JP6277272B2 - 質量分析装置 - Google Patents
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Description
質量分析部(四重極質量分析部)の入り口でのイオン損失
イオン損失とは、イオン輸送部や質量分析部の内側を通過するはずのイオンの軌道が不安定になり、イオン輸送部や質量分析部の外側に排出されてしまい、最終的に検出されるイオン数(検出感度)が低下してしまうことを言う。このイオン損失の原因は、電位ポテンシャル分布において、図5に示すようにピーク状のポテンシャル障壁が発生し、イオン軌道が不安定化するためと考える。上記の課題を解決するためには、イオン輸送(イオンガイド)部の入り口、質量分析部の入り口に生成される、ピーク状電位ポテンシャル障壁による電界の歪みを軽減する必要が
ある。
2 イオン化部
3 イオン輸送部
4 質量分析部
5 イオン検出部
6 データ処理部
7 表示部
8 制御部
9 DC電圧源
10 ユーザ入力部
11 質量分析装置
12 AC電圧源
13a,b,c,d 電極
14a,b,c,d 電極
Claims (11)
- 特定の質量電荷比m/zを持つイオン種のみを通過させる、少なくとも4本の第1の棒状電極を含む質量分析部と、
前記第1の棒状電極に印加する電圧を調整・制御する制御する制御部と、
第1の棒状電極を通過したイオンを検出する検出部と、を備えた、質量分析装置において、
第1の棒状電極の少なくとも一方の端部における内接円の大きさは、第1の棒状電極の他の部分の内接円の大きさよりも大きく、
第1の棒状電極の少なくとも一方の端部は、互いに対向する部分が切り欠かれた傾斜形状を持つことを特徴とする、質量分析装置。 - 請求項1に記載の質量分析装置において、
第1の棒状電極の少なくとも一方の端部は、可動式であることを特徴とする、質量分析装置。 - 請求項1に記載の質量分析装置において、
第1の棒状電極の両端部における内接円の大きさは、第1の棒状電極の他の部分の内接円の大きさよりも大きいことを特徴とする、質量分析装置。 - 請求項1において、
さらに、イオンを輸送する、イオンガイド部を備えることを特徴とする、質量分析装置。 - 請求項4において、
イオンガイド部は、少なくとも2枚の板状電極を備えることを特徴とする、質量分析装置。 - 請求項4において、
イオンガイド部は、少なくとも4本の第2の棒状電極を備えることを特徴とする、質量分析装置。 - 請求項6において、
イオンガイド部を構成する第2の棒状電極に内接する内接円の大きさの方が、質量分析部を構成する第1の棒状電極に内接する内接円の大きさよりも大きいことを特徴とする、質量分析装置。 - 請求項6において、
イオンガイド部を構成する第2の棒状電極の少なくとも一方の端部における内接円の大きさは、第2の棒状電極の他の部分の内接円の大きさよりも大きいことを特徴とする、質量分析装置。 - 請求項8において、
第2の棒状電極の少なくとも一方の端部は、互いに対向する部分が切り欠かれた傾斜形状を持つことを特徴とする、質量分析装置。 - 請求項8において、
第2の棒状電極の少なくとも一方の端部は、外側に折れ曲がった形状を持つことを特徴とする、質量分析装置。 - 請求項8において、
第2の棒状電極の少なくとも一方の端部は、可動式であることを特徴とする、質量分析装置。
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