JP6423894B2 - アコースティックエミッション波検出器、アコースティックエミッション波検出システム、及びアコースティックエミッション波検出方法 - Google Patents
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Description
部分放電が発生した状態で高圧機器を運転し続けるとボイドやクラックが進展し、絶縁破壊が生じて高圧機器が故障する可能性がある。したがって、絶縁破壊が起こる前に、その予兆現象である部分放電を適切に検出することが求められている。
このように、圧電効果を利用したAEセンサでは、AE波を適切に検出することが困難であるという問題があった。
なお、詳細については、発明を実施するための形態において説明する。
<AE波検出システムの構成>
図1は、第1実施形態に係るAE波検出システムS1の構成図である。なお、AE波検出器3については、その縦断面を図示した。AE波検出システムS1は、高圧機器G(対象物)で発生するAE波を検出するシステムである。
なお、図1に示す高圧機器Gは、例えば、高圧配線である。また、高圧機器Gが備える絶縁体Gaは、例えば、高圧配線の導線を覆う絶縁体である。
広帯域光源1(光源)は、比較的広い波長帯域の光を照射する光源である。広帯域光源1として、ランプ、LED(Light Emitting Diode)光源等を用いることができる。広帯域光源1の光は、光ファイバFaの一端に向けて照射される。
光ファイバ3aの一端は、筐体3b内に臨んだ状態で、この筐体3bに固定されている。光ファイバ3aの他端は、前記したように、光サーキュレータ2の第2ポート2bに接続されている。
また、筐体3bにおいて前記した差込孔と反対側(高圧機器Gに設置される側)の底壁には、FBG3cが設置される孔hが設けられている。
図2は、AE波検出システムS1が備えるFBG3cの説明図である。FBG3cは、光導路となるコアc1と、このコアc1の周囲を覆うクラッドc2と、クラッドc2の周囲を覆いコアc1及びクラッドc2を保護する被覆c3と、を備えている。
なお、図1では、FBG3cを模式的に図示したが、実際には回折格子3gを有するコアc1は、径方向でクラッドc2及び被覆c3によって覆われている。
また、FBG3cは、その軸線が筐体3bの高圧機器Gへの設置面rに対して垂直となるように筐体3bに固定されている。これは、高圧機器Gの表面に向かって伝搬してくるAE波によってFBG3cを高感度で振動させるためである。
図3に示すように、波長帯域λi(広帯域)の光がFBG3cに入射すると、FBG3cにおいて波長λrの光が反射する。この反射波の波長λrと、FBG3cの回折格子3gの周期Λ(軸方向で屈折率が変化する長さの周期)と、は以下の(数式1)に示す関係がある。なお、nはFBG3cの有効屈折率である。
一端が光サーキュレータ2の第3ポート2cに接続された光ファイバFbは、FBG3cから光学フィルタ4に向かう光の光導路となる光デバイスである。光ファイバFbの他端は、光学フィルタ4に接続されている。
図4(a)は、AE波が発生していない正常時における光学フィルタ4の透過特性Tと、FBG3cの反射波Hとの関係を示す説明図である。なお、図4(a)に示す説明図の横軸は光学フィルタ4に入射する光の波長であり、縦軸は光学フィルタ4を透過する光の光パワーである。図4(a)に示すように、光学フィルタ4の透過特性Tは、上に凸の曲線状になっている。
増幅器6は、バイポーラトランジスタ等を有し、光電変換器5から入力される電気信号(電圧の変化)を増幅する電子回路である。
信号処理部8は、高圧機器GでAE波が発生したか否かを判定するものであり、CPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)、各種インタフェースなどの電子回路を含んで構成される。信号処理部8は、AE波の検出結果を表示装置等(図示せず)に出力する機能も有している。
広帯域光源1から出力された光は、光ファイバFa、光サーキュレータ2、及び光ファイバ3aを介して筐体3b内に照射される。筐体3b内に照射された光は、FBG3cに入射する。FBG3cに入射した光のうち、前記した(数式1)の条件を満たす波長λrの光が回折格子3gで強め合って反射する。
部分放電の発生に伴ってAE波がFBG3cに伝搬すると、FBG3cの回折格子3gが振動し、回折格子3gの周期Λ(図3参照)が変化する。したがって、回折格子3gで強め合って反射する光の波長λrも変化する(波長変化検出処理)。
一方、高圧機器Gで部分放電が起こってAE波が発生し、回折格子3gの周期Λが短くなると、前記した(数式1)より、FBG3cで反射される光の波長λ2rは短くなる(λ2r<λ1r:図4(a)、(b)参照)。したがって、図4(b)に示すように、光学フィルタ4の透過光の光パワーP2は、正常時(図4(a)参照)の光パワーP1よりも小さくなる(P2<P1)。
このように、AE波によってFBG3cが振動し、FBG3cの振動に伴って光学フィルタ4の透過光の光パワーが敏感に変化するようになっている(光パワー変換処理)。
なお、デジタル信号の変化幅が所定閾値以上になる回数(つまり、頻度)が、単位時間当たりで所定値以上になった場合、信号処理部8によって「部分放電あり」と判定するようにしてもよい。
本実施形態によれば、絶縁破壊が懸念される高圧機器Gに近接(当接)した状態でAE波検出器3を設置できる。これは、FBG3cが耐絶縁性に優れており、高圧機器Gから放電やノイズの影響を受けることがないためである。
このように収容体Bを介してAE波を間接的に検出すると、収容体B等を伝搬する過程で減衰したAE波がAEセンサUによって検出されることになる。また、AE波は収容体Bを含む様々な機器E2にも伝搬するため、AEセンサUに到達するまでの伝搬経路が複雑になり、AEセンサUの検出精度が低くなるという問題があった。
図16は、比較例に係るAE波検出器3Xの断面図である。図16に示す比較例では、FBG3cの両端が筐体3bに固定されている。このような構成では、FBG3cからの反射波の波長の変化が、部分放電時のAE波によるものなのか、筐体3bによって引張り又は圧縮されたことによるものなのか、判別することが困難になる。
第2実施形態は、広帯域光源1(図1参照)に代えてレーザダイオード1A(図5参照)を用いる点と、光学フィルタ4(図1参照)を省略した点と、が第1実施形態と異なるが、その他については第1実施形態と同様である。したがって、第1実施形態と異なる部分について説明し、重複する部分については説明を省略する。
レーザダイオード1A(光源)は、所定波長λLDの光(波長帯域が非常に狭い光)を照射する光源である。レーザダイオード1Aは、光ファイバFaの一端に向けて光が照射されるように配置されている。
部分放電の発生に伴ってAE波がFBG3cに伝搬すると、FBG3cの回折格子3gが振動(伸縮)し、回折格子3gの反射率分布J(図6(a)参照)も変化する。
なお、AD変換器7及び信号処理部8が行う処理(判定処理)については、第1実施形態と同様であるから説明を省略する。
本実施形態によれば、AE波の発生に伴ってFBG3cの反射率分布J(図6参照)が変化することを利用して、AE波を高感度で検出できる。また、第1実施形態で説明した光学フィルタ4(図1参照)が不要になるため、AE波検出システムS2に要するコストを低減できる。
第3実施形態は、AE波検出器3A(図7参照)が光コネクタ3dを備える点が第1実施形態と異なるが、その他については第1実施形態と同様である。したがって、第1実施形態と異なる部分について説明し、重複する部分については説明を省略する。
光コネクタ3dは、光ファイバ3aを筐体3bに挿抜可能にするためのものである。光コネクタ3dは、光ファイバ3aの一端付近に設置される光プラグ31dと、筐体3bに設置される光レセプタクル32dと、を有している。
光プラグ31d及び光レセプタクル32dは、相互に挿抜可能に構成されている。なお、光レセプタクル32dは、光ファイバ3aと同様にコア及びクラッドを有している。そして、光ファイバ3a及び光コネクタ3dを介してFBG3cに光が照射され、また、FBG3cで反射した光が光コネクタ3d及び光ファイバ3aを伝搬するようになっている。
本実施形態によれば、光プラグ31dを光レセプタクル32dから抜くことで、光ファイバ3aを筐体3bから取り外すことができる。また、AE波検出器3Aを高圧機器Gに取り付ける際には、筐体3bを高圧機器Gに取り付けた後、光プラグ31dを光レセプタクル32dに差し込めばよい。したがって、AE波検出器3Aの取付作業を容易に行うことができる。
第4実施形態は、筐体3b内にミラー3i(図8参照)及び保持部材3j(図8参照)を備える点が第1実施形態と異なるが、その他については第1実施形態と同様である。したがって、第1実施形態と異なる部分について説明し、重複する部分については説明を省略する。
ミラー3i(鏡部材)は、光ファイバ3aから出射された光をFBG3cに向けて反射させるとともに、FBG3cの回折格子3gで強め合った光を光ファイバ3aに向けて反射させるためのものであり、筐体3b内に設置されている。
本実施形態によれば、筐体3b内にミラー3iを設置し、筐体3bの側壁の孔に光ファイバ3aを差し込む構成であるため、第1実施形態(図1参照)と比較してAE波検出器3Bの高さを低くできる。したがって、例えば、高圧機器Gの高さ方向(図8の紙面上下方向)のスペースがあまりない場合でも、高圧機器GにAE波検出器3Bを容易に設置できる。
第5実施形態は、広帯域光源1から照射された光を分波させる光カプラK(図9参照)を備える点と、複数の検出ユニット(AE波検出器31,32,…,3n等:図9参照)を備える点と、が第1実施形態とは異なるが、その他については第1実施形態と同様である。したがって、第1実施形態と異なる部分について説明し、重複する部分については説明を省略する。
光カプラKは、広帯域光源1から照射される光を分波させるための光デバイスである。光カプラには、分波した光をAE波検出器31,32,…,3nに向けて伝搬させるためのn本の光ファイバFaが接続されている。
AE波検出システムS5は、前記した検出ユニットをn個備えている。例えば、高圧機器Gが高圧配線である場合、この高圧配線の軸方向に沿ってn個のAE波検出器31,32,…,3nが設置される。
本実施形態によれば、複数のAE波検出器31,32,…,3nを高圧機器Gに設置する構成であるため、高圧機器において複数箇所で部分放電を検出できる。また、AE波検出器31,32,…,3nへのAE波の伝搬時間に基づいて、部分放電の発生箇所を特定できる。
第6実施形態は、複数の検出ユニット(AE波検出器31,32,…,3n等:図10参照)を備える点と、光合成器M1,M2及び光分波器N1,N2を備える点と、が第2実施形態と異なるが、その他については第2実施形態(図5参照)と同様である。したがって、第2実施形態と異なる部分について説明し、重複する部分については説明を省略する。
AE波検出システムS6は、n個の検出ユニット(AE波検出器31,32,…,3n等等)と、光合成器M1,M2と、光分波器N1,N2と、信号処理部8と、を備えている。
レーザダイオード11Aは、波長λ1LDの光を光ファイバFcに向けて照射する光源である。ちなみに、n個のレーザダイオード11A,12A,…,1nAによって、異なる波長λ1LD,λ2LD,…,λnLDの光が出射されるようになっている。
なお、第1の検出ユニットの構成については、第2実施形態と同様であるから説明を省略する。また、他の検出ユニットについても説明を省略する。
光ファイバFdは、光合成器M1で合成された光の光導路となる光デバイスである。光ファイバFdの一端は光合成器M1に接続され、他端は光分波器N1に接続されている。
光分波器N1は、光合成器M1から光ファイバFdを介して入射してくる光を複数の波長帯域ごとに波長λ1LD,λ2LD,…,λnLDの光に分波させ、分波した光をn本の光ファイバFaに出射させる光デバイスである。
図11の符号Lk(以下、k=1,2,…,nとする)は、レーザダイオード1kAから出射される光の波長λkLD及び光パワーを表している。符号Jkは、高圧機器Gで部分放電が発生していない状態におけるFBG3kcの反射率分布を表している。
光ファイバFeは、光合成器M2で合成された光の光導路となる光デバイスである。光ファイバFeの一端は光合成器M2に接続され、他端は光分波器N2に接続されている。
光分波器N2は、光合成器M2から光ファイバFeを介して入射してくる光を複数の波長帯域に応じて複数の波長λkLDの光に分波し、分派した光を光電変換器5kに出射する光デバイスである。
本実施形態によれば、n個のAE波検出器3kを高圧機器Gに設置することによって、部分放電を複数箇所で検出できる。また、例えば、監視室Qが高圧機器Gから離れた場所にある場合でも、監視室Qまで引き回す光ファイバの本数(光ファイバFd,Feの2本)を第5実施形態よりも少なくすることができ、設備コストを低減できる。
第7実施形態は、筐体31b(図12参照)内に光学フィルタ31f(図12参照)を設置する点と、AE波検出器31,32,…,3nが光ファイバ31a,32a,…,3naを介して直列に接続されている点と、が第6実施形態と異なるが、それ以外については第6実施形態と同様である。したがって、第6実施形態と異なる部分について説明し、重複する部分については説明を省略する。
レーザダイオード11Aは、波長λ1LD(図11参照)の光を光ファイバFcに向けて照射する光源である。なお、n個のレーザダイオード11A,12A,…,1nAによって、異なる波長λ1LD,λ2LD,…,λnLDの光が出射されるようになっている。
筐体31bの側壁には、二つの孔(図示せず)が設けられ、一方の孔に光ファイバ31aが差し込まれており、他方の孔に光ファイバ32aが差し込まれている。そして、光ファイバ31a,32aの一方から出射された光の一部が、後記する光学フィルタ31fを透過して他方に入射するようになっている。
また、光学フィルタ31fは、筐体31bの上壁に対して所定角度(例えば、45°)だけ傾いた状態で設置されている。これは、光ファイバ31aから入射した光の一部が光学フィルタ31fで反射してFBG31cに向かい、FBG31cの回折格子で強め合った光が光学フィルタ31fで反射して光ファイバ31aに向かうようにするためである。
なお、信号処理部8等、他の構成については第6実施形態と同様であるから説明を省略する。
本実施形態によれば、n個のAE波検出器3kを高圧機器Gに設置することで、部分放電を複数箇所で検出できる。また、1本のライン(光ファイバ3ka)でAE波検出器3kが直列接続された構成になっている。したがって、光サーキュレータ2の個数が一つで足り、第6実施形態のように光サーキュレータ21等(図10参照)を複数設ける必要がない。したがって、AE波検出器3kの接続関係を単純化できるとともに、光ファイバ3kaやサーキュレータ2に要するコストを低減できる。
以上、本発明に係るAE波検出システムS1等について各実施形態で説明したが、本発明はこれらの記載に限定されるものではなく、種々の変更を行うことができる。
例えば、第1実施形態(図1参照)では、筐体3bの底壁に設けられた孔hを介してFBG3cの下端q(他端)を露出させる構成について説明したが、これに限らない。すなわち、図13に示すように、筐体3bの底壁に孔を設けず(領域Wを参照)、この底壁にFBG3cの下端qを固定するようにしてもよい。このような構成でも、部分放電に伴うAE波が筐体3bの底壁を介してFBG3cに伝搬するため、FBG3cの振動を利用して部分放電を検出できる。
また、第5実施形態(図9参照)では、広帯域光源1から入射する光を光カプラKによって分波される構成について説明したが、これに限らない。すなわち、複数の光ファイバFaの一端側にそれぞれ広帯域光源1を設けるようにしてもよい。
また、光合成器M2及び光分波器N2を省略し、n本の光ファイバFbからの光が光電変換器51,52,…,5nに直接的に入るようにしてもよい。
1 広帯域光源(光源)
1A,11A,12A,…,1nA レーザダイオード
2,21,22,…,2n 光サーキュレータ(光導路形成器)
3,3A,3B,31,32,…,3n アコースティックエミッション波検出器
3a,31a,32a,…,3na 光ファイバ(第1光ファイバ)
3b,31b,32b,…,3nb 筐体
3c,31c,32c,…,3nc FBG(第2光ファイバ)
p 上端(一端)
q 下端(他端)
r 設置面
3d 光コネクタ
3f 光学フィルタ(第1光学フィルタ)
3g 回折格子
3i ミラー(鏡部材)
31f,32f,…,3nf 光学フィルタ(第2光学フィルタ)
4,41,42,…,4n 光学フィルタ(第1光学フィルタ)
5,51,52,…,5n 光電変換器
6,61,62,…,6n 増幅器(判定処理部)
7,71,72,…,7n AD変換器(判定処理部)
8 信号処理部(判定処理部)
11A,,12A,…,1nA レーザダイオード(光源)
G 高圧機器(対象物)
Claims (15)
- 筺体と、
光源からの光を前記筺体内に導く第1光ファイバと、
前記筺体内に収容され、前記筺体内に導かれた光を反射させる回折格子を有する第2光ファイバと、を備え、
前記第2光ファイバは、その一端で前記筺体内に導かれた光を受け、その他端で対象物からのアコースティックエミッション波を受けるように、前記筺体内に前記他端側で固定されている一方、前記一端側は固定されておらず、
前記第1光ファイバは、前記筺体の差込孔を介して前記筺体内に差し込まれている端部を有し、
前記筺体内において、前記第1光ファイバの前記端部と前記第2光ファイバの前記一端と、が離間していること
を特徴とするアコースティックエミッション波検出器。 - 前記第2光ファイバは、
アコースティックエミッション波の検出時において、前記他端が前記対象物を向くように、前記一端が前記対象物と逆を向くように、前記筺体内に固定されていること
を特徴とする請求項1に記載のアコースティックエミッション波検出器。 - 前記筺体は、当該筺体を前記対象物に設置する設置面を有し、
前記第2光ファイバは、その軸線が前記設置面に対して垂直となるように前記筺体内に固定されていること
を特徴とする請求項1に記載のアコースティックエミッション波検出器。 - 前記第1光ファイバを前記筐体に挿抜可能とする光コネクタを備えること
を特徴とする請求項1に記載のアコースティックエミッション波検出器。 - 前記筐体内に設置される鏡部材を備え、
前記鏡部材は、前記第1光ファイバを介して前記筐体内に入射した光が当該鏡部材で反射し、反射した光が前記第2光ファイバに向かうように設置されること
を特徴とする請求項1に記載のアコースティックエミッション波検出器。 - 前記筐体内に設置される第2光学フィルタを備え、
前記第2光学フィルタは、前記第1光ファイバを介して前記筐体内に入射する光に含まれる所定波長帯域の光を反射させる特性を有し、反射した光が前記第2光ファイバに向かうように設置されること
を特徴とする請求項1に記載のアコースティックエミッション波検出器。 - 筺体と、光源からの光を前記筺体内に導く第1光ファイバと、前記筺体内に導かれた光を反射させる回折格子を有するとともに、その一端で前記筺体内に導かれた光を受け、その他端で対象物からのアコースティックエミッション波を受けるように、前記筺体内に前記他端側で固定される第2光ファイバと、を有するアコースティックエミッション波検出器と、
前記第2光ファイバの伸縮に由来して前記回折格子で反射した光の光パワーの変化を電気信号に変換する光電変換器と、
前記光電変換器から入力される電気信号に基づいて、前記対象物でアコースティックエミッション波が発生したか否かを判定する判定処理部と、を備え、
前記第2光ファイバは、前記筺体内に前記他端側で固定されている一方、前記一端側は固定されておらず、
前記第1光ファイバは、前記筺体の差込孔を介して前記筺体内に差し込まれている端部を有し、
前記筺体内において、前記第1光ファイバの前記端部と前記第2光ファイバの前記一端と、が離間していること
を特徴とするアコースティックエミッション波検出システム。 - 前記回折格子で反射した光の波長の変化を光パワーの変化に変換し、当該光パワーの変化を前記光電変換器に出力する第1光学フィルタと、
前記光源から前記第1光ファイバを介して前記第2光ファイバに向かう光の伝搬を許容するとともに、前記回折格子で反射し前記第1光ファイバを介して前記第1光学フィルタに向かう光の伝搬を許容する光導路形成器と、を備えること
を特徴とする請求項7に記載のアコースティックエミッション波検出システム。 - レーザダイオードである前記光源から前記第1光ファイバを介して前記第2光ファイバに向かう光の伝搬を許容するとともに、前記回折格子で反射し前記第1光ファイバを介して前記光電変換器に向かう光の伝搬を許容する光導路形成器を備え、
前記回折格子の伸縮によって当該回折格子で反射する光の光パワーが変化するように、前記レーザダイオードの光の波長が設定されること
を特徴とする請求項7に記載のアコースティックエミッション波検出システム。 - 筺体と、光源からの光を前記筺体内に導く第1光ファイバと、前記筺体内に導かれた光を反射させる回折格子を有するとともに、その一端で前記筺体内に導かれた光を受け、その他端で対象物からのアコースティックエミッション波を受けるように、前記筺体内に前記他端側で固定される第2光ファイバと、を有するアコースティックエミッション波検出器と、
前記第2光ファイバの伸縮に由来して前記回折格子で反射した光の光パワーの変化を電気信号に変換する光電変換器と、
を有する検出ユニットを複数備えるとともに、
それぞれの前記光電変換器から入力される電気信号に基づいて、前記対象物でアコースティックエミッション波が発生したか否かを判定する判定処理部を備え、
前記第2光ファイバは、前記筺体内に前記他端側で固定されている一方、前記一端側は固定されておらず、
前記第1光ファイバは、前記筺体の差込孔を介して前記筺体内に差し込まれている端部を有し、
前記筺体内において、前記第1光ファイバの前記端部と前記第2光ファイバの前記一端と、が離間していること
を特徴とするアコースティックエミッション波検出システム。 - 複数の前記検出ユニットは、それぞれ、
前記回折格子で反射した光の波長の変化を光パワーの変化に変換し、当該光パワーの変化を前記光電変換器に出力する第1光学フィルタと、
前記光源から前記第1光ファイバを介して前記第2光ファイバに向かう光の伝搬を許容するとともに、前記回折格子で反射し前記第1光ファイバを介して前記第1光学フィルタに向かう光の伝搬を許容する光導路形成器と、を有すること
を特徴とする請求項10に記載のアコースティックエミッション波検出システム。 - 複数の前記検出ユニットは、それぞれ、
レーザダイオードである前記光源から前記第1光ファイバを介して前記第2光ファイバに向かう光の伝搬を許容するとともに、前記回折格子で反射し前記第1光ファイバを介して前記光電変換器に向かう光の伝搬を許容する光導路形成器を有し、
前記回折格子の伸縮によって当該回折格子で反射する光の光パワーが変化するように、当該回折格子に対応する前記レーザダイオードの光の波長が設定されること
を特徴とする請求項10に記載のアコースティックエミッション波検出システム。 - 複数の前記アコースティックエミッション波検出器は、それぞれ、
前記第1光ファイバを介して前記筐体内に入射する光に含まれる所定波長帯域の光を反射させ、反射した光が前記第2光ファイバに向かうように前記筐体内に設置される第2光学フィルタを有し、
前記第2光学フィルタを透過した光が別の前記検出ユニットの前記筐体内に入射するように、複数の前記アコースティックエミッション波検出器が前記第1光ファイバを介して直列に接続され、
複数のレーザダイオードである前記光源から出射される光を合成する光合成器と、
前記回折格子で反射し前記第1光ファイバで合流した光を分波させ、分波した光が複数の前記光電変換器に向かうように接続される光分波器と、
前記光合成器から前記第1光ファイバを介して前記第2光ファイバに向かう光の伝搬を許容するとともに、前記回折格子で反射し前記第1光ファイバを介して前記光分波器に向かう光の伝搬を許容する光導路形成器と、を備え、
前記回折格子の伸縮によって当該回折格子で反射する光の光パワーが変化するように、当該回折格子に対応する前記レーザダイオードの光の波長が設定されること
を特徴とする請求項10に記載のアコースティックエミッション波検出システム。 - 筺体と、光源からの光を前記筺体内に導く第1光ファイバと、前記筺体内に導かれた光を反射させる回折格子を有するとともに、その一端で前記筺体内に導かれた光を受け、その他端で対象物からのアコースティックエミッション波を受けるように、前記筺体内に前記他端側で固定される第2光ファイバと、を有するアコースティックエミッション波検出器によって、前記対象物で発生するアコースティックエミッション波を、前記第2光ファイバの伸縮に由来して前記回折格子で反射する光の光パワーの変化として取り出す光パワー変換処理と、
前記光パワー変換処理によって取り出される光パワーの変化を電気信号に変換する光電変換処理と、
前記光電変換処理によって取得される電気信号に基づき、前記対象物でアコースティックエミッション波が発生したか否かを判定する判定処理と、を含み、
前記第2光ファイバは、前記筺体内に前記他端側で固定されている一方、前記一端側は固定されておらず、
前記第1光ファイバは、前記筺体の差込孔を介して前記筺体内に差し込まれている端部を有し、
前記筺体内において、前記第1光ファイバの前記端部と前記第2光ファイバの前記一端と、が離間していること
を特徴とするアコースティックエミッション波検出方法。 - 前記対象物は、電気機器、配線、又はパワーモジュールであり、
前記判定処理において、アコースティックエミッション波の発生を絶縁破壊の予兆として判定すること
を特徴とする請求項14に記載のアコースティックエミッション波検出方法。
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