JP6507743B2 - Wiring structure, method of manufacturing wiring structure, and electronic device - Google Patents

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Description

本件は、配線構造、及び配線構造の製造方法、並びに電子機器に関する。   The present invention relates to a wiring structure, a method of manufacturing the wiring structure, and an electronic device.

近年、電子機器には、軽薄化、及び小型化が求められている。そのため、前記電子機器に用いる電子機器筐体においては、肉厚が薄く軽量で、かつ高い剛性を持つ筐体部品が求められている。   2. Description of the Related Art In recent years, electronic devices have been required to be lighter and thinner and smaller. Therefore, in the electronic device casing used for the electronic device, there is a demand for a housing part having a thin thickness, a light weight, and a high rigidity.

前記電子機器のうち、人間が身にまとうことができる端末製品、いわゆるウェアラブル端末は、身体の動きに追従できるように、薄いプラスチックフィルム、ゴム、エラストマのように柔軟な材質に配線や部品を搭載することが要求される。   Among the electronic devices, terminal products that can be worn by human beings, so-called wearable terminals, have wires and parts mounted on a flexible material such as thin plastic film, rubber, and elastomer so that they can follow the movement of the body It is required to

更に、数十μm〜数百μmの隙間の削減が要求される電子機器を、より薄型化、及び高機能化するためには、内部部品を集積し、部品容積を低減することが有効である。しかし、熱対策や、周辺部品との接続のためのレイアウト的な制限があり、実現は難しい。   Furthermore, in order to further reduce the thickness and enhance the functionality of electronic devices that require a reduction in gaps of several tens of micrometers to several hundreds of micrometers, it is effective to integrate internal components and reduce the volume of components. . However, there are thermal limitations and layout restrictions for connecting with peripheral components, which is difficult to realize.

このような状況において、従来は単なるカバー部品や外観部品であった電子機器筐体に電気基板の機能やアンテナ機能などを付与することにより、部品点数を減らしたり、効率的なレイアウトを行うことができる複合筐体を製造する技術が検討されている。   Under such circumstances, it is possible to reduce the number of parts or perform an efficient layout by providing the function of the electric board, the antenna function, etc. to the electronic device casing which has conventionally been a simple cover part or appearance part. A technology for manufacturing a composite housing capable of

一方、樹脂製の基板に電気回路を形成する技術として、従来のフォトリソグラフィーに代わり、導電性インクを用いてインクジェット、スクリーン印刷等の塗布法により電気回路を形成する技術が提案されている(例えば、特許文献1及び2参照)。塗布法による電気回路の形成は、フォトリソグラフィーに比べて、短工程であり、かつ廃棄物が少ないという利点を有するため、注目されている。これらの提案の技術では、樹脂製の基板の耐熱性の観点から、低温で前記導電性インクを焼成する必要がある。そこで、低温での焼成を目的として、基板上にインク受容層を設けている。   On the other hand, as a technique for forming an electric circuit on a resin substrate, a technique for forming an electric circuit by a coating method such as inkjet or screen printing using a conductive ink instead of conventional photolithography has been proposed (for example, , Patent Documents 1 and 2). The formation of an electrical circuit by a coating method has attracted attention because it has the advantages of a short process and less waste as compared to photolithography. In these proposed techniques, it is necessary to bake the conductive ink at a low temperature from the viewpoint of the heat resistance of the resin substrate. Therefore, an ink receiving layer is provided on the substrate for the purpose of baking at a low temperature.

特開2010−010548号公報JP, 2010-010548, A 国際公開WO2013/015056号パンフレットInternational Publication WO 2013/015056 Pamphlet

しかし、前述の提案の技術では、導電性インクにより形成される導電層の導電性が十分であるとはいえない。なお、前述の提案の技術では、例えば、導電性インクにより形成される導電層に銅めっきを施すことにより、導電性を向上させている。   However, in the above-described proposed technology, it can not be said that the conductivity of the conductive layer formed by the conductive ink is sufficient. In the above-mentioned proposed technology, for example, the conductivity is improved by performing copper plating on the conductive layer formed of the conductive ink.

本件は、従来における前記諸問題を解決し、以下の目的を達成することを課題とする。即ち、本件は、導電性に優れる導電層を有する配線構造、及び導電性に優れる導電層を有する配線構造を、短工程、かつ少ない廃棄物で作製できる配線構造の製造方法、並びに、導電性に優れる導電層を有する電子機器を提供することを目的とする。   This case makes it a subject to solve the said problems in the past, and to achieve the following objectives. That is, the present invention relates to a method of manufacturing a wiring structure capable of producing a wiring structure having a conductive layer excellent in conductivity and a wiring structure having a conductive layer excellent in conductivity with a short process and a small amount of waste. An object is to provide an electronic device having an excellent conductive layer.

開示の配線構造は、
樹脂製基材と、
前記樹脂製基材上に配され、アクリルポリオールとイソシアネート硬化剤とが反応してなる硬化樹脂を含有する硬化層と、
前記硬化層上に配され、前記アクリルポリオール、前記イソシアネート硬化剤、及び前記硬化樹脂の少なくともいずれかが混ざり込んでいない、パターン状の導電層と、
を有する。
The disclosed wiring structure is
Resin base material,
A cured layer containing a cured resin which is disposed on the resin base material and which is produced by the reaction of an acrylic polyol and an isocyanate curing agent.
A patterned conductive layer disposed on the cured layer and not mixed with at least one of the acrylic polyol, the isocyanate curing agent, and the cured resin;
Have.

開示の電子機器は、
樹脂製筐体と、
前記樹脂製筐体上に配され、アクリルポリオールとイソシアネート硬化剤とが反応してなる硬化樹脂を含有する硬化層と、
前記硬化層上に配され、前記アクリルポリオール、前記イソシアネート硬化剤、及び前記硬化樹脂の少なくともいずれかが混ざり込んでいない、パターン状の導電層と、
を有する。
The disclosed electronic device is
With a plastic case,
A cured layer containing a cured resin, which is disposed on the resin case and formed by the reaction of an acrylic polyol and an isocyanate curing agent,
A patterned conductive layer disposed on the cured layer and not mixed with at least one of the acrylic polyol, the isocyanate curing agent, and the cured resin;
Have.

開示の配線構造の製造方法は、
樹脂製基材上に、アクリルポリオールとイソシアネート硬化剤とを含有する硬化性塗料を塗布した後に、加熱して、ゲル分率が90質量%以上の硬化樹脂を含有する硬化層を形成する工程と、
前記硬化層上に、導電性インクを塗布した後に、加熱して、パターン状の導電層を形成する工程と、
を含む。
The manufacturing method of the disclosed wiring structure is
A step of forming a cured layer containing a cured resin having a gel fraction of 90% by mass or more by applying a curable coating containing an acrylic polyol and an isocyanate curing agent onto a resin base and heating it. ,
After applying a conductive ink on the cured layer, the conductive ink is heated to form a patterned conductive layer;
including.

開示の配線構造によると、導電性に優れる導電層を有する配線構造が得られる。
開示の配線構造の製造方法によると、導電性に優れる導電層を有する配線構造を、短工程、かつ少ない廃棄物で作製できる。
開示の電子機器によると、導電性に優れる導電層を有する電子機器が得られる。
According to the disclosed wiring structure, a wiring structure having a conductive layer excellent in conductivity can be obtained.
According to the disclosed method for manufacturing a wiring structure, a wiring structure having a conductive layer excellent in conductivity can be manufactured in a short process and with less waste.
According to the disclosed electronic device, an electronic device having a conductive layer excellent in conductivity can be obtained.

図1Aは、開示の電子機器の一例であるノート型パソコンの斜視図である。FIG. 1A is a perspective view of a notebook computer which is an example of the disclosed electronic device. 図1Bは、図1Aの部分断面図である。FIG. 1B is a partial cross-sectional view of FIG. 1A. 図2Aは、開示の電子機器の他の一例であるノート型パソコンの斜視図である。FIG. 2A is a perspective view of a notebook computer as another example of the disclosed electronic device. 図2Bは、図2Aの部分断面図である。FIG. 2B is a partial cross-sectional view of FIG. 2A. 図3は、開示の電子機器の他の一例である多機能携帯電話(スマートフォン)の背面図である。FIG. 3 is a rear view of a multifunctional mobile phone (smart phone) which is another example of the disclosed electronic device. 図4は、硬化層形成工程において硬化層の硬化が不十分な場合の配線構造の概略断面図である。FIG. 4 is a schematic cross-sectional view of the wiring structure in the case where the hardening of the hardened layer is insufficient in the hardened layer forming step. 図5は、硬化層形成工程において硬化層の硬化が十分な場合の配線構造の概略断面図である。FIG. 5 is a schematic cross-sectional view of the wiring structure in the case where the hardening of the hardened layer is sufficient in the hardened layer forming step. 図6は、実施例5の配線構造の断面SEM写真である。FIG. 6 is a cross-sectional SEM photograph of the wiring structure of the fifth embodiment. 図7は、比較例1の配線構造の断面SEM写真である。FIG. 7 is a cross-sectional SEM photograph of the wiring structure of Comparative Example 1.

(配線構造、及び電子機器)
開示の配線構造は、樹脂製基材と、硬化層と、導電層とを少なくとも有し、更に必要に応じて、その他の部材を有する。
(Wiring structure and electronic equipment)
The disclosed wiring structure includes at least a resin base, a cured layer, and a conductive layer, and further includes other members as necessary.

開示の電子機器は、樹脂製筐体と、硬化層と、導電層とを少なくとも有し、更に必要に応じて、その他の部材を有する。   The disclosed electronic device includes at least a resin housing, a cured layer, and a conductive layer, and further includes other members as necessary.

<樹脂製基材、及び樹脂製筐体>
前記樹脂製基材、及び前記樹脂製筐体の材質としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、トリアセチルセルロース(TAC)、ポリエステル(TPEE)、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリイミド(PI)、ポリアミド(PA)、アラミド、ポリエチレン(PE)、ポリアクリレート、ポリエーテルスルフォン、ポリスルフォン、ポリプロピレン(PP)、ポリスチレン、ジアセチルセルロース、ポリ塩化ビニル、アクリル樹脂(PMMA)、ポリカーボネート(PC)、エポキシ樹脂、尿素樹脂、ウレタン樹脂、メラミン樹脂、フェノール樹脂、アクリロニトリル・ブタジエン・スチレン共重合体、シクロオレフィンポリマー(COP)、シクロオレフィンコポリマー(COC)、PC/PMMA積層体、ゴム添加PMMAなどが挙げられる。
<Resin base material and resin case>
There is no restriction | limiting in particular as a material of the said resin-made base materials and the said resin-made housings, According to the objective, it can select suitably, For example, a triacetyl cellulose (TAC), polyester (TPEE), a polyethylene terephthalate ( PET), polyethylene naphthalate (PEN), polyimide (PI), polyamide (PA), aramid, polyethylene (PE), polyacrylate, polyether sulfone, polysulfone, polypropylene (PP), polystyrene, diacetyl cellulose, polyvinyl chloride , Acrylic resin (PMMA), polycarbonate (PC), epoxy resin, urea resin, urethane resin, melamine resin, phenol resin, acrylonitrile butadiene styrene copolymer, cycloolefin polymer (COP), cycloolefin Nko polymer (COC), PC / PMMA laminate, such as rubber additives PMMA and the like.

前記樹脂製基材、及び前記樹脂製筐体の形状としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。   There is no restriction | limiting in particular as a shape of the said resin-made base materials and the said resin-made housing | casing, According to the objective, it can select suitably.

前記樹脂製基材、及び前記樹脂製筐体の表面には、文字、模様、画像などが印刷されていてもよい。これらは、前記硬化層、及び前記導電層が配される箇所以外に形成されていることが好ましい。   A character, a pattern, an image, etc. may be printed on the surface of the resinous substrate and the resinous case. It is preferable that these are formed in the area | region where the said hardened layer and the said conductive layer are distribute | arranged.

<硬化層>
前記硬化層は、前記樹脂製基材、又は前記樹脂製筐体上に配される。
前記硬化層は、硬化樹脂を少なくとも含有し、好ましくは熱伝導性粒子を含有し、更に必要に応じて、その他の成分を含有する。
<Hardened layer>
The cured layer is disposed on the resin base or the resin housing.
The cured layer contains at least a cured resin, preferably contains thermally conductive particles, and further contains other components as required.

前記硬化層は、前記樹脂製基材、又は前記樹脂製筐体上の一部に形成されていてもよいし、全部に形成されていてもよい。   The cured layer may be formed on the resin base material, or a part of the resin case, or may be formed on the entire surface.

<<硬化樹脂>>
前記硬化樹脂は、アクリルポリオールとイソシアネート硬化剤とが反応してなる。
<< Curing resin >>
The cured resin is formed by the reaction of an acrylic polyol and an isocyanate curing agent.

−アクリルポリオール−
前記アクリルポリオールとしては、複数の水酸基を有するアクリル樹脂であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。
-Acrylic polyol-
There is no restriction | limiting in particular as said acrylic polyol, if it is an acrylic resin which has several hydroxyl group, According to the objective, it can select suitably.

前記アクリルポリオールは、例えば、アクリルモノマーと、水酸基含有(メタ)アクリルモノマーとを共重合させて合成することができる。   The acrylic polyol can be synthesized, for example, by copolymerizing an acrylic monomer and a hydroxyl group-containing (meth) acrylic monomer.

前記水酸基含有(メタ)アクリルモノマーとしては、例えば、ヒドロキシアルキル(メタ)アクリレートなどが挙げられる。前記ヒドロキシアルキル(メタ)アクリレートとしては、例えば、2−ヒドロキシエチルアクリレート、2−ヒドロキシエチルメタクリレート、4−ヒドロキシブチルアクリレート、1,4−シクロヘキサンジオールモノアクリレートなどが挙げられる。
前記ヒドロキシアルキル(メタ)アクリレートのアルキル基は、直鎖状、分岐状及び環状のいずれであってもよく、炭素数1〜10のものが好ましく、炭素数1〜6のものがより好ましい。
Examples of the hydroxyl group-containing (meth) acrylic monomer include hydroxyalkyl (meth) acrylate. As said hydroxyalkyl (meth) acrylate, 2-hydroxyethyl acrylate, 2-hydroxyethyl methacrylate, 4-hydroxybutyl acrylate, 1, 4- cyclohexanediol monoacrylate etc. are mentioned, for example.
The alkyl group of the hydroxyalkyl (meth) acrylate may be linear, branched or cyclic, preferably has 1 to 10 carbon atoms, and more preferably 1 to 6 carbon atoms.

前記アクリルモノマーとしては、例えば、(メタ)アクリル酸、(メタ)アクリル酸アルキルエステルなどが挙げられる。前記(メタ)アクリル酸アルキルエステルとしては、例えば、(メタ)アクリル酸メチル、(メタ)アクリル酸エチル、(メタ)アクリル酸−n−プロピル、(メタ)アクリル酸イソプロピル、(メタ)アクリル酸−n−ブチル、(メタ)アクリル酸イソブチルなどが挙げられる。
これらのアクリルモノマーは、1種単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
Examples of the acrylic monomer include (meth) acrylic acid and (meth) acrylic acid alkyl ester. Examples of the (meth) acrylic acid alkyl ester include methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, n-propyl (meth) acrylate, isopropyl (meth) acrylate, (meth) acrylic acid- n-butyl, isobutyl (meth) acrylate and the like can be mentioned.
These acrylic monomers may be used alone or in combination of two or more.

−イソシアネート硬化剤−
前記イソシアネート硬化剤としては、前記アクリルポリオールと反応して、前記硬化樹脂を形成可能であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、分子中に2個以上のイソシアネート基を有する多価イソシアネートが挙げられる。
そのような多価イソシアネートとしては、例えば、芳香族イソシアネート、脂肪族(又は脂環族)イソシアネートなどが挙げられる。
前記芳香族イソシアネートとしては、例えば、キシリレンジイソシアネート、4,4−ジフェニルメタンジイソシアネートなどが挙げられる。
前記脂肪族(又は脂環族)イソシアネートとしては、例えば、ヘキサメチレンジイソシアネート、イソホロンジイソシアネート、水素添加トリレンジイソシアネート、水素添加ジフェニルメタンジイソシアネートなどが挙げられる。
これらのイソシアネート硬化剤は、1種単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
-Isocyanate curing agent-
The isocyanate curing agent is not particularly limited as long as it can react with the acrylic polyol to form the cured resin, and can be appropriately selected according to the purpose. For example, two or more in a molecule Polyvalent isocyanate which has an isocyanate group is mentioned.
As such polyvalent isocyanate, aromatic isocyanate, aliphatic (or alicyclic) isocyanate, etc. are mentioned, for example.
Examples of the aromatic isocyanate include xylylene diisocyanate and 4,4-diphenylmethane diisocyanate.
Examples of the aliphatic (or alicyclic) isocyanate include hexamethylene diisocyanate, isophorone diisocyanate, hydrogenated tolylene diisocyanate, hydrogenated diphenylmethane diisocyanate and the like.
These isocyanate curing agents may be used alone or in combination of two or more.

また、前記イソシアネート硬化剤としては、分子中に2個以上のイソシアネート基を有する多価イソシアネートのイソシアネート基がブロック剤によりブロックされたブロックイソシアネートであってもよい。   The isocyanate curing agent may be a blocked isocyanate in which an isocyanate group of a polyvalent isocyanate having two or more isocyanate groups in the molecule is blocked by a blocking agent.

前記アクリルポリオールと、前記イソシアネート硬化剤とを反応させる際の、前記アクリルポリオールと、前記イソシアネート硬化剤との比率としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。   There is no restriction | limiting in particular as a ratio with the said acrylic polyol and the said isocyanate curing agent at the time of making the said acrylic polyol and the said isocyanate curing agent react, According to the objective, it can select suitably.

<<熱伝導性粒子>>
前記熱伝導性粒子としては、熱伝導性に優れる粒子であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、その材質としては、例えば、酸化アルミニウム、窒化アルミニウム、水酸化アルミニウム、酸化ケイ素、窒化ホウ素、酸化チタン、ガラス、酸化亜鉛、炭化ケイ素、ケイ素(シリコン)などが挙げられる。
これらの中でも、絶縁性と熱伝導性との両方に優れる点で、酸化チタン、酸化ケイ素、酸化アルミニウム、窒化ホウ素が好ましい。
<< Thermally conductive particles >>
The thermally conductive particles are not particularly limited as long as they are particles having excellent thermal conductivity, and can be appropriately selected according to the purpose. Examples of the material include aluminum oxide, aluminum nitride, and aluminum hydroxide. Silicon oxide, boron nitride, titanium oxide, glass, zinc oxide, silicon carbide, silicon (silicon) and the like.
Among these, titanium oxide, silicon oxide, aluminum oxide and boron nitride are preferable in that they are both excellent in insulation and thermal conductivity.

前記硬化層における前記熱伝導性粒子の含有量としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、40質量%〜60質量%が好ましい。   There is no restriction | limiting in particular as content of the said heat conductive particle in the said hardened layer, Although it can select suitably according to the objective, 40 mass%-60 mass% are preferable.

前記硬化層の平均厚みとしては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、導電性の優れる前記導電層が得られやすい点で、1μm〜100μmが好ましく、5μm〜80μmがより好ましく、10μm〜70μmが特に好ましい。
前記平均厚みが、特に好ましい範囲内であると、以下の点で有利である。前記硬化層自体の強度に優れ、欠陥が少なく、かつ前記樹脂製基材への密着性が優れる。また、(1)前記樹脂製基材の熱可塑性樹脂が前記導電層を形成する際の導電性インク中の溶媒に直接アタックされるのを防ぐ点、(2)前記導電層を形成する際の導電性インク中の有機成分を十分に吸収できる点、及び(3)熱伝導性に優れる点、の3つの点についてバランスの良い硬化層が得られる。
一方、前記硬化層の平均厚みが、薄すぎると、前記硬化層の強度が弱く破れやすいことがあり、厚すぎると、欠陥(乾燥時のヒビや気泡)が発生しやすく、また、前記樹脂製基材との膨張収縮差や伸びの差により剥がれやすくなることがある。
なお、前記平均厚みは、任意の10箇所を測定した際の平均値である。
There is no restriction | limiting in particular as an average thickness of the said hardened layer, Although it can select suitably according to the objective, 1 micrometer-100 micrometers are preferable at the point which the said conductive layer which is excellent in conductivity is easy to obtain, 5 micrometers-80 micrometers More preferably, 10 μm to 70 μm is particularly preferable.
It is advantageous at the following points that the said average thickness is in the especially preferable range. The strength of the cured layer itself is excellent, the number of defects is small, and the adhesion to the resin base material is excellent. In addition, (1) the thermoplastic resin of the resin base material is prevented from being attacked directly by the solvent in the conductive ink when the conductive layer is formed, and (2) when the conductive layer is formed. A well-balanced cured layer can be obtained in three points of sufficient absorption of the organic component in the conductive ink and (3) excellent thermal conductivity.
On the other hand, if the average thickness of the cured layer is too thin, the strength of the cured layer may be weak and easily broken, and if the thickness is too thick, defects (such as cracks and bubbles upon drying) are easily generated. It may become easy to peel off due to the difference in expansion and contraction with the substrate and the difference in elongation.
In addition, the said average thickness is an average value at the time of measuring arbitrary ten places.

<導電層>
前記導電層は、前記硬化層上に配される。
前記導電層には、前記アクリルポリオール、前記イソシアネート硬化剤、及び前記硬化樹脂の少なくともいずれかが混ざり込んでいない。前記導電層に前記アクリルポリオール、前記イソシアネート硬化剤、及び前記硬化樹脂の少なくともいずれかが混ざり込んでいると、導電層における導電性が低下する。
<Conductive layer>
The conductive layer is disposed on the hardened layer.
At least one of the acrylic polyol, the isocyanate curing agent, and the curing resin is not mixed in the conductive layer. When at least one of the acrylic polyol, the isocyanate curing agent, and the cured resin is mixed in the conductive layer, the conductivity in the conductive layer is lowered.

前記導電層は、パターン状であれば、その形状としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。   The shape of the conductive layer is not particularly limited as long as it has a pattern, and can be appropriately selected according to the purpose.

パターン状の前記導電層は、前記硬化層上の一部に形成されていてもよいし、全部に形成されていてもよい。   The patterned conductive layer may be formed on a part or the whole of the cured layer.

パターン状の前記導電層は、表面が平坦であることが好ましい。   The patterned conductive layer preferably has a flat surface.

前記導電層の電気抵抗率としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、1.0×10−7Ω・m未満であることが好ましい。前記電気抵抗率の下限値としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、前記電気抵抗率は、1.0×10−10Ω・m以上が好ましく、1.0×10−9Ω・m以上がより好ましい。 There is no restriction | limiting in particular as an electrical resistivity of the said conductive layer, Although it can select suitably according to the objective, It is preferable that it is less than 1.0x10 <-7> ohm * m. There is no restriction | limiting in particular as a lower limit of the said electrical resistivity, Although it can select suitably according to the objective, 1.0 * 10 < -10 > ohm * m or more is preferable, and the said electrical resistivity is 1.0 × 10 −9 Ω · m or more is more preferable.

前記導電層は、導電性粒子の集合体からなることが好ましい。このことは、言い換えれば、前記導電層が導電性インクにより形成されていることを意味する。導電層が、物理蒸着法、化学蒸着法、スパッタリング法等の所謂乾式法により形成されている場合、導電層に導電性粒子は観察されない。一方、導電層が、導電性インクにより形成されている場合、導電性粒子が凝集した集合体が観察される。   The conductive layer is preferably made of an aggregate of conductive particles. In other words, this means that the conductive layer is formed of a conductive ink. When the conductive layer is formed by a so-called dry method such as physical vapor deposition, chemical vapor deposition, or sputtering, conductive particles are not observed in the conductive layer. On the other hand, when the conductive layer is formed of a conductive ink, an aggregate in which conductive particles are aggregated is observed.

前記導電層の材質としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、遷移金属などが挙げられる。前記遷移金属としては、イオン性の遷移金属が好ましく、そのような遷移金属としては、例えば、銅、銀、金、ニッケル、パラジウム、白金、コバルトが好ましく、電気抵抗が低く、腐食に強い導電性パターンを形成できる点で、銀、金、銅がより好ましい。   There is no restriction | limiting in particular as a material of the said conductive layer, According to the objective, it can select suitably, For example, a transition metal etc. are mentioned. As the transition metal, an ionic transition metal is preferable. As such a transition metal, for example, copper, silver, gold, nickel, palladium, platinum, cobalt are preferable, and their electrical resistance is low and corrosion resistance is high. Silver, gold and copper are more preferable in that they can form a pattern.

前記導電層の平均厚みとしては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、1μm〜100μmが好ましく、5μm〜50μmがより好ましく、10μm〜30μmが特に好ましい。前記平均厚みが、特に好ましい範囲内であると、前記導電層を形成する際、焼成膜から有機成分を除去しやすく、優れた導電層が形成できる。そのため、前記導電層を、より低温及び短時間で形成することができる。
前記平均厚みは、任意の10箇所を測定した際の平均値である。
There is no restriction | limiting in particular as an average thickness of the said conductive layer, Although it can select suitably according to the objective, 1 micrometer-100 micrometers are preferable, 5 micrometers-50 micrometers are more preferable, and 10 micrometers-30 micrometers are especially preferable. When forming the said conductive layer as the said average thickness is in a preferable range, it is easy to remove an organic component from a baking film, and can form the outstanding conductive layer. Therefore, the conductive layer can be formed at a lower temperature and in a short time.
The said average thickness is an average value at the time of measuring arbitrary ten places.

前記導電層は、例えば、アンテナ、その他の回路などの役割を果たす。   The conductive layer plays a role of, for example, an antenna and other circuits.

前記導電層と、前記硬化層との界面は、平坦であることが、均一な厚みの前記導電層が得られる点で好ましい。前記導電層と、前記硬化層との界面を平坦にする方法としては、例えば、前記導電層を形成する際に前記硬化層の成分が前記導電層に混ざり込まないようにする方法が挙げられ、例えば、後述する開示の配線構造の製造方法が挙げられる。   The interface between the conductive layer and the hardened layer is preferably flat in that the conductive layer having a uniform thickness can be obtained. Examples of a method of flattening the interface between the conductive layer and the hardened layer include a method of preventing the components of the hardened layer from being mixed into the conductive layer when forming the conductive layer, For example, the manufacturing method of the wiring structure of the indication disclosed later may be mentioned.

前記電子機器としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、パソコン(ノート型パソコン、デスクトップ型パソコン)、電話機、携帯電話、コピー機、ファクシミリ、各種プリンター、デジタルカメラ、テレビ、ビデオ、CD装置、DVD装置、エアコン、リモコン装置などが挙げられる。   There is no restriction | limiting in particular as said electronic device, According to the objective, it can select suitably, For example, a personal computer (notebook type personal computer, desktop type personal computer), a telephone, a mobile telephone, a copier, a facsimile, various printers, a digital camera Television, video, CD device, DVD device, air conditioner, remote control device, etc.

前記配線構造は、例えば、半導体素子を備え、前記電子機器の内部に収容される。
前記半導体素子としては、例えば、集積回路、大規模集積回路、トランジスタ、サイリ
スタ、ダイオード、固体撮像素子などが挙げられる。
The wiring structure includes, for example, a semiconductor element, and is housed inside the electronic device.
As said semiconductor element, an integrated circuit, a large scale integrated circuit, a transistor, a thyristor, a diode, a solid-state image sensor etc. are mentioned, for example.

ここで、開示の電子機器の一例を図で示す。
図1Aは、開示の電子機器の一例であるノート型パソコンの斜視図である。
図1Aに示すノート型パソコンにおいては、液晶表示側の樹脂製筐体11に、パターン状の導電層3が、図1Bに示すように、硬化層2を介して筐体内部側に形成されている。パターン状の導電層3は、アンテナの役割を果たしている。
Here, an example of the disclosed electronic device is illustrated.
FIG. 1A is a perspective view of a notebook computer which is an example of the disclosed electronic device.
In the notebook personal computer shown in FIG. 1A, a conductive layer 3 in the form of a pattern is formed on the inside of the case via a hardened layer 2 as shown in FIG. 1B in a resin case 11 on the liquid crystal display side. There is. The patterned conductive layer 3 plays the role of an antenna.

次に、開示の電子機器の他の一例を図で示す。
図2Aは、開示の電子機器の他の一例であるノート型パソコンの斜視図である。
図2Aに示すノート型パソコンにおいては、キーボード側の樹脂製筐体11に、パターン状の導電層3が、図2Bに示すように、硬化層2を介して形成されている。そして、パターン状の導電層3は、サブディスプレイ4と、サブディスプレイ4を制御する半導体素子とを接続する配線の役割を果たしている。
Next, another example of the disclosed electronic device is illustrated.
FIG. 2A is a perspective view of a notebook computer as another example of the disclosed electronic device.
In the notebook personal computer shown in FIG. 2A, a conductive layer 3 in the form of a pattern is formed on the resin case 11 on the keyboard side via the hardened layer 2 as shown in FIG. 2B. The patterned conductive layer 3 plays a role of wiring that connects the sub display 4 and the semiconductor element that controls the sub display 4.

次に、開示の電子機器の他の一例を図で示す。
図3は、開示の電子機器の他の一例である多機能携帯電話(スマートフォン)の背面図である。図3に示す多機能携帯電話は、CCDカメラ5を有する。樹脂製筐体11の内側に、硬化層を介して形成された導電層3は、CCDカメラ5と、CCDカメラ5を制御する半導体素子とを接続する配線の役割を果たしている。
Next, another example of the disclosed electronic device is illustrated.
FIG. 3 is a rear view of a multifunctional mobile phone (smart phone) which is another example of the disclosed electronic device. The multifunction mobile phone shown in FIG. 3 has a CCD camera 5. The conductive layer 3 formed inside the resin casing 11 via the hardened layer plays a role of a wire connecting the CCD camera 5 and a semiconductor element that controls the CCD camera 5.

(配線構造の製造方法)
開示の配線構造の製造方法は、硬化層形成工程と、導電層形成工程とを少なくとも含み、更に必要に応じて、その他の工程を含む。
(Method of manufacturing wiring structure)
The manufacturing method of the disclosed wiring structure at least includes a hardened layer forming step and a conductive layer forming step, and further includes other steps as necessary.

<硬化層形成工程>
前記硬化層形成工程としては、樹脂製基材上に、硬化性塗料を塗布した後に、加熱して、ゲル分率が90質量%以上の硬化樹脂を含有する硬化層を形成する工程であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。
<Hardened layer formation process>
In the step of forming a cured layer, the curable coating is applied on a resinous substrate and then heated to form a cured layer containing a cured resin having a gel fraction of 90% by mass or more. There is no particular limitation, and it can be selected appropriately according to the purpose.

前記硬化性塗料は、アクリルポリオールとイソシアネート硬化剤とを含有する。   The curable coating contains an acrylic polyol and an isocyanate curing agent.

開示の配線構造の製造方法においては、前記硬化層を設けることにより、導電層を形成する際に導電性インクの溶剤が前記硬化層に吸収される。そのため、前記導電性インクの焼成の効率が高くなり、前記硬化層を設けない場合に比べて、導電性に優れる導電層が形成できる。   In the method of manufacturing the disclosed wiring structure, the solvent of the conductive ink is absorbed by the cured layer when the conductive layer is formed by providing the cured layer. Therefore, the efficiency of firing of the conductive ink is increased, and a conductive layer having excellent conductivity can be formed as compared with the case where the cured layer is not provided.

しかし、前記硬化層の前記硬化樹脂のゲル分率が90質量%未満であると、前記導電層形成工程において導電層を形成する際に、前記導電層に、前記アクリルポリオール、前記イソシアネート硬化剤、及び前記硬化樹脂の少なくともいずれかが混ざり込んでしまう。その結果、前記導電層における導電性粒子の結合状態が不十分になり、導電層の電気抵抗率が高くなってしまう。
一方、前記硬化層の前記硬化樹脂のゲル分率が90質量%以上であると、前記導電層形成工程において導電層を形成する際に、前記導電層に、前記アクリルポリオール、前記イソシアネート硬化剤、及び前記硬化樹脂の少なくともいずれかが混ざり込んでしまうことがない。その結果、前記導電層における導電性粒子の結合状態が十分になり、導電層の電気抵抗率が低くなる。
However, when the conductive layer is formed in the conductive layer forming step, if the gel fraction of the cured resin of the cured layer is less than 90% by mass, the conductive layer may contain the acrylic polyol, the isocyanate curing agent, And at least one of the said hardening resin will be mixed in. As a result, the bonding state of the conductive particles in the conductive layer becomes insufficient, and the electrical resistivity of the conductive layer becomes high.
On the other hand, when the conductive layer is formed in the conductive layer forming step, when the gel fraction of the cured resin of the cured layer is 90% by mass or more, the acrylic polyol, the isocyanate curing agent, and the like in the conductive layer And at least one of the said cured resin will not be mixed in. As a result, the bonding state of the conductive particles in the conductive layer becomes sufficient, and the electrical resistivity of the conductive layer becomes low.

上記のことを模式図(図4及び図5)を用いて説明する。
図4は、硬化層形成工程において硬化層の硬化が不十分な場合の配線構造の概略断面図である。
硬化樹脂のゲル分率が90質量%未満の状態で形成された硬化層上に導電性インクを用いて導電層を形成すると、図4に示すように、硬化層の一部が導電層に侵入する。その結果、導電層を形成する導電性粒子の結合状態が不十分になり、導電層の電気抵抗率が高くなってしまう。また、硬化層の一部が導電層に侵入すると、硬化層と導電層との界面が不明瞭になったり、図4に示すように、前記界面が平坦ではなくなったりする。
The above will be described using schematic diagrams (FIGS. 4 and 5).
FIG. 4 is a schematic cross-sectional view of the wiring structure in the case where the hardening of the hardened layer is insufficient in the hardened layer forming step.
When a conductive layer is formed using a conductive ink on the cured layer formed with the gel fraction of the cured resin being less than 90% by mass, part of the cured layer penetrates the conductive layer, as shown in FIG. Do. As a result, the bonding state of the conductive particles forming the conductive layer becomes insufficient, and the electrical resistivity of the conductive layer becomes high. In addition, when part of the hardened layer intrudes into the conductive layer, the interface between the hardened layer and the conductive layer becomes unclear, or as shown in FIG. 4, the interface becomes uneven.

図5は、硬化層形成工程において硬化層の硬化が十分な場合の配線構造の概略断面図である。
硬化樹脂のゲル分率が90質量以上の状態で形成された硬化層上に導電性インクを用いて導電層を形成すると、図5に示すように、硬化層の一部が導電層に侵入することはない。その結果、導電層を形成する導電性粒子の結合状態が十分になり、導電層の電気抵抗率が低くなる。また、硬化層の一部が導電層に侵入しないため、硬化層と導電層との界面は明瞭であり、また図4に示すように、前記界面は平坦である。
FIG. 5 is a schematic cross-sectional view of the wiring structure in the case where the hardening of the hardened layer is sufficient in the hardened layer forming step.
When a conductive layer is formed using a conductive ink on the cured layer formed in a state where the gel fraction of the cured resin is 90 mass or more, as shown in FIG. 5, a part of the cured layer penetrates the conductive layer There is nothing to do. As a result, the bonding state of the conductive particles forming the conductive layer becomes sufficient, and the electrical resistivity of the conductive layer becomes low. In addition, since a part of the hardened layer does not penetrate into the conductive layer, the interface between the hardened layer and the conductive layer is clear, and as shown in FIG. 4, the interface is flat.

前記硬化層形成工程においては、前記硬化層を、前記樹脂製基材上の一部に形成してもよいし、全部に形成してもよい。   In the hardened layer forming step, the hardened layer may be formed on a part of the resin base material or may be formed on the whole.

前記樹脂製基材としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、前記配線構造の説明において例示した前記樹脂製基材などが挙げられる。   There is no restriction | limiting in particular as said resin-made base materials, According to the objective, it can select suitably, For example, the said resin-made base materials etc. which were illustrated in description of the said wiring structure etc. are mentioned.

<<硬化性塗料>>
前記硬化性塗料としては、アクリルポリオールとイソシアネート硬化剤とを含有する塗料であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、2液型のアクリルウレタン塗料などが挙げられる。
<< Curable paint >>
The curable coating is not particularly limited as long as it is a coating containing an acrylic polyol and an isocyanate curing agent, and can be appropriately selected according to the purpose. For example, a two-component acrylic urethane coating and the like can be mentioned. Be

前記アクリルポリオールとしては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、前記配線構造の説明において例示した前記アクリルポリオールなどが挙げられる。   There is no restriction | limiting in particular as said acrylic polyol, According to the objective, it can select suitably, For example, the said acrylic polyol etc. which were illustrated in description of the said wiring structure are mentioned.

前記イソシアネート硬化剤としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、前記配線構造の説明において例示した前記イソシアネート硬化剤などが挙げられる。   There is no restriction | limiting in particular as said isocyanate hardening agent, According to the objective, it can select suitably, For example, the said isocyanate hardening agent illustrated in description of the said wiring structure etc. are mentioned.

前記硬化性塗料は、更に熱伝導性粒子を含有することが、前記導電層形成工程において導電性に優れる前記導電層を形成できる点で好ましい。
前記熱伝導性粒子としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、前記配線構造の説明において例示した前記熱伝導性粒子などが挙げられる。
It is preferable that the curable coating material further contains heat conductive particles in that the conductive layer having excellent conductivity can be formed in the conductive layer forming step.
There is no restriction | limiting in particular as said thermally conductive particle, According to the objective, it can select suitably, For example, the said thermally conductive particle etc. which were illustrated in description of the said wiring structure are mentioned.

前記硬化性塗料を、前記樹脂製基材上に塗布する方法としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、バーコーター法、スプレーコート法、カーテンコート法、スピンコート法、グラビヤコート法、ディップ法などが挙げられる。   There is no restriction | limiting in particular as a method to apply | coat the said curable coating material on the said resin-made base materials, According to the objective, it can select suitably, For example, a bar coater method, a spray coat method, a curtain coat method, spin Coating methods, gravure coating methods, dipping methods and the like can be mentioned.

前記樹脂製基材上に、前記硬化性塗料を塗布した後に、加熱する際の加熱温度としては、前記アクリルポリオールと、前記イソシアネート硬化剤とが反応し、ゲル分率が90質量%以上の硬化樹脂が得られる温度であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、100℃〜150℃などが挙げられる。
前記樹脂製基材上に、前記硬化性塗料を塗布した後に、加熱する際の加熱時間としては、前記アクリルポリオールと、前記イソシアネート硬化剤とが反応し、ゲル分率が90質量%以上の硬化樹脂が得られる時間であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。
As a heating temperature at the time of heating after applying the said curable coating material on the said resin-made base materials, the said acrylic polyol and the said isocyanate curing agent react, and a gel fraction hardens 90 mass% or more There is no restriction | limiting in particular if it is temperature which resin is obtained, According to the objective, it can select suitably, For example, 100 degreeC-150 degreeC etc. are mentioned.
The acrylic polyol and the isocyanate curing agent react with each other as a heating time for heating after applying the curable coating on the resin base material, and curing with a gel fraction of 90% by mass or more There is no particular limitation as long as it is time to obtain a resin, and it can be selected appropriately according to the purpose.

ここで、前記硬化層における硬化樹脂のゲル分率は、抽出溶剤として、アセトンを用い、JIS K 6796に従って測定することで求めることができる。   Here, the gel fraction of the cured resin in the cured layer can be determined by measuring acetone according to JIS K 6796 as an extraction solvent.

<導電層形成工程>
前記導電層形成工程としては、前記硬化層上に、導電性インクを塗布した後に、加熱して、パターン状の導電層を形成する工程であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。
<Conductive layer forming process>
The conductive layer forming step is not particularly limited as long as it is a step of applying a conductive ink on the cured layer and then heating to form a conductive layer in a pattern shape, and it is appropriately selected according to the purpose. can do.

前記導電層形成工程においては、パターン状の前記導電層を、前記硬化層上の一部に形成してもよいし、全部に形成してもよい。   In the conductive layer forming step, the conductive layer in a pattern may be formed on a part or all of the cured layer.

<<導電性インク>>
前記導電性インクは、導電性物質を少なくとも含有し、好ましくは溶媒を含有し、更に必要に応じて、その他の成分を含有する。
<< Conductive ink >>
The conductive ink contains at least a conductive substance, preferably contains a solvent, and further contains other components as required.

−導電性物質−
前記導電性物質としては、例えば、遷移金属、その化合物などが挙げられる。これらの中でも、イオン性の遷移金属が好ましく、そのような遷移金属としては、銅、銀、金、ニッケル、パラジウム、白金、コバルトが好ましく、電気抵抗が低く、腐食に強い導電性パターンを形成できる点で、銀、金、銅がより好ましい。
-Conductive substance-
Examples of the conductive substance include transition metals and compounds thereof. Among these, ionic transition metals are preferable, and as such a transition metal, copper, silver, gold, nickel, palladium, platinum, cobalt are preferable, the electric resistance is low, and a conductive pattern resistant to corrosion can be formed. In terms of point, silver, gold and copper are more preferable.

前記導電性物質としては、概ね1nm〜50nm程度の平均粒径を有する粒子状のものを使用することが好ましい。なお、前記平均粒径は、中心粒径(D50)を意味するものであり、レーザー回折散乱式粒度分布測定装置で測定した場合の値を示す。   As the conductive material, it is preferable to use a particulate material having an average particle diameter of about 1 nm to about 50 nm. In addition, the said average particle diameter means a center particle diameter (D50), and shows the value at the time of measuring with a laser diffraction scattering type particle size distribution measuring apparatus.

前記導電性インクにおける前記導電性物質の含有量としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、5質量%〜60質量%が好ましく、10質量%〜50質量%がより好ましい。   There is no restriction | limiting in particular as content of the said conductive substance in the said conductive ink, Although it can select suitably according to the objective, 5 mass%-60 mass% are preferable, and 10 mass%-50 mass% More preferable.

−溶媒−
前記溶媒としては、例えば、有機溶媒、水などが挙げられる。
-Solvent-
Examples of the solvent include organic solvents and water.

前記有機溶媒としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、テトラデカン等の炭化水素;シクロヘキサン、シクロドデセン等の環状炭化水素;トルエン、キシレン、メシチレン等の芳香族炭化水素などが挙げられる。これらは、1種単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。   The organic solvent is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the purpose. Examples thereof include hydrocarbons such as tetradecane; cyclic hydrocarbons such as cyclohexane and cyclododecene; aromatic hydrocarbons such as toluene, xylene and mesitylene Etc. These may be used alone or in combination of two or more.

前記導電性インクにおける前記溶媒の含有量としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、35質量%〜90質量%が好ましい。   There is no restriction | limiting in particular as content of the said solvent in the said conductive ink, Although it can select suitably according to the objective, 35 mass%-90 mass% are preferable.

−その他の成分−
前記その他の成分としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、前記導電性物質を分散させる分散剤などが挙げられる。
-Other ingredients-
There is no restriction | limiting in particular as said other component, According to the objective, it can select suitably, For example, the dispersing agent etc. which disperse | distribute the said electroconductive substance are mentioned.

前記分散剤としては、例えば、アミン系の高分子分散剤、分子中にカルボン酸基を有する炭化水素系の高分子分散剤、極性基を有する高分子分散剤などが挙げられる。
前記アミン系の高分子分散剤としては、例えば、ポリエチレンイミン、ポリビニルピロリドンなどが挙げられる。
前記分子中にカルボン酸基を有する炭化水素系の高分子分散剤としては、例えば、ポリアクリル酸、カルボキシメチルセルロースなどが挙げられる。
前記極性基を有する高分子分散剤としては、例えば、ポリビニルアルコール、スチレン−マレイン酸共重合体、オレフィン−マレイン酸共重合体などが挙げられる。
Examples of the dispersant include amine-based polymer dispersants, hydrocarbon-based polymer dispersants having a carboxylic acid group in the molecule, and polymer dispersants having a polar group.
Examples of the amine-based polymer dispersant include polyethylene imine and polyvinyl pyrrolidone.
Examples of the hydrocarbon-based polymer dispersant having a carboxylic acid group in the molecule include polyacrylic acid and carboxymethyl cellulose.
Examples of the polymer dispersant having a polar group include polyvinyl alcohol, styrene-maleic acid copolymer, and olefin-maleic acid copolymer.

前記硬化層上に、前記導電性インクを塗布する方法としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、スクリーン印刷法、ロールコート法、ディップコート法、スピンコート法、インクジェット法、ナノインプリント法などが挙げられる。   There is no restriction | limiting in particular as a method of apply | coating the said conductive ink on the said cured layer, According to the objective, it can select suitably, For example, the screen-printing method, the roll coating method, the dip coating method, a spin coat method , An inkjet method, a nanoimprint method, and the like.

前記塗布の後には、乾燥及び焼成を行うことが好ましい。
前記乾燥は、前記塗布液中の揮発成分を除去できる条件であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。なお、前記乾燥において、揮発成分を完全に除去する必要はなく、焼成を阻害しない程度に揮発成分を除去できればよい。
前記焼成の温度としては、前記樹脂製基材の熱変形温度以下であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、100℃〜150℃が好ましい。
前記焼成の雰囲気としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、酸素中や空気中など酸素を含む雰囲気が挙げられる。また、焼成の雰囲気を窒素ガスなどの不活性ガスにすることもできる。
前記焼成の時間としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。
It is preferable to perform drying and baking after the said application.
The drying is not particularly limited as long as it can remove volatile components in the coating solution, and can be appropriately selected according to the purpose. In addition, in the said drying, it is not necessary to remove a volatile component completely, as long as a volatile component can be removed to such an extent that baking is not inhibited.
There is no restriction | limiting in particular as temperature of the said baking, if it is below the heat deformation temperature of the said resin-made base materials, although it can select suitably according to the objective, 100 degreeC-150 degreeC are preferable.
There is no restriction | limiting in particular as an atmosphere of the said baking, According to the objective, it can select suitably, For example, the atmosphere containing oxygen, such as oxygen and air, is mentioned. In addition, the atmosphere for firing may be an inert gas such as nitrogen gas.
There is no restriction | limiting in particular as time of the said baking, According to the objective, it can select suitably.

開示の前記配線構造の製造方法は、開示の前記配線構造の製造に好適に用いることができる。   The method of manufacturing the disclosed wiring structure can be suitably used for manufacturing the disclosed wiring structure.

以下、開示の技術の実施例について説明するが、開示の技術は下記実施例に何ら限定されるものではない。   Examples of the disclosed technology will be described below, but the disclosed technology is not limited to the following examples.

<樹脂製基材>
以下の実施例、及び比較例では、樹脂製基材として、ポリカーボネート(商品名:ユーピロン、三菱エンジニアリングプラスチックス社製)を用いた。
<Resin base material>
In the following examples and comparative examples, polycarbonate (trade name: Iupilon, manufactured by Mitsubishi Engineering Plastics Co., Ltd.) was used as a resin base material.

(実施例1)
<配線構造の製造>
<<硬化層の形成>>
アクリルポリオールと、イソシアネート硬化剤とを含有する、2液型アクリル・ウレタン塗料(商品名:プロキオン、ミカサペイント株式会社製)を、前記樹脂製基材上にスプレー塗布した後に、70℃で50分間加熱し、平均厚みが15μmの硬化層を得た。
Example 1
<Manufacturing of wiring structure>
<< Formation of hardened layer >>
After spray coating a two-component acrylic urethane resin (trade name: Proquion, manufactured by Mikasa Paint Co., Ltd.) containing an acrylic polyol and an isocyanate curing agent onto the resin base material, it is applied at 70 ° C. for 50 minutes. It heated, and the average thickness obtained the hardened layer of 15 micrometers.

−ゲル分率−
硬化層における硬化樹脂のゲル分率を、抽出溶剤として、アセトンを用い、JIS K 6796に従って測定した。結果を表1−1に示した。
-Gel fraction-
The gel fraction of the cured resin in the cured layer was measured according to JIS K 6796 using acetone as an extraction solvent. The results are shown in Table 1-1.

−インク溶剤への耐性−
硬化層上にインク溶剤であるデカノールを滴下し、硬化層の外観を観察した。結果を表1−1に示した。
-Resistance to ink solvents-
Decanol which is an ink solvent was dropped onto the cured layer, and the appearance of the cured layer was observed. The results are shown in Table 1-1.

<<導電層の形成>>
得られた硬化層上に、銀ペースト(商品名:ナノ銀インク、ハリマ化成株式会社製)を用いて、スクリーン印刷(スクリーン印刷版:300メッシュ)した後に、130℃で2時間焼成し、幅1mm×長さ50mmの短冊状の導電層(平均厚み20μm)を形成した。
以上により、配線構造を得た。
<< Conductive layer formation >>
After screen printing (screen printing plate: 300 mesh) using silver paste (trade name: nano silver ink, manufactured by Harima Chemicals, Inc.) on the obtained cured layer, baking is performed at 130 ° C. for 2 hours, and width is obtained. A strip-shaped conductive layer (average thickness 20 μm) of 1 mm × 50 mm in length was formed.
Thus, the wiring structure was obtained.

<電気抵抗の測定>
短冊状の導電層の電気抵抗を4端針測定機(商品名:ロレスタ、三菱化学株式会社製)を用いて測定した。結果を表1−1に示した。
<Measurement of electrical resistance>
The electrical resistance of the strip-like conductive layer was measured using a four-end needle measuring machine (trade name: Loresta, manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation). The results are shown in Table 1-1.

<密着性>
短冊状の導電層の密着性を、90°剥離法(JIS Z0237)により測定した。結果を表1−1に示した。
なお、幅1mmの導電層の剥離試験の測定値を10倍することで、測定結果(N/10mm)とした。
<Adhesiveness>
The adhesion of the strip-like conductive layer was measured by the 90 ° peeling method (JIS Z0237). The results are shown in Table 1-1.
In addition, it was set as the measurement result (N / 10 mm) by multiplying 10 times the measured value of the peeling test of the conductive layer of width 1 mm.

(実施例2)
<配線構造の製造>
実施例1において、硬化層の平均厚みを20μmに変えた以外は、実施例1と同様にして、配線構造を製造した。
得られた配線構造について、実施例1と同様の評価を行った。結果を表1−1に示した。
(Example 2)
<Manufacturing of wiring structure>
A wiring structure was manufactured in the same manner as in Example 1 except that the average thickness of the hardened layer in Example 1 was changed to 20 μm.
Evaluation similar to Example 1 was performed about the obtained wiring structure. The results are shown in Table 1-1.

(実施例3)
<配線構造の製造>
実施例1において、硬化層の平均厚みを60μmに変えた以外は、実施例1と同様にして、配線構造を製造した。
得られた配線構造について、実施例1と同様の評価を行った。結果を表1−1に示した。
(Example 3)
<Manufacturing of wiring structure>
A wiring structure was manufactured in the same manner as in Example 1 except that the average thickness of the hardened layer was changed to 60 μm in Example 1.
Evaluation similar to Example 1 was performed about the obtained wiring structure. The results are shown in Table 1-1.

(実施例4)
<配線構造の製造>
実施例1において、硬化層の形成の際に、2液型アクリル・ウレタン塗料に酸化チタン(堺化学工業株式会社製、塗料用)を、得られる硬化層において、酸化チタンの含有量が50質量%となるように配合した以外は、実施例1と同様にして、配線構造を製造した。
得られた配線構造について、実施例1と同様の評価を行った。結果を表1−1に示した。
(Example 4)
<Manufacturing of wiring structure>
In Example 1, at the time of formation of a hardened layer, titanium oxide (manufactured by Sakai Chemical Industry Co., Ltd., for paint) is used as a two-component acrylic urethane paint, and in the obtained hardened layer, the content of titanium oxide is 50 mass A wiring structure was manufactured in the same manner as in Example 1 except that the composition was formulated to be in%.
Evaluation similar to Example 1 was performed about the obtained wiring structure. The results are shown in Table 1-1.

(実施例5)
<配線構造の製造>
実施例1において、硬化層の形成を以下の方法に代えた以外は、実施例1と同様にして、配線構造を製造した。
得られた配線構造について、実施例1と同様の評価を行った。結果を表1−1に示した。
(Example 5)
<Manufacturing of wiring structure>
A wiring structure was manufactured in the same manner as in Example 1 except that the formation of the hardened layer in Example 1 was replaced by the following method.
Evaluation similar to Example 1 was performed about the obtained wiring structure. The results are shown in Table 1-1.

<<硬化層の形成>>
アクリルポリオールと、イソシアネート硬化剤とを含有する、2液型アクリル・ウレタン塗料(商品名:エアーウレタン、イサム塗料株式会社製)を、前記樹脂製基材上にスプレー塗布した後に、70℃で60分間加熱し、平均厚みが25μmの硬化層を得た。
<< Formation of hardened layer >>
After spray coating a two-component acrylic urethane resin (trade name: Air Urethane, manufactured by Isam Paint Co., Ltd.) containing an acrylic polyol and an isocyanate curing agent onto the resinous substrate, 60 ° C. at 70 ° C. Heating was performed for a minute to obtain a cured layer having an average thickness of 25 μm.

得られた配線構造の断面SEM写真を図6に示した。
導電層を形成する前の硬化層の硬化が十分であるため、硬化層と導電層との界面Aが明瞭かつ平坦になっている。
The cross-sectional SEM photograph of the obtained wiring structure is shown in FIG.
Since curing of the cured layer before forming the conductive layer is sufficient, the interface A between the cured layer and the conductive layer is clear and flat.

(比較例1)
<配線構造の製造>
<<硬化層の形成>>
アクリルポリオールと、イソシアネート硬化剤とを含有する、2液型アクリル・ウレタン塗料(商品名:エアーウレタン、イサム塗料株式会社製)を、前記樹脂製基材上にスプレー塗布した後に、70℃で10分間乾燥し、平均厚みが25μmの未硬化層を得た。
(Comparative example 1)
<Manufacturing of wiring structure>
<< Formation of hardened layer >>
After spray coating a two-component acrylic urethane coating (trade name: Air Urethane, manufactured by Isam Coatings Co., Ltd.) containing an acrylic polyol and an isocyanate curing agent onto the resin base material, 10 at 70 ° C. Drying for a minute gave an uncured layer having an average thickness of 25 μm.

<<導電層の形成>>
得られた未硬化層上に、銀ペースト(商品名:ナノ銀インク、ハリマ化成株式会社製)を用いて、スクリーン印刷(スクリーン印刷版:300メッシュ)した後に、130℃で2時間焼成し、未硬化層を硬化するとともに、幅1mm×長さ50mmの短冊状の導電層(平均厚み20μm)を形成した。
以上により、配線構造を得た。
得られた配線構造について、実施例1と同様の評価を行った。結果を表1−2に示した。
<< Conductive layer formation >>
After screen printing (screen printing plate: 300 mesh) using silver paste (trade name: nano silver ink, manufactured by Harima Chemicals, Inc.) on the obtained uncured layer, baking is performed at 130 ° C. for 2 hours, The uncured layer was cured, and a strip-like conductive layer (average thickness 20 μm) of 1 mm wide × 50 mm long was formed.
Thus, the wiring structure was obtained.
Evaluation similar to Example 1 was performed about the obtained wiring structure. The results are shown in Table 1-2.

得られた配線構造の断面SEM写真を図7に示した。
導電層を形成する前の硬化層の硬化が不十分であるため、硬化層の一部が導電層に侵入しており、かつ界面Aが平坦ではなくなっている。
The cross-sectional SEM photograph of the obtained wiring structure is shown in FIG.
Since curing of the cured layer before forming the conductive layer is insufficient, part of the cured layer penetrates the conductive layer, and the interface A is not flat.

(比較例2)
<配線構造の製造>
実施例1において、硬化層の形成を以下の樹脂層の形成に代えた以外は、実施例1と同様にして、配線構造を製造した。
得られた配線構造について、実施例1と同様の評価を行った。結果を表1−2に示した。
(Comparative example 2)
<Manufacturing of wiring structure>
A wiring structure was manufactured in the same manner as in Example 1 except that the formation of the hardened layer in Example 1 was replaced with the formation of the following resin layer.
Evaluation similar to Example 1 was performed about the obtained wiring structure. The results are shown in Table 1-2.

<<樹脂層の形成>>
1液型アクリルウレタン塗料(商品名:アクリット、大成ファインケミカル株式会社製)を、前記樹脂製基材上に刷毛塗りした後に、100℃で10分間乾燥し、平均厚みが15μmの樹脂層を得た。
<< Formation of resin layer >>
After one-component acrylic urethane paint (trade name: Acrit, manufactured by Taisei Fine Chemical Co., Ltd.) was brush-coated on the resin base, it was dried at 100 ° C. for 10 minutes to obtain a resin layer having an average thickness of 15 μm. .

(比較例3)
<配線構造の製造>
実施例1において、硬化層の形成を以下の樹脂層の形成に代えた以外は、実施例1と同様にして、配線構造を製造した。
得られた配線構造について、実施例1と同様の評価を行った。結果を表1−2に示した。
(Comparative example 3)
<Manufacturing of wiring structure>
A wiring structure was manufactured in the same manner as in Example 1 except that the formation of the hardened layer in Example 1 was replaced with the formation of the following resin layer.
Evaluation similar to Example 1 was performed about the obtained wiring structure. The results are shown in Table 1-2.

<<樹脂層の形成>>
1液アクリルラッカー塗料(商品名:アクリルラッカー、ニッペホームプロダクツ株式会社製)を、前記樹脂製基材上にスプレー塗布した後に、70℃で30分間乾燥し、平均厚みが20μmの樹脂層を得た。
<< Formation of resin layer >>
After one-component acrylic lacquer (trade name: acrylic lacquer, manufactured by Nippone Products Co., Ltd.) is spray-coated on the resin base, it is dried at 70 ° C. for 30 minutes to obtain a resin layer having an average thickness of 20 μm. The

(比較例4)
<配線構造の製造>
樹脂製基材上に、銀ペースト(商品名:ナノ銀インク、ハリマ化成株式会社製)を用いて、スクリーン印刷(スクリーン印刷版:300メッシュ)した後に、130℃で2時間焼成し、幅1mm×長さ50mmの短冊状の導電層(平均厚み20μm)を形成した。
以上により、配線構造を得た。
得られた配線構造について、実施例1と同様の評価を行った。結果を表1−2に示した。
(Comparative example 4)
<Manufacturing of wiring structure>
After screen printing (screen printing plate: 300 mesh) using silver paste (trade name: nano silver ink, manufactured by Harima Chemicals, Inc.) on a resin base material, baking is performed at 130 ° C. for 2 hours, and the width is 1 mm X A 50 mm long strip-like conductive layer (average thickness 20 μm) was formed.
Thus, the wiring structure was obtained.
Evaluation similar to Example 1 was performed about the obtained wiring structure. The results are shown in Table 1-2.

(比較例5)
<配線構造の製造>
実施例1において、硬化層の形成を以下の方法に代えた以外は、実施例1と同様にして、配線構造を製造した。
得られた配線構造について、実施例1と同様の評価を行った。結果を表1−2に示した。
(Comparative example 5)
<Manufacturing of wiring structure>
A wiring structure was manufactured in the same manner as in Example 1 except that the formation of the hardened layer in Example 1 was replaced by the following method.
Evaluation similar to Example 1 was performed about the obtained wiring structure. The results are shown in Table 1-2.

<<硬化層の形成>>
ポリエステルポリオールを用いた2液型のポリウレタン系樹脂塗料(商品名:ポリフェン#21、株式会社佑光社株式会製)を、前記樹脂製基材上にスプレー塗布した後に、80℃で50分間加熱し、平均厚みが25μmの硬化層を得た。
<< Formation of hardened layer >>
After spray coating a two-component polyurethane resin paint (trade name: Polyphen # 21, manufactured by Shoko Co., Ltd. stock company) using polyester polyol onto the resin base, it is heated at 80 ° C. for 50 minutes , A cured layer having an average thickness of 25 μm was obtained.

(比較例6)
<配線構造の製造>
実施例1において、硬化層の形成を以下の方法に代えた以外は、実施例1と同様にして、配線構造を製造した。
得られた配線構造について、実施例1と同様の評価を行った。結果を表1−2に示した。
(Comparative example 6)
<Manufacturing of wiring structure>
A wiring structure was manufactured in the same manner as in Example 1 except that the formation of the hardened layer in Example 1 was replaced by the following method.
Evaluation similar to Example 1 was performed about the obtained wiring structure. The results are shown in Table 1-2.

<<硬化層の形成>>
エポキシポリオール樹脂を用いた2液型のポリウレタン系樹脂塗料(商品名:エスコLTC、関西ペイント株式会社製)を、前記樹脂製基材上にスプレー塗布した後に、80℃で50分間加熱し、平均厚みが30μmの硬化層を得た。
<< Formation of hardened layer >>
A two-component polyurethane resin paint (trade name: Esco LTC, manufactured by Kansai Paint Co., Ltd.) using an epoxy polyol resin is spray-coated on the resin base, and then heated at 80 ° C. for 50 minutes. A hardened layer with a thickness of 30 μm was obtained.

ここで、表1−1及び表1−2中、電気抵抗率における「E」は、10のべき乗を意味し、例えば、「E−08」は、「×10−8」を意味する。 Here, in Tables 1-1 and 1-2, “E” in the electrical resistivity means a power of 10, for example, “E-08” means “× 10 −8 ”.

実施例1〜5では、アクリルポリオールとイソシアネート硬化剤とが十分に反応して得られる硬化樹脂を有する硬化層上に導電層が形成されている。そのため、導電層中に、前記アクリルポリオール、前記イソシアネート硬化剤、及び前記硬化樹脂の少なくともいずれかが混ざり込んでおらず、導電性に優れる導電層が得られた。また、インク溶剤であるデカノールを用いて表面をラビングした際に、実施例1〜5で得られた導電層は、金属膜が溶解することはなかった。   In Examples 1 to 5, the conductive layer is formed on the cured layer having a cured resin obtained by sufficiently reacting the acrylic polyol and the isocyanate curing agent. Therefore, in the conductive layer, at least one of the acrylic polyol, the isocyanate curing agent, and the cured resin was not mixed, and a conductive layer having excellent conductivity was obtained. Moreover, when the surface was rubbed using decanol which is an ink solvent, the metal film did not melt | dissolve in the conductive layer obtained in Examples 1-5.

一方、比較例1では、硬化層は、アクリルポリオールとイソシアネート硬化剤とを反応させて得られる硬化樹脂を有するが、反応が十分には進行していない。そのため、前記硬化層上に導電層を形成する際に、導電層中に、前記アクリルポリオール、前記イソシアネート硬化剤、及び前記硬化樹脂の少なくともいずれかが混ざり込んでしまい、導電層の導電性が低下した。また、インク溶剤であるデカノールを用いて表面をラビングした際に、比較例1で得られた導電層は、金属膜が溶解した。   On the other hand, in Comparative Example 1, the cured layer has a cured resin obtained by reacting an acrylic polyol and an isocyanate curing agent, but the reaction does not proceed sufficiently. Therefore, when the conductive layer is formed on the cured layer, at least one of the acrylic polyol, the isocyanate curing agent, and the cured resin is mixed into the conductive layer, and the conductivity of the conductive layer is lowered. did. Moreover, when the surface was rubbed using decanol which is an ink solvent, in the conductive layer obtained in Comparative Example 1, the metal film was dissolved.

比較例2〜6では、硬化層が、アクリルポリオールとイソシアネート硬化剤とが反応して得られる硬化樹脂を有さないために、導電層の導電性が低下した。また、インク溶剤であるデカノールを用いて表面をラビングした際に、比較例2〜6で得られた導電層は、金属膜が溶解した。   In Comparative Examples 2 to 6, the conductivity of the conductive layer decreased because the cured layer did not have a cured resin obtained by the reaction of the acrylic polyol and the isocyanate curing agent. Moreover, when the surface was rubbed using the ink solvent which is an ink solvent, the metal film melt | dissolved the conductive layer obtained by Comparative Example 2-6.

以上の実施形態に関し、更に以下の付記を開示する。
(付記1)
樹脂製基材と、
前記樹脂製基材上に配され、アクリルポリオールとイソシアネート硬化剤とが反応してなる硬化樹脂を含有する硬化層と、
前記硬化層上に配され、前記アクリルポリオール、前記イソシアネート硬化剤、及び前記硬化樹脂の少なくともいずれかが混ざり込んでいない、パターン状の導電層と、
を有することを特徴とする配線構造。
(付記2)
前記導電層の電気抵抗率が、1.0×10−7Ω・m未満である付記1に記載の配線構造。
(付記3)
前記硬化層が、熱伝導性粒子を含有する付記1から2のいずれかに記載の配線構造。
(付記4)
前記導電層が、導電性粒子の集合体からなる付記1から3のいずれかに記載の配線構造。
(付記5)
樹脂製筐体と、
前記樹脂製筐体上に配され、アクリルポリオールとイソシアネート硬化剤とが反応してなる硬化樹脂を含有する硬化層と、
前記硬化層上に配され、前記アクリルポリオール、前記イソシアネート硬化剤、及び前記硬化樹脂の少なくともいずれかが混ざり込んでいない、パターン状の導電層と、
を有することを特徴とする電子機器。
(付記6)
前記導電層の電気抵抗率が、1.0×10−7Ω・cm未満である付記5に記載の電子機器。
(付記7)
前記硬化層が、熱伝導性粒子を含有する付記5から6のいずれかに記載の電子機器。
(付記8)
前記導電層が、導電性粒子の集合体からなる付記5から7のいずれかに記載の電子機器。
(付記9)
樹脂製基材上に、アクリルポリオールとイソシアネート硬化剤とを含有する硬化性塗料を塗布した後に、加熱して、ゲル分率が90質量%以上の硬化樹脂を含有する硬化層を形成する工程と、
前記硬化層上に、導電性インクを塗布した後に、加熱して、パターン状の導電層を形成する工程と、
を含むことを特徴とする配線構造の製造方法。
(付記10)
前記硬化性塗料が、更に熱伝導性粒子を含有する付記9に記載の配線構造の製造方法。
Further, the following appendices will be disclosed regarding the above embodiment.
(Supplementary Note 1)
Resin base material,
A cured layer containing a cured resin which is disposed on the resin base material and which is produced by the reaction of an acrylic polyol and an isocyanate curing agent.
A patterned conductive layer disposed on the cured layer and not mixed with at least one of the acrylic polyol, the isocyanate curing agent, and the cured resin;
Wiring structure characterized by having.
(Supplementary Note 2)
The wiring structure according to appendix 1, wherein the electrical resistivity of the conductive layer is less than 1.0 × 10 −7 Ω · m.
(Supplementary Note 3)
The wiring structure according to any one of Appendices 1 to 2, wherein the hardened layer contains heat conductive particles.
(Supplementary Note 4)
The wiring structure according to any one of appendices 1 to 3, wherein the conductive layer is an aggregate of conductive particles.
(Supplementary Note 5)
With a plastic case,
A cured layer containing a cured resin, which is disposed on the resin case and formed by the reaction of an acrylic polyol and an isocyanate curing agent,
A patterned conductive layer disposed on the cured layer and not mixed with at least one of the acrylic polyol, the isocyanate curing agent, and the cured resin;
Electronic equipment characterized by having.
(Supplementary Note 6)
The electronic device according to appendix 5, wherein the electrical resistivity of the conductive layer is less than 1.0 × 10 −7 Ω · cm.
(Appendix 7)
The electronic device according to any one of appendices 5 to 6, wherein the hardened layer contains heat conductive particles.
(Supplementary Note 8)
The electronic device according to any one of appendices 5 to 7, wherein the conductive layer is an aggregate of conductive particles.
(Appendix 9)
A step of forming a cured layer containing a cured resin having a gel fraction of 90% by mass or more by applying a curable coating containing an acrylic polyol and an isocyanate curing agent onto a resin base and heating it. ,
After applying a conductive ink on the cured layer, the conductive ink is heated to form a patterned conductive layer;
A method of manufacturing a wiring structure comprising:
(Supplementary Note 10)
15. The method for producing a wiring structure according to appendix 9, wherein the curable paint further contains thermally conductive particles.

1 樹脂製基材
2 硬化層
3 導電層
4 サブディスプレイ
5 CCDカメラ
11 樹脂製筐体
1 resin base material 2 hardened layer 3 conductive layer 4 sub display 5 CCD camera 11 resin case

Claims (12)

樹脂製基材と、
前記樹脂製基材上に配され、アクリルポリオールとイソシアネート硬化剤とが反応してなる硬化樹脂を含有する硬化層と、
前記硬化層上に配され、前記アクリルポリオール、前記イソシアネート硬化剤、及び前記硬化樹脂の少なくともいずれかが混ざり込んでいない、パターン状の導電層と、
を有し、
前記硬化層が、熱伝導性粒子を含有し、
前記硬化層における前記熱伝導性粒子の含有量が、40質量%〜60質量%であることを特徴とする配線構造。
Resin base material,
A cured layer containing a cured resin which is disposed on the resin base material and which is produced by the reaction of an acrylic polyol and an isocyanate curing agent.
A patterned conductive layer disposed on the cured layer and not mixed with at least one of the acrylic polyol, the isocyanate curing agent, and the cured resin;
I have a,
The hardened layer contains heat conductive particles,
Wiring structure content of the thermally conductive particles, characterized by 40% to 60% by mass Rukoto in the cured layer.
前記導電層の電気抵抗率が、1.0×10−7Ω・m未満である請求項1に記載の配線構造。 The wiring structure according to claim 1, wherein the electrical resistivity of the conductive layer is less than 1.0 × 10 −7 Ω · m. 前記熱伝導性粒子が、酸化チタン、酸化ケイ素、酸化アルミニウム、及び窒化ホウ素の少なくともいずれかを含有する請求項1から2のいずれかに記載の配線構造。The wiring structure according to any one of claims 1 to 2, wherein the thermally conductive particles contain at least one of titanium oxide, silicon oxide, aluminum oxide and boron nitride. 前記導電層が、導電性粒子の集合体からなる請求項1から3のいずれかに記載の配線構造。The wiring structure according to any one of claims 1 to 3, wherein the conductive layer comprises an aggregate of conductive particles. 樹脂製筐体と、With a plastic case,
前記樹脂製筐体上に配され、アクリルポリオールとイソシアネート硬化剤とが反応してなる硬化樹脂を含有する硬化層と、A cured layer containing a cured resin, which is disposed on the resin case and formed by the reaction of an acrylic polyol and an isocyanate curing agent,
前記硬化層上に配され、前記アクリルポリオール、前記イソシアネート硬化剤、及び前記硬化樹脂の少なくともいずれかが混ざり込んでいない、パターン状の導電層と、A patterned conductive layer disposed on the cured layer and not mixed with at least one of the acrylic polyol, the isocyanate curing agent, and the cured resin;
を有し、Have
前記硬化層が、熱伝導性粒子を含有し、The hardened layer contains heat conductive particles,
前記硬化層における前記熱伝導性粒子の含有量が、40質量%〜60質量%であることを特徴とする電子機器。Content of the said heat conductive particle in the said hardened layer is 40 mass%-60 mass%, The electronic device characterized by the above-mentioned.
前記導電層の電気抵抗率が、1.0×10The electrical resistivity of the conductive layer is 1.0 × 10 −7-7 Ω・m未満である請求項5に記載の電子機器。The electronic device according to claim 5, which is less than Ω · m. 前記熱伝導性粒子が、酸化チタン、酸化ケイ素、酸化アルミニウム、及び窒化ホウ素の少なくともいずれかを含有する請求項5から6のいずれかに記載の電子機器。The electronic device according to any one of claims 5 to 6, wherein the thermally conductive particles contain at least one of titanium oxide, silicon oxide, aluminum oxide and boron nitride. 前記導電層が、導電性粒子の集合体からなる請求項5から7のいずれかに記載の電子機器。The electronic device according to any one of claims 5 to 7, wherein the conductive layer comprises an aggregate of conductive particles. 樹脂製基材上に、アクリルポリオールとイソシアネート硬化剤とを含有する硬化性塗料を塗布した後に、加熱して、ゲル分率が90質量%以上の硬化樹脂を含有する硬化層を形成する工程と、A step of forming a cured layer containing a cured resin having a gel fraction of 90% by mass or more by applying a curable coating containing an acrylic polyol and an isocyanate curing agent onto a resin base and heating it. ,
前記硬化層上に、導電性インクを塗布した後に、加熱して、パターン状の導電層を形成する工程と、After applying a conductive ink on the cured layer, the conductive ink is heated to form a patterned conductive layer;
を含むことを特徴とする配線構造の製造方法。A method of manufacturing a wiring structure comprising:
前記硬化性塗料が、更に熱伝導性粒子を含有する請求項9に記載の配線構造の製造方法。The method for producing a wiring structure according to claim 9, wherein the curable paint further contains heat conductive particles. 前記熱伝導性粒子が、酸化チタン、酸化ケイ素、酸化アルミニウム、及び窒化ホウ素の少なくともいずれかを含有する請求項10に記載の配線構造の製造方法。The method for manufacturing a wiring structure according to claim 10, wherein the thermally conductive particles contain at least one of titanium oxide, silicon oxide, aluminum oxide, and boron nitride. 前記硬化層における前記熱伝導性粒子の含有量が、40質量%〜60質量%である請求項10から11のいずれかに記載の配線構造の製造方法。The method for manufacturing a wiring structure according to any one of claims 10 to 11, wherein a content of the thermally conductive particles in the hardened layer is 40% by mass to 60% by mass.
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