JP6276736B2 - 物質識別装置 - Google Patents
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Description
図1に示すように、物質識別装置1は、ボディースキャナー2と、テラヘルツ光源45と、ビーム調整器50と、画像処理/制御装置30と、制御コンピュータ55と、表示装置57とを有している。
次に、図2を用いて物質識別装置1のボディースキャナー2について詳述する。図2に示すように、ボディースキャナー2は、テラヘルツ波を検出するテラヘルツ波検出器8と、スキャンミラー20と、撮像装置(CCDカメラ)15と、スキャンミラー20の位置を制御し、テラヘルツ波検出器8及び撮像装置15の信号を画像処理/制御装置30に出力する制御/信号出力部18を備えている。尚、テラヘルツ波検出器8とスキャンミラー20とでテラヘルツ波検知部3を構成している。
次に、図3を用いて、画像処理/制御装置(画像処理兼制御装置ともいう。)について詳述する。図3は、画像処理/制御装置の構成を示すブロック図である。図3に示すように、画像処理/制御装置30は、ボディースキャナー2からの信号を入力部31を介して画像処理部32に入力する。このとき、ボディースキャナー2から出力される信号は、テラヘルツ波検出器8で検出したテラヘルツ波のデジタル信号及び撮像装置(CCDカメラ)15からの撮像信号である。
以下に、本発明の物質識別装置に関する放射エネルギー、反射エネルギーのキャリブレーションについて図4を用いて説明する。
次に、物質識別装置による隠匿物の検出処理について図1乃至図3、図6を用いて説明する。図6は、物質識別装置による被検知物(隠匿物)の検出処理を示すフローチャートである。
以下に、被検知物の識別に関する放射エネルギー、反射エネルギーの任意の値の測定データの一例について説明する。図8は、被検知物における放射エネルギー、反射エネルギーの任意の値の測定データの一例を示す図である。尚、計測は、黒体放射板の表面に基準試料である粉末としての砂糖、塩、片栗粉及び小麦粉並びに紙並びに金属としてのアルミを用いたものである。
以下に、出願人による先行技術調査において発見された先行技術文献と本発明との対比を説明する。特許文献1乃至特許文献3に開示された物質検知、物質識別装置は、本発明と技術分野が同じ物質識別装置に関するものである。
2 ボディースキャナー
3 テラヘルツ波検知部
8 テラヘルツ波検出器
15 撮像装置(CCDカメラ)
18 制御/信号出力部
20 スキャンミラー
30 画像処理/制御装置(画像処理兼制御装置)
31 入力部
32 画像処理部
33 判別処理部
36 光源制御部
37 出力部
38 ビーム制御部
45 テラヘルツ光源
50 ビーム調整器
55 制御コンピュータ
57 表示装置
60 検知対象物(被検査者)
63 被検知物(識別材料)
65 検出エリア
Claims (8)
- 物質識別装置において、
被検知物を含む検知対象物たる人間が放射する電磁波の放射エネルギーの信号を計測し、
前記被検知物が放射する放射エネルギーの信号と前記被検知物の周辺の前記検知対象物の放射エネルギーの信号との差分から前記検知対象物に含まれる前記被検知物の種類を識別し、
前記被検知物の種類の識別にあたり、人間の体温に相当する温度を有する黒体放射板の表面に、基準試料として放射率が概ね0の物質と放射率が概ね1の物質とを設置し、各前記基準試料の放射エネルギーの信号と、その基準試料の周辺の放射エネルギーの信号とを計測して、その差分から各前記基準試料における放射エネルギーの各差分値を算出して基準値として記憶し、
前記被検知物の種類の識別は、前記被検知物が放射する放射エネルギーの信号と該被検知物の周辺の前記検知対象物の放射エネルギーの信号との差分から差分値を算出し、算出した前記差分値から放射エネルギーの前記基準値を参照して相対値を算出することを特徴とする物質識別装置。 - 前記物質識別装置において、さらに、電磁波を照射したときの前記被検知物からの反射エネルギーの信号と、電磁波が照射されないときの前記被検知物からの反射エネルギーの信号との差分から、前記検知対象物に含まれる前記被検知物の種類を識別し、
前記反射エネルギーを用いた前記被検知物の種類の識別にあたり、人間の体温に相当する温度を有する黒体放射板の表面に、基準試料として反射率が概ね1の物質と反射率が概ね0の物質とを設置し、電磁波を照射したときの各前記基準試料からの反射エネルギーの信号と、電磁波が照射されないときの各前記基準試料からの反射エネルギーの信号とを計測して、その差分から各前記基準試料における反射エネルギーの各差分値を算出して基準値として記憶し、
前記反射エネルギーを用いた前記被検知物の種類の識別は、電磁波を照射したときの前記被検知物が反射する反射エネルギーの信号と電磁波が照射されないときの該被検知物からの反射エネルギーの信号との差分から差分値を算出し、算出した前記差分値から反射エネルギーの前記基準値を参照して相対値を算出することを特徴とする請求項1に記載の物質識別装置。 - 前記物質識別装置は、前記被検知物の物質識別に関し、電磁波の前記放射エネルギーの信号又は前記反射エネルギーの信号のうち、少なくとも1以上の前記信号を用いることを特徴とする請求項2に記載の物質識別装置。
- 前記電磁波は、10GHz〜10THzの周波数を有するテラヘルツ波であることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1に記載の物質識別装置。
- 電磁波を放射する光源と、前記光源からの電磁波を被検知物に照射するビーム調整器と、前記被検知物からの放射エネルギーの信号及び/又は反射エネルギーの信号とを検知する検知装置と、前記検知装置からの信号を処理する画像処理兼制御装置と、から構成されていることを特徴とする請求項2に記載の物質識別装置。
- 前記被検知物が放射する放射エネルギーの信号と該被検知物の周辺の検知対象物の放射エネルギーの信号との差分から検知対象物に含まれる被検知物の位置情報を算出して、算出した位置情報を基に、反射エネルギーの信号を得るべく電磁波を前記被検知物に照射するようにしたことを特徴とする請求項2に記載の物質識別装置。
- 前記検知対象物を撮像する撮像手段を有し、前記撮像手段で撮像した前記検知対象物の映像に、被検知物の前記放射エネルギーの信号の前記差分及び/又は前記反射エネルギーの信号の前記差分を重畳して、画像として表示する表示手段を有することを特徴とする請求項2又は請求項3に記載の物質識別装置。
- 前記画像処理兼制御装置は前記光源を制御し、前記被検知物からの放射エネルギーの信号及び/又は反射エネルギーの信号を基に前記光源からの電磁波の放射の強度を制御することを特徴とする請求項5に記載の物質識別装置。
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