JP6453610B2 - 記憶装置、及び記憶装置の信頼性テスト方法 - Google Patents
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Description
また、第11の態様に係る記憶装置の信頼性テスト方法によれば、メモリアレイの信頼性テストを実行する際には、メモリコントローラは、乱数生成器が生成する真性乱数に代えて所定の固定乱数値を暗号・復号処理部に入力し、暗号・復号処理部は、当該固定乱数値に基づいて、外部装置との間で送受信する信号に対して暗号化及び復号化を行う。このように、真性乱数に代えて所定の固定乱数値を用いることにより、メモリアレイの信頼性テストを実行する際に、暗号・復号処理部による暗号化及び復号化の処理は、乱数生成器が生成する真性乱数に依存しない。その結果、複数台の記憶装置に対して共通の固定乱数値を設定することによって共通の期待値を使用できるため、複数台の記憶装置に対するメモリアレイの信頼性テストを同時に実行することが可能となる。
図5は、メモリテストにおいてメモリコントローラ11が実行する処理の流れを示すフローチャートである。出荷テストにおいてメモリテストを実行する場合、まずテスター装置2は、メモリテストにおいて暗号・復号処理部21に使用させるための所定の固定乱数値を生成した後、テストパターン及びその期待値を生成する。次にテスター装置2は、メモリテストの実行を指示する専用のテストコマンド(以下「メモリテストコマンド」と称す)内に上記固定乱数値を格納した後、当該メモリテストコマンドを既知のテストモード用暗号アルゴリズムを用いて暗号化する。そして、暗号化メモリテストコマンドを、データD1として半導体記憶装置1に送信する。なお、メモリテストコマンドの暗号化は省略しても良い。
図6は、乱数テストにおいてメモリコントローラ11が実行する処理の流れを示すフローチャートである。出荷テストにおいて乱数テストを実行する場合、まずテスター装置2は、乱数生成器12からの乱数値の取得回数を指定するための回数情報を生成する。次にテスター装置2は、乱数テストの実行を指示する専用のテストコマンド(以下「乱数テストコマンド」と称す)内に上記回数情報を格納した後、当該乱数テストコマンドを既知のテストモード用暗号アルゴリズムを用いて暗号化する。そして、暗号化乱数テストコマンドを、データD1として半導体記憶装置1に送信する。なお、乱数テストコマンドの暗号化は省略しても良い。
図7は、乱数テストにおいてメモリコントローラ11が実行する処理の流れを示すフローチャートである。出荷テストにおいて乱数テストを実行する場合、まずテスター装置2は、乱数生成器12からの乱数値の取得回数を指定するための回数情報を生成する。次にテスター装置2は、乱数テストコマンド内に上記回数情報を格納した後、当該乱数テストコマンドを既知のテストモード用暗号アルゴリズムを用いて暗号化する。そして、暗号化乱数テストコマンドを、データD1として半導体記憶装置1に送信する。なお、乱数テストコマンドの暗号化は省略しても良い。
図8は、乱数テストにおいてメモリコントローラ11が実行する処理の流れを示すフローチャートである。出荷テストにおいて乱数テストを実行する場合、まずテスター装置2は、乱数生成器12からの乱数値の取得回数を指定するための回数情報を生成する。次にテスター装置2は、乱数テストコマンド内に上記回数情報を格納した後、当該乱数テストコマンドを既知のテストモード用暗号アルゴリズムを用いて暗号化する。そして、暗号化乱数テストコマンドを、データD1として半導体記憶装置1に送信する。なお、乱数テストコマンドの暗号化は省略しても良い。
本実施の形態に係る半導体記憶装置1によれば、メモリコントローラ11は、テスター装置2からメモリテストコマンドを受信することにより、メモリアレイ13及び乱数生成器12のうちメモリアレイ13のみを対象とする信頼性テスト(メモリテスト)を実行し、テスター装置2から乱数テストコマンドを受信することにより、メモリアレイ13及び乱数生成器12のうち乱数生成器12のみを対象とする信頼性テスト(乱数テスト)を実行する。このように、真性乱数の乱数値に依存しないメモリアレイ13の信頼性テストと、真性乱数の乱数値に依存する乱数生成器12の信頼性テストとを分離して実行することにより、1台のテスター装置2を用いて複数台の半導体記憶装置1に対する信頼性テストを同時に行うことが可能となる。その結果、真性乱数を生成する乱数生成器12が実装された半導体記憶装置1に関しても、複数台の半導体記憶装置1に対する同時の信頼性テストを実現できるため、出荷テストの生産性を向上することが可能となる。
2 テスター装置
11 メモリコントローラ
12 乱数生成器
13 メモリアレイ
21 暗号・復号処理部
22 セルフテスト処理部
23 レジスタ
24〜26 セレクタ
Claims (11)
- コンテンツデータが格納されるメモリアレイと、
真性乱数を生成する乱数生成器と、
前記メモリアレイ及び前記乱数生成器に接続されたメモリコントローラと、
を備え、
前記メモリコントローラは、
外部装置から第1のテストコマンドを受信することにより、前記メモリアレイ及び前記乱数生成器のうち前記メモリアレイのみを対象とする信頼性テストを実行し、
外部装置から第2のテストコマンドを受信することにより、前記メモリアレイ及び前記乱数生成器のうち前記乱数生成器のみを対象とする信頼性テストを実行し、
前記メモリコントローラは、前記乱数生成器が生成する真性乱数に基づいて、ホスト装置との間で送受信する信号に対して暗号化及び復号化を行う暗号・復号処理部を有し、
前記メモリアレイの信頼性テストを実行する際には、前記メモリコントローラは、前記乱数生成器が生成する真性乱数に代えて所定の固定乱数値を前記暗号・復号処理部に入力し、前記暗号・復号処理部は、当該固定乱数値に基づいて、外部装置との間で送受信する信号に対して暗号化及び復号化を行う、記憶装置。 - 前記メモリコントローラは、前記固定乱数値を格納するためのレジスタをさらに有し、
前記固定乱数値は、第1のテストコマンドに含まれており、
前記メモリコントローラは、外部装置から受信した第1のテストコマンドから前記固定乱数値を抽出し、当該固定乱数値を前記レジスタに格納する、請求項1に記載の記憶装置。 - 前記メモリコントローラは、前記固定乱数値を格納するためのレジスタをさらに有し、
前記固定乱数値は、前記記憶装置内の所定の記憶部に格納されており、
前記メモリコントローラは、当該記憶部から前記固定乱数値を読み出し、当該固定乱数値を前記レジスタに格納する、請求項1に記載の記憶装置。 - 前記メモリコントローラは、前記乱数生成器の信頼性テストを実行するセルフテスト処理部を有し、
前記セルフテスト処理部は、
所定の制御信号を前記乱数生成器に入力することにより前記乱数生成器に乱数値を生成させ、
前記乱数生成器が生成した乱数値を前記記憶装置内の所定の記憶部に格納し、
当該記憶部から読み出した乱数値に基づいて、前記乱数生成器が生成した乱数値の再現不可能性を検査する、請求項1〜3のいずれか一つに記載の記憶装置。 - 前記乱数生成器に乱数値を生成させる回数を指定する回数情報は、第2のテストコマンドに含まれており、
前記セルフテスト処理部は、第2のテストコマンドから前記回数情報を抽出し、当該回数情報に基づいて前記乱数生成器に複数の乱数値を順に生成させる、請求項4に記載の記憶装置。 - 前記乱数生成器に乱数値を生成させる回数を指定する回数情報は、前記記憶装置内の所定の記憶部に格納されており、
前記セルフテスト処理部は、当該記憶部から前記回数情報を読み出し、当該回数情報に基づいて前記乱数生成器に複数の乱数値を順に生成させる、請求項4に記載の記憶装置。 - 前記セルフテスト処理部は、前記回数情報が入力されることによって乱数値の検査を開始し、検査が完了するとその検査結果を外部装置に送信する、請求項5又は6に記載の記憶装置。
- 前記セルフテスト処理部は、乱数値の再現不可能性の検査として、前記乱数生成器によって同一の乱数値が連続して生成されたか否かを検査する、請求項4〜7のいずれか一つに記載の記憶装置。
- 前記セルフテスト処理部は、乱数値の再現不可能性の検査として、前記乱数生成器によって生成された複数の乱数値の中に、同一の乱数値が含まれているか否かを検査する、請求項4〜8のいずれか一つに記載の記憶装置。
- 前記セルフテスト処理部は、乱数値の再現不可能性の検査として、前記乱数生成器によって生成された乱数値における「0」又は「1」の出現割合が所定の許容範囲内であるか否かを検査する、請求項4〜9のいずれか一つに記載の記憶装置。
- コンテンツデータが格納されるメモリアレイと、真性乱数を生成する乱数生成器と、前記メモリアレイ及び前記乱数生成器に接続されたメモリコントローラと、を備える記憶装置の信頼性テスト方法であって、
(A)外部装置から第1のテストコマンドを受信することにより、前記メモリアレイ及び前記乱数生成器のうち前記メモリアレイのみを対象とする信頼性テストを実行するステップと、
(B)外部装置から第2のテストコマンドを受信することにより、前記メモリアレイ及び前記乱数生成器のうち前記乱数生成器のみを対象とする信頼性テストを実行するステップと、
を備え、
前記メモリコントローラは、前記乱数生成器が生成する真性乱数に基づいて、ホスト装置との間で送受信する信号に対して暗号化及び復号化を行う暗号・復号処理部を有し、
前記メモリアレイの信頼性テストを実行する際には、前記メモリコントローラは、前記乱数生成器が生成する真性乱数に代えて所定の固定乱数値を前記暗号・復号処理部に入力し、前記暗号・復号処理部は、当該固定乱数値に基づいて、外部装置との間で送受信する信号に対して暗号化及び復号化を行う、記憶装置の信頼性テスト方法。
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