以下、本発明の好ましい実施形態について図面を参照して説明する。本実施形態に係る弾球遊技機の代表例として、ぱちんこ遊技機PMの斜視図及び背面図を図1及び図2に示しており、まず、この図を参照してぱちんこ遊技機PMの全体構成について説明する。
[ぱちんこ遊技機の全体構成]
始めに、図1を参照しながら、ぱちんこ遊技機PMの正面側の基本構造を説明する。ぱちんこ遊技機PMは、図1に示すように、外郭方形枠サイズに構成された縦向きの固定保持枠をなす外枠1の開口前面に、これに合わせた方形枠サイズに構成されて開閉搭載枠をなす前枠2が互いの正面左側縁部に配設された上下のヒンジ機構3により横開き開閉及び着脱が可能に取り付けられ、正面右側縁部に設けられたダブル錠と称される施錠装置4を利用して常には外枠1と係合連結された閉鎖状態に保持される。
前枠2には、この前枠2の上部前面域に合わせた方形状のガラス枠5が上下のヒンジ機構3を利用して横開き開閉及び着脱可能に組み付けられ、施錠装置4を利用して常には前枠2の前面を覆う閉鎖状態に保持される。前枠2には、遊技盤100が着脱可能にセット保持され、常には閉鎖保持されるガラス枠5の複層ガラス5aを通して遊技盤100の正面の遊技領域PAを視認可能に臨ませるようになっている。
ガラス枠5の下部には遊技球を貯留する上下の球皿(上球皿6a及び下球皿6b)が設けられ、下球皿6bの正面右側には遊技球の発射操作を行う発射ハンドル7が設けられている。ガラス枠5の前面側には、発光ダイオード(LED)やランプ等の電飾装置8や、遊技の展開状態に応じて効果音を発生させるスピーカ9が設けられている。
続いて、図2を参照しながら、ぱちんこ遊技機PMの背面側の基本構造を説明する。前枠2の背面側には、中央に前後連通する窓口を有して前枠2よりも幾分小型の矩形枠状に形成された基枠体をベースとしてなる裏セット盤30が、上下のヒンジ機構3を介して前枠2後方に横開き開閉及び着脱が可能に連結されている。この裏セット盤30には、前面開放の矩形箱状をなす裏セットカバー30Cが着脱自在に装着されており、常には前枠2に取り付けられた遊技盤100の裏面側を覆って配設されている(これにより後述する主制御装置1000及び副制御装置2000が裏セットカバー30Cにより覆われる)。
裏セット盤30の各部には、多数個の遊技球を貯留する球貯留タンク31、球貯留タンク31から右方に緩やかな下り傾斜を有して延びるタンクレール32、タンクレール32の右端部に繋がり下方に延びる球供給通路部材33、球供給通路部材33により導かれた遊技球を払い出す賞球払出ユニット34、賞球払出ユニット34から払い出された遊技球を上球皿6に導くための賞球通路部材35などが設けられている。
遊技盤10の背面側には、ぱちんこ遊技機PMの作動を統括的に制御する主制御基板等からなる主制御装置1000や、遊技展開に応じた画像表示、効果照明、効果音等の演出全般の制御を行う演出制御基板等からなる副制御装置2000などが取り付けられている。これに対して、裏セット盤30の背面側には、遊技球の発射及び払い出しに関する制御を行う払出制御基板等からなる払出制御装置3000や、遊技施設側から受電して各種制御装置や電気・電子部品に電力を供給する電源供給ユニット3500などが取り付けられている。これらの制御装置とぱちんこ遊技機PM各部の電気・電子部品とがワイヤーハーネスで接続されて、ぱちんこ遊技機PMが作動可能に構成されている。
ぱちんこ遊技機PMは、外枠1が遊技施設の遊技島(設置枠台)に固定設置され、前枠2、ガラス枠5等が閉鎖施錠された状態で遊技に供され、上球皿6aに遊技球を貯留させて発射ハンドル7を回動操作することにより遊技が開始される。発射ハンドル7が回動操作されると、上球皿6aに貯留された遊技球が、ガラス枠5の背面側に配設される球送り機構によって1球ずつ発射機構に送り出され、発射機構により遊技領域PAに打ち出されて、以降パチンコゲームが展開される。
[遊技盤の構成]
次に、本実施形態に係る遊技盤100について図3〜図10を参照して説明する。なお、本実施形態において、図3の各矢印で示す方向をそれぞれ、上下方向、前後方向、左右方向として説明する。
遊技盤100は、図3〜図4に示すように、板状のベース部材101と、ベース部材101の前面側に取り付けられたレール部材107とを有し、ベース部材101におけるレール部材107に囲まれた部分に遊技領域PAが形成される。この遊技領域PAには、多数の遊技釘(図示せず)とともに、遊技領域PAの中央部近傍に配置されたセンター飾り112と、センター飾り112の下方に配置された装飾ユニット113と、複数の一般入賞装置114,114,…と、センター飾り112と装飾ユニット113との間に配置された第1始動入賞装置115と、装飾ユニット113の右方に配置された第2始動入賞装置150と、第2始動入賞装置150の上方に配置された大入賞装置160と、センター飾り112と大入賞装置160との間に配置された補助遊技始動ゲート118と、遊技領域PAの下端に配置されたアウト口119とが設けられている。なお、図3において一般入賞装置114,114,…の図示を省略し、図4において装飾ユニット113の図示を省略している。
ベース部材101は、図5に示すように、アクリル樹脂等の透明樹脂材料を用いて板状に形成される。ベース部材101の略中央部には、センター飾り112を取り付けるためのセンター飾り取り付け穴102が形成される。ベース部材101の左下部には、左側の一般入賞装置114,114,…を取り付けるための一般入賞装置取り付け穴103が形成される。ベース部材101の下部には、第1始動入賞装置115及び装飾ユニット113を取り付けるための第1始動入賞装置取り付け穴104が形成される。ベース部材101の右下部には、第2始動入賞装置150を取り付けるための第2始動入賞装置取り付け穴105と、大入賞装置160を取り付けるための大入賞装置取り付け穴106が形成される。ベース部材101の下端部中央には、アウト口119が形成される。
なお、ベース部材101の後面側における大入賞装置160の後方には、大入賞装置160と別体に形成された球通路部材180が取り付けられる。また、図3に示すように、センター飾り112には、可動式装飾部材143が取り付けられ、センター飾り112に内蔵された電磁駆動装置(図示せず)により可動式装飾部材143が上下方向に移動可能に構成されている。また、ベース部材101の後面側に演出表示装置145が取り付けられ、センター飾り112が取り付けられたセンター飾り取り付け穴102の開口部分を通じて演出表示装置145の画面を前方から視認可能に構成されている。
一般入賞装置114は、図4及び図6に示すように、遊技球が落入可能な一般入賞口114aを有し、一般入賞口114aに落入した遊技球をベース部材101の後面側に排出させる。一般入賞装置114と繋がる通路には、一般入賞口114aに落入した遊技球を検出する一般入賞センサ114s(図12を参照)が設けられている。
第1始動入賞装置115は、図4及び図6に示すように、遊技球が落入可能な第1始動入賞口115aを有し、第1始動入賞口115aに落入した遊技球をベース部材101の後面側に排出させる。第1始動入賞装置115と繋がる通路には、第1始動入賞口115aに落入した遊技球を検出する第1始動入賞センサ115s(図12を参照)が設けられている。
補助遊技始動ゲート118は、補助遊技始動ゲート118の開口部に落入した遊技球を補助遊技始動ゲート118の下方へ通過させる。補助遊技始動ゲート118には、補助遊技始動ゲート118を通過した遊技球を検出するゲートセンサ118s(図7及び図12を参照)が設けられている。
第2始動入賞装置150は、いわゆるベロ型チャッカーであり、図7〜図8に示すように、第2始動入賞口151aを有する始動入賞部材151と、始動入賞ガード部材153と、始動入賞球通路部材156と、始動口開閉装置157とを有している。始動入賞部材151は、樹脂材料を用いて板状に形成されるとともに表面に鍍金が施されている。始動入賞部材151は、ネジ等の固定手段を用いてベース部材101の前面側に固定される。始動入賞部材151の中央部には、遊技球が入球可能な第2始動入賞口151aが開口して形成される。
始動入賞ガード部材153は、始動入賞部材151の前面側に結合され、遊技球が入球可能に第2始動入賞口151aの前方を囲むように構成されている。なお、始動入賞ガード部材153の表面に、始動入賞部材151と同様の鍍金が施されている。始動入賞球通路部材156は、始動入賞部材151の後面側に結合され、ベース部材101の第2始動入賞装置取り付け穴105に挿通されてベース部材101の後面側に達するようになっている。始動入賞球通路部材156の内部には、第2始動入賞口151aと繋がる球排出通路(図示せず)が形成されており、第2始動入賞口151aを通過した遊技球をベース部材101の後面側に導いて下方に排出するように構成される。この球排出通路(図示せず)には、第2始動入賞口151aに落入した遊技球を検出する第2始動入賞センサ151s(図12を参照)が設けられている。
始動口開閉装置157は、始動入賞球通路部材156の後部に取り付けられる。始動口開閉装置157は、所定の遊技状態のときに、始動入賞部材151と始動入賞ガード部材153とに囲まれた空間に達した遊技球を第2始動入賞口151aに入球させる。一方、通常時において、始動口開閉装置157は、始動入賞部材151と始動入賞ガード部材153とに囲まれた空間に達した遊技球を第2始動入賞口151aに入球させることなく下方に通過させる。
大入賞装置160は、図7〜図8に示すように、通常大入賞口162a及び振分大入賞口163aを有する大入賞部材161と、大入賞ガード部材166と、大入賞球通路部材167と、大入賞口開閉装置171とを有している。大入賞部材161は、樹脂材料を用いて板状に形成されるとともに表面の一部に鍍金部161aが形成されている。大入賞部材161は、ネジ等の固定手段を用いてベース部材101の前面側に固定される。大入賞部材161の中央部には、遊技球が入球可能な通常大入賞口162a及び振分大入賞口163aが上下に並んで形成される。通常大入賞口162aは、横長の長方形に開口して形成され、振分大入賞口163aの下方に並んで配置される。振分大入賞口163aは、通常大入賞口162aと同じ横長の長方形に開口して形成され、通常大入賞口162aの上方に並んで配置される。
大入賞部材161の右下部に形成された装飾部161bには、球通路部材180に設けられた特定通過口185、玉確センサ185s、及び通過口開閉部材192を視認可能な窓部165が開口して形成される。なお、大入賞部材161の上部には、一般入賞口114aを有する一般入賞装置114の一つが一体的に形成されている。
大入賞ガード部材166は、大入賞部材161の前面側に結合され、遊技球が入球可能に通常大入賞口162a及び振分大入賞口163aの前方を囲むように構成されている。なお、大入賞ガード部材166は透明の樹脂材料を用いて形成され、通常大入賞口162a及び振分大入賞口163aを前方から視認可能に構成されている。大入賞球通路部材167は、大入賞部材161の後面側に結合され、ベース部材101の大入賞装置取り付け穴106に挿通されてベース部材101の後面側に達するようになっている。
大入賞球通路部材167の内部下側には、図10(a)に示すように、通常大入賞口162aと繋がる通常用球排出通路168が形成され、通常大入賞口162aを通過した遊技球B1をベース部材101の後面側に導いて下方の通常用裏球通路183に排出するように構成される。通常用球排出通路168には、図10(b)に示すように、通常大入賞口162aに入球した遊技球を検出する通常大入賞センサ162sが設けられる。大入賞球通路部材167の内部上側には、図10(a)に示すように、振分大入賞口163aと繋がる振分用球排出通路169が形成され、振分大入賞口163aを通過した遊技球B2をベース部材101の後面側に導いて下方の振分用裏球通路184に排出するように構成される。振分用球排出通路169には、図10(b)に示すように、振分大入賞口163aに入球した遊技球を検出する振分大入賞センサ163sが設けられる。
大入賞口開閉装置171は、図7〜図8に示すように、通常大入賞口162aを開閉可能な通常用開閉扉172と、振分大入賞口163aを開閉可能な振分用開閉扉173と、通常用開閉扉172を揺動させるための通常用開閉ソレノイド174と、振分用開閉扉173を揺動させるための振分用開閉ソレノイド175とを有している。通常用開閉扉172は、通常用開閉揺動機構176(図10(a)を参照)を介して通常大入賞口162aに揺動開閉可能に取り付けられる。通常用開閉揺動機構176は、不図示の付勢バネを有しており、通常用開閉扉172が通常大入賞口162aを閉止する方向に付勢力を加えるように構成されている。振分用開閉扉173は、振分用開閉揺動機構177(図10(a)を参照)を介して振分大入賞口163aに揺動開閉可能に取り付けられる。振分用開閉揺動機構177は、不図示の付勢バネを有しており、振分用開閉扉173が振分大入賞口163aを閉止する方向に付勢力を加えるように構成されている。
通常用開閉ソレノイド174は、通常用開閉揺動機構176の付勢力に抗して、通常用開閉扉172を前方に揺動駆動し、通常大入賞口162aを開放可能に構成される。これにより、通常時においては、通常用開閉揺動機構176の付勢力により、通常用開閉扉172が通常大入賞口162aを閉止し、所定の特別遊技状態が成立したときに、通常用開閉ソレノイド174の駆動力により、通常用開閉扉172が前方にほぼ90度倒伏揺動して、通常大入賞口162aが開放されるようになっている。振分用開閉ソレノイド175は、振分用開閉揺動機構177の付勢力に抗して、振分用開閉扉173を前方に揺動駆動し、振分大入賞口163aを開放可能に構成される。これにより、通常時においては、振分用開閉揺動機構177の付勢力により、振分用開閉扉173が振分大入賞口163aを閉止し、所定の特別遊技状態が成立したときに、振分用開閉ソレノイド175の駆動力により、振分用開閉扉173が前方にほぼ90度倒伏揺動して、振分大入賞口163aが開放されるようになっている。
球通路部材180は、図5及び図8に示すように、前部が開口した後側球通路部材181と、後側球通路部材181の前部開口を覆う前側球通路部材182とから構成される。図9〜図10に示すように、後側球通路部材181と前側球通路部材182との間には、通常用裏球通路183と、振分用裏球通路184と、一般入賞用裏球通路188とが形成される。
通常用裏球通路183は、球通路部材180の右方中央側に上下に延びるように形成され、上流部が大入賞装置160の通常用球排出通路168と繋がるようになっている。通常用裏球通路183は、大入賞装置160の通常大入賞口162a及び通常用球排出通路168を通過した遊技球B1を流下させて総排出口187から下方に排出するように構成される。
振分用裏球通路184は、球通路部材180の右方端部側に上下に延びるように形成され、上流部が大入賞装置160の振分用球排出通路169と繋がるようになっている。振分用裏球通路184は、大入賞装置160の振分大入賞口163a及び振分用球排出通路169を通過した遊技球B2を流下させて総排出口187から下方に排出するように構成される。振分用裏球通路184には、特定通過口185及び排出口186が並列に並んで形成され、振分用裏球通路184を流下する遊技球が特定通過口185及び排出口186のうちいずれか一方を通過するようになっている。特定通過口185の下流側近傍には、特定通過口185を通過した遊技球を検出する玉確センサ(特定通過口センサ)185sが設けられる。排出口186の下流側近傍には、排出口186を通過した遊技球を検出する排出センサ186sが設けられる。なお、遊技球が特定通過口185を通過して玉確センサ185sに検出されると、特別遊技の終了後、特別遊技の当否判定における当選確率が通常時(後述の非確率変動遊技状態時)の当選確率よりも高確率である高確率抽選状態(後述の確率変動遊技状態)となるように構成されている。
一般入賞用裏球通路188は、球通路部材180の左側に上下に延びるように形成され、上流部が遊技領域PAの右側の一般入賞装置114と繋がるようになっている。一般入賞用裏球通路188は、一般入賞装置114の一般入賞口114aに落入した遊技球を流下させて一般入賞用排出口189から下方に排出するように構成される。一般入賞用裏球通路188には、前述の一般入賞センサ114sが設けられる。
後側球通路部材181及び前側球通路部材182は、透明樹脂材料を用いて形成される。後側球通路部材181の右側には、特定通過口185を開閉するための特定通過口開閉装置191が取り付けられる。特定通過口開閉装置191は、特定通過口185を開閉可能な通過口開閉部材192と、通過口開閉部材192を左右方向にスライド移動させる開閉部材駆動部(ソレノイド駆動部)193とを有している。通常時において、通過口開閉部材192は特定通過口185を閉鎖する通過口閉鎖位置(図10(a)を参照)に位置しており、所定の特別遊技状態が成立したときに、開閉部材駆動部193により、通過口開閉部材192がこの通過口閉鎖位置から右方の通過口開放位置(図10(b)を参照)へスライド移動して、特定通過口185が開放されるようになっている。
なお、振分用裏球通路184は、通過口開閉部材192が特定通過口185を開放する状態では、振分用裏球通路184を流下する遊技球が排出口186よりも上流側の特定通過口185へ落入通過し、通過口開閉部材192が特定通過口185を閉鎖する状態では、振分用裏球通路184を流下する遊技球が通過口開閉部材192の上を転動して排出口186へ落入通過するように形成される。また、後側球通路部材181の左側には、不正な電波を検出する電波検出センサ196と、第1始動入賞装置115及び第2始動入賞装置150等の近傍で生じた不正な磁界を検出する磁気センサ197が取り付けられる。
前側球通路部材182の前面側には、図5及び図8に示すように所定の装飾模様が形成される。前側球通路部材182の右下部分には、大入賞装置160の窓部165を介して、特定通過口185、玉確センサ185s、及び通過口開閉部材192を前方から視認可能にする透視窓182aが形成されている。
[ぱちんこ遊技機の電気的な構成]
次に、図11のブロック図を参照しながら、本実施形態に係るぱちんこ遊技機PMの電気的な概略構成を説明する。本実施形態に係るぱちんこ遊技機PMは、前述したように、遊技の進行を制御する主制御装置1000と、主制御装置1000からの情報(信号、コマンド等)に基づいて遊技球の払出を制御する払出制御装置3000と、主制御装置1000からの情報(信号、コマンド等)に基づいて、装飾図柄の変動・停止等の演出表示装置145上での各種演出、スピーカ9からの音響、電飾装置8の点灯、エラー報知等の実行を制御する副制御基板2000と、これらの制御基板を含む遊技機全体に電源を供給する電源供給ユニット3500と、を主体として構成されている。副制御基板2000は、装飾図柄の変動・停止等の演出表示装置145上での各種演出、スピーカ9からの音響、電飾装置8の点灯、エラー報知を制御するサブメイン制御部2320と、演出表示装置145上での装飾図柄の変動表示・停止表示及び保留表示や予告表示等の表示処理を実行するサブサブ制御部2310の2つの制御部とを備えている。主制御装置1000、払出制御装置3000、サブメイン制御部2320及びサブサブ制御部2310には、様々な演算処理を行うCPU、CPUの演算処理を規定したプログラムを予め記憶するROM、CPUが取り扱うデータ(遊技中に発生する各種データやROMから読み出されたコンピュータプログラム等)を一時的に記憶するRAMが搭載されている。以下、各制御装置の概略構成及びこれらの電気的な接続態様について概説する。
主制御装置1000は、入球センサS1(前述した第1始動入賞センサ115s、第2始動入賞センサ151s、ゲートセンサ118s、通常大入賞センサ162s、振分大入賞センサ163s、玉確センサ185s、排出センサ186s、一般入賞センサ114s等)、異常検出センサS2(電波検出センサ196、磁気センサ197等)、駆動ソレノイド(通常用開閉ソレノイド174、振分用開閉ソレノイド175等)、情報表示LED(図示せず)等、遊技の進行に必須となる入出力装置と電気的に接続され、各入力装置からの入力信号に基づいて遊技の進行を制御している。また、主制御装置1000は、払出制御装置3000と、副制御基板2000(サブメイン制御部2320及びサブサブ制御部2310)とも電気的に接続されており、遊技進行に基づいて、賞球払出等に関する情報(コマンド)を払出制御装置3000に、演出・遊技の進行状態等に関する情報(コマンド)を副制御基板2000にそれぞれ送信可能に構成されている。なお、主制御装置1000は、外部接続端子(図示せず)を介してホールコンピュータH等と接続可能となっており、外部接続端子を介してホールコンピュータHと配線接続することで、主制御装置1000から外部の装置に対して遊技関連情報を出力できるよう構成されている。
本実施形態では、図11の矢印表記の通り、主制御装置1000と払出制御装置3000とは、双方向通信が可能となるよう構成されている一方、主制御装置1000とサブメイン制御部2320とは、主制御装置1000からサブメイン制御部2320への一方向通信が可能となるよう構成されている(通信方法は、シリアル通信、パラレル通信のいずれを用いてもよい)。なお、制御装置間の通信については一方向通信でも双方向通信でもよい。また、主制御装置1000とホールコンピュータHとは、主制御装置1000からホールコンピュータへの一方通信が可能となるよう構成されており、遊技関連情報、排出球異常情報、不正検知コマンド等が送信される。
払出制御装置3000は、遊技球の払出を実行する賞球払出ユニット34と、遊技者によって操作可能な装置であって遊技球の貸出要求を受付け払出制御装置3000に伝達する遊技球貸出装置Jとに接続されている。また、図示省略するが、本実施形態では、払出制御基板内に、発射装置の制御回路部が併設されており、払出制御基板と発射装置(発射ハンドル・発射モータ・球送り装置等)とも接続されている。尚、本実施形態では、遊技球貸出装置Jを別体として遊技機に隣接する形態を採用しているが、遊技機と一体としてもよく、その場合には、払出制御装置3000により貸出制御及び電子マネー等貸出用の記録媒体の管理制御等を統括して行ってもよい。
副制御基板2000は、装飾図柄等を表示する演出表示装置145と、スピーカ9と、電飾装置8と、その他演出用の駆動装置(図示せず)と電気的に接続されている。本実施形態では、前述の通り、副制御基板2000内にサブメイン制御部2320とサブサブ制御部2310とを有しており、サブメイン制御部2320によりスピーカ9から出力させる音声の制御、電飾装置8の点灯制御並びに、演出表示装置145上で表示する表示内容の決定制御が行われ、サブサブ制御部2310により、演出表示装置145上の表示制御(実体的な表示制御)が行われるように構成されている。なお、本実施形態では、サブメイン制御部2320とサブサブ制御部2310とを、副制御装置2000にて一体化されるよう構成されているが、これに限定されるわけではない(別基板として構成してもよいが、一体化するよう構成することでスペースメリットや配線等にノイズが混入してしまう事態を低減できるといったメリットが生ずる)。また、両制御部での作業分担についても、例えばサブサブ制御部2310により音声制御を実行させる(VDPに音声制御回路が一体化されたものを採用する場合に好適)等、適宜変更できる。また、賞球として物理的な賞球を付与せずに電子的な価値を付与してもよい。
[ぱちんこ遊技機の各種機能]
次に、図12のブロック図を参照しながら、本実施形態に係るぱちんこ遊技機PMの各種機能について説明する。主制御装置1000は、遊技に係る遊技周辺機器K(第1主遊技周辺機器A、第2主遊技周辺機器B、第1・第2主遊技共用周辺機器C、補助遊技周辺機器D)と、演出に係るサブメイン制御部2320と、主制御装置1000からの払出指示に基づき所定数の賞球の払出制御を行う払出制御装置3000と、異常検出センサS2(電波検出センサ196、磁気センサ197等)と、情報伝達可能に接続されている。また、サブメイン制御部2320は、画像演出を実行するサブサブ制御部2310と、電飾装置8と、スピーカ9とも電気的に接続されている。払出制御装置3000は、ステッピングモータやスプロケット等を備えた賞球払出ユニット34と電気的に接続されている。なお、主制御装置1000、サブメイン制御部2320、サブサブ制御部2310、払出制御装置3000等は、ハードウェア的にはデータやプログラムを格納するROMやRAM、演算処理に用いるCPU等の素子が実装された制御基板等から構成される。尚、以下で主制御装置1000に含まれるとする各手段を周辺機器(例えば、遊技周辺機器K)に搭載される形で構成してもよい。例えば、周辺機器(例えば、遊技周辺機器K)に含まれるとする各手段を主制御装置1000に搭載される形で構成してもよい。以下、上記各手段(装置)の詳細を説明する。
主制御装置1000は、主遊技(第1主遊技、第2主遊技、特別遊技)・補助遊技・一般遊技に関する主たる制御を司る遊技制御手段1100と、遊技周辺機器K側に各種遊技情報{例えば、停止図柄情報、停止図柄の属性情報(例えば、16R大当り、8R大当り、4R大当り、ハズレ)、変動態様に関する情報(例えば、変動時間)、特別遊技の開始信号・状態情報・終了信号、保留情報等}を送信するための情報送信制御手段1300(及び未送信コマンドを蓄積するコマンド送信用バッファ1301)と、各種入賞口への遊技球の入賞に基づき所定の賞球の払出を行うように払出制御装置3000を制御する賞球払出決定手段1400と、ぱちんこ遊技機PMの異常を検知するための異常判定手段1500と、を有している。
ここで、遊技制御手段1100は、各入球口(始動口等)への遊技球の流入を判定するための入球判定手段1110と、各乱数の取得可否を判定し、当該判定結果に基づき当該各乱数を取得するための乱数取得判定実行手段1120と、変動表示中における各始動口への入球を保留球として上限個数以内で一時記憶するための保留制御手段1130と、第1主遊技側乱数・第2主遊技側乱数・補助遊技側乱数に基づき、特別遊技の当否及び第2始動入賞口151aの始動口開閉装置157の開放可否を抽選する当否抽選手段1135と、各乱数に基づき、各図柄の停止図柄及び変動態様(変動時間等)を決定するための図柄内容決定手段1140と、各図柄の変動及び停止表示する制御を行うための表示制御手段1150と、第2始動入賞口151aの始動口開閉装置157の開閉決定に直接関連する各種処理を行うための電動役物開閉制御手段1160と、通常遊技よりも遊技者に有利な特別遊技に関する制御を司る特別遊技制御手段1170と、第1主遊技及び第2主遊技並びに補助遊技に関し、現在の遊技状態をどの遊技状態に移行させるかの決定と、当該決定に基づき遊技状態を移行させる処理を行うための特定遊技制御手段1180と、現在及び過去の遊技状態[例えば、主遊技に関する状態{通常遊技状態、特定遊技状態(確率変動遊技状態、時間短縮遊技状態)、特別遊技状態}、補助遊技に関する状態(易開放状態、非易開放状態)、主遊技図柄や補助遊技図柄に係る停止図柄及び変動態様情報、各種フラグのオン・オフ状況、特別遊技中の遊技状態(例えばラウンド数や入賞個数情報)]等を一時記憶するための遊技状態一時記憶手段1190と、を有している。
なお、特別遊技制御手段1170は、特別遊技に移行するための条件を充足しているか否か、具体的には、大当りに当選している{特別遊技(大当り)実行許可フラグが発生している}か否かを判定する条件判定手段1171と、特別遊技移行条件を充足している場合、当該特別遊技の内容(具体的には、開状態となる大入賞口、ラウンド数、ラウンド間時間等)を特別遊技関連情報一時記憶手段1194中にセットする特別遊技内容決定手段1172と、通常大入賞口162a又は振分大入賞口163aを所定条件で開状態にするという特別遊技(大当り)を実行するための特別遊技実行制御手段1173と、振分大入賞口163aを所定条件で開状態にするという特別遊技(大当り)を実行するための振分大入賞口制御手段1174と、通常大入賞口162aを所定条件で開状態にするという特別遊技(大当り)を実行するための通常大入賞口制御手段1175と、を有している。特別遊技内容決定手段1172は、特別遊技関連情報一時記憶手段1194にセットされるべき前記特別遊技の内容を特定する際に参照される特別遊技内容参照テーブル1172aと、特別遊技実行時における振分大入賞口163a及び通常大入賞口162aの開閉態様を決定するための開閉態様決定テーブル1172bと、を更に有している。特別遊技実行制御手段1173は、ラウンド数を計測するラウンド数カウンタ1173aと、終了デモ表示の実行時間を計時するための終了デモ実行タイマ1173bと、を更に有している。
本実施形態において、確率変動遊技状態時における大当たり当選確率は、非確率変動遊技状態時における大当たり当選確率よりも高確率となるように構成されている。また、本実施形態においては、遊技状態を移行させ得ない当たり(いわゆる小当たり)については例示していないが、小当たりが発生(小当たりに当選)するように構成してもよい。
振分大入賞口制御手段1174は、振分大入賞口163aの開閉タイミングを管理するための振分ラウンドタイマ1174aと、振分入賞待機時間を計測するための振分入賞待機タイマ1174bと、ラウンド終了待機時間を計時するための振分ラウンド終了タイマ1174cと、振分大入賞口163aに入球した遊技球を排出する時間を計時するための排出待機タイマ1174dと、振分大入賞センサ163sが検出した遊技球を計測する振分入賞数カウンタ1174eと、玉確センサ185s及び排出センサ186sが検出した遊技球を計測する排出数カウンタ1174fと、通過口開閉部材192の変位駆動を制御するための開閉部材駆動制御手段1174−1と、を更に有している。開閉部材駆動制御手段1174−1は、特定領域入賞待機時間を計測するための特定領域入賞待機タイマ1174−1aを更に有している。また、通常大入賞口制御手段1175は、通常大入賞口162aの開閉タイミングを管理するための通常ラウンドタイマ1175aと、通常入賞待機時間を計測するための通常入賞待機タイマ1175bと、ラウンド終了待機時間を計時するための通常ラウンド終了タイマ1175cと、通常入賞検出装置2121が検出した遊技球を計測する通常入賞数カウンタ1175dと、を更に有している。
また、遊技状態一時記憶手段1190は、第1主遊技(第1主遊技図柄の変動から停止に至るまでの遊技)における現在の遊技状態を一時記憶するための第1主遊技状態一時記憶手段1191と、第2主遊技(第2主遊技図柄の変動から停止に至るまでの遊技)における現在の遊技状態を一時記憶するための第2主遊技状態一時記憶手段1192と、補助遊技における現在の遊技状態を一時記憶するための補助遊技状態一時記憶手段1193と、特別遊技における現在の遊技状態(例えば、ラウンド数、任意のラウンドにおける遊技球の入賞個数、特別遊技に関する各種フラグのオン・オフ等)を一時記憶するための特別遊技関連情報一時記憶手段1194と、特定遊技における現在の遊技状態(例えば、時短の残り回数、特定遊技に関する各種フラグのオン・オフ等)を一時記憶するための特定遊技関連情報一時記憶手段1195と、振分遊技における現在の遊技状態(例えば、入賞の有無や、振分遊技に関する各種フラグのオン・オフ等)を一時記憶するための振分遊技関連情報一時記憶手段1197と、を有している。
次に、遊技周辺機器Kについて説明する。尚、一部の周辺機器については既に詳細構成を述べたので、残る構成について簡潔に説明する。遊技周辺機器Kは、第1主遊技側の周辺機器である第1主遊技周辺機器Aと、第2主遊技側の周辺機器である第2主遊技周辺機器Bと、第1主遊技側と第2主遊技側の共用周辺機器である第1・第2主遊技共用周辺機器Cと、補助遊技に関する補助遊技周辺機器Dと、サブメイン制御部2320と、サブサブ制御部2310と、を有している。ここで、サブメイン制御部2320により制御される演出は、第1主遊技図柄及び第2主遊技図柄の変動と時間的に同期の取れた形での装飾図柄の変動を含め、遊技の結果に影響を与えない情報のみの表示に係るものである。以下、これらの周辺機器を順番に説明する。
第1主遊技周辺機器Aは、特別遊技移行の契機となる第1始動入賞口115aと、第1主遊技図柄の停止表示及び変動表示が可能な第1主遊技図柄表示装置2130と、を有している。
第2主遊技周辺機器Bは、特別遊技移行の契機となる第2始動入賞口151aと、第2主遊技図柄の停止表示及び変動表示が可能な第2主遊技図柄表示装置2230と、を有している。
第1・第2主遊技共用周辺機器Cは、通常遊技の際には閉状態にあり、特別遊技(大当り)の所定ラウンド(例えば、奇数ラウンド)以外のラウンドの際には所定条件下で開状態となる通常大入賞口162aと、通常遊技の際には閉状態にあり、特別遊技の所定ラウンドにおける、振分遊技の際には所定条件下で開状態となる振分大入賞口163aと、振分大入賞口163aと連動して開閉し、特定遊技(確率変動遊技)移行の契機となる特定通過口185と、を有している。
補助遊技周辺機器Dは、第2始動入賞口151aの始動口開閉装置157の開放の契機となる補助遊技始動ゲート118と、補助遊技図柄の停止表示及び変動表示が可能な補助遊技図柄表示装置2420とを有している。
サブメイン制御部2320は、主制御装置1000側からの各種情報を受信するための表示情報受信手段2321と、装飾図柄の変動態様や停止図柄の決定処理及び表示制御処理を司る装飾図柄表示制御手段2322と、装飾図柄の保留個数管理や保留表示処理を司る装図保留情報表示制御手段2323と、演出制御全般に係る情報を一時記憶するための演出一般情報一時記憶手段2324と、各種エラーの報知に関する制御処理を司るエラー制御手段2325と、サブサブ制御部2310側との情報送受信を制御する情報送受信制御手段2400と、を有している。
サブサブ制御部2310は、演出表示装置145の表示領域に設けられた装飾図柄表示領域2311、第1保留表示部2312a、第2保留表示部2312bへ画像を表示する画像表示制御手段2313と、サブメイン制御部2320側との情報送受信を制御する副情報送受信制御手段2450と、を有している。ここで、画像表示制御手段2313は、サブメイン制御部2320側から受信したコマンドや各種画像表示に係る情報を一時記憶するための画像表示関連情報一時記憶手段(図示せず)を更に有している。
なお、第1主遊技図柄表示装置2130、第2主遊技図柄表示装置2230及び補助遊技図柄表示装置2420が、主制御装置1000と情報伝達可能に接続されており、残るサブサブ制御部2310が、サブメイン制御部2320と情報伝達可能に接続されている。即ち、第1主遊技図柄表示装置2130、第2主遊技図柄表示装置2230及び補助遊技図柄表示装置2420は、主制御装置1000により制御され、サブサブ制御部2310は、サブメイン制御部2320により制御されることを意味する。なお、主制御装置1000と片方向通信(一方向通信)により制御される他の周辺機器を介して、別の周辺機器を制御するように構成してもよい。
[主制御装置のメインフロー]
次に、図13に示すメインフローチャートを用いて、主制御装置1000が行う一般的な処理の流れについて説明する。遊技機の電源投入後、図13(a)の処理が実行される。即ち、遊技機の電源投入後、初期設定を行った後(不図示)、ステップS4002で、主制御装置1000は、RAMクリアボタンの入力ポートを確認し、電源供給ユニット3500のリセットボタン(RAMクリアボタン)が操作されたか否か、即ち、遊技場の管理者等によって意図的にRAMの内容をクリアさせる操作が行われたか否かを判定する。ステップS4002でYesの場合、ステップS4004で、主制御装置1000は、主制御装置1000側のRAM内容(例えば、遊技状態一時記憶手段1190内の情報等)を全てクリアする。次に、ステップS4006で、情報送信制御手段1300は、主制御装置1000のRAMをクリアしたことを示すラムクリア情報(コマンド)をサブメイン制御部2320側に送信し(当該タイミングにて送信してもよいし、当該タイミングではコマンドをセットしておき後述する制御コマンド送信処理にて送信するよう構成してもよい)、ステップS4018の処理に移行する。他方、ステップS4002でNoの場合は、ステップS4008で、主制御装置1000は、主制御装置1000におけるRAM領域の内容をチェックする(例えば、電断時に記録されたチェックサムとRAM領域に保存されている情報量との比較を行う)。次に、ステップS4010で、主制御装置1000は、当該チェック結果に基づきRAMの内容が正常でないか否か(正確に電断時の情報がRAMにバックアップされていないか否か)を判定する。ステップS4010でYes、即ちRAMにバックアップされていたデータが異常な場合には、ステップS4004の処理(前述したRAMクリア処理)に移行する。他方、ステップS4010でNo、即ちRAMにバックアップされていたデータが正常な場合、ステップS4012で、主制御装置1000は、各種情報コマンドをサブメイン制御部2320側に送信する(当該タイミングにて送信してもよいし、当該タイミングではコマンドをセットしておき後述する制御コマンド送信処理にて送信するよう構成してもよい)。次に、ステップS4013で、主制御装置1000は、特定遊技関連情報一時記憶手段1195のフラグエリアを参照し、確変移行予約フラグがオンであるか否かを判定する。ステップS4013でYesの場合、ステップS4014で、主制御装置1000は、高利益再表示コマンドをサブメイン制御部2320側に送信し(当該タイミングにて送信してもよいし、当該タイミングではコマンドをセットしておき後述する制御コマンド送信処理にて送信するよう構成してもよい)、ステップS4015に移行する。他方、ステップS4013でNoの場合にも、ステップS4015に移行する。次に、ステップS4015で、主制御装置1000は、振分入賞数カウンタ1174e及び排出数カウンタ1174fをリセットし、ステップS4018に移行する。尚、本処理で振分入賞数カウンタ値及び排出数カウンタ値をリセットすることによって排出球異常から回復することとなる。次に、ステップS4018で、主制御装置1000は、同図のステップS1000によって示される主制御装置1000側のメイン処理に係る実行定時割り込み(例えば、約1.5ms毎のハードウェア割り込みを契機とするが、本例では、当該割り込み周期をTとする)を許可し(その結果、当該実行定時割り込みタイミング到達時には、同図のステップS1000が実行されることとなる)、ステップS4020の処理に移行する。尚、ステップS4020に移行後は、次の定時割り込みタイミングに到達するまで、主制御装置1000は、各種乱数更新処理(例えば、乱数カウンタのインクリメント処理)を繰り返し実行することとなる。
次に、タイマ割り込み処理について説明する。主制御装置1000は、定時割り込みタイミングに到達した場合に発生する割り込み要求に基づいて、図13(b)の処理を実行する。即ち、定時割り込み周期Tの到達時(例えば、約1.5ms毎のハードウェア割り込み)を契機として、ステップS1100で、主制御装置1000は、補助遊技内容決定乱数取得処理を実行する。次に、ステップS1200で、主制御装置1000は、電動役物駆動判定処理を実行する。次に、ステップS1300で、主制御装置1000は、主遊技内容決定乱数取得処理を実行する。次に、ステップS1400で、主制御装置1000は、主遊技図柄表示処理を実行する。次に、ステップS2000で、主制御装置1000は、特別遊技作動条件判定処理を実行する。次に、ステップS2100で、主制御装置1000は、後述の特別遊技制御処理を実行する。次に、ステップS3000で、主制御装置1000(特に賞球払出決定手段1400)は、遊技球が入賞した入賞口に基づき、賞球払出制御処理(賞球払出ユニット34の駆動制御等を払出制御装置3000に実行させ、その結果を管理するための処理等)を実行する。次に、ステップS3100で、主制御装置1000は、後述の異常判定処理を実行する。次に、ステップS3200で、主制御装置1000は、外部信号の出力処理(外部端子板、ホールコンピュータH等への情報出力)を実行する(遊技関連情報、排出球異常情報、不正検知コマンド等を送信する)。次に、ステップS3300で、主制御装置1000は、制御コマンド送信処理(前述の各処理でセットされたコマンドをサブメイン制御部側に送信し、サブメイン制御部2320側では当該コマンドに従って演出が実行されることとなる)を実行し、本割り込み処理の実行直前に実行されていた処理に復帰する。
次に、NMI割り込み処理について説明する。前述の通り、主制御装置1000は、リセットICからの電断信号がCPUのNMI端子に入力されるように構成されており、遊技機における電源断時において、図13(c)の処理が実行される。即ち、遊技機の電源断時(本例では、NMI割り込み時)において、ステップS4604で、主制御装置1000は、RAM領域の情報に基づき電断時情報(例えば、チェックサム)をセットする。次に、ステップS4606で、主制御装置1000は、RAM領域への書き込みを禁止すると共に、タイマ割り込み処理を禁止し、電源断待ちループ処理に移行する。
[主制御装置のサブフロー]
次に、図14に示すフローチャートを用いて、図13におけるステップS2100のサブルーチンに係る特別遊技制御処理について説明する。まず、ステップS2102で、特別遊技実行制御手段1173は、特別遊技関連情報一時記憶手段1194のフラグエリアを参照し、条件装置作動フラグがオンであるか否かを判定する。ステップS2102でYesの場合、ステップS2150で、特別遊技実行制御手段1173は、特別遊技開始制御処理を実行する。次に、ステップS2200で、特別遊技実行制御手段1173は、後述する振分大入賞口制御処理を実行する。次に、ステップS2600で、特別遊技実行制御手段1173は、後述する通常大入賞口制御処理を実行する。次に、ステップS2900で、特別遊技実行制御手段1173は、特別遊技終了制御処理を実行し、本サブルーチンの呼び出し元に復帰する。他方、ステップS2102でNoの場合、特別遊技実行制御手段1173は、特別遊技を実行するタイミングではないと判定し、本サブルーチンの呼び出し元に復帰する。
次に、図15に示すフローチャートを用いて、図14におけるステップS2200のサブルーチンに係る振分大入賞口制御処理について説明する。まず、ステップS2202で、振分大入賞口制御手段1174は、ラウンド数カウンタ1173aを参照し、当該カウンタ値が奇数であるか否か(当該特別遊技の終了後に確率変動遊技状態に移行するか否かを決定する振分遊技を実行する奇数ラウンドであるか否か)を判定する。ステップS2202でYesの場合、ステップS2204で、振分大入賞口制御手段1174は、振分遊技関連情報一時記憶手段1197のフラグエリアを参照し、振分制御継続中フラグがオンであるか否かを判定する。ステップS2204でYesの場合、ステップS2300に移行する。他方、ステップS2204でNoの場合、ステップS2206で、振分大入賞口制御手段1174は、振分遊技関連情報一時記憶手段1197のフラグエリア内にある、振分制御継続中フラグをオンにする。次に、ステップS2208で、振分大入賞口制御手段1174は、開閉態様決定テーブル1172b(図16参照)を参照し、大当り図柄及びラウンド数カウンタ1173aのカウンタ値に基づき、当該ラウンドにおける振分大入賞口163aの開放態様をセットする。
ここで、図16は、大入賞口の開放態様を決定する際に参照される、開放態様決定テーブル1172bの一例である。同図に示されるように、本実施形態における特別遊技では、振分大入賞口163aと通常大入賞口162aとが交互に開放されるよう構成されている。より具体的には、奇数ラウンドには振分大入賞口163aが開放され、当該振分大入賞口163aの開放が終了すると次ラウンド(偶数ラウンド)となり、偶数ラウンドには通常大入賞口162aが開放され、当該通常大入賞口162aの開放が終了すると次ラウンド(奇数ラウンド)になるという推移を最終ラウンドが終了するまで継続する。尚、本実施形態では、すべての大当り図柄に係る特別遊技が16ラウンドの特別遊技であるが、各ラウンドの開放態様(ほとんど出玉を獲得できない短開放並びに出玉を獲得し易い長開放A及び長開放B)の組み合わせと、振分用裏球通路184に設けられた特定通過口185への入球によって特別遊技終了後に確率変動遊技状態に移行することが決定する振分大入賞口163aの開放時における特定通過口185への入球し易さ(奇数ラウンドでの振分大入賞口163aの開放態様)の組み合わせと、によって、大当り図柄ごとの遊技者への利益を異ならせている。例えば、大当り図柄4Aに係る特別遊技では、第2R・第4R・第6R・第8Rのみが長開放であるため、4ラウンド分の出玉を獲得でき(いわゆる、実質4ラウンド)、当該特別遊技終了後に確率変動遊技状態に移行しない(又は、移行し難い)。一方で、大当り図柄7A、7Bに係る特別遊技では、すべてのラウンドが長開放であるため、16ラウンド分の出玉を獲得でき、当該特別遊技終了後に確率変動遊技状態に移行する(又は、移行し易い)。
また、振分大入賞口163aと通常大入賞口162aとが交互に開放されるよう構成することで、一方の大入賞口閉鎖後に係る入賞待機時間の経過中に、次ラウンドに係る他方の大入賞口の開放を開始できることとなる。その結果、いずれの大入賞口も閉鎖されている期間が短くなることで、遊技者の打ち出した遊技球がいずれの大入賞口にも入球しないこと(いわゆる、ムダ球)を減少させることができると共に、特別遊技の消化に係る時間をも減少させることができることとなるのである。
なお、図16の開閉タイミング対比イメージに示されるように、本例では、長開放A:52msの開放+2600msの閉鎖+28800msの開放、長開放B:29000msの開放、短開放:52msの開放という開放パターンで振分大入賞口163aが開放され得るよう構成されている。特に、長開放Aと短開放とでは、最初の52msは開放の仕方が略同一である(同図下に図示された、各開放態様の開閉タイミング対比イメージを参照)。
フローチャートの説明に戻ると、次に、ステップS2210で、振分大入賞口制御手段1174は、振分遊技関連情報一時記憶手段1197のフラグエリア内にある、開閉部材駆動制御中フラグをオンにする。次に、ステップS2212で、振分大入賞口制御手段1174は、振分入賞数カウンタ1174eのカウンタ値及び排出数カウンタ1174fのカウンタ値をリセット(ゼロクリア)する。次に、ステップS2214で、振分大入賞口制御手段1174は、振分ラウンドタイマ1174aをスタートさせ、ステップS2300に移行する。ステップS2202〜ステップS2214までが初期処理段階であり、特別遊技における振分大入賞口163aの開閉に係るラウンド実行時の初期処理を本処理にて行っている。
次に、ステップS2300で、振分大入賞口制御手段1174は、振分大入賞口開閉制御処理を実行し、ステップS2350に移行する。次に、ステップS2350で、振分大入賞口制御手段1174は、振分準備時間制御処理を実行する。次に、ステップS2400で、振分大入賞口制御手段1174は、振分入賞制御処理を実行する。次に、ステップS2450で、振分大入賞口制御手段1174は、排出球異常検出処理を実行する。次に、ステップS2500で、振分大入賞口制御手段1174は、開閉部材駆動制御処理を実行する。次に、ステップS2550で、振分大入賞口制御手段1174は、振分ラウンド制御終了処理を実行し、本サブルーチンの呼び出し元に復帰する。尚、ステップS2202でNoの場合、ステップS2350に移行する。
次に、図17に示すフローチャートを用いて、図15におけるステップS2300のサブルーチンに係る振分大入賞口開閉制御処理について説明する。まず、ステップS2302で、振分大入賞口制御手段1174は、振分遊技関連情報一時記憶手段1197のフラグエリアを参照し、振分大入賞口開放終了フラグがオフであるか否かを判定する。ステップS2302でYesの場合、ステップS2304で、振分大入賞口制御手段1174は、振分遊技関連情報一時記憶手段1197のフラグエリアを参照し、振分大入賞口開放制御中フラグがオンであるか否かを判定する。ステップS2304でYesの場合、ステップS2310に移行する。他方、ステップS2304でNoの場合、ステップS2306で、振分大入賞口制御手段1174は、振分遊技関連情報一時記憶手段1197のフラグエリア内にある、振分大入賞口開放制御中フラグをオンにする。次に、ステップS2308で、振分大入賞口制御手段1174は、セットされた開放態様に基づき、振分大入賞口163aの開閉を開始し、ステップS2310に移行する。
次に、ステップS2310で、振分大入賞口制御手段1174は、振分入賞数カウンタ1174eを参照し、当該カウンタ値が所定個数(例えば、10個)に到達したか否かを判定する。ステップS2310でYesの場合、ステップS2314に移行する。他方、ステップS2310でNoの場合、ステップS2312で、振分大入賞口制御手段1174は、振分ラウンドタイマ1174aのタイマ値を参照し、振分大入賞口2220の開放期間が終了したか否かを判定する。ステップS2312でYesの場合、ステップS2314に移行する。ここで、振分大入賞口163aの開放期間とは、本例においては、開放態様が「短開放」である場合は52ms、「長開放A」である場合は31452ms、「長開放B」である場合は29000msとなっている。
次に、ステップS2314で、振分大入賞口制御手段1174は、振分大入賞口163aの最長開放制御(S2400の処理)を強制終了して閉鎖する。即ち、振分大入賞口163aに所定個数の入賞が検出された場合か、又はセットされた開放パターンが終了した場合に、振分大入賞口163aの開閉を終了して閉鎖するのである。次に、ステップS2316で、振分大入賞口制御手段1174は、振分遊技関連情報一時記憶手段1197のフラグエリア内にある、振分大入賞口開放制御中フラグをオフにする。次に、ステップS2318で、振分大入賞口制御手段1174は、振分遊技関連情報一時記憶手段1197のフラグエリア内にある、振分大入賞口開放終了フラグをオンにし、本サブルーチンの呼び出し元に復帰する。尚、ステップS2302又はステップS2312でNoの場合にも、本サブルーチンの呼び出し元に復帰する。
次に、図18示すフローチャートを用いて、図14におけるステップS2600のサブルーチンに係る通常大入賞口制御処理について説明する。まず、ステップS2602で、通常大入賞口制御手段1175は、ラウンド数カウンタ1173aを参照し、当該カウンタ値が偶数であるか否かを判定する。ステップS2602でYesの場合、ステップS2604で、通常大入賞口制御手段1175は、特別遊技関連情報一時記憶手段1194のフラグエリアを参照し、通常制御継続中フラグがオンであるか否かを判定する。ステップS2604でYesの場合には、ステップS2650に移行する。他方、ステップS2604でNoの場合には、ステップS2606で、通常大入賞口制御手段1175は、特別遊技関連情報一時記憶手段1194のフラグエリア内にある、通常制御継続中フラグをオンにする。次に、ステップS2608で、通常大入賞口制御手段1175は、大当り図柄及びラウンド数カウンタ値に基づき、開放態様決定テーブル1172b(図16参照)を参照し、通常大入賞口162aの開放態様をセットする。尚、本実施形態においては、通常大入賞口162aの選択し得る開放態様は長開放Bと短開放の2種類のみであるが、これには限定されず、どのような開放時間や開放パターンを選択しても何ら問題ない。
次に、ステップS2610で、通常大入賞口制御手段1175は、通常入賞数カウンタ1175dのカウンタ値をリセット(ゼロクリア)する。次に、ステップS2612で、通常大入賞口制御手段1175は、通常ラウンドタイマ1175aをスタートさせ、ステップS2650に移行する。ステップS2602〜ステップS2612までが初期処理段階であり、特別遊技における通常大入賞口162aの開閉に係るラウンド実行時の初期処理を本処理にて行っている。
次に、ステップS2650で、通常大入賞口制御手段1175は、通常大入賞口開閉制御処理を実行し、ステップS2700に移行する。尚、ステップS2602でNoの場合にも、ステップS2700に移行する。次に、ステップS2700で、通常大入賞口制御手段1175は、通常準備時間制御処理を実行する。次に、ステップS2750で、通常大入賞口制御手段1175は、通常入賞制御処理を実行する。次に、ステップS2800で、通常大入賞口制御手段1175は、通常ラウンド制御終了処理を実行し、本サブルーチンの呼び出し元に復帰する。
次に、図19示すフローチャートを用いて、図18におけるステップS2650のサブルーチンに係る通常大入賞口開閉制御処理について説明する。まず、ステップS2652で、通常大入賞口制御手段1175は、特別遊技関連情報一時記憶手段1194のフラグエリアを参照し、通常大入賞口開放終了フラグがオフであるか否かを判定する。ステップS2652でYesの場合、ステップS2654で、通常大入賞口制御手段1175は、特別遊技関連情報一時記憶手段1194のフラグエリアを参照し、通常大入賞口開放制御中フラグがオンであるか否かを判定する。ステップS2654でYesの場合、ステップS2660に移行する。他方、ステップS2654でNoの場合には、ステップS2656で、通常大入賞口制御手段1175は、特別遊技関連情報一時記憶手段1194のフラグエリア内にある、通常大入賞口開放制御中フラグをオンにする。次に、ステップS2658で、通常大入賞口制御手段1175は、セットされている開放態様に基づき、通常大入賞口162aの開閉を開始し、ステップS2660に移行する。
次に、ステップS2660で、通常大入賞口制御手段1175は、通常入賞数カウンタ1175dを参照し、実行中のラウンドにおいて通常大入賞口162aに所定個数(例えば、10個)の遊技球の入賞があったか否かを判定する。ステップS2660でYesの場合、ステップS2664に移行する。他方、ステップS2660でNoの場合、ステップS2662で、通常大入賞口制御手段1175は、通常ラウンドタイマ1175aを参照し、通常大入賞口2120の開放期間が終了したか否かを判定し、当該ステップでYesの場合には、ステップS2664に移行する。尚、本実施形態においては、通常大入賞口2120の開放時間は開閉態様が長開放Bの場合には29000ms、短開放の場合には52msとなっているが、変更しても何ら問題ない。
次に、ステップS2664で、通常大入賞口制御手段1175は、通常大入賞口162aを閉鎖する。次に、ステップS2666で、通常大入賞口制御手段1175は、特別遊技関連情報一時記憶手段1194のフラグエリア内にある、通常大入賞口開放制御中フラグをオフにする。次に、ステップS2668で、通常大入賞口制御手段1175は、特別遊技関連情報一時記憶手段1194のフラグエリア内にある、通常大入賞口開放終了フラグをオンにし、本サブルーチンの呼び出し元に復帰する。尚、ステップS2652又はステップS2662でNoの場合にも、本サブルーチンの呼び出し元に復帰する。
次に、図20示すフローチャートを用いて、図13におけるステップS3100のサブルーチンに係る異常判定処理について説明する。まず、ステップS3101で、異常判定手段1500は、電波異常判定処理を実行する。電波異常判定処理において、異常判定手段1500は、電波検出センサ196から送信される電波検出信号を受信し、受信した電波検出信号に基づいて、電波検出センサ196で不正な電波が検出されたか否かを判定する。例えば、電波検出センサ196から電波検出信号としてロー信号が送信された場合には、不正な電波が検出されていないとして正常と判定され、電波検出信号としてハイ信号が送信された場合には、不正な電波が検出されたとして電波異常と判定される。
次に、ステップS3102で、異常判定手段1500は、通常用開閉ソレノイド174及び振分用開閉ソレノイド175が(両方とも)オフ作動するタイミングか否かを判定する。ステップS3102でYesの場合、ステップS3103で、異常判定手段1500は、磁気異常判定処理を実行し、本サブルーチンの呼び出し元に復帰する。他方、ステップS3102でNoの場合、異常判定手段1500は、磁気異常判定処理を実行せずに本サブルーチンの呼び出し元に復帰する。磁気異常判定処理において、異常判定手段1500は、磁気センサ197から送信される磁気検出信号を受信し、受信した磁気検出信号に基づいて、磁気センサ197で不正な磁界が検出されたか否かを判定する。例えば、磁気センサ197から磁気検出信号としてロー信号が送信された場合には、不正な磁界が検出されていないとして正常と判定され、磁気検出信号としてハイ信号が送信された場合には、不正な磁界が検出されたとして磁気異常と判定される。なお、電波異常判定処理において電波異常と判定された場合、又は、磁気異常判定処理において磁気異常と判定された場合、例えば、外部信号の出力処理(ステップS3200)で、主制御装置1000は、外部端子板、ホールコンピュータH等へ不正検知コマンドを送信する。
ここで、図21示すタイミングチャートを用いて、通常用開閉ソレノイド174及び振分用開閉ソレノイド175のオン・オフ作動のタイミングについて説明する。前述したように、通常用開閉ソレノイド174は、通常用開閉揺動機構176の付勢力に抗して、通常用開閉扉172を前方に揺動駆動し、通常大入賞口162aを開放可能に構成される。すなわち、通常用開閉ソレノイド174がオン作動したときに通常大入賞口162aが開放され、通常用開閉ソレノイド174がオフ作動したときに通常大入賞口162aが閉止されるようになっている。また、振分用開閉ソレノイド175は、振分用開閉揺動機構177の付勢力に抗して、振分用開閉扉173を前方に揺動駆動し、振分大入賞口163aを開放可能に構成される。すなわち、振分用開閉ソレノイド175がオン作動したときに振分大入賞口163aが開放され、振分用開閉ソレノイド175がオフ作動したときに振分大入賞口163aが閉止されるようになっている。
図21に示すように、通常時においては、通常用開閉ソレノイド174及び振分用開閉ソレノイド175が両方ともオフ作動して通常大入賞口162a及び振分大入賞口163aが閉止されるため、異常判定処理のステップS3102でYesの場合となり、ステップS3103で、異常判定手段1500は、磁気センサ197から送信される磁気検出信号を受信して磁気異常判定処理を実行する。他方、所定の特別遊技状態が成立し、通常用開閉ソレノイド174又は振分用開閉ソレノイド175がオン作動して通常大入賞口162a又は振分大入賞口163aが開放された場合、異常判定処理のステップS3102でNоの場合となり、異常判定手段1500は、磁気センサ197から送信される磁気検出信号を受信せず磁気異常判定処理を実行しない。
本実施形態では、特別遊技状態における長開放A(28800ms開放)と長開放B(29000ms開放)の場合、通常用開閉ソレノイド174は、990msオン作動する毎に、10msの間だけ一時的にオフ作動するように通常大入賞口制御手段1175によって制御される。同様に、振分用開閉ソレノイド175は、990msオン作動する毎に、10msの間だけ一時的にオフ作動するように振分大入賞口制御手段1174によって制御される。なお、この10msの時間は、通常用開閉ソレノイド174又は振分用開閉ソレノイド175がオフ作動しても、通常用開閉扉172又は振分用開閉扉173が付勢力を受けて揺動を開始する程度の時間、すなわち、通常用開閉扉172及び振分用開閉扉173の開放駆動に影響を及ぼさない程度の時間である。そして、通常用開閉ソレノイド174及び振分用開閉ソレノイド175のオン・オフが切り替わる近傍の時間を除いた、10msよりも少し短い8msの時間が、通常用開閉ソレノイド174及び振分用開閉ソレノイド175の瞬停時間として、異常判定手段1500が磁気検出信号を受信して磁気異常判定処理を実行可能な時間に設定される。この瞬停時間のときには、通常大入賞口162a又は振分大入賞口163aが開放されていても、通常用開閉ソレノイド174及び振分用開閉ソレノイド175が両方とも一時的にオフ作動しているため、異常判定処理のステップS3102でYesの場合となり、ステップS3103で、異常判定手段1500は、磁気センサ197から送信される磁気検出信号を受信して磁気異常判定処理を実行する。なお、割り込み周期Tが、瞬停時間よりも十分に短い時間(例えば、約1.5ms)に設定されるため、通常用開閉ソレノイド174及び振分用開閉ソレノイド175が両方とも一時的にオフ作動している間に、少なくとも1回は磁気異常判定処理が実行される。
このように、異常判定手段1500は、通常用開閉ソレノイド174及び振分用開閉ソレノイド175がオフ作動しているときに、磁気センサ197から送信される磁気検出信号を受信して磁気異常判定処理を実行するため、通常用開閉ソレノイド174及び振分用開閉ソレノイド175のオン作動時に生じる磁界の影響を受けることがなく、磁気センサ179の誤検出をより確実に防止することができる。また、通常大入賞口162a又は振分大入賞口163aが開放されていても、通常用開閉ソレノイド174及び振分用開閉ソレノイド175のオン作動時に生じる磁界の影響を受けずに、磁気異常判定処理を長時間中断することなく継続的に実行することができる。
[作用]
次に、図22〜図24を参照しながら、本実施形態における作用について説明する。
[長開放Aの場合]
本例では、長開放Aの単位遊技を含む「ある特別遊技」における「ある複数ラウンド」に着目して説明する。具体的には、ある特別遊技(本例では3A図柄に係る特別遊技)の第7ラウンドから第9ラウンドを例に説明する。ここで、本例の場合、当該特別遊技の第7ラウンドでは、振分大入賞口163aは、「52ms開放・2600ms閉鎖・28800ms開放・閉鎖」の順に動作し(長開放)、通過口開閉部材192は、「52ms開放・2600ms閉鎖・31400ms開放・2000ms閉鎖・52ms開放・閉鎖(※振分入賞口の閉鎖後2600ms経過後に排出エラーが検知されなかった場合には動作を中断し閉鎖する)」の順に動作する。
図22は、振分大入賞口163aの開放態様が長開放Aの場合にて、排出球異常が非検出であった場合の動作内容について示したタイミングチャートである。はじめに、図中1のタイミング(特別遊技の第7ラウンドの開始タイミング)において、第7ラウンドが奇数ラウンドであることから振分大入賞口163a及び振分大入賞口163aと繋がる振分用裏球通路184内の特定通過口185(通過口開閉部材192)の開放(52msの開放)が実行される。加えて、当該タイミングにて、振分大入賞口163aと特定通過口185との有効期間及び排出球の検出期間が開始される。
次に、図中2のタイミングにおいて、振分大入賞口163a及び特定通過口185(通過口開閉部材192)の開放から52msが経過したことを契機として、振分大入賞口163a及び特定通過口185を閉鎖(2600msの閉鎖)する。
次に、図中3のタイミングにおいて、振分大入賞口163a及び特定通過口185(通過口開閉部材192)の閉鎖から2600msが経過したことを契機として、振分大入賞口163a及び特定通過口185を開放(振分大入賞口163aは28800msの開放、特定通過口185は31400msの開放)する。
次に、図中4のタイミングにおいて、振分大入賞口163aの開放から28800msが経過したことを契機として、振分大入賞口163aを閉鎖する。尚、本タイミングから振分大入賞口163aと通常大入賞口162aとの同時閉鎖時間が開始することとなる。
次に、図中5のタイミングにおいて、振分大入賞口163aの閉鎖からラウンド終了待機時間(閉鎖中時間と準備中時間を合わせた時間)である200msが経過したことを契機として第8ラウンドが開始されると共に、第8ラウンドが偶数ラウンドであることから通常大入賞口162aが開放(29000msの開放)することとなる。尚、各ラウンドの期間は、開放中、閉鎖中、準備中、の順に構成されている。尚、図中4のタイミングから本タイミングまでの期間(200ms)が振分大入賞口163aと通常大入賞口162aとの同時閉鎖時間となる。
次に、図中6のタイミングにおいて、振分大入賞口163aの閉鎖から1900ms経過したことを契機として、振分大入賞口163aの有効期間が終了する。尚、図中4のタイミングから本タイミングまでの期間(1900ms)が大入賞口閉鎖時からの遊技球の検出猶予時間となる。
次に、図中7のタイミングにおいて、振分大入賞口163aの閉鎖から2600ms経過したことを契機として、特定通過口185の有効期間が終了する。また、本タイミングにおいて、排出球の異常が検出されなかったため通過口開閉部材192の駆動は強制終了し、排出球検出期間も終了することとなる。尚、図中6のタイミングから本タイミングまでの期間(700ms)が遊技球の検出時間終了から排出時間終了までの時間となる。
次に、図中8のタイミングにおいて、通常大入賞口162aの開放から29000ms経過したことを契機として通常大入賞口162aが閉鎖することとなる。
次に、図中9のタイミングにおいて、通常大入賞口162aの閉鎖からラウンド終了待機時間(閉鎖中時間と準備中時間を合わせた時間)である200msが経過したことを契機として第8ラウンドが終了し、第9ラウンドが開始されると共に、第9ラウンドが奇数ラウンドであることから振分大入賞口163aが開放(52msの開放)することとなる。また、第9ラウンドが開始されたことを契機として特定通過口185(通過口開閉部材192)が開放(52msの開放)すると共に、振分大入賞口163aと特定通過口185との有効期間及び排出球の検出期間が開始される。
振分大入賞口163aの開放態様が長開放Aの場合において、52ms開放の際、振分用開閉ソレノイド175が短時間だけオン作動するため、磁気異常判定処理は実行されない。2600ms閉鎖の際、振分用開閉ソレノイド175(及び通常用開閉ソレノイド174)がオフ作動するため、磁気異常判定処理は実行される。28800ms開放の際、振分用開閉ソレノイド175がオン作動するとき、磁気異常判定処理は実行されず、振分用開閉ソレノイド175が一時的にオフ作動するとき、磁気異常判定処理は実行される。なお、振分大入賞口163aと通常大入賞口162aとの同時閉鎖時間(200ms)の間、振分用開閉ソレノイド175及び通常用開閉ソレノイド174がオフ作動するため、磁気異常判定処理は実行される。また、通常大入賞口162aの開放態様において、29000ms開放の際、通常用開閉ソレノイド174がオン作動するとき、磁気異常判定処理は実行されず、通常用開閉ソレノイド174が一時的にオフ作動するとき、磁気異常判定処理は実行される。
[長開放Bの場合]
本例では、長開放Bの単位遊技を含む「ある特別遊技」における「ある複数ラウンド」に着目して説明する。具体的には、ある特別遊技(本例では7A図柄に係る特別遊技)の第9ラウンドから第10ラウンドを例に説明する。ここで、本例の場合、当該特別遊技の第9ラウンドでは、振分大入賞口163aは、「29000ms開放・閉鎖」の順に動作し(長開放B)、特定通過口185(通過口開閉部材192)は、「52ms開放・2600ms閉鎖・31400ms開放・2000ms閉鎖・52ms開放・閉鎖(※振分入賞口の閉鎖後2600ms経過後に排出エラーが検知されなかった場合には動作を中断し閉鎖する)」の順に動作する。以下、長開放Aの場合と略同一の処理については説明を割愛し、相違点について説明する。
図23は、振分大入賞口163aの開放態様が長開放Bの場合にて、排出球異常が非検出であった場合の動作内容について示したタイミングチャートである。長開放Bの単位遊技では、長開放Aの単位遊技時と比較して、振分大入賞口163aを一旦閉鎖する動作が無いため、振分大入賞口163aの動作終了までの時間が短い(長開放A:31452ms、長開放B:29000ms)。そのため、振分大入賞口163aが最長まで開放された場合、図中4における振分大入賞口163aの開放終了から2600ms経過時に排出球異常を確認する図中7のタイミングが、通過口開閉部材192の駆動に係る所定期間Cの途中で訪れることとなり、排出球異常が検出されなかった場合には、通過口開閉部材192の駆動を強制終了させることとなる。
振分大入賞口163aの開放態様が長開放Bの場合において、29000ms開放の際、振分用開閉ソレノイド175がオン作動するとき、磁気異常判定処理は実行されず、振分用開閉ソレノイド175が一時的にオフ作動するとき、磁気異常判定処理は実行される。なお、振分大入賞口163aと通常大入賞口162aとの同時閉鎖時間(200ms)の間、振分用開閉ソレノイド175及び通常用開閉ソレノイド174がオフ作動するため、磁気異常判定処理は実行される。また、通常大入賞口162aの開放態様において、29000ms開放の際、通常用開閉ソレノイド174がオン作動するとき、磁気異常判定処理は実行されず、通常用開閉ソレノイド174が一時的にオフ作動するとき、磁気異常判定処理は実行される。
[短開放の場合]
本例では、短開放の単位遊技を含む「ある特別遊技」における「ある複数ラウンド」に着目して説明する。具体的には、ある特別遊技(本例では4A図柄に係る特別遊技)の第7ラウンドから第8ラウンドを例に説明する。ここで、本例の場合、当該特別遊技の第7ラウンドでは、振分大入賞口163aは、「52ms開放・閉鎖」の順に動作し(短開放)、特定通過口185(通過口開閉部材192)は、「52ms開放・2600ms閉鎖・31400ms開放・2000ms閉鎖・52ms開放・閉鎖(※振分入賞口の閉鎖後2600ms経過後に排出エラーが検知されなかった場合には動作を中断し閉鎖する)」の順に動作する。以下、長開放A、長開放Bの場合と略同一の処理については説明を割愛し、相違点について説明する。
図24は、振分大入賞口163aの開放態様が短開放の場合にて、排出球異常が非検出であった場合の動作内容について示したタイミングチャートである。短開放の単位遊技においては、図中2のタイミングで振分大入賞口163aの開放動作が終了し、その2600ms後である図中5のタイミングにおいて排出球異常を確認することとなる。ここで、排出球異常が検出されなかった場合、通過口開閉部材192の駆動は所定期間Bの終了と同時に終了し、以降の所定期間C・D・Eに係る駆動は実行されない。
振分大入賞口163aの開放態様が短開放の場合において、52ms開放の際、振分用開閉ソレノイド175が短時間だけオン作動するため、磁気異常判定処理は実行されない。なお、振分大入賞口163aと通常大入賞口162aとの同時閉鎖時間(200ms)の間、振分用開閉ソレノイド175及び通常用開閉ソレノイド174がオフ作動するため、磁気異常判定処理は実行される。また、通常大入賞口162aの開放態様において、29000ms開放の際、通常用開閉ソレノイド174がオン作動するとき、磁気異常判定処理は実行されず、通常用開閉ソレノイド174が一時的にオフ作動するとき、磁気異常判定処理は実行される。
[本実施形態における特徴構成]
本実施形態において、通常大入賞口制御手段1175及び振分大入賞口制御手段1174(電磁駆動装置制御手段)は、所定の駆動時間(28800ms開放又は29000ms開放)に亘り電磁駆動装置である通常用開閉ソレノイド174及び振分用開閉ソレノイド175(の一方)をオン作動させる制御を行う際、駆動時間のうち通常用開閉扉172及び振分用開閉扉173(可動部材)の駆動に影響を及ぼさない程度の瞬停時間に亘り、通常用開閉ソレノイド174及び振分用開閉ソレノイド175を一時的にオフ作動させる制御を行う。そして、異常判定手段1500は、通常大入賞口制御手段1175及び振分大入賞口制御手段1174が通常用開閉ソレノイド174及び振分用開閉ソレノイド175をオフ作動させる制御を行う停止時間のときと、上述の駆動時間における瞬停時間のときに、磁気センサ179から送信される磁気検出信号を受信して異常の有無を判定する。
これにより、通常用開閉ソレノイド174及び振分用開閉ソレノイド175のオン作動時に生じる磁界の影響を受けることがなく、磁気センサ179の誤検出をより確実に防止することができる。また、通常用開閉ソレノイド174及び振分用開閉ソレノイド175から離れた位置に磁気センサ197を設ける必要がないため、磁石を用いた不正行為が行われやすい第1始動入賞装置115及び第2始動入賞装置150の後側近傍に磁気センサ197を設けることが可能となり、不正な磁界を効果的に検出することができる。
なお、通常用開閉ソレノイド174は、通常用開閉揺動機構176(付勢部材)の付勢力に抗して、通常用開閉扉172を前方に揺動駆動し、通常大入賞口162aを開放可能に構成される。また、振分用開閉ソレノイド175は、振分用開閉揺動機構177(付勢部材)の付勢力に抗して、振分用開閉扉173を前方に揺動駆動し、振分大入賞口163aを開放可能に構成される。このような場合、通常大入賞口162a又は振分大入賞口163aが開放されていても、通常用開閉ソレノイド174及び振分用開閉ソレノイド175のオン作動時に生じる磁界の影響を受けずに、磁気異常判定処理を長時間中断することなく継続的に実行することができる。
上述の実施形態において、図10(a)の二点鎖線で示すように、大入賞装置160の通常用開閉揺動機構176に、通常用開閉扉172を揺動自在に支持する通常用ダンパーヒンジ176aを設け、通常用開閉扉172が付勢力を受けて閉止揺動するのを開放揺動するときよりも遅くなるようにしてもよい。また、大入賞装置160の振分用開閉揺動機構177に、振分用開閉扉173を揺動自在に支持する振分用ダンパーヒンジ177aを設け、振分用開閉扉173が付勢力を受けて閉止揺動するのを開放揺動するときよりも遅くなるようにしてもよい。このようにすれば、通常用開閉ソレノイド174及び振分用開閉ソレノイド175がオン作動からオフ作動に切り替わるときに、通常用開閉扉172及び振分用開閉扉173がゆっくりと閉止しようとするため、通常用開閉ソレノイド174及び振分用開閉ソレノイド175の瞬停時間を長くすることが可能になり、異常判定手段1500が磁気検出信号を受信して磁気異常判定処理を実行可能な時間を長くすることができる。
上述の実施形態において、遊技盤100における第1始動入賞装置115及び第2始動入賞装置150の後側近傍に磁気センサ197が設けられているが、これに限られるものではなく、例えば、一般入賞装置114の後側近傍に磁気センサが設けられてもよく、センター飾り112に形成されたワープ通路(図示せず)の後側近傍に磁気センサが設けられてもよい。
上述の実施形態において、大入賞装置160は、通常大入賞口162a及び振分大入賞口163aを有して構成されているが、これに限られるものではなく、大入賞口、開閉扉、及び開閉ソレノイドをそれぞれ1つだけ有して構成されていてもよい。すなわち、所定の駆動時間(例えば、28800ms開放又は29000ms開放)に亘り開閉ソレノイドをオン作動させる制御を行う際、駆動時間のうち開閉扉の駆動に影響を及ぼさない程度の瞬停時間に亘り、開閉ソレノイドを一時的にオフ作動させる制御を行い、開閉ソレノイドをオフ作動させる制御を行う停止時間のときと、上述の駆動時間における瞬停時間のときに、磁気異常判定処理を実行するようにしてもよい。
上述の実施形態において、電磁駆動装置として通常用開閉ソレノイド174及び振分用開閉ソレノイド175を例示しているが、これに限られるものではなく、例えば、サーボモータやステッピングモータ等の電気モータであってもよい。
上述の実施形態において、大入賞装置160の通常用開閉ソレノイド174及び振分用開閉ソレノイド175がオフ作動しているときに限り、磁気異常判定処理を実行し、通常用開閉ソレノイド174又は振分用開閉ソレノイド175がオン作動しているときに、磁気異常判定処理を実行しないように構成されているが、これに限られるものではない。例えば、特定通過口185を開閉する特定通過口開閉装置191の開閉部材駆動部(ソレノイド駆動部)193を振分用開閉ソレノイド175と同様にオン・オフ作動するように制御し、開閉部材駆動部193もオフ作動しているときに限り磁気異常判定処理を実行して、開閉部材駆動部193がオン作動しているときに磁気異常判定処理を実行しないように構成されてもよい。
また例えば、第2始動入賞装置150の始動口開閉装置157に設けられた電磁駆動装置(図示せず)がオン作動して、始動口開閉装置157のベロ状部材(図示せず)が前方に移動し第2始動入賞口151aに入球可能な状態のとき、磁気異常判定処理を実行しないようにしてもよい。なおこの場合、第2始動入賞装置150の電磁駆動装置がオン作動してベロ状部材が前方に移動し第2始動入賞口151aに入球可能な状態の間、第2始動入賞装置150の電磁駆動装置を一時的にオフ作動させて磁気異常判定処理を実行するようにしてもよい。
また例えば、センター飾り112の可動式装飾部材143を駆動する電磁駆動装置(図示せず)がオン作動して、可動式装飾部材143が下方に移動しているとき、磁気異常判定処理を実行しないようにしてもよい。なおこの場合、センター飾り112の電磁駆動装置がオン作動して可動式装飾部材143が下方に移動している間、センター飾り112の電磁駆動装置を一時的にオフ作動させて磁気異常判定処理を実行するようにしてもよい。
上述の実施形態において、本発明が適用される弾球遊技機の一例として、ぱちんこ遊技機を例示して説明したが、これに限定されるものではなく、例えば、アレンジボール、雀球遊技機などについても同様に適用し、同様の効果を得ることができる。