JP6459843B2 - Semiconductor device - Google Patents
Semiconductor device Download PDFInfo
- Publication number
- JP6459843B2 JP6459843B2 JP2015158788A JP2015158788A JP6459843B2 JP 6459843 B2 JP6459843 B2 JP 6459843B2 JP 2015158788 A JP2015158788 A JP 2015158788A JP 2015158788 A JP2015158788 A JP 2015158788A JP 6459843 B2 JP6459843 B2 JP 6459843B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- disc spring
- positioning
- semiconductor device
- semiconductor module
- mounting region
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 120
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 claims description 10
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 6
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 6
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 6
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 5
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 25
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 25
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 19
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 19
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 17
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 15
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 7
- 239000004519 grease Substances 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 230000009194 climbing Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 235000012489 doughnuts Nutrition 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/181—Encapsulation
Landscapes
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Description
本発明は、半導体装置に関する。 The present invention relates to a semiconductor device.
従来、例えば、特開2001−110969号公報に開示されているように、皿バネ用のガイド機構を備える半導体装置が知られている。この公報の図7および段落0045には、受熱ブロックにおける皿バネを載せる領域に凹部を設けることが記載されている。 Conventionally, as disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-110969, a semiconductor device including a guide mechanism for a disc spring is known. In FIG. 7 and paragraph 0045 of this publication, it is described that a recess is provided in a region where the disc spring is placed in the heat receiving block.
皿バネを位置決めするために皿バネ搭載領域の周囲に位置決め部を設ける場合、この位置決め部の内側に皿バネが正しく載せられれば問題はない。しかしながら、搭載位置に誤差が生じることで、皿バネの縁が位置決め部に乗り上がってしまうおそれがある。その結果、皿バネが正しく挟まれない不良が生じる問題があった。 In the case where a positioning portion is provided around the disc spring mounting region in order to position the disc spring, there is no problem as long as the disc spring is correctly placed inside the positioning portion. However, if an error occurs in the mounting position, the edge of the disc spring may ride on the positioning portion. As a result, there is a problem that a disc spring is not correctly sandwiched.
本発明は、上述のような課題を解決するためになされたもので、位置決め不良を抑制するように改善された半導体装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to provide an improved semiconductor device so as to suppress poor positioning.
第1の発明にかかる半導体装置は、
放熱部材と、
前記放熱部材の上に設けられ、前記放熱部材の反対側を向く表面と前記表面の周縁に沿って設けられた側面とを有し、前記表面に皿バネ搭載領域と前記皿バネ搭載領域を囲むように設けられた位置決め突起とを備え、前記側面に端子が設けられた半導体モジュールと、
前記皿バネ搭載領域に乗せられた皿バネと、
前記皿バネの上に重ねられた押さえ板と、
前記押さえ板と前記放熱部材とで前記皿バネおよび前記半導体モジュールを挟むように、前記押さえ板と前記放熱部材とを結合させる結合部材と、
を備え、
前記位置決め突起の少なくとも上端部に、前記皿バネ搭載領域の中央側へ下るように前記表面に対して傾いた斜面が設けられ、
前記位置決め突起は、絶縁材料で形成され前記皿バネ搭載領域を囲む環状の突起を含むものである。
A semiconductor device according to a first invention is
A heat dissipating member;
A surface provided on the heat radiating member, facing the opposite side of the heat radiating member, and a side surface provided along a peripheral edge of the surface, and surrounding the disc spring mounting region and the disc spring mounting region on the surface A positioning module provided with a positioning projection, and a semiconductor module provided with a terminal on the side surface ,
A disc spring mounted on the disc spring mounting area;
A holding plate overlaid on the disc spring;
A coupling member that couples the pressing plate and the heat dissipation member so as to sandwich the disc spring and the semiconductor module between the pressing plate and the heat dissipation member;
With
At least an upper end portion of the positioning protrusion is provided with a slope inclined with respect to the surface so as to descend toward the center side of the disc spring mounting region ,
The positioning protrusion includes an annular protrusion formed of an insulating material and surrounding the disc spring mounting region .
第2の発明にかかる半導体装置は、
放熱部材と、
前記放熱部材の上に設けられ、前記放熱部材の反対側を向く表面と前記表面の周縁に沿って設けられた側面とを有し、前記表面に絶縁材料で形成された位置決め凹部を備え、前記側面に端子が設けられた半導体モジュールと、
前記位置決め凹部の内側に乗せられた皿バネと、
前記皿バネの上に重ねられた押さえ板と、
前記押さえ板と前記放熱部材とで前記皿バネおよび前記半導体モジュールを挟むように、前記押さえ板と前記放熱部材とを結合させる結合部材と、
を備え、
前記位置決め凹部は、前記皿バネが乗る底面および前記底面を囲う側面を含み、
前記側面の少なくとも上端部に、前記底面の中央側へ下るように前記底面に対して傾いた斜面が設けられたものである。
A semiconductor device according to a second invention is
A heat dissipating member;
Wherein provided on the heat radiating member, and a side surface which is provided along the periphery of the opposite side faces a surface wherein the surface of the heat radiating member includes a positioning recess formed in the insulating material to the surface, the A semiconductor module provided with terminals on the side surfaces ;
A disc spring placed inside the positioning recess;
A holding plate overlaid on the disc spring;
A coupling member that couples the pressing plate and the heat dissipation member so as to sandwich the disc spring and the semiconductor module between the pressing plate and the heat dissipation member;
With
The positioning recess includes a bottom surface on which the disc spring rides and a side surface surrounding the bottom surface,
At least an upper end portion of the side surface is provided with a slope inclined with respect to the bottom surface so as to descend toward the center side of the bottom surface.
第1の発明によれば、位置決め突起の斜面により皿バネが位置決め突起の内側にガイドされるので、位置決め突起に皿バネが乗り上がってしまうことを防止することができる。 According to the first aspect, since the disc spring is guided inside the positioning projection by the inclined surface of the positioning projection, it is possible to prevent the disc spring from riding on the positioning projection.
第2の発明によれば、位置決め凹部の側面に設けられた斜面によって皿バネの縁がガイドされるので、位置決め凹部の縁に皿バネが乗り上がってしまうことを防止することができる。 According to the second aspect, since the edge of the disc spring is guided by the inclined surface provided on the side surface of the positioning recess, it is possible to prevent the disc spring from climbing on the edge of the positioning recess.
実施の形態1.
図1は、本発明の実施の形態1にかかる半導体装置10を示す平面図である。図2〜図4は、半導体装置10を示す断面図である。図2は図1のA−A´断面であり、図3は図1のC−C´断面であり、図4は図1のB−B´断面である。図5は、半導体装置10を示す分解図である。
FIG. 1 is a plan view showing a
半導体装置10は、冷却フィン2と、半導体モジュール20と、皿バネ6と、押さえ板8と、ネジ9と、を備える。冷却フィン2上に、放熱グリス4を印刷した半導体モジュール20が搭載されている。印刷された放熱グリス4を半導体モジュール20の裏面に均一に広げるために、皿バネ6と押さえ板8を用いて、半導体モジュール20を冷却フィン2に押し付けている。
The
半導体モジュール20は、冷却フィン2の上に設けられ、冷却フィン2の反対側を向く表面22aを有している。半導体モジュール20は、パワー半導体素子(図示せず)と、このパワー半導体素子とワイヤ(図示せず)により電気的に接続されたリード端子24と、リード端子24の一部および半導体素子を覆うとともにリード端子24の他の一部を露出させる封止樹脂体22と、を備えている。封止樹脂体22は、全体として一定の厚さを有する平板状の外形を有しており、互いに反対向きの表面および裏面を備えている。封止樹脂体22の表面22aは、後述するように、複数の位置決め突起26が設けられている。パワー半導体素子は、シリコンまたはワイドバンドギャップ半導体で構成されたIGBT(絶縁ゲートバイポーラトランジスタ)あるいはMOSFET(MOS電界効果トランジスタ)などのスイッチング素子、或いはダイオードなどである。ワイドバンドギャップ半導体は、具体的には、SiC、GaN系材料、あるいはダイヤモンドである。
The
皿バネ6は、半導体モジュール20の表面、言い換えると封止樹脂体22の表面に乗せられている。封止樹脂体22の表面のうち、皿バネ6が載せられた領域を、特に「皿バネ搭載領域」とも称する。図1の平面図によれば、破線で図示した円の内側の領域が、皿バネ搭載領域となる。これは後述する変形例においても同様である。封止樹脂体22の表面22aには、この皿バネ搭載領域を囲むように4つの位置決め突起26が設けられている。
The
皿バネ6は、既に公知の皿バネを適用することができ、中心に穴の開いた円盤状の板を円錐状にし、底のないお皿のような形状にしたばねである。底部中心に穴が開いていることで皿バネ6は全体として中空円盤形状(平面視でドーナッツ形状)となっており、皿バネ6の中央側が凸となっている。皿バネ6の凸の側が押さえ板8の方を向いている。このようにすることで、押さえ板8で皿バネ6の内周側の縁が押されたときに、皿バネ6の外周側の縁によって半導体モジュール20を冷却フィン2に押し付けることができる。皿バネ6の形状自体は既に公知の皿バネを適宜に適用すればよいので、これ以上の説明は省略する。
The
押さえ板8、皿バネ6の上に重ねられている。図5に、一例として、ネジ9による固定方法を図示している。ネジ9は、押さえ板8と冷却フィン2とを結合させる結合部材である。冷却フィン2は、ネジボス3を有している。冷却フィン2にはネジボス3が設けられている。ネジ9をネジボス3に挿入することにより押さえ板8をネジ固定する。これにより、押さえ板8と冷却フィン2とで皿バネ6および半導体モジュール20を挟み込むことができ、皿バネ6を半導体モジュール20の表面22aに押しつけることができる。
It is overlaid on the
位置決め突起26は4つであり、皿バネ搭載領域を囲むように、平面視で正方形状に設けられている。位置決め突起26は、後述する図7の拡大断面図からもわかるように、表面22aに対して傾いた斜面27を備えている。斜面27は、皿バネ搭載領域の中央側へ下るように傾斜している。斜面27と表面22aは皿バネ搭載領域側で交わり、図7に示すように斜面27と表面22aとがなす角度θは、鋭角(つまり90度未満)とされている。角度θはさまざまに変形でき、例えば60度、45度、30度あるいはこれらよりも大きくともよく小さくとも良い。この斜面27は、位置決め突起26の上端部から根元にかけて設けられており、斜面27の下端は封止樹脂体22の表面22aと接続している。ただし、後述する図14の変形例のように、上端部のみを斜面としても良い。
The four
図6は、本発明の実施の形態1にかかる半導体装置10を示す図である。ネジ9が締められることによって、皿バネ6が圧縮される。皿バネ6の弾性力によって、半導体モジュール20が冷却フィン2側に強固に押し付け固定される。
FIG. 6 is a diagram illustrating the
図7は、本発明の実施の形態1にかかる半導体装置10を示す拡大側面図である。図示しないアームなどの搬送器具により皿バネ6を移動させた場合に、図7に示すように皿バネ6の縁が位置決め突起26の斜面27に載った後、皿バネ6を表面22aに近づけるようにX1方向に沿って動かしたとする。ここでは便宜上、表面22aを水平面とし、X1方向は鉛直方向とする。或いは、皿バネ6の自重によって、X1方向に皿バネ6が移動したとする。このとき、斜面27によって皿バネ6が位置決め突起26の内側にガイドされ、矢印X2方向へと皿バネ6が移動し、表面22aにおける位置決め突起26で囲まれた領域(つまり皿バネ搭載領域)に皿バネ6が納まる。
FIG. 7 is an enlarged side view showing the
図19は、実施の形態に対する比較例(比較例1)にかかる半導体装置を示す拡大側面図である。比較例の構造では、位置決め突起426が円柱状あるいは角柱状の突起であり、斜面27を有さない。したがって、少しでも皿バネ6を搭載位置がずれた際、皿バネ6の縁が位置決め突起426に乗り上がった状態で静止してしまい、皿バネ6の位置ずれ不良が起きやすい。皿バネ6が乗り上がった後そのままネジ9でネジ締めされることで、皿バネ6が正しく挟み込まれず、組立不良が発生する。また、皿バネ6を搭載した後の搬送中に衝撃が加わることで、正確に配置されたはずの皿バネ6が図19のように位置決め突起426に乗り上がってしまう恐れもある。
FIG. 19 is an enlarged side view showing a semiconductor device according to a comparative example (comparative example 1) with respect to the embodiment. In the structure of the comparative example, the
この点、実施の形態1にかかる半導体装置10によれば、位置決め突起26が誘い構造としての斜面27を有することで、皿バネ6の位置ずれを抑制することができる。つまり、図19に示すような位置決め突起26に皿バネ6が乗り上がってしまう問題を、防止することができる。さらに、搭載後の搬送の衝撃による位置ずれを抑制することもできる。さらに、皿バネ搭載不良の削減とともに半導体装置10の組立性が容易するという利点もある。つまり、搭載精度が求められないので、搭載機に画像認識機能などの高機能付加する必要性がなくなるという利点がある。
In this regard, according to the
上述した実施の形態1では、半導体モジュール20は樹脂モールド構造のモジュールであり、位置決め突起26も樹脂で成形している。しかしながら、位置決め突起26を封止樹脂体22とは一体に成型しなくとも良い。例えば、位置決め突起26を別部品として形成して、封止樹脂体22の表面に固定してもよい。そのような別部品とする場合には、位置決め突起26の材料に限定は無く、樹脂以外の材料、例えば金属あるいはセラミックスなどでもよい。
In the first embodiment described above, the
図8〜図10は、本発明の実施の形態1の変形例にかかる半導体装置に適用される半導体モジュール120〜128をそれぞれ示す平面図である。半導体装置10における半導体モジュール20を、変形例にかかる半導体モジュール120〜128に置換してもよい。
8 to 10 are plan views respectively showing
図8に示す半導体モジュール120のように、位置決め突起26の代わりに、皿バネ搭載領域を囲む環状の位置決め突起261を設けても良い。位置決め突起261は図8に示すように表面22aの平面視で円環状でもよいが、これに限られず表面22aの平面視において四角環状などの角環状でもよい。これらの平面視形状であっても、位置決め突起261の少なくとも上端部に、斜面27を設ければよい。言い換えると、この変形例によれば、環の外側から中心に向かって傾斜する斜面を備えた位置決め突起を設けることができる。
As in the
図9に示す半導体モジュール122のように、位置決め突起26の数は3つでもよく、皿バネ6を取り囲むように正三角形状に配置されていても良い。また、図示しない他の変形例として位置決め突起26の数は5つ以上であってもよい。
Like the
位置決め突起26の平面視形状は、図10(a)〜(c)に示すように、さまざまな形状に変形されうる。例えば図10(a)の変形例に示す位置決め突起263のように、平面視でL字状であってもよい。図10(b)の変形例に示す位置決め突起264ように、コの字状の2つの位置決め突起を、皿バネ搭載領域を挟むように、かつ互いにコの字の開口が向かい合うように配置しても良い。あるいは、図10(c)の変形例に示すように、平面視でC字状の位置決め突起265であってもよく、図10(c)のようにC字状の2つの位置決め突起を向かい合わせにして設けても良い。あるいは、図10(c)の構成をさらに変形して、皿バネ搭載領域を囲うように、C字状の3つ以上の位置決め突起を設けても良い。これらの位置決め突起263〜265それぞれは、半導体モジュール20の表面22aを平面視した場合において、皿バネ搭載領域の中央に向かって開口した凹を有する。これらの種々の平面視形状であっても、位置決め突起263〜265の少なくとも上端部に、斜面27を設ければよい。
As shown in FIGS. 10A to 10C, the shape of the
図11は、本発明の実施の形態1の変形例にかかる半導体装置210に適用される半導体モジュール130を示す平面図であり、図12は半導体装置210の側面図である。図12では便宜上図示を省略しているが、半導体装置210においても半導体装置10と同様に冷却フィン2がネジボス3を有しており、ネジ9が押さえ板8と冷却フィン2とを結合させる。図13は、半導体装置210を示す拡大側面図であり、皿バネ6の近傍を拡大したものである。図11の変形例は、位置決め突起26のサイズを大きくした位置決め突起266を有している。誘い構造としての斜面271を大きくしたものである。斜面271を大きくすることで位置ずれ不良抑制効果を高めることができる。また、皿バネ6を封止樹脂体22の表面22aに乗せるときに、例えば皿バネ6が封止樹脂体22のある程度端部に偏らせて乗せられたときでも、斜面271により皿バネ6をガイドする機能を働かせることができる。このため、皿バネ6を配置する際の位置精度が低くてもよいので、組立性の容易化ができるという利点もある。
FIG. 11 is a plan view showing a
図14は、本発明の実施の形態1の変形例にかかる半導体装置に適用される半導体モジュール132を示す側面図である。半導体装置10における半導体モジュール20を、変形例にかかる半導体モジュール132に置換してもよい。図14の変形例のように、位置決め突起267の上端部のみを斜面27とし、位置決め突起267の根元側面28は垂直にしてもよい。この場合、もし図14の状態から皿バネ6が封止樹脂体22の表面22aと平行に移動したとしても、皿バネ6の縁が斜面27に乗り上げることがなく、根元側面28で確実に皿バネ6の移動を止めることができる。
FIG. 14 is a side view showing a
実施の形態2.
実施の形態2にかかる半導体装置310は、半導体モジュール20を半導体モジュール320に置換した点を除き、実施の形態1にかかる半導体装置10と同じ構成を備えている。したがって、以下の説明では実施の形態1と同一または相当する構成については同一の符号を付して説明を行うとともに、実施の形態1との相違点を中心に説明し、共通事項は説明を簡略化ないしは省略する。
The
図15は、本発明の実施の形態2にかかる半導体装置310に適用される半導体モジュール320を示す平面図であり、図16は半導体装置310を示す断面図(図15のE−E´断面)である。図17は、半導体装置310を示す拡大断面図であり、皿バネ6の近傍を拡大した図である。
FIG. 15 is a plan view showing a
半導体装置310は、冷却フィン2の上に設けられ、冷却フィン2の反対側を向く表面322aを有する封止樹脂体322を備えた半導体モジュール20と、位置決め凹部326の内側に乗せられた皿バネ6と、皿バネ6の上に重ねられた押さえ板8と、押さえ板8と冷却フィンとを結合させるネジ9と、を備えている。この点は、実施の形態1にかかる半導体装置10と同様である。半導体モジュール320は、位置決め突起26を有しておらず、その代わりに、封止樹脂体322の表面322aに位置決め凹部326を備える。これ以外の構成については、実施の形態1における半導体モジュール20と同様である。
The
位置決め凹部326は、底面326bおよび側面326aを含んでいる。底面326bに皿バネ6が載せられており、側面326aは底面326を囲んでいる。位置決め凹部326の底面外形のほうが皿バネ6の直径よりも大きくされており、皿バネ6は位置決め凹部326内に全て収まっているので、位置ずれが起きていない限りは側面326aに乗り上げることがない。このため、皿バネ6が押さえ板8で押しつけられたときに、皿バネ6の復元力による押し付け力を底面326の外周側全体にわたって及ぼすことができ、半導体モジュール322を十分な力で押圧固定することができる。
The
側面326aの全体が、底面326bの中央側へ下るように、底面326bに対して角度θで傾いている。位置決め凹部326の側面326aによって皿バネ6の縁がガイドされるので、位置決め凹部326の外部に皿バネ6が乗り上がってしまうことを防止することができる。皿バネ6が位置決め凹部326の縁に乗り上がることを防止し、確実に樹脂面を皿バネ6全面で押すことができる。
The
位置ずれ抑制ができるとともに、位置決め凹部326を設けることで、皿バネ6とリード端子24との間の沿面距離(図17の矢印F1)を長くすることもでき、絶縁性を向上させることもできる。図20は、実施の形態に対する比較例(比較例2)にかかる半導体装置を示す拡大断面図である。図20の矢印F2と比べると、実施の形態2にかかる半導体モジュール320は位置決め凹部326を有するので沿面距離F1が長い。
The displacement can be suppressed, and by providing the
図18は、本発明の実施の形態2の変形例にかかる半導体装置330を示す拡大断面図である。位置決め凹部336の側面のうち底面336bとつながる接続部分が、底面336bに対して垂直な垂直面336aとなっている。位置決め凹部336の側面のうち、その接続部分より上方には、斜面336cが設けられている。このように、位置決め凹部336の側面の少なくとも上端部に斜面336cが設けられていればよい。この変形例によれば、図14の構成と同様に、皿バネ6が横方向に移動することを確実に止めることができる。また、この変形例にかかる位置決め凹部336では、位置決め凹部326のように側面326a全体を斜面とした場合に比べると底面336bの隅に垂直面336aがある分だけリード端子24から皿バネ6までの沿面距離が増加するという利点もある。
FIG. 18 is an enlarged cross-sectional view showing a
なお、実施の形態2では、表面322aの平面視で四角形の位置決め凹部326を設けたが、四角形以外の平面視形状であってもよい。図21および図22は、本発明の実施の形態2の変形例にかかる半導体装置に適用される半導体モジュール340、360を示す平面図である。例えば、図21の半導体モジュール340のように、表面322aの平面視において、円形の位置決め凹部346を設けても良い。あるいは、3角形、5角形、6角形その他の多角形の位置決め凹部としてもよく、一例として図22に示す半導体モジュール360のように正六角形の位置決め凹部366を設けても良い。位置決め凹部346、366は、それぞれ、皿バネ6が乗る底面346b、366bと、この底面346b、366bを囲う側面346a、366aとを備えている。側面326aあるいは斜面336cと同様に、これらの側面346a、366aを構成すればよい。具体的には、側面346a、366aの少なくとも上端部が、底面346b、366bの中央側へ下るように底面346b、366bに対して傾けられた斜面を含むように構成すればよい。
In the second embodiment, the
10、310、330 半導体装置、26、261〜267、426 位置決め突起、2 冷却フィン、3 ネジボス、4 放熱グリス、6 皿バネ、8 押さえ板、9 ネジ、20、120〜132、320 半導体モジュール、22、322 封止樹脂体、22a、322a 表面、24 リード端子、27、271 斜面、28 根元側面、326、336、346、366 位置決め凹部、326a、346a、366a 側面、326b、336b、346b、366b 底面、336a 垂直面、336c 斜面、F1、F2 沿面距離 10, 310, 330 Semiconductor device, 26, 261 to 267, 426 Positioning protrusion, 2 Cooling fin, 3 Screw boss, 4 Radiation grease, 6 Belleville spring, 8 Holding plate, 9 Screw, 20, 120 to 132, 320 Semiconductor module, 22, 322 Sealing resin body, 22a, 322a surface, 24 lead terminal, 27, 271 slope, 28 base side surface, 326, 336, 346, 366 positioning recess, 326a, 346a, 366a side surface, 326b, 336b, 346b, 366b Bottom surface, 336a Vertical surface, 336c Slope, F1, F2 Creepage distance
Claims (5)
前記放熱部材の上に設けられ、前記放熱部材の反対側を向く表面と前記表面の周縁に沿って設けられた側面とを有し、前記表面に皿バネ搭載領域と前記皿バネ搭載領域を囲むように設けられた位置決め突起とを備え、前記側面に端子が設けられた半導体モジュールと、
前記皿バネ搭載領域に乗せられた皿バネと、
前記皿バネの上に重ねられた押さえ板と、
前記押さえ板と前記放熱部材とで前記皿バネおよび前記半導体モジュールを挟むように、前記押さえ板と前記放熱部材とを結合させる結合部材と、
を備え、
前記位置決め突起の少なくとも上端部に、前記皿バネ搭載領域の中央側へ下るように前記表面に対して傾いた斜面が設けられ、
前記位置決め突起は、絶縁材料で形成され前記皿バネ搭載領域を囲む環状の突起を含む半導体装置。 A heat dissipating member;
A surface provided on the heat radiating member, facing the opposite side of the heat radiating member, and a side surface provided along a peripheral edge of the surface, and surrounding the disc spring mounting region and the disc spring mounting region on the surface A positioning module provided with a positioning projection, and a semiconductor module provided with a terminal on the side surface ,
A disc spring mounted on the disc spring mounting area;
A holding plate overlaid on the disc spring;
A coupling member that couples the pressing plate and the heat dissipation member so as to sandwich the disc spring and the semiconductor module between the pressing plate and the heat dissipation member;
With
At least an upper end portion of the positioning protrusion is provided with a slope inclined with respect to the surface so as to descend toward the center side of the disc spring mounting region ,
The positioning protrusion is a semiconductor device including an annular protrusion formed of an insulating material and surrounding the disc spring mounting region .
前記放熱部材の上に設けられ、前記放熱部材の反対側を向く表面を有し、前記表面に皿バネ搭載領域と前記皿バネ搭載領域を囲むように設けられた位置決め突起とを備える半導体モジュールと、
前記皿バネ搭載領域に乗せられた皿バネと、
前記皿バネの上に重ねられた押さえ板と、
前記押さえ板と前記放熱部材とで前記皿バネおよび前記半導体モジュールを挟むように、前記押さえ板と前記放熱部材とを結合させる結合部材と、
を備え、
前記位置決め突起の少なくとも上端部に、前記皿バネ搭載領域の中央側へ下るように前記表面に対して傾いた斜面が設けられ、
前記位置決め突起は、前記皿バネ搭載領域を囲むように設けられた複数の突起を含む半導体装置。 A heat dissipating member;
A semiconductor module provided on the heat dissipating member, having a surface facing the opposite side of the heat dissipating member, and comprising a disc spring mounting region and a positioning protrusion provided on the surface so as to surround the disc spring mounting region; ,
A disc spring mounted on the disc spring mounting area;
A holding plate overlaid on the disc spring;
A coupling member that couples the pressing plate and the heat dissipation member so as to sandwich the disc spring and the semiconductor module between the pressing plate and the heat dissipation member;
With
At least an upper end portion of the positioning protrusion is provided with a slope inclined with respect to the surface so as to descend toward the center side of the disc spring mounting region,
The positioning protrusions, including the semi-conductor device a plurality of projections provided so as to surround the disc spring mounting region.
前記放熱部材の上に設けられ、前記放熱部材の反対側を向く表面と前記表面の周縁に沿って設けられた側面とを有し、前記表面に絶縁材料で形成された位置決め凹部を備え、前記側面に端子が設けられた半導体モジュールと、
前記位置決め凹部の内側に乗せられた皿バネと、
前記皿バネの上に重ねられた押さえ板と、
前記押さえ板と前記放熱部材とで前記皿バネおよび前記半導体モジュールを挟むように、前記押さえ板と前記放熱部材とを結合させる結合部材と、
を備え、
前記位置決め凹部は、前記皿バネが乗る底面および前記底面を囲う側面を含み、
前記側面の少なくとも上端部に、前記底面の中央側へ下るように前記底面に対して傾いた斜面が設けられた半導体装置。 A heat dissipating member;
Wherein provided on the heat radiating member, and a side surface which is provided along the periphery of the opposite side faces a surface wherein the surface of the heat radiating member includes a positioning recess formed in the insulating material to the surface, the A semiconductor module provided with terminals on the side surfaces ;
A disc spring placed inside the positioning recess;
A holding plate overlaid on the disc spring;
A coupling member that couples the pressing plate and the heat dissipation member so as to sandwich the disc spring and the semiconductor module between the pressing plate and the heat dissipation member;
With
The positioning recess includes a bottom surface on which the disc spring rides and a side surface surrounding the bottom surface,
A semiconductor device, wherein at least an upper end portion of the side surface is provided with a slope inclined with respect to the bottom surface so as to descend toward the center side of the bottom surface.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015158788A JP6459843B2 (en) | 2015-08-11 | 2015-08-11 | Semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015158788A JP6459843B2 (en) | 2015-08-11 | 2015-08-11 | Semiconductor device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017037979A JP2017037979A (en) | 2017-02-16 |
JP6459843B2 true JP6459843B2 (en) | 2019-01-30 |
Family
ID=58049649
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015158788A Active JP6459843B2 (en) | 2015-08-11 | 2015-08-11 | Semiconductor device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6459843B2 (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3444839A1 (en) | 2017-08-18 | 2019-02-20 | Infineon Technologies Austria AG | Assembly and method for mounting an electronic component to a substrate |
CN110838632B (en) * | 2018-08-17 | 2021-05-25 | 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 | Electric connector assembly and limiting part thereof |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09199645A (en) * | 1996-01-17 | 1997-07-31 | Mitsubishi Electric Corp | Semiconductor device and semiconductor module |
JP2001110969A (en) * | 1999-10-12 | 2001-04-20 | Fujikura Ltd | Heat dissipating structure of electronic element |
JP4296687B2 (en) * | 2000-04-28 | 2009-07-15 | 株式会社デンソー | Method and apparatus for mounting hybrid integrated circuit in electronic circuit unit |
JP5189616B2 (en) * | 2010-04-15 | 2013-04-24 | 三菱電機株式会社 | Semiconductor device |
JP2012054262A (en) * | 2010-08-31 | 2012-03-15 | Mitsubishi Electric Corp | Semiconductor device |
JP5948829B2 (en) * | 2011-12-06 | 2016-07-06 | セイコーエプソン株式会社 | Piezoelectric motor, drive device, electronic component inspection device, electronic component transport device, printing device, robot hand, and robot |
JP5751273B2 (en) * | 2013-04-02 | 2015-07-22 | トヨタ自動車株式会社 | Semiconductor device |
-
2015
- 2015-08-11 JP JP2015158788A patent/JP6459843B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2017037979A (en) | 2017-02-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7847395B2 (en) | Package and package assembly of power device | |
CN109461710B (en) | Semiconductor device with a plurality of semiconductor chips | |
CN106252294B (en) | Semiconductor device with a plurality of semiconductor chips | |
WO2018179981A1 (en) | Semiconductor device | |
US11348852B2 (en) | Semiconductor device | |
US10615103B2 (en) | Semiconductor device | |
JP7301124B2 (en) | semiconductor equipment | |
JP6459843B2 (en) | Semiconductor device | |
US10541219B2 (en) | Semiconductor module, base plate of semiconductor module, and method of manufacturing semiconductor device | |
US10468372B2 (en) | Semiconductor apparatus | |
JP2021012897A (en) | Semiconductor module, semiconductor device, and manufacturing method of semiconductor module | |
JP2015122453A (en) | Power module | |
KR101855028B1 (en) | Improved disc-shaped thyristor for a plurality of plated-through semiconductor components | |
KR101983165B1 (en) | Semiconductor package | |
JP5693395B2 (en) | Semiconductor device | |
JP7325316B2 (en) | semiconductor equipment | |
US20220093562A1 (en) | Semiconductor device | |
JP7170870B2 (en) | semiconductor equipment | |
US11688711B2 (en) | Semiconductor device having second connector that overlaps a part of first connector | |
US20220262779A1 (en) | Semiconductor device | |
US10847489B2 (en) | Semiconductor device | |
JP2010087438A (en) | Pressure-contact type semiconductor device | |
JP2020115532A (en) | Semiconductor module | |
JP2005333073A (en) | Semiconductor device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20171027 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20180614 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180703 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180803 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20181204 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20181217 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6459843 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |