JP6352004B2 - 懸濁液又は溶液における粒子の質量測定装置 - Google Patents
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Description
−この技術は、実行が比較的長く、そして、感度があまり高くない:多くの生物学的材料が測定を行うのに必要である;
−市販の質量分析装置は、全て極度に大きい:それらは数立方メートルのオーダーの体積を占める;そして、それらは高価である:それらは数十万ユーロのコストがかかる;そして、−この技術は、一般的に100kDa(1.66×10−22kg)(測定解像度が完全に不十分になる質量)を超える重要な質量を測定することが可能ではない。
K. L. Ekinci、X. M. H.Huang及びM. L. Roukes、2004、「Ultrasensitive nanoelectromechanical mass detection」、Applied Physics Letters 84(22):4469. doi:10.1063/1.1755417
Michae L. Roukes及びKamil L. Ekinci、2004、「Apparatus and method for ultrasensitive nanoelectromechanical mass detection」US 6 722 200
周波数応答ピーク(開ループ)は、質量mpの堆積の前後で、Δfの量だけシフトする。これは、
とほとんど異ならない。
装置が閉ループで使用される場合、共振周波数は、電気変換手段及びループ閉塞手段を利用してリアルタイムでモニターされることができる。
−各イベントが、周波数ジャンプと関連している、一つの粒子又は粒子のセットの出現に対応している、多数のイベントを測定すること、及び
−NEMSの表面の位置の等確率性を仮定すること、である。
A.K. Naik、M. S. Hanay、W. K. Hiebert、X. L. Feng及びM. L. Roukes、2009、「Towards single-molecule nanomechanical mass spectrometry」、Nature Nanotechnology 4:445-450. doi:10.1038/NNANO.2009.152
S. Dohn、W. Svendsen、A. Boisen及びO. Hansen、2007、「Mass and position determination of attached particles on cantilever based mass sensors」、Review of Scientific Instruments 78: 103303. doi:10.1063/1.2804074.
−半導体ウエハ上で大量に、且つ一括に製造されることが可能なNEMSの可積分性により、NEMS−MSは、測定を非常に速くする、非常に並列化できる(parallelisable)技術であり;そして、携帯でき、且つ安価なNEMS−MS装置の製造を構想することが可能になる;
−重量測定のNEMSを使用している質量の検出は、イオン及び中性の粒子の両方に影響を受け;測定効率は、それによって数桁改善される;そして、
−重量検出は、全測定範囲にわたって一定である質量分解能を提供して、従来技術とは異なり、高い質量(high masses)で、優れた分解能を提供する。
−この既知のシステムにおいて、インジェクション源とNEMSとは、差動排気を可能にするために、互いに非常に遠く離れており;インジェクション源とNEMSとの間に種の相当な損失が起こる;
−この離れた距離は、種をNEMSへ強制的にガイドする;そして、このシステムでは、イオン化された種だけがガイドされ;中性の粒子は、システム内で失われる;そして
−そのような離れた距離で、イオンビームを数平方ミリメートル未満の表面積に集中させることは、非常に難しい;したがって、粒子のうちの非常に低い割合の一部の粒子が実際にNEMSに沈殿し、それの表面積は概して数平方マイクロメートルのオーダーである。
S. HentzのWO 2012/034949、S. Hentz et al. のWO 2012/034951、S. HentzのWO 2012/034990である。
−前記少なくとも一つの粒子を少なくとも含むフラックス(flux)を得るために、液体を噴霧化する第1の装置、
−前記フラックスを受ける入口及び放出口を含み、前記フラックスをガイドし、空気力学的に集束させる(aerodynamic focusing)第2の装置、及び、
−前記少なくとも一つの粒子を受けるために、前記第2の装置の前記放出口に対向して配置された少なくとも一つの重量検出器を含み、周波数測定によって前記少なくとも一つの粒子の質量を測定する第3の装置、を備えることを特徴とする。
−前記第1の装置を含む、所定の圧力のゾーン、及び、
−前記ゾーンに連絡し、前記第2の装置の少なくとも一部分を含み、前記ゾーンの圧力よりも低い第1の圧力であるように提供される少なくとも一つの真空の筐体(enclosure)又は第1の筐体、をさらに含む。
−少なくとも前記粒子を含むフラックスを得るために、前記液体、すなわち、示されている例において液滴4の形態で堆積する検体を噴霧化するための装置2、
−入口8と放出口10を有するエアロダイナミックフォーカスレンズ(aerodynamic focusing lens)6を含み、前記フラックスをガイドし、空気力学的に集束させる(aerodynamic focusing)装置、及び、
−前記粒子を受けるために、エアロダイナミックフォーカスレンズ6の放出口10に対向して配置された少なくとも一つの重量検出器14を含み、周波数測定によって前記粒子の質量を測定する装置12、を備える。
−噴霧装置2を含み、所定の圧力、例えば、大気圧(およそ105Pa)のゾーン16、及び、
−ゾーン16に連絡して、装置6を含み、一次真空(primary vacuum)が確立される、即ち、矢印20によって表わされている一次ポンプ(primary pump)を用いて102Paオーダーの残留圧力が実現される真空の筐体18を含む。
Jonghoo Park、Hua Qin、Mark Scalf、Ryan T. Hilger、Michael S. Westphall、Lloyd M. Smith及びRobert H. Blick、2011、「A Mechanical Nanomembrane Detector for Time-of-Flight Mass Spectrometry」、Nano Letters 11:3681-3684.
US2008/0022853、「Aerodynamic lens particle separator」、P. Ariessohnの発明
ARIエアゾール質量分析計、操作マニュアル、9ページが参照されてもよい。
David R. Goodlett, Scott R. Heron and Jon Cooper, 2011, "Ions generated by surface acoustic wave device detected by mass spectrometry", WO 2011/060369 A1.
Claims (9)
- 液体における懸濁液又は溶液内での少なくとも一つの粒子の質量を検出する装置であり、
前記装置は:
前記少なくとも一つの粒子を少なくとも含むフラックスを得るために、前記液体(4)を噴霧化する第1の装置(2)、
前記フラックスを受ける入口(24)及び放出口(10、32)を含み、前記フラックスをガイドし、空気力学的に集束させる第2の装置(6−22、40−42、44−52、22−32)、
前記少なくとも一つの粒子を受けるために、前記第2の装置の前記放出口に対向して配置された少なくとも一つの重量検出器(14)を含み、周波数測定によって前記少なくとも一つの粒子の質量を測定する第3の装置(12)、
前記第1の装置(2)を含む、所定の圧力のゾーン(16)、及び、
前記ゾーン(16)に連絡し、前記第2の装置の少なくとも一部分を含み、前記ゾーンの圧力よりも低い第1の圧力であるように提供される少なくとも一つの第1真空筐体(18)、
を備える。 - 前記第2の装置(6−22、40−42、44−52、22−32)は、電気的に中性であることを特徴とする請求項1に記載の装置。
- 前記第2の装置は、エアロダイナミックレンズ(6、40、44)を有することを特徴とする請求項1又は2に記載の装置。
- 前記エアロダイナミックレンズは、前記放出口で開口部(42)に結合されることを特徴とする請求項3に記載の装置。
- 前記第2の装置は、前記第1真空筐体(18)と連絡する前記ゾーンを配置するために、前記ゾーン(16)における入口開口部(24)と、前記第1真空筐体(18)における出口開口部(26)とを有するキャピラリー管(22)をさらに含むことを特徴とする請求項1乃至4の何れか一項に記載の装置。
- 前記第2の装置は、前記キャピラリー管(22)の前記入口(24)及び/又は出口開口部(26)に対向するエアロダイナミックレンズ(6)を有することを特徴とする請求項5に記載の装置。
- 任意で前記第1の圧力より低い第2の圧力であるように提供され、前記第3の装置(12)を含み、前記重量検出器(14)に対向する第1の開口部(32)を通じて前記第1真空筐体(18)に連絡する第2真空筐体(28)をさらに含むことを特徴とする請求項1乃至6の何れか一項に記載の装置。
- 前記重量検出器(14)は、ナノ電気機械システム、マイクロ電気機械システム、水晶振動子マイクロバランス、弾性表面波共鳴器、バルク超音波共鳴器、及び衝撃検出器から選択されることを特徴とする請求項1乃至7の何れか一項に記載の装置。
- 前記第1の装置(2)は、超音波ネブライザー、マイクロ波誘導噴霧装置、マイクロキャピラリーアレイネブライザー、及び弾性表面波ネブライザーから選択されることを特徴とする請求項1乃至8の何れか一項に記載の装置。
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