JP6203436B2 - 光源装置 - Google Patents

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Description

本発明は、光源で発生する光を被写体に照射しつつ、光の発光強度を検出する光源装置に関する。
従来、被写体を照射する光を内視鏡等に供給する光源装置においては、光源の光量調節のために、光源が発する光の光量を測定するシステムを採用するものがあり、測定した光量を制御部にフィードバックすることで適切な光量に制御する等している。
例えば、日本国特許5393935号公報には、内視鏡へ供給する照明光の光量を減少させることなく、発光素子の発光強度をより高い発光強度の光の下で検出することのできる光源装置が開示されている。
また、日本国特開2015−19695号公報には、プローブの挿入状態が照射光の射出に好ましくない場合に、手動操作等を要することなく照射光の発光を停止する制御を行うことが可能な光源装置が開示されている。
しかしながら、日本国特許5393935号公報や日本国特開2015−19695号公報に開示されているような従来の光源装置では、光量検出用のセンサに、光源からセンサに直接向かう光路上の光以外に、レンズや各部材からの反射光等の間接光が入射される。これらの間接光は、周囲温度等の環境変化や装置毎の個体バラツキの影響を受けて変動する虞があり、安定且つ精度良く光量を測定する上で支障となる。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、光源が発する光のうち、光源からの直接の光路上の光のみを精度良く検出可能な光源装置を提供することを目的としている。
本発明の一態様による光源装置は、被写体に照射するための光を発生する第1の光源と、前記被写体に照射するための光を発生し、かつ前記第1の光源よりも発光強度が強い第2の光源とを有する光源部と、前記第1の光源から発生した光の一部が入射され、且つ入射された光を前記被写体に照射するための光路を形成する第1の光学部と、前記第2の光源から発生した光の一部が入射され、且つ入射された光を前記被写体に照射するための光路を形成する第2の光学部と、前記第1の光源が発する光のうち、前記第1の光学部に入射する光以外の光を受光可能な位置に配置され、入射される光の強度を検出する検出部と、
前記第1の光源が発する光の反射又は散乱による間接光の前記検出部への入射を遮るよう前記第1の光源と前記検出部との間に配置された、光を遮蔽する遮蔽部と、前記第1の光源の最大配光角内の光のうち前記検出部へ直接入射する光の光路上のうち前記第1の光源に対して前記第2の光源よりも遠ざかる位置に設けられ、光を透過する透過部と、を有する。
本発明の実施の第1形態に係り、内視鏡システムの構成図 同上、発光部の構成を示す説明図 同上、光センサの配置例1を示す説明図 同上、光センサの配置例2を示す説明図 同上、光センサの配置例3を示す説明図 同上、各光源毎の透過部の配置例1を示す説明図 同上、各光源毎の透過部の配置例2を示す説明図 同上、各光源間に遮光板を設けた例を示す説明図 同上、遮光板とレンズ保持枠とを示す説明図 本発明の実施の第2形態に係り、測光ケースと駆動回路基板の配置を示す説明図 同上、センサ基板と駆動回路基板とを一体化した例を示す説明図 同上、回路基板の平面図 同上、駆動素子からの熱伝導経路を示す説明図 本発明の実施の第3形態に係り、測光ケースの説明図 同上、回路基板の表面グランド層の例を示す説明図 同上、回路基板の表面グランド層の他の例を示す説明図 同上、回路基板の表面グランド層の更に他の例を示す説明図 同上、駆動素子側の表面グランド層に放熱部品を熱的に接触させた例を示す説明図 同上、光センサ側の表面グランド層に放熱部品を熱的に接触させた例を示す説明図 同上、LED基板と駆動回路基板との接続を示す説明図 同上、LED基板及び駆動回路基板の正面図 同上、振動によって端子接触表面に発生する酸化物を示す説明図 同上、振動負荷に対応したLED基板と駆動回路基板との接続を示す説明図 同上、駆動回路基板に固定されるメス端子の実装部を示す説明図 同上、図23のA−A線断面図
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
[実施の第1形態]
図1において、符号1は内視鏡システムであり、スコープ2と、光源装置3と、ビデオプロセッサ4と、モニタ5と、通信ケーブル6とを備えている。スコープ2は、光源装置3から供給される光を被写体に照射して各種観察や処置を行う内視鏡であり、ライトガイドコネクタ15を介して光源装置3に接続されると共に、ビデオコネクタ16を介してビデオプロセッサ4に接続されている。
ライトガイドコネクタ15には、スコープ2内を挿通されるライトガイド11の基端が接続されており、このライトガイド11の先端がスコープ2の挿入部先端まで延出されている。ライトガイドコネクタ15を光源装置3に接続したとき、ライトガイド11の基端の入射端面に光源装置3からの光が入射され、スコープ2先端のライトガイド11の先端射出面から光が出射される。
スコープ2の先端における出射光の光路上には、レンズ12が配設されており、ライトガイド11内を伝達された光源装置3からの光は、レンズ12を介してスコープ2の挿入部先端から被写体に照射される。光を照射された被写体の光学像は、スコープ2の挿入部先端に配設された図示しない対物レンズを介して取り込まれ、光学像を電気信号に変換する撮像素子13上に結像する。
撮像素子13は、例えばCMOSやCCD等の固体撮像素子であり、カラーフィルタアレイ等が配設されたカラー撮像素子、或いは面順次照明光を受光するモノクロ撮像素子として構成されている。撮像素子13は、被写体の光学像を電気的な撮像信号に変換し、信号線14を介して、ビデオコネクタ16が接続されたビデオプロセッサ4へ撮像信号を送信する。
ビデオプロセッサ4は、撮像素子13から受信した撮像信号を処理してモニタ5に表示するための画像信号を生成する。例えば、撮像素子13から各色の撮像信号を同時化してカラーの画像信号を生成し、生成した画像信号のカラーバランス調整やガンマ変換、色変換等の画像処理を行った後に、モニタ5に表示するための信号形式に変換してモニタ5へ出力する。これにより、モニタ5には被写体の画像が表示される。
また、ビデオプロセッサ4は、受信した撮像信号から例えば輝度信号を抽出して、抽出した輝度信号に基づき明るさ情報を生成する。こうしてビデオプロセッサ4により生成された明るさ情報は、ビデオプロセッサ4と光源装置3とを接続する通信ケーブル6を介して、光源装置3へ送信される。
次に、光源装置3の内部構成について説明する。光源装置3は、発光部20と、駆動部50と、制御部100と、操作パネル110とを主要部として備え、スコープ2に供給する光の強度を調整可能で、且つ環境変化や個体バラツキに対して安定した光を供給可能に構成されている。
発光部20は、被写体に照射するための光を発生する単一或いは複数の光源を光源部として備え、発生した光を、ライトガイドコネクタ15を介してスコープ2に供給する。光を発生する光源としては、例えばキセノンランプやLED等の発光素子が用いられ、後述するように、光源で発生する光の強度を検出する光センサ25(図2参照)を備えている。
駆動部50は、発光部20の光源を駆動する駆動回路や、所定電圧の安定化電源を供給する電源回路等を備えて構成され、光源となる発光素子を、所定の電流、電圧、或いは周波数で駆動し、所定の光量の光を発生させる。この駆動部50は、制御部100からの制御信号によって作動を制御される。
制御部100は、駆動部50を介して発光部20の光源に供給する電流、電圧、或いは周波数を制御して発生する光の強度を調整する。例えば、光源に供給する電流をPWM制御によって可変し、光源の発光強度を調整する。この光の強度調整は、光センサ25からの入力に基づき、または通信ケーブル6を介してビデオプロセッサ4と通信を行って取得した被写体の明るさ情報に基づき、あるいは操作パネル110を介したユーザからの照明光の明るさ設定に基づいて、行われる。
操作パネル110は、光源装置3に対する操作をユーザが行うためのものであり、光源装置3の電源オン/オフや、観察モードの設定、出射光の明るさ設定等の操作を行うことができる。ユーザが操作パネル110を操作して所望の観察モードを設定した場合、設定された観察モードが制御部100及び通信ケーブル6を介してビデオプロセッサ4へ送信され、ビデオプロセッサ4において観察モードに応じた画像処理が行われる。
図2は、発光部20の構成を示し、本実施の形態においては、被写体に照射する光を発生する光源部をLED21によって形成している。LED21から出射される光の光路上には、導光及び集光のためのレンズ系22が配設されている。レンズ系22は、LED21で発生した光の一部が入射され且つ入射された光を導光して被写体に照射するための光路を形成する光学部であり、図2においては、前段のレンズ22-1に入射されて平行光にされた光が後段のレンズ22-2によって集光され、ライトガイドコネクタ15に接続されるライトガイド11aの基端に入射される例を示している。
これらのLED21及びレンズ系22は、防塵のため第1の筐体としての光学ケース30内に収納されている。光学ケース30内には、LED21が実装されるLED基板31が配設され、このLED基板31に、LED21の発光時に発生する熱を光学ケース30外に放熱するための放熱部材であるヒートシンク35が熱的に接触している。
また、光学ケース30内には、光源からの出射光量を阻害することなく光の強度を検出するため、LED21が発する光のうち、レンズ系22に入射する光以外の光を受光可能な位置に光の強度を検出する検出部としての光センサ25が配設されている。光センサ25は、第2の筐体としての専用の測光ケース40内に収容されており、測光ケース40には、LED21からの光を取り込むための導光部42が設けられている。
詳細には、測光ケース40の側壁部40aによって囲まれる底面部を形成するセンサ基板41上に光センサ25が取り付けられ、側壁部40aの開口側に、LED21からの光を取り込むための導光部42が設けられている。導光部42は、LED21からの直接光を光センサ25に入射すると共に、光センサ25への散乱光や外乱光の入射を阻止するように構成されている。
具体的には、導光部42は、レンズ系22の最大入射角θiからLED21の最大配光角θLの間でLED21が発する光のうちLED21から光センサ25に直接向かう光の光路上に配置され、光を透過する透過部43と、LED21が発する光のうち光学ケース30内で反射又は散乱する間接光の光センサ25への入射を遮る遮蔽部44とを有している。測光ケース40の側壁部40aは、遮蔽部44の一部を形成し、光センサ25を三次元的に囲むように構成されている。これにより、周囲温度等の環境変化や装置毎の個体バラツキの影響を受けて変動する間接光を除去し、LED21からの直接光のみを精度良く検出して、安定且つ精度良く光量を測定することが可能となる。
本実施の形態においては、遮蔽部44は金属材等の光を通さない材料で形成され、透過部43は遮蔽部44によって囲まれる開口孔として形成されている。尚、測光ケース40の開口部をガラスや樹脂材等の透明部材で覆い、この透明部材上に光を吸収或いは反射する材料をコーティングする等して、非コーティング部を透過部43、コーティング部を遮蔽部44としても良い。
ここで、光センサ25は、光学ケース30に対して、図3〜図5に示すような配置としても良い。図3〜図5は、LED21からの熱による光センサ25周辺部の温度上昇を抑制するための配置を例示している。
図3に示す光センサ25の配置例1は、光センサ25が実装されるセンサ基板41を、光センサ25の熱を伝達可能な熱伝達部として光学ケース30の外部に配置するものである。詳細には、光学ケース30の光センサ25への直接光の光路上に開口部30aを設け、この開口部30aに測光ケース40の側壁部40aを嵌合して測光ケース40を光学ケース30に固定することで、光センサ25の熱伝達部を光学ケース30の外部に配置する。
このような配置とすることにより、光学ケース30外の空気や埃が開口部30aから光学ケース30及び測光ケース40内に流入することを防止した上で、LED21からの直接光の光センサ25への光入射経路を確保し、光学ケース30外の冷却風Wによって光センサ25周辺の熱をセンサ基板41から効果的に放熱することができる。その結果、光センサ25の温度上昇による検出精度の低下を防止することができ、LED21で発生する光の強度を正確に調整することが可能となる。
また、図4は、測光ケース40の遮蔽部44の形状を変更した測光ケース40’として、この測光ケース40’の本体部を光学ケース30の外部に配置した配置例2を示している。測光ケース40’は、測光ケース40の遮蔽部44に対して、前方に突出する遮蔽部44’を有しており、光学ケース30に設けた開口部30aに遮蔽部44’の突出部を嵌合して固定することにより、測光ケース40’の本体部分を光学ケース30外に配置する。
これにより、図3と同様、光学ケース30及び測光ケース40内への外部空気や埃の進入を防止すると共に、LED21からの直接光の光センサ25への光入射経路を確保し、冷却風Wによって光センサ25周辺の熱を効果的に放熱することができる。
図5は、測光ケース40全体を、光学ケース30の外部に配置する配置例3を示し、光学ケース30に設けた開口部30aの周縁を囲むように測光ケース40の遮蔽部44を当接させて固定する。これにより、図3と同様、光学ケース30及び測光ケース40内への外部空気や埃の進入を防止すると共に、LED21からの直接光の光センサ25への光入射経路を確保し、冷却風Wによって光センサ25周辺の熱を効果的に放熱することができる。
また、測光ケース40(40’)は、側壁部40aや遮蔽部44(44’)を樹脂材等の断熱部材で形成した断熱部とするようにして良い。これにより、光学ケース30及び周囲から光センサ25への熱伝達を遮断することが可能となり、光センサ25の温度上昇による検出精度の低下を防止することができる。
次に、光学ケース30内に複数の光源が隣接して配置される場合に、各光源の各々に対応して設けられる光センサ25の配置について説明する。
前述したように、光センサ25は、光源からの出射光量を阻害しないよう、位置条件として、光源からの光を導光、集光するレンズ系22の最大入射角から光源の最大配光角の間に配置される。光源が単一の場合、光センサ25は、上述の位置条件を満足すれば、どこに配置しても良いが、複数の光源が隣接して配置されている場合、各光源毎に対応して設けられる光センサ25は、隣合う光源からの光の影響を考慮する必要がある。
例えば、図6に示すように、複数の光源として、3つのLED21A,21B,21Cが隣接して配置され、隣合う光源の影響が無視できない場合、それぞれの発光強度を検出するために設けられる透過部25A,25B,25Cは、図中のハッチングで示す領域に配置される。
すなわち、透過部25A,25B,25Cは、検知対象の光源のレンズ系22A,22B,22Cの最大入射角θiA,θiB,θiCと、検知対象の光源の最大配光角θLA,θLB,θLCとの間、且つ隣接する検知対象外の光源の最大配光角の外側の領域に配置され、隣合う光源からの光の影響による検知精度の低下が防止される。
更に、検知対象外の光源の最大配光角の外側に存在する微弱な散乱光等の影響も無視できない場合には、その影響を軽減、排除可能な位置に透過部25A,25B,25Cを配置することで、検知精度の向上を図る。
例えば、LED21A,21B,21Cのそれぞれの発光強度が異なる場合、図6のハッチングの領域であっても、各光源毎の透過部25A,25B,25Cを発光強度が弱い光源と発光強度が強い光源とが隣り合う位置に配置すると、発光強度が弱い光源用のセンサは、発光強度が強い光源の外乱光の影響を受けてしまい、検知精度が悪化する。
検知対象外の光源の影響を強く受けるのは、発光強度が弱い光源と発光強度が強い光源とが隣り合う位置関係にある場合である。このため、図6のハッチングの領域内であって、且つ相対的に発光強度の弱い光源を検知するセンサを、発光強度の強い光源から遠ざける位置に配置することにより、検知精度の悪化を防止する。
例えば、LED21A,21B,21Cのうち、LED21Bの発光強度が最も強い場合、図7に示すように、LED21Bの発光強度を検知するために設けられる透過部25Bに対して、LED21Aの発光強度を検知するために設けられる透過部25AをLED21Bから遠ざかる位置に配置すると共に、LED21Cの発光強度を検知するために設けられる透過部25CをLED21Bから遠ざかる位置に配置する。これにより、LED21Aの発光強度を検知するために設けられる透過部25AとLED21Cの発光強度を検知するために設けられる透過部25Cとは、それぞれ、LED21Bの影響を回避することができる。
この場合、図8に示すように、隣り合うLED21A,21B,21Cの間に、遮光板26A,26B,26Cを設けることにより、検知精度の向上を図るようにしても良い。遮光板26A,26B,26Cは、レンズ系22A,22B,22Cを保持するレンズ保持枠に一体的に設けても良く、別部品として追加しても良い。
遮光板26A,26B,26C(以下、遮光板26で総称する)を別部品とする場合には、図9に示すように、レンズ保持枠27に突起27a等を設け、突起27aを遮光板26とオーバーラップさせることで、レンズ保持枠27と遮光板26との隙間からの漏れ光を効果的に防ぐことができる。
[実施の第2形態]
次に、本発明の実施の第2形態について説明する。光源装置3の光源として使用されるLED21の光量は、一般に、大電流のPWM制御により調整される。PWM波形に乱れを生じることなく正確な制御を行うためには、駆動回路をLED21に低抵抗で接続する必要があり、駆動回路基板はLED21の近傍に配置される。また、LED21の発光状態を検知する光センサ25は、光検出のためにLED21の近傍に配置される。
このような配置で、LED21に大電流を投入すると、駆動回路基板のパターン及び駆動素子が高温になり、近接する光センサ25へ熱が流入して光検知精度が低下する虞がある。このため、第2形態は、LED21を駆動する駆動回路基板から光センサ25を収容する測光ケース40への熱流入を低減し、光センサ25を一定温度以下に保って光検知精度の悪化を防止する。
図10に示すように、測光ケース40は、図5と同様に光学ケース30の外部に配置されており、この測光ケース40の上部に、LED21に電流を供給する駆動回路基板51が配置されている。駆動回路基板51は、基板サポート52を介して光学ケース30の外部に固定され、光センサ25が実装されるセンサ基板41と所定の間隔をもって配置されている。
駆動回路基板51は、低接触抵抗の端子部59を介してLED21が実装されるLED基板31に接続され、駆動回路基板51上の駆動素子55によってLED21が駆動される。駆動素子55がLED21を駆動する際に発生する熱は、図10中に矢印で示すような経路で基板サポート52から光学ケース30に伝熱されて放熱されるため、測光ケース40への熱流入が防止される。これにより、光センサ25の温度上昇が抑制され、光センサ25の検知精度の悪化を防止することができる。
尚、光センサ25のセンサ基板41と駆動回路基板51とは、取り付けスペースの削減や組み付け作業性の向上等を目的として、図11に示すように同一の回路基板51Aとしても良い。図11では、回路基板51Aは、電気ケーブル33を介してLED基板31に接続される例を示しているが、端子部59を介して接続するようにしても良い。
この場合には、図12に示すように、回路基板51Aの駆動素子55と光センサ25との間に、駆動素子55側から光センサ25側への熱伝導を阻止する熱伝導阻止部56を設ける。この熱伝導阻止部56は、回路基板51Aの駆動素子55と光センサ25との間に設けられた細長の断熱部材やスリットによる空気層等で形成され、駆動素子55から光センサ25への熱伝導経路を遮断して光センサ25の検知精度の悪化を防止することができる。
また、図13に示すように、駆動素子55から光センサ25までのあらゆる熱伝導経路に、熱経路となる伝熱部品57を配置し、この伝熱部品57を周辺部品58に熱的に接触させるようにしても良い。これにより、図13に矢印で示すように、駆動素子55からの熱を、光センサ25側への伝熱経路を形成することなく周辺部品に放熱することができ、光センサ25の検知精度の悪化を防止することができる。
第2形態においては、LED21の近傍に配置する駆動用の発熱素子である駆動素子55と光検知用の光センサ25とを熱的に遮蔽し、光センサ25の温度を一定温度以下に保って光検出精度を確保することができる。その結果、LED21で発生する光の強度を正確に調整して適正な発光状態に保つことが可能となる。
[実施の第3形態]
次に、本発明の実施の第3形態について説明する。第3形態は、第2形態に対して、図14に示すように、光センサ25が実装されるセンサ基板41と駆動回路基板51とを同一の回路基板51Bで兼用すると共に、この回路基板51Bにより、光センサ25を収容する測光ケース45の底面部を形成するものである。
具体的には、第3形態の測光ケース45の回路基板51Bは、光センサ25を囲繞する側壁部45aによって保持され、側壁部45aの開口側に、LED21からの光を取り込むための導光部42を備えている。導光部42は、測光ケース40と同様、LED21から光センサ25に直接入射する直接光を透過する透過部43と、光学ケース30内で反射又は散乱する間接光の光センサ25への入射を遮る遮蔽部44とを有している。LED基板31と回路基板51Bとは、低接触抵抗の端子部59を介して着脱自在に接続されている。
図15に示すように、回路基板51Bの駆動素子55側の基板表面には、駆動素子55と光センサ25との間の熱伝導経路上を横切るように、共通電位接続用の表面グランド層60が形成されている。この表面グランド層60は、駆動素子55から伝熱された熱を、周囲雰囲気に放熱する放熱層として機能し、図15においては、表面グランド層60は、駆動素子55と光センサ25との間の基板幅全面に配置されている。
また、表面グランド層60は、図16に示すように、駆動素子55を回路基板51B内の2方向で囲むように配置される表面グランド層60Aとしても良い。更には、図17に示すように、駆動素子55を四方から囲むように配置される表面グランド層60Bとしても良い。
このような表面グランド層60(60A,60B)により、図15〜図17中に実線の矢印で示すように、駆動素子55で発生した熱が表面グランド層60(60A,60B)に伝熱され、周囲雰囲気に放熱される。これに伴い、図15〜図17中に破線の矢印で示すような光センサ25側への熱の移動が抑制され、光センサ25を一定温度以下に保って光検知精度を確保することができる。
この場合、表面グランド層60(60A,60B)からの放熱をより促進するため、図18,図19に示すように、表面グランド層60(60A,60B)に、熱伝導部材若しくは熱拡散部材からなる放熱部品61を熱的に接触させるようにしても良い。
尚、図18は、回路基板51Bの駆動素子55側で表面グランド層60に放熱部品61を熱的に接触させた例を示し、図19は、回路基板51Bの光センサ25側に表面グランド層60を設けて放熱部品61を熱的に接触させた例を示している。
このように、表面グランド層60(60A,60B)に放熱部品61を熱的に接触させることで、放熱面積を拡大することが可能となり、放熱部品61から周囲の部品若しくは大気へ放熱して、同様に、光センサ25側への熱の移動を抑制して光センサ25の光検知精度を確保することができる。
第3形態においても、第2形態と同様、LED21近傍に配置する駆動素子55と光センサ25とを熱的に遮蔽し、光センサ25の温度を一定温度以下に保って検出精度を確保し、LED21の発光状態を適正に保つことが可能となる。
ここで、LED21が実装されるLED基板31と駆動回路基板51との接続について説明する。LED基板31と駆動回路基板51とは、電気抵抗を低減し、LED21の電流波形の品質を確保するため、基板実装型端子を用いて接続されている。
例えば、図20,図21に示すように、LED基板31には、基板実装型端子として平型タブ端子(オス端子)70が実装され、駆動回路基板51には、LED基板31の平型タブ端子70と嵌合するメス端子71が実装されている。そして、例えば図20に矢印で示す方向にオス端子70とメス端子71とが嵌合され、LED基板31と駆動回路基板51とが電気的に接続される。
これらの端子70,71の嵌合によって電気的に接続されるLED基板31と駆動回路基板51は、光源装置3内で光学ケース30外の所定の部位に固定されて支持される。LED基板31は、第1のベース72に固定されてヒートシンク35に熱的に接触し、駆動回路基板51は第2のベース73に固定される。
しかしながら、輸送時等に光源装置3全体に振動負荷がかかると、端子70,71の接触抵抗が増大する虞がある。例えば、図22に示すように、端子70,71の嵌合方向に対して略直行する方向に振動負荷が加わった場合、LED基板31のオス端子70と駆動回路基板51のメス端子71との接触表面に微小な滑りによる損傷が生じ、いわゆるフレッチング腐食による酸化物74が発生する。この酸化物74によって、端子70,71の接触抵抗が増大し、LED21の発光に不具合が発生する場合がある。
これに対して、駆動回路基板51のメス端子71を、図23に示すような形状のメス端子75としてLED基板31のオス端子70と接続することで、振動負荷による接点間の接触抵抗の増大を防止することができる。このメス端子75は、駆動回路基板51に固定される実装部75aと、LED基板31のオス端子70に嵌合される嵌合部75bと、実装部75aと嵌合部75bとを連結する連結部75cとを備えて構成されている。
実装部75aは、図24に示すように、駆動回路基板51に嵌めこまれる複数の板状の突起片75alを有しており、突起片75alを駆動回路基板51に嵌めこんだ後、半田付け等によって基板に固定される。実装部75aと嵌合部75bとを連結する連結部75cは、平板状に形成されて嵌合部75bから嵌合方向と同方向に延出され、駆動回路基板51に略直交するように実装部75aに連結されている。
このような平板状の連結部75cを介して実装部75aに連結される嵌合部75bは、図25に示すように、オス端子70の平面部を両面から挟み込む形状を有している。この嵌合部75bは、オス端子70の平面部を挟み込んで保持する押圧力Fhが振動負荷を受けた際に連結部75cに加わる力Fdよりも大きくなるような関係に設定されている(Fh>Fd)。
このような関係とすることで、振動負荷で、LED基板31が固定される第1のベース72と、駆動回路基板51が固定される第2のベース73とが相対的に揺れ合う場合にも、嵌合部75bよりも連結部75cが先に小さい力で変形変位し、オス端子70とメス端子71の嵌合部表面でのズレ・摩耗を低減して接触表面の腐食による接触抵抗の増大を防止することができる。
これにより、LED基板31と駆動回路基板51との電気接続部に振動負荷が加わっても、LED21の点灯不具合を防止することができる。更に、LED基板31のオス端子70に接続されるメス端子71の嵌合方向を、駆動回路基板51に対して垂直方向とすることで、光学ケース30に沿う方向に駆動回路基板51を配置することができ、装置全体を小型化することが可能となる。
本出願は、2015年4月24日に日本国に出願された特願2015−089708号を優先権主張の基礎として出願するものであり、上記の内容は、本願明細書、請求の範囲、図面に引用されたものである。

Claims (9)

  1. 被写体に照射するための光を発生する第1の光源と、前記被写体に照射するための光を発生し、かつ前記第1の光源よりも発光強度が強い第2の光源とを有する光源部と、
    前記第1の光源から発生した光の一部が入射され、且つ入射された光を前記被写体に照射するための光路を形成する第1の光学部と、
    前記第2の光源から発生した光の一部が入射され、且つ入射された光を前記被写体に照射するための光路を形成する第2の光学部と、
    前記第1の光源が発する光のうち、前記第1の光学部に入射する光以外の光を受光可能な位置に配置され、入射される光の強度を検出する検出部と、
    前記第1の光源が発する光の反射又は散乱による間接光の前記検出部への入射を遮るよう前記第1の光源と前記検出部との間に配置された、光を遮蔽する遮蔽部と、
    前記第1の光源の最大配光角内の光のうち前記検出部へ直接入射する光の光路上のうち前記第1の光源に対して前記第2の光源よりも遠ざかる位置に設けられ、光を透過する透過部と、
    を有することを特徴とする光源装置。
  2. 前記光源部は、隣接して配置される複数の光源を含み、
    前記複数の光源の各々に対応して設けられる前記透過部は、検知対象の光源の前記光学部への最大入射角と検知対象の光源の最大配光角との間、且つ隣接する検知対象外の光源の最大配光角の外側の領域に配置される
    ことを特徴とする請求項1に記載の光源装置。
  3. 前記遮蔽部は、前記検出部を三次元的に囲むように構成される
    ことを特徴とする請求項1に記載の光源装置。
  4. 被写体に照射するための光を発生する光源部と、
    前記光源部から発生した光の一部が入射され、且つ入射された光を前記被写体に照射するための光路を形成する光学部と、
    前記光源部が発する光のうち、前記光学部に入射する光以外の光を受光可能な位置に配置され、入射される光の強度を検出する検出部と、
    前記光源部の最大配光角内の光のうち前記検出部へ直接入射する光の光路上に開口部を有する透過部と、
    前記光源部が発する光の反射又は散乱による間接光の前記検出部への入射を遮るよう前記光源部と前記検出部との間に配置された遮蔽部と、
    前記光源部及び前記光学部が内部に配置される筐体と、
    前記検出部の熱を伝達可能であり、かつ前記筐体の外部に配置されている熱伝達部と、
    を有することを特徴とする光源装置。
  5. さらに、前記検出部は前記筐体の外部に設けられ、前記筐体は前記検出部に直接向かう光の光路上に開口を有し、
    前記遮蔽部は、前記筐体外部の空気が前記開口から前記筐体内部に流入しないように前記開口を囲んで設けられる
    ことを特徴とする請求項4に記載の光源装置。
  6. さらに、前記検出部は前記筐体の外部に設けられ、前記筐体は前記検出部に直接向かう光の光路上に開口を有し、
    前記遮蔽部は、前記筐体外部の空気が前記開口から前記筐体内部に流入しないように、前記開口に嵌合するように設けられる
    ことを特徴とする請求項4に記載の光源装置。
  7. 前記検出部と前記光源部を駆動する駆動素子とが同一の基板に配置され、
    前記基板上に、前記駆動素子と前記検出部との間の熱伝導経路上を横切る放熱層が形成される
    ことを特徴とする請求項1に記載の光源装置。
  8. 前記放熱層に、熱伝導部材若しくは熱拡散部材からなる放熱部品を熱的に接触させる
    ことを特徴とする請求項7に記載の光源装置。
  9. 被写体に照射するための光を発生する光源部と、
    前記光源部から発生した光の一部が入射され、且つ入射された光を前記被写体に照射するための光路を形成する光学部と、
    前記光源部が発する光のうち、前記光学部に入射する光以外の光を受光可能な位置に配置され、入射される光の強度を検出する検出部と、
    前記光源部の最大配光角内の光のうち前記検出部へ直接入射する光の光路上に開口部を有する透過部と、
    前記光源部が発する光の反射又は散乱による間接光の前記検出部への入射を遮るよう前記光源部と前記検出部との間に配置された遮蔽部と、を有し、
    前記検出部が実装される基板と前記光源部を駆動する駆動素子が実装される基板とを、各基板の端子同士の嵌合によって電気的に接続し、
    前記各基板の端子のうち、一方の端子は、
    他方の端子に嵌合される嵌合部と、
    前記基板に実装される実装部と、
    前記嵌合部と前記実装部とを連結し、振動負荷によって前記嵌合部よりも小さい力で変位する連結部と、
    を有することを特徴とする光源装置。
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