JP2017150929A - Physical quantity detector - Google Patents
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- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 51
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims abstract description 18
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 143
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 35
- 238000000465 moulding Methods 0.000 claims description 34
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 9
- 229920005992 thermoplastic resin Polymers 0.000 claims description 5
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 claims description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 3
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 claims description 3
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 abstract description 8
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 abstract description 8
- 238000003780 insertion Methods 0.000 abstract description 3
- 230000037431 insertion Effects 0.000 abstract description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 117
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 90
- 239000010408 film Substances 0.000 description 44
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 28
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 28
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 25
- 238000002485 combustion reaction Methods 0.000 description 23
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 21
- 238000000034 method Methods 0.000 description 21
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 20
- 239000000446 fuel Substances 0.000 description 18
- 230000008569 process Effects 0.000 description 17
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 10
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 10
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 6
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 6
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 6
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 5
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 5
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 5
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 5
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 5
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 5
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 4
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 3
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 230000002250 progressing effect Effects 0.000 description 3
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 3
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 2
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 2
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 2
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 2
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000011049 filling Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 230000010349 pulsation Effects 0.000 description 1
- 238000000746 purification Methods 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
- 230000003245 working effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
Description
本発明は、内燃機関の吸入空気の物理量検出装置に関する。 The present invention relates to a physical quantity detection device for intake air of an internal combustion engine.
従来の熱式流量計は、計測部を有する回路基板をハウジングに接着剤で接着した構造を有していた。また、特許文献1には、第1樹脂モールド工程で流量計測回路を内蔵した回路パッケージを成形し、第2樹脂モールド工程でハウジングを成形する際に回路パッケージを包含することにより、ハウジングに回路パッケージを保持固定した熱式流量計の構造が示されている。 A conventional thermal flow meter has a structure in which a circuit board having a measurement unit is bonded to a housing with an adhesive. Further, Patent Document 1 discloses that a circuit package including a flow rate measurement circuit is formed in the first resin molding process, and the circuit package is included when forming the housing in the second resin molding process. The structure of a thermal flow meter holding and fixing is shown.
例えば、第2樹脂モールド工程で回路パッケージの代わりに回路基板を用いる場合、成形金型内で回路基板を挟み込んで保持した状態でハウジングの成形が行われる。したがって、回路基板の寸法ばらつきや金型へのセッティングばらつきにより、金型の押し込み量が大きくなる可能性があり、回路基板に大きな応力が加わってしまうおそれがある。したがって、回路基板の回路導体を保護するために回路基板に設けられている絶縁保護膜が損傷して、損傷部分から水やオイル等が侵入して回路導体が腐食するおそれがある。 For example, when a circuit board is used instead of a circuit package in the second resin molding step, the housing is molded in a state where the circuit board is sandwiched and held in a molding die. Therefore, there is a possibility that the amount of pressing of the mold may be increased due to variation in the dimensions of the circuit board or setting in the mold, and there is a possibility that a large stress is applied to the circuit board. Therefore, the insulating protective film provided on the circuit board for protecting the circuit conductor of the circuit board may be damaged, and water or oil may enter from the damaged portion to corrode the circuit conductor.
本発明は、上記の点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、絶縁膜の損傷に起因した回路基板の回路導体の腐食を低減した物理量検出装置を提供することである。 The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to provide a physical quantity detection device in which corrosion of a circuit conductor of a circuit board due to damage to an insulating film is reduced.
上記課題を解決するために、本発明の物理量検出装置は、基板本体の外表面に絶縁膜が形成された回路基板と、該回路基板がインサート成形されたハウジングとを有する物理量検出装置であって、前記回路基板は、前記ハウジングに固定される固定部と、前記ハウジングを成形するための金型が押し当てられる押当部と、回路導体が配置される導体配置部と、前記固定部及び前記押当部の少なくとも一方と前記導体配置部との間に形成される境界部と、を有し、前記絶縁膜は、前記固定部に配置された第1の領域と、前記押当部に配置された第2の領域と、前記導体配置部に配置された第3の領域と、前記境界部に配置された第4の領域と、を有し、前記第1の領域及び前記第2の領域と前記第4の領域との間で膜厚が異なることを特徴とする。 In order to solve the above problems, a physical quantity detection device of the present invention is a physical quantity detection device having a circuit board having an insulating film formed on the outer surface of a board body and a housing in which the circuit board is insert-molded. The circuit board includes a fixed portion fixed to the housing, a pressing portion to which a mold for molding the housing is pressed, a conductor arrangement portion where a circuit conductor is disposed, the fixed portion, and the A boundary portion formed between at least one of the pressing portions and the conductor placement portion, and the insulating film is disposed in the pressing portion and a first region disposed in the fixing portion. The second region, the third region disposed in the conductor placement portion, and the fourth region disposed in the boundary portion, and the first region and the second region. And the fourth region are different in film thickness .
本発明によれば、絶縁膜の損傷に起因した回路基板の回路導体の腐食を低減できる。本発明に関連する更なる特徴は、本明細書の記述、添付図面から明らかになるものである。また、上記した以外の、課題、構成及び効果は、以下の実施形態の説明により明らかにされる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, corrosion of the circuit conductor of a circuit board resulting from the damage of an insulating film can be reduced. Further features related to the present invention will become apparent from the description of the present specification and the accompanying drawings. Further, problems, configurations, and effects other than those described above will be clarified by the following description of embodiments.
以下に説明する、発明を実施するための形態(以下、実施例)は、実際の製品として要望されている種々の課題を解決しており、特に車両の吸入空気の物理量を検出する検出装置として使用するために望ましい色々な課題を解決し、種々の効果を奏している。下記実施例が解決している色々な課題の内の一つが、上述した発明が解決しようとする課題の欄に記載した内容であり、また下記実施例が奏する種々の効果のうちの1つが、発明の効果の欄に記載された効果である。下記実施例が解決している色々な課題について、さらに下記実施例により奏される種々の効果について、下記実施例の説明の中で述べる。従って、下記実施例の中で述べる、実施例が解決している課題や効果は、発明が解決しようとする課題の欄や発明の効果の欄の内容以外の内容についても記載されている。 The modes for carrying out the invention (hereinafter referred to as examples) described below solve various problems demanded as actual products, and particularly as a detection device for detecting the physical quantity of intake air of a vehicle. Various problems desirable for use are solved, and various effects are achieved. One of the various problems solved by the following embodiment is the contents described in the section of the problem to be solved by the invention described above, and one of the various effects exhibited by the following embodiment is as follows. It is the effect described in the column of the effect of the invention. Various problems solved by the following embodiments will be described in the description of the following embodiments with respect to various effects exhibited by the following embodiments. Therefore, the problems and effects solved by the embodiments described in the following embodiments are also described in the contents other than the contents of the problem column to be solved by the invention and the effects of the invention column.
以下の実施例で、同一の参照符号は、図番が異なっていても同一の構成を示しており、同じ作用効果を成す。既に説明済みの構成について、図に参照符号のみを付し、説明を省略する場合がある。 In the following embodiments, the same reference numerals indicate the same configuration even when the figure numbers are different, and the same effects are achieved. For configurations that have already been described, only the reference numerals are attached to the drawings, and the description may be omitted.
1. 内燃機関制御システムに本発明に係る物理量検出装置を使用した一実施例
図1は、電子燃料噴射方式の内燃機関制御システムに、本発明に係る物理量検出装置を使用した一実施例を示す、システム図である。エンジンシリンダ112とエンジンピストン114を備える内燃機関110の動作に基づき、吸入空気が被計測気体30としてエアクリーナ122から吸入され、主通路124である例えば吸気ボディ、スロットルボディ126、吸気マニホールド128を介してエンジンシリンダ112の燃焼室に導かれる。燃焼室に導かれる吸入空気である被計測気体30の物理量は、本発明に係る物理量検出装置300で検出され、その検出された物理量に基づいて燃料噴射弁152より燃料が供給され、吸入空気と共に混合気の状態で燃焼室に導かれる。なお、本実施例では、燃料噴射弁152は内燃機関の吸気ポートに設けられ、吸気ポートに噴射された燃料が吸入空気である被計測気体30と共に混合気を成形し、吸気弁116を介して燃焼室に導かれ、燃焼して機械エネルギを発生する。
1. An Example Using a Physical Quantity Detection Device According to the Present Invention for an Internal Combustion Engine Control System FIG. 1 shows an embodiment using a physical quantity detection device according to the present invention for an electronic fuel injection type internal combustion engine control system. It is a system diagram. Based on the operation of the
燃焼室に導かれた燃料および空気は、燃料と空気の混合状態を成しており、点火プラグ154の火花着火により、爆発的に燃焼し、機械エネルギを発生する。燃焼後の気体は排気弁118から排気管に導かれ、排気ガス24として排気管から車外に排出される。前記燃焼室に導かれる吸入空気である被計測気体30の流量は、アクセルペダルの操作に基づいてその開度が変化するスロットルバルブ132により制御される。前記燃焼室に導かれる吸入空気の流量に基づいて燃料供給量が制御され、運転者はスロットルバルブ132の開度を制御して前記燃焼室に導かれる吸入空気の流量を制御することにより、内燃機関が発生する機械エネルギを制御することができる。
The fuel and air guided to the combustion chamber are in a mixed state of fuel and air, and are burned explosively by spark ignition of the
1.1 内燃機関制御システムの制御の概要
エアクリーナ122から取り込まれ主通路124を流れる吸入空気である被計測気体30の流量、温度、湿度、圧力などの物理量が物理量検出装置300により検出され、物理量検出装置300から吸入空気の物理量を表す電気信号が制御装置200に入力される。また、スロットルバルブ132の開度を計測するスロットル角度センサ144の出力が制御装置200に入力され、さらに内燃機関のエンジンピストン114や吸気弁116や排気弁118の位置や状態、さらに内燃機関の回転速度を計測するために、回転角度センサ146の出力が、制御装置200に入力される。排気ガス24の状態から燃料量と空気量との混合比の状態を計測するために、酸素センサ148の出力が制御装置200に入力される。
1.1 Outline of Control of Internal Combustion Engine Control System Physical quantities such as a flow rate, temperature, humidity, pressure, and the like of the
制御装置200は、物理量検出装置300の出力である吸入空気の物理量と、回転角度センサ146の出力に基づき計測された内燃機関の回転速度とに基づいて、燃料噴射量や点火時期を演算する。これら演算結果に基づいて、燃料噴射弁152から供給される燃料量、また点火プラグ154により点火される点火時期が制御される。燃料供給量や点火時期は、実際にはさらに物理量検出装置300で検出される温度やスロットル角度の変化状態、エンジン回転速度の変化状態、酸素センサ148で計測された空燃比の状態に基づいて、きめ細かく制御されている。制御装置200は、さらに内燃機関のアイドル運転状態において、スロットルバルブ132をバイパスする空気量をアイドルエアコントロールバルブ156により制御し、アイドル運転状態での内燃機関の回転速度を制御する。
The
1.2 物理量検出装置の検出精度向上の重要性と物理量検出装置の搭載環境
内燃機関の主要な制御量である燃料供給量や点火時期はいずれも物理量検出装置300の出力を主パラメータとして演算される。従って、物理量検出装置300の検出精度の向上や、経時変化の抑制、信頼性の向上が、車両の制御精度の向上や信頼性の確保に関して重要である。
1.2 Importance of Improving Detection Accuracy of Physical Quantity Detection Device and Mounting Environment of Physical Quantity Detection Device Both the fuel supply amount and ignition timing, which are main control amounts of the internal combustion engine, are calculated using the output of the physical
特に近年、車両の省燃費に関する要望が非常に高く、また排気ガス浄化に関する要望が非常に高い。これらの要望に応えるには、物理量検出装置300により検出される吸入空気20の物理量の検出精度の向上が極めて重要である。また、物理量検出装置300が高い信頼性を維持していることも大切である。
In particular, in recent years, there has been a very high demand for fuel efficiency of vehicles and a very high demand for exhaust gas purification. In order to meet these demands, it is extremely important to improve the detection accuracy of the physical quantity of the intake air 20 detected by the physical
物理量検出装置300が搭載される車両は、温度や湿度の変化が大きい環境で使用される。物理量検出装置300は、その使用環境における温度や湿度の変化への対応や、塵埃や汚染物質などへの対応も、考慮されていることが望ましい。
A vehicle on which the physical
また、物理量検出装置300は、内燃機関からの発熱の影響を受ける吸気管に装着される。このため、内燃機関の発熱が主通路124である吸気管を介して物理量検出装置300に伝わる。物理量検出装置300は、被計測気体30と熱伝達を行うことにより被計測気体30の流量を検出するので、外部からの熱の影響をできるだけ抑制することが重要である。
The physical
車に搭載される物理量検出装置300は、以下で説明するように、単に発明が解決しようとする課題の欄に記載された課題を解決し、発明の効果の欄に記載された効果を奏するのみでなく、以下で説明するように、上述した色々な課題を十分に考慮し、製品として求められている色々な課題を解決し、色々な効果を奏している。物理量検出装置300が解決する具体的な課題や奏する具体的な効果は、以下の実施例の記載の中で説明する。
As described below, the physical
2. 物理量検出装置300の構成
2.1 物理量検出装置300の外観構造
図2−1〜図2−6は、物理量検出装置300の外観を示す図であり、図2−1は物理量検出装置300の正面図、図2−2は背面図、図2−3は左側面図、図2−4は右側面図、図2−5は平面図、図2−6は下面図である。
2. Configuration of Physical
物理量検出装置300は、ハウジング302と、表カバー303と、裏カバー304とを備えている。ハウジング302は、金型を用いて樹脂材を成形するモールド成形によって形成されている。ハウジング302は、物理量検出装置300を主通路124である吸気ボディに固定するためのフランジ311と、フランジ311から突出して外部機器との電気的な接続を行うためのコネクタを有する外部接続部321と、フランジ311から主通路124の中心に向かって突出して主通路124を流れる被計測気体30の主流れ方向に対して直交する方向に延びる計測部331を有している。
The physical
ハウジング302の計測部331には、インサート成形により回路基板400が一体にモールドされている(図3−1、図3−2を参照)。回路基板400は、ハウジング302を成形する金型内に回路基板400を予め配置してハウジング302を成形するインサート成形により、ハウジング302に一体にモールドされる。回路基板400には、主通路124を流れる被計測気体30の物理量を検出するための少なくとも一つの検出部と、検出部で検出した信号を処理するための回路部が設けられている。検出部は、被計測気体30に晒される位置に配置され、回路部は、表カバー303によって密閉された回路室に配置される。
A
計測部331の表面と裏面には副通路溝が設けられており、表カバー303及び裏カバー304との協働により第1副通路305が形成される。計測部331の先端部には、吸入空気などの被計測気体30の一部を第1副通路305に取り込むための第1副通路入口305aと、第1副通路305から被計測気体30を主通路124に戻すための第1副通路出口305bが設けられている。第1副通路305の通路途中には、回路基板400の一部が突出しており、その突出部分には検出部である流量検出部602(図3−1を参照)が配置されて、被計測気体30の流量を検出するようになっている。
A sub-passage groove is provided on the front surface and the back surface of the measuring
第1副通路305よりもフランジ311寄りの計測部331の中間部には、吸入空気などの被計測気体30の一部をセンサ室Rsに取り入れるための第2副通路306が設けられている。第2副通路306は、計測部331と裏カバー304との協働により形成される。第2副通路306は、被計測気体30を取り込むために上流側外壁336に開口する第2副通路入口306aと、第2副通路306から被計測気体30を主通路124に戻すために下流側外壁338に開口する第2副通路出口306bを有している。第2副通路306は、計測部331の背面側に形成されたセンサ室Rsに連通している。センサ室Rsには、回路基板400の裏面に設けられた検出部である圧力センサ421A、421Bと湿度センサ422が配置されている(図7−3参照)。
A
2.2 物理量検出装置300の外観構造に基づく効果
物理量検出装置300は、フランジ311から主通路124の中心方向に向かって延びる計測部331の中間部に第2副通路入口306aが設けられ、計測部331の先端部に第1副通路入口305aが設けられている。したがって、主通路124の内壁面近傍ではなく、内壁面から離れた中央部に近い部分の気体を第1副通路305及び第2副通路306にそれぞれ取り込むことができる。従って、物理量検出装置300は、主通路124の内壁面から離れた部分の気体の物理量を測定することができ、熱や内壁面近傍の流速低下に関係する物理量の計測誤差を低減できる。
2.2 Effects Based on Appearance Structure of Physical
計測部331は、主通路124の外壁から中央に向かう軸に沿って長く伸びる形状を成しているが、厚さ幅は、図2−3及び図2−4に記載の如く、狭い形状を成している。即ち、物理量検出装置300の計測部331は、側面の幅が薄く正面が略長方形の形状を成している。これにより、物理量検出装置300は、十分な長さの第1副通路305を備えることができ、被計測気体30に対しては流体抵抗を小さい値に抑えることができる。このため、物理量検出装置300は、流体抵抗を小さい値に抑えられると共に高い精度で被計測気体30の流量を計測することが可能である。
The measuring
2.3 フランジ311の構造と効果
フランジ311には、主通路124と対向する下面312に、窪み313が複数個設けられており、主通路124との間の熱伝達面を低減し、物理量検出装置300が熱の影響を受け難くしている。物理量検出装置300は、主通路124に設けられた取り付け孔から内部に計測部331が挿入され、主通路124にフランジ311の下面312が対向する。主通路124は例えば吸気ボディであり、主通路124が高温に維持されていることが多い。逆に寒冷地での始動時には、主通路124が極めて低い温度であることが考えられる。このような主通路124の高温あるいは低温の状態が種々の物理量の計測に影響を及ぼすと、計測精度が低下する。フランジ311は、下面312に窪み313を有しており、主通路124に対向する下面312と主通路124との間に空間が成形されている。したがって、物理量検出装置300に対する主通路124からの熱伝達を低減し、熱による測定精度の低下を防止できる。
2.3 Structure and Effect of
フランジ311のねじ孔314は、物理量検出装置300を主通路124に固定するためのもので、これらのねじ孔314の周囲の主通路124に対向する面が主通路124から遠ざけられるように、各ねじ孔314の周囲の主通路124に対向する面と主通路124との間に空間が成形されている。このようにすることで、物理量検出装置300に対する主通路124からの熱伝達を低減し、熱による測定精度の低下を防止できる構造をしている。
The screw holes 314 of the
2.4 外部接続部321の構造
外部接続部321は、フランジ311の上面に設けられてフランジ311から被計測気体30の主流れ方向下流側に向かって突出するコネクタ322を有している。コネクタ322には、制御装置200との間を接続する通信ケーブルを差し込むための差し込み穴322aが設けられている。差し込み穴322a内には、図2−4に示すように、内部に4本の外部端子323が設けられている。外部端子323は、物理量検出装置300の計測結果である物理量の情報を出力するための端子および物理量検出装置300が動作するための直流電力を供給するための電源端子となる。
2.4 Structure of
コネクタ322は、フランジ311から被計測気体30の流れ方向下流側に向かって突出し、流れ方向下流側から上流側に向かって差し込む形状を有しているが、この形状に限定されるものではなく、例えばフランジ311の上面から垂直に突出して、計測部331の延出方向に沿って差し込む形状を有していてもよく、種々の変更が可能である。
The
3. ハウジング302の全体構造とその効果
3.1 全体構造
次に、ハウジング302の全体構造について図3−1〜図3−5を用いて説明する。図3−1〜図3−5は、物理量検出装置300から表カバー303および裏カバー304を取り外したハウジング302の状態を示す図であり、図3−1はハウジング302の正面図、図3−2はハウジング302の背面図、図3−3はハウジング302の左側面図、図3−4はハウジング302の右側面図、図3−5は図3−1のA−A線断面図である。
3. Overall Structure of
ハウジング302は、フランジ311から計測部331が主通路124の中心に向かって延びる構造を成している。計測部331の基端側には回路基板400がインサート成形されている。回路基板400は、計測部331の表面と裏面との中間位置で計測部331の面に沿って平行に配置されて、ハウジング302に一体にモールドされており、計測部331の基端側を計測部331の厚さ方向一方側と他方側とに区画している。
The
計測部331の表面側には、回路基板400の回路部を収容する回路室Rcが形成され、裏面側には、圧力センサ421と湿度センサ422を収容するセンサ室Rsが形成されている。回路室Rcは、表カバー303をハウジング302に取り付けることにより密閉され、外部から完全に隔離される。その際、回路室Rcにシリコーンを充填して回路基板400の回路部を埋めることによって、ガスの侵入による腐食の可能性を低くすることができる。一方、裏カバー304をハウジング302に取り付けることにより、第2副通路306と、第2副通路306を介して計測部331の外部に連通する室内空間であるセンサ室Rsが形成される。回路基板400の一部は、計測部331の回路室Rcと第1副通路305との間を仕切る仕切壁335から第1副通路305内に突出しており、その突出した部分の計測用流路面430に流量検出部602が設けられている。
A circuit chamber Rc that houses the circuit portion of the
3.2 副通路溝の構造
計測部331の長さ方向先端側には、第1副通路305を成形するための副通路溝が設けられている。第1副通路305を形成するための副通路溝は、図3−1に示される表側副通路溝332と、図3−2に示される裏側副通路溝334を有している。表側副通路溝332は、図3−1に示すように、計測部331の下流側外壁338に開口する第1副通路出口305bから上流側外壁336に向かって移行するに従って漸次計測部331の基端側であるフランジ311側に湾曲し、上流側外壁336の近傍位置で、計測部331を厚さ方向に貫通する開口部333に連通している。開口部333は、上流側外壁336と下流側外壁338との間に亘って延びるように、主通路124の被計測気体30の流れ方向に沿って形成されている。
3.2 Structure of the sub-passage groove A sub-passage groove for forming the
裏側副通路溝334は、図3−2に示すように、上流側外壁336から下流側外壁338に向かって移行し、上流側外壁336と下流側外壁338との中間位置で二股に分かれて、一方は、排出通路としてそのまま一直線状に延在して下流側外壁338の排出口305cに開口し、他方は、下流側外壁338に移行するに従って漸次計測部331の基端側であるフランジ311側に湾曲し、下流側外壁338の近傍位置で、開口部333に連通している。
As shown in FIG. 3-2, the back side
裏側副通路溝334は、主通路124から被計測気体30が流入する入口溝を形成し、表側副通路溝332は、裏側副通路溝334から取り込んだ被計測気体30を主通路124に戻す出口溝を形成する。表側副通路溝332と裏側副通路溝334はハウジング302の先端部に設けられているので、主通路124の内壁面から離れた部分の気体を、言い換えると主通路124の中央部分に近い部分を流れている気体を被計測気体30として取り込むことができる。主通路124の内壁面近傍を流れる気体は、主通路124の壁面温度の影響を受け、吸入空気20などの主通路124を流れる気体の平均温度と異なる温度を有することが多い。また主通路124の内壁面近傍を流れる気体は、主通路124を流れる気体の平均流速より遅い流速を示すことが多い。実施例の物理量検出装置300ではこのような影響を受けに難いので、計測精度の低下を抑制できる。
The back side
図3−2に示すように、主通路124を流れる被計測気体30の一部が第1副通路入口305aから裏側副通路溝334内に取り込まれ、裏側副通路溝334内を流れる。そして、被計測気体30に含まれている質量の大きな異物は一部の被計測気体と共に分岐からそのまま一直線状に延在する排出通路に流れ込み、下流側外壁338の排出口305cから主通路124に排出される。
As shown in FIG. 3B, a part of the
裏側副通路溝334は、進むにつれて深くなる形状をしており、被計測気体30は裏側副通路溝334に沿って流れるにつれ計測部331の表側に徐々に移動する。特に裏側副通路溝334は開口部333の手前で急激に深くなる急傾斜部334aが設けられていて、質量の小さい空気の一部は急傾斜部334aに沿って移動し、開口部333内で回路基板400の計測用流路面430側を流れる。一方、質量の大きい異物は、急激な進路変更が困難なため、計測用流路面裏面431側を流れる。
The back side
図3−1に示すように、開口部333で表側に移動した被計測気体30は、回路基板の計測用流路面430に沿って流れ、計測用流路面430に設けられた流量検出部602との間で熱伝達が行われ、流量の計測が行われる。開口部333から表側副通路溝332に流れてきた空気は共に表側副通路溝332に沿って流れ、下流側外壁338に開口する第1副通路出口305bから主通路124に排出される。
As shown in FIG. 3A, the
被計測気体30に混入しているごみなどの質量の大きい物質は慣性力が大きいので、溝の深さが急激に深まる急傾斜部334aの部分の表面に沿って溝の深い方向に急激に進路を変えることは困難である。このため質量の大きい異物は計測用流路面裏面431の方を移動し、異物が流量検出部602の近くを通るのを抑制できる。この実施例では気体以外の質量の大きい異物の多くが、計測用流路面430の背面である計測用流路面裏面431を通過するように構成しているので、油分やカーボン、ごみなどの異物による汚れの影響を低減でき、計測精度の低下を抑制できる。すなわち主通路124の流れの軸を横切る軸に沿って被計測気体30の進路を急に変化させる形状を有しているので、被計測気体30に混入する異物の影響を低減できる。
A substance having a large mass, such as dust, mixed in the
3.3 第2副通路とセンサ室の構造と効果
第2副通路306は、主通路124を流れる被計測気体30の主流れ方向に沿うように、フランジ311と平行に第2副通路入口306aと第2副通路出口306bとの間に亘って一直線状に形成されている。第2副通路入口306aは、上流側外壁336の一部を切り欠いて形成され、第2副通路出口306bは、下流側外壁338の一部を切り欠いて形成されている。具体的には、図3−3に示すように、仕切壁335の上面に連続して沿う位置において、計測部331の裏面側から上流側外壁336の一部と下流側外壁338の一部を切り欠いて形成されている。第2副通路入口306aと第2副通路出口306bは、回路基板400の裏面と面一になる深さ位置まで切り欠かれている。第2副通路306は、回路基板400の基板本体401の裏面に沿って被計測気体30が通過するので、基板本体401を冷却するクーリングチャンネルとして機能する。回路基板400は、LSIやマイコンなどの熱を持つものが多く、これらの熱を基板本体401の裏面に伝達し、第2副通路306を通過する被計測気体30によって放熱することができる。
3.3 Structure and Effect of Second Sub-passage and Sensor Chamber The
第2副通路306よりも計測部331の基端側にセンサ室Rsが設けられている。第2副通路入口306aから第2副通路306に流れ込んだ被計測気体30の一部は、センサ室Rsに流れ込み、センサ室Rs内の圧力センサ421と、湿度センサ422によってそれぞれ圧力と相対湿度が検出される。センサ室Rsは、被計測気体30の主流れ方向に沿って延在する第2副通路306よりも計測部331の基端側に偏位した位置に引っ込んで配置されているので、第2副通路306を通過する被計測気体30の動圧の影響を小さくすることができる。したがって、センサ室Rs内における圧力センサ421の検出精度を向上させることができる。
A sensor chamber Rs is provided on the proximal end side of the
そして、センサ室Rsが第2副通路306よりも計測部331の基端側に配置されているので、例えば計測部331の先端側が下方に向かう姿勢状態で吸気通路に取り付けられている場合に、第2副通路306に被計測気体30と共に流れ込んだ汚損物や水滴が圧力センサ421やその下流に配置されている湿度センサ422に付着するのを抑制できる。
Since the sensor chamber Rs is disposed on the proximal end side of the
特に、本実施例では、センサ室Rs内において、比較的外形の大きい圧力センサ421が上流側に配置され、比較的外形の小さい湿度センサ422が圧力センサ421の下流側に配置されているので、被計測気体30と共に流れ込んだ汚損物や水滴は、圧力センサ421に付着し、湿度センサ422への付着が抑制される。従って、汚損物や水滴に対して耐性が低い湿度センサ422を保護することができる。
In particular, in the present embodiment, in the sensor chamber Rs, the
圧力センサ421と湿度センサ422は、流量検出部602と比較して被計測気体30の流れに影響を受けにくく、特に湿度センサ422は、被計測気体30における水分の拡散レベルさえ確保できればよいので、一直線状の第2副通路306に隣接したセンサ室Rsに設けることができる。これに対して、流量検出部602は、ある一定以上の流速を要し、また、塵埃や汚損物を遠ざける必要や、脈動に対する影響も考慮する必要がある。したがって、流量検出部602は、ループ状に周回する形状を有する第1副通路305に設けられている。
The
図4−1、図4−2は、第2副通路の他の形態を示す図である。
この形態では、上流側外壁336と下流側外壁338を切り欠くかわりに、上流側外壁336と下流側外壁338に貫通孔337を設けることにより、第2副通路入口306aと第2副通路出口306bを形成している。上述の図3−2〜図3−5に示す第2副通路のように、上流側外壁336と下流側外壁338をそれぞれ切り欠いて第2副通路入口306aと第2副通路出口306bを形成すると、かかる位置において上流側外壁336の幅と下流側外壁338の幅が局所的に狭くなっているので、モールド成形時の熱ひけ等により、切り欠きを起点として、計測部331が略くの字状に歪むおそれがある。本形態によれば、切り欠きのかわりに貫通孔を設けているので、計測部331が略くの字状に折れ曲がるのを防ぐことができる。したがって、ハウジング302に歪みにより被計測気体30に対する検出部の位置や向きが変わって検出精度に影響を与えるのを防ぐことができ、個体差がなく常に一定の検出精度を確保できる。
FIGS. 4-1 and FIGS. 4-2 are figures which show the other form of a 2nd subchannel | path.
In this embodiment, instead of cutting out the upstream side
3.4 表カバー303と裏カバー304の形状と効果
図5は表カバー303の外観を示す図であり、図5(a)は正面図、図5(b)は、図5(a)のA−A線断面図である。図6は裏カバー304の外観を示す図であり、図6(a)は正面図、図6(b)は図6(a)のB−B線断面図である。
3.4 Shape and Effect of
図5および図6において、表カバー303や裏カバー304は、ハウジング302の表側副通路溝332と裏側副通路溝334を塞ぐことにより、第1副通路305を作る。また、表カバー303は、密閉された回路室Rcを作り、裏カバー304は、計測部331の裏面側の凹部を塞いで第2副通路306と、第2副通路306に連通するセンサ室Rsを作る。
5 and 6, the
表カバー303は、流量検出部602に対向する位置に突起部356を備えており、計測用流路面430との間に絞りを作るのに使用される。このため、成形精度が高いことが望ましい。表カバー303や裏カバー304は、金型に熱可塑性樹脂を注入する樹脂モールド工程により作られるので、高い成形精度で作ることができる。
The
表カバー303と裏カバー304には、計測部331から突出する複数の固定ピン350がそれぞれ挿入される複数の固定穴351が設けられている。表カバー303と裏カバー304は、計測部331の表面と裏面にそれぞれ取り付けられ、その際に、固定穴351に固定ピン350が挿入されて位置決めがなされる。そして、表側副通路溝332と裏側副通路溝334の縁に沿ってレーザ溶接等により接合され、同様に、回路室Rc及びセンサ室Rsの縁に沿ってレーザ溶接等により接合される。
The
3.5 回路基板400のハウジング302による固定構造と効果
次に、回路基板400のハウジング302への樹脂モールド工程による固定について説明する。副通路を成形する副通路溝の所定の場所、例えば本実施例では、表側副通路溝332と裏側副通路溝334のつながりの部分である開口部333に、回路基板400の流量検出部602が配置されるように、回路基板400がハウジング302に一体にモールドされている。
3.5 Fixing Structure and Effect of
ハウジング302の計測部331には、回路基板400のベース部402の外周縁部をハウジング302に樹脂モールドにより埋設して固定する部分が、固定部372、373として設けられている。固定部372、373は、回路基板400のベース部402の外周縁部を表側と裏側から挟み込むように包含して固定している。
The
ハウジング302は、樹脂モールド工程にて製造する。この樹脂モールド工程で、回路基板400をハウジング302の樹脂内に内蔵して、ハウジング302内に樹脂モールドにより固定する。このようにすることで、流量検出部602が被計測気体30との間で熱伝達を行って流量を計測するための副通路、例えば表側副通路溝332や裏側副通路溝334の形状との関係である位置関係や方向の関係などを、極めて高い精度で維持することができ、回路基板400毎に生じる誤差やばらつきを非常に小さい値に抑え込むことが可能となる。結果として回路基板400の計測精度を大きく改善できる。例えば従来の接着剤を使用して固定する方式に比べて、飛躍的に計測精度を向上できる。
The
物理量検出装置300は量産により生産されることが多く、個々に厳密に計測しながら接着剤で接着する方法には、計測精度の向上に関して限界がある。しかし、本実施例のように被計測気体30を流す副通路を成形する樹脂モールド工程にて副通路を成形すると同時に回路基板400を一体に固定することで、計測精度のばらつきを大幅に低減でき、各物理量検出装置300の計測精度を大幅に向上することが可能となる。
The physical
例えば図3−1〜図3−5に示す実施例でさらに説明すると、表側副通路溝332と裏側副通路溝334と流量検出部602との間に関係を、規定の関係となるように高い精度で回路基板400をハウジング302に固定できる。このことにより量産される物理量検出装置300においてそれぞれ、各回路基板400の流量検出部602と第1副通路305との位置関係や形状などの関係を、非常に高い精度で、定常的に得ることが可能となる。
For example, in the embodiment shown in FIGS. 3-1 to 3-5, the relationship between the front side
回路基板400の流量検出部602が固定配置された第1副通路305は、例えば表側副通路溝332と裏側副通路溝334とが非常に高い精度で成形できるので、これらの副通路溝332、334から第1副通路305を成形する作業は、表カバー303や裏カバー304でハウジング302の両面を覆う作業である。この作業は大変シンプルで、計測精度を低下させる要因が少ない作業工程である。また、表カバー303や裏カバー304は、成形精度の高い樹脂モールド工程により生産される。従って、回路基板400の流量検出部602と規定の関係で設けられる副通路を高い精度で完成することが可能である。このような方法により、計測精度の向上に加え、高い生産性が得られる。
The first sub-passage 305 in which the flow
これに対して従来は、副通路を製造し、次に副通路に計測部を接着剤で接着することにより、熱式流量計を生産していた。このように接着剤を使用する方法は、接着剤の厚みのばらつきが大きく、また接着位置や接着角度が製品毎にばらつく。このため計測精度を上げることには限界があった。さらにこれらの作業を量産工程で行う場合に、計測精度の向上がたいへん難しくなる。 On the other hand, in the past, a thermal flow meter was produced by manufacturing a sub-passage and then adhering a measuring unit to the sub-passage with an adhesive. As described above, the method of using the adhesive has a large variation in the thickness of the adhesive, and the bonding position and the bonding angle vary from product to product. For this reason, there was a limit to increasing the measurement accuracy. Furthermore, when performing these operations in a mass production process, it is very difficult to improve measurement accuracy.
本発明に係る実施例では、回路基板400を樹脂モールドによりハウジング302に一体に固定すると共に同時に樹脂モールドで第1副通路305を成形するための副通路溝を成形する。このようにすることにより、副通路溝の形状、および副通路溝に極めて高い精度で流量検出部602を固定できる。
In the embodiment according to the present invention, the
流量の計測に関係する部分、例えば流量検出部602や流量検出部602が取り付けられる計測用流路面430は、回路基板400の表面に設けられる。流量検出部602と計測用流路面430は、ハウジング302を成形する樹脂から露出させる。すなわち、流量検出部602と計測用流路面430を、ハウジング302を成形する樹脂で覆わないようにする。回路基板400の流量検出部602や計測用流路面430を、そのままハウジング302の樹脂モールド後も利用し、物理量検出装置300の流量計測に使用する。このようにすることで計測精度が向上する。
A part related to the measurement of the flow rate, for example, the flow path surface 430 for measurement to which the flow
本発明に係る実施例では、回路基板400をハウジング302に一体成形することにより、第1副通路305を有するハウジング302に回路基板400を固定しているので、回路基板400をハウジング302に確実に固定できる。特に、回路基板400の突出部403が仕切壁335を貫通して第1副通路305に突出する構成を有しているので、第1副通路305と回路室Rcとの間のシール性が高く、第1副通路305から回路室Rcに被計測気体30が漏れ入るのを防ぎ、回路基板400の回路部品や配線等が被計測気体30と接触して腐蝕するのを防ぐことができる。
In the embodiment according to the present invention, since the
4. 回路基板400の外観
4.1 流量検出部602を備える計測用流路面430の成形
図7−1〜図7−3に回路基板400の外観を示す。なお、回路基板400の外観上に記載した斜線部分は、樹脂モールド工程でハウジング302を成形する際に樹脂により回路基板400が覆われて固定される固定部432および固定部434を示す。
4. Appearance of
図7−1は、回路基板の正面図、図7−2は、回路基板の右側面図、図7−3は、回路基板の背面図である。 FIG. 7-1 is a front view of the circuit board, FIG. 7-2 is a right side view of the circuit board, and FIG. 7-3 is a rear view of the circuit board.
回路基板400は、基板本体401を有している。基板本体401の外表面である表面と裏面には、図示していない回路導体が設けられており、その上に絶縁膜(ソルダーレジスト)800が形成されている(図9参照)。絶縁膜800は、回路保護及びはんだを不要な部分への付着防止のためのものであり、例えば絶縁性の塗料あるいはインクを基板本体の外表面に塗布して乾燥させることによって設けられる。
The
回路基板400は、基板本体401の表面に回路部とセンシング素子である流量検出部602が設けられ、基板本体401の裏面にセンシング素子である圧力センサ421A、421Bと湿度センサ422が設けられている。基板本体401は、ガラスエポキシ樹脂製の材料により構成されており、セラミック材料の基板と比較してハウジング302を成形している熱可塑性樹脂製の材料の熱膨張係数と近似した値を有している。したがって、回路基板400をハウジング302にインサート成形した際に熱膨張係数の差による応力を低減でき、回路基板400の歪みを小さくすることができる。
The
基板本体401は、一定厚さを有する平板形状を有しており、略四角形状のベース部402と、ベース部402の一辺から突出してベース部402よりも一回り小さな略四角形状の突出部403とを有する、平面視略T字形状をなしている。ベース部402の表面には、回路部が設けられている。回路部は、図示していない回路導体の上に、LSI414、マイコン415、電源レギュレータ416、抵抗やコンデンサなどのチップ部品417などの電子部品が実装されて構成されている。電源レギュレータ416は、マイコン415やLSI414などの他の電子部品と比較して発熱量が多いので、回路室Rcにおいて比較的上流側に配置されている。LSI414は、金線ワイヤを含むように全体が合成樹脂材419で封止されており、インサート成形する際の回路基板400の取り扱い性を向上させている。
The
基板本体401の表面には、LSI414が嵌入される凹部402aが凹設されている。この凹部402aは、基板本体401にレーザ加工を施すことによって形成できる。ガラスエポキシ樹脂製の基板本体401は、セラミック製の基板本体と比較して加工が容易であり、凹部402aを容易に設けることができる。凹部402aは、LSI414の表面が基板本体401の表面と面一になる深さを有している。このようにLSI414の表面と基板本体401の表面の高さを一致させることによって、LSI414と基板本体401との間を金線ワイヤで結ぶワイヤボンディングが容易になり、回路基板400の製造が容易になる。
A
突出部403は、回路基板400をハウジング302にインサート成形した際に、第1副通路305内に配置され、突出部403の表面である計測用流路面430が被計測気体30の流れ方向に沿って延びる。突出部403の計測用流路面430には、流量検出部602が設けられている。流量検出部602は、被計測気体30と熱伝達を行い、被計測気体30の状態、例えば被計測気体30の流速を計測し、主通路124を流れる流量を表す電気信号を出力する。流量検出部602が高精度で被計測気体30の状態を計測するには、計測用流路面430の近傍を流れる気体が層流であり乱れが少ないことが望ましい。このため流量検出部602の表面と計測用流路面430の面とが面一、もしくは差が所定値以下であることが望ましい。
The
計測用流路面430の表面には凹部403aが凹設されており、流量検出部602が嵌入されている。この凹部403aもレーザ加工を施すことによって形成できる。凹部403aは、流量検出部602の表面が計測用流路面430の表面と面一になる深さを有している。流量検出部602とその配線部分は、合成樹脂材418で被覆されており、塩水の付着により電食が生ずるのを防いでいる。
A
基板本体401の裏面には、2つの圧力センサ421A、421Bと、1つの湿度センサ422が設けられている。2つの圧力センサ421A、421Bは、上流側と下流側に分かれて一列に配置されている。そして、圧力センサ421Bの下流側に湿度センサ422が配置されている。これら2つの圧力センサ421A、421Bと、1つの湿度センサ422は、センサ室Rs内に配置されている。
Two
回路基板400は、基板本体401の裏面側に第2副通路306が配置されている。したがって、第2副通路306を通過する被計測気体30によって、基板本体401全体を冷却することができる。
In the
4.2 温度検出部451の構造
ベース部402の上流側の端辺で且つ突出部403側の角部には、温度検出部451が設けられている。温度検出部451は、主通路124を流れる被計測気体30の物理量を検出するための検出部の一つを構成するものであり、回路基板400に設けられている。回路基板400は、第2副通路306の第2副通路入口306aから被計測気体30の上流に向かって突出する突出部450を有しており、温度検出部451は、突出部450でかつ回路基板400の裏面に設けられたチップ型の温度センサ453を有している。温度センサ453とその配線部分は、合成樹脂材で被覆されており、塩水の付着により電食が生ずるのを防いでいる。
4.2 Structure of Temperature Detection Unit 451 A
例えば図3−2に示すように、第2副通路入口306aが設けられている計測部331の中央部では、ハウジング302を構成する計測部331内の上流側外壁336が下流側に向かって窪んでおり、前記窪み形状の上流側外壁336から回路基板400の突出部450が上流側に向かって突出している。突出部450の先端は、上流側外壁336の最も上流側の面よりも凹んだ位置に配置されている。温度検出部451は、回路基板400の背面、すなわち、第2副通路306側に面するように突出部450に設けられている。
For example, as shown in FIG. 3-2, in the central portion of the
温度検出部451の下流側に、第2副通路入口306aが形成されているので、第2副通路入口306aから第2副通路306に流れ込む被計測気体30は、温度検出部451に接触してから第2副通路入口306aに流れ込み、温度検出部451に接触した際に温度が検出される。温度検出部451に接触した被計測気体30は、そのまま第2副通路入口306aから第2副通路306に流れ込み、第2副通路306を通過して第2副通路出口306bから主通路124に排出される。
Since the second
4.3 樹脂モールド工程による回路基板400の固定とその効果
図7−1、図7−3で斜線の部分は、樹脂モールド工程において、ハウジング302に回路基板400を固定するために、樹脂モールド工程で使用する熱可塑性樹脂で回路基板400を覆うための、固定部432および固定部434を示している。計測用流路面430および計測用流路面430に設けられている流量検出部602と副通路の形状との関係が、規定の関係となるように、高い精度で維持されることが重要である。
4.3 Fixing of
樹脂モールド工程において、副通路を成形すると共に同時に副通路を成形するハウジング302に回路基板400を固定するので、前記副通路と計測用流路面430および流量検出部602との関係を極めて高い精度で維持できる。すなわち、樹脂モールド工程において回路基板400をハウジング302に固定するので、副通路を備えたハウジング302を成形するための金型内に、回路基板400を高い精度で位置決めして固定することが可能となる。この金型内に高温の熱可塑性樹脂を注入することで、副通路が高い精度で成形されると共に、回路基板400が高い精度で固定される。したがって、回路基板400毎に生じる誤差やばらつきを非常に小さい値に抑え込むことが可能となる。結果として回路基板400の計測精度を大きく改善できる。
In the resin molding process, the
5. 物理量検出装置300の回路構成
図8−1は物理量検出装置300の回路図である。物理量検出装置300は、流量検出回路601と、温湿度検出回路701を有している。
5. Circuit Configuration of Physical
流量検出回路601は、発熱体608を有する流量検出部602と処理部604とを備えている。処理部604は、流量検出部602の発熱体608の発熱量を制御すると共に、流量検出部602の出力に基づいて流量を表す信号を、端子662を介してマイコン415に出力する。前記処理を行うために、処理部604は、Central Processing Unit(以下CPUと記す)612と入力回路614、出力回路616、補正値や計測値と流量との関係を表すデータを保持するメモリ618、一定電圧をそれぞれ必要な回路に供給する電源回路622を備えている。電源回路622には車載バッテリなどの外部電源から、端子664と図示していないグランド端子を介して直流電力が供給される。
The flow
流量検出部602には被計測気体30を熱するための発熱体608が設けられている。電源回路622から、発熱体608の電流供給回路を構成するトランジスタ606のコレクタに電圧V1が供給され、CPU612から出力回路616を介して前記トランジスタ606のベースに制御信号が加えられ、この制御信号に基づいて前記トランジスタ606から端子624を介して発熱体608に電流が供給される。発熱体608に供給される電流量は前記CPU612から出力回路616を介して発熱体608の電流供給回路を構成するトランジスタ606に加えられる制御信号により制御される。処理部604は、発熱体608で熱せられることにより被計測気体30の温度が当初の温度より所定温度、例えば100℃、だけ高くなるように発熱体608の発熱量を制御する。
The
流量検出部602は、発熱体608の発熱量を制御するための発熱制御ブリッジ640と、流量を計測するための流量検知ブリッジ650と、を有している。発熱制御ブリッジ640の一端には、電源回路622から一定電圧V3が端子626を介して供給され、発熱制御ブリッジ640の他端はグランド端子630に接続されている。また流量検知ブリッジ650の一端には、電源回路622から一定電圧V2が端子625を介して供給され、流量検知ブリッジ650の他端はグランド端子630に接続されている。
The flow
発熱制御ブリッジ640は、熱せられた被計測気体30の温度に基づいて抵抗値が変化する測温抵抗体である抵抗642を有しており、抵抗642と抵抗644、抵抗646、抵抗648はブリッジ回路を構成している。抵抗642と抵抗646の交点Aおよび抵抗644と抵抗648との交点Bの電位差が端子627および端子628を介して入力回路614に入力され、CPU612は交点Aと交点B間の電位差が所定値、この実施例ではゼロボルト、になるようにトランジスタ606から供給される電流を制御して発熱体608の発熱量を制御する。図8−1に記載の流量検出回路601は、被計測気体30のもとの温度に対して一定温度、例えば常に100℃、高くなるように発熱体608で被計測気体30を加熱する。この加熱制御を高精度に行えるように、発熱体608で温められた被計測気体30の温度が当初の温度に対して一定温度、例えば常に100℃、高くなったときに、前記交点Aと交点B間の電位差がゼロボルトとなるように発熱制御ブリッジ640を構成する各抵抗の抵抗値が設定されている。従って、流量検出回路601では、CPU612は交点Aと交点B間の電位差がゼロボルトとなるよう発熱体608への供給電流を制御する。
The heat
流量検知ブリッジ650は、抵抗652と抵抗654、抵抗656、抵抗658の4つの測温抵抗体で構成されている。これら4つの測温抵抗体は被計測気体30の流れに沿って配置されており、抵抗652と抵抗654は発熱体608に対して被計測気体30の流路における上流側に配置され、抵抗656と抵抗658は発熱体608に対して被計測気体30の流路における下流側に配置されている。また計測精度を上げるために抵抗652と抵抗654は発熱体608までの距離が互いに略同じくなるように配置されており、抵抗656と抵抗658は発熱体608までの距離が互いに略同じくなるように配置されている。
The flow
抵抗652と抵抗656との交点Cと、抵抗654と抵抗658との交点Dとの間の電位差が端子631と端子632を介して入力回路614に入力される。計測精度を高めるために、例えば被計測気体30の流れがゼロの状態で、前記交点Cと交点Dとの間の電位差がゼロとなるように流量検知ブリッジ650の各抵抗が設定されている。従って前記交点Cと交点Dとの間の電位差が、例えばゼロボルトの状態では、CPU612は被計測気体30の流量がゼロとの計測結果に基づき、主通路124の流量がゼロを意味する電気信号を端子662から出力する。
A potential difference between an intersection C of the
被計測気体30が図8−1の矢印方向に流れている場合、上流側に配置されている抵抗652や抵抗654は、被計測気体30によって冷却され、被計測気体30の下流側に配置されている抵抗656と抵抗658は、発熱体608により暖められた被計測気体30により温められ、これら抵抗656と抵抗658の温度が上昇する。このため、流量検知ブリッジ650の交点Cと交点Dとの間に電位差が発生し、この電位差が端子631と端子632を介して、入力回路614に入力される。CPU612は流量検知ブリッジ650の交点Cと交点Dとの間の電位差に基づいて、メモリ618に記憶されている前記電位差と主通路124の流量との関係を表すデータを検索し、主通路124の流量を求める。このようにして求められた主通路124の流量を表す電気信号が端子662を介して出力される。なお、図8−1に示す端子664および端子662は新たに参照番号を記載しているが、先に説明した図7−1に示す接続端子412に含まれている。
When the
上記メモリ618には、上記交点Cと交点Dとの電位差と主通路124の流量との関係を表すデータが記憶されており、さらに回路基板400の生産後に、気体の実測値に基づいて求められた、ばらつきなどの測定誤差の低減のための補正データが記憶されている。
The
温湿度検出回路701は、温度センサ453と湿度センサ422から検出信号を入力するアンプ・A/D等の入力回路と、出力回路と、補正値や温度と絶対湿度との関係を表すデータを保持するメモリと、一定電圧をそれぞれ必要な回路に供給する電源回路622を備えている。流量検出回路601と温湿度検出回路701から出力された信号は、マイコン415に入力される。マイコン415は、流量計算部、温度計算部、及び絶対湿度計算部を有しており、信号に基づいて被計測気体30の物理量である、流量、温度、絶対湿度を算出し、制御装置200に出力する。
The temperature /
物理量検出装置300と制御装置200との間は通信ケーブルで接続されており、SENT、LIN、CANなどの通信規格によりディジタル信号を用いた通信が行われている。本実施例では、マイコン415からLINドライバ420に信号が入力され、LINドライバ420からLIN通信が行われる。物理量検出装置300のLINドライバから制御装置200に出力される情報は、単一または2線の通信ケーブルを用いてディジタル通信で重畳して出力される。
The physical
マイコン415の絶対湿度計算部は、湿度センサ422から出力された相対湿度の情報と温度情報に基づいて絶対湿度を計算し、その絶対湿度を誤差に基づいて補正する処理を行う。絶対湿度計算部により計算された補正後の絶対湿度は、制御装置200の制御部で種々のエンジン運転制御に用いられる。また、制御装置200は、総合誤差の情報を直接種々のエンジン運転制御に用いることもできる。
The absolute humidity calculation unit of the
なお、上述の図8−1に示す実施例では、物理量検出装置300がLINドライバ420を有しており、LIN通信を行う場合について説明したが、これに限定されるものではなく、図8−2に示すように、LIN通信を用いずに、マイコン415と直接通信を行ってもよい。
In the above-described embodiment illustrated in FIG. 8A, the case where the physical
6.回路基板400の構造
[実施例1]
図9は、実施例1におけるハウジングと回路基板の構成を説明する図、図10は、実施例1におけるハウジングと回路基板の断面図である。図9では、ハウジング302のセンサ室Rsを図示しており、図10では、回路基板をハウジング302内にインサート成形する際の金型901も図示している。
6). Structure of Circuit Board 400 [Example 1]
FIG. 9 is a diagram illustrating the configuration of the housing and the circuit board in the first embodiment, and FIG. 10 is a cross-sectional view of the housing and the circuit board in the first embodiment. 9 illustrates the sensor chamber Rs of the
回路基板400は、インサート成形によりハウジング302に内蔵され、ハウジング302内に樹脂モールドされて固定されている。回路基板400は、ハウジング302に固定される固定部434と、ハウジング302を成形するための金型901が押し当てられる押当部と、回路導体が配置される導体配置部と、固定部及び押当部の少なくとも一方と導体配置部との間に形成される境界部と、を有している。
The
本実施例では、固定部434は、基板本体401のベース部402の外周縁部に沿って設けられている。押当部は、ハウジング302のセンサ室Rs内に露出した位置でハウジング302の固定部373及び仕切壁335に沿うように設定されている。導体配置部は、ベース部402よりも一回り小さな矩形状を有しており、ベース部402の中央に配置されて押当部によって周囲を囲まれている。導体配置部には、回路導体の配線パターンが配置されている。境界部は、回路導体の配線パターン全体を外側から囲む四角枠を形成するようにベース部402の輪郭に沿って一定幅で連続して配置されている。
In the present embodiment, the fixing
回路基板400は、基板本体401の外表面である表面と裏面に、絶縁膜800が設けられている。絶縁膜800は、基板本体401の裏面において、固定部432、434に配置された第1の領域801と、押当部に配置された第2の領域802と、導体配置部に配置された第3の領域803と、境界部に配置された第4の領域804と、を有している。そして、絶縁膜800は、第1の領域801及び第2の領域802と、第4の領域804との間で、膜厚が異なっている。
The
本実施例では、回路基板400の境界部の形状に一致するように第4の領域804が配置されている。そして、第4の領域804に一致するように絶縁膜800に凹溝811が形成されており、第4の領域804の膜厚が第1の領域801と第2の領域802と第3の領域803の各膜厚よりも薄くなっている。例えば、第4の領域804の膜厚は、第1の領域801と第2の領域802と第3の領域803の各膜厚の3分の2以下が好ましく、2分の1以下がより好ましい。
In the present embodiment, the
凹溝811は、マスキングやレーザ等の公知の方法を用いて形成することができる。例えば、マスキングの場合は、基板本体401の外表面全面に一定の膜厚となるように絶縁塗料を塗布して下層を形成し、乾燥後に、第4の領域804をマスキングして、下層の上に絶縁塗料を塗布して上層を形成し、マスキングを取り除くことにより、凹溝811を形成することができる。また、レーザの場合は、基板本体401の外表面全面に一定の膜厚となるように絶縁塗料を塗布して絶縁膜800を形成し、絶縁膜800の第4の領域804の形成部分にレーザを照射して削ることにより、凹溝811を形成することができる。
The
ハウジング302内に樹脂モールドで回路基板400を固定するためには、図10に示すように、回路基板400の絶縁膜800に、ハウジング302を成形する金型901を接触させるか、樹脂漏れしない様な隙間に管理する必要がある。インサートされる回路基板400の厚さばらつきや、金型901へのセッティングばらつきによっては、金型901の押し込み量が大きくなる可能性があり、回路基板400に大きな応力が加わってしまうおそれがある。この場合、絶縁膜800の金型接触部分である第2の領域802にクラックを発生させ、そのクラックが回路導体を保護する部分である第3の領域803にまで到達する可能性がある。
In order to fix the
また、ハウジング302は、モールド樹脂であるため、成形後の冷却によって反りやひけが発生する。モールド樹脂の反りやひけによって固定部372、373から回路基板400に応力が掛かってしまうと、絶縁膜800の第1の領域801あるいは第2の領域802に発生したクラックが進展して、第3の領域803にまで到達する可能性がある。絶縁膜800のクラックが回路導体保護部分である第3の領域803にまで到達すると、回路導体の腐食リスクが高くなる。
Moreover, since the
これに対して、本実施例では、第1の領域801及び第2の領域802と第3の領域803との間の第4の領域804に、第1の領域801及び第2の領域802よりも膜厚が薄い部分となる凹溝811を設けている。ひび割れ(クラック)は、ひび割れの進行により膜厚が一定の部分から膜厚が変化する部分に到達すると、かかる位置でひび割れの進行が停止する。したがって、第1の領域801若しくは第2の領域802で発生したひび割れ等の損傷を、第4の領域804の凹溝811で堰き止めて、第3の領域803まで損傷が伝搬することを防止することができる。したがって、回路基板400の回路導体の腐食リスクを低減でき、製品としての信頼性を向上することができる。
On the other hand, in this embodiment, the
なお、本実施例では、第4の領域804の凹溝811が、第1の領域801及び第2の領域802と第3の領域803との間に配置された構成の場合を例に説明したが、第1の領域801及び第2の領域802の両方に限定されるものではない。例えば、第1の領域801及び第2の領域802の少なくとも一方と第3の領域803との間に配置された構成を有していてもよく、同様の作用効果、すなわち、第1の領域801若しくは第2の領域802で発生したひび割れ(クラック)等の損傷を、第4の領域804の凹溝811で堰き止めて、第3の領域803まで損傷が伝搬することを防止することができるという作用効果を有する。
In this embodiment, the case where the
[実施例2]
図11は、実施例2におけるハウジングと回路基板の断面図である。
本実施例において特徴的なことは、絶縁膜800の第4の領域804にスリット812を設けたことである。スリット812は、第4の領域804に一致するように設けられている。スリット812は、絶縁膜800の膜厚が0であり、基板本体401の外表面が露出している。基板本体401の表面においてスリット812が設けられる箇所には、回路導体は配置されていない。スリット812は、例えば第4の領域804とされる箇所をマスキングしてから基板本体401の外表面全面に絶縁塗料を塗布し、塗布後にマスキングを取り除くことによって形成することができる。また、基板本体401に絶縁塗料を塗布して第4の領域804をマスキングし、露光して硬化させた後、現像液で未硬化部分を洗い流す方法や、スクリーンプリントによりスリット812を形成してもよい。
[Example 2]
FIG. 11 is a cross-sectional view of the housing and the circuit board in the second embodiment.
A characteristic feature of this embodiment is that a
本実施例では、絶縁膜800の第4の領域804に、膜厚が0のスリット812が設けられているので、例えば金型901の押し当てやハウジング302の熱収縮等による歪みにより、第1の領域801や第2の領域802にひび割れが生じた場合に、第4の領域804のスリット812でひび割れの進行を堰き止めることができ、第3の領域803までひび割れが進行するのを防ぐことができる。したがって、ひび割れ部分から水やオイル等が侵入して回路基板400の回路導体が腐食するのを効果的に防ぐことができる。
In the present embodiment, since the
[実施例3]
図12は、実施例3におけるハウジングと回路基板の断面図である。
本実施例は、回路基板400の裏面において境界部の形状に一致するように導体425が設けられている。そして、導体425の上も含む基板本体401の裏面全体が略平坦になるように絶縁膜800が形成された構成を有している。したがって、導体425の上に絶縁膜800の第4の領域804が設けられている。
[Example 3]
FIG. 12 is a cross-sectional view of the housing and the circuit board in the third embodiment.
In this embodiment, the
導体425は、回路導体の配線パターン全体を外側から囲むように設けられており、回路基板400の回路導体に電気的に接続されておらず、回路を構成していない。基板本体401の外表面に絶縁膜800を形成した際に、絶縁膜800の第4の領域804では、導体425の厚さの分だけ、第1の領域801と第2の領域802と第3の領域803のいずれよりも絶縁膜800の膜厚が薄くなる。したがって、絶縁膜800は、第4の領域804において膜厚が薄い薄膜部分が形成されている。
The
したがって、金型901の押し当てやハウジング302の熱収縮に応じた歪み等により第1の領域801若しくは第2の領域802にひび割れが生じた場合に、第4の領域804の薄膜部分でひび割れを堰き止めることができ、第3の領域803までひび割れが進行するのを防ぐことができる。したがって、ひび割れ部分から水やオイル等が侵入して回路基板400の回路導体が腐食するのを効果的に防ぎ、製品としての信頼性を向上することができる。導体425は、回路を形成していないので、導体425近傍の絶縁膜800にひび割れが発生して導体425が腐食したとしても、製品としての信頼性に影響は無い。また、本実施例によれば、導体425は、回路基板40の回路導体と同時に形成することができ、容易に製造することができる。
Therefore, when a crack occurs in the
[実施例4]
図13は、実施例4におけるハウジングと回路基板の断面図である。
本実施例は、基板本体401にその境界部に沿って凹溝404が設けられた構成を有している。凹溝404は、例えば公知のレーザ加工により回路基板400の裏面を部分的に削ることにより形成できる。基板本体401の外表面に絶縁膜800を形成した場合に、第4の領域804では、回路基板400の凹溝404の深さの分だけ、絶縁膜800の膜厚が厚くなる。したがって、絶縁膜800は、第4の領域804において第1の領域801と第2の領域802と第3の領域803のいずれよりも膜厚が厚い厚膜部分が形成されている。
[Example 4]
FIG. 13 is a cross-sectional view of the housing and the circuit board in the fourth embodiment.
In this embodiment, the
したがって、金型901の押し当てやハウジング302の熱収縮に応じた歪み等により第1の領域801若しくは第2の領域802にひび割れが生じた場合に、第4の領域804の厚膜部分に沿ってひび割れを延伸させて、ひび割れを堰き止めることができ、第3の領域803までひび割れが進行するのを防ぐことができる。したがって、ひび割れ部分から水やオイル等が侵入して回路基板400の回路導体が腐食するのを効果的に防ぎ、製品としての信頼性を向上することができる。
Therefore, when a crack occurs in the
[実施例5]
図14は、実施例5におけるハウジングと回路基板400の構成を説明する図である。
本実施例では、絶縁膜800の第4の領域804が一部途切れた構成を有している。上述の実施例1では、第4の領域804は、回路基板400の境界部の形状に一致するように、ベース部402の輪郭に沿って一定幅で連続して四角枠を形成するように配置されており、その第4の領域804の形状に一致するように凹溝811が形成されている。
[Example 5]
FIG. 14 is a diagram illustrating the configuration of the housing and the
In this embodiment, the
これに対し、本実施例では、絶縁膜800は、第4の領域804が一部途切れている箇所に第5の領域805を有している。第5の領域805には、凹溝811は形成されておらず、第1の領域801と第2の領域802と第3の領域803と同じ膜厚で面一に連続している。凹溝811は、実施例1のようにベース部402の輪郭に沿って全周に亘って設ける必要はなく、絶縁膜800においてひび割れの進行を防ぐ必要がある箇所のみに設けられていればよい。したがって、例えば回路導体が近傍に存在しない箇所については、第5の領域805として、凹溝811を形成しない構成としてもよい。
On the other hand, in this embodiment, the insulating
以上、本発明の実施形態について詳述したが、本発明は、前記の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の精神を逸脱しない範囲で、種々の設計変更を行うことができるものである。例えば、前記した実施の形態は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施形態の構成の一部を他の実施形態の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施形態の構成に他の実施形態の構成を加えることも可能である。さらに、各実施形態の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。 Although the embodiments of the present invention have been described in detail above, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various designs can be made without departing from the spirit of the present invention described in the claims. It can be changed. For example, the above-described embodiment has been described in detail for easy understanding of the present invention, and is not necessarily limited to one having all the configurations described. Further, a part of the configuration of an embodiment can be replaced with the configuration of another embodiment, and the configuration of another embodiment can be added to the configuration of an embodiment. Furthermore, it is possible to add, delete, and replace other configurations for a part of the configuration of each embodiment.
30 被計測気体
124 主通路
300 物理量検出装置
302 ハウジング
400 回路基板
401 基板本体
404 凹溝
425 導体
434 固定部
800 絶縁膜
801 第1の領域
802 第2の領域
803 第3の領域
804 第4の領域
805 第5の領域
811 凹溝
812 スリット
901 金型
30
Claims (9)
前記回路基板は、前記ハウジングに固定される固定部と、前記ハウジングを成形するための金型が押し当てられる押当部と、回路導体が配置される導体配置部と、前記固定部及び前記押当部の少なくとも一方と前記導体配置部との間に形成される境界部と、を有し、
前記絶縁膜は、前記固定部に配置された第1の領域と、前記押当部に配置された第2の領域と、前記導体配置部に配置された第3の領域と、前記境界部に配置された第4の領域と、を有し、前記第1の領域及び前記第2の領域と前記第4の領域との間で膜厚が異なることを特徴とする物理量検出装置。 A physical quantity detection device having a circuit board in which an insulating film is formed on the outer surface of a board body, and a housing in which the circuit board is insert-molded,
The circuit board includes a fixing part fixed to the housing, a pressing part against which a mold for molding the housing is pressed, a conductor arranging part in which a circuit conductor is arranged, the fixing part and the pressing part. A boundary portion formed between at least one of the portions and the conductor arrangement portion,
The insulating film includes a first region disposed in the fixing portion, a second region disposed in the pressing portion, a third region disposed in the conductor placement portion, and the boundary portion. A physical quantity detection device comprising: a fourth region, wherein the first region, the second region, and the fourth region have different film thicknesses.
The said housing is comprised by the material made from a thermoplastic resin, and the said board | substrate main body is comprised by the material made from a glass epoxy resin, The Claim 1 characterized by the above-mentioned. Physical quantity detection device.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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---|---|
JP2017150929A true JP2017150929A (en) | 2017-08-31 |
JP6453790B2 JP6453790B2 (en) | 2019-01-16 |
Family
ID=59740602
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016033121A Active JP6453790B2 (en) | 2016-02-24 | 2016-02-24 | Physical quantity detection device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6453790B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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2016
- 2016-02-24 JP JP2016033121A patent/JP6453790B2/en active Active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6453790B2 (en) | 2019-01-16 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180123 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20181018 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
S533 | Written request for registration of change of name |
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|
R350 | Written notification of registration of transfer |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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