JP6351674B2 - Photoelectric conversion device and imaging system using photoelectric conversion device - Google Patents
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Description
本発明は、積層型の光電変換装置に関する。 The present invention relates to a stacked photoelectric conversion device.
近年、小型化と特性向上のために複数の基板（いわゆるチップ）を積層したＣＭＯＳ型の光電変換装置が検討されている。 In recent years, a CMOS type photoelectric conversion device in which a plurality of substrates (so-called chips) are stacked has been studied in order to reduce the size and improve the characteristics.
特許文献１では、積層型の光電変換装置にて、第１チップには画素とアナログ特性やノイズ特性が求められる回路を設け、第２チップには低電圧で高速動作する回路を設けることが開示されている。 Patent Document 1 discloses that in a stacked photoelectric conversion device, a pixel and a circuit that requires analog characteristics and noise characteristics are provided in a first chip, and a circuit that operates at low voltage and high speed is provided in a second chip. Has been.
本発明者らは、特許文献１の構成において、各回路で熱が発生することによって、ノイズが増大し画質が低下することを見出した。これは、回路の熱が重なるように設けられた光電変換領域の暗時ノイズを増大させるためである。 The present inventors have found that, in the configuration of Patent Document 1, heat is generated in each circuit, thereby increasing noise and lowering image quality. This is to increase dark noise in the photoelectric conversion region provided so that the heat of the circuit overlaps.
そこで、本発明では、ノイズを低減した積層型の光電変換装置を提供することを目的とする。 Accordingly, an object of the present invention is to provide a stacked photoelectric conversion device with reduced noise.
本発明の光電変換装置は、光電変換領域と、周辺領域とを含む第１基板と、前記光電変換領域からの信号を処理する回路を含み、前記第１基板に重なり、前記光電変換領域と前記周辺領域の正射影を含む主面を有する第２基板と、を含む光電変換装置において、前記光電変換領域からの信号を処理する回路は、第１回路と、前記第１回路よりも高い駆動周波数の第２回路とを含み、前記第２回路は、前記第２基板の主面において前記周辺領域の正射影の領域のみに設けられている。 The photoelectric conversion device of the present invention includes a first substrate including a photoelectric conversion region and a peripheral region, and a circuit for processing a signal from the photoelectric conversion region, and overlaps the first substrate, the photoelectric conversion region and the And a second substrate having a main surface including an orthogonal projection of a peripheral region, and a circuit for processing a signal from the photoelectric conversion region has a first circuit and a drive frequency higher than that of the first circuit The second circuit is provided only in the orthogonal projection region of the peripheral region on the main surface of the second substrate.
本発明の光電変換装置によって、ノイズを低減した積層型の光電変換装置を提供することが可能となる。 The photoelectric conversion device of the present invention can provide a stacked photoelectric conversion device with reduced noise.
本発明の光電変換装置は、第１基板と第２基板とを含む。第１基板は、光電変換領域と周辺領域とを含む。第２基板は、光電変換領域からの信号を処理する回路を含み、第１基板に重なる。ここで、第２基板の主面は、光電変換領域と周辺領域の正射影を含む光電変換領域からの信号を処理する回路は、第１回路と、第１回路よりも高い駆動周波数の第２回路とを含む。そして、第２回路は、周辺領域の正射影の領域に設けられる。 The photoelectric conversion device of the present invention includes a first substrate and a second substrate. The first substrate includes a photoelectric conversion region and a peripheral region. The second substrate includes a circuit that processes a signal from the photoelectric conversion region, and overlaps the first substrate. Here, the main surface of the second substrate is a circuit for processing a signal from the photoelectric conversion region including the orthogonal projection of the photoelectric conversion region and the peripheral region, and the second circuit having a higher driving frequency than the first circuit. Circuit. The second circuit is provided in the orthogonal projection region of the peripheral region.
このような構成によって、熱源となる回路を光電変換領域外に設けるため、ノイズの増大を抑制することが可能となる。 With such a configuration, since a circuit serving as a heat source is provided outside the photoelectric conversion region, an increase in noise can be suppressed.
また、発熱する回路の配置が光電変換領域の面内で偏ると、画像に大きなムラが生じてしまう場合がある。これは、光電変換領域の面内における熱分布が生じ、暗時ノイズに分布が生じるためである。これに対して、回路を光電変換領域に対して均一に設けることで、ノイズのムラを低減することが可能となる。 Further, if the arrangement of the heat generating circuit is biased in the plane of the photoelectric conversion region, a large unevenness may occur in the image. This is because heat distribution occurs in the plane of the photoelectric conversion region, and distribution occurs in dark noise. On the other hand, it is possible to reduce noise unevenness by providing the circuit uniformly with respect to the photoelectric conversion region.
光電変換領域とは、光電変換素子を含む画素が複数設けられた領域であり、光電変換領域は撮像領域ともいえる。光電変換領域の信号は、撮像の他、焦点検出や光量検出に用いてもよい。例えば、ＣＭＯＳ型の光電変換装置においては、光電変換素子であるフォトダイオードを含む画素や複数の光電変換素子を含む画素セルなどが配列している領域である。例えば、列ごとに設けられた電流源や、行ごとに設けられた画素駆動回路等は、光電変換領域には含まない。 The photoelectric conversion region is a region in which a plurality of pixels including photoelectric conversion elements are provided, and the photoelectric conversion region can be said to be an imaging region. The signal in the photoelectric conversion region may be used for focus detection and light amount detection in addition to imaging. For example, in a CMOS photoelectric conversion device, a pixel including a photodiode which is a photoelectric conversion element, a pixel cell including a plurality of photoelectric conversion elements, and the like are arranged. For example, a current source provided for each column, a pixel driving circuit provided for each row, and the like are not included in the photoelectric conversion region.
周辺領域は、光電変換領域が設けられた第１基板の光電変換領域以外の領域である。この周辺領域には、第２基板と同様に光電変換領域からの信号を処理する回路が設けられていてもよい。 The peripheral region is a region other than the photoelectric conversion region of the first substrate provided with the photoelectric conversion region. In this peripheral region, a circuit for processing a signal from the photoelectric conversion region may be provided in the same manner as the second substrate.
第１基板と第２基板は、半導体基板と、配線層と、絶縁膜と、をそれぞれ含む。基板の配線層側の面を表面、その反対側を裏面とする。また、基板において、半導体基板の素子が設けられる面、例えばＭＯＳトランジスタのゲート絶縁膜との界面を主面とする。以下の実施形態において、正射影は、第２基板の主面に対して行われるものとし、回路がある領域と重なる、回路がある領域に設けられるとは、第２基板の主面における正射影の領域にある回路が設けられるという意味を示す。あるいは、第２基板の主面に対する回路と領域の正射影が重なることを示す。また、半導体基板の素子が設けられる面、つまり主面における素子形成範囲を回路が形成される範囲とみなす。また、以下の実施形態において、第１基板と第２基板は、第１基板の表面と、第２基板の表面とが向いあうように重なっているものとする。しかし、第１基板と第２基板は、いかなる面が向かい合うように重なっていてもよい。 The first substrate and the second substrate each include a semiconductor substrate, a wiring layer, and an insulating film. The surface on the wiring layer side of the substrate is the front surface, and the opposite side is the back surface. The main surface of the substrate is the surface on which the elements of the semiconductor substrate are provided, for example, the interface with the gate insulating film of the MOS transistor. In the following embodiments, the orthogonal projection is performed on the main surface of the second substrate, and the fact that the circuit overlaps with the region where the circuit is provided is provided in the region where the circuit exists. This means that a circuit in the area is provided. Alternatively, the orthogonal projection of the circuit and the region on the main surface of the second substrate overlaps. Further, the element formation range on the surface where the elements of the semiconductor substrate are provided, that is, the main surface, is regarded as the range where the circuit is formed. In the following embodiments, it is assumed that the first substrate and the second substrate overlap with each other so that the surface of the first substrate faces the surface of the second substrate. However, the first substrate and the second substrate may overlap so that any surface faces each other.
以下、図面を用いて具体的に説明する。 Hereinafter, it demonstrates concretely using drawing.
（第１実施形態）
本実施形態の光電変換装置を、図１を用いて説明する。まず、図１（ａ）を用いて、本実施形態の光電変換装置の全体を説明する。
(First embodiment)
The photoelectric conversion apparatus of this embodiment is demonstrated using FIG. First, the whole photoelectric conversion device of the present embodiment will be described with reference to FIG.
図１（ａ）は、光電変換装置の全体を説明するためのブロック図である。光電変換装置は、光電変換領域１０３を有する。光電変換領域１０３は、光電変換素子を含む画素が複数配されており、撮像のための光電変換を行う。光電変換領域１０３には、各画素からの信号を出力するための列信号線が配されている。つまり、光電変換領域は、画素と列信号線を含む領域である。また、各画素は、本実施形態においては、転送用のトランジスタと、リセット用のトランジスタと、ソースフォロワ回路を構成するソースフォロワ用のトランジスタと、を含んでいるが、その構成は任意である。 FIG. 1A is a block diagram for explaining the entire photoelectric conversion device. The photoelectric conversion device has a photoelectric conversion region 103. The photoelectric conversion region 103 includes a plurality of pixels including photoelectric conversion elements, and performs photoelectric conversion for imaging. The photoelectric conversion area 103 is provided with column signal lines for outputting signals from the respective pixels. That is, the photoelectric conversion region is a region including pixels and column signal lines. In addition, in the present embodiment, each pixel includes a transfer transistor, a reset transistor, and a source follower transistor that constitutes a source follower circuit, but the configuration is arbitrary.
光電変換装置は、更に、列回路１０４、比較回路１０５、参照電源回路１０６、カウンタ回路１０７、タイミングジェネレータ回路（以下、ＴＧ回路）１０８、信号保持回路１０９、水平走査回路１１０、垂直走査回路１１１、画素駆動回路１１２を含む。列回路１０４は、列信号線ごとに設けられ、ソースフォロワ回路を構成する電流源を含む。また、列回路１０４は、列ごとに設けられた増幅部を有していてもよい。比較回路１０５と、参照電源回路１０６と、カウンタ回路１０７と、信号保持回路１０９とで、アナログ信号である光電変換領域１０３からの信号に対して、デジタル信号に変換することが可能である。つまり、これらはアナログ‐デジタル変換器として機能しうる。なお、比較回路１０５はコンパレータとも称する。参照電源回路は、ランプ（ＲＡＭＰ）波形の参照電圧を供給することが出来るが、参照電源回路はデジタル‐アナログ変換器（ＤＡＣ）を有していてもよい。ＴＧ回路１０８は、垂直走査回路１１１、列回路１０４、参照電源回路１０６、および水平走査回路１１０等の動作を制御する制御信号などを生成する。画素駆動回路１１２は、垂直走査回路１１１からの信号に基づき、画素のトランジスタを駆動するための信号を生成する回路である。水平走査回路１１０は、並列に処理された複数の信号線（ここでは列信号線）に基づく信号を順次、共通信号線へ読み出す動作を制御する。本実施形態においては、信号保持回路１０９が共通信号線を含む。また、信号保持回路１０９はいわゆるメモリ等の信号保持素子を複数含む。信号保持回路１０９には加算素子が含まれていてもよい。光電変換領域からの信号を処理する回路としては、信号を増幅、変換する回路であり、列回路１０４、比較回路１０５、信号保持回路１０９、アナログ‐デジタル変換器等が挙げられる。 The photoelectric conversion device further includes a column circuit 104, a comparison circuit 105, a reference power supply circuit 106, a counter circuit 107, a timing generator circuit (hereinafter referred to as TG circuit) 108, a signal holding circuit 109, a horizontal scanning circuit 110, a vertical scanning circuit 111, A pixel driving circuit 112 is included. The column circuit 104 is provided for each column signal line and includes a current source that constitutes a source follower circuit. Further, the column circuit 104 may have an amplifying unit provided for each column. The comparison circuit 105, the reference power supply circuit 106, the counter circuit 107, and the signal holding circuit 109 can convert a signal from the photoelectric conversion region 103 that is an analog signal into a digital signal. That is, they can function as analog-to-digital converters. Note that the comparison circuit 105 is also referred to as a comparator. The reference power supply circuit can supply a reference voltage having a ramp (RAMP) waveform, but the reference power supply circuit may include a digital-to-analog converter (DAC). The TG circuit 108 generates a control signal for controlling operations of the vertical scanning circuit 111, the column circuit 104, the reference power supply circuit 106, the horizontal scanning circuit 110, and the like. The pixel driving circuit 112 is a circuit that generates a signal for driving a pixel transistor based on a signal from the vertical scanning circuit 111. The horizontal scanning circuit 110 controls an operation of sequentially reading signals based on a plurality of signal lines (column signal lines in this case) processed in parallel to a common signal line. In the present embodiment, the signal holding circuit 109 includes a common signal line. The signal holding circuit 109 includes a plurality of signal holding elements such as so-called memories. The signal holding circuit 109 may include an adding element. A circuit that processes a signal from the photoelectric conversion region is a circuit that amplifies and converts the signal, and includes a column circuit 104, a comparison circuit 105, a signal holding circuit 109, an analog-digital converter, and the like.
そして、本実施形態の光電変換装置は、画像信号処理部１１３を有する。画像信号処理部１１３は、画像信号処理回路１１４やマイクロプロセッサ１１５や信号保持回路１１６を有する。信号保持回路１１６は、信号保持回路１０９と同様に、メモリ、いわゆる信号保持素子を複数含む。また、光電変換装置は、入力インターフェース（以下、入力ＩＦ）１１７を有し、出力インターフェース（以下、出力ＩＦ）１１８を有する。 The photoelectric conversion apparatus according to this embodiment includes an image signal processing unit 113. The image signal processing unit 113 includes an image signal processing circuit 114, a microprocessor 115, and a signal holding circuit 116. Similar to the signal holding circuit 109, the signal holding circuit 116 includes a plurality of memories, so-called signal holding elements. In addition, the photoelectric conversion device includes an input interface (hereinafter referred to as input IF) 117 and an output interface (hereinafter referred to as output IF) 118.
本実施形態の光電変換装置において、各構成は２つの基板に設けられる。 In the photoelectric conversion device of this embodiment, each configuration is provided on two substrates.
図１（ｄ）は、本実施形態の光電変換装置の２つの基板の断面を模式的に示したものである。表面１２０と裏面１９０とを有する第１基板１０１と、表面１２１と裏面１２２とを有する第２基板１０２とが重ねられている。第１基板１０１の表面１２０と第２基板１０２の表面１２１とが向いあうように、２つの基板を接合、あるいは接着することで図１（ｄ）の構成が得られる。これら２つの基板は、貫通電極やバンプによって電気的に接続することが可能である。本実施形態の光電変換装置は、第１基板１０１の裏面１１９側に光１２３が入射する、いわゆる裏面照射型の光電変換装置である。 FIG. 1D schematically shows cross sections of two substrates of the photoelectric conversion device of the present embodiment. A first substrate 101 having a front surface 120 and a back surface 190 and a second substrate 102 having a front surface 121 and a back surface 122 are overlaid. The structure shown in FIG. 1D is obtained by bonding or bonding the two substrates so that the surface 120 of the first substrate 101 and the surface 121 of the second substrate 102 face each other. These two substrates can be electrically connected by through electrodes or bumps. The photoelectric conversion device of this embodiment is a so-called back-illuminated photoelectric conversion device in which light 123 is incident on the back surface 119 side of the first substrate 101.
図１（ｂ）、および図１（ｃ）は、第１基板と第２基板を説明するためのブロック図である。図１（ｂ）、および図１（ｃ）は、各基板の構成を第２基板の主面に投影した時の概略図であり、いわゆる各基板における平面レイアウトともいえる。ここで、投影は、図１（ｄ）に示す光１２３に示す方向から行われてものとする。 FIG. 1B and FIG. 1C are block diagrams for explaining the first substrate and the second substrate. FIG. 1B and FIG. 1C are schematic diagrams when the configuration of each substrate is projected onto the main surface of the second substrate, and can be said to be a so-called planar layout on each substrate. Here, it is assumed that the projection is performed from the direction indicated by the light 123 shown in FIG.
第１基板１０１には、図１（ｂ）に示すように、光電変換領域１０３と、列回路１０４の一部である電流源１０４ａが設けられている。電流源１０４ａは、光電変換領域１０３ではない領域である周辺領域１２９に設けられている。周辺領域１２９は、光電変換領域１０３を挟む第１部分１２９ａと第２部分１２９ｂとを有する。電流源１０４ａは、２つ設けられており、光電変換領域１０３を挟むように設けられている。言い換えると、Ｘ軸方向の辺とＹ軸方向の辺からなる長方形の光電変換領域１０３のＸ軸方向の２辺のそれぞれに、電流源１０４ａが設けられている。この時、２つの電流源１０４ａは、対象性を高めるため、互いに等価な回路であることが好ましい。 As shown in FIG. 1B, the first substrate 101 is provided with a photoelectric conversion region 103 and a current source 104 a that is a part of the column circuit 104. The current source 104 a is provided in the peripheral area 129 that is not the photoelectric conversion area 103. The peripheral region 129 has a first portion 129 a and a second portion 129 b that sandwich the photoelectric conversion region 103. Two current sources 104 a are provided so as to sandwich the photoelectric conversion region 103. In other words, the current source 104a is provided on each of the two sides in the X-axis direction of the rectangular photoelectric conversion region 103 composed of the sides in the X-axis direction and the sides in the Y-axis direction. At this time, it is preferable that the two current sources 104a are circuits equivalent to each other in order to improve the objectivity.
第２基板１０２には、図１（ｃ）に示すように、光電変換領域１０３と電流源１０４ａ以外の構成が設けられている。具体的には、列回路１０４の一部である増幅部１０４ｂ、比較回路１０５、参照電源回路１０６、カウンタ回路１０７、ＴＧ回路１０８、信号保持回路１０９、水平走査回路１１０、垂直走査回路１１１、画素駆動回路１１２である。また、第２基板１０２には、入力ＩＦ１１７と出力ＩＦ１１８も設けられている。第１基板１０１と第２基板１０２とが重ねられた時に光電変換領域１０３と重なる領域１３０は、第１クロックで駆動する第１回路を含む。第１回路は、増幅部１０４ｂ、比較回路１０５、ＴＧ回路１０８、垂直走査回路１１１、画素駆動回路１１２を含む。これらの回路が光電変換領域１０３と重なる。換言すると、第２基板１０２の主面における光電変換領域１０３の正射影の領域に、第１回路が設けられている。他の領域１３１は、第１クロックよりも高い周波数の第２クロックで駆動する第２回路を含む。つまり、第２回路は第１回路よりも高い駆動周波数で駆動している。この第２回路は、参照電源回路１０６、カウンタ回路１０７、信号保持回路１０９、水平走査回路１１０、画像信号処理部１１３、入力ＩＦ１１７、出力ＩＦ１１８を含む。これらの回路は、第２基板１０２の主面における光電変換領域１０３の正射影の領域に設けられておらず、周辺領域１２９の正射影の領域のみに設けられる。本実施形態において第２回路は、カウンタ回路１０７、および水平走査回路１１０を含む。このような構成によって、ノイズを低減した積層型の光電変換装置を提供することが可能となる。 As shown in FIG. 1C, the second substrate 102 has a configuration other than the photoelectric conversion region 103 and the current source 104a. Specifically, the amplifying unit 104b, the comparison circuit 105, the reference power supply circuit 106, the counter circuit 107, the TG circuit 108, the signal holding circuit 109, the horizontal scanning circuit 110, the vertical scanning circuit 111, the pixel, which are part of the column circuit 104 This is a drive circuit 112. The second board 102 is also provided with an input IF 117 and an output IF 118. A region 130 that overlaps the photoelectric conversion region 103 when the first substrate 101 and the second substrate 102 are overlaid includes a first circuit that is driven by a first clock. The first circuit includes an amplification unit 104b, a comparison circuit 105, a TG circuit 108, a vertical scanning circuit 111, and a pixel driving circuit 112. These circuits overlap with the photoelectric conversion region 103. In other words, the first circuit is provided in the orthogonal projection region of the photoelectric conversion region 103 on the main surface of the second substrate 102. Another region 131 includes a second circuit that is driven by a second clock having a higher frequency than the first clock. That is, the second circuit is driven at a higher driving frequency than the first circuit. The second circuit includes a reference power supply circuit 106, a counter circuit 107, a signal holding circuit 109, a horizontal scanning circuit 110, an image signal processing unit 113, an input IF 117, and an output IF 118. These circuits are not provided in the orthogonal projection region of the photoelectric conversion region 103 on the main surface of the second substrate 102, and are provided only in the orthogonal projection region of the peripheral region 129. In the present embodiment, the second circuit includes a counter circuit 107 and a horizontal scanning circuit 110. With such a configuration, a stacked photoelectric conversion device with reduced noise can be provided.
第２回路は、第１回路よりも駆動周波数が高く、消費電力が高いため、発熱量が多い。よって、このような熱源となる回路が光電変換領域１０３に重なって設けられていると、光電変換領域１０３へ熱が伝わり、ノイズを増大させてしまう。例えば、一部でも光電変換領域１０３の正射影の領域に設けられていると、光電変換領域１０３の一部に熱が伝わり、画像にムラが生じてしまう可能性がある。よって、第２基板１０２の少なくとも第２回路は、第２基板１０２の主面における周辺領域１２９の正射影の領域のみに設けられていることが望ましい。 Since the second circuit has a higher driving frequency and higher power consumption than the first circuit, the second circuit generates a large amount of heat. Therefore, when such a circuit serving as a heat source is provided so as to overlap the photoelectric conversion region 103, heat is transmitted to the photoelectric conversion region 103, and noise is increased. For example, if even a part is provided in the orthogonal projection region of the photoelectric conversion region 103, heat is transmitted to a part of the photoelectric conversion region 103, which may cause unevenness in the image. Therefore, it is desirable that at least the second circuit of the second substrate 102 be provided only in the orthogonal projection region of the peripheral region 129 on the main surface of the second substrate 102.
ここで、例えば、第１クロックは垂直走査の速度に関連するものであり、第２クロックは水平走査に関連するものである。例えば、第１クロックは信号、あるは動作をパラレル処理をしている部分の駆動のためのクロックであり、第２クロックは信号、あるいは動作をパラレス処理からシリアル処理に変換した時の処理をしている部分の駆動のためのクロックである。よって、第１クロックは第２クロックの方が高い周波数を有する。具体的には、第１クロックの周波数の１００倍以上、例えば、５００倍、更には１２００倍程度、第２クロックの周波数は高い。 Here, for example, the first clock is related to the speed of vertical scanning, and the second clock is related to horizontal scanning. For example, the first clock is a signal or a clock for driving a part that performs parallel processing, and the second clock is a signal or a process when the operation is converted from parallel processing to serial processing. This is the clock for driving the part. Therefore, the first clock has a higher frequency than the second clock. Specifically, the frequency of the second clock is 100 times or more of the frequency of the first clock, for example, about 500 times, and further about 1200 times.
なお、カウンタ回路１０７の面積は、一般に光電変換領域１０３の面積の１００分の１以下の場合があり、光電変換領域１０３に対して均一に配置することが困難である。また、カウンタ回路１０７を列ごとに設ける場合には、信号に応じて消費電流が異なる場合があり、熱分布を生じさせる原因となり得る。また、水平走査回路１１０は、例えばシフトレジスタ回路やデコーダーであるが、これらも、光電変換領域１０３の面積の４分の１以下の面積である場合があり、光電変換領域１０３に対して均一に配置することが困難である。均一に配置出来ない場合には、ムラや筋状のノイズとなって画質が低下する可能性がある。よって、第２回路であり、且つ、その正射影の面積が光電変換領域の正射影の面積の２分の１以下である回路については、第１基板１０１の周辺領域１２９に重なるように配置することがより望ましい。 Note that the area of the counter circuit 107 is generally 1/100 or less of the area of the photoelectric conversion region 103, and it is difficult to arrange the counter circuit 107 uniformly with respect to the photoelectric conversion region 103. Further, in the case where the counter circuit 107 is provided for each column, current consumption may vary depending on the signal, which may cause heat distribution. In addition, the horizontal scanning circuit 110 is, for example, a shift register circuit or a decoder, but these may have an area that is equal to or less than a quarter of the area of the photoelectric conversion region 103, and are uniform with respect to the photoelectric conversion region 103. It is difficult to place. If it cannot be arranged uniformly, the image quality may deteriorate due to unevenness or streak noise. Therefore, the circuit that is the second circuit and whose area of the orthogonal projection is one half or less of the area of the orthogonal projection of the photoelectric conversion region is arranged so as to overlap the peripheral region 129 of the first substrate 101. It is more desirable.
本実施形態では、周辺領域１２９が第１部分１２９ａと第２部分１２９ｂとを含み、重なる領域１３１も第１部分１２９ａに対応して重なる第３部分１３１ａと、第２部分１２９ｂに対応して重なる第４部分１３１ｂと、を含む。更に、第１部分１２９ａと第２部分１２９ｂに設けられる回路はいずれも電流源１０４ａであり、等価な回路となっている。そして、第３部分１３１ａと第４部分１３１ｂに設けられる回路も、それぞれ参照電源回路１０６、カウンタ回路１０７、信号保持回路１０９、水平走査回路１１０、画像信号処理部１１３、出力ＩＦ１１８であり、等価な回路となっている。このような構成によって、信号出力経路の対象性を良くすることが可能となり、画質の向上が可能となる。 In the present embodiment, the peripheral region 129 includes the first portion 129a and the second portion 129b, and the overlapping region 131 also overlaps the third portion 131a that overlaps corresponding to the first portion 129a and the second portion 129b. A fourth portion 131b. Furthermore, the circuits provided in the first portion 129a and the second portion 129b are both current sources 104a, and are equivalent circuits. The circuits provided in the third portion 131a and the fourth portion 131b are also the reference power supply circuit 106, the counter circuit 107, the signal holding circuit 109, the horizontal scanning circuit 110, the image signal processing unit 113, and the output IF 118, respectively, and are equivalent. It is a circuit. With such a configuration, it is possible to improve the objectivity of the signal output path, and it is possible to improve the image quality.
また、本実施形態では、参照電源回路１０６も領域１３１に設けている。参照電源回路１０６は、例えば、ＤＡＣの場合や抵抗を多く有する形態の場合にも、熱源となる可能性がある。また、参照電源回路１０６は、一般に光電変換領域１０３の１０分の１以下の面積を有するため、光電変換領域１０３に対して均一に配置することが困難である。このような回路を領域１３１に設けることで、光電変換装置のノイズをより低減することが可能となる。 In the present embodiment, the reference power supply circuit 106 is also provided in the region 131. For example, the reference power supply circuit 106 may be a heat source even in the case of a DAC or a configuration having many resistors. In addition, since the reference power supply circuit 106 generally has an area of 1/10 or less of the photoelectric conversion region 103, it is difficult to arrange the reference power circuit 106 uniformly with respect to the photoelectric conversion region 103. By providing such a circuit in the region 131, noise of the photoelectric conversion device can be further reduced.
また、領域１３０では、増幅部１０４ｂを挟むように２つの比較回路１０５が設けられ、増幅部１０４ｂを挟むように、ＴＧ回路１０８と垂直走査回路１１１とが設けられている。比較回路１０５が２つ設けられることで、対象性良く、２つの出力ＩＦ１１８から信号を出力することが可能となり、読み出し速度を向上させることが可能となる。 In the region 130, two comparison circuits 105 are provided so as to sandwich the amplifier 104b, and a TG circuit 108 and a vertical scanning circuit 111 are provided so as to sandwich the amplifier 104b. By providing two comparison circuits 105, it is possible to output signals from the two output IFs 118 with high objectivity, and it is possible to improve the reading speed.
なお、画像信号処理部１１３は第１クロックよりも高い周波数で駆動するマイクロプロセッサ１１５や画像信号処理回路１１４を含んでいるため、その他の領域１３１に設けられていることが望ましい。しかし、大きな面積を有する画像信号処理部１１３は、その発熱箇所が画像信号処理部１１３内で均一になるように回路を配置することで、第２基板の主面における光電変換領域の正射影の領域に設けることが可能となる。または、光電変換装置の外部に画像信号処理部１１３が設けられていてもよい。 Since the image signal processing unit 113 includes the microprocessor 115 and the image signal processing circuit 114 that are driven at a frequency higher than the first clock, the image signal processing unit 113 is desirably provided in the other region 131. However, the image signal processing unit 113 having a large area arranges the circuits so that the heat generation points are uniform in the image signal processing unit 113, so that the orthogonal projection of the photoelectric conversion region on the main surface of the second substrate can be performed. It can be provided in the region. Alternatively, the image signal processing unit 113 may be provided outside the photoelectric conversion device.
なお、周辺領域１２９は光電変換領域１０３ではない部分であればよく、本実施形態の領域に限定されるものではない。 The peripheral region 129 may be a portion that is not the photoelectric conversion region 103 and is not limited to the region of the present embodiment.
（第２実施形態）
本実施形態の光電変換装置を、図２を用いて説明する。図２は図１と対応した図面であり、図２（ａ）は図１（ａ）に、図２（ｂ）は図１（ｂ）に、図２（ｃ）は図１（ｃ）にそれぞれ対応している。同一の構成には同一の符号を付し、説明を省略する。本実施形態の光電変換装置は、第１実施形態の光電変換装置とは、光電変換領域１０３と重なる領域２３０の回路の配置と、第１基板１０１の周辺領域２２９に設けられる回路が異なる。
(Second Embodiment)
The photoelectric conversion apparatus of this embodiment is demonstrated using FIG. 2 corresponds to FIG. 1, FIG. 2 (a) is shown in FIG. 1 (a), FIG. 2 (b) is shown in FIG. 1 (b), and FIG. 2 (c) is shown in FIG. Each corresponds. The same code | symbol is attached | subjected to the same structure and description is abbreviate | omitted. The photoelectric conversion device according to the present embodiment is different from the photoelectric conversion device according to the first embodiment in the circuit arrangement of the region 230 that overlaps the photoelectric conversion region 103 and the circuit provided in the peripheral region 229 of the first substrate 101.
本実施形態の光電変換装置は、図２（ａ）、および図２（ｂ）に示すように、第１基板１０１には、光電変換領域１０３と、第１実施形態の電流源１０４ａに加え増幅部１０４ｂの両方を有する列回路１０４と、が含まれる。つまり、本実施形態の周辺領域２２９は、列回路１０４を含む。そして、図２（ｃ）に示すように、第２基板１０２の光電変換領域１０３に重なる領域２３０には、比較回路１０５、ＴＧ回路１０８、垂直走査回路１１１、画素駆動回路１１２、無回路部２２４を含む。無回路部２２４は、回路が設けられていない部分である。このような無回路部２２４が光電変換領域１０３と重なるように配置されていることで、光電変換領域１０３のノイズを低減することが可能となる。 As shown in FIG. 2A and FIG. 2B, the photoelectric conversion device of the present embodiment is amplified on the first substrate 101 in addition to the photoelectric conversion region 103 and the current source 104a of the first embodiment. A column circuit 104 having both of the parts 104b. That is, the peripheral region 229 of this embodiment includes the column circuit 104. As illustrated in FIG. 2C, the comparison circuit 105, the TG circuit 108, the vertical scanning circuit 111, the pixel driving circuit 112, and the non-circuit portion 224 are provided in the region 230 overlapping the photoelectric conversion region 103 of the second substrate 102. including. The non-circuit portion 224 is a portion where no circuit is provided. By arranging such a non-circuit portion 224 so as to overlap with the photoelectric conversion region 103, noise in the photoelectric conversion region 103 can be reduced.
なお、本実施形態においても、垂直走査回路１１１、画素駆動回路１１２は、光電変換領域１０３のＹ軸方向の辺に対応して設けられている。光電変換領域１０３のＹ軸方向の辺から画素を駆動させるための信号が供給される。よって、このような構成によって、画素を駆動させるための信号を最短距離で光電変換領域１０３に供給することが可能となる。 Also in this embodiment, the vertical scanning circuit 111 and the pixel driving circuit 112 are provided corresponding to the sides in the Y-axis direction of the photoelectric conversion region 103. A signal for driving the pixel is supplied from the side in the Y-axis direction of the photoelectric conversion region 103. Thus, with such a configuration, a signal for driving the pixel can be supplied to the photoelectric conversion region 103 with the shortest distance.
また、領域２２０および領域２２１において、比較回路１０５、信号保持回路１０９等がＹ軸方向に（上下方向に）２つずつ設けられていることで、光電変換領域１０３からの信号をＹ軸方向に（上下方向）に振り分けて処理することが可能である。つまり、第１実施形態と同様に読み出し速度を向上することも可能である。 In the region 220 and the region 221, two comparison circuits 105, two signal holding circuits 109, and the like are provided in the Y-axis direction (up and down), so that the signal from the photoelectric conversion region 103 is transmitted in the Y-axis direction. It is possible to process by sorting (up and down direction). That is, it is possible to improve the reading speed as in the first embodiment.
（第３実施形態）
本実施形態の光電変換装置を、図３を用いて説明する。図３は図１、および図２と対応した図面である。ここでは、図３を第２実施形態（図２）と比較しながら説明する。図３（ａ）は図２（ａ）に、図３（ｂ）は図２（ｂ）に、図３（ｃ）は図２（ｃ）にそれぞれ対応している。同一の構成には同一の符号を付し、説明を省略する。本実施形態の光電変換装置は、第２実施形態の光電変換装置とは、光電変換領域１０３と重なる領域３３０の回路の配置が異なる。つまり、図３（ａ）と図３（ｂ）は、図２（ａ）と図２（ｂ）と同様であるので説明を省略する。
(Third embodiment)
The photoelectric conversion apparatus of this embodiment is demonstrated using FIG. FIG. 3 corresponds to FIG. 1 and FIG. Here, FIG. 3 will be described in comparison with the second embodiment (FIG. 2). 3A corresponds to FIG. 2A, FIG. 3B corresponds to FIG. 2B, and FIG. 3C corresponds to FIG. 2C. The same code | symbol is attached | subjected to the same structure and description is abbreviate | omitted. The photoelectric conversion device of the present embodiment is different from the photoelectric conversion device of the second embodiment in the circuit arrangement of the region 330 that overlaps the photoelectric conversion region 103. That is, FIG. 3A and FIG. 3B are the same as FIG. 2A and FIG.
本実施形態の光電変換装置は、図３（ｃ）に示すように、第２基板１０２の光電変換領域１０３に重なる領域３３０には、比較回路１０５がなく、ＴＧ回路１０８、垂直走査回路１１１、画素駆動回路１１２、無回路部２２４を含む。つまり、第１回路は比較回路１０５がなく、ＴＧ回路１０８、垂直走査回路１１１、画素駆動回路１１２、無回路部２２４を含む。このような構成によって、本実施形態においても、光電変換装置のノイズを低減することが可能となる。 As shown in FIG. 3C, the photoelectric conversion device of the present embodiment has no comparison circuit 105 in the region 330 that overlaps the photoelectric conversion region 103 of the second substrate 102, and the TG circuit 108, the vertical scanning circuit 111, A pixel driving circuit 112 and a non-circuit portion 224 are included. That is, the first circuit does not have the comparison circuit 105 and includes the TG circuit 108, the vertical scanning circuit 111, the pixel driving circuit 112, and the non-circuit portion 224. With such a configuration, noise of the photoelectric conversion device can be reduced also in the present embodiment.
また、Ｙ軸方向において２つの領域３３１は領域３３０を挟んで設けられている。この領域３３１のそれぞれは対象性の高い回路配置をしており、光電変換領域１０３からの信号をＹ軸方向に（上下方向）に振り分けて処理することが可能である。 Further, the two regions 331 are provided with the region 330 in between in the Y-axis direction. Each of the areas 331 has a highly symmetric circuit arrangement, and signals from the photoelectric conversion area 103 can be distributed and processed in the Y-axis direction (vertical direction).
なお、信号保持回路は、その面積が光電変換領域１０３の面積と同等である場合がある。その際には、無回路部２２４に設けることが好ましい。 Note that the area of the signal holding circuit may be equal to the area of the photoelectric conversion region 103 in some cases. In that case, the non-circuit portion 224 is preferably provided.
（第４実施形態）
本実施形態の光電変換装置を、図４を用いて説明する。図４は図１乃至図３と対応した図面である。ここでは、図４を第２実施形態（図２）と比較しながら説明する。図４（ａ）は図２（ａ）に、図４（ｂ）は図２（ｂ）に、図４（ｃ）は図２（ｃ）にそれぞれ対応している。同一の構成には同一の符号を付し、説明を省略する。本実施形態の光電変換装置は、第２実施形態の光電変換装置とは、光電変換領域１０３と重なる領域４３０の回路の配置と、第１基板１０１の周辺領域４２９に設けられる回路が異なる。
(Fourth embodiment)
The photoelectric conversion apparatus of this embodiment is demonstrated using FIG. FIG. 4 corresponds to FIGS. 1 to 3. Here, FIG. 4 will be described in comparison with the second embodiment (FIG. 2). 4 (a) corresponds to FIG. 2 (a), FIG. 4 (b) corresponds to FIG. 2 (b), and FIG. 4 (c) corresponds to FIG. 2 (c). The same code | symbol is attached | subjected to the same structure and description is abbreviate | omitted. The photoelectric conversion device according to the present embodiment is different from the photoelectric conversion device according to the second embodiment in the circuit arrangement of the region 430 that overlaps the photoelectric conversion region 103 and the circuit provided in the peripheral region 429 of the first substrate 101.
本実施形態の光電変換装置は、図４（ａ）、および図４（ｂ）に示すように、第１基板１０１には、光電変換領域１０３、列回路１０４、垂直走査回路１１１、画素駆動回路１１２が含まれる。つまり、本実施形態の周辺領域２２９は、列回路１０４、垂直走査回路１１１、画素駆動回路１１２を含む。そして、図４（ｃ）に示すように、第２基板１０２の光電変換領域１０３に重なる領域４３０には、比較回路１０５とＴＧ回路１０８のみを配置している。つまり、第１回路は比較回路１０５とＴＧ回路１０８とを含む。このような構成によって、本実施形態においても、光電変換装置のノイズを低減することが可能となる。 As shown in FIGS. 4A and 4B, the photoelectric conversion device of the present embodiment includes a photoelectric conversion region 103, a column circuit 104, a vertical scanning circuit 111, and a pixel driving circuit on the first substrate 101. 112 is included. That is, the peripheral region 229 of this embodiment includes the column circuit 104, the vertical scanning circuit 111, and the pixel driving circuit 112. As shown in FIG. 4C, only the comparison circuit 105 and the TG circuit 108 are arranged in a region 430 that overlaps the photoelectric conversion region 103 of the second substrate 102. That is, the first circuit includes the comparison circuit 105 and the TG circuit 108. With such a configuration, noise of the photoelectric conversion device can be reduced also in the present embodiment.
また、本実施形態においては、出力ＩＦ１１８が１つとなっており、端子数を削減することが可能である。 In the present embodiment, there is only one output IF 118, and the number of terminals can be reduced.
（第５実施形態）
本実施形態の光電変換装置を、図５を用いて説明する。図５は図１乃至図４と対応した図面である。ここでは、図５を第４実施形態（図４）と比較しながら説明する。図５（ａ）は図４（ａ）に、図５（ｂ）は図４（ｂ）に、図５（ｃ）は図４（ｃ）にそれぞれ対応している。同一の構成には同一の符号を付し、説明を省略する。本実施形態の光電変換装置は、第４実施形態の光電変換装置とは、光電変換領域１０３と重なる領域５３０の回路の配置と、第１基板１０１の周辺領域５２９に設けられる回路が異なる。
(Fifth embodiment)
The photoelectric conversion apparatus of this embodiment is demonstrated using FIG. FIG. 5 is a drawing corresponding to FIGS. Here, FIG. 5 will be described in comparison with the fourth embodiment (FIG. 4). 5 (a) corresponds to FIG. 4 (a), FIG. 5 (b) corresponds to FIG. 4 (b), and FIG. 5 (c) corresponds to FIG. 4 (c). The same code | symbol is attached | subjected to the same structure and description is abbreviate | omitted. The photoelectric conversion device according to the present embodiment is different from the photoelectric conversion device according to the fourth embodiment in the arrangement of the circuit in the region 530 that overlaps the photoelectric conversion region 103 and the circuit provided in the peripheral region 529 of the first substrate 101.
本実施形態の光電変換装置は、図５（ａ）、および図５（ｂ）に示すように、第１基板１０１には、光電変換領域１０３、垂直走査回路１１１、画素駆動回路１１２が含まれる。本実施形態の周辺領域２２９は、垂直走査回路１１１、画素駆動回路１１２を含む。つまり、第４実施形態とは第１基板１０１に列回路１０４が設けられていない点で異なる。そして、図５（ｃ）に示すように、第２基板１０２の光電変換領域１０３に重なる領域５３０には、列回路１０４、比較回路１０５、ＴＧ回路１０８を配置している。つまり、第１回路は、列回路１０４、比較回路１０５、ＴＧ回路１０８を含む。このような構成によって、本実施形態においても、光電変換装置のノイズを低減することが可能となる。 In the photoelectric conversion device of this embodiment, as shown in FIGS. 5A and 5B, the first substrate 101 includes a photoelectric conversion region 103, a vertical scanning circuit 111, and a pixel driving circuit 112. . The peripheral region 229 of this embodiment includes a vertical scanning circuit 111 and a pixel driving circuit 112. That is, the fourth embodiment is different from the fourth embodiment in that the column circuit 104 is not provided on the first substrate 101. As shown in FIG. 5C, the column circuit 104, the comparison circuit 105, and the TG circuit 108 are arranged in a region 530 that overlaps the photoelectric conversion region 103 of the second substrate 102. That is, the first circuit includes the column circuit 104, the comparison circuit 105, and the TG circuit 108. With such a configuration, noise of the photoelectric conversion device can be reduced also in the present embodiment.
（第６実施形態）
本実施形態の光電変換装置を、図６を用いて説明する。ここでは、図６を第１実施形態（図１）と比較しながら説明する。図６（ａ）は図１（ａ）に、図６（ｂ）は図１（ｂ）に、図６（ｃ）は図１（ｃ）に、図６（ｅ）は図１（ｅ）にそれぞれ対応している。図６（ｄ）は、本実施形態で新たに設ける第３の基板を説明するブロック図である。同一の構成には同一の符号を付し、説明を省略する。本実施形態の光電変換装置は、第１実施形態の光電変換装置とは、第３基板６０３を有する点で、大きく異なる。
(Sixth embodiment)
The photoelectric conversion apparatus of this embodiment is demonstrated using FIG. Here, FIG. 6 will be described in comparison with the first embodiment (FIG. 1). 6A is shown in FIG. 1A, FIG. 6B is shown in FIG. 1B, FIG. 6C is shown in FIG. 1C, and FIG. It corresponds to each. FIG. 6D is a block diagram illustrating a third substrate newly provided in the present embodiment. The same code | symbol is attached | subjected to the same structure and description is abbreviate | omitted. The photoelectric conversion device of this embodiment is greatly different from the photoelectric conversion device of the first embodiment in that it has a third substrate 603.
図６（ａ）に示すように、本実施形態の第３基板６０３には、画像信号処理部１１３と、出力ＩＦ１１８とが設けられている。この第３基板６０３は、第１基板１０１と第２基板１０２と重なるように配置されている。図６（ｅ）に示すように、表面６２６と裏面６２７を有する第３基板６０３の表面６２６が第２基板１０２の裏面１２２に接するように設けられている。 As shown in FIG. 6A, an image signal processing unit 113 and an output IF 118 are provided on the third substrate 603 of the present embodiment. The third substrate 603 is disposed so as to overlap the first substrate 101 and the second substrate 102. As shown in FIG. 6E, the front surface 626 of the third substrate 603 having the front surface 626 and the back surface 627 is provided so as to be in contact with the back surface 122 of the second substrate 102.
このような光電変換装置において、第１基板１０１には、光電変換領域１０３のみが設けられており、周辺領域６２９には回路等が設けられていない。第２基板１０２は、列回路１０４、比較回路１０５、ＴＧ回路１０８、垂直走査回路１１１、画素駆動回路１１２、参照電源回路１０６、カウンタ回路１０７、信号保持回路１０９、水平走査回路１１０、入力ＩＦ１１７を含む。ここで、光電変換領域１０３と重なる領域６３０には、第１回路に含まれる、列回路１０４、比較回路１０５、ＴＧ回路１０８、垂直走査回路１１１、画素駆動回路１１２、が設けられる。第２回路を含むその他の領域６３１は周辺領域６２９と重なっている。そして、第３基板６０３には、画像信号処理部１１３と出力ＩＦ１１８が設けられている。ここで、画像信号処理部１１３は第２クロックよりも高い周波数のクロックに同期して信号を処理するマイクロプロセッサ１１５や画像信号処理回路１１４を含んでいる場合が多い。しかし、光電変換領域１０３が設けられた第１基板１０１とは第２基板１０２を介しているため、熱の影響が少ない。よって、光電変換領域１０３と画像信号処理部１１３とが重なるように配置されていてもよい。このような構成によって、本実施形態においても、光電変換装置のノイズを低減することが可能となる。 In such a photoelectric conversion device, the first substrate 101 is provided with only the photoelectric conversion region 103, and the peripheral region 629 is not provided with a circuit or the like. The second substrate 102 includes a column circuit 104, a comparison circuit 105, a TG circuit 108, a vertical scanning circuit 111, a pixel driving circuit 112, a reference power supply circuit 106, a counter circuit 107, a signal holding circuit 109, a horizontal scanning circuit 110, and an input IF 117. Including. Here, a column circuit 104, a comparison circuit 105, a TG circuit 108, a vertical scanning circuit 111, and a pixel driving circuit 112, which are included in the first circuit, are provided in a region 630 overlapping with the photoelectric conversion region 103. Another region 631 including the second circuit overlaps with the peripheral region 629. The third substrate 603 is provided with an image signal processing unit 113 and an output IF 118. Here, the image signal processing unit 113 often includes a microprocessor 115 and an image signal processing circuit 114 that process signals in synchronization with a clock having a higher frequency than the second clock. However, since the first substrate 101 provided with the photoelectric conversion region 103 is interposed between the second substrate 102, the influence of heat is small. Therefore, the photoelectric conversion region 103 and the image signal processing unit 113 may be arranged so as to overlap each other. With such a configuration, noise of the photoelectric conversion device can be reduced also in the present embodiment.
（第７実施形態）
本実施形態の光電変換装置を、図７を用いて説明する。ここでは、図７を第６実施形態（図６）と比較しながら説明する。図７（ａ）は図６（ａ）に、図７（ｂ）は図６（ｂ）に、図７（ｃ）は図６（ｃ）に、図７（ｄ）は図６（ｄ）にそれぞれ対応している。同一の構成には同一の符号を付し、説明を省略する。本実施形態の光電変換装置は、第６実施形態の光電変換装置とは、第１基板１０１に設ける回路と、光電変換領域１０３と重なる領域７３０の回路が異なる。本実施形態の光電変換装置の第３基板６０３については、第６実施形態と同様であるため、説明を省略する。
(Seventh embodiment)
The photoelectric conversion apparatus of this embodiment is demonstrated using FIG. Here, FIG. 7 will be described in comparison with the sixth embodiment (FIG. 6). 7 (a) is shown in FIG. 6 (a), FIG. 7 (b) is shown in FIG. 6 (b), FIG. 7 (c) is shown in FIG. 6 (c), and FIG. It corresponds to each. The same code | symbol is attached | subjected to the same structure and description is abbreviate | omitted. The photoelectric conversion device according to this embodiment is different from the photoelectric conversion device according to the sixth embodiment in a circuit provided on the first substrate 101 and a circuit in a region 730 overlapping with the photoelectric conversion region 103. About the 3rd board | substrate 603 of the photoelectric conversion apparatus of this embodiment, since it is the same as that of 6th Embodiment, description is abbreviate | omitted.
図７（ａ）、および図７（ｂ）に示すように、本実施形態の第１基板１０１には、光電変換領域１０３と、列回路１０４とが設けられている。つまり、周辺領域７２９に列回路１０４が設けられている。そして、第２基板１０２の領域７３０は、回路が配置されていない無回路部７２４となっている。このような構成によっても、光電変換装置のノイズを低減することが可能となる。 As shown in FIG. 7A and FIG. 7B, the first substrate 101 of this embodiment is provided with a photoelectric conversion region 103 and a column circuit 104. That is, the column circuit 104 is provided in the peripheral region 729. A region 730 of the second substrate 102 is a non-circuit portion 724 where no circuit is arranged. Even with such a configuration, noise of the photoelectric conversion device can be reduced.
以下、説明してきた光電変換装置の応用例として、該光電変換装置が組み込まれた撮像システムについて例示的に説明する。撮像システムの概念には、撮影を主目的とする装置（例えば、スチルカメラ、カムコーダ）のみならず、撮影機能を補助的に備える装置（例えば、パーソナルコンピュータ、携帯端末）も含まれる。撮像システムは、上記の実施形態として例示された本発明に係る光電変換装置と、該光電変換装置から出力される信号を処理する処理部とを含む。あるいは、本発明に係る光電変換装置に結像するための光学系（例えば、レンズ）を有する。 Hereinafter, as an application example of the photoelectric conversion device that has been described, an imaging system in which the photoelectric conversion device is incorporated will be exemplarily described. The concept of the imaging system includes not only devices mainly used for shooting (for example, still cameras and camcorders) but also devices (for example, personal computers and portable terminals) that have auxiliary shooting functions. The imaging system includes the photoelectric conversion device according to the present invention exemplified as the above embodiment, and a processing unit that processes a signal output from the photoelectric conversion device. Or it has the optical system (for example, lens) for imaging on the photoelectric conversion apparatus which concerns on this invention.
以上の実施形態にて説明してきたように、本発明の光電変換装置によれば、ノイズの低減が可能となり、高画質の画像を得ることが可能となる。 As described in the above embodiments, according to the photoelectric conversion device of the present invention, noise can be reduced and a high-quality image can be obtained.
本発明の光電変換装置は、上述の実施形態に限定されない。例えば、各実施形態は、適宜変更、組み合わせが可能である。 The photoelectric conversion device of the present invention is not limited to the above-described embodiment. For example, each embodiment can be appropriately changed and combined.
１０１ 第１基板
１０２ 第２基板
１０３ 光電変換領域
１０４ 列回路（電流源＋列アンプ）
１０６ 参照電源回路
１０７ カウンタ回路
１０８ タイミング発生回路
１０９ 信号保持回路
１１０ 水平走査回路
１１１ 垂直走査回路
101 First substrate 102 Second substrate 103 Photoelectric conversion region 104 Column circuit (current source + column amplifier)
106 Reference power supply circuit 107 Counter circuit 108 Timing generation circuit 109 Signal holding circuit 110 Horizontal scanning circuit 111 Vertical scanning circuit
Claims (11)
アナログ‐デジタル変換器の比較回路と、前記画素のトランジスタを駆動するための信号を生成する画素駆動回路とを含む第２基板と、
を備えた光電変換装置において、
平面視において、前記光電変換領域は、前記画素駆動回路と重なる領域に設けられており、
平面視において、前記周辺領域は、前記比較回路と重なる領域に設けられていることを特徴とする光電変換装置。 A first substrate including a photoelectric conversion region provided with a plurality of pixels including a photoelectric conversion element and a source follower transistor; and a peripheral region outside the photoelectric conversion region;
A second substrate including an analog-to-digital converter comparison circuit and a pixel driving circuit for generating a signal for driving a transistor of the pixel;
In a photoelectric conversion device comprising:
In plan view, the photoelectric conversion region is provided in a region overlapping the pixel driving circuit,
In the planar view, the peripheral region is provided in a region overlapping with the comparison circuit.
アナログ‐デジタル変換器の比較回路と、垂直走査回路とを含む第２基板と、を備えた光電変換装置において、
平面視において、前記光電変換領域は、前記垂直走査回路と重なる領域に設けられており、
平面視において、前記周辺領域は、前記比較回路と重なる領域に設けられていることを特徴とする光電変換装置。 A first substrate including a photoelectric conversion region provided with a plurality of pixels including a photoelectric conversion element and a source follower transistor; and a peripheral region outside the photoelectric conversion region;
In a photoelectric conversion device including a comparison circuit of an analog-digital converter and a second substrate including a vertical scanning circuit,
In plan view, the photoelectric conversion region is provided in a region overlapping the vertical scanning circuit,
In the planar view, the peripheral region is provided in a region overlapping with the comparison circuit.
アナログ‐デジタル変換器の比較回路と、垂直走査回路の動作を制御する制御信号を生成するタイミングジェネレータ回路とを含む第２基板と、
を備えた光電変換装置において、
平面視において、前記光電変換領域は、前記タイミングジェネレータ回路と重なる領域に設けられており、
平面視において、前記周辺領域は、前記比較回路と重なる領域に設けられていることを特徴とする光電変換装置。 A first substrate including a photoelectric conversion region provided with a plurality of pixels including a photoelectric conversion element and a source follower transistor; and a peripheral region outside the photoelectric conversion region;
A second substrate including an analog-to-digital converter comparison circuit and a timing generator circuit for generating a control signal for controlling the operation of the vertical scanning circuit;
In a photoelectric conversion device comprising:
In plan view, the photoelectric conversion region is provided in a region overlapping the timing generator circuit,
In the planar view, the peripheral region is provided in a region overlapping with the comparison circuit.
平面視において、前記複数の信号線の信号を共通信号線へ出力するための水平走査回路が、前記周辺領域と重複することを特徴とする請求項１から４のいずれか１項に記載の光電変換装置。 The photoelectric conversion region includes a plurality of signal lines for outputting signals from the plurality of pixels,
5. The photoelectric device according to claim 1, wherein a horizontal scanning circuit for outputting signals of the plurality of signal lines to a common signal line overlaps with the peripheral region in a plan view. Conversion device.
ことを特徴とする請求項１乃至９のいずれか１項に記載の光電変換装置。 The photoelectric conversion device includes a circuit that processes a signal output from the second substrate, and includes the first substrate and a third substrate that overlaps the second substrate with the second substrate interposed therebetween. The photoelectric conversion device according to claim 1, wherein:
前記光電変換装置からの信号を処理する処理回路と、を有する
ことを特徴とする撮像システム。 The photoelectric conversion device according to any one of claims 1 to 10,
An imaging system comprising: a processing circuit that processes a signal from the photoelectric conversion device.
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