JP6246535B2 - Resin, resist composition and method for producing resist pattern - Google Patents

Resin, resist composition and method for producing resist pattern Download PDF

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Description

本発明は、樹脂、該樹脂を含むレジスト組成物及び該レジスト組成物を用いるレジストパターンの製造方法等に関する。   The present invention relates to a resin, a resist composition containing the resin, a method for producing a resist pattern using the resist composition, and the like.

特許文献1には、下記構造単位の組合せからなる樹脂及び酸発生剤としてビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウム ノナフルオロブタンスルホネートを用いたレジスト組成物が記載されている。   Patent Document 1 describes a resist composition using a resin composed of a combination of the following structural units and bis (4-t-butylphenyl) iodonium nonafluorobutanesulfonate as an acid generator.

特許文献2には、下記構造単位の組合せからなる樹脂及び酸発生剤として式(B1−2)で表される塩を用いたレジスト組成物が記載されている。   Patent Document 2 describes a resist composition using a resin composed of a combination of the following structural units and a salt represented by the formula (B1-2) as an acid generator.

また、レジスト組成物から、フォトリソグラフィによりレジストパターンを形成する際、アルカリ現像液で現像するとポジ型レジストパターンが得られ、有機溶剤で現像するとネガ型レジストパターンが得られることが知られている(非特許文献1)。   Further, it is known that when a resist pattern is formed from a resist composition by photolithography, a positive resist pattern is obtained when developed with an alkaline developer, and a negative resist pattern is obtained when developed with an organic solvent ( Non-patent document 1).

特開2002−62657号公報JP 2002-62657 A 特開2010−134445号公報JP 2010-134445 A

テクノタイムズ社発行 月刊ディスプレイ ’11 6月号 p.31Published by Techno Times Inc. Monthly Display '11 June p. 31

従来のレジスト組成物によって形成されたネガ型レジストパターンでは、形状が必ずしも満足できない場合があった。   A negative resist pattern formed from a conventional resist composition may not always have a satisfactory shape.

本発明は、以下の発明を含む。
〔1〕式(I)で表される構造単位及び酸不安定基を有する構造単位を含む樹脂とを含有するレジスト組成物。
The present invention includes the following inventions.
[1] A resist composition comprising a structural unit represented by formula (I) and a resin containing a structural unit having an acid labile group.

[式(I)中、
1は、ハロゲン原子を有してもよい炭素数1〜6のアルキル基、水素原子又はハロゲン原子を表す。
1は、炭素数1〜18の2価の飽和炭化水素基を表し、該飽和炭化水素基に含まれる少なくとも1つのメチレン基は、酸素原子又はカルボニル基に置き換わっており、該飽和炭化水素基に含まれる水素原子は、ヒドロキシ基で置換されていてもよい。
2は、炭素数1〜6のアルキル基を表す。
mは0〜5の整数を表し、mが2以上のとき、複数のR2は同一又は相異なる。]
〔2〕式(I)のL1が、式(L1−1’)で表される基である〔1〕記載のレジスト組成物。
[In the formula (I),
R 1 represents an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms which may have a halogen atom, a hydrogen atom or a halogen atom.
L 1 represents a divalent saturated hydrocarbon group having 1 to 18 carbon atoms, and at least one methylene group contained in the saturated hydrocarbon group is replaced with an oxygen atom or a carbonyl group, and the saturated hydrocarbon group The hydrogen atom contained in may be substituted with a hydroxy group.
R 2 represents an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms.
m represents an integer of 0 to 5, and when m is 2 or more, the plurality of R 2 are the same or different. ]
[2] The resist composition according to [1], wherein L 1 in formula (I) is a group represented by formula (L1-1 ′).

[式(L1−1’)中、
x1は、カルボニルオキシ基又はオキシカルボニル基を表す。
x1'は、炭素数1〜16の2価の鎖式飽和炭化水素基、炭素数3〜16の2価の脂環式飽和炭化水素基又はそれらを組み合わせることにより形成される基を表す。
x2は、単結合又は炭素数1〜15の2価の鎖式飽和炭化水素基を表す。
ただし、Lx1'及びLx2の合計炭素数は、16以下である。
*は酸素原子との結合手を表す。]
〔3〕式(L1−1’)で表される基が、式(L1−1)で表される基である〔2〕記載のレジスト組成物。
[In the formula (L1-1 ′),
X x1 represents a carbonyloxy group or an oxycarbonyl group.
L x1 ′ represents a divalent chain saturated hydrocarbon group having 1 to 16 carbon atoms, a divalent alicyclic saturated hydrocarbon group having 3 to 16 carbon atoms, or a group formed by combining them.
L x2 represents a single bond or a divalent chain saturated hydrocarbon group having 1 to 15 carbon atoms.
However, the total carbon number of L x1 ′ and L x2 is 16 or less.
* Represents a bond with an oxygen atom. ]
[3] The resist composition according to [2], wherein the group represented by the formula (L1-1 ′) is a group represented by the formula (L1-1).

[式(L1−1)中、
x1及びLx2は、上記と同様の基を表す。
x1は、炭素数1〜16の2価の鎖式飽和炭化水素基を表す。
ただし、Lx1及びLx2の合計炭素数は、16以下である。
*は酸素原子との結合手を表す。]
〔4〕式(I)のL1が、式(L1−4)で表される基である〔1〕記載のレジスト組成物。
[In the formula (L1-1),
X x1 and L x2 represent the same groups as described above.
L x1 represents a divalent chain saturated hydrocarbon group having 1 to 16 carbon atoms.
However, the total carbon number of L x1 and L x2 is 16 or less.
* Represents a bond with an oxygen atom. ]
[4] The resist composition according to [1], wherein L 1 in formula (I) is a group represented by formula (L1-4).

[式(L1−4)中、
x3は、カルボニルオキシ基又はオキシカルボニル基を表す。
x8及びLx9は、単結合又は炭素数1〜12の2価の鎖式飽和炭化水素基を表す。
x1は、炭素数3〜15の2価の脂環式飽和炭化水素基を表す。
ただし、Lx8、Lx9及びWx1の合計炭素数は、15以下である。
*は酸素原子との結合手を表す。]
〔5〕(1)〔1〕〜〔4〕のいずれかに記載のレジスト組成物を基板上に塗布する工程、
(2)塗布後の組成物を乾燥させて組成物層を形成する工程、
(3)組成物層を露光する工程、
(4)露光後の組成物層を加熱する工程、及び
(5)加熱後の組成物層を現像する工程、
を含むレジストパターンの製造方法。
[In the formula (L1-4),
X x3 represents a carbonyloxy group or an oxycarbonyl group.
L x8 and L x9 represent a single bond or a divalent chain saturated hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms.
W x1 represents a divalent alicyclic saturated hydrocarbon group having 3 to 15 carbon atoms.
However, the total carbon number of L x8 , L x9 and W x1 is 15 or less.
* Represents a bond with an oxygen atom. ]
[5] (1) A step of applying the resist composition according to any one of [1] to [4] on a substrate,
(2) The process of drying the composition after application | coating and forming a composition layer,
(3) a step of exposing the composition layer,
(4) a step of heating the composition layer after exposure, and (5) a step of developing the composition layer after heating,
A method for producing a resist pattern including:

本発明のレジスト組成物によれば、形状が良好なネガ型レジストパターンを製造することができる。   According to the resist composition of the present invention, a negative resist pattern having a good shape can be produced.

図1は、ラインアンドスペースパターンの断面形状の分類を表す図である。FIG. 1 is a diagram illustrating classification of cross-sectional shapes of line and space patterns.

また、本明細書において「(メタ)アクリレート」とは、それぞれ「アクリレート及びメタクリレートの少なくとも一種」を意味する。「(メタ)アクリル酸」や「(メタ)アクリロイル」等の表記も、同様の意味を有する。   In the present specification, “(meth) acrylate” means “at least one of acrylate and methacrylate”. The notations such as “(meth) acrylic acid” and “(meth) acryloyl” have the same meaning.

〈レジスト組成物〉
本発明のレジスト組成物は、樹脂(A)及び酸発生剤(B)を含有する。
<Resist composition>
The resist composition of the present invention contains a resin (A) and an acid generator (B).

<樹脂(A)>
樹脂(A)は、式(I)で表される構造単位(以下「構造単位(I)」という場合がある。)と、酸不安定基を有する構造単位を含む。構造単位(I)と、酸不安定基を有する構造単位を含むため、形状が良好なネガ型レジストパターンを製造できる。
<Resin (A)>
The resin (A) includes a structural unit represented by the formula (I) (hereinafter sometimes referred to as “structural unit (I)”) and a structural unit having an acid labile group. Since the structural unit (I) and the structural unit having an acid labile group are included, a negative resist pattern having a good shape can be produced.

〈式(I)で表される構造単位〉
構造単位(I)は、式(I)で表される。
<Structural unit represented by formula (I)>
The structural unit (I) is represented by the formula (I).

[式(I)中、
1は、ハロゲン原子を有してもよい炭素数1〜6のアルキル基、水素原子又はハロゲン原子を表す。
1は、炭素数1〜18の2価の飽和炭化水素基を表し、該飽和炭化水素基に含まれる少なくとも1つのメチレン基は、酸素原子又はカルボニル基に置き換わっており、該飽和炭化水素基に含まれる水素原子は、ヒドロキシ基で置換されていてもよい。
2は、炭素数1〜6のアルキル基を表す。
mは0〜5の整数を表し、mが2以上のとき、複数のR2は同一又は相異なる。]
[In the formula (I),
R 1 represents an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms which may have a halogen atom, a hydrogen atom or a halogen atom.
L 1 represents a divalent saturated hydrocarbon group having 1 to 18 carbon atoms, and at least one methylene group contained in the saturated hydrocarbon group is replaced with an oxygen atom or a carbonyl group, and the saturated hydrocarbon group The hydrogen atom contained in may be substituted with a hydroxy group.
R 2 represents an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms.
m represents an integer of 0 to 5, and when m is 2 or more, the plurality of R 2 are the same or different. ]

1のハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子及びヨウ素原子が挙げられる。
1のアルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、n−ペンチル基及びn−ヘキシル基等が挙げられ、好ましくは炭素数1〜4のアルキル基であり、より好ましくはメチル基又はエチル基である。
1のハロゲン原子を有するアルキル基としては、例えば、トリフルオロメチル基、ペルフルオロエチル基、ペルフルオロプロピル基、ペルフルオロイソプロピル基、ペルフルオロブチル基、ペルフルオロsec−ブチル基、ペルフルオロtert−ブチル基、ペルフルオロペンチル基、ペルフルオロヘキシル基、トリクロロメチル基、トリブロモメチル基及びトリヨードメチル基等が挙げられる。
1は、好ましくは、水素原子又は炭素数1〜4のアルキル基であり、より好ましくは、水素原子、メチル基又はエチル基であり、さらに好ましくは、水素原子又はメチル基である。
Examples of the halogen atom for R 1 include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom.
Examples of the alkyl group for R 1 include methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, sec-butyl group, tert-butyl group, n-pentyl group, and n-hexyl group. Preferably, it is a C1-C4 alkyl group, More preferably, it is a methyl group or an ethyl group.
Examples of the alkyl group having a halogen atom for R 1 include a trifluoromethyl group, a perfluoroethyl group, a perfluoropropyl group, a perfluoroisopropyl group, a perfluorobutyl group, a perfluorosec-butyl group, a perfluorotert-butyl group, and a perfluoropentyl group. Perfluorohexyl group, trichloromethyl group, tribromomethyl group, triiodomethyl group and the like.
R 1 is preferably a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, more preferably a hydrogen atom, a methyl group or an ethyl group, and still more preferably a hydrogen atom or a methyl group.

1の炭素数1〜18の2価の飽和炭化水素基としては、式(L1−1’)、(L1−2)〜式(L1−5)のいずれかで表される基が挙げられる。下記式中、*は酸素原子との結合手を表す。 Examples of the divalent saturated hydrocarbon group having 1 to 18 carbon atoms of L 1 include groups represented by any of formulas (L1-1 ′) and (L1-2) to formula (L1-5). . In the following formula, * represents a bond with an oxygen atom.

式(L1−1’)中、
x1は、カルボニルオキシ基又はオキシカルボニル基を表す。
x1'は、炭素数1〜16の2価の鎖式飽和炭化水素基、炭素数3〜16の2価の脂環式飽和炭化水素基又はそれらを組合せることにより形成される基を表す。
x2は、単結合又は炭素数1〜15の2価の鎖式飽和炭化水素基を表す。
ただし、Lx1'及びLx2の合計炭素数は、16以下である。
式(L1−2)中、
x3は、炭素数1〜17の2価の鎖式飽和炭化水素基を表す。
x4は、単結合又は炭素数1〜16の2価の鎖式飽和炭化水素基を表す。
ただし、Lx3及びLx4の合計炭素数は、17以下である。
式(L1−3)中、
x2は、カルボニルオキシ基又はオキシカルボニル基を表す。
x5は、炭素数1〜15の2価の鎖式飽和炭化水素基を表す。
x6及びLx7は、それぞれ独立に、単結合又は炭素数1〜14の2価の鎖式飽和炭化水素基を表す。
ただし、Lx5、Lx6及びLx7の合計炭素数は、15以下である。
式(L1−4)中、
x3は、カルボニルオキシ基又はオキシカルボニル基を表す。
x8及びLx9は、単結合又は炭素数1〜12の2価の鎖式飽和炭化水素基を表す。
x1は、炭素数3〜15の2価の脂環式飽和炭化水素基を表す。
ただし、Lx8、Lx9及びWx1の合計炭素数は、15以下である。
式(L1−5)中、
x4は、カルボニルオキシ基又はオキシカルボニル基を表す。
x10は、単結合又は炭素数1〜13の2価の鎖式飽和炭化水素基を表す。
x2は、炭素数3〜16の2価の脂環式飽和炭化水素基を表す。
ただし、Lx10及びWx2の合計炭素数は、16以下である。
In formula (L1-1 ′),
X x1 represents a carbonyloxy group or an oxycarbonyl group.
L x1 ′ represents a divalent chain saturated hydrocarbon group having 1 to 16 carbon atoms, a divalent alicyclic saturated hydrocarbon group having 3 to 16 carbon atoms, or a group formed by combining them. .
L x2 represents a single bond or a divalent chain saturated hydrocarbon group having 1 to 15 carbon atoms.
However, the total carbon number of L x1 ′ and L x2 is 16 or less.
In formula (L1-2),
L x3 represents a divalent chain saturated hydrocarbon group having 1 to 17 carbon atoms.
L x4 represents a single bond or a divalent chain saturated hydrocarbon group having 1 to 16 carbon atoms.
However, the total carbon number of L x3 and L x4 is 17 or less.
In formula (L1-3),
X x2 represents a carbonyloxy group or an oxycarbonyl group.
L x5 represents a divalent chain saturated hydrocarbon group having 1 to 15 carbon atoms.
L x6 and L x7 each independently represent a single bond or a divalent chain saturated hydrocarbon group having 1 to 14 carbon atoms.
However, the total carbon number of L x5 , L x6 and L x7 is 15 or less.
In formula (L1-4),
X x3 represents a carbonyloxy group or an oxycarbonyl group.
L x8 and L x9 represent a single bond or a divalent chain saturated hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms.
W x1 represents a divalent alicyclic saturated hydrocarbon group having 3 to 15 carbon atoms.
However, the total carbon number of L x8 , L x9 and W x1 is 15 or less.
In formula (L1-5),
X x4 represents a carbonyloxy group or an oxycarbonyl group.
L x10 represents a single bond or a divalent chain saturated hydrocarbon group having 1 to 13 carbon atoms.
W x2 represents a divalent alicyclic saturated hydrocarbon group having 3 to 16 carbon atoms.
However, the total carbon number of L x10 and W x2 is 16 or less.

式(L1−1’)で表される基は、式(L1−1)で表される基であることが好ましい。   The group represented by the formula (L1-1 ′) is preferably a group represented by the formula (L1-1).

[式(L1−1)中、
x1及びLx2は、式(L1−1’)中のXx1及びLx2と同様の意味を表す。
x1は、炭素数1〜16の2価の鎖式飽和炭化水素基を表す。
ただし、Lx1及びLx2の合計炭素数は、16以下である。
*は酸素原子との結合手を表す。]
[In the formula (L1-1),
X x1 and L x2 represent the same meaning as X x1 and L x2 in the formula (L1-1 ').
L x1 represents a divalent chain saturated hydrocarbon group having 1 to 16 carbon atoms.
However, the total carbon number of L x1 and L x2 is 16 or less.
* Represents a bond with an oxygen atom. ]

x1'は、好ましくは、炭素数1〜8の2価の鎖式飽和炭化水素基、炭素数3〜12の2価の脂環式飽和炭化水素基、より好ましくは、メチレン基、エチレン基、又はアダマンタンジイルビスメチレン基である。
x1は、好ましくは、炭素数1〜8の2価の鎖式飽和炭化水素基であり、より好ましくは、メチレン基又はエチレン基である。
x2は、好ましくは、単結合又は炭素数1〜8の2価の鎖式飽和炭化水素基、より好ましくは、単結合である。
x3は、好ましくは、炭素数1〜8の2価の鎖式飽和炭化水素基である。
x4は、好ましくは、単結合又は炭素数1〜8の2価の鎖式飽和炭化水素基である。
x5は、好ましくは、炭素数1〜8の2価の鎖式飽和炭化水素基、より好ましくは、メチレン基又はエチレン基である。
x6は、好ましくは、単結合又は炭素数1〜8の2価の鎖式飽和炭化水素基、より好ましくは、メチレン基又はエチレン基である。
x7は、好ましくは、単結合又は炭素数1〜8の2価の鎖式飽和炭化水素基である。
x8は、好ましくは、単結合又は炭素数1〜8の2価の鎖式飽和炭化水素基、より好ましくは、単結合又はメチレン基である。
x9は、好ましくは、単結合又は炭素数1〜8の2価の鎖式飽和炭化水素基、より好ましくは、単結合、メチレン基又はエチレン基である。
x1は、好ましくは、炭素数3〜10の2価の脂環式飽和炭化水素基、より好ましくは、シクロヘキサンジイル基又はアダマンタンジイル基である。
x10は、好ましくは、単結合又は炭素数1〜8の2価の鎖式飽和炭化水素基、より好ましくは、単結合又はメチレン基である。
x2は、好ましくは、炭素数3〜10の2価の脂環式飽和炭化水素基、より好ましくは、シクロヘキサンジイル基又はアダマンタンジイル基である。
L x1 ′ is preferably a divalent chain saturated hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms, a divalent alicyclic saturated hydrocarbon group having 3 to 12 carbon atoms, more preferably a methylene group or an ethylene group. Or an adamantanediyl bismethylene group.
L x1 is preferably a C 1-8 divalent chain saturated hydrocarbon group, more preferably a methylene group or an ethylene group.
L x2 is preferably a single bond or a divalent chain saturated hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms, more preferably a single bond.
L x3 is preferably a divalent chain saturated hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms.
L x4 is preferably a single bond or a divalent chain saturated hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms.
L x5 is preferably a divalent chain saturated hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms, more preferably a methylene group or an ethylene group.
L x6 is preferably a single bond or a divalent chain saturated hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms, more preferably a methylene group or an ethylene group.
L x7 is preferably a single bond or a divalent chain saturated hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms.
L x8 is preferably a single bond or a divalent chain saturated hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms, more preferably a single bond or a methylene group.
L x9 is preferably a single bond or a divalent chain saturated hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms, more preferably a single bond, a methylene group or an ethylene group.
W x1 is preferably a divalent alicyclic saturated hydrocarbon group having 3 to 10 carbon atoms, more preferably a cyclohexanediyl group or an adamantanediyl group.
L x10 is preferably a single bond or a divalent chain saturated hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms, more preferably a single bond or a methylene group.
W x2 is preferably a C 3-10 divalent alicyclic saturated hydrocarbon group, more preferably a cyclohexanediyl group or an adamantanediyl group.

式(L1−1)で表される基としては、例えば、以下に示す2価の基が挙げられる。   As group represented by a formula (L1-1), the bivalent group shown below is mentioned, for example.

式(L1−2)で表される基としては、例えば、以下に示す2価の基が挙げられる。   As group represented by a formula (L1-2), the bivalent group shown below is mentioned, for example.

式(L1−3)で表される基としては、例えば、以下に示す2価の基が挙げられる。   As group represented by a formula (L1-3), the bivalent group shown below is mentioned, for example.

式(L1−4)で表される基としては、例えば、以下に示す2価の基が挙げられる。   As group represented by a formula (L1-4), the bivalent group shown below is mentioned, for example.

式(L1−5)で表される基としては、例えば、以下に示す2価の基が挙げられる。   As group represented by a formula (L1-5), the bivalent group shown below is mentioned, for example.

1は、好ましくは、式(L1−1)、式(L1−4)又は式(L1−5)のいずれかで表される基であり、より好ましくは、式(L1−1)又は式(L1−4)で表される基であり、さらに好ましくは、*−CH2−CH2−O−CO−、*−Ad−O−CH2−CH2−O−CO−又は*−CH2−Ad−CH2−O−CO−(*は、酸素原子との結合手を表す。Adはアダマンタンジイル基を表す。)である。 L 1 is preferably a group represented by any one of formula (L1-1), formula (L1-4) or formula (L1-5), more preferably formula (L1-1) or formula a group represented by (L1-4), more preferably, * - CH 2 -CH 2 -O -CO -, * - Ad-O-CH 2 -CH 2 -O-CO- or * -CH 2 -Ad-CH 2 -O-CO- (* represents a bond with an oxygen atom. Ad represents an adamantanediyl group).

2のアルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、n−ペンチル基及びn−ヘキシル基等が挙げられ、好ましくは炭素数1〜4のアルキル基であり、より好ましくはメチル基又はエチル基である。
mは、好ましくは0〜4、より好ましくは0〜2である。
Examples of the alkyl group for R 2 include a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an isopropyl group, an n-butyl group, a sec-butyl group, a tert-butyl group, an n-pentyl group, and an n-hexyl group. Preferably, it is a C1-C4 alkyl group, More preferably, it is a methyl group or an ethyl group.
m is preferably 0 to 4, more preferably 0 to 2.

構造単位(I)のラクトン環部は、好ましくは、下記式で表される。式中、*はL1との結合手を表す。 The lactone ring part of the structural unit (I) is preferably represented by the following formula. In the formula, * represents a bond with L 1 .

構造単位(I)の具体例を以下に示す。   Specific examples of the structural unit (I) are shown below.

上記式(I−1)〜式(I−7)の構造単位はいずれも上記式(I)のR1がメチル基の例である。このR1が水素原子である以外は上記式(I−1)〜式(I−7)とそれぞれ同じである構造単位も、構造単位(I)の具体例として挙げることができる。 The structural units of the above formulas (I-1) to (I-7) are all examples in which R 1 in the above formula (I) is a methyl group. The structural unit which is the same as each of the above formulas (I-1) to (I-7) except that R 1 is a hydrogen atom can also be given as specific examples of the structural unit (I).

構造単位(I)は、式(I’)で表される化合物(以下、場合により「化合物(I’)」という。)から導かれる。   The structural unit (I) is derived from a compound represented by the formula (I ′) (hereinafter sometimes referred to as “compound (I ′)”).

[式(I’)中、R1、R2、L1及びmは上記と同じ意味を表す。] [In the formula (I ′), R 1 , R 2 , L 1 and m represent the same meaning as described above. ]

化合物(I’)は、市場から容易に入手でき、例えば、Macromol.Chem.Phys.195,2381−2400(1994)文献記載の方法にて合成できる。   Compound (I ') can be easily obtained from the market, for example, Macromol. Chem. Phys. 195, 2381-2400 (1994).

樹脂(A)に含まれる構造単位(I)の含有率は、樹脂(A)の全構造単位に対して、好ましくは1〜60モル%、より好ましくは3〜55モル%、さらに好ましくは5〜50モル%、特に好ましくは10〜40モル%である。   The content of the structural unit (I) contained in the resin (A) is preferably 1 to 60 mol%, more preferably 3 to 55 mol%, still more preferably 5 with respect to the total structural units of the resin (A). It is -50 mol%, Most preferably, it is 10-40 mol%.

樹脂(A)は、酸不安定基を有する構造単位(以下「構造単位(a)」という場合がある)も有する樹脂であり、さらに、酸の作用により分解し、例えば、酢酸ブチル又は2−ヘプタノンへの溶解性が減少する特性を有することが好ましい。   The resin (A) is also a resin having a structural unit having an acid labile group (hereinafter sometimes referred to as “structural unit (a)”), and further decomposes by the action of an acid, for example, butyl acetate or 2- It preferably has the property of reducing solubility in heptanone.

〈構造単位(a)〉
「酸不安定基」とは、脱離基を有し、酸と接触すると脱離基が脱離して、親水性基(例えば、ヒドロキシ基又はカルボキシ基)を形成する基を意味する。酸不安定基としては、例えば、式(1)で表される基、式(2)で表される基等が挙げられる。
<Structural unit (a)>
The “acid labile group” means a group that has a leaving group, and the leaving group is removed by contact with an acid to form a hydrophilic group (for example, a hydroxy group or a carboxy group). Examples of the acid labile group include a group represented by the formula (1) and a group represented by the formula (2).

[式(1)中、Ra1、Ra2及びRa3は、それぞれ独立に、炭素数1〜8のアルキル基、炭素数3〜20の脂環式炭化水素基又はこれらを組合せた基を表すか、Ra1及びRa2は互いに結合して炭素数2〜20の2価の炭化水素基を形成する。*は結合手を表す。] [In the formula (1), R a1 , R a2 and R a3 each independently represents an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 20 carbon atoms or a combination thereof. R a1 and R a2 are bonded to each other to form a divalent hydrocarbon group having 2 to 20 carbon atoms. * Represents a bond. ]

[式(2)中、Ra1’及びRa2’は、それぞれ独立に、水素原子又は炭素数1〜12の炭化水素基を表し、Ra3’は、炭素数1〜20の炭化水素基を表すか、Ra2’及びRa3’は互いに結合して炭素数2〜20の2価の炭化水素基を形成する。該炭化水素基及び該2価の炭化水素基を構成するメチレン基は、酸素原子又は硫黄原子で置き換わってもよい。La1、La2は、それぞれ独立に、酸素原子又は硫黄原子を表す。*は結合手を表す。] [In Formula (2), R a1 ′ and R a2 ′ each independently represent a hydrogen atom or a hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms, and R a3 ′ represents a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms. R a2 ′ and R a3 ′ are bonded to each other to form a divalent hydrocarbon group having 2 to 20 carbon atoms. The hydrocarbon group and the methylene group constituting the divalent hydrocarbon group may be replaced with an oxygen atom or a sulfur atom. L a1 and L a2 each independently represent an oxygen atom or a sulfur atom. * Represents a bond. ]

式(1)のRa1〜Ra3のアルキル基としては、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、ヘプチル基、オクチル基等が挙げられる。
式(1)のRa1〜Ra3の脂環式炭化水素基としては、単環式又は多環式のいずれでもよい。単環式の脂環式炭化水素基としては、例えば、シクロペンチル基、シクロへキシル基、シクロヘプチル基、シクロオクチル基等のシクロアルキル基が挙げられる。多環式の脂環式炭化水素基としては、例えば、デカヒドロナフチル基、アダマンチル基、ノルボルニル基及び下記の基(*は結合手を表す。)等が挙げられる。Ra1〜Ra3の脂環式炭化水素基は、好ましくは炭素数3〜16である。
Examples of the alkyl group represented by R a1 to R a3 in Formula (1) include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, a pentyl group, a hexyl group, a heptyl group, and an octyl group.
The alicyclic hydrocarbon group represented by R a1 to R a3 in formula (1) may be either monocyclic or polycyclic. Examples of the monocyclic alicyclic hydrocarbon group include cycloalkyl groups such as a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, a cycloheptyl group, and a cyclooctyl group. Examples of the polycyclic alicyclic hydrocarbon group include decahydronaphthyl group, adamantyl group, norbornyl group, and the following groups (* represents a bond). The alicyclic hydrocarbon group of R a1 to R a3 preferably has 3 to 16 carbon atoms.

式(1)のRa1〜Ra3のアルキル基と脂環式炭化水素基とを組合せた基としては、例えば、メチルシクロヘキシル基、ジメチルシクロへキシル基、メチルノルボルニル基等が挙げられる。アルキル基と脂環式炭化水素基とを組合せた基の炭素数は、20以下であり、好ましくは4〜16である。 Examples of the group obtained by combining the alkyl group of R a1 to R a3 in formula (1) and the alicyclic hydrocarbon group include a methylcyclohexyl group, a dimethylcyclohexyl group, and a methylnorbornyl group. Carbon number of the group which combined the alkyl group and the alicyclic hydrocarbon group is 20 or less, Preferably it is 4-16.

式(1)のRa1及びRa2が互いに結合して2価の炭化水素基を形成する場合の−C(Ra1)(Ra2)(Ra3)としては、例えば、下記の基が挙げられる。2価の炭化水素基は、好ましくは炭素数3〜12である。各式中、Ra3は上記と同じ意味であり、*は酸素原子との結合手を表す。 Examples of —C (R a1 ) (R a2 ) (R a3 ) in the case where R a1 and R a2 in formula (1) are bonded to each other to form a divalent hydrocarbon group include the following groups. It is done. The divalent hydrocarbon group preferably has 3 to 12 carbon atoms. In each formula, R a3 has the same meaning as described above, and * represents a bond with an oxygen atom.

式(1)で表される基としては、例えば、1,1−ジアルキルアルコキシカルボニル基(式(1)中、Ra1〜Ra3がアルキル基である基、好ましくはtert−ブトキシカルボニル基)、2−アルキルアダマンタン−2−イルオキシカルボニル基(式(1)中、Ra1、Ra2及びこれらが結合する炭素原子がアダマンチル基を形成し、Ra3がアルキル基である基)、1−(アダマンタン−1−イル)−1−アルキルアルコキシカルボニル基(式(1)中、Ra1及びRa2がアルキル基であり、Ra3がアダマンチル基である基)、1−アルキルシクロアルカン−1−イルオキシカルボニル基(式(1)中、Ra1、Ra2及びこれらが結合する炭素原子がシクロアルキル基を形成し、Ra3がアルキル基である基)及び1−(シクロアルカン−1−イル)−1−アルキルアルコキシカルボニル基(式(1)中、Ra1及びRa2がアルキル基であり、Ra3がシクロアルキル基である基)等が挙げられる。 Examples of the group represented by the formula (1) include a 1,1-dialkylalkoxycarbonyl group (in the formula (1), R a1 to R a3 are alkyl groups, preferably a tert-butoxycarbonyl group), 2-alkyladamantan-2-yloxycarbonyl group (in the formula (1), R a1 , R a2 and the carbon atom to which they are bonded form an adamantyl group, and R a3 is an alkyl group), 1- ( Adamantane-1-yl) -1-alkylalkoxycarbonyl group (in the formula (1), R a1 and R a2 are alkyl groups and R a3 is an adamantyl group), 1-alkylcycloalkane-1-yl oxycarbonyl group (wherein (1), R a1, R a2 and the carbon atom to which they are attached form a cycloalkyl group, R a3 is alkyl group) and 1- (cycloalkane-1-yl 1-alkyl alkoxycarbonyl group (wherein (1), R a1 and R a2 is an alkyl group, R a3 is group a cycloalkyl group) and the like.

式(2)のRa1’〜Ra3’の炭化水素基としては、例えば、アルキル基、脂環式炭化水素基、芳香族炭化水素基及びこれらを組み合わせた基が挙げられる。
a1'〜Ra3'のアルキル基及び脂環式炭化水素基は、上記と同様のものが挙げられる。
a1'〜Ra3'の芳香族炭化水素基としては、フェニル基、ナフチル基、アントリル基、p−メチルフェニル基、p−tert−ブチルフェニル基、p−アダマンチルフェニル基、トリル基、キシリル基、クメニル基、メシチル基、ビフェニル基、フェナントリル基、2,6−ジエチルフェニル基、2−メチル−6−エチルフェニル等のアリール基等が挙げられる。
式(2)のRa2’及びRa3’が互いに結合して形成する2価の炭化水素基としては、例えば、Ra1’〜Ra3’の炭化水素基から水素原子を1個取り去った基が挙げられる。
a1’及びRa2’のうち、少なくとも1つは水素原子であることが好ましい。
Examples of the hydrocarbon group of R a1 ′ to R a3 ′ in formula (2) include an alkyl group, an alicyclic hydrocarbon group, an aromatic hydrocarbon group, and a group obtained by combining these.
Examples of the alkyl group and alicyclic hydrocarbon group of R a1 ′ to R a3 ′ are the same as those described above.
Examples of the aromatic hydrocarbon group of R a1 ′ to R a3 ′ include a phenyl group, a naphthyl group, an anthryl group, a p-methylphenyl group, a p-tert-butylphenyl group, a p-adamantylphenyl group, a tolyl group, and a xylyl group. , Aryl groups such as cumenyl group, mesityl group, biphenyl group, phenanthryl group, 2,6-diethylphenyl group, 2-methyl-6-ethylphenyl, and the like.
Examples of the divalent hydrocarbon group formed by combining R a2 ′ and R a3 ′ of formula (2) with each other include a group in which one hydrogen atom has been removed from the hydrocarbon groups of R a1 ′ to R a3 ′. Is mentioned.
At least one of R a1 ′ and R a2 ′ is preferably a hydrogen atom.

式(2)で表される基の具体例としては、例えば、以下の基が挙げられる。*は結合手を表す。   Specific examples of the group represented by the formula (2) include the following groups. * Represents a bond.

構造単位(a)を導くモノマーは、好ましくは、酸不安定基とエチレン性不飽和結合とを有するモノマー、より好ましくは酸不安定基を有する(メタ)アクリル系モノマーである。   The monomer for deriving the structural unit (a) is preferably a monomer having an acid labile group and an ethylenically unsaturated bond, and more preferably a (meth) acrylic monomer having an acid labile group.

酸不安定基を有する(メタ)アクリル系モノマーに由来する構造単位(a)としては、好ましくは、炭素数5〜20の脂環式炭化水素基を有するものが挙げられる。脂環式炭化水素基のような嵩高い構造を有する構造単位(a)を有する樹脂をレジスト組成物に使用すれば、レジストパターンの解像度を向上させることができる。   The structural unit (a) derived from the (meth) acrylic monomer having an acid labile group is preferably a group having an alicyclic hydrocarbon group having 5 to 20 carbon atoms. If a resin having a structural unit (a) having a bulky structure such as an alicyclic hydrocarbon group is used in the resist composition, the resolution of the resist pattern can be improved.

式(1)で表される基を有する(メタ)アクリル系モノマーに由来する構造単位(a)として、好ましくは式(a1−1)で表される構造単位又は式(a1−2)で表される構造単位が挙げられる。これらは単独で使用してもよく、2種以上を併用してもよい。本明細書では、式(a1−1)で表される構造単位及び式(a1−2)で表される構造単位を、それぞれ構造単位(a1−1)及び構造単位(a1−2)という場合がある。   As the structural unit (a) derived from the (meth) acrylic monomer having a group represented by the formula (1), preferably the structural unit represented by the formula (a1-1) or the formula (a1-2) Structural units. These may be used alone or in combination of two or more. In this specification, the structural unit represented by the formula (a1-1) and the structural unit represented by the formula (a1-2) are referred to as the structural unit (a1-1) and the structural unit (a1-2), respectively. There is.

[式(a1−1)及び式(a1−2)中、
a3及びLa4は、それぞれ独立に、酸素原子又は*−O−(CH2k1−CO−O−を表し、k1は1〜7の整数を表し、*はカルボニル基との結合手を表す。
a4及びRa5は、それぞれ独立に、水素原子又はメチル基を表す。
a6及びRa7は、それぞれ独立に、炭素数1〜8のアルキル基、炭素数3〜18の脂環式炭化水素基又はこれらを組合せた基を表す。
m1は0〜14の整数を表す。
n1は0〜10の整数を表す。
n1’は0〜3の整数を表す。]
[In Formula (a1-1) and Formula (a1-2),
L a3 and L a4 each independently represent an oxygen atom or * —O— (CH 2 ) k1 —CO—O—, k1 represents an integer of 1 to 7, and * represents a bond to a carbonyl group. Represent.
R a4 and R a5 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group.
R a6 and R a7 each independently represent an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 18 carbon atoms, or a combination thereof.
m1 represents the integer of 0-14.
n1 represents an integer of 0 to 10.
n1 ′ represents an integer of 0 to 3. ]

a3及びLa4は、好ましくは、酸素原子又は*−O−(CH2k1−CO−O−であり、より好ましくは酸素原子である。k1は、好ましくは1〜4の整数、より好ましくは1である。
a4及びRa5は、好ましくはメチル基である。
a6及びRa7のアルキル基、脂環式炭化水素基及びこれらを組合せた基としては、式(1)のRa1〜Ra3で挙げた基と同様の基が挙げられる。
a6及びRa7のアルキル基は、好ましくは炭素数6以下である。
a6及びRa7の脂環式炭化水素基は、好ましくは炭素数8以下、より好ましくは6以下である。
m1は、好ましくは0〜3の整数、より好ましくは0又は1である。
n1は、好ましくは0〜3の整数、より好ましくは0又は1である。
n1’は好ましくは0又は1である。
L a3 and L a4 are preferably an oxygen atom or * —O— (CH 2 ) k1 —CO—O—, and more preferably an oxygen atom. k1 is preferably an integer of 1 to 4, more preferably 1.
R a4 and R a5 are preferably methyl groups.
Examples of the alkyl group of R a6 and R a7 , the alicyclic hydrocarbon group, and the group obtained by combining these include the same groups as those described for R a1 to R a3 in formula (1).
The alkyl group for R a6 and R a7 preferably has 6 or less carbon atoms.
The alicyclic hydrocarbon group of R a6 and R a7 preferably has 8 or less carbon atoms, more preferably 6 or less.
m1 is preferably an integer of 0 to 3, more preferably 0 or 1.
n1 is preferably an integer of 0 to 3, more preferably 0 or 1.
n1 ′ is preferably 0 or 1.

構造単位(a1−1)を導くモノマーとしては、例えば、特開2010−204646号公報に記載されたモノマーが挙げられる。中でも、式(a1−1−1)〜式(a1−1−8)のいずれかで表されるモノマーが好ましく、式(a1−1−1)〜式(a1−1−4)のいずれかで表されるモノマーがより好ましい。   As a monomer which introduce | transduces structural unit (a1-1), the monomer described in Unexamined-Japanese-Patent No. 2010-204646 is mentioned, for example. Among these, a monomer represented by any one of formula (a1-1-1) to formula (a1-1-8) is preferable, and any one of formula (a1-1-1) to formula (a1-1-4) is preferable. The monomer represented by is more preferable.

構造単位(a1−2)を導くモノマーとしては、例えば、1−エチルシクロペンタン−1−イル(メタ)アクリレート、1−エチルシクロヘキサン−1−イル(メタ)アクリレート、1−エチルシクロヘプタン−1−イル(メタ)アクリレート、1−メチルシクロペンタン−1−イル(メタ)アクリレート、1−メチルシクロヘキサン−1−イル(メタ)アクリレート、1−イソプロピルシクロペンタン−1−イル(メタ)アクリレート、1−イソプロピルシクロヘキサン−1−イル(メタ)アクリレート等が挙げられる。式(a1−2−1)〜式(a1−2−12)で表されるモノマーが好ましく、式(a1−2−3)〜式(a1−2−4)又は式(a1−2−9)〜式(a1−2−10)で表されるモノマーがより好ましく、式(a1−2−3)又は式(a1−2−9)で表されるモノマーがさらに好ましい。   Examples of the monomer that leads to the structural unit (a1-2) include 1-ethylcyclopentan-1-yl (meth) acrylate, 1-ethylcyclohexane-1-yl (meth) acrylate, and 1-ethylcycloheptane-1- Ile (meth) acrylate, 1-methylcyclopentan-1-yl (meth) acrylate, 1-methylcyclohexane-1-yl (meth) acrylate, 1-isopropylcyclopentan-1-yl (meth) acrylate, 1-isopropyl And cyclohexane-1-yl (meth) acrylate. Monomers represented by the formula (a1-2-1) to the formula (a1-2-12) are preferred, and the formula (a1-2-3) to the formula (a1-2-4) or the formula (a1-2-9) The monomer represented by formula (a1-2-10) is more preferable, and the monomer represented by formula (a1-2-3) or formula (a1-2-9) is more preferable.

樹脂(A)が構造単位(a1−1)及び/又は構造単位(a1−2)を含む場合、これらの合計含有率は、樹脂(A)の全構造単位に対して、通常10〜95モル%であり、好ましくは15〜90モル%であり、より好ましくは20〜85モル%、特に好ましくは25〜70モル%である。   When the resin (A) contains the structural unit (a1-1) and / or the structural unit (a1-2), the total content thereof is usually 10 to 95 mol with respect to all the structural units of the resin (A). %, Preferably 15 to 90 mol%, more preferably 20 to 85 mol%, particularly preferably 25 to 70 mol%.

式(2)で表される基を有する(メタ)アクリル系モノマーに由来する構造単位(a)としては、式(a1−3)で表される構造単位(以下「構造単位(a1−3)」という場合がある)が挙げられる。   As the structural unit (a) derived from the (meth) acrylic monomer having a group represented by the formula (2), a structural unit represented by the formula (a1-3) (hereinafter “structural unit (a1-3)”) ”).

[式(a1−3)中、
a8は、ハロゲン原子を有してもよい炭素数1〜6のアルキル基、水素原子又はハロゲン原子を表す。
a1は、単結合又は*−[CH2k4−CO−La8−を表す。ここで、k4は1〜4の整数を表す。*は、La5との結合手を表す。
a5、La6、La7、及びLa8は、それぞれ独立に、酸素原子又は硫黄原子を表す。
s1は、1〜3の整数を表す。
s1’は、0〜3の整数を表す。]
[In the formula (a1-3),
R a8 represents a C 1-6 alkyl group optionally having a halogen atom, a hydrogen atom, or a halogen atom.
Z a1 represents a single bond or * — [CH 2 ] k4 —CO—L a8 —. Here, k4 represents an integer of 1 to 4. * Represents a bond with L a5 .
L a5 , L a6 , L a7 , and L a8 each independently represent an oxygen atom or a sulfur atom.
s1 represents an integer of 1 to 3.
s1 ′ represents an integer of 0 to 3. ]

式(a1−3)においては、Ra8は、水素原子、メチル基及びトリフルオロメチル基が好ましい。
a5及びLa8は、酸素原子が好ましい。
a6及びLa7は、一方が酸素原子、他方が硫黄原子であることが好ましい。
s1は、1が好ましい。
s1’は、0〜2の整数が好ましい。
a1は、単結合又は*−CH2−CO−O−が好ましい。
In formula (a1-3), R a8 is preferably a hydrogen atom, a methyl group, or a trifluoromethyl group.
L a5 and L a8 are preferably oxygen atoms.
One of L a6 and L a7 is preferably an oxygen atom and the other is a sulfur atom.
s1 is preferably 1.
s1 ′ is preferably an integer of 0 to 2.
Z a1 is preferably a single bond or * —CH 2 —CO—O—.

構造単位(a1−3)を導くモノマーとしては、例えば、以下のモノマーが挙げられる。   Examples of the monomer that leads to the structural unit (a1-3) include the following monomers.

樹脂(A)が、構造単位(a1−3)を有する場合、その含有率は、樹脂(A)の全構造単位に対して、1〜50モル%が好ましく、3〜45モル%がより好ましく、5〜40モル%がさらに好ましい。   When the resin (A) has the structural unit (a1-3), the content is preferably from 1 to 50 mol%, more preferably from 3 to 45 mol%, based on all the structural units of the resin (A). 5 to 40 mol% is more preferable.

樹脂(A)において、構造単位(a)の含有率は、樹脂(A)の全構造単位に対して、好ましくは10〜98モル%であり、より好ましくは15〜90モル%であり、さらに好ましくは20〜80モル%、特に好ましくは25〜70モル%である。   In the resin (A), the content of the structural unit (a) is preferably 10 to 98 mol%, more preferably 15 to 90 mol%, based on all the structural units of the resin (A). Preferably it is 20-80 mol%, Most preferably, it is 25-70 mol%.

〈酸不安定基を有さない構造単位〉
樹脂(A)は、酸不安定基を有さない構造単位(以下「構造単位(s)」という場合がある)を有していてもよい。構造単位(s)としては、ヒドロキシ基又はラクトン環を有する構造単位が好ましい。ただしラクトン環を有する構造単位(s)は、式(I)で表される構造単位を含まないものとする。ヒドロキシ基を有し、かつ酸不安定基を有さない構造単位(以下「構造単位(a2)」という場合がある)及び/又はラクトン環を有し、かつ酸不安定基を有さない構造単位(以下「構造単位(a3)」という場合がある)を有する樹脂をレジスト組成物に使用すれば、レジストパターンの解像度及び基板との密着性を向上させることができる。
<Structural unit without acid labile group>
The resin (A) may have a structural unit having no acid labile group (hereinafter sometimes referred to as “structural unit (s)”). As the structural unit (s), a structural unit having a hydroxy group or a lactone ring is preferable. However, the structural unit (s) having a lactone ring does not include the structural unit represented by the formula (I). A structure having a hydroxy group and having no acid labile group (hereinafter sometimes referred to as “structural unit (a2)”) and / or a lactone ring and having no acid labile group If a resin having a unit (hereinafter sometimes referred to as “structural unit (a3)”) is used for the resist composition, the resolution of the resist pattern and the adhesion to the substrate can be improved.

〈構造単位(a2)〉
構造単位(a2)が有するヒドロキシ基は、アルコール性ヒドロキシ基でも、フェノール性ヒドロキシ基でもよい。
レジスト組成物を、KrFエキシマレーザ露光(248nm)、電子線又はEUV(超紫外光)等の高エネルギー線露光に適用する場合、構造単位(a2)として、フェノール性ヒドロキシ基を有する構造単位(a2)を用いることが好ましい。また、ArFエキシマレーザ露光(193nm)等に適用する場合、構造単位(a2)として、アルコール性ヒドロキシ基を有する構造単位(a2)が好ましく、構造単位(a2−1)を用いることがより好ましい。構造単位(a2)は、1種を単独で含有してもよく、2種以上を併用してもよい。
<Structural unit (a2)>
The hydroxy group contained in the structural unit (a2) may be an alcoholic hydroxy group or a phenolic hydroxy group.
When the resist composition is applied to KrF excimer laser exposure (248 nm), high energy beam exposure such as electron beam or EUV (extreme ultraviolet light), the structural unit (a2) having a phenolic hydroxy group as the structural unit (a2) ) Is preferably used. When applied to ArF excimer laser exposure (193 nm) or the like, the structural unit (a2) is preferably a structural unit (a2) having an alcoholic hydroxy group, and more preferably a structural unit (a2-1). As the structural unit (a2), one type may be contained alone, or two or more types may be used in combination.

アルコール性ヒドロキシ基を有する構造単位(a2)としては、式(a2−1)で表される構造単位(以下、場合により「構造単位(a2−1)」という。)が挙げられる。   Examples of the structural unit (a2) having an alcoholic hydroxy group include a structural unit represented by the formula (a2-1) (hereinafter sometimes referred to as “structural unit (a2-1)”).

[式(a2−1)中、
a10は、酸素原子又は*−O−(CH2k2−CO−O−を表し、
k2は1〜7の整数を表す。*はカルボニル基との結合手を表す。
a14は、水素原子又はメチル基を表す。
a15及びRa16は、それぞれ独立に、水素原子、メチル基又はヒドロキシ基を表す。
o1は、0〜10の整数を表す。]
[In the formula (a2-1),
L a10 represents an oxygen atom or * —O— (CH 2 ) k2 —CO—O—,
k2 represents an integer of 1 to 7. * Represents a bond with a carbonyl group.
R a14 represents a hydrogen atom or a methyl group.
R a15 and R a16 each independently represent a hydrogen atom, a methyl group or a hydroxy group.
o1 represents an integer of 0 to 10. ]

式(a2−1)では、La10は、好ましくは、酸素原子、−O−(CH2k7−CO−O−であり(前記k7は、1〜4の整数である)、より好ましくは酸素原子である。
a14は、好ましくはメチル基である。
a15は、好ましくは水素原子である。
a16は、好ましくは水素原子又はヒドロキシ基である。
o1は、好ましくは0〜3の整数、より好ましくは0又は1である。
In the formula (a2-1), L a10 is preferably an oxygen atom, —O— (CH 2 ) k7 —CO—O— (wherein k7 is an integer of 1 to 4), more preferably It is an oxygen atom.
R a14 is preferably a methyl group.
R a15 is preferably a hydrogen atom.
R a16 is preferably a hydrogen atom or a hydroxy group.
o1 is preferably an integer of 0 to 3, more preferably 0 or 1.

構造単位(a2−1)を導くモノマーとしては、例えば、特開2010−204646号公報に記載されたモノマーが挙げられる。式(a2−1−1)〜式(a2−1−6)のいずれかで表されるモノマーが好ましく、式(a2−1−1)〜式(a2−1−4)のいずれかで表されるモノマーがより好ましく、式(a2−1−1)又は式(a2−1−3)で表されるモノマーがさらに好ましい。   As a monomer which introduce | transduces structural unit (a2-1), the monomer described in Unexamined-Japanese-Patent No. 2010-204646 is mentioned, for example. A monomer represented by any one of formula (a2-1-1) to formula (a2-1-6) is preferable, and represented by any one of formula (a2-1-1) to formula (a2-1-4). The monomer represented by Formula (a2-1-1) or Formula (a2-1-3) is more preferable.

樹脂(A)が構造単位(a2−1)を含む場合、その含有率は、樹脂(A)の全構造単位に対して、通常1〜60モル%であり、好ましくは1〜50モル%であり、より好ましくは1〜45モル%であり、さらに好ましくは1〜40モル%である。   When resin (A) contains structural unit (a2-1), the content rate is 1-60 mol% normally with respect to all the structural units of resin (A), Preferably it is 1-50 mol%. Yes, more preferably 1 to 45 mol%, still more preferably 1 to 40 mol%.

〈構造単位(a3)〉
構造単位(a3)が有するラクトン環は、例えば、β−プロピオラクトン環、γ−ブチロラクトン環、δ−バレロラクトン環等の単環でもよく、これら単環式のラクトン環構造を含む橋かけ環でもよい。これらラクトン環のうち、好ましくは、γ−ブチロラクトン環、又は、γ−ブチロラクトン環構造を含む橋かけ環が挙げられる。
<Structural unit (a3)>
The lactone ring contained in the structural unit (a3) may be, for example, a monocycle such as a β-propiolactone ring, γ-butyrolactone ring, or δ-valerolactone ring, and a bridged ring including these monocyclic lactone ring structures. But you can. Among these lactone rings, a γ-butyrolactone ring or a bridged ring containing a γ-butyrolactone ring structure is preferable.

構造単位(a3)は、好ましくは、式(a3−1)、式(a3−2)、式(a3−3)又は式(a3−4)で表される構造単位(以下、式番号に応じて「構造単位(a3−1)」等という場合がある)である。これらの1種を単独で含有してもよく、2種以上を含有してもよい。   The structural unit (a3) is preferably a structural unit represented by the formula (a3-1), the formula (a3-2), the formula (a3-3) or the formula (a3-4) (hereinafter, depending on the formula number). Or “structural unit (a3-1)”). These 1 type may be contained independently and 2 or more types may be contained.

[式(a3−1)中、
a11は、酸素原子又は*−O−(CH2k3−CO−O−(k3は1〜7の整数を表す。)で表される基を表す。*はカルボニル基との結合手を表す。
a18は、水素原子又はメチル基を表す。
a21は炭素数1〜4の脂肪族炭化水素基を表す。
p1は0〜5の整数を表す。p1が2以上のとき、複数のRa21は互いに同一又は相異なる。
式(a3−2)中、
a12は、酸素原子又は*−O−(CH2k3−CO−O−(k3は1〜7の整数を表す。)で表される基を表す。*はカルボニル基との結合手を表す。
a19は、水素原子又はメチル基を表す。
a22は、カルボキシ基、シアノ基又は炭素数1〜4の脂肪族炭化水素基を表す。
q1は、0〜3の整数を表す。q1が2以上のとき、複数のRa22は互いに同一又は相異なる。
式(a3−3)中、
a13は、酸素原子又は*−O−(CH2k3−CO−O−(k3は1〜7の整数を表す。)で表される基を表す。*はカルボニル基との結合手を表す。
a20は、水素原子又はメチル基を表す。
a23は、カルボキシ基、シアノ基又は炭素数1〜4の脂肪族炭化水素基を表す。
r1は、0〜3の整数を表す。r1が2以上のとき、複数のRa23は互いに同一又は相異なる。
式(a3−4)中、
a14は、酸素原子、*−O−(CH2k5−O−、*−O−(CH2k3−CO−O−、*−O−(CH2k5−CO−O−(CH2k6−CO−O−又は*−O−(CH2k5−O−CO−(CH2k6−O−(k5及びk6は、それぞれ独立に、1〜7の整数を表す。)で表される基を表す。*はカルボニル基との結合手を表す。
a24は、水素原子又はメチル基を表す。]
[In the formula (a3-1),
L a11 represents an oxygen atom or a group represented by * —O— (CH 2 ) k3 —CO—O— (k3 represents an integer of 1 to 7). * Represents a bond with a carbonyl group.
R a18 represents a hydrogen atom or a methyl group.
R a21 represents an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 4 carbon atoms.
p1 represents an integer of 0 to 5. When p1 is 2 or more, the plurality of R a21 are the same or different from each other.
In formula (a3-2),
L a12 represents an oxygen atom or a group represented by * —O— (CH 2 ) k3 —CO—O— (k3 represents an integer of 1 to 7). * Represents a bond with a carbonyl group.
R a19 represents a hydrogen atom or a methyl group.
R a22 represents a carboxy group, a cyano group, or an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 4 carbon atoms.
q1 represents an integer of 0 to 3. When q1 is 2 or more, the plurality of R a22 are the same or different from each other.
In formula (a3-3),
L a13 represents an oxygen atom or a group represented by * —O— (CH 2 ) k3 —CO—O— (k3 represents an integer of 1 to 7). * Represents a bond with a carbonyl group.
R a20 represents a hydrogen atom or a methyl group.
R a23 represents a carboxy group, a cyano group, or an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 4 carbon atoms.
r1 represents an integer of 0 to 3. When r1 is 2 or more, the plurality of R a23 are the same or different from each other.
In formula (a3-4),
L a14 represents an oxygen atom, * —O— (CH 2 ) k5 —O—, * —O— (CH 2 ) k3 —CO—O—, * —O— (CH 2 ) k5 —CO—O— ( CH 2) k6 -CO-O- or * -O- (CH 2) k5 -O -CO- (CH 2) k6 -O- (k5 and k6 are each independently an integer of 1-7. ) Represents a group represented by * Represents a bond with a carbonyl group.
R a24 represents a hydrogen atom or a methyl group. ]

式(a3−1)〜式(a3−4)において、La11〜La14は、それぞれ独立に、好ましくは、酸素原子又は、k3が1〜4の整数である*−O−(CH2k3−CO−O−で表される基、より好ましくは酸素原子及び、*−O−CH2−CO−O−、さらに好ましくは酸素原子である。
a18〜Ra21及びRa24は、好ましくはメチル基である。
a22及びRa23は、それぞれ独立に、好ましくはカルボキシ基、シアノ基又はメチル基である。
p1、q1及びr1は、それぞれ独立に、好ましくは0〜2の整数であり、より好ましくは0又は1である。なお、p1が2である場合、2つのRa21は互いに同一でも異なっていてもよく、q1が2である場合、2つのRa22は互いに同一でも異なっていてもよく、r1が2である場合、2つのRa23は互いに同一でも異なっていてもよい。
In formula (a3-1) to formula (a3-4), L a11 to L a14 are each independently preferably an oxygen atom or * 3—O— (CH 2 ) wherein k3 is an integer of 1 to 4. A group represented by k 3 —CO—O—, more preferably an oxygen atom and * —O—CH 2 —CO—O—, still more preferably an oxygen atom.
R a18 to R a21 and R a24 are preferably methyl groups.
R a22 and R a23 are each independently preferably a carboxy group, a cyano group or a methyl group.
p1, q1 and r1 are each independently preferably an integer of 0 to 2, more preferably 0 or 1. When p1 is 2, two R a21 may be the same as or different from each other. When q1 is 2, two R a22 may be the same as or different from each other, and r1 is 2. Two R a23 may be the same or different from each other.

構造単位(a3−1)を導くモノマーとしては、例えば、式(a3−1−1)、式(a3−1−2)、式(a3−1−3)及び式(a3−1−4)のいずれかで表されるモノマーなどが挙げられる。   Examples of the monomer for deriving the structural unit (a3-1) include the formula (a3-1-1), the formula (a3-1-2), the formula (a3-1-3), and the formula (a3-1-4). And monomers represented by any of the above.

構造単位(a3−2)を導くモノマーとしては、例えば、式(a3−2−1)、式(a3−2−2)、式(a3−2−3)及び式(a3−2−4)のいずれかで表されるモノマーなどが挙げられる。   Examples of the monomer that leads to the structural unit (a3-2) include, for example, the formula (a3-2-1), the formula (a3-2-2), the formula (a3-2-3), and the formula (a3-2-4). And monomers represented by any of the above.

構造単位(a3−3)を導くモノマーとしては、例えば、式(a3−3−1)、式(a3−3−2)、式(a3−3−3)及び式(a3−3−4)のいずれかで表されるモノマーなどが挙げられる。   Examples of the monomer that leads to the structural unit (a3-3) include, for example, the formula (a3-3-1), the formula (a3-3-2), the formula (a3-3-3), and the formula (a3-3-4). And monomers represented by any of the above.

構造単位(a3−4)を導くモノマーとしては、例えば、式(a3−4−1)、式(a3−4−2)、式(a3−4−3)、式(a3−4−4)、式(a3−4−5)及び、式(a3−4−6)のいずれかで表されるモノマーなどが挙げられる。   Examples of the monomer that leads to the structural unit (a3-4) include the formula (a3-4-1), the formula (a3-4-2), the formula (a3-4-3), and the formula (a3-4-4). , A monomer represented by any one of formula (a3-4-5) and formula (a3-4-6).

上記の化合物において、Ra24に相当するメチル基が水素原子に置き換わった化合物も、構造単位(a3−4)を導くモノマーとして挙げることができる。 In the above compound, a compound in which a methyl group corresponding to R a24 is replaced with a hydrogen atom can also be exemplified as a monomer for deriving the structural unit (a3-4).

構造単位(a3)の中でも、式(a3−1−1)、式(a3−1−2)、式(a3−2−3)、式(a3−2−4)、式(a3−4−1)又は式(a3−4−2)で表されるモノマーに由来する構造単位がより好ましく、式(a3−1−1)又は式(a3−2−3)又は式(a3−4−2)で表されるモノマーに由来する構造単位がさらに好ましい。   Among structural units (a3), formula (a3-1-1), formula (a3-1-2), formula (a3-2-3), formula (a3-2-4), formula (a3-4-) 1) or a structural unit derived from a monomer represented by the formula (a3-4-2) is more preferable, and the formula (a3-1-1), the formula (a3-2-3) or the formula (a3-4-2) The structural unit derived from a monomer represented by

構造単位(a3−1)、構造単位(a3−2)及び構造単位(a3−3)は、特開2010−204646号公報に記載されたモノマー(s)により誘導できる。   The structural unit (a3-1), the structural unit (a3-2), and the structural unit (a3-3) can be derived from the monomer (s) described in JP 2010-204646 A.

構造単位(a3−4)は、特開2012−41274号公報に記載されたモノマー(s)により誘導できる。   The structural unit (a3-4) can be derived from the monomer (s) described in JP2012-41274A.

樹脂(A)が構造単位(a3)を含む場合、その含有率は、樹脂(A)の全構造単位に対して、通常70モル%以下であり、好ましくは65モル%以下であり、より好ましくは60モル%以下、特に好ましくは55モル%以下である。構造単位(a3)の下限は特に限定されないが、例えば、5モル%以上、或いは10モル%以上であってもよい。   When the resin (A) contains the structural unit (a3), the content is usually 70 mol% or less, preferably 65 mol% or less, more preferably, with respect to all the structural units of the resin (A). Is 60 mol% or less, particularly preferably 55 mol% or less. Although the minimum of a structural unit (a3) is not specifically limited, For example, 5 mol% or more or 10 mol% or more may be sufficient.

〈その他の構造単位(s)〉
樹脂(A)は、その他の構造単位(s)を有していてもよい。その他の構造単位(s)としては、上記構造単位(a2)及び構造単位(a3)以外の構造単位であり、好ましくはハロゲン原子を有する構造単位(以下、場合により「構造単位(a4)」という。)が挙げられる。
<Other structural units (s)>
The resin (A) may have other structural units (s). The other structural unit (s) is a structural unit other than the structural unit (a2) and the structural unit (a3), preferably a structural unit having a halogen atom (hereinafter sometimes referred to as “structural unit (a4)”). .).

構造単位(a4)としては、例えば、式(a4−1)で表される構造単位が挙げられる。   As a structural unit (a4), the structural unit represented by a formula (a4-1) is mentioned, for example.

[式(a4−1)中、
a41は、水素原子またはメチル基を表す。
a41は、置換基を有していてもよい炭素数1〜6のアルカンジイル基又は式(a−g1)
[In the formula (a4-1),
R a41 represents a hydrogen atom or a methyl group.
A a41 is an alkanediyl group having 1 to 6 carbon atoms which may have a substituent or a formula (a-g1).

〔式(a−g1)中、
sは0又は1を表す。
a42及びAa44は、それぞれ独立に、置換基を有していてもよい炭素数1〜5の脂肪族炭化水素基を表す。
a43は、置換基を有していてもよい炭素数1〜5の脂肪族炭化水素基又は単結合を表す。
a41及びXa42は、それぞれ独立に、酸素原子、カルボニル基、カルボニルオキシ基又はオキシカルボニル基を表す。
ただし、Aa42、Aa43、Aa44、Xa41及びXa42の炭素数の合計は6以下である。〕
で表される基を表す。
a42は、置換基を有していてもよい炭素数1〜20の炭化水素基を表す。
ただし、Aa41及びRa42のうち少なくとも一方は、ハロゲン原子を有する基である。]
[In the formula (a-g1),
s represents 0 or 1.
A a42 and A a44 each independently represent an optionally substituted aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms.
A a43 represents an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms which may have a substituent or a single bond.
X a41 and X a42 each independently represent an oxygen atom, a carbonyl group, a carbonyloxy group or an oxycarbonyl group.
However, the total number of carbon atoms of A a42 , A a43 , A a44 , X a41 and X a42 is 6 or less. ]
Represents a group represented by
R a42 represents an optionally substituted hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms.
However, at least one of A a41 and R a42 is a group having a halogen atom. ]

a41及びRa42のうち少なくとも一方が有するハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子及びヨウ素原子が挙げられ、好ましくはフッ素原子である。
a42〜Aa44の脂肪族炭化水素基は、鎖式及び環式の脂肪族炭化水素基を包含し、炭素−炭素不飽和結合を有していてもよいが、脂肪族飽和炭化水素基が好ましい。該脂肪族飽和炭化水素基としては、アルキル基(当該アルキル基は直鎖でも分岐していてもよい)及び脂環式飽和炭化水素基、並びに、アルキル基及び脂環式飽和炭化水素基を組合せた基等が挙げられる。
Examples of the halogen atom that at least one of A a41 and R a42 has include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom, and preferably a fluorine atom.
The aliphatic hydrocarbon groups of A a42 to A a44 include chain and cyclic aliphatic hydrocarbon groups and may have a carbon-carbon unsaturated bond, but the aliphatic saturated hydrocarbon group is preferable. The aliphatic saturated hydrocarbon group includes an alkyl group (the alkyl group may be linear or branched), an alicyclic saturated hydrocarbon group, and an alkyl group and an alicyclic saturated hydrocarbon group. And the like.

a41の炭化水素基としては、メチル基が好ましい。
a42の炭化水素基としては、鎖式及び環式の脂肪族炭化水素基、芳香族炭化水素基、並びに、これらが組合せられた基が挙げられる。鎖式の脂肪族炭化水素基としては、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、ヘプチル基、オクチル基、デシル基、ドデシル基、ヘキサデシル基、ペンタデシル基、ヘキシルデシル基、ヘプタデシル基及びオクタデシル基等のアルキル基が挙げられる。環式の脂肪族炭化水素基としては、例えば、シクロペンチル基、シクロへキシル基、シクロヘプチル基、シクロオクチル基等のシクロアルキル基が挙げられる。多環式の脂環式炭化水素基としては、例えば、アダマンチル基、ノルボルニル基、デカヒドロナフチル基及び下記の基(*は結合手を表す。)等が挙げられる。
The hydrocarbon group for R a41 is preferably a methyl group.
Examples of the hydrocarbon group for R a42 include chain and cyclic aliphatic hydrocarbon groups, aromatic hydrocarbon groups, and groups in which these are combined. Examples of chain aliphatic hydrocarbon groups include methyl, ethyl, propyl, butyl, pentyl, hexyl, heptyl, octyl, decyl, dodecyl, hexadecyl, pentadecyl, and hexyl. Examples thereof include alkyl groups such as decyl group, heptadecyl group and octadecyl group. Examples of the cyclic aliphatic hydrocarbon group include cycloalkyl groups such as a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, a cycloheptyl group, and a cyclooctyl group. Examples of the polycyclic alicyclic hydrocarbon group include an adamantyl group, a norbornyl group, a decahydronaphthyl group, and the following group (* represents a bond).

a42の芳香族炭化水素基としては、例えば、フェニル基、ナフチル基、アントリル基、ビフェニリル基、フェナントリル基及びフルオレニル基等が挙げられる。 Examples of the aromatic hydrocarbon group for R a42 include a phenyl group, a naphthyl group, an anthryl group, a biphenylyl group, a phenanthryl group, and a fluorenyl group.

a42の炭化水素基としては、上記の様に鎖式及び環式の脂肪族炭化水素基、芳香族炭化水素基、並びに、これらが組合せられた基が挙げられ、鎖式及び環式の脂肪族炭化水素基並びにこれらが組合せられた基が好ましく、炭素−炭素不飽和結合を有していてもよいが、飽和炭化水素基、すなわち鎖式及び環式の脂肪族飽和炭化水素基並びにこれらを組合せた基がより好ましい。
a42の炭化水素基に含まれるメチレン基は、酸素原子又はカルボニル基に置き換わっていてもよく、該炭化水素基に含まれる水素原子は、ハロゲン原子で置換されていてもよい。Ra42は、ハロゲン原子及び/又は式(a−g3)で表される基を有する脂肪族炭化水素基がより好ましい。
Examples of the hydrocarbon group for R a42 include chain and cyclic aliphatic hydrocarbon groups, aromatic hydrocarbon groups, and groups in which these are combined, and chain and cyclic aliphatic groups. Group hydrocarbon groups and a combination thereof, which may have a carbon-carbon unsaturated bond, are saturated hydrocarbon groups, i.e., chain and cyclic aliphatic saturated hydrocarbon groups, and A combined group is more preferred.
The methylene group contained in the hydrocarbon group for R a42 may be replaced with an oxygen atom or a carbonyl group, and the hydrogen atom contained in the hydrocarbon group may be substituted with a halogen atom. R a42 is more preferably an aliphatic hydrocarbon group having a halogen atom and / or a group represented by the formula (a-g3).

[式(a−g3)中、
a43は、酸素原子、カルボニル基、カルボニルオキシ基又はオキシカルボニル基を表す。
a45は、少なくとも1つのハロゲン原子を有する炭素数1〜17の脂肪族炭化水素基を表す。]
a42が、式(a−g3)で表される基を有する脂肪族炭化水素基である場合、式(a−g3)で表される基に含まれる炭素数を含めて、Ra42の脂肪族炭化水素基の総炭素数は、15以下が好ましく、12以下がより好ましい。式(a−g3)で表される基を置換基として有する場合、その数は1個が好ましい。
[In the formula (a-g3),
X a43 represents an oxygen atom, a carbonyl group, a carbonyloxy group or an oxycarbonyl group.
A a45 represents a C 1-17 aliphatic hydrocarbon group having at least one halogen atom. ]
R a42 is an aliphatic hydrocarbon group having a group represented by the formula (a-g3), including the number of carbon atoms contained in the group represented by the formula (a-g3), fat R a42 The total carbon number of the group hydrocarbon group is preferably 15 or less, more preferably 12 or less. When it has a group represented by the formula (a-g3) as a substituent, the number is preferably 1.

a42の式(a−g3)で表される基を有する脂肪族炭化水素基は、さらに好ましくは式(a−g2)で表される基である。 The aliphatic hydrocarbon group having a group represented by the formula (a-g3) of R a42 is more preferably a group represented by the formula (a-g2).

[式(a−g2)中、
a46は、ハロゲン原子を有していてもよい炭素数1〜17の脂肪族炭化水素基を表す。
a44は、カルボニルオキシ基又はオキシカルボニル基を表す。
a47は、ハロゲン原子を有していてもよい炭素数1〜17の脂肪族炭化水素基を表す。
ただし、Aa46、Aa47及びXa44の炭素数の合計は18以下であり、Aa46及びAa47のうち、少なくとも一方は、少なくとも1つのハロゲン原子を有する。]
[In the formula (a-g2),
A a46 represents an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 17 carbon atoms which may have a halogen atom.
X a44 represents a carbonyloxy group or an oxycarbonyl group.
A a47 represents an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 17 carbon atoms which may have a halogen atom.
However, the total number of carbon atoms of A a46 , A a47, and X a44 is 18 or less, and at least one of A a46 and A a47 has at least one halogen atom. ]

好適なRa42である、ハロゲン原子及び式(a−g3)で表される基からなる群より選ばれる少なくとも一種の置換基を有する脂肪族炭化水素基(式(a−g2)で表される基)について詳述する。 Suitable R a42 , an aliphatic hydrocarbon group having at least one substituent selected from the group consisting of a halogen atom and a group represented by the formula (a-g3) (represented by the formula (a-g2)) Group) will be described in detail.

a42がハロゲン原子を有する脂肪族炭化水素基である場合、好ましくはフッ素原子を有する脂肪族炭化水素基であり、より好ましくはペルフルオロアルキル基又はペルフルオロシクロアルキル基であり、さらに好ましくは炭素数が1〜6のペルフルオロアルキル基であり、特に好ましくは炭素数1〜3のペルフルオロアルキル基である。ペルフルオロアルキル基としては、例えば、ペルフルオロメチル基、ペルフルオロエチル基、ペルフルオロプロピル基、ペルフルオロブチル基、ペルフルオロペンチル基、ペルフルオロヘキシル基、ペルフルオロヘプチル基及びペルフルオロオクチル基等が挙げられる。ペルフルオロシクロアルキル基としては、例えば、ペルフルオロシクロヘキシル基等が挙げられる。 When R a42 is an aliphatic hydrocarbon group having a halogen atom, it is preferably an aliphatic hydrocarbon group having a fluorine atom, more preferably a perfluoroalkyl group or a perfluorocycloalkyl group, and still more preferably a carbon number. It is a 1-6 perfluoroalkyl group, Most preferably, it is a C1-C3 perfluoroalkyl group. Examples of the perfluoroalkyl group include a perfluoromethyl group, a perfluoroethyl group, a perfluoropropyl group, a perfluorobutyl group, a perfluoropentyl group, a perfluorohexyl group, a perfluoroheptyl group, and a perfluorooctyl group. Examples of the perfluorocycloalkyl group include a perfluorocyclohexyl group.

a46の脂肪族炭化水素基の炭素数は1〜6が好ましく、1〜3がより好ましい。
a47の脂肪族炭化水素基の炭素数は4〜15が好ましく、5〜12がより好ましく、Aa47は、シクロヘキシル基又はアダマンチル基がさらに好ましい。
1-6 are preferable and, as for carbon number of the aliphatic hydrocarbon group of Aa46 , 1-3 are more preferable.
4-15 are preferable, as for carbon number of the aliphatic hydrocarbon group of A <a47> , 5-12 are more preferable, and A <a47> has a more preferable cyclohexyl group or an adamantyl group.

式(a−g2)で表される基の具体例としては、以下の基が挙げられる。   Specific examples of the group represented by the formula (a-g2) include the following groups.

a41のアルカンジイル基としては、メチレン基、エチレン基、プロパン−1,3−ジイル基、ブタン−1,4−ジイル基、ペンタン−1,5−ジイル基、ヘキサン−1,6−ジイル基等の直鎖状アルカンジイル基;プロパン−1,2−ジイル基、ブタン−1,3−ジイル基、2−メチルプロパン−1,3−ジイル基、2−メチルプロパン−1,2−ジイル基、1−メチルブタン−1,4−ジイル基、2−メチルブタン−1,4−ジイル基等の分岐鎖状アルカンジイル基が挙げられる。
a41のアルカンジイル基における置換基としては、ヒドロキシ基及び炭素数1〜6のアルコキシ基等が挙げられる。
a41は、好ましくは炭素数1〜4のアルカンジイル基であり、より好ましくは炭素数2〜4のアルカンジイル基であり、さらに好ましくはエチレン基である。
As the alkanediyl group of Aa41 , a methylene group, an ethylene group, a propane-1,3-diyl group, a butane-1,4-diyl group, a pentane-1,5-diyl group, a hexane-1,6-diyl group Linear alkanediyl group such as propane-1,2-diyl group, butane-1,3-diyl group, 2-methylpropane-1,3-diyl group, 2-methylpropane-1,2-diyl group And branched chain alkanediyl groups such as 1-methylbutane-1,4-diyl group and 2-methylbutane-1,4-diyl group.
Examples of the substituent in the alkanediyl group of A a41 include a hydroxy group and an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms.
A a41 is preferably an alkanediyl group having 1 to 4 carbon atoms, more preferably an alkanediyl group having 2 to 4 carbon atoms, and still more preferably an ethylene group.

a41の式(a−g1)で表される基(以下、場合により「基(a−g1)」という。)は、Aa44が−O−CO−Ra42と結合する。
基(a−g1)におけるAa42、Aa43及びAa44の脂肪族炭化水素基としては、例えば、メチレン基、エチレン基、プロパン−1,3−ジイル基、プロパン−1,2−ジイル基、ブタン−1,4−ジイル基、ブタン−1,3−ジイル基、2−メチルプロパン−1,3−ジイル基、2−メチルプロパン−1,2−ジイル基等のアルカンジイル基が挙げられる。これらの置換基としては、ヒドロキシ基及び炭素数1〜6のアルコキシ基等が挙げられる。
In the group represented by the formula (a-g1) of A a41 (hereinafter sometimes referred to as “group (a-g1)”), A a44 is bonded to —O—CO—R a42 .
Examples of the aliphatic hydrocarbon group represented by A a42 , A a43, and A a44 in the group (a-g1) include a methylene group, an ethylene group, a propane-1,3-diyl group, a propane-1,2-diyl group, Examples include alkanediyl groups such as butane-1,4-diyl group, butane-1,3-diyl group, 2-methylpropane-1,3-diyl group, and 2-methylpropane-1,2-diyl group. Examples of these substituents include a hydroxy group and an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms.

a42が酸素原子である基(a−g1)としては、例えば、以下の基等が挙げられる。以下の例示において、それぞれ*で表される2つの結合手のうち、右側の*が−O−CO−Ra42との結合手である。 Examples of the group (a-g1) in which X a42 is an oxygen atom include the following groups. In the following examples, among the two bonds represented by *, * on the right side is a bond with —O—CO—R a42 .

a42がカルボニル基である基(a−g1)としては、例えば、以下の基等が挙げられる。 Examples of the group (a-g1) in which X a42 is a carbonyl group include the following groups.

a42がカルボニルオキシ基である基(a−g1)としては、例えば、以下の基等が挙げられる。 Examples of the group (a-g1) in which X a42 is a carbonyloxy group include the following groups.

a42がオキシカルボニル基である基(a−g1)としては、例えば、以下の基等が挙げられる。 Examples of the group (a-g1) in which X a42 is an oxycarbonyl group include the following groups.

式(a4−1)で表される構造単位としては、式(a4−2)又は式(a4−3)で表される構造単位が好ましい。   As the structural unit represented by the formula (a4-1), a structural unit represented by the formula (a4-2) or the formula (a4-3) is preferable.

[式(a4−2)中、
f1は、水素原子又はメチル基を表す。
f1は、炭素数1〜6のアルカンジイル基を表す。
f2は、フッ素原子を有する炭素数1〜10の炭化水素基を表す。]
[In the formula (a4-2),
R f1 represents a hydrogen atom or a methyl group.
A f1 represents an alkanediyl group having 1 to 6 carbon atoms.
R f2 represents a C 1-10 hydrocarbon group having a fluorine atom. ]

f1のアルカンジイル基としては、メチレン基、エチレン基、プロパン−1,3−ジイル基、ブタン−1,4−ジイル基、ペンタン−1,5−ジイル基、ヘキサン−1,6−ジイル基等の直鎖状アルカンジイル基;プロパン−1,2−ジイル基、ブタン−1,3−ジイル基、2−メチルプロパン−1,3−ジイル基、2−メチルプロパン−1,2−ジイル基、1−メチルブタン−1,4−ジイル基、2−メチルブタン−1,4−ジイル基等の分岐鎖状アルカンジイル基が挙げられる。 As the alkanediyl group of A f1 , a methylene group, an ethylene group, a propane-1,3-diyl group, a butane-1,4-diyl group, a pentane-1,5-diyl group, a hexane-1,6-diyl group Linear alkanediyl group such as propane-1,2-diyl group, butane-1,3-diyl group, 2-methylpropane-1,3-diyl group, 2-methylpropane-1,2-diyl group And branched chain alkanediyl groups such as 1-methylbutane-1,4-diyl group and 2-methylbutane-1,4-diyl group.

f2の炭化水素基としては、脂肪族炭化水素基及び芳香族炭化水素基を包含し、脂肪族炭化水素基は、鎖式、環式及びこれらの組合せを含む。Rf2の脂肪族炭化水素基としては、アルキル基、脂環式炭化水素基が好ましい。
f2の脂肪族炭化水素基としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、オクチル基及び2−エチルヘキシル基等のアルキル基が挙げられる。
f2の脂環式炭化水素基としては、単環式又は多環式のいずれでもよく、単環式の脂環式炭化水素基としては、例えば、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、メチルシクロヘキシル基、ジメチルシクロヘキシル基、シクロヘプチル基、シクロオクチル基、シクロヘプチル基、シクロデシル基等のシクロアルキル基が挙げられる。多環式の脂環式炭化水素基としては、例えば、デカヒドロナフチル基、アダマンチル基、2−アルキルアダマンタン−2−イル基、1−(アダマンタン−1−イル)アルカン−1−イル基、ノルボルニル基、メチルノルボルニル基及びイソボルニル基が挙げられる。
The hydrocarbon group for R f2 includes an aliphatic hydrocarbon group and an aromatic hydrocarbon group, and the aliphatic hydrocarbon group includes a chain type, a cyclic type, and a combination thereof. As the aliphatic hydrocarbon group for R f2 , an alkyl group and an alicyclic hydrocarbon group are preferable.
Examples of the aliphatic hydrocarbon group represented by R f2 include methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, sec-butyl group, tert-butyl group, pentyl group, hexyl group, octyl group and 2 -Alkyl groups, such as an ethylhexyl group, are mentioned.
The alicyclic hydrocarbon group for R f2 may be either monocyclic or polycyclic. Examples of the monocyclic alicyclic hydrocarbon group include a cyclopropyl group, a cyclobutyl group, a cyclopentyl group, and cyclohexyl. Cycloalkyl groups such as a group, methylcyclohexyl group, dimethylcyclohexyl group, cycloheptyl group, cyclooctyl group, cycloheptyl group, and cyclodecyl group. Examples of the polycyclic alicyclic hydrocarbon group include decahydronaphthyl group, adamantyl group, 2-alkyladamantan-2-yl group, 1- (adamantan-1-yl) alkane-1-yl group, and norbornyl. Group, methylnorbornyl group and isobornyl group.

f2のフッ素原子を有する炭化水素基としては、フッ素原子を有するアルキル基、フッ素原子を有する脂環式炭化水素基等が挙げられる。
具体的には、Rf2のフッ素原子を有するアルキル基としては、ジフルオロメチル基、トリフルオロメチル基、1,1−ジフルオロエチル基、2,2−ジフルオロエチル基、2,2,2−トリフルオロエチル基、ペルフルオロエチル基、1,1,2,2−テトラフルオロプロピル基、1,1,2,2,3,3−ヘキサフルオロプロピル基、ペルフルオロエチルメチル基、1−(トリフルオロメチル)−1,2,2,2−テトラフルオロエチル基、ペルフルオロプロピル基、1,1,2,2−テトラフルオロブチル基、1,1,2,2,3,3−ヘキサフルオロブチル基、1,1,2,2,3,3,4,4−オクタフルオロブチル基、ペルフルオロブチル基、1,1−ビス(トリフルオロ)メチル−2,2,2−トリフルオロエチル基、2−(ペルフルオロプロピル)エチル基、1,1,2,2,3,3,4,4−オクタフルオロペンチル基、ペルフルオロペンチル基、1,1,2,2,3,3,4,4,5,5−デカフルオロペンチル基、1,1−ビス(トリフルオロメチル)−2,2,3,3,3−ペンタフルオロプロピル基、ペルフルオロペンチル基、2−(ペルフルオロブチル)エチル基、1,1,2,2,3,3,4,4,5,5−デカフルオロヘキシル基、1,1,2,2,3,3,4,4,5,5,6,6−ドデカフルオロヘキシル基、ペルフルオロペンチルメチル基及びペルフルオロヘキシル基等のフッ化アルキル基が挙げられる。
f2のフッ素原子を有する脂環式炭化水素基としては、ペルフルオロシクロヘキシル基、ペルフルオロアダマンチル基等が挙げられる。
Examples of the hydrocarbon group having a fluorine atom for R f2 include an alkyl group having a fluorine atom and an alicyclic hydrocarbon group having a fluorine atom.
Specifically, examples of the alkyl group having a fluorine atom of R f2 include a difluoromethyl group, a trifluoromethyl group, a 1,1-difluoroethyl group, a 2,2-difluoroethyl group, and a 2,2,2-trifluoro. Ethyl group, perfluoroethyl group, 1,1,2,2-tetrafluoropropyl group, 1,1,2,2,3,3-hexafluoropropyl group, perfluoroethylmethyl group, 1- (trifluoromethyl)- 1,2,2,2-tetrafluoroethyl group, perfluoropropyl group, 1,1,2,2-tetrafluorobutyl group, 1,1,2,2,3,3-hexafluorobutyl group, 1,1 , 2,2,3,3,4,4-octafluorobutyl group, perfluorobutyl group, 1,1-bis (trifluoro) methyl-2,2,2-trifluoroethyl group, 2- (pe Fluoropropyl) ethyl group, 1,1,2,2,3,3,4,4-octafluoropentyl group, perfluoropentyl group, 1,1,2,2,3,3,4,4,5,5 -Decafluoropentyl group, 1,1-bis (trifluoromethyl) -2,2,3,3,3-pentafluoropropyl group, perfluoropentyl group, 2- (perfluorobutyl) ethyl group, 1,1,2 , 2,3,3,4,4,5,5-decafluorohexyl group, 1,1,2,2,3,3,4,4,5,5,6,6-dodecafluorohexyl group, perfluoro Examples include fluorinated alkyl groups such as a pentylmethyl group and a perfluorohexyl group.
Examples of the alicyclic hydrocarbon group having a fluorine atom of R f2 include a perfluorocyclohexyl group and a perfluoroadamantyl group.

式(a4−2)においては、Af1としては、炭素数2〜4のアルカンジイル基が好ましく、エチレン基がより好ましい。
f2としては、炭素数1〜6のフッ化アルキル基が好ましい。
In Formula (a4-2), as A f1 , an alkanediyl group having 2 to 4 carbon atoms is preferable, and an ethylene group is more preferable.
R f2 is preferably a fluorinated alkyl group having 1 to 6 carbon atoms.

[式(a4−3)中、
f11は、水素原子又はメチル基を表す。
f11は、炭素数1〜6のアルカンジイル基を表す。
f13は、フッ素原子を有していてもよい炭素数1〜17の脂肪族炭化水素基を表す。
f12は、カルボニルオキシ基又はオキシカルボニル基を表す。
f14は、フッ素原子を有していてもよい炭素数1〜17の脂肪族炭化水素基を表す。
ただし、Af13及びAf14の少なくとも1つは、フッ素原子を有する脂肪族炭化水素基
を表す。]
[In the formula (a4-3),
R f11 represents a hydrogen atom or a methyl group.
A f11 represents an alkanediyl group having 1 to 6 carbon atoms.
A f13 represents an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 17 carbon atoms which may have a fluorine atom.
X f12 represents a carbonyloxy group or an oxycarbonyl group.
A f14 represents an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 17 carbon atoms which may have a fluorine atom.
However, at least one of A f13 and A f14 represents an aliphatic hydrocarbon group having a fluorine atom. ]

f11のアルカンジイル基としては、Af1のアルカンジイル基と同様の基が挙げられる。 Examples of the alkanediyl group for A f11 include the same groups as the alkanediyl group for A f1 .

f13の脂肪族炭化水素基としては、鎖式及び環式のいずれか、並びに、これらが組合せられた2価の基が包含される。この脂肪族炭化水素基は、炭素−炭素不飽和結合を有していてもよいが、好ましくは飽和の脂肪族炭化水素基である。
f13のフッ素原子を有していてもよい脂肪族炭化水素基としては、好ましくはフッ素原子を有していてもよい脂肪族飽和炭化水素基、すなわちフッ素原子を有していてもよいアルカンジイル基及びフッ素原子を有していてもよい脂環式飽和炭化水素基のいずれか、並びに、これらが組合せられた2価の基であり、より好ましくはペルフルオロアルカンジイル基である。
フッ素原子を有していてもよい2価の鎖式の脂肪族炭化水素基としては、メチレン基、エチレン基、プロパンジイル基、ブタンジイル基及びペンタンジイル基等のアルカンジイル基;ジフルオロメチレン基、ペルフルオロエチレン基、ペルフルオロプロパンジイル基、ペルフルオロブタンジイル基及びペルフルオロペンタンジイル基等のペルフルオロアルカンジイル基等が挙げられる。
フッ素原子を有していてもよい2価の環式の脂肪族炭化水素基は、単環式及び多環式のいずれでもよい。フッ素原子を有していてもよい2価の単環式の脂肪族炭化水素基としては、シクロヘキサンジイル基及びペルフルオロシクロヘキサンジイル基等が挙げられる。フッ素原子を有していてもよい2価の多環式の2価の脂肪族炭化水素基としては、アダマンタンジイル基、ノルボルナンジイル基、ペルフルオロアダマンタンジイル基等が挙げられる。
The aliphatic hydrocarbon group for A f13 includes either a chain or a cyclic group, and a divalent group in which these are combined. The aliphatic hydrocarbon group may have a carbon-carbon unsaturated bond, but is preferably a saturated aliphatic hydrocarbon group.
The aliphatic hydrocarbon group which may have a fluorine atom of A f13 is preferably an aliphatic saturated hydrocarbon group which may have a fluorine atom, that is, an alkanediyl which may have a fluorine atom. Any of a group and an alicyclic saturated hydrocarbon group which may have a fluorine atom, and a divalent group in which these are combined, more preferably a perfluoroalkanediyl group.
Examples of the divalent chain aliphatic hydrocarbon group which may have a fluorine atom include alkanediyl groups such as methylene group, ethylene group, propanediyl group, butanediyl group and pentanediyl group; difluoromethylene group, perfluoroethylene Groups, perfluoroalkanediyl groups such as perfluoropropanediyl group, perfluorobutanediyl group and perfluoropentanediyl group.
The divalent cyclic aliphatic hydrocarbon group which may have a fluorine atom may be either monocyclic or polycyclic. Examples of the divalent monocyclic aliphatic hydrocarbon group which may have a fluorine atom include a cyclohexanediyl group and a perfluorocyclohexanediyl group. Examples of the divalent polycyclic divalent aliphatic hydrocarbon group which may have a fluorine atom include an adamantanediyl group, a norbornanediyl group, a perfluoroadamantanediyl group, and the like.

f14の脂肪族炭化水素基としては、鎖式及び環式のいずれか、並びに、これらが組合せられた脂肪族炭化水素基が包含される。この脂肪族炭化水素基は、炭素−炭素不飽和結合を有していてもよいが、好ましくは飽和の脂肪族炭化水素基である。
f14のフッ素原子を有していてもよい脂肪族炭化水素基としては、好ましくはフッ素原子を有していてもよい脂肪族飽和炭化水素基、すなわちフッ素原子を有していてもよいアルキル基及びフッ素原子を有していてもよい脂環式飽和炭化水素基のいずれか、並びに、これらが組合せられた基である。
フッ素原子を有していてもよい鎖式の脂肪族炭化水素基としては、トリフルオロメチル基、ジフルオロメチル基、メチル基、ペルフルオロエチル基、1,1,1−トリフルオロエチル基、1,1,2,2−テトラフルオロエチル基、エチル基、ペルフルオロプロピル基、1,1,1,2,2−ペンタフルオロプロピル基、プロピル基、ペルフルオロブチル基、1,1,2,2,3,3,4,4−オクタフルオロブチル基、ブチル基、ペルフルオロペンチル基、1,1,1,2,2,3,3,4,4−ノナフルオロペンチル基及びペンチル基、ヘキシル基、ペルフルオロヘキシル基、ヘプチル基、ペルフルオロヘプチル基、オクチル基及びペルフルオロオクチル基等が挙げられる。
等が挙げられる。
フッ素原子を有していてもよい環式の脂肪族炭化水素基は、単環式及び多環式のいずれでもよい。フッ素原子を有していてもよい単環式の脂肪族炭化水素基を含む基としては、シクロプロピルメチル基、シクロプロピル基、シクロブチルメチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、ペルフルオロシクロヘキシル基が挙げられる。フッ素原子を有していてもよい多環式の脂肪族炭化水素基を含む基としては、アダマンチル基、アダマンチルメチル基、ノルボルニル基、ノルボルニルメチル基、ペルフルオロアダマンチル基、ペルフルオロアダマンチルメチル基等が挙げられる。
As the aliphatic hydrocarbon group for A f14 , either a chain or a cyclic group, and an aliphatic hydrocarbon group in which these are combined are included. The aliphatic hydrocarbon group may have a carbon-carbon unsaturated bond, but is preferably a saturated aliphatic hydrocarbon group.
The aliphatic hydrocarbon group which may have a fluorine atom for A f14 is preferably an aliphatic saturated hydrocarbon group which may have a fluorine atom, that is, an alkyl group which may have a fluorine atom. And an alicyclic saturated hydrocarbon group which may have a fluorine atom, and a combination thereof.
Examples of the chain aliphatic hydrocarbon group which may have a fluorine atom include a trifluoromethyl group, a difluoromethyl group, a methyl group, a perfluoroethyl group, a 1,1,1-trifluoroethyl group, 1,1 , 2,2-tetrafluoroethyl group, ethyl group, perfluoropropyl group, 1,1,1,2,2-pentafluoropropyl group, propyl group, perfluorobutyl group, 1,1,2,2,3,3 , 4,4-octafluorobutyl group, butyl group, perfluoropentyl group, 1,1,1,2,2,3,3,4,4-nonafluoropentyl group and pentyl group, hexyl group, perfluorohexyl group, A heptyl group, a perfluoro heptyl group, an octyl group, a perfluorooctyl group, etc. are mentioned.
Etc.
The cyclic aliphatic hydrocarbon group which may have a fluorine atom may be monocyclic or polycyclic. Examples of the group containing a monocyclic aliphatic hydrocarbon group which may have a fluorine atom include a cyclopropylmethyl group, a cyclopropyl group, a cyclobutylmethyl group, a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, and a perfluorocyclohexyl group. . Examples of the group containing a polycyclic aliphatic hydrocarbon group which may have a fluorine atom include an adamantyl group, an adamantylmethyl group, a norbornyl group, a norbornylmethyl group, a perfluoroadamantyl group, and a perfluoroadamantylmethyl group. Can be mentioned.

式(a4−3)においては、Af11としては、エチレン基が好ましい。
f13の脂肪族炭化水素基は、炭素数1〜6が好ましく、2〜3がさらに好ましい。
f14の脂肪族炭化水素基は、炭素数3〜12が好ましく、3〜10がさらに好ましい。なかでも、Af14は、好ましくは炭素数3〜12の脂環式炭化水素基を含む基であり、より好ましくは、シクロプロピルメチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、ノルボルニル基及びアダマンチル基である。
In the formula (a4-3), examples of A f11, ethylene group is preferable.
The aliphatic hydrocarbon group for A f13 preferably has 1 to 6 carbon atoms, and more preferably 2 to 3 carbon atoms.
The aliphatic hydrocarbon group for A f14 preferably has 3 to 12 carbon atoms, and more preferably 3 to 10 carbon atoms. Among them, A f14 is preferably a group containing an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 12 carbon atoms, and more preferably a cyclopropylmethyl group, a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, a norbornyl group, and an adamantyl group.

式(a4−2)で表される構造単位を導くモノマーとしては、例えば、式(a4−1−1)〜式(a4−1−22)でそれぞれ表されるモノマーが挙げられる。   Examples of the monomer for deriving the structural unit represented by the formula (a4-2) include monomers represented by the formula (a4-1-1) to the formula (a4-1-22), respectively.

式(a4−3)で表される構造単位を導くモノマーとしては、例えば、式(a4−1’−1)〜式(a4−1’−22)でそれぞれ表されるモノマーが挙げられる。   Examples of the monomer for deriving the structural unit represented by formula (a4-3) include monomers represented by formula (a4-1′-1) to formula (a4-1′-22), respectively.

構造単位(a4)としては、式(a4−4)で表される構造単位も挙げられる。   Examples of the structural unit (a4) include a structural unit represented by the formula (a4-4).

[式(a4−4)中、
f21は、水素原子又はメチル基を表す。
f21は、−(CH2j1−、−(CH2j2−O−(CH2j3−又は−(CH2j4−CO−O−(CH2j5−を表す。
j1〜j5は、それぞれ独立に、1〜6の整数を表す。
f22は、フッ素原子を有する炭素数1〜10の炭化水素基を表す。]
[In the formula (a4-4),
R f21 represents a hydrogen atom or a methyl group.
A f21 represents — (CH 2 ) j1 —, — (CH 2 ) j2 —O— (CH 2 ) j3 — or — (CH 2 ) j4 —CO—O— (CH 2 ) j5 —.
j1 to j5 each independently represents an integer of 1 to 6.
R f22 represents a C 1-10 hydrocarbon group having a fluorine atom. ]

f22のフッ素原子を有する炭化水素基としては、式(a4−2)におけるRf2の炭化水素基と同じものが挙げられる。Rf22は、フッ素原子を有する炭素数1〜10のアルキル基又はフッ素原子を有する炭素数1〜10の脂環式炭化水素基が好ましく、フッ素原子を有する炭素数1〜10のアルキル基がより好ましく、フッ素原子を有する炭素数1〜6のアルキル基がさらに好ましい。 Examples of the hydrocarbon group having a fluorine atom of R f22 include the same hydrocarbon groups as R f2 in formula (a4-2). R f22 is preferably a C 1-10 alkyl group having a fluorine atom or a C 1-10 alicyclic hydrocarbon group having a fluorine atom, more preferably a C 1-10 alkyl group having a fluorine atom. Preferably, the C1-C6 alkyl group which has a fluorine atom is further more preferable.

式(a4−4)では、Af21としては、−(CH2j1−が好ましく、エチレン基又はメチレン基がより好ましく、メチレン基がさらに好ましい。 In formula (a4-4), A f21 is preferably — (CH 2 ) j1 —, more preferably an ethylene group or a methylene group, and still more preferably a methylene group.

式(a4−4)で表される構造単位を誘導するモノマーとしては、例えば、以下のモノマーが挙げられる。   Examples of the monomer for deriving the structural unit represented by the formula (a4-4) include the following monomers.

樹脂(A)が、構造単位(a4)を有する場合、その含有割合は、樹脂(A)の全構造単位に対して、1〜20モル%が好ましく、2〜15モル%がより好ましく、3〜10モル%がさらに好ましい。   When the resin (A) has the structural unit (a4), the content is preferably 1 to 20 mol%, more preferably 2 to 15 mol%, based on all structural units of the resin (A). More preferably, it is 10 mol%.

樹脂(A)は、上述の構造単位以外の構造単位を有していてもよく、かかる構造単位としては、当技術分野で周知の構造単位を挙げられる。   The resin (A) may have a structural unit other than the above-described structural unit, and examples of the structural unit include structural units well known in the art.

樹脂(A)が、構造単位(I)と構造単位(a)とのみからなる樹脂である場合、これらの含有率は、樹脂(A)の全構造単位に対して、それぞれ、
構造単位(I);1〜90モル%
構造単位(a);10〜99モル%
が好ましく、
構造単位(I);3〜80モル%
構造単位(a);20〜97モル%
がより好ましく、
構造単位(I);5〜70モル%
構造単位(a);30〜95モル%
がさらに好ましい。
When the resin (A) is a resin composed only of the structural unit (I) and the structural unit (a), these contents are respectively expressed with respect to all the structural units of the resin (A).
Structural unit (I); 1 to 90 mol%
Structural unit (a); 10-99 mol%
Is preferred,
Structural unit (I); 3 to 80 mol%
Structural unit (a); 20 to 97 mol%
Is more preferred,
Structural unit (I); 5-70 mol%
Structural unit (a); 30-95 mol%
Is more preferable.

本発明の樹脂(A)が、構造単位(I)と、構造単位(a)と、構造単位(s)からなる樹脂である場合、これらの含有率は、樹脂(A)の全構造単位に対して、それぞれ、
構造単位(I);1〜60モル%
構造単位(a);20〜80モル%
構造単位(s);10〜79モル%
が好ましく、
構造単位(I);3〜50モル%
構造単位(a);25〜75モル%
構造単位(s);15〜72モル%
がより好ましく、
構造単位(I);5〜40モル%
構造単位(a);30〜65モル%
構造単位(s);20〜65モル%
がさらに好ましい。
また、構造単位(I)と構造単位(a)のモル比(構造単位(a)/構造単位(I))は、0.1〜15が好ましく、0.2〜10がより好ましく、0.5〜8がさらに好ましい。構造単位(I)と構造単位(s)のモル比(構造単位(s)/構造単位(I))は、0.1〜10が好ましく、0.2〜8がより好ましく、0.1〜5がさらに好ましい。
When the resin (A) of the present invention is a resin composed of the structural unit (I), the structural unit (a), and the structural unit (s), the content of these is the total structural unit of the resin (A). In contrast,
Structural unit (I); 1-60 mol%
Structural unit (a); 20 to 80 mol%
Structural unit (s); 10-79 mol%
Is preferred,
Structural unit (I); 3 to 50 mol%
Structural unit (a); 25-75 mol%
Structural unit (s); 15-72 mol%
Is more preferred,
Structural unit (I); 5 to 40 mol%
Structural unit (a); 30-65 mol%
Structural unit (s); 20-65 mol%
Is more preferable.
The molar ratio of the structural unit (I) to the structural unit (a) (structural unit (a) / structural unit (I)) is preferably 0.1 to 15, more preferably 0.2 to 10, and 5-8 are more preferable. The molar ratio of the structural unit (I) to the structural unit (s) (structural unit (s) / structural unit (I)) is preferably 0.1 to 10, more preferably 0.2 to 8, 5 is more preferable.

樹脂(A)は、好ましくは、構造単位(I)と構造単位(a)と構造単位(s)とからなる樹脂である。
構造単位(a)は、好ましくは構造単位(a1−1)及び構造単位(a1−2)(好ましくはシクロヘキシル基、シクロペンチル基を有する該構造単位)の少なくとも一種、より好ましくは構造単位(a1−1)である。
構造単位(s)は、好ましくは構造単位(a2)及び構造単位(a3)の少なくとも一種である。構造単位(a2)は、好ましくは構造単位(a2−1)である。構造単位(a3)は、好ましくは構造単位(a3−1)及び構造単位(a3−2)の少なくとも一種である。
The resin (A) is preferably a resin composed of the structural unit (I), the structural unit (a), and the structural unit (s).
The structural unit (a) is preferably at least one of the structural unit (a1-1) and the structural unit (a1-2) (preferably the structural unit having a cyclohexyl group or a cyclopentyl group), more preferably the structural unit (a1- 1).
The structural unit (s) is preferably at least one of the structural unit (a2) and the structural unit (a3). The structural unit (a2) is preferably the structural unit (a2-1). The structural unit (a3) is preferably at least one of the structural unit (a3-1) and the structural unit (a3-2).

樹脂(A)は、アダマンチル基を有するモノマーに由来する構造単位(特に、構造単位(a1−1))を、全構造単位(a)に対して15モル%以上含有していることが好ましく、20モル%以上がより好ましく、25モル%以上がさらに好ましい。アダマンチル基を有する構造単位の含有量が多いと、レジストパターンのドライエッチング耐性が向上する。   The resin (A) preferably contains a structural unit derived from a monomer having an adamantyl group (particularly the structural unit (a1-1)) in an amount of 15 mol% or more based on the total structural unit (a). 20 mol% or more is more preferable, and 25 mol% or more is further more preferable. When the content of the structural unit having an adamantyl group is large, the dry etching resistance of the resist pattern is improved.

樹脂(A)を構成する各構造単位は、1種のみ又は2種以上を組合せて用いてもよく、これら構造単位を誘導するモノマーを用いて、公知の重合法(例えばラジカル重合法)によって製造することができる。   Each structural unit constituting the resin (A) may be used alone or in combination of two or more, and is produced by a known polymerization method (for example, radical polymerization method) using a monomer that derives these structural units. can do.

本発明のレジスト組成物における樹脂(A)の含有率は、レジスト組成物の固形分に対して、70質量%以上99質量%以下が好ましく、75質量%以上98質量%以下が好ましく、80質量%以上97質量%以下が好ましい。本明細書において、「レジスト組成物の固形分」とは、レジスト組成物の総量から、後述する溶剤(E)を除いた成分の合計を意味する。レジスト組成物の固形分及びこれに対する樹脂の含有率は、例えば、液体クロマトグラフィー又はガスクロマトグラフィー等の公知の分析手段で測定することができる。   The content of the resin (A) in the resist composition of the present invention is preferably 70% by mass or more and 99% by mass or less, preferably 75% by mass or more and 98% by mass or less, and 80% by mass with respect to the solid content of the resist composition. % To 97% by mass is preferable. In the present specification, the “solid content of the resist composition” means the total of components excluding the solvent (E) described later from the total amount of the resist composition. The solid content of the resist composition and the resin content relative to the solid content can be measured, for example, by known analytical means such as liquid chromatography or gas chromatography.

<樹脂(A)以外の樹脂>
本発明のレジスト組成物は、樹脂(A)以外の樹脂を含んでもよい。このような樹脂としては、構造単位(s)のみからなる樹脂が挙げられる。
中でも、樹脂(A)以外の樹脂としては、構造単位(a4)を有する樹脂(ただし、構造単位(I)を有さない。)(以下「樹脂(X)」という場合がある。)が好ましい。樹脂(X)において、構造単位(a4)の含有割合は、樹脂(X)の全構造単位に対して、30モル%以上が好ましく、35モル%以上がより好ましく、40モル%以上がさらに好ましい。
樹脂(X)がさらに有していてもよい構造単位としては、例えば、構造単位(a1)、構造単位(a2)、構造単位(a3)及びその他の公知のモノマーに由来する構造単位が挙げられる。
<Resin other than resin (A)>
The resist composition of the present invention may contain a resin other than the resin (A). An example of such a resin is a resin composed of only the structural unit (s).
Among these, as the resin other than the resin (A), a resin having the structural unit (a4) (but not having the structural unit (I)) (hereinafter sometimes referred to as “resin (X)”) is preferable. . In the resin (X), the content ratio of the structural unit (a4) is preferably 30 mol% or more, more preferably 35 mol% or more, still more preferably 40 mol% or more with respect to all the structural units of the resin (X). .
Examples of the structural unit that the resin (X) may further include a structural unit derived from the structural unit (a1), the structural unit (a2), the structural unit (a3), and other known monomers. .

本発明のレジスト組成物が樹脂(X)を含む場合、その含有量は、樹脂(A)100質量部に対して、好ましくは1〜60質量部であり、より好ましくは3〜50質量部であり、さらに好ましくは4〜40質量部であり、特に好ましくは5〜30質量部である。   When the resist composition of this invention contains resin (X), the content becomes like this. Preferably it is 1-60 mass parts with respect to 100 mass parts of resin (A), More preferably, it is 3-50 mass parts More preferably, it is 4-40 mass parts, Most preferably, it is 5-30 mass parts.

<樹脂の製造方法>
樹脂(A)は、化合物(I’)、モノマー(a1)並びに必要に応じて用いられるモノマー(a2)、モノマー(a3)、モノマー(a4)を公知の重合法(例えばラジカル重合法)で重合させることにより製造できる。樹脂(A)が有する各構造単位の含有率は、共重合に用いるモノマーの使用量で調整できる。
一方、樹脂(X)は好ましくは、モノマー(a4−1)を公知の重合法に供して重合させたものであり、かかる重合は、モノマー(a4−1)とモノマー(a4−1)以外のモノマーを共重合させたものであってもよい。
<Production method of resin>
Resin (A) is obtained by polymerizing compound (I ′), monomer (a1) and monomer (a2), monomer (a3), and monomer (a4) used as necessary by a known polymerization method (for example, radical polymerization method). Can be manufactured. The content rate of each structural unit which resin (A) has can be adjusted with the usage-amount of the monomer used for copolymerization.
On the other hand, the resin (X) is preferably obtained by subjecting the monomer (a4-1) to polymerization using a known polymerization method, and this polymerization is performed in addition to the monomer (a4-1) and the monomer (a4-1). It may be a copolymer of monomers.

樹脂(A)の重量平均分子量は、好ましくは、2,500以上(より好ましくは3,000以上)、50,000以下(より好ましくは30,000以下)である。
樹脂(X)の重量平均分子量は、好ましくは、8,000以上(より好ましくは10,000以上)、80,000以下(より好ましくは60,000以下)である。
ここで、重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー分析により、標準ポリスチレン基準の換算値として求められるものである。この分析の詳細な分析条件は、本願の実施例に記載する。
The weight average molecular weight of the resin (A) is preferably 2,500 or more (more preferably 3,000 or more) and 50,000 or less (more preferably 30,000 or less).
The weight average molecular weight of the resin (X) is preferably 8,000 or more (more preferably 10,000 or more) and 80,000 or less (more preferably 60,000 or less).
Here, the weight average molecular weight is determined as a converted value based on standard polystyrene by gel permeation chromatography analysis. Detailed analysis conditions for this analysis are described in the Examples of the present application.

〈酸発生剤(B)〉
酸発生剤は、非イオン系とイオン系とに分類されるが、本発明のレジスト組成物の酸発生剤(B)においては、いずれを用いてもよい。非イオン系酸発生剤には、有機ハロゲン化物、スルホネートエステル類(例えば2−ニトロベンジルエステル、芳香族スルホネート、オキシムスルホネート、N−スルホニルオキシイミド、N−スルホニルオキシイミド、スルホニルオキシケトン、ジアゾナフトキノン 4−スルホネート)、スルホン類(例えばジスルホン、ケトスルホン、スルホニルジアゾメタン)等が含まれる。イオン系酸発生剤は、オニウムカチオンを含むオニウム塩(例えばジアゾニウム塩、ホスホニウム塩、スルホニウム塩、ヨードニウム塩)が代表的である。オニウム塩のアニオンとしては、スルホン酸アニオン、スルホニルイミドアニオン、スルホニルメチドアニオン等がある。
好ましい酸発生剤(B)は、放射線の作用により有機スルホン酸、有機スルホニルイミド酸又は有機スルホニルメチド酸を発生する酸発生剤である。
<Acid generator (B)>
The acid generator is classified into a nonionic type and an ionic type, and any of the acid generators (B) of the resist composition of the present invention may be used. Nonionic acid generators include organic halides, sulfonate esters (for example, 2-nitrobenzyl ester, aromatic sulfonate, oxime sulfonate, N-sulfonyloxyimide, N-sulfonyloxyimide, sulfonyloxyketone, diazonaphthoquinone 4). -Sulfonates), sulfones (e.g. disulfone, ketosulfone, sulfonyldiazomethane) and the like. The ionic acid generator is typically an onium salt containing an onium cation (for example, diazonium salt, phosphonium salt, sulfonium salt, iodonium salt). Examples of the anion of the onium salt include a sulfonate anion, a sulfonylimide anion, and a sulfonylmethide anion.
A preferred acid generator (B) is an acid generator that generates organic sulfonic acid, organic sulfonylimide acid or organic sulfonylmethide acid by the action of radiation.

酸発生剤(B)としては、例えば特開昭63−26653号、特開昭55−164824号、特開昭62−69263号、特開昭63−146038号、特開昭63−163452号、特開昭62−153853号、特開昭63−146029号や、米国特許第3,779,778号、米国特許第3,849,137号、独国特許第3914407号、欧州特許第126,712号等に記載の放射線によって酸を発生する化合物を使用することができる。また、公知の方法で製造した化合物を使用してもよい。   Examples of the acid generator (B) include JP-A 63-26653, JP-A 55-164824, JP-A 62-69263, JP-A 63-146038, JP-A 63-163452, JP-A-62-153853, JP-A-63-146029, U.S. Pat. No. 3,779,778, U.S. Pat. No. 3,849,137, German Patent 3914407, European Patent 126,712. A compound capable of generating an acid by radiation described in No. etc. can be used. Moreover, you may use the compound manufactured by the well-known method.

酸発生剤(B)は、好ましくはフッ素含有酸発生剤であり、より好ましくは式(B1)で表される塩である。   The acid generator (B) is preferably a fluorine-containing acid generator, more preferably a salt represented by the formula (B1).

[式(B1)中、
1及びQ2は、それぞれ独立に、フッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表す。
b1は、炭素数1〜17の2価の飽和炭化水素基を表し、該飽和炭化水素基に含まれるメチレン基は、酸素原子又はカルボニル基に置き換わっていてもよく、該飽和炭化水素基に含まれる水素原子は、フッ素原子又はヒドロキシ基で置換されていてもよい。
Yは、置換基を有していてもよい炭素数1〜18のアルキル基又は置換基を有していてもよい炭素数3〜18の脂環式炭化水素基を表し、該アルキル基及び該脂環式炭化水素基に含まれるメチレン基は、酸素原子、スルホニル基又はカルボニル基に置き換わっていてもよい。
+は、有機カチオンを表す。]
[In the formula (B1),
Q 1 and Q 2 each independently represents a fluorine atom or a C 1-6 perfluoroalkyl group.
L b1 represents a divalent saturated hydrocarbon group having 1 to 17 carbon atoms, and the methylene group contained in the saturated hydrocarbon group may be replaced by an oxygen atom or a carbonyl group. The hydrogen atom contained may be substituted with a fluorine atom or a hydroxy group.
Y represents an alkyl group having 1 to 18 carbon atoms which may have a substituent or an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 18 carbon atoms which may have a substituent. The methylene group contained in the alicyclic hydrocarbon group may be replaced with an oxygen atom, a sulfonyl group or a carbonyl group.
Z + represents an organic cation. ]

1及びQ2のペルフルオロアルキル基としては、例えば、トリフルオロメチル基、ペルフルオロエチル基、ペルフルオロプロピル基、ペルフルオロイソプロピル基、ペルフルオロブチル基、ペルフルオロsec−ブチル基、ペルフルオロtert−ブチル基、ペルフルオロペンチル基、ペルフルオロヘキシル基等が挙げられる。
式(B1)では、Q1及びQ2は、それぞれ独立に、好ましくはトリフルオロメチル基又はフッ素原子であり、より好ましくはフッ素原子である。
Examples of the perfluoroalkyl group of Q 1 and Q 2 include a trifluoromethyl group, a perfluoroethyl group, a perfluoropropyl group, a perfluoroisopropyl group, a perfluorobutyl group, a perfluorosec-butyl group, a perfluorotert-butyl group, and a perfluoropentyl group. And perfluorohexyl group.
In formula (B1), Q 1 and Q 2 are each independently preferably a trifluoromethyl group or a fluorine atom, more preferably a fluorine atom.

b1の2価の飽和炭化水素基としては、直鎖状アルカンジイル基、分岐鎖状アルカンジイル基、単環式又は多環式の2価の脂環式飽和炭化水素基が挙げられ、これらの基のうち2種以上を組合せたものでもよい。
具体的には、メチレン基、エチレン基、プロパン−1,3−ジイル基、ブタン−1,4−ジイル基、ペンタン−1,5−ジイル基、ヘキサン−1,6−ジイル基、ヘプタン−1,7−ジイル基、オクタン−1,8−ジイル基、ノナン−1,9−ジイル基、デカン−1,10−ジイル基、ウンデカン−1,11−ジイル基、ドデカン−1,12−ジイル基、トリデカン−1,13−ジイル基、テトラデカン−1,14−ジイル基、ペンタデカン−1,15−ジイル基、ヘキサデカン−1,16−ジイル基、ヘプタデカン−1,17−ジイル基等の直鎖状アルカンジイル基;
直鎖状アルカンジイル基に、アルキル基(特に、炭素数1〜4のアルキル基、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基等)の側鎖を有したもの、例えば、エタン−1,1−ジイル基、プロパン−1,1−ジイル基、プロパン−2,2−ジイル基、プロパン−1,2−ジイル基、ブタン−1,3−ジイル基、2−メチルプロパン−1,3−ジイル基、2−メチルプロパン−1,2−ジイル基、ペンタン−1,4−ジイル基、2−メチルブタン−1,4−ジイル基等の分岐鎖状アルカンジイル基;
シクロブタン−1,3−ジイル基、シクロペンタン−1,3−ジイル基、シクロヘキサン−1,4−ジイル基、シクロオクタン−1,5−ジイル基等のシクロアルカンジイル基である単環式の2価の脂環式飽和炭化水素基;
ノルボルナン−2,3−ジイル基、ノルボルナン−1,4−ジイル基、ノルボルナン−2,5−ジイル基、アダマンタン−1,2−ジイル基、アダマンタン−1,5−ジイル基、アダマンタン−2,6−ジイル基等の多環式の2価の脂環式飽和炭化水素基等が挙げられる。
Examples of the divalent saturated hydrocarbon group for L b1 include a linear alkanediyl group, a branched alkanediyl group, a monocyclic or polycyclic divalent alicyclic saturated hydrocarbon group, and these A combination of two or more of these groups may be used.
Specifically, methylene group, ethylene group, propane-1,3-diyl group, butane-1,4-diyl group, pentane-1,5-diyl group, hexane-1,6-diyl group, heptane-1 , 7-diyl group, octane-1,8-diyl group, nonane-1,9-diyl group, decane-1,10-diyl group, undecane-1,11-diyl group, dodecane-1,12-diyl group , Tridecane-1,13-diyl group, tetradecane-1,14-diyl group, pentadecane-1,15-diyl group, hexadecane-1,16-diyl group, heptadecane-1,17-diyl group, etc. Alkanediyl group;
An alkyl group (particularly an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, such as a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, a butyl group, a sec-butyl group, a tert-butyl group); For example, ethane-1,1-diyl group, propane-1,1-diyl group, propane-2,2-diyl group, propane-1,2-diyl group, butane-1, Such as 3-diyl group, 2-methylpropane-1,3-diyl group, 2-methylpropane-1,2-diyl group, pentane-1,4-diyl group, 2-methylbutane-1,4-diyl group, etc. Branched alkanediyl group;
Monocyclic 2 which is a cycloalkanediyl group such as cyclobutane-1,3-diyl group, cyclopentane-1,3-diyl group, cyclohexane-1,4-diyl group, cyclooctane-1,5-diyl group Valent alicyclic saturated hydrocarbon group;
Norbornane-2,3-diyl group, norbornane-1,4-diyl group, norbornane-2,5-diyl group, adamantane-1,2-diyl group, adamantane-1,5-diyl group, adamantane-2,6 -Polycyclic bivalent alicyclic saturated hydrocarbon groups, such as a diyl group.

b1の飽和炭化水素基に含まれるメチレン基が酸素原子又はカルボニル基に置き換わった基の具体例としては、例えば、式(b1−1)〜式(b1−8)のいずれかで表される基が挙げられる。Lb1は、好ましくは式(b1−1)〜式(b1−4)及び式(b1−8)のいずれかで表される基であり、さらに好ましくは式(b1−1)、式(b1−3)及び式(b1−8)のいずれかで表される基である。なお、式(b1−1)〜式(b1−8)は、その左右を式(B1)に合わせて記載しており、それぞれ*で表される2つの結合手のうち、左側でC(Q1)(Q2)と結合し、右側でYと結合する。以下に示す式(b1−1)〜式(b1−8)の具体例も同様である。 Specific examples of the group in which the methylene group contained in the saturated hydrocarbon group of L b1 is replaced with an oxygen atom or a carbonyl group are represented by any of formulas (b1-1) to (b1-8), for example. Groups. L b1 is preferably a group represented by any one of formula (b1-1) to formula (b1-4) and formula (b1-8), more preferably formula (b1-1) and formula (b1). -3) and a group represented by formula (b1-8). In addition, Formula (b1-1)-Formula (b1-8) have described the right and left according to Formula (B1), and among two bonds represented by *, C (Q 1 ) Combined with (Q 2 ) and combined with Y on the right side. The same applies to specific examples of formula (b1-1) to formula (b1-8) shown below.

式(b1−1)〜式(b1−8)中、
b2は、単結合又は炭素数1〜15の2価の飽和炭化水素基を表す。
b3は、単結合又は炭素数1〜12の2価の飽和炭化水素基を表す。
b4は、炭素数1〜13の2価の飽和炭化水素基を表す。但しLb3及びLb4の合計炭素数の上限は13である。
b5は、単結合又は炭素数1〜14の2価の飽和炭化水素基を表す。
b6は、炭素数1〜15の2価の飽和炭化水素基を表す。但しLb5及びLb6の合計炭素数の上限は15である。
b7は、単結合又は炭素数1〜15の2価の飽和炭化水素基を表す。
b8は、炭素数1〜15の2価の飽和炭化水素基を表す。但しLb7及びLb8の合計炭素数の上限は16である。
b9は、単結合又は炭素数1〜13の2価の飽和炭化水素基を表す。
b10は、炭素数1〜14の2価の飽和炭化水素基を表す。但しLb9及びLb10の合計炭素数の上限は14である。
b11及びLb12は、それぞれ独立に、単結合又は炭素数1〜11の2価の飽和炭化水素基を表す。
b13は、炭素数1〜12の2価の飽和炭化水素基を表す。但しLb11、Lb12及びLb13の合計炭素数の上限は12である。
b14及びLb15は、それぞれ独立に、単結合又は炭素数1〜13の2価の飽和炭化水素基を表す。
b16は、炭素数1〜14の2価の飽和炭化水素基を表す。但しLb14、Lb15及びLb16の合計炭素数の上限は14である。
b17は、単結合又は炭素数1〜10の2価の飽和炭化水素基を表す。
b18及びLb19は、それぞれ独立に、炭素数1〜11の2価の飽和炭化水素基を表す。但しLb17、Lb18及びLb19の合計炭素数の上限は12である。
In formula (b1-1) to formula (b1-8),
L b2 represents a single bond or a divalent saturated hydrocarbon group having 1 to 15 carbon atoms.
L b3 represents a single bond or a divalent saturated hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms.
L b4 represents a divalent saturated hydrocarbon group having 1 to 13 carbon atoms. However, the upper limit of the total carbon number of L b3 and L b4 is 13.
L b5 represents a single bond or a divalent saturated hydrocarbon group having 1 to 14 carbon atoms.
L b6 represents a divalent saturated hydrocarbon group having 1 to 15 carbon atoms. However, the upper limit of the total carbon number of L b5 and L b6 is 15.
L b7 represents a single bond or a divalent saturated hydrocarbon group having 1 to 15 carbon atoms.
L b8 represents a divalent saturated hydrocarbon group having 1 to 15 carbon atoms. However, the upper limit of the total carbon number of L b7 and L b8 is 16.
L b9 represents a single bond or a divalent saturated hydrocarbon group having 1 to 13 carbon atoms.
L b10 represents a divalent saturated hydrocarbon group having 1 to 14 carbon atoms. However, the upper limit of the total carbon number of L b9 and L b10 is 14.
L b11 and L b12 each independently represent a single bond or a divalent saturated hydrocarbon group having 1 to 11 carbon atoms.
L b13 represents a divalent saturated hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms. However, the upper limit of the total carbon number of L b11 , L b12 and L b13 is 12.
L b14 and L b15 each independently represent a single bond or a divalent saturated hydrocarbon group having 1 to 13 carbon atoms.
L b16 represents a divalent saturated hydrocarbon group having 1 to 14 carbon atoms. However, the upper limit of the total carbon number of L b14 , L b15 and L b16 is 14.
L b17 represents a single bond or a divalent saturated hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms.
L b18 and L b19 each independently represent a divalent saturated hydrocarbon group having 1 to 11 carbon atoms. However, the upper limit of the total carbon number of L b17 , L b18 and L b19 is 12.

式(b1−1)で表される2価の基としては、例えば以下のものが挙げられる。   Examples of the divalent group represented by the formula (b1-1) include the following.

式(b1−2)で表される2価の基としては、例えば以下のものが挙げられる。   Examples of the divalent group represented by the formula (b1-2) include the following.

式(b1−3)で表される2価の基としては、例えば以下のものが挙げられる。   Examples of the divalent group represented by the formula (b1-3) include the following.

式(b1−4)で表される2価の基としては、例えば以下のものが挙げられる。   Examples of the divalent group represented by the formula (b1-4) include the following.

式(b1−5)で表される2価の基としては、例えば以下のものが挙げられる。   Examples of the divalent group represented by the formula (b1-5) include the following.

式(b1−6)で表される2価の基としては、例えば以下のものが挙げられる。   Examples of the divalent group represented by the formula (b1-6) include the following.

式(b1−7)で表される2価の基としては、例えば以下のものが挙げられる。   Examples of the divalent group represented by the formula (b1-7) include the following.

式(b1−8)で表される2価の基としては、例えば以下のものが挙げられる。   Examples of the divalent group represented by the formula (b1-8) include the following.

該飽和炭化水素基に含まれる水素原子が、フッ素原子又はヒドロキシ基で置換された基としては、例えば、以下に示す2価の基等が挙げられる。   Examples of the group in which the hydrogen atom contained in the saturated hydrocarbon group is substituted with a fluorine atom or a hydroxy group include the following divalent groups.

Yのアルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、ヘプチル基、オクチル基等が挙げられ、好ましくは、炭素数1〜6のアルキル基である。
Yの脂環式炭化水素基としては、例えば、式(Y1)〜式(Y11)で表される基が挙げられる。また、該脂環式炭化水素基に含まれるメチレン基が、酸素原子、スルホニル基又はカルボニル基に置き換わった基としては、例えば、式(Y12)〜式(Y26)で表される基が挙げられる。式中、*は結合手を表す。
Examples of the alkyl group for Y include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, a pentyl group, a hexyl group, a heptyl group, an octyl group, and the like, and preferably an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms. .
Examples of the alicyclic hydrocarbon group for Y include groups represented by formulas (Y1) to (Y11). Examples of the group in which the methylene group contained in the alicyclic hydrocarbon group is replaced with an oxygen atom, a sulfonyl group, or a carbonyl group include groups represented by formulas (Y12) to (Y26). . In the formula, * represents a bond.

Yの脂環式炭化水素基は、好ましくは式(Y1)〜式(Y19)のいずれかで表される基であり、より好ましくは式(Y11)、式(Y14)、式(Y15)又は式(Y19)で表される基であり、さらに好ましくは式(Y11)又は式(Y14)で表される基である。   The alicyclic hydrocarbon group of Y is preferably a group represented by any one of formulas (Y1) to (Y19), more preferably formula (Y11), formula (Y14), formula (Y15) or It is group represented by a formula (Y19), More preferably, it is group represented by a formula (Y11) or a formula (Y14).

Yのアルキル基の置換基としては、例えば、ハロゲン原子、ヒドロキシ基、炭素数3〜16の脂環式炭化水素基、炭素数6〜18の芳香族炭化水素基、グリシジルオキシ基又は−(CH2h−O−CO−Rb1基(式中、Rb1は、炭素数1〜16のアルキル基、炭素数3〜16の脂環式炭化水素基又は炭素数6〜18の芳香族炭化水素基を表す。hは、0〜4の整数を表す)等が挙げられる。
Yの脂環式炭化水素基の置換基としては、例えば、ハロゲン原子、ヒドロキシ基、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のヒドロキシ基含有アルキル基、炭素数3〜16の脂環式炭化水素基、炭素数1〜12のアルコキシ基、炭素数6〜18の芳香族炭化水素基、炭素数7〜21のアラルキル基、炭素数2〜4のアシル基、グリシジルオキシ基又は−(CH2h−O−CO−Rb1基(式中、Rb1は、炭素数1〜16のアルキル基、炭素数3〜16の脂環式炭化水素基又は炭素数6〜18の芳香族炭化水素基を表す。hは、0〜4の整数を表す)等が挙げられる。
Examples of the substituent for the alkyl group of Y include, for example, a halogen atom, a hydroxy group, an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 16 carbon atoms, an aromatic hydrocarbon group having 6 to 18 carbon atoms, a glycidyloxy group, or — (CH 2 ) h— O—CO—R b1 group (wherein R b1 is an alkyl group having 1 to 16 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 16 carbon atoms, or an aromatic carbon atom having 6 to 18 carbon atoms). Represents a hydrogen group, and h represents an integer of 0 to 4.
Examples of the substituent for the alicyclic hydrocarbon group of Y include a halogen atom, a hydroxy group, an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, a hydroxy group-containing alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, and an aliphatic group having 3 to 16 carbon atoms. A cyclic hydrocarbon group, an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms, an aromatic hydrocarbon group having 6 to 18 carbon atoms, an aralkyl group having 7 to 21 carbon atoms, an acyl group having 2 to 4 carbon atoms, a glycidyloxy group, or- (CH 2 ) h —O—CO—R b1 group (wherein R b1 is an alkyl group having 1 to 16 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 16 carbon atoms, or an aromatic group having 6 to 18 carbon atoms). And h represents an integer of 0 to 4).

ヒドロキシ基含有アルキル基としては、例えば、ヒドロキシメチル基、ヒドロキシエチル基等が挙げられる。
アルコキシ基としては、例えば、メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ基、ペンチルオキシ基、ヘキシルオキシ基、ヘプチルオキシ基、オクチルオキシ基、デシルオキシ基及びドデシルオキシ基等が挙げられる。
アラルキル基としては、ベンジル基、フェネチル基、フェニルプロピル基、ナフチルメチル基及びナフチルエチル基等が挙げられる。
アシル基としては、例えば、アセチル基、プロピオニル基及びブチリル基等が挙げられる。
芳香族炭化水素基としては、例えば、フェニル基、ナフチル基、アントリル基、p−メチルフェニル基、p−tert−ブチルフェニル基、p−アダマンチルフェニル基;トリル基、キシリル基、クメニル基、メシチル基、ビフェニル基、フェナントリル基、2,6−ジエチルフェニル基、2−メチル−6−エチルフェニル基等のアリール基等が挙げられる。
ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子及びヨウ素原子等が挙げられる。
Examples of the hydroxy group-containing alkyl group include a hydroxymethyl group and a hydroxyethyl group.
Examples of the alkoxy group include methoxy group, ethoxy group, propoxy group, butoxy group, pentyloxy group, hexyloxy group, heptyloxy group, octyloxy group, decyloxy group and dodecyloxy group.
Examples of the aralkyl group include benzyl group, phenethyl group, phenylpropyl group, naphthylmethyl group, and naphthylethyl group.
Examples of the acyl group include an acetyl group, a propionyl group, and a butyryl group.
Examples of the aromatic hydrocarbon group include phenyl group, naphthyl group, anthryl group, p-methylphenyl group, p-tert-butylphenyl group, p-adamantylphenyl group; tolyl group, xylyl group, cumenyl group, mesityl group. And aryl groups such as a biphenyl group, a phenanthryl group, a 2,6-diethylphenyl group, and a 2-methyl-6-ethylphenyl group.
Examples of the halogen atom include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom and an iodine atom.

Yとしては、例えば以下のものが挙げられる。式中、*は結合手を表す。   Examples of Y include the following. In the formula, * represents a bond.

なお、Yがアルキル基であり、かつLb1が炭素数1〜17の2価の直鎖状又は分岐鎖状飽和炭化水素基である場合、Yとの結合位置にある該2価の飽和炭化水素基のメチレン基は、酸素原子又はカルボニル基に置き換わっていることが好ましい。この場合、Yのアルキル基に含まれるメチレン基は、酸素原子又はカルボニル基に置き換わらない。Yのアルキル基及び/又はLb1の2価の直鎖状又は分岐鎖状飽和炭化水素基に含まれる水素原子が置換基で置換されている場合も同様である。 In addition, when Y is an alkyl group and L b1 is a divalent linear or branched saturated hydrocarbon group having 1 to 17 carbon atoms, the divalent saturated carbonization at the bonding position with Y The methylene group of the hydrogen group is preferably replaced with an oxygen atom or a carbonyl group. In this case, the methylene group contained in the alkyl group of Y is not replaced with an oxygen atom or a carbonyl group. The same applies when the hydrogen atom contained in the alkyl group of Y and / or the divalent linear or branched saturated hydrocarbon group of L b1 is substituted with a substituent.

Yは、好ましくは置換基を有していてもよい炭素数3〜18の脂環式炭化水素基であり、より好ましく置換基(例えば、オキソ基、ヒドロキシ基等)を有していてもよいアダマンチル基であり、さらに好ましくはアダマンチル基、ヒドロキシアダマンチル基又はオキソアダマンチル基である。   Y is preferably an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 18 carbon atoms which may have a substituent, and more preferably a substituent (for example, an oxo group, a hydroxy group, etc.). An adamantyl group, more preferably an adamantyl group, a hydroxyadamantyl group, or an oxoadamantyl group.

塩(B1)におけるスルホン酸アニオンとしては、好ましくは、式(b1−1−1)〜式(b1−1−9)で表されるアニオン〔以下、式番号に応じて「アニオン(b1−1−1)」等という場合がある。〕が挙げられる。以下の式においては、Q1、Q2及びLb2の定義は上記と同じ意味であり、Rb2及びRb3は、それぞれ独立に炭素数1〜4のアルキル基(好ましくは、メチル基)を表す。
塩(B1)におけるスルホン酸アニオンとしては、具体的には、特開2010−204646号公報に記載されたアニオンが挙げられる。
The sulfonate anion in the salt (B1) is preferably an anion represented by the formula (b1-1-1) to the formula (b1-1-9) [hereinafter referred to as “anion (b1-1] according to the formula number”). -1) ". ]. In the following formulas, the definitions of Q 1 , Q 2 and L b2 have the same meaning as described above, and R b2 and R b3 each independently represent an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms (preferably a methyl group). Represent.
Specific examples of the sulfonate anion in the salt (B1) include anions described in JP 2010-204646 A.

式(B1)において、Z+の有機カチオンは、有機オニウムカチオン、例えば、有機スルホニウムカチオン、有機ヨードニウムカチオン、有機アンモニウムカチオン、ベンゾチアゾリウムカチオン、有機ホスホニウムカチオン等が挙げられ、好ましくは、有機スルホニウムカチオン又は有機ヨードニウムカチオンであり、より好ましくは、アリールスルホニウムカチオンである。
式(B1)中のZ+は、好ましくは式(b2−1)〜式(b2−4)のいずれかで表されるカチオン〔以下、式番号に応じて「カチオン(b2−1)」等という場合がある。〕である。
In the formula (B1), examples of the organic cation of Z + include an organic onium cation, such as an organic sulfonium cation, an organic iodonium cation, an organic ammonium cation, a benzothiazolium cation, and an organic phosphonium cation. It is a cation or an organic iodonium cation, and more preferably an arylsulfonium cation.
Z + in formula (B1) is preferably a cation represented by any one of formula (b2-1) to formula (b2-4) [hereinafter referred to as “cation (b2-1)” or the like depending on the formula number, etc. There is a case. ].

式(b2−1)において、
b4〜Rb6は、それぞれ独立に、炭素数1〜30の脂肪族炭化水素基、炭素数3〜36の脂環式炭化水素基又は炭素数6〜36の芳香族炭化水素基を表し、該脂肪族炭化水素基に含まれる水素原子は、ヒドロキシ基、炭素数1〜12のアルコキシ基又は炭素数6〜18の芳香族炭化水素基で置換されていてもよく、該脂環式炭化水素基に含まれる水素原子は、ハロゲン原子、炭素数1〜18のアルキル基、炭素数2〜4のアシル基又はグリシジルオキシ基で置換されていてもよく、該芳香族炭化水素基に含まれる水素原子は、ハロゲン原子、ヒドロキシ基又は炭素数1〜12のアルコキシ基で置換されていてもよい。
b4とRb5とは、一緒になってそれらが結合する硫黄原子とともに3員環〜12員環(好ましくは3員環〜7員環)を形成してもよい。
In formula (b2-1),
R b4 to R b6 each independently represents an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 30 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 36 carbon atoms, or an aromatic hydrocarbon group having 6 to 36 carbon atoms, The hydrogen atom contained in the aliphatic hydrocarbon group may be substituted with a hydroxy group, an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms or an aromatic hydrocarbon group having 6 to 18 carbon atoms, and the alicyclic hydrocarbon The hydrogen atom contained in the group may be substituted with a halogen atom, an alkyl group having 1 to 18 carbon atoms, an acyl group having 2 to 4 carbon atoms or a glycidyloxy group, and the hydrogen atom contained in the aromatic hydrocarbon group The atom may be substituted with a halogen atom, a hydroxy group or an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms.
R b4 and R b5 may together form a 3- to 12-membered ring (preferably a 3- to 7-membered ring) with the sulfur atom to which they are bonded.

式(b2−2)において、
b7及びRb8は、それぞれ独立に、ヒドロキシ基、炭素数1〜30の脂肪族炭化水素基又は炭素数1〜12のアルコキシ基を表す。
m2及びn2は、それぞれ独立に0〜5の整数を表す。
In formula (b2-2),
R b7 and R b8 each independently represent a hydroxy group, an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 30 carbon atoms, or an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms.
m2 and n2 each independently represent an integer of 0 to 5.

式(b2−3)において、
b9及びRb10は、それぞれ独立に、炭素数1〜30の脂肪族炭化水素基又は炭素数3〜36の脂環式炭化水素基を表す。
b9とRb10とは、一緒になってそれらが結合する硫黄原子とともに3員環〜12員環(好ましくは3員環〜7員環)を形成してもよい。該環に含まれるメチレン基は、酸素原子、スルフィニル基又はカルボニル基に置き換わってもよい。
b11は、水素原子、炭素数1〜30の脂肪族炭化水素基、炭素数3〜36の脂環式炭化水素基又は炭素数6〜36の芳香族炭化水素基を表す。
b12は、炭素数1〜30の脂肪族炭化水素基、炭素数3〜36の脂環式炭化水素基又は炭素数6〜36の芳香族炭化水素基を表し、該脂肪族炭化水素基に含まれる水素原子は、炭素数6〜18の芳香族炭化水素基で置換されていてもよく、該芳香族炭化水素基に含まれる水素原子は、炭素数1〜12のアルコキシ基又は炭素数1〜12のアルキルカルボニルオキシ基で置換されていてもよい。
b11とRb12とは、一緒になってそれらが結合する−CH−CO−とともに3員環〜12員環(好ましくは3員環〜7員環)を形成していてもよい。該環に含まれるメチレン基は、酸素原子、スルフィニル基又はカルボニル基に置き換わってもよい。
In formula (b2-3),
R b9 and R b10 each independently represent an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 30 carbon atoms or an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 36 carbon atoms.
R b9 and R b10 may together form a 3- to 12-membered ring (preferably a 3- to 7-membered ring) with the sulfur atom to which they are bonded. The methylene group contained in the ring may be replaced with an oxygen atom, a sulfinyl group or a carbonyl group.
R b11 represents a hydrogen atom, an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 30 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 36 carbon atoms, or an aromatic hydrocarbon group having 6 to 36 carbon atoms.
R b12 represents an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 30 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 36 carbon atoms, or an aromatic hydrocarbon group having 6 to 36 carbon atoms, and the aliphatic hydrocarbon group includes The contained hydrogen atom may be substituted with an aromatic hydrocarbon group having 6 to 18 carbon atoms, and the hydrogen atom contained in the aromatic hydrocarbon group is an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms or 1 carbon atom. It may be substituted with ˜12 alkylcarbonyloxy groups.
R b11 and R b12 may form a 3- to 12-membered ring (preferably a 3- to 7-membered ring) together with —CH—CO— to which they are bonded. The methylene group contained in the ring may be replaced with an oxygen atom, a sulfinyl group or a carbonyl group.

式(b2−4)において、
b13〜Rb18は、それぞれ独立に、ヒドロキシ基、炭素数1〜30の脂肪族炭化水素基又は炭素数1〜12のアルコキシ基を表す。
b11は、硫黄原子又は酸素原子を表す。
o2、p2、s2、及びt2は、それぞれ独立に、0〜5の整数を表す。
q2及びr2は、それぞれ独立に、0〜4の整数を表す。
u2は0又は1を表す。
o2が2以上のとき、複数のRb13は同一でも異なってもよく、p2が2以上のとき、複数のRb14は同一でも異なってもよく、q2が2以上のとき、複数のRb15は同一でも異なってもよく、r2が2以上のとき、複数のRb16は同一でも異なってもよく、s2が2以上のとき、複数のRb17は同一でも異なってもよく、t2が2以上のとき、複数のRb18は同一でも異なってもよい。
In formula (b2-4),
R b13 to R b18 each independently represent a hydroxy group, an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 30 carbon atoms, or an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms.
L b11 represents a sulfur atom or an oxygen atom.
o2, p2, s2, and t2 each independently represents an integer of 0 to 5.
q2 and r2 each independently represents an integer of 0 to 4.
u2 represents 0 or 1.
When o2 is 2 or more, the plurality of R b13 may be the same or different. When p2 is 2 or more, the plurality of R b14 may be the same or different. When q2 is 2 or more, the plurality of R b15 is When r2 is 2 or more, a plurality of R b16 may be the same or different. When s2 is 2 or more, a plurality of R b17 may be the same or different, and t2 is 2 or more. Sometimes, the plurality of R b18 may be the same or different.

b4〜Rb18の脂肪族炭化水素基としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、オクチル基及び2−エチルヘキシル基等のアルキル基が挙げられる。特に、Rb9〜Rb12の脂肪族炭化水素基は、好ましくは炭素数1〜18、より好ましくは炭素数1〜12である。
b4〜Rb6及びRb9〜Rb12の脂環式炭化水素基としては、単環式又は多環式のいずれでもよく、該脂環式炭化水素基に含まれる水素原子は、アルキル基で置換されていてもよい。この場合、該脂環式炭化水素基の炭素数には、該アルキル基の炭素数も含めて数えられ、好ましくは20以下である。単環式の脂環式炭化水素基としては、例えば、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロへキシル基、シクロヘプチル基、シクロオクチル基、シクロデシル基等のシクロアルキル基が挙げられる。多環式の脂環式炭化水素基としては、例えば、デカヒドロナフチル基、アダマンチル基、ノルボルニル基及び下記の基等が挙げられる。
Examples of the aliphatic hydrocarbon group represented by R b4 to R b18 include methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, sec-butyl group, tert-butyl group, pentyl group, hexyl group, octyl group. And alkyl groups such as 2-ethylhexyl group. In particular, the aliphatic hydrocarbon group represented by R b9 to R b12 preferably has 1 to 18 carbon atoms, more preferably 1 to 12 carbon atoms.
The alicyclic hydrocarbon group for R b4 to R b6 and R b9 to R b12 may be monocyclic or polycyclic, and the hydrogen atom contained in the alicyclic hydrocarbon group is an alkyl group. May be substituted. In this case, the carbon number of the alicyclic hydrocarbon group includes the carbon number of the alkyl group, and is preferably 20 or less. Examples of the monocyclic alicyclic hydrocarbon group include cycloalkyl groups such as a cyclopropyl group, a cyclobutyl group, a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, a cycloheptyl group, a cyclooctyl group, and a cyclodecyl group. Examples of the polycyclic alicyclic hydrocarbon group include decahydronaphthyl group, adamantyl group, norbornyl group, and the following groups.

特に、Rb4〜Rb6の脂環式炭化水素基は、好ましくは炭素数3〜18である。Rb9〜Rb12の脂環式炭化水素基は、好ましくは炭素数3〜18、より好ましくは炭素数4〜12である。 In particular, the alicyclic hydrocarbon group of R b4 to R b6 preferably has 3 to 18 carbon atoms. The alicyclic hydrocarbon group of R b9 to R b12 preferably has 3 to 18 carbon atoms, more preferably 4 to 12 carbon atoms.

b4〜Rb6の水素原子がアルキル基で置換された脂環式炭化水素基としては、例えば、メチルシクロヘキシル基、ジメチルシクロへキシル基、2−アルキルアダマンタン−2−イル基、メチルノルボルニル基、イソボルニル基等が挙げられる。 Examples of the alicyclic hydrocarbon group in which the hydrogen atoms of R b4 to R b6 are substituted with an alkyl group include a methylcyclohexyl group, a dimethylcyclohexyl group, a 2-alkyladamantan-2-yl group, and a methylnorbornyl group. Group, isobornyl group and the like.

b4〜Rb6、Rb11及びRb12の芳香族炭化水素基としては、例えば、フェニル基、トリル基、キシリル基、クメニル基、メシチル基、p−エチルフェニル基、p−tert−ブチルフェニル基、p−シクロへキシルフェニル基、p−アダマンチルフェニル基、ビフェニリル基、ナフチル基、フェナントリル基、2,6−ジエチルフェニル基及び2−メチル−6−エチルフェニル基等が挙げられる。芳香族炭化水素基には、芳香環に脂肪族炭化水素基や脂環式炭化水素基が結合したアリール基も含められ、その場合の炭素数は、脂肪族炭化水素基や脂環式炭化水素基の炭素数も併せて数えられる。Rb4〜Rb6の芳香族炭化水素基は、好ましくは炭素数6〜24である。R11及びR12の芳香族炭化水素基は、好ましくは炭素数6〜18である。
b4〜Rb6及びRb12の水素原子がアルコキシ基で置換された芳香族炭化水素基としては、例えば、メトキシフェニル基、エトキシフェニル基、プロポキシフェニル基、ブトキシフェニル基、ペンチルオキシフェニル基、ヘキシルオキシフェニル基、ヘプチルオキシフェニル基、トリチルフェニル基、ナフチルメチルフェニル基、ナフチルエチルフェニル基等が挙げられる。
b4〜Rb6の水素原子がハロゲン原子で置換された芳香族炭化水素基としては、例えば、フルオロフェニル基、クロロフェニル基、ブロモフェニル基及びヨードフェニル基等が挙げられる。
b4〜Rb6の水素原子がヒドロキシ基で置換された芳香族炭化水素基としては、例えば、ヒドロキシフェニル基等が挙げられる。
b12の水素原子がアルキルカルボニルオキシ基で置換された芳香族炭化水素基としては、メチルカルボニルオキシフェニル基、エチルカルボニルオキシフェニル基、n−プロピルカルボニルオキシフェニル基、イソプロピルカルボニルオキシフェニル基、n−ブチルカルボニルオキシフェニル基、sec−ブチルカルボニルオキシフェニル基、tert−ブチルカルボニルオキシフェニル基、ペンチルカルボニルオキシフェニル基、ヘキシルカルボニルオキシフェニル基、オクチルカルボニルオキシフェニル基及び2−エチルヘキシルカルボニルオキシフェニル基等が挙げられる。
b4〜Rb6の水素原子が芳香族炭化水素基で置換されたアルキル基、すなわちアラルキル基としては、ベンジル基、フェネチル基、フェニルプロピル基、トリチル基、ナフチルメチル基、ナフチルエチル基等が挙げられる。
Examples of the aromatic hydrocarbon group represented by R b4 to R b6 , R b11 and R b12 include a phenyl group, a tolyl group, a xylyl group, a cumenyl group, a mesityl group, a p-ethylphenyl group, and a p-tert-butylphenyl group. , P-cyclohexylphenyl group, p-adamantylphenyl group, biphenylyl group, naphthyl group, phenanthryl group, 2,6-diethylphenyl group and 2-methyl-6-ethylphenyl group. The aromatic hydrocarbon group also includes an aryl group in which an aromatic hydrocarbon group or an alicyclic hydrocarbon group is bonded to an aromatic ring. In this case, the number of carbon atoms is an aliphatic hydrocarbon group or an alicyclic hydrocarbon group. The number of carbons in the group can also be counted. The aromatic hydrocarbon group of R b4 to R b6 preferably has 6 to 24 carbon atoms. The aromatic hydrocarbon group for R 11 and R 12 preferably has 6 to 18 carbon atoms.
Examples of the aromatic hydrocarbon group in which the hydrogen atoms of R b4 to R b6 and R b12 are substituted with an alkoxy group include a methoxyphenyl group, an ethoxyphenyl group, a propoxyphenyl group, a butoxyphenyl group, a pentyloxyphenyl group, and a hexyl group. Examples thereof include an oxyphenyl group, a heptyloxyphenyl group, a tritylphenyl group, a naphthylmethylphenyl group, and a naphthylethylphenyl group.
Examples of the aromatic hydrocarbon group in which the hydrogen atoms of R b4 to R b6 are substituted with halogen atoms include a fluorophenyl group, a chlorophenyl group, a bromophenyl group, and an iodophenyl group.
Examples of the aromatic hydrocarbon group in which the hydrogen atoms of R b4 to R b6 are substituted with a hydroxy group include a hydroxyphenyl group.
Examples of the aromatic hydrocarbon group in which the hydrogen atom of R b12 is substituted with an alkylcarbonyloxy group include a methylcarbonyloxyphenyl group, an ethylcarbonyloxyphenyl group, an n-propylcarbonyloxyphenyl group, an isopropylcarbonyloxyphenyl group, an n- Examples include butylcarbonyloxyphenyl group, sec-butylcarbonyloxyphenyl group, tert-butylcarbonyloxyphenyl group, pentylcarbonyloxyphenyl group, hexylcarbonyloxyphenyl group, octylcarbonyloxyphenyl group, and 2-ethylhexylcarbonyloxyphenyl group. It is done.
Examples of the alkyl group in which the hydrogen atoms of R b4 to R b6 are substituted with an aromatic hydrocarbon group, that is, an aralkyl group, include a benzyl group, a phenethyl group, a phenylpropyl group, a trityl group, a naphthylmethyl group, and a naphthylethyl group. It is done.

b7、Rb8、Rb13〜Rb18のアルコキシ基としては、メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ基、ペンチルオキシ基、ヘキシルオキシ基、ヘプチルオキシ基、オクチルオキシ基、デシルオキシ基及びドデシルオキシ基等が挙げられる。
アシル基としては、例えば、アセチル基、プロピオニル基及びブチリル基等が挙げられる。
b4〜Rb6のアルキル基の水素原子を置換していてもよいハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子及びヨウ素原子等が挙げられる。
Examples of the alkoxy group of R b7 , R b8 , R b13 to R b18 include methoxy group, ethoxy group, propoxy group, butoxy group, pentyloxy group, hexyloxy group, heptyloxy group, octyloxy group, decyloxy group and dodecyloxy group Groups and the like.
Examples of the acyl group include an acetyl group, a propionyl group, and a butyryl group.
Examples of the halogen atom that may replace the hydrogen atom of the alkyl group represented by R b4 to R b6 include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom.

b4とRb5とが一緒になって形成してもよい硫黄原子を含む環としては、単環式、多環式、芳香族性、非芳香族性、飽和及び不飽和のいずれの環であってもよく、硫黄原子を1以上含むものであれば、さらに、1以上の硫黄原子及び/又は1以上の酸素原子を含んでいてもよい。該環としては、炭素数3〜18の環が好ましく、炭素数4〜18の環がより好ましい。 The ring containing a sulfur atom which may be formed by combining R b4 and R b5 is any of monocyclic, polycyclic, aromatic, non-aromatic, saturated and unsaturated rings. If it contains one or more sulfur atoms, it may further contain one or more sulfur atoms and / or one or more oxygen atoms. As the ring, a ring having 3 to 18 carbon atoms is preferable, and a ring having 4 to 18 carbon atoms is more preferable.

b9とRb10とが結合する硫黄原子とともに形成する環としては、例えば、チオラン−1−イウム環(テトラヒドロチオフェニウム環)、チアン−1−イウム環、1,4−オキサチアン−4−イウム環等が挙げられる。
b11とRb12とが結合する−CH−CO−とともに形成する環としては、例えば、オキソシクロヘプタン環、オキソシクロヘキサン環、オキソノルボルナン環、オキソアダマンタン環等が挙げられる。
Examples of the ring formed together with the sulfur atom to which R b9 and R b10 are bonded include, for example, a thiolane-1-ium ring (tetrahydrothiophenium ring), a thian-1-ium ring, and a 1,4-oxathian-4-ium. A ring etc. are mentioned.
Examples of the ring formed with —CH—CO— in which R b11 and R b12 are bonded include an oxocycloheptane ring, an oxocyclohexane ring, an oxonorbornane ring, and an oxoadamantane ring.

カチオン(b2−1)としては、例えば、以下のカチオンが挙げられる。   Examples of the cation (b2-1) include the following cations.

カチオン(b2−2)としては、例えば、以下のカチオンが挙げられる。   Examples of the cation (b2-2) include the following cations.

カチオン(b2−3)としては、例えば、以下のカチオンが挙げられる。   Examples of the cation (b2-3) include the following cations.

カチオン(b2−1)〜カチオン(b2−4)の中でも、好ましくは、カチオン(b2−1)であり、より好ましくは、式(b2−1−1)で表されるカチオン(以下「カチオン(b2−1−1)」という場合がある。)であり、さらに好ましくは、トリフェニルスルホニウムカチオン(式(b2−1−1)中、v2=w2=x2=0)、ジフェニルトリルスルホニウムカチオン(式(b2−1−1)中、v2=w2=0、x2=1であり、Rb21がメチル基である。)、ジフェニル(4−tert−ブチルフェニル)スルホニウムカチオン(式(b2−1−1)中、v2=w2=0、x2=1であり、Rb21がtert−ブチル基である。)、フェニルジ(4−tert−ブチルフェニル)スルホニウムカチオン(式(b2−1−1)中、v2=0、w2=x2=1であり、Rb20及びRb21がtert−ブチル基である。)、トリトリルスルホニウムカチオン(式(b2−1−1)中、v2=w2=x2=1であり、Rb19、Rb20及びRb21がいずれもメチル基である。)又はトリ(4−tert−ブチルフェニル)スルホニウムカチオン(式(b2−1−1)中、v2=w2=x2=1であり、Rb19、Rb20及びRb21がいずれもtert−ブチル基である。)である。 Among the cation (b2-1) to cation (b2-4), the cation (b2-1) is preferable, more preferably a cation represented by the formula (b2-1-1) (hereinafter referred to as “cation ( more preferably triphenylsulfonium cation (in formula (b2-1-1), v2 = w2 = x2 = 0), diphenyltolylsulfonium cation (formula In (b2-1-1), v2 = w2 = 0, x2 = 1, R b21 is a methyl group, diphenyl (4-tert-butylphenyl) sulfonium cation (formula (b2-1-1) ) in a v2 = w2 = 0, x2 = 1, R b21 is a tert- butyl group.), in phenyldi (4-tert- butylphenyl) sulfonium cation (formula (b2-1-1), v = A 0, w2 = x2 = 1, R b20 and R b21 are tert- butyl group.), In tritolyl sulfonium cation (formula (b2-1-1), be v2 = w2 = x2 = 1 , R b19 , R b20 and R b21 are all methyl groups) or tri (4-tert-butylphenyl) sulfonium cation (in formula (b2-1-1), v2 = w2 = x2 = 1 , R b19 , R b20 and R b21 are all tert-butyl groups.

式(b2−1−1)中、
b19、Rb20及びRb21は、それぞれ独立に、ハロゲン原子(より好ましくはフッ素原子)、ヒドロキシ基、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコキシ基又は炭素数3〜18の脂環式炭化水素基を表す。また、Rb19〜Rb21から選ばれる2つが一緒になって硫黄原子を含む環を形成してもよい。
v2、w2及びx2は、それぞれ独立に0〜5の整数(好ましくは0又は1)を表す。
v2が2以上のとき、複数のRb19は同一又は相異なり、w2が2以上のとき、複数のRb20は同一又は相異なり、x2が2以上のとき、複数のRb21は同一又は相異なる。
In formula (b2-1-1),
R b19 , R b20 and R b21 each independently represent a halogen atom (more preferably a fluorine atom), a hydroxy group, an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms, or 3 to 18 carbon atoms. Represents an alicyclic hydrocarbon group. It is also possible that two selected from R b19 to R b21 together form a ring containing a sulfur atom.
v2, w2 and x2 each independently represent an integer of 0 to 5 (preferably 0 or 1).
When v2 is 2 or more, the plurality of R b19 are the same or different, when w2 is 2 or more, the plurality of R b20 are the same or different, and when x2 is 2 or more, the plurality of R b21 are the same or different. .

なかでも、Rb19、Rb20及びRb21は、それぞれ独立に、好ましくは、ハロゲン原子(より好ましくはフッ素原子)、ヒドロキシ基、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数1〜12のアルコキシ基である。 Among them, R b19 , R b20 and R b21 are preferably each independently a halogen atom (more preferably a fluorine atom), a hydroxy group, an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms or an alkoxy group having 1 to 12 carbon atoms. It is.

式(b2−1−1)で表されるカチオンとしては、具体的には、特開2010−204646号公報に記載されたカチオンが挙げられる。   Specific examples of the cation represented by the formula (b2-1-1) include cations described in JP 2010-204646 A.

塩(B1)は、上述のスルホン酸アニオン及び上述の有機カチオンの組合せである。これらは任意に組合せることができ、好ましくは、アニオン(b1−1−1)〜アニオン(b1−1−9)のいずれかとカチオン(b2−1−1)との組合せ、並びにアニオン(b1−1−3)〜アニオン(b1−1−5)のいずれかとカチオン(b2−3)との組合せが挙げられる。   The salt (B1) is a combination of the above sulfonic acid anion and the above organic cation. These can be arbitrarily combined, and preferably a combination of any one of anion (b1-1-1) to anion (b1-1-9) with a cation (b2-1-1), and an anion (b1- The combination of any of 1-3)-anion (b1-1-5) and a cation (b2-3) is mentioned.

塩(B1)としては、好ましくは、式(B1−1)〜式(B1−24)でそれぞれ表されるものがより好ましく、アリールスルホニウムカチオンを含む式(B1−1)、式(B1−2)、式(B1−3)、式(B1−5)、式(B1−6)、式(B1−7)、式(B1−11)、式(B1−12)、式(B1−13)、式(B1−14)、式(B1−20)、式(B1−21)、式(B1−22)、式(B1−23)及び式(B1−24)でそれぞれ表されるものがとりわけ好ましい。   As the salt (B1), those represented by formulas (B1-1) to (B1-24) are more preferable, and formulas (B1-1) and (B1-2) containing an arylsulfonium cation are preferable. ), Formula (B1-3), formula (B1-5), formula (B1-6), formula (B1-7), formula (B1-11), formula (B1-12), formula (B1-13) , Formula (B1-14), formula (B1-20), formula (B1-21), formula (B1-22), formula (B1-23) and formula (B1-24), respectively. preferable.

塩(B1)の含有率は、酸発生剤(B)の総量に対して、30質量%以上100質量%以下が好ましく、50質量%以上100質量%以下がより好ましく、実質的に塩(B1)のみであることがさらに好ましい。
酸発生剤(B)の含有量は、樹脂(A)100質量部に対して、好ましくは1質量部以上(より好ましくは3質量部以上)、好ましくは30質量部以下(より好ましくは25質量部以下)である。
本発明のレジスト組成物においては、酸発生剤(B)は、1種を単独で含有してもよく、複数種を含有してもよい。
The content of the salt (B1) is preferably 30% by mass or more and 100% by mass or less, more preferably 50% by mass or more and 100% by mass or less with respect to the total amount of the acid generator (B). More preferably, only
The content of the acid generator (B) is preferably 1 part by mass or more (more preferably 3 parts by mass or more), preferably 30 parts by mass or less (more preferably 25 parts by mass) with respect to 100 parts by mass of the resin (A). Part or less).
In the resist composition of the present invention, the acid generator (B) may contain one kind alone or plural kinds.

本発明のレジスト組成物は、さらに溶剤(E)を含有していることが好ましい。   It is preferable that the resist composition of the present invention further contains a solvent (E).

〈溶剤(E)〉
溶剤(E)の含有率は、例えばレジスト組成物中80質量%以上、好ましくは85質量%以上、より好ましくは90質量%以上であり、例えば99.9質量%以下、好ましくは99質量%以下である。溶剤(E)の含有率は、例えば液体クロマトグラフィー又はガスクロマトグラフィー等の公知の分析手段で測定できる。
<Solvent (E)>
The content of the solvent (E) is, for example, 80% by mass or more in the resist composition, preferably 85% by mass or more, more preferably 90% by mass or more, for example, 99.9% by mass or less, preferably 99% by mass or less. It is. The content rate of a solvent (E) can be measured by well-known analysis means, such as a liquid chromatography or a gas chromatography, for example.

溶剤(E)としては、例えば、エチルセロソルブアセテート、メチルセロソルブアセテート及びプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート等のグリコールエーテルエステル類;プロピレングリコールモノメチルエーテル等のグリコールエーテル類;乳酸エチル、酢酸ブチル、酢酸アミル及びピルビン酸エチル等のエステル類;アセトン、メチルイソブチルケトン、2−ヘプタノン及びシクロヘキサノン等のケトン類;γ−ブチロラクトン等の環状エステル類;等を挙げることができる。溶剤(E)は、1種を単独で含有してもよく、2種以上を含有してもよい。   Examples of the solvent (E) include glycol ether esters such as ethyl cellosolve acetate, methyl cellosolve acetate and propylene glycol monomethyl ether acetate; glycol ethers such as propylene glycol monomethyl ether; ethyl lactate, butyl acetate, amyl acetate and pyruvic acid Examples thereof include esters such as ethyl; ketones such as acetone, methyl isobutyl ketone, 2-heptanone and cyclohexanone; cyclic esters such as γ-butyrolactone; A solvent (E) may contain 1 type independently, and may contain 2 or more types.

本発明のレジスト組成物は、さらに式(II)で表される化合物(以下「化合物(II)」という場合がある。)及び/又は塩基性化合物(C)を含有していることが好ましい。   The resist composition of the present invention preferably further contains a compound represented by formula (II) (hereinafter sometimes referred to as “compound (II)”) and / or a basic compound (C).

<化合物(II)>
化合物(II)は式(II)で表される。
<Compound (II)>
Compound (II) is represented by Formula (II).

[式(II)中、
D1及びRD2は、それぞれ独立に、炭素数1〜12の炭化水素基、炭素数1〜6のアルコキシ基、炭素数2〜7のアシル基、炭素数2〜7のアシルオキシ基、炭素数2〜7のアルコキシカルボニル基、ニトロ基又はハロゲン原子を表す。
m’及びn’は、それぞれ独立に、0〜4の整数を表し、m’が2以上の場合、複数のRD1は同一又は相異なり、nが2以上の場合、複数のRD2は同一又は相異なる。]
[In the formula (II),
R D1 and R D2 are each independently a hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, an acyl group having 2 to 7 carbon atoms, an acyloxy group having 2 to 7 carbon atoms, or a carbon number Represents 2 to 7 alkoxycarbonyl groups, nitro groups or halogen atoms.
m ′ and n ′ each independently represent an integer of 0 to 4, and when m ′ is 2 or more, the plurality of R D1 are the same or different, and when n is 2 or more, the plurality of R D2 are the same. Or different. ]

化合物(II)においては、RD1及びRD2の炭化水素基としては、脂肪族炭化水素基、脂環式炭化水素基、芳香族炭化水素基及びこれらの組合せ等が挙げられる。
D1及びRD2の脂肪族炭化水素基としては、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、イソブチル基、t−ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、ノニル基等のアルキル基が挙げられる。
D1及びRD2の脂環式炭化水素基としては、単環式及び多環式のいずれでもよく、飽和及び不飽和のいずれでもよいが、好ましくは脂環式飽和炭化水素基である。RD1及びRD2の脂環式飽和炭化水素基としては、例えば、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロへキシル基、シクロノニル基、シクロドデシル基等のシクロアルキル基、ノルボニル基、アダマンチル基等が挙げられる。
D1及びRD2の芳香族炭化水素基としては、フェニル基、1−ナフチル基、2−ナフチル基、2−メチルフェニル基、3−メチルフェニル基、4−メチルフェニル基、4−エチルフェニル基、4−プロピルフェニル基、4−イソプロピルフェニル基、4−ブチルフェニル基、4−t−ブチルフェニル基、4−ヘキシルフェニル基、4−シクロヘキシルフェニル基、アントリル基、p−アダマンチルフェニル基、トリル基、キシリル基、クメニル基、メシチル基、ビフェニル基、フェナントリル基、2,6−ジエチルフェニル基、2−メチル−6−エチルフェニル等のアリール基等が挙げられる。
D1及びRD2の、脂肪族炭化水素基、脂環式炭化水素基及び芳香族炭化水素基を2つ以上を組合せた基としては、アルキル−シクロアルキル基、シクロアルキル−アルキル基、アラルキル基(例えば、フェニルメチル基、1−フェニルエチル基、2−フェニルエチル基、1−フェニル−1−プロピル基、1−フェニル−2−プロピル基、2−フェニル−2−プロピル基、3−フェニル−1−プロピル基、4−フェニル−1−ブチル基、5−フェニル−1−ペンチル基、6−フェニル−1−ヘキシル基等)等が挙げられる。
In the compound (II), examples of the hydrocarbon group of R D1 and R D2 include an aliphatic hydrocarbon group, an alicyclic hydrocarbon group, an aromatic hydrocarbon group, and combinations thereof.
Examples of the aliphatic hydrocarbon group represented by R D1 and R D2 include alkyl groups such as methyl group, ethyl group, propyl group, isopropyl group, butyl group, isobutyl group, t-butyl group, pentyl group, hexyl group, and nonyl group. Can be mentioned.
The alicyclic hydrocarbon group for R D1 and R D2 may be monocyclic or polycyclic, and may be either saturated or unsaturated, but is preferably an alicyclic saturated hydrocarbon group. Examples of the alicyclic saturated hydrocarbon group for R D1 and R D2 include a cycloalkyl group such as a cyclopropyl group, a cyclobutyl group, a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, a cyclononyl group, and a cyclododecyl group, a norbornyl group, and an adamantyl group. Etc.
Examples of the aromatic hydrocarbon group of R D1 and R D2 include a phenyl group, a 1-naphthyl group, a 2-naphthyl group, a 2-methylphenyl group, a 3-methylphenyl group, a 4-methylphenyl group, and a 4-ethylphenyl group. 4-propylphenyl group, 4-isopropylphenyl group, 4-butylphenyl group, 4-t-butylphenyl group, 4-hexylphenyl group, 4-cyclohexylphenyl group, anthryl group, p-adamantylphenyl group, tolyl group , Aryl groups such as xylyl group, cumenyl group, mesityl group, biphenyl group, phenanthryl group, 2,6-diethylphenyl group, 2-methyl-6-ethylphenyl, and the like.
R D1 and R D2 , which are a combination of two or more aliphatic hydrocarbon groups, alicyclic hydrocarbon groups and aromatic hydrocarbon groups, include alkyl-cycloalkyl groups, cycloalkyl-alkyl groups, and aralkyl groups. (For example, phenylmethyl group, 1-phenylethyl group, 2-phenylethyl group, 1-phenyl-1-propyl group, 1-phenyl-2-propyl group, 2-phenyl-2-propyl group, 3-phenyl- 1-propyl group, 4-phenyl-1-butyl group, 5-phenyl-1-pentyl group, 6-phenyl-1-hexyl group, etc.).

D1及びRD2のアルコキシ基としては、メトキシ基、エトキシ基等が挙げられる。
D1及びRD2のアシル基としては、アセチル基、プロパノイル基、ベンゾイル基、シクロヘキサンカルボニル基等が挙げられる。
D1及びRD2のアシルオキシ基としては、上記アシル基にオキシ基(−O−)が結合した基等が挙げられる。
D1及びRD2のアルコキシカルボニル基としては、上記アルコキシ基にカルボニル基(−CO−)が結合した基等が挙げられる。
D1及びRD2のハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子等が挙げられる。
Examples of the alkoxy group for R D1 and R D2 include a methoxy group and an ethoxy group.
Examples of the acyl group for R D1 and R D2 include an acetyl group, a propanoyl group, a benzoyl group, and a cyclohexanecarbonyl group.
Examples of the acyloxy group for R D1 and R D2 include a group in which an oxy group (—O—) is bonded to the acyl group.
Examples of the alkoxycarbonyl group of R D1 and R D2 include a group in which a carbonyl group (—CO—) is bonded to the above alkoxy group.
Examples of the halogen atom for R D1 and R D2 include a fluorine atom, a chlorine atom, and a bromine atom.

式(II)におけるRD1及びRD2は、それぞれ独立に、炭素数1〜8のアルキル基、炭素数3〜10のシクロアルキル基、炭素数1〜6のアルコキシ基、炭素数2〜4のアシル基、炭素数2〜4のアシルオキシ基、炭素数2〜4のアルコキシカルボニル基、ニトロ基又はハロゲン原子が好ましい。
m’及びn’は、それぞれ独立に、0〜2の整数が好ましく、0がより好ましい。m’が2以上の場合、複数のRD1は同一又は相異なり、n’が2以上の場合、複数のRD2は同一又は相異なる。
R D1 and R D2 in formula (II) are each independently an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms, a cycloalkyl group having 3 to 10 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, or an alkyl group having 2 to 4 carbon atoms. An acyl group, an acyloxy group having 2 to 4 carbon atoms, an alkoxycarbonyl group having 2 to 4 carbon atoms, a nitro group, or a halogen atom is preferable.
m ′ and n ′ are each independently preferably an integer of 0 to 2, and more preferably 0. When m ′ is 2 or more, the plurality of R D1 are the same or different, and when n ′ is 2 or more, the plurality of R D2 are the same or different.

化合物(II)としては、以下の化合物が挙げられる。   Examples of the compound (II) include the following compounds.

化合物(II)は、「Tetrahedron Vol. 45, No. 19, p6281-6296」に記載の方法で製造することができる。また、化合物(II)は、市販されている化合物を用いることができる。   Compound (II) can be produced by the method described in “Tetrahedron Vol. 45, No. 19, p6281-6296”. Compound (II) may be a commercially available compound.

本発明のレジスト組成物が化合物(II)を含む場合、化合物(II)の含有量は、樹脂(A)100質量部に対して、0.01〜12質量部が好ましく、0.03〜10質量部がより好ましく、0.06〜6質量部がさらに好ましい。なお、化合物(II)の含有割合は、レジスト組成物の固形分に対して、好ましくは0.01〜10質量%であり、より好ましくは0.03〜8質量%であり、さらに好ましくは0.05〜5質量%である。   When the resist composition of this invention contains compound (II), 0.01-12 mass parts is preferable with respect to 100 mass parts of resin (A), and content of compound (II) is 0.03-10. A mass part is more preferable and 0.06-6 mass parts is still more preferable. The content ratio of compound (II) is preferably 0.01 to 10% by mass, more preferably 0.03 to 8% by mass, and still more preferably 0% with respect to the solid content of the resist composition. 0.05 to 5% by mass.

〈塩基性化合物(C)〉
塩基性化合物は、酸を捕捉する特性を有する化合物、特に、酸発生剤から発生する酸を捕捉する特性を有する化合物を意味し、当該技術分野ではクエンチャーといわれている。
塩基性化合物(C)は、好ましくは塩基性の含窒素有機化合物であり、例えばアミン及びアンモニウム塩が挙げられる。アミンとしては、脂肪族アミン及び芳香族アミンが挙げられる。脂肪族アミンとしては、第一級アミン、第二級アミン及び第三級アミンが挙げられる。塩基性化合物(C)として、好ましくは、式(C1)〜式(C8)及び式(C1−1)で表される化合物が挙げられ、より好ましくは式(C1−1)で表される化合物が挙げられる。
<Basic compound (C)>
The basic compound means a compound having a property of capturing an acid, particularly a compound having a property of capturing an acid generated from an acid generator, and is called a quencher in the technical field.
The basic compound (C) is preferably a basic nitrogen-containing organic compound, and examples thereof include amines and ammonium salts. Examples of amines include aliphatic amines and aromatic amines. Aliphatic amines include primary amines, secondary amines and tertiary amines. Preferred examples of the basic compound (C) include compounds represented by the formulas (C1) to (C8) and the formula (C1-1), and more preferred are compounds represented by the formula (C1-1). Is mentioned.

[式(C1)中、Rc1、Rc2及びRc3は、それぞれ独立に、水素原子、炭素数1〜6のアルキル基、炭素数5〜10の脂環式炭化水素基又は炭素数6〜18の芳香族炭化水素基を表し、該アルキル基及び該脂環式炭化水素基に含まれる水素原子は、ヒドロキシ基、アミノ基又は炭素数1〜6のアルコキシ基で置換されていてもよく、該芳香族炭化水素基に含まれる水素原子は、炭素数1〜6のアルコキシ基で置換されていてもよい。] [In formula (C1), R c1 , R c2 and R c3 each independently represent a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 5 to 10 carbon atoms, or 6 to 6 carbon atoms. 18 represents an aromatic hydrocarbon group, the hydrogen atom contained in the alkyl group and the alicyclic hydrocarbon group may be substituted with a hydroxy group, an amino group or an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, The hydrogen atom contained in the aromatic hydrocarbon group may be substituted with an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms. ]

式(C1)で表される化合物は、好ましくは式(C1−1)で表される化合物である。   The compound represented by the formula (C1) is preferably a compound represented by the formula (C1-1).

[式(C1−1)中、Rc4及びRc5は、上記と同じ意味を表す。
c6は、炭素数1〜6のアルキル基、炭素数1〜6のアルコキシ基、炭素数5〜10の脂環式炭化水素又は炭素数6〜10の芳香族炭化水素基を表す。
m3は0〜3の整数を表し、m3が2以上のとき、複数のRc6は同一又は相異なる。]
[In Formula (C1-1), R c4 and R c5 represent the same meaning as described above.
R c6 represents an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon having 5 to 10 carbon atoms, or an aromatic hydrocarbon group having 6 to 10 carbon atoms.
m3 represents an integer of 0 to 3, and when m3 is 2 or more, the plurality of R c6 are the same or different. ]

[式(C2)、式(C3)及び式(C4)中、Rc7、Rc8、Rc9及びRc10は、それぞれ独立に、Rc1と同じ意味を表す。
c11は、炭素数1〜6のアルキル基、炭素数3〜6の脂環式炭化水素基又は炭素数2〜6のアルカノイル基を表す。
n3は0〜8の整数を表し、n3が2以上のとき、複数のRc11は同一又は相異なる。]
[In Formula (C2), Formula (C3) and Formula (C4), R c7 , R c8 , R c9 and R c10 each independently represent the same meaning as R c1 .
R c11 represents an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 6 carbon atoms, or an alkanoyl group having 2 to 6 carbon atoms.
n3 represents an integer of 0 to 8, and when n3 is 2 or more, the plurality of R c11 are the same or different. ]

[式(C5)及び式(C6)中、Rc12、Rc13、Rc14、Rc15及びRc18は、それぞれ独立に、Rc1と同じ意味を表す。
c16、Rc17及びRc19は、それぞれ独立に、Rc6と同じ意味を表す。
o3及びp3は、それぞれ独立に0〜3の整数を表し、o3が2以上であるとき、複数のRc16は同一又は相異なり、p3が2以上であるとき、複数のRc17は、同一又は相異なる。
c1は、炭素数1〜6のアルカンジイル基、カルボニル基、−C(=NH)−、硫黄原子又はこれらを組合せた2価の基を表す。]
[In Formula (C5) and Formula (C6), R c12 , R c13 , R c14 , R c15 and R c18 each independently represent the same meaning as R c1 .
R c16 , R c17 and R c19 each independently represent the same meaning as R c6 .
o3 and p3 each independently represent an integer of 0 to 3, when o3 is 2 or more, the plurality of R c16 are the same or different, and when p3 is 2 or more, the plurality of R c17 are the same or Different.
L c1 represents an alkanediyl group having 1 to 6 carbon atoms, a carbonyl group, —C (═NH) —, a sulfur atom, or a divalent group obtained by combining these. ]

[式(C7)及び式(C8)中、Rc20、Rc21及びRc22は、それぞれ独立に、Rc4と同じ意味を表す。
q3、r3及びs3は、それぞれ独立に0〜3の整数を表し、q3が2以上であるとき、複数のRc20は同一又は相異なり、r3が2以上であるとき、複数のRc19は同一又は相異なり、及びs3が2以上であるとき、複数のRc22は同一又は相異なる。
c2は、単結合又は炭素数1〜6のアルカンジイル基、カルボニル基、−C(=NH)−、硫黄原子又はこれらを組合せた2価の基を表す。]
Wherein (C7) and formula (C8), R c20, R c21 and R c22 are each independently the same meaning as R c4.
q3, r3 and s3 each independently represent an integer of 0 to 3, and when q3 is 2 or more, the plurality of R c20 are the same or different, and when r3 is 2 or more, the plurality of R c19 are the same. Or when different and when s3 is 2 or more, the plurality of R c22 are the same or different.
L c2 represents a single bond or an alkanediyl group having 1 to 6 carbon atoms, a carbonyl group, —C (═NH) —, a sulfur atom, or a divalent group obtained by combining these. ]

式(C1)〜式(C8)及び式(C1−1)においては、アルキル基、脂環式炭化水素基、芳香族炭化水素基、アルコキシ基、アルカンジイル基は、上述したものと同様のものが挙げられる。
アルカノイル基としては、アセチル基、2−メチルアセチル基、2,2−ジメチルアセチル基、プロピオニル基、ブチリル基、イソブチリル基、ペンタノイル基、2,2−ジメチルプロピオニル基等が挙げられる。
In formula (C1) to formula (C8) and formula (C1-1), the alkyl group, alicyclic hydrocarbon group, aromatic hydrocarbon group, alkoxy group, alkanediyl group are the same as those described above. Is mentioned.
Examples of the alkanoyl group include acetyl group, 2-methylacetyl group, 2,2-dimethylacetyl group, propionyl group, butyryl group, isobutyryl group, pentanoyl group, and 2,2-dimethylpropionyl group.

式(C1)で表される化合物としては、1−ナフチルアミン、2−ナフチルアミン、アニリン、ジイソプロピルアニリン、2−,3−又は4−メチルアニリン、4−ニトロアニリン、N−メチルアニリン、N,N−ジメチルアニリン、ジフェニルアミン、ヘキシルアミン、ヘプチルアミン、オクチルアミン、ノニルアミン、デシルアミン、ジブチルアミン、ジペンチルアミン、ジヘキシルアミン、ジヘプチルアミン、ジオクチルアミン、ジノニルアミン、ジデシルアミン、トリエチルアミン、トリメチルアミン、トリプロピルアミン、トリブチルアミン、トリペンチルアミン、トリヘキシルアミン、トリヘプチルアミン、トリオクチルアミン、トリノニルアミン、トリデシルアミン、メチルジブチルアミン、メチルジペンチルアミン、メチルジヘキシルアミン、メチルジシクロヘキシルアミン、メチルジヘプチルアミン、メチルジオクチルアミン、メチルジノニルアミン、メチルジデシルアミン、エチルジブチルアミン、エチルジペンチルアミン、エチルジヘキシルアミン、エチルジヘプチルアミン、エチルジオクチルアミン、エチルジノニルアミン、エチルジデシルアミン、ジシクロヘキシルメチルアミン、トリス〔2−(2−メトキシエトキシ)エチル〕アミン、トリイソプロパノールアミン、エチレンジアミン、テトラメチレンジアミン、ヘキサメチレンジアミン、4,4’−ジアミノ−1,2−ジフェニルエタン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジメチルジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジエチルジフェニルメタン等が挙げられ、好ましくはジイソプロピルアニリンが挙げられ、特に好ましくは2,6−ジイソプロピルアニリンが挙げられる。   Examples of the compound represented by the formula (C1) include 1-naphthylamine, 2-naphthylamine, aniline, diisopropylaniline, 2-, 3- or 4-methylaniline, 4-nitroaniline, N-methylaniline, N, N- Dimethylaniline, diphenylamine, hexylamine, heptylamine, octylamine, nonylamine, decylamine, dibutylamine, dipentylamine, dihexylamine, diheptylamine, dioctylamine, dinonylamine, didecylamine, triethylamine, trimethylamine, tripropylamine, tributylamine, tri Pentylamine, trihexylamine, triheptylamine, trioctylamine, trinonylamine, tridecylamine, methyldibutylamine, methyldipentylamine, methyl Hexylamine, methyldicyclohexylamine, methyldiheptylamine, methyldioctylamine, methyldinonylamine, methyldidecylamine, ethyldibutylamine, ethyldipentylamine, ethyldihexylamine, ethyldiheptylamine, ethyldioctylamine, ethyldinonyl Amine, ethyldidecylamine, dicyclohexylmethylamine, tris [2- (2-methoxyethoxy) ethyl] amine, triisopropanolamine, ethylenediamine, tetramethylenediamine, hexamethylenediamine, 4,4′-diamino-1,2- Examples include diphenylethane, 4,4′-diamino-3,3′-dimethyldiphenylmethane, 4,4′-diamino-3,3′-diethyldiphenylmethane, and preferably diisopropyl. Piruanirin. Particularly preferred include 2,6-diisopropylaniline.

式(C2)で表される化合物としては、ピペラジン等が挙げられる。
式(C3)で表される化合物としては、モルホリン等が挙げられる。
式(C4)で表される化合物としては、ピペリジン及び特開平11−52575号公報に記載されているピペリジン骨格を有するヒンダードアミン化合物等が挙げられる。
式(C5)で表される化合物としては、2,2’−メチレンビスアニリン等が挙げられる。
式(C6)で表される化合物としては、イミダゾール、4−メチルイミダゾール等が挙げられる。
式(C7)で表される化合物としては、ピリジン、4−メチルピリジン等が挙げられる。
式(C8)で表される化合物としては、1,2−ジ(2−ピリジル)エタン、1,2−ジ(4−ピリジル)エタン、1,2−ジ(2−ピリジル)エテン、1,2−ジ(4−ピリジル)エテン、1,3−ジ(4−ピリジル)プロパン、1,2−ジ(4−ピリジルオキシ)エタン、ジ(2−ピリジル)ケトン、4,4’−ジピリジルスルフィド、4,4’−ジピリジルジスルフィド、2,2’−ジピリジルアミン、2,2’−ジピコリルアミン、ビピリジン等が挙げられる。
Examples of the compound represented by the formula (C2) include piperazine.
Examples of the compound represented by the formula (C3) include morpholine.
Examples of the compound represented by the formula (C4) include piperidine and hindered amine compounds having a piperidine skeleton described in JP-A No. 11-52575.
Examples of the compound represented by the formula (C5) include 2,2′-methylenebisaniline.
Examples of the compound represented by the formula (C6) include imidazole and 4-methylimidazole.
Examples of the compound represented by the formula (C7) include pyridine and 4-methylpyridine.
Examples of the compound represented by the formula (C8) include 1,2-di (2-pyridyl) ethane, 1,2-di (4-pyridyl) ethane, 1,2-di (2-pyridyl) ethene, 1, 2-di (4-pyridyl) ethene, 1,3-di (4-pyridyl) propane, 1,2-di (4-pyridyloxy) ethane, di (2-pyridyl) ketone, 4,4′-dipyridyl sulfide 4,4′-dipyridyl disulfide, 2,2′-dipyridylamine, 2,2′-dipiconylamine, bipyridine and the like.

アンモニウム塩としては、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトライソプロピルアンモニウムヒドロキシド、テトラブチルアンモニウムヒドロキシド、テトラヘキシルアンモニウムヒドロキシド、テトラオクチルアンモニウムヒドロキシド、フェニルトリメチルアンモニウムヒドロキシド、3−(トリフルオロメチル)フェニルトリメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラ−n−ブチルアンモニウムサリチラート及びコリン等が挙げられる。   As ammonium salts, tetramethylammonium hydroxide, tetraisopropylammonium hydroxide, tetrabutylammonium hydroxide, tetrahexylammonium hydroxide, tetraoctylammonium hydroxide, phenyltrimethylammonium hydroxide, 3- (trifluoromethyl) phenyltrimethyl Ammonium hydroxide, tetra-n-butylammonium salicylate, choline and the like can be mentioned.

本発明のレジスト組成物において、塩基性化合物(C)を含む場合、塩基性化合物(C)の含有率は、レジスト組成物の固形分中、好ましくは、0.01〜5質量%程度であり、より好ましく0.01〜3質量%程度であり、特に好ましく0.01〜1質量%程度である。   When the basic composition (C) is contained in the resist composition of the present invention, the content of the basic compound (C) is preferably about 0.01 to 5% by mass in the solid content of the resist composition. More preferably, it is about 0.01-3 mass%, Especially preferably, it is about 0.01-1 mass%.

〈その他の成分〉
本発明のレジスト組成物は、必要に応じて、上述の成分以外のその他の成分(以下「その他の成分(F)」という場合がある。)を含有していてもよい。その他の成分(F)に特に限定はなく、レジスト分野で公知の添加剤、例えば、増感剤、溶解抑止剤、界面活性剤、安定剤、染料等を利用できる。
<Other ingredients>
The resist composition of the present invention may contain other components (hereinafter sometimes referred to as “other components (F)”) other than the above-described components, if necessary. The other component (F) is not particularly limited, and additives known in the resist field, such as sensitizers, dissolution inhibitors, surfactants, stabilizers, dyes, and the like can be used.

<レジスト組成物の調製>
本発明のレジスト組成物は、樹脂(A)及び酸発生剤(B)、並びに必要に応じて用いられる樹脂(A)以外の樹脂、溶剤(E)、塩基性化合物(C)、化合物(II)及びその他の成分(F)を混合することにより調製することができる。混合順は任意であり、特に限定されるものではない。混合する際の温度は、10〜40℃の範囲から、樹脂等の種類や樹脂等の溶剤(E)に対する溶解度等に応じて適切な温度範囲を選ぶことができる。混合時間は、混合温度に応じて、0.5〜24時間の中から適切な時間を選ぶことができる。なお、混合手段も特に制限はなく、攪拌混合等を用いることができる。
各成分を混合した後は、孔径0.003〜0.2μm程度のフィルターを用いてろ過することが好ましい。
<Preparation of resist composition>
The resist composition of the present invention comprises a resin (A), an acid generator (B), a resin other than the resin (A) used as necessary, a solvent (E), a basic compound (C), a compound (II ) And other components (F). The mixing order is arbitrary and is not particularly limited. The temperature at the time of mixing can select the suitable temperature range from the range of 10-40 degreeC according to the solubility with respect to the solvent (E), such as a kind, etc. of resin. An appropriate mixing time can be selected from 0.5 to 24 hours depending on the mixing temperature. The mixing means is not particularly limited, and stirring and mixing can be used.
After mixing each component, it is preferable to filter using a filter having a pore size of about 0.003 to 0.2 μm.

〈レジストパターンの製造方法〉
本発明のレジストパターンの製造方法は、
(1)本発明のレジスト組成物を基板上に塗布する工程、
(2)塗布後の組成物を乾燥させて組成物層を形成する工程、
(3)組成物層に露光する工程、
(4)露光後の組成物層を加熱する工程及び
(5)加熱後の組成物層を現像する工程を含む。
<Method for producing resist pattern>
The method for producing a resist pattern of the present invention comprises:
(1) The process of apply | coating the resist composition of this invention on a board | substrate,
(2) The process of drying the composition after application | coating and forming a composition layer,
(3) a step of exposing the composition layer;
(4) The process of heating the composition layer after exposure, (5) The process of developing the composition layer after a heating is included.

レジスト組成物の基体上への塗布は、スピンコーター等、通常、用いられる装置によって行うことができる。基板としては、シリコンウェハ等の無機基板が挙げられる。レジスト組成物を塗布する前に、基板を洗浄したり、基板上に反射防止膜等を形成してもよい。   Application of the resist composition onto the substrate can be performed by a commonly used apparatus such as a spin coater. Examples of the substrate include an inorganic substrate such as a silicon wafer. Before applying the resist composition, the substrate may be washed or an antireflection film or the like may be formed on the substrate.

塗布後の組成物を乾燥することにより、溶剤を除去し、組成物層を形成する。乾燥は、例えば、ホットプレート等の加熱装置を用いて溶剤を蒸発させること(いわゆるプリベーク)により行うか、あるいは減圧装置を用いて行う。加熱温度は、例えば、50〜200℃が好ましく、加熱時間は、例えば、10〜180秒間が好ましい。また、減圧乾燥する際の圧力は、1〜1.0×105Pa程度が好ましい。 By drying the composition after coating, the solvent is removed and a composition layer is formed. Drying is performed, for example, by evaporating the solvent using a heating device such as a hot plate (so-called pre-baking), or using a decompression device. The heating temperature is preferably 50 to 200 ° C., for example, and the heating time is preferably 10 to 180 seconds, for example. The pressure during drying under reduced pressure is preferably about 1 to 1.0 × 10 5 Pa.

得られた組成物層は、通常、露光機を用いて露光する。露光機は、液浸露光機であってもよい。露光光源としては、KrFエキシマレーザ(波長248nm)、ArFエキシマレーザ(波長193nm)、F2エキシマレーザ(波長157nm)のような紫外域のレーザ光を放射するもの、固体レーザ光源(YAG又は半導体レーザ等)からのレーザ光を波長変換して遠紫外域または真空紫外域の高調波レーザ光を放射するもの、電子線や、超紫外光(EUV)を照射するもの等、種々のものを用いることができる。本明細書において、これらの放射線を照射することを総称して「露光」という場合がある。露光は、通常、所望するレジストパターンに相当するマスクを介して行われるが、露光光源が電子線の場合は、フォトマスクを使用せずに、所望のパターンを直接描画してもよい。 The obtained composition layer is usually exposed using an exposure machine. The exposure machine may be an immersion exposure machine. Exposure light sources include those that emit laser light in the ultraviolet region such as KrF excimer laser (wavelength 248 nm), ArF excimer laser (wavelength 193 nm), F 2 excimer laser (wavelength 157 nm), solid-state laser light source (YAG or semiconductor laser) Etc.) Using various lasers such as those that convert wavelength of laser light from the laser and emit harmonic laser light in the far-ultraviolet region or vacuum ultraviolet region, those that irradiate electron beams or extreme ultraviolet light (EUV), etc. Can do. In this specification, irradiating these radiations may be collectively referred to as “exposure”. The exposure is usually performed through a mask corresponding to a desired resist pattern. However, when the exposure light source is an electron beam, a desired pattern may be directly drawn without using a photomask.

露光後の組成物層を、樹脂(A)の脱保護反応を促進するために加熱処理(いわゆるポストエキスポジャーベーク)を行う。加熱温度は、通常50〜200℃程度、好ましくは70〜150℃程度である。   The composition layer after exposure is subjected to heat treatment (so-called post-exposure baking) in order to promote the deprotection reaction of the resin (A). The heating temperature is usually about 50 to 200 ° C, preferably about 70 to 150 ° C.

加熱後の組成物層を、通常、現像装置を用いて、現像液を利用して現像する。現像方法としては、ディップ法、パドル法、スプレー法、ダイナミックディスペンス法等が挙げられる。現像温度は、5〜60℃が好ましく、現像時間は、5〜300秒間が好ましい。   The heated composition layer is usually developed using a developer using a developing device. Examples of the developing method include a dipping method, a paddle method, a spray method, and a dynamic dispensing method. The development temperature is preferably 5 to 60 ° C., and the development time is preferably 5 to 300 seconds.

現像液の種類を選択することにより、ポジ型レジストパターン又はネガ型レジストパターンを製造できる。
本発明のレジスト組成物からポジ型レジストパターンを製造する場合は、現像液としてアルカリ現像液を用いる。アルカリ現像液は、この分野で用いられる各種のアルカリ性水溶液であればよい。例えば、テトラメチルアンモニウムヒドロキシドや(2−ヒドロキシエチル)トリメチルアンモニウムヒドロキシド(通称コリン)の水溶液等が挙げられる。アルカリ現像液には、界面活性剤が含まれていてもよい。
現像後レジストパターンを超純水で洗浄し、次いで、基板及びパターン上に残った水を除去することが好ましい。
By selecting the type of developer, a positive resist pattern or a negative resist pattern can be produced.
When producing a positive resist pattern from the resist composition of the present invention, an alkaline developer is used as the developer. The alkaline developer may be various alkaline aqueous solutions used in this field. Examples thereof include an aqueous solution of tetramethylammonium hydroxide and (2-hydroxyethyl) trimethylammonium hydroxide (commonly called choline). The alkali developer may contain a surfactant.
It is preferable to wash the resist pattern with ultrapure water after development, and then remove the water remaining on the substrate and the pattern.

本発明のレジスト組成物からネガ型レジストパターンを製造する場合は、現像液として有機溶剤を含む現像液(以下「有機系現像液」という場合がある)を用いる。
有機系現像液に含まれる有機溶剤としては、2−ヘキサノン、2−ヘプタノン等のケトン溶剤;プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート等のグリコールエーテルエステル溶剤;酢酸ブチル等のエステル溶剤;プロピレングリコールモノメチルエーテル等のグリコールエーテル溶剤;N,N−ジメチルアセトアミド等のアミド溶剤;アニソール等の芳香族炭化水素溶剤等が挙げられる。
有機系現像液中、有機溶剤の含有率は、90質量%以上100質量%以下が好ましく、95質量%以上100質量%以下がより好ましく、実質的に有機溶剤のみであることがさらに好ましい。
中でも、有機系現像液としては、酢酸ブチル及び/又は2−ヘプタノンを含む現像液が好ましい。有機系現像液中、酢酸ブチル及び2−ヘプタノンの合計含有率は、50質量%以上100質量%以下が好ましく、90質量%以上100質量%以下がより好ましく、実質的に酢酸ブチル及び/又は2−ヘプタノンのみであることがさらに好ましい。
有機系現像液には、界面活性剤が含まれていてもよい。また、有機系現像液には、微量の水分が含まれていてもよい。
現像の際、有機系現像液とは異なる種類の溶剤に置換することにより、現像を停止してもよい。
In the case of producing a negative resist pattern from the resist composition of the present invention, a developer containing an organic solvent as a developer (hereinafter sometimes referred to as “organic developer”) is used.
Organic solvents contained in the organic developer include ketone solvents such as 2-hexanone and 2-heptanone; glycol ether ester solvents such as propylene glycol monomethyl ether acetate; ester solvents such as butyl acetate; glycols such as propylene glycol monomethyl ether Examples include ether solvents; amide solvents such as N, N-dimethylacetamide; aromatic hydrocarbon solvents such as anisole.
In the organic developer, the content of the organic solvent is preferably 90% by mass or more and 100% by mass or less, more preferably 95% by mass or more and 100% by mass or less, and still more preferably only the organic solvent.
Among them, the organic developer is preferably a developer containing butyl acetate and / or 2-heptanone. In the organic developer, the total content of butyl acetate and 2-heptanone is preferably 50% by mass to 100% by mass, more preferably 90% by mass to 100% by mass, and substantially butyl acetate and / or 2 -More preferred is heptanone alone.
The organic developer may contain a surfactant. The organic developer may contain a trace amount of water.
At the time of development, the development may be stopped by substituting a solvent of a different type from the organic developer.

現像後のレジストパターンをリンス液で洗浄することが好ましい。リンス液としては、レジストパターンを溶解しないものであれば特に制限はなく、一般的な有機溶剤を含む溶液を使用することができ、好ましくはアルコール溶剤又はエステル溶剤である。
洗浄後は、基板及びパターン上に残ったリンス液を除去することが好ましい。
It is preferable to wash the developed resist pattern with a rinse solution. The rinsing liquid is not particularly limited as long as it does not dissolve the resist pattern, and a solution containing a general organic solvent can be used, and an alcohol solvent or an ester solvent is preferable.
After the cleaning, it is preferable to remove the rinse solution remaining on the substrate and the pattern.

〈用途〉
本発明のレジスト組成物は、KrFエキシマレーザ露光用のレジスト組成物、ArFエキシマレーザ露光用のレジスト組成物、電子線(EB)露光用のレジスト組成物又はEUV露光用のレジスト組成物、特に液浸露光用のレジスト組成物として好適であり、半導体の微細加工に有用である。
<Application>
The resist composition of the present invention is a resist composition for KrF excimer laser exposure, a resist composition for ArF excimer laser exposure, a resist composition for electron beam (EB) exposure, or a resist composition for EUV exposure, particularly a liquid. It is suitable as a resist composition for immersion exposure and useful for fine processing of semiconductors.

実施例を挙げて、本発明をさらに具体的に説明する。例中、含有量ないし使用量を表す「%」及び「部」は、特記しないかぎり質量基準である。
化合物の構造は、MASS(LC:Agilent製1100型、MASS:Agilent製LC/MSD型又はLC/MSD TOF型)で確認した。
重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィーにより、下記の条件で求めた値である。
装置:HLC−8120GPC型(東ソー社製)
カラム:TSKgel Multipore(登録商標) HXL-M x 3+guardcolumn(東ソー社製)
溶離液:テトラヒドロフラン
流量:1.0mL/min
検出器:RI検出器
カラム温度:40℃
注入量:100μl
分子量標準:標準ポリスチレン(東ソー社製)
The present invention will be described more specifically with reference to examples. In the examples, “%” and “parts” representing the content or amount used are based on mass unless otherwise specified.
The structure of the compound was confirmed by MASS (LC: Agilent 1100 type, MASS: Agilent LC / MSD type or LC / MSD TOF type).
The weight average molecular weight is a value determined by gel permeation chromatography under the following conditions.
Apparatus: HLC-8120GPC type (manufactured by Tosoh Corporation)
Column: TSKgel Multipore (registered trademark) HXL-M x 3 + guardcolumn (manufactured by Tosoh Corporation)
Eluent: Tetrahydrofuran Flow rate: 1.0 mL / min
Detector: RI detector Column temperature: 40 ° C
Injection volume: 100 μl
Molecular weight standard: Standard polystyrene (manufactured by Tosoh Corporation)

合成例1〔式(I−1)で表される化合物の合成〕 Synthesis Example 1 [Synthesis of Compound Represented by Formula (I-1)]

式(I−1−1)で表される化合物10部、式(I−1−2)で表される化合物9.87部、テトラヒドロフラン45部及びトリエチルアミン6.00部を仕込み、23℃で30分間攪拌混合した後、0℃まで冷却した。同温度を保持したまま、得られた混合物に、式(I−1−3)で表される化合物15.76部を添加し、更に、25℃程度まで温度を上げ、tert−ブチルメチルエーテル200部を添加し、23℃で18時間攪拌した。得られた反応物に、2%塩酸水溶液150部を加え、23℃で30分間攪拌した。静置、分液することにより回収された有機層に、10%炭酸カリウム水溶液45部を加え、23℃で30分間攪拌し、静置、分液することにより有機層を洗浄した。このような洗浄操作を2回繰り返した。洗浄後の有機層に、イオン交換水80部を仕込み23℃で30分間攪拌し、静置、分液することにより有機層を水洗した。このような水洗操作を5回繰り返した。水洗後の有機層を濃縮することにより、式(I−1)で表される化合物8.01部を得た。
MS(質量分析):270.1(分子イオンピーク)
10 parts of a compound represented by the formula (I-1-1), 9.87 parts of a compound represented by the formula (I-1-2), 45 parts of tetrahydrofuran and 6.00 parts of triethylamine were charged at 30 ° C. and 30 parts. After stirring and mixing for minutes, the mixture was cooled to 0 ° C. While maintaining the same temperature, 15.76 parts of the compound represented by the formula (I-1-3) is added to the obtained mixture, and the temperature is further increased to about 25 ° C., and tert-butyl methyl ether 200 is added. Part was added and stirred at 23 ° C. for 18 hours. To the obtained reaction product, 150 parts of a 2% hydrochloric acid aqueous solution was added and stirred at 23 ° C. for 30 minutes. To the organic layer recovered by standing and separating, 45 parts of 10% aqueous potassium carbonate solution was added, stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and allowed to stand and separate to wash the organic layer. Such washing operation was repeated twice. The organic layer after washing was charged with 80 parts of ion-exchanged water, stirred at 23 ° C. for 30 minutes, allowed to stand, and separated to wash the organic layer with water. Such washing operation was repeated 5 times. The organic layer after washing with water was concentrated to obtain 8.01 parts of a compound represented by the formula (I-1).
MS (mass spectrometry): 270.1 (molecular ion peak)

合成例2〔式(I−6)で表される化合物の合成〕 Synthesis Example 2 [Synthesis of Compound Represented by Formula (I-6)]

式(I−6−1)で表される化合物1.02部及びアセトニトリル10部を仕込み、23℃で30分間攪拌し、式(I−6−2)で表される化合物1.10部を仕込み、60℃で1時間攪拌した。得られた反応物を23℃まで冷却し、ろ過することにより、式(I−6−3)で表される化合物を含む溶液を得た。式(I−6−3)で表される化合物を含む溶液に、式(I−6−4)で表される化合物1.78部を仕込み、60℃で2時間攪拌した。得られた反応物を濃縮した後、得られた残渣に、クロロホルム20部及びイオン交換水10部を仕込み、攪拌、分液を行った。続いて水洗を5回行った。水洗後の有機層を濃縮することにより、式(I−6)で表される化合物1.56部を得た。
MS(質量分析):420.2(分子イオンピーク)
1.02 parts of a compound represented by the formula (I-6-1) and 10 parts of acetonitrile were charged and stirred at 23 ° C. for 30 minutes to obtain 1.10 parts of a compound represented by the formula (I-6-2). The mixture was charged and stirred at 60 ° C. for 1 hour. The obtained reaction product was cooled to 23 ° C. and filtered to obtain a solution containing the compound represented by the formula (I-6-3). A solution containing the compound represented by the formula (I-6-3) was charged with 1.78 parts of the compound represented by the formula (I-6-4) and stirred at 60 ° C. for 2 hours. After concentrating the obtained reaction product, 20 parts of chloroform and 10 parts of ion-exchanged water were added to the obtained residue, followed by stirring and liquid separation. Subsequently, washing with water was performed 5 times. The organic layer after washing with water was concentrated to obtain 1.56 parts of a compound represented by the formula (I-6).
MS (mass spectrometry): 420.2 (molecular ion peak)

合成例3〔式(I−7)で表される化合物の合成〕 Synthesis Example 3 [Synthesis of Compound Represented by Formula (I-7)]

式(I−7−1)で表される化合物1.02部及びアセトニトリル10部を仕込み、23℃で30分間攪拌し、式(I−7−2)で表される化合物1.10部を仕込み、60℃で1時間攪拌した。得られた反応物を23℃まで冷却し、ろ過することにより、式(I−7−3)で表される化合物を含む溶液を得た。式(I−7−3)で表される化合物を含む溶液に、式(I−7−4)で表される化合物1.68部を仕込み、60℃で2時間攪拌した。得られた反応物を濃縮した後、得られた残渣に、クロロホルム20部及びイオン交換水10部を仕込み、攪拌、分液を行った。続いて水洗を5回行った。水洗後の有機層を濃縮することにより、式(I−7)で表される化合物1.44部を得た。
MS(質量分析):404.2(分子イオンピーク)
1.02 parts of a compound represented by the formula (I-7-1) and 10 parts of acetonitrile were charged and stirred at 23 ° C. for 30 minutes to obtain 1.10 parts of a compound represented by the formula (I-7-2). The mixture was charged and stirred at 60 ° C. for 1 hour. The obtained reaction product was cooled to 23 ° C. and filtered to obtain a solution containing a compound represented by the formula (I-7-3). A solution containing the compound represented by the formula (I-7-3) was charged with 1.68 parts of the compound represented by the formula (I-7-4) and stirred at 60 ° C. for 2 hours. After concentrating the obtained reaction product, 20 parts of chloroform and 10 parts of ion-exchanged water were added to the obtained residue, followed by stirring and liquid separation. Subsequently, washing with water was performed 5 times. The organic layer after washing with water was concentrated to obtain 1.44 parts of a compound represented by the formula (I-7).
MS (mass spectrometry): 404.2 (molecular ion peak)

樹脂の合成
樹脂の合成において使用した化合物(モノマー)を下記に示す。
Resin Synthesis The compounds (monomers) used in the resin synthesis are shown below.

以下、これらのモノマーを式番号に応じて「モノマー(a1−1−2)」等という。   Hereinafter, these monomers are referred to as “monomer (a1-1-2)” or the like according to the formula number.

合成例4 〔樹脂A1の合成〕
モノマーとして、モノマー(a1−1−3)、モノマー(a1−2−9)、モノマー(a2−1−3)、モノマー(a3−2−3)及びモノマー(I−1)を用い、そのモル比〔モノマー(a1−1−3):モノマー(a1−2−9):モノマー(a2−1−3):モノマー(a3−2−3):モノマー(I−1)〕が45:14:2.5:22:16.5となるように混合し、全モノマー量の1.5質量倍のプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートを加えて溶液とした。当該溶液に、開始剤としてアゾビスイソブチロニトリル及びアゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)を全モノマー量に対して各々、1mol%及び3mol%添加し、これらを75℃で約5時間加熱した。得られた反応混合物を、大量のメタノール/水混合溶媒に注いで樹脂を沈殿させ、この樹脂をろ過した。かくして得られた樹脂をメタノール中で攪拌し、ろ過することにより、重量平均分子量8.2×103の樹脂A1(共重合体)を収率71%で得た。この樹脂A1は、以下の構造単位を有するものである。
Synthesis Example 4 [Synthesis of Resin A1]
As the monomer, monomer (a1-1-3), monomer (a1-2-9), monomer (a2-1-3), monomer (a3-2-3) and monomer (I-1) were used, The ratio [monomer (a1-1-3): monomer (a1-2-9): monomer (a2-1-3): monomer (a3-2-3): monomer (I-1)] is 45:14: It mixed so that it might become 2.5: 22: 16.5, and the propylene glycol monomethyl ether acetate of 1.5 mass times of the total monomer amount was added, and it was set as the solution. 1 mol% and 3 mol% of azobisisobutyronitrile and azobis (2,4-dimethylvaleronitrile) as initiators are added to the solution, respectively, with respect to the total monomer amount, and these are heated at 75 ° C. for about 5 hours. did. The obtained reaction mixture was poured into a large amount of methanol / water mixed solvent to precipitate the resin, and this resin was filtered. The resin thus obtained was stirred in methanol and filtered to obtain a resin A1 (copolymer) having a weight average molecular weight of 8.2 × 10 3 in a yield of 71%. This resin A1 has the following structural units.

合成例5 〔樹脂A2の合成〕
モノマーとして、モノマー(a1−1−1)、モノマー(a2−1−1)及びモノマー(I−1)を用い、そのモル比〔モノマー(a1−1−1):モノマー(a2−1−1):モノマー(I−1)〕が40:30:30となるように混合し、全モノマー量の1.5質量倍のプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートを加えて溶液とした。当該溶液に、開始剤としてアゾビスイソブチロニトリル及びアゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)を全モノマー量に対して各々、1mol%及び3mol%添加し、これらを75℃で約5時間加熱した。得られた反応混合物を、大量のメタノール/水混合溶媒に注いで樹脂を沈殿させ、この樹脂をろ過した。かくして得られた樹脂をメタノール中で攪拌し、ろ過することにより、重量平均分子量8.3×103の樹脂A2(共重合体)を収率70%で得た。この樹脂A2は、以下の構造単位を有するものである。
Synthesis Example 5 [Synthesis of Resin A2]
As the monomer, monomer (a1-1-1), monomer (a2-1-1) and monomer (I-1) were used, and the molar ratio [monomer (a1-1-1): monomer (a2-1-1) ): Monomer (I-1)] was mixed at 40:30:30, and 1.5 mass times propylene glycol monomethyl ether acetate of the total monomer amount was added to obtain a solution. 1 mol% and 3 mol% of azobisisobutyronitrile and azobis (2,4-dimethylvaleronitrile) as initiators are added to the solution, respectively, with respect to the total monomer amount, and these are heated at 75 ° C. for about 5 hours. did. The obtained reaction mixture was poured into a large amount of methanol / water mixed solvent to precipitate the resin, and this resin was filtered. The resin thus obtained was stirred in methanol and filtered to obtain Resin A2 (copolymer) having a weight average molecular weight of 8.3 × 10 3 in a yield of 70%. This resin A2 has the following structural units.

合成例6:〔樹脂A3の合成〕
モノマー(a1−1−3)、モノマー(a1−2−3)、モノマー(a2−1−1)、モノマー(a3−2−3)及びモノマー(I−1)を、そのモル比〔モノマー(a1−1−3):モノマー(a1−2−3):モノマー(a2−1−1):モノマー(a3−2−3):モノマー(I−1)〕が、34:8:8:34:16の割合となるように混合し、さらに、このモノマー混合物に、全モノマーの合計質量に対して、1.5質量倍のジオキサンを混合した。得られた混合物に、開始剤としてアゾビスイソブチロニトリルとアゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)とを全モノマーの合計モル数に対して、それぞれ、1.00mol%と3.00mol%となるように添加した。これを73℃で約5時間加熱することにより重合した。その後、重合反応液を、大量のメタノールと水との混合溶媒(質量比メタノール:水=4:1)に注いで、樹脂を沈殿させた。この樹脂をろ過・回収した。再度、ジオキサンに溶解させ、大量のメタノールと水との混合溶媒に注いで樹脂を沈殿させ、沈殿した樹脂をろ過・回収するという操作を2回行うことにより再沈殿精製し、重量平均分子量が8.1×103である樹脂A3(共重合体)を収率68%で得た。この樹脂A3は、以下の構造単位を有するものである。
Synthesis Example 6: [Synthesis of Resin A3]
Monomer (a1-1-3), monomer (a1-2-3), monomer (a2-1-1), monomer (a3-2-3) and monomer (I-1) are mixed in a molar ratio [monomer ( a1-1-3): monomer (a1-2-3): monomer (a2-1-1): monomer (a3-2-3): monomer (I-1)] is 34: 8: 8: 34 : 16 was mixed, and further, 1.5 mass times dioxane was mixed with this monomer mixture with respect to the total mass of all monomers. Into the obtained mixture, azobisisobutyronitrile and azobis (2,4-dimethylvaleronitrile) as initiators were respectively added to 1.00 mol% and 3.00 mol% with respect to the total number of moles of all monomers. It added so that it might become. This was polymerized by heating at 73 ° C. for about 5 hours. Thereafter, the polymerization reaction solution was poured into a large amount of a mixed solvent of methanol and water (mass ratio methanol: water = 4: 1) to precipitate the resin. This resin was filtered and collected. It is again dissolved in dioxane, poured into a mixed solvent of a large amount of methanol and water to precipitate the resin, and the precipitated resin is filtered and collected twice to perform reprecipitation purification, and the weight average molecular weight is 8 Resin A3 (copolymer) of 1 × 10 3 was obtained with a yield of 68%. This resin A3 has the following structural units.

合成例7 〔樹脂A4の合成〕
モノマーとして、モノマー(a1−1−3)、モノマー(a1−2−9)、モノマー(a2−1−3)、モノマー(a3−2−3)及びモノマー(I−6)を用い、そのモル比〔モノマー(a1−1−3):モノマー(a1−2−9):モノマー(a2−1−3):モノマー(a3−2−3):モノマー(I−6)〕が45:14:2.5:22:16.5となるように混合し、全モノマー量の1.5質量倍のプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートを加えて溶液とした。当該溶液に、開始剤としてアゾビスイソブチロニトリル及びアゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)を全モノマー量に対して各々、1mol%及び3mol%添加し、これらを75℃で約5時間加熱した。得られた反応混合物を、大量のメタノール/水混合溶媒に注いで樹脂を沈殿させ、この樹脂をろ過した。かくして得られた樹脂をメタノール中で攪拌し、ろ過することにより、重量平均分子量7.8×103の樹脂A4(共重合体)を収率64%で得た。この樹脂A4は、以下の構造単位を有するものである。
Synthesis Example 7 [Synthesis of Resin A4]
As a monomer, the monomer (a1-1-3), the monomer (a1-2-9), the monomer (a2-1-3), the monomer (a3-2-3) and the monomer (I-6) The ratio [monomer (a1-1-3): monomer (a1-2-9): monomer (a2-1-3): monomer (a3-2-3): monomer (I-6)] is 45:14: It mixed so that it might become 2.5: 22: 16.5, and the propylene glycol monomethyl ether acetate of 1.5 mass times of the total monomer amount was added, and it was set as the solution. 1 mol% and 3 mol% of azobisisobutyronitrile and azobis (2,4-dimethylvaleronitrile) as initiators are added to the solution, respectively, with respect to the total monomer amount, and these are heated at 75 ° C. for about 5 hours. did. The obtained reaction mixture was poured into a large amount of methanol / water mixed solvent to precipitate the resin, and this resin was filtered. The resin thus obtained was stirred in methanol and filtered to obtain Resin A4 (copolymer) having a weight average molecular weight of 7.8 × 10 3 in a yield of 64%. This resin A4 has the following structural units.

合成例8 〔樹脂A5の合成〕
モノマーとして、モノマー(a1−1−3)、モノマー(a1−2−9)、モノマー(a2−1−3)、モノマー(a3−2−3)及びモノマー(I−7)を用い、そのモル比〔モノマー(a1−1−3):モノマー(a1−2−9):モノマー(a2−1−3):モノマー(a3−2−3):モノマー(I−7)〕が45:14:2.5:22:16.5となるように混合し、全モノマー量の1.5質量倍のプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートを加えて溶液とした。当該溶液に、開始剤としてアゾビスイソブチロニトリル及びアゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)を全モノマー量に対して各々、1mol%及び3mol%添加し、これらを75℃で約5時間加熱した。得られた反応混合物を、大量のメタノール/水混合溶媒に注いで樹脂を沈殿させ、この樹脂をろ過した。かくして得られた樹脂をメタノール中で攪拌し、ろ過することにより、重量平均分子量7.9×103の樹脂A5(共重合体)を収率62%で得た。この樹脂A5は、以下の構造単位を有するものである。
Synthesis Example 8 [Synthesis of Resin A5]
As the monomer, the monomer (a1-1-3), the monomer (a1-2-9), the monomer (a2-1-3), the monomer (a3-2-3) and the monomer (I-7) The ratio [monomer (a1-1-3): monomer (a1-2-9): monomer (a2-1-3): monomer (a3-2-3): monomer (I-7)] is 45:14: It mixed so that it might become 2.5: 22: 16.5, and the propylene glycol monomethyl ether acetate of 1.5 mass times of the total monomer amount was added, and it was set as the solution. 1 mol% and 3 mol% of azobisisobutyronitrile and azobis (2,4-dimethylvaleronitrile) as initiators are added to the solution, respectively, with respect to the total monomer amount, and these are heated at 75 ° C. for about 5 hours. did. The obtained reaction mixture was poured into a large amount of methanol / water mixed solvent to precipitate the resin, and this resin was filtered. The resin thus obtained was stirred in methanol and filtered to obtain a resin A5 (copolymer) having a weight average molecular weight of 7.9 × 10 3 in a yield of 62%. This resin A5 has the following structural units.

合成例9 〔樹脂H1の合成〕
モノマーとして、モノマー(a1−1−1)、モノマー(a2−1−1)及びモノマー(IX)を用い、そのモル比〔モノマー(a1−1−1):モノマー(a2−1−1):モノマー(IX)〕が40:30:30となるように混合し、全モノマー量の1.5質量倍のプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートを加えて溶液とした。当該溶液に、開始剤としてアゾビスイソブチロニトリル及びアゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)を全モノマー量に対して各々、1mol%及び3mol%添加し、これらを75℃で約5時間加熱した。得られた反応混合物を、大量のメタノール/水混合溶媒に注いで樹脂を沈殿させ、この樹脂をろ過した。かくして得られた樹脂をメタノール中で攪拌し、ろ過することにより、重量平均分子量8.1×103の樹脂H1(共重合体)を収率68%で得た。この樹脂H1は、以下の構造単位を有するものである。
Synthesis Example 9 [Synthesis of Resin H1]
As the monomer, monomer (a1-1-1), monomer (a2-1-1) and monomer (IX) are used, and the molar ratio [monomer (a1-1-1): monomer (a2-1-1): Monomer (IX)] was mixed at 40:30:30, and 1.5 mass times propylene glycol monomethyl ether acetate of the total monomer amount was added to prepare a solution. 1 mol% and 3 mol% of azobisisobutyronitrile and azobis (2,4-dimethylvaleronitrile) as initiators are added to the solution, respectively, with respect to the total monomer amount, and these are heated at 75 ° C. for about 5 hours. did. The obtained reaction mixture was poured into a large amount of methanol / water mixed solvent to precipitate the resin, and this resin was filtered. The resin thus obtained was stirred in methanol and filtered to obtain a resin H1 (copolymer) having a weight average molecular weight of 8.1 × 10 3 in a yield of 68%. This resin H1 has the following structural units.

合成例10:〔樹脂H2の合成〕
モノマー(a1−1−3)、モノマー(a1−2−3)、モノマー(a2−1−1)、モノマー(a3−1−1)及びモノマー(a3−2−3)を、そのモル比〔モノマー(a1−1−3):モノマー(a1−2−3):モノマー(a2−1−1):モノマー(a3−2−3):モノマー(a3−1−1)〕が、34:8:8:34:16の割合となるように混合し、さらに、このモノマー混合物に、全モノマーの合計質量に対して、1.5質量倍のジオキサンを混合した。得られた混合物に、開始剤としてアゾビスイソブチロニトリルとアゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)とを全モノマーの合計モル数に対して、それぞれ、1.00mol%と3.00mol%となるように添加した。これを73℃で約5時間加熱することにより重合した。その後、重合反応液を、大量のメタノールと水との混合溶媒(質量比メタノール:水=4:1)に注いで、樹脂を沈殿させた。この樹脂をろ過・回収した。再度、ジオキサンに溶解させ、大量のメタノールと水との混合溶媒に注いで樹脂を沈殿させ、沈殿した樹脂をろ過・回収するという操作を2回行うことにより再沈殿精製し、重量平均分子量が7.8×103である樹脂H2(共重合体)を収率72%で得た。この樹脂H2は、以下の構造単位を有するものである。
Synthesis Example 10: [Synthesis of Resin H2]
The monomer (a1-1-3), the monomer (a1-2-3), the monomer (a2-1-1), the monomer (a3-1-1) and the monomer (a3-2-3) are mixed in a molar ratio [ Monomer (a1-1-3): Monomer (a1-2-3): Monomer (a2-1-1): Monomer (a3-2-3): Monomer (a3-1-1)] is 34: 8 : 8: 34: 16 The mixture was further mixed, and 1.5 mass times of dioxane was further mixed with this monomer mixture with respect to the total mass of all monomers. Into the obtained mixture, azobisisobutyronitrile and azobis (2,4-dimethylvaleronitrile) as initiators were respectively added to 1.00 mol% and 3.00 mol% with respect to the total number of moles of all monomers. It added so that it might become. This was polymerized by heating at 73 ° C. for about 5 hours. Thereafter, the polymerization reaction solution was poured into a large amount of a mixed solvent of methanol and water (mass ratio methanol: water = 4: 1) to precipitate the resin. This resin was filtered and collected. Again, it is dissolved in dioxane, poured into a large amount of methanol / water mixed solvent to precipitate the resin, and the precipitated resin is filtered and collected twice to perform reprecipitation purification, and the weight average molecular weight is 7 Resin H2 (copolymer) of .8 × 10 3 was obtained in a yield of 72%. This resin H2 has the following structural units.

合成例11〔樹脂X1の合成〕
モノマーとして、モノマー(a4−1−7)を用い、全モノマー量の1.5質量倍のジオキサンを加えて溶液とした。当該溶液に、開始剤としてアゾビスイソブチロニトリル及びアゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)を全モノマー量に対して各々、0.7mol%及び2.1mol%添加し、これらを75℃で約5時間加熱した。得られた反応混合物を、大量のメタノール/水混合溶媒に注いで樹脂を沈殿させ、この樹脂をろ過した。
かくして得られた樹脂を再び、ジオキサンに溶解させて得られる溶解液をメタノール/水混合溶媒に注いで樹脂を沈殿させ、この樹脂をろ過するという再沈殿操作を2回行い、重量平均分子量1.8×104の樹脂X1を収率77%で得た。この樹脂X1は、以下の構造単位を有するものである。
Synthesis Example 11 [Synthesis of Resin X1]
Monomer (a4-1-7) was used as a monomer, and 1.5 mass times dioxane of the total monomer amount was added to prepare a solution. Azobisisobutyronitrile and azobis (2,4-dimethylvaleronitrile) as initiators were added to the solution in an amount of 0.7 mol% and 2.1 mol%, respectively, with respect to the total monomer amount, and these were added at 75 ° C. Heated for about 5 hours. The obtained reaction mixture was poured into a large amount of methanol / water mixed solvent to precipitate the resin, and this resin was filtered.
The resin thus obtained was dissolved again in dioxane, and the solution obtained by pouring the solution into a methanol / water mixed solvent was precipitated twice, and the resin was filtered twice to perform the reprecipitation operation twice. 8 × 10 4 of resin X1 was obtained with a yield of 77%. This resin X1 has the following structural units.

合成例12[式(B1−5)で表される塩の合成] Synthesis Example 12 [Synthesis of salt represented by formula (B1-5)]

式(B1−5−a)で表される塩50.49部及びクロロホルム252.44部を反応器に仕込み、23℃で30分間攪拌した後、式(B1−5−b)で表される化合物16.27部を滴下し、23℃で1時間攪拌することにより、式(B1−5−c)で表される塩を含む溶液を得た。得られた式(B1−5−c)で表される塩を含む溶液に、式(B1−5−d)で表される塩48.80部及びイオン交換水84.15部を添加し、23℃で12時間攪拌した。得られた反応液が2層に分離していたので、クロロホルム層を分液して取り出し、更に、該クロロホルム層にイオン交換水84.15部を添加し、水洗した。この操作を5回繰り返した。得られたクロロホルム層に、活性炭3.88部を添加攪拌した後、ろ過した。回収されたろ液を濃縮し、得られた残渣に、アセトニトリル125.87部を添加攪拌後、濃縮した。得られた残渣に、アセトニトリル20.62部及びtert−ブチルメチルエーテル309.30部を加えて23℃で30分間攪拌した後、上澄み液を除去した後、濃縮した。得られた残渣に、n−ヘプタン200部を添加、23℃で30分間攪拌した後、ろ過することにより、式(B1−5)で表される塩61.54部を得た。
MASS(ESI(+)Spectrum):M+ 375.2
MASS(ESI(−)Spectrum):M- 339.1
50.49 parts of the salt represented by the formula (B1-5-a) and 252.44 parts of chloroform are charged into a reactor, stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and then represented by the formula (B1-5-b). 16.27 parts of the compound was added dropwise and stirred at 23 ° C. for 1 hour to obtain a solution containing a salt represented by the formula (B1-5-c). To the obtained solution containing the salt represented by the formula (B1-5-c), 48.80 parts of the salt represented by the formula (B1-5-d) and 84.15 parts of ion-exchanged water are added, The mixture was stirred at 23 ° C. for 12 hours. Since the resulting reaction solution was separated into two layers, the chloroform layer was separated and removed, and 84.15 parts of ion-exchanged water was further added to the chloroform layer and washed with water. This operation was repeated 5 times. To the obtained chloroform layer, 3.88 parts of activated carbon was added and stirred, followed by filtration. The collected filtrate was concentrated, 125.87 parts of acetonitrile was added to the resulting residue, and the mixture was stirred and concentrated. To the obtained residue, 20.62 parts of acetonitrile and 309.30 parts of tert-butyl methyl ether were added and stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and then the supernatant was removed and concentrated. To the obtained residue, 200 parts of n-heptane was added, stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and then filtered to obtain 61.54 parts of a salt represented by the formula (B1-5).
MASS (ESI (+) Spectrum): M + 375.2
MASS (ESI (−) Spectrum): M 339.1

合成例13[式(B1−23)で表される塩の合成] Synthesis Example 13 [Synthesis of salt represented by formula (B1-23)]

式(B1−23−a)で表される化合物5.00部及びジメチルホルムアミド25部を反応器に仕込み、23℃で30分間攪拌した後、トリエチルアミン3.87部を滴下し、さらに、23℃で30分間攪拌した。得られた混合物に、式(B1−23−b)で表される化合物6.14部をジメチルホルムアミド6.14部に溶解した溶液を30分かけて滴下し、さらに、23℃で2時間攪拌した。得られた反応液に、イオン交換水25部及び酢酸エチル150部を加え、23℃で30分間攪拌した後、分液し、有機層を回収した。回収された有機層に、イオン交換水75部を仕込み23℃で30分間攪拌した後、分液し、有機層を回収した。この水洗の操作をさらに5回行った。得られた有機層を濃縮し、得られた濃縮物に、n−ヘプタン92.20部を添加して攪拌した後、ろ過することにより、式(B1−23−c)で表される化合物2.69部を得た。   5.00 parts of the compound represented by the formula (B1-23-a) and 25 parts of dimethylformamide were charged into a reactor and stirred at 23 ° C. for 30 minutes. Then, 3.87 parts of triethylamine was added dropwise, and further 23 ° C. For 30 minutes. A solution obtained by dissolving 6.14 parts of the compound represented by the formula (B1-23-b) in 6.14 parts of dimethylformamide was added dropwise to the obtained mixture over 30 minutes, and the mixture was further stirred at 23 ° C. for 2 hours. did. 25 parts of ion-exchanged water and 150 parts of ethyl acetate were added to the resulting reaction solution, and the mixture was stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and then separated to recover the organic layer. The recovered organic layer was charged with 75 parts of ion-exchanged water and stirred at 23 ° C. for 30 minutes, followed by liquid separation to recover the organic layer. This washing operation was further performed 5 times. The obtained organic layer is concentrated, and 92.20 parts of n-heptane is added to the resulting concentrate, followed by stirring, followed by filtration to obtain a compound 2 represented by the formula (B1-23-c). .69 parts were obtained.

式(B1−23−d)で表される塩を、特開2008−127367号公報に記載された方法で合成した。
式(B1−23−d)で表される塩2.99部及びアセトニトリル15.00部を反応器に仕込み、23℃で30分間攪拌した後、式(B1−23−e)で表される化合物1.30部を仕込み、70℃で2時間攪拌した。得られた反応物を23℃まで冷却した後、ろ過することにより、式(B1−23−f)で表される化合物を含む溶液を得た。式(B1−23−f)で表される化合物を含む溶液に、式(B1−23−c)で表される化合物2.12部をクロロホルム6.36部に溶解した溶液を仕込み、23℃で23時間攪拌した。得られた反応物を濃縮し、得られた濃縮物に、クロロホルム60部及び2%シュウ酸水溶液30部を仕込み、攪拌、分液を行った。このシュウ酸水溶液洗浄を2回行った。回収された有機層に、イオン交換水30部を仕込み、攪拌、分液を行った。水洗を5回行った。得られた有機層を濃縮し、得られた濃縮物をアセトニトリル30部に溶解した後、濃縮した。得られた濃縮物に、tert−ブチルメチルエーテル50部を加えて攪拌し、上澄液を除去した。得られた残渣をアセトニトリルに溶解した後、濃縮することにより、式(B1−23)で表される塩3.46部を得た。
MASS(ESI(+)Spectrum):M+ 263.1
MASS(ESI(−)Spectrum):M- 517.2
A salt represented by the formula (B1-23-d) was synthesized by the method described in JP 2008-127367 A.
2.99 parts of a salt represented by the formula (B1-23-d) and 15.00 parts of acetonitrile are charged into a reactor, stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and then represented by the formula (B1-23-e). 1.30 parts of compound was charged and stirred at 70 ° C. for 2 hours. The obtained reaction product was cooled to 23 ° C. and then filtered to obtain a solution containing a compound represented by the formula (B1-23-f). A solution containing the compound represented by formula (B1-23-f) was charged with a solution prepared by dissolving 2.12 parts of the compound represented by formula (B1-23-c) in 6.36 parts of chloroform, For 23 hours. The obtained reaction product was concentrated, and 60 parts of chloroform and 30 parts of a 2% oxalic acid aqueous solution were added to the resulting concentrate, followed by stirring and liquid separation. This oxalic acid aqueous solution was washed twice. To the recovered organic layer, 30 parts of ion-exchanged water was added, and the mixture was stirred and separated. Water washing was performed 5 times. The obtained organic layer was concentrated, and the resulting concentrate was dissolved in 30 parts of acetonitrile and then concentrated. To the obtained concentrate, 50 parts of tert-butyl methyl ether was added and stirred, and the supernatant was removed. The obtained residue was dissolved in acetonitrile, and concentrated to obtain 3.46 parts of the salt represented by the formula (B1-23).
MASS (ESI (+) Spectrum): M + 263.1
MASS (ESI (−) Spectrum): M 517.2

実施例1〜7及び比較例1、2
<レジスト組成物の調製>
以下に示す成分の各々を表1に示す質量部で溶剤に溶解し、さらに孔径0.2μmのフッ素樹脂製フィルターで濾過して、レジスト組成物を調製した。
Examples 1 to 7 and Comparative Examples 1 and 2
<Preparation of resist composition>
Each of the components shown below was dissolved in a solvent in parts by mass shown in Table 1, and further filtered through a fluororesin filter having a pore size of 0.2 μm to prepare a resist composition.

<樹脂>
A1〜A5、H1、H2、X1:樹脂A1〜樹脂A5、樹脂H1、樹脂H2、樹脂X1
<酸発生剤>
B1−5:式(B1−5)で表される塩
B1−23:式(B1−23)で表される塩
BX:ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウム ノナフルオロブタンスルホネート(和光純薬工業(株)製)
B1−2:式(B1−2)で表される塩:特開2006−257078号公報の実施例に従って合成
<Resin>
A1 to A5, H1, H2, X1: Resin A1 to Resin A5, Resin H1, Resin H2, Resin X1
<Acid generator>
B1-5: salt represented by formula (B1-5) B1-23: salt represented by formula (B1-23) BX: bis (4-t-butylphenyl) iodonium nonafluorobutanesulfonate (Wako Pure Chemical Industries, Ltd.) Manufactured by Kogyo Co., Ltd.)
B1-2: salt represented by the formula (B1-2): synthesized according to the examples of JP-A-2006-257078

<化合物(II)>
II1:(東京化成工業(株)製)
<Compound (II)>
II1: (Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.)

<溶剤>
プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート 265部
プロピレングリコールモノメチルエーテル 20部
2−ヘプタノン 20部
γ−ブチロラクトン 3.5部
<Solvent>
Propylene glycol monomethyl ether acetate 265 parts Propylene glycol monomethyl ether 20 parts 2-heptanone 20 parts γ-butyrolactone 3.5 parts

実施例1〜7及び比較例1、2
<ネガ型レジストパターンの製造>
12インチのシリコンウェハ上に、有機反射防止膜用組成物[ARC−29;日産化学(株)製]を塗布して、205℃、60秒の条件でベークすることによって、厚さ78nmの有機反射防止膜を形成した。次いで、前記の有機反射防止膜の上に、上記のレジスト組成物を乾燥(プリベーク)後の組成物層の膜厚が100nmとなるようにスピンコートした。塗布後、ダイレクトホットプレート上にて、表1の「PB」欄に記載された温度で60秒間プリベークして、シリコンウェハ上に組成物層を形成した。シリコンウェハ上に形成された組成物層に、液浸露光用ArFエキシマレーザステッパー[XT:1900Gi;ASML社製、NA=1.35、Annular σ=0.9/0.7 XY偏光]で、ラインアンドスペースパターン(ピッチ90nm/ライン幅45nm)を形成するためのマスクを用いて、露光量を段階的に変化させて露光した。なお、液浸媒体としては超純水を使用した。露光後、ホットプレート上にて、表1の「PEB」欄に記載された温度で60秒間ポストエキスポジャーベークを行った。次いで、このシリコンウェハ上の組成物層を、現像液として酢酸ブチル(東京化成工業(株)製)を用いて、23℃で20秒間ダイナミックディスペンス法によって現像を行うことにより、ネガ型レジストパターンを製造した。
Examples 1 to 7 and Comparative Examples 1 and 2
<Manufacture of negative resist pattern>
An organic antireflective coating composition [ARC-29; manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd.] was applied onto a 12-inch silicon wafer, and baked under the conditions of 205 ° C. and 60 seconds, whereby an organic layer having a thickness of 78 nm was obtained. An antireflection film was formed. Next, the resist composition was spin-coated on the organic antireflection film so that the film thickness of the composition layer after drying (pre-baking) was 100 nm. After coating, the composition layer was formed on the silicon wafer by pre-baking on a direct hot plate for 60 seconds at the temperature described in the “PB” column of Table 1. ArF excimer laser stepper for immersion exposure (XT: 1900 Gi; manufactured by ASML, NA = 1.35, Annular σ = 0.9 / 0.7 XY polarized light) on the composition layer formed on the silicon wafer, Using a mask for forming a line-and-space pattern (pitch 90 nm / line width 45 nm), exposure was carried out while changing the exposure amount stepwise. Note that ultrapure water was used as the immersion medium. After the exposure, post-exposure baking was performed for 60 seconds on the hot plate at the temperature described in the “PEB” column of Table 1. Next, the composition layer on the silicon wafer is developed by using a butyl acetate (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) as a developing solution by a dynamic dispensing method at 23 ° C. for 20 seconds, thereby forming a negative resist pattern. Manufactured.

<形状評価>
実効感度で製造された45nmのラインアンドスペースパターンの断面形状を走査型電子顕微鏡で観察した。トップ形状及び裾形状が矩形に近く良好なもの[図1(a)]を◎、トップ形状及び裾形状が矩形に近く概ね良好ではあるが、トップ形状が若干なT字型に近い傾向が認められるものを○、トップ形状が丸い[図1(b)]又はT字型に近いもの[図1(c)]、あるいは裾引きが見られるもの[図1(d)]を×として判断した。その結果を表2に示す。
<Shape evaluation>
The cross-sectional shape of a 45 nm line and space pattern manufactured with effective sensitivity was observed with a scanning electron microscope. The top shape and skirt shape are close to a rectangle with good shape [Figure 1 (a)]. The top shape and skirt shape are close to a rectangle and generally good, but the top shape tends to be slightly T-shaped. The case where the top shape is round [FIG. 1 (b)] or the shape close to the T-shape [FIG. 1 (c)], or the bottom is seen [FIG. 1 (d)] is determined as x. . The results are shown in Table 2.

上記の結果から、本発明のレジスト組成物によれば、優れた形状でネガ型レジストパターンを製造できることがわかる。   From the above results, it can be seen that according to the resist composition of the present invention, a negative resist pattern can be produced with an excellent shape.

本発明のレジスト組成物は、得られるレジストパターンの形状が優れるため、半導体の微細加工に好適であり、産業上、有用である。   Since the resist composition of the present invention has an excellent resist pattern shape, it is suitable for semiconductor microfabrication and is industrially useful.

Claims (2)

式(I)で表される構造単位及び酸不安定基を有する構造単位を含む樹脂と、酸発生剤とを含有し、
前記式(I)のL 1 が、式(L1−4)で表される基であるレジスト組成物。


[式(I)中、
1は、ハロゲン原子を有してもよい炭素数1〜6のアルキル基、水素原子又はハロゲン原子を表す
2は、炭素数1〜6のアルキル基を表す。
mは0〜5の整数を表し、mが2以上のとき、複数のR2は同一又は相異なる
式(L1−4)中、
x3 は、カルボニルオキシ基又はオキシカルボニル基を表す。
x8 及びL x9 は、単結合又は炭素数1〜12の2価の鎖式飽和炭化水素基を表す。
x1 は、炭素数3〜15の2価の脂環式飽和炭化水素基を表す。
ただし、L x8 、L x9 及びW x1 の合計炭素数は、15以下である。
*は酸素原子との結合手を表す。
x3 の右側の結合手はラクトン環と直接結合している。]
A resin containing a structural unit represented by formula (I) and a structural unit having an acid labile group, and an acid generator ,
A resist composition, wherein L 1 in the formula (I) is a group represented by the formula (L1-4) .


[In the formula (I),
R 1 represents an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms which may have a halogen atom, a hydrogen atom or a halogen atom .
R 2 represents an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms.
m represents an integer of 0 to 5, and when m is 2 or more, the plurality of R 2 are the same or different .
In formula (L1-4),
X x3 represents a carbonyloxy group or an oxycarbonyl group.
L x8 and L x9 represent a single bond or a divalent chain saturated hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms.
W x1 represents a divalent alicyclic saturated hydrocarbon group having 3 to 15 carbon atoms.
However, the total carbon number of L x8 , L x9 and W x1 is 15 or less.
* Represents a bond with an oxygen atom.
The bond on the right side of X x3 is directly bonded to the lactone ring. ]
(1)請求項に記載のレジスト組成物を基板上に塗布する工程、
(2)塗布後の組成物を乾燥させて組成物層を形成する工程、
(3)組成物層に露光する工程、
(4)露光後の組成物層を加熱する工程、及び
(5)加熱後の組成物層を現像する工程、
を含むレジストパターンの製造方法。
(1) The process of apply | coating the resist composition of Claim 1 on a board | substrate,
(2) The process of drying the composition after application | coating and forming a composition layer,
(3) a step of exposing the composition layer;
(4) a step of heating the composition layer after exposure, and (5) a step of developing the composition layer after heating,
A method for producing a resist pattern including:
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP6136811B2 (en) * 2012-10-22 2017-05-31 Jsr株式会社 Photoresist composition and negative resist pattern forming method
JP7026473B2 (en) * 2016-10-07 2022-02-28 住友化学株式会社 Methods for Producing Compounds, Resins, Resist Compositions and Resist Patterns

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JP2001033971A (en) * 1999-07-22 2001-02-09 Fuji Photo Film Co Ltd Positive photoresist composition
JP2002091005A (en) * 2000-09-20 2002-03-27 Fuji Photo Film Co Ltd Positive photoresist composition
KR100536594B1 (en) * 2002-12-30 2005-12-14 삼성전자주식회사 A photosensitive polymer containing silicon and resist compositions using the same
JP2007262121A (en) * 2006-03-27 2007-10-11 Jsr Corp Copolymer and radiation-sensitive resin composition
JPWO2008081768A1 (en) * 2006-12-26 2010-04-30 出光興産株式会社 Chloromethyl ethers containing alicyclic structure, polymerizable monomer for photoresist and method for producing the same
JP2012078800A (en) * 2010-09-07 2012-04-19 Sumitomo Chemical Co Ltd Resist composition and method for manufacturing resist pattern
JP2012215694A (en) * 2011-03-31 2012-11-08 Jsr Corp Photoresist composition and resist pattern forming method
JP5862657B2 (en) * 2011-03-31 2016-02-16 Jsr株式会社 Photoresist composition
WO2012157352A1 (en) * 2011-05-19 2012-11-22 Jsr株式会社 Photoresist composition
JP5772417B2 (en) * 2011-09-08 2015-09-02 Jsr株式会社 Photoresist composition
JP6126878B2 (en) * 2013-03-15 2017-05-10 富士フイルム株式会社 Pattern forming method, actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, actinic ray-sensitive or radiation-sensitive film and method for producing electronic device
KR102164849B1 (en) * 2013-03-22 2020-10-13 제이에스알 가부시끼가이샤 Radiation-sensitive resin composition, resist pattern forming method, polymer and method for producing compound

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