JP6490781B2 - Anisotropic conductive paste and method for manufacturing electronic substrate - Google Patents

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本発明は、異方性導電ペーストおよび電子基板の製造方法に関する。   The present invention relates to an anisotropic conductive paste and a method for manufacturing an electronic substrate.

近年、フレキ基板(フレキシブル性を有する配線基板)とリジット基板(フレキシブル性を有しない配線基板)との接続や、電子部品と配線基板との接続には、異方性導電接着剤(異方性導電フィルム、異方性導電ペースト)を用いた接続方式が利用されている。例えば、電子部品と配線基板とを接続する場合には、電極が形成された電子部品と、電極のパターンが形成された配線基板との間に異方性導電接着剤を配置し、電子部品と配線基板とを熱圧着して電気的接続を確保している。   In recent years, anisotropic conductive adhesives (anisotropic) have been used to connect flexible boards (flexible wiring boards) and rigid boards (non-flexible wiring boards) and electronic components and wiring boards. A connection method using a conductive film or an anisotropic conductive paste is used. For example, when connecting an electronic component and a wiring board, an anisotropic conductive adhesive is disposed between the electronic component on which the electrode is formed and the wiring board on which the electrode pattern is formed. The electrical connection is ensured by thermocompression bonding with the wiring board.

異方性導電ペーストとしては、はんだ粉末と、熱硬化性樹脂と、カルボン酸系硬化剤と、イミダゾール系硬化剤と、アミン系硬化剤とを含有するペーストが提案されている(例えば、特許文献1)。電子部品と配線基板とを熱圧着させると、接続対象である電子部品および配線基板の電極同士をはんだ接合することができ、これらの電極同士の間での導電性が確保される。一方、電子部品の電極同士の間隙や配線基板の電極同士の間隙では、樹脂成分内にはんだ粉末が埋設されたような状態となり、隣接電極間の絶縁性が確保される。   As an anisotropic conductive paste, a paste containing a solder powder, a thermosetting resin, a carboxylic acid-based curing agent, an imidazole-based curing agent, and an amine-based curing agent has been proposed (for example, Patent Documents). 1). When the electronic component and the wiring substrate are thermocompression bonded, the electrodes of the electronic component to be connected and the wiring substrate can be soldered together, and conductivity between these electrodes is ensured. On the other hand, in the gap between the electrodes of the electronic component and the gap between the electrodes of the wiring board, the solder component is embedded in the resin component, and insulation between adjacent electrodes is ensured.

特開2013−045650号公報JP2013-045650A

特許文献1に記載のような異方性導電ペーストを用いる場合には、エポキシ樹脂などの熱硬化性樹脂とその硬化剤とを反応させるために、180℃以上の高温で熱圧着がされる。このように高温で熱圧着をする場合には、エポキシ樹脂の硬化の進行よりも低い温度領域で、配線基板や電子部品に由来するガス(主に水などの低沸点物質)が発生する。そして、このガスが硬化前の低粘度のエポキシ樹脂中に取り込まれることによって、ボイドが発生するという問題が生じる。
そのため、従来の熱圧着工程では、ボイドの低減対策として、配線基板や電子部品の内部に取り込まれる低沸点物質を、予め揮発させておく必要があった。具体的には、配線基板や電子部品に対し、例えば、温度150℃で5〜10分間程度の条件でプリベーク処理が行われていた。しかしながら、このようなプリベーク処理では、5〜10分間程度の処理時間を要することから、プリベーク処理を省略することが求められている。
When an anisotropic conductive paste as described in Patent Document 1 is used, thermocompression bonding is performed at a high temperature of 180 ° C. or higher in order to react a thermosetting resin such as an epoxy resin and its curing agent. Thus, when thermocompression bonding is performed at a high temperature, a gas (mainly a low-boiling point substance such as water) derived from the wiring board or the electronic component is generated in a temperature region lower than the progress of curing of the epoxy resin. And when this gas is taken in in the low viscosity epoxy resin before hardening, the problem that a void generate | occur | produces arises.
Therefore, in the conventional thermocompression bonding process, as a measure for reducing voids, it is necessary to volatilize a low boiling point substance taken into the wiring board or the electronic component in advance. Specifically, for example, a pre-bake process has been performed on a wiring board or an electronic component at a temperature of 150 ° C. for about 5 to 10 minutes. However, such a pre-baking process requires a processing time of about 5 to 10 minutes, so that it is required to omit the pre-baking process.

そこで、本発明は、熱圧着工程前のプリベーク処理を省略できる異方性導電ペースト、並びに、電子基板の製造方法を提供することを目的とする。   Then, an object of this invention is to provide the manufacturing method of the anisotropic conductive paste which can abbreviate | omit the prebaking process before a thermocompression bonding process, and an electronic substrate.

前記課題を解決すべく、本発明は、以下のような異方性導電ペーストおよび電子基板の製造方法を提供するものである。
すなわち、本発明の異方性導電ペーストは、(A)はんだ粉末と、(B)エポキシ樹脂と、(C)硬化剤と、(D)活性剤と、(E)プレゲル化剤とを含有し、前記(D)活性剤が、有機酸、有機酸アミン塩、ハロゲン原子が共有結合により結合した非塩系の有機化合物、およびアミン系活性剤からなる群から選択される少なくとも1つであり、前記(E)プレゲル化剤の配合量が、当該異方性導電ペースト100質量%に対して、2質量%以上25質量%以下であることを特徴とするものである。
In order to solve the above problems, the present invention provides the following anisotropic conductive paste and method for producing an electronic substrate.
That is, the anisotropic conductive paste of the present invention contains (A) a solder powder , (B) an epoxy resin, (C) a curing agent, (D) an activator, and (E) a pregelling agent. The (D) activator is at least one selected from the group consisting of an organic acid, an organic acid amine salt, a non-salt organic compound in which a halogen atom is covalently bonded, and an amine activator, The amount of the (E) pregelling agent is 2% by mass to 25% by mass with respect to 100% by mass of the anisotropic conductive paste.

発明の異方性導電ペーストにおいては、前記(B)エポキシ樹脂が、(B1)25℃において液状のビスフェノール型エポキシ樹脂と、(B2)ノボラック型エポキシ樹脂とを含有することが好ましい。
本発明の異方性導電ペーストにおいては、前記(E)プレゲル化剤が、ポリメタクリル酸エステル系有機微粒子であることが好ましい。また、このポリメタクリル酸エステル系有機微粒子は、親水処理がされているものであることが好ましい。
In the anisotropic conductive paste of the present invention, the (B) epoxy resin preferably contains (B1) a bisphenol type epoxy resin that is liquid at 25 ° C. and (B2) a novolac type epoxy resin.
In the anisotropic conductive paste of the present invention, the (E) pregelator is preferably polymethacrylic acid ester-based organic fine particles. Moreover, it is preferable that the polymethacrylic acid ester-based organic fine particles have been subjected to a hydrophilic treatment.

本発明の電子基板の製造方法は、前記異方性導電ペーストを用いた電子基板の製造方法であって、配線基板上に前記異方性導電ペーストを塗布する塗布工程と、前記塗布工程後の前記配線基板に対し、90℃以上150℃以下の温度で3秒間以上120秒間以下の熱処理を施すプリヒート工程と、前記異方性導電ペースト上に電子部品を配置し、前記電子部品を前記配線基板に、130℃以上250℃以下の温度で熱圧着する熱圧着工程と、を備えることを特徴とする方法である。
本発明の電子基板の製造方法においては、前記熱処理の温度が100℃以上150℃以下であり、前記熱処理の時間が3秒間以上30秒間以下であることが好ましい。
The method for manufacturing an electronic substrate according to the present invention is a method for manufacturing an electronic substrate using the anisotropic conductive paste, the application step of applying the anisotropic conductive paste on a wiring substrate, and the step after the application step A preheating step of performing a heat treatment for 3 seconds to 120 seconds at a temperature of 90 ° C. or higher and 150 ° C. or lower on the wiring substrate; and disposing the electronic component on the anisotropic conductive paste, and placing the electronic component on the wiring substrate And a thermocompression bonding step of thermocompression bonding at a temperature of 130 ° C. or higher and 250 ° C. or lower .
In the method for manufacturing an electronic substrate of the present invention, it is preferable that the temperature of the heat treatment is 100 ° C. or higher and 150 ° C. or lower, and the time of the heat treatment is 3 seconds or longer and 30 seconds or shorter.

本発明によれば、熱圧着工程前のプリベーク処理を省略できる異方性導電ペースト、並びに、電子基板の製造方法を提供できる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the manufacturing method of the anisotropic conductive paste which can abbreviate | omit the prebaking process before a thermocompression bonding process, and an electronic substrate can be provided.

先ず、本発明の異方性導電ペーストについて説明する。
本発明の異方性導電ペーストは、以下説明する(A)導電性粒子、(B)エポキシ樹脂、(C)硬化剤、(D)活性剤および(E)プレゲル化剤を含有するものである。
First, the anisotropic conductive paste of the present invention will be described.
The anisotropic conductive paste of the present invention contains (A) conductive particles, (B) an epoxy resin, (C) a curing agent, (D) an activator and (E) a pregelling agent which will be described below. .

[(A)成分]
本発明に用いる(A)導電性粒子としては、導電性を有する粒子(粉末)であれば、適宜公知のものを用いることができる。この(A)成分としては、はんだ粉末、無機物粒子(ニッケル、銅、銀、カーボンなど)、無機物粒子の表面に導電性の高い金属(銀、金など)をコーティングした粒子、および、有機物粒子の表面に導電性の高い金属(銀、金など)をコーティングした粒子などが挙げられる。これらの導電性粒子は1種を単独で用いてもよく、2種以上を混合して用いてもよい。
この(A)成分としては、電極同士の間での導通性の観点から、はんだ粉末を用いることが好ましい。このはんだ粉末は、240℃以下の融点を有することが好ましく、低温プロセス化の観点からは、180℃以下の融点を有することがより好ましく、130℃以上160℃以下の融点を有することが特に好ましい。一方で、このはんだ粉末は、はんだ接合の強度の観点からは、180℃以上の融点を有することがより好ましい。
また、このはんだ粉末は、環境への影響の観点から、鉛フリーはんだ粉末であることが好ましい。ここで、鉛フリーはんだ粉末とは、鉛を添加しないはんだ金属または合金の粉末のことをいう。ただし、鉛フリーはんだ粉末中に、不可避的不純物として鉛が存在することは許容されるが、この場合に、鉛の量は、100質量ppm以下であることが好ましい。
[(A) component]
As (A) electroconductive particle used for this invention, if it is an electroconductive particle (powder), a well-known thing can be used suitably. Examples of the component (A) include solder powder, inorganic particles (nickel, copper, silver, carbon, etc.), particles having a surface coated with a highly conductive metal (silver, gold, etc.), and organic particles. Examples thereof include particles having a surface coated with a highly conductive metal (silver, gold, etc.). These electroconductive particles may be used individually by 1 type, and 2 or more types may be mixed and used for them.
As this (A) component, it is preferable to use solder powder from a viewpoint of the electroconductivity between electrodes. The solder powder preferably has a melting point of 240 ° C. or lower, more preferably has a melting point of 180 ° C. or lower, and particularly preferably has a melting point of 130 ° C. or higher and 160 ° C. or lower from the viewpoint of low-temperature processing. . On the other hand, this solder powder preferably has a melting point of 180 ° C. or higher from the viewpoint of soldering strength.
Moreover, it is preferable that this solder powder is a lead-free solder powder from a viewpoint of the influence on an environment. Here, the lead-free solder powder refers to a solder metal or alloy powder to which lead is not added. However, it is allowed that lead is present as an inevitable impurity in the lead-free solder powder, but in this case, the amount of lead is preferably 100 mass ppm or less.

前記(A)成分は、スズ(Sn)、ビスマス(Bi)、銅(Cu)、銀(Ag)、アンチモン(Sb)、インジウム(In)、亜鉛(Zn)、およびチタン(Ti)からなる群から選択される少なくとも1種の金属からなる金属または合金であることが好ましい。例えば、スズ基のはんだとしては、Sn−0.7Cuなどのスズ−銅系;Sn−3.5Agなどのスズ−銀系;Sn−3.0Ag−0.5Cu、Sn−3.5Ag−0.7Cu、Sn−1.0Ag−0.7Cu、Sn−0.3Ag−0.7Cuなどのスズ−銀−銅系;Sn−2.5Ag−1.0Bi−0.5Cu、Sn−1.0Ag−2.0Bi−0.5Cuなどのスズ−銀−ビスマス−銅系;Sn−3.5Ag−0.5Bi−8.0Inなどのスズ−銀−ビスマス−インジウム系;Sn−1.0Ag−0.7Cu−2.0Bi−0.2Inなどのスズ−銀−銅−ビスマス−インジウム系;Sn−58Biなどのスズ−ビスマス系;Sn−1.0Ag−58Biなどのスズ−銀−ビスマス系;Sn−5.0Sbなどのスズーアンチモン系;Sn−9Znなどのスズ−亜鉛系;Sn−8.0Zn−3.0Biなどのスズ−亜鉛−ビスマス系;Sn−30In−12Sb−3Znなどのスズ−インジウム−アンチモン−亜鉛系;Sn−56Bi−4Tiなどのスズ−ビスマス−チタン系;Sn−3.5Ag−4Tiなどのスズ−銀−チタン系;Sn−52Inなどのスズ−インジウム系などが挙げられる。インジウム基のはんだとしては、金属インジウムのインジウム系;In−3.0Agなどのインジウム−銀系が挙げられる。また、上記金属、合金には更に微量成分として、上記の金属以外にも、鉄(Fe)、ニッケル(Ni)、コバルト(Co)、モリブデン(Mo)、リン(P)、セリウム(Ce)、ゲルマニウム(Ge)、シリコン(Si)、ガリウム(Ga)、アルミニウム(Al)、ニオブ(Nb)、バナジウム(V)、カルシウム(Ca)、マグネシウム(Mg)、ジルコニウム(Zr)、金(Au)、パラジウム(Pd)、白金(Pt)、鉛(Pb)などを含有していてもよい。これらの中でも、はんだ接合の強度の観点からは、スズ−銀−銅系、スズ−銀系などが好ましい。また、低融点特性の点からは、スズ−ビスマス系、スズ−銀−ビスマス系、スズ−インジウム系、インジウム系、インジウム−銀系などがより好ましい。   The component (A) is a group consisting of tin (Sn), bismuth (Bi), copper (Cu), silver (Ag), antimony (Sb), indium (In), zinc (Zn), and titanium (Ti). It is preferably a metal or alloy made of at least one metal selected from the group consisting of: For example, tin-based solders include tin-copper such as Sn-0.7Cu; tin-silver such as Sn-3.5Ag; Sn-3.0Ag-0.5Cu, Sn-3.5Ag-0 Tin-silver-copper systems such as .7Cu, Sn-1.0Ag-0.7Cu, Sn-0.3Ag-0.7Cu; Sn-2.5Ag-1.0Bi-0.5Cu, Sn-1.0Ag Tin-silver-bismuth-copper system such as -2.0Bi-0.5Cu; Tin-silver-bismuth-indium system such as Sn-3.5Ag-0.5Bi-8.0In; Sn-1.0Ag-0 Tin-silver-copper-bismuth-indium system such as 7Cu-2.0Bi-0.2In; Tin-bismuth system such as Sn-58Bi; Tin-silver-bismuth system such as Sn-1.0Ag-58Bi; Sn -5.0 Sb tin-antimony system; S Tin-zinc system such as Sn-9Zn; Tin-zinc-bismuth system such as Sn-8.0Zn-3.0Bi; Tin-indium-antimony-zinc system such as Sn-30In-12Sb-3Zn; Sn-56Bi-4Ti Tin-bismuth-titanium system such as Sn-3.5Ag-4Ti; tin-silver-titanium system such as Sn-52In; tin-indium system such as Sn-52In. Examples of the indium-based solder include indium-based metal indium; indium-silver-based such as In-3.0Ag. In addition to the above metals, iron (Fe), nickel (Ni), cobalt (Co), molybdenum (Mo), phosphorus (P), cerium (Ce), Germanium (Ge), silicon (Si), gallium (Ga), aluminum (Al), niobium (Nb), vanadium (V), calcium (Ca), magnesium (Mg), zirconium (Zr), gold (Au), Palladium (Pd), platinum (Pt), lead (Pb), etc. may be contained. Among these, tin-silver-copper and tin-silver are preferred from the viewpoint of solder joint strength. Further, from the viewpoint of low melting point characteristics, tin-bismuth, tin-silver-bismuth, tin-indium, indium, indium-silver, and the like are more preferable.

前記(A)成分の平均粒子径は、通常1μm以上40μm以下であるが、はんだ付けパッドのピッチが狭い電子基板にも対応するという観点から、1μm以上20μm以下であることがより好ましく、2μm以上15μm以下であることがさらにより好ましく、3μm以上12μm以下であることが特に好ましい。なお、平均粒子径は、動的光散乱式の粒子径測定装置により測定できる。   The average particle diameter of the component (A) is usually 1 μm or more and 40 μm or less, but is preferably 1 μm or more and 20 μm or less, more preferably 2 μm or more, from the viewpoint of corresponding to an electronic substrate having a narrow soldering pad pitch. More preferably, it is 15 μm or less, and particularly preferably 3 μm or more and 12 μm or less. The average particle size can be measured with a dynamic light scattering type particle size measuring device.

前記(A)成分の配合量は、異方性導電ペースト100質量%に対して、15質量%以上40質量%以下であることが好ましく、17質量%以上35質量%以下であることがより好ましく、20質量%以上30質量%以下であることが特に好ましい。(A)成分の配合量が前記下限以上であれば、得られる異方性導電ペーストの接着強度および導電性を確保できる。他方、(A)成分の配合量が前記上限以下であれば、得られる異方性導電ペーストの絶縁性を確保できる。   The blending amount of the component (A) is preferably 15% by mass or more and 40% by mass or less, and more preferably 17% by mass or more and 35% by mass or less with respect to 100% by mass of the anisotropic conductive paste. 20 mass% or more and 30 mass% or less is particularly preferable. If the compounding quantity of (A) component is more than the said minimum, the adhesive strength and electroconductivity of the anisotropic conductive paste obtained can be ensured. On the other hand, if the blending amount of the component (A) is not more than the above upper limit, the insulating property of the obtained anisotropic conductive paste can be ensured.

[(B)成分]
本発明に用いる(B)エポキシ樹脂としては、公知のエポキシ樹脂を適宜用いることができる。また、この(B)成分は、(B1)25℃において液状のビスフェノール型エポキシ樹脂と、(B2)ノボラック型エポキシ樹脂とを含有することが好ましい。このように、(B1)成分および(B2)成分を併用することにより、プリヒート時のプレゲル性を維持しつつ、接着強度を向上できる。さらに、この(B)成分は、前記(B1)成分および前記(B2)成分以外の他のエポキシ樹脂(以下(B3)成分ともいう)を含有していてもよい。
[Component (B)]
As (B) epoxy resin used for this invention, a well-known epoxy resin can be used suitably. The component (B) preferably contains (B1) a bisphenol-type epoxy resin that is liquid at 25 ° C. and (B2) a novolac-type epoxy resin. Thus, by using together (B1) component and (B2) component, adhesive strength can be improved, maintaining the pregel property at the time of preheating. Furthermore, this (B) component may contain other epoxy resins (henceforth (B3) component) other than the said (B1) component and the said (B2) component.

前記(B1)成分としては、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、およびビスフェノールF型エポキシ樹脂などが挙げられる。これらは1種を単独で用いてもよく、2種以上を混合して用いてもよい。
前記(B2)成分としては、ビフェニルノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂およびフェノールノボラック型エポキシ樹脂などが挙げられる。これらの中でも、接着強度および絶縁性の観点から、ビフェニルノボラック型エポキシ樹脂が好ましい。また、これらは1種を単独で用いてもよく、2種以上を混合して用いてもよい。
前記(B1)成分および前記(B2)成分を併用する場合、前記(B1)成分の配合量は、前記(B)成分100質量%に対して、50質量%以上90質量%以下であることが好ましく、60質量%以上80質量%以下であることがより好ましい。
Examples of the component (B1) include bisphenol A type epoxy resins and bisphenol F type epoxy resins. These may be used alone or in combination of two or more.
Examples of the component (B2) include biphenyl novolac type epoxy resins, cresol novolac type epoxy resins, and phenol novolac type epoxy resins. Among these, biphenyl novolac type epoxy resins are preferable from the viewpoints of adhesive strength and insulation. Moreover, these may be used individually by 1 type and may be used in mixture of 2 or more types.
When the component (B1) and the component (B2) are used in combination, the blending amount of the component (B1) is 50% by mass to 90% by mass with respect to 100% by mass of the component (B). Preferably, it is 60 mass% or more and 80 mass% or less.

前記(B3)成分としては、結晶性エポキシ樹脂(テトラキス(グリシジルオキシフェニル)エタン、トリグリシジルイソシアヌレートなど)、ビフェニル型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、および25℃において固体のビスフェノール型エポキシ樹脂などが挙げられる。これらの中でも、耐熱性などの観点から、結晶性エポキシ樹脂が好ましく、テトラキス(グリシジルオキシフェニル)エタンが特に好ましい。また、これらは1種を単独で用いてもよく、2種以上を混合して用いてもよい。   As the component (B3), crystalline epoxy resins (tetrakis (glycidyloxyphenyl) ethane, triglycidyl isocyanurate, etc.), biphenyl type epoxy resins, naphthalene type epoxy resins, dicyclopentadiene type epoxy resins, and solid at 25 ° C. And bisphenol type epoxy resin. Among these, from the viewpoint of heat resistance, a crystalline epoxy resin is preferable, and tetrakis (glycidyloxyphenyl) ethane is particularly preferable. Moreover, these may be used individually by 1 type and may be used in mixture of 2 or more types.

前記(B)成分の配合量は、異方性導電ペースト100質量%に対して、30質量%以上75質量%以下であることが好ましく、40質量%以上65質量%以下であることがより好ましく、45質量%以上60質量%以下であることが特に好ましい。(B)成分の配合量が前記下限以下であれば、得られる異方性導電ペーストの接着強度を確保できる。他方、(B)成分の配合量が前記上限以下であれば、得られる異方性導電ペーストの粘度を低くでき、塗布性を確保できる。   The blending amount of the component (B) is preferably 30% by mass to 75% by mass and more preferably 40% by mass to 65% by mass with respect to 100% by mass of the anisotropic conductive paste. 45 mass% or more and 60 mass% or less is particularly preferable. If the compounding quantity of (B) component is below the said minimum, the adhesive strength of the anisotropic conductive paste obtained can be ensured. On the other hand, if the blending amount of the component (B) is not more than the above upper limit, the viscosity of the obtained anisotropic conductive paste can be lowered, and applicability can be secured.

[(C)成分]
本発明に用いる(C)硬化剤としては、イミダゾール類、イミダゾール誘導体およびエポキシ樹脂アミンアダクト系硬化剤などが挙げられる。これらは1種を単独で用いてもよく、2種以上を混合して用いてもよい。また、硬化性および硬化物の性能の観点から、イミダゾール類およびイミダゾール誘導体の少なくともいずれか1つと、エポキシ樹脂アミンアダクト系硬化剤と併用することが好ましい。
[Component (C)]
Examples of the curing agent (C) used in the present invention include imidazoles, imidazole derivatives, and epoxy resin amine adduct curing agents. These may be used alone or in combination of two or more. Moreover, it is preferable to use together with at least any one of imidazoles and imidazole derivatives, and an epoxy resin amine adduct type hardening | curing agent from a viewpoint of sclerosis | hardenability and the performance of hardened | cured material.

前記イミダゾール類としては、2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチルイミダゾール、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール、2,4−ジアミノ−6−[2’−エチル−4’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジンイソシアヌル酸付加物、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾリウムトリメリテイト、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾール、および2,4−ジアミノ−6−[2’−ウンデシルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジンなどが挙げられる。これらの中でも、2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチルイミダゾール、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジンイソシアヌル酸付加物、および1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾリウムトリメリテイトなどを用いることが好ましい。これらは1種を単独で用いてもよく、2種以上を混合して用いてもよい。
前記イミダゾール類の市販品としては、2P4MHZ、2PHZ−PW、2E4MZ−A、2MZ−A、2MA−OK、2PZ−CN、2PZCNS−PW、C11Z−CN、およびC11Z−Aなど(四国化成工業社製など、商品名)が挙げられる。
Examples of the imidazoles include 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2,4-diamino-6- [2′-ethyl-4′-methyl. Imidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2′-methylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [ 2'-methylimidazolyl- (1 ')]-ethyl-s-triazine isocyanuric acid adduct, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl-2- Undecylimidazole and 2,4-diamino-6- [2'-undecylimidazolyl- (1 ')]-ethyl-s-triazine Etc., and the like. Among these, 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2,4-diamino-6- [2′-methylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine isocyanuric acid adduct, and It is preferable to use 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium trimellitate or the like. These may be used alone or in combination of two or more.
Examples of commercially available imidazoles include 2P4MHZ, 2PHZ-PW, 2E4MZ-A, 2MZ-A, 2MA-OK, 2PZ-CN, 2PZCNS-PW, C11Z-CN, and C11Z-A (manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd.). Product name).

前記イミダゾール誘導体は、イミダゾール類から誘導して得られるものである。前記イミダゾール誘導体の市販品としては、サンマイド LH−210、Imicure AMI−2、および、Imicure HAPIなど(エアープロダクツ社製、商品名)が挙げられる。
エポキシ樹脂アミンアダクト系硬化剤としては、例えば、アミキュアPN−23、PN−F、MY−24、VDH、UDH、PN−31、PN−40(味の素ファインテクノ社製、商品名)、EH−3615S、EH−3293S、EH−3366S、EH−3842、EH−3670S、EH−3636AS、EH−4346S(ADEKA社製、商品名)が挙げられる。
The imidazole derivative is derived from imidazoles. Examples of commercially available imidazole derivatives include Sanmide LH-210, Imicure AMI-2, and Imicure HAPI (trade name, manufactured by Air Products).
Examples of the epoxy resin amine adduct-based curing agent include Amicure PN-23, PN-F, MY-24, VDH, UDH, PN-31, and PN-40 (manufactured by Ajinomoto Fine Techno Co., Ltd., trade name), EH-3615S. , EH-3293S, EH-3366S, EH-3842, EH-3670S, EH-3636AS, EH-4346S (trade name, manufactured by ADEKA).

前記(C)成分の配合量は、異方性導電ペースト100質量%に対して、5質量%以上30質量%以下であることが好ましく、7質量%以上25質量%以下であることがより好ましく、10質量%以上20質量%以下であることが特に好ましい。(C)成分の配合量が前記下限以上であれば、得られる異方性導電ペーストの硬化性を確保できる。他方、(C)成分の配合量が前記上限以下であれば、得られる異方性導電ペーストの保存安定性を確保できる。   The blending amount of the component (C) is preferably 5% by mass to 30% by mass, more preferably 7% by mass to 25% by mass with respect to 100% by mass of the anisotropic conductive paste. It is particularly preferably 10% by mass or more and 20% by mass or less. If the compounding quantity of (C) component is more than the said minimum, the sclerosis | hardenability of the anisotropic conductive paste obtained can be ensured. On the other hand, if the amount of component (C) is not more than the above upper limit, the storage stability of the resulting anisotropic conductive paste can be ensured.

[(D)成分]
本発明に用いる(D)活性剤としては、有機酸、有機酸アミン塩、非解離型活性剤、およびアミン系活性剤などが挙げられる。これらは1種を単独で用いてもよく、2種以上を混合して用いてもよい。これらの中でも、環境対策の観点からは、有機酸、有機酸アミン塩を用いることが好ましい。
[(D) component]
Examples of the (D) activator used in the present invention include organic acids, organic acid amine salts, non-dissociative activators, and amine activators. These may be used alone or in combination of two or more. Among these, it is preferable to use an organic acid or an organic acid amine salt from the viewpoint of environmental measures.

前記有機酸としては、モノカルボン酸、ジカルボン酸などの他に、その他の有機酸が挙げられる。
モノカルボン酸としては、ギ酸、酢酸、プロピオン酸、ブチリック酸、バレリック酸、カプロン酸、エナント酸、カプリン酸、ラウリル酸、ミリスチン酸、ペンタデシル酸、パルミチン酸、マルガリン酸、ステアリン酸、ツベルクロステアリン酸、アラキジン酸、ベヘニン酸、リグノセリン酸、グリコール酸などが挙げられる。
ジカルボン酸としては、シュウ酸、マロン酸、コハク酸、グルタル酸、アジピン酸、ピメリン酸、スベリン酸、アゼライン酸、セバシン酸、フマル酸、マレイン酸、酒石酸、ジグリコール酸などが挙げられる。これらの中でも、グルタル酸、アジピン酸などが好ましい。
その他の有機酸としては、ダイマー酸、レブリン酸、乳酸、アクリル酸、安息香酸、サリチル酸、アニス酸、クエン酸、ピコリン酸などが挙げられる。
Examples of the organic acid include other organic acids in addition to monocarboxylic acid and dicarboxylic acid.
Monocarboxylic acids include formic acid, acetic acid, propionic acid, butyric acid, valeric acid, caproic acid, enanthic acid, capric acid, lauric acid, myristic acid, pentadecylic acid, palmitic acid, margaric acid, stearic acid, tuberculostearic acid Arachidic acid, behenic acid, lignoceric acid, glycolic acid and the like.
Examples of the dicarboxylic acid include oxalic acid, malonic acid, succinic acid, glutaric acid, adipic acid, pimelic acid, suberic acid, azelaic acid, sebacic acid, fumaric acid, maleic acid, tartaric acid, diglycolic acid and the like. Of these, glutaric acid and adipic acid are preferred.
Examples of other organic acids include dimer acid, levulinic acid, lactic acid, acrylic acid, benzoic acid, salicylic acid, anisic acid, citric acid, and picolinic acid.

前記有機酸アミン塩は、前記有機酸のアミン塩である。前記アミンとしては、適宜公知のアミンを用いることができる。このようなアミンは、芳香族アミンであってもよく、脂肪族アミンであってもよい。これらは1種を単独で用いてもよく、2種以上を混合して用いてもよい。このようなアミンとしては、有機酸アミン塩の安定性などの観点から、炭素数3〜13のアミンを用いることが好ましく、炭素数4〜7の1級アミンを用いることがより好ましい。
前記芳香族アミンとしては、ベンジルアミン、アニリン、1,3−ジフェニルグアニジンなどが挙げられる。これらの中でも、ベンジルアミンが特に好ましい。
前記脂肪族アミンとしては、プロピルアミン、ブチルアミン、ペンチルアミン、ヘキシルアミン、ヘプチルアミン、オクチルアミン、シクロヘキシルアミン、トリエタノールアミンなどが挙げられる。
The organic acid amine salt is an amine salt of the organic acid. As said amine, a well-known amine can be used suitably. Such an amine may be an aromatic amine or an aliphatic amine. These may be used alone or in combination of two or more. As such an amine, an amine having 3 to 13 carbon atoms is preferably used, and a primary amine having 4 to 7 carbon atoms is more preferably used from the viewpoint of the stability of the organic acid amine salt.
Examples of the aromatic amine include benzylamine, aniline, and 1,3-diphenylguanidine. Of these, benzylamine is particularly preferred.
Examples of the aliphatic amine include propylamine, butylamine, pentylamine, hexylamine, heptylamine, octylamine, cyclohexylamine, and triethanolamine.

前記非解離型活性剤としては、ハロゲン原子が共有結合により結合した非塩系の有機化合物が挙げられる。このハロゲン化化合物としては、塩素化物、臭素化物、フッ化物のように塩素、臭素、フッ素の各単独元素の共有結合による化合物でもよいが、塩素、臭素およびフッ素の任意の2つまたは全部のそれぞれの共有結合を有する化合物でもよい。これらの化合物は、水性溶媒に対する溶解性を向上させるために、例えばハロゲン化アルコールやハロゲン化カルボキシル化合物のように水酸基やカルボキシル基などの極性基を有することが好ましい。ハロゲン化アルコールとしては、例えば2,3−ジブロモプロパノール、2,3−ジブロモブタンジオール、トランス−2,3−ジブロモ−2−ブテン−1,4−ジオール、1,4−ジブロモ−2−ブタノール、トリブロモネオペンチルアルコールなどの臭素化アルコール、1,3−ジクロロ−2−プロパノール、1,4−ジクロロ−2−ブタノールなどの塩素化アルコール、3−フルオロカテコールなどのフッ素化アルコール、その他これらに類する化合物が挙げられる。ハロゲン化カルボキシル化合物としては、2−ヨード安息香酸、3−ヨード安息香酸、2−ヨードプロピオン酸、5−ヨードサリチル酸、5−ヨードアントラニル酸などのヨウ化カルボキシル化合物、2−クロロ安息香酸、3−クロロプロピオン酸などの塩化カルボキシル化合物、2,3−ジブロモプロピオン酸、2,3−ジブロモコハク酸、2−ブロモ安息香酸などの臭素化カルボキシル化合物、その他これらに類する化合物が挙げられる。   Examples of the non-dissociative activator include non-salt organic compounds in which halogen atoms are bonded by a covalent bond. The halogenated compound may be a compound formed by covalent bonding of chlorine, bromine and fluorine, such as chlorinated, brominated and fluoride, but any two or all of chlorine, bromine and fluorine may be used. The compound which has the following covalent bond may be sufficient. In order to improve the solubility in an aqueous solvent, these compounds preferably have a polar group such as a hydroxyl group or a carboxyl group such as a halogenated alcohol or a halogenated carboxyl compound. Examples of the halogenated alcohol include 2,3-dibromopropanol, 2,3-dibromobutanediol, trans-2,3-dibromo-2-butene-1,4-diol, 1,4-dibromo-2-butanol, Brominated alcohols such as tribromoneopentyl alcohol, chlorinated alcohols such as 1,3-dichloro-2-propanol and 1,4-dichloro-2-butanol, fluorinated alcohols such as 3-fluorocatechol, and the like Compounds. Examples of the halogenated carboxyl compound include 2-iodobenzoic acid, 3-iodobenzoic acid, 2-iodopropionic acid, 5-iodosalicylic acid, 5-iodoanthranilic acid, and the like, 2-chlorobenzoic acid, 3-chloro Examples thereof include carboxylated carboxyl compounds such as chloropropionic acid, brominated carboxyl compounds such as 2,3-dibromopropionic acid, 2,3-dibromosuccinic acid and 2-bromobenzoic acid, and the like.

前記アミン系活性剤としては、アミン類(エチレンジアミンなどのポリアミンなど)、アミン塩類(トリメチロールアミン、シクロヘキシルアミン、ジエチルアミンなどのアミンやアミノアルコールなどの有機酸塩や無機酸塩(塩酸、硫酸、臭化水素酸など))、アミノ酸類(グリシン、アラニン、アスパラギン酸、グルタミン酸、バリンなど)、アミド系化合物などが挙げられる。具体的には、ジフェニルグアニジン臭化水素酸塩、シクロヘキシルアミン臭化水素酸塩、ジエチルアミン塩(塩酸塩、コハク酸塩、アジピン酸塩、セバシン酸塩など)、トリエタノールアミン、モノエタノールアミン、これらのアミンの臭化水素酸塩などが挙げられる。   Examples of the amine activator include amines (polyamines such as ethylenediamine), amine salts (amines such as trimethylolamine, cyclohexylamine, diethylamine, and organic acid salts such as amino alcohols and inorganic acid salts (hydrochloric acid, sulfuric acid, odors). Hydroacid, etc.)), amino acids (glycine, alanine, aspartic acid, glutamic acid, valine, etc.), amide compounds and the like. Specifically, diphenylguanidine hydrobromide, cyclohexylamine hydrobromide, diethylamine salt (hydrochloride, succinate, adipate, sebacate, etc.), triethanolamine, monoethanolamine, etc. And the hydrobromide of the amine.

前記(D)成分の配合量としては、異方性導電ペースト100質量%に対して、0.1質量%以上10質量%以下であることが好ましく、0.5質量%以上5質量%以下であることがより好ましく、1質量%以上3質量%以下であることが特に好ましい。(D)成分の配合量が前記下限以上であれば、はんだ粉末の表面への活性作用を確保できる。また、(D)成分の配合量が前記上限以下であれば、得られる異方性導電ペーストの絶縁性を確保できる。   The blending amount of the component (D) is preferably 0.1% by mass or more and 10% by mass or less, and 0.5% by mass or more and 5% by mass or less with respect to 100% by mass of the anisotropic conductive paste. More preferably, it is more preferably 1% by mass or more and 3% by mass or less. When the blending amount of the component (D) is equal to or more than the lower limit, an active action on the surface of the solder powder can be secured. Moreover, if the compounding quantity of (D) component is below the said upper limit, the insulation of the anisotropic conductive paste obtained can be ensured.

[(E)成分]
本発明に用いる(E)プレゲル化剤は、エポキシ樹脂との相溶性が良好な有機微粒子である。また、この(E)成分は、所定温度以上かつエポキシ樹脂の硬化温度以下に加熱した場合に、有機微粒子が膨潤することで、異方性導電ペーストをゲル化できるものである。前記(E)成分は、ボイド抑制の観点から、ポリメタクリル酸エステル系有機微粒子であることが好ましい。また、このポリメタクリル酸エステル系有機微粒子は、親水処理がされているものであることが好ましい。また、前記(E)成分は、コアシェル構造を有するものであってもよい。
[(E) component]
The (E) pregelling agent used in the present invention is organic fine particles having good compatibility with the epoxy resin. Moreover, this (E) component can gelatinize an anisotropic electrically conductive paste because an organic fine particle swells when it heats more than predetermined temperature and below the curing temperature of an epoxy resin. The component (E) is preferably polymethacrylate organic fine particles from the viewpoint of suppressing voids. Moreover, it is preferable that the polymethacrylic acid ester-based organic fine particles have been subjected to a hydrophilic treatment. The component (E) may have a core-shell structure.

前記(E)成分の平均粒子径は、0.1μm以上5μm以下であることが好ましく、0.3μm以上3μm以下であることがより好ましい。なお、平均粒子径は、動的光散乱式の粒子径測定装置により測定できる。
前記(E)成分の市販品としては、ゼフィアックF301、F303、F320、およびF351など(アイカ工業社製など、商品名)が挙げられる。
The average particle size of the component (E) is preferably from 0.1 μm to 5 μm, and more preferably from 0.3 μm to 3 μm. The average particle size can be measured with a dynamic light scattering type particle size measuring device.
Examples of the commercially available component (E) include Zefiac F301, F303, F320, and F351 (trade names such as those manufactured by Aika Kogyo Co., Ltd.).

前記(E)成分の配合量は、異方性導電ペースト100質量%に対して、2質量%以上25質量%以下であることが必要である。(E)成分の配合量が2質量%未満では、熱圧着工程前のプリヒート処理の時間が短い場合に、ボイドの発生を抑制できない。他方、(E)成分の配合量が25質量%を超えると、得られる異方性導電ペーストの接着強度が低下するとともに、導通性が不十分となる。また、得られる異方性導電ペーストのボイドおよび導通性のバランスの観点から、前記(E)成分の配合量は、異方性導電ペースト100質量%に対して、3質量%以上20質量%以下であることがより好ましく、4質量%以上15質量%以下であることが特に好ましい。   The blending amount of the component (E) needs to be 2% by mass or more and 25% by mass or less with respect to 100% by mass of the anisotropic conductive paste. When the compounding amount of the component (E) is less than 2% by mass, the generation of voids cannot be suppressed when the preheating treatment time before the thermocompression bonding process is short. On the other hand, when the blending amount of the component (E) exceeds 25% by mass, the adhesive strength of the obtained anisotropic conductive paste is lowered and the conductivity is insufficient. In addition, from the viewpoint of the balance of voids and electrical conductivity of the obtained anisotropic conductive paste, the amount of the component (E) is 3% by mass or more and 20% by mass or less with respect to 100% by mass of the anisotropic conductive paste. It is more preferable that it is 4 mass% or more and 15 mass% or less.

また、本発明の異方性導電ペーストは、前記(A)成分〜前記(E)成分の他に、(F)チクソ剤をさらに含有してもよい。   The anisotropic conductive paste of the present invention may further contain (F) a thixotropic agent in addition to the components (A) to (E).

[(F)成分]
本発明に用いる(F)チクソ剤としては、公知のチクソ剤を適宜用いることができる。このようなチクソ剤としては、例えば、脂肪酸アマイド、水添ヒマシ油、オレフィン系ワックス、およびアモルファスシリカなどが挙げられる。これらの中でも、脂肪酸アマイド、アモルファスシリカが好ましく、特に、得られる異方性導電ペーストのにじみにくさの観点からは、アモルファスシリカが好ましい。アモルファスシリカとしては、アエロジルR974、およびアエロジル200などが挙げられる。
前記(F)成分の配合量は、異方性導電ペースト100質量%に対して、0.5質量%以上4質量%以下であることが好ましい。(F)成分の配合量が前記下限以上であれば、十分なチクソ性が得られ、ダレを十分に抑制できる。また、(F)成分の配合量が前記上限以下であれば、チクソ性が高すぎて、塗布不良となることはない。
[(F) component]
As the (F) thixotropic agent used in the present invention, a known thixotropic agent can be appropriately used. Examples of such thixotropic agents include fatty acid amide, hydrogenated castor oil, olefinic wax, and amorphous silica. Among these, fatty acid amide and amorphous silica are preferable, and amorphous silica is particularly preferable from the viewpoint of difficulty in bleeding of the obtained anisotropic conductive paste. Examples of the amorphous silica include Aerosil R974 and Aerosil 200.
The blending amount of the component (F) is preferably 0.5% by mass or more and 4% by mass or less with respect to 100% by mass of the anisotropic conductive paste. If the compounding quantity of (F) component is more than the said minimum, sufficient thixotropy will be acquired and dripping can fully be suppressed. Moreover, if the compounding quantity of (F) component is below the said upper limit, thixotropy is too high and it does not become a coating defect.

本発明の異方性導電ペーストは、必要に応じて、前記(A)成分〜前記(F)成分の他に、界面活性剤、消泡剤、粉末表面処理剤、反応抑制剤、沈降防止剤などの添加剤を含有していてもよい。これらの添加剤の配合量としては、異方性導電ペースト100質量%に対して、0.01質量%以上10質量%以下であることが好ましく、0.05質量%以上5質量%以下であることがより好ましい。   The anisotropic conductive paste of the present invention is optionally provided with a surfactant, an antifoaming agent, a powder surface treatment agent, a reaction inhibitor, an anti-settling agent in addition to the components (A) to (F). Etc. may be contained. The amount of these additives is preferably 0.01% by mass or more and 10% by mass or less, and 0.05% by mass or more and 5% by mass or less with respect to 100% by mass of the anisotropic conductive paste. It is more preferable.

[電子基板の製造方法]
次に、本発明の電子基板の製造方法について説明する。
本発明の電子基板の製造方法は、前述した本発明の異方性導電ペーストを用いた電子基板の製造方法であって、配線基板上に前記異方性導電ペーストを塗布する塗布工程と、前記塗布工程後の前記配線基板に対し、90℃以上150℃以下の温度で3秒間以上120秒間以下の熱処理を施すプリヒート工程と、前記異方性導電ペースト上に電子部品を配置し、前記電子部品を前記配線基板に熱圧着する熱圧着工程と、を備えることを特徴とする方法である。
配線基板としては、プリント配線基板などの公知の配線基板を使用できる。また、電子部品としては、複数の電極を有するものであれば、特に限定されず、例えば、フレキ基板であってもよい。ここでは、異方性導電ペーストを用いて、リジット基板およびフレキ基板の電極同士を接続する場合を例に挙げて説明する。
[Electronic substrate manufacturing method]
Next, the manufacturing method of the electronic substrate of this invention is demonstrated.
The method for manufacturing an electronic substrate of the present invention is a method for manufacturing an electronic substrate using the anisotropic conductive paste of the present invention described above, and a coating step of applying the anisotropic conductive paste on a wiring substrate; A preheating step of performing heat treatment for 3 seconds to 120 seconds at a temperature of 90 ° C. or higher and 150 ° C. or lower with respect to the wiring board after the coating step; and disposing the electronic component on the anisotropic conductive paste; And a thermocompression bonding step of thermocompression bonding to the wiring board.
As the wiring board, a known wiring board such as a printed wiring board can be used. Moreover, as an electronic component, if it has a some electrode, it will not specifically limit, For example, a flexible substrate may be sufficient. Here, the case where the electrodes of a rigid substrate and a flexible substrate are connected using an anisotropic conductive paste will be described as an example.

塗布工程においては、前記リジット基板上に前記異方性導電ペーストを塗布する。
ここで用いる塗布装置としては、例えば、ディスペンサー、スクリーン印刷機、ジェットディスペンサーおよびメタルマスク印刷機が挙げられる。
また、塗布膜の厚みは、特に限定されないが、50μm以上500μm以下であることが好ましく、100μm以上300μm以下であることがより好ましい。厚みが前記下限未満では、リジット基板の電極上にフレキ基板を搭載した際の付着力が低下する傾向にあり、他方、前記上限を超えると、接続部分以外にもペーストがはみ出しやすくなる傾向にある。
In the applying step, the anisotropic conductive paste is applied on the rigid substrate.
Examples of the coating apparatus used here include a dispenser, a screen printer, a jet dispenser, and a metal mask printer.
The thickness of the coating film is not particularly limited, but is preferably 50 μm or more and 500 μm or less, and more preferably 100 μm or more and 300 μm or less. When the thickness is less than the lower limit, the adhesive force when the flexible substrate is mounted on the electrode of the rigid substrate tends to be reduced. On the other hand, when the thickness exceeds the upper limit, the paste tends to protrude beyond the connection portion. .

プリヒート工程においては、前記塗布工程後の前記配線基板に対し、90℃以上150℃以下の温度で3秒間以上120秒間以下の熱処理を施す。
プリヒート工程における熱処理は、前記範囲内であればよいが、作業性の観点から適宜変更してもよい。例えば、熱処理の温度は、100℃以上150℃以下であることが好ましく、110℃以上140℃以下であることがより好ましく、120℃以上130℃以下であることが特に好ましい。なお、熱処理の温度は、前記はんだ粉末の融点よりも低いことが好ましい。また、熱処理の時間は、3秒間以上30秒間以下であることが好ましく、5秒間以上20秒間以下であることがより好ましく、5秒間以上10秒間以下であることが特に好ましい。
また、はんだ粉末を含有する異方性導電ペーストを用いる場合には、熱処理の温度を、前記はんだ粉末の融点よりも1℃以上低い温度(より好ましくは10℃以上低い温度)とすることが好ましい。
なお、本発明においては、このように処理時間の短いプリヒート工程を行うことにより、熱圧着工程前のプリベーク処理を省略できる。すなわち、従来は、ボイドの低減対策として、配線基板や電子部品の内部に取り込まれる低沸点物質を、予め揮発させておくプリベーク処理が必要であった。しかし、本発明の異方性導電ペーストを用いる場合には、プリヒート工程により、異方性導電ペーストをプレゲル化することができる。そして、配線基板や電子部品に由来するガス(主に水などの低沸点物質)が発生したとしても、エポキシ樹脂中に取り込まれることを抑制できる。そのため、熱圧着工程前のプリベーク処理を省略した場合でも、ボイドの発生を十分に抑制できる。
In the preheating step, the wiring substrate after the coating step is subjected to a heat treatment for 3 seconds to 120 seconds at a temperature of 90 ° C. to 150 ° C.
The heat treatment in the preheating step may be within the above range, but may be appropriately changed from the viewpoint of workability. For example, the heat treatment temperature is preferably 100 ° C. or higher and 150 ° C. or lower, more preferably 110 ° C. or higher and 140 ° C. or lower, and particularly preferably 120 ° C. or higher and 130 ° C. or lower. The heat treatment temperature is preferably lower than the melting point of the solder powder. The heat treatment time is preferably 3 seconds or longer and 30 seconds or shorter, more preferably 5 seconds or longer and 20 seconds or shorter, and particularly preferably 5 seconds or longer and 10 seconds or shorter.
Moreover, when using the anisotropic conductive paste containing solder powder, it is preferable that the temperature of heat processing shall be 1 degree C or more lower temperature (more preferably 10 degree C or more lower temperature) than melting | fusing point of the said solder powder. .
In the present invention, the pre-bake process before the thermocompression bonding process can be omitted by performing the pre-heating process with a short processing time. That is, conventionally, as a measure for reducing voids, a pre-bake treatment for volatilizing a low-boiling substance taken into a wiring board or an electronic component in advance is necessary. However, when the anisotropic conductive paste of the present invention is used, the anisotropic conductive paste can be pregelled by the preheating step. And even if the gas (mainly low boiling point substances, such as water) originating in a wiring board or an electronic component generate | occur | produces, it can suppress taking in in an epoxy resin. Therefore, even when the prebaking process before the thermocompression bonding process is omitted, the generation of voids can be sufficiently suppressed.

熱圧着工程においては、前記異方性導電ペースト上に前記フレキ基板を配置し、前記フレキ基板を前記リジット基板に熱圧着する。また、はんだ粉末を含有する異方性導電ペーストを用いる場合には、熱圧着時の温度を、前記はんだ粉末の融点よりも1℃以上高い温度(より好ましくは10℃以上高い温度)とすることが好ましい。
熱圧着時の温度が、前記はんだ粉末の融点よりも1℃以上高いという条件を満たさない場合には、はんだを十分に溶融させることができない傾向にある。そのため、フレキ基板およびリジット基板の間に十分なはんだ接合を形成できず、フレキ基板およびリジット基板の間の導電性が不十分となる傾向にある。
熱圧着時の温度は、130℃以上250℃以下とすることが好ましく、150℃以上240℃以下とすることがより好ましく、180℃以上220℃以下とすることが特に好ましい。
熱圧着時の圧力は、特に限定されないが、0.05MPa以上4MPa以下とすることが好ましく、0.1MPa以上3.5MPa以下とすることがより好ましい。圧力が前記下限以上であれば、リジット基板およびフレキ基板の間に十分なはんだ接合を形成でき、リジット基板およびフレキ基板の間の導電性を向上できる。他方、圧力が前記上限以下であれば、リジット基板に過度のストレスがかかることを抑制でき、デッドスペースを少なくできる。
なお、本発明においては、上記のように、熱圧着時の圧力を、導電性フィラー系の異方性導電ペーストを用いる方法による場合と比較して、低い圧力範囲に設定することができる。そのため、熱圧着工程に用いる装置の低コスト化を達成することもできる。
熱圧着時の時間は、特に限定されないが、通常、1秒間以上60秒間以下であり、2秒間以上20秒間以下であることが好ましく、3秒間以上15秒間以下であることがより好ましい。
In the thermocompression bonding step, the flexible substrate is disposed on the anisotropic conductive paste, and the flexible substrate is thermocompression bonded to the rigid substrate. Moreover, when using the anisotropic conductive paste containing solder powder, the temperature at the time of thermocompression bonding is set to a temperature that is 1 ° C. higher than the melting point of the solder powder (preferably higher than 10 ° C.). Is preferred.
When the temperature at the time of thermocompression bonding does not satisfy the condition that the temperature is higher by 1 ° C. or more than the melting point of the solder powder, the solder tends not to be sufficiently melted. Therefore, a sufficient solder joint cannot be formed between the flexible substrate and the rigid substrate, and the conductivity between the flexible substrate and the rigid substrate tends to be insufficient.
The temperature during thermocompression bonding is preferably 130 ° C. or higher and 250 ° C. or lower, more preferably 150 ° C. or higher and 240 ° C. or lower, and particularly preferably 180 ° C. or higher and 220 ° C. or lower.
Although the pressure at the time of thermocompression bonding is not particularly limited, it is preferably 0.05 MPa or more and 4 MPa or less, and more preferably 0.1 MPa or more and 3.5 MPa or less. If the pressure is equal to or higher than the lower limit, a sufficient solder joint can be formed between the rigid substrate and the flexible substrate, and the conductivity between the rigid substrate and the flexible substrate can be improved. On the other hand, if the pressure is equal to or lower than the upper limit, it is possible to suppress the rigid substrate from being excessively stressed and reduce the dead space.
In the present invention, as described above, the pressure at the time of thermocompression bonding can be set to a lower pressure range as compared with the case of the method using the conductive filler-based anisotropic conductive paste. Therefore, cost reduction of the apparatus used for a thermocompression bonding process can also be achieved.
Although the time at the time of thermocompression bonding is not particularly limited, it is usually 1 second to 60 seconds, preferably 2 seconds to 20 seconds, and more preferably 3 seconds to 15 seconds.

また、本発明の異方性導電ペーストを用いた接続方法は、前記接続方法に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良などは本発明に含まれるものである。   Further, the connection method using the anisotropic conductive paste of the present invention is not limited to the connection method described above, and modifications, improvements, etc. within a range where the object of the present invention can be achieved are included in the present invention. is there.

次に、本発明を実施例および比較例によりさらに詳細に説明するが、本発明はこれらの例によってなんら限定されるものではない。なお、実施例および比較例にて用いた材料を以下に示す。
((A)成分)
導電性粒子:はんだ粉末、平均粒子径は12μm、はんだの融点は139℃、はんだの組成は42Sn/58Bi
((B1)成分)
エポキシ樹脂A:ビスフェノールF型とビスフェノールA型との混合液状エポキシ樹脂、商品名「EPICRON EXA−830LVP」、DIC社製
((B2)成分)
エポキシ樹脂B:ビフェニルノボラック型エポキシ樹脂、商品名「NC−3000」、日本化薬社製
((B3)成分)
エポキシ樹脂C:テトラキス(グリシジルオキシフェニル)エタン、商品名「GTR−1800」、日本化薬社製
((C)成分)
硬化剤A:2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、商品名「キュアゾール2P4MHZ」、四国化成工業社製
硬化剤B:イミダゾール誘導体、商品名「サンマイド LH−210」、エアープロダクツ社製
硬化剤C:エポキシ樹脂アミンアダクト、「アミキュアPN−F」、味の素ファインテクノ社製
((D)成分)
活性剤A:アジピン酸
活性剤B:ベンジルアミンアジピン酸塩
((E)成分)
プレゲル化剤A:改質ポリメタクリル酸エステル微粒子(親水処理)、商品名「ゼフィアック F303」、アイカ工業社製
プレゲル化剤B:ポリメタクリル酸エステル微粒子、商品名「ゼフィアック F320」、アイカ工業社製
プレゲル化剤C:コアシェル型アクリル系微粒子、商品名「ゼフィアック F351」、アイカ工業社製
((F)成分)
チクソ剤A:商品名「ゲルオールD」、新日本理化社製
チクソ剤B:アモルファスシリカ、商品名「AEROSIL R974」、日本アエロジル社製
(他の成分)
有機微粒子:多層構造有機微粒子、商品名「スタフィロイド AC−3355」、アイカ工業社製
EXAMPLES Next, although an Example and a comparative example demonstrate this invention further in detail, this invention is not limited at all by these examples. In addition, the material used in the Example and the comparative example is shown below.
((A) component)
Conductive particles: solder powder, average particle diameter is 12 μm, solder melting point is 139 ° C., solder composition is 42 Sn / 58 Bi
((B1) component)
Epoxy resin A: Mixed liquid epoxy resin of bisphenol F type and bisphenol A type, trade name “EPICRON EXA-830LVP”, manufactured by DIC (component (B2))
Epoxy resin B: biphenyl novolac type epoxy resin, trade name “NC-3000”, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. (component (B3))
Epoxy resin C: tetrakis (glycidyloxyphenyl) ethane, trade name “GTR-1800”, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. (component (C))
Curing agent A: 2,4-diamino-6- [2′-methylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine, trade name “Curazole 2P4MHZ”, curing agent B manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd .: imidazole derivative, Product name “Sunmide LH-210”, Air Products Co., Ltd. hardener C: Epoxy resin amine adduct, “Amure PN-F”, Ajinomoto Fine Techno Co., Ltd. (component (D))
Activator A: Adipic acid Activator B: Benzylamine adipate (component (E))
Pregelling agent A: Modified polymethacrylic acid ester fine particles (hydrophilic treatment), trade name “Zefiac F303”, Aika Kogyo Co., Ltd. Pregelling agent B: Polymethacrylic acid ester fine particles, trade name “Zefiac F320”, Aika Kogyo Pregelling agent C: Core-shell type acrylic fine particles, trade name “Zefiac F351”, manufactured by Aika Kogyo Co., Ltd. (component (F))
Thixotropic agent A: Trade name “Gelall D”, Shin Nippon Chemical Co., Ltd. thixotropic agent B: Amorphous silica, trade name “AEROSIL R974”, Nippon Aerosil Co., Ltd. (other ingredients)
Organic fine particles: Multi-layered organic fine particles, trade name “STAPHYLOID AC-3355”, manufactured by Aika Industry Co., Ltd.

[実施例1]
エポキシ樹脂A35質量部、エポキシ樹脂B15質量部、エポキシ樹脂C5質量部、硬化剤A5質量部、硬化剤B5質量部、硬化剤C5質量部、活性剤A1質量部、活性剤B1質量部、チクソ剤A1質量部、チクソ剤B2質量部、およびプレゲル化剤A3質量部を容器に投入し、攪拌機にて予備混合した後、3本ロールを用いて室温にて混合し分散させて樹脂組成物を得た。
その後、得られた樹脂組成物78質量部に対し、導電性粒子25質量部を容器に投入し、混練機にて2時間混合することで異方性導電ペーストを調製した。
次に、リジット基板(基材:FR−4、ライン幅:100μm、ピッチ:200μm、銅厚:18μm)を準備し、リジット基板の櫛形電極上に、得られた異方性導電ペーストをディスペンサーにて塗布した(厚み:0.2mm)。そして、塗布後のリジット基板に対し、130℃の温度で10秒間のプリヒートを行い、その後、異方性導電ペースト上に、フレキ基板(ライン幅:100μm、ピッチ:200μm、銅厚:12μm)を配置し、熱圧着装置(アドバンセル社製)を用いて、温度180℃、圧力1.0MPa、圧着時間15秒の条件で、フレキ基板をリジット基板に熱圧着して、フレキ基板付のリジット基板(評価基板)を作製した。
[Example 1]
Epoxy resin A 35 parts by mass, epoxy resin B 15 parts by mass, epoxy resin C 5 parts by mass, curing agent A 5 parts by mass, curing agent B 5 parts by mass, curing agent C 5 parts by mass, activator A 1 part by mass, activator B 1 part by mass, thixotropic agent A 1 part by mass, 2 parts by mass of thixotropic agent B, and 3 parts by mass of pregelling agent A are charged into a container, premixed with a stirrer, and then mixed and dispersed at room temperature using a three roll to obtain a resin composition. It was.
Then, with respect to 78 mass parts of obtained resin compositions, 25 mass parts of electroconductive particles were thrown into the container, and the anisotropic conductive paste was prepared by mixing for 2 hours with a kneader.
Next, a rigid substrate (base material: FR-4, line width: 100 μm, pitch: 200 μm, copper thickness: 18 μm) is prepared, and the obtained anisotropic conductive paste is used as a dispenser on the comb-shaped electrode of the rigid substrate. (Thickness: 0.2 mm). Then, the rigid substrate after coating is preheated at a temperature of 130 ° C. for 10 seconds, and then a flexible substrate (line width: 100 μm, pitch: 200 μm, copper thickness: 12 μm) is formed on the anisotropic conductive paste. Place the flexible substrate on the rigid substrate using a thermocompression bonding apparatus (manufactured by Advancel) at a temperature of 180 ° C., a pressure of 1.0 MPa, and a bonding time of 15 seconds. (Evaluation substrate) was prepared.

[実施例2〜6および比較例1〜3]
表1に示す組成に従い各材料を配合した以外は実施例1と同様にして、異方性導電ペーストを得た。
また、得られた異方性導電ペーストを用いた以外は実施例1と同様にして、フレキ基板付のリジット基板(評価基板)を作製した。
[Examples 2-6 and Comparative Examples 1-3]
An anisotropic conductive paste was obtained in the same manner as in Example 1 except that each material was blended according to the composition shown in Table 1.
Further, a rigid substrate with a flexible substrate (evaluation substrate) was produced in the same manner as in Example 1 except that the obtained anisotropic conductive paste was used.

<異方性導電ペーストの評価>
異方性導電ペーストの評価(ボイド、接着強度、導通性、初期接合不良率)を以下のような方法で行った。得られた結果を表1に示す。
(1)ボイド
評価基板を、測定顕微鏡(オリンパス社製の「STM6」)で観察し、評価基板におけるリジット基板とフレキ基板が重なり合う部分の面積と、泡の存在する箇所の面積とを測定し、泡の占める比率[(泡の存在する箇所の面積)/(重なり合う部分の面積)×100%]を測定した。ボイドの評価は、以下の基準に従って評価した。
○:泡の占める比率が10%以下である。
△:泡の占める比率が10%超20%以下である。
×:泡の占める比率が20%超である。
(2)接着強度(ピール強度)
試験機(Dage社製の「Dage4000」)を用い、評価基板におけるリジット基板に対するフレキ基板の角度が90度となるようにして、フレキ基板を試験速度50mm/minで引っ張り、そのときのピール強度(単位:N/mm)を測定した。そして、接着強度は、以下の基準に従って評価した。
○:ピール強度が0.8N/mm以上である。
△:ピール強度が0.6N/mm以上0.8N/mm未満である。
×:ピール強度が0.6N/mm未満である。
(3)導通性
デジタルマルチメーター(アジレント・テクノロジー社製の「34410A」)を用いて、評価基板の抵抗値を測定した。なお、リジット基板の電極とフレキ基板の電極に、それぞれ端子を接続して抵抗値を測定した。測定基準として抵抗値が測定されれば、導通していることがわかり、回路の形成が可能であると判断できる。導通性は、以下の基準に従って評価した。
○:抵抗値が100mΩ以下である。
△:抵抗値が100mΩ超である。
×:抵抗値が高すぎて、測定できない。
(4)初期接合不良率
導通性試験の評価基板を10枚準備し、それぞれの評価基板について、導通性試験を行った。評価基板の数(試験片数)に対する導通性の評価結果が「×」となった回数(測定不能数)との比(測定不能数/試験片数)を、初期接合不良率として、評価した。
<Evaluation of anisotropic conductive paste>
Evaluation of the anisotropic conductive paste (void, adhesive strength, conductivity, initial bonding failure rate) was performed by the following method. The obtained results are shown in Table 1.
(1) Void The evaluation substrate is observed with a measurement microscope (“STM6” manufactured by Olympus), and the area of the portion where the rigid substrate and the flexible substrate overlap in the evaluation substrate and the area of the location where bubbles are present are measured. The ratio of bubbles [(area of the area where bubbles exist) / (area of the overlapping part) × 100%] was measured. Voids were evaluated according to the following criteria.
○: The ratio of bubbles is 10% or less.
(Triangle | delta): The ratio for which a bubble accounts is 20% or less exceeding 10%.
X: The ratio for which a bubble accounts is more than 20%.
(2) Adhesive strength (peel strength)
Using a testing machine (“Dage4000” manufactured by Dage), pulling the flexible substrate at a test speed of 50 mm / min with the angle of the flexible substrate relative to the rigid substrate in the evaluation substrate being 90 degrees, peel strength at that time ( Unit: N / mm) was measured. And the adhesive strength was evaluated according to the following criteria.
○: Peel strength is 0.8 N / mm or more.
Δ: Peel strength is 0.6 N / mm or more and less than 0.8 N / mm.
X: Peel strength is less than 0.6 N / mm.
(3) Conductivity The resistance value of the evaluation substrate was measured using a digital multimeter (“34410A” manufactured by Agilent Technologies). In addition, the resistance value was measured by connecting terminals to the electrode of the rigid substrate and the electrode of the flexible substrate, respectively. If the resistance value is measured as a measurement standard, it can be seen that the circuit is conductive and it can be determined that the circuit can be formed. The conductivity was evaluated according to the following criteria.
○: Resistance value is 100 mΩ or less.
Δ: Resistance value exceeds 100 mΩ.
X: Resistance value is too high to measure.
(4) Initial bonding failure rate Ten evaluation boards for the continuity test were prepared, and the continuity test was performed on each evaluation board. The ratio (number of unmeasurable / number of test pieces) to the number of times (number of unmeasurable) that the continuity evaluation result for the number of evaluation boards (number of test pieces) was “x” was evaluated as the initial bonding failure rate. .

Figure 0006490781
Figure 0006490781

表1に示す結果からも明らかなように、本発明の異方性導電ペーストを用いた場合(実施例1〜6)には、熱圧着工程前のプリベーク処理を省略した場合でも、ボイドの発生を十分に抑制でき、十分な接着強度および導通性を有することが確認された。従って、本発明の異方性導電ペーストによれば、熱圧着工程前のプリベーク処理を省略できることが確認された。
これに対し、プレゲル化剤を含有しない異方性導電ペーストを用いた場合(比較例1および3)には、熱圧着工程前のプリベーク処理を省略した場合にはボイドの問題が生じることが分かった。また、プレゲル化剤の配合量が多過ぎる場合(比較例2)には、導通性の問題が発生することが分かった。
As is clear from the results shown in Table 1, when the anisotropic conductive paste of the present invention was used (Examples 1 to 6), voids were generated even when the pre-bake treatment before the thermocompression bonding step was omitted. It was confirmed that the material can be sufficiently suppressed and has sufficient adhesive strength and electrical conductivity. Therefore, according to the anisotropic conductive paste of this invention, it was confirmed that the prebaking process before a thermocompression bonding process can be skipped.
On the other hand, when the anisotropic conductive paste containing no pregelling agent is used (Comparative Examples 1 and 3), it is found that a void problem occurs when the prebaking process before the thermocompression bonding step is omitted. It was. Moreover, when there were too many compounding quantities of the pregelling agent (comparative example 2), it turned out that the problem of electroconductivity generate | occur | produces.

[実施例7]
塗布後のリジット基板に対し、90℃の温度で3秒間のプリヒートを行った以外は実施例2と同様にして、フレキ基板付のリジット基板(評価基板)を作製した。
[実施例8]
塗布後のリジット基板に対し、150℃の温度で120秒間のプリヒートを行った以外は実施例2と同様にして、フレキ基板付のリジット基板(評価基板)を作製した。
[実施例9]
塗布後のリジット基板に対し、90℃の温度で120秒間のプリヒートを行った以外は実施例2と同様にして、フレキ基板付のリジット基板(評価基板)を作製した。
[実施例10]
塗布後のリジット基板に対し、150℃の温度で3秒間のプリヒートを行った以外は実施例2と同様にして、フレキ基板付のリジット基板(評価基板)を作製した。
[Example 7]
A rigid substrate with a flexible substrate (evaluation substrate) was prepared in the same manner as in Example 2 except that the rigid substrate after coating was preheated at 90 ° C. for 3 seconds.
[Example 8]
A rigid substrate with a flexible substrate (evaluation substrate) was prepared in the same manner as in Example 2 except that the rigid substrate after coating was preheated at a temperature of 150 ° C. for 120 seconds.
[Example 9]
A rigid substrate with a flexible substrate (evaluation substrate) was prepared in the same manner as in Example 2 except that the rigid substrate after coating was preheated at 90 ° C. for 120 seconds.
[Example 10]
A rigid substrate with a flexible substrate (evaluation substrate) was produced in the same manner as in Example 2 except that the rigid substrate after coating was preheated at a temperature of 150 ° C. for 3 seconds.

<電子基板の製造方法の評価>
電子基板の製造方法の評価(ボイド、接着強度、導通性、初期接合不良率)を、前述した異方性導電ペーストの評価と同様の方法で行った。得られた結果を表2に示す。また、プリヒート工程における熱処理温度および熱処理時間を表2に示す。なお、参考のために、実施例2の結果も表2に示す。
<Evaluation of electronic substrate manufacturing method>
Evaluation of the manufacturing method of the electronic substrate (void, adhesive strength, conductivity, initial bonding failure rate) was performed by the same method as the evaluation of the anisotropic conductive paste described above. The obtained results are shown in Table 2. Table 2 shows the heat treatment temperature and heat treatment time in the preheating step. For reference, the results of Example 2 are also shown in Table 2.

Figure 0006490781
Figure 0006490781

表2に示す結果からも明らかなように、プリヒート工程における熱処理温度が90℃以上150℃以下であり、熱処理時間が3秒間以上120秒間以下であれば(実施例7〜10)、本発明の異方性導電ペーストを用いた場合に、熱圧着工程前のプリベーク処理を省略した場合でも、ボイドの発生を十分に抑制でき、十分な接着強度および導通性を有することが確認された。   As is clear from the results shown in Table 2, if the heat treatment temperature in the preheating step is 90 ° C. or more and 150 ° C. or less and the heat treatment time is 3 seconds or more and 120 seconds or less (Examples 7 to 10), In the case of using the anisotropic conductive paste, it was confirmed that even when the pre-bake treatment before the thermocompression bonding step is omitted, the generation of voids can be sufficiently suppressed and the adhesive strength and conductivity are sufficient.

本発明の異方性導電ペーストは、配線基板同士(例えば、フレキ基板とリジット基板)を接続する技術や、電子部品と配線基板とを接続する技術として好適に用いることができる。   The anisotropic conductive paste of the present invention can be suitably used as a technique for connecting wiring boards (for example, a flexible board and a rigid board) or a technique for connecting an electronic component and a wiring board.

Claims (6)

(A)はんだ粉末と、(B)エポキシ樹脂と、(C)硬化剤と、(D)活性剤と、(E)プレゲル化剤とを含有し、
前記(D)活性剤が、有機酸、有機酸アミン塩、ハロゲン原子が共有結合により結合した非塩系の有機化合物、およびアミン系活性剤からなる群から選択される少なくとも1つであり、
前記(E)プレゲル化剤の配合量が、当該異方性導電ペースト100質量%に対して、2質量%以上25質量%以下である
ことを特徴とする異方性導電ペースト。
(A) a solder powder , (B) an epoxy resin, (C) a curing agent, (D) an activator, and (E) a pregelling agent,
The (D) activator is at least one selected from the group consisting of an organic acid, an organic acid amine salt, a non-salt organic compound in which a halogen atom is covalently bonded, and an amine activator,
The anisotropic conductive paste characterized in that the compounding amount of the (E) pregelling agent is 2% by mass or more and 25% by mass or less with respect to 100% by mass of the anisotropic conductive paste.
請求項1に記載の異方性導電ペーストにおいて、
前記(B)エポキシ樹脂が、(B1)25℃において液状のビスフェノール型エポキシ樹脂と、(B2)ノボラック型エポキシ樹脂とを含有する
ことを特徴とする異方性導電ペースト。
The anisotropic conductive paste according to claim 1 ,
The anisotropic conductive paste, wherein the (B) epoxy resin contains (B1) a bisphenol-type epoxy resin that is liquid at 25 ° C. and (B2) a novolac-type epoxy resin.
請求項1または請求項2に記載の異方性導電ペーストにおいて、
前記(E)プレゲル化剤が、ポリメタクリル酸エステル系有機微粒子である
ことを特徴とする異方性導電ペースト。
In the anisotropic conductive paste according to claim 1 or 2 ,
The anisotropic conductive paste, wherein the pregelling agent (E) is polymethacrylate organic fine particles.
請求項に記載の異方性導電ペーストにおいて、
前記ポリメタクリル酸エステル系有機微粒子は、親水処理がされているものである
ことを特徴とする異方性導電ペースト。
In the anisotropic conductive paste according to claim 3 ,
The anisotropic conductive paste, wherein the polymethacrylate organic fine particles are subjected to a hydrophilic treatment.
請求項1〜請求項のいずれか1項に記載の異方性導電ペーストを用いた電子基板の製造方法であって、
配線基板上に前記異方性導電ペーストを塗布する塗布工程と、
前記塗布工程後の前記配線基板に対し、90℃以上150℃以下の温度で3秒間以上120秒間以下の熱処理を施すプリヒート工程と、
前記異方性導電ペースト上に電子部品を配置し、前記電子部品を前記配線基板に、130℃以上250℃以下の温度で熱圧着する熱圧着工程と、
を備えることを特徴とする電子基板の製造方法。
A method for producing an electronic substrate using the anisotropic conductive paste according to any one of claims 1 to 4 ,
An application step of applying the anisotropic conductive paste on the wiring board;
A preheating step of performing a heat treatment for 3 seconds to 120 seconds at a temperature of 90 ° C. or more and 150 ° C. or less to the wiring board after the coating step;
A thermocompression bonding step of placing an electronic component on the anisotropic conductive paste, and thermocompression bonding the electronic component to the wiring board at a temperature of 130 ° C. or higher and 250 ° C. or lower ;
A method for manufacturing an electronic substrate, comprising:
請求項に記載の電子基板の製造方法において、
前記熱処理の温度が100℃以上150℃以下であり、前記熱処理の時間が3秒間以上30秒間以下である
ことを特徴とする電子基板の製造方法。
In the manufacturing method of the electronic substrate of Claim 5 ,
The temperature of the said heat processing is 100 degreeC or more and 150 degrees C or less, The time of the said heat processing is 3 seconds or more and 30 seconds or less. The manufacturing method of the electronic substrate characterized by the above-mentioned.
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