JP6391550B2 - 波面センサ及び波面処理方法 - Google Patents
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Description
図1は、本発明に係る実施の形態1の波面センサ1の概略構成を示す図である。この波面センサ1は、光源LSから被検光学系OJTを介して伝搬した光束を受光するように配置されている。光源LSの出射光束は、被検光学系OJTで透過もしくは反射、または透過及び反射の双方をした後に波面センサ1に入射される。図1に示されるように、本実施の形態の波面センサ1は、可変絞り機構10、既知収差発生部11、コリメータレンズ12、レンズレットアレイ13、撮像部20及び波面処理部25を備える。
図9A及び図9Bは、第1の波面画像IMG4の局所領域画像si,a内のスポット領域PA1〜PA4の例、及び、第2の波面画像IMG5の局所領域画像si,b内のスポット領域PB1〜PB5の例をそれぞれ示す図である。図9Aに示されるスポット領域PA1〜PA4は、図1の光源LSをなす複数の点光源のスポット像を表すスポット領域と、不要光を表す偽のスポット領域とが混在したものである。図9Bに示されるスポット領域PB1〜PB5も同様である。
δi(u,v)=(xv−xu,yv−yu)
図10Aは、図9Aの局所領域画像si,aからスポット領域の一部を除外して得られる局所領域画像zi,aの一例を示す図である。図10Aの局所領域画像zi,aでは、図9Aのスポット領域PA4は、不要光を表す偽のスポット領域であるとして除外されている。よって、局所領域画像zi,aは、図9Aの局所領域画像si,a中の不要光成分を低減させたものとみることができる。
Vi,a(t,u)=(xu−xt,yu−yt)
図10Bは、当該他の局所領域画像sp,a内のスポット領域PP1〜PP4の例を示す図である。この場合、スポット領域PP4は、不要光を表すものとして選択されない。よって、第1変位検出部33Aは、図10Aのスポット領域PA1〜PA3の重心の平均座標に対する、図10Bのスポット領域PP1〜PP3の重心の平均座標の相対位置を局所変位量Δp,aとして算出する。
図10Cは、当該局所領域画像sp,b内のスポット領域PB1〜PB5の例を示す図である。この場合、スポット領域PB4,PB5は、不要光を表すものとして選択されない。よって、第2変位検出部33Bは、図10Aのスポット領域PA1〜PA3の重心の平均座標に対する、図10Cのスポット領域PB1〜PB3の重心の平均座標の相対位置を局所変位量Δp,bとして算出することとなる。
次に、本発明に係る実施の形態2について説明する。図13は、本発明に係る実施の形態2の波面センサ2の概略構成を示す図である。図13に示されるように波面センサ2は、波長選択フィルタ41及び接合レンズ42からなる既知収差発生部40と、撮像部20Cとを備える点を除いて、上記実施の形態1の波面センサ1と同様の構成を有している。
次に、本発明に係る実施の形態3について説明する。本実施の形態は上記実施の形態1の変形例である。すなわち、図14に示されるように、本実施の形態の波面センサ3の構成は、既知収差発生部50を除いて、上記実施の形態1の波面センサ1の構成と同様である。
Claims (17)
- 入射された光の波面を空間的に分割して複数のスポット光学像を形成するレンズレットアレイと、
前記複数のスポット光学像を撮像する撮像部と、
前記レンズレットアレイへの入射光の光路に既知の光学収差量が付与される既知収差状態と当該光路に前記既知の光学収差量が付与されない無収差状態とを発生させる既知収差発生部と、
前記レンズレットアレイに入射された基準波面について、前記無収差状態のときに前記撮像部から出力された第1の基準波面画像の画像成分と前記既知収差状態のときに前記撮像部から出力された第2の基準波面画像の画像成分との比較結果を示す基準データが記憶されているデータ記憶部と、
前記レンズレットアレイに入射された被測定波面について、前記無収差状態のときに前記撮像部から出力された第1の波面画像の画像成分と前記既知収差状態のときに前記撮像部から出力された第2の波面画像の画像成分との比較結果を示す比較データを算出し、当該比較データと前記基準データとの比較結果に応じた補正量で前記第1の波面画像の当該画像成分を補正し、更にその補正結果を示す特徴量データを出力する特徴量抽出部と、
前記特徴量データを用いて前記被測定波面の計測誤差を推定する波面計測部と
を備えることを特徴とする波面センサ。 - 請求項1記載の波面センサであって、
前記波面計測部は、
前記特徴量データと前記第1の波面画像の画像成分とを互いに比較し、且つ前記特徴量データと前記第2の波面画像の画像成分とを互いに比較する画像比較部と、
前記画像比較部による比較結果に基づいて、前記第1の波面画像の局所変位量と前記第2の波面画像の局所変位量とを検出する画像変位検出部と、
前記第1の波面画像の局所変位量に基づいて第1の相対波面分布を算出し、且つ前記第2の波面画像の局所変位量に基づいて第2の相対波面分布を算出する波面演算部と、
前記第1の相対波面分布、前記第2の相対波面分布及び前記既知の光学収差量に基づいて前記計測誤差を算出する誤差推定部と
を含むことを特徴とする波面センサ。 - 請求項2記載の波面センサであって、前記波面演算部は、前記第1の波面画像の局所変位量に基づいて前記被測定波面の収差を計測することを特徴とする波面センサ。
- 請求項2または請求項3記載の波面センサであって、前記画像比較部は、前記補正波面画像と前記第1の波面画像との相互相関を演算することにより前記補正波面画像と前記第1の波面画像とを互いに比較し、且つ前記補正波面画像と前記第2の波面画像との相互相関を演算することにより前記補正波面画像と前記第2の波面画像とを互いに比較することを特徴とする波面センサ。
- 請求項1から請求項4のうちのいずれか1項記載の波面センサであって、前記基準データは、前記第1の基準波面画像に対する前記第2の基準波面画像の局所変位量を示すデータであることを特徴とする波面センサ。
- 請求項1から請求項5のうちのいずれか1項記載の波面センサであって、前記既知収差発生部は、前記既知収差状態と前記無収差状態とを選択的に発生させることを特徴とする波面センサ。
- 請求項1から請求項5のうちのいずれか1項記載の波面センサであって、
前記既知収差発生部は、前記入射光の第1波長域に対して前記無収差状態を発生させると同時に前記入射光の第2波長域に対して前記既知収差状態を発生させ、
前記撮像部は、前記複数のスポット光学像のうち前記第1波長域の光学像群を検出して前記第1の波面画像を出力し、且つ、前記複数のスポット光学像のうち前記第2波長域の光学像群を検出して前記第2の波面画像を出力する、
ことを特徴とする波面センサ。 - 請求項7記載の波面センサであって、前記既知収差発生部は、前記光路に色収差を付与して前記既知収差状態を発生させる光学素子を含むことを特徴とする波面センサ。
- 請求項8記載の波面センサであって、前記光学素子は、正のパワーを有する第1のレンズと負のパワーを有する第2のレンズとを含む接合レンズであることを特徴とする波面センサ。
- 請求項1から請求項5のうちのいずれか1項記載の波面センサであって、
前記既知収差発生部は、
前記入射光を第1光束と第2光束とに分割するビームスプリッタと、
前記第1光束が伝搬する第1の光路と、
前記第2光束が伝搬する第2の光路と、
前記第1の光路と前記第2の光路とが合流する位置に配置される光合波器とを含み、
前記第1の光路は前記既知収差状態を発生させ、前記第2の光路は前記無収差状態を発生させることを特徴とする波面センサ。 - 請求項10記載の波面センサであって、前記第1の光路及び前記第2の光路のうちの一方の光路を遮断し、他方の光路を開放するシャッタ機構を更に備えることを特徴とする波面センサ。
- 請求項1から請求項11のうちのいずれか1項記載の波面センサであって、前記基準波面を持つ球面波を発生させる絞り機構を更に備えることを特徴とする波面センサ。
- 請求項1から請求項12のうちのいずれか1項記載の波面センサであって、前記波面計測部は、前記特徴量データが出力される前に、前記基準データを算出して前記データ記憶部に記憶することを特徴とする波面センサ。
- 請求項1から請求項13のうちのいずれか1項記載の波面センサであって、前記波面計測部は、前記基準データに基づいて前記既知の光学収差量を算出する既知収差量演算部を含むことを特徴とする波面センサ。
- 入射された光の波面を空間的に分割して複数のスポット光学像を形成するレンズレットアレイと、前記複数のスポット光学像を撮像する撮像部と、前記レンズレットアレイへの入射光の光路に既知の光学収差量が付与される既知収差状態と当該光路に前記既知の光学収差量が付与されない無収差状態とを発生させる既知収差発生部と、前記レンズレットアレイに入射された基準波面について前記無収差状態のときに前記撮像部から出力された第1の基準波面画像の画像成分と前記既知収差状態のときに前記撮像部から出力された第2の基準波面画像の画像成分との比較結果を示す基準データが記憶されているデータ記憶部とを備えた波面センサにおいて実行される波面処理方法であって、
前記レンズレットアレイに入射された被測定波面について、前記無収差状態のときに前記撮像部から出力された第1の波面画像の画像成分と前記既知収差状態のときに前記撮像部から出力された第2の波面画像の画像成分との比較結果を示す比較データを算出するステップと、
当該比較データと前記基準データとの比較結果に応じた補正量で前記第1の波面画像の当該画像成分を補正し、その補正結果を示す特徴量データを出力するステップと、
前記特徴量データを用いて前記被測定波面の計測誤差を推定するステップと
を備えることを特徴とする波面処理方法。 - 請求項15記載の波面処理方法であって、
前記特徴量データと前記第1の波面画像の画像成分とを互いに比較し、且つ前記特徴量データと前記第2の波面画像とを互いに比較するステップと、
当該比較結果に基づいて、前記第1の波面画像の局所変位量と前記第2の波面画像の局所変位量とを検出するステップと、
前記第1の波面画像の局所変位量に基づいて第1の相対波面分布を算出するステップと、
前記第2の波面画像の局所変位量に基づいて第2の相対波面分布を算出するステップとを更に備え、
前記計測誤差は、前記第1の相対波面分布、前記第2の相対波面分布及び前記既知の光学収差量に基づいて算出されることを特徴とする波面処理方法。 - 請求項16記載の波面処理方法であって、前記第1の波面画像の局所変位量に基づいて前記被測定波面の収差を計測するステップを更に備えることを特徴とする波面処理方法。
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