JP6225719B2 - Straightness measuring device, straightness measuring method, and program - Google Patents

Straightness measuring device, straightness measuring method, and program Download PDF

Info

Publication number
JP6225719B2
JP6225719B2 JP2014011188A JP2014011188A JP6225719B2 JP 6225719 B2 JP6225719 B2 JP 6225719B2 JP 2014011188 A JP2014011188 A JP 2014011188A JP 2014011188 A JP2014011188 A JP 2014011188A JP 6225719 B2 JP6225719 B2 JP 6225719B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
straightness
pattern
measurement
measurement target
reference pattern
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2014011188A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2015137994A (en
Inventor
鈴木 康之
康之 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dai Nippon Printing Co Ltd filed Critical Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority to JP2014011188A priority Critical patent/JP6225719B2/en
Publication of JP2015137994A publication Critical patent/JP2015137994A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6225719B2 publication Critical patent/JP6225719B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

本発明は、測定対象物の真直度を測定する真直度測定装置等に関するものである。   The present invention relates to a straightness measuring device that measures the straightness of a measurement object.

従来から測定対象物の真直性を測定する手段が様々提供されている。例えば、
特許文献1では、2次元変位検出機にレーザ光を用い、生成されたスペックル画像を解析することで、簡単でコンパクトな構成で真直度の測定を行う発明が開示されている。
Conventionally, various means for measuring the straightness of a measurement object have been provided. For example,
Patent Document 1 discloses an invention in which straightness is measured with a simple and compact configuration by using a laser beam for a two-dimensional displacement detector and analyzing a generated speckle image.

一方、特許文献2では、ワイヤのワイヤ曲がりを簡単且つ正確に測定評価する発明が開示されており、ワイヤを垂下してワイヤの垂下方向に対して垂直な方向から撮影し、その画像から仮想の中心線を求めて2次元連続蛇行曲線に変換し、ワイヤ長さの2〜25倍の複数区間で区切り、その区切られた2次元曲線の区間毎に該曲線の真直性を評価することを特徴としている。   On the other hand, Patent Document 2 discloses an invention for simply and accurately measuring and evaluating wire bending of a wire. The wire is dropped and photographed from a direction perpendicular to the hanging direction of the wire. A center line is obtained, converted into a two-dimensional continuous meandering curve, divided into a plurality of sections 2 to 25 times the wire length, and the straightness of the section is evaluated for each section of the divided two-dimensional curve. It is said.

特許第4970204号Patent No. 4970204 特許第4050772号Japanese Patent No. 4050772

一方、測定対象物が、直線パターンを多数有するような場合には、その直線パターンの数に応じて測定量も膨大となる。このようなケースでは、測定精度を担保しつつも測定の高速を図ることが肝要である。   On the other hand, when the measurement object has many linear patterns, the amount of measurement becomes enormous according to the number of the linear patterns. In such a case, it is important to increase the measurement speed while ensuring the measurement accuracy.

本発明は、前述した課題に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、高速且つ高精度に真直度の測定を行う真直度測定装置などを提供することである。   The present invention has been made in view of the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a straightness measurement device that performs straightness measurement at high speed and with high accuracy.

前述した目的を達成するための第1の発明は、測定対象パターンの真直度を測定する真直度測定装置であって、真直性が確認されている基準パターンと、前記基準パターンと前記測定対象パターンを同時に撮像する撮像器と、前記撮像器を前記基準パターンに沿って搬送させる撮像器搬送手段と、前記搬送させながら撮像して取得した画像データに基づいて、前記基準パターンと前記測定対象パターンとのパターン間距離を算出し、前記パターン間距離から測定対象パターンの真直度を算出する真直度算出手段と、を備えることを特徴とする真直度測定装置。
である。
第1の発明によって、撮像器を停止することなく搬送させながら測定を行うため、高速に測定対象パターンの真直度を測定できる。また、測定対象パターンの真直度は同一の画像内の基準パターンとの相対値(パターン間距離)から算出されるため、撮像器の搬送が蛇行するような場合でも、その影響を相殺でき高精度な真直度の測定が行える。
1st invention for achieving the objective mentioned above is a straightness measuring apparatus which measures the straightness of a measuring object pattern, Comprising: The reference pattern by which straightness was confirmed, the said reference pattern, and the said measuring object pattern An imager that simultaneously captures the imager, an imager transport unit that transports the imager along the reference pattern, and the reference pattern and the measurement target pattern based on image data acquired by capturing the image while transporting And a straightness calculation means for calculating the straightness of the pattern to be measured from the distance between the patterns.
It is.
According to the first invention, since the measurement is performed while the image pickup device is conveyed without stopping, the straightness of the measurement target pattern can be measured at high speed. In addition, since the straightness of the measurement target pattern is calculated from the relative value (distance between patterns) to the reference pattern in the same image, even if the image pickup device is meandering, the effect can be offset with high accuracy. Measurement of straightness.

前記パターン間距離を前記測定対象パターンの傾きに応じて補正する補正手段を、更に備え、前記真直度算出手段は、前記補正されたパターン間距離から測定対象パターンの真直度を算出することが望ましい。
これによって、測定対象パターンが基準パターンの軸方向に対して斜めに傾いている場合であっても、その傾きを補正し測定対象パターンの真直度を算出するため、測定対象物の配置の影響による測定誤差を軽減でき、より高精度な真直度の測定が行える。
It is desirable that correction means for correcting the inter-pattern distance according to the inclination of the measurement target pattern is further provided, and that the straightness calculation means calculates straightness of the measurement target pattern from the corrected inter-pattern distance. .
As a result, even when the measurement target pattern is inclined obliquely with respect to the axial direction of the reference pattern, the inclination is corrected and the straightness of the measurement target pattern is calculated. Measurement errors can be reduced, and more accurate straightness can be measured.

第2の発明は、真直性が確認されている基準パターンと、前記基準パターンと測定対象パターンを同時に撮像する撮像器と、を備える真直度測定装置を用いて、前記測定対象パターンの真直度を測定する真直度測定方法であって、前記撮像器を前記基準パターンに沿って搬送させながら撮像する搬送撮像ステップと、前記搬送させながら撮像して取得した画像データに基づいて、前記基準パターンと前記測定対象パターンとのパターン間距離を算出し、前記パターン間距離から測定対象パターンの真直度を算出する真直度算出ステップと、を含むことを特徴とする真直度測定方法である。
第2の発明によって、撮像器を停止することなく搬送させながら測定を行うため、高速に測定対象パターンの真直度を測定できる。また、測定対象パターンの真直度は同一の画像内の基準パターンとの相対値(パターン間距離)から算出されるため、撮像器の搬送が蛇行するような場合でも、その影響を相殺でき高精度な真直度の測定が行える。
According to a second aspect of the present invention, the straightness of the measurement target pattern is determined using a straightness measurement apparatus including a reference pattern whose straightness is confirmed and an imager that images the reference pattern and the measurement target pattern at the same time. A straightness measurement method for measuring, wherein a conveyance imaging step of imaging the imager while conveying the imager along the reference pattern, and the reference pattern and the image based on image data acquired by imaging while conveying A straightness measurement method comprising: calculating a distance between patterns with a measurement target pattern, and calculating a straightness of the measurement target pattern from the distance between the patterns.
According to the second invention, since the measurement is performed while the imaging device is conveyed without stopping, the straightness of the measurement target pattern can be measured at high speed. In addition, since the straightness of the measurement target pattern is calculated from the relative value (distance between patterns) to the reference pattern in the same image, even if the image pickup device is meandering, the effect can be offset with high accuracy. Measurement of straightness.

第3の発明は、コンピュータを、測定対象パターンの真直度を測定する真直度測定装置として機能させるためのプログラムであって、前記真直度測定装置は、真直性が確認されている基準パターンと、前記基準パターンと前記測定対象パターンを同時に撮像する撮像器と、を備え、前記コンピュータを、前記撮像器を前記基準パターンに沿って搬送させながら撮像する搬送撮像手段、前記搬送させながら撮像して取得した画像データに基づいて、前記基準パターンと前記測定対象パターンとのパターン間距離を算出し、前記パターン間距離から測定対象パターンの真直度を算出する真直度算出手段、として機能させるためのプログラムである。
第3の発明によって、撮像器を停止することなく搬送させながら測定を行うため、高速に測定対象パターンの真直度を測定できる。また、測定対象パターンの真直度は同一の画像内の基準パターンとの相対値(パターン間距離)から算出されるため、撮像器の搬送が蛇行するような場合でも、その影響を相殺でき高精度な真直度の測定が行える。
A third invention is a program for causing a computer to function as a straightness measuring device for measuring the straightness of a measurement target pattern, wherein the straightness measuring device includes a reference pattern whose straightness is confirmed, An image pickup device that simultaneously picks up the reference pattern and the measurement target pattern, and a transfer image pickup means for picking up an image while carrying the image pickup device along the reference pattern. A program for functioning as a straightness calculation unit that calculates an inter-pattern distance between the reference pattern and the measurement target pattern based on the image data, and calculates a straightness of the measurement target pattern from the inter-pattern distance. is there.
According to the third invention, since the measurement is performed while the image pickup device is conveyed without being stopped, the straightness of the measurement target pattern can be measured at high speed. In addition, since the straightness of the measurement target pattern is calculated from the relative value (distance between patterns) to the reference pattern in the same image, even if the image pickup device is meandering, the effect can be offset with high accuracy. Measurement of straightness.

本発明によれば、撮像器を停止することなく搬送させながら測定を行うため、高速に測定対象パターンの真直度を測定できる。また、測定対象パターンの真直度は同一の画像内の基準パターンとの相対値(パターン間距離)から算出されるため、撮像器の搬送が蛇行するような場合でも、その影響を相殺でき高精度な真直度の測定が行える。   According to the present invention, since the measurement is performed while transporting the image pickup device without stopping, the straightness of the measurement target pattern can be measured at high speed. In addition, since the straightness of the measurement target pattern is calculated from the relative value (distance between patterns) to the reference pattern in the same image, even if the image pickup device is meandering, the effect can be offset with high accuracy. Measurement of straightness.

本発明の実施の形態に係る真直度測定装置の構成を示す模式図The schematic diagram which shows the structure of the straightness measuring apparatus which concerns on embodiment of this invention. 基準パターンの一例を示す図Diagram showing an example of a reference pattern (a)基準パターンの一例を示す拡大図(b)基準パターンの別例を示す拡大図(a) An enlarged view showing an example of a reference pattern (b) An enlarged view showing another example of a reference pattern 測定対象物の一例を示す図Diagram showing an example of a measurement object 測定対象物の拡大図Enlarged view of measurement object カメラと照明の搬送状態を示す図The figure which shows the conveyance state of a camera and illumination 制御機構の一例を示す機能図Functional diagram showing an example of control mechanism 真直度測定装置の基本動作を説明するフローチャートFlow chart explaining basic operation of straightness measuring device 撮像した画像データの一例を示す図The figure which shows an example of the imaged image data 真直度算出処理を説明するフローチャートFlow chart explaining straightness calculation processing (a)基準パターンと測定対象パターンのエッジを示す図(b)基準パターンと測定対象パターンの重心位置を示す図(c)基準パターンと測定対象パターンの重心間距離を示す図(a) The figure which shows the edge of a reference pattern and a measurement object pattern (b) The figure which shows the gravity center position of a reference pattern and a measurement object pattern (c) The figure which shows the distance between the gravity centers of a reference pattern and a measurement object pattern (a)重心間距離データの2次元プロット図(b)重心間距離データに一次関数をフィットした図(c)補正後の重心間距離データの2次元プロット図(a) Two-dimensional plot of distance data between centroids (b) Figure fitting a linear function to distance data between centroids (c) Two-dimensional plot of distance data between centroids after correction 測定対象パターンの真直度の結果を示す図Diagram showing the result of straightness of the measurement target pattern

以下、図面に基づいて、本発明の好適な実施形態を詳細に説明する。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

[本発明の実施の形態]
図1は、本発明の実施の形態の真直度測定装置1の構成例を示す模式図である。
図1に示すように、真直度測定装置1は、測定機構1aと制御機構1bから構成される。
[Embodiments of the present invention]
FIG. 1 is a schematic diagram illustrating a configuration example of a straightness measuring apparatus 1 according to an embodiment of the present invention.
As shown in FIG. 1, the straightness measuring apparatus 1 includes a measuring mechanism 1a and a control mechanism 1b.

真直度測定装置1の測定機構1aは、測定テーブル2と、測定テーブル2に設置される基準パターン3と、測定テーブル2に配置される測定対象物4と、測定テーブル2の上方に基準パターン3と測定対象物4とを同時に撮像するためのカメラ5と、カメラ5を搬送するカメラ搬送ステージ6と、測定テーブル2の下方に基準パターン3と測定対象物4とを背面から照射するための照明7と、照明7を搬送する照明搬送ステージ8と、を備える。   The measuring mechanism 1 a of the straightness measuring apparatus 1 includes a measurement table 2, a reference pattern 3 installed on the measurement table 2, a measurement object 4 arranged on the measurement table 2, and a reference pattern 3 above the measurement table 2. And a camera 5 for imaging the measurement object 4 simultaneously, a camera conveyance stage 6 for conveying the camera 5, and illumination for irradiating the reference pattern 3 and the measurement object 4 below the measurement table 2 from the back side. 7 and an illumination transport stage 8 that transports the illumination 7.

測定テーブル2は、平板状に形成され、その中央部には図示しない長矩形状の凹部を有し、当該凹部に後述する基準パターン3を形成するガラス板が固定される。
なお、測定テーブル2は、測定対象物4を基準パターン3の長手方向と直交する軸方向に搬送する機構を有していてもよい。
The measurement table 2 is formed in a flat plate shape, and has a long rectangular recess (not shown) at the center, and a glass plate for forming a reference pattern 3 described later is fixed to the recess.
The measurement table 2 may have a mechanism for transporting the measurement object 4 in the axial direction orthogonal to the longitudinal direction of the reference pattern 3.

基準パターン3は、真直度を測定するための基準となる直線状のパターンであり、真直性が保証されているものである。   The reference pattern 3 is a linear pattern serving as a reference for measuring straightness, and straightness is guaranteed.

図2は、基準パターン3の一例を示す図である。本実施形態では、基準パターン3は、長さ2000mm、厚さ5mmのガラス板にクロム膜をコーティングすることで形成される。基準パターン3が形成されたガラス板は、測定テーブル2の図示しない凹部に固定される。   FIG. 2 is a diagram illustrating an example of the reference pattern 3. In this embodiment, the reference pattern 3 is formed by coating a chromium film on a glass plate having a length of 2000 mm and a thickness of 5 mm. The glass plate on which the reference pattern 3 is formed is fixed to a recess (not shown) of the measurement table 2.

図3(a)は図2の基準パターン3の一部分を拡大した図である。図3(a)に示すように、クロム膜を一定の幅で長手方向に一様にコーティングすることで基準パターン3は形成される。クロム膜の幅は任意であるが、本実施形態では100ミクロンとしている。
図3(b)は、図3(a)と異なる基準パターン例を示した拡大図であり、クロム膜を長手方向に所定間隔おきに縞状にコーティングしている。
FIG. 3A is an enlarged view of a part of the reference pattern 3 of FIG. As shown in FIG. 3A, the reference pattern 3 is formed by uniformly coating a chromium film with a certain width in the longitudinal direction. The width of the chromium film is arbitrary, but in this embodiment, it is 100 microns.
FIG. 3B is an enlarged view showing an example of a reference pattern different from that in FIG. 3A, and a chromium film is coated in stripes at predetermined intervals in the longitudinal direction.

図4は測定対象物4を示す図である。本実施形態では、測定対象物4は、真直性が確認されていない直線状パターンを等間隔にコーティングしたフィルムを用いた。また、図5は、図4の測定対象物4の一部分を拡大した図である。   FIG. 4 is a diagram showing the measurement object 4. In the present embodiment, the measurement object 4 is a film in which a linear pattern whose straightness has not been confirmed is coated at equal intervals. FIG. 5 is an enlarged view of a part of the measuring object 4 in FIG.

カメラ5は、図示しない撮像レンズと、撮像レンズを透過した被写体像を2次元の画像信号に変換するCCD(Charge Coupled Device)やCMOS(Complementary Metal−oxide Semiconductor)等の電子撮像部等を備えており、カメラ搬送ステージ6に搬送可能に設置される(図1参照)。
なお、本実施形態において撮像レンズは、テレセントリックレンズを用いている。テレセントリックレンズは、主光線がレンズ光軸に対して平行に進むように設計されているため、歪曲収差が生じにくく、被写体の位置を高精度に測定することが可能である。
カメラ5で撮像した被写体像は後述する送受信部22を介して制御機構1bの記憶部24に画像データとして記憶される。
The camera 5 includes an imaging lens (not shown), an electronic imaging unit such as a CCD (Charge Coupled Device) and a CMOS (Complementary Metal-Oxide Semiconductor) that converts a subject image that has passed through the imaging lens into a two-dimensional image signal. It is installed so as to be able to be transferred to the camera transfer stage 6 (see FIG. 1).
In the present embodiment, a telecentric lens is used as the imaging lens. The telecentric lens is designed so that the chief ray travels in parallel with the lens optical axis, so that distortion aberration hardly occurs and the position of the subject can be measured with high accuracy.
The subject image captured by the camera 5 is stored as image data in the storage unit 24 of the control mechanism 1b via the transmission / reception unit 22 described later.

カメラ搬送ステージ6は、基準パターン3の上方に設置される(図1参照)。また、カメラ搬送ステージ6は、カメラ5を保持し、且つ、カメラ5を基準パターン3と一定の距離を保ちながら基準パターン3の長手方向に沿って搬送する。当該搬送は、後述する制御部20の制御命令に従って実行される。なお、カメラ搬送ステージ6の両端に停止リミッタを設置し、カメラ5が停止リミッタを超えて搬送されたら自動的にカメラ5を停止するように構成してもよい。   The camera transport stage 6 is installed above the reference pattern 3 (see FIG. 1). The camera transport stage 6 holds the camera 5 and transports the camera 5 along the longitudinal direction of the reference pattern 3 while maintaining a certain distance from the reference pattern 3. The said conveyance is performed according to the control command of the control part 20 mentioned later. Note that a stop limiter may be provided at both ends of the camera transport stage 6 so that the camera 5 is automatically stopped when the camera 5 is transported beyond the stop limiter.

照明7は、照明搬送ステージ8に搬送可能に設置され、基準パターン3及び測定対象物4の背面(下方)から光を照射する(図1参照)。照明7には、透過照明を用いるのが望ましい。透過照明を用いることにより、後述する画像処理部24の真直度算出処理において、基準パターン3及び測定対象物4の直線状パターンのエッジ(輪郭)が鮮明に画像化され、エッジ抽出精度が向上する。   The illumination 7 is installed so as to be able to be transported to the illumination transport stage 8 and irradiates light from the back (lower side) of the reference pattern 3 and the measurement object 4 (see FIG. 1). The illumination 7 is preferably transmitted illumination. By using transmitted illumination, in the straightness calculation process of the image processing unit 24 described later, the edges (contours) of the linear pattern of the reference pattern 3 and the measurement object 4 are clearly imaged, and the edge extraction accuracy is improved. .

照明搬送ステージ8は、照明7を保持し(図1参照)、且つ、照明7を基準パターン3と一定の間隔を保ちながら基準パターン3の長手方向に沿って搬送する。当該搬送は、後述する制御部20の制御命令に従って実行される。なお、照明搬送ステージ8の両端に停止リミッタを設置し、照明7が停止リミッタを超えて搬送されたら自動的に照明7を停止するように構成してもよい。   The illumination transport stage 8 holds the illumination 7 (see FIG. 1) and transports the illumination 7 along the longitudinal direction of the reference pattern 3 while maintaining a certain distance from the reference pattern 3. The said conveyance is performed according to the control command of the control part 20 mentioned later. Note that stop limiters may be installed at both ends of the illumination transport stage 8 so that the illumination 7 is automatically stopped when the illumination 7 is transported beyond the stop limiter.

図6は、カメラ5と照明7の搬送の様子を示す図であり、真直度測定装置1を側面から見たものである。カメラ5と照明7は、測定テーブル2を挟んで真向いに配置されており、カメラ5と照明7は同じ水平位置を保ちながら協働して搬送される。これにより、カメラが移動しても常に一定の照明条件を確保しながら測定を行うことができる。   FIG. 6 is a diagram showing how the camera 5 and the illumination 7 are conveyed, and the straightness measuring device 1 is viewed from the side. The camera 5 and the illumination 7 are disposed facing each other across the measurement table 2, and the camera 5 and the illumination 7 are transported in cooperation while maintaining the same horizontal position. Thereby, even if a camera moves, it can measure, always ensuring a fixed illumination condition.

図7は、真直度測定装置1の制御機構1bの機能を示す図である。制御機構1bは、制御部20、設定部21、送受信部22、入力部23、記憶部24、画像処理部25、及び、表示部26を備える。制御機構1bは、通常、ROM、RAM等を備えたコンピュータで実現される。   FIG. 7 is a diagram illustrating the function of the control mechanism 1 b of the straightness measuring apparatus 1. The control mechanism 1b includes a control unit 20, a setting unit 21, a transmission / reception unit 22, an input unit 23, a storage unit 24, an image processing unit 25, and a display unit 26. The control mechanism 1b is usually realized by a computer including a ROM, a RAM, and the like.

制御部20は、真直度測定装置1全体の制御を行う。具体的には、制御部20は、カメラ搬送ステージ6のカメラ5の搬送制御、照明搬送ステージ8の照明7の搬送制御、カメラ5の撮像制御、を行う。この際、制御部20は、設定部21に設定されている制御条件(搬送条件、撮像条件)に従って制御を行う。   The control unit 20 controls the straightness measuring device 1 as a whole. Specifically, the control unit 20 performs transfer control of the camera 5 of the camera transfer stage 6, transfer control of the illumination 7 of the illumination transfer stage 8, and imaging control of the camera 5. At this time, the control unit 20 performs control according to the control conditions (conveyance conditions, imaging conditions) set in the setting unit 21.

設定部21は、制御部20の制御条件を保持する。具体的には、カメラ5及び照明7の搬送速度、搬送距離などの「搬送条件」、カメラ5の撮像間隔などの「撮像条件」を保持する。カメラ5及び照明7の搬送速度は、要求される測定スピードなどに応じて適宜決定すればよい。また、カメラ5及び照明7の搬送距離は、測定対象物4のサイズなどに応じて適宜決定すればよい。
カメラ5の撮像間隔とは、例えば、「5秒ごとに撮像を実行する」、「10秒ごとに撮像を実行する」といった撮像する時間間隔のことを言う。撮像間隔は、カメラ5の搬送速度とカメラレンズの画角などに応じて適宜決定されるものであり、少なくとも、基準パターン3が撮像されない部分(死角)が出来ないようにその値を設定するのが望ましい。
本実施形態の場合、カメラ5と照明7の搬送速度を共に15(mm/秒)、搬送距離を共に基準パターンの寸法と同じ1500mmに設定する。撮像間隔は、10秒とした。
The setting unit 21 holds the control conditions of the control unit 20. Specifically, “transport conditions” such as the transport speed and transport distance of the camera 5 and the illumination 7 and “imaging conditions” such as the imaging interval of the camera 5 are held. What is necessary is just to determine suitably the conveyance speed of the camera 5 and the illumination 7 according to the measurement speed etc. which are requested | required. Further, the transport distance of the camera 5 and the illumination 7 may be appropriately determined according to the size of the measurement object 4 and the like.
The imaging interval of the camera 5 refers to a time interval for imaging such as “execute imaging every 5 seconds” and “execute imaging every 10 seconds”. The imaging interval is appropriately determined according to the conveyance speed of the camera 5 and the angle of view of the camera lens. The value is set so that at least a portion (dead angle) where the reference pattern 3 is not captured cannot be formed. Is desirable.
In the case of the present embodiment, both the conveyance speed of the camera 5 and the illumination 7 are set to 15 (mm / second), and the conveyance distance is set to 1500 mm which is the same as the dimension of the reference pattern. The imaging interval was 10 seconds.

送受信部22は、所定の形式に従った情報の送受信を行うインターフェースとしての機能を有し、本実施形態の場合、カメラ5、カメラ搬送ステージ6、照明7、照明搬送ステージ8と接続されている。   The transmission / reception unit 22 has a function as an interface that transmits and receives information according to a predetermined format. In the present embodiment, the transmission / reception unit 22 is connected to the camera 5, the camera transport stage 6, the illumination 7, and the illumination transport stage 8. .

入力部23は、キーボード、マウス等により構成され、制御部20の制御条件(搬送条件、撮像条件など)の入力、測定開始及び測定停止の操作を受け付ける。   The input unit 23 includes a keyboard, a mouse, and the like, and accepts input of control conditions (conveyance conditions, imaging conditions, etc.), measurement start and measurement stop operations of the control unit 20.

記憶部24は、情報を磁気的に記憶するハードディスク、制御機構1aの制御を実行する制御プログラムなどをハードディスクからロードして電気的に記憶するメモリ、により構成される。
また、記憶部24は、カメラ5で撮像した被写体像を、送受信部22を介して画像データとして記憶する。
The storage unit 24 includes a hard disk that stores information magnetically, and a memory that loads a control program for executing control of the control mechanism 1a from the hard disk and electrically stores it.
The storage unit 24 stores the subject image captured by the camera 5 as image data via the transmission / reception unit 22.

画像処理部25は、記憶部24に記憶された画像データに対して、後述する真直度算出処理を実行し、測定対象物4の真直度を算出する。   The image processing unit 25 performs straightness calculation processing described later on the image data stored in the storage unit 24 to calculate the straightness of the measurement object 4.

表示部26は、ディスプレイ等により構成され、カメラ5で撮像した画像、後述する真直度算出処理の結果、などを表示する。   The display unit 26 is configured by a display or the like, and displays an image captured by the camera 5, a result of straightness calculation processing described later, and the like.

<基本動作処理>
次に、図8のフローチャートを参照して、真直度測定装置1の基本動作について説明する。
測定準備として、カメラ5を測定開始位置に移動しておく。そして、測定者などが、測定対象物4を測定テーブル1の所定位置に配置する。測定対象物4を配置する際、カメラ5の撮像視野内に、基準パターン3と測定対象物4の真直度を測定したい直線状パターンの両方が同時に写るようにする。以降、測定対象物4の真直度を測定したい直線状パターンを「測定対象パターン」と呼ぶ。
<Basic motion processing>
Next, the basic operation of the straightness measuring apparatus 1 will be described with reference to the flowchart of FIG.
As a measurement preparation, the camera 5 is moved to the measurement start position. Then, a measurer or the like places the measurement object 4 at a predetermined position on the measurement table 1. When the measurement object 4 is arranged, both the reference pattern 3 and the linear pattern for which the straightness of the measurement object 4 is to be measured are simultaneously captured in the imaging field of the camera 5. Hereinafter, a linear pattern for which the straightness of the measurement object 4 is to be measured is referred to as a “measurement object pattern”.

ステップ1において、制御部20は、測定者の測定開始の操作を受け付けることによって、設定部21に設定された搬送条件に従って、カメラ5及び照明7の搬送を開始し、同時に、設定部21に設定された撮像条件に従って、カメラ5の撮像を開始する。カメラ5で撮像した被写体像は、送受信部22を介して画像データとして記憶部24に蓄積されていく。図9は撮像された画像データの一例である。図9の左が基準パターン3、右が測定対象パターンである。   In step 1, the control unit 20 starts the conveyance of the camera 5 and the illumination 7 according to the conveyance conditions set in the setting unit 21 by accepting the measurement start operation of the measurer, and simultaneously sets in the setting unit 21. The imaging of the camera 5 is started according to the imaging conditions that have been set. The subject image captured by the camera 5 is accumulated in the storage unit 24 as image data via the transmission / reception unit 22. FIG. 9 is an example of captured image data. In FIG. 9, the left is the reference pattern 3 and the right is the measurement target pattern.

ステップ2において、制御部20は、カメラ5及び照明7を、設定部21に設定された搬送距離だけ搬送したら、カメラ5及び照明7の搬送を終了し、同時に、カメラ5の撮像を終了する。   In step 2, when the control unit 20 transports the camera 5 and the illumination 7 by the transport distance set in the setting unit 21, the control unit 20 ends the transport of the camera 5 and the illumination 7 and simultaneously ends the imaging of the camera 5.

ステップ3において、画像処理部25(制御部20)は、記憶部24に記憶された画像データに基づいて測定対象パターンの真直度を算出する(真直度算出処理)。真直度算出処理の詳細については後述する。   In step 3, the image processing unit 25 (control unit 20) calculates the straightness of the measurement target pattern based on the image data stored in the storage unit 24 (straightness calculation processing). Details of the straightness calculation processing will be described later.

ステップ4において、制御部20は、ステップ3で算出した測定対象パターンの真直度の結果を表示部26に表示し、測定を終了する。   In step 4, the control unit 20 displays the straightness result of the measurement target pattern calculated in step 3 on the display unit 26 and ends the measurement.

測定対象物4の次の直線状パターンを測定したい場合は、測定者などが、再度測定対象物4を配置し直し、ステップ1に戻り測定を開始する。   When it is desired to measure the next linear pattern of the measurement object 4, the measurer or the like again arranges the measurement object 4, returns to step 1, and starts measurement.

なお、前述したように測定テーブル2が測定対象物4を基準パターン3の長手方向と直交する軸方向に搬送する機構を有している場合には、ステップ4の終了後、制御部20が、測定対象物4を所定の間隔だけ搬送し、当該搬送後、制御部20が、カメラ5の搬送及び撮像を開始し、測定対象物4の次の直線状パターンの測定を実行するようにしてもよい。つまり、本実施形態に加えて、測定対象物4を基準パターン3の長手方向と直交する軸方向に搬送する機構と、制御部20がカメラ5の搬送、撮像制御と測定対象物4の搬送制御を切り替える手段と、を更に備えることで、測定者の作業を介することなく、測定対象物4のすべての直線状パターンの測定を自動化することができる。この場合、測定対象物4を搬送する所定の間隔には、測定対象物4の直線状パターンの間隔を採用するのが望ましい。   If the measurement table 2 has a mechanism for transporting the measurement object 4 in the axial direction perpendicular to the longitudinal direction of the reference pattern 3 as described above, after the step 4 ends, the control unit 20 The measurement object 4 is conveyed by a predetermined interval, and after the conveyance, the control unit 20 starts conveyance and imaging of the camera 5 and performs measurement of the next linear pattern of the measurement object 4. Good. That is, in addition to the present embodiment, a mechanism for transporting the measurement object 4 in the axial direction orthogonal to the longitudinal direction of the reference pattern 3, and the controller 20 transports the camera 5, imaging control, and transport control of the measurement object 4. And a means for switching between the two, it is possible to automate the measurement of all the linear patterns of the measuring object 4 without the work of the measurer. In this case, it is desirable to adopt the interval of the linear pattern of the measurement object 4 as the predetermined interval for conveying the measurement object 4.

次に、真直度算出処理の具体的内容を説明する。
<真直度算出処理>
図10は、測定対象パターンの真直度を算出する処理を説明するフローチャートである。以降、記憶部24に記憶された図9の画像データを例として真直度算出処理の説明をする。
Next, specific contents of the straightness calculation process will be described.
<Straightness calculation processing>
FIG. 10 is a flowchart illustrating a process for calculating the straightness of the measurement target pattern. Hereinafter, the straightness calculation process will be described using the image data of FIG. 9 stored in the storage unit 24 as an example.

ステップ11において、画像処理部25(制御部20)は、記憶部24に記憶された画像データ(図9参照)に基づいて、基準パターン3と測定対象パターンの重心位置を算出する(重心位置算出処理)。   In step 11, the image processing unit 25 (control unit 20) calculates the centroid position of the reference pattern 3 and the measurement target pattern based on the image data (see FIG. 9) stored in the storage unit 24 (centroid position calculation). processing).

重心位置算出処理は、まず、画像データに対してエッジ抽出処理を施し、基準パターン3と測定対象パターンの両端のエッジ(輪郭)を長手方向に一定間隔ごと抽出する(図11(a)参照)。そして、抽出した基準パターン3と測定パターンの両端のエッジ座標の中心位置を算出することで各パターンの重心位置を算出する(図11(b)参照)。   In the center-of-gravity position calculation processing, first, edge extraction processing is performed on image data, and edges (contours) of both ends of the reference pattern 3 and the measurement target pattern are extracted at regular intervals in the longitudinal direction (see FIG. 11A). . Then, the center position of each pattern is calculated by calculating the center positions of the edge coordinates of both ends of the extracted reference pattern 3 and measurement pattern (see FIG. 11B).

以降、重心位置を画像データの長手方向にN点算出したものとして説明する。
ここで、ステップ1の重心位置算出処理により得られた基準パターン3の重心位置をA、A、・・・、Aと定義し、測定対象パターンの重心位置をB、B、・・・、Bと定義する。
In the following description, it is assumed that the center of gravity is calculated as N points in the longitudinal direction of the image data.
Here, the centroid position of the reference pattern 3 obtained by the centroid position calculation process in step 1 is defined as A 1 , A 2 ,..., A N, and the centroid position of the measurement target pattern is defined as B 1 , B 2 , ..., defined as B N.

ステップ12において、画像処理部25(制御部20)は、ステップ11の処理により得られた基準パターン3と測定対象パターンの重心位置の距離(重心間距離、図11(c)参照)を算出する(重心間距離算出処理)。具体的には、N点の重心間距離D、D、・・・、Dを次のように算出する。 In step 12, the image processing unit 25 (control unit 20) calculates the distance between the centroid positions of the reference pattern 3 and the measurement target pattern obtained by the process of step 11 (distance between centroids, see FIG. 11C). (Inter-centroid distance calculation processing). Specifically, the calculated distance between center of gravity D 1, D 2 of the N-point, ..., and D N, as follows.

Figure 0006225719
Figure 0006225719

ステップ13において、画像処理部25(制御部20)は、ステップ12において算出した重心間距離を補正する(補正処理)。補正処理は、まず、ステップ12の重心間距離算出処理により得られたN点の重心間距離のデータを2次元グラフ上にプロットし(図12(a)参照)、プロットしたデータにフィットする一次関数を算出する(図12(b)参照)。一次関数は、例えば、N点の重心間距離のデータを回帰分析することにより得られる。ここで、得られた一次関数の傾きをαとして、重心位置の間隔を1(単位長)とすると、補正後の重心間距離は次のように算出できる。   In step 13, the image processing unit 25 (control unit 20) corrects the distance between the centers of gravity calculated in step 12 (correction processing). In the correction process, first, the data of the distance between the centroids of the N points obtained by the distance calculation process between the centroids in step 12 is plotted on the two-dimensional graph (see FIG. 12A), and the first order fitting to the plotted data is performed. A function is calculated (see FIG. 12B). The linear function is obtained, for example, by performing regression analysis on the data of the distance between the centers of gravity of N points. Here, assuming that the slope of the obtained linear function is α and the center-of-gravity position interval is 1 (unit length), the corrected center-to-center distance can be calculated as follows.

Figure 0006225719
Figure 0006225719

図12(c)は補正後の重心間距離のデータをプロットした図である。   FIG. 12C is a diagram in which data of the distance between the centers of gravity after correction is plotted.

ステップ14において、画像処理部25(制御部20)は、ステップ13で得られたN点の補正後の重心間距離のデータを平均0に正規化し、最終的に測定対象パターンの真直度を次のように算出する。   In step 14, the image processing unit 25 (control unit 20) normalizes the data of the distance between the centers of gravity after correction of the N points obtained in step 13 to an average of 0, and finally determines the straightness of the measurement target pattern. Calculate as follows.

Figure 0006225719
Figure 0006225719

以上の処理により、測定対象パターンの真直度の分布が得られる(図13参照)。測定対象パターンの真直度は、得られた分布の標準偏差としても良いし、例えば、|max{σ}−min{σ}|、max{σ}、min{σ}(1≦i,j≦N)など分布を特徴付ける指標を真直度としても良い。なお、最終的な真直度はピクセル値で出力してもよいし、実寸値で出力してもかまわない。 The straightness distribution of the measurement target pattern is obtained by the above processing (see FIG. 13). The straightness of the measurement target pattern may be a standard deviation of the obtained distribution. For example, | max {σ i } −min {σ j } |, max {σ i }, min {σ i } (1 ≦ An index characterizing the distribution such as i, j ≦ N) may be straightness. The final straightness may be output as a pixel value or may be output as an actual size value.

本実施形態によれば、カメラ5を搬送させながら撮像し、測定対象パターンの真直度の算出を行うため、高速に測定対象パターンの真直度を測定できる。   According to the present embodiment, imaging is performed while the camera 5 is transported, and the straightness of the measurement target pattern is calculated. Therefore, the straightness of the measurement target pattern can be measured at high speed.

また、基準パターン3と測定対象パターンの重心間距離は、基準パターン3の重心位置を基準とした相対値として算出されるため、たとえカメラ搬送ステージ6が蛇行するような場合であっても、測定対象パターンの真直度の算出精度への影響を極めて小さく抑えることができる。   In addition, since the distance between the center of gravity of the reference pattern 3 and the measurement target pattern is calculated as a relative value based on the position of the center of gravity of the reference pattern 3, the measurement can be performed even when the camera transport stage 6 meanders. The influence on the calculation accuracy of the straightness of the target pattern can be minimized.

さらに、測定対象物4の配置の仕方により、測定対象パターンが基準パターン3の軸方向に対して傾きを持つ場合でも、ステップ13の補正処理によりその傾きの影響を相殺できるため、測定対象物の配置の影響による測定誤差を軽減でき、より高精度な真直度の測定が行える。   Furthermore, even if the measurement target pattern has an inclination with respect to the axial direction of the reference pattern 3 due to the arrangement of the measurement object 4, the influence of the inclination can be offset by the correction processing in step 13, so Measurement errors due to the influence of the arrangement can be reduced, and more accurate straightness can be measured.

本実施形態では、測定対象物4として、直線状パターンを等間隔にコーティングした2次元状のフィルムを用いたが、カメラ5で撮像できる直線状パターンであれば、3次元の測定対象物に対しても真直度の測定を行うことができる。   In this embodiment, a two-dimensional film in which a linear pattern is coated at equal intervals is used as the measurement object 4. However, if the linear pattern can be imaged by the camera 5, a three-dimensional measurement object is used. Even straightness can be measured.

以上、添付図面を参照しながら、本発明に係る真直度測定装置1等の好適な実施形態について説明したが、本発明はかかる例に限定されない。当業者であれば、本願で開示した技術的思想の範疇内において、各種の変更例又は修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。   The preferred embodiments of the straightness measuring apparatus 1 and the like according to the present invention have been described above with reference to the accompanying drawings, but the present invention is not limited to such examples. It will be apparent to those skilled in the art that various changes or modifications can be conceived within the scope of the technical idea disclosed in the present application, and these naturally belong to the technical scope of the present invention. Understood.

1 ・・・・・・真直度測定装置
1a・・・・・・測定機構
1b・・・・・・制御機構
2 ・・・・・・測定テーブル
3 ・・・・・・基準パターン
4 ・・・・・・測定対象物
5 ・・・・・・カメラ
6 ・・・・・・カメラ搬送ステージ
7 ・・・・・・照明
8 ・・・・・・照明搬送ステージ
20・・・・・・制御部
21・・・・・・設定部
22・・・・・・送受信部
23・・・・・・入力部
24・・・・・・記憶部
25・・・・・・画像処理部
26・・・・・・表示部
1 ··· Straightness measuring device 1a ··· Measurement mechanism 1b ··· Control mechanism 2 ··· Measurement table 3 ··· Reference pattern 4 ···・ ・ ・ ・ Measurement object 5 ・ ・ ・ ・ ・ ・ Camera 6 ・ ・ ・ ・ ・ ・ Camera transfer stage 7 ・ ・ ・ ・ ・ ・ Lighting 8 ・ ・ ・ ・ ・ ・ Lighting transfer stage 20 Control unit 21 ... Setting unit 22 Transmission / reception unit 23 Input unit 24 Storage unit 25 Image processing unit 26 ... Display section

Claims (4)

測定対象パターンの真直度を測定する真直度測定装置であって、
真直性が確認されている基準パターンと、
前記基準パターンと前記測定対象パターンを同時に撮像する撮像器と、
前記撮像器を前記基準パターンに沿って搬送させる撮像器搬送手段と、
前記搬送させながら撮像して取得した画像データに基づいて、前記基準パターンと前記測定対象パターンとのパターン間距離を算出し、前記パターン間距離から測定対象パターンの真直度を算出する真直度算出手段と、
を備えることを特徴とする真直度測定装置。
A straightness measuring device that measures the straightness of a measurement target pattern,
A reference pattern whose straightness has been confirmed, and
An imager that simultaneously images the reference pattern and the measurement target pattern;
Image pickup device transporting means for transporting the image pickup device along the reference pattern;
Straightness calculation means for calculating an inter-pattern distance between the reference pattern and the measurement target pattern based on image data acquired by imaging while being conveyed, and calculating a straightness of the measurement target pattern from the inter-pattern distance. When,
A straightness measuring apparatus comprising:
前記パターン間距離を前記測定対象パターンの傾きに応じて補正する補正手段を、更に備え、
前記真直度算出手段は、前記補正されたパターン間距離から測定対象パターンの真直度を算出することを特徴とする請求項1に記載の真直度測定装置。
Correction means for correcting the distance between the patterns according to the inclination of the measurement target pattern, further comprising:
The straightness measurement apparatus according to claim 1, wherein the straightness calculation means calculates straightness of the measurement target pattern from the corrected inter-pattern distance.
真直性が確認されている基準パターンと、前記基準パターンと測定対象パターンを同時に撮像する撮像器と、を備える真直度測定装置を用いて、前記測定対象パターンの真直度を測定する真直度測定方法であって、
前記撮像器を前記基準パターンに沿って搬送させながら撮像する搬送撮像ステップと、
前記搬送させながら撮像して取得した画像データに基づいて、前記基準パターンと前記測定対象パターンとのパターン間距離を算出し、前記パターン間距離から測定対象パターンの真直度を算出する真直度算出ステップと、
を含むことを特徴とする真直度測定方法。
Straightness measurement method for measuring the straightness of the measurement target pattern using a straightness measurement device including a reference pattern whose straightness has been confirmed and an imager that simultaneously images the reference pattern and the measurement target pattern Because
A transport imaging step of capturing an image while transporting the imager along the reference pattern;
A straightness calculation step of calculating an inter-pattern distance between the reference pattern and the measurement target pattern based on image data acquired by imaging while being conveyed, and calculating a straightness of the measurement target pattern from the inter-pattern distance. When,
A straightness measurement method comprising:
コンピュータを、測定対象パターンの真直度を測定する真直度測定装置として機能させるためのプログラムであって、
前記真直度測定装置は、真直性が確認されている基準パターンと、前記基準パターンと前記測定対象パターンを同時に撮像する撮像器と、を備え、
前記コンピュータを、
前記撮像器を前記基準パターンに沿って搬送させながら撮像する搬送撮像手段、
前記搬送させながら撮像して取得した画像データに基づいて、前記基準パターンと前記測定対象パターンとのパターン間距離を算出し、前記パターン間距離から測定対象パターンの真直度を算出する真直度算出手段、
として機能させるためのプログラム。
A program for causing a computer to function as a straightness measuring device that measures the straightness of a measurement target pattern,
The straightness measuring device includes a reference pattern whose straightness is confirmed, and an imager that images the reference pattern and the measurement target pattern simultaneously,
The computer,
Transport imaging means for capturing images while transporting the imager along the reference pattern;
Straightness calculation means for calculating an inter-pattern distance between the reference pattern and the measurement target pattern based on image data acquired by imaging while being conveyed, and calculating a straightness of the measurement target pattern from the inter-pattern distance. ,
Program to function as.
JP2014011188A 2014-01-24 2014-01-24 Straightness measuring device, straightness measuring method, and program Expired - Fee Related JP6225719B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014011188A JP6225719B2 (en) 2014-01-24 2014-01-24 Straightness measuring device, straightness measuring method, and program

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014011188A JP6225719B2 (en) 2014-01-24 2014-01-24 Straightness measuring device, straightness measuring method, and program

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2015137994A JP2015137994A (en) 2015-07-30
JP6225719B2 true JP6225719B2 (en) 2017-11-08

Family

ID=53769074

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014011188A Expired - Fee Related JP6225719B2 (en) 2014-01-24 2014-01-24 Straightness measuring device, straightness measuring method, and program

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6225719B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112556581B (en) * 2020-12-04 2021-09-10 常州市新创智能科技有限公司 Carbon plate detection system based on machine vision and detection method thereof

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59188504A (en) * 1983-04-11 1984-10-25 Canon Inc Measuring method of cylindrical shape
JPH08304046A (en) * 1995-05-10 1996-11-22 Osaka Denshi Kikai Kk Bending measuring instrument
JP2010019742A (en) * 2008-07-11 2010-01-28 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Straightness measurement method and device
KR20100042864A (en) * 2008-10-17 2010-04-27 삼성전자주식회사 Exposure apparatus and method to measure straitness thereof

Also Published As

Publication number Publication date
JP2015137994A (en) 2015-07-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101950634B1 (en) Shape measuring device and shape measuring method
JP2013122434A (en) Three-dimensional shape position measuring device by monocular camera using laser, method for measuring three-dimensional shape position, and three-dimensional shape position measuring program
EP3081900A1 (en) Measurement device and method for measuring the shape of an object to be measured, system, and article production method
WO2016171265A1 (en) Shape-measuring device and method for measuring shape
KR101281454B1 (en) Inspection apparatus and compensating method thereof
JPWO2012077683A1 (en) Glass ribbon defect measuring method and glass ribbon defect measuring system
JP6875836B2 (en) Wire rope measuring device and method
TW201627633A (en) Board-warping measuring apparatus and board-warping measuring method thereof
JP6413648B2 (en) Measurement system, object extraction system, measurement method and program
JP4837538B2 (en) End position measuring method and dimension measuring method
CN116359131A (en) Calibration method of pole piece defect detection system and pole piece defect detection system
CN114543697A (en) Measuring apparatus, control apparatus, and control method
JP6225719B2 (en) Straightness measuring device, straightness measuring method, and program
JP6398950B2 (en) Device for photographing the surface of a plate-like body
JP2016065863A (en) Steel sheet shape measurement device and its method, as well as steel sheet manufacturing apparatus using the same and its method
JP2012202957A (en) Defect position information generation device, defect confirmation system, and defect position information generation method
JP2012004664A (en) Image processing system, inspection equipment, image processing method, and image processing program
KR20130022415A (en) Inspection apparatus and compensating method thereof
JP2006337270A (en) Measuring method for cross-sectional shape and device therefor
JP6780533B2 (en) Shape measurement system and shape measurement method
KR101829760B1 (en) Apparatus for measuring strip width and method for measuring strip width
JP2016090242A (en) Method for measuring exit pupil position of lens
JP2006349443A (en) Camera calibration device
KR20130023305A (en) Inspection apparatus and compensating method thereof
US20180269116A1 (en) Measurement method, measurement program, and measurement system

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20161125

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170906

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170912

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170925

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6225719

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees