JP6453790B2 - Physical quantity detection device - Google Patents

Physical quantity detection device Download PDF

Info

Publication number
JP6453790B2
JP6453790B2 JP2016033121A JP2016033121A JP6453790B2 JP 6453790 B2 JP6453790 B2 JP 6453790B2 JP 2016033121 A JP2016033121 A JP 2016033121A JP 2016033121 A JP2016033121 A JP 2016033121A JP 6453790 B2 JP6453790 B2 JP 6453790B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
region
physical quantity
passage
circuit board
detection device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2016033121A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2017150929A (en
Inventor
余語 孝之
孝之 余語
阿部 博幸
博幸 阿部
浩昭 星加
浩昭 星加
崇裕 三木
崇裕 三木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Astemo Ltd
Original Assignee
Hitachi Automotive Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Automotive Systems Ltd filed Critical Hitachi Automotive Systems Ltd
Priority to JP2016033121A priority Critical patent/JP6453790B2/en
Publication of JP2017150929A publication Critical patent/JP2017150929A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6453790B2 publication Critical patent/JP6453790B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Measuring Volume Flow (AREA)

Description

本発明は、内燃機関の吸入空気の物理量検出装置に関する。   The present invention relates to a physical quantity detection device for intake air of an internal combustion engine.

従来の熱式流量計は、計測部を有する回路基板をハウジングに接着剤で接着した構造を有していた。また、特許文献1には、第1樹脂モールド工程で流量計測回路を内蔵した回路パッケージを成形し、第2樹脂モールド工程でハウジングを成形する際に回路パッケージを包含することにより、ハウジングに回路パッケージを保持固定した熱式流量計の構造が示されている。   A conventional thermal flow meter has a structure in which a circuit board having a measurement unit is bonded to a housing with an adhesive. Further, Patent Document 1 discloses that a circuit package including a flow rate measurement circuit is formed in the first resin molding process, and the circuit package is included when forming the housing in the second resin molding process. The structure of a thermal flow meter holding and fixing is shown.

特開2015−42991号公報JP2015-42991A

例えば、第2樹脂モールド工程で回路パッケージの代わりに回路基板を用いる場合、成形金型内で回路基板を挟み込んで保持した状態でハウジングの成形が行われる。したがって、回路基板の寸法ばらつきや金型へのセッティングばらつきにより、金型の押し込み量が大きくなる可能性があり、回路基板に大きな応力が加わってしまうおそれがある。したがって、回路基板の回路導体を保護するために回路基板に設けられている絶縁保護膜が損傷して、損傷部分から水やオイル等が侵入して回路導体が腐食するおそれがある。   For example, when a circuit board is used instead of a circuit package in the second resin molding step, the housing is molded in a state where the circuit board is sandwiched and held in a molding die. Therefore, there is a possibility that the amount of pressing of the mold may be increased due to variation in the dimensions of the circuit board or setting in the mold, and there is a possibility that a large stress is applied to the circuit board. Therefore, the insulating protective film provided on the circuit board for protecting the circuit conductor of the circuit board may be damaged, and water or oil may enter from the damaged portion to corrode the circuit conductor.

本発明は、上記の点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、絶縁膜の損傷に起因した回路基板の回路導体の腐食を低減した物理量検出装置を提供することである。   The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to provide a physical quantity detection device in which corrosion of a circuit conductor of a circuit board due to damage to an insulating film is reduced.

上記課題を解決するために、本発明の物理量検出装置は、基板本体の外表面に絶縁膜が形成された回路基板と、該回路基板がインサート成形されたハウジングとを有する物理量検出装置であって、前記回路基板は、前記ハウジングに固定される固定部と、前記ハウジングを成形するための金型が押し当てられる押当部と、回路導体が配置される導体配置部と、前記固定部及び前記押当部の少なくとも一方と前記導体配置部との間に形成される境界部と、を有し、前記絶縁膜は、前記固定部に配置された第1の領域と、前記押当部に配置された第2の領域と、前記導体配置部に配置された第3の領域と、前記境界部に配置された第4の領域と、を有し、前記第1の領域及び前記第2の領域と前記第4の領域との間で膜厚が異なることを特徴とする。   In order to solve the above problems, a physical quantity detection device of the present invention is a physical quantity detection device having a circuit board having an insulating film formed on the outer surface of a board body and a housing in which the circuit board is insert-molded. The circuit board includes a fixed portion fixed to the housing, a pressing portion to which a mold for molding the housing is pressed, a conductor arrangement portion where a circuit conductor is disposed, the fixed portion, and the A boundary portion formed between at least one of the pressing portions and the conductor placement portion, and the insulating film is disposed in the pressing portion and a first region disposed in the fixing portion. The second region, the third region disposed in the conductor placement portion, and the fourth region disposed in the boundary portion, and the first region and the second region. And the fourth region are different in film thickness .

本発明によれば、絶縁膜の損傷に起因した回路基板の回路導体の腐食を低減できる。本発明に関連する更なる特徴は、本明細書の記述、添付図面から明らかになるものである。また、上記した以外の、課題、構成及び効果は、以下の実施形態の説明により明らかにされる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, corrosion of the circuit conductor of a circuit board resulting from the damage of an insulating film can be reduced. Further features related to the present invention will become apparent from the description of the present specification and the accompanying drawings. Further, problems, configurations, and effects other than those described above will be clarified by the following description of embodiments.

内燃機関制御システムに本発明に係る物理量検出装置を使用した一実施例を示すシステム図。The system figure which shows one Example which used the physical quantity detection apparatus which concerns on this invention for the internal combustion engine control system. 物理量検出装置の正面図。The front view of a physical quantity detection apparatus. 物理量検出装置の背面図。The rear view of a physical quantity detection apparatus. 物理量検出装置の左側面図。The left view of a physical quantity detection apparatus. 物理量検出装置の右側面図。The right view of a physical quantity detection apparatus. 物理量検出装置の平面図。The top view of a physical quantity detection apparatus. 物理量検出装置の下面図。The bottom view of a physical quantity detection apparatus. 物理量検出装置から表カバーを取り外した状態を示す正面図。The front view which shows the state which removed the front cover from the physical quantity detection apparatus. 物理量検出装置から裏カバーを取り外した状態を示す背面図。The rear view which shows the state which removed the back cover from the physical quantity detection apparatus. 物理量検出装置から表カバーと裏カバーを取り外した状態を示す左側面図。The left view which shows the state which removed the front cover and the back cover from the physical quantity detection apparatus. 物理量検出装置から表カバーと裏カバーを取り外した状態を示す右側面図。The right view which shows the state which removed the front cover and the back cover from the physical quantity detection apparatus. 図3−1のA−A線断面図。FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. ハウジングの他の実施例を説明する背面図。The rear view explaining other examples of a housing. 図4−1に示すハウジングの右側面図。The right view of the housing shown to FIGS. 4-1. 表カバーの構成を説明する図。The figure explaining the structure of a table | surface cover. 裏カバーの構成を説明する図。The figure explaining the structure of a back cover. 回路基板の正面図。The front view of a circuit board. 回路基板の右側面図。The right view of a circuit board. 回路基板の背面図。The rear view of a circuit board. 物理量検出装置の回路構成の一例を説明する図。The figure explaining an example of the circuit structure of a physical quantity detection apparatus. 物理量検出装置の回路構成の他の実施例を説明する図。The figure explaining the other Example of the circuit structure of a physical quantity detection apparatus. 実施例1におけるハウジングの構成を説明する図。FIG. 3 is a diagram illustrating a configuration of a housing in the first embodiment. 実施例1におけるハウジングの断面図。FIG. 3 is a cross-sectional view of the housing in the first embodiment. 実施例2におけるハウジングの断面図。Sectional drawing of the housing in Example 2. FIG. 実施例3におけるハウジングの断面図。Sectional drawing of the housing in Example 3. FIG. 実施例4におけるハウジングの断面図。Sectional drawing of the housing in Example 4. FIG. 実施例5におけるハウジングの構成を説明する図。FIG. 6 is a diagram illustrating a configuration of a housing in a fifth embodiment.

以下に説明する、発明を実施するための形態(以下、実施例)は、実際の製品として要望されている種々の課題を解決しており、特に車両の吸入空気の物理量を検出する検出装置として使用するために望ましい色々な課題を解決し、種々の効果を奏している。下記実施例が解決している色々な課題の内の一つが、上述した発明が解決しようとする課題の欄に記載した内容であり、また下記実施例が奏する種々の効果のうちの1つが、発明の効果の欄に記載された効果である。下記実施例が解決している色々な課題について、さらに下記実施例により奏される種々の効果について、下記実施例の説明の中で述べる。従って、下記実施例の中で述べる、実施例が解決している課題や効果は、発明が解決しようとする課題の欄や発明の効果の欄の内容以外の内容についても記載されている。   The modes for carrying out the invention (hereinafter referred to as examples) described below solve various problems demanded as actual products, and particularly as a detection device for detecting the physical quantity of intake air of a vehicle. Various problems desirable for use are solved, and various effects are achieved. One of the various problems solved by the following embodiment is the contents described in the section of the problem to be solved by the invention described above, and one of the various effects exhibited by the following embodiment is as follows. It is the effect described in the column of the effect of the invention. Various problems solved by the following embodiments will be described in the description of the following embodiments with respect to various effects exhibited by the following embodiments. Therefore, the problems and effects solved by the embodiments described in the following embodiments are also described in the contents other than the contents of the problem column to be solved by the invention and the effects of the invention column.

以下の実施例で、同一の参照符号は、図番が異なっていても同一の構成を示しており、同じ作用効果を成す。既に説明済みの構成について、図に参照符号のみを付し、説明を省略する場合がある。   In the following embodiments, the same reference numerals indicate the same configuration even when the figure numbers are different, and the same effects are achieved. For configurations that have already been described, only the reference numerals are attached to the drawings, and the description may be omitted.

1. 内燃機関制御システムに本発明に係る物理量検出装置を使用した一実施例
図1は、電子燃料噴射方式の内燃機関制御システムに、本発明に係る物理量検出装置を使用した一実施例を示す、システム図である。エンジンシリンダ112とエンジンピストン114を備える内燃機関110の動作に基づき、吸入空気が被計測気体30としてエアクリーナ122から吸入され、主通路124である例えば吸気ボディ、スロットルボディ126、吸気マニホールド128を介してエンジンシリンダ112の燃焼室に導かれる。燃焼室に導かれる吸入空気である被計測気体30の物理量は、本発明に係る物理量検出装置300で検出され、その検出された物理量に基づいて燃料噴射弁152より燃料が供給され、吸入空気と共に混合気の状態で燃焼室に導かれる。なお、本実施例では、燃料噴射弁152は内燃機関の吸気ポートに設けられ、吸気ポートに噴射された燃料が吸入空気である被計測気体30と共に混合気を成形し、吸気弁116を介して燃焼室に導かれ、燃焼して機械エネルギを発生する。
1. An Example Using a Physical Quantity Detection Device According to the Present Invention for an Internal Combustion Engine Control System FIG. 1 shows an embodiment using a physical quantity detection device according to the present invention for an electronic fuel injection type internal combustion engine control system. It is a system diagram. Based on the operation of the internal combustion engine 110 including the engine cylinder 112 and the engine piston 114, the intake air is sucked from the air cleaner 122 as the measurement target gas 30 and passes through the main passage 124 such as the intake body, the throttle body 126, and the intake manifold 128. Guided to the combustion chamber of the engine cylinder 112. The physical quantity of the gas 30 to be measured, which is the intake air guided to the combustion chamber, is detected by the physical quantity detection device 300 according to the present invention, and fuel is supplied from the fuel injection valve 152 based on the detected physical quantity, and together with the intake air It is guided to the combustion chamber in the state of air-fuel mixture. In this embodiment, the fuel injection valve 152 is provided at the intake port of the internal combustion engine, and the fuel injected into the intake port forms an air-fuel mixture together with the measured gas 30 that is the intake air, and passes through the intake valve 116. It is guided to the combustion chamber and burns to generate mechanical energy.

燃焼室に導かれた燃料および空気は、燃料と空気の混合状態を成しており、点火プラグ154の火花着火により、爆発的に燃焼し、機械エネルギを発生する。燃焼後の気体は排気弁118から排気管に導かれ、排気ガス24として排気管から車外に排出される。前記燃焼室に導かれる吸入空気である被計測気体30の流量は、アクセルペダルの操作に基づいてその開度が変化するスロットルバルブ132により制御される。前記燃焼室に導かれる吸入空気の流量に基づいて燃料供給量が制御され、運転者はスロットルバルブ132の開度を制御して前記燃焼室に導かれる吸入空気の流量を制御することにより、内燃機関が発生する機械エネルギを制御することができる。   The fuel and air guided to the combustion chamber are in a mixed state of fuel and air, and are burned explosively by spark ignition of the spark plug 154 to generate mechanical energy. The combusted gas is guided from the exhaust valve 118 to the exhaust pipe, and is discharged from the exhaust pipe to the outside as the exhaust gas 24. The flow rate of the gas 30 to be measured, which is the intake air led to the combustion chamber, is controlled by the throttle valve 132 whose opening degree changes based on the operation of the accelerator pedal. The fuel supply amount is controlled based on the flow rate of the intake air guided to the combustion chamber, and the driver controls the flow rate of the intake air guided to the combustion chamber by controlling the opening degree of the throttle valve 132, thereby The mechanical energy generated by the engine can be controlled.

1.1 内燃機関制御システムの制御の概要
エアクリーナ122から取り込まれ主通路124を流れる吸入空気である被計測気体30の流量、温度、湿度、圧力などの物理量が物理量検出装置300により検出され、物理量検出装置300から吸入空気の物理量を表す電気信号が制御装置200に入力される。また、スロットルバルブ132の開度を計測するスロットル角度センサ144の出力が制御装置200に入力され、さらに内燃機関のエンジンピストン114や吸気弁116や排気弁118の位置や状態、さらに内燃機関の回転速度を計測するために、回転角度センサ146の出力が、制御装置200に入力される。排気ガス24の状態から燃料量と空気量との混合比の状態を計測するために、酸素センサ148の出力が制御装置200に入力される。
1.1 Outline of Control of Internal Combustion Engine Control System Physical quantities such as a flow rate, temperature, humidity, pressure, and the like of the measurement target gas 30 that is the intake air that is taken in from the air cleaner 122 and flows through the main passage 124 are detected by the physical quantity detection device 300. An electric signal representing the physical quantity of the intake air is input from the detection device 300 to the control device 200. Further, the output of the throttle angle sensor 144 that measures the opening degree of the throttle valve 132 is input to the control device 200, and the positions and states of the engine piston 114, the intake valve 116, and the exhaust valve 118 of the internal combustion engine, and the rotation of the internal combustion engine. In order to measure the speed, the output of the rotation angle sensor 146 is input to the control device 200. In order to measure the state of the mixture ratio of the fuel amount and the air amount from the state of the exhaust gas 24, the output of the oxygen sensor 148 is input to the control device 200.

制御装置200は、物理量検出装置300の出力である吸入空気の物理量と、回転角度センサ146の出力に基づき計測された内燃機関の回転速度とに基づいて、燃料噴射量や点火時期を演算する。これら演算結果に基づいて、燃料噴射弁152から供給される燃料量、また点火プラグ154により点火される点火時期が制御される。燃料供給量や点火時期は、実際にはさらに物理量検出装置300で検出される温度やスロットル角度の変化状態、エンジン回転速度の変化状態、酸素センサ148で計測された空燃比の状態に基づいて、きめ細かく制御されている。制御装置200は、さらに内燃機関のアイドル運転状態において、スロットルバルブ132をバイパスする空気量をアイドルエアコントロールバルブ156により制御し、アイドル運転状態での内燃機関の回転速度を制御する。   The control device 200 calculates the fuel injection amount and the ignition timing based on the physical quantity of intake air that is the output of the physical quantity detection device 300 and the rotational speed of the internal combustion engine that is measured based on the output of the rotation angle sensor 146. Based on these calculation results, the amount of fuel supplied from the fuel injection valve 152 and the ignition timing ignited by the spark plug 154 are controlled. The fuel supply amount and ignition timing are actually based on the temperature and throttle angle change state detected by the physical quantity detection device 300, the engine speed change state, and the air-fuel ratio state measured by the oxygen sensor 148. It is finely controlled. The control device 200 further controls the amount of air that bypasses the throttle valve 132 by the idle air control valve 156 in the idle operation state of the internal combustion engine, and controls the rotational speed of the internal combustion engine in the idle operation state.

1.2 物理量検出装置の検出精度向上の重要性と物理量検出装置の搭載環境
内燃機関の主要な制御量である燃料供給量や点火時期はいずれも物理量検出装置300の出力を主パラメータとして演算される。従って、物理量検出装置300の検出精度の向上や、経時変化の抑制、信頼性の向上が、車両の制御精度の向上や信頼性の確保に関して重要である。
1.2 Importance of Improving Detection Accuracy of Physical Quantity Detection Device and Mounting Environment of Physical Quantity Detection Device Both the fuel supply amount and ignition timing, which are main control amounts of the internal combustion engine, are calculated using the output of the physical quantity detection device 300 as a main parameter. The Therefore, improvement in detection accuracy of the physical quantity detection device 300, suppression of changes over time, and improvement in reliability are important in terms of improvement in vehicle control accuracy and ensuring reliability.

特に近年、車両の省燃費に関する要望が非常に高く、また排気ガス浄化に関する要望が非常に高い。これらの要望に応えるには、物理量検出装置300により検出される吸入空気20の物理量の検出精度の向上が極めて重要である。また、物理量検出装置300が高い信頼性を維持していることも大切である。   In particular, in recent years, there has been a very high demand for fuel efficiency of vehicles and a very high demand for exhaust gas purification. In order to meet these demands, it is extremely important to improve the detection accuracy of the physical quantity of the intake air 20 detected by the physical quantity detection device 300. It is also important that the physical quantity detection device 300 maintains high reliability.

物理量検出装置300が搭載される車両は、温度や湿度の変化が大きい環境で使用される。物理量検出装置300は、その使用環境における温度や湿度の変化への対応や、塵埃や汚染物質などへの対応も、考慮されていることが望ましい。   A vehicle on which the physical quantity detection device 300 is mounted is used in an environment in which changes in temperature and humidity are large. It is desirable for the physical quantity detection device 300 to take into account the response to changes in temperature and humidity in the environment of use and the response to dust and contaminants.

また、物理量検出装置300は、内燃機関からの発熱の影響を受ける吸気管に装着される。このため、内燃機関の発熱が主通路124である吸気管を介して物理量検出装置300に伝わる。物理量検出装置300は、被計測気体30と熱伝達を行うことにより被計測気体30の流量を検出するので、外部からの熱の影響をできるだけ抑制することが重要である。   The physical quantity detection device 300 is attached to an intake pipe that is affected by heat generated from the internal combustion engine. Therefore, the heat generated by the internal combustion engine is transmitted to the physical quantity detection device 300 via the intake pipe which is the main passage 124. Since the physical quantity detection device 300 detects the flow rate of the measurement target gas 30 by performing heat transfer with the measurement target gas 30, it is important to suppress the influence of heat from the outside as much as possible.

車に搭載される物理量検出装置300は、以下で説明するように、単に発明が解決しようとする課題の欄に記載された課題を解決し、発明の効果の欄に記載された効果を奏するのみでなく、以下で説明するように、上述した色々な課題を十分に考慮し、製品として求められている色々な課題を解決し、色々な効果を奏している。物理量検出装置300が解決する具体的な課題や奏する具体的な効果は、以下の実施例の記載の中で説明する。   As described below, the physical quantity detection device 300 mounted on the vehicle simply solves the problem described in the column of the problem to be solved by the invention, and only exhibits the effect described in the column of the effect of the invention. Instead, as will be described below, the various problems described above are fully considered, and various problems required as products are solved and various effects are produced. Specific problems to be solved by the physical quantity detection device 300 and specific effects to be achieved will be described in the description of the following embodiments.

2. 物理量検出装置300の構成
2.1 物理量検出装置300の外観構造
図2−1〜図2−6は、物理量検出装置300の外観を示す図であり、図2−1は物理量検出装置300の正面図、図2−2は背面図、図2−3は左側面図、図2−4は右側面図、図2−5は平面図、図2−6は下面図である。
2. Configuration of Physical Quantity Detection Device 300 2.1 External Structure of Physical Quantity Detection Device 300 FIGS. 2-1 to 2-6 are diagrams showing the appearance of the physical quantity detection device 300, and FIG. Fig. 2-2 is a rear view, Fig. 2-3 is a left side view, Fig. 2-4 is a right side view, Fig. 2-5 is a plan view, and Fig. 2-6 is a bottom view.

物理量検出装置300は、ハウジング302と、表カバー303と、裏カバー304とを備えている。ハウジング302は、金型を用いて樹脂材を成形するモールド成形によって形成されている。ハウジング302は、物理量検出装置300を主通路124である吸気ボディに固定するためのフランジ311と、フランジ311から突出して外部機器との電気的な接続を行うためのコネクタを有する外部接続部321と、フランジ311から主通路124の中心に向かって突出して主通路124を流れる被計測気体30の主流れ方向に対して直交する方向に延びる計測部331を有している。   The physical quantity detection device 300 includes a housing 302, a front cover 303, and a back cover 304. The housing 302 is formed by molding in which a resin material is molded using a mold. The housing 302 includes a flange 311 for fixing the physical quantity detection device 300 to the intake body, which is the main passage 124, and an external connection portion 321 having a connector that protrudes from the flange 311 and is electrically connected to an external device. The measuring unit 331 extends from the flange 311 toward the center of the main passage 124 and extends in a direction orthogonal to the main flow direction of the measurement target gas 30 flowing through the main passage 124.

ハウジング302の計測部331には、インサート成形により回路基板400が一体にモールドされている(図3−1、図3−2を参照)。回路基板400は、ハウジング302を成形する金型内に回路基板400を予め配置してハウジング302を成形するインサート成形により、ハウジング302に一体にモールドされる。回路基板400には、主通路124を流れる被計測気体30の物理量を検出するための少なくとも一つの検出部と、検出部で検出した信号を処理するための回路部が設けられている。検出部は、被計測気体30に晒される位置に配置され、回路部は、表カバー303によって密閉された回路室に配置される。   A circuit board 400 is integrally molded in the measurement unit 331 of the housing 302 by insert molding (see FIGS. 3A and 3B). The circuit board 400 is molded integrally with the housing 302 by insert molding in which the circuit board 400 is previously placed in a mold for molding the housing 302 and the housing 302 is molded. The circuit board 400 is provided with at least one detection unit for detecting a physical quantity of the measurement target gas 30 flowing through the main passage 124 and a circuit unit for processing a signal detected by the detection unit. The detection unit is arranged at a position exposed to the measurement target gas 30, and the circuit unit is arranged in a circuit chamber sealed by a front cover 303.

計測部331の表面と裏面には副通路溝が設けられており、表カバー303及び裏カバー304との協働により第1副通路305が形成される。計測部331の先端部には、吸入空気などの被計測気体30の一部を第1副通路305に取り込むための第1副通路入口305aと、第1副通路305から被計測気体30を主通路124に戻すための第1副通路出口305bが設けられている。第1副通路305の通路途中には、回路基板400の一部が突出しており、その突出部分には検出部である流量検出部602(図3−1を参照)が配置されて、被計測気体30の流量を検出するようになっている。   A sub-passage groove is provided on the front surface and the back surface of the measuring unit 331, and the first sub-passage 305 is formed in cooperation with the front cover 303 and the back cover 304. At the tip of the measuring unit 331, a first sub-passage inlet 305 a for taking a part of the measurement target gas 30 such as intake air into the first sub-passage 305 and the measurement target gas 30 from the first sub-passage 305 are mainly used. A first sub-passage outlet 305b for returning to the passage 124 is provided. A part of the circuit board 400 protrudes in the middle of the first sub-passage 305, and a flow rate detection unit 602 (see FIG. 3-1), which is a detection unit, is arranged on the protruding portion, and the measurement target is The flow rate of the gas 30 is detected.

第1副通路305よりもフランジ311寄りの計測部331の中間部には、吸入空気などの被計測気体30の一部をセンサ室Rsに取り入れるための第2副通路306が設けられている。第2副通路306は、計測部331と裏カバー304との協働により形成される。第2副通路306は、被計測気体30を取り込むために上流側外壁336に開口する第2副通路入口306aと、第2副通路306から被計測気体30を主通路124に戻すために下流側外壁338に開口する第2副通路出口306bを有している。第2副通路306は、計測部331の背面側に形成されたセンサ室Rsに連通している。センサ室Rsには、回路基板400の裏面に設けられた検出部である圧力センサ421A、421Bと湿度センサ422が配置されている(図7−3参照)。   A second sub-passage 306 is provided in the middle of the measurement unit 331 closer to the flange 311 than the first sub-passage 305 for taking a part of the measurement target gas 30 such as intake air into the sensor chamber Rs. The second sub passage 306 is formed by the cooperation of the measurement unit 331 and the back cover 304. The second sub-passage 306 includes a second sub-passage inlet 306 a that opens to the upstream outer wall 336 to take in the gas to be measured 30, and a downstream side to return the gas to be measured 30 from the second sub-passage 306 to the main passage 124. A second sub-passage outlet 306b that opens to the outer wall 338 is provided. The second sub-passage 306 communicates with the sensor chamber Rs formed on the back side of the measurement unit 331. In the sensor chamber Rs, pressure sensors 421A and 421B and a humidity sensor 422 which are detection units provided on the back surface of the circuit board 400 are arranged (see FIG. 7-3).

2.2 物理量検出装置300の外観構造に基づく効果
物理量検出装置300は、フランジ311から主通路124の中心方向に向かって延びる計測部331の中間部に第2副通路入口306aが設けられ、計測部331の先端部に第1副通路入口305aが設けられている。したがって、主通路124の内壁面近傍ではなく、内壁面から離れた中央部に近い部分の気体を第1副通路305及び第2副通路306にそれぞれ取り込むことができる。従って、物理量検出装置300は、主通路124の内壁面から離れた部分の気体の物理量を測定することができ、熱や内壁面近傍の流速低下に関係する物理量の計測誤差を低減できる。
2.2 Effects Based on Appearance Structure of Physical Quantity Detection Device 300 The physical quantity detection device 300 is provided with a second sub-passage inlet 306a provided in the middle portion of the measurement unit 331 extending from the flange 311 toward the center of the main passage 124, and measuring. A first sub-passage inlet 305 a is provided at the tip of the part 331. Therefore, not the vicinity of the inner wall surface of the main passage 124 but the portion of the gas near the center away from the inner wall surface can be taken into the first sub-passage 305 and the second sub-passage 306, respectively. Therefore, the physical quantity detection device 300 can measure the physical quantity of the gas in the part away from the inner wall surface of the main passage 124, and can reduce the measurement error of the physical quantity related to the heat and the flow velocity decrease near the inner wall surface.

計測部331は、主通路124の外壁から中央に向かう軸に沿って長く伸びる形状を成しているが、厚さ幅は、図2−3及び図2−4に記載の如く、狭い形状を成している。即ち、物理量検出装置300の計測部331は、側面の幅が薄く正面が略長方形の形状を成している。これにより、物理量検出装置300は、十分な長さの第1副通路305を備えることができ、被計測気体30に対しては流体抵抗を小さい値に抑えることができる。このため、物理量検出装置300は、流体抵抗を小さい値に抑えられると共に高い精度で被計測気体30の流量を計測することが可能である。   The measuring part 331 has a shape that extends long along the axis from the outer wall of the main passage 124 toward the center, but the thickness width is narrow as shown in FIGS. 2-3 and 2-4. It is made. That is, the measurement unit 331 of the physical quantity detection device 300 has a side surface with a small width and a substantially rectangular front surface. Thereby, the physical quantity detection device 300 can include the first sub-passage 305 having a sufficient length, and the fluid resistance of the measurement target gas 30 can be suppressed to a small value. For this reason, the physical quantity detection device 300 can measure the flow rate of the measurement target gas 30 with high accuracy while suppressing the fluid resistance to a small value.

2.3 フランジ311の構造と効果
フランジ311には、主通路124と対向する下面312に、窪み313が複数個設けられており、主通路124との間の熱伝達面を低減し、物理量検出装置300が熱の影響を受け難くしている。物理量検出装置300は、主通路124に設けられた取り付け孔から内部に計測部331が挿入され、主通路124にフランジ311の下面312が対向する。主通路124は例えば吸気ボディであり、主通路124が高温に維持されていることが多い。逆に寒冷地での始動時には、主通路124が極めて低い温度であることが考えられる。このような主通路124の高温あるいは低温の状態が種々の物理量の計測に影響を及ぼすと、計測精度が低下する。フランジ311は、下面312に窪み313を有しており、主通路124に対向する下面312と主通路124との間に空間が成形されている。したがって、物理量検出装置300に対する主通路124からの熱伝達を低減し、熱による測定精度の低下を防止できる。
2.3 Structure and Effect of Flange 311 The flange 311 is provided with a plurality of recesses 313 on the lower surface 312 facing the main passage 124 to reduce the heat transfer surface between the main passage 124 and detect a physical quantity. The device 300 is less susceptible to heat. In the physical quantity detection device 300, the measurement unit 331 is inserted into the inside from an attachment hole provided in the main passage 124, and the lower surface 312 of the flange 311 faces the main passage 124. The main passage 124 is, for example, an intake body, and the main passage 124 is often maintained at a high temperature. Conversely, when starting in a cold region, the main passage 124 may be at a very low temperature. If such a high or low temperature state of the main passage 124 affects the measurement of various physical quantities, the measurement accuracy decreases. The flange 311 has a recess 313 on the lower surface 312, and a space is formed between the lower surface 312 facing the main passage 124 and the main passage 124. Therefore, heat transfer from the main passage 124 to the physical quantity detection device 300 can be reduced, and deterioration in measurement accuracy due to heat can be prevented.

フランジ311のねじ孔314は、物理量検出装置300を主通路124に固定するためのもので、これらのねじ孔314の周囲の主通路124に対向する面が主通路124から遠ざけられるように、各ねじ孔314の周囲の主通路124に対向する面と主通路124との間に空間が成形されている。このようにすることで、物理量検出装置300に対する主通路124からの熱伝達を低減し、熱による測定精度の低下を防止できる構造をしている。   The screw holes 314 of the flange 311 are for fixing the physical quantity detection device 300 to the main passage 124, and the respective surfaces of the screw holes 314 facing the main passage 124 around the screw holes 314 are separated from the main passage 124. A space is formed between the main passage 124 and the surface of the screw hole 314 that faces the main passage 124. By doing in this way, it has the structure which can reduce the heat transfer from the main channel | path 124 with respect to the physical quantity detection apparatus 300, and can prevent the measurement accuracy fall by a heat | fever.

2.4 外部接続部321の構造
外部接続部321は、フランジ311の上面に設けられてフランジ311から被計測気体30の主流れ方向下流側に向かって突出するコネクタ322を有している。コネクタ322には、制御装置200との間を接続する通信ケーブルを差し込むための差し込み穴322aが設けられている。差し込み穴322a内には、図2−4に示すように、内部に4本の外部端子323が設けられている。外部端子323は、物理量検出装置300の計測結果である物理量の情報を出力するための端子および物理量検出装置300が動作するための直流電力を供給するための電源端子となる。
2.4 Structure of External Connection Portion 321 The external connection portion 321 includes a connector 322 that is provided on the upper surface of the flange 311 and protrudes from the flange 311 toward the downstream side in the main flow direction of the measurement target gas 30. The connector 322 is provided with an insertion hole 322a for inserting a communication cable for connecting to the control device 200. As shown in FIG. 2-4, four external terminals 323 are provided inside the insertion hole 322a. The external terminal 323 serves as a terminal for outputting physical quantity information that is a measurement result of the physical quantity detection device 300 and a power supply terminal for supplying DC power for operating the physical quantity detection device 300.

コネクタ322は、フランジ311から被計測気体30の流れ方向下流側に向かって突出し、流れ方向下流側から上流側に向かって差し込む形状を有しているが、この形状に限定されるものではなく、例えばフランジ311の上面から垂直に突出して、計測部331の延出方向に沿って差し込む形状を有していてもよく、種々の変更が可能である。   The connector 322 has a shape protruding from the flange 311 toward the downstream side in the flow direction of the gas 30 to be measured and inserted from the downstream side in the flow direction toward the upstream side, but is not limited to this shape. For example, it may have a shape that protrudes vertically from the upper surface of the flange 311 and is inserted along the extending direction of the measuring unit 331, and various modifications are possible.

3. ハウジング302の全体構造とその効果
3.1 全体構造
次に、ハウジング302の全体構造について図3−1〜図3−5を用いて説明する。図3−1〜図3−5は、物理量検出装置300から表カバー303および裏カバー304を取り外したハウジング302の状態を示す図であり、図3−1はハウジング302の正面図、図3−2はハウジング302の背面図、図3−3はハウジング302の左側面図、図3−4はハウジング302の右側面図、図3−5は図3−1のA−A線断面図である。
3. Overall Structure of Housing 302 and its Effects 3.1 Overall Structure Next, the overall structure of the housing 302 will be described with reference to FIGS. FIGS. 3A to 3E are views showing the state of the housing 302 with the front cover 303 and the back cover 304 removed from the physical quantity detection device 300. FIG. 3A is a front view of the housing 302, and FIG. 2 is a rear view of the housing 302, FIG. 3-3 is a left side view of the housing 302, FIG. 3-4 is a right side view of the housing 302, and FIG. 3-5 is a sectional view taken along line AA in FIG. .

ハウジング302は、フランジ311から計測部331が主通路124の中心に向かって延びる構造を成している。計測部331の基端側には回路基板400がインサート成形されている。回路基板400は、計測部331の表面と裏面との中間位置で計測部331の面に沿って平行に配置されて、ハウジング302に一体にモールドされており、計測部331の基端側を計測部331の厚さ方向一方側と他方側とに区画している。   The housing 302 has a structure in which the measuring unit 331 extends from the flange 311 toward the center of the main passage 124. A circuit board 400 is insert-molded on the base end side of the measurement unit 331. The circuit board 400 is arranged in parallel along the surface of the measurement unit 331 at an intermediate position between the front surface and the back surface of the measurement unit 331, and is molded integrally with the housing 302, and measures the proximal end side of the measurement unit 331. The portion 331 is partitioned into one side and the other side in the thickness direction.

計測部331の表面側には、回路基板400の回路部を収容する回路室Rcが形成され、裏面側には、圧力センサ421と湿度センサ422を収容するセンサ室Rsが形成されている。回路室Rcは、表カバー303をハウジング302に取り付けることにより密閉され、外部から完全に隔離される。その際、回路室Rcにシリコーンを充填して回路基板400の回路部を埋めることによって、ガスの侵入による腐食の可能性を低くすることができる。一方、裏カバー304をハウジング302に取り付けることにより、第2副通路306と、第2副通路306を介して計測部331の外部に連通する室内空間であるセンサ室Rsが形成される。回路基板400の一部は、計測部331の回路室Rcと第1副通路305との間を仕切る仕切壁335から第1副通路305内に突出しており、その突出した部分の計測用流路面430に流量検出部602が設けられている。   A circuit chamber Rc that houses the circuit portion of the circuit board 400 is formed on the front surface side of the measurement unit 331, and a sensor chamber Rs that houses the pressure sensor 421 and the humidity sensor 422 is formed on the back surface side. The circuit chamber Rc is sealed by attaching the front cover 303 to the housing 302 and is completely isolated from the outside. At that time, by filling the circuit chamber Rc with silicone to fill the circuit portion of the circuit board 400, the possibility of corrosion due to gas intrusion can be reduced. On the other hand, by attaching the back cover 304 to the housing 302, the second sub-passage 306 and the sensor chamber Rs, which is an indoor space communicating with the outside of the measuring unit 331 via the second sub-passage 306, are formed. A part of the circuit board 400 protrudes into the first sub-passage 305 from the partition wall 335 that partitions the circuit chamber Rc of the measurement unit 331 and the first sub-passage 305, and the measurement flow path surface of the protruding portion A flow rate detection unit 602 is provided at 430.

3.2 副通路溝の構造
計測部331の長さ方向先端側には、第1副通路305を成形するための副通路溝が設けられている。第1副通路305を形成するための副通路溝は、図3−1に示される表側副通路溝332と、図3−2に示される裏側副通路溝334を有している。表側副通路溝332は、図3−1に示すように、計測部331の下流側外壁338に開口する第1副通路出口305bから上流側外壁336に向かって移行するに従って漸次計測部331の基端側であるフランジ311側に湾曲し、上流側外壁336の近傍位置で、計測部331を厚さ方向に貫通する開口部333に連通している。開口部333は、上流側外壁336と下流側外壁338との間に亘って延びるように、主通路124の被計測気体30の流れ方向に沿って形成されている。
3.2 Structure of the sub-passage groove A sub-passage groove for forming the first sub-passage 305 is provided on the front end side of the measuring unit 331 in the length direction. The sub passage groove for forming the first sub passage 305 includes a front side sub passage groove 332 shown in FIG. 3A and a back side sub passage groove 334 shown in FIG. 3-2. As shown in FIG. 3A, the front side sub-passage groove 332 gradually moves toward the base of the measurement unit 331 as it moves from the first sub-passage outlet 305 b that opens to the downstream side outer wall 338 of the measurement unit 331 toward the upstream side outer wall 336. It curves to the flange 311 side, which is the end side, and communicates with an opening 333 that penetrates the measurement unit 331 in the thickness direction at a position near the upstream outer wall 336. The opening 333 is formed along the flow direction of the measurement target gas 30 in the main passage 124 so as to extend between the upstream outer wall 336 and the downstream outer wall 338.

裏側副通路溝334は、図3−2に示すように、上流側外壁336から下流側外壁338に向かって移行し、上流側外壁336と下流側外壁338との中間位置で二股に分かれて、一方は、排出通路としてそのまま一直線状に延在して下流側外壁338の排出口305cに開口し、他方は、下流側外壁338に移行するに従って漸次計測部331の基端側であるフランジ311側に湾曲し、下流側外壁338の近傍位置で、開口部333に連通している。   As shown in FIG. 3-2, the back side auxiliary passage groove 334 moves from the upstream side outer wall 336 toward the downstream side outer wall 338, and is divided into two branches at an intermediate position between the upstream side outer wall 336 and the downstream side outer wall 338. One side extends straight as a discharge passage and opens to the discharge port 305c of the downstream outer wall 338, and the other side is the flange 311 side, which is gradually the base end side of the measuring unit 331 as it moves to the downstream outer wall 338. And communicates with the opening 333 in the vicinity of the downstream outer wall 338.

裏側副通路溝334は、主通路124から被計測気体30が流入する入口溝を形成し、表側副通路溝332は、裏側副通路溝334から取り込んだ被計測気体30を主通路124に戻す出口溝を形成する。表側副通路溝332と裏側副通路溝334はハウジング302の先端部に設けられているので、主通路124の内壁面から離れた部分の気体を、言い換えると主通路124の中央部分に近い部分を流れている気体を被計測気体30として取り込むことができる。主通路124の内壁面近傍を流れる気体は、主通路124の壁面温度の影響を受け、吸入空気20などの主通路124を流れる気体の平均温度と異なる温度を有することが多い。また主通路124の内壁面近傍を流れる気体は、主通路124を流れる気体の平均流速より遅い流速を示すことが多い。実施例の物理量検出装置300ではこのような影響を受けに難いので、計測精度の低下を抑制できる。   The back side auxiliary passage groove 334 forms an inlet groove into which the measured gas 30 flows from the main passage 124, and the front side auxiliary passage groove 332 is an outlet for returning the measured gas 30 taken in from the back side auxiliary passage groove 334 to the main passage 124. Grooves are formed. Since the front side sub-passage groove 332 and the back side sub-passage groove 334 are provided at the front end of the housing 302, the portion of the gas away from the inner wall surface of the main passage 124, in other words, the portion close to the central portion of the main passage 124 is provided. The flowing gas can be taken in as the measurement target gas 30. The gas flowing in the vicinity of the inner wall surface of the main passage 124 is affected by the wall surface temperature of the main passage 124 and often has a temperature different from the average temperature of the gas flowing through the main passage 124 such as the intake air 20. Further, the gas flowing in the vicinity of the inner wall surface of the main passage 124 often exhibits a flow rate that is slower than the average flow velocity of the gas flowing through the main passage 124. Since the physical quantity detection device 300 according to the embodiment is not easily affected by such influence, it is possible to suppress a decrease in measurement accuracy.

図3−2に示すように、主通路124を流れる被計測気体30の一部が第1副通路入口305aから裏側副通路溝334内に取り込まれ、裏側副通路溝334内を流れる。そして、被計測気体30に含まれている質量の大きな異物は一部の被計測気体と共に分岐からそのまま一直線状に延在する排出通路に流れ込み、下流側外壁338の排出口305cから主通路124に排出される。   As shown in FIG. 3B, a part of the measurement target gas 30 flowing through the main passage 124 is taken into the back side sub passage groove 334 from the first sub passage inlet 305 a and flows through the back side sub passage groove 334. The large foreign matter contained in the gas to be measured 30 flows into the discharge passage extending straight from the branch together with a part of the gas to be measured, and enters the main passage 124 from the discharge port 305c of the downstream outer wall 338. Discharged.

裏側副通路溝334は、進むにつれて深くなる形状をしており、被計測気体30は裏側副通路溝334に沿って流れるにつれ計測部331の表側に徐々に移動する。特に裏側副通路溝334は開口部333の手前で急激に深くなる急傾斜部334aが設けられていて、質量の小さい空気の一部は急傾斜部334aに沿って移動し、開口部333内で回路基板400の計測用流路面430側を流れる。一方、質量の大きい異物は、急激な進路変更が困難なため、計測用流路面裏面431側を流れる。   The back side sub-passage groove 334 has a shape that becomes deeper as it advances, and the measurement target gas 30 gradually moves to the front side of the measurement unit 331 as it flows along the back side sub-passage groove 334. In particular, the back side sub-passage groove 334 is provided with a steeply inclined portion 334a that becomes deeper in front of the opening 333, and a part of the air having a small mass moves along the steeply inclined portion 334a. It flows on the measurement channel surface 430 side of the circuit board 400. On the other hand, a foreign substance having a large mass is difficult to change rapidly, and therefore flows on the measurement channel surface rear surface 431 side.

図3−1に示すように、開口部333で表側に移動した被計測気体30は、回路基板の計測用流路面430に沿って流れ、計測用流路面430に設けられた流量検出部602との間で熱伝達が行われ、流量の計測が行われる。開口部333から表側副通路溝332に流れてきた空気は共に表側副通路溝332に沿って流れ、下流側外壁338に開口する第1副通路出口305bから主通路124に排出される。   As shown in FIG. 3A, the measurement target gas 30 that has moved to the front side through the opening 333 flows along the measurement flow path surface 430 of the circuit board, and the flow rate detection unit 602 provided on the measurement flow path surface 430. Heat is transferred between the two, and the flow rate is measured. Both air flowing from the opening 333 to the front side sub-passage groove 332 flows along the front side sub-passage groove 332, and is discharged to the main passage 124 from the first sub-passage outlet 305 b that opens to the downstream side outer wall 338.

被計測気体30に混入しているごみなどの質量の大きい物質は慣性力が大きいので、溝の深さが急激に深まる急傾斜部334aの部分の表面に沿って溝の深い方向に急激に進路を変えることは困難である。このため質量の大きい異物は計測用流路面裏面431の方を移動し、異物が流量検出部602の近くを通るのを抑制できる。この実施例では気体以外の質量の大きい異物の多くが、計測用流路面430の背面である計測用流路面裏面431を通過するように構成しているので、油分やカーボン、ごみなどの異物による汚れの影響を低減でき、計測精度の低下を抑制できる。すなわち主通路124の流れの軸を横切る軸に沿って被計測気体30の進路を急に変化させる形状を有しているので、被計測気体30に混入する異物の影響を低減できる。   A substance having a large mass, such as dust, mixed in the measurement target gas 30 has a large inertial force, so that it rapidly advances in the deep direction of the groove along the surface of the steeply inclined portion 334a where the depth of the groove suddenly increases. It is difficult to change. For this reason, the foreign matter having a large mass moves toward the measurement channel surface rear surface 431, and the foreign matter can be prevented from passing near the flow rate detection unit 602. In this embodiment, since many foreign substances having a large mass other than gas pass through the measurement channel surface rear surface 431 which is the back surface of the measurement channel surface 430, they are caused by foreign matters such as oil, carbon, and dust. The influence of dirt can be reduced, and the decrease in measurement accuracy can be suppressed. That is, since it has a shape in which the path of the gas to be measured 30 is suddenly changed along an axis that crosses the flow axis of the main passage 124, the influence of foreign matter mixed in the gas to be measured 30 can be reduced.

3.3 第2副通路とセンサ室の構造と効果
第2副通路306は、主通路124を流れる被計測気体30の主流れ方向に沿うように、フランジ311と平行に第2副通路入口306aと第2副通路出口306bとの間に亘って一直線状に形成されている。第2副通路入口306aは、上流側外壁336の一部を切り欠いて形成され、第2副通路出口306bは、下流側外壁338の一部を切り欠いて形成されている。具体的には、図3−3に示すように、仕切壁335の上面に連続して沿う位置において、計測部331の裏面側から上流側外壁336の一部と下流側外壁338の一部を切り欠いて形成されている。第2副通路入口306aと第2副通路出口306bは、回路基板400の裏面と面一になる深さ位置まで切り欠かれている。第2副通路306は、回路基板400の基板本体401の裏面に沿って被計測気体30が通過するので、基板本体401を冷却するクーリングチャンネルとして機能する。回路基板400は、LSIやマイコンなどの熱を持つものが多く、これらの熱を基板本体401の裏面に伝達し、第2副通路306を通過する被計測気体30によって放熱することができる。
3.3 Structure and Effect of Second Sub-passage and Sensor Chamber The second sub-passage 306 is parallel to the flange 311 so as to be along the main flow direction of the gas 30 to be measured flowing through the main passage 124. And the second sub-passage outlet 306b. The second auxiliary passage inlet 306a is formed by cutting out a part of the upstream outer wall 336, and the second auxiliary passage outlet 306b is formed by cutting out a part of the downstream outer wall 338. Specifically, as shown in FIG. 3C, at a position continuously along the upper surface of the partition wall 335, a part of the upstream outer wall 336 and a part of the downstream outer wall 338 are arranged from the back surface side of the measuring unit 331. Notched and formed. The second sub-passage inlet 306a and the second sub-passage outlet 306b are notched to a depth position that is flush with the back surface of the circuit board 400. The second sub-passage 306 functions as a cooling channel for cooling the substrate main body 401 because the measurement target gas 30 passes along the back surface of the substrate main body 401 of the circuit board 400. The circuit board 400 often has heat such as an LSI or a microcomputer, and the heat can be transferred to the back surface of the board body 401 and dissipated by the measured gas 30 passing through the second sub-passage 306.

第2副通路306よりも計測部331の基端側にセンサ室Rsが設けられている。第2副通路入口306aから第2副通路306に流れ込んだ被計測気体30の一部は、センサ室Rsに流れ込み、センサ室Rs内の圧力センサ421と、湿度センサ422によってそれぞれ圧力と相対湿度が検出される。センサ室Rsは、被計測気体30の主流れ方向に沿って延在する第2副通路306よりも計測部331の基端側に偏位した位置に引っ込んで配置されているので、第2副通路306を通過する被計測気体30の動圧の影響を小さくすることができる。したがって、センサ室Rs内における圧力センサ421の検出精度を向上させることができる。   A sensor chamber Rs is provided on the proximal end side of the measurement unit 331 with respect to the second sub-passage 306. Part of the gas 30 to be measured that has flowed into the second sub-passage 306 from the second sub-passage inlet 306a flows into the sensor chamber Rs, and the pressure and relative humidity are respectively measured by the pressure sensor 421 and the humidity sensor 422 in the sensor chamber Rs. Detected. Since the sensor chamber Rs is retracted and disposed at a position shifted to the proximal end side of the measurement unit 331 with respect to the second sub-passage 306 extending along the main flow direction of the measurement target gas 30, the second sub-passage 306 is disposed. The influence of the dynamic pressure of the measurement target gas 30 passing through the passage 306 can be reduced. Therefore, the detection accuracy of the pressure sensor 421 in the sensor chamber Rs can be improved.

そして、センサ室Rsが第2副通路306よりも計測部331の基端側に配置されているので、例えば計測部331の先端側が下方に向かう姿勢状態で吸気通路に取り付けられている場合に、第2副通路306に被計測気体30と共に流れ込んだ汚損物や水滴が圧力センサ421やその下流に配置されている湿度センサ422に付着するのを抑制できる。   Since the sensor chamber Rs is disposed on the proximal end side of the measurement unit 331 with respect to the second sub-passage 306, for example, when the distal end side of the measurement unit 331 is attached to the intake passage in a posture state toward the lower side, It is possible to suppress fouling substances and water droplets flowing into the second sub-passage 306 together with the gas to be measured 30 from adhering to the pressure sensor 421 and the humidity sensor 422 disposed downstream thereof.

特に、本実施例では、センサ室Rs内において、比較的外形の大きい圧力センサ421が上流側に配置され、比較的外形の小さい湿度センサ422が圧力センサ421の下流側に配置されているので、被計測気体30と共に流れ込んだ汚損物や水滴は、圧力センサ421に付着し、湿度センサ422への付着が抑制される。従って、汚損物や水滴に対して耐性が低い湿度センサ422を保護することができる。   In particular, in the present embodiment, in the sensor chamber Rs, the pressure sensor 421 having a relatively large outer shape is disposed on the upstream side, and the humidity sensor 422 having a relatively small outer shape is disposed on the downstream side of the pressure sensor 421. The contaminants and water droplets that flow along with the measurement target gas 30 adhere to the pressure sensor 421 and the adhesion to the humidity sensor 422 is suppressed. Therefore, it is possible to protect the humidity sensor 422 that has low resistance to dirt and water droplets.

圧力センサ421と湿度センサ422は、流量検出部602と比較して被計測気体30の流れに影響を受けにくく、特に湿度センサ422は、被計測気体30における水分の拡散レベルさえ確保できればよいので、一直線状の第2副通路306に隣接したセンサ室Rsに設けることができる。これに対して、流量検出部602は、ある一定以上の流速を要し、また、塵埃や汚損物を遠ざける必要や、脈動に対する影響も考慮する必要がある。したがって、流量検出部602は、ループ状に周回する形状を有する第1副通路305に設けられている。   The pressure sensor 421 and the humidity sensor 422 are less affected by the flow of the gas to be measured 30 than the flow rate detection unit 602. In particular, the humidity sensor 422 only needs to ensure the diffusion level of moisture in the gas to be measured 30. It can be provided in the sensor chamber Rs adjacent to the straight second sub-passage 306. On the other hand, the flow rate detection unit 602 requires a flow rate of a certain level or more, needs to keep away dust and dirt, and needs to consider the influence on pulsation. Therefore, the flow rate detection unit 602 is provided in the first sub-passage 305 having a shape that circulates in a loop shape.

図4−1、図4−2は、第2副通路の他の形態を示す図である。
この形態では、上流側外壁336と下流側外壁338を切り欠くかわりに、上流側外壁336と下流側外壁338に貫通孔337を設けることにより、第2副通路入口306aと第2副通路出口306bを形成している。上述の図3−2〜図3−5に示す第2副通路のように、上流側外壁336と下流側外壁338をそれぞれ切り欠いて第2副通路入口306aと第2副通路出口306bを形成すると、かかる位置において上流側外壁336の幅と下流側外壁338の幅が局所的に狭くなっているので、モールド成形時の熱ひけ等により、切り欠きを起点として、計測部331が略くの字状に歪むおそれがある。本形態によれば、切り欠きのかわりに貫通孔を設けているので、計測部331が略くの字状に折れ曲がるのを防ぐことができる。したがって、ハウジング302に歪みにより被計測気体30に対する検出部の位置や向きが変わって検出精度に影響を与えるのを防ぐことができ、個体差がなく常に一定の検出精度を確保できる。
FIGS. 4-1 and FIGS. 4-2 are figures which show the other form of a 2nd subchannel | path.
In this embodiment, instead of cutting out the upstream side outer wall 336 and the downstream side outer wall 338, through holes 337 are provided in the upstream side outer wall 336 and the downstream side outer wall 338, so that the second sub passage inlet 306a and the second sub passage outlet 306b are provided. Is forming. As in the second sub-passage shown in FIGS. 3-2 to 3-5 described above, the upstream outer wall 336 and the downstream outer wall 338 are cut away to form the second sub-passage inlet 306a and the second sub-passage outlet 306b. Then, since the width of the upstream outer wall 336 and the width of the downstream outer wall 338 are locally narrow at this position, the measurement unit 331 is substantially omitted from the notch due to heat sinks at the time of molding. There is a risk of distortion. According to this embodiment, since the through-hole is provided instead of the notch, the measuring unit 331 can be prevented from being bent into a generally U shape. Therefore, it is possible to prevent the detection accuracy from being affected by the change in the position and orientation of the detection unit with respect to the measurement target gas 30 due to distortion in the housing 302, and it is possible to always ensure a constant detection accuracy without individual differences.

3.4 表カバー303と裏カバー304の形状と効果
図5は表カバー303の外観を示す図であり、図5(a)は正面図、図5(b)は、図5(a)のA−A線断面図である。図6は裏カバー304の外観を示す図であり、図6(a)は正面図、図6(b)は図6(a)のB−B線断面図である。
3.4 Shape and Effect of Table Cover 303 and Back Cover 304 FIG. 5 is a view showing the appearance of the table cover 303, FIG. 5 (a) is a front view, and FIG. 5 (b) is a diagram of FIG. It is AA sectional view. 6A and 6B are views showing the appearance of the back cover 304. FIG. 6A is a front view, and FIG. 6B is a cross-sectional view taken along the line BB in FIG.

図5および図6において、表カバー303や裏カバー304は、ハウジング302の表側副通路溝332と裏側副通路溝334を塞ぐことにより、第1副通路305を作る。また、表カバー303は、密閉された回路室Rcを作り、裏カバー304は、計測部331の裏面側の凹部を塞いで第2副通路306と、第2副通路306に連通するセンサ室Rsを作る。   5 and 6, the front cover 303 and the back cover 304 make up the first sub-passage 305 by closing the front-side sub-passage groove 332 and the back-side sub-passage groove 334 of the housing 302. The front cover 303 forms a sealed circuit chamber Rc, and the back cover 304 closes the recess on the back side of the measuring unit 331 and communicates with the second sub-passage 306 and the second sub-passage 306. make.

表カバー303は、流量検出部602に対向する位置に突起部356を備えており、計測用流路面430との間に絞りを作るのに使用される。このため、成形精度が高いことが望ましい。表カバー303や裏カバー304は、金型に熱可塑性樹脂を注入する樹脂モールド工程により作られるので、高い成形精度で作ることができる。   The front cover 303 includes a protrusion 356 at a position facing the flow rate detection unit 602, and is used to make a restriction between the measurement flow path surface 430 and the front cover 303. For this reason, it is desirable that the molding accuracy be high. Since the front cover 303 and the back cover 304 are made by a resin molding process in which a thermoplastic resin is injected into a mold, the front cover 303 and the back cover 304 can be made with high molding accuracy.

表カバー303と裏カバー304には、計測部331から突出する複数の固定ピン350がそれぞれ挿入される複数の固定穴351が設けられている。表カバー303と裏カバー304は、計測部331の表面と裏面にそれぞれ取り付けられ、その際に、固定穴351に固定ピン350が挿入されて位置決めがなされる。そして、表側副通路溝332と裏側副通路溝334の縁に沿ってレーザ溶接等により接合され、同様に、回路室Rc及びセンサ室Rsの縁に沿ってレーザ溶接等により接合される。   The front cover 303 and the back cover 304 are provided with a plurality of fixing holes 351 into which a plurality of fixing pins 350 protruding from the measuring unit 331 are respectively inserted. The front cover 303 and the back cover 304 are respectively attached to the front surface and the back surface of the measuring unit 331. At that time, the fixing pins 350 are inserted into the fixing holes 351 and positioned. And it joins by the laser welding etc. along the edge of the front side subchannel groove 332 and the back side subchannel groove 334, and similarly, it joins by the laser welding etc. along the edge of the circuit chamber Rc and the sensor chamber Rs.

3.5 回路基板400のハウジング302による固定構造と効果
次に、回路基板400のハウジング302への樹脂モールド工程による固定について説明する。副通路を成形する副通路溝の所定の場所、例えば本実施例では、表側副通路溝332と裏側副通路溝334のつながりの部分である開口部333に、回路基板400の流量検出部602が配置されるように、回路基板400がハウジング302に一体にモールドされている。
3.5 Fixing Structure and Effect of Circuit Board 400 by Housing 302 Next, fixing of the circuit board 400 to the housing 302 by a resin molding process will be described. The flow rate detection unit 602 of the circuit board 400 is provided at a predetermined position of the sub-passage groove for forming the sub-passage, for example, in the present embodiment, the opening 333 that is a connecting portion between the front-side sub-passage groove 332 and the back-side sub-passage groove 334. The circuit board 400 is molded integrally with the housing 302 so as to be disposed.

ハウジング302の計測部331には、回路基板400のベース部402の外周縁部をハウジング302に樹脂モールドにより埋設して固定する部分が、固定部372、373として設けられている。固定部372、373は、回路基板400のベース部402の外周縁部を表側と裏側から挟み込むように包含して固定している。   The measurement part 331 of the housing 302 is provided with fixing parts 372 and 373 that are fixed by embedding the outer peripheral edge of the base part 402 of the circuit board 400 in the housing 302 with a resin mold. The fixing portions 372 and 373 include and fix the outer peripheral edge portion of the base portion 402 of the circuit board 400 so as to be sandwiched from the front side and the back side.

ハウジング302は、樹脂モールド工程にて製造する。この樹脂モールド工程で、回路基板400をハウジング302の樹脂内に内蔵して、ハウジング302内に樹脂モールドにより固定する。このようにすることで、流量検出部602が被計測気体30との間で熱伝達を行って流量を計測するための副通路、例えば表側副通路溝332や裏側副通路溝334の形状との関係である位置関係や方向の関係などを、極めて高い精度で維持することができ、回路基板400毎に生じる誤差やばらつきを非常に小さい値に抑え込むことが可能となる。結果として回路基板400の計測精度を大きく改善できる。例えば従来の接着剤を使用して固定する方式に比べて、飛躍的に計測精度を向上できる。   The housing 302 is manufactured by a resin molding process. In this resin molding process, the circuit board 400 is built in the resin of the housing 302 and fixed in the housing 302 by the resin mold. In this way, the flow rate detection unit 602 performs heat transfer with the measurement target gas 30 to measure the flow rate, for example, the shape of the front side passage groove 332 and the back side passage groove 334. The positional relationship and the directional relationship, which are relationships, can be maintained with extremely high accuracy, and errors and variations occurring in each circuit board 400 can be suppressed to a very small value. As a result, the measurement accuracy of the circuit board 400 can be greatly improved. For example, the measurement accuracy can be dramatically improved as compared with a conventional method of fixing using an adhesive.

物理量検出装置300は量産により生産されることが多く、個々に厳密に計測しながら接着剤で接着する方法には、計測精度の向上に関して限界がある。しかし、本実施例のように被計測気体30を流す副通路を成形する樹脂モールド工程にて副通路を成形すると同時に回路基板400を一体に固定することで、計測精度のばらつきを大幅に低減でき、各物理量検出装置300の計測精度を大幅に向上することが可能となる。   The physical quantity detection device 300 is often produced by mass production, and the method of adhering with an adhesive while strictly measuring each is limited in terms of improving measurement accuracy. However, variation in measurement accuracy can be greatly reduced by fixing the circuit board 400 at the same time as the sub-passage is molded in the resin molding process for molding the sub-passage through which the gas 30 to be measured flows as in this embodiment. The measurement accuracy of each physical quantity detection device 300 can be greatly improved.

例えば図3−1〜図3−5に示す実施例でさらに説明すると、表側副通路溝332と裏側副通路溝334と流量検出部602との間に関係を、規定の関係となるように高い精度で回路基板400をハウジング302に固定できる。このことにより量産される物理量検出装置300においてそれぞれ、各回路基板400の流量検出部602と第1副通路305との位置関係や形状などの関係を、非常に高い精度で、定常的に得ることが可能となる。   For example, in the embodiment shown in FIGS. 3-1 to 3-5, the relationship between the front side sub-passage groove 332, the back side sub-passage groove 334, and the flow rate detection unit 602 is high so as to be a prescribed relationship. The circuit board 400 can be fixed to the housing 302 with accuracy. In this way, in the physical quantity detection device 300 that is mass-produced, the positional relationship and shape of the flow rate detection unit 602 of each circuit board 400 and the first sub-passage 305 can be constantly obtained with very high accuracy. Is possible.

回路基板400の流量検出部602が固定配置された第1副通路305は、例えば表側副通路溝332と裏側副通路溝334とが非常に高い精度で成形できるので、これらの副通路溝332、334から第1副通路305を成形する作業は、表カバー303や裏カバー304でハウジング302の両面を覆う作業である。この作業は大変シンプルで、計測精度を低下させる要因が少ない作業工程である。また、表カバー303や裏カバー304は、成形精度の高い樹脂モールド工程により生産される。従って、回路基板400の流量検出部602と規定の関係で設けられる副通路を高い精度で完成することが可能である。このような方法により、計測精度の向上に加え、高い生産性が得られる。   The first sub-passage 305 in which the flow rate detection unit 602 of the circuit board 400 is fixedly arranged can be formed with, for example, a front-side sub-passage groove 332 and a back-side sub-passage groove 334 with very high accuracy. The operation of forming the first sub-passage 305 from 334 is an operation of covering both surfaces of the housing 302 with the front cover 303 and the back cover 304. This work is very simple and is a work process with few factors that reduce the measurement accuracy. The front cover 303 and the back cover 304 are produced by a resin molding process with high molding accuracy. Therefore, it is possible to complete the sub-passage provided in a prescribed relationship with the flow rate detection unit 602 of the circuit board 400 with high accuracy. By such a method, in addition to improvement of measurement accuracy, high productivity can be obtained.

これに対して従来は、副通路を製造し、次に副通路に計測部を接着剤で接着することにより、熱式流量計を生産していた。このように接着剤を使用する方法は、接着剤の厚みのばらつきが大きく、また接着位置や接着角度が製品毎にばらつく。このため計測精度を上げることには限界があった。さらにこれらの作業を量産工程で行う場合に、計測精度の向上がたいへん難しくなる。   On the other hand, in the past, a thermal flow meter was produced by manufacturing a sub-passage and then adhering a measuring unit to the sub-passage with an adhesive. As described above, the method of using the adhesive has a large variation in the thickness of the adhesive, and the bonding position and the bonding angle vary from product to product. For this reason, there was a limit to increasing the measurement accuracy. Furthermore, when performing these operations in a mass production process, it is very difficult to improve measurement accuracy.

本発明に係る実施例では、回路基板400を樹脂モールドによりハウジング302に一体に固定すると共に同時に樹脂モールドで第1副通路305を成形するための副通路溝を成形する。このようにすることにより、副通路溝の形状、および副通路溝に極めて高い精度で流量検出部602を固定できる。   In the embodiment according to the present invention, the circuit board 400 is integrally fixed to the housing 302 by a resin mold, and at the same time, a sub-passage groove for forming the first sub-passage 305 is formed by the resin mold. By doing so, the flow rate detection unit 602 can be fixed to the shape of the auxiliary passage groove and the auxiliary passage groove with extremely high accuracy.

流量の計測に関係する部分、例えば流量検出部602や流量検出部602が取り付けられる計測用流路面430は、回路基板400の表面に設けられる。流量検出部602と計測用流路面430は、ハウジング302を成形する樹脂から露出させる。すなわち、流量検出部602と計測用流路面430を、ハウジング302を成形する樹脂で覆わないようにする。回路基板400の流量検出部602や計測用流路面430を、そのままハウジング302の樹脂モールド後も利用し、物理量検出装置300の流量計測に使用する。このようにすることで計測精度が向上する。   A part related to the measurement of the flow rate, for example, the flow path surface 430 for measurement to which the flow rate detection unit 602 and the flow rate detection unit 602 are attached is provided on the surface of the circuit board 400. The flow rate detector 602 and the measurement flow path surface 430 are exposed from the resin for molding the housing 302. That is, the flow rate detector 602 and the measurement flow path surface 430 are not covered with the resin for molding the housing 302. The flow rate detection unit 602 and the measurement flow path surface 430 of the circuit board 400 are used as they are after resin molding of the housing 302 as they are, and are used for flow rate measurement of the physical quantity detection device 300. By doing so, the measurement accuracy is improved.

本発明に係る実施例では、回路基板400をハウジング302に一体成形することにより、第1副通路305を有するハウジング302に回路基板400を固定しているので、回路基板400をハウジング302に確実に固定できる。特に、回路基板400の突出部403が仕切壁335を貫通して第1副通路305に突出する構成を有しているので、第1副通路305と回路室Rcとの間のシール性が高く、第1副通路305から回路室Rcに被計測気体30が漏れ入るのを防ぎ、回路基板400の回路部品や配線等が被計測気体30と接触して腐蝕するのを防ぐことができる。   In the embodiment according to the present invention, since the circuit board 400 is fixed to the housing 302 having the first sub-passage 305 by integrally forming the circuit board 400 in the housing 302, the circuit board 400 is securely attached to the housing 302. Can be fixed. In particular, since the projecting portion 403 of the circuit board 400 penetrates the partition wall 335 and projects into the first sub-passage 305, the sealing performance between the first sub-passage 305 and the circuit chamber Rc is high. Further, it is possible to prevent the measurement target gas 30 from leaking from the first sub-passage 305 into the circuit chamber Rc, and to prevent the circuit components, wirings, and the like of the circuit board 400 from being in contact with the measurement target gas 30 and being corroded.

4. 回路基板400の外観
4.1 流量検出部602を備える計測用流路面430の成形
図7−1〜図7−3に回路基板400の外観を示す。なお、回路基板400の外観上に記載した斜線部分は、樹脂モールド工程でハウジング302を成形する際に樹脂により回路基板400が覆われて固定される固定部432および固定部434を示す。
4. Appearance of Circuit Board 400 4.1 Formation of Measurement Channel Surface 430 Comprising Flow Rate Detection Unit 602 FIGS. 7-1 to 7-3 show the appearance of the circuit board 400. FIG. The hatched portions described on the external appearance of the circuit board 400 indicate the fixing part 432 and the fixing part 434 to which the circuit board 400 is covered and fixed when the housing 302 is molded in the resin molding process.

図7−1は、回路基板の正面図、図7−2は、回路基板の右側面図、図7−3は、回路基板の背面図である。   FIG. 7-1 is a front view of the circuit board, FIG. 7-2 is a right side view of the circuit board, and FIG. 7-3 is a rear view of the circuit board.

回路基板400は、基板本体401を有している。基板本体401の外表面である表面と裏面には、図示していない回路導体が設けられており、その上に絶縁膜(ソルダーレジスト)800が形成されている(図9参照)。絶縁膜800は、回路保護及びはんだを不要な部分への付着防止のためのものであり、例えば絶縁性の塗料あるいはインクを基板本体の外表面に塗布して乾燥させることによって設けられる。   The circuit board 400 has a board body 401. Circuit conductors (not shown) are provided on the front and back surfaces of the substrate body 401, and an insulating film (solder resist) 800 is formed thereon (see FIG. 9). The insulating film 800 is for circuit protection and prevention of adhesion of solder to unnecessary portions. For example, the insulating film 800 is provided by applying an insulating paint or ink to the outer surface of the substrate body and drying it.

回路基板400は、基板本体401の表面に回路部とセンシング素子である流量検出部602が設けられ、基板本体401の裏面にセンシング素子である圧力センサ421A、421Bと湿度センサ422が設けられている。基板本体401は、ガラスエポキシ樹脂製の材料により構成されており、セラミック材料の基板と比較してハウジング302を成形している熱可塑性樹脂製の材料の熱膨張係数と近似した値を有している。したがって、回路基板400をハウジング302にインサート成形した際に熱膨張係数の差による応力を低減でき、回路基板400の歪みを小さくすることができる。   The circuit board 400 includes a circuit unit and a flow rate detection unit 602 that is a sensing element on the surface of the substrate body 401, and pressure sensors 421 </ b> A and 421 </ b> B and humidity sensors 422 that are sensing elements on the back surface of the substrate body 401. . The substrate body 401 is made of a material made of glass epoxy resin, and has a value approximate to the thermal expansion coefficient of the material made of thermoplastic resin forming the housing 302 compared to the substrate made of ceramic material. Yes. Therefore, when the circuit board 400 is insert-molded in the housing 302, the stress due to the difference in thermal expansion coefficient can be reduced, and the distortion of the circuit board 400 can be reduced.

基板本体401は、一定厚さを有する平板形状を有しており、略四角形状のベース部402と、ベース部402の一辺から突出してベース部402よりも一回り小さな略四角形状の突出部403とを有する、平面視略T字形状をなしている。ベース部402の表面には、回路部が設けられている。回路部は、図示していない回路導体の上に、LSI414、マイコン415、電源レギュレータ416、抵抗やコンデンサなどのチップ部品417などの電子部品が実装されて構成されている。電源レギュレータ416は、マイコン415やLSI414などの他の電子部品と比較して発熱量が多いので、回路室Rcにおいて比較的上流側に配置されている。LSI414は、金線ワイヤを含むように全体が合成樹脂材419で封止されており、インサート成形する際の回路基板400の取り扱い性を向上させている。   The substrate body 401 has a flat plate shape having a certain thickness, and has a substantially rectangular base portion 402 and a substantially rectangular protruding portion 403 that protrudes from one side of the base portion 402 and is slightly smaller than the base portion 402. And has a substantially T shape in plan view. A circuit portion is provided on the surface of the base portion 402. The circuit unit is configured by mounting electronic components such as an LSI 414, a microcomputer 415, a power supply regulator 416, and a chip component 417 such as a resistor and a capacitor on a circuit conductor (not shown). Since the power regulator 416 generates a larger amount of heat than other electronic components such as the microcomputer 415 and the LSI 414, the power regulator 416 is disposed relatively upstream in the circuit room Rc. The LSI 414 is entirely sealed with a synthetic resin material 419 so as to include a gold wire, thereby improving the handleability of the circuit board 400 during insert molding.

基板本体401の表面には、LSI414が嵌入される凹部402aが凹設されている。この凹部402aは、基板本体401にレーザ加工を施すことによって形成できる。ガラスエポキシ樹脂製の基板本体401は、セラミック製の基板本体と比較して加工が容易であり、凹部402aを容易に設けることができる。凹部402aは、LSI414の表面が基板本体401の表面と面一になる深さを有している。このようにLSI414の表面と基板本体401の表面の高さを一致させることによって、LSI414と基板本体401との間を金線ワイヤで結ぶワイヤボンディングが容易になり、回路基板400の製造が容易になる。   A concave portion 402 a into which the LSI 414 is inserted is provided on the surface of the substrate body 401. The recess 402a can be formed by subjecting the substrate body 401 to laser processing. The substrate body 401 made of glass epoxy resin is easier to process than the substrate body made of ceramic, and the recess 402a can be easily provided. The recess 402 a has a depth such that the surface of the LSI 414 is flush with the surface of the substrate body 401. Thus, by making the surface of the LSI 414 and the surface of the substrate body 401 coincide with each other, wire bonding for connecting the LSI 414 and the substrate body 401 with a gold wire becomes easy, and the circuit board 400 can be easily manufactured. Become.

突出部403は、回路基板400をハウジング302にインサート成形した際に、第1副通路305内に配置され、突出部403の表面である計測用流路面430が被計測気体30の流れ方向に沿って延びる。突出部403の計測用流路面430には、流量検出部602が設けられている。流量検出部602は、被計測気体30と熱伝達を行い、被計測気体30の状態、例えば被計測気体30の流速を計測し、主通路124を流れる流量を表す電気信号を出力する。流量検出部602が高精度で被計測気体30の状態を計測するには、計測用流路面430の近傍を流れる気体が層流であり乱れが少ないことが望ましい。このため流量検出部602の表面と計測用流路面430の面とが面一、もしくは差が所定値以下であることが望ましい。   The protrusion 403 is disposed in the first sub-passage 305 when the circuit board 400 is insert-molded into the housing 302, and the measurement flow path surface 430 that is the surface of the protrusion 403 is along the flow direction of the measurement target gas 30. Extend. A flow rate detector 602 is provided on the measurement channel surface 430 of the protrusion 403. The flow rate detector 602 performs heat transfer with the gas to be measured 30, measures the state of the gas to be measured 30, for example, the flow velocity of the gas to be measured 30, and outputs an electrical signal representing the flow rate through the main passage 124. In order for the flow rate detection unit 602 to measure the state of the measurement target gas 30 with high accuracy, it is desirable that the gas flowing in the vicinity of the measurement channel surface 430 is laminar and has little turbulence. For this reason, it is desirable that the surface of the flow rate detection unit 602 and the surface of the measurement channel surface 430 are flush with each other, or the difference is equal to or less than a predetermined value.

計測用流路面430の表面には凹部403aが凹設されており、流量検出部602が嵌入されている。この凹部403aもレーザ加工を施すことによって形成できる。凹部403aは、流量検出部602の表面が計測用流路面430の表面と面一になる深さを有している。流量検出部602とその配線部分は、合成樹脂材418で被覆されており、塩水の付着により電食が生ずるのを防いでいる。   A concave portion 403a is formed on the surface of the measurement flow path surface 430, and a flow rate detector 602 is fitted therein. This recess 403a can also be formed by laser processing. The recess 403a has a depth such that the surface of the flow rate detector 602 is flush with the surface of the measurement channel surface 430. The flow rate detection unit 602 and its wiring part are covered with a synthetic resin material 418 to prevent electrolytic corrosion due to adhesion of salt water.

基板本体401の裏面には、2つの圧力センサ421A、421Bと、1つの湿度センサ422が設けられている。2つの圧力センサ421A、421Bは、上流側と下流側に分かれて一列に配置されている。そして、圧力センサ421Bの下流側に湿度センサ422が配置されている。これら2つの圧力センサ421A、421Bと、1つの湿度センサ422は、センサ室Rs内に配置されている。   Two pressure sensors 421A and 421B and one humidity sensor 422 are provided on the back surface of the substrate body 401. The two pressure sensors 421A and 421B are divided into an upstream side and a downstream side and arranged in a line. A humidity sensor 422 is disposed downstream of the pressure sensor 421B. These two pressure sensors 421A and 421B and one humidity sensor 422 are arranged in the sensor chamber Rs.

回路基板400は、基板本体401の裏面側に第2副通路306が配置されている。したがって、第2副通路306を通過する被計測気体30によって、基板本体401全体を冷却することができる。   In the circuit board 400, the second sub-passage 306 is disposed on the back side of the board body 401. Therefore, the entire substrate body 401 can be cooled by the measurement target gas 30 passing through the second sub-passage 306.

4.2 温度検出部451の構造
ベース部402の上流側の端辺で且つ突出部403側の角部には、温度検出部451が設けられている。温度検出部451は、主通路124を流れる被計測気体30の物理量を検出するための検出部の一つを構成するものであり、回路基板400に設けられている。回路基板400は、第2副通路306の第2副通路入口306aから被計測気体30の上流に向かって突出する突出部450を有しており、温度検出部451は、突出部450でかつ回路基板400の裏面に設けられたチップ型の温度センサ453を有している。温度センサ453とその配線部分は、合成樹脂材で被覆されており、塩水の付着により電食が生ずるのを防いでいる。
4.2 Structure of Temperature Detection Unit 451 A temperature detection unit 451 is provided at the end on the upstream side of the base unit 402 and at the corner on the protrusion 403 side. The temperature detection unit 451 constitutes one of detection units for detecting a physical quantity of the measurement target gas 30 flowing through the main passage 124, and is provided on the circuit board 400. The circuit board 400 has a protrusion 450 that protrudes from the second sub-passage inlet 306a of the second sub-passage 306 toward the upstream side of the gas to be measured 30, and the temperature detection part 451 is the protrusion 450 and the circuit. A chip-type temperature sensor 453 provided on the back surface of the substrate 400 is provided. The temperature sensor 453 and the wiring portion thereof are covered with a synthetic resin material, which prevents electrolytic corrosion from occurring due to adhesion of salt water.

例えば図3−2に示すように、第2副通路入口306aが設けられている計測部331の中央部では、ハウジング302を構成する計測部331内の上流側外壁336が下流側に向かって窪んでおり、前記窪み形状の上流側外壁336から回路基板400の突出部450が上流側に向かって突出している。突出部450の先端は、上流側外壁336の最も上流側の面よりも凹んだ位置に配置されている。温度検出部451は、回路基板400の背面、すなわち、第2副通路306側に面するように突出部450に設けられている。   For example, as shown in FIG. 3-2, in the central portion of the measurement unit 331 where the second sub-passage entrance 306 a is provided, the upstream outer wall 336 in the measurement unit 331 constituting the housing 302 is recessed toward the downstream side. The projecting portion 450 of the circuit board 400 projects from the recess-shaped upstream outer wall 336 toward the upstream side. The tip of the protrusion 450 is disposed at a position recessed from the most upstream surface of the upstream outer wall 336. The temperature detection part 451 is provided in the protrusion part 450 so that the back surface of the circuit board 400, ie, the 2nd sub channel | path 306 side, may be faced.

温度検出部451の下流側に、第2副通路入口306aが形成されているので、第2副通路入口306aから第2副通路306に流れ込む被計測気体30は、温度検出部451に接触してから第2副通路入口306aに流れ込み、温度検出部451に接触した際に温度が検出される。温度検出部451に接触した被計測気体30は、そのまま第2副通路入口306aから第2副通路306に流れ込み、第2副通路306を通過して第2副通路出口306bから主通路124に排出される。   Since the second sub-passage inlet 306a is formed on the downstream side of the temperature detection unit 451, the gas to be measured 30 flowing into the second sub-passage 306 from the second sub-passage entrance 306a contacts the temperature detection unit 451. Then, the temperature is detected when it flows into the second sub-passage inlet 306a and contacts the temperature detector 451. The gas 30 to be measured that has contacted the temperature detector 451 flows directly from the second sub-passage inlet 306a into the second sub-passage 306, passes through the second sub-passage 306, and is discharged from the second sub-passage outlet 306b to the main passage 124. Is done.

4.3 樹脂モールド工程による回路基板400の固定とその効果
図7−1、図7−3で斜線の部分は、樹脂モールド工程において、ハウジング302に回路基板400を固定するために、樹脂モールド工程で使用する熱可塑性樹脂で回路基板400を覆うための、固定部432および固定部434を示している。計測用流路面430および計測用流路面430に設けられている流量検出部602と副通路の形状との関係が、規定の関係となるように、高い精度で維持されることが重要である。
4.3 Fixing of Circuit Board 400 by Resin Molding Process and Its Effect The hatched portions in FIGS. 7-1 and 7-3 are the resin molding process in order to fix the circuit board 400 to the housing 302 in the resin molding process. The fixing part 432 and the fixing part 434 for covering the circuit board 400 with the thermoplastic resin used in FIG. It is important that the relationship between the measurement flow path surface 430 and the flow rate detection unit 602 provided on the measurement flow path surface 430 and the shape of the sub-passage is maintained with high accuracy so as to be a prescribed relationship.

樹脂モールド工程において、副通路を成形すると共に同時に副通路を成形するハウジング302に回路基板400を固定するので、前記副通路と計測用流路面430および流量検出部602との関係を極めて高い精度で維持できる。すなわち、樹脂モールド工程において回路基板400をハウジング302に固定するので、副通路を備えたハウジング302を成形するための金型内に、回路基板400を高い精度で位置決めして固定することが可能となる。この金型内に高温の熱可塑性樹脂を注入することで、副通路が高い精度で成形されると共に、回路基板400が高い精度で固定される。したがって、回路基板400毎に生じる誤差やばらつきを非常に小さい値に抑え込むことが可能となる。結果として回路基板400の計測精度を大きく改善できる。   In the resin molding process, the circuit board 400 is fixed to the housing 302 that simultaneously molds the sub-passage, and at the same time, the relationship between the sub-passage, the measurement flow path surface 430, and the flow rate detection unit 602 is extremely accurate. Can be maintained. That is, since the circuit board 400 is fixed to the housing 302 in the resin molding process, the circuit board 400 can be positioned and fixed with high accuracy in a mold for forming the housing 302 having the sub-passage. Become. By injecting a high-temperature thermoplastic resin into the mold, the sub-passage is molded with high accuracy, and the circuit board 400 is fixed with high accuracy. Therefore, it is possible to suppress errors and variations occurring in each circuit board 400 to very small values. As a result, the measurement accuracy of the circuit board 400 can be greatly improved.

5. 物理量検出装置300の回路構成
図8−1は物理量検出装置300の回路図である。物理量検出装置300は、流量検出回路601と、温湿度検出回路701を有している。
5. Circuit Configuration of Physical Quantity Detection Device 300 FIG. 8-1 is a circuit diagram of the physical quantity detection device 300. The physical quantity detection device 300 includes a flow rate detection circuit 601 and a temperature / humidity detection circuit 701.

流量検出回路601は、発熱体608を有する流量検出部602と処理部604とを備えている。処理部604は、流量検出部602の発熱体608の発熱量を制御すると共に、流量検出部602の出力に基づいて流量を表す信号を、端子662を介してマイコン415に出力する。前記処理を行うために、処理部604は、Central Processing Unit(以下CPUと記す)612と入力回路614、出力回路616、補正値や計測値と流量との関係を表すデータを保持するメモリ618、一定電圧をそれぞれ必要な回路に供給する電源回路622を備えている。電源回路622には車載バッテリなどの外部電源から、端子664と図示していないグランド端子を介して直流電力が供給される。   The flow rate detection circuit 601 includes a flow rate detection unit 602 having a heating element 608 and a processing unit 604. The processing unit 604 controls the amount of heat generated by the heating element 608 of the flow rate detection unit 602 and outputs a signal representing the flow rate to the microcomputer 415 via the terminal 662 based on the output of the flow rate detection unit 602. In order to perform the processing, the processing unit 604 includes a central processing unit (hereinafter referred to as a CPU) 612, an input circuit 614, an output circuit 616, a memory 618 that holds data representing a relationship between a correction value, a measured value, and a flow rate, A power supply circuit 622 is provided to supply a constant voltage to each necessary circuit. The power supply circuit 622 is supplied with DC power from an external power source such as an in-vehicle battery via a terminal 664 and a ground terminal (not shown).

流量検出部602には被計測気体30を熱するための発熱体608が設けられている。電源回路622から、発熱体608の電流供給回路を構成するトランジスタ606のコレクタに電圧V1が供給され、CPU612から出力回路616を介して前記トランジスタ606のベースに制御信号が加えられ、この制御信号に基づいて前記トランジスタ606から端子624を介して発熱体608に電流が供給される。発熱体608に供給される電流量は前記CPU612から出力回路616を介して発熱体608の電流供給回路を構成するトランジスタ606に加えられる制御信号により制御される。処理部604は、発熱体608で熱せられることにより被計測気体30の温度が当初の温度より所定温度、例えば100℃、だけ高くなるように発熱体608の発熱量を制御する。   The flow rate detector 602 is provided with a heating element 608 for heating the measurement target gas 30. The voltage V1 is supplied from the power supply circuit 622 to the collector of the transistor 606 constituting the current supply circuit of the heating element 608, and a control signal is applied from the CPU 612 to the base of the transistor 606 via the output circuit 616. Accordingly, a current is supplied from the transistor 606 to the heating element 608 through the terminal 624. The amount of current supplied to the heating element 608 is controlled by a control signal applied from the CPU 612 to the transistor 606 constituting the current supply circuit of the heating element 608 via the output circuit 616. The processing unit 604 controls the amount of heat generated by the heating element 608 so that the temperature of the measurement target gas 30 is higher than the initial temperature by a predetermined temperature, for example, 100 ° C., when heated by the heating element 608.

流量検出部602は、発熱体608の発熱量を制御するための発熱制御ブリッジ640と、流量を計測するための流量検知ブリッジ650と、を有している。発熱制御ブリッジ640の一端には、電源回路622から一定電圧V3が端子626を介して供給され、発熱制御ブリッジ640の他端はグランド端子630に接続されている。また流量検知ブリッジ650の一端には、電源回路622から一定電圧V2が端子625を介して供給され、流量検知ブリッジ650の他端はグランド端子630に接続されている。   The flow rate detection unit 602 includes a heat generation control bridge 640 for controlling the amount of heat generated by the heating element 608 and a flow rate detection bridge 650 for measuring the flow rate. One end of the heat generation control bridge 640 is supplied with a constant voltage V3 from the power supply circuit 622 via a terminal 626, and the other end of the heat generation control bridge 640 is connected to the ground terminal 630. A constant voltage V2 is supplied from one end of the flow rate detection bridge 650 from the power supply circuit 622 via a terminal 625, and the other end of the flow rate detection bridge 650 is connected to the ground terminal 630.

発熱制御ブリッジ640は、熱せられた被計測気体30の温度に基づいて抵抗値が変化する測温抵抗体である抵抗642を有しており、抵抗642と抵抗644、抵抗646、抵抗648はブリッジ回路を構成している。抵抗642と抵抗646の交点Aおよび抵抗644と抵抗648との交点Bの電位差が端子627および端子628を介して入力回路614に入力され、CPU612は交点Aと交点B間の電位差が所定値、この実施例ではゼロボルト、になるようにトランジスタ606から供給される電流を制御して発熱体608の発熱量を制御する。図8−1に記載の流量検出回路601は、被計測気体30のもとの温度に対して一定温度、例えば常に100℃、高くなるように発熱体608で被計測気体30を加熱する。この加熱制御を高精度に行えるように、発熱体608で温められた被計測気体30の温度が当初の温度に対して一定温度、例えば常に100℃、高くなったときに、前記交点Aと交点B間の電位差がゼロボルトとなるように発熱制御ブリッジ640を構成する各抵抗の抵抗値が設定されている。従って、流量検出回路601では、CPU612は交点Aと交点B間の電位差がゼロボルトとなるよう発熱体608への供給電流を制御する。   The heat generation control bridge 640 includes a resistor 642 that is a resistance temperature detector whose resistance value changes based on the temperature of the heated measurement target gas 30. The resistor 642, the resistor 644, the resistor 646, and the resistor 648 are bridges. The circuit is configured. The potential difference between the intersection A of the resistor 642 and the resistor 646 and the potential B at the intersection B of the resistor 644 and 648 is input to the input circuit 614 via the terminal 627 and the terminal 628, and the CPU 612 has a predetermined potential difference between the intersection A and the intersection B. In this embodiment, the amount of heat generated by the heating element 608 is controlled by controlling the current supplied from the transistor 606 so as to be zero volts. The flow rate detection circuit 601 illustrated in FIG. 8A heats the measurement target gas 30 with the heating element 608 so as to be higher than the original temperature of the measurement target gas 30 by a constant temperature, for example, 100 ° C. at all times. In order to perform this heating control with high accuracy, when the temperature of the gas 30 to be measured heated by the heating element 608 becomes a constant temperature, for example, 100 ° C., always higher than the initial temperature, the intersection A and the intersection A The resistance value of each resistor constituting the heat generation control bridge 640 is set so that the potential difference between B becomes zero volts. Therefore, in the flow rate detection circuit 601, the CPU 612 controls the supply current to the heating element 608 so that the potential difference between the intersection A and the intersection B becomes zero volts.

流量検知ブリッジ650は、抵抗652と抵抗654、抵抗656、抵抗658の4つの測温抵抗体で構成されている。これら4つの測温抵抗体は被計測気体30の流れに沿って配置されており、抵抗652と抵抗654は発熱体608に対して被計測気体30の流路における上流側に配置され、抵抗656と抵抗658は発熱体608に対して被計測気体30の流路における下流側に配置されている。また計測精度を上げるために抵抗652と抵抗654は発熱体608までの距離が互いに略同じくなるように配置されており、抵抗656と抵抗658は発熱体608までの距離が互いに略同じくなるように配置されている。   The flow rate detection bridge 650 includes four resistance temperature detectors, a resistor 652, a resistor 654, a resistor 656, and a resistor 658. These four resistance temperature detectors are arranged along the flow of the gas to be measured 30, and the resistor 652 and the resistor 654 are arranged upstream of the heating element 608 in the flow path of the gas to be measured 30, and the resistor 656. And the resistor 658 are arranged on the downstream side in the flow path of the measurement target gas 30 with respect to the heating element 608. In order to increase the measurement accuracy, the resistor 652 and the resistor 654 are arranged so that the distance to the heating element 608 is substantially the same, and the resistor 656 and the resistor 658 are substantially the same distance to the heating element 608. Has been placed.

抵抗652と抵抗656との交点Cと、抵抗654と抵抗658との交点Dとの間の電位差が端子631と端子632を介して入力回路614に入力される。計測精度を高めるために、例えば被計測気体30の流れがゼロの状態で、前記交点Cと交点Dとの間の電位差がゼロとなるように流量検知ブリッジ650の各抵抗が設定されている。従って前記交点Cと交点Dとの間の電位差が、例えばゼロボルトの状態では、CPU612は被計測気体30の流量がゼロとの計測結果に基づき、主通路124の流量がゼロを意味する電気信号を端子662から出力する。   A potential difference between an intersection C of the resistor 652 and the resistor 656 and an intersection D of the resistor 654 and the resistor 658 is input to the input circuit 614 through the terminal 631 and the terminal 632. In order to improve the measurement accuracy, for example, each resistance of the flow rate detection bridge 650 is set so that the potential difference between the intersection C and the intersection D becomes zero when the flow of the measurement target gas 30 is zero. Therefore, when the potential difference between the intersection point C and the intersection point D is, for example, zero volts, the CPU 612 generates an electric signal indicating that the flow rate of the main passage 124 is zero based on the measurement result that the flow rate of the measurement target gas 30 is zero. Output from the terminal 662.

被計測気体30が図8−1の矢印方向に流れている場合、上流側に配置されている抵抗652や抵抗654は、被計測気体30によって冷却され、被計測気体30の下流側に配置されている抵抗656と抵抗658は、発熱体608により暖められた被計測気体30により温められ、これら抵抗656と抵抗658の温度が上昇する。このため、流量検知ブリッジ650の交点Cと交点Dとの間に電位差が発生し、この電位差が端子631と端子632を介して、入力回路614に入力される。CPU612は流量検知ブリッジ650の交点Cと交点Dとの間の電位差に基づいて、メモリ618に記憶されている前記電位差と主通路124の流量との関係を表すデータを検索し、主通路124の流量を求める。このようにして求められた主通路124の流量を表す電気信号が端子662を介して出力される。なお、図8−1に示す端子664および端子662は新たに参照番号を記載しているが、先に説明した図7−1に示す接続端子412に含まれている。   When the gas 30 to be measured flows in the direction of the arrow in FIG. 8A, the resistor 652 and the resistor 654 arranged on the upstream side are cooled by the gas 30 to be measured and arranged downstream of the gas 30 to be measured. The resistor 656 and the resistor 658 are heated by the measurement target gas 30 heated by the heating element 608, and the temperatures of the resistors 656 and 658 are increased. Therefore, a potential difference is generated between the intersection C and the intersection D of the flow rate detection bridge 650, and this potential difference is input to the input circuit 614 via the terminal 631 and the terminal 632. The CPU 612 retrieves data representing the relationship between the potential difference stored in the memory 618 and the flow rate of the main passage 124 based on the potential difference between the intersection C and the intersection D of the flow rate detection bridge 650, and Find the flow rate. An electrical signal representing the flow rate of the main passage 124 obtained in this way is output via the terminal 662. Note that the terminal 664 and the terminal 662 shown in FIG. 8A are newly described with reference numerals, but are included in the connection terminal 412 shown in FIG.

上記メモリ618には、上記交点Cと交点Dとの電位差と主通路124の流量との関係を表すデータが記憶されており、さらに回路基板400の生産後に、気体の実測値に基づいて求められた、ばらつきなどの測定誤差の低減のための補正データが記憶されている。   The memory 618 stores data representing the relationship between the potential difference between the intersection C and the intersection D and the flow rate of the main passage 124, and is obtained based on the actual measured value of gas after the circuit board 400 is produced. In addition, correction data for reducing measurement errors such as variations is stored.

温湿度検出回路701は、温度センサ453と湿度センサ422から検出信号を入力するアンプ・A/D等の入力回路と、出力回路と、補正値や温度と絶対湿度との関係を表すデータを保持するメモリと、一定電圧をそれぞれ必要な回路に供給する電源回路622を備えている。流量検出回路601と温湿度検出回路701から出力された信号は、マイコン415に入力される。マイコン415は、流量計算部、温度計算部、及び絶対湿度計算部を有しており、信号に基づいて被計測気体30の物理量である、流量、温度、絶対湿度を算出し、制御装置200に出力する。   The temperature / humidity detection circuit 701 holds an input circuit such as an amplifier / A / D for inputting detection signals from the temperature sensor 453 and the humidity sensor 422, an output circuit, and data representing a relationship between a correction value, temperature, and absolute humidity. And a power supply circuit 622 for supplying a certain voltage to necessary circuits. Signals output from the flow rate detection circuit 601 and the temperature / humidity detection circuit 701 are input to the microcomputer 415. The microcomputer 415 has a flow rate calculation unit, a temperature calculation unit, and an absolute humidity calculation unit, calculates a flow rate, a temperature, and an absolute humidity, which are physical quantities of the gas 30 to be measured, based on the signal. Output.

物理量検出装置300と制御装置200との間は通信ケーブルで接続されており、SENT、LIN、CANなどの通信規格によりディジタル信号を用いた通信が行われている。本実施例では、マイコン415からLINドライバ420に信号が入力され、LINドライバ420からLIN通信が行われる。物理量検出装置300のLINドライバから制御装置200に出力される情報は、単一または2線の通信ケーブルを用いてディジタル通信で重畳して出力される。   The physical quantity detection device 300 and the control device 200 are connected by a communication cable, and communication using digital signals is performed according to a communication standard such as SENT, LIN, or CAN. In this embodiment, a signal is input from the microcomputer 415 to the LIN driver 420, and LIN communication is performed from the LIN driver 420. Information output from the LIN driver of the physical quantity detection device 300 to the control device 200 is superimposed and output by digital communication using a single or two-wire communication cable.

マイコン415の絶対湿度計算部は、湿度センサ422から出力された相対湿度の情報と温度情報に基づいて絶対湿度を計算し、その絶対湿度を誤差に基づいて補正する処理を行う。絶対湿度計算部により計算された補正後の絶対湿度は、制御装置200の制御部で種々のエンジン運転制御に用いられる。また、制御装置200は、総合誤差の情報を直接種々のエンジン運転制御に用いることもできる。   The absolute humidity calculation unit of the microcomputer 415 calculates the absolute humidity based on the relative humidity information and temperature information output from the humidity sensor 422, and performs a process of correcting the absolute humidity based on the error. The corrected absolute humidity calculated by the absolute humidity calculation unit is used by the control unit of the control device 200 for various engine operation controls. Further, the control device 200 can directly use the information on the total error for various engine operation controls.

なお、上述の図8−1に示す実施例では、物理量検出装置300がLINドライバ420を有しており、LIN通信を行う場合について説明したが、これに限定されるものではなく、図8−2に示すように、LIN通信を用いずに、マイコン415と直接通信を行ってもよい。   In the above-described embodiment illustrated in FIG. 8A, the case where the physical quantity detection device 300 includes the LIN driver 420 and performs LIN communication has been described. However, the present invention is not limited to this, and FIG. As shown in FIG. 2, communication may be performed directly with the microcomputer 415 without using LIN communication.

6.回路基板400の構造
[実施例1]
図9は、実施例1におけるハウジングと回路基板の構成を説明する図、図10は、実施例1におけるハウジングと回路基板の断面図である。図9では、ハウジング302のセンサ室Rsを図示しており、図10では、回路基板をハウジング302内にインサート成形する際の金型901も図示している。
6). Structure of Circuit Board 400 [Example 1]
FIG. 9 is a diagram illustrating the configuration of the housing and the circuit board in the first embodiment, and FIG. 10 is a cross-sectional view of the housing and the circuit board in the first embodiment. 9 illustrates the sensor chamber Rs of the housing 302, and FIG. 10 also illustrates a mold 901 when the circuit board is insert-molded into the housing 302.

回路基板400は、インサート成形によりハウジング302に内蔵され、ハウジング302内に樹脂モールドされて固定されている。回路基板400は、ハウジング302に固定される固定部434と、ハウジング302を成形するための金型901が押し当てられる押当部と、回路導体が配置される導体配置部と、固定部及び押当部の少なくとも一方と導体配置部との間に形成される境界部と、を有している。   The circuit board 400 is built in the housing 302 by insert molding, and is resin-molded and fixed in the housing 302. The circuit board 400 includes a fixing portion 434 fixed to the housing 302, a pressing portion to which a mold 901 for forming the housing 302 is pressed, a conductor arrangement portion in which a circuit conductor is arranged, a fixing portion and a pressing portion. A boundary portion formed between at least one of the portions and the conductor placement portion.

本実施例では、固定部434は、基板本体401のベース部402の外周縁部に沿って設けられている。押当部は、ハウジング302のセンサ室Rs内に露出した位置でハウジング302の固定部373及び仕切壁335に沿うように設定されている。導体配置部は、ベース部402よりも一回り小さな矩形状を有しており、ベース部402の中央に配置されて押当部によって周囲を囲まれている。導体配置部には、回路導体の配線パターンが配置されている。境界部は、回路導体の配線パターン全体を外側から囲む四角枠を形成するようにベース部402の輪郭に沿って一定幅で連続して配置されている。   In the present embodiment, the fixing portion 434 is provided along the outer peripheral edge portion of the base portion 402 of the substrate body 401. The pressing portion is set along the fixed portion 373 and the partition wall 335 of the housing 302 at a position exposed in the sensor chamber Rs of the housing 302. The conductor arrangement portion has a rectangular shape that is slightly smaller than the base portion 402, and is disposed in the center of the base portion 402 and surrounded by the pressing portion. A circuit conductor wiring pattern is arranged in the conductor arrangement portion. The boundary portion is continuously arranged with a constant width along the outline of the base portion 402 so as to form a square frame surrounding the entire circuit conductor wiring pattern from the outside.

回路基板400は、基板本体401の外表面である表面と裏面に、絶縁膜800が設けられている。絶縁膜800は、基板本体401の裏面において、固定部432、434に配置された第1の領域801と、押当部に配置された第2の領域802と、導体配置部に配置された第3の領域803と、境界部に配置された第4の領域804と、を有している。そして、絶縁膜800は、第1の領域801及び第2の領域802と、第4の領域804との間で、膜厚が異なっている。   The circuit board 400 is provided with an insulating film 800 on the front surface and the back surface, which are the outer surfaces of the substrate body 401. The insulating film 800 includes, on the back surface of the substrate body 401, a first region 801 disposed in the fixing portions 432 and 434, a second region 802 disposed in the pressing portion, and a first region disposed in the conductor placement portion. 3 region 803 and a fourth region 804 arranged at the boundary. The insulating film 800 has a different film thickness between the first region 801 and the second region 802 and the fourth region 804.

本実施例では、回路基板400の境界部の形状に一致するように第4の領域804が配置されている。そして、第4の領域804に一致するように絶縁膜800に凹溝811が形成されており、第4の領域804の膜厚が第1の領域801と第2の領域802と第3の領域803の各膜厚よりも薄くなっている。例えば、第4の領域804の膜厚は、第1の領域801と第2の領域802と第3の領域803の各膜厚の3分の2以下が好ましく、2分の1以下がより好ましい。   In the present embodiment, the fourth region 804 is arranged so as to match the shape of the boundary portion of the circuit board 400. A concave groove 811 is formed in the insulating film 800 so as to coincide with the fourth region 804, and the film thickness of the fourth region 804 is the first region 801, the second region 802, and the third region. It is thinner than each film thickness of 803. For example, the thickness of the fourth region 804 is preferably less than or equal to two-thirds of the thickness of each of the first region 801, the second region 802, and the third region 803, and more preferably less than or equal to one-half. .

凹溝811は、マスキングやレーザ等の公知の方法を用いて形成することができる。例えば、マスキングの場合は、基板本体401の外表面全面に一定の膜厚となるように絶縁塗料を塗布して下層を形成し、乾燥後に、第4の領域804をマスキングして、下層の上に絶縁塗料を塗布して上層を形成し、マスキングを取り除くことにより、凹溝811を形成することができる。また、レーザの場合は、基板本体401の外表面全面に一定の膜厚となるように絶縁塗料を塗布して絶縁膜800を形成し、絶縁膜800の第4の領域804の形成部分にレーザを照射して削ることにより、凹溝811を形成することができる。   The concave groove 811 can be formed using a known method such as masking or laser. For example, in the case of masking, an insulating paint is applied to the entire outer surface of the substrate body 401 to form a lower layer to form a lower layer, and after drying, the fourth region 804 is masked to form an upper layer. A concave groove 811 can be formed by applying an insulating coating material to form an upper layer and removing masking. In the case of a laser, an insulating paint is applied to the entire outer surface of the substrate body 401 so as to have a constant film thickness to form an insulating film 800, and a laser is applied to a portion where the fourth region 804 of the insulating film 800 is formed. The groove 811 can be formed by irradiating and cutting.

ハウジング302内に樹脂モールドで回路基板400を固定するためには、図10に示すように、回路基板400の絶縁膜800に、ハウジング302を成形する金型901を接触させるか、樹脂漏れしない様な隙間に管理する必要がある。インサートされる回路基板400の厚さばらつきや、金型901へのセッティングばらつきによっては、金型901の押し込み量が大きくなる可能性があり、回路基板400に大きな応力が加わってしまうおそれがある。この場合、絶縁膜800の金型接触部分である第2の領域802にクラックを発生させ、そのクラックが回路導体を保護する部分である第3の領域803にまで到達する可能性がある。   In order to fix the circuit board 400 in the housing 302 with a resin mold, as shown in FIG. 10, a mold 901 for molding the housing 302 is brought into contact with the insulating film 800 of the circuit board 400, or no resin leaks. It is necessary to manage the gap. Depending on the thickness variation of the inserted circuit board 400 and the setting variation on the mold 901, the amount of pressing of the mold 901 may increase, and there is a possibility that a large stress is applied to the circuit board 400. In this case, a crack may be generated in the second region 802 that is the mold contact portion of the insulating film 800, and the crack may reach the third region 803 that is a portion that protects the circuit conductor.

また、ハウジング302は、モールド樹脂であるため、成形後の冷却によって反りやひけが発生する。モールド樹脂の反りやひけによって固定部372、373から回路基板400に応力が掛かってしまうと、絶縁膜800の第1の領域801あるいは第2の領域802に発生したクラックが進展して、第3の領域803にまで到達する可能性がある。絶縁膜800のクラックが回路導体保護部分である第3の領域803にまで到達すると、回路導体の腐食リスクが高くなる。   Moreover, since the housing 302 is a mold resin, warpage and sink marks are generated by cooling after molding. When stress is applied to the circuit board 400 from the fixing portions 372 and 373 due to warping or sinking of the mold resin, cracks generated in the first region 801 or the second region 802 of the insulating film 800 develop, and the third It is possible to reach the region 803 of When the crack of the insulating film 800 reaches the third region 803 that is the circuit conductor protection portion, the risk of corrosion of the circuit conductor increases.

これに対して、本実施例では、第1の領域801及び第2の領域802と第3の領域803との間の第4の領域804に、第1の領域801及び第2の領域802よりも膜厚が薄い部分となる凹溝811を設けている。ひび割れ(クラック)は、ひび割れの進行により膜厚が一定の部分から膜厚が変化する部分に到達すると、かかる位置でひび割れの進行が停止する。したがって、第1の領域801若しくは第2の領域802で発生したひび割れ等の損傷を、第4の領域804の凹溝811で堰き止めて、第3の領域803まで損傷が伝搬することを防止することができる。したがって、回路基板400の回路導体の腐食リスクを低減でき、製品としての信頼性を向上することができる。   On the other hand, in this embodiment, the first region 801 and the fourth region 804 between the second region 802 and the third region 803 are compared to the first region 801 and the second region 802. In addition, a concave groove 811 is provided which is a portion having a thin film thickness. When a crack reaches a part where the film thickness changes from a part where the film thickness changes due to the progress of the crack, the progress of the crack stops at this position. Therefore, damage such as cracks generated in the first region 801 or the second region 802 is blocked by the concave groove 811 in the fourth region 804 to prevent the damage from propagating to the third region 803. be able to. Therefore, the corrosion risk of the circuit conductor of the circuit board 400 can be reduced, and the reliability as a product can be improved.

なお、本実施例では、第4の領域804の凹溝811が、第1の領域801及び第2の領域802と第3の領域803との間に配置された構成の場合を例に説明したが、第1の領域801及び第2の領域802の両方に限定されるものではない。例えば、第1の領域801及び第2の領域802の少なくとも一方と第3の領域803との間に配置された構成を有していてもよく、同様の作用効果、すなわち、第1の領域801若しくは第2の領域802で発生したひび割れ(クラック)等の損傷を、第4の領域804の凹溝811で堰き止めて、第3の領域803まで損傷が伝搬することを防止することができるという作用効果を有する。   In this embodiment, the case where the groove 811 of the fourth region 804 is arranged between the first region 801 and the second region 802 and the third region 803 has been described as an example. However, the present invention is not limited to both the first region 801 and the second region 802. For example, the first region 801 and the second region 802 may be arranged between at least one of the first region 801 and the second region 802, and the third region 803. Alternatively, damage such as cracks generated in the second region 802 can be blocked by the concave groove 811 in the fourth region 804, thereby preventing damage from propagating to the third region 803. Has a working effect.

[実施例2]
図11は、実施例2におけるハウジングと回路基板の断面図である。
本実施例において特徴的なことは、絶縁膜800の第4の領域804にスリット812を設けたことである。スリット812は、第4の領域804に一致するように設けられている。スリット812は、絶縁膜800の膜厚が0であり、基板本体401の外表面が露出している。基板本体401の表面においてスリット812が設けられる箇所には、回路導体は配置されていない。スリット812は、例えば第4の領域804とされる箇所をマスキングしてから基板本体401の外表面全面に絶縁塗料を塗布し、塗布後にマスキングを取り除くことによって形成することができる。また、基板本体401に絶縁塗料を塗布して第4の領域804をマスキングし、露光して硬化させた後、現像液で未硬化部分を洗い流す方法や、スクリーンプリントによりスリット812を形成してもよい。
[Example 2]
FIG. 11 is a cross-sectional view of the housing and the circuit board in the second embodiment.
A characteristic feature of this embodiment is that a slit 812 is provided in the fourth region 804 of the insulating film 800. The slit 812 is provided so as to coincide with the fourth region 804. In the slit 812, the thickness of the insulating film 800 is 0, and the outer surface of the substrate body 401 is exposed. A circuit conductor is not disposed at a position where the slit 812 is provided on the surface of the substrate body 401. The slit 812 can be formed, for example, by masking a portion to be the fourth region 804, applying an insulating paint to the entire outer surface of the substrate body 401, and removing the masking after the application. Further, after applying the insulating paint to the substrate body 401 to mask the fourth region 804 and exposing and curing it, the slit 812 may be formed by washing away the uncured portion with a developing solution or by screen printing. Good.

本実施例では、絶縁膜800の第4の領域804に、膜厚が0のスリット812が設けられているので、例えば金型901の押し当てやハウジング302の熱収縮等による歪みにより、第1の領域801や第2の領域802にひび割れが生じた場合に、第4の領域804のスリット812でひび割れの進行を堰き止めることができ、第3の領域803までひび割れが進行するのを防ぐことができる。したがって、ひび割れ部分から水やオイル等が侵入して回路基板400の回路導体が腐食するのを効果的に防ぐことができる。   In the present embodiment, since the slit 812 having a film thickness of 0 is provided in the fourth region 804 of the insulating film 800, the first region is caused by, for example, pressing of the mold 901 or distortion due to thermal contraction of the housing 302. When a crack occurs in the region 801 or the second region 802, the progress of the crack can be blocked by the slit 812 in the fourth region 804, and the crack can be prevented from progressing to the third region 803. Can do. Therefore, it is possible to effectively prevent the circuit conductor of the circuit board 400 from being corroded by water or oil entering from the cracked portion.

[実施例3]
図12は、実施例3におけるハウジングと回路基板の断面図である。
本実施例は、回路基板400の裏面において境界部の形状に一致するように導体425が設けられている。そして、導体425の上も含む基板本体401の裏面全体が略平坦になるように絶縁膜800が形成された構成を有している。したがって、導体425の上に絶縁膜800の第4の領域804が設けられている。
[Example 3]
FIG. 12 is a cross-sectional view of the housing and the circuit board in the third embodiment.
In this embodiment, the conductor 425 is provided so as to match the shape of the boundary portion on the back surface of the circuit board 400. The insulating film 800 is formed so that the entire back surface of the substrate body 401 including the conductor 425 is substantially flat. Therefore, the fourth region 804 of the insulating film 800 is provided over the conductor 425.

導体425は、回路導体の配線パターン全体を外側から囲むように設けられており、回路基板400の回路導体に電気的に接続されておらず、回路を構成していない。基板本体401の外表面に絶縁膜800を形成した際に、絶縁膜800の第4の領域804では、導体425の厚さの分だけ、第1の領域801と第2の領域802と第3の領域803のいずれよりも絶縁膜800の膜厚が薄くなる。したがって、絶縁膜800は、第4の領域804において膜厚が薄い薄膜部分が形成されている。   The conductor 425 is provided so as to surround the entire wiring pattern of the circuit conductor from the outside, and is not electrically connected to the circuit conductor of the circuit board 400 and does not constitute a circuit. When the insulating film 800 is formed on the outer surface of the substrate body 401, the fourth region 804 of the insulating film 800 has the first region 801, the second region 802, and the third region corresponding to the thickness of the conductor 425. The thickness of the insulating film 800 is smaller than that of any of the regions 803. Therefore, the insulating film 800 is formed with a thin film portion having a small thickness in the fourth region 804.

したがって、金型901の押し当てやハウジング302の熱収縮に応じた歪み等により第1の領域801若しくは第2の領域802にひび割れが生じた場合に、第4の領域804の薄膜部分でひび割れを堰き止めることができ、第3の領域803までひび割れが進行するのを防ぐことができる。したがって、ひび割れ部分から水やオイル等が侵入して回路基板400の回路導体が腐食するのを効果的に防ぎ、製品としての信頼性を向上することができる。導体425は、回路を形成していないので、導体425近傍の絶縁膜800にひび割れが発生して導体425が腐食したとしても、製品としての信頼性に影響は無い。また、本実施例によれば、導体425は、回路基板40の回路導体と同時に形成することができ、容易に製造することができる。   Therefore, when a crack occurs in the first region 801 or the second region 802 due to the pressing of the mold 901 or the distortion corresponding to the heat shrinkage of the housing 302, the crack is generated in the thin film portion of the fourth region 804. The dam can be stopped and cracks can be prevented from progressing to the third region 803. Therefore, it is possible to effectively prevent water, oil, and the like from entering from the cracked portion and corrode the circuit conductor of the circuit board 400, thereby improving the reliability of the product. Since the conductor 425 does not form a circuit, even if a crack occurs in the insulating film 800 near the conductor 425 and the conductor 425 is corroded, the reliability as a product is not affected. Further, according to the present embodiment, the conductor 425 can be formed simultaneously with the circuit conductor of the circuit board 40, and can be easily manufactured.

[実施例4]
図13は、実施例4におけるハウジングと回路基板の断面図である。
本実施例は、基板本体401にその境界部に沿って凹溝404が設けられた構成を有している。凹溝404は、例えば公知のレーザ加工により回路基板400の裏面を部分的に削ることにより形成できる。基板本体401の外表面に絶縁膜800を形成した場合に、第4の領域804では、回路基板400の凹溝404の深さの分だけ、絶縁膜800の膜厚が厚くなる。したがって、絶縁膜800は、第4の領域804において第1の領域801と第2の領域802と第3の領域803のいずれよりも膜厚が厚い厚膜部分が形成されている。
[Example 4]
FIG. 13 is a cross-sectional view of the housing and the circuit board in the fourth embodiment.
In this embodiment, the substrate body 401 has a configuration in which a concave groove 404 is provided along the boundary portion. The concave groove 404 can be formed, for example, by partially shaving the back surface of the circuit board 400 by known laser processing. When the insulating film 800 is formed on the outer surface of the substrate body 401, the thickness of the insulating film 800 is increased in the fourth region 804 by the depth of the concave groove 404 of the circuit board 400. Therefore, the insulating film 800 is formed with a thick film portion in the fourth region 804 that is thicker than any of the first region 801, the second region 802, and the third region 803.

したがって、金型901の押し当てやハウジング302の熱収縮に応じた歪み等により第1の領域801若しくは第2の領域802にひび割れが生じた場合に、第4の領域804の厚膜部分に沿ってひび割れを延伸させて、ひび割れを堰き止めることができ、第3の領域803までひび割れが進行するのを防ぐことができる。したがって、ひび割れ部分から水やオイル等が侵入して回路基板400の回路導体が腐食するのを効果的に防ぎ、製品としての信頼性を向上することができる。   Therefore, when a crack occurs in the first region 801 or the second region 802 due to the pressing of the mold 901 or the distortion corresponding to the thermal contraction of the housing 302, the thick region of the fourth region 804 is aligned. Thus, the crack can be stretched to block the crack, and the crack can be prevented from progressing to the third region 803. Therefore, it is possible to effectively prevent water, oil, and the like from entering from the cracked portion and corrode the circuit conductor of the circuit board 400, thereby improving the reliability of the product.

[実施例5]
図14は、実施例5におけるハウジングと回路基板400の構成を説明する図である。
本実施例では、絶縁膜800の第4の領域804が一部途切れた構成を有している。上述の実施例1では、第4の領域804は、回路基板400の境界部の形状に一致するように、ベース部402の輪郭に沿って一定幅で連続して四角枠を形成するように配置されており、その第4の領域804の形状に一致するように凹溝811が形成されている。
[Example 5]
FIG. 14 is a diagram illustrating the configuration of the housing and the circuit board 400 according to the fifth embodiment.
In this embodiment, the fourth region 804 of the insulating film 800 is partially cut off. In the first embodiment, the fourth region 804 is arranged so as to continuously form a square frame with a constant width along the outline of the base portion 402 so as to match the shape of the boundary portion of the circuit board 400. A concave groove 811 is formed so as to match the shape of the fourth region 804.

これに対し、本実施例では、絶縁膜800は、第4の領域804が一部途切れている箇所に第5の領域805を有している。第5の領域805には、凹溝811は形成されておらず、第1の領域801と第2の領域802と第3の領域803と同じ膜厚で面一に連続している。凹溝811は、実施例1のようにベース部402の輪郭に沿って全周に亘って設ける必要はなく、絶縁膜800においてひび割れの進行を防ぐ必要がある箇所のみに設けられていればよい。したがって、例えば回路導体が近傍に存在しない箇所については、第5の領域805として、凹溝811を形成しない構成としてもよい。   On the other hand, in this embodiment, the insulating film 800 has a fifth region 805 at a location where the fourth region 804 is partially interrupted. The fifth region 805 is not formed with the concave groove 811, and is continuous and flush with the first region 801, the second region 802, and the third region 803. The concave groove 811 does not need to be provided over the entire circumference along the outline of the base portion 402 as in the first embodiment, and may be provided only in a portion of the insulating film 800 where it is necessary to prevent the progress of cracks. . Therefore, for example, a portion where the circuit conductor is not present in the vicinity may be configured as the fifth region 805 in which the concave groove 811 is not formed.

以上、本発明の実施形態について詳述したが、本発明は、前記の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の精神を逸脱しない範囲で、種々の設計変更を行うことができるものである。例えば、前記した実施の形態は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施形態の構成の一部を他の実施形態の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施形態の構成に他の実施形態の構成を加えることも可能である。さらに、各実施形態の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。   Although the embodiments of the present invention have been described in detail above, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various designs can be made without departing from the spirit of the present invention described in the claims. It can be changed. For example, the above-described embodiment has been described in detail for easy understanding of the present invention, and is not necessarily limited to one having all the configurations described. Further, a part of the configuration of an embodiment can be replaced with the configuration of another embodiment, and the configuration of another embodiment can be added to the configuration of an embodiment. Furthermore, it is possible to add, delete, and replace other configurations for a part of the configuration of each embodiment.

30 被計測気体
124 主通路
300 物理量検出装置
302 ハウジング
400 回路基板
401 基板本体
404 凹溝
425 導体
434 固定部
800 絶縁膜
801 第1の領域
802 第2の領域
803 第3の領域
804 第4の領域
805 第5の領域
811 凹溝
812 スリット
901 金型
30 Measurement target gas 124 Main passage 300 Physical quantity detection device 302 Housing 400 Circuit board 401 Substrate body 404 Concave groove 425 Conductor 434 Fixing portion 800 Insulating film 801 First region 802 Second region 803 Third region 804 Fourth region 805 Fifth region 811 Concave groove 812 Slit 901 Mold

Claims (9)

基板本体の外表面に絶縁膜が形成された回路基板と、該回路基板がインサート成形されたハウジングとを有する物理量検出装置であって、
前記回路基板は、前記ハウジングに固定される固定部と、前記ハウジングを成形するための金型が押し当てられる押当部と、回路導体が配置される導体配置部と、前記固定部及び前記押当部の少なくとも一方と前記導体配置部との間に形成される境界部と、を有し、
前記絶縁膜は、前記固定部に配置された第1の領域と、前記押当部に配置された第2の領域と、前記導体配置部に配置された第3の領域と、前記境界部に配置された第4の領域と、を有し、前記第1の領域及び前記第2の領域と前記第4の領域との間で膜厚が異なることを特徴とする物理量検出装置。
A physical quantity detection device having a circuit board in which an insulating film is formed on the outer surface of a board body, and a housing in which the circuit board is insert-molded,
The circuit board includes a fixing part fixed to the housing, a pressing part against which a mold for molding the housing is pressed, a conductor arranging part in which a circuit conductor is arranged, the fixing part and the pressing part. A boundary portion formed between at least one of the portions and the conductor arrangement portion,
The insulating film includes a first region disposed in the fixing portion, a second region disposed in the pressing portion, a third region disposed in the conductor placement portion, and the boundary portion. A physical quantity detection device comprising: a fourth region, wherein the first region, the second region, and the fourth region have different film thicknesses.
前記絶縁膜は、前記第1の領域及び前記第2の領域の各膜厚よりも前記第4の領域の膜厚が薄いことを特徴とする請求項1に記載の物理量検出装置。   2. The physical quantity detection device according to claim 1, wherein the insulating film has a thickness of the fourth region that is smaller than a thickness of each of the first region and the second region. 前記絶縁膜は、前記第4の領域に凹溝が設けられていることを特徴とする請求項2に記載の物理量検出装置。   The physical quantity detection device according to claim 2, wherein the insulating film is provided with a concave groove in the fourth region. 前記回路基板は、前記境界部に導体が設けられており、該導体の上に前記第4の領域が形成されていることを特徴とする請求項2に記載の物理量検出装置。   The physical quantity detection device according to claim 2, wherein a conductor is provided at the boundary portion of the circuit board, and the fourth region is formed on the conductor. 前記導体は、前記回路導体の配線パターン全体を外側から囲む位置に配置されていることを特徴とする請求項4に記載の物理量検出装置。   The physical quantity detection device according to claim 4, wherein the conductor is disposed at a position surrounding the entire wiring pattern of the circuit conductor from the outside. 前記絶縁膜は、前記第4の領域に前記基板本体の外表面を露出させるスリットが設けられていることを特徴とする請求項1に記載の物理量検出装置。   The physical quantity detection device according to claim 1, wherein the insulating film is provided with a slit that exposes an outer surface of the substrate body in the fourth region. 前記絶縁膜は、前記第1の領域及び前記第2の領域の各膜厚よりも前記第4の領域の膜厚が厚いことを特徴とする請求項1に記載の物理量検出装置。   2. The physical quantity detection device according to claim 1, wherein the insulating film has a thickness of the fourth region that is greater than a thickness of each of the first region and the second region. 前記回路基板は、前記境界部に凹溝が設けられていることを特徴とする請求項7に記載の物理量検出装置。   The physical quantity detection device according to claim 7, wherein the circuit board is provided with a concave groove in the boundary portion. 前記ハウジングは、熱可塑性樹脂製の材料により構成され、前記基板本体は、ガラスエポキシ樹脂製の材料により構成されていることを特徴とする請求項1から請求項8のいずれか一項に記載の物理量検出装置。


The said housing is comprised by the material made from a thermoplastic resin, and the said board | substrate main body is comprised by the material made from a glass epoxy resin, The Claim 1 characterized by the above-mentioned. Physical quantity detection device.


JP2016033121A 2016-02-24 2016-02-24 Physical quantity detection device Active JP6453790B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016033121A JP6453790B2 (en) 2016-02-24 2016-02-24 Physical quantity detection device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016033121A JP6453790B2 (en) 2016-02-24 2016-02-24 Physical quantity detection device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017150929A JP2017150929A (en) 2017-08-31
JP6453790B2 true JP6453790B2 (en) 2019-01-16

Family

ID=59740602

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016033121A Active JP6453790B2 (en) 2016-02-24 2016-02-24 Physical quantity detection device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6453790B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6838227B2 (en) 2018-03-09 2021-03-03 日立Astemo株式会社 Physical quantity measuring device

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003218279A (en) * 2002-01-23 2003-07-31 Shinko Electric Ind Co Ltd Circuit board and method for manufacturing the same
DE102005016449A1 (en) * 2005-04-11 2006-10-12 Robert Bosch Gmbh Heated hot film air mass meter
JP2008053412A (en) * 2006-08-24 2008-03-06 Sharp Corp Semiconductor device, its manufacturing method, and portable electronic device
JP5446107B2 (en) * 2008-03-17 2014-03-19 三菱電機株式会社 Element wafer and method for manufacturing element wafer
US10031006B2 (en) * 2014-07-30 2018-07-24 Hitachi Automotive Systems, Ltd. Sensor including a printed circuit board with semiconductor parts having a first and second resin
JP6352423B2 (en) * 2014-07-30 2018-07-04 日立オートモティブシステムズ株式会社 Physical quantity detection device

Also Published As

Publication number Publication date
JP2017150929A (en) 2017-08-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6352423B2 (en) Physical quantity detection device
JP6154966B2 (en) Physical quantity detection device
JP6325107B2 (en) Physical quantity detection device
JP6184915B2 (en) Physical quantity detection device
JP6568593B2 (en) Physical quantity detection device
JP6720200B2 (en) Physical quantity detection device
JP6181900B2 (en) Air flow detector
JPWO2018037716A1 (en) Physical quantity detection device
JP6932640B2 (en) Physical quantity detector
WO2018100854A1 (en) Air flow rate measurement device
JP2016194465A (en) Physical quantity detector
JP6546665B2 (en) Physical quantity detection device
JP6395950B2 (en) Physical quantity detection device
JP6453790B2 (en) Physical quantity detection device
JP6434893B2 (en) Physical quantity detection device
JP6474342B2 (en) Physical quantity detection device
JP6421092B2 (en) Physical quantity detection device
JP2017015420A (en) Physical quantity detection device
JP2019138917A (en) Physical quantity detection element

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180123

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20181018

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20181204

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20181213

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6453790

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250