JP6253075B2 - プローブアレイ - Google Patents

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本発明は、プローブアレイに関し、特に、点又は線収束音響レンズを配列させたプローブアレイに関するものである。
超音波マルチプローブを使った医療用のエコー装置や産業用のプローブアレイの超音波映像装置がある。一般に超音波探傷では欠陥からの反射波形の時系列データにおいて時刻tにおける反射強度が周囲からのそれと異なることを利用して深さ方向、プローブを水平走査することで水平方向の位置決定を行う。プローブアレイでも画像化の基本は反射強度を得ることであり、分布を画像化する。
プローブアレイ装置は、ピエゾエレメントを1次元または2次元に配列しており、それぞれ発振タイミングをプログラミングできるので、試験体の内部の任意の場所で焦点を結ばせ走査することが出来る。焦点からの反射強度は受信エレメントの受信波形をタイミングをずらして和をとることで得ることが出来る。直線的または扇状に焦点走査し、反射強度を得たものがリニアスキャンやセクタスキャンと呼ばれるものである(特許文献1参照)。図1に示すように、リニアスキャンでは、大きなプローブアレイを用い、5、6通りの深さを決めて、水平方向に焦点を走査して得た時系列波形を繋ぎ合わせてX−Z断面画像を構成する。また、セクタスキャンでは、焦点距離を5、6通り決めて、円弧状に焦点を走査して得た時系列波形を繋ぎ合わせて画像を構成する。これらの方法では焦点距離近傍を外れた部分の画像はぼけている。
これらに対して実際に焦点を結ばなくても、仮想焦点からの各エレメントへの距離にあわせて受信波形のタイミングを調整し仮想焦点の反射強度を得、これを走査することで画像を再構成するのが図2に示す開口合成である(特許文献2参照)。欠陥からの反射はピークとなって受信波形に現れるので、受信時刻からエレメントからの距離がわかる。各エレメントからの距離がわかれば、コンパスで作図して交点を求めるように欠陥の場所が特定できる。
波動データからの画像再構成の例として、試料の上からUTプローブアレイを走査する図3に示す系において、全エレメントが同時発振するとき、エレメントの出力w(t,x)と試料内部の欠陥分布ρ(x,z)の間には式(1)の関係がある。h(t,x,z)はプローブの応答関数であり式(2)のようになる。f(t)は発振波形であり、cは音速である。
Figure 0006253075
Figure 0006253075
ここで、試験体内部の点(x3,z3)からの反射強度ρ(x3,z3)を各エレメントについて点との距離を計算し、その時刻の反射強度の和をとったものが開口合成法であり式(3)のようになる。
Figure 0006253075
また、式(1)の関係はフーリエ変換することで式(4)のように簡単になり、この連立方程式(3)を解くことで試料内部の欠陥分布が計算できる。これが逆解析である。ここで、W(t,X)、P(X,z)、H(t,X,z)はそれぞれw(t,x)、ρ(x,z)、h(t,x,z)のフーリエ変換である。
Figure 0006253075
実焦点を結ぶ場合も、仮想焦点を結ぶ場合もエレメントから試験体内部の点への距離を計算し、その伝播時間から発振タイミングや、受信波の合成タイミングを決めている。
特開2007−327747号公報 特許第5083859号公報
図4に示したプローブアレイを用いて大深度の欠陥探傷を行う場合、近距離音場限界の条件(L=D2/4λ、L:深さ、D:開口径)により開口径Dを大きくしなければならない。さらにch数が少なければ音波強度を確保するためエレメント幅を大きくする必要がある。水浸法で5MHzのプローブアレイを用いセラミックス(窒化ケイ素の場合、12,000m/s音速)中の100mm深さの欠陥を探傷する場合、水中におけるプローブの探傷可能距離はセラミックス中におけるそれの8倍必要であるので、少なくとも800mm先に焦点を結ぶ必要がある。開口径Dは少なくとも31mm以上にする必要がある。エレメント間隔が半波長以上になるとサイドローブやグレーティングローブが発生するので、水浸の場合0.15mm以下にするのが望ましいが、製作が難しく、音響放射強度を稼ぐ、ch数が多く取れないなどのためにエレメント間隔は大きくなり実際には1mm以上であることも多い。
これらのプローブアレイを用いて探傷を行う場合、実焦点を結ばせるリニアスキャンやセクタスキャンにしても、仮想焦点を結ばせる開口合成にしても発振タイミングや受信波形の和を計算するさいの受信タイミングの計算では、エレメントを幅0の線音源または点音源として実焦点/仮想焦点と各エレメントとの間の距離を計算しているが、図5に示すように実際は点又は線音源ではない。このことで図4に示すように、現実の系ではエレメントの幅は有限幅なので計算誤差は再構成画像に分解能の低下となって現れる。エレメント位置(x,0)と試験体内部の点の位置(X,Z)の間の距離Lは、式(5)のようになる。また、エレメント幅Δxと試験体の内部の点の精度(ΔX,ΔY)の関係は式(6)のようになる。
Figure 0006253075
Figure 0006253075
ΔL/LはAD変換の精度で決まるのでほぼ一定と考えると、式(6)からLが大きくなるとつまり試験体のエレメントと点の距離が増大するにつれて誤差Δx、ΔX、ΔZが増大することがわかる。他方、エレメントの有限幅Δxの誤差に対して計算される試験体内部の点のx座標の精度もΔX=Δxであること、つまりエレメントの有限幅はそのまま水平分解能に影響するということ、z座標の精度はΔZ=(X−x)/ZΔxとなる、つまり深ければ深いほど分解能がよくなることを示している。図6,7,8はそれぞれ、図6は64mm×128mmの2次元試験体であり、その内部に開口径64mmのプローブアレイで、5MHzの超音波パルスを加え50MHzでサンプリングした場合において、図7が、エレメント幅1.5mmのプローブを用いて内部を開口合成で可視化したときの画像、図8が、エレメント幅0.3mmのプローブを用いて内部を開口合成したときの画像である。エレメント幅が大きくなると得られる再構成欠陥画像が水平方向に大きくなっていることがわかる。
上記課題を解決するために、プローブアレイのエレメントに点または線収束レンズを装着することで、試料表面に点又は線音源を配置したことと同等になり、画像再構成のための入力データの質が向上し、計算精度の再構成画像の誤差やボケとなって画質の劣化を軽減することが出来る。
すなわち、本発明は、音波又は超音波を発信する複数のエレメントを備えたプローブアレイであって、前記各エレメントに点又は線収束音響レンズを装着し、各エレメントが発する超音波を試料表面に点又は線収束させるようにしたことを特徴とする。
また、本発明は前記プローブアレイにおいて、前記点又は線収束音響レンズはロッド付き音響レンズであって、当該ロッド付き音響レンズにより、音響レンズ直下の点又は線から放出される波動以外の反射波動を除くようにしたことを特徴とする。
また、本発明は、音波又は超音波を発信する複数のエレメントを備えたプローブアレイであって、前記各エレメントに点又は線収束音響レンズを装着し、各エレメントが発する超音波を仮想平面上に点又は線収束させ、前記仮想平面上に点又は線収束音源を配置したプローブアレイと等価としたことを特徴とする。
また、本発明は、音波又は超音波を発信する複数のエレメントを備えたプローブアレイであって、前記各エレメントに点又は線収束音響レンズを装着し、各エレメントが発する超音波を仮想曲面に点又は線収束させ、前記仮想曲面上に点又は線収束音源を配置したプローブアレイと等価としたことを特徴とする。
また、本発明は前記プローブアレイを用いて画像再構成を行う方法であって、得られた波動データは、前記点又は線収束音響レンズで収束させた点又は線に置いた点又は線音源からの波動データとして解析することを特徴とする画像再構成方法。
本発明では、試料表面のスポットサイズは波長オーダーの点又は線音源として試料内部に音波を放射するので、ピエゾエレメントの有限幅のように、水平方向位置の誤差を最小限にすることが出来る。
また、本発明によれば、各エレメントはサファイアガラスやアルミなどのロッド付音響レンズを経由して音波を放射する場合、その長さを十分にとれば直下の試験体表面で収束した反射波動のみを受信することが出来る。なぜならば、音響レンズ直下の点又は線を通過しない波動はピエゾエレメントに戻らないことに留意することが重要となる。
また、本発明によれば、曲面を有する試験体においてもプローブアレイの形状を曲面上にしたり、音響レンズの出入りを調整することで試験体表面に焦点を結ばせることは可能である。
また、試料表面で焦点を結ばなくても本発明は有効である。例えばプローブアレイの音波放射面が平面である場合は、図11に示すように仮想平面上に点または線音源を有するプローブであると考えられるので、音波の送受信のタイミングを変えることで、曲面の試験体中に高品質の焦点を結ぶことが出来、リニアスキャンやセクタスキャンでも良好な結果を得ることが出来る。このことは図12に示すようにプローブ面が凸面の場合でも仮想曲面上にそれぞれ点または線音源を持つ凸面と考えることが出来る。
従来の実焦点を結ぶ走査法であるリニアスキャンおよびセクタスキャンによる画像再構成を説明した図である。 従来の仮想焦点を結ぶ画像再構成を説明した図である。 従来の画像再構成における試験体とプローブアレイの関係を示した図である。 従来技術の問題点を説明するためのプローブアレイと試験片の関係を示した図である。 図4の一部を拡大した図であり、有限幅のエレメントから発信される波動を説明した図である。 64mm×128mmの数値モデルを示した図である。 図6の数値モデルに対して5MHzの超音波を適用し50MHzでサンプリングしたデータに対して1.5mm幅のエレメントで取得したデータで開口合成した画像を示した図である。 図6の数値モデルに対して5MHzの超音波を適用し50MHzでサンプリングしたデータに対して0.3mm幅のエレメントで取得したデータで開口合成した画像を示した図である。 本発明の点又は線収束音響レンズを配置したプローブアレイの一例を示す図である。 本発明のロッド付点又は線収束音響レンズによって焦点を通過しない反射波がエレメントに戻らない一例を示す図である。 本発明のプローブアレイは、仮想平面上に点または線音源を有するプローブアレイとみなせるので、試験体が曲面である場合は各エレメントの遅延時間を個別に設定することで対応可能であることを示す図である。 本発明のプローブアレイは、凸面プローブアレイでは仮想曲面上に点または線音源を有する曲面プローブアレイとみなせることを示す図である。
図9に本発明のプローブアレイを示す。本発明では、図9に示すようにプローブアレイの各エレメントに点又は線集束音響レンズを配置し試料から若干離すことにより試料表面で焦点を結ぶ構成としたから、音源試料表面に点又は線音源を配置したことと同等になり、画像再構成のための入力データの質が向上する。このため、試料表面のスポットサイズは波長オーダーの点又は線音源として試料内部に音波を放射するので、従来のように発振タイミングや受信波形の和を計算するさいの受信タイミングの計算で、エレメントを幅0の線音源または点音源として実焦点/仮想焦点と各エレメントとの間の距離を計算しても影響がない。従来では、実焦点を結ばせるリニアスキャンやセクタスキャンにしても、仮想焦点を結ばせる開口合成にしても発振タイミングや受信波形の和を計算するさいの受信タイミングの計算では、エレメントを幅0の線音源または点音源として実焦点/仮想焦点と各エレメントとの間の距離を計算しているため、現実の系におけるエレメントの幅は有限幅なので計算誤差は再構成画像に分解能の低下となって現れていた。本発明では、試料表面で焦点を結ばせて試料表面に点又は線音源を配置したことと同等にするため、ピエゾエレメントの有限幅の影響による、水平方向位置の誤差を最小限にすることが出来、従来の有限幅のエレメントから発信される波動を用いた際の計算精度の再構成画像の誤差やボケによる画質の劣化を軽減するものである。
また、各エレメントにサファイアガラスやアルミなどのロッド付音響レンズを経由して音波を放射する場合、その長さを十分にとれば直下の試験体表面で収束した反射波動のみを受信することが出来る。これは、図10に示すように、長さを十分にとることにより音響レンズ直下の点又は線を通過しない波動はピエゾエレメントに戻らないようにできるからである。
また、本発明は、曲面を有する試験体においても対応でき、プローブアレイの形状を曲面状にしたり、音響レンズの出入りを調整することで曲面を有する試験体表面に焦点を結ばせることができる。
また、試料表面で焦点を結ばなくても本発明は有効である。例えばプローブアレイの音波放射面が平面である場合は、図11に示すように各エレメントに点又は線収束音響レンズを装着し各エレメントが発する超音波を仮想平面上に点又は線収束させるようにすれば、仮想平面上に点または線音源を有するプローブアレイと等価であると考えられるので、音波の送受信のタイミングを変えることで、曲面の試験体中に高品質の焦点を結ぶことが出来、リニアスキャンやセクタスキャンでも良好な結果を得ることが出来る。
このことは図12に示すようにプローブアレイの音波放射面が曲面の場合でも、各エレメントに点又は線収束音響レンズを装着し各エレメントが発する超音波を仮想曲面上に点又は線収束させるようにすれば、仮想曲面上に点または線音源を有する曲面プローブアレイと等価であると考えることが出来る。
本発明のプローブアレイは、橋梁の溶接検査装置、原子力施設の亀裂検査装置、宇宙航空ロケットのスカートの内部欠陥検査、セラミックス大型部材の大深部欠陥検査装置などの産業用のプローブアレイのみならず、医療用のエコー装置などのプローブアレイとしても用いることができる。

Claims (2)

  1. プローブ面から音波又は超音波を発信する複数のエレメントを備えたプローブアレイであって、
    記エレメントの各々に点又は線収束音響レンズを装着し発せられる超音波を平面又は曲面からなる仮想面に点又は線収束させるように前記仮想面から離して前記エレメントを配置し、点又は線収束音源を配置した前記仮想面を前記プローブ面として有することを特徴とするプローブアレイ。
  2. 記点又は線収束音響レンズはロッド付き音響レンズであって、前記音響レンズ直下の収束させた前記仮想面の点又は線から放出される波動以外の反射波動を除いて受信するようにしたことを特徴とする請求項に記載のプローブアレイ。







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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6014643B2 (ja) * 2014-10-15 2016-10-25 株式会社日立製作所 超音波診断装置
CN111608644B (zh) * 2020-05-06 2021-09-03 中国科学院武汉岩土力学研究所 一种阵列式声波扫描的高精度钻孔成像方法及装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58142254A (ja) * 1982-02-19 1983-08-24 Nippon Steel Corp 超音波探傷方法
JPS58146338A (ja) * 1982-02-24 1983-08-31 株式会社東芝 超音波診断装置
JPS62130351A (ja) * 1985-12-02 1987-06-12 Olympus Optical Co Ltd 超音波顕微鏡用音響レンズ
JPH04348276A (ja) * 1991-05-27 1992-12-03 Hitachi Ltd はんだ付部検査方法およびその装置
JPH09178716A (ja) * 1995-12-22 1997-07-11 Hitachi Constr Mach Co Ltd 超音波プローブ用レンズ及びその取りはずし方法
JP4017934B2 (ja) * 2002-06-20 2007-12-05 株式会社トーメーコーポレーション 超音波探触子
PT2152167T (pt) * 2007-05-07 2018-12-10 Guided Therapy Systems Llc Métodos e sistemas para acoplamento e focagem de energia acústica utilizando um componente acoplador
JP5402046B2 (ja) * 2008-02-20 2014-01-29 Jfeスチール株式会社 超音波計測装置及び超音波計測方法

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