JP6307521B2 - X線システムでの高速キロボルト切り替えのためのシステムおよび方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 24
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 87
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 36
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 claims description 26
- 238000004804 winding Methods 0.000 claims description 14
- 238000004846 x-ray emission Methods 0.000 claims description 5
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 37
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 25
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 13
- 238000002083 X-ray spectrum Methods 0.000 description 12
- 238000013170 computed tomography imaging Methods 0.000 description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 description 8
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 7
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 7
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 7
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 7
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 7
- 230000006870 function Effects 0.000 description 6
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 5
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 5
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 5
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 4
- 101100397240 Arabidopsis thaliana ISPD gene Proteins 0.000 description 3
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 3
- 230000000747 cardiac effect Effects 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 3
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 2
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 2
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 2
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 230000003902 lesion Effects 0.000 description 1
- 238000009607 mammography Methods 0.000 description 1
- 238000005121 nitriding Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 210000000056 organ Anatomy 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/04—Modifications for accelerating switching
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/04—Modifications for accelerating switching
- H03K17/042—Modifications for accelerating switching by feedback from the output circuit to the control circuit
- H03K17/04206—Modifications for accelerating switching by feedback from the output circuit to the control circuit in field-effect transistor switches
-
- H—ELECTRICITY
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- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/10—Power supply arrangements for feeding the X-ray tube
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K2217/00—Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00
- H03K2217/0009—AC switches, i.e. delivering AC power to a load
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K2217/00—Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00
- H03K2217/009—Resonant driver circuits
Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
Description
電力システム要旨
上記の概要、およびある実施形態に関する以下の詳細な説明は、添付図面と共に読むことにより、よりよく理解されるであろう。本明細書で使用する場合、単数形で書かれた要素またはステップおよび単語「a」もしくは「an」が前に付く要素またはステップは、例外であることが明示されない限り、前記要素またはステップが複数である可能性を除外しないことを理解すべきである。さらに、「一実施形態」という言及は、記載した特徴を含む追加の実施形態の存在を除外すると解釈されるべきではない。さらに、明示的に反対のことが言及されない限り、特定の特性を有する一要素または複数の要素を「備える」または「有する」実施形態は、その特性を有さない、追加の要素を含む可能性がある。
コンピュータ断層像影装置要旨
図12Aは、CT作像システム170の絵画図である。図12Bは、図12Aで示すシステム170のブロック略図である。例示的な実施形態において、CT作像システム170は、「第三世代」CT作像システムを表すガントリ172を含むものとして示される。ガントリ172は、ガントリ172の反対側の検出器配列178に向けてX線のコーンビーム176を投影するX線源174を有する。
コンピュータ断層像影装置要旨−コンピューティングデバイス
いくつかの実施形態において、コンピュータ198は、システム170の動作を制御することができ、開示する実施形態のさまざまな態様を実施することができる。図14は、ある実施形態で使用される可能性があるような、例示的コンピューティングデバイス198のブロック図である。コンピューティングデバイス198は、例示的実施形態を実施するための、1つまたは複数のコンピュータ実行可能命令またはソフトウェアを格納するための1つまたは複数の非一時的コンピュータ読取り可能媒体を含むことができる。非一時的コンピュータ読取り可能媒体は、これらに限定されないが、1つまたは複数の種類のハードウェアメモリ、非一時的有形媒体(例えば、1つまたは複数の磁気ストレージディスク、1つまたは複数の光学ディスク、1つまたは複数のフラッシュドライブ)などを含むことができる。例えば、コンピューティングデバイス198に含まれるメモリ316は、スキャナシステム170の動作とインターフェースする、および/または制御するためのコンピュータ読取り可能およびコンピュータ実行可能命令またはソフトウェアを格納することができる。コンピューティングデバイス198はまた、メモリ816に格納されたコンピュータ読取り可能およびコンピュータ実行可能命令またはソフトウェア、およびシステムハードウェアを制御するための他のプログラムを実行するための、構成可能ならびに/もしくはプログラム可能プロセッサ812ならびに関連コア814、および任意選択的に、1つまたは複数の追加の構成可能ならびに/もしくはプログラム可能処理デバイス、例えば、プロセッサ812’ならびに関連コア814’(例えば、複数プロセッサ/コアを有するコンピュータシステムの場合)を含むことができる。プロセッサ812およびプロセッサ812’は、それぞれ、単一コアプロセッサまたは複数コア(814および814’)プロセッサとすることができる。
電圧波形挙動
図15は、X線管電圧の上昇時間および降下時間のタイミング図を示す。走査する間、本システムにおける電圧901は、高902および低903期間の間で揺れ動く。波形は、低期間から高期間への上昇905および高期間から低期間への降下906を示す。さまざまな非理想性により、上記のように、本システムが、はっきりとした矩形波を生成することを妨げられる可能性がある。例えば、本システムが、寄生キャパシタンスおよび抵抗を含む場合、エネルギーを非効率的に伝達および放散し、システムキャパシタンスにエネルギーを移した後、キャパシタンス40を最適なエネルギーレートから逸れさせる。その結果、電圧は、降下が遅くなり、より期間の長い降下時間907が発生する。検出器システムは、上昇905および降下907が比較的均一であるという想定の下で動作するので、いずれの歪みも、不適切なX線放射および望ましくない検出事象が生じた場合に生じる可能性がある。例えば、歪んだ降下時間907は、本システムが、実際に、低期間903と関連する低い周波数で光子を除外する場合、本システムによって検出されることが期待されるよりも高い周波数の光子が生じる可能性がある。したがって、本実施形態は、よりはっきりとした上昇時間および降下時間を確実にするための本システムへの変形に関する。
回路モジュール
図16は、ある実施形態で実現することができるような、図6の回路のさまざまな特徴を有する、インターポーザ回路などの、回路モジュールを示す。この例において、本回路は、トロイドの周りの複数の巻線1601aから1601cと通電する。巻線は、電圧源として機能することができる。複数の巻線は、それぞれ、整流器に接続することができ、複数の整流器は、直列に接続することができ、インダクタ52と通電することができる。インダクタ52は、電圧源と直接接続されるとしてここでは描かれているが、インダクタ52、切替装置1602、およびコンデンサ50は、さまざまな順序で互いと直列に接続することができ、それでも、実質的に同等の機能をもたらすことが容易に理解されるであろう。インダクタ52、コンデンサ50、および切替装置1602は、ノード1820aおよび1820bを介して直列に描かれているが、他の順序も可能である。この構成は、本システムのエネルギー管理を迅速にすることを容易にする。キャパシタンス50は、以下でより詳細に説明するように、低電子ビーム条件下であっても、より高速な遷移(10μS以上)を容易にすることができる。実質的に同じ機能を達成する切替装置1602の部品レイアウトの変更を認識するであろう。
回路モジュール変更例
図18Aから図18Cは、図6、図16、図17A、および図17Bの回路モジュールの変形例を示す。これらの変形により、エネルギーをシステムキャパシタンスに移した後、キャパシタンス50における最適なエネルギーレベルを復元することを可能にし、したがって、より高速な遷移が可能となる。図18Aは、ノード1802および1807で接続されるエネルギー操作回路1803の一部として、介在する抵抗器1801を有する回路1800Aを示す。抵抗器1801は、ダイオード42aおよび42bの間およびスイッチ40aおよび40bの間のノード1802と通電する。抵抗器はまた、直列のインダクタ52、切替装置1602、およびコンデンサ50に続くノード1807と通じる。エネルギー操作回路1803は、電圧上昇および電圧降下の両方の間、エネルギーを失うであろう。
回路モジュール−影響
図19Aは、インバータ1901、高電圧キャパシタンス1902、およびX線管1903の間の相互作用を示す。電圧上昇の間、電流1905aは、インバータから高電圧キャパシタンスに流れる。同様に、電圧降下の間、電流1905bは、高電圧キャパシタンスからX線管1903に流れる。これらの標準電流1905a、1905bに加えて、本システムは、上昇の間、インバータから高電圧システムへのエネルギー1906aのさらなる移動を、および高価の間、高電圧システムからX線管へのエネルギー移動1906bを、要求することができる。図19Aに示すように、図18Aから図18Cのもののような回路で設けられる補助キャパシタンスがない場合、すべてのこのエネルギーは、電圧上昇および電圧降下の間、それぞれ、インバータ1901から、および高電圧システムキャパシタンス1902から、伝達される。現在のエネルギー1906aは、迅速な上昇時間を促進するのに不十分である可能性があり、現在のエネルギー1906bは、システムへの望ましくない追加エネルギーをもたらす可能性があり、電圧降下を長引かせる。
回路モジュール−例示的波形
図20は、図18Bのエネルギー操作回路と関連する例示的な波形を示す図である。波形2001は、X線管での電圧を表す。波形2002は、コンデンサ50に蓄えられたエネルギーを表す。波形2003は、抵抗器1804bによって放散されたエネルギーを表す。
備考
例示的な実施形態について説明する場合、特定の用語が、明確化のために使用される。説明のため、各特定の用語は、同様の目的を達成するために同様に動作するすべての技術的および機能的等価物を少なくとも含むことが意図される。さらに、特定の例示的な実施形態では、複数のシステム要素、デバイス構成要素または方法ステップを含む、いくつかの場合において、これらの要素、構成要素またはステップは、単一の要素、構成要素またはステップと置き換えてもよい。同様に、単一の要素、構成要素またはステップは、同じ目的を果たす複数の要素、構成要素、またはステップと置き換えてもよい。さらに、例示的な実施形態が示され、その特定の実施形態を参照して説明してきたが、当業者は、形態および詳細におけるさまざまな置換および改変は、本発明の範囲から逸脱することなくなされ得ることを理解するであろう。またさらに、他の態様、機能、および利点もまた、本発明の範囲内である。
21 集積回路
22 電圧源
24 共振切替部品
26 X線管
27 電圧源
28 ケーブル
30 ケーブル
40 キャパシタンス
40a 切替デバイス、スイッチ
40b 切替デバイス、スイッチ
42a ダイオード
42b ダイオード
44 出力電圧
46 メインコンデンサ、システムコンデンサ
48 補助電圧
50 補助コンデンサ、補助キャパシタンス
52 共振インダクタ、インダクタ
60a バッファ
60b バッファ
62 ドライバ
80 モジュール、切り替え段
82 変圧器
84 変圧器
86a コンデンサ
86b コンデンサ
88a ブロックダイオード
88b ブロックダイオード
90 入力キャパシタンス、コンデンサ
92 コンデンサ
170 CT作像システム、作像システム、CTシステム、スキャナシステム
172 ガントリ
174 X線源、放射源
178 検出器配列、マルチスライス検出器
180 検出器要素
182 患者、物体
184 中心
186 制御機構
188 X線制御器、X線作像システム線制御器
190 生成器
192 ガントリモータ制御器
194 データ収集システム(DAS)
196 画像再構築装置
198 コンピュータ、コンピューティングデバイス
200 大容量ストレージデバイス
202 コンソール
204 ディスプレイシステム
206 テーブルモータ制御器
208 電動テーブル
210 ガントリ開口部
212 デバイス
214 コンピュータ読取り可能媒体
220 X線作像システム
222 X線検出器
224 検出器セル
226 X線源
228 物体
230 データ収集システム
232 読み出し電子装置
233 ディスプレイ、ビジュアルディスプレイデバイス
234 ガントリ
236 画像再構築モジュール
316 メモリ
801 切り替え段
812 プロセッサ
812’ プロセッサ
814 関連コア
814’ 関連コア
816 メモリ
818 マルチポイントタッチインタフェース
820 ポインティングデバイス
822 ネットワークインターフェース
824 仮想機械
826 オペレーティングシステム
830 ユーザインターフェース
832 ネットワークデバイス
834 ストレージデバイス
836 データベース
901 電圧
902 高期間
903 低期間
905 上昇時間
907 降下時間
1601a 巻線、電圧源ノード
1601b 巻線
1601c 巻線
1602 切替装置
1701a 電流
1701b 電流
1800A 回路
1801 抵抗器
1802 ノード
1803 エネルギー操作回路
1804 エネルギー操作回路
1800A 回路
1804a インダクタ
1804b 抵抗器
1804c ダイオード
1805 エネルギー操作回路
1805a インダクタ
1805b スイッチ
1805c ダイオード
1805d ダイオード
1807 ノード
1820 ノード
1901 インバータ
1902 高電圧キャパシタンス、高電圧システム
1903 X線管
1904 補助キャパシタンス
1905a 標準電流
1905b 標準電流
1906a エネルギー
1906b エネルギー、エネルギー移動
1907a エネルギー
1907b エネルギー
2001 管電圧
2002 波形、コンデンサ
Claims (20)
- 電力システム制御を改善するための電子システムであって、前記システムは、
第1の端子と第2の端子とを備える第1のインダクタと、
切替装置であって、
カソード端子とアノード端子とを備える第1のダイオードと、
カソード端子とアノード端子とを備える第2のダイオードと、
第1の端子と第2の端子とを備える第1のスイッチと、
第1の端子と第2の端子とを備える第2のスイッチと
を備える切替装置と、
第1の端子と第2の端子とを備えるコンデンサと、
第1の端子と第2の端子とを備えるエネルギー操作回路(1803、1804、1805)であって、前記エネルギー操作回路(1803、1804、1805)の前記第1の端子が前記第1のスイッチの前記第2の端子と電気的につながっているエネルギー操作回路と、
を有し、
前記インダクタ、前記切替装置、および前記コンデンサは、電気的に直列につながり、
前記エネルギー操作回路は、前記第1のスイッチと前記第2のスイッチとの間に配された電気ノードを介して前記第1のスイッチおよび前記第2のスイッチに直列に接続される、システム。 - 前記インダクタ、前記切替装置、および前記コンデンサは、少なくとも1つの電圧源と電気的に直列につながっている、請求項1に記載のシステム。
- 前記少なくとも一つの電圧源は、トロイドの周りに複数の巻線を有する、請求項2に記載のシステム。
- 前記少なくとも1つの電圧源は、整流器またはダブラを形成するために接続されるダイオードおよびキャパシタンスのセットを有する、請求項2に記載のシステム。
- 前記第1のダイオードの前記アノード端子は、前記第2のダイオードの前記アノード端子と電気的につながり、
前記第1のスイッチの前記第1の端子は、前記第1のダイオードの前記カソード端子と電気的につながり、前記第1のスイッチの前記第2の端子は、前記第1のダイオードの前記アノード端子と電気的につながり、
前記第2のスイッチの前記第1の端子は、前記第2のダイオードの前記アノード端子と電気的につながり、前記第2のスイッチの前記第2の端子は、前記第2のダイオードの前記カソード端子と電気的につながっている、
請求項1に記載のシステム。 - 前記エネルギー操作回路(1803、1804、1805)の前記第1の端子は、前記第1のダイオードの前記アノード端子と電気的につながっている、請求項1に記載のシステム。
- 前記エネルギー操作回路(1803、1804、1805)は、抵抗器を備える、請求項1に記載のシステム。
- 全ての前記スイッチに接続される切替タイミング制御ユニットを備え、
前記切替タイミング制御ユニットは、前記スイッチのオンとオフのタイミングを計算し、低から高への遷移および高から低への遷移の後に、前記コンデンサでの適切な初期条件を再確立するためのルーチンを備える、請求項1に記載のシステム。 - 前記エネルギー操作回路(1803、1804、1805)は、
第1の端子と第2の端子とを備える抵抗器と、
第1の端子と第2の端子とを備える第2のインダクタと、
カソード端子とアノード端子とを備える第3のダイオードと
を備え、
前記第2のインダクタは、前記抵抗器と電気的に直列につながり、前記第2のインダクタおよび前記抵抗器は、前記第3のダイオードと並列につながり、
前記エネルギー操作回路(1803、1804、1805)の前記第1の端子は、前記第3のダイオードの前記カソード端子と電気的につながっている、
請求項1に記載のシステム。 - 前記エネルギー操作回路(1803、1804、1805)は、
第1の端子と第2の端子とを備える第3のスイッチと、
第1の端子と第2の端子とを備える第2のインダクタと、
カソード端子とアノード端子とを備える第3のダイオードと、
カソード端子とアノード端子とを備える第4のダイオードと
を備え、
前記第2のインダクタは、電気ノードを介して前記第3のスイッチと電気的に直列につながり、前記第2のインダクタおよび前記第3のスイッチは、前記第3のダイオードと並列につながり、
前記エネルギー操作回路(1803、1804、1805)の前記第1の端子は、前記第3のダイオードの前記カソード端子と電気的につながり、
前記第4のダイオードの前記アノード端子は、前記電気ノードと電気的につながっている、
請求項1に記載のシステム。 - 前記第1のスイッチおよび前記第2のスイッチは、BJTトランジスタを備える、請求項1に記載のシステム。
- 前記電子システムは、コンピュータ断層撮影のためのX線放射システムの一部としての複数の実質的に同一の電子システムと直列である、請求項1に記載のシステム。
- 前記スイッチは、コンピュータ断層撮影のためのX線放射システムの一部としての複数の実質的に同一の電子システムと直列である電子システムの一部である、請求項1に記載のシステム。
- 電力システムにおける高速kV切り替えのための方法であって、前記方法は、
第1のスイッチを開き、第2のスイッチを閉じて、第1の電圧を生成するステップと、
前記第2のスイッチを開き、前記第1のスイッチを閉じて、第2の電圧を生成するステップと
を備え、
前記第1のスイッチは、
第1のダイオードのカソード端子と電気的につながっている第1の端子と、
前記第1のダイオードのアノード端子および第2のダイオードのアノード端子と電気的につながっている第2の端子と
を備え、
前記第2のスイッチは、
前記第1のダイオードの前記アノード端子、前記第2のダイオードの前記アノード端子、およびエネルギー操作回路(1803、1804、1805)と電気的につながっている第1の端子と、
前記第2のダイオードのカソード端子と電気的につながっている第2の端子と
を備え、
前記第1のスイッチおよび前記第2のスイッチは、インダクタ、コンデンサ、および1つまたは複数の電圧源(22、27)と電気的に直列につながり、
前記エネルギー操作回路は、前記第1のスイッチと前記第2のスイッチとの間に配された電気ノードを介して前記第1のスイッチおよび前記第2のスイッチに直列に接続されている、方法。 - 第1のスイッチを開き、第2のスイッチを閉じて、第1の電圧を生成する前記ステップと、前記第2のスイッチを開き、前記第1のスイッチを閉じて、第2の電圧を生成する前記ステップは、前記第1のスイッチおよび前記第2のスイッチのオンとオフのタイミングを計算して、低kVから高kVおよび高kVから低kVへ遷移するごとに、前記コンデンサでの適切な初期条件を再確立するステップを備える、請求項14に記載の方法。
- 前記エネルギー操作回路(1803、1804、1805)は、抵抗器(1801、1804b)を備える、請求項14に記載の方法。
- 前記エネルギー操作回路(1803、1804、1805)は、
第1の端子と第2の端子とを備える抵抗器(1801、1804b)と、
第1の端子と第2の端子とを備える第2のインダクタと、
カソード端子とアノード端子とを備える第3のダイオードと
を備え、
前記第2のインダクタは、前記抵抗器(1801、1804b)と電気的に直列につながり、前記第2のインダクタおよび前記抵抗器(1801、1804b)は、前記第3のダイオードと並列につながり、
前記エネルギー操作回路(1803、1804、1805)の前記第1の端子は、前記第3のダイオードの前記カソード端子と電気的につながっている、
請求項14に記載の方法。 - 前記エネルギー操作回路(1803、1804、1805)は、
第1の端子と第2の端子とを備える第3のスイッチと、
第1の端子と第2の端子とを備える第2のインダクタと、
カソード端子とアノード端子とを備える第3のダイオードと、
カソード端子とアノード端子とを備える第4のダイオードと
を備え、
前記第2のインダクタは、電気ノードを介して前記第3のスイッチと電気的に直列につながり、前記第2のインダクタおよび前記第3のスイッチは、前記第3のダイオードと並列につながり、
前記エネルギー操作回路(1803、1804、1805)の前記第1の端子は、前記第3のダイオードの前記カソード端子と電気的につながり、
前記第4のダイオードの前記アノード端子は、前記電気ノードと電気的につながり、前記第4のダイオードの前記カソード端子は、前記少なくとも1つの電圧源の端子と電気的につながっている、
請求項14に記載の方法。 - 前記第1のスイッチおよび前記第2のスイッチは、BJTトランジスタを備える、請求項14に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの電圧源は、トロイドの周りに複数の巻線(1601a、1601b、1601c)を備える、請求項14に記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US13/746,911 US9160325B2 (en) | 2013-01-22 | 2013-01-22 | Systems and methods for fast kilovolt switching in an X-ray system |
US13/746,911 | 2013-01-22 | ||
PCT/US2014/012518 WO2014116682A1 (en) | 2013-01-22 | 2014-01-22 | Systems and methods for fast kilovolt switching in an x-ray system |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016503956A JP2016503956A (ja) | 2016-02-08 |
JP2016503956A5 JP2016503956A5 (ja) | 2017-02-23 |
JP6307521B2 true JP6307521B2 (ja) | 2018-04-04 |
Family
ID=51207682
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015553916A Active JP6307521B2 (ja) | 2013-01-22 | 2014-01-22 | X線システムでの高速キロボルト切り替えのためのシステムおよび方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9160325B2 (ja) |
JP (1) | JP6307521B2 (ja) |
CN (1) | CN104918554B (ja) |
DE (1) | DE112014000508T5 (ja) |
WO (1) | WO2014116682A1 (ja) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20150264789A1 (en) * | 2014-03-14 | 2015-09-17 | General Electric Company | Methods and systems for controlling voltage switching |
RU2657343C2 (ru) | 2014-07-29 | 2018-06-13 | ГеВеЭф МЕСЗЮСТЕМЕ АГ | Расходомер с улучшенным временем прохождения сигнала |
US9970889B2 (en) * | 2014-12-30 | 2018-05-15 | General Electric Company | Energy imaging with generally constant energy separation |
US10136868B2 (en) | 2015-09-03 | 2018-11-27 | General Electric Company | Fast dual energy for general radiography |
US10165996B2 (en) * | 2015-09-30 | 2019-01-01 | General Electric Company | Systems and methods for dual-energy computed tomography imaging |
US10262829B2 (en) | 2015-12-14 | 2019-04-16 | General Electric Company | Protection circuit assembly and method for high voltage systems |
US9930765B2 (en) * | 2016-02-04 | 2018-03-27 | General Electric Company | Dynamic damper in an X-ray system |
DE102016222365B3 (de) * | 2016-11-15 | 2018-04-05 | Siemens Healthcare Gmbh | Verfahren, Computerprogrammprodukt, computerlesbares Medium und Vorrichtung zur Erzeugung von Röntgenpulsen bei einer Röntgenbildgebung |
US20180145609A1 (en) * | 2016-11-23 | 2018-05-24 | General Electric Company | Hybrid switch for inverter of computed tomography system |
US10893839B2 (en) | 2018-06-06 | 2021-01-19 | General Electric Company | Computed tomography system and method configured to image at different energy levels and focal spot positions |
KR102567134B1 (ko) * | 2018-10-01 | 2023-08-16 | 삼성전자주식회사 | 엑스선 조사량 측정 장치, 이를 포함하는 반도체 메모리 장치 및 반도체 메모리 장치의 테스트 방법 |
CN110037719B (zh) * | 2019-04-24 | 2023-07-14 | 上海联影医疗科技股份有限公司 | 能量成像方法、装置、设备及存储介质 |
EP3793332B1 (de) * | 2019-09-16 | 2023-01-18 | Siemens Healthcare GmbH | Spannungsversorgung für einen röntgenstrahler, röntgeneinrichtung und verfahren zum testen einer röntgeneinrichtung |
EP3968738A1 (en) | 2020-09-14 | 2022-03-16 | Koninklijke Philips N.V. | Fast kvp switching employing non-linear inductance and resonant operation |
CN113281358B (zh) * | 2021-06-22 | 2022-09-23 | 清华大学 | 多能量x射线锥束ct成像系统及方法 |
KR102666726B1 (ko) * | 2022-06-28 | 2024-05-20 | 주식회사 티인테크놀로지 | 엑스선 튜브의 고속 스위칭 방법 및 이를 수행하는 장치 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1547366A (en) * | 1975-09-02 | 1979-06-13 | Rca Corp | High voltage regulation system |
JP2001006890A (ja) * | 1999-06-21 | 2001-01-12 | Koito Mfg Co Ltd | 放電灯点灯回路 |
DE10159897A1 (de) | 2001-12-06 | 2003-06-26 | Philips Intellectual Property | Spannungsversorgung für Röntgengenerator |
WO2007142999A2 (en) | 2006-05-31 | 2007-12-13 | L-3 Communications Security And Detection Systems, Inc. | Dual energy x-ray source |
DE102007034492B4 (de) | 2007-07-24 | 2013-01-17 | Siemens Aktiengesellschaft | Hochfrequenz-Empfangseinrichtung für ein Magnetresonanztomographiegerät und Magnetresonanztomographiegerät |
US7844030B2 (en) * | 2008-03-26 | 2010-11-30 | General Electric Company | System and method of fast switching for spectral imaging |
WO2010015960A1 (en) * | 2008-08-08 | 2010-02-11 | Koninklijke Philips Electronics, N.V. | Voltage modulated x-ray tube |
US8165264B2 (en) | 2009-01-28 | 2012-04-24 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method of pre-reconstruction decomposition for fast kV-switching acquisition in dual energy computed tomography (CT) |
FR2941587B1 (fr) * | 2009-01-28 | 2011-03-04 | Gen Electric | Alimentation electrique d'un tube a rayons x, procede d'alimentation et systeme d'imagerie associes |
US7826587B1 (en) | 2009-09-11 | 2010-11-02 | General Electric Company | System and method of fast kVp switching for dual energy CT |
US8401151B2 (en) | 2009-12-16 | 2013-03-19 | General Electric Company | X-ray tube for microsecond X-ray intensity switching |
US8295442B2 (en) | 2010-07-28 | 2012-10-23 | General Electric Company | Apparatus and method for magnetic control of an electron beam |
DE102010040260B4 (de) | 2010-09-03 | 2014-01-09 | Siemens Aktiengesellschaft | Lokalspule mit einer Verstimmeinreichtung |
US8861681B2 (en) | 2010-12-17 | 2014-10-14 | General Electric Company | Method and system for active resonant voltage switching |
US8687768B2 (en) | 2010-12-17 | 2014-04-01 | General Electric Company | Method and system for passive resonant voltage switching |
CN103339657B (zh) | 2011-02-01 | 2016-08-31 | 皇家飞利浦有限公司 | 用于双能量ct图像重建的方法和系统 |
-
2013
- 2013-01-22 US US13/746,911 patent/US9160325B2/en active Active
-
2014
- 2014-01-22 JP JP2015553916A patent/JP6307521B2/ja active Active
- 2014-01-22 WO PCT/US2014/012518 patent/WO2014116682A1/en active Application Filing
- 2014-01-22 DE DE112014000508.8T patent/DE112014000508T5/de active Pending
- 2014-01-22 CN CN201480005718.8A patent/CN104918554B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE112014000508T5 (de) | 2015-11-19 |
CN104918554B (zh) | 2017-11-17 |
US20140205070A1 (en) | 2014-07-24 |
WO2014116682A1 (en) | 2014-07-31 |
JP2016503956A (ja) | 2016-02-08 |
CN104918554A (zh) | 2015-09-16 |
US9160325B2 (en) | 2015-10-13 |
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