる超音波プローブと、
前記カフ又は前記キャリアに搭載され、前記物体の外側の前記周縁の回りでの前記キャリアの移動を駆動するのに用いられるキャリアモーターと、
前記キャリアモーター及び前記超音波プローブに制御情報を提供するとともに、前記超音波プローブからスキャンデータを受信する1つ又は複数のデータ接続と、
を備え、
前記カフが、前記導管の外側の前記周縁と前記カフとの間に液密シールを形成し、
液体スキャン媒質を受け取り、前記カフの内部と前記導管の前記外部との間に画定される前記容積に前記液体スキャン媒質を充填する液体供給源と、
前記キャリアに載置される調整可能なリフレクターと、
前記物体の縦軸に実質的に直交する平面において前記調整可能なリフレクターの角度を制御するリフレクターモーターと、
を更に備え、
前記超音波プローブは、前記調整可能なリフレクターからの超音波信号の反射を介して前記物体をスキャンするように位置決めされ、
前記1つ又は複数のデータ接続は、前記リフレクターモーターに制御情報を提供する、ことを特徴とする装置。 - 前記キャリアモーターへの電力を受け取る電力接続を更に備える、請求項1に記載の装置。
- 前記カフは、該カフと前記導管の回りに嵌合可能な開形状と、前記導管を包囲する閉形状との間で構成可能である、請求項1又は2に記載の装置。
- 前記リフレクターモーターの電力を受け取る電力接続を更に備える、請求項1乃至3のいずれか一項に記載の装置。
- 前記導管は円筒形である、請求項1乃至4のいずれか一項に記載の装置。
- 前記超音波プローブは、超音波送受信機のアレイである、請求項1乃至5のいずれか一項に記載の装置。
- 前記カフはナックルを備え、該ナックルは、前記カフの第1の半分を前記カフの第2の半分に解放可能に固定する、請求項1乃至6のいずれか一項に記載の装置。
- 前記カフは、該カフの第2の半分から着脱可能な前記カフの第1の半分を備える、請求項1乃至7のいずれか一項に記載の装置。
- 導管の内側及び外側の超音波スキャンを実行する装置であって、
前記導管に嵌合するように構成された本体と、
前記本体に搭載され、前記導管の内側及び外側をスキャンするように位置決めされる超音波プローブと、
前記キャリアモーター及び超音波プローブに制御情報を提供し、前記超音波プローブからスキャンデータを受信する1つ又は複数のデータ接続と、
前記キャリアに搭載される調整可能なリフレクターと、
前記物体の縦軸に実質的に直交する平面での前記調整可能なリフレクターの角度を制御するリフレクターモーターと、
を備え、
前記超音波プローブは、前記調整可能なリフレクターからの超音波信号の反射を介して前記物体をスキャンするように位置決めされ、
前記1つ又は複数のデータ接続は、前記リフレクターモーターに制御情報を提供する、装置。 - 前記本体は、前記導管の前記周縁の回りに液密シールを形成し、
該装置は、液体スキャン媒質を受け取り、前記本体の前記内部と前記物体の前記外部との間に画定される前記容積に前記液体スキャン媒質を充填する液体供給源を更に備える、請求項9に記載の装置。 - 前記キャリアモーターの電力を受け取る電力接続を更に備える、請求項9又は10に記載の装置。
- 前記リフレクターモーターの電力を受け取る電力接続を更に備える、請求項9乃至11に記載の装置。
- 前記超音波プローブは、超音波トランスデューサーのアレイである、請求項9至12のいずれか一項に記載の装置。
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