JP6490472B2 - Ophthalmic imaging apparatus and control method thereof - Google Patents

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Description

この発明は、眼科撮影装置、およびその制御方法に関する。   The present invention relates to an ophthalmologic photographing apparatus and a control method thereof.

眼科撮影装置は、被検眼の画像を取得するために用いられる。眼科撮影装置としては、細隙灯顕微鏡(スリットランプ)や眼底カメラなどが知られている。   The ophthalmologic photographing apparatus is used for acquiring an image of an eye to be examined. As an ophthalmologic photographing apparatus, a slit lamp microscope (slit lamp), a fundus camera, and the like are known.

眼科撮影装置は、一般的に、照明系と、撮影系とを含んで構成されている。照明系は、照明光で被検眼を照明する。撮影系は、被検眼からの照明光の戻り光を撮像装置に導く。眼科撮影装置は、撮像装置を用いて被検眼の画像を取得する。   An ophthalmologic photographing apparatus is generally configured to include an illumination system and a photographing system. The illumination system illuminates the eye to be examined with illumination light. The imaging system guides the return light of the illumination light from the eye to be examined to the imaging device. The ophthalmologic imaging apparatus acquires an image of the eye to be examined using the imaging apparatus.

特開2014−188339号公報JP 2014-188339 A

従来の眼科撮影装置において、照明系は、被検眼の部位にかかわらず、光束断面内で光量が均一な照明光(すなわち、空間的に均一な照明光)で被検眼を照明する。それにより、部位ごとの反射率の違いにより白飛びや黒潰れが発生し、観察に好適な画像を取得することができない場合がある。   In a conventional ophthalmologic photographing apparatus, the illumination system illuminates the subject's eye with illumination light having a uniform amount of light (that is, spatially uniform illumination light) within the cross section of the light beam, regardless of the region of the subject's eye. As a result, whiteout or blackout may occur due to the difference in reflectance for each part, and an image suitable for observation may not be acquired.

また、光束断面内で光量が均一な照明光で被検眼を照明するため、瞳孔に強い光が入射したときには被検者が眩しく感じ、被検者に不快感を与える場合がある。更に、縮瞳により被検眼の撮影や観察を続行することができなくなる場合がある。   In addition, since the eye to be examined is illuminated with illumination light having a uniform amount of light within the cross section of the light beam, the subject may feel dazzled when intense light is incident on the pupil, which may cause discomfort to the subject. Furthermore, there are cases where it is impossible to continue photographing and observing the subject's eye due to miosis.

この発明は、上記の課題を解決するためになされたものであり、その目的は、被検眼の画像を取得するための眼科撮影装置の新たな技術を提供することにある。   The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object thereof is to provide a new technique of an ophthalmologic photographing apparatus for obtaining an image of an eye to be examined.

実施形態に係る眼科撮影装置は、照明系と、撮影系と、制御部とを含む。照明系は、照明光生成部を備える。照明光生成部は、照明光を生成する。照明系は、照明光で被検眼を照明する。撮影系は、被検眼からの照明光の戻り光を撮像装置に導く。制御部は、撮像装置により取得された画像における輝度分布に基づいて照明光生成部を制御する。制御部は、照明光生成部により生成された照明光の面内位置と画像における照明光の照明位置との対応関係を特定する特定部と、特定部によって特定された対応関係に基づいて照明位置ごとに制御情報を決定し、決定された制御情報に基づいて照明光生成部を制御することにより面内位置ごとに光量を制御する光量制御部と、を含む。
実施形態に係る眼科撮影装置の制御方法は、取得ステップと、制御ステップとを含む。眼科撮影装置は、照明系と、撮影系とを含む。照明系は、照明光生成部を含む。照明光生成部は、照明光を生成する。照明系は、照明光で被検眼を照明する。撮影系は、被検眼からの照明光の戻り光を撮像装置に導く。取得ステップでは、撮像装置により被検眼の画像が取得される。制御ステップでは、取得された画像における輝度分布に基づいて照明光生成部が制御される。制御ステップは、照明光生成部により生成された照明光の面内位置と画像における照明光の照明位置との対応関係を特定し、特定された対応関係に基づいて照明位置ごとに制御情報を決定し、決定された制御情報に基づいて照明光生成部を制御することにより面内位置ごとに光量を制御する。
The ophthalmologic photographing apparatus according to the embodiment includes an illumination system, a photographing system, and a control unit. The illumination system includes an illumination light generation unit. The illumination light generation unit generates illumination light. The illumination system illuminates the eye to be examined with illumination light. The imaging system guides the return light of the illumination light from the eye to be examined to the imaging device. The control unit controls the illumination light generation unit based on the luminance distribution in the image acquired by the imaging device. The control unit is configured to identify a correspondence between the in-plane position of the illumination light generated by the illumination light generation unit and the illumination position of the illumination light in the image, and an illumination position based on the correspondence specified by the specification unit. And a light amount control unit that controls the light amount for each in-plane position by determining the control information for each and controlling the illumination light generation unit based on the determined control information.
The control method of the ophthalmologic imaging apparatus according to the embodiment includes an acquisition step and a control step. The ophthalmologic photographing apparatus includes an illumination system and a photographing system. The illumination system includes an illumination light generation unit. The illumination light generation unit generates illumination light. The illumination system illuminates the eye to be examined with illumination light. The imaging system guides the return light of the illumination light from the eye to be examined to the imaging device. In the acquisition step, an image of the eye to be examined is acquired by the imaging device. In the control step, the illumination light generation unit is controlled based on the luminance distribution in the acquired image. The control step identifies a correspondence relationship between the in-plane position of the illumination light generated by the illumination light generation unit and the illumination position of the illumination light in the image, and determines control information for each illumination position based on the identified correspondence relationship Then, the amount of light is controlled for each in-plane position by controlling the illumination light generation unit based on the determined control information.

この発明によれば、被検眼の画像を取得するための眼科撮影装置の新たな技術を提供することが可能になる。   According to the present invention, it is possible to provide a new technique of an ophthalmologic photographing apparatus for acquiring an image of an eye to be examined.

実施形態に係る眼科撮影装置の外観構成の一例を表す概略側面図である。1 is a schematic side view illustrating an example of an external configuration of an ophthalmologic photographing apparatus according to an embodiment. 実施形態に係る眼科撮影装置の光学系の構成の一例を表す概略図である。It is the schematic showing an example of a structure of the optical system of the ophthalmologic imaging device which concerns on embodiment. 実施形態に係る眼科撮影装置の制御系の構成の一例を表す概略図である。It is the schematic showing an example of the structure of the control system of the ophthalmologic imaging device which concerns on embodiment. 実施形態に係る眼科撮影装置の動作説明図である。It is operation | movement explanatory drawing of the ophthalmologic imaging device which concerns on embodiment. 実施形態に係る眼科撮影装置の動作説明図である。It is operation | movement explanatory drawing of the ophthalmologic imaging device which concerns on embodiment. 実施形態に係る眼科撮影装置の動作の一例を表すフロー図である。It is a flowchart showing an example of operation | movement of the ophthalmologic imaging device which concerns on embodiment. 実施形態に係る眼科撮影装置の光学系の構成の一例を表す概略図である。It is the schematic showing an example of a structure of the optical system of the ophthalmologic imaging device which concerns on embodiment.

この発明に係る眼科撮影装置の実施形態の一例について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、この明細書に記載された文献の記載内容を、以下の実施形態の内容として適宜援用することが可能である。   An example of an embodiment of an ophthalmologic photographing apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In addition, it is possible to use suitably the description content of the literature described in this specification as the content of the following embodiment.

以下では、実施形態に係る眼科撮影装置として細隙灯顕微鏡を例に説明するが、実施形態に係る眼科撮影装置はこれに限定されない。この発明を適用可能な眼科撮影装置としては、細隙灯顕微鏡の他に、眼底カメラ、走査型レーザ検眼鏡(Scanning Laser Ophthalmoscope:SLO)、レーザ光凝固装置などがある。また、実施形態に係る眼科撮影装置による撮影部位は、被検眼の任意の部位であってよく、たとえば、前眼部においては角膜や硝子体や水晶体や毛様体や隅角などであってよいし、後眼部においては網膜や脈絡膜や硝子体であってよい。また、撮影部位は、瞼や眼窩など眼の周辺部位であってもよい。   Hereinafter, a slit lamp microscope will be described as an example of the ophthalmologic photographing apparatus according to the embodiment, but the ophthalmic photographing apparatus according to the embodiment is not limited thereto. In addition to the slit lamp microscope, the ophthalmologic photographing apparatus to which the present invention can be applied includes a fundus camera, a scanning laser opthalmoscope (SLO), a laser photocoagulator, and the like. Further, the imaging region by the ophthalmologic imaging apparatus according to the embodiment may be an arbitrary region of the eye to be examined. For example, in the anterior eye portion, it may be a cornea, a vitreous body, a crystalline lens, a ciliary body, a corner, or the like. However, in the posterior eye portion, it may be a retina, a choroid, or a vitreous body. Further, the imaging region may be a peripheral region of the eye such as a eyelid or an eye socket.

まず方向を定義しておく。装置光学系において最も被検者側に位置する光学素子から被検者に向かう方向を前方向とし、その逆方向を後方向とする。また、前方向に直交する水平方向を左右方向とする。更に、前後方向と左右方向の双方に直交する方向を上下方向とする。   First, the direction is defined. The direction from the optical element located closest to the subject in the apparatus optical system toward the subject is defined as the front direction, and the opposite direction is defined as the rear direction. The horizontal direction orthogonal to the front direction is the left-right direction. Furthermore, the direction orthogonal to both the front-rear direction and the left-right direction is defined as the up-down direction.

〔第1実施形態〕
[外観構成]
この実施形態に係る細隙灯顕微鏡の外観構成について、図1を参照しながら説明する。細隙灯顕微鏡1には、コンピュータ100が接続されている。コンピュータ100は、各種の制御処理や演算処理を行う。なお、顕微鏡本体(光学系等を格納する筐体)とは別にコンピュータ100を設ける代わりに、顕微鏡本体に同様のコンピュータを搭載した構成を適用することも可能である。
[First Embodiment]
[Appearance configuration]
The external configuration of the slit lamp microscope according to this embodiment will be described with reference to FIG. A computer 100 is connected to the slit lamp microscope 1. The computer 100 performs various control processes and arithmetic processes. Instead of providing the computer 100 separately from the microscope main body (housing for storing the optical system or the like), a configuration in which the same computer is mounted on the microscope main body can be applied.

細隙灯顕微鏡1はテーブル2上に載置される。なお、コンピュータ100は他のテーブル上またはその他の場所に設置されていてもよい。基台4は、移動機構部3を介して水平方向に移動可能に構成されている。基台4は、操作ハンドル5を傾倒操作することにより移動される。   The slit lamp microscope 1 is placed on a table 2. The computer 100 may be installed on another table or in another place. The base 4 is configured to be movable in the horizontal direction via the moving mechanism unit 3. The base 4 is moved by tilting the operation handle 5.

基台4の上面には、観察系6および照明系8を支持する支持部15が設けられている。支持部15には、観察系6を支持する支持アーム16が左右方向に回動可能に取り付けられている。支持アーム16の上部には、照明系8を支持する支持アーム17が左右方向に回動可能に取り付けられている。支持アーム16、17は、それぞれ独立に同軸で回動可能とされている。   A support portion 15 that supports the observation system 6 and the illumination system 8 is provided on the upper surface of the base 4. A support arm 16 that supports the observation system 6 is attached to the support unit 15 so as to be rotatable in the left-right direction. A support arm 17 that supports the illumination system 8 is attached to an upper portion of the support arm 16 so as to be rotatable in the left-right direction. The support arms 16 and 17 are independently coaxially rotatable.

観察系6は、支持アーム16を手動で回動させることで移動される。照明系8は、支持アーム17を手動で回動させることで移動される。なお、各支持アーム16、17は、電気的な機構によって回動されるように構成されていてもよい。その場合、各支持アーム16、17を回動させるための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とが設けられる。アクチュエータは、たとえばパルスモータにより構成される。伝達機構は、たとえば歯車の組み合わせやラック・アンド・ピニオンなどによって構成される。   The observation system 6 is moved by manually rotating the support arm 16. The illumination system 8 is moved by manually rotating the support arm 17. In addition, each support arm 16 and 17 may be comprised so that it may be rotated by an electrical mechanism. In that case, an actuator for generating a driving force for rotating the support arms 16 and 17 and a transmission mechanism for transmitting the driving force are provided. The actuator is constituted by, for example, a pulse motor. The transmission mechanism is constituted by, for example, a combination of gears, a rack and pinion, or the like.

照明系8は、照明光を生成し、生成された照明光で被検眼Eを照明する。照明系8は、前述のように、回動軸を中心に左右方向に振ることができる。それにより被検眼Eに対する照明光の照射方向が変更される。照明系8は上下方向にも振れるように構成されていてもよい。つまり、照明光の仰角や俯角を変更できるように構成されていてもよい。   The illumination system 8 generates illumination light and illuminates the eye E with the generated illumination light. As described above, the illumination system 8 can swing in the left-right direction around the rotation axis. Thereby, the irradiation direction of the illumination light to the eye E is changed. The illumination system 8 may be configured to swing in the vertical direction. That is, you may be comprised so that the elevation angle and depression angle of illumination light can be changed.

観察系6は、被検眼Eからの照明光の反射光を案内する左右一対の光学系を有する。また、観察系6は、撮影系を含んで構成されている。この光学系は鏡筒本体9内に収納されている。撮影系の光路は、鏡筒本体9内で観察系6の光路に結合される。鏡筒本体9の終端は接眼部9aである。検者は接眼部9aをのぞき込むことで被検眼Eを肉眼で観察する。前述のように、支持アーム16を回動させることにより鏡筒本体9を左右方向に回動させることができる。それにより被検眼Eに対する観察系6の向きを変更することができる。なお、照明光の反射光には、たとえば散乱光のように被検眼Eを経由した各種の光が含まれるが、これら各種の光を含めて「反射光」または「戻り光」と呼ぶことにする。また、照明光を励起光として用いる蛍光造影撮影や蛍光造影観察においては、励起光により発せられた蛍光が「反射光」または「戻り光」に含まれる。   The observation system 6 has a pair of left and right optical systems that guide reflected light of illumination light from the eye E. Further, the observation system 6 is configured to include an imaging system. This optical system is housed in the barrel main body 9. The optical path of the imaging system is coupled to the optical path of the observation system 6 in the barrel main body 9. The end of the lens barrel body 9 is an eyepiece 9a. The examiner looks at the eye E with the naked eye by looking into the eyepiece 9a. As described above, the lens barrel body 9 can be rotated in the left-right direction by rotating the support arm 16. Thereby, the direction of the observation system 6 with respect to the eye E can be changed. The reflected light of the illumination light includes various kinds of light passing through the eye E such as scattered light, for example, and these various kinds of light are referred to as “reflected light” or “return light”. To do. Further, in fluorescence contrast imaging and fluorescence contrast observation using illumination light as excitation light, fluorescence emitted by excitation light is included in “reflected light” or “return light”.

鏡筒本体9に対峙する位置には顎受け台10が配置されている。顎受け台10には、被検者の顔を安定配置させるための顎受部10aと額当て10bが設けられている。   A chin rest 10 is disposed at a position facing the lens barrel body 9. The chin rest 10 is provided with a chin rest 10a and a forehead rest 10b for stably arranging the face of the subject.

鏡筒本体9の側面には、観察倍率を変更するための観察倍率操作ノブ11が配置されている。更に、鏡筒本体9には、被検眼Eを撮影するための撮像装置13が接続されている。撮像装置13は撮像素子を含んで構成されている。撮像素子は、光を検出して電気信号(画像信号)を出力する光電変換素子である。画像信号はコンピュータ100に入力される。撮像素子としては、たとえばCCD(Charge Coupled Device)イメージセンサや、CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサが用いられる。照明系8の下方位置には、照明系8から出力される照明光束を被検眼Eに向けて反射するミラー12が配置されている。   An observation magnification operation knob 11 for changing the observation magnification is disposed on the side surface of the barrel main body 9. Further, an imaging device 13 for photographing the eye E is connected to the barrel main body 9. The imaging device 13 includes an imaging element. The imaging element is a photoelectric conversion element that detects light and outputs an electrical signal (image signal). The image signal is input to the computer 100. As the imaging element, for example, a CCD (Charge Coupled Device) image sensor or a CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) image sensor is used. A mirror 12 that reflects the illumination light beam output from the illumination system 8 toward the eye E is disposed below the illumination system 8.

[光学系の構成]
細隙灯顕微鏡1の光学系の構成について、図2を参照しながら説明する。細隙灯顕微鏡1は、観察系6と、撮影系7と、照明系8とを有する。前述のように、観察系6は、撮影系7を含んで構成されている。
[Configuration of optical system]
The configuration of the optical system of the slit lamp microscope 1 will be described with reference to FIG. The slit lamp microscope 1 includes an observation system 6, a photographing system 7, and an illumination system 8. As described above, the observation system 6 includes the photographing system 7.

〔観察系〕
観察系6は左右一対の光学系を備えている。左右の光学系は、ほぼ同様の構成を有する。検者は、この左右の光学系により被検眼Eを双眼で観察することができる。なお、図2には、観察系6の左右の光学系の一方のみが示されている。符号O1は観察系6の光軸(観察光軸)、撮影系7の光軸(撮影光軸)である。
[Observation system]
The observation system 6 includes a pair of left and right optical systems. The left and right optical systems have substantially the same configuration. The examiner can observe the eye E with binoculars using the left and right optical systems. In FIG. 2, only one of the left and right optical systems of the observation system 6 is shown. Reference numeral O1 denotes the optical axis of the observation system 6 (observation optical axis) and the optical axis of the imaging system 7 (imaging optical axis).

観察系6の左右の各光学系は、対物レンズ31、変倍光学系32、絞り33、リレーレンズ35、プリズム36および接眼レンズ37を有する。ビームスプリッタ34は、左右の光学系の一方のみにまたは双方に設けられる。接眼レンズ37は接眼部9a内に設けられている。符号Pは、接眼レンズ37に導かれる光の結像位置を示している。符号Ecは被検眼Eの角膜を、符号Epは虹彩を、符号Erは眼底をそれぞれ示している。符号Eoは検者眼を示している。   Each of the left and right optical systems of the observation system 6 includes an objective lens 31, a variable magnification optical system 32, a diaphragm 33, a relay lens 35, a prism 36, and an eyepiece lens 37. The beam splitter 34 is provided in only one or both of the left and right optical systems. The eyepiece lens 37 is provided in the eyepiece 9a. A symbol P indicates an imaging position of light guided to the eyepiece lens 37. Reference sign Ec represents the cornea of the eye E, reference sign Ep represents the iris, and reference sign Er represents the fundus. Reference Eo indicates the examiner's eye.

変倍光学系32は、複数(たとえば2枚)の変倍レンズ32a、32bを含んで構成される。この実施形態では、観察系6の光路に対して選択的に挿入可能な複数の変倍レンズ群が設けられている。これら変倍レンズ群は、それぞれ異なる倍率を付与するように構成されている。観察系6の光路に配置された変倍レンズ群が変倍レンズ32a、32bとして用いられる。それにより、被検眼Eの肉眼観察像や撮影画像の倍率(画角)を変更できる。倍率の変更、つまり観察系6の光路に配置される変倍レンズ群の切り替えは、観察倍率操作ノブ11を操作することにより行われる。また、図示しないスイッチ等を用いて電動で倍率を変更するように構成してもよい。   The variable magnification optical system 32 includes a plurality of (for example, two) variable magnification lenses 32a and 32b. In this embodiment, a plurality of variable power lens groups that can be selectively inserted into the optical path of the observation system 6 are provided. These variable power lens groups are configured to give different magnifications. A variable power lens group disposed in the optical path of the observation system 6 is used as the variable power lenses 32a and 32b. Thereby, the magnification (field angle) of the naked eye observation image of the eye E and the captured image can be changed. Changing the magnification, that is, switching the zoom lens group disposed in the optical path of the observation system 6 is performed by operating the observation magnification operation knob 11. Moreover, you may comprise so that a magnification may be electrically changed using a switch etc. which are not illustrated.

ビームスプリッタ34は、光軸O1に沿って進む光を二分割する。ビームスプリッタ34を透過した光は、リレーレンズ35、プリズム36および接眼レンズ37を介して検者眼Eoに導かれる。プリズム36は、2つの光学素子36a、36bを含み、光の進行方向を上方に平行移動させる。他方、ビームスプリッタ34により反射された光は、撮影系7に導かれる。   The beam splitter 34 divides the light traveling along the optical axis O1 into two. The light transmitted through the beam splitter 34 is guided to the examiner's eye Eo through the relay lens 35, the prism 36 and the eyepiece lens 37. The prism 36 includes two optical elements 36a and 36b, and translates the traveling direction of light upward. On the other hand, the light reflected by the beam splitter 34 is guided to the imaging system 7.

〔撮影系〕
撮影系7は、リレーレンズ41、ミラー42、および撮像装置13を有する。撮影系7は、ビームスプリッタ34を更に含んで構成されていてもよい。前述のように、撮像装置13は、撮像素子43を含む。撮像素子43の撮像面は、被検眼Eの撮影部位(観察部位)(すなわち、照明系8による照明光の照明位置)と光学的に略共役な位置に配置されている。
[Shooting system]
The imaging system 7 includes a relay lens 41, a mirror 42, and an imaging device 13. The imaging system 7 may further include a beam splitter 34. As described above, the imaging device 13 includes the imaging element 43. The imaging surface of the imaging element 43 is disposed at a position that is optically conjugate with an imaging region (observation region) of the eye E (that is, an illumination position of illumination light by the illumination system 8).

ビームスプリッタ34により反射された光は、リレーレンズ41およびミラー42を介して、撮像装置13の撮像素子43に導かれる。撮像素子43は、この反射光を検出して画像信号を生成する。   The light reflected by the beam splitter 34 is guided to the imaging element 43 of the imaging device 13 via the relay lens 41 and the mirror 42. The image sensor 43 detects the reflected light and generates an image signal.

〔照明系〕
照明系8は、照明光生成部51と、集光レンズ55とを有する。符号O2は照明系8の光軸(照明光軸)を示す。
[Lighting system]
The illumination system 8 includes an illumination light generation unit 51 and a condenser lens 55. Reference symbol O2 indicates an optical axis (illumination optical axis) of the illumination system 8.

照明光生成部51は、被検眼Eの撮影部位(すなわち、照明系8による照明光の照明位置)と光学的に略共役な位置に配置されている。たとえば、照明光生成部51において生成される照明光の光源の瞳位置は、被検眼Eの撮影部位と光学的に略共役な位置に配置されている。   The illumination light generation unit 51 is disposed at a position that is optically conjugate with the imaging region of the eye E (that is, the illumination position of illumination light by the illumination system 8). For example, the pupil position of the light source of the illumination light generated in the illumination light generation unit 51 is disposed at a position that is optically conjugate with the imaging region of the eye E.

照明光生成部51は、任意に形状を変更可能な照明光を生成する。照明光の形状は、光束の断面形状や投影像の形状により特定可能である。照明光生成部51は、制御部101による制御に基づいて、スリット幅、細隙光の向き(スリットの向き)、細隙光の長さ、形状を任意に変更可能な照明光を細隙光として生成する。すなわち、照明光生成部51は、所望の形状の照明光を細隙光として生成することができる。   The illumination light generation unit 51 generates illumination light whose shape can be arbitrarily changed. The shape of the illumination light can be specified by the cross-sectional shape of the light beam or the shape of the projected image. Based on the control by the control unit 101, the illumination light generation unit 51 converts the slit light, the illumination light whose slit width, the direction of the slit light (the direction of the slit), the length and the shape of the slit light can be arbitrarily changed, into the slit light. Generate as That is, the illumination light generation unit 51 can generate illumination light having a desired shape as slit light.

照明光生成部51は、たとえば、プロジェクタを含んで構成されている。プロジェクタは、任意に変更可能な照明パターンの光を照明光として出力可能である。照明パターンは、光束断面の形状、光束断面における光量の分布や色の分布などを表す。プロジェクタは、制御部101による制御に基づいてあらかじめ設定された照明パターンの光を出力する。それにより、プロジェクタは、スリット幅、細隙光の向き、細隙光の長さ、形状を任意に変更可能な照明光を細隙光として出力することができる。   The illumination light generation unit 51 includes, for example, a projector. The projector can output light of an illumination pattern that can be arbitrarily changed as illumination light. The illumination pattern represents the shape of the cross section of the light beam, the distribution of the amount of light in the cross section of the light beam, the distribution of colors, and the like. The projector outputs light having a preset illumination pattern based on control by the control unit 101. Thereby, the projector can output illumination light whose slit width, direction of slit light, length of slit light, and shape can be arbitrarily changed as slit light.

照明パターンは、たとえば、後述の操作部104を用いてユーザが設定可能である。ユーザが操作部104を用いて、たとえば、形状パターン、外形、サイズなどを指定すると、制御部101は、指定された形状パターンなどに基づいて照明パターンを特定し、特定された照明パターンに基づいてプロジェクタを制御することが可能である。   The illumination pattern can be set by the user using, for example, an operation unit 104 described later. When the user designates, for example, a shape pattern, an outer shape, a size, and the like using the operation unit 104, the control unit 101 identifies an illumination pattern based on the designated shape pattern and the like, and based on the identified illumination pattern. It is possible to control the projector.

プロジェクタは、デジタルマイクロミラーデバイスを用いた公知のプロジェクタであってよい。プロジェクタは、更に、光源を含んで構成されていてもよい。光源には、LED(Light Emitting Diode)光源やRGBの各色成分の光を出力可能な光源などがある。プロジェクタは、更に、リレー光学系や、コリメータレンズや、投影レンズなどを含んで構成されてもよい。   The projector may be a known projector using a digital micromirror device. The projector may further include a light source. Examples of the light source include an LED (Light Emitting Diode) light source and a light source capable of outputting light of each color component of RGB. The projector may further include a relay optical system, a collimator lens, a projection lens, and the like.

また、プロジェクタは、LCoS(Liquid Crystal on Silicon)や、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)を用いたものであってもよい。更に、プロジェクタは、液晶ディスプレイ(Liquid Crystal Display:以下、LCD)(透過型、反射型)を用いたものであってもよい。このような構成は公知であるため、詳細な説明を省略する。プロジェクタは、形状などを任意に変更可能な照明パターンに対応した照明光を出力可能なものであればよい。   Further, the projector may be one using LCoS (Liquid Crystal on Silicon) or MEMS (Micro Electro Mechanical Systems). Furthermore, the projector may use a liquid crystal display (LCD) (transmission type, reflection type). Since such a configuration is known, detailed description thereof is omitted. The projector may be any projector that can output illumination light corresponding to an illumination pattern whose shape can be arbitrarily changed.

なお、照明光生成部51に、複数の光源を設けてもよい。この場合、照明光生成部51は、複数の光源の点灯および非点灯を制御することにより、任意に形状を変更可能な照明光を生成することが可能である。それにより、照明光生成部51は、所望の形状の照明光を細隙光として生成することができる。   The illumination light generation unit 51 may be provided with a plurality of light sources. In this case, the illumination light generation unit 51 can generate illumination light whose shape can be arbitrarily changed by controlling lighting and non-lighting of the plurality of light sources. Thereby, the illumination light generation part 51 can generate | occur | produce the illumination light of a desired shape as slit light.

制御部101は、撮像装置13により取得された被検眼Eの画像における輝度分布に基づいて照明光生成部51を制御することにより、光束断面内で照明光の光量分布を制御することが可能である。   The control unit 101 can control the light quantity distribution of the illumination light within the light beam cross section by controlling the illumination light generation unit 51 based on the luminance distribution in the image of the eye E acquired by the imaging device 13. is there.

制御部101は、特定部60と、光量制御部70とを含んで構成されている。特定部60は、照明光生成部51により生成された照明光の照明位置と、撮像装置13を用いて取得された被検眼Eの画像との対応関係を特定する。光量制御部70は、特定部60によって特定された対応関係に基づいて照明光生成部51を制御することにより照明光の光束断面内位置ごとに光量を制御する。特定部60および光量制御部70については、後述する。   The control unit 101 includes a specifying unit 60 and a light amount control unit 70. The specifying unit 60 specifies the correspondence between the illumination position of the illumination light generated by the illumination light generating unit 51 and the image of the eye E to be examined acquired using the imaging device 13. The light amount control unit 70 controls the illumination light generation unit 51 based on the correspondence specified by the specifying unit 60 to control the light amount for each position in the light beam cross section of the illumination light. The specifying unit 60 and the light amount control unit 70 will be described later.

ビームスプリッタ34は、この実施形態に係る「第1光路結合部材」の一例である。   The beam splitter 34 is an example of a “first optical path coupling member” according to this embodiment.

[制御系の構成]
細隙灯顕微鏡1の制御系について、図3を参照しながら説明する。細隙灯顕微鏡1の制御系は、制御部101を中心に構成されている。なお、図3には、この実施形態で特に注目する構成部位のみが記載されており、それ以外の構成部位は省略されている。
[Control system configuration]
A control system of the slit lamp microscope 1 will be described with reference to FIG. The control system of the slit lamp microscope 1 is configured around the control unit 101. Note that FIG. 3 shows only components that are particularly focused on in this embodiment, and other components are omitted.

〔制御部〕
制御部101は、細隙灯顕微鏡1の各部を制御する。たとえば、制御部101は、観察系6の制御、撮影系7の制御、照明系8の制御、データ処理部110の制御などを行う。観察系6の制御としては、変倍光学系32の制御、絞り33の制御などがある。撮影系7の制御としては、撮像素子43の電荷蓄積時間、感度、フレームレート等の制御などがある。照明系8の制御としては、照明光生成部51の制御などがある。データ処理部110の制御としては、撮像素子43により得られた画像信号に基づく画像の生成処理の制御、生成された画像の解析処理の制御などがある。また、制御部101は、記憶部102に記憶されたデータの読み出し処理や、記憶部102に対するデータの書き込み処理を行う。
(Control part)
The control unit 101 controls each unit of the slit lamp microscope 1. For example, the control unit 101 performs control of the observation system 6, control of the imaging system 7, control of the illumination system 8, control of the data processing unit 110, and the like. Control of the observation system 6 includes control of the variable magnification optical system 32 and control of the aperture 33. Control of the imaging system 7 includes control of charge accumulation time, sensitivity, frame rate, etc. of the image sensor 43. Control of the illumination system 8 includes control of the illumination light generation unit 51 and the like. Control of the data processing unit 110 includes control of image generation processing based on an image signal obtained by the image sensor 43, control of analysis processing of the generated image, and the like. In addition, the control unit 101 performs a process of reading data stored in the storage unit 102 and a process of writing data to the storage unit 102.

前述のように、制御部101は、特定部60と、光量制御部70とを含む。   As described above, the control unit 101 includes the specifying unit 60 and the light amount control unit 70.

<特定部>
特定部60は、照明光生成部51により生成された照明光によって照明される位置と、被検眼Eに対して実際に照射された照明光による照明位置との対応関係を特定する。具体的には、特定部60は、照明光生成部51により生成された照明光の光束断面内位置(面内位置)と被検眼Eの画像における照明光の照明位置との対応関係を特定する。
<Specific part>
The specifying unit 60 specifies the correspondence between the position illuminated by the illumination light generated by the illumination light generating unit 51 and the illumination position by the illumination light actually irradiated on the eye E. Specifically, the specifying unit 60 specifies the correspondence between the position in the light beam cross section (in-plane position) of the illumination light generated by the illumination light generating unit 51 and the illumination position of the illumination light in the image of the eye E to be examined. .

特定部60は、後述の面内パターン情報102aにより表された面内パターン(ランドマーク、位置特定用パターン)を用いて前述の対応関係を特定することが可能である。面内パターンは、照明光による照明領域における照明光の強度情報の分布を示す。具体的には、面内パターンは、照明領域を分割することにより得られた複数の部分領域のそれぞれに強度情報が割り当てられた情報である。各部分領域は1以上の単位領域(1ピクセル、デジタルマイクロミラー1枚など)に対応する領域である。この実施形態に係る面内パターンは、矩形領域になるように分割された各部分領域に対して照明光のオンまたはオフを示す2値パターンであるものとする。   The specifying unit 60 can specify the above-described correspondence using an in-plane pattern (landmark, position specifying pattern) represented by in-plane pattern information 102a described later. The in-plane pattern indicates the distribution of intensity information of the illumination light in the illumination area by the illumination light. Specifically, the in-plane pattern is information in which intensity information is assigned to each of a plurality of partial areas obtained by dividing the illumination area. Each partial region is a region corresponding to one or more unit regions (one pixel, one digital micromirror, etc.). The in-plane pattern according to this embodiment is a binary pattern that indicates whether illumination light is turned on or off for each partial region that is divided into rectangular regions.

<光量制御部>
光量制御部70は、特定部60によって特定された対応関係に基づいて照明光生成部51を制御することにより照明光の光束断面内位置ごと(単位領域ごと)に光量を制御する。たとえば、光量制御部70は、特定部60によって特定された対応関係に基づいて画像における照明光の照明位置ごとに制御情報を決定する。光量制御部70は、決定された制御情報に基づいて照明光生成部51を制御することにより光束断面内位置ごとに光量の制御を行う。
<Light control unit>
The light amount control unit 70 controls the illumination light generation unit 51 based on the correspondence specified by the specifying unit 60 to control the light amount for each position in the light beam cross section (for each unit region) of the illumination light. For example, the light amount control unit 70 determines control information for each illumination position of the illumination light in the image based on the correspondence specified by the specifying unit 60. The light quantity control unit 70 controls the illumination light generation unit 51 based on the determined control information, thereby controlling the light quantity for each position in the light beam cross section.

光量制御部70は、制御テーブル情報102bにより表された制御情報を用いて前述の光量の制御を行うことが可能である。   The light quantity control unit 70 can perform the above-described light quantity control using the control information represented by the control table information 102b.

図4に、この実施形態に係る制御テーブル情報102bの説明図を示す。図4において、横軸は被検眼Eの画像における階調値を示し、縦軸は照明光に対する制御情報を示す。階調値は、たとえば、面内パターンの各部分領域内の複数の画素の階調値の平均値を示す。階調値は、最小値「0」から最大値「M」(M>0、Mは整数)の範囲の値である。この実施形態において、階調値は輝度値に対応している。階調値が大きい領域は明部であり、階調値が小さい領域は暗部である。   FIG. 4 is an explanatory diagram of the control table information 102b according to this embodiment. In FIG. 4, the horizontal axis indicates the gradation value in the image of the eye E, and the vertical axis indicates control information for the illumination light. The gradation value indicates, for example, an average value of gradation values of a plurality of pixels in each partial region of the in-plane pattern. The gradation value is a value in the range from the minimum value “0” to the maximum value “M” (M> 0, M is an integer). In this embodiment, the gradation value corresponds to the luminance value. A region having a large gradation value is a bright portion, and a region having a small gradation value is a dark portion.

縦軸の「1倍」は、あらかじめ決められた基準光量の照明光を出力するための制御情報を示す。縦軸の「0.5倍」は、基準光量の0.5倍の光量の照明光を出力するための制御情報を示す。縦軸の「1.5倍」は、基準光量の1.5倍の光量の照明光を出力するための制御情報を示す。   “1 ×” on the vertical axis indicates control information for outputting illumination light having a predetermined reference light amount. “0.5 times” on the vertical axis indicates control information for outputting illumination light having a light amount 0.5 times the reference light amount. “1.5 times” on the vertical axis indicates control information for outputting illumination light having a light amount 1.5 times the reference light amount.

また、縦軸は、現に適用されている照明光量を基準とした制御係数を表すものであってもよい。つまり、縦軸の「1倍」は、現在の照明光量の照明光を出力するための制御係数を制御情報として示すものであってもよい。この場合、縦軸の「0.5倍」は、現在の照明光量の0.5倍の光量の照明光を出力するための制御係数を示す。縦軸の「1.5倍」は、現在の照明光量の1.5倍の光量の照明光を出力するための制御係数を示す。すなわち、縦軸の「1倍」を超えた範囲は現在の照明光量を上げるための制御係数を示し、縦軸の「1倍」未満の範囲は現在の照明光量を下げるための制御係数を示す。   The vertical axis may represent a control coefficient based on the illumination light amount currently applied. That is, “1 ×” on the vertical axis may indicate a control coefficient for outputting illumination light having the current illumination light amount as control information. In this case, “0.5 times” on the vertical axis indicates a control coefficient for outputting illumination light having a light quantity 0.5 times the current illumination light quantity. “1.5 times” on the vertical axis represents a control coefficient for outputting illumination light having a light quantity 1.5 times the current illumination light quantity. That is, a range exceeding “1 ×” on the vertical axis indicates a control coefficient for increasing the current illumination light amount, and a range less than “1 ×” on the vertical axis indicates a control coefficient for decreasing the current illumination light amount. .

制御テーブル情報102bは、階調値がm1(0<m1<M)以上である領域(すなわち、明部)の照明位置に対する照明光の光量を下げるように照明光生成部51を制御するための制御情報を含む。したがって、階調値がm1未満で且つM以下の範囲では、照明光の光量が下がるように制御される。階調値m1は、操作部104を用いてユーザが設定可能である。   The control table information 102b is used to control the illumination light generation unit 51 so as to reduce the amount of illumination light with respect to the illumination position in an area where the gradation value is m1 (0 <m1 <M) or more (that is, a bright part). Contains control information. Therefore, in the range where the gradation value is less than m1 and less than or equal to M, the amount of illumination light is controlled to decrease. The gradation value m1 can be set by the user using the operation unit 104.

また、制御テーブル情報102bは、階調値がm2(0<m2≦m1<M)以下である領域(すなわち、暗部)の照明位置に対する照明光の光量を上げるように照明光生成部51を制御するための制御情報を含む。したがって、階調値が0以上で且つm2未満の範囲では、照明光の光量が上がるように制御される。階調値m2は、操作部104を用いてユーザが設定可能である。   Further, the control table information 102b controls the illumination light generation unit 51 so as to increase the amount of illumination light with respect to the illumination position of an area (that is, a dark part) where the gradation value is m2 (0 <m2 ≦ m1 <M) or less. Control information to be included. Therefore, in the range where the gradation value is 0 or more and less than m2, the amount of illumination light is controlled to increase. The gradation value m <b> 2 can be set by the user using the operation unit 104.

なお、図4において、階調値m1は実施形態に係る「輝度値の第1閾値」の一例であり、階調値m2は実施形態に係る「輝度値の第2閾値」の一例である。   In FIG. 4, the gradation value m1 is an example of the “first threshold value of luminance value” according to the embodiment, and the gradation value m2 is an example of the “second threshold value of luminance value” according to the embodiment.

制御部101は、マイクロプロセッサ、RAM(Random Access Memory)、ROM(Read Only Memory)、ハードディスクドライブ等のハードウェアを含んで構成される。このハードディスクドライブには、制御プログラムがあらかじめ記憶されている。制御部101の動作は、この制御プログラムと上記ハードェアとが協働することによって実現される。   The control unit 101 includes hardware such as a microprocessor, RAM (Random Access Memory), ROM (Read Only Memory), and a hard disk drive. This hard disk drive stores a control program in advance. The operation of the control unit 101 is realized by the cooperation of this control program and the hardware.

制御部101は、細隙灯顕微鏡1の装置本体(たとえば基台4内)やコンピュータ100に配置される。   The control unit 101 is disposed in the apparatus main body (for example, in the base 4) of the slit lamp microscope 1 or the computer 100.

〔データ処理部〕
データ処理部110は、撮像素子43により得られた画像信号に基づいて画像を生成する。データ処理部110による画像の生成処理は公知の処理であるため、詳細な説明を省略する。データ処理部110は、画像信号に基づいて生成された画像に対して所定の解析処理を施すように構成されていてもよい。データ処理部110は、制御部101とともに細隙灯顕微鏡1の装置本体やコンピュータ100に配置される。
[Data processing section]
The data processing unit 110 generates an image based on the image signal obtained by the image sensor 43. Since the image generation process by the data processing unit 110 is a known process, detailed description thereof is omitted. The data processing unit 110 may be configured to perform a predetermined analysis process on an image generated based on the image signal. The data processing unit 110 is arranged in the apparatus main body of the slit lamp microscope 1 and the computer 100 together with the control unit 101.

〔記憶部〕
記憶部102には各種の情報が記憶される。特に、記憶部102には、面内パターン情報102aと、制御テーブル情報102bとがあらかじめ記憶されている。
[Storage section]
Various types of information are stored in the storage unit 102. In particular, the storage unit 102 stores in-plane pattern information 102a and control table information 102b in advance.

面内パターン情報102aは、1以上の面内パターンを指定するための情報を含む。面内パターン情報102aは、あらかじめ記憶部102に記憶されている。面内パターン情報102aは、操作部104を用いることによりユーザが設定可能である。   The in-plane pattern information 102a includes information for designating one or more in-plane patterns. The in-plane pattern information 102a is stored in the storage unit 102 in advance. The in-plane pattern information 102 a can be set by the user by using the operation unit 104.

制御テーブル情報102bは、光量制御部70を制御するための1以上の制御情報を含む。制御テーブル情報102bは、あらかじめ記憶部102に記憶されている。制御テーブル情報102bは、操作部104を用いることによりユーザが設定可能である。   The control table information 102b includes one or more control information for controlling the light quantity control unit 70. The control table information 102b is stored in the storage unit 102 in advance. The control table information 102 b can be set by the user by using the operation unit 104.

〔表示部〕
表示部103は、制御部101の制御を受けて各種の情報を表示する。表示部103は、LCD等のフラットパネルディスプレイ、CRTディスプレイなどの任意の表示デバイスを含んで構成される。表示部103は、細隙灯顕微鏡1の装置本体に設けられていてもよいし、コンピュータ100に設けられていてもよい。
[Display section]
The display unit 103 displays various information under the control of the control unit 101. The display unit 103 includes an arbitrary display device such as a flat panel display such as an LCD or a CRT display. The display unit 103 may be provided in the apparatus main body of the slit lamp microscope 1 or may be provided in the computer 100.

〔操作部〕
操作部104は、操作デバイスや入力デバイスを含んで構成される。操作部104には、装置本体に設けられたボタンやスイッチ(たとえば操作ハンドル5等)や、コンピュータ100のマウス、キーボードなどが含まれる。また、トラックボール、専用の操作パネル、スイッチ、ボタン、ダイアルなど、任意の操作デバイスや入力デバイスを用いることも可能である。
(Operation section)
The operation unit 104 includes an operation device and an input device. The operation unit 104 includes buttons and switches (for example, the operation handle 5) provided on the apparatus main body, a mouse of the computer 100, a keyboard, and the like. It is also possible to use any operation device or input device such as a trackball, a dedicated operation panel, a switch, a button, or a dial.

図3では、表示部103と操作部104とを別々に表しているが、これらを一体的に構成することも可能である。その具体例として、タッチパネル式のLCDを用いることができる。   In FIG. 3, the display unit 103 and the operation unit 104 are illustrated separately, but they can be configured integrally. As a specific example, a touch panel LCD can be used.

〔特定部60および光量制御部70による制御について〕
図5に、特定部60および光量制御部70の動作説明図を示す。図5では、説明の便宜上、照明光の照明領域を分割することにより得られた部分領域の座標位置を示すための座標情報が図示されている。ここで、複数の部分領域は、座標位置(1,1)〜(8,6)に配置されているものとする。以下、説明の便宜上、被検眼Eの眼底Erを照明する照明光に面内パターンが適用された場合について説明するが、細隙光に面内パターンが適用された場合も同様である。
[Regarding control by the specifying unit 60 and the light amount control unit 70]
FIG. 5 is an operation explanatory diagram of the specifying unit 60 and the light amount control unit 70. In FIG. 5, for convenience of explanation, coordinate information for indicating the coordinate position of the partial area obtained by dividing the illumination area of the illumination light is illustrated. Here, it is assumed that the plurality of partial areas are arranged at the coordinate positions (1, 1) to (8, 6). Hereinafter, for convenience of explanation, a case where an in-plane pattern is applied to illumination light that illuminates the fundus Er of the eye E will be described, but the same applies to the case where an in-plane pattern is applied to slit light.

被検眼Eの部位に応じて、当該部位に対する照明光の反射率が異なる。たとえば、図5に示すように、眼底Erでは、視神経乳頭が位置する視神経乳頭部P1に対する照明光の反射率は高く、網膜P2に対する照明光の反射率や中心窩が位置する黄斑部P3に対する照明光の反射率は低い。したがって、均一な光量分布を有する照明光で被検眼Eを照明すると、視神経乳頭部P1において白飛びや、網膜P2や黄斑部P3において黒潰れが発生し、観察に好適な画像を取得することができない場合がある。そこで、制御部101は、特定部60および光量制御部70において、次のように、被検眼Eの撮影部位に対する照明光の反射率を考慮して照明光の光量分布を制御する。   Depending on the part of the eye E, the reflectance of the illumination light with respect to the part differs. For example, as shown in FIG. 5, in the fundus Er, the reflectance of the illumination light with respect to the optic nerve head P1 where the optic nerve head is located is high, and the reflectance of the illumination light with respect to the retina P2 and the illumination of the macula P3 where the fovea is located. Light reflectance is low. Therefore, when the eye E is illuminated with illumination light having a uniform light amount distribution, whiteout occurs in the optic nerve head P1, and black crush occurs in the retina P2 and the macula P3, and an image suitable for observation can be acquired. There are cases where it is not possible. Therefore, the control unit 101 controls the light amount distribution of the illumination light in the specifying unit 60 and the light amount control unit 70 in consideration of the reflectance of the illumination light with respect to the imaging region of the eye E as follows.

まず、光量制御部70は、光束断面内で光量が均一な照明光L1で被検眼Eを照明する。たとえば、光量制御部70は、光束断面内で光量が均一になるような面内パターンを用いて照明光生成部51を制御することにより光束断面位置ごとに光量を制御する。それにより、照明光生成部51は、座標位置(1,1)〜(8,6)の部分領域に対応する領域を均一の光量を有する照明光L1で照明する。撮像装置13を用いて被検眼Eを撮影することにより、光量が均一な照明光L1で照明された被検眼Eの画像G1が取得される。   First, the light quantity control unit 70 illuminates the eye E with illumination light L1 having a uniform light quantity in the light beam cross section. For example, the light quantity control unit 70 controls the illumination light generation unit 51 using an in-plane pattern that makes the light quantity uniform within the light beam cross section, thereby controlling the light quantity for each light beam cross section position. Thereby, the illumination light generation part 51 illuminates the area | region corresponding to the partial area | region of coordinate position (1,1)-(8,6) with the illumination light L1 which has a uniform light quantity. By photographing the eye E using the imaging device 13, an image G1 of the eye E illuminated with the illumination light L1 having a uniform amount of light is acquired.

次に、光量制御部70は、たとえば、図5に示すような面内パターンを用いて照明光生成部51を制御することにより光束断面内位置ごとに光量を制御する。図5に示す面内パターンには、照明光で照明されない部分領域(白塗り領域)と、所定の基準光量の照明光で照明される部分領域(黒塗り領域)とが指定されている。それにより、照明光生成部51は、図5に示すような光量分布を有する照明光L2で被検眼Eを照明する。撮像装置13を用いて被検眼Eを撮影することにより、図5に示すような面内パターンが適用された照明光L2で照明された被検眼Eの画像G2が取得される。   Next, the light quantity control unit 70 controls the light quantity for each position in the light beam cross section by controlling the illumination light generation unit 51 using, for example, an in-plane pattern as shown in FIG. In the in-plane pattern shown in FIG. 5, a partial area (white area) that is not illuminated with illumination light and a partial area (black area) that is illuminated with illumination light having a predetermined reference light amount are designated. Thereby, the illumination light generation unit 51 illuminates the eye E with illumination light L2 having a light quantity distribution as shown in FIG. By imaging the eye E using the imaging device 13, an image G2 of the eye E illuminated with the illumination light L2 to which the in-plane pattern as shown in FIG. 5 is applied is acquired.

画像G1は実施形態に係る「第1画像」の一例であり、画像G2は実施形態に係る「第2画像」の一例である。   The image G1 is an example of a “first image” according to the embodiment, and the image G2 is an example of a “second image” according to the embodiment.

画像G1の撮影条件および撮影部位は、画像G2の撮影条件および撮影部位と略一致することが望ましい。すなわち、画像G2は、画像G1が取得されたときと光束断面内で同一の光量分布を有する照明光を用いて同一の撮影部位について取得された画像であることが望ましい。   It is desirable that the imaging condition and imaging region of the image G1 substantially match the imaging condition and imaging region of the image G2. That is, the image G2 is desirably an image acquired for the same imaging region using illumination light having the same light quantity distribution in the cross section of the light beam as when the image G1 was acquired.

特定部60は、照明光L1を用いて取得された画像G1と、既定の面内パターンを有する照明光L2を用いて取得された画像G2とに基づいて、前述の対応関係を特定する。画像G1と画像G2との差分は照明光L2に適用された面内パターンにほぼ相当するため、特定部60は、画像G1と画像G2との差分を求め、求められた差分と前述の面内パターンとの位置関係を特定することにより、前述の対応関係を特定することが可能である。それにより、撮像装置13を用いて取得された被検眼Eの画像を解析して画像中の特徴部位の位置を特定し、特定された特徴部位の位置に基づいて前述の対応関係を特定する場合に比べて、処理負荷を大幅に軽減することができる。   The identifying unit 60 identifies the correspondence relationship described above based on the image G1 acquired using the illumination light L1 and the image G2 acquired using the illumination light L2 having a predetermined in-plane pattern. Since the difference between the image G1 and the image G2 substantially corresponds to the in-plane pattern applied to the illumination light L2, the specifying unit 60 obtains the difference between the image G1 and the image G2, and the obtained difference and the above-mentioned in-plane pattern By specifying the positional relationship with the pattern, it is possible to specify the aforementioned correspondence. Accordingly, when the image of the eye E to be examined acquired using the imaging device 13 is analyzed to identify the position of the characteristic part in the image, and the above-described correspondence is specified based on the position of the specified characteristic part Compared to the above, the processing load can be greatly reduced.

なお、前述の対応関係を特定するために、画像G1および画像G2について撮影条件および撮影部位を一致させた場合について説明するが、前述の対応関係が特定可能であれば、画像G1および画像G2について少なくとも撮影部位だけを一致させることが望ましい。   Note that, in order to specify the above-described correspondence relationship, a case where the imaging conditions and the imaging region are matched for the image G1 and the image G2 will be described. However, if the above-described correspondence relationship can be specified, the image G1 and the image G2 will be described. It is desirable to match at least the imaging region.

照明光L2に適用された面内パターンは、図5に示すように、少なくとも空間的に不規則的なパターン(不均一パターン、一様ではないパターン)を含む。それにより、画像G1と画像G2との差分と照明光L2に適用された面内パターンとの位置関係の特定を、容易に、且つ、高精度に行うことが可能になる。なお、面内パターンは、更に、時間的に不規則的なパターンであってもよい。   As shown in FIG. 5, the in-plane pattern applied to the illumination light L2 includes at least a spatially irregular pattern (non-uniform pattern, non-uniform pattern). As a result, the positional relationship between the difference between the image G1 and the image G2 and the in-plane pattern applied to the illumination light L2 can be identified easily and with high accuracy. The in-plane pattern may be a temporally irregular pattern.

制御部101は、少なくとも所定の期間だけ面内パターンを有する照明光で被検眼Eを照明するように照明光生成部51を制御することが可能である。所定の期間は、被検者が感知できない期間である。所定の期間は、操作部104を用いることによりユーザが設定可能である。それにより、被検者が面内パターンを感知することなく、前述の対応関係を特定することができる。この場合、制御部101は、被検眼Eに対する照明光の照明タイミングに同期して撮像装置13を制御することにより、照明光で照明された被検眼Eの画像を取得することが可能である。   The control unit 101 can control the illumination light generation unit 51 to illuminate the eye E with illumination light having an in-plane pattern for at least a predetermined period. The predetermined period is a period during which the subject cannot perceive. The user can set the predetermined period by using the operation unit 104. Thereby, the above-described correspondence can be specified without the subject perceiving the in-plane pattern. In this case, the control unit 101 can acquire an image of the eye E illuminated with the illumination light by controlling the imaging device 13 in synchronization with the illumination timing of the illumination light with respect to the eye E.

また、面内パターンを含む照明光は、不可視光であってよい。少なくとも面内パターンは、不可視光(たとえば、赤外光)により被検眼Eに投影されればよい。この場合でも、被検者が面内パターンを感知することなく、前述の対応関係を特定することができる。この場合、撮像装置13は、前述の不可視光からの戻り光を検知可能な撮像素子を含んで構成される。   The illumination light including the in-plane pattern may be invisible light. At least the in-plane pattern may be projected onto the eye E by invisible light (for example, infrared light). Even in this case, the above-described correspondence can be specified without the subject perceiving the in-plane pattern. In this case, the imaging device 13 is configured to include an imaging device capable of detecting return light from the invisible light described above.

光量制御部70は、特定部60により特定された対応関係に基づいて、図4に示すような制御テーブル情報102bから部分領域ごとに制御情報を決定する。光量制御部70は、決定された制御情報に基づいて照明光生成部51を制御することにより光束断面内位置ごとに光量の制御を行う。   Based on the correspondence specified by the specifying unit 60, the light quantity control unit 70 determines control information for each partial area from the control table information 102b as shown in FIG. The light quantity control unit 70 controls the illumination light generation unit 51 based on the determined control information, thereby controlling the light quantity for each position in the light beam cross section.

たとえば、視神経乳頭部P1に対応する座標位置(2,4)の近傍領域では照明光の反射率が高く白飛びが発生する場合がある。この実施形態では、図4に示すような制御テーブル情報102bから部分領域ごとに制御情報が決定されるので、図6に示すように座標位置(2,4)の近傍領域では光量を下げるように照明光生成部51が制御される。   For example, in the vicinity of the coordinate position (2, 4) corresponding to the optic papilla P1, the reflectance of illumination light may be high and whiteout may occur. In this embodiment, since the control information is determined for each partial area from the control table information 102b as shown in FIG. 4, the amount of light is reduced in the area near the coordinate position (2, 4) as shown in FIG. The illumination light generation unit 51 is controlled.

一方、黄斑部P3に対応する座標位置(5,4)の近傍領域では照明光の反射率が低く黒潰れが発生する場合がある。この実施形態では、図4に示すような制御テーブル情報102bから部分領域ごとに制御情報が決定されるので、図5に示すように座標位置(5,4)の近傍領域では光量を上げるように照明光生成部51が制御される。撮像装置13を用いて被検眼Eを撮影することにより、白飛びや黒潰れの発生を抑えつつ、観察に好適な被検眼Eの画像G3が取得される。画像G1に代えて画像G3を用いて上記の光量の制御を行うことにより、観察に好適なライブ画像の取得が可能になる。この場合、画像G3は実施形態に係る「第1画像」の一例である。   On the other hand, in the vicinity of the coordinate position (5, 4) corresponding to the macula P3, the reflectance of the illumination light is low and black crushing may occur. In this embodiment, since the control information is determined for each partial area from the control table information 102b as shown in FIG. 4, the amount of light is increased in the area near the coordinate position (5, 4) as shown in FIG. The illumination light generation unit 51 is controlled. By photographing the eye E using the imaging device 13, an image G <b> 3 of the eye E suitable for observation is acquired while suppressing occurrence of whiteout or blackout. By performing the above light amount control using the image G3 instead of the image G1, a live image suitable for observation can be obtained. In this case, the image G3 is an example of the “first image” according to the embodiment.

[動作例]
細隙灯顕微鏡1の動作について説明する。
[Operation example]
The operation of the slit lamp microscope 1 will be described.

図6に、細隙灯顕微鏡1の動作例のフロー図を示す。   FIG. 6 shows a flowchart of an operation example of the slit lamp microscope 1.

(S1)
まず、制御部101は、記憶部102に記憶された面内パターン情報102aを読み出す。光量制御部70は、記憶部102から読み出された面内パターン情報102aから光束断面内で光量が均一となるような面内パターンを特定する。光量制御部70は、特定された面内パターンを用いて照明光生成部51を制御することにより光束断面内位置ごとに光量を制御する。それにより、照明光生成部51は、座標位置(1,1)〜(8,6)の部分領域に対応する領域を均一の光量を有する照明光L1で照明する。なお、面内パターンを適用することなく、複数の部分領域を光量が均一な照明光L1で照明してもよい。
(S1)
First, the control unit 101 reads the in-plane pattern information 102 a stored in the storage unit 102. The light quantity control unit 70 specifies an in-plane pattern that makes the light quantity uniform in the cross section of the light beam from the in-plane pattern information 102 a read from the storage unit 102. The light amount control unit 70 controls the illumination light generation unit 51 using the specified in-plane pattern, thereby controlling the light amount for each position in the light beam cross section. Thereby, the illumination light generation part 51 illuminates the area | region corresponding to the partial area | region of coordinate position (1,1)-(8,6) with the illumination light L1 which has a uniform light quantity. In addition, you may illuminate a some partial area | region with the illumination light L1 with uniform light quantity, without applying an in-plane pattern.

(S2)
制御部101は、撮像装置13を制御して被検眼Eを撮影させる。それにより、S1において光量が均一な照明光で照明された被検眼Eの画像G1が取得される。
(S2)
The control unit 101 controls the imaging device 13 to photograph the eye E. Thereby, the image G1 of the eye E to be inspected illuminated with illumination light having a uniform amount of light in S1 is acquired.

(S3)
次に、光量制御部70は、S1において記憶部102から読み出された面内パターン情報102aから既定の面内パターンを特定する。この面内パターンには、照明光で照明されない部分領域と、所定の基準光量の照明光で照明される部分領域とが指定されている。たとえば、図5では、座標位置(2,1)の部分領域に対応する領域は照明されず、座標位置(3,1)の部分領域に対応する領域は基準光量の照明光で照明される。
(S3)
Next, the light quantity control unit 70 specifies a predetermined in-plane pattern from the in-plane pattern information 102a read from the storage unit 102 in S1. In this in-plane pattern, a partial area that is not illuminated with illumination light and a partial area that is illuminated with illumination light having a predetermined reference light amount are designated. For example, in FIG. 5, the area corresponding to the partial area at the coordinate position (2, 1) is not illuminated, and the area corresponding to the partial area at the coordinate position (3, 1) is illuminated with the illumination light of the reference light amount.

光量制御部70は、特定された面内パターンを用いて照明光生成部51を制御することにより光束断面内位置ごとに光量を制御する。それにより、照明光生成部51は、図6に示すような光量分布を有する照明光L2で被検眼Eを照明する。   The light amount control unit 70 controls the illumination light generation unit 51 using the specified in-plane pattern, thereby controlling the light amount for each position in the light beam cross section. Thereby, the illumination light generation unit 51 illuminates the eye E with illumination light L2 having a light quantity distribution as shown in FIG.

(S4)
制御部101は、撮像装置13を制御して被検眼Eを撮影させる。それにより、S3において面内パターンに対応した光量分布を有する照明光で照明された被検眼Eの画像G2が取得される。
(S4)
The control unit 101 controls the imaging device 13 to photograph the eye E. Thereby, in S3, the image G2 of the eye E illuminated with the illumination light having the light amount distribution corresponding to the in-plane pattern is acquired.

(S5)
特定部60は、照明光L1を用いて取得された画像G1と、既定の面内パターンを有する照明光L2を用いて取得された画像G2とに基づいて、前述の対応関係を特定する。
(S5)
The identifying unit 60 identifies the correspondence relationship described above based on the image G1 acquired using the illumination light L1 and the image G2 acquired using the illumination light L2 having a predetermined in-plane pattern.

(S6)
光量制御部70は、特定部60により特定された対応関係に基づいて、図4に示すような制御テーブル情報102bから部分領域ごとに制御情報を決定する。
(S6)
Based on the correspondence specified by the specifying unit 60, the light quantity control unit 70 determines control information for each partial area from the control table information 102b as shown in FIG.

(S7)
光量制御部70は、S6において決定された制御情報に基づいて照明光生成部51を制御することにより光束断面内位置ごとに光量の制御を行う。
(S7)
The light amount control unit 70 controls the light amount for each position in the light beam cross section by controlling the illumination light generation unit 51 based on the control information determined in S6.

(S8)
制御部101は、撮像装置13を制御して被検眼Eを撮影させる。それにより、S7において光量の制御が行われた照明光で照明されたことにより、白飛びや黒潰れの発生を抑えつつ、観察に好適な被検眼Eの画像G3が取得される。
(S8)
The control unit 101 controls the imaging device 13 to photograph the eye E. As a result, the image G3 of the eye E to be examined suitable for observation is acquired while suppressing the occurrence of overexposure or blackout due to illumination with the illumination light whose light amount has been controlled in S7.

(S9)
制御部101は、細隙灯顕微鏡1の動作を終了するか否かを判定する。たとえば、動作の終了は、操作部104を用いてユーザにより指示される。制御部101は、操作部104に対するユーザの操作内容に基づいて、細隙灯顕微鏡1の動作を終了するか否かを判定することが可能である。細隙灯顕微鏡1の動作を終了しないと判定されたとき(S9:N)、細隙灯顕微鏡1の動作はS3に移行する。したがって、その後のS5では、特定部60は、S4において取得された画像G2とS8において取得された画像G3とを用いて前述の対応関係を特定することが可能である。それにより、被検眼Eのライブ画像に対する光量の制御をリアルタイムで実行することができる。
(S9)
The control unit 101 determines whether to end the operation of the slit lamp microscope 1. For example, the end of the operation is instructed by the user using the operation unit 104. The control unit 101 can determine whether or not to end the operation of the slit lamp microscope 1 based on the user's operation content on the operation unit 104. When it is determined not to end the operation of the slit lamp microscope 1 (S9: N), the operation of the slit lamp microscope 1 proceeds to S3. Therefore, in S5 thereafter, the specifying unit 60 can specify the above-described correspondence relationship using the image G2 acquired in S4 and the image G3 acquired in S8. Thereby, control of the light quantity with respect to the live image of the eye E to be examined can be performed in real time.

細隙灯顕微鏡1の動作を終了すると判定されたとき(S9:Y)、細隙灯顕微鏡1の動作は終了する(エンド)。   When it is determined that the operation of the slit lamp microscope 1 is finished (S9: Y), the operation of the slit lamp microscope 1 is finished (end).

図6において、S2、S4、S8は実施形態に係る「取得ステップ」の一例である。S5は実施形態に係る「特定ステップ」の一例である。S7は実施形態に係る「制御ステップ」の一例である。   In FIG. 6, S2, S4, and S8 are examples of the “acquisition step” according to the embodiment. S5 is an example of a “specific step” according to the embodiment. S7 is an example of a “control step” according to the embodiment.

[効果]
この実施形態に係る眼科撮影装置の効果について説明する。
[effect]
The effect of the ophthalmologic photographing apparatus according to this embodiment will be described.

実施形態に係る眼科撮影装置(たとえば、細隙灯顕微鏡1)は、照明系(たとえば、照明系8)と、撮影系(たとえば、撮影系7)と、制御部(たとえば、制御部101)とを含む。照明系は、照明光生成部(たとえば、照明光生成部51)を備える。照明光生成部は、照明光を生成する。照明系は、照明光で被検眼(たとえば、被検眼E)を照明する。撮影系は、被検眼からの照明光の戻り光を撮像装置(たとえば、撮像装置13)に導く。制御部は、撮像装置により取得された画像における輝度分布に基づいて照明光生成部を制御する。   The ophthalmologic photographing apparatus (for example, the slit lamp microscope 1) according to the embodiment includes an illumination system (for example, the illumination system 8), a photographing system (for example, the photographing system 7), a control unit (for example, the control unit 101), including. The illumination system includes an illumination light generation unit (for example, illumination light generation unit 51). The illumination light generation unit generates illumination light. The illumination system illuminates the eye to be examined (for example, eye E to be examined) with illumination light. The imaging system guides the return light of the illumination light from the eye to be examined to the imaging device (for example, the imaging device 13). The control unit controls the illumination light generation unit based on the luminance distribution in the image acquired by the imaging device.

このような構成によれば、撮像装置により取得された被検眼の画像の輝度分布に基づいて照明光制御部を制御するようにしたので、被検眼の画像の輝度分布に対応した光量分布を有する照明光で被検眼を照明することができる。それにより、被検眼の撮影部位に応じた照明光の反射に違いを考慮して変更された光量分布を有する照明光で被検眼を照明することで、観察に好適な被検眼の画像を取得することが可能になる。   According to such a configuration, the illumination light control unit is controlled based on the luminance distribution of the image of the eye to be examined acquired by the imaging device, and thus has a light amount distribution corresponding to the luminance distribution of the image of the eye to be examined. The eye to be examined can be illuminated with illumination light. Accordingly, an image of the subject eye suitable for observation is obtained by illuminating the subject eye with illumination light having a light amount distribution changed in consideration of the difference in reflection of illumination light according to the imaging region of the subject eye. It becomes possible.

また、制御部は、特定部(たとえば、特定部60)と、光量制御部(たとえば、光量制御部70)とを含んでもよい。特定部は、照明光生成部により生成された照明光の面内位置(たとえば、光束断面内位置)と画像における照明光の照明位置との対応関係を特定する。光量制御部は、特定部によって特定された対応関係に基づいて照明位置ごとに制御情報を決定し、決定された制御情報に基づいて照明光生成部を制御することにより面内位置ごとに光量を制御する。   Further, the control unit may include a specifying unit (for example, the specifying unit 60) and a light amount control unit (for example, the light amount control unit 70). The specifying unit specifies a correspondence relationship between an in-plane position of the illumination light generated by the illumination light generation unit (for example, a position within the beam cross section) and an illumination position of the illumination light in the image. The light amount control unit determines control information for each illumination position based on the correspondence specified by the specifying unit, and controls the illumination light generation unit based on the determined control information, thereby calculating the light amount for each in-plane position. Control.

このような構成によれば、上記の対応関係に基づいて照明光の面内位置ごとに光量を制御することで、照明系と撮影系との位置にかかわらず、被検眼の部位に対応した最適な光量で同時に被検眼を照明することができる。   According to such a configuration, by controlling the amount of light for each in-plane position of the illumination light based on the above correspondence, the optimum corresponding to the region of the eye to be examined regardless of the position of the illumination system and the imaging system It is possible to simultaneously illuminate the subject's eye with a large amount of light.

また、光量制御部は、画像において輝度値が第1閾値以上である明部の照明位置に対する照明光の光量を下げるように光量の制御を行ってもよい。   The light quantity control unit may control the light quantity so as to reduce the light quantity of the illumination light with respect to the illumination position of the bright part whose luminance value is equal to or higher than the first threshold in the image.

このような構成によれば、被検眼の画像の明部に対応する照明位置に対する照明光の光量を下げるようにしたので、撮影系のダイナミックレンジを広げることができる。   According to such a configuration, since the amount of illumination light with respect to the illumination position corresponding to the bright portion of the image of the eye to be examined is reduced, the dynamic range of the imaging system can be expanded.

また、光量制御部は、画像において輝度値が第2閾値以下である暗部の照明位置に対する照明光の光量を上げるように光量の制御を行ってもよい。   The light quantity control unit may control the light quantity so as to increase the light quantity of the illumination light with respect to the illumination position of the dark part whose luminance value is equal to or less than the second threshold in the image.

このような構成によれば、被検眼の画像の暗部に対応する照明位置に対する照明光の光量を上げるようにしたので、撮影系のダイナミックレンジを広げることができる。   According to such a configuration, since the amount of illumination light with respect to the illumination position corresponding to the dark part of the image of the eye to be examined is increased, the dynamic range of the imaging system can be expanded.

また、特定部は、照明光を用いて取得された第1画像(たとえば、画像G1、G3)と、既定の面内パターンを有する照明光を用いて取得された第2画像(たとえば、画像G2)とに基づいて、対応関係を特定してもよい。   In addition, the specifying unit may include a first image (for example, images G1 and G3) acquired using illumination light and a second image (for example, image G2) acquired using illumination light having a predetermined in-plane pattern. ) And the correspondence relationship may be specified.

このような構成によれば、面内パターンを用いて上記の対応関係を特定するようにしたので、被検眼の画像を解析することにより対応関係を特定する場合に比べて、処理負荷を大幅に軽減することができる。   According to such a configuration, since the correspondence relationship is specified using the in-plane pattern, the processing load is greatly increased as compared with the case where the correspondence relationship is specified by analyzing the image of the eye to be examined. Can be reduced.

また、面内パターンは、少なくとも空間的に不規則的なパターンを含んでもよい。   The in-plane pattern may include at least a spatially irregular pattern.

このような構成によれば、面内パターンとして少なくとも空間的に不規則的なパターンを用いるようにしたので、上記の対応関係を高精度に特定することが可能になる。たとえば、面内パターンが適用された照明光で照明された被検眼の画像と、面内パターンが適用されない照明光で照明された被検眼との画像との差分は、面内パターンにほぼ相当する。当該差分と面内パターンとの位置関係の特定は、規則的な部分については一意に特定できない可能性があるが、不規則的な部分については一意に特定することが可能になる。そのため、面内パターンとして少なくとも空間的に不規則的なパターンを用いることにより、上記の対応関係を高精度に特定することができる。   According to such a configuration, since the spatially irregular pattern is used as the in-plane pattern, it is possible to specify the correspondence relationship with high accuracy. For example, the difference between the image of the eye to be examined illuminated with illumination light to which the in-plane pattern is applied and the image of the eye to be examined illuminated with illumination light to which the in-plane pattern is not applied substantially corresponds to the in-plane pattern. . The positional relationship between the difference and the in-plane pattern may not be uniquely specified for the regular part, but may be uniquely specified for the irregular part. Therefore, by using at least a spatially irregular pattern as the in-plane pattern, the above correspondence can be specified with high accuracy.

また、制御部は、少なくとも所定の期間だけ面内パターンを有する照明光で被検眼を照明するように照明光生成部を制御してもよい。   Further, the control unit may control the illumination light generation unit so that the eye to be examined is illuminated with illumination light having an in-plane pattern for at least a predetermined period.

このような構成によれば、少なくとも所定の期間だけ面内パターンを有する照明光で被検眼を照明するようにしたので、被検者に負担をかけることなく、上記の対応関係を特定することが可能になる。   According to such a configuration, since the eye to be examined is illuminated with illumination light having an in-plane pattern for at least a predetermined period, the above correspondence can be specified without imposing a burden on the subject. It becomes possible.

また、面内パターンを含む照明光は、不可視光であってもよい。   The illumination light including the in-plane pattern may be invisible light.

このような構成によれば、面内パターンを有する照明光として不可視光で被検眼を照明するようにしたので、被検者に負担をかけることなく、上記の対応関係を特定することが可能になる。   According to such a configuration, since the eye to be examined is illuminated with invisible light as illumination light having an in-plane pattern, it is possible to identify the above correspondence without imposing a burden on the subject. Become.

また、照明光生成部は、任意に形状を変更可能な照明光を生成してもよい。   Moreover, the illumination light generation unit may generate illumination light whose shape can be arbitrarily changed.

このような構成によれば、任意の形状に変更可能な照明光を細隙光として用いることができ、上記の効果を有する細隙灯顕微鏡の機能を実現することが可能になる。   According to such a configuration, illumination light that can be changed to an arbitrary shape can be used as the slit light, and the function of the slit lamp microscope having the above-described effect can be realized.

また、照明光生成部は、任意に変更可能な照明パターンの光を出力可能なプロジェクタを含んでもよい。   Further, the illumination light generation unit may include a projector that can output light of an illumination pattern that can be arbitrarily changed.

このような構成によれば、プロジェクタにより照明光を出力するようにしたので、眼科撮影装置の構成および制御を簡素化することができる。   According to such a configuration, since the illumination light is output by the projector, the configuration and control of the ophthalmologic photographing apparatus can be simplified.

また、実施形態に係る眼科撮影装置は、観察系(たとえば、観察系6)と、第1光路結合部材(たとえば、ビームスプリッタ34)とを含んでもよい。観察系は、接眼レンズ(たとえば、接眼レンズ37)を備える。観察系は、被検眼からの照明光の戻り光を接眼レンズに導く。第1光路結合部材は、観察系の光路に撮影系の光路を結合する。   Further, the ophthalmologic photographing apparatus according to the embodiment may include an observation system (for example, the observation system 6) and a first optical path coupling member (for example, the beam splitter 34). The observation system includes an eyepiece (for example, an eyepiece 37). The observation system guides the return light of the illumination light from the eye to be examined to the eyepiece. The first optical path coupling member couples the optical path of the imaging system to the optical path of the observation system.

このような構成によれば、撮影系の光路と観察系の光路とを略同軸に配置できるので、接眼レンズで観察可能な被検眼と、撮像装置により取得された被検眼の画像とを略一致させることができる。   According to such a configuration, the optical path of the imaging system and the optical path of the observation system can be arranged substantially coaxially, so that the eye to be examined that can be observed with the eyepiece and the image of the eye to be examined acquired by the imaging device are substantially the same. Can be made.

また、実施形態に係る眼科撮影装置(たとえば、細隙灯顕微鏡1)の制御方法は、取得ステップ(たとえば、S2、S4、S8)と、制御ステップ(たとえば、S7)とを含む。眼科撮影装置は、照明系(たとえば、照明系8)と、撮影系(たとえば、撮影系7)とを含む。照明系は、照明光生成部(たとえば、照明光生成部51)を備える。照明光生成部は、照明光を生成する。照明系は、照明光で被検眼(たとえば、被検眼E)を照明する。撮影系は、被検眼からの照明光の戻り光を撮像装置(たとえば、撮像装置13)に導く。取得ステップでは、撮像装置により被検眼の画像が取得される。制御ステップでは、取得された画像における輝度分布に基づいて照明光生成部が制御される。   Moreover, the control method of the ophthalmologic imaging apparatus (for example, the slit lamp microscope 1) according to the embodiment includes an acquisition step (for example, S2, S4, S8) and a control step (for example, S7). The ophthalmologic imaging apparatus includes an illumination system (for example, the illumination system 8) and an imaging system (for example, the imaging system 7). The illumination system includes an illumination light generation unit (for example, illumination light generation unit 51). The illumination light generation unit generates illumination light. The illumination system illuminates the eye to be examined (for example, eye E to be examined) with illumination light. The imaging system guides the return light of the illumination light from the eye to be examined to the imaging device (for example, the imaging device 13). In the acquisition step, an image of the eye to be examined is acquired by the imaging device. In the control step, the illumination light generation unit is controlled based on the luminance distribution in the acquired image.

〔第2実施形態〕
第1実施形態に係る細隙灯顕微鏡では撮影系の光路が観察系の光路に結合されている場合について説明したが、実施形態に係る細隙灯顕微鏡はこれに限定されるものではない。第2実施形態に係る細隙灯顕微鏡では、撮影系の光路が照明系の光路に結合されている。
[Second Embodiment]
In the slit lamp microscope according to the first embodiment, the case where the optical path of the imaging system is coupled to the optical path of the observation system has been described. However, the slit lamp microscope according to the embodiment is not limited to this. In the slit lamp microscope according to the second embodiment, the optical path of the photographing system is coupled to the optical path of the illumination system.

第2実施形態に係る細隙灯顕微鏡の構成は、第1実施形態とほぼ同様である。以下では、第2実施形態について、第1実施形態との相違点を中心に説明する。   The configuration of the slit lamp microscope according to the second embodiment is substantially the same as that of the first embodiment. In the following, the second embodiment will be described focusing on the differences from the first embodiment.

図7に、この実施形態に係る細隙灯顕微鏡の光学系の構成例を示す。図7において、図2と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。   FIG. 7 shows a configuration example of the optical system of the slit lamp microscope according to this embodiment. In FIG. 7, the same parts as those in FIG.

この実施形態に係る細隙灯顕微鏡1Aの構成が図2に示す細隙灯顕微鏡1の構成と異なる点は、撮影系の光路が照明系の光路に結合された点である。細隙灯顕微鏡1Aは、観察系6Aと、撮影系7Aと、照明系8Aとを含んで構成されている。   The configuration of the slit lamp microscope 1A according to this embodiment is different from the configuration of the slit lamp microscope 1 shown in FIG. 2 in that the optical path of the photographing system is coupled to the optical path of the illumination system. The slit lamp microscope 1A includes an observation system 6A, an imaging system 7A, and an illumination system 8A.

観察系6Aは、観察系6と同様に左右一対の光学系を備えている。観察系6Aの左右の各光学系は、対物レンズ31、変倍光学系32、絞り33、リレーレンズ35、プリズム36および接眼レンズ37を有する。なお、図7には、観察系6Aの左右の光学系の一方のみが示されている。符号O1Aは観察系6Aの光軸(観察光軸)である。観察系6Aは、鏡筒本体9A内に配置されている。   Similar to the observation system 6, the observation system 6 </ b> A includes a pair of left and right optical systems. Each of the left and right optical systems of the observation system 6A includes an objective lens 31, a variable magnification optical system 32, a diaphragm 33, a relay lens 35, a prism 36, and an eyepiece lens 37. In FIG. 7, only one of the left and right optical systems of the observation system 6A is shown. Reference symbol O1A denotes the optical axis (observation optical axis) of the observation system 6A. The observation system 6A is disposed in the barrel main body 9A.

撮影系7Aは、撮影系7と同様に、リレーレンズ41、および撮像装置13を有する。撮影系7Aは、ビームスプリッタ34Aを更に含んで構成されていてもよい。符号O2Aは撮影系7Aの光軸(撮影光軸)、照明系8Aの光軸(照明光軸)を示す。   The imaging system 7 </ b> A includes the relay lens 41 and the imaging device 13 as in the imaging system 7. The imaging system 7A may further include a beam splitter 34A. Symbol O2A indicates the optical axis (imaging optical axis) of the imaging system 7A and the optical axis (illumination optical axis) of the illumination system 8A.

ビームスプリッタ34Aは、光軸O2Aに沿って進む光を二分割する。ビームスプリッタ34Aにより反射された光は、リレーレンズ41を介して、撮像装置13の撮像素子43に導かれる。撮像素子43は、この反射光を検出して画像信号を生成する。ビームスプリッタ34Aに代えて、ダイクロイックミラーやハーフミラーが配置されていてもよい。   The beam splitter 34A splits the light traveling along the optical axis O2A into two. The light reflected by the beam splitter 34 </ b> A is guided to the image sensor 43 of the imaging device 13 via the relay lens 41. The image sensor 43 detects the reflected light and generates an image signal. Instead of the beam splitter 34A, a dichroic mirror or a half mirror may be arranged.

照明系8Aは、照明光生成部51と、集光レンズ55とを有する。照明系8Aは、更にビームスプリッタ34Aを含んで構成されていてもよい。   The illumination system 8A includes an illumination light generator 51 and a condenser lens 55. The illumination system 8A may further include a beam splitter 34A.

この実施形態に係る細隙灯顕微鏡1Aの動作は、第1実施形態と同様であるため、説明を省略する。   Since the operation of the slit lamp microscope 1A according to this embodiment is the same as that of the first embodiment, description thereof is omitted.

ビームスプリッタ34Aは、実施形態に係る「第2光路結合部材」の一例である。   The beam splitter 34A is an example of a “second optical path coupling member” according to the embodiment.

[効果]
この実施形態に係る眼科撮影装置の効果について説明する。
[effect]
The effect of the ophthalmologic photographing apparatus according to this embodiment will be described.

実施形態に係る眼科撮影装置(たとえば、細隙灯顕微鏡1A)は、第2光路結合部材(たとえば、ビームスプリッタ34A)を含む。第2光路結合部材は、照明系(たとえば、照明系8A)の光路に撮影系(たとえば、撮影系7A)の光路を結合する。   The ophthalmologic photographing apparatus (for example, slit lamp microscope 1A) according to the embodiment includes a second optical path coupling member (for example, beam splitter 34A). The second optical path coupling member couples the optical path of the imaging system (for example, the imaging system 7A) to the optical path of the illumination system (for example, the illumination system 8A).

このような構成によれば、撮影系の光路と照明系の光路とを略同軸に配置できるので、照明光の面内位置と被検眼の画像における照明光の照明位置との対応関係を精度よく特定可能となる。また、撮影系と照明系との位置を固定することができるので、この対応関係が一定となり、対応関係を特定する処理が不要になる。   According to such a configuration, since the optical path of the imaging system and the optical path of the illumination system can be arranged substantially coaxially, the correspondence between the in-plane position of the illumination light and the illumination position of the illumination light in the image of the eye to be examined can be accurately obtained. It becomes possible to specify. Further, since the positions of the photographing system and the illumination system can be fixed, this correspondence relationship is constant, and processing for specifying the correspondence relationship becomes unnecessary.

〔第3実施形態〕
第1実施形態または第2実施形態に係る細隙灯顕微鏡では、被検眼の画像の輝度分布に基づいて照明光の光量分布を制御する場合について説明したが、実施形態に係る細隙灯顕微鏡はこれに限定されるものではない。第3実施形態では、被検眼の画像における注目領域を特定し、特定された注目領域に対する照明光の光量を制御する。
[Third Embodiment]
In the slit lamp microscope according to the first embodiment or the second embodiment, the case where the light amount distribution of the illumination light is controlled based on the luminance distribution of the image of the eye to be examined has been described. However, the slit lamp microscope according to the embodiment is It is not limited to this. In the third embodiment, the attention area in the image of the eye to be examined is specified, and the amount of illumination light with respect to the specified attention area is controlled.

第3実施形態に係る細隙灯顕微鏡の構成は、第1実施形態または第2実施形態と同様である。以下では、第2実施形態について、第1実施形態との相違点を中心に説明する。   The configuration of the slit lamp microscope according to the third embodiment is the same as that of the first embodiment or the second embodiment. In the following, the second embodiment will be described focusing on the differences from the first embodiment.

この実施形態に係る制御部は、特定部において、撮像装置13を用いて取得された被検眼Eの画像を解析することにより注目領域を特定する。注目領域は、あらかじめ決められている。注目領域は、操作部104を用いてユーザにより設定可能である。注目領域としては、瞳孔に対応する領域、角膜に対応する領域、視神経乳頭に対応する領域、網膜に対応する領域、黄斑部に対応する領域などがある。   The control unit according to this embodiment specifies the region of interest by analyzing the image of the eye E acquired using the imaging device 13 at the specifying unit. The attention area is determined in advance. The attention area can be set by the user using the operation unit 104. The attention area includes an area corresponding to the pupil, an area corresponding to the cornea, an area corresponding to the optic nerve head, an area corresponding to the retina, an area corresponding to the macula.

たとえば、特定部は、被検眼Eの画像に対してあらかじめ設定された1以上の特徴部位の位置情報に基づいて注目領域を特定することが可能である。特徴部位としては、虹彩、血管の走行状態、黄斑部などがある。特徴部位の位置情報は、あらかじめ決められていてもよいし、操作部104を用いてユーザにより設定されてもよい。また、特定部は、あらかじめ設定された形状パターンに基づくパターンマッチングにより被検眼Eの画像を探索することにより注目領域を特定するようにしてもよい。   For example, the specifying unit can specify a region of interest based on position information of one or more characteristic parts set in advance for the image of the eye E. Examples of the characteristic part include an iris, a running state of blood vessels, and a macula. The position information of the characteristic part may be determined in advance or may be set by the user using the operation unit 104. The specifying unit may specify the attention area by searching for an image of the eye E by pattern matching based on a preset shape pattern.

この実施形態に係る制御部は、光量制御部において、少なくとも特定部により特定された注目領域に対応する照明光の光束断面内位置(面内位置)の光量を制御する。   In the light amount control unit, the control unit according to this embodiment controls the light amount at the position in the light beam cross section (in-plane position) of the illumination light corresponding to at least the region of interest specified by the specifying unit.

たとえば、光量制御部は、注目領域に照射される照明光の光量を下げるように光量の制御を行う。それにより、特定部により特定された注目領域が瞳孔に対応する領域である場合、瞳孔に入射する照明光の光量を下げることができる。したがって、被検者に不快感を与えることがなくなる。また、縮瞳により観察を続行できなくなる事態を回避することができる。   For example, the light amount control unit controls the amount of light so as to reduce the amount of illumination light irradiated to the region of interest. Thereby, when the attention area specified by the specifying unit is an area corresponding to the pupil, the amount of illumination light incident on the pupil can be reduced. Therefore, no uncomfortable feeling is given to the subject. In addition, it is possible to avoid a situation where observation cannot be continued due to miosis.

また、特定部により特定された注目領域が角膜や視神経乳頭に対応する領域である場合、観察に不要な角膜や視神経乳頭による照明光の反射に起因したアーチファクトを除去することが可能になる。   In addition, when the region of interest specified by the specifying unit is a region corresponding to the cornea or the optic disc, it is possible to remove artifacts caused by reflection of illumination light by the cornea and the optic disc that are unnecessary for observation.

また、光量制御部は、注目領域に照射される照明光の光量を上げるように光量の制御を行ってもよい。それにより、特定部により特定された注目領域が網膜や黄斑部に対応する領域である場合、網膜や黄斑部に照射される照明光の光量を上げることができる。したがって、画像の黒潰れの発生を防ぎ、観察に好適な画像の取得が可能になる。   Further, the light amount control unit may control the light amount so as to increase the light amount of the illumination light irradiated to the attention area. Thereby, when the region of interest specified by the specifying unit is a region corresponding to the retina or the macula, the amount of illumination light applied to the retina or the macula can be increased. Therefore, it is possible to prevent the occurrence of black crushing of the image and obtain an image suitable for observation.

[効果]
この実施形態に係る眼科撮影装置の効果について説明する。
[effect]
The effect of the ophthalmologic photographing apparatus according to this embodiment will be described.

実施形態に係る眼科撮影装置では、制御部は、特定部と、光量制御部とを含んでもよい。特定部は、画像を解析することにより注目領域を特定する。光量制御部は、少なくとも注目領域に対応する照明光の面内位置の光量を制御する。   In the ophthalmologic photographing apparatus according to the embodiment, the control unit may include a specifying unit and a light amount control unit. The specifying unit specifies a region of interest by analyzing the image. The light quantity control unit controls the light quantity of the in-plane position of the illumination light corresponding to at least the attention area.

このような構成によれば、被検眼の画像において特定された注目領域に対する照明光の光量を制御するようにしたので、照明系と撮影系との位置にかかわらず、被検眼の部位に対応した最適な光量で同時に被検眼を照明することができる。   According to such a configuration, the amount of illumination light with respect to the region of interest specified in the image of the eye to be examined is controlled, so that it corresponds to the part of the eye to be examined regardless of the position of the illumination system and the imaging system. The eye to be examined can be illuminated at the same time with the optimum light quantity.

また、注目領域は、瞳孔、角膜、または視神経乳頭に対応する画像中の領域であってもよい。光量制御部は、注目領域に照射される照明光の光量を下げるように光量の制御を行ってもよい。   The attention area may be an area in the image corresponding to the pupil, the cornea, or the optic disc. The light amount control unit may control the light amount so as to reduce the light amount of the illumination light irradiated to the attention area.

このような構成によれば、被検者に不快感を与えることがなくなる。また、縮瞳により観察を続行できなくなる事態を回避することができる。また、観察に不要な照明光の反射に起因したアーチファクトを除去することが可能になる。   According to such a configuration, the subject does not feel uncomfortable. In addition, it is possible to avoid a situation where observation cannot be continued due to miosis. In addition, it is possible to remove artifacts caused by reflection of illumination light unnecessary for observation.

以上に説明した実施形態は、本発明を実施するための例示に過ぎない。本発明を実施しようとする者は、本発明の要旨の範囲内において任意の変形、省略、追加、置換等を施すことが可能である。   The embodiment described above is merely an example for carrying out the present invention. A person who intends to implement the present invention can make arbitrary modifications, omissions, additions, substitutions and the like within the scope of the present invention.

1、1A 細隙灯顕微鏡
6、6A 観察系
7、7A 撮影系
8、8A 照明系
12、42 ミラー
13 撮像装置
31 対物レンズ
32 変倍光学系
33 絞り
35、41 リレーレンズ
36 プリズム
37 接眼レンズ
34、34A ビームスプリッタ
43 撮像素子
51 照明光生成部
60 特定部
70 光量制御部
100 コンピュータ
101 制御部
102 記憶部
102a 面内パターン情報
102b 制御テーブル情報
103 表示部
104 操作部
110 データ処理部
E 被検眼
1, 1A slit lamp microscope 6, 6A observation system 7, 7A imaging system 8, 8A illumination system 12, 42 mirror 13 imaging device 31 objective lens 32 variable power optical system 33 aperture 35, 41 relay lens 36 prism 37 eyepiece 34 , 34A Beam splitter 43 Image sensor 51 Illumination light generation unit 60 Identification unit 70 Light amount control unit 100 Computer 101 Control unit 102 Storage unit 102a In-plane pattern information 102b Control table information 103 Display unit 104 Operation unit 110 Data processing unit E Eye to be examined

Claims (13)

照明光を生成する照明光生成部を備え、前記照明光で被検眼を照明する照明系と、
前記被検眼からの前記照明光の戻り光を撮像装置に導く撮影系と、
前記撮像装置により取得された画像における輝度分布に基づいて前記照明光生成部を制御する制御部と、
を含み、
前記制御部は、
前記照明光生成部により生成された前記照明光の面内位置と前記画像における前記照明光の照明位置との対応関係を特定する特定部と、
前記特定部によって特定された前記対応関係に基づいて前記照明位置ごとに制御情報を決定し、決定された前記制御情報に基づいて前記照明光生成部を制御することにより前記面内位置ごとに光量を制御する光量制御部と、
を含む眼科撮影装置。
An illumination system that illuminates the eye to be examined with the illumination light, comprising an illumination light generator that generates illumination light;
An imaging system for guiding the return light of the illumination light from the eye to be imaged to an imaging device;
A control unit that controls the illumination light generation unit based on a luminance distribution in an image acquired by the imaging device;
Only including,
The controller is
A specifying unit that specifies a correspondence relationship between an in-plane position of the illumination light generated by the illumination light generation unit and an illumination position of the illumination light in the image;
Control information is determined for each illumination position based on the correspondence specified by the specifying unit, and the amount of light is calculated for each in-plane position by controlling the illumination light generation unit based on the determined control information. A light amount control unit for controlling
Ophthalmic imaging device that includes a.
前記光量制御部は、前記画像において輝度値が第1閾値以上である明部の照明位置に対する照明光の光量を下げるように前記光量の制御を行う
ことを特徴とする請求項1に記載の眼科撮影装置。
The ophthalmologic according to claim 1, wherein the light amount control unit controls the light amount so as to reduce a light amount of illumination light with respect to an illumination position of a bright portion having a luminance value equal to or greater than a first threshold in the image. Shooting device.
前記光量制御部は、前記画像において輝度値が第2閾値以下である暗部の照明位置に対する照明光の光量を上げるように前記光量の制御を行う
ことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の眼科撮影装置。
The light quantity control unit, the luminance value in the image was claim 1 or, characterized in that for controlling the amount of light to increase the amount of illumination light to the illumination position of the dark part is below the second threshold claim ophthalmic imaging apparatus according to 2.
前記特定部は、前記照明光を用いて取得された第1画像と、既定の面内パターンを有する照明光を用いて取得された第2画像とに基づいて、前記対応関係を特定する
ことを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の眼科撮影装置。
The specifying unit specifies the correspondence relationship based on a first image acquired using the illumination light and a second image acquired using illumination light having a predetermined in-plane pattern. ophthalmic imaging apparatus according to any one of claims 1 to 3, characterized.
前記面内パターンは、少なくとも空間的に不規則的なパターンを含む
ことを特徴とする請求項4に記載の眼科撮影装置。
The ophthalmic imaging apparatus according to claim 4, wherein the in-plane pattern includes at least a spatially irregular pattern.
前記制御部は、少なくとも所定の期間だけ前記面内パターンを有する照明光で前記被検眼を照明するように前記照明光生成部を制御する
ことを特徴とする請求項4または請求項5に記載の眼科撮影装置。
Wherein the control unit is according to claim 4 or wherein the controller controls the illumination light generation unit so as to illuminate the eye to be examined with illumination light having the plane pattern by at least a predetermined period of time to claim 5 The ophthalmic imaging apparatus described.
前記面内パターンを含む照明光は、不可視光である
ことを特徴とする請求項4〜請求項6のいずれか一項に記載の眼科撮影装置。
The ophthalmologic photographing apparatus according to any one of claims 4 to 6, wherein the illumination light including the in-plane pattern is invisible light.
照明光を生成する照明光生成部を備え、前記照明光で被検眼を照明する照明系と、
前記被検眼からの前記照明光の戻り光を撮像装置に導く撮影系と、
前記撮像装置により取得された画像における輝度分布に基づいて前記照明光生成部を制御する制御部と、
を含み、
前記制御部は、
前記画像を解析することにより注目領域を特定する特定部と、
少なくとも前記注目領域に対応する照明光の面内位置の光量を制御する光量制御部と
を含み、
前記注目領域は、瞳孔、角膜、または視神経乳頭に対応する前記画像中の領域であり、
前記光量制御部は、前記注目領域に照射される照明光の光量を下げるように前記光量の制御を行う科撮影装置。
An illumination system that illuminates the eye to be examined with the illumination light, comprising an illumination light generator that generates illumination light;
An imaging system for guiding the return light of the illumination light from the eye to be imaged to an imaging device;
A control unit that controls the illumination light generation unit based on a luminance distribution in an image acquired by the imaging device;
Including
The controller is
A specifying unit for specifying a region of interest by analyzing the image;
A light amount control unit for controlling the light amount of at least an in-plane position of illumination light corresponding to the region of interest;
Including
The region of interest is a region in the image corresponding to a pupil, cornea, or optic disc;
The light quantity control unit, ophthalmology imaging apparatus which performs the control of the light amount to lower the light level of the illumination light irradiated on the region of interest.
前記照明光生成部は、任意に形状を変更可能な照明光を生成する
ことを特徴とする請求項1〜請求項8のいずれか一項に記載の眼科撮影装置。
The ophthalmologic photographing apparatus according to any one of claims 1 to 8, wherein the illumination light generation unit generates illumination light whose shape can be arbitrarily changed.
前記照明光生成部は、任意に変更可能な照明パターンの光を出力可能なプロジェクタを含む
ことを特徴とする請求項1〜請求項9のいずれか一項に記載の眼科撮影装置。
The ophthalmologic photographing apparatus according to any one of claims 1 to 9, wherein the illumination light generation unit includes a projector capable of outputting light having an illumination pattern that can be arbitrarily changed.
接眼レンズを備え、前記被検眼からの前記照明光の戻り光を前記接眼レンズに導く観察系と、
前記観察系の光路に前記撮影系の光路を結合する第1光路結合部材と
を含む
ことを特徴とする請求項1〜請求項10のいずれか一項に記載の眼科撮影装置。
An observation system comprising an eyepiece, and guiding the return light of the illumination light from the eye to the eyepiece;
Ophthalmic imaging apparatus according to any one of claims 1 to 10, characterized in that it comprises a first optical path coupling member for coupling the optical path of the imaging system in the optical path of the observation system.
照明光を生成する照明光生成部を備え、前記照明光で被検眼を照明する照明系と、
前記被検眼からの前記照明光の戻り光を撮像装置に導く撮影系と、
前記撮像装置により取得された画像における輝度分布に基づいて前記照明光生成部を制御する制御部と、
前記照明系の光路に前記撮影系の光路を結合する第2光路結合部材と、
を含む眼科撮影装置。
An illumination system that illuminates the eye to be examined with the illumination light, comprising an illumination light generator that generates illumination light;
An imaging system for guiding the return light of the illumination light from the eye to be imaged to an imaging device;
A control unit that controls the illumination light generation unit based on a luminance distribution in an image acquired by the imaging device;
A second optical path coupling member that couples the optical path of the imaging system to the optical path of the illumination system ;
Ophthalmic imaging device that includes a.
照明光を生成する照明光生成部を備え前記照明光で被検眼を照明する照明系と、前記被検眼からの前記照明光の戻り光を撮像装置に導く撮影系とを含む眼科撮影装置の制御方法であって、
前記撮像装置により前記被検眼の画像を取得する取得ステップと、
前記取得された画像における輝度分布に基づいて前記照明光生成部を制御する制御ステップと、
を含み、
前記制御ステップは、前記照明光生成部により生成された前記照明光の面内位置と前記画像における前記照明光の照明位置との対応関係を特定し、特定された前記対応関係に基づいて前記照明位置ごとに制御情報を決定し、決定された前記制御情報に基づいて前記照明光生成部を制御することにより前記面内位置ごとに光量を制御する、眼科撮影装置の制御方法。
Control of an ophthalmologic imaging apparatus including an illumination system that includes an illumination light generation unit that generates illumination light and that illuminates the subject's eye with the illumination light, and an imaging system that guides return light of the illumination light from the eye to the imaging device A method,
An acquisition step of acquiring an image of the eye to be examined by the imaging device;
A control step of controlling the illumination light generator based on a luminance distribution in the acquired image;
Only including,
The control step specifies a correspondence relationship between an in-plane position of the illumination light generated by the illumination light generation unit and an illumination position of the illumination light in the image, and the illumination based on the identified correspondence relationship control information determined for each location, controlling the amount of light for each of the in-plane position by controlling the illumination light generator based on the determined control information, the control method of ophthalmology imaging device.
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