JP6269153B2 - 電位検出装置、及び画像形成装置 - Google Patents

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Description

本発明は、電子写真方式を利用した画像形成装置に用いられる像担持体としての感光体の表面電位を検出する為に好適な電位検出装置に関し、特に電位検出装置を構成するカンチレバーの先端に誘起される鏡像電荷量を増大させ、且つ表面電位の検出感度を向上させる電位検出装置に関する。
近年、電子写真方式を利用したプリンターや、デジタル複合機等の画像形成装置においては、長期にわたり安定して高い画質を維持できる製品が求められている。
一方で、画像形成装置を構成する各部材は経時において性能が劣化する。各部材の中でも、像担持体としての感光体の光疲労による劣化は画質への影響が大きい。ここで、光疲労とは、感光体が繰り返し書き込み光を受光することで、残留電位が上昇して感光体によって担持された静電潜像が現像されにくくなる現象のことである。
特に、画像形成が高速化された装置では、画像形成後に行われる感光体の除電から、次回の画像形成プロセスにおける帯電までの時間が短いため、感光体が正常な状態となるまでの回復時間を十分に確保できない場合がある。回復時間を十分に確保できないまま画像形成を続けると、光疲労が生じた箇所において濃度ムラが発生して画質が著しく低下することとなる。
仮に感光体の光疲労が進行した場合であっても書き込み光量の調整をすれば、ある程度は初期画質を維持することができる。また、劣化した感光体を早期に交換すれば、光疲労による濃度ムラの問題は生じない。しかし、上記対策を施すためには光疲労の進行状況を把握する必要があるが、これを把握することは容易ではない。
本発明の発明者は原子間力顕微鏡(AFM)に用いられるカンチレバーを応用することで上記の問題を解決できることを見いだした(特許文献1)。即ち、感光体の表面電荷と、感光体の表面電位によってカンチレバーに誘起される鏡像電荷とのクーロン力が発生する。このときのカンチレバーの撓み量を検出することで、感光体の表面に実際に印加されている電位(表面電位)を評価できることを発見した。
しかし、従来の光テコ方式と呼ばれる力計測方法はカンチレバー背面にレーザ光を照射し、カンチレバーに力が作用したときのカンチレバーの反りや、たわみを反射光の移動で検出するというものである。したがって、光テコ方式による電位検出装置はレーザ発生源をはじめとする光学系が必要であり、画像形成装置の内部に搭載するためには、よりコンパクトな構成とする必要がある。
ここで、近年においては、特許文献2に記載されているように、表面にピエゾ抵抗体が形成されたピエゾ内蔵型カンチレバー(或いは、自己検知カンチレバーとも呼ばれる)が実用化されている。ピエゾ内蔵型カンチレバーは、ピエゾ抵抗体の抵抗値の変動を計測することによってカンチレバーの撓み量を検出するものである。上記方式のカンチレバーであれば、光学系が必要ない為、コンパクトな構成にすることができ、画像形成装置の内部に搭載するには好適である。
ピエゾ内蔵型カンチレバーにおいて表面電位の検出感度を高めるためには、カンチレバーの幅を狭くしてカンチレバーが大きく撓むようにすることが考えられる。しかし、カンチレバーの幅を狭くするとカンチレバー先端に誘起される鏡像電荷量が低下するため、電位の検出感度が所望の通りには向上しないという問題がある。逆に、カンチレバーの幅を広げればカンチレバー先端に誘起される鏡像電荷量を増大させることができるが、カンチレバーが撓みにくくなり、結果として電位の検出感度が所望の通りには向上しないことになる。
本発明は上述の事情に鑑みてなされたものであり、カンチレバーに誘起される鏡像電荷量を増大させ、対象部材の表面電位の検出感度を向上させうる電位検知装置を提供することを目的とする。
上記の課題を解決するために、請求項1に記載の発明は、対象部材の表面電位を検出する電位検出装置であって、一部を支持手段によって支持された第一梁部、後部適所を前記第一梁部の他部によって支持されると共に、前記第一梁部と交差する方向に伸びる第二梁部、及び前記第二梁部の先部と前記対象部材との間に生じるクーロン力による前記第一梁部の捩れを抵抗値として出力するピエゾ抵抗体を備えたカンチレバーと、前記ピエゾ抵抗体が出力する抵抗値に基づいて前記対象部材の表面電位を導出する演算手段と、を備えたことを特徴とする。
本発明の電位検出装置のカンチレバーは、第一梁部に対して交差する方向に伸びる第二梁部を備えているので、第二梁部の先部と対象部材との間に生じるクーロン力によるカンチレバー変形方向を、たわみ方向から、捩れ方向に変換することができる。このため、第二梁部の先部に誘起される鏡像電荷量と、カンチレバーによる対象部材の表面電位の検出感度がトレードオフの関係とならず、電位検出感度を向上させることができる。
本発明の一実施形態に係る電位検出装置を備える画像形成装置の要部の概略構成を示す図である。 (a)はタンデム型のフルカラー画像形成装置の概略構成を示し、(b)はリボルバタイプのフルカラー画像形成装置の概略構成を示す図である。 (a)〜(c)は電位検出装置を示す図である。 感光体の表面電位とカンチレバーに作用する力の関係を示す図である。 感光体の使用初期と光疲労時の表面電位と露光量との関係を示す図である。 本発明の第一の形態に係るカンチレバーの斜視図であり、(a)は撓んでいない状態を示す図であり、(b)は撓んだ状態を示す図である。 本発明の第二の形態に係るカンチレバーの斜視図である。 本発明の第三の形態に係るカンチレバーの斜視図である。 本発明の第四の形態に係るカンチレバーの斜視図である。 転写ベルトの表面電位を検出する電位検出装置を備えた画像形成装置の要部の概略構成を示す図である。 帯電ローラの表面電位を検出する電位検出装置を備えた画像形成装置の要部の概略構成を示す図である。 自己検知型SPMプローブ一例を示した平面図である。
以下、本発明を図に示した実施形態を用いて詳細に説明する。但し、この実施形態に記載される構成要素、種類、組み合わせ、形状、その相対配置などは特定的な記載がない限り、この発明の範囲をそれのみに限定する主旨ではなく単なる説明例に過ぎない。
〔画像形成装置〜1〕
本発明の一実施形態に係る電位検出装置を備える画像形成装置の要部の概略構成について図1
を参照して説明する。
画像形成装置1は、本体筐体内に、像担持体としての感光体20(像担持体)と、感光体20の周囲に順次配置された帯電部30と、露光部40と、本実施形態に係る電位検出装置10のセンサ部13と、現像部50と、転写部60と、ファーブラシ70と、クリーニングブレード80と、感光体除電部90とを備えている。
感光体20は図1中の時計周りに回転し、帯電部30が回転する感光体20の表面を一様に帯電させる。露光部40は、画像データに基づいて変調されたレーザ光を感光体20に照射して静電潜像を形成する。現像部50は、静電潜像を担持する感光体20にトナーを付着させて現像する。
画像形成装置1は、複数枚の記録紙を収納する給紙カセットを備えている。給紙カセット内の記録紙は、給紙ローラによりレジストローラ対へ1枚ずつ送り出される。そして、記録紙は、レジストローラ対によりタイミング調整された後、転写部60と感光体20との間に送り出される。
転写部60においては、感光体20と転写部60との間に搬送されてきた記録紙に、感光体20が担持するトナー画像を転写する。トナー画像の転写された記録紙は定着部に搬送される。
定着部は、内蔵ヒータにより所定の定着温度に加熱される定着ローラと、定着ローラに所定圧力で押圧される加圧ローラとを備え、転写部60から搬送されてきた記録紙を加熱、及び加圧して、記録紙上のトナー画像を記録紙に定着させた後、排紙トレー上に排出する。
さらに画像形成装置1は、転写部60においてトナー画像を記録紙に転写した後の感光体20をさらに回転させ、ファーブラシ70及びクリーニングブレード80からなるクリーニング部にて、感光体の表面に残留するトナーを除去する。
その後、感光体20は感光体除電部90による除電により残留電位をキャンセルされ、次回の画像形成プロセスに供される。
なお、電位検出装置10については、後に詳しく説明する。
〔画像形成装置〜2〕
次に、本発明の一実施形態に係る電位検出装置を適用可能な他の画像形成装置の要部の概略構成について図2を参照して説明する。図2(a)はタンデム型のフルカラー画像形成装置100の概略構成を示し、図2(b)はリボルバタイプのフルカラー画像形成装置200の概略構成を示したものである。なお、上述した本実施形態の画像形成装置1と同様の構成については説明を省略する。
図2(a)に示すように、タンデム型のフルカラー画像形成装置100は、本体筐体内に、C(シアン)、M(マゼンタ)、Y(イエロー)、K(ブラック)のトナー像を夫々形成する画像形成部101C、101M、101Y、101Kを有している。各画像形成部101は、図2(a)中の時計周りに回転駆動される像担持体102と、像担持体102の表面を一様に帯電する帯電部103と、像担持体102に静電潜像を形成する露光部104と、静電潜像を現像する現像部105と、中間転写部107にトナー像を転写後の像担持体102の表面をクリーニングするクリーニング部106と、を備えている。
画像形成部101C、101M、101Y、101Kは、中間転写部107の走行方向に沿って順に、タンデム型に配置されている。像担持体102が担持する各色トナー像は、図2(a)中の矢印方向に走行する中間転写部107に順次重ねて転写されて、中間転写部107にはカラー画像が形成される。中間転写部107が担持するカラー画像は、中間転写部107においてタイミングを合わせて搬送されてきた記録紙に転写される。
図2(b)に示すように、リボルバ型のフルカラー画像形成装置200は、1つの像担持体202と、像担持体202の周囲に順次配置されたクリーニング部201と、帯電部203と、露光部204とを備えている。更にフルカラー画像形成装置200は、像担持体202の周囲にリボルバ状に配置されて。色毎に設けられた現像装置205C、205M、205Y、205Kを備えている。夫々の現像装置205C、205M、205Y、205Kは、像担持体202に対して接離可能に構成されており、像担持体202に接触した1の現像装置205のみが像担持体202表面の静電潜像を現像する。例えば、像担持体202の表面には、まずC用の静電潜像が形成され、C用の現像装置205CによってCトナー像として現像された後、Cトナー像は中間転写部206に一次転写される。このとき、二次転写部207は中間転写部206から離間した位置にある。以降、M、Y、K用の静電潜像の形成と現像が順次行われて、各色トナー像が順次中間転写部206に転写されることにより、中間転写部206にカラートナー像が形成される。中間転写部206が担持するカラートナー像は、二次転写部207においてタイミングを合わせて搬送されてきた記録紙に転写される。
上記フルカラー画像形成装置100、200においては、露光部よりも像担持体の走行方向下流側に本実施形態に係る電位検出装置10のセンサ部13を配置することができる。
上述した各画像形成装置に搭載される部材の1つとしての像担持体には電子写真感光体を用いることができる。電子写真感光体はトナー画像を記録紙または中間転写部に転写するため、トナーに対して大きな付着力を持つことは好ましくない。電子写真感光体としては、導電性支持体上に少なくとも中間層と、感光層を有していれば、上記以外のその他の層が形成されていてもよい。
〔電位検出装置〜センサ部〕
本発明の一実施形態に係る電位検出装置10の概略構成について図1及び図3を参照して説明する。図3(a)〜(b)は電位検出装置を示す図である。
電位検出装置10は、駆動機構であるピエゾ抵抗体12が一体化されたピエゾ内蔵型カンチレバー(以下、単に「カンチレバー」という)11を備えたセンサ部13と、センサ部13からの信号(カンチレバーの抵抗変化を示す信号)を処理して感光体20の表面電位を導出する演算部14とを備えている。
図3(a)に示すように、センサ部13は、カンチレバー11の先端部を、感光体20の表面から略垂直方向に所定距離(以下『ギャップ』とする)を空けた状態にて設置される。また図1に示すように、センサ部13を露光部40の下流側に設置することで、作像プロセスに悪影響を及ぼさずに感光体の表面状態を検知できる。
図3(b)、(c)に示すように、複数のカンチレバー11を支持部材16(支持部)等によって支持すると共に、複数のカンチレバー11を感光体20の長手方向に沿って所定の間隔にて設置する。特に、ピエゾ内蔵型のカンチレバー11を用いた場合は、センサ部13のサイズを小さくしつつ、感光体20の長手方向に沿って多数のカンチレバー11を配置できるので、感光体20の長手方向における電位ムラを検知することができる。
感光体20の長手方向における電位ムラの検出精度は、カンチレバー11の配置間隔と関係がある。カンチレバー11の配置間隔を狭くするほど電位ムラの検出精度が高くなる。逆に、カンチレバー11の配置間隔を広げるほど電位ムラの検出精度は落ちるものの、設置するカンチレバー11の総数を抑制できるため、コストを低減することができる。
図3(c)に示すように、センサ部13としてカンチレバー11を一次元アレイ状に配置したアレイ構造のものを用いることも有効である。
センサ部13をアレイ構造とすることで、一部のカンチレバー11の破損や性能劣化が発生した際にも、他の正常なカンチレバーを用いて継続的に感光体の表面電位を検出し続けることができる。カンチレバーアレイを構成するカンチレバー11の数は、多い方が破損等のリスク許容度が大きくなる。一方、カンチレバー11の製造コストを抑える観点から3〜10本程度のカンチレバー11で構成するのが好適である。
ピエゾ内蔵型カンチレバーを用いて行う感光体表面の鏡像力の検出は、基本的に原子間力顕微鏡を用いた手法と同じである。ここで、具体的な測定行為について説明する。まず、ピエゾ内蔵型カンチレバーを、感光体の表面との間に一定のギャップを設けて設置する。こうすることで、感光体の表面電荷と、感光体の表面電位によってカンチレバーに誘起される鏡像電荷とのクーロン力が発生する。このとき、ピエゾ内蔵型カンチレバーの先端が感光体側に引き寄せられる。このときのピエゾ内蔵型カンチレバーのたわみ量をモニターすることで、感光体の表面の電位を測定することができる。
また、ピエゾ内蔵型カンチレバーのバネ定数は数〜数十N/mに限られている為、検出対象の表面電位に対して適切なギャップを設定することが重要である。図4に、感光体の表面電位とカンチレバーに作用する力の関係を示す。感光体の表面電位は、数十から数百Vである。例えばSIIナノテクノロジー社(現日立ハイテクサイエンス)製の自己検知カンチレバー≪幅50μm・長さ400μm≫のように、4N/mのバネ定数のカンチレバーを用いる場合、検出可能な力範囲は数〜数百nNであるため、感光体表面とカンチレバーとのギャップは100〜300μmに設定するのが良い。
〔ピエゾ内蔵型カンチレバー〕
本実施形態のセンサ部13を構成するピエゾ内蔵型カンチレバーについては、例えばSPMプローブを用いることができる。SPMプローブの概略構成と作用について図12を参照して説明する。図12は、自己検知型SPMプローブ700の一例を示した平面図である。
自己検知型SPMプローブ700は、先端に探針(チップ)712を設けたカンチレバー702と、カンチレバー702の表面に配置されたピエゾ抵抗体722、724とを備えている。試料表面と探針との間の原子間力(引力または斥力)によってカンチレバー702が変形し、ピエゾ抵抗体722、724の抵抗値を変動させる。自己検知型SPMプローブ700は、この抵抗値をカンチレバー702の変形量として検出するものである。
自己検知型SPMプローブ700は、先端に探針712を設けたカンチレバー702を支持部704によって支持した構成である。カンチレバー702の基端部には、支持部704に向かって略平行に延在する2つの連結部706、708を有し、カンチレバー702は連結部706、708において支持部704と連結されている。
カンチレバー702の基端部から連結部706、708を介して支持部704の一部に至る部位には、概略L字状にピエゾ抵抗体722、724が形成されている。なお、以下ではピエゾ抵抗体722、724が形成されている部分を含む特定部位を屈曲部と表現する。カンチレバー702及びピエゾ抵抗体722、724は、カンチレバー702の長手方向(図中上下方向)に探針712を通過する線を中心軸として、両対称に形成される。
ピエゾ抵抗体722、724上および支持部704上には、絶縁層が形成されている。なお、図12においては、図を簡略化して理解を容易にするため、絶縁層を図示していない。
絶縁層上には、配線としての導電層726、728が形成されている。導電層726、728は、ピエゾ抵抗体722、724の抵抗値を読み出すための配線である。導電層726、728は、カンチレバー702の基端部から連結部706、708を通過して支持部704まで形成されている。導電層726、728の一端は、カンチレバー702の基端部に位置するピエゾ抵抗体722、724と重なる部位に夫々配置され、導電層726、728の他端は、ピエゾ抵抗体722、724とは重ならない支持部704上に夫々配置されている。
導電層726の一端には、下層に位置するピエゾ抵抗体722と導電層726とを電気的に接続するメタルコンタクト部742が形成されている。同様に、導電層728の一端には、下層に位置するピエゾ抵抗体724と導電層728とを電気的に接続するメタルコンタクト部744が形成されている。
更に絶縁層上には、配線としての導電層732、734が形成されている。導電層732、734は、ピエゾ抵抗体722、724の抵抗値を読み出すための配線である。導電層732、734の一端は、支持部704に位置するピエゾ抵抗体722、724と重なる部位に夫々配置され、導電層732、734の他端は、ピエゾ抵抗体722、724とは重ならない支持部704上に夫々配置されている。
導電層732の一端には、下層に位置するピエゾ抵抗体722と導電層732とを電気的に接続するメタルコンタクト部736が形成されている。同様に、導電層734の一端には、下層に位置するピエゾ抵抗体724と導電層734とを電気的に接続するメタルコンタクト部738が形成されている。
従って、各導電層726、732の他端からは、ピエゾ抵抗体722の抵抗値の変化を読み出すことができ、各導電層728、734の他端からは、ピエゾ抵抗体724の抵抗値の変化を読み出すことができる。
この自己検知型SPMプローブ700では、カンチレバー702と支持部704とが2つの連結部706、708によって連結されている。ピエゾ抵抗体722、724は、カンチレバー702から支持部704にかけて連結部706、708を介して形成されている。連結部706、708においてピエゾ抵抗体722、724を細く形成することができるため、2つのピエゾ抵抗体間において、カンチレバー702の捩れにより生じる両屈曲部の変位差を示す抵抗値差が、顕著にかつ正確に現れる。
また、屈曲部におけるピエゾ抵抗体722、724の抵抗値変化を、支持部704上に導かれた配線としての導電層726、732、728、734から読み出すことができ、それら抵抗値の変化からカンチレバー702の捩れ量を検出することができる。
〔電位検出装置〜演算処理〕
センサ部13からの信号(抵抗値を示す信号)を処理する演算部14について説明する。
演算部14は内部に、予め設定されたプログラムに従って制御動作を行うCPU(Central Processing Unit)と、各種プログラムや固定データを記憶するROM(Read Only Memory)と、CPUの作業エリアとなるRAM(Random Access Memory)とを有している。ROMには、カンチレバーに内蔵されたピエゾ抵抗体の抵抗値と感光体の表面電位との関係が、テーブル等の形式により記憶されている。
例えば図12に示す自己検知型SPMプローブ700の導電層から読み出された抵抗値は、演算部14に入力される。演算部14は、ROMに記憶されたテーブルを参照して、導電層から読み出された抵抗値から感光体の表面電位を導出する。
演算部14の演算により求められた感光体の表面電位に基づいて、制御部が画像形成装置1の各部の動作を制御する。例えば制御部は、感光体の表面電位に基づいて感光体20の露光量を調整するように露光部40を制御することで、感光体20の画像濃度を全領域に渡って一定に保つことができる。例えば、図5に示すように、局所的に光疲労が発生して、露光後の電位が高い領域が存在する場合は、制御部がその領域の露光量を強くするように露光部40を制御する。このような制御を行って狙いの現像ポテンシャルを保つことで、画像濃度ムラの発生を抑えることができる。
また、制御部は、演算部14の演算により求められた感光体の表面電位に基づいて、正常な状態となるまで感光体20を回復させるリフレッシュ期間を適切なタイミングで設けることができ、感光体20の寿命を延ばすことができる。
また、制御部は、演算部14の演算により求められた感光体の表面電位に基づいてユーザーに感光体の交換を促すメッセージを提示してもよい。例えば、感光体に光疲労が極度に進行した部位が存在し、露光量を強くしても、狙いの現像ポテンシャルに調整できない場合は、画像形成装置の状態を表示する表示手段に感光体交換のメッセージ表示させるように制御することで、スジ画像等の異常画像の発生を未然に防ぐことができる。
〔カンチレバーの形状:実施形態1〕
カンチレバーの具体的形状について図6に基づいて説明する。図6は、本発明の第一の形態に係るカンチレバーの斜視図であり、(a)は撓んでいない状態を示す図であり、(b)は撓んだ状態を示す図である。なお、ピエゾ抵抗体等の図示は省略している。
本実施形態においては、カンチレバーの形状を概略L字形状とすることにより、カンチレバーの変形をたわみ方向から捩れ方向に変換する。即ち、カンチレバーの変形量をたわみ量としてではなく、捩れ量として検出する。その上で、カンチレバーの捩れ方向におけるばね定数を低減させることによって効率的に捩れ量を増大させ、検出対象表面の鏡像力の検出感度を増大させる点に特徴がある。
図6に示すようにカンチレバー410は概略L字型形状である。カンチレバー410は、一部411aを支持部415によって支持されると共に所定方向に伸びる第一梁部411と、後部413aの適所を第一梁部411の他部411bによって支持されると共に、第一梁部411と交差する方向に伸びる第二梁部413とを備えている。第一梁部411と第二梁部413は、帯板状である。
また、第一梁部411には、第二梁部413の先部413bと対象部材(例:感光体)との間に生じるクーロン力による第一梁部411の捩れを抵抗値として出力するピエゾ抵抗体が配置されている。なお、本図における支持部415は、図12に示す支持部704に相当し、ピエゾ抵抗体は第一梁部411から支持部415にかけて形成されている。
本実施形態において第一梁部411は、支持部415の端縁と直交する方向に伸びており、第二梁部413は支持部415の端縁に沿って、平行する方向に伸びている。
第一梁部411と第二梁部413の幅方向と長さ方向(W方向とL方向)によって規定される「面」は、支持部415の一つの面(図6中、支持部415の上面)と平行な面である。即ち、カンチレバー410は、支持部415の一つの面に沿って、支持部415から突出形成されている。
ここで、カンチレバー410の「面」と直交する方向をカンチレバー410の「厚さ」と規定する。カンチレバー410の厚さは一様である。即ち、第一梁部411と第二梁部413との厚さは略同等に設定されている。第二梁部413の先部に働く対象部材(例えば感光体の表面)との鏡像力により、カンチレバー410全体を変形させる。
本実施形態のようにL字形状のカンチレバーを用いることで、図6(b)に示すように、カンチレバー先端に作用した鏡像力による変形方向を、たわみ方向(図中矢印A方向)から捩れ方向(図中矢印B方向)に変換することができる。
第二梁部413の先部413b(第二梁部の自由端)には、電位の検出対象側となる面にチップ417を配置している。第二梁部413をチップレスの平板形状(一枚板形状)としても構わない。しかし、チップ417設けるとプローブの表面積を大きくすることができ、電位の計測対象(感光体等)によって第二梁部413の先部413bに誘起される電荷量及び発生する鏡像力の増大を図ることができる。
チップ417の形状としては、図6に示すように、逆ピラミッド形状とすることができる。逆ピラミッド形状のチップは一般的であり、作製が容易であるため、採用しやすい。また、チップ417としてコロイドプローブと呼ばれるマイクロ球(μm単位の粒子)を採用してもよい。
なお、第二梁部413の先部413bに誘起される電荷量を可能な限り大きくするため、チップ417の幅は、第二梁部413の先部413bの幅(図6中、幅L2)とほぼ同じ幅に設定することが望ましい。
カンチレバーの寸法について説明する。カンチレバー410の、支持部415の端縁からの長さ(突出長)をL1とし、支持部415の端縁に沿った方向における長さをW2とする。なお、長さL1は、支持部415の端縁と直交する方向における長さである。また、第一梁部411の幅をW1とし、第二梁部413の幅をL2とする。なお、幅W1は支持部415の端縁に沿った方向における長さであり、幅L2は支持部415の端縁と直交する方向における長さである。
カンチレバーの寸法は、L1=200〜500um、L2=50〜200um、W1=20〜50um、W2=100〜500umの範囲に設計するのが好適である。
第二梁部413の幅L2をできるだけ大きくした方が、第二梁部413のたわみ変形を第一梁部411の捩れ変形に効率的に変換できるので、好適である。しかし、必要以上に幅L2を大きくしすぎると、検出対象の鏡像力が作用しなくとも、第二梁部413の自重によりカンチレバー410全体が撓んでしまい、鏡像力の検出感度が低下するため、上記寸法範囲内に治めることが望ましい。
なお、カンチレバー410の厚さTは5um程度にするのが好適である。
上述のように、カンチレバーに誘起される電荷量を増大させるには、カンチレバーの幅L2(又はチップ417の幅)を広げればよい。
ここで、カンチレバーが他の形状となっている場合と比べる。例えば、カンチレバーが直線形状(I字形状)である場合は、カンチレバーの幅を広げることによって誘起電荷量及び鏡像力が増大する。その一方でばね定数が増大するため、カンチレバーのたわみ量が減少し、鏡像力の検出感度が低下する。結果として、鏡像力の増大と鏡像力の検出感度の増大とがトレードオフの関係となり、鏡像力計測時のSN比を高めることは困難である。
本実施形態においては、カンチレバーを概略L字形状として、カンチレバーの変形を撓み方向から捩れ方向に変換する。また、第二梁部413の幅L2を広げることによって、カンチレバーの先端(第二梁部413の先部413b)における誘起電荷量及び鏡像力を増大させる。更に、カンチレバーの第一梁部411の幅W1を狭めることにより、カンチレバーの捩れ方向におけるバネ定数を下げることができる。その結果、鏡像力の増大と鏡像力の検出感度の増大とを同時に達成することができ、鏡像力を計測する時のSN比を高めることが可能となる。
特に、第一梁部411の幅W1よりも、第二梁部413の幅L2を広くすることで、第二梁部413の先端に誘起される電荷量及び鏡像力を増大させつつ、捩れ方向におけるカンチレバー410のバネ定数を効果的に下げるので、電位検出感度を向上させることができる。
〔カンチレバーの形状:実施形態2〕
図7は、本発明の第二の実施形態に係るカンチレバーの斜視図である。カンチレバー420は、第一梁部421の長手方向に伸びる端縁の一部を欠損させた欠損部423を有する。
第一梁部421の幅方向一端側に位置する第二梁部413の先部413bに対して、欠損部423は第一梁部421の幅方向他端部に配置されている。カンチレバー420の捩れ方向におけるばね定数を低減できれば、欠損部423はどのような形状としてもよい。図7に示す欠損部423は、第一梁部421を、その長手方向に沿って所定の幅W3にて欠損させたものである。欠損部423は、第一梁部421の長手方向の何れの位置に形成してもよいが、少なくとも第一梁部421の一番狭い部分の幅W1が、第二梁部413の幅L2よりも細くなるようにし、捩れ方向におけるカンチレバー420のバネ定数を効果的に低減させるようにする。
図7に示す欠損部423は第一梁部421の一端から形成され、その長さは(L1−L2)である。このため、第一梁部421の他部421bは、第二梁部413の後端縁よりも先方向寄りの位置に連結された状態となっている。
欠損部423を設けて第一梁部421の幅W1を細くすることで、第二梁部413の先端に誘起される電荷量及び鏡像力を増大させつつ、捩れ方向におけるカンチレバー420のバネ定数を効果的に下げるので、電位検出感度を向上させることができる。
ここで欠損部423の幅W3は、「2×(W1+W3)<W2」を満たすように設定する。なお、W1、W2、L1、L2については、上述した具体的数値の範囲に収めればよい。
〔カンチレバーの形状:実施形態3〕
図8は、本発明の第三の実施形態に係るカンチレバーの斜視図である。カンチレバー430は、第一梁部431の面積内の一部を欠損させた欠損部433を有する。特に、欠損部433は、第一梁部431の面積内に形成された貫通穴である。欠損部433は、第一梁部431の長手方向に沿った長さI1、幅I2の概略矩形状であり、第一梁部431の面積内の中央部を厚さ方向に貫通している。
I1、I2は、「L2+I1<L1」、「I2<W1」を満たすように設定する。なお、W1、W2、L1、L2については、上述した具体的数値の範囲に収める。このように、第一梁部431の中央部に打ち抜いた貫通穴としての欠損部433を配置することにより、第一梁部の捩れ方向におけるバネ定数を低減させてもよい。
本実施形態においても、第一梁部431の幅W1よりも、第二梁部413の幅L2を広くすることで、捩れ方向におけるカンチレバー430のバネ定数を効果的に低減させることができるので、電位検出感度を向上させることができる。
〔カンチレバーの形状:実施形態4〕
図9は、本発明の第四の実施形態に係るカンチレバーの斜視図である。カンチレバー440は、第一梁部441の面積内の一部を欠損させた欠損部443を有する。特に、欠損部443は、第一梁部441の面積内に形成された貫通穴である。欠損部443は、第一梁部441の面積内の中央部を厚さ方向に貫通している。
欠損部443は長さI1、第一梁部441の他端側の幅I2の概略三角形状である。I1、I2は、「L2+I1<L1」、「I2<W1」を満たすように設定する。なお、W1、W2、L1、L2については、上述した具体的数値の範囲に収める。
本実施形態のように欠損部443を三角形状とする場合は、第一梁部441の捩れ変形方向に沿うように欠損部443を形成する。即ち、第一梁部441の幅方向一端側に位置する第二梁部413の先部413bに対して、欠損部443の第一辺443aを第一梁部441の幅方向他端寄りに配置する。次いで第一辺443aと直交する第二辺443bを第一梁部441の長手方向他端部441bに配置する。欠損部443の第三辺443cは、第一梁部441の長手方向他端部441bから長手方向一端部441aに向かって、第一梁部441の幅方向一端部から徐々に離間するように配置する。
このようにすることで、欠損部443を矩形状とする場合に比較して、第一梁部441の捩れ方向におけるバネ定数を効果的に低減させることができる。
また、本実施形態においても、第一梁部441の幅W1よりも、第二梁部413の幅L2を広くすることで、捩れ方向におけるカンチレバー440のバネ定数を効果的に低減させることができるので、電位検出感度を向上させることができる。
〔電位検出装置の他への応用〕
本実施形態に係る電位検出装置は、他の電子写真部材の状態検知にも適用可能である。図10は、転写ベルト502の表面電位を検出するため電位検出装置501を設けた他の画像形成装置の要部の概略構成を示す図である。図11は、帯電ローラ603の表面電位を検出するために電位検出装置601を設けた他の画像形成装置の要部の概略構成を示す図である。
このように、本実施形態の電位検出装置は、経時での表面汚染による、転写ベルトや帯電ローラの電位ムラ発生を検知する場合にも適用可能である。転写ベルトや帯電ローラの場合は、放電を用いて、長手方向に一様に電位を印加するため、長手方向の電位を補正することはできないが、適切なタイミングでユーザーに、転写ベルトや帯電ローラの交換をするようにメッセージを提示することができる。また、転写ベルトや帯電ローラ上のトナーを検知してクリーニング不良等を防止することができる。
〔本発明の実施態様と効果〕
本発明に係る電位検出装置は、以下の態様にて実施することができる。
(態様1)
態様1は、対象部材の表面電位を検出する電位検出装置(図3等)であって、一部を支持手段によって支持された第一梁部、後部適所を第一梁部の他部によって支持されると共に、第一梁部と交差する方向に伸びる第二梁部、及び第二梁部の先部と対象部材(例:感光体)との間に生じるクーロン力による第一梁部の捩れを抵抗値として出力するピエゾ抵抗体と、を備えたカンチレバー(図6〜図9)と、ピエゾ抵抗体が出力する抵抗値に基づいて対象部材の表面電位を導出する演算手段(図3)と、を備えたことを特徴とする。
一般的に、カンチレバーのバネ定数を下げることで、カンチレバーによる鏡像力の検出感度を高めることができる。カンチレバーのバネ定数を下げるために効果的な方法は、カンチレバーの幅を狭くすることである。しかし、仮にI字形状のカンチレバーの幅を狭めるとカンチレバー先端に誘起される鏡像電荷量が減少し、鏡像力の検出感度が低下することになる。
本発明に係る電位検出装置を構成するカンチレバーは、第一梁部に対して交差する方向に伸びる第二梁部を備えている。例えば、本発明の各実施形態に示したようにカンチレバーは、第二梁部が第一梁部に対して直交した概略L字形状のとすることができる。このようなカンチレバーを用いると、第二梁部の先部に電位誘起の力が作用した際に、カンチレバー全体に捩れが発生する(図6(b))。即ち、第二梁部の先部と対象部材との間に働く鏡像力によるカンチレバーの変形方向を、たわみ方向から、捩れ方向に変換することができる。このため、第二梁部の先部に誘起される鏡像電荷量及び鏡像力の増加と、鏡像力の検出感度がトレードオフの関係とならず、結果として対象部材表面の電位検出感度を向上させることができる。
(態様2)
態様2は、第一梁部421の他部421bは、第二梁部413の後端縁よりも先方向寄り(先部413b寄り)の位置に連結されていることを特徴とする(図7)。
図7に示すように、第二梁部413の先部413bは、第一梁部421の幅方向一端側に位置する。本態様では、捩れ方向におけるカンチレバーのバネ定数を効果的に下げるために、第一梁部421の幅方向他端部を第一梁部421の長手方向に沿って欠損させた欠損部423を設けた。これにより、第一梁部421の他部421bは、第二梁部413の後端縁よりも先方向寄りの位置に連結される。
(態様3)
態様3は、第一梁部の幅よりも、第二梁部413の幅の方が広いことを特徴とする。
第二梁部413の幅を広くすることで第二梁部413の先部413bに誘起される鏡像電荷量を大きくしつつ、第一梁部の幅を狭めることで捩れ方向におけるカンチレバーのバネ定数を下げるので、電位検出感度を向上させることができる。
(態様4)
態様4は、複数のカンチレバー11をアレイ状に配置したことを特徴とする(図3)。
電位検出装置10のセンサ部13が複数のカンチレバー11を備えているので、電位検出装置10の一部のカンチレバー11が破損して電位検出が不可能となっても、他のカンチレバー11により、継続的に電位検出が可能となる。
(態様5)
態様5は、第一梁部421、431、441は、第一梁部の面積内又は端縁の一部を欠損させた欠損部423、433、443を有することを特徴とする(図7〜図9)。
第一梁部421、431、441が欠損部423、433、443を備えているので、カンチレバー11の捩れ方向におけるばね定数をより効果的に低減させることができ、電位検出感度を向上させることができる。
(態様6)
態様6は、欠損部433、443(図8、図9)は、第一梁部431、441の面積内に形成された貫通穴であることを特徴とする。
「第一梁部の面積内」における「面」とは、第一梁部の幅方向(W1に沿った方向)と長手方向(L1に沿った方向)とによって規定される面のことである。第一梁部431、441は、また、この「面」と直交する厚さ方向に貫通した貫通穴としての欠損部433、443を備えたので、カンチレバー430、440の捩れ方向におけるばね定数をより効果的に低減させることができ、電位検出感度を向上させることができる。
(態様7)
態様7は、態様1乃至6の何れかに記載の電位検出装置を備えた画像形成装置を特徴とする。
電位検出装置を構成するカンチレバーの寸法はマイクロスケールであり、その他の配線や設置に関わる各機構を含めても、非常にコンパクトに設計できる。このため、電位検出装置は、画像形成装置の内部に搭載するに好適である。
本態様では、このような電位検出装置により検出された対象部材の表面電位に基づいて画像形成装置の各部の動作を制御するので、画像形成装置の画質を長期にわたり安定的に維持することができる。
1、100、200…画像形成装置、10…電位検出装置、11…カンチレバー、12…ピエゾ抵抗体、13…センサ部、14…演算部、16…支持部材、410、420、430、440…カンチレバー、411、421、431、441…第一梁部、413…第二梁部、417…チップ、423、433、443…欠損部、501…電位検出装置、502…転写ベルト、601…電位検出装置、603…帯電ローラ、700…自己検知型SPMプローブ、702…カンチレバー、704…連結部、706…支持部、712…探針(チップ)、722、724…ピエゾ抵抗体、726、728、732、734…導電層、736、738、742、744…メタルコンタクト部
特開2009−186965公報 特開2000−111563公報

Claims (7)

  1. 対象部材の表面電位を検出する電位検出装置であって、
    一部を支持手段によって支持された第一梁部、後部適所を前記第一梁部の他部によって支持されると共に、前記第一梁部と交差する方向に伸びる第二梁部、及び前記第二梁部の先部と前記対象部材との間に生じるクーロン力による前記第一梁部の捩れを抵抗値として出力するピエゾ抵抗体を備えたカンチレバーと、
    前記ピエゾ抵抗体が出力する抵抗値に基づいて前記対象部材の表面電位を導出する演算手段と、を備えたことを特徴とする電位検出装置。
  2. 前記第一梁部の他部は、前記第二梁部の後端縁よりも先方向寄りの位置に連結されていることを特徴とする請求項1に記載の電位検出装置。
  3. 前記第一梁部の幅よりも、前記第二梁部の幅の方が広いことを特徴とする請求項1又は2に記載の電位検出装置。
  4. 複数の前記カンチレバーをアレイ状に配置したことを特徴とする請求項1乃至3の何れか一項に記載の電位検出装置。
  5. 前記第一梁部は、該第一梁部の面積内又は端縁の一部を欠損させた欠損部を有することを特徴とする請求項1乃至4の何れか一項に記載の電位検出装置。
  6. 前記欠損部は、前記第一梁部の面積内に形成された貫通穴であることを特徴とする請求項5に記載の電位検出装置。
  7. 請求項1乃至6の何れか一項に記載の電位検出装置を備えたことを特徴とする画像形成装置。
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