JP6453443B2 - Conductive film laminate - Google Patents

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Description

本発明は、導電フィルムの両面に保護フィルムを貼着した導電フィルム積層体に関する。   The present invention relates to a conductive film laminate in which protective films are attached to both surfaces of a conductive film.

近年、携帯情報機器を始めとした各種の電子機器において、液晶表示装置等の表示装置と組み合わせて用いられ、画面に接触することにより電子機器への入力操作を行うタッチパネルの普及が進んでいる。
このタッチパネルは、その動作原理によって、抵抗膜方式、静電容量方式、赤外線方式、超音波方式および電磁誘導結合方式等に分類されているが、特に、透過率が高く、耐久性に優れた静電容量方式のタッチパネルが注目されている。
In recent years, in various electronic devices such as portable information devices, touch panels that are used in combination with a display device such as a liquid crystal display device and perform an input operation to the electronic device by touching a screen have been widely used.
This touch panel is classified into a resistance film method, a capacitance method, an infrared method, an ultrasonic method, an electromagnetic inductive coupling method, and the like according to the operation principle. In particular, this touch panel has a high transmittance and a high durability. Capacitive touch panels are attracting attention.

静電容量方式のタッチパネルでは、透明な絶縁基板上に所定のパターンで導電層が形成された導電フィルムが用いられ、タッチ操作を行うと、導電フィルムの静電容量の変化から、タッチされた位置の情報を感知する。   In a capacitive touch panel, a conductive film in which a conductive layer is formed in a predetermined pattern on a transparent insulating substrate is used. When a touch operation is performed, the touched position is determined from the change in the capacitance of the conductive film. Sense information.

例えば、特許文献1には、転写基材上の補助電極層に、透明樹脂層、透明樹脂基材を順に積層した後、該転写基材を剥離することにより、転写基材面の平滑性が転写された、該補助電極層と該透明樹脂層とからなる面側に透明導電層を形成した透明導電性積層体が開示されている。
また、特許文献2には、絶縁層の少なくとも片面に、ポリチオフェン系導電剤とメルカプト基を有する含珪素化合物を少なくとも含む溶液を塗工もしくは印刷後、乾燥して得られる導電体からなる導電層を有する導電性シートが開示されている。
For example, Patent Document 1 discloses that the smoothness of the transfer substrate surface is obtained by laminating the transparent substrate after sequentially laminating the transparent resin layer and the transparent resin substrate on the auxiliary electrode layer on the transfer substrate. A transparent conductive laminate in which a transparent conductive layer is formed on the side of the transferred surface composed of the auxiliary electrode layer and the transparent resin layer is disclosed.
Patent Document 2 discloses a conductive layer made of a conductor obtained by applying or printing a solution containing at least a polythiophene-based conductive agent and a silicon-containing compound having a mercapto group on at least one surface of an insulating layer, and then drying. A conductive sheet is disclosed.

また、特許文献3に記載されるように、作製された導電フィルムは、導電フィルムを保護する目的で、その表面に保護フィルムを貼着された積層体として出荷され、次の目的地まで搬送されて、最終的に、保護フィルムを剥離した上で、導電フィルムとしてタッチパネルに搭載する等の用途に利用される。   Moreover, as described in Patent Document 3, the produced conductive film is shipped as a laminate having a protective film attached to the surface for the purpose of protecting the conductive film, and is transported to the next destination. Finally, after the protective film is peeled off, it is used for applications such as mounting as a conductive film on a touch panel.

特開2014−216175号公報JP 2014-216175 A 特開2014−13708号公報JP 2014-13708 A 特開2014−209440号公報JP 2014-209440 A

携帯情報機器等の電子機器は、さらなる薄型化が求められており、タッチパネルにおいても、より薄型のものが要求されている。したがって、導電フィルムについても、さらなる薄型化が求められている。   Electronic devices such as portable information devices are required to be thinner, and a touch panel is also required to be thinner. Accordingly, the conductive film is also required to be thinner.

しかしながら、導電フィルムの絶縁基板を薄くすると、この導電フィルムをOCA(Optical Clear Adhesive)テープを介して、LCD(liquid crystal display)モジュールやカバーガラスと積層する積層化プロセスにおいて、導電フィルムから保護フィルムを剥離する際や、搬送中に、シワやクニックが生じやすくなり、ハンドリング性が悪くなるという問題があることがわかった。   However, when the insulating substrate of the conductive film is thinned, the protective film is removed from the conductive film in a lamination process in which the conductive film is laminated with an LCD (liquid crystal display) module or a cover glass via an OCA (Optical Clear Adhesive) tape. It has been found that there is a problem that wrinkles and nicks are likely to occur during peeling and during transportation, resulting in poor handling.

また、導電フィルムの絶縁基板を薄くすると、導電フィルムから保護フィルムを剥離する際に、剥離したい側の保護フィルムとは反対側の保護フィルムが剥がれてしまうことがあり、シワやクニックの原因となったり、歩留まりが低下したりするという問題があることがわかった。   In addition, if the insulating substrate of the conductive film is thinned, when the protective film is peeled off from the conductive film, the protective film on the side opposite to the protective film on the side to be peeled off may be peeled off, causing wrinkles or nicks. It has been found that there is a problem that the yield decreases.

さらに、導電フィルムの絶縁基板の面積が大きくなると、導電フィルムが薄型でない場合であっても、導電フィルムをOCAテープを介して、LCDモジュールやカバーガラスと積層する積層化プロセスにおいて、導電フィルムから保護フィルムを剥離する際や、搬送中に、シワやクニックが生じやすくなり、ハンドリング性が悪くなるという問題があることもわかった。
また、このように大きな面積を有する導電フィルムから保護フィルムを剥離する際に、剥離したい側の保護フィルムとは反対側の保護フィルムが剥がれやすくなり、シワやクニックの原因となったり、歩留まりが低下したりするという問題があることもわかった。
Furthermore, if the area of the insulating substrate of the conductive film increases, even if the conductive film is not thin, it is protected from the conductive film in the lamination process in which the conductive film is laminated with the LCD module or cover glass via the OCA tape. It has also been found that there is a problem that wrinkles and nicks are liable to occur when the film is peeled off and during conveyance, and handling properties are deteriorated.
Also, when the protective film is peeled from the conductive film having such a large area, the protective film on the side opposite to the protective film on the side to be peeled easily peels off, causing wrinkles and nicks, and reducing the yield. I also found that there was a problem of doing.

また、保護フィルムの剥離力が高すぎる場合にも、シワやクニックの原因となったり、粘着剤の一部が導電フィルム上に残存して、導電フィルムの光学特性が低下したりするという問題があることがわかった。   In addition, when the peel strength of the protective film is too high, wrinkles and nicks may be caused, or a part of the adhesive may remain on the conductive film, resulting in a decrease in the optical properties of the conductive film. I found out.

この発明は、このような従来の問題点を解消するためになされたもので、シワやクニックの発生を抑制でき、ハンドリング性が良好で、歩留まりの低下を抑制でき、また、光学特性の低下を抑制できる導電フィルム積層体を提供することを目的とする。   The present invention has been made to solve such a conventional problem, and can suppress the generation of wrinkles and nicks, has good handling properties, can suppress the decrease in yield, and can reduce the optical characteristics. It aims at providing the conductive film laminated body which can be suppressed.

本発明者は、上記の目的を達成すべく鋭意検討した結果、厚さ70μm未満の絶縁基板と、絶縁基板の少なくとも一方の面上に形成された導電部とを有する導電フィルムと、導電フィルムの第1の面側に剥離可能に貼り付けられた第1の保護フィルムと、導電フィルムの第1の面とは反対側の面である第2の面側に剥離可能に貼り付けられた第2の保護フィルムと、を備え、第1の保護フィルムの厚さt1が、75μm以上であり、導電フィルムに対する、第1の保護フィルムの180°剥離時の剥離力F1が、第2の保護フィルムの180°剥離時の剥離力F2よりも大きく、かつ、0.5N/25mm以下であることによって上記課題が解決できることを見出した。
すなわち、本発明は、以下の技術的思想(1)〜(8)を提供する。
As a result of intensive studies to achieve the above object, the present inventor has found that a conductive film having an insulating substrate having a thickness of less than 70 μm and a conductive portion formed on at least one surface of the insulating substrate, A first protective film that is detachably attached to the first surface side, and a second protective film that is detachably attached to the second surface side that is the surface opposite to the first surface of the conductive film. The thickness t1 of the first protective film is 75 μm or more, and the peeling force F1 at the time of 180 ° peeling of the first protective film to the conductive film is that of the second protective film. It has been found that the above problem can be solved by being larger than the peeling force F2 at the time of 180 ° peeling and 0.5 N / 25 mm or less.
That is, the present invention provides the following technical ideas (1) to (8).

(1) 厚さ70μm未満の絶縁基板と、絶縁基板の少なくとも一方の面上に形成された導電層とを有する導電フィルムと、
導電フィルムの第1の面側に剥離可能に貼り付けられた第1の保護フィルムと、
導電フィルムの第1の面とは反対側の面である第2の面側に剥離可能に貼り付けられた第2の保護フィルムと、を備え、
第1の保護フィルムの厚さt1が、75μm以上であり、
導電フィルムに対する、第1の保護フィルムの180°剥離時の剥離力F1が、第2の保護フィルムの180°剥離時の剥離力F2よりも大きく、かつ、0.5N/25mm以下である導電フィルム積層体。
(2) 第1の保護フィルムの厚さt1が、第2の保護フィルムの厚さt2よりも厚い(1)に記載の導電フィルム積層体。
(3) 第1の保護フィルムおよび第2の保護フィルムのヘイズ値が15%以下である(1)または(2)に記載の導電フィルム積層体。
(4) 絶縁基板の厚さが、50μm以下である(1)〜(3)のいずれかに記載の導電フィルム積層体。
(5) 第1の保護フィルムおよび第2の保護フィルムは、粘着層を有する(1)〜(4)のいずれかに記載の導電フィルム積層体。
(6) 絶縁基板は、ポリエチレンテレフタレート、シクロオレフィンポリマー、または、シクロオレフィンコポリマーからなる(1)〜(5)のいずれかに記載の導電フィルム積層体。
(7) 導電層は、絶縁基板の両面に形成されている(1)〜(6)のいずれかに記載の導電フィルム積層体。
(8) 導電層は、複数の金属細線により形成されたメッシュ構造を有する(1)〜(7)のいずれかに記載の導電フィルム積層体。
(1) a conductive film having an insulating substrate having a thickness of less than 70 μm and a conductive layer formed on at least one surface of the insulating substrate;
A first protective film releasably attached to the first surface side of the conductive film;
A second protective film releasably attached to the second surface side that is the surface opposite to the first surface of the conductive film,
The thickness t1 of the first protective film is 75 μm or more,
The conductive film having a peeling force F1 at the time of 180 ° peeling of the first protective film with respect to the conductive film is larger than the peeling force F2 at the time of 180 ° peeling of the second protective film and is 0.5 N / 25 mm or less. Laminated body.
(2) The conductive film laminate according to (1), wherein the thickness t1 of the first protective film is thicker than the thickness t2 of the second protective film.
(3) The electrically conductive film laminated body as described in (1) or (2) whose haze value of a 1st protective film and a 2nd protective film is 15% or less.
(4) The conductive film laminate according to any one of (1) to (3), wherein the insulating substrate has a thickness of 50 μm or less.
(5) The conductive film laminate according to any one of (1) to (4), wherein the first protective film and the second protective film have an adhesive layer.
(6) The conductive film laminate according to any one of (1) to (5), wherein the insulating substrate is made of polyethylene terephthalate, a cycloolefin polymer, or a cycloolefin copolymer.
(7) The conductive film laminate according to any one of (1) to (6), wherein the conductive layer is formed on both surfaces of the insulating substrate.
(8) The conductive layer laminate according to any one of (1) to (7), wherein the conductive layer has a mesh structure formed of a plurality of fine metal wires.

さらに、本発明者は、上記の目的を達成すべく鋭意検討した結果、厚さが70μm以上で且つ対角線の長さが20インチ以上である絶縁基板と、絶縁基板の少なくとも一方の面上に形成された導電層とを有する導電フィルムと、導電フィルムの第3の面側に剥離可能に貼り付けられた第3の保護フィルムと、導電フィルムの第3の面とは反対側の面である第4の面側に剥離可能に貼り付けられた第4の保護フィルムと、を備え、第3の保護フィルムの厚さt3が、75μm以上であり、導電フィルムに対する、第3の保護フィルムの180°剥離時の剥離力F3が、第4の保護フィルムの180°剥離時の剥離力F4よりも大きく、かつ、0.5N/25mm以下であることによって上記課題が解決できることも見出した。
すなわち、本発明は、以下の技術的思想(9)〜(17)も提供する。
Furthermore, as a result of intensive studies to achieve the above object, the present inventor has formed an insulating substrate having a thickness of 70 μm or more and a diagonal length of 20 inches or more on at least one surface of the insulating substrate. A conductive film having a conductive layer formed thereon, a third protective film releasably attached to the third surface side of the conductive film, and a surface opposite to the third surface of the conductive film. A third protective film having a thickness t3 of 75 μm or more, and 180 ° of the third protective film with respect to the conductive film. It has also been found that the above problem can be solved when the peeling force F3 at the time of peeling is larger than the peeling force F4 at the time of 180 ° peeling of the fourth protective film and 0.5 N / 25 mm or less.
That is, the present invention also provides the following technical ideas (9) to (17).

(9) 厚さ70μm以上で且つ対角線の長さが20インチ以上である絶縁基板と、絶縁基板の少なくとも一方の面上に形成された導電層とを有する導電フィルムと、
導電フィルムの第3の面側に剥離可能に貼り付けられた第3の保護フィルムと、
導電フィルムの第3の面とは反対側の面である第4の面側に剥離可能に貼り付けられた第4の保護フィルムと、を備え、
第3の保護フィルムの厚さt3が、75μm以上であり、
導電フィルムに対する、第3の保護フィルムの180°剥離時の剥離力F3が、第4の保護フィルムの180°剥離時の剥離力F4よりも大きく、かつ、0.5N/25mm以下であることを特徴とする導電フィルム積層体。
(10) 第3の保護フィルムの厚さt3が、第4の保護フィルムの厚さt4よりも厚い(9)に記載の導電フィルム積層体。
(11) 第3の保護フィルムおよび第4の保護フィルムのヘイズ値が15%以下である(9)または(10)に記載の導電フィルム積層体。
(12) 絶縁基板の厚さが、90μm以上である(9)〜(11)のいずれかに記載の導電フィルム積層体。
(13) 絶縁基板の対角線の長さが、25インチ以上である(9)〜(12)のいずれかに記載の導電フィルム積層体。
(14) 第3の保護フィルムおよび第4の保護フィルムは、粘着層を有する(9)〜(13)のいずれかに記載の導電フィルム積層体。
(15) 絶縁基板は、ポリエチレンテレフタレート、シクロオレフィンポリマー、または、シクロオレフィンコポリマーからなる(9)〜(14)のいずれかに記載の導電フィルム積層体。
(16) 導電層は、絶縁基板の両面に形成されている(9)〜(15)のいずれかに記載の導電フィルム積層体。
(17) 導電層は、複数の金属細線により形成されたメッシュ構造を有する(9)〜(16)のいずれかに記載の導電フィルム積層体。
(9) a conductive film having an insulating substrate having a thickness of 70 μm or more and a diagonal length of 20 inches or more, and a conductive layer formed on at least one surface of the insulating substrate;
A third protective film releasably attached to the third surface side of the conductive film;
A fourth protective film releasably attached to the fourth surface side, which is the surface opposite to the third surface of the conductive film,
The thickness t3 of the third protective film is 75 μm or more,
The peeling force F3 at the time of 180 ° peeling of the third protective film with respect to the conductive film is larger than the peeling force F4 at the time of 180 ° peeling of the fourth protective film and 0.5 N / 25 mm or less. A conductive film laminate.
(10) The conductive film laminate according to (9), wherein the thickness t3 of the third protective film is thicker than the thickness t4 of the fourth protective film.
(11) The conductive film laminate according to (9) or (10), wherein the haze value of the third protective film and the fourth protective film is 15% or less.
(12) The conductive film laminate according to any one of (9) to (11), wherein the insulating substrate has a thickness of 90 μm or more.
(13) The conductive film laminate according to any one of (9) to (12), wherein the diagonal length of the insulating substrate is 25 inches or more.
(14) The conductive film laminate according to any one of (9) to (13), wherein the third protective film and the fourth protective film have an adhesive layer.
(15) The conductive film laminate according to any one of (9) to (14), wherein the insulating substrate is made of polyethylene terephthalate, a cycloolefin polymer, or a cycloolefin copolymer.
(16) The conductive film laminate according to any one of (9) to (15), wherein the conductive layer is formed on both surfaces of the insulating substrate.
(17) The conductive film laminate according to any one of (9) to (16), wherein the conductive layer has a mesh structure formed by a plurality of fine metal wires.

この発明によれば、シワやクニックの発生を抑制でき、ハンドリング性が良好で、歩留まりの低下を抑制でき、また、光学特性の低下を抑制できる。   According to the present invention, generation of wrinkles and nicks can be suppressed, handling properties are good, yield can be suppressed, and optical characteristics can be prevented from decreasing.

本発明の実施の形態1に係る導電フィルム積層体の一例を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically an example of the electrically conductive film laminated body which concerns on Embodiment 1 of this invention. 図1の導電フィルム積層体の導電フィルムを示す平面図である。It is a top view which shows the conductive film of the conductive film laminated body of FIG. 導電フィルムの検出電極を拡大して示す部分平面図である。It is a fragmentary top view which expands and shows the detection electrode of a conductive film. 導電フィルム積層体の一部を拡大して示す部分断面図である。It is a fragmentary sectional view which expands and shows a part of conductive film laminated body. 実施の形態2に係る導電フィルム積層体の一例を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically an example of the electrically conductive film laminated body which concerns on Embodiment 2. FIG.

以下に本発明の代表的な実施の形態1および2について説明するが、本発明はそのような実施の形態に限定されるものではない。
なお、本明細書において、「〜」を用いて表される数値範囲は、「〜」の前後に記載される数値を下限値および上限値として含む範囲を意味する。
Hereinafter, representative embodiments 1 and 2 of the present invention will be described, but the present invention is not limited to such embodiments.
In the present specification, a numerical range expressed using “to” means a range including numerical values described before and after “to” as a lower limit value and an upper limit value.

実施の形態1
以下、本発明の実施の形態1の導電フィルム積層体について、添付の図面に示される好適な実施形態を基に、詳細に説明する。
図1に、本発明の実施の形態1の導電フィルム積層体の一例を、断面図によって概念的に示す。
図1に示す導電フィルム積層体50は、絶縁基板11の一方の面に第1の検出電極12が形成され、他方の面に第2の検出電極22が形成されてなる導電フィルム10と、導電フィルム10の一方の面側に剥離可能に貼着された第1の保護フィルム51と、導電フィルム10の他方の面側に剥離可能に貼着された第2の保護フィルム54とを有する。
Embodiment 1
Hereinafter, the conductive film laminate of Embodiment 1 of the present invention will be described in detail based on the preferred embodiments shown in the accompanying drawings.
In FIG. 1, an example of the electrically conductive film laminated body of Embodiment 1 of this invention is notionally shown with sectional drawing.
A conductive film laminate 50 shown in FIG. 1 includes a conductive film 10 in which a first detection electrode 12 is formed on one surface of an insulating substrate 11 and a second detection electrode 22 is formed on the other surface. It has the 1st protective film 51 stuck on one surface side of the film 10 so that peeling was possible, and the 2nd protective film 54 stuck on the other surface side of the conductive film 10 so that peeling was possible.

実施の形態1の導電フィルム積層体は、導電フィルム10の絶縁基板11の厚さが70μm未満であり、第1の保護フィルム51の厚さt1が、75μm以上であり、第1の保護フィルムの180°剥離時の剥離力F1が、第2の保護フィルムの180°剥離時の剥離力F2よりも大きく、かつ、剥離力F1が、0.5N/25mm以下である、というものである。
実施の形態1の導電フィルム積層体は、このような構成により、保護フィルムの剥離容易性を向上して、厚みの薄い絶縁基板にシワやクニックが発生して歩留まりが低下するのを抑制でき、ハンドリング性が良好で、また、保護フィルムを剥離した際の粘着剤の残存を抑制して光学特性の低下を抑制できる。
この点については後に詳述する。
In the conductive film laminate of Embodiment 1, the thickness of the insulating substrate 11 of the conductive film 10 is less than 70 μm, the thickness t1 of the first protective film 51 is 75 μm or more, and the first protective film The peeling force F1 at the time of 180 ° peeling is larger than the peeling force F2 at the time of 180 ° peeling of the second protective film, and the peeling force F1 is 0.5 N / 25 mm or less.
With such a configuration, the conductive film laminate of Embodiment 1 can improve the ease of peeling of the protective film, and can suppress the occurrence of wrinkles and nicks on a thin insulating substrate, thereby reducing the yield. The handling property is good, and the remaining of the pressure-sensitive adhesive when the protective film is peeled can be suppressed to suppress the deterioration of the optical properties.
This point will be described in detail later.

<導電フィルム>
図2に、導電フィルム10の平面図を示す。
導電フィルム10は、矩形状の可撓性の透明な絶縁基板11を有し、絶縁基板11の中央部分にセンシング領域S1が区画され、センシング領域S1の外側に周辺領域S2が区画されている。
<Conductive film>
FIG. 2 shows a plan view of the conductive film 10.
The conductive film 10 has a rectangular flexible transparent insulating substrate 11, and a sensing region S1 is defined at the center of the insulating substrate 11, and a peripheral region S2 is defined outside the sensing region S1.

絶縁基板11は、好ましくは透明性を有し、厚さが70μm未満の絶縁基板である。
このような絶縁基板11の材料としては特に限定はなく、各種の樹脂フィルムが利用可能であり、例えば、PET(ポリエチレンテレフタレート)、COP(シクロオレフィンポリマー)、COC(シクロオレフィンコポリマー)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレン、ポリアミド、ポリ塩化ビニル、ポリカーボネート、ポリアクリロニトリル、ポリイミド、ポリアクリレート、ポリメタクリレートなどの、高分子材料からなるプラスチックフィルムが例示される。なかでも、透明性、絶縁性等の観点からPET、COP、COCが好ましい。
なお、絶縁基板11は、表面に、保護膜や接着膜、反射防止層、遮光層、平坦化層、緩衝層、応力緩和層など、各種の膜が形成されているものであってもよい。
また、実施の形態1において、絶縁基板11は、長尺なフィルムやカットシート状のフィルムなどのフィルム状物である。
The insulating substrate 11 is preferably an insulating substrate having transparency and a thickness of less than 70 μm.
The material of the insulating substrate 11 is not particularly limited, and various resin films can be used. For example, PET (polyethylene terephthalate), COP (cycloolefin polymer), COC (cycloolefin copolymer), polyethylene naphthalate Examples thereof include plastic films made of polymer materials such as (PEN), polyethylene, polypropylene, polystyrene, polyamide, polyvinyl chloride, polycarbonate, polyacrylonitrile, polyimide, polyacrylate, and polymethacrylate. Of these, PET, COP, and COC are preferable from the viewpoints of transparency and insulation.
The insulating substrate 11 may have a surface on which various films such as a protective film, an adhesive film, an antireflection layer, a light shielding layer, a planarization layer, a buffer layer, and a stress relaxation layer are formed.
In the first embodiment, the insulating substrate 11 is a film-like object such as a long film or a cut sheet-like film.

また、絶縁基板11の厚さは、薄型化、透明性、可撓性、機械的強度等の観点から、50μm以下が好ましく、25μm〜45μmがより好ましい。   Further, the thickness of the insulating substrate 11 is preferably 50 μm or less, more preferably 25 μm to 45 μm, from the viewpoints of thinning, transparency, flexibility, mechanical strength, and the like.

絶縁基板11の表面上には、センシング領域S1内に、それぞれ第1の方向D1に沿って延び且つ第1の方向D1に直交する第2の方向D2に並列配置された複数の第1の検出電極12が形成され、周辺領域S2に、複数の第1の検出電極12に対応する複数の第1の引き出し配線13が互いに近接して配列されることにより第1の配線部14が形成されると共に、絶縁基板11の縁部に複数の第1の検出電極12に対応する複数の第1の外部接続端子15が配列形成されている。
それぞれの第1の検出電極12の両端には、それぞれ第1のコネクタ部16が形成され、一方の第1のコネクタ部16に、対応する第1の引き出し配線13の一端部が接続され、第1の引き出し配線13の他端部は、対応する第1の外部接続端子15に接続されている。
On the surface of the insulating substrate 11, a plurality of first detections are arranged in parallel in a second direction D2 extending along the first direction D1 and orthogonal to the first direction D1 in the sensing region S1. An electrode 12 is formed, and a plurality of first lead wires 13 corresponding to the plurality of first detection electrodes 12 are arranged adjacent to each other in the peripheral region S2, thereby forming the first wiring portion 14. At the same time, a plurality of first external connection terminals 15 corresponding to the plurality of first detection electrodes 12 are arranged on the edge of the insulating substrate 11.
A first connector portion 16 is formed at each end of each first detection electrode 12, and one end portion of the corresponding first lead-out wiring 13 is connected to one first connector portion 16. The other end of one lead wiring 13 is connected to the corresponding first external connection terminal 15.

同様に、絶縁基板11の裏面上には、センシング領域S1内に、それぞれ第2の方向D2に沿って延び且つ第1の方向D1に並列配置された複数の第2の検出電極22が形成され、周辺領域S2に、複数の第2の検出電極22に対応する複数の第2の引き出し配線23が互いに近接して配列されることにより第2の配線部24が形成されると共に、絶縁基板11の縁部に複数の第2の検出電極22に対応する複数の第2の外部接続端子25が配列形成されている。
それぞれの第2の検出電極22の両端には、それぞれ第2のコネクタ部26が形成され、一方の第2のコネクタ部26に、対応する第2の引き出し配線23の一端部が接続され、第2の引き出し配線23の他端部は、対応する第2の外部接続端子25に接続されている。
Similarly, a plurality of second detection electrodes 22 extending along the second direction D2 and arranged in parallel in the first direction D1 are formed on the back surface of the insulating substrate 11 in the sensing region S1. In the peripheral region S2, a plurality of second lead wires 23 corresponding to the plurality of second detection electrodes 22 are arranged close to each other to form a second wiring portion 24, and the insulating substrate 11 A plurality of second external connection terminals 25 corresponding to the plurality of second detection electrodes 22 are arranged at the edge of the first and second detection electrodes 22.
A second connector portion 26 is formed at each end of each second detection electrode 22, and one end portion of the corresponding second lead-out wiring 23 is connected to one second connector portion 26, The other end of each of the two lead wires 23 is connected to the corresponding second external connection terminal 25.

なお、複数の第1の引き出し配線13および複数の第2の引き出し配線23は、それぞれ金属から形成されている。
図3に示されるように、絶縁基板11の表面上に配置された第1の検出電極12は、金属細線12aからなるメッシュパターンにより形成されることが好ましく、絶縁基板11の裏面上に配置された第2の検出電極22も、金属細線22aからなるメッシュパターンにより形成されることが好ましい。
The plurality of first lead wires 13 and the plurality of second lead wires 23 are each made of metal.
As shown in FIG. 3, the first detection electrodes 12 arranged on the surface of the insulating substrate 11 are preferably formed by a mesh pattern made of fine metal wires 12 a and arranged on the back surface of the insulating substrate 11. The second detection electrode 22 is also preferably formed by a mesh pattern made of fine metal wires 22a.

このように、第1の検出電極12および第2の検出電極22が、金属細線により形成されたメッシュ状パターンを有することによって、絶縁基板11の裏面側から照明光を照射したときに、メッシュ状パターンの開口および透明な絶縁基板11を通して照明光が絶縁基板11の表面側へ透過する。すなわち、導電フィルムとして透明性を確保することができ、タッチパネルの導電フィルムとして好適に用いることができる。
なお、検出電極は、金属酸化物等であっても良いが、金属酸化物よりも金属メッシュの方が応力が発生しにくく、薄手基板を採用する上で、基板に局所的なひずみ等が生じにくく好ましい。
Thus, when the 1st detection electrode 12 and the 2nd detection electrode 22 have a mesh-shaped pattern formed with the metal fine wire, when irradiating illumination light from the back surface side of the insulated substrate 11, it is mesh-shaped. The illumination light is transmitted to the surface side of the insulating substrate 11 through the opening of the pattern and the transparent insulating substrate 11. That is, transparency can be secured as a conductive film, and it can be suitably used as a conductive film for a touch panel.
The detection electrode may be a metal oxide or the like, but a metal mesh is less likely to generate stress than a metal oxide, and local strain or the like occurs in the substrate when a thin substrate is used. It is difficult and preferable.

なお、第1の検出電極12および第2の検出電極22を構成する金属細線の線幅は、特に制限されないが、金属細線の高集積化の点から、0.1〜10000μmが好ましく、0.1〜300μmがより好ましく、0.1〜100μmがさらに好ましく、0.2〜50μmが特に好ましい。
金属細線間の間隔は特に制限されないが、金属細線の高集積化の点から、0.1〜1500μmが好ましく、0.1〜1200μmがより好ましく、0.1〜1000μmがさらに好ましく、0.2〜900μmが特に好ましい。
金属細線の厚みは特に制限されないが、金属細線の高集積化の点から、0.001〜100μmが好ましく、0.01〜30μmがより好ましく、0.01〜20μmがさらに好ましい。
また、金属細線の配置パターンは特に制限されず、任意の形状であってもよい。例えば、直線状、曲線状、矩形状、円状などが挙げられる。また、複数の金属細線が所望のパターン(例えば、ストライプ状)に配置されていてもよい。
The line widths of the fine metal wires constituting the first detection electrode 12 and the second detection electrode 22 are not particularly limited, but are preferably 0.1 to 10,000 μm from the viewpoint of high integration of the fine metal wires. 1 to 300 μm is more preferable, 0.1 to 100 μm is more preferable, and 0.2 to 50 μm is particularly preferable.
The distance between the fine metal wires is not particularly limited, but is preferably from 0.1 to 1500 μm, more preferably from 0.1 to 1200 μm, further preferably from 0.1 to 1000 μm, from the viewpoint of high integration of the fine metal wires. ˜900 μm is particularly preferable.
The thickness of the fine metal wire is not particularly limited, but is preferably 0.001 to 100 μm, more preferably 0.01 to 30 μm, and still more preferably 0.01 to 20 μm from the viewpoint of high integration of the fine metal wires.
Further, the arrangement pattern of the fine metal wires is not particularly limited, and may be an arbitrary shape. For example, a linear shape, a curved shape, a rectangular shape, a circular shape, and the like can be given. Moreover, the some metal fine wire may be arrange | positioned in the desired pattern (for example, stripe shape).

絶縁基板11の表面上に配置される複数の第1の検出電極12および複数の第1の引き出し配線13は、同一工程により同時に形成することができる。同様に、絶縁基板11の裏面上に配置される複数の第2の検出電極22および複数の第2の引き出し配線23も、同一工程により同時に形成することができる。この場合、同じ絶縁基板11の表面上に配置される第1の検出電極12および第1の引き出し配線13は、同じ材料から同じ厚さに形成され、同様に、同じ絶縁基板11の裏面上に配置される第2の検出電極22および第2の引き出し配線23は、同じ材料から同じ厚さに形成されるのが好ましい。   The plurality of first detection electrodes 12 and the plurality of first lead wires 13 arranged on the surface of the insulating substrate 11 can be formed simultaneously by the same process. Similarly, the plurality of second detection electrodes 22 and the plurality of second lead-out wirings 23 arranged on the back surface of the insulating substrate 11 can be simultaneously formed by the same process. In this case, the first detection electrode 12 and the first lead-out wiring 13 arranged on the surface of the same insulating substrate 11 are formed from the same material to the same thickness, and similarly on the back surface of the same insulating substrate 11. It is preferable that the second detection electrode 22 and the second lead wiring 23 to be disposed are formed of the same material and the same thickness.

このような導電フィルムの製造方法は特に制限されないが、絶縁基板11の両面にそれぞれ、ハロゲン化銀とバインダーとを含有するハロゲン化銀乳剤層(以後、単に感光性層とも称する)を形成する工程(1)、感光性層を露光した後、現像処理する工程(2)を有する方法が挙げられる。
以下に、各工程に関して説明する。
The method for producing such a conductive film is not particularly limited, but a step of forming a silver halide emulsion layer (hereinafter also simply referred to as a photosensitive layer) containing silver halide and a binder on both surfaces of the insulating substrate 11 respectively. (1) The method which has the process (2) which develops after exposing a photosensitive layer is mentioned.
Below, each process is demonstrated.

〔工程(1):感光性層形成工程〕
工程(1)は、絶縁基板11の両面に、ハロゲン化銀とバインダーとを含有する感光性層を形成する工程である。
感光性層を形成する方法は特に制限されないが、生産性の点から、ハロゲン化銀およびバインダーを含有する感光性層形成用組成物を絶縁基板11に接触させ、絶縁基板11の両面上に感光性層を形成する方法が好ましい。
以下に、上記方法で使用される感光性層形成用組成物の態様について詳述した後、工程の手順について詳述する。
[Step (1): Photosensitive layer forming step]
Step (1) is a step of forming a photosensitive layer containing silver halide and a binder on both surfaces of the insulating substrate 11.
The method for forming the photosensitive layer is not particularly limited, but from the viewpoint of productivity, the photosensitive layer forming composition containing silver halide and a binder is brought into contact with the insulating substrate 11 and photosensitive on both sides of the insulating substrate 11. A method of forming a conductive layer is preferred.
Below, after explaining in full detail the aspect of the composition for photosensitive layer formation used with the said method, the procedure of a process is explained in full detail.

感光性層形成用組成物には、ハロゲン化銀およびバインダーが含有される。
ハロゲン化銀に含有されるハロゲン元素は、塩素、臭素、ヨウ素およびフッ素のいずれであってもよく、これらを組み合わせでもよい。ハロゲン化銀としては、例えば、塩化銀、臭化銀、ヨウ化銀を主体としたハロゲン化銀が好ましく用いられ、さらに臭化銀や塩化銀を主体としたハロゲン化銀が好ましく用いられる。
The photosensitive layer forming composition contains a silver halide and a binder.
The halogen element contained in the silver halide may be any of chlorine, bromine, iodine and fluorine, or a combination thereof. As the silver halide, for example, silver halides mainly composed of silver chloride, silver bromide and silver iodide are preferably used, and silver halides mainly composed of silver bromide and silver chloride are preferably used.

使用されるバインダーの種類は特に制限されず、公知の高分子を使用することでき、例えば、水溶性バインダー(水溶性高分子)が用いられてもよい。具体的には、例えば、ゼラチン、カラギナン、ポリビニルアルコール(PVA)、ポリビニルピロリドン(PVP)、澱粉等の多糖類、セルロースおよびその誘導体、ポリエチレンオキサイド、ポリサッカライド、ポリビニルアミン、キトサン、ポリリジン、ポリアクリル酸、ポリアルギン酸、ポリヒアルロン酸、カルボキシセルロース、アラビアゴム、アルギン酸ナトリウムなどが挙げられる。また、バインダーはラテックスの形態で感光性層形成用組成物中に含まれていてもよい。
感光性層形成用組成物中に含まれるハロゲン化銀およびバインダーの体積比は特に制限されず、上述した金属細線12aおよび22a中における金属とバインダーとの好適な体積比の範囲となるように適宜調整される。
The kind in particular of binder used is not restrict | limited, A well-known polymer can be used, for example, a water-soluble binder (water-soluble polymer) may be used. Specifically, for example, polysaccharides such as gelatin, carrageenan, polyvinyl alcohol (PVA), polyvinyl pyrrolidone (PVP), starch, cellulose and derivatives thereof, polyethylene oxide, polysaccharides, polyvinylamine, chitosan, polylysine, polyacrylic acid , Polyalginic acid, polyhyaluronic acid, carboxycellulose, gum arabic, sodium alginate and the like. Moreover, the binder may be contained in the composition for photosensitive layer formation in the form of latex.
The volume ratio of the silver halide and the binder contained in the composition for forming the photosensitive layer is not particularly limited, and is appropriately set so as to be within a preferable volume ratio range of the metal and the binder in the fine metal wires 12a and 22a described above. Adjusted.

感光性層形成用組成物には、必要に応じて、溶媒が含有される。
使用される溶媒としては、例えば、水、有機溶媒(例えば、メタノール等のアルコール類、アセトン等のケトン類、ホルムアミド等のアミド類、ジメチルスルホキシド等のスルホキシド類、酢酸エチル等のエステル類、エーテル類等)、イオン性液体、またはこれらの混合溶媒を挙げることができる。
The composition for forming a photosensitive layer contains a solvent, if necessary.
Examples of the solvent used include water, organic solvents (for example, alcohols such as methanol, ketones such as acetone, amides such as formamide, sulfoxides such as dimethyl sulfoxide, esters such as ethyl acetate, ethers, and the like. Etc.), ionic liquids, or mixed solvents thereof.

(工程の手順)
感光性層形成用組成物と絶縁基板11とを接触させる方法は特に制限されず、公知の方法を採用できる。例えば、感光性層形成用組成物を絶縁基板11に塗布する方法や、感光性層形成用組成物中に絶縁基板11を浸漬する方法などが挙げられる。
形成された感光性層中におけるバインダーの含有量は特に制限されないが、0.3〜5.0g/m2が好ましく、0.5〜2.0g/m2がより好ましい。
また、感光性層中におけるハロゲン化銀の含有量は特に制限されないが、金属細線12aおよび22aの導電特性がより優れる点で、銀換算で1.0〜20.0g/m2が好ましく、5.0〜15.0g/m2がより好ましい。
(Process procedure)
The method for bringing the composition for forming a photosensitive layer into contact with the insulating substrate 11 is not particularly limited, and a known method can be adopted. For example, the method of apply | coating the composition for photosensitive layer formation to the insulating substrate 11, the method of immersing the insulating substrate 11 in the composition for photosensitive layer formation, etc. are mentioned.
The content of the binder in the formed photosensitive layer is not particularly limited but is preferably 0.3~5.0g / m 2, 0.5~2.0g / m 2 is more preferable.
Further, the content of silver halide in the photosensitive layer is not particularly limited, but is preferably 1.0 to 20.0 g / m 2 in terms of silver from the viewpoint that the conductive properties of the fine metal wires 12a and 22a are more excellent. 0.0-15.0 g / m 2 is more preferable.

なお、必要に応じて、感光性層上にバインダーからなる保護層をさらに設けてもよい。保護層を設けることにより、擦り傷防止や力学特性の改良がなされる。   In addition, you may further provide the protective layer which consists of a binder on a photosensitive layer as needed. By providing the protective layer, scratches can be prevented and mechanical properties can be improved.

〔工程(2):露光現像工程〕
工程(2)は、上記工程(1)で得られた感光性層をパターン露光した後、現像処理することにより、第1の検出電極12、第1の引き出し配線13、第1の外部接続端子15、および、第1のコネクタ部16、並びに、第2の検出電極22、第2の引き出し配線23、第2の外部接続端子25、および、第2のコネクタ部26を形成する工程である。
まず、以下では、パターン露光処理について詳述し、その後現像処理について詳述する。
[Step (2): Exposure and development step]
In the step (2), the photosensitive layer obtained in the above step (1) is subjected to pattern exposure and then developed, whereby the first detection electrode 12, the first lead-out wiring 13, and the first external connection terminal. 15 and the first connector portion 16, the second detection electrode 22, the second lead-out wiring 23, the second external connection terminal 25, and the second connector portion 26.
First, the pattern exposure process will be described in detail below, and then the development process will be described in detail.

(パターン露光)
感光性層に対してパターン状の露光を施すことにより、露光領域における感光性層中のハロゲン化銀が潜像を形成する。この潜像が形成された領域は、後述する現像処理によって金属細線を形成する。一方、露光がなされなかった未露光領域では、後述する定着処理の際にハロゲン化銀が溶解して感光性層から流出し、透明な膜が得られる。
露光の際に使用される光源は特に制限されず、可視光線、紫外線などの光、または、X線などの放射線などが挙げられる。
パターン露光を行う方法は特に制限されず、例えば、フォトマスクを利用した面露光で行ってもよいし、レーザービームによる走査露光で行ってもよい。なお、パターンの形状は特に制限されず、形成したい金属細線のパターンに合わせて適宜調整される。
(Pattern exposure)
By subjecting the photosensitive layer to pattern exposure, the silver halide in the photosensitive layer in the exposed region forms a latent image. In the area where the latent image is formed, fine metal lines are formed by a development process described later. On the other hand, in an unexposed area that has not been exposed, the silver halide dissolves and flows out of the photosensitive layer during the fixing process described later, and a transparent film is obtained.
The light source used in the exposure is not particularly limited, and examples thereof include light such as visible light and ultraviolet light, and radiation such as X-rays.
The method for performing pattern exposure is not particularly limited. For example, surface exposure using a photomask may be performed, or scanning exposure using a laser beam may be performed. The shape of the pattern is not particularly limited, and is appropriately adjusted according to the pattern of fine metal wires to be formed.

(現像処理)
現像処理の方法は特に制限されず、公知の方法を採用できる。例えば、銀塩写真フィルム、印画紙、印刷製版用フィルム、フォトマスク用エマルジョンマスク等に用いられる通常の現像処理の技術を用いることができる。
(Development processing)
The development processing method is not particularly limited, and a known method can be employed. For example, a usual development processing technique used for silver salt photographic film, photographic paper, film for printing plate making, emulsion mask for photomask, and the like can be used.

現像処理は、未露光部分の銀塩を除去して安定化させる目的で行われる定着処理を含むことができる。定着処理は、銀塩写真フィルムや印画紙、印刷製版用フィルム、フォトマスク用エマルジョンマスク等に用いられる定着処理の技術を用いることができる。   The development process can include a fixing process performed for the purpose of removing and stabilizing the silver salt in the unexposed part. For the fixing process, a technique of fixing process used for silver salt photographic film, photographic paper, film for printing plate making, emulsion mask for photomask, and the like can be used.

上記工程以外に必要に応じて、以下の下塗り層形成工程、アンチハレーション層形成工程、加熱処理、または、脱バインダー処理を実施してもよい。
(下塗り層形成工程)
絶縁基板11とハロゲン化銀乳剤層との密着性に優れる理由から、上記工程(1)の前に、絶縁基板11の表面に上述した所定の化合物を含む下塗り層を形成する工程を実施することが好ましい。
(アンチハレーション層形成工程)
金属細線12aおよび22aの細線化の観点で、上記工程(1)の前に、絶縁基板11の両面にアンチハレーション層を形成する工程を実施することが好ましい。
In addition to the above steps, the following undercoat layer forming step, antihalation layer forming step, heat treatment, or binder removal treatment may be performed as necessary.
(Undercoat layer forming step)
For the reason of excellent adhesion between the insulating substrate 11 and the silver halide emulsion layer, a step of forming an undercoat layer containing the above-mentioned predetermined compound on the surface of the insulating substrate 11 is performed before the step (1). Is preferred.
(Anti-halation layer formation process)
From the viewpoint of thinning the thin metal wires 12a and 22a, it is preferable to carry out a step of forming antihalation layers on both surfaces of the insulating substrate 11 before the step (1).

〔工程(3):加熱工程〕
工程(3)は、必要に応じて実施され、上記現像処理の後に加熱処理を実施する工程である。本工程を実施することにより、バインダー間で融着が起こり、金属細線12aおよび22aの硬度がより上昇する。特に、感光性層形成用組成物中にバインダーとしてポリマー粒子を分散している場合(バインダーがラテックス中のポリマー粒子の場合)、本工程を実施することにより、ポリマー粒子間で融着が起こり、所望の硬さを示す金属細線12aおよび22aが形成される。
加熱処理の条件は使用されるバインダーによって適宜好適な条件が選択されるが、40℃以上であることがポリマー粒子の造膜温度の観点から好ましく、50℃以上がより好ましく、60℃以上がさらに好ましい。また、基板のカール等を抑制する観点から、150℃以下が好ましく、100℃以下がより好ましい。
なお、この加熱処理は、通常、露光、現像処理の後に行われる乾燥工程と兼ねることができるため、ポリマー粒子の造膜のために新たな工程を増加させる必要がなく、生産性、コスト等の観点で優れる。
[Step (3): Heating step]
Step (3) is performed as necessary, and is a step of performing heat treatment after the development processing. By carrying out this step, fusion occurs between the binders, and the hardness of the fine metal wires 12a and 22a is further increased. In particular, when polymer particles are dispersed as a binder in the composition for forming a photosensitive layer (when the binder is polymer particles in latex), by performing this step, fusion occurs between the polymer particles, Fine metal wires 12a and 22a having a desired hardness are formed.
The conditions for the heat treatment are appropriately selected depending on the binder used, but it is preferably 40 ° C. or higher from the viewpoint of the film forming temperature of the polymer particles, more preferably 50 ° C. or higher, and further 60 ° C. or higher. preferable. Further, from the viewpoint of suppressing curling of the substrate and the like, 150 ° C. or lower is preferable, and 100 ° C. or lower is more preferable.
In addition, since this heat treatment can be combined with a drying step usually performed after exposure and development processing, it is not necessary to increase a new step for film formation of polymer particles, and productivity, cost, etc. Excellent from a viewpoint.

〔工程(4):脱バインダー処理工程〕
脱バインダー処理工程とは、金属細線を有する絶縁基板11を、さらにゼラチン等の水溶性バインダーを分解するタンパク質分解酵素や、オキソ酸等の酸化剤で処理する工程である。本工程を実施することにより、露光・現像処理が施された感光性層からゼラチン等の水溶性バインダーが分解・除去され、金属細線間のイオンマイグレーションが抑制される。
以下では、先ず、本工程で使用される材料について詳述し、その後本工程の手順について詳述する。
[Step (4): Debinding process]
The binder removal treatment step is a step of treating the insulating substrate 11 having fine metal wires with a proteolytic enzyme that decomposes a water-soluble binder such as gelatin or an oxidizing agent such as oxo acid. By carrying out this step, a water-soluble binder such as gelatin is decomposed and removed from the photosensitive layer subjected to the exposure / development treatment, and ion migration between the fine metal wires is suppressed.
Below, the material used at this process is explained in full detail first, and the procedure of this process is explained in full detail after that.

(タンパク質分解酵素)
タンパク質分解酵素(以降、酵素とも称す)は、ゼラチン等のタンパク質を加水分解できる植物性または動物性酵素で公知のものが用いられる。例えば、ペプシン、レンニン、トリプシン、キモトリプシン、カテプシン、パパイン、フィシン、トロンビン、レニン、コラゲナーゼ、ブロメライン、細菌プロテアーゼ等が挙げられる。この中でも特に、トリプシン、パパイン、フィシン、細菌プロテアーゼが好ましい。その中でも、特に、細菌プロテアーゼ(例えば、長瀬産業(株)製のビオプラーゼ)は安価に市販されており容易に入手が可能である。
(Proteolytic enzyme)
As a proteolytic enzyme (hereinafter also referred to as an enzyme), a known plant or animal enzyme capable of hydrolyzing a protein such as gelatin is used. Examples include pepsin, rennin, trypsin, chymotrypsin, cathepsin, papain, ficin, thrombin, renin, collagenase, bromelain, bacterial protease, and the like. Of these, trypsin, papain, ficin, and bacterial protease are particularly preferable. Among these, in particular, bacterial proteases (for example, biolase manufactured by Nagase Sangyo Co., Ltd.) are commercially available at low cost and can be easily obtained.

(酸化剤)
酸化剤は、ゼラチン等のタンパク質を酸化分解できる酸化剤で公知のものが用いられる。例えば、次亜塩素酸塩、亜塩素酸塩、塩素酸塩等のハロゲンオキソ酸塩が挙げられる。なかでも、次亜塩素酸ナトリウムは安価に市販されており、容易に入手が可能である。
(Oxidant)
As the oxidizing agent, known oxidizing agents that can oxidatively decompose proteins such as gelatin are used. Examples thereof include halogen oxoacid salts such as hypochlorite, chlorite and chlorate. Among these, sodium hypochlorite is commercially available at a low price and can be easily obtained.

(工程の手順)
脱バインダー処理工程の手順は、金属細線を有する絶縁基板11と上記酵素または酸化剤とを接触させることができれば、特に制限されない。接触方法としては、例えば、金属細線を有する絶縁基板11上に処理液を塗布する方法や、処理液中に金属細線を有する絶縁基板11を浸漬する方法等が挙げられる。
処理液中における酵素含有量は特に指定はなく、用いる酵素の能力と要求される性能によって任意に決めることができる。なかでも、ゼラチンの分解除去の程度が制御しやすい点で、処理液全量に対して酵素の含有量が0.05〜20質量%程度が適当であり、より好ましくは5〜10質量%である。
(Process procedure)
The procedure of the debinding process is not particularly limited as long as the insulating substrate 11 having fine metal wires can be brought into contact with the enzyme or the oxidizing agent. Examples of the contact method include a method of applying a treatment liquid on the insulating substrate 11 having a thin metal wire, a method of immersing the insulating substrate 11 having a thin metal wire in the treatment liquid, and the like.
The enzyme content in the treatment liquid is not particularly specified, and can be arbitrarily determined depending on the ability of the enzyme used and the required performance. Among them, the enzyme content is suitably about 0.05 to 20% by mass, more preferably 5 to 10% by mass with respect to the total amount of the processing solution, in terms of easy control of the degree of gelatin decomposition and removal. .

この処理液には、上記酵素に加え、pH緩衝剤、抗菌性化合物、湿潤剤、保恒剤など必要に応じて含有させることができる。   In addition to the above enzyme, this treatment liquid can contain a pH buffer, an antibacterial compound, a wetting agent, a preservative, and the like as necessary.

なお、必要に応じて、処理液での処理後に、温水にて金属細線を有する絶縁基板11を洗浄する工程をさらに設けてもよい。本工程を設けることにより、ゼラチン分解残渣、および、タンパク質分解酵素の残部や残留酸化剤等を除去でき、イオンマイグレーションがより抑制される。
洗浄方法は特に制限されず、金属細線を有する絶縁基板11と温水とを接触させることができればよく、例えば、温水中に金属細線を有する絶縁基板11を浸漬する方法や、金属細線を有する絶縁基板11上に温水を塗布する方法等が挙げられる。
温水の温度は使用されるタンパク質分解酵素の種類等に応じて適宜最適な温度が選択されるが、生産性の点から、20〜80℃が好ましく、40〜60℃がより好ましい。
In addition, you may further provide the process of wash | cleaning the insulating substrate 11 which has a metal fine wire with warm water after the process with a process liquid as needed. By providing this step, the gelatinolysis residue, the remainder of the proteolytic enzyme, the residual oxidizing agent, and the like can be removed, and ion migration is further suppressed.
The cleaning method is not particularly limited as long as the insulating substrate 11 having the fine metal wires can be brought into contact with the hot water. For example, a method of immersing the insulating substrate 11 having the fine metal wires in the hot water, or an insulating substrate having the fine metal wires 11 and the like.
The temperature of the hot water is appropriately selected according to the type of proteolytic enzyme used and the like, but is preferably 20 to 80 ° C and more preferably 40 to 60 ° C from the viewpoint of productivity.

また、必要に応じて、上記処理後に、得られた金属細線を有する絶縁基板11に対して平滑化処理を実施してもよい。平滑化処理の方法は特に制限されないが、例えば、一対のロールからなるカレンダーロールにより行うことができる。   Moreover, you may implement a smoothing process with respect to the insulated substrate 11 which has the obtained metal fine wire after the said process as needed. The method of the smoothing process is not particularly limited, and for example, the smoothing process can be performed by a calendar roll including a pair of rolls.

なお、上記の実施形態では、絶縁基板11の表面上に複数の第1の検出電極12と第1の配線部14を配置すると共に絶縁基板11の裏面上に複数の第2の検出電極22と第2の配線部24を配置したが、これに限るものではない。
例えば、絶縁基板11の一方の面側に、複数の第1の検出電極12と複数の第2の検出電極22が層間絶縁膜を介して配置されると共に絶縁基板11の同じ面側に第1の配線部14および第2の配線部24が配置される構成とすることもできる。
In the above embodiment, the plurality of first detection electrodes 12 and the first wiring portion 14 are arranged on the surface of the insulating substrate 11 and the plurality of second detection electrodes 22 are arranged on the back surface of the insulating substrate 11. Although the 2nd wiring part 24 has been arranged, it is not restricted to this.
For example, a plurality of first detection electrodes 12 and a plurality of second detection electrodes 22 are arranged on one surface side of the insulating substrate 11 via an interlayer insulating film, and the first surface electrode on the same surface side of the insulating substrate 11. The wiring part 14 and the second wiring part 24 may be arranged.

あるいは、2枚基板の構成とすることもできる。すなわち、第1の絶縁基板の表面上に複数の第1の検出電極12と第1の配線部14を配置し、第2の絶縁基板の表面上に複数の第2の検出電極22と第2の配線部24を配置し、これら第1の絶縁基板および第2の絶縁基板を、互いに重ね合わせて使用することもできる。   Or it can also be set as the structure of two board | substrates. That is, the plurality of first detection electrodes 12 and the first wiring portion 14 are arranged on the surface of the first insulating substrate, and the plurality of second detection electrodes 22 and the second wiring are arranged on the surface of the second insulating substrate. It is also possible to arrange the wiring portion 24 and use the first insulating substrate and the second insulating substrate so as to overlap each other.

また、図示例の導電フィルム10は、第1の検出電極および第2の検出電極を金属細線からなるメッシュパターンにより形成したが、これに限定はされず、厚さ70μm未満の絶縁基板の少なくとも一方の面上に導電層が形成された導電フィルムであればよく、導電層をベタ状に形成した導電フィルムであってもよい。   In the illustrated conductive film 10, the first detection electrode and the second detection electrode are formed by a mesh pattern made of a thin metal wire. However, the present invention is not limited to this, and at least one of the insulating substrates having a thickness of less than 70 μm is used. Any conductive film having a conductive layer formed on the surface may be used, and a conductive film having a solid conductive layer may be used.

次に、第1の保護フィルム51および第2の保護フィルム54について説明する。
図1および図4に示すように、第1の保護フィルム51および第2の保護フィルム54は、導電フィルム10の両面にそれぞれ貼着される。
Next, the first protective film 51 and the second protective film 54 will be described.
As shown in FIGS. 1 and 4, the first protective film 51 and the second protective film 54 are attached to both surfaces of the conductive film 10, respectively.

<第1の保護フィルム>
第1の保護フィルム51は、導電フィルム10の一方の面である第1の面側に剥離可能に貼り付けられ、搬送中等に導電フィルム10を保護するための部材である。実施の形態1においては、第1の保護フィルム51の厚さt1は、75μm以上である。
図1に示す導電フィルム積層体50においては、第1の保護フィルム51は、第1基材52と第1粘着層53とを有して構成される。
<First protective film>
The first protective film 51 is a member that is detachably attached to the first surface, which is one surface of the conductive film 10, and is a member for protecting the conductive film 10 during transportation. In the first embodiment, the thickness t1 of the first protective film 51 is 75 μm or more.
In the conductive film laminate 50 shown in FIG. 1, the first protective film 51 includes a first base material 52 and a first adhesive layer 53.

第1基材52は、導電フィルムの保護フィルムの基材として用いられる種々の公知の基材が利用可能である。
具体的には、第1基材52は、ポリエチレン(PE)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリアミド(PA)、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリ塩化ビニル(PVC)、ポリビニルアルコール(PVA)、ポリアクリトニトリル(PAN)、ポリイミド(PI)、透明ポリイミド、ポリメタクリル酸メチル樹脂(PMMA)、ポリカーボネート(PC)、ポリアクリレート、ポリメタクリレート、ポリプロピレン(PP)、ポリスチレン(PS)、ABS、環状オレフィン・コポリマー(COC)、シクロオレフィンポリマー(COP)、および、トリアセチルセルロース(TAC)などのフィルムが各種利用可能である。
The 1st base material 52 can utilize the various well-known base materials used as a base material of the protective film of a conductive film.
Specifically, the first substrate 52 is made of polyethylene (PE), polyethylene naphthalate (PEN), polyamide (PA), polyethylene terephthalate (PET), polyvinyl chloride (PVC), polyvinyl alcohol (PVA), polyacrylate. Nitrile (PAN), polyimide (PI), transparent polyimide, polymethyl methacrylate resin (PMMA), polycarbonate (PC), polyacrylate, polymethacrylate, polypropylene (PP), polystyrene (PS), ABS, cyclic olefin copolymer ( Various films such as COC), cycloolefin polymer (COP), and triacetyl cellulose (TAC) can be used.

第1粘着層53は、第1の保護フィルム51として導電フィルム10と積層された際の接着層となる接着性を備える構成要素である。また、第1の保護フィルム51は、導電フィルム10に剥離可能に貼着されるものであるので、第1粘着層53は、導電フィルム10に対して微粘着性を有するものである。
ここで、実施の形態1においては、第1の保護フィルム51と導電フィルム10との間の180°剥離時の剥離力F1は、0.5N/25mm以下であり、かつ、後述する第2の保護フィルム54の180°剥離時の剥離力F2よりも大きい。また、第1の保護フィルム51の180°剥離時の剥離力F1は、0.001N/25mm以上であるのが好ましい。
The first pressure-sensitive adhesive layer 53 is a component having adhesiveness that becomes an adhesive layer when the conductive film 10 is laminated as the first protective film 51. In addition, since the first protective film 51 is detachably attached to the conductive film 10, the first adhesive layer 53 has slight adhesiveness to the conductive film 10.
Here, in the first embodiment, the peeling force F1 at the time of 180 ° peeling between the first protective film 51 and the conductive film 10 is 0.5 N / 25 mm or less, and the second force described later. It is larger than the peeling force F2 when the protective film 54 is peeled 180 °. Moreover, it is preferable that the peeling force F1 at the time of 180 degree peeling of the 1st protective film 51 is 0.001 N / 25mm or more.

ここで、180°剥離時の剥離力とは、JISZ0237に準じて測定した、保護フィルムと導電フィルムとの間の剥離力である。まず、ローラーで圧着しながら70×25mmの保護フィルムを140×25mmの導電フィルムに25mm幅の両端を揃えて貼る。次に、70mm分の保護フィルムに貼合されていない導電フィルムを180°折り返し、15mm剥がす。引張試験機のチャックに剥がした部分の保護フィルムの片端を固定し、もう一方のチャックに導電フィルムを固定する。試験機を300±0.2mm/minで運転し、引き剥がされた50mmの長さの粘着力の測定値を平均して180°剥離時の剥離力を求める。
なお、以下の説明では、180°剥離時の剥離力を単に、剥離力ともいう。
Here, the peeling force at 180 ° peeling is a peeling force between the protective film and the conductive film, measured according to JISZ0237. First, a 70 × 25 mm protective film is pasted on a 140 × 25 mm conductive film with both ends having a width of 25 mm aligned while being pressed by a roller. Next, the conductive film not bonded to the protective film for 70 mm is folded back 180 ° and peeled off by 15 mm. One end of the protective film is fixed to the chuck of the tensile tester, and the conductive film is fixed to the other chuck. The tester is operated at 300 ± 0.2 mm / min, and the peeled-off force at 180 ° peeling is obtained by averaging the measured values of the peeled 50 mm-long adhesive strength.
In the following description, the peeling force at 180 ° peeling is also simply referred to as peeling force.

第1粘着層53は、上記剥離力を発現できれば、第1粘着層53の材料には特に限定はなく、例えば、アクリル系粘着剤、ゴム系粘着剤、シリコーン系粘着剤、ポリウレタン系粘着剤及びポリエステル系粘着剤等を用いることができる。これらの粘着剤は、エマルション型、溶剤型、無溶剤型のいずれであってもよい。   If the 1st adhesion layer 53 can express the above-mentioned peeling power, there will be no restriction in particular in the material of the 1st adhesion layer 53, for example, acrylic adhesive, rubber adhesive, silicone adhesive, polyurethane adhesive, and the like A polyester-based pressure-sensitive adhesive or the like can be used. These pressure-sensitive adhesives may be emulsion type, solvent type, or solventless type.

このような基材と粘着層を有する第1の保護フィルム51としては、保護フィルムとして利用される各種の、市販の微粘着シートを用いることができる。   As the 1st protective film 51 which has such a base material and an adhesion layer, the various commercially available fine adhesion sheet utilized as a protection film can be used.

<第2の保護フィルム>
第2の保護フィルム54は、導電フィルム10の第1の面とは反対側の面である第2の面側に剥離可能に貼り付けられ、搬送中等に導電フィルム10を保護するための部材である。
図1に示す導電フィルム積層体50においては、第2の保護フィルム54は、第2基材55と第2粘着層56とを有して構成される。
<Second protective film>
The second protective film 54 is a member that is peelably attached to the second surface side, which is the surface opposite to the first surface of the conductive film 10, and is a member for protecting the conductive film 10 during transportation. is there.
In the conductive film laminate 50 shown in FIG. 1, the second protective film 54 includes a second base material 55 and a second adhesive layer 56.

第2基材55は、第1基材52と同様の、導電フィルムの保護フィルムの基材として用いられる種々の公知の基材が利用可能である。
なお、第1基材52と第2基材55の材料は同じであっても異なっていてもよい。
The 2nd base material 55 can utilize the various well-known base materials used as a base material of the protective film of a conductive film similar to the 1st base material 52. FIG.
The materials of the first base material 52 and the second base material 55 may be the same or different.

第2粘着層56は、第2の保護フィルム54として導電フィルム10と積層された際の接着層となる接着性を備える構成要素である。また、第2の保護フィルム54は、導電フィルム10に剥離可能に貼着されるものである。
また、前述のとおり、第2の保護フィルム54の180°剥離時の剥離力F2は、第1の保護フィルム51の180°剥離時の剥離力F1よりも小さい。
The second pressure-sensitive adhesive layer 56 is a component having adhesiveness that becomes an adhesive layer when the conductive film 10 is laminated as the second protective film 54. Moreover, the 2nd protective film 54 is stuck to the conductive film 10 so that peeling is possible.
Further, as described above, the peeling force F2 when the second protective film 54 is peeled by 180 ° is smaller than the peeling force F1 when the first protective film 51 is peeled by 180 °.

第2粘着層56の材料は、上記の条件を満たす剥離力を発現できれば、特に限定はなく、第1粘着層53と同様の材料が利用可能である。
また、第1の保護フィルム51と同様に、このような第2の保護フィルム54としては、保護フィルムとして利用される各種の、市販の微粘着シートを用いることができる。
The material of the second adhesive layer 56 is not particularly limited as long as it can exhibit a peeling force that satisfies the above conditions, and the same material as that of the first adhesive layer 53 can be used.
Moreover, similarly to the 1st protective film 51, as such 2nd protective film 54, the various commercially available slightly adhesive sheet | seat utilized as a protective film can be used.

前述のとおり、導電フィルムは、導電フィルムを保護する目的で、その表面に保護フィルムを貼着された積層体として出荷され、次の目的地まで搬送される等して、最終的に、保護フィルムを剥離した上で、導電フィルムをOCA(Optical Clear Adhesive)テープを介して、LCD(liquid crystal display)モジュールおよびカバーガラスと積層する積層化プロセスを経て、導電フィルムとしてタッチパネルに搭載される。その際、導電フィルムは、まず、片方の保護フィルムを剥離されて、LCDモジュールに貼着された後、他方の保護フィルムを剥離されて、カバーガラスと貼着される。
ここで、前述のとおり、携帯情報機器等の電子機器のさらなる薄型化の要求に伴って、タッチパネルに用いられる導電フィルムの薄型化が求められている。
As mentioned above, for the purpose of protecting the conductive film, the conductive film is shipped as a laminate having a protective film attached to the surface thereof, and finally transported to the next destination, and finally the protective film. Then, the conductive film is mounted on the touch panel as a conductive film through a lamination process in which the conductive film is laminated with an LCD (liquid crystal display) module and a cover glass via an OCA (Optical Clear Adhesive) tape. At that time, after the first protective film is peeled off and attached to the LCD module, the other protective film is peeled off and attached to the cover glass.
Here, as described above, with the demand for further thinning of electronic devices such as portable information devices, there is a demand for thinning of conductive films used for touch panels.

しかしながら、導電フィルムを薄くすると、積層化プロセスにおいて、導電フィルムから保護フィルムを剥離する際や、搬送の際に、導電フィルムが変形して、シワやクニックが生じやすくなり、ハンドリング性が悪くなるという問題があることがわかった。特に、片方の保護フィルムを剥離した後の搬送の際には、もう一方の保護フィルムのみで薄い導電フィルムを支持するので導電フィルムが変形しやすくなる。
また、導電フィルムを薄くすると、導電フィルムから片方の保護フィルムを剥離する際に、剥離したい側の保護フィルムとは反対側の保護フィルムが剥がれてしまうことがあり、シワやクニックの原因となったり、歩留まりが低下するという問題があることがわかった。また、保護フィルムの剥離力が高すぎる場合にも、保護フィルムを剥離する際に、導電フィルムが引っ張られて変形し、シワやクニックの原因となったり、粘着剤の一部が導電フィルム上に残存して、導電フィルムの光学特性が低下するという問題があることがわかった。
However, if the conductive film is thinned, the conductive film is deformed when peeling the protective film from the conductive film in the laminating process or during transportation, and wrinkles and nicks are likely to occur, and handling properties are deteriorated. I found out there was a problem. In particular, when transporting after peeling off one of the protective films, the conductive film is easily deformed because the thin conductive film is supported only by the other protective film.
In addition, if the conductive film is made thin, when the protective film on one side is peeled off from the conductive film, the protective film on the side opposite to the protective film on the side to be peeled may be peeled off, causing wrinkles or nicks. , It turns out that there is a problem that the yield decreases. In addition, when the protective film is too peelable, when the protective film is peeled off, the conductive film is pulled and deformed, causing wrinkles and nicks, or part of the adhesive on the conductive film. It has been found that there is a problem that the optical properties of the conductive film deteriorate due to remaining.

これに対して、実施の形態1の導電フィルム積層体は、絶縁基板の厚さが70μm未満の導電フィルムの両面に保護フィルムが剥離可能に貼着され、一方の保護フィルムの剥離力が他方の保護フィルムの剥離力よりも大きく、かつ、0.5N/25mm以下で、さらに、剥離力が大きいほうの保護フィルムの厚さが75μm以上である構成を有する。   In contrast, in the conductive film laminate of Embodiment 1, the protective film is detachably attached to both surfaces of the conductive film having an insulating substrate thickness of less than 70 μm, and the peel strength of one protective film is the other. The protective film has a structure in which the protective film is larger than the peel force of the protective film and 0.5 N / 25 mm or less, and the protective film having the larger peel force has a thickness of 75 μm or more.

実施の形態1においては、絶縁基板の厚さが70μm未満の薄い導電フィルムを用いる場合に、第1の保護フィルムの180°剥離時の剥離力F1を第2の保護フィルムの180°剥離時の剥離力F2よりも大きくすることによって、積層化プロセスにおいて、保護フィルムを剥離する際に、剥離したい側の保護フィルム(第2の保護フィルム)を確実に剥離することができ、反対側の第1の保護フィルムが剥がれることを防止して、シワやクニックの発生や歩留まりの低下を抑制できる。
また、第1の保護フィルムの剥離力F1および第2の保護フィルムの剥離力F2が共に0.5N/25mm以下であるので、第1の保護フィルムあるいは第2の保護フィルムを剥離する際に、導電フィルムが引っ張られて変形してシワやクニックが生じることを抑制でき、また、粘着剤の一部が導電フィルム上に残存することを抑制して光学性能が低下するのを防止できる。
また、剥離力が大きいほうの第1の保護フィルムの厚さt1を75μm以上と厚くすることによって、搬送の際、特に、第2の保護フィルムを剥離した後の搬送の際でも、導電フィルムが変形してシワやクニックが生じることを防止でき、ハンドリング性が悪化するのを抑制できる。
In Embodiment 1, when a thin conductive film having an insulating substrate thickness of less than 70 μm is used, the peeling force F1 at the time of 180 ° peeling of the first protective film is the same as that at the time of 180 ° peeling of the second protective film. By making it larger than the peeling force F2, when peeling the protective film in the lamination process, the protective film on the side to be peeled (second protective film) can be surely peeled, and the first on the opposite side. It is possible to prevent the protective film from being peeled off, and to suppress generation of wrinkles and nicks and a decrease in yield.
Moreover, since both the peeling force F1 of the first protective film and the peeling force F2 of the second protective film are 0.5 N / 25 mm or less, when peeling the first protective film or the second protective film, It can suppress that a conductive film is pulled and deform | transforms, and a wrinkle and a nick generate | occur | produce, Moreover, it can suppress that a part of adhesive remains on a conductive film, and can prevent that optical performance falls.
Further, by increasing the thickness t1 of the first protective film having the larger peeling force to 75 μm or more, the conductive film can be used even during transportation, in particular during transportation after the second protective film is peeled off. It is possible to prevent wrinkles and nicks from being deformed and to suppress deterioration in handling properties.

ここで、導電フィルム10(絶縁基板11)が薄いほど、上述の課題が生じやすいので、本発明の実施の形態1は、導電フィルム10の絶縁基板11の厚さが50μm以下の場合に、より好適に適用することができる。   Here, as the conductive film 10 (insulating substrate 11) is thinner, the above-described problem is more likely to occur. Therefore, the first embodiment of the present invention is more effective when the thickness of the insulating substrate 11 of the conductive film 10 is 50 μm or less. It can be suitably applied.

また、第1の保護フィルム51の厚さt1は、第2の保護フィルム54の厚さt2よりも厚いのが好ましい。
剥離力が小さいほうの第2の保護フィルム54、すなわち、先に剥離される第2の保護フィルムの厚さt2が、第1の保護フィルム51の厚さt1よりも厚いと、第2の保護フィルム54を剥離する際に、剥がしにくくなるおそれがある。
これに対して、先に剥離される第2の保護フィルム54の厚さt2を第1の保護フィルムの厚さt1よりも薄くすることによって、第2の保護フィルム54を剥離する際に、剥離しやすくなる点で好ましい。
The thickness t1 of the first protective film 51 is preferably thicker than the thickness t2 of the second protective film 54.
If the thickness t2 of the second protective film 54 having the smaller peeling force, that is, the second protective film peeled first, is thicker than the thickness t1 of the first protective film 51, the second protective film 54 When the film 54 is peeled off, it may be difficult to peel off.
On the other hand, when the second protective film 54 is peeled off by making the thickness t2 of the second protective film 54 peeled first thinner than the thickness t1 of the first protective film. It is preferable at the point which becomes easy to do.

また、第1の保護フィルム51の剥離力F1は、糊残りを抑制し、導電フィルムの光学特性の低下を防止できる、第2の保護フィルムを剥離する際の第1の保護フィルムの剥離を防止できる等の観点から、0.5N/25mm以下が好ましく、0.01N/25mm〜0.25N/25mmがより好ましい。   Moreover, the peeling force F1 of the first protective film 51 can suppress adhesive residue and prevent the optical properties of the conductive film from being deteriorated, and prevents the first protective film from peeling when the second protective film is peeled off. From the viewpoint of being able to do so, 0.5 N / 25 mm or less is preferable, and 0.01 N / 25 mm to 0.25 N / 25 mm is more preferable.

また、第1の保護フィルム51および第2の保護フィルム54のヘイズ値は、それぞれ、15%以下であるのが好ましく、10%以下がより好ましく、5%以下が特に好ましい。
これにより、導電フィルム積層体50の両面それぞれから、導電フィルム10の絶縁基板11上に形成された検出電極や配線部の形状や配線欠けの有無や、導電フィルム10のクニックやシワの有無等を検査することができる。
The haze values of the first protective film 51 and the second protective film 54 are each preferably 15% or less, more preferably 10% or less, and particularly preferably 5% or less.
Thereby, from each of both surfaces of the conductive film laminate 50, the shape of the detection electrode and the wiring part formed on the insulating substrate 11 of the conductive film 10, the presence or absence of wiring chip, the presence or absence of nicks and wrinkles of the conductive film 10, etc. Can be inspected.

また、図4に示す例では、第1の保護フィルム51および第2の保護フィルム54は、第1粘着層53および第2の粘着層56が、導電フィルム10の金属細線12a、22aの間の領域に入り込み、金属細線12a、22aの表面および絶縁基板11と接した状態で導電フィルム10と貼着される構成としたが、これに限定はされず、金属細線12a、22aの間の領域では、第1粘着層53および第2の粘着層56が絶縁基板11と接していない領域を有していてもよい。   In the example shown in FIG. 4, the first protective film 51 and the second protective film 54 have the first adhesive layer 53 and the second adhesive layer 56 between the metal thin wires 12 a and 22 a of the conductive film 10. Although it was set as the structure stuck to the conductive film 10 in the state which entered the area | region and contacted the surface of the metal fine wires 12a and 22a and the insulating substrate 11, it is not limited to this, In the area between the metal fine wires 12a and 22a The first adhesive layer 53 and the second adhesive layer 56 may have a region that is not in contact with the insulating substrate 11.

実施の形態2
上記の実施の形態1では、厚さが70μm未満の絶縁基板を用いたが、以下の実施の形態2では、対角線の長さが20インチ以上で且つ厚さが70μm以上の絶縁基板を用いる。
Embodiment 2
In the first embodiment, an insulating substrate having a thickness of less than 70 μm is used. However, in the following second embodiment, an insulating substrate having a diagonal length of 20 inches or more and a thickness of 70 μm or more is used.

図5に、実施の形態2の導電フィルム積層体の一例を、断面図によって概念的に示す。
図5に示す導電フィルム積層体50Aは、絶縁基板11Aの一方の面に第1の検出電極12Aが形成され、他方の面に第2の検出電極22Aが形成されてなる導電フィルム10Aと、導電フィルム10Aの一方の面側に剥離可能に貼着された第3の保護フィルム51Aと、導電フィルム10Aの他方の面側に剥離可能に貼着された第4の保護フィルム54Aとを有する。
なお、実施の形態2に係る導電フィルム10Aと導電フィルム10Aに形成された第1の検出電極12Aおよび第2の検出電極22Aは、実施の形態1に係る導電フィルム10と導電フィルム10に形成された第1の検出電極12および第2の検出電極22と同様の構成を有している。
In FIG. 5, an example of the electrically conductive film laminated body of Embodiment 2 is notionally shown with sectional drawing.
The conductive film laminate 50A shown in FIG. 5 includes a conductive film 10A in which a first detection electrode 12A is formed on one surface of an insulating substrate 11A and a second detection electrode 22A is formed on the other surface, It has the 3rd protective film 51A pasted on one side of film 10A so that exfoliation, and the 4th protective film 54A stuck on the other side of conductive film 10A so that peeling was possible.
The conductive film 10A according to Embodiment 2 and the first detection electrode 12A and the second detection electrode 22A formed on the conductive film 10A are formed on the conductive film 10 and the conductive film 10 according to Embodiment 1. The first detection electrode 12 and the second detection electrode 22 have the same configuration.

実施の形態2の導電フィルム積層体は、導電フィルム10Aの絶縁基板11Aが矩形状を有すると共に対角線の長さが20インチ(50.8cm)以上で且つ厚さが70μm以上であり、第3の保護フィルム51Aの厚さt3が、75μm以上であり、第3の保護フィルムの180°剥離時の剥離力F3が、第4の保護フィルムの180°剥離時の剥離力F4よりも大きく、かつ、剥離力F3が、0.5N/25mm以下である、というものである。このような実施の形態2の導電フィルム積層体は、対角線の長さが20インチ以上のタッチパネルに搭載される。
実施の形態2の導電フィルム積層体は、このような構成により、絶縁基板の対角線の長さが20インチ以上となっても、保護フィルムの剥離容易性を向上して、絶縁基板にシワやクニックが発生して歩留まりが低下するのを抑制でき、ハンドリング性が良好で、また、保護フィルムを剥離した際の粘着剤の残存を抑制して光学特性の低下を抑制できる。
この点については後に詳述する。
In the conductive film laminate of the second embodiment, the insulating substrate 11A of the conductive film 10A has a rectangular shape, a diagonal length of 20 inches (50.8 cm) or more, and a thickness of 70 μm or more. The thickness t3 of the protective film 51A is 75 μm or more, the peeling force F3 at the time of 180 ° peeling of the third protective film is larger than the peeling force F4 at the time of 180 ° peeling of the fourth protective film, and The peeling force F3 is 0.5 N / 25 mm or less. Such a conductive film laminate of Embodiment 2 is mounted on a touch panel having a diagonal length of 20 inches or more.
With such a configuration, the conductive film laminate of Embodiment 2 improves the ease of peeling of the protective film even when the diagonal length of the insulating substrate is 20 inches or more, and the insulating substrate is wrinkled or nicked. It is possible to suppress the reduction of the yield due to the occurrence of the above, the handling property is good, and the remaining of the adhesive when the protective film is peeled off can be suppressed to suppress the deterioration of the optical characteristics.
This point will be described in detail later.

<導電フィルム>
図5に示される実施の形態2に係る導電フィルム10Aを、対角線の長さが20インチ以上で且つ厚さが70μm以上である矩形状の絶縁基板を用いて、実施の形態1と同様に製造することができる。
なお、絶縁基板11Aの厚さは、薄型化、透明性、可撓性、機械的強度等の観点から、90μm以上が好ましく、95μm〜150μmがより好ましい。
<Conductive film>
A conductive film 10A according to Embodiment 2 shown in FIG. 5 is manufactured in the same manner as in Embodiment 1 using a rectangular insulating substrate having a diagonal length of 20 inches or more and a thickness of 70 μm or more. can do.
Note that the thickness of the insulating substrate 11A is preferably 90 μm or more, and more preferably 95 μm to 150 μm, from the viewpoints of thinning, transparency, flexibility, mechanical strength, and the like.

次に、第3の保護フィルム51Aおよび第4の保護フィルム54Aについて説明する。
図5に示すように、第3の保護フィルム51Aおよび第4の保護フィルム54Aは、導電フィルム10Aの両面にそれぞれ貼着される。
Next, the third protective film 51A and the fourth protective film 54A will be described.
As shown in FIG. 5, the 3rd protective film 51A and the 4th protective film 54A are each affixed on both surfaces of 10 A of electrically conductive films.

<第3の保護フィルム>
第3の保護フィルム51Aは、実施の形態1に係る第1の保護フィルム51と同様の構成とすることができる。このような第3の保護フィルム51Aの厚さt3は、75μm以上である。
ここで、第3の保護フィルム51Aと導電フィルム10Aとの間の180°剥離時の剥離力F3は、0.5N/25mm以下であり、かつ、後述する第4の保護フィルム54Aの180°剥離時の剥離力F4よりも大きい。また、第3の保護フィルム51Aの180°剥離時の剥離力F3は、0.001N/25mm以上であるのが好ましい。
<Third protective film>
The third protective film 51A can have the same configuration as the first protective film 51 according to the first embodiment. The thickness t3 of the third protective film 51A is 75 μm or more.
Here, the peeling force F3 at the time of 180 ° peeling between the third protective film 51A and the conductive film 10A is 0.5 N / 25 mm or less, and the 180 ° peeling of the fourth protective film 54A described later is performed. It is larger than the peeling force F4 at the time. Moreover, it is preferable that the peeling force F3 at the time of 180 degree peeling of the 3rd protective film 51A is 0.001 N / 25mm or more.

<第4の保護フィルム>
第4の保護フィルムは、実施の形態1に係る第2の保護フィルム54と同様の構成とすることができる。なお、前述のとおり、第4の保護フィルム54Aの180°剥離時の剥離力F4は、第3の保護フィルム51の180°剥離時の剥離力F3よりも小さい。
<4th protective film>
The fourth protective film can have the same configuration as that of the second protective film 54 according to Embodiment 1. As described above, the peeling force F4 when the fourth protective film 54A is peeled by 180 ° is smaller than the peeling force F3 when the third protective film 51 is peeled by 180 °.

実施の形態1に係る導電フィルム積層体は、絶縁基板11を薄くすることによって生じる積層化プロセスにおける導電フィルムのシワ、クニックの発生、ハンドリング性の悪化という課題を解決するものであった。
しかしながら、絶縁基板を薄くしなくても、絶縁基板の面積が大きくなると、積層化プロセスにおいて、導電フィルムから保護フィルムを剥離する際や、搬送の際に、導電フィルムが変形して、シワやクニックが生じやすくなり、ハンドリング性が悪くなるという問題があることがわかった。特に、片方の保護フィルムを剥離した後の搬送の際には、もう一方の保護フィルムのみで導電フィルムを支持するので導電フィルムが変形しやすくなる。
また、絶縁基板を薄くしなくても、絶縁基板の面積が大きくなると、導電フィルムから片方の保護フィルムを剥離する際に、剥離したい側の保護フィルムとは反対側の保護フィルムが剥がれてしまうことがあり、シワやクニックの原因となったり、歩留まりが低下するという問題があることがわかった。
The conductive film laminate according to the first embodiment solves the problems of wrinkling of the conductive film, generation of nicks, and deterioration in handling properties in the lamination process that occurs by thinning the insulating substrate 11.
However, if the area of the insulating substrate is increased without reducing the thickness of the insulating substrate, the conductive film is deformed when peeling the protective film from the conductive film in the lamination process or during transportation. It has been found that there is a problem in that it tends to occur and handling becomes worse. In particular, when transporting after peeling off one protective film, the conductive film is easily deformed because the conductive film is supported only by the other protective film.
Also, even if the insulating substrate is not thinned, when the area of the insulating substrate is increased, when the protective film on one side is peeled off from the conductive film, the protective film on the side opposite to the protective film on the side to be peeled off It was found that there were problems such as wrinkles and nicks and a decrease in yield.

これに対して、実施の形態2の導電フィルム積層体は、対角線の長さが20インチ以上で且つ厚さが70μm以上の絶縁基板を含む導電フィルムの両面に保護フィルムが剥離可能に貼着され、一方の保護フィルムの剥離力が他方の保護フィルムの剥離力よりも大きく、かつ、0.5N/25mm以下で、さらに、剥離力が大きいほうの保護フィルムの厚さが75μm以上である構成を有する。   In contrast, in the conductive film laminate of Embodiment 2, the protective film is detachably attached to both surfaces of a conductive film including an insulating substrate having a diagonal length of 20 inches or more and a thickness of 70 μm or more. The structure in which the peel strength of one protective film is greater than the peel strength of the other protective film and 0.5 N / 25 mm or less, and the thickness of the protective film having the larger peel strength is 75 μm or more. Have.

実施の形態2においては、絶縁基板の対角線の長さが20インチ以上で且つ厚さが70μm以上の導電フィルムを用いる場合に、第3の保護フィルムの180°剥離時の剥離力F3を第4の保護フィルムの180°剥離時の剥離力F4よりも大きくすることによって、積層化プロセスにおいて、保護フィルムを剥離する際に、剥離したい側の保護フィルム(第4の保護フィルム)を確実に剥離することができ、反対側の第3の保護フィルムが剥がれることを防止して、シワやクニックの発生や歩留まりの低下を抑制できる。
また、第3の保護フィルムの剥離力F3および第4の保護フィルムの剥離力F4が共に0.5N/25mm以下であるので、第3の保護フィルムあるいは第4の保護フィルムを剥離する際に、導電フィルムが引っ張られて変形してシワやクニックが生じることを抑制でき、また、粘着剤の一部が導電フィルム上に残存することを抑制して光学性能が低下するのを防止できる。
また、剥離力が大きいほうの第1の保護フィルムの厚さt3を75μm以上と厚くすることによって、搬送の際、特に、第4の保護フィルムを剥離した後の搬送の際でも、導電フィルムが変形してシワやクニックが生じることを防止でき、ハンドリング性が悪化するのを抑制できる。
In the second embodiment, when a conductive film having a diagonal line length of 20 inches or more and a thickness of 70 μm or more is used, the peeling force F3 at the time of 180 ° peeling of the third protective film is the fourth. When the protective film is peeled off, the protective film on the side to be peeled off (fourth protective film) is surely peeled off when the protective film is peeled off in the laminating process. It is possible to prevent the third protective film on the opposite side from being peeled off, and to suppress generation of wrinkles and nicks and a decrease in yield.
Moreover, since the peeling force F3 of the third protective film and the peeling force F4 of the fourth protective film are both 0.5 N / 25 mm or less, when peeling the third protective film or the fourth protective film, It can suppress that a conductive film is pulled and deform | transforms, and a wrinkle and a nick generate | occur | produce, Moreover, it can suppress that a part of adhesive remains on a conductive film, and can prevent that optical performance falls.
Further, by increasing the thickness t3 of the first protective film having the larger peeling force to 75 μm or more, the conductive film can be used even during transportation, particularly during transportation after the fourth protective film is peeled off. It is possible to prevent wrinkles and nicks from being deformed and to suppress deterioration in handling properties.

ここで、絶縁基板11Aの面積が大きいほど、上述の課題が生じやすいので、本発明の実施の形態2は、絶縁基板11Aの対角線の長さが25インチ(63.5cm)以上の場合に、より好適に適用することができる。   Here, as the area of the insulating substrate 11A is larger, the above-described problem is more likely to occur. Therefore, the second embodiment of the present invention is performed when the length of the diagonal line of the insulating substrate 11A is 25 inches (63.5 cm) or more. It can be applied more suitably.

また、第3の保護フィルム51Aの厚さt3は、第4の保護フィルム54Aの厚さt4よりも厚いのが好ましい。
剥離力が小さいほうの第4の保護フィルム54A、すなわち、先に剥離される第4の保護フィルムの厚さt4が、第3の保護フィルム51Aの厚さt3よりも厚いと、第4の保護フィルム54Aを剥離する際に、剥がしにくくなるおそれがある。
これに対して、先に剥離される第4の保護フィルム54Aの厚さt4を第3の保護フィルムの厚さt3よりも薄くすることによって、第4の保護フィルム54Aを剥離する際に、剥離しやすくなる点で好ましい。
The thickness t3 of the third protective film 51A is preferably thicker than the thickness t4 of the fourth protective film 54A.
When the thickness t4 of the fourth protective film 54A having the smaller peeling force, that is, the fourth protective film peeled first, is thicker than the thickness t3 of the third protective film 51A, the fourth protection film 54A is used. When the film 54A is peeled off, it may be difficult to peel off.
On the other hand, when the fourth protective film 54A is peeled off by making the thickness t4 of the fourth protective film 54A peeled first thinner than the thickness t3 of the third protective film 54 It is preferable at the point which becomes easy to do.

また、第3の保護フィルム51Aの剥離力F3は、糊残りを抑制し、導電フィルムの光学特性の低下を防止できる、第4の保護フィルム54Aを剥離する際の第3の保護フィルム51Aの剥離を防止できる等の観点から、0.5N/25mm以下が好ましく、0.01N/25mm〜0.25N/25mmがより好ましい。   Further, the peeling force F3 of the third protective film 51A can suppress the adhesive residue and prevent the optical properties of the conductive film from being deteriorated. The peeling of the third protective film 51A when peeling the fourth protective film 54A. 0.5N / 25mm or less is preferable from a viewpoint of preventing the above, and 0.01N / 25mm to 0.25N / 25mm is more preferable.

また、第3の保護フィルム51Aおよび第4の保護フィルム54Aのヘイズ値は、それぞれ、15%以下であるのが好ましく、10%以下がより好ましく、5%以下が特に好ましい。
これにより、導電フィルム積層体50Aの両面それぞれから、導電フィルム10Aの絶縁基板11A上に形成された検出電極や配線部の形状や配線欠けの有無や、導電フィルム10Aのクニックやシワの有無等を検査することができる。
The haze values of the third protective film 51A and the fourth protective film 54A are each preferably 15% or less, more preferably 10% or less, and particularly preferably 5% or less.
Thereby, from each of both surfaces of the conductive film laminate 50A, the shape of the detection electrode and the wiring part formed on the insulating substrate 11A of the conductive film 10A, the presence or absence of wiring chip, the presence or absence of nicks and wrinkles of the conductive film 10A, etc. Can be inspected.

また、第1の保護フィルム、第2の保護フィルム、第3の保護フィルムおよび第4の保護フィルムが、粘着層を有する構成としたが、これに限定はされず、粘着層を有さず、保護フィルムを構成する基材自体が、導電フィルムに対して粘着力を有する保護フィルムを第1の保護フィルム、第2の保護フィルム、第3の保護フィルムおよび第4の保護フィルムとして利用してもよい。   Moreover, although the 1st protective film, the 2nd protective film, the 3rd protective film, and the 4th protective film set it as the structure which has an adhesion layer, it is not limited to this, It does not have an adhesion layer, Even if the base material which comprises a protective film itself uses the protective film which has adhesive force with respect to a conductive film as a 1st protective film, a 2nd protective film, a 3rd protective film, and a 4th protective film. Good.

以上、本発明の導電フィルム積層体に関して詳細に説明したが、本発明は、上述の例に限定はされず、本発明の要旨を逸脱しない範囲において、各種の改良や変更を行ってもよいのは、もちろんである。   The conductive film laminate of the present invention has been described in detail above. However, the present invention is not limited to the above-described example, and various improvements and modifications may be made without departing from the gist of the present invention. Of course.

以下に実施例に基づいて、本発明をさらに詳細に説明する。第1の保護フィルムの厚さ、第1の保護フィルムのヘイズ値等の値を種々変化させ、実施例1〜11、比較例1〜4のA4サイズ(対角線の長さ約14.3インチ(36.4cm))用の導電フィルム積層体を作製した。
なお、以下の実施例に示す材料、使用量、割合、処理内容、処理手順等は、本発明の趣旨を逸脱しない限り適宜変更することができ、本発明の範囲は、以下の実施例により限定的に解釈されるべきものではない。
Hereinafter, the present invention will be described in more detail based on examples. Various values such as the thickness of the first protective film and the haze value of the first protective film were changed, and the A4 size of Examples 1 to 11 and Comparative Examples 1 to 4 (the length of the diagonal line was about 14.3 inches ( A conductive film laminate for 36.4 cm)) was produced.
The materials, amounts used, ratios, processing details, processing procedures, and the like shown in the following examples can be appropriately changed without departing from the spirit of the present invention, and the scope of the present invention is limited by the following examples. Should not be construed as a matter of course.

[実施例1]
(ハロゲン化銀乳剤の調製)
38℃、pH4.5に保たれた下記1液に、下記の2液および3液の各々90%に相当する量を攪拌しながら同時に20分間にわたって加え、0.16μmの核粒子を形成した。続いて下記4液および5液を8分間にわたって加え、さらに、下記の2液および3液の残りの10%の量を2分間にわたって加え、0.21μmまで成長させた。さらに、ヨウ化カリウム0.15gを加え、5分間熟成し粒子形成を終了した。
[Example 1]
(Preparation of silver halide emulsion)
To the following 1 liquid maintained at 38 ° C. and pH 4.5, an amount corresponding to 90% of each of the following 2 and 3 liquids was simultaneously added over 20 minutes while stirring to form 0.16 μm core particles. Subsequently, the following 4 and 5 solutions were added over 8 minutes, and the remaining 10% of the following 2 and 3 solutions were added over 2 minutes to grow to 0.21 μm. Further, 0.15 g of potassium iodide was added and ripened for 5 minutes to complete the grain formation.

1液:
水 750ml
ゼラチン 9g
塩化ナトリウム 3g
1,3−ジメチルイミダゾリジン−2−チオン 20mg
ベンゼンチオスルホン酸ナトリウム 10mg
クエン酸 0.7g
2液:
水 300ml
硝酸銀 150g
3液:
水 300ml
塩化ナトリウム 38g
臭化カリウム 32g
ヘキサクロロイリジウム(III)酸カリウム
(0.005%KCl 20%水溶液) 8ml
ヘキサクロロロジウム酸アンモニウム
(0.001%NaCl 20%水溶液) 10ml
4液:
水 100ml
硝酸銀 50g
5液:
水 100ml
塩化ナトリウム 13g
臭化カリウム 11g
黄血塩 5mg
1 liquid:
750 ml of water
9g gelatin
Sodium chloride 3g
1,3-Dimethylimidazolidine-2-thione 20mg
Sodium benzenethiosulfonate 10mg
Citric acid 0.7g
Two liquids:
300 ml of water
150 g silver nitrate
3 liquids:
300 ml of water
Sodium chloride 38g
Potassium bromide 32g
Potassium hexachloroiridium (III) (0.005% KCl 20% aqueous solution) 8 ml
Ammonium hexachlororhodate
(0.001% NaCl 20% aqueous solution) 10 ml
4 liquids:
100ml water
Silver nitrate 50g
5 liquids:
100ml water
Sodium chloride 13g
Potassium bromide 11g
Yellow blood salt 5mg

その後、常法に従い、フロキュレーション法によって水洗した。具体的には、温度を35℃に下げ、硫酸を用いてハロゲン化銀が沈降するまでpHを下げた(pH3.6±0.2の範囲であった)。次に、上澄み液を約3リットル除去した(第一水洗)。さらに3リットルの蒸留水を加えてから、ハロゲン化銀が沈降するまで硫酸を加えた。再度、上澄み液を3リットル除去した(第二水洗)。第二水洗と同じ操作をさらに1回繰り返して(第三水洗)、水洗・脱塩工程を終了した。水洗・脱塩後の乳剤をpH6.4、pAg7.5に調整し、ゼラチン3.9g、ベンゼンチオスルホン酸ナトリウム10mg、ベンゼンチオスルフィン酸ナトリウム3mg、チオ硫酸ナトリウム15mgと塩化金酸10mgを加えて55℃にて最適感度を得るように化学増感を施し、安定剤として1,3,3a,7−テトラアザインデン100mg、防腐剤としてプロキセル(商品名、ICI Co.,Ltd.製)100mgを加えた。最終的に得られた乳剤は、沃化銀を0.08モル%含み、塩臭化銀の比率を塩化銀70モル%、臭化銀30モル%とする、平均粒子径0.22μm、変動係数9%のヨウ塩臭化銀立方体粒子乳剤であった。   Then, it washed with water by the flocculation method according to a conventional method. Specifically, the temperature was lowered to 35 ° C., and the pH was lowered using sulfuric acid until the silver halide precipitated (the pH was in the range of 3.6 ± 0.2). Next, about 3 liters of the supernatant was removed (first water washing). Further, 3 liters of distilled water was added, and sulfuric acid was added until the silver halide settled. Again, 3 liters of the supernatant was removed (second water wash). The same operation as the second water washing was further repeated once (third water washing) to complete the water washing / desalting step. The emulsion after washing and desalting was adjusted to pH 6.4 and pAg 7.5, and 3.9 g of gelatin, 10 mg of sodium benzenethiosulfonate, 3 mg of sodium benzenethiosulfinate, 15 mg of sodium thiosulfate and 10 mg of chloroauric acid were added. Chemical sensitization was performed to obtain optimum sensitivity at 55 ° C., 100 mg of 1,3,3a, 7-tetraazaindene as a stabilizer and 100 mg of proxel (trade name, manufactured by ICI Co., Ltd.) as a preservative. added. The finally obtained emulsion contains 0.08 mol% of silver iodide, and the ratio of silver chlorobromide is 70 mol% of silver chloride and 30 mol% of silver bromide. It was a silver iodochlorobromide cubic grain emulsion having a coefficient of 9%.

(感光性層形成用組成物の調製)
上記乳剤に1,3,3a,7−テトラアザインデン1.2×10−4モル/モルAg、ハイドロキノン1.2×10−2モル/モルAg、クエン酸3.0×10−4モル/モルAg、2,4−ジクロロ−6−ヒドロキシ−1,3,5−トリアジンナトリウム塩0.90g/モルAgを添加し、クエン酸を用いて塗布液pHを5.6に調整して、感光性層形成用組成物を得た。
(Preparation of photosensitive layer forming composition)
1,3,3a, 7-tetraazaindene 1.2 × 10 −4 mol / mol Ag, hydroquinone 1.2 × 10 −2 mol / mol Ag, citric acid 3.0 × 10 −4 mol / Mole Ag, 2,4-dichloro-6-hydroxy-1,3,5-triazine sodium salt 0.90 g / mole Ag was added, and the coating solution pH was adjusted to 5.6 using citric acid, and the photosensitivity was obtained. A composition for forming a conductive layer was obtained.

(感光性層形成工程)
厚さ38μmの絶縁基板にコロナ放電処理を施した後、絶縁基板の両面に、下塗層として厚み0.1μmのゼラチン層、さらに下塗層上に光学濃度が約1.0で現像液のアルカリにより脱色する染料を含むアンチハレーション層を設けた。上記アンチハレーション層の上に、上記感光性層形成用組成物を塗布し、さらに厚み0.15μmのゼラチン層を設け、両面に感光性層が形成された絶縁基板を得た。両面に感光性層が形成された絶縁基板をフィルムAとする。形成された感光性層は、銀量6.0g/m、ゼラチン量1.0g/mであった。
(Photosensitive layer forming step)
After applying a corona discharge treatment to an insulating substrate having a thickness of 38 μm, a gelatin layer having a thickness of 0.1 μm as an undercoat layer on both surfaces of the insulating substrate, and an optical density of about 1.0 on the undercoat layer and a developer solution. An antihalation layer containing a dye that decolorizes with an alkali was provided. On the antihalation layer, the photosensitive layer forming composition was applied, a gelatin layer having a thickness of 0.15 μm was further provided, and an insulating substrate having a photosensitive layer formed on both sides was obtained. An insulating substrate having a photosensitive layer formed on both sides is referred to as a film A. The formed photosensitive layer had a silver amount of 6.0 g / m 2 and a gelatin amount of 1.0 g / m 2 .

(露光現像工程)
上記フィルムAの両面に、第1の検出電極12、第1の引き出し配線13、第1の外部接続端子15、および、第1のコネクタ部16のパターン、並びに、第2の検出電極22、第2の引き出し配線23、第2の外部接続端子25、および、第2のコネクタ部26のパターンに対応したフォトマスクを介し、高圧水銀ランプを光源とした平行光を用いて露光を行った。露光後、下記の現像液により現像し、さらに定着液(商品名:CN16X用N3X−R、富士フイルム社製)を用いて現像処理を行った。さらに、純水によりリンスし、乾燥することによって、両面にAg線からなる導電部材とゼラチン層とが形成された絶縁基板を得た。ゼラチン層はAg線間に形成されていた。得られたフィルムをフィルムBとする。
(Exposure development process)
On both surfaces of the film A, the first detection electrode 12, the first lead-out wiring 13, the first external connection terminal 15, the pattern of the first connector portion 16, the second detection electrode 22, the second Exposure was performed using parallel light using a high-pressure mercury lamp as a light source through a photomask corresponding to the pattern of the two lead wires 23, the second external connection terminals 25, and the second connector portion 26. After the exposure, the film was developed with the following developer, and further developed with a fixer (trade name: N3X-R for CN16X, manufactured by Fuji Film). Furthermore, by rinsing with pure water and drying, an insulating substrate having a conductive member made of Ag wire and a gelatin layer formed on both surfaces was obtained. A gelatin layer was formed between Ag lines. The resulting film is referred to as film B.

(現像液の組成)
現像液1リットル(L)中に、以下の化合物が含まれる。
ハイドロキノン 0.037mol/L
N−メチルアミノフェノール 0.016mol/L
メタホウ酸ナトリウム 0.140mol/L
水酸化ナトリウム 0.360mol/L
臭化ナトリウム 0.031mol/L
メタ重亜硫酸カリウム 0.187mol/L
(Developer composition)
The following compounds are contained in 1 liter (L) of the developer.
Hydroquinone 0.037mol / L
N-methylaminophenol 0.016 mol / L
Sodium metaborate 0.140 mol / L
Sodium hydroxide 0.360 mol / L
Sodium bromide 0.031 mol / L
Potassium metabisulfite 0.187 mol / L

(加熱工程)
上記フィルムBに対して、120℃の過熱蒸気槽に130秒間静置して、加熱処理を行った。加熱処理後のフィルムをフィルムCとする。このフィルムCが導電フィルムである。
このようにして、金属細線により形成されたメッシュ状パターン部を有する検出電極が形成された導電フィルムを作製した。
(Heating process)
The film B was left to stand in a superheated steam bath at 120 ° C. for 130 seconds and subjected to heat treatment. The film after the heat treatment is referred to as film C. This film C is a conductive film.
Thus, the electroconductive film in which the detection electrode which has the mesh-shaped pattern part formed with the metal fine wire was formed was produced.

次に、作製した導電フィルムの一方の面(第1の面)側に、厚さt1が125μm、180°剥離力F1が0.07N/25mm、ヘイズ値が0.8%の第1の保護フィルム(株式会社サンエー化研製 TM30125)を、他方の面(第2の面)側に、厚さt2が30μm、180°剥離力F2が0.01N/25mm、ヘイズ値が12.6%の第2の保護フィルム(株式会社サンエー化研製 KD23K)をローラーを用いて貼り合せて、本発明の実施の形態1に係る導電フィルム積層体を作製した。   Next, on the one surface (first surface) side of the produced conductive film, a first protection having a thickness t1 of 125 μm, a 180 ° peeling force F1 of 0.07 N / 25 mm, and a haze value of 0.8%. A film (TM30125 manufactured by Sanei Kaken Co., Ltd.) is placed on the other surface (second surface) side with a thickness t2 of 30 μm, a 180 ° peeling force F2 of 0.01 N / 25 mm and a haze value of 12.6%. Two protective films (KD23K manufactured by Sanei Kaken Co., Ltd.) were bonded together using a roller to produce a conductive film laminate according to Embodiment 1 of the present invention.

なお、保護フィルムの180°剥離力は、保護フィルム貼着前の導電フィルムから、14×2.5cmの試験片を切り出し、5×7cmの保護フィルムの試験片の粘着面にローラーを用いて貼り合せて、保護フィルムの裏面側を両面テープにより剥離試験装置(株式会社島津製作所 オートグラフADS-J)に固定し、速度300mm/minで、導電フィルムを180°方向に引っ張って測定した。
また、保護フィルムのヘイズ値は、5×7cmの保護フィルムの試験片から、粘着面側に積層されたセパレータを剥離した状態で、分光測定計(コニカミノルタ CM-3600A)を用いて測定した。
The 180 ° peel strength of the protective film was obtained by cutting a 14 × 2.5 cm test piece from the conductive film before sticking the protective film and sticking it on the adhesive surface of the 5 × 7 cm test piece of the protective film using a roller. In addition, the back side of the protective film was fixed to a peeling test apparatus (Shimadzu Corporation Autograph ADS-J) with a double-sided tape, and the measurement was performed by pulling the conductive film in the 180 ° direction at a speed of 300 mm / min.
Moreover, the haze value of the protective film was measured using a spectrophotometer (Konica Minolta CM-3600A) in a state where the separator laminated on the adhesive surface side was peeled off from the test piece of the protective film of 5 × 7 cm.

[実施例2〜8]
第1の保護フィルムの種類を変更して、第1の保護フィルムの厚さt1、180°剥離力F1およびヘイズ値を表1に示すように変更した以外は、実施例1と同様にして、導電フィルム積層体を作製した。
[Examples 2 to 8]
Except for changing the type of the first protective film and changing the thickness t1, 180 ° peeling force F1 and haze value of the first protective film as shown in Table 1, the same as in Example 1, A conductive film laminate was produced.

[実施例9]
第1の保護フィルムおよび第2の保護フィルムの種類を変更して、第1の保護フィルムの厚さt1、180°剥離力F1およびヘイズ値、ならびに、第2の保護フィルムの厚さt2、180°剥離力F2およびヘイズ値を表1に示すように変更した以外は、実施例1と同様にして、導電フィルム積層体を作製した。
[実施例10,11]
第1の保護フィルムの種類を変更して、第1の保護フィルムの厚さt1、180°剥離力F1およびヘイズ値を表1に示すように変更した以外は、実施例1と同様にして、導電フィルム積層体を作製した。
[Example 9]
By changing the types of the first protective film and the second protective film, the thickness t1, the 180 ° peeling force F1 and the haze value of the first protective film, and the thickness t2, 180 of the second protective film A conductive film laminate was produced in the same manner as in Example 1 except that the peel force F2 and the haze value were changed as shown in Table 1.
[Examples 10 and 11]
Except for changing the type of the first protective film and changing the thickness t1, 180 ° peeling force F1 and haze value of the first protective film as shown in Table 1, the same as in Example 1, A conductive film laminate was produced.

[比較例1〜4]
第1の保護フィルムの種類を変更して、第1の保護フィルムの厚さt1、180°剥離力F1およびヘイズ値を表1に示すように変更した以外は、実施例1と同様にして、導電フィルム積層体を作製した。
[Comparative Examples 1-4]
Except for changing the type of the first protective film and changing the thickness t1, 180 ° peeling force F1 and haze value of the first protective film as shown in Table 1, the same as in Example 1, A conductive film laminate was produced.

[評価]
作製した実施例および比較例の導電フィルム積層体について、以下の剥離容易性、光学特性、ハンドリング性、目視観察適性を評価した。
[Evaluation]
About the produced conductive film laminated body of the Example and the comparative example, the following peelability, optical characteristics, handling property, and visual observation aptitude were evaluated.

(剥離容易性)
導電フィルム積層体の第1の保護フィルム側を下にして、貼合機(株式会社FUK製 FRFU-R1)の吸着ステージに設置し、規定の圧力(100kPa)で吸着させた。第2の保護フィルムの表面の角に粘着テープを貼り、180°方向に引っ張り第2の保護フィルムを剥離した。その際、導電フィルム積層体全体の吸着ステージからの浮き、および、導電フィルムと第1の保護フィルムとの界面での剥離の有無を目視観察し、以下の基準で評価した。
A:吸着ステージからの浮き、および、第1の保護フィルムの剥離が全く生じなかった。
B:吸着ステージからの浮き、および/または、第1の保護フィルムの剥離が実害の無いレベルで僅かに生じた。
C:吸着ステージからの浮き、および/または、第1の保護フィルムの剥離が実害レベルで発生した。
(Ease of peeling)
The first protective film side of the conductive film laminate was placed on the adsorption stage of a bonding machine (FRFU-R1 manufactured by FUK Co., Ltd.) and adsorbed at a specified pressure (100 kPa). Adhesive tape was applied to the corner of the surface of the second protective film, pulled in the 180 ° direction, and the second protective film was peeled off. In that case, the floating of the whole conductive film laminated body from the adsorption | suction stage, and the presence or absence of peeling in the interface of a conductive film and a 1st protective film were observed visually, and the following references | standards evaluated.
A: Floating from the adsorption stage and peeling of the first protective film did not occur at all.
B: Floating from the adsorption stage and / or peeling of the first protective film occurred slightly at a level without any actual harm.
C: Floating from the adsorption stage and / or peeling of the first protective film occurred at the actual harm level.

(光学特性)
導電フィルム積層体を40℃で、84時間放置した後、第1の保護フィルムおよび第2の保護フィルムを剥離して、導電フィルム単体での光学特性(L*,a*,b*)を測定した。測定には、分光測色計(コニカミノルタ CM-3600A)を用いた。測定した結果を、事前に測定した導電フィルム単体の光学特性(L*,a*,b*)の測定結果と比較し、その変化量に応じて、以下の基準で評価した。
A:非常に小さい。
B:実害ない範囲で小さい。
C:実害ある範囲で変化した。
(optical properties)
After the conductive film laminate is left at 40 ° C. for 84 hours, the first protective film and the second protective film are peeled off, and the optical characteristics (L *, a *, b *) of the conductive film alone are measured. did. For the measurement, a spectrocolorimeter (Konica Minolta CM-3600A) was used. The measurement results were compared with the measurement results of the optical properties (L *, a *, b *) of the conductive film measured in advance, and evaluated according to the following criteria according to the amount of change.
A: Very small.
B: Small as long as there is no actual harm.
C: Changed within a certain range.

(ハンドリング性)
導電フィルム積層体をA4サイズに切り出し、第2の保護フィルムを剥離して、次の工程を想定してスクリーン印刷機へと手で運び、第2の保護フィルムを剥離した導電フィルム積層体を印刷機に設置した。次に、貼合工程を想定して手で貼合機へと運び、第2の保護フィルムを剥離した導電フィルム積層体を貼合機に設置した。その後、導電フィルムを目視観察し、シワやクニックの有無を以下の基準で評価した。
A:この一連の工程にて、シワやクニックが発生しなかった。
C:シワあるいはクニックが発生した。
(Handling properties)
Cut the conductive film laminate into A4 size, peel off the second protective film, carry it by hand to the screen printer assuming the next process, and print the conductive film laminate peeled off the second protective film Installed in the machine. Next, assuming the pasting process, it was carried to the pasting machine by hand, and the conductive film laminate from which the second protective film was peeled was installed in the pasting machine. Thereafter, the conductive film was visually observed, and the presence or absence of wrinkles or nicks was evaluated according to the following criteria.
A: Wrinkles and nicks did not occur in this series of steps.
C: Wrinkles or nicks occurred.

(目視観察適性)
表面にクニックや配線欠けがある導電フィルム(400mm×500mm)を選別して、この導電フィルムの両面に第1の保護フィルムおよび第2の保護フィルムを貼り合わせて、導電フィルム積層体を作製し、両面から導電フィルム積層体を目視観察して、以下の基準で評価した。
A:既知のクニックや配線欠けが目視で視認できる。
B:十分ではないが視認できる。
C:視認できない。
結果を表1に示す。
(Applicability for visual observation)
A conductive film (400 mm × 500 mm) having a nick or wiring chip on the surface is selected, and a first protective film and a second protective film are bonded to both sides of the conductive film to produce a conductive film laminate. The conductive film laminate was visually observed from both sides and evaluated according to the following criteria.
A: Known nicks and wiring defects can be visually recognized.
B: Although not sufficient, it is visible.
C: Not visible.
The results are shown in Table 1.

表1より、本発明の導電フィルム積層体の実施例1〜11は、比較例1〜3に比べて、剥離容易性が高く、ハンドリング性が良いことがわかる。したがって、シワやクニックを発生や歩留まりの低下を抑制できる。また、比較例4に比べて剥離力が適切であることから、保護フィルムを剥離した際に、粘着剤が導電フィルム上に残存するのを抑制でき、光学特性が良好であることがわかる。また、剥離力と厚みのバランスが良いため、ハンドリング性に優れ、ハンドリング中にシワやクニックが生じることを抑制できることがわかる。   From Table 1, it turns out that Examples 1-11 of the conductive film laminated body of this invention have high peeling ease compared with Comparative Examples 1-3, and handling property is good. Therefore, generation of wrinkles and nicks and a decrease in yield can be suppressed. Moreover, since peeling force is appropriate compared with the comparative example 4, when peeling a protective film, it can suppress that an adhesive remains on a conductive film, and it turns out that an optical characteristic is favorable. Moreover, since the balance between peeling force and thickness is good, it can be seen that the handling property is excellent, and that wrinkles and nicks can be suppressed during handling.

また、実施例8と実施例9との対比から、剥離容易性の観点で、第1の保護フィルムの厚さが第2の保護フィルムの厚さよりも厚いのが好ましいことがわかる。
また、実施例2、3、6、7および10の対比から、光学特性の観点で、第1の保護フィルムの180°剥離力は、0.25N/25mm以下がより好ましいことがわかる。
また、実施例1〜11および比較例1の対比から、目視観察適性の観点で、保護フィルムのヘイズ値は15%以下が好ましいことがわかる。
以上の結果から、絶縁基板を薄くした場合において、シワやクニックの発生を抑制でき、ハンドリング性が良好となり、歩留まりの低下を抑制でき、また、光学特性の低下を抑制できるという本発明の効果は、明らかである。
Moreover, it turns out that it is preferable that the thickness of a 1st protective film is thicker than the thickness of a 2nd protective film from a viewpoint of peeling ease from the comparison with Example 8 and Example 9. FIG.
Moreover, from the comparison of Examples 2, 3, 6, 7, and 10, it can be seen that the 180 ° peeling force of the first protective film is more preferably 0.25 N / 25 mm or less from the viewpoint of optical characteristics.
Moreover, from the comparison of Examples 1 to 11 and Comparative Example 1, it is understood that the haze value of the protective film is preferably 15% or less from the viewpoint of visual observation suitability.
From the above results, when the insulating substrate is thinned, the effects of the present invention that the generation of wrinkles and nicks can be suppressed, the handling property is improved, the yield can be suppressed, and the optical characteristics can be suppressed from being decreased. ,it is obvious.

上記の実施例1〜11、比較例1〜4の導電フィルム積層体はA4サイズ用であったが、以下の実施例12〜14、比較例5,6では、第3の保護フィルムの厚さ、第3の保護フィルムのヘイズ値等の値を種々変化させ、対角線の長さが29インチとなるように切り出すための導電フィルム積層体を作製した。   Although the conductive film laminated body of said Examples 1-11 and Comparative Examples 1-4 was for A4 size, in the following Examples 12-14 and Comparative Examples 5 and 6, the thickness of a 3rd protective film The conductive film laminated body for cutting out so that the length of a diagonal line might be 29 inches by changing various values, such as a haze value of a 3rd protective film, was produced.

[実施例12]
絶縁基板の厚さを100μmとし、作製した導電フィルムの一方の面(第1の面)側に第3の保護フィルム、他方の面(第2の面)側に第4の保護フィルムをローラーで貼り合せるように変更した以外は、実施例1と同様にして、導電フィルム積層体を作製した。
[実施例13、14]
第3の保護フィルムおよび第4の保護フィルムの厚さ、180°剥離力およびヘイズ値を表2に示すように変更した以外は、実施例12と同様にして、導電フィルム積層体を作製した。
[実施例15、16]
絶縁基板の厚さを38μmとし、第3の保護フィルムおよび第4の保護フィルムの厚さ、180°剥離力およびヘイズ値を表2に示すように変更した以外は、実施例12と同様にして、導電フィルム積層体を作製した。
[比較例5、6]
第3の保護フィルムおよび第4の保護フィルムの厚さ、180°剥離力およびヘイズ値を表2に示すように変更した以外は、実施例12と同様にして、導電フィルム積層体を作製した。
[比較例7]
絶縁基板の厚さを38μmとし、第3の保護フィルムおよび第4の保護フィルムの厚さ、180°剥離力およびヘイズ値を表2に示すように変更した以外は、実施例12と同様にして、導電フィルム積層体を作製した。
[Example 12]
The thickness of the insulating substrate is set to 100 μm, and a third protective film is provided on one side (first surface) side of the produced conductive film, and a fourth protective film is provided on the other side (second surface) side with a roller. A conductive film laminate was produced in the same manner as in Example 1 except that it was changed to be bonded.
[Examples 13 and 14]
A conductive film laminate was produced in the same manner as in Example 12 except that the thicknesses of the third protective film and the fourth protective film, 180 ° peeling force, and haze value were changed as shown in Table 2.
[Examples 15 and 16]
Except for changing the thickness of the insulating substrate to 38 μm and changing the thicknesses of the third protective film and the fourth protective film, the 180 ° peeling force and the haze value as shown in Table 2, the same manner as in Example 12 was performed. A conductive film laminate was produced.
[Comparative Examples 5 and 6]
A conductive film laminate was produced in the same manner as in Example 12 except that the thicknesses of the third protective film and the fourth protective film, 180 ° peeling force, and haze value were changed as shown in Table 2.
[Comparative Example 7]
Except for changing the thickness of the insulating substrate to 38 μm and changing the thicknesses of the third protective film and the fourth protective film, the 180 ° peeling force and the haze value as shown in Table 2, the same manner as in Example 12 was performed. A conductive film laminate was produced.

[評価]
作製した実施例および比較例の導電フィルム積層体について、以下の剥離容易性、光学特性、ハンドリング性、目視観察適性を評価した。
[Evaluation]
About the produced conductive film laminated body of the Example and the comparative example, the following peelability, optical characteristics, handling property, and visual observation aptitude were evaluated.

(剥離容易性)
実施例1〜11、比較例1〜4と同様に、導電フィルム積層体全体の吸着ステージからの浮き、および、導電フィルムと第1の保護フィルムとの界面での剥離の有無を目視観察し、評価した。
(Ease of peeling)
In the same manner as in Examples 1 to 11 and Comparative Examples 1 to 4, floating from the adsorption stage of the entire conductive film laminate, and the presence or absence of peeling at the interface between the conductive film and the first protective film were visually observed, evaluated.

(光学特性)
実施例1〜11、比較例1〜4と同様に、導電フィルム単体での光学特性(L*,a*,b*)を測定し、評価した。
(optical properties)
As in Examples 1 to 11 and Comparative Examples 1 to 4, the optical properties (L *, a *, b *) of the conductive film alone were measured and evaluated.

(ハンドリング性)
対角線の長さが29インチ(73.7cm)となるように導電フィルム積層体を切り出した以外は、実施例1〜11、比較例1〜4と同様に、導電フィルムを目視観察し、シワやクニックの有無を評価した。
(Handling properties)
Except for cutting out the conductive film laminate so that the length of the diagonal line was 29 inches (73.7 cm), the conductive film was visually observed in the same manner as in Examples 1 to 11 and Comparative Examples 1 to 4, and wrinkles and The presence or absence of nicks was evaluated.

(目視観察適性)
実施例1〜11、比較例1〜4と同様に、導電フィルム積層体を作製し、両面から導電フィルム積層体を目視観察して、評価した。
結果を表2に示す。
(Applicability for visual observation)
The conductive film laminated body was produced similarly to Examples 1-11 and Comparative Examples 1-4, and the conductive film laminated body was visually observed and evaluated from both surfaces.
The results are shown in Table 2.

表2より、本発明の導電フィルム積層体の実施例12〜16は、比較例5〜7に比べて、剥離容易性が高く、ハンドリング性が良いことがわかる。したがって、導電フィルム積層体の対角線の長さが29インチである場合に、シワやクニックを発生や歩留まりの低下を抑制できる。また、比較例5〜7に比べて第3の保護フィルムの厚さが75μm以上であることから、剥離力と厚みのバランスが良いため、絶縁基板の厚さが38μm、あるいは、100μmのいずれであっても、ハンドリング性に優れ、ハンドリング中にシワやクニックが生じることを抑制できることがわかる。   From Table 2, it turns out that Examples 12-16 of the electrically conductive film laminated body of this invention have high peeling ease compared with Comparative Examples 5-7, and handling property is good. Therefore, when the length of the diagonal line of the conductive film laminate is 29 inches, generation of wrinkles and nicks and a decrease in yield can be suppressed. Moreover, since the thickness of the 3rd protective film is 75 micrometers or more compared with Comparative Examples 5-7, since the balance of peeling force and thickness is good, the thickness of an insulated substrate is either 38 micrometers or 100 micrometers. Even if it exists, it turns out that it is excellent in handling property and can suppress that a wrinkle and a nick arise during handling.

また、実施例12〜16の対比から、第3の保護フィルムの厚さが75μm、あるいは、125μmのいずれであっても、剥離容易性が高く、ハンドリング性が良いことがわかる。
以上の結果から、絶縁基板の面積を大きくした場合において、シワやクニックの発生を抑制でき、ハンドリング性が良好となり、歩留まりの低下を抑制でき、また、光学特性の低下を抑制できるという本発明の効果は、明らかである。
Moreover, it turns out that the ease of peeling is high and handling property is good even if the thickness of the 3rd protective film is 75 micrometers or 125 micrometers from the contrast of Examples 12-16.
From the above results, when the area of the insulating substrate is increased, the generation of wrinkles and nicks can be suppressed, the handling property is improved, the yield can be suppressed, and the optical characteristics can be suppressed from decreasing. The effect is obvious.

10,10A 導電フィルム
11,11A 絶縁基板
12,12A 第1の検出電極
12a,22a 金属細線
13 第1の引き出し配線
14 第1の配線部
15 第1の外部接続端子
16 第1のコネクタ部
22,22A 第2の検出電極
23 第2の引き出し配線
24 第2の配線部
25 第2の外部接続端子
26 第2のコネクタ部
50,50A 導電フィルム積層体
51 第1の保護フィルム
52,52A 第1基材
53,53A 第1粘着層
54 第2の保護フィルム
55,55A 第2基材
56,56A 第2粘着層
51A 第3の保護フィルム
54A 第4の保護フィルム
S1 センシング領域
S2 周辺領域
D1 第1の方向
D2 第2の方向
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10,10A Conductive film 11,11A Insulation board | substrate 12,12A 1st detection electrode 12a, 22a Metal fine wire 13 1st extraction | drawer wiring 14 1st wiring part 15 1st external connection terminal 16 1st connector part 22, 22A 2nd detection electrode 23 2nd extraction wiring 24 2nd wiring part 25 2nd external connection terminal 26 2nd connector part 50, 50A Conductive film laminated body 51 1st protective film 52, 52A 1st group Materials 53, 53A First adhesive layer 54 Second protective film 55, 55A Second base material 56, 56A Second adhesive layer 51A Third protective film 54A Fourth protective film S1 Sensing area S2 Peripheral area D1 First Direction D2 Second direction

Claims (17)

厚さ70μm未満の絶縁基板と、前記絶縁基板の少なくとも一方の面上に形成された導電層とを有する導電フィルムと、
前記導電フィルムの第1の面側に剥離可能に貼り付けられた第1の保護フィルムと、
前記導電フィルムの前記第1の面とは反対側の面である第2の面側に剥離可能に貼り付けられた第2の保護フィルムと、を備え、
前記第1の保護フィルムおよび前記第2の保護フィルムはそれぞれ前記導電フィルムとの界面で剥離可能であり、
前記第1の保護フィルムの厚さt1が、75μm以上であり、
前記導電フィルムに対する、前記第1の保護フィルムの180°剥離時の剥離力F1が、前記第2の保護フィルムの180°剥離時の剥離力F2よりも大きく、かつ、0.5N/25mm以下であることを特徴とする導電フィルム積層体。
A conductive film having an insulating substrate having a thickness of less than 70 μm and a conductive layer formed on at least one surface of the insulating substrate;
A first protective film releasably attached to the first surface side of the conductive film;
A second protective film releasably attached to a second surface side that is the surface opposite to the first surface of the conductive film,
Each of the first protective film and the second protective film is peelable at the interface with the conductive film,
A thickness t1 of the first protective film is 75 μm or more;
The peeling force F1 at the time of 180 ° peeling of the first protective film with respect to the conductive film is larger than the peeling force F2 at the time of 180 ° peeling of the second protective film, and is 0.5 N / 25 mm or less. There is a conductive film laminate.
前記第1の保護フィルムの厚さt1が、前記第2の保護フィルムの厚さt2よりも厚い請求項1に記載の導電フィルム積層体。   The conductive film laminate according to claim 1, wherein a thickness t1 of the first protective film is thicker than a thickness t2 of the second protective film. 前記第1の保護フィルムおよび前記第2の保護フィルムのヘイズ値が15%以下である請求項1または2に記載の導電フィルム積層体。   The conductive film laminate according to claim 1, wherein the first protective film and the second protective film have a haze value of 15% or less. 前記絶縁基板の厚さが、50μm以下である請求項1〜3のいずれか1項に記載の導電フィルム積層体。   The conductive film laminate according to claim 1, wherein the insulating substrate has a thickness of 50 μm or less. 前記第1の保護フィルムおよび前記第2の保護フィルムは、粘着層を有する請求項1〜4のいずれか1項に記載の導電フィルム積層体。   The conductive film laminate according to any one of claims 1 to 4, wherein the first protective film and the second protective film have an adhesive layer. 前記絶縁基板は、PET、COP、または、COCからなる請求項1〜5のいずれか1項に記載の導電フィルム積層体。   The conductive film laminate according to any one of claims 1 to 5, wherein the insulating substrate is made of PET, COP, or COC. 前記導電層は、前記絶縁基板の両面に形成されている請求項1〜6のいずれか1項に記載の導電フィルム積層体。   The conductive film laminate according to claim 1, wherein the conductive layer is formed on both surfaces of the insulating substrate. 前記導電層は、複数の金属細線により形成されたメッシュ構造を有する請求項1〜7のいずれか1項に記載の導電フィルム積層体。   The conductive film laminate according to any one of claims 1 to 7, wherein the conductive layer has a mesh structure formed of a plurality of thin metal wires. 厚さが70μm以上で且つ対角線の長さが20インチ以上である絶縁基板と、前記絶縁基板の少なくとも一方の面上に形成された導電層とを有する導電フィルムと、
前記導電フィルムの第3の面側に剥離可能に貼り付けられた第3の保護フィルムと、
前記導電フィルムの前記第3の面とは反対側の面である第4の面側に剥離可能に貼り付けられた第4の保護フィルムと、を備え、
前記第3の保護フィルムおよび前記第4の保護フィルムはそれぞれ前記導電フィルムとの界面で剥離可能であり、
前記第3の保護フィルムの厚さt3が、75μm以上であり、
前記導電フィルムに対する、前記第3の保護フィルムの180°剥離時の剥離力F3が、前記第4の保護フィルムの180°剥離時の剥離力F4よりも大きく、かつ、0.5N/25mm以下であることを特徴とする導電フィルム積層体。
A conductive film having an insulating substrate having a thickness of 70 μm or more and a diagonal length of 20 inches or more, and a conductive layer formed on at least one surface of the insulating substrate;
A third protective film removably attached to the third surface side of the conductive film;
A fourth protective film releasably attached to a fourth surface side that is a surface opposite to the third surface of the conductive film,
The third protective film and the fourth protective film are each peelable at the interface with the conductive film,
A thickness t3 of the third protective film is 75 μm or more;
The peeling force F3 at the time of 180 ° peeling of the third protective film with respect to the conductive film is larger than the peeling force F4 at the time of 180 ° peeling of the fourth protective film, and is 0.5 N / 25 mm or less. There is a conductive film laminate.
前記第3の保護フィルムの厚さt3が、前記第4の保護フィルムの厚さt4よりも厚い請求項9に記載の導電フィルム積層体。   The conductive film laminate according to claim 9, wherein a thickness t3 of the third protective film is thicker than a thickness t4 of the fourth protective film. 前記第3の保護フィルムおよび前記第4の保護フィルムのヘイズ値が15%以下である請求項9または10に記載の導電フィルム積層体。   The conductive film laminate according to claim 9 or 10, wherein the third protective film and the fourth protective film have a haze value of 15% or less. 前記絶縁基板の厚さが、90μm以上である請求項9〜11のいずれか1項に記載の導電フィルム積層体。   The conductive film laminate according to claim 9, wherein the insulating substrate has a thickness of 90 μm or more. 前記絶縁基板の対角線の長さが、25インチ以上である請求項9〜12のいずれか1項に記載の導電フィルム積層体。   The length of the diagonal of the said insulated substrate is 25 inches or more, The conductive film laminated body of any one of Claims 9-12. 前記第3の保護フィルムおよび前記第4の保護フィルムは、粘着層を有する請求項9〜13のいずれか1項に記載の導電フィルム積層体。   The conductive film laminate according to any one of claims 9 to 13, wherein the third protective film and the fourth protective film have an adhesive layer. 前記絶縁基板は、PET、COP、または、COCからなる請求項9〜14のいずれか1項に記載の導電フィルム積層体。   The conductive film laminate according to claim 9, wherein the insulating substrate is made of PET, COP, or COC. 前記導電層は、前記絶縁基板の両面に形成されている請求項9〜15のいずれか1項に記載の導電フィルム積層体。   The conductive film laminate according to claim 9, wherein the conductive layer is formed on both surfaces of the insulating substrate. 前記導電層は、複数の金属細線により形成されたメッシュ構造を有する請求項9〜16のいずれか1項に記載の導電フィルム積層体。   The conductive film laminate according to any one of claims 9 to 16, wherein the conductive layer has a mesh structure formed of a plurality of fine metal wires.
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