JP6471682B2 - Electron beam irradiation device - Google Patents

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Description

本発明は、金属ストリップに電子ビームを連続的に照射し金属ストリップの特性を改善する際に用いる、電子ビーム照射装置に関するものである。特に、方向性電磁鋼板の表面に電子ビームを照射して磁区細分化を施すことにより鉄損を改善する際に好適の電子ビーム照射装置に関するものである。   The present invention relates to an electron beam irradiation apparatus used for continuously irradiating a metal strip with an electron beam to improve the properties of the metal strip. In particular, the present invention relates to an electron beam irradiation apparatus suitable for improving iron loss by irradiating the surface of a grain-oriented electrical steel sheet with an electron beam to subdivide the magnetic domain.

金属ストリップの典型例である、方向性電磁鋼板は、主にトランスの鉄心として利用され、その磁化特性が優れていること、特に鉄損の低いことが求められている。そのためには、鋼板中の二次再結晶粒を(110)[001]方位(いわゆる、ゴス方位)に高度に揃えることや、製品鋼板中の不純物を低減することが重要である。しかしながら、結晶方位を制御することや、不純物を低減することは、製造コストとの兼ね合い等で限界がある。そこで、鋼板の表面に対して物理的な手法で不均一性(歪)を導入し、磁区の幅を細分化して鉄損を低減する技術、すなわち磁区細分化技術が開発されている。   A grain-oriented electrical steel sheet, which is a typical example of a metal strip, is mainly used as an iron core of a transformer, and is required to have excellent magnetization characteristics, particularly low iron loss. For that purpose, it is important to highly align the secondary recrystallized grains in the steel plate in the (110) [001] orientation (so-called Goth orientation) and to reduce impurities in the product steel plate. However, controlling the crystal orientation and reducing impurities are limited in view of the manufacturing cost. In view of this, a technique for reducing the iron loss by introducing non-uniformity (strain) to the surface of the steel sheet by a physical method and subdividing the width of the magnetic domain has been developed.

例えば、特許文献1には、最終製品板にレーザーを照射し、鋼板表層に線状の高転位密度領域を導入し、磁区幅を狭くすることによって、鋼板の鉄損を低減する技術が提案されている。また、特許文献2には、電子ビームを照射することにより、磁区幅を狭くして鋼板の鉄損を低減する技術が提案されている。この電子ビーム照射により鉄損を低減する方法では、電子ビームの走査を磁場制御によって高速に行うことが可能である。したがって、レーザーの光学的な走査機構に見られるような機械的な可動部がないことから、特に1m以上の広い幅のストリップに対して、連続かつ高速でビームを照射処理する場合に有利である。   For example, Patent Document 1 proposes a technique for reducing the iron loss of a steel sheet by irradiating the final product plate with a laser, introducing a linear high dislocation density region into the steel sheet surface layer, and narrowing the magnetic domain width. ing. Patent Document 2 proposes a technique for reducing the iron loss of a steel sheet by narrowing the magnetic domain width by irradiating an electron beam. In this method of reducing iron loss by electron beam irradiation, scanning of the electron beam can be performed at high speed by magnetic field control. Therefore, since there is no mechanical moving part as found in an optical scanning mechanism of a laser, it is advantageous when a beam is irradiated at a continuous and high speed particularly for a strip having a width of 1 m or more. .

ここで、金属ストリップに電子ビームを照射するとX線が発生するため、金属ストリップを導入する真空槽の壁面に沿って鉛などのX線を吸収するシールド層を設けて遮蔽することが、特許文献3に開示されている。   Here, since X-rays are generated when the metal strip is irradiated with an electron beam, it is necessary to provide a shield layer that absorbs X-rays such as lead along the wall surface of the vacuum chamber into which the metal strip is introduced. 3 is disclosed.

特公昭57−2252号公報Japanese Patent Publication No.57-2252 特公平6−72266号公報Japanese Examined Patent Publication No. 6-72266 特開平6−109900号公報JP-A-6-109900

前述のように、シールド層を設ける場合では、電子ビームが照射される部分の真空槽中央部では発生した多量のX線を真空槽壁面のシールド層のみで十分遮蔽できるものの、方向性電磁鋼板のように長尺な帯状体に電子ビームを照射する場合は、必ず真空槽に鋼板(鋼帯)を搬入・搬出する開口部が必要となるので、その開口部からのX線の漏洩が問題となる。また、シールド層は、鉛のような重金属の板を厚く張りめぐらす必要があるが、真空槽のサイズが大きくなる場合、シールドする範囲も広くなり、設備の重量やコストが過大になるという問題もあった。   As described above, when a shield layer is provided, a large amount of X-rays generated in the central part of the vacuum chamber where the electron beam is irradiated can be sufficiently shielded only by the shield layer on the vacuum chamber wall surface. When irradiating an electron beam to a long strip like this, an opening for carrying in and out a steel plate (steel strip) is always required in the vacuum chamber, so leakage of X-rays from the opening is a problem. Become. In addition, the shield layer needs to be thickly spread with heavy metal plates such as lead, but if the vacuum chamber size increases, the shielding range will be widened, and the weight and cost of the equipment will be excessive. there were.

そこで、本発明は、電子ビームの照射に伴って発生するX線の遮蔽を、開口部を有する真空槽においても、より確実に行うための手法について提案することを目的とする。   In view of the above, an object of the present invention is to propose a technique for more reliably performing shielding of X-rays generated with irradiation of an electron beam even in a vacuum chamber having an opening.

発明者らは、従来のように、単に真空槽の内壁面にシールド層を設けるだけではなく、そのシールド層の表面に特定の凹凸を設けることによって、X線漏洩を確実に遮断可能であることを知見した。さらに、その表面をX線が透過する材質で覆うことにより、真空槽内面の清掃など、メンテナンスに支障がなくX線の開口部からの漏洩を防止できることも見出した。   The inventors can not only provide a shield layer on the inner wall surface of the vacuum chamber as in the prior art, but also provide specific irregularities on the surface of the shield layer to reliably block X-ray leakage. I found out. Furthermore, it has also been found that by covering the surface with a material that transmits X-rays, maintenance such as cleaning of the inner surface of the vacuum chamber is not hindered and leakage from the X-ray opening can be prevented.

すなわち、本発明の要旨構成は、次のとおりである。
1.金属ストリップが通る少なくとも1つの開口部を有する真空槽と、該真空槽内を通る金属ストリップの搬送路に向けて設置する電子銃と、を備え、
前記真空槽の内壁面に、前記電子銃からの電子ビーム照射に伴うX線の前記真空槽外への漏洩を遮断するシールド層を設け、
該シールド層の少なくとも一部は、凹凸状の表層部を有することを特徴とする電子ビーム照射装置。
That is, the gist configuration of the present invention is as follows.
1. A vacuum chamber having at least one opening through which the metal strip passes, and an electron gun installed toward the transport path of the metal strip passing through the vacuum chamber,
Provided on the inner wall surface of the vacuum chamber is a shield layer that blocks leakage of X-rays to the outside of the vacuum chamber due to electron beam irradiation from the electron gun,
An electron beam irradiation apparatus, wherein at least a part of the shield layer has an uneven surface layer portion.

2.前記凹凸状の表層部は、少なくとも前記開口部の内側領域に設けることを特徴とする前記1に記載の電子ビーム照射装置。 2. 2. The electron beam irradiation apparatus according to 1 above, wherein the uneven surface layer portion is provided at least in an inner region of the opening.

3.前記凹凸状の表層部は、断面が三角形状の凸部を有することを特徴とする前記1または2に記載の電子ビーム照射装置。 3. 3. The electron beam irradiation apparatus according to 1 or 2, wherein the uneven surface layer portion has a convex portion having a triangular cross section.

4.前記シールド層は、前記凹凸状の表層部を覆ってX線を透過する被覆層を有することを特徴とする前記1、2または3に記載の電子ビーム照射装置。 4). 4. The electron beam irradiation apparatus according to 1, 2, or 3, wherein the shield layer has a coating layer that covers the uneven surface layer portion and transmits X-rays.

本発明によれば、真空槽に開口部が設けられていても十分にX線を遮蔽することができる。従って、設備の重量、およびコストが増大することなく、方向性電磁鋼板を典型例とする金属ストリップに対する処理能力を向上させて生産性を高めることが可能である。   According to the present invention, X-rays can be sufficiently shielded even if an opening is provided in the vacuum chamber. Therefore, without increasing the weight and cost of the facility, it is possible to improve the productivity by improving the processing capability for the metal strip typically made of grain-oriented electrical steel sheets.

電子ビーム照射装置の構造を示す図である。It is a figure which shows the structure of an electron beam irradiation apparatus. 本発明の電子ビーム照射装置のシールド層の構造を示す図である。It is a figure which shows the structure of the shield layer of the electron beam irradiation apparatus of this invention. 本発明と従来技術のシールド層の構造を比較する図である。It is a figure which compares the structure of the shield layer of this invention and a prior art. 本発明の電子ビーム照射装置のシールド層の他の構造を示す図である。It is a figure which shows the other structure of the shield layer of the electron beam irradiation apparatus of this invention. 本発明の電子ビーム照射装置のシールド層の他の構造を示す図である。It is a figure which shows the other structure of the shield layer of the electron beam irradiation apparatus of this invention.

本発明は、金属ストリップに対して連続的に電子ビームを照射する装置に適用するものである。この種の装置としては、例えば図1に示すように、大気圧中の金属ストリップSを導入する真空槽1を備え、この真空槽1の金属ストリップSの入側および出側にはそれぞれ該金属ストリップSを通すための開口部2aおよび2bを有し、さらに開口部2aおよび2bを覆って金属ストリップSの入側および出側にて延びる差圧室3aおよび3bを有する。これら差圧室3aおよび3bを介在させて真空槽1内を低圧に保持している。また、真空槽1には、電子銃4が金属ストリップSの搬送路Rに向けて設置され、金属ストリップSに向けて電子ビームを照射可能にしている。   The present invention is applied to an apparatus that continuously irradiates a metal strip with an electron beam. As this type of apparatus, for example, as shown in FIG. 1, a vacuum chamber 1 for introducing a metal strip S in atmospheric pressure is provided, and the metal strip S of the vacuum chamber 1 is respectively provided on the inlet side and the outlet side thereof. Opening portions 2a and 2b for allowing the strip S to pass therethrough, and differential pressure chambers 3a and 3b extending on the entrance side and the exit side of the metal strip S so as to cover the openings 2a and 2b. The vacuum chamber 1 is held at a low pressure by interposing these differential pressure chambers 3a and 3b. Further, in the vacuum chamber 1, an electron gun 4 is installed toward the transport path R of the metal strip S so that an electron beam can be irradiated toward the metal strip S.

ここで、電子ビームを照射する真空槽1内の圧力は10Pa以下とすることが、電子ビームの散乱防止に有効である。一方、圧力の下限は特に必要はないが、真空ポンプや差圧室の能力から、一般的には0.01Pa以上とされる。差圧室を用いず、コイルを含む全設備を真空状態にする方法も取り得るが、図1に示す差圧方式の方が真空設備の規模を小さくすることができて有利である。   Here, it is effective for preventing the scattering of the electron beam that the pressure in the vacuum chamber 1 for irradiating the electron beam is 10 Pa or less. On the other hand, the lower limit of the pressure is not particularly required, but is generally set to 0.01 Pa or more because of the capability of the vacuum pump and the differential pressure chamber. Although a method can be used in which the entire equipment including the coil is evacuated without using the differential pressure chamber, the differential pressure method shown in FIG. 1 is advantageous in that the size of the vacuum equipment can be reduced.

この電子ビーム照射装置を用いて、例えば方向性電磁鋼板に対して磁区細分化処理を施すには、図1に示すように、方向性電磁鋼板(金属ストリップ)Sに向けて、電子銃4で電子ビームを照射する。すなわち、方向性電磁鋼板の鉄損低減のためには、照射位置でのビーム径を例えば0.05〜1mm程度に収束させた電子ビームを、鋼板の幅方向(圧延方向と交差する方向)に走査して、線状に熱歪みを導入する。その際、電子ビームの出力は10〜2000W、走査速度は1〜100m/sとして、さらに単位長さ当たりの出力が1〜50J/mになるように調整し、線状に1〜20mm間隔で照射するのが好適である。   For example, in order to perform magnetic domain subdivision processing on a directional electromagnetic steel sheet using this electron beam irradiation apparatus, an electron gun 4 is directed toward the directional electromagnetic steel sheet (metal strip) S as shown in FIG. Irradiate an electron beam. That is, in order to reduce the iron loss of the grain-oriented electrical steel sheet, an electron beam whose beam diameter at the irradiation position is converged to about 0.05 to 1 mm is scanned in the width direction of the steel sheet (direction intersecting the rolling direction). Then, heat distortion is introduced linearly. At that time, the output of the electron beam is 10 to 2000 W, the scanning speed is 1 to 100 m / s, and the output per unit length is further adjusted to 1 to 50 J / m. Irradiation is preferred.

かような電子ビーム照射装置において、電子ビーム照射に伴ってX線が不可避に発生する。その際、真空槽1外側へのX線漏洩を抑制することが安全上重要である。そのためには、真空槽1の内側(または外側)にX線吸収能をもつ、例えば鉛板をシールド層5として設けることが通例である。このシールド層5により、例えば、真空槽1外部へのX線漏洩量を3か月の労働時間当たり1.3ミリシーベルト以下にすることができれば、放射線管理区域を装置外部に設ける必要がなくなり、操業管理上有利である。   In such an electron beam irradiation apparatus, X-rays are inevitably generated along with the electron beam irradiation. At that time, it is important for safety to suppress X-ray leakage to the outside of the vacuum chamber 1. For this purpose, for example, a lead plate having X-ray absorption capability, for example, as the shield layer 5 is usually provided inside (or outside) the vacuum chamber 1. For example, if the shielding layer 5 can reduce the amount of X-ray leakage to the outside of the vacuum chamber 1 to 1.3 millisieverts or less per three-month working hours, there is no need to provide a radiation control area outside the apparatus. Administratively advantageous.

ところで、金属ストリップに対する電子ビーム照射処理における、単位時間当たりの処理量を増加させるためには、電子ビームの走査速度を上げる必要がある。所定の照射量を確保したまま走査速度を上げるには、電子ビームの出力を上げる必要があるため、電子線照射位置で発生するX線の強度も増加することになる。特に、上記したように、真空槽には連続して金属ストリップを搬入、搬出する必要があるため、開口部2aおよび2bが設けられている。これら開口部には当然シールド層を設けることができないため、電子ビームの照射により発生するX線が、開口部から漏洩する可能性が高くなる。X線漏洩量を安全上、問題ないレベルまで減衰させようとすると、電子ビームの照射域である真空槽1の中央部から開口部までの距離を大きくとる必要がある。その場合、真空槽のサイズが大きくなり、シールド層で覆われる真空槽内面の面積も増大するため、真空槽全体の重量が増加し、設備を支持する架構が大規模になり、設備コストが増加することになる。   By the way, in order to increase the processing amount per unit time in the electron beam irradiation processing for the metal strip, it is necessary to increase the scanning speed of the electron beam. In order to increase the scanning speed while securing a predetermined irradiation amount, it is necessary to increase the output of the electron beam, so that the intensity of X-rays generated at the electron beam irradiation position also increases. In particular, as described above, openings 2a and 2b are provided in the vacuum chamber because it is necessary to continuously carry in and out the metal strip. Since these openings cannot naturally be provided with a shield layer, there is a high possibility that X-rays generated by electron beam irradiation will leak from the openings. In order to attenuate the amount of X-ray leakage to a safe level, it is necessary to increase the distance from the central portion of the vacuum chamber 1 that is the electron beam irradiation region to the opening. In that case, the size of the vacuum chamber increases, and the area of the inner surface of the vacuum chamber covered with the shield layer also increases, increasing the overall weight of the vacuum chamber, increasing the size of the frame that supports the equipment, and reducing the equipment cost. Will increase.

さらには、シールド層の材料そのもののコストも増加する上、過大なサイズとなった真空槽は形状の歪みを生じやすくなり、真空槽内への空気漏れが生じやすくなるなどの問題も懸念される。したがって、設備コストや設備構造上から可能となる範囲でX線の遮蔽をはかることが余儀なくされる。以上の制約の下では、上記した処理量の増加を進めることは難しいため、結局、製造能力は制限されることになる。   Furthermore, the cost of the material of the shield layer itself increases, and the excessively sized vacuum chamber is liable to be distorted in shape, and air leakage into the vacuum chamber is likely to occur. . Therefore, it is unavoidable to shield X-rays as much as possible in terms of equipment cost and equipment structure. Under the above constraints, it is difficult to proceed with the increase in the amount of processing described above, so that the manufacturing capacity is limited in the end.

そこで、本発明では、電子ビーム照射装置において、単に真空槽の内壁面にシールド層を設けるだけではなく、そのシールド層の表層に凹凸形状を与えることによって、電子銃による処理速度が大きくなってX線の発生量が増大した場合にあっても、特に真空槽の開口部に至るX線の強度を低下させてX線の漏洩を抑制し、結果として、処理量の増加を実現するものである。   Therefore, in the present invention, in the electron beam irradiation apparatus, not only simply providing a shield layer on the inner wall surface of the vacuum chamber, but also by providing an uneven shape on the surface layer of the shield layer, the processing speed by the electron gun is increased. Even when the amount of generated lines increases, the intensity of X-rays reaching the opening of the vacuum chamber is particularly reduced to suppress leakage of X-rays, and as a result, an increase in throughput is realized. .

具体的には、図2に示すように、図1に示した電子ビーム照射装置において、シールド層5の真空槽内部側の表層5aを凹凸状、例えば図2(b)に示す金属ストリップ搬送方向断面が二等辺三角形状の凸部または、図2(c)に示す金属ストリップ搬送方向断面が直角三角形状の凸部など、金属ストリップ搬送方向と直交する向きを軸方向とする三角柱状の凸部の列が金属ストリップ搬送方向に並列する、凹凸形状を与えることによって、真空槽1中央部での金属ストリップSへの電子ビーム照射によって発生するX線を凹凸により散乱させることができる。この散乱作用によりX線を減衰させて、真空槽1の開口部2aおよび2bでのX線強度を低下させて、開口部2aおよび2bからのX線の漏洩を抑制する。   Specifically, as shown in FIG. 2, in the electron beam irradiation apparatus shown in FIG. 1, the surface layer 5a on the inner side of the vacuum chamber of the shield layer 5 has an uneven shape, for example, the metal strip conveying direction shown in FIG. A convex portion having an isosceles triangular cross section or a triangular columnar convex portion having an axial direction perpendicular to the metal strip conveyance direction, such as a convex portion having a right-angled triangle cross section in the metal strip conveyance direction shown in FIG. By providing a concavo-convex shape in which the rows are parallel to the metal strip conveying direction, X-rays generated by electron beam irradiation to the metal strip S at the central portion of the vacuum chamber 1 can be scattered by the concavo-convex. X-rays are attenuated by this scattering action, the X-ray intensity at the openings 2a and 2b of the vacuum chamber 1 is reduced, and leakage of X-rays from the openings 2a and 2b is suppressed.

すなわち、図3(b)に示す従来例のように、シールド層50の表面に凹凸を設けない場合は、X線がシールド層50に十分に吸収されず、吸収されずに反射もしくは散乱したX線が開口部に到達することによって開口部でのX線強度が高くなり、開口部からのX線の漏洩量が多くなる。一方、図3(a)に示すように、シールド層5の表面に凹凸を設けた場合には、X線が開口部に至るまでのX線の反射・散乱の回数が多くなり、X線のシールド層5への吸収効率も高くなるため、開口部に達するX線の強度は低くなり、開口部からのX線の漏洩量が少なくなる。   That is, as in the conventional example shown in FIG. 3B, when the surface of the shield layer 50 is not provided with irregularities, the X-rays are not sufficiently absorbed by the shield layer 50 and are reflected or scattered without being absorbed. When the line reaches the opening, the X-ray intensity at the opening increases, and the amount of X-ray leakage from the opening increases. On the other hand, as shown in FIG. 3A, when the surface of the shield layer 5 is uneven, the number of X-ray reflections / scattering until the X-ray reaches the opening increases. Since the absorption efficiency to the shield layer 5 is also increased, the intensity of X-rays reaching the opening is reduced, and the amount of X-ray leakage from the opening is reduced.

ここで、シールド層5の表層5aに与える凹凸は、上記した図2(b)および図2(c)に示した、横向きの三角柱を並べた凹凸形状がX線を散乱させて、真空槽の開口部においてX線強度を低下させるような構造であればよいが、シールド層5の好適な形態としては、次のとおりである。
まず、凹凸形状を与える表層5aの厚みtは、真空槽の形状や内部空間の大きさに応じて、X線の低減効果を生じるよう、適宜設定することが好ましい。この表層5aの厚みは、そのまま凸部の高さになる。
また、凸部が図2に示した断面三角形状である場合、その三角の真空槽中央部側の面の仰角の角度αは15°以上90°以下とすることが好ましい。なぜなら、そのような仰角とすることで反射したX線を真空槽の中央部に戻すことができるからである。
さらに隣り合う三角形状部分の間に平面部分が形成されていてもよいが、この平面部分で真空槽の中央部からのX線が反射することのないように、隣り合う三角形状部分のストリップ搬送方向での間隔を調整することが好ましい。なぜなら、X線がこの平面部で反射するとX線が開口部に到達し、X線が漏洩しやすくなるからである。なお、前記間隔は三角形状部分の大きさ(表層の厚みt)や真空槽中央部から入側(出側)にかけての内部の構造によって適宜調整すればよいが、間隔(平面部)を設けずに三角形状部分を連続して設けることがより好ましい。
Here, the unevenness imparted to the surface layer 5a of the shield layer 5 is such that the uneven shape in which the laterally oriented triangular prisms shown in FIG. 2 (b) and FIG. Any structure that reduces the X-ray intensity in the opening may be used, but a preferred form of the shield layer 5 is as follows.
First, it is preferable to appropriately set the thickness t of the surface layer 5a giving the uneven shape so as to produce an X-ray reduction effect according to the shape of the vacuum chamber and the size of the internal space. The thickness of the surface layer 5a is the height of the convex portion as it is.
Moreover, when the convex part has a triangular cross section shown in FIG. 2, the angle α of the elevation angle of the surface of the triangular vacuum chamber center is preferably 15 ° or more and 90 ° or less. This is because the reflected X-rays can be returned to the center of the vacuum chamber by setting such an elevation angle.
Further, a plane portion may be formed between the adjacent triangular portions, but strip transfer of adjacent triangular portions is prevented so that X-rays from the central portion of the vacuum chamber are not reflected by this plane portion. It is preferable to adjust the interval in the direction. This is because when X-rays are reflected by this plane portion, the X-rays reach the opening and the X-rays are likely to leak. The spacing may be appropriately adjusted according to the size of the triangular portion (surface thickness t) and the internal structure from the center of the vacuum chamber to the entry side (exit side), but the interval (plane portion) is not provided. It is more preferable to continuously provide triangular portions on the surface.

図2に示した凹凸は、横向きの三角柱を並べた形状であるが、必ずしも三角柱状に連続している必要はなく、軸長の短い三角柱を軸方向に並べて各列を構成してもよい。あるいは、シールド層5の表層5aを、図4に示すような、その端部が開口部側に傾斜した板状体もしくはその集合体とすることも可能である。これらの形態においても、上記した厚みt、角度αおよび頂点の相互間隔dは、上記した範囲とすることが好ましい。   The unevenness shown in FIG. 2 has a shape in which horizontal triangular prisms are arranged side by side, but it is not necessarily continuous in a triangular prism shape, and each column may be configured by arranging triangular prisms having a short axial length in the axial direction. Alternatively, the surface layer 5a of the shield layer 5 can be a plate-like body or an aggregate thereof whose end is inclined toward the opening as shown in FIG. Also in these forms, it is preferable that the thickness t, the angle α, and the mutual distance d between the apexes are in the above-described ranges.

なお、シールド層5を凹凸形状とする領域は、少なくとも開口部から真空槽の内側の一部に形成するものであってもよい。なぜなら、真空槽の形状によっては、内側の一部に形成してX線の真空槽開口部への到達を防止することもできるからである。勿論、真空槽の内壁の全面を凹凸形状としてもよい。   In addition, the area | region which makes the shield layer 5 uneven | corrugated shape may be formed in a part inside a vacuum chamber at least from an opening part. This is because, depending on the shape of the vacuum chamber, it can be formed on a part of the inner side to prevent the X-ray from reaching the vacuum chamber opening. Of course, the entire inner wall of the vacuum chamber may have an uneven shape.

さらに、図5に示すように、シールド層4の表層に凹凸を設けたうえで、この表層域を、X線を透過する材料からなる被覆層5bによって覆って、シールド層4の表面を平坦に整えることも可能である。この被覆層5bを設ければ、例えば真空槽1内部の清掃や修理等のメンテナンスが容易に実施できるため好ましい。ちなみに、X線を透過する材料は、例えば樹脂や薄鋼板などの金属を用いることができる。   Furthermore, as shown in FIG. 5, after providing the surface layer of the shield layer 4 with unevenness, the surface layer region is covered with a coating layer 5b made of a material that transmits X-rays, and the surface of the shield layer 4 is flattened. It is also possible to arrange. Providing this coating layer 5b is preferable because maintenance such as cleaning and repair inside the vacuum chamber 1 can be easily performed. Incidentally, as a material that transmits X-rays, for example, a metal such as a resin or a thin steel plate can be used.

なお、図1では電子銃を一台設けた例を示したが、電子銃を複数台設けてもよく、その場合、隣り合う電子銃を区画する隔壁を設けてもよく、その隔壁にシールド層を設け、その表層に凹凸を設ける構造としてもよい。   Although FIG. 1 shows an example in which one electron gun is provided, a plurality of electron guns may be provided. In that case, a partition wall for partitioning adjacent electron guns may be provided, and a shield layer is provided on the partition wall. It is good also as a structure which provides unevenness in the surface layer.

また、シールド層は、鉛のほか、スズ、アンチモン、タンタル、タングステンおよびビスマス等の重金属や、ストロンチウム、バリウムおよびランタノイド等の重元素の化合物を含有するシート等を用いることができる。   In addition to lead, a sheet containing a heavy metal such as tin, antimony, tantalum, tungsten and bismuth or a compound of a heavy element such as strontium, barium and lanthanoid can be used for the shield layer.

1 真空槽
2a、2b 開口部
3a、3b 差圧室
4 電子銃
5 シ−ルド層
5a 表層
5b 被覆層
S 金属ストリップ
R 搬送路
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Vacuum chamber 2a, 2b Opening part 3a, 3b Differential pressure chamber 4 Electron gun 5 Shield layer 5a Surface layer 5b Coating layer S Metal strip R Conveyance path

Claims (3)

方向性電磁鋼板が通る少なくとも1つの開口部を有する真空槽と、該真空槽内を通る方向性電磁鋼板の搬送路に向けて設置する電子銃と、を備え、
前記真空槽の内壁面に、前記電子銃からの電子ビーム照射に伴うX線の前記真空槽外への漏洩を遮断するシールド層を設け、
該シールド層の少なくとも一部は、凹凸状の表層部を有し、
前記シールド層は、前記凹凸状の表層部を覆って表面を平坦にしX線を透過する被覆層を有することを特徴とする電子ビーム照射装置。
Comprising a vacuum chamber having at least one opening through which the grain oriented electrical steel sheet, an electron gun placed toward the conveying path of oriented electrical steel sheet through a vacuum chamber, and
Provided on the inner wall surface of the vacuum chamber is a shield layer that blocks leakage of X-rays to the outside of the vacuum chamber due to electron beam irradiation from the electron gun,
At least a portion of the shield layer have a uneven surface portion,
The shield layer, an electron beam irradiation apparatus characterized in that it have a coating layer which transmits flat X-ray surface to cover the uneven surface portion.
前記凹凸状の表層部は、少なくとも前記開口部の内側領域に設けることを特徴とする請求項1に記載の電子ビーム照射装置。   The electron beam irradiation apparatus according to claim 1, wherein the uneven surface layer portion is provided at least in an inner region of the opening. 前記凹凸状の表層部は、断面が三角形状の凸部を有することを特徴とする請求項1または2に記載の電子ビーム照射装置。

The electron beam irradiation apparatus according to claim 1, wherein the uneven surface layer portion has a convex portion having a triangular cross section.

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