JP6168797B2 - Extreme ultraviolet light generator - Google Patents
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Description
本開示は、極端紫外光(EUV)生成装置のチャンバ及び極端紫外光生成装置に関する。 The present disclosure relates to an extreme ultraviolet light (EUV) generator chamber and an extreme ultraviolet light generator.
近年、半導体プロセスの微細化に伴って、半導体プロセスの光リソグラフィにおける転写パターンの微細化が急速に進展している。次世代においては、70nm〜45nmの微細加工、さらには32nm以下の微細加工が要求されるようになる。このため、例えば32nm以下の微細加工の要求に応えるべく、波長13nm程度の極端紫外(EUV)光を生成する極端紫外(EUV)光生成装置と縮小投影反射光学系(Reduced Projection Reflective Optics)とを組み合わせた露光装置の開発が期待されている。 In recent years, along with miniaturization of semiconductor processes, miniaturization of transfer patterns in optical lithography of semiconductor processes has been rapidly progressing. In the next generation, fine processing of 70 nm to 45 nm, and further fine processing of 32 nm or less will be required. Therefore, for example, an extreme ultraviolet (EUV) light generation device that generates extreme ultraviolet (EUV) light having a wavelength of about 13 nm and a reduced projection reflection optical system (Reduced Projection Reflective Optics) are provided in order to meet the demand for fine processing of 32 nm or less. Development of a combined exposure apparatus is expected.
EUV光生成装置としては、ターゲット物質にレーザ光を照射することによって生成されるプラズマを用いたLPP(Laser Produced Plasma:レーザ励起プラズマ)方式の装置と、放電によって生成されるプラズマを用いたDPP(Discharge Produced Plasma)方式の装置と、軌道放射光を用いたSR(Synchrotron Radiation)方式の装置との3種類の装置が提案されている。 As the EUV light generation apparatus, an LPP (Laser Produced Plasma) apparatus using plasma generated by irradiating a target material with laser light, and a DPP (plasma generated plasma) using plasma generated by discharge. Three types of devices have been proposed: a Discharge Produced Plasma) device and an SR (Synchrotron Radiation) device using orbital radiation.
本開示の1つの観点に係る極端紫外光生成装置のチャンバは、内部にドロップレットが順次出力されるチャンバであって、前記出力された隣り合う2つのドロップレットの像が重なることのない撮像時間で、繰り返しドロップレットの撮像を行う撮像部を備えてもよい。 The chamber of the extreme ultraviolet light generation device according to one aspect of the present disclosure is a chamber in which droplets are sequentially output, and the imaging time in which the images of the two adjacent droplets that are output do not overlap is provided. Thus, an imaging unit that repeatedly images a droplet may be provided.
本開示のいくつかの実施形態を、単なる例として、添付の図面を参照して以下に説明する。
〜内容〜
1.概要
2.用語の説明
3.EUV光生成システムの全体説明
3.1 構成
3.2 動作
4.ターゲット生成装置を含むEUV光生成装置
4.1 構成
4.2 動作
4.3 課題
5.第1実施形態のEUV光生成装置が備えるターゲット残量計測システム
5.1 構成
5.2 動作
5.3 作用
5.4 第1実施形態の変形例
6.第2実施形態のEUV光生成装置が備えるターゲット残量計測システム
6.1 構成
6.2 動作
6.3 作用
6.4 第2実施形態の変形例
7.第3実施形態のEUV光生成装置が備えるターゲット残量計測システム
7.1 構成
7.2 動作
7.3 作用
8.その他
8.1 各制御部のハードウェア環境
8.2 光センサの電気回路
8.3 その他の変形例
~ Contents ~
1.
以下、本開示の実施形態について、図面を参照しながら詳しく説明する。以下に説明される実施形態は、本開示のいくつかの例を示すものであって、本開示の内容を限定するものではない。また、各実施形態で説明される構成及び動作の全てが本開示の構成及び動作として必須であるとは限らない。なお、同一の構成要素には同一の参照符号を付して、重複する説明を省略する。 Hereinafter, embodiments of the present disclosure will be described in detail with reference to the drawings. Embodiment described below shows some examples of this indication, and does not limit the contents of this indication. In addition, all the configurations and operations described in the embodiments are not necessarily essential as the configurations and operations of the present disclosure. In addition, the same referential mark is attached | subjected to the same component and the overlapping description is abbreviate | omitted.
[1.概要]
本開示は、以下の実施形態を少なくとも開示し得る。
[1. Overview]
The present disclosure may disclose at least the following embodiments.
本開示におけるEUV光生成装置1のチャンバ2は、
内部にドロップレット271が順次出力されるチャンバ2であって、
出力された隣り合う2つのドロップレット271の像が重なることのない撮像時間Δtで、繰り返しドロップレット271の撮像を行う撮像部412を備えてもよい。
よって、本開示におけるEUV光生成装置1のチャンバ2は、ドロップレット271の像が重ならないため、チャンバ2内に実際に出力されたドロップレット271の直径Dを個別に計測し得る。
The
A
An imaging unit 412 that repeatedly images the
Therefore, the
[2.用語の説明]
「ターゲット」は、チャンバに導入されたレーザ光の被照射物である。レーザ光が照射されたターゲットは、プラズマ化してEUV光を放射する。
「ドロップレット」は、チャンバ内へ供給されたターゲットの一形態である。
[2. Explanation of terms]
The “target” is an object to be irradiated with laser light introduced into the chamber. The target irradiated with the laser light is turned into plasma and emits EUV light.
A “droplet” is a form of target supplied into the chamber.
[3.EUV光生成システムの全体説明]
[3.1 構成]
図1に、例示的なLPP方式のEUV光生成システムの構成を概略的に示す。
EUV光生成装置1は、少なくとも1つのレーザ装置3と共に用いられてもよい。本願においては、EUV光生成装置1及びレーザ装置3を含むシステムを、EUV光生成システム11と称する。図1に示し、かつ、以下に詳細に説明するように、EUV光生成装置1は、チャンバ2、ターゲット供給部26を含んでもよい。チャンバ2は、密閉可能であってもよい。ターゲット供給部26は、例えば、チャンバ2の壁を貫通するように取り付けられてもよい。ターゲット供給部26から供給されるターゲット物質の材料は、スズ、テルビウム、ガドリニウム、リチウム、キセノン、又は、それらの内のいずれか2つ以上の組合せを含んでもよいが、これらに限定されない。
[3. Overview of EUV light generation system]
[3.1 Configuration]
FIG. 1 schematically shows a configuration of an exemplary LPP type EUV light generation system.
The EUV light generation apparatus 1 may be used together with at least one
チャンバ2の壁には、少なくとも1つの貫通孔が設けられていてもよい。その貫通孔には、ウインドウ21が設けられてもよく、ウインドウ21をレーザ装置3から出力されるパルスレーザ光32が透過してもよい。チャンバ2の内部には、例えば、回転楕円面形状の反射面を有するEUV集光ミラー23が配置されてもよい。EUV集光ミラー23は、第1及び第2の焦点を有し得る。EUV集光ミラー23の表面には、例えば、モリブデンとシリコンとが交互に積層された多層反射膜が形成されていてもよい。EUV集光ミラー23は、例えば、その第1の焦点がプラズマ生成領域25に位置し、その第2の焦点が中間集光点(IF)292に位置するように配置されるのが好ましい。EUV集光ミラー23の中央部には貫通孔24が設けられていてもよく、貫通孔24をパルスレーザ光33が通過してもよい。
The wall of the
EUV光生成装置1は、EUV光生成制御部5、ターゲットセンサ4等を含んでもよい。ターゲットセンサ4は、撮像機能を有してもよく、ターゲット27の存在、軌跡、位置、速度等を検出するよう構成されてもよい。
The EUV light generation apparatus 1 may include an EUV light
また、EUV光生成装置1は、チャンバ2の内部と露光装置6の内部とを連通させる接続部29を含んでもよい。接続部29内部には、アパーチャ293が形成された壁291が設けられてもよい。壁291は、そのアパーチャ293がEUV集光ミラー23の第2の焦点位置に位置するように配置されてもよい。
Further, the EUV light generation apparatus 1 may include a
さらに、EUV光生成装置1は、レーザ光進行方向制御部34、レーザ光集光ミラー22、ターゲット27を回収するためのターゲット回収部28等を含んでもよい。レーザ光進行方向制御部34は、レーザ光の進行方向を規定するための光学素子と、この光学素子の位置、姿勢等を調整するためのアクチュエータとを備えてもよい。
Furthermore, the EUV light generation apparatus 1 may include a laser beam traveling
[3.2 動作]
図1を参照すると、レーザ装置3から出力されたパルスレーザ光31は、レーザ光進行方向制御部34を経て、パルスレーザ光32としてウインドウ21を透過してチャンバ2内に入射してもよい。パルスレーザ光32は、少なくとも1つのレーザ光経路に沿ってチャンバ2内を進み、レーザ光集光ミラー22で反射されて、パルスレーザ光33として少なくとも1つのターゲット27に照射されてもよい。
[3.2 Operation]
Referring to FIG. 1, the
ターゲット供給部26は、ターゲット27をチャンバ2内部のプラズマ生成領域25に向けて出力するよう構成されてもよい。ターゲット27には、パルスレーザ光33に含まれる少なくとも1つのパルスが照射されてもよい。パルスレーザ光が照射されたターゲット27はプラズマ化し、そのプラズマからEUV光251が、他の波長の光の放射に伴って放射され得る。EUV光251は、EUV集光ミラー23によって選択的に反射されてもよい。EUV集光ミラー23によって反射されたEUV光252は、中間集光点292で集光され、露光装置6に出力されてもよい。なお、1つのターゲット27に、パルスレーザ光33に含まれる複数のパルスが照射されてもよい。
The
EUV光生成制御部5は、EUV光生成システム11全体の制御を統括するよう構成されてもよい。EUV光生成制御部5は、ターゲットセンサ4によって撮像されたターゲット27のイメージデータ等を処理するよう構成されてもよい。また、EUV光生成制御部5は、例えば、ターゲット27が出力されるタイミング制御及びターゲット27の出力方向等の制御の内の少なくとも1つを行ってもよい。更に、EUV光生成制御部5は、例えば、レーザ装置3の発振タイミングの制御、パルスレーザ光32の進行方向の制御、パルスレーザ光33の集光位置の制御の内の少なくとも1つを行ってもよい。上述の様々な制御は単なる例示に過ぎず、必要に応じて他の制御が追加されてもよい。
The EUV
[4.ターゲット生成装置を含むEUV光生成装置]
[4.1 構成]
図2を用いて、ターゲット生成装置7を含むEUV光生成装置1の構成について説明する。図3を用いて、ターゲット生成装置7の構成について説明する。
図2では、EUV光252がEUV光生成装置1のチャンバ2から露光装置6へ導出される方向をZ軸とする。X軸及びY軸は、Z軸に直交し、且つ、互いに直交する軸とする。以降の図面でも図2の座標軸と同様とする。
[4. EUV light generation apparatus including target generation apparatus]
[4.1 Configuration]
The configuration of the EUV light generation apparatus 1 including the
In FIG. 2, the direction in which the EUV light 252 is led out from the
EUV光生成装置1のチャンバ2は、例えば、中空の球形状又は筒形状に形成されてもよい。筒形状のチャンバ2の中心軸方向は、EUV光252を露光装置6へ導出する方向であってもよい。筒形状のチャンバ2の側面部には、チャンバ2外からチャンバ2内へターゲット27を供給するためのターゲット供給孔2aが設けられてもよい。チャンバ2が中空の球形状であれば、ターゲット供給孔2aは、チャンバ2の壁面部であってウインドウ21及び接続部29の設置されていない位置に設けられてもよい。
チャンバ2の内部には、レーザ光集光光学系22aと、EUV集光光学系23aと、ターゲット回収部28と、プレート225及びプレート235とを備えてもよい。
The
The
プレート235は、チャンバ2の内側面に固定されてもよい。プレート235の中央には、その厚さ方向にパルスレーザ光33が通過可能な孔235aが設けられてもよい。孔235aの開口方向は、貫通孔24(図1参照)及びプラズマ生成領域25を通る軸と同一方向であってもよい。
プレート235の一方の面には、EUV集光光学系23aが設けられてもよい。
プレート235の他方の面には、図示しない3軸ステージを介してプレート225が設けられてもよい。
The
The EUV condensing
A plate 225 may be provided on the other surface of the
プレート235の一方の面に設けられたEUV集光光学系23aは、EUV集光ミラー23とホルダ231とを含んでもよい。
ホルダ231は、EUV集光ミラー23を保持してもよい。EUV集光ミラー23を保持するホルダ231は、プレート235に固定されてもよい。
The EUV collector
The
プレート235の他方の面に設けられたプレート225は、3軸ステージによって位置及び姿勢を変更可能であってもよい。
プレート225には、レーザ光集光光学系22aが設けられてもよい。
The position and posture of the plate 225 provided on the other surface of the
The plate 225 may be provided with a laser beam condensing optical system 22a.
レーザ光集光光学系22aは、レーザ光集光ミラー22と、ホルダ223及びホルダ224とを含んでもよい。
レーザ光集光ミラー22は、軸外放物面ミラー221及び平面ミラー222を含んでもよい。
The laser beam focusing optical system 22a may include a laser
The laser
ホルダ223は、軸外放物面ミラー221を保持してもよい。軸外放物面ミラー221を保持するホルダ223は、プレート225に固定されてもよい。
ホルダ224は、平面ミラー222を保持してもよい。平面ミラー222を保持するホルダ224は、プレート225に固定されてもよい。
The holder 223 may hold the off-axis
The
軸外放物面ミラー221は、チャンバ2の底面部に設けられたウインドウ21及び平面ミラー222とそれぞれ対向して配置されてもよい。
平面ミラー222は、孔235a及び軸外放物面ミラー221とそれぞれ対向して配置されてもよい。
軸外放物面ミラー221及び平面ミラー222の位置及び姿勢は、プレート225の位置及び姿勢が変更されることに伴って調整され得る。当該調整は、軸外放物面ミラー221及び平面ミラー222に入射したパルスレーザ光32の反射光であるパルスレーザ光33が、プラズマ生成領域25で集光させるように実行され得る。
The off-axis
The
The positions and postures of the off-
ターゲット回収部28は、チャンバ2内に出力されたドロップレット271が進行する方向の延長線上に配置されてもよい。
The
また、チャンバ2の外部には、レーザ光進行方向制御部34と、EUV光生成制御部5と、ターゲット生成装置7とを備えてもよい。
In addition, a laser beam traveling
レーザ光進行方向制御部34は、チャンバ2の底面部に設けられたウインドウ21とレーザ装置3との間に設けられていてもよい。
レーザ光進行方向制御部34は、高反射ミラー341及び高反射ミラー342と、ホルダ343及びホルダ344とを含んでもよい。
The laser beam traveling
The laser beam traveling
ホルダ343は、高反射ミラー341を保持してもよい。ホルダ344は、高反射ミラー342を保持してもよい。
ホルダ343及びホルダ344は、図示しないアクチュエータによって位置及び姿勢を変更可能であってもよい。
The
The position and orientation of the
高反射ミラー341は、パルスレーザ光31が出射されるレーザ装置3の出射口及び高反射ミラー342とそれぞれ対向して配置されてもよい。
高反射ミラー342は、チャンバ2のウインドウ21及び高反射ミラー341とそれぞれ対向して配置されてもよい。
高反射ミラー341及び高反射ミラー342の位置及び姿勢は、ホルダ343及びホルダ344の位置及び姿勢が変更されることに伴って調整され得る。当該調整は、高反射ミラー341及び高反射ミラー342に入射したパルスレーザ光31の反射光であるパルスレーザ光32が、チャンバ2の底面部に設けられたウインドウ21を透過するように実行され得る。
The high reflection mirror 341 may be disposed to face the exit of the
The high reflection mirror 342 may be disposed to face the window 21 and the high reflection mirror 341 of the
The positions and postures of the high reflection mirror 341 and the high reflection mirror 342 can be adjusted as the positions and postures of the
EUV光生成制御部5は、レーザ装置3との間で制御信号の送受を行い、レーザ装置3の動作を制御してもよい。
EUV光生成制御部5は、レーザ光進行方向制御部34及びレーザ光集光光学系22aのそれぞれのアクチュエータとの間で各々制御信号の送受を行ってもよい。それにより、EUV光生成制御部5は、パルスレーザ光31〜33の進行方向及び集光位置を調整してもよい。
EUV光生成制御部5は、ターゲット生成装置7の後述するターゲット生成制御部74との間で制御信号の送受を行い、ターゲット生成装置7の動作を制御してもよい。
なお、EUV光生成制御部5のハードウェア構成については、図17を用いて後述する。
The EUV
The EUV light
The EUV light
The hardware configuration of the EUV light
ターゲット生成装置7は、チャンバ2の側面側に設けられていてもよい。
ターゲット生成装置7は、ターゲット供給部26と、温度調節機構71と、圧力調節機構72と、ドロップレット形成機構73と、ターゲット生成制御部74とを備えてもよい。
The
The
ターゲット供給部26は、タンク261と、ノズル262とを含んでもよい。
タンク261は、中空の筒形状に形成されてもよい。中空のタンク261の内部には、ターゲット27が収容されてもよい。
ターゲット27を収容するタンク261の少なくとも内部は、ターゲット27と反応し難い材料で構成されてもよい。ターゲット27と反応し難い材料は、例えば、SiC、SiO2、Al2O3、モリブデン、タングステン、タンタルのいずれかであってもよい。
The
The
At least the inside of the
ノズル262は、筒形状のタンク261の底面部に設けられていてもよい。ノズル262は、チャンバ2のターゲット供給孔2aを通してチャンバ2の内部に配置されてもよい。ターゲット供給孔2aは、ターゲット供給部26が設置されることで塞がれ得る。それにより、チャンバ2の内部は大気と隔絶され得る。
ノズル262の内部は、ターゲット27と反応し難い材料で構成されてもよい。
The
The inside of the
パイプ状のノズル262の一端は、中空のタンク261に固定されてもよい。パイプ状のノズル262の他端には、図3に示すように、ノズル孔262aが設けられていてもよい。ノズル262の一端側にあるタンク261がチャンバ2の外部に位置し、ノズル262の他端側にあるノズル孔262aがチャンバ2の内部に位置してもよい。ノズル262の中心軸方向の延長線上には、チャンバ2の内部にあるプラズマ生成領域25が位置してもよい。タンク261、ノズル262、及びチャンバ2は、その内部が互いに連通してもよい。
ノズル孔262aは、溶融したターゲット27をチャンバ2内へジェット状に噴出するような形状で形成されてもよい。
One end of the pipe-shaped
The
温度調節機構71は、タンク261の温度を調節してもよい。
温度調節機構71は、図3に示すように、ヒータ711と、ヒータ電源712と、温度センサ713と、温度制御部714とを含んでもよい。
The
As shown in FIG. 3, the
ヒータ711は、筒形状のタンク261の外側側面部に固定されてもよい。タンク261に固定されたヒータ711は、タンク261を加熱してもよい。タンク261を加熱するヒータ711は、ヒータ電源712と接続されてもよい。
ヒータ電源712は、ヒータ711に電力を供給してもよい。ヒータ711に電力を供給するヒータ電源712は、温度制御部714と接続されてもよい。ヒータ電源712は、ヒータ711への電力供給を温度制御部714によって制御されてもよい。
The
The
温度センサ713は、筒形状のタンク261の外側側面部であって、ノズル262付近に固定されてもよい。タンク261に固定された温度センサ713は、温度制御部714と接続されてもよい。温度センサ713は、タンク261の温度を検出し、検出信号を温度制御部714に出力してもよい。
The
温度制御部714は、温度センサ713から出力された検出信号に基づいて、ヒータ電源712からヒータ711へ供給する電力を調節してもよい。温度制御部714は、ヒータ711への供給電力を調節することによって、タンク261の加熱状態を制御してもよい。
温度制御部714は、ターゲット生成制御部74に接続されてもよい。
なお、温度制御部714のハードウェア構成については、図17を用いて後述する。
The
The
The hardware configuration of the
上記構成によって温度調節機構71は、ターゲット生成制御部74の制御信号に基づいてタンク261の温度を調節し得る。
With the above configuration, the
圧力調節機構72は、タンク261内へ導入するガス圧を加減することで、タンク261内の圧力を調節してもよい。
圧力調節機構72は、図3に示すように、圧力調節器721と、配管722とを含んでもよい。
The
As shown in FIG. 3, the
圧力調節器721は、筒形状のタンク261の底面部であってノズル262とは逆側に配管722を介して設けられてもよい。
圧力調節器721は、給気及び排気用の電磁弁や圧力センサ等を内部に含んでもよい。 圧力調節器721は、ターゲット生成装置7の外部にあるガスボンベ9に連結されてもよい。ガスボンベ9に充填されたガスは、ヘリウム、アルゴン等の不活性ガスであってもよい。ガスボンベ9に連結された圧力調節器721は、配管722を介してタンク261内に不活性ガスを給気してもよい。
圧力調節器721は、図示しない排気ポンプに連結されてもよい。圧力調節器721は、排気ポンプを動作させて、配管722を介してタンク261内のガスを排気してもよい。
圧力調節器721は、タンク261内にガスを給気又は排気することによって、タンク261内の圧力を加圧又は減圧し得る。タンク261内の圧力を加圧又は減圧する圧力調節器721は、ターゲット生成制御部74と接続されてもよい。
The
The
The
The
上記構成によって圧力調節機構72は、ターゲット生成制御部74の制御信号に基づいてタンク261内の圧力を調節し得る。
With the above configuration, the
ドロップレット形成機構73は、ノズル262からジェット状に噴出する溶融ターゲット27の流れを周期的に分断し、ドロップレット271を形成してもよい。
ドロップレット形成機構73は、例えばコンティニュアスジェット方式によりドロップレット271を形成してもよい。コンティニュアスジェット方式では、ノズル262を振動させて定在波を与え、ノズル孔262aから噴出した溶融ターゲット27を周期的に分離してもよい。分離された溶融ターゲット27は、自己の表面張力によって自由界面を形成してドロップレット271を形成し得る。
ドロップレット形成機構73は、図3に示すように、ピエゾ素子731と、ピエゾ電源732とを含んでもよい。
The
The
The
ピエゾ素子731は、パイプ状のノズル262の外側側面部に固定されてもよい。ノズル262に固定されたピエゾ素子731は、ノズル262に振動を与えてもよい。
ノズル262に振動を与えるピエゾ素子731は、ピエゾ電源732と接続されてもよい。
ピエゾ電源732は、ピエゾ素子731に電力を供給してもよい。ピエゾ素子731に電力を供給するピエゾ電源732は、ターゲット生成制御部74と接続されてもよい。
The
The
The
上記構成によってドロップレット形成機構73は、ターゲット生成制御部74の制御信号に基づいてドロップレット271を形成し得る。
With the above configuration, the
ターゲット生成制御部74は、EUV光生成制御部5との間で制御信号の送受を行い、ターゲット生成装置7全体の動作を統括制御してもよい。
ターゲット生成制御部74は、温度制御部714に制御信号を出力して、温度制御部714を含む温度調節機構71の動作を制御してもよい。
ターゲット生成制御部74は、圧力調節器721に制御信号を出力して、圧力調節器721を含む圧力調節機構72の動作を制御してもよい。
ターゲット生成制御部74は、ピエゾ電源732に制御信号を出力して、ピエゾ電源732を含むドロップレット形成機構73の動作を制御してもよい。
なお、ターゲット生成制御部74のハードウェア構成については、図17を用いて後述する。
The target
The target
The target
The target
The hardware configuration of the target
[4.2 動作]
図4を用いて、ターゲット生成装置7の動作について説明する。具体的には、図2〜図4を用いて、ターゲット生成制御部74のターゲット供給に係る処理について説明する。
ターゲット生成制御部74は、EUV光生成制御部5から出力されたターゲット生成装置7の起動信号が入力されると、以下の処理を行ってもよい。
[4.2 Operation]
The operation of the
When the activation signal of the
ステップS1において、ターゲット生成制御部74は、ターゲット生成装置7の初期設定を行ってもよい。
ターゲット生成制御部74は、ターゲット生成装置7の各構成部を起動し、各構成部の動作チェックを行ってもよい。そして、ターゲット生成制御部74は、各構成部を初期化して初期設定値を設定してもよい。
In step S <b> 1, the target
The target
特に、ターゲット生成制御部74は、タンク261内の圧力が真空状態に近い値(例えば、1hPa)となるように、圧力調節器721の初期圧力設定値を設定してもよい。
タンク261内のターゲット27と反応しやすいガスは、ターゲット27が溶融する前に排気され得る。ガスボンベ9から不活性ガスを給気し得る。
In particular, the target
The gas that easily reacts with the
更に、ターゲット生成制御部74は、ターゲット27の温度がターゲット27の融点以上の値となるように、温度制御部714を介してヒータ711の初期温度設定値を設定してもよい。ターゲット27がスズであれば、ヒータ711の初期温度設定値は、例えば232℃以上300℃未満の温度であってもよい。或いは、ヒータ711の初期温度設定値は、300℃以上の温度であってもよい。
タンク261に収容されたターゲット27は、その融点以上に加熱され得る。加熱されたターゲット27は、溶融し得る。
Further, the target
The
ステップS2において、ターゲット生成制御部74は、EUV光生成制御部5よりターゲット生成信号が入力されたか否かを判定してもよい。
ターゲット生成信号は、チャンバ2内のプラズマ生成領域25へのターゲット供給をターゲット生成装置7に実行させるための制御信号であってもよい。
ターゲット生成制御部74は、ターゲット生成信号が入力されるまで待機してもよい。ターゲット生成制御部74は、ターゲット27の温度がターゲット27の融点以上の所定範囲内で維持されるように、ヒータ711による加熱を継続して制御してもよい。
ターゲット生成制御部74は、ターゲット生成信号が入力されたならばステップS3に移行してもよい。
In step S <b> 2, the target
The target generation signal may be a control signal for causing the
The target
If the target generation signal is input, the target
ステップS3において、ターゲット生成制御部74は、温度制御部714を介してタンク261の温度を確認してもよい。ターゲット生成制御部74は、温度制御部714を介して温度設定値を適宜修正し、ヒータ711による加熱を制御してもよい。
In step S <b> 3, the target
ステップS4において、ターゲット生成制御部74は、ピエゾ電源732を介してピエゾ素子731に電力を供給してもよい。
ピエゾ素子731は、ノズル262に振動を与え得る。ノズル孔262aから溶融ターゲット27が噴出されていれば、ノズル262の振動によって溶融ターゲット27が分離されて、ドロップレット271が形成され得る。
なお、ターゲット生成制御部74は、ピエゾ電源732からピエゾ素子731への電力供給を所定周波数で行ってもよい。この所定周波数は、ノズル孔262aから噴出される溶融ターゲット27が周期的に分離されるような周波数であってもよい。
In step S <b> 4, the target
The
Note that the target
ステップS5において、ターゲット生成制御部74は、タンク261内の圧力がターゲット供給可能な圧力となる圧力設定値を圧力調節器721に設定してもよい。圧力調節器721は、設定された圧力設定値となるようにタンク261内の圧力を制御してもよい。 ターゲット供給可能な圧力は、溶融ターゲット27が一定量でノズル孔262aから噴出すると共に、プラズマ生成領域25に所定速度で到達するような圧力であってもよい。
タンク261に収容された溶融ターゲット27は加圧され得る。加圧された溶融ターゲット27は、タンク261からノズル262に向かって流れ、ノズル孔262aから一定量で噴出され得る。一定量で噴出された溶融ターゲット27は、ピエゾ素子731から一定周期で振動が与えられ、一定周期で均一なドロップレット271が形成され得る。形成されたドロップレット271は、チャンバ2内へ出力され、プラズマ生成領域25に所定速度で到達し得る。
In step S <b> 5, the target
The
EUV光生成制御部5は、ドロップレット271がプラズマ生成領域25に到達するのに同期してパルスレーザ光33がプラズマ生成領域25を照射するように、レーザ装置3におけるパルスレーザ光31の出射タイミングを制御してもよい。
プラズマ生成領域25に照射されたパルスレーザ光33は、プラズマ生成領域25に到達したドロップレット271を照射し得る。パルスレーザ光33が照射されたドロップレット271は、プラズマ化されEUV光251を生成し得る。
The EUV
The
ステップS6において、ターゲット生成制御部74は、EUV光生成制御部5よりターゲット生成停止信号が入力されたか否かを判定してもよい。
ターゲット生成停止信号は、プラズマ生成領域25へのターゲット供給をターゲット生成装置7に停止させるための制御信号であってもよい。
ターゲット生成制御部74は、ターゲット生成停止信号が入力されなければ、ステップS3に移行してもよい。一方、ターゲット生成制御部74は、ターゲット生成停止信号が入力されれば、本処理を終了してもよい。
In step S <b> 6, the target
The target generation stop signal may be a control signal for causing the
If the target generation stop signal is not input, the target
[4.3 課題]
EUV光生成装置1は、複数のドロップレット271をチャンバ2内に出力し得る。この複数のドロップレット271は、それぞれが均一な大きさであることが望ましい。
ターゲット生成装置7からチャンバ2内にドロップレット271が出力される周期(以下、ドロップレット271の「生成周期」ともいう。)は、例えば10μs程度と、非常に短くてもよい。ドロップレット271の大きさは、例えば直径20μm程度と、非常に小さくてもよい。
よって、チャンバ2内に出力された複数のドロップレット271が、それぞれ均一な大きさであるかを正確に計測する技術が望まれている。
チャンバ2内に出力されるドロップレット271の大きさを、高精度で計測し得る技術を提供することが望ましい。
[4.3 Issues]
The EUV light generation apparatus 1 can output a plurality of
The cycle in which the
Therefore, a technique for accurately measuring whether or not the plurality of
It is desirable to provide a technique capable of measuring the size of the
また、EUV光生成装置1は、ドロップレット271がチャンバ2内に出力されると、タンク261内に収容されたターゲット27の残量は減少し得る。このタンク261内に収容されたターゲット27の残量は、EUV光生成装置1の稼働中でもリアルタイムで正確に計測され得ることが望ましい。ターゲット27の残量をリアルタイムで正確に計測できないと、EUV光生成装置1の稼働中にターゲット27の供給が突如停止する事態を招き得る。
In addition, when the
タンク261に収容されたターゲット27の残量は、図3に示すように、タンク261に液面レベルセンサ8を設けて計測し得る。
EUV光生成装置1の稼働中、タンク261内に収容されたターゲット27は溶融し得る。このため、溶融ターゲット27は、液面レベルセンサ8を構成する金属材料と反応し得る。液面レベルセンサ8と反応した溶融ターゲット27は、固体の不純物を生成し、ノズル262を詰まらせ得る。
液面レベルセンサ8を溶融ターゲット27と反応し難い材料で構成したとしても、溶融ターゲット27の液面が液面レベルセンサ8より下面となれば、当該ターゲット27の残量を正確に計測することは困難であり得る。
よって、タンク261に収容されたターゲット27の残量をEUV光生成装置1の稼働中でもリアルタイムで正確に計測する技術が望まれている。
タンク261に収容されたターゲット27の残量を、高精度で計測し得る技術を提供することが望ましい。
The remaining amount of the
During the operation of the EUV light generation apparatus 1, the
Even if the liquid level sensor 8 is made of a material that does not easily react with the
Therefore, a technique for accurately measuring the remaining amount of the
It is desirable to provide a technique capable of measuring the remaining amount of the
[5.第1実施形態のEUV光生成装置が備えるターゲット残量計測システム]
[5.1 構成]
図5を用いて、第1実施形態に係るEUV光生成装置1が備えるターゲット残量計測システムの構成について説明する。
第1実施形態に係るEUV光生成装置1が備えるターゲット残量計測システムは、ターゲット生成装置7と、ドロップレット画像計測部41と、ドロップレットカウンタ部42と、ドロップレット出力計算制御部43とを備えてもよい。
[5. Target remaining amount measurement system provided in EUV light generation apparatus of first embodiment]
[5.1 Configuration]
The configuration of the target remaining amount measuring system provided in the EUV light generation apparatus 1 according to the first embodiment will be described with reference to FIG.
The target remaining amount measurement system provided in the EUV light generation apparatus 1 according to the first embodiment includes a
ドロップレット画像計測部41は、チャンバ2内に出力されたドロップレット271の画像データを計測してもよい。
ドロップレット画像計測部41は、チャンバ2に設けられてもよい。
ドロップレット画像計測部41は、光源部411と、撮像部412と、画像取得制御部413とを備えてもよい。
光源部411と撮像部412とは、チャンバ2内に出力されたターゲット27の進行経路であるターゲット進行経路272を挟んで互いに対向配置されてもよい。
光源部411と撮像部412との対向方向は、ターゲット進行経路272と直交してもよい。
The droplet image measurement unit 41 may measure the image data of the
The droplet image measurement unit 41 may be provided in the
The droplet image measurement unit 41 may include a light source unit 411, an imaging unit 412, and an image
The light source unit 411 and the imaging unit 412 may be disposed to face each other across a
The facing direction of the light source unit 411 and the imaging unit 412 may be orthogonal to the
光源部411は、ターゲット進行経路272を進行するドロップレット271にパルス光を照射してもよい。
光源部411は、光源411aと、照明光学系411bと、ウインドウ411cとを含んでもよい。
The light source unit 411 may irradiate the
The light source unit 411 may include a
光源411aは、例えば、キセノンフラッシュランプ等のパルス点灯する光源であってもよい。
光源411aの点灯を開始させてから終了させるまでの時間を、「点灯時間Δτ」ともいう。光源411aの点灯時間Δτは、ドロップレット271の生成周期(例えば10μs程度)よりも十分に短くてもよい。光源411aの点灯時間Δτは、例えば10ns〜100nsであってもよい。
光源411aは、ドロップレット出力計算制御部43と接続されてもよい。光源411aは、ドロップレット出力計算制御部43からの点灯信号に基づいてパルス点灯して、パルス光を発光してもよい。
The
The time from the start of lighting of the
The
照明光学系411bは、コリメータ等の光学系であってよく、レンズ等の光学素子によって構成されていてもよい。照明光学系411bは、光源411aから発光されたパルス光を、ウインドウ411cを介してターゲット進行経路272上に導いてもよい。
The illumination optical system 411b may be an optical system such as a collimator, and may be configured by an optical element such as a lens. The illumination optical system 411b may guide the pulsed light emitted from the
上記構成によって光源部411は、ドロップレット出力計算制御部43の点灯信号に基づいてパルス光をターゲット進行経路272に向かって照射し得る。ターゲット進行経路272を進行するドロップレット271が、光源部411と撮像部412との間を進行すると、光源部411から照射されたパルス光が、当該ドロップレット271を照射し得る。
With the above configuration, the light source unit 411 can irradiate the pulsed light toward the
撮像部412は、光源部411によってパルス光が照射されたドロップレット271の影を撮像してもよい。
撮像部412は、イメージセンサ412aと、転写光学系412bと、ウインドウ412cとを含んでもよい。
The imaging unit 412 may image the shadow of the
The imaging unit 412 may include an
転写光学系412bは、一対のレンズ等の光学素子であってもよい。このレンズは、シリンドリカルレンズであってもよい。転写光学系412bは、ウインドウ412cを介して導かれたドロップレット271の影を、イメージセンサ412aの受光面に結像してもよい。
The transfer
イメージセンサ412aは、CCD(Charge-Coupled Device)やCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)等の2次元イメージセンサであってもよい。イメージセンサ412aは、転写光学系412bによって結像されたドロップレット271の影の像を、撮像してもよい。イメージセンサ412aの時間的な撮像間隔(以下、ドロップレット画像計測部41の「計測間隔K」ともいう)は、光源411aの点灯時間Δτよりも十分に長くてもよい。例えば0.1s〜1sであってもよい。
The
イメージセンサ412aは、ドロップレット出力計算制御部43と接続されてもよい。イメージセンサ412aは、ドロップレット出力計算制御部43からのシャッタ信号に基づいてシャッタを開閉して、ドロップレット271の影の像を撮像してもよい。イメージセンサ412aは、シャッタが開いている間のみ撮像するようにしてもよい。シャッタは、電気的シャッタであっても機械的シャッタであってもよい。
イメージセンサ412aの1回の撮像においてシャッタが開いてから閉じるまでに要する時間を、1回の「撮像時間Δt」ともいう。
The
The time required for the
イメージセンサ412aは、画像取得制御部413と接続されてもよい。イメージセンサ412aは、撮像したドロップレット271の影の像に係る画像信号を、1回の撮像毎に画像取得制御部413に出力してもよい。
The
上記構成によって撮像部412は、ドロップレット出力計算制御部43のシャッタ信号に基づいてパルス光が照射されたドロップレット271の影を撮像し得る。撮像部412は、撮像したドロップレット271の影の画像信号を画像取得制御部413に出力し得る。
With the above configuration, the imaging unit 412 can capture the shadow of the
画像取得制御部413は、イメージセンサ412aから出力された画像信号からドロップレット271の影の像に係る画像データ(ビットマップデータ等)を生成してもよい。画像取得制御部413は、生成した画像データを当該画像データの識別情報に対応付けて記憶してもよい。画像データの識別情報は、画像データの生成時刻に関する情報等であってもよい。
画像取得制御部413は、ドロップレット出力計算制御部43と接続されてもよい。画像取得制御部413は、ドロップレット出力計算制御部43からの制御信号に基づいて、生成した画像データをドロップレット出力計算制御部43に出力してもよい。
なお、画像取得制御部413のハードウェア構成については、図17を用いて後述する。
The image
The image
The hardware configuration of the image
上記構成によってドロップレット画像計測部41は、ドロップレット出力計算制御部43のシャッタ信号に基づいて、チャンバ2内に出力されたドロップレット271の像に係る画像データを計測し、ドロップレット出力計算制御部43に出力し得る。
With the above configuration, the droplet image measurement unit 41 measures image data related to the image of the
ドロップレットカウンタ部42は、チャンバ2内に出力されたドロップレット271の個数Nをカウントしてもよい。
ドロップレットカウンタ部42は、チャンバ2に設けられてもよい。
ドロップレットカウンタ部42は、光源部421と、受光部422と、カウンタ回路423とを備えてもよい。
光源部421と受光部422とは、ターゲット進行経路272を挟んで互いに対向配置されてもよい。
光源部421と受光部422との対向方向は、ターゲット進行経路272と直交してもよい。
The droplet counter unit 42 may count the number N of
The droplet counter unit 42 may be provided in the
The droplet counter unit 42 may include a light source unit 421, a light receiving unit 422, and a
The light source unit 421 and the light receiving unit 422 may be disposed to face each other with the
The facing direction of the light source unit 421 and the light receiving unit 422 may be orthogonal to the
光源部421は、ターゲット進行経路272を進行するドロップレット271に連続レーザ光を照射してもよい。
光源部421は、光源421aと、照明光学系421bと、ウインドウ421cとを含んでもよい。
The light source unit 421 may irradiate the
The light source unit 421 may include a
光源421aは、例えば、CW(Continuous Wave)レーザ発振器等の連続レーザ光を出射する光源であってもよい。連続レーザ光のビーム径は、ドロップレット271の直径(例えば20μm)よりも十分に大きい。連続レーザ光のビーム径は、例えば1mm程度であってもよい。
The
照明光学系421bは、レンズ等の光学素子であってもよい。このレンズは、シリンドリカルレンズであってもよい。照明光学系421bは、光源421aから出射された連続レーザ光を、ウインドウ421cを介してターゲット進行経路272上に集光してもよい。
The illumination
上記構成によって光源部421は、連続レーザ光をターゲット進行経路272に向かって出射し得る。ターゲット進行経路272を進行するドロップレット271が、光源部421と受光部422との間を進行すると、光源部421から出射された連続レーザ光が、当該ドロップレット271を照射し得る。
With the above configuration, the light source unit 421 can emit continuous laser light toward the
受光部422は、光源部421から出射された連続レーザ光を受光し、連続レーザ光の光強度を検出してもよい。
受光部422は、光センサ422aと、受光光学系422bと、ウインドウ422cとを含んでもよい。
The light receiving unit 422 may receive the continuous laser light emitted from the light source unit 421 and detect the light intensity of the continuous laser light.
The light receiving unit 422 may include an
受光光学系422bは、コリメータ等の光学系であってもよく、レンズ等の光学素子によって構成されていてもよい。受光光学系422bは、光源部421から出射された連続レーザ光を、ウインドウ422cを介して光センサ422aに導いてもよい。
The light receiving optical system 422b may be an optical system such as a collimator, or may be configured by an optical element such as a lens. The light receiving optical system 422b may guide the continuous laser light emitted from the light source unit 421 to the
光センサ422aは、フォトダイオードを含む受光素子であってもよい。光センサ422aは、受光光学系422bによって導かれた連続レーザ光の光強度を検出してもよい。光センサ422aは、カウンタ回路423と接続されてもよい。光センサ422aは、検出した光強度の検出信号をカウンタ回路423に出力してもよい。
なお、光センサ422aの構成については、図18を用いて後述する。
The
The configuration of the
上記構成によって受光部422は、光源部421から出射された連続レーザ光の光強度を検出し得る。ターゲット進行経路272を進行するドロップレット271が光源部421と受光部422との間を進行すると、ドロップレット271を照射した連続レーザ光の受光部422における光強度は低下し得る。受光部422は、ドロップレット271による光強度の低下に応じた検出信号をカウンタ回路423に出力し得る。
With the above configuration, the light receiving unit 422 can detect the light intensity of the continuous laser light emitted from the light source unit 421. When the
カウンタ回路423には、受光部422によって出力された検出信号が入力されてもよい。カウンタ回路423は、入力された検出信号において、ドロップレット271によって光強度が低下した回数をカウントしてもよい。カウンタ回路423は、カウントした光強度の低下回数を、ターゲット進行経路272を進行するドロップレット271の個数Nとみなしてカウントしてもよい。
カウンタ回路423は、ドロップレット出力計算制御部43と接続されてもよい。カウンタ回路423は、カウントしたドロップレット271の個数Nをドロップレット出力計算制御部43に出力してもよい。
The detection signal output by the light receiving unit 422 may be input to the
The
上記構成によってドロップレットカウンタ部42は、ドロップレット出力計算制御部43の制御信号に基づいて、チャンバ2内に出力されたドロップレット271の個数Nをカウントし、ドロップレット出力計算制御部43に出力し得る。
With the above configuration, the droplet counter unit 42 counts the number N of
ドロップレット出力計算制御部43は、ドロップレット画像計測部41に点灯信号及びシャッタ信号を出力して、ドロップレット画像計測部41の動作を制御してもよい。
ドロップレット出力計算制御部43は、内部にタイマTを含んでもよい。タイマTは、点灯信号及びシャッタ信号の出力タイミングを計るためのタイマであってもよい。ドロップレット出力計算制御部43は、点灯時間Δτ、撮像時間Δt、計測間隔Kが経過したことを計時し得る。
The droplet output
The droplet output
ドロップレット出力計算制御部43は、ドロップレット画像計測部41から出力された画像データを記憶してもよい。ドロップレット出力計算制御部43は、ドロップレットカウンタ部42から出力されたドロップレット271の個数Nを記憶してもよい。ドロップレット出力計算制御部43は、ドロップレット271の画像データ及び個数Nを対応付けて記憶してもよい。ドロップレット出力計算制御部43は、ドロップレット271の画像データ及び個数Nとそれらの取得時刻とを更に対応付けて記憶してもよい。
The droplet output
ドロップレット出力計算制御部43は、ドロップレット直径算出部431を含んでもよい。ドロップレット直径算出部431は、ドロップレット271の直径を計算するプログラムであってもよい。
ドロップレット出力計算制御部43は、ドロップレット直径算出部431を用いて、記憶した画像データに含まれるドロップレット271の直径を算出してもよい。ドロップレット出力計算制御部43は、ドロップレット271の直径に基づいて当該ドロップレット271の体積を算出してもよい。
The droplet output
The droplet output
ドロップレット出力計算制御部43は、直径算出の基になった画像データに対応付けて記憶したドロップレット271の個数Nと、当該画像データに基づいて算出したドロップレット271の体積とに基づいて、ドロップレット271の出力積算量を計算してもよい。
ドロップレット271の出力積算量は、ノズル262からチャンバ2内に出力されたドロップレット271の体積を累積させて得られた量であってもよい。ドロップレット271の出力積算量は、タンク261に収容されたターゲット27の消費量に相当してもよい。
ドロップレット出力計算制御部43は、ターゲット生成制御部74と接続されてもよい。ドロップレット出力計算制御部43は、計算したドロップレット271の出力積算量をターゲット生成制御部74に出力してもよい。
なお、ドロップレット出力計算制御部43のハードウェア構成については、図17を用いて後述する。
The droplet output
The accumulated output amount of the
The droplet output
The hardware configuration of the droplet output
ターゲット生成制御部74は、EUV光生成装置1が備えるターゲット残量計測システム全体の動作を統括的に制御してもよい。
ターゲット生成制御部74は、ドロップレット出力計算制御部43から出力されたドロップレット271の出力積算量を記憶してもよい。
ターゲット生成制御部74は、ターゲット27の初期量を予め記憶していてもよい。
ターゲット27の初期量は、チャンバ2内にドロップレット271を出力する前に、タンク261に収容されたターゲット27の量であってもよい。タンク261にターゲット27を投入した直後であれば、ターゲット27の初期量は、タンク261への投入量に相当してもよい。例えば、ターゲット27の初期量は、ターゲット27をタンク261に投入する際に予め計測しておき、この計測値をターゲット生成制御部74に入力することによって定められてもよい。この計測値の入力は、オペレータの操作によって行われてもよいし、EUV光生成制御部5やネットワークを介して行われてもよい。
The target
The target
The target
The initial amount of the
ターゲット生成制御部74は、ターゲット残量算出部741を含んでもよい。ターゲット残量算出部741は、タンク261内のターゲット27の残量を計算するプログラムであってもよい。
ターゲット生成制御部74は、ターゲット残量算出部741を用いて、ドロップレット271の出力積算量とターゲット27の初期量とに基づいて、タンク261に収容されているターゲット27の残量を算出してもよい。ターゲット生成制御部74は、算出したターゲット27の残量を記憶してもよい。ターゲット生成制御部74は、ターゲット27の残量を算出した時刻を、ターゲット27の残量と対応付けて記憶してもよい。
その他のターゲット生成制御部74の構成やターゲット生成装置7の構成は、図3と同様であってもよい。
The target
The target
Other configurations of the target
[5.2 動作]
図5〜図8を用いて、第1実施形態に係るEUV光生成装置1が備えるターゲット残量計測システムの動作について説明する。
図6を用いて、ターゲット生成制御部74のターゲット残量管理に係る処理について説明する。
ターゲット生成制御部74は、EUV光生成制御部5から出力された、ターゲット残量計測を実行するための制御信号が入力されると、以下の処理を行ってもよい。
[5.2 Operation]
The operation of the target remaining amount measuring system provided in the EUV light generation apparatus 1 according to the first embodiment will be described with reference to FIGS.
With reference to FIG. 6, processing related to target remaining amount management of the target
The target
ステップS10において、ターゲット生成制御部74は、予め記憶したターゲット27の初期量V0を読み込んでもよい。
このターゲット27の初期量V0は、前回のターゲット残量管理処理において算出し記憶しておいたターゲット27の残量Vresとしてもよい。ターゲット27の残量Vresが記憶されていない場合には、ターゲット27の初期量V0は、タンク261へターゲット27を投入した量としてもよい。
In step S10, the target
The initial amount V0 of the
ステップS20において、ターゲット生成制御部74は、ドロップレット出力計算処理の実行開始信号をドロップレット出力計算制御部43に出力してもよい。
ドロップレット出力計算処理の実行開始信号は、ターゲット生成制御部74がドロップレット出力計算制御部43にドロップレット出力計算処理を実行させるための制御信号であってもよい。
ドロップレット出力計算処理は、チャンバ2内へ出力されたドロップレット271の出力積算量Vsumを計算する処理であってもよい。ドロップレット出力計算制御部43によってドロップレット出力計算処理が実行され得る。
なお、ドロップレット出力計算処理は、図7を用いて後述する。
In step S <b> 20, the target
The execution start signal of the droplet output calculation process may be a control signal that causes the target
The droplet output calculation process may be a process of calculating the output integrated amount Vsum of the
The droplet output calculation process will be described later with reference to FIG.
ステップS30において、ターゲット生成制御部74は、ステップS20で計算したドロップレット271の出力積算量Vsumを読み込んでもよい。
In step S30, the target
ステップS40において、ターゲット生成制御部74は、タンク261に収容されているターゲット27の残量Vresを算出してもよい。
ターゲット生成制御部74は、ステップS10で読み込んだ初期量V0から、ステップS30で読み込んだ出力積算量Vsumを減算することによって、残量Vresを算出してもよい。
ターゲット生成制御部74は、算出したターゲット27の残量Vresを記憶してもよい。
In step S <b> 40, the target
The target
The target
ステップS50において、ターゲット生成制御部74は、ステップS40で算出したターゲット27の残量Vresを外部表示装置に表示してもよい。
外部表示装置は、オペレータが操作可能なEUV光生成装置1の操作端末に設けられた表示装置であってもよい。外部表示装置は、EUV光生成装置1とネットワーク介して接続された情報端末の表示装置であってもよい。
In step S50, the target
The external display device may be a display device provided in an operation terminal of the EUV light generation apparatus 1 that can be operated by an operator. The external display device may be a display device of an information terminal connected to the EUV light generation apparatus 1 via a network.
ステップS60において、ターゲット生成制御部74は、ステップS40で算出したターゲット27の残量VresがVLより小さいか否かを判定してもよい。
VLは、ターゲット27の残量Vresにおける下限量であってもよい。この下限量は、EUV光生成装置1が計画的に停止可能な最低限の量であってもよい。
計画的に停止可能な最低限の量は、ターゲット生成装置7の交換若しくはターゲット27の再収容に要するリードタイム、又は、半導体チップの生産計画等に基づいて決定されてもよい。例えば、計画的に停止可能な最低限の量は、オペレータの操作によってターゲット生成制御部74に入力されてもよいし、EUV光生成制御部5やネットワークを介して入力されてもよい。
計画的に停止可能な最低限の量は、例えば、直径D=20μmのドロップレット271を、生成周波数f=100kHzで1週間出力したときの量である0.253L(リットル)であってもよい。
ドロップレット271の「生成周波数f」は、ターゲット生成装置7からチャンバ2内に単位時間当たりに出力されるドロップレット271の個数Nであってもよい。
ターゲット生成制御部74は、残量Vresが下限量VLより小さくなければステップS20に移行してもよい。一方、ターゲット生成制御部74は、残量Vresが下限量VLより小さければステップS70に移行してもよい。
In step S60, the target
VL may be a lower limit amount in the remaining amount Vres of the
The minimum amount that can be systematically stopped may be determined based on the lead time required for replacement of the
The minimum amount that can be systematically stopped may be, for example, 0.253 L (liter), which is the amount when a
The “generation frequency f” of the
If the remaining amount Vres is not smaller than the lower limit amount VL, the target
ステップS70において、ターゲット生成制御部74は、ターゲット27の残量Vresが少ないことをEUV光生成制御部5に通知してもよい。同時に、ターゲット生成制御部74は、ターゲット27の残量Vresが少ないことを外部表示装置に表示してもよい。
In step S70, the target
図7を用いて、ドロップレット出力計算制御部43のドロップレット出力計算処理について説明する。
ドロップレット出力計算制御部43は、図6のステップS20において出力されたドロップレット出力計算処理の実行開始信号が入力されると、以下の処理を行ってもよい。
The droplet output calculation process of the droplet output
When the droplet output
ステップS201において、ドロップレット出力計算制御部43は、出力積算量Vsum=0として出力積算量Vsumをリセットしてもよい。
In step S201, the droplet output
ステップS202において、ドロップレット出力計算制御部43は、タイマTをリセットすると共に、タイマTの計時をスタートしてもよい。
In step S202, the droplet output
ステップS203において、ドロップレット出力計算制御部43は、カウンタ回路423をリセットすると共に、カウンタ回路423のカウントをスタートしてもよい。
In step S203, the droplet output
ステップS204において、ドロップレット出力計算制御部43は、イメージセンサ412aのシャッタを開くタイミングであれば、当該シャッタを開くためのシャッタ信号をイメージセンサ412aに出力してもよい。
ドロップレット出力計算制御部43は、当該シャッタを開くためのシャッタ信号を出力した際のタイマTの値を記憶してもよい。
In step S204, the droplet output
The droplet output
ステップS205において、ドロップレット出力計算制御部43は、ドロップレット画像計測部41の光源411aを点灯するタイミングであれば、所定の点灯時間Δτだけ点灯信号を当該光源411aに出力してもよい。光源411aは、点灯時間Δτが経過するまでの間、ターゲット進行経路272にパルス光を発光し得る。
In step S205, the droplet output
ステップS206において、ドロップレット出力計算制御部43は、所定の撮像時間Δtが経過するとイメージセンサ412aのシャッタを閉じるためのシャッタ信号をイメージセンサ412aに出力してもよい。
撮像時間Δtは、ステップS204でイメージセンサ412aのシャッタを開いてから、このステップS206でシャッタを閉じるまでの時間であってもよい。イメージセンサ412aは、撮像時間Δtの間に結像されたドロップレット271の影の像を撮像し得る。
ドロップレット出力計算制御部43は、当該シャッタを閉じるためのシャッタ信号を出力した際のタイマTの値を記憶してもよい。
In step S206, the droplet output
The imaging time Δt may be the time from when the shutter of the
The droplet output
ステップS207において、ドロップレット出力計算制御部43は、ステップS206で撮像したドロップレット271の影の像に係る画像データを画像取得制御部413から取得してもよい。
In step S207, the droplet output
ステップS208において、ドロップレット出力計算制御部43は、ステップS207で取得した画像データにドロップレット271が含まれているか否かを判定してもよい。
ドロップレット出力計算制御部43は、取得した画像データにドロップレット271が含まれていればステップS209に移行してもよい。一方、ドロップレット出力計算制御部43は、取得した画像データにドロップレット271が含まれていなければステップS210に移行してもよい。
In step S208, the droplet output
The droplet output
ステップS209において、ドロップレット出力計算制御部43は、取得した画像データに含まれるドロップレット271の直径Dを算出してもよい。
なお、ドロップレット271の直径Dを算出する処理については、図8Aを用いて後述する。
In step S209, the droplet output
The process of calculating the diameter D of the
ステップS210において、ドロップレット出力計算制御部43は、ドロップレット271の直径DをD=0に設定してもよい。
ドロップレット出力計算制御部43は、ステップS207で取得した画像データにドロップレット271が含まれていなければ、ドロップレット271の直径DをD=0とみなし得る。
In step S210, the droplet output
If the
ステップS211において、ドロップレット出力計算制御部43は、ステップS209又はステップS210で算出したドロップレット271の直径Dに基づいて、ドロップレット271の体積Vを算出してもよい。
ドロップレット出力計算制御部43は、ドロップレット271の体積Vを、V=(4/3)π(D/2)3の式で算出してもよい。
In step S211, the droplet output
The droplet output
ステップS212において、ドロップレット出力計算制御部43は、ステップS206で記憶したタイマTの値とステップS212でのタイマTの値との差分であるΔTが、所定の計測間隔Kより大きいか否かを判定してもよい。
このステップS212は、1回の撮像が終了してから計測間隔Kが経過したか否かを判定することに相当し得る。ΔTが計測間隔Kより大きければ、計測間隔Kを経過したことに相当し得る。
ドロップレット出力計算制御部43は、ΔTが計測間隔Kより大きくなければ待機してもよい。一方、ドロップレット出力計算制御部43は、ΔTが計測間隔Kより大きければステップS213に移行してもよい。
In step S212, the droplet output
This step S212 may correspond to determining whether or not the measurement interval K has elapsed since the completion of one imaging. If ΔT is larger than the measurement interval K, it may correspond to the elapse of the measurement interval K.
The droplet output
ステップS213において、ドロップレット出力計算制御部43は、タイマTをリセットすると共に、タイマTの計時をスタートしてもよい。
In step S213, the droplet output
ステップS214において、ドロップレット出力計算制御部43は、カウンタ回路423から出力されたドロップレット271の個数Nを読み込んでもよい。
In step S214, the droplet output
ステップS215において、ドロップレット出力計算制御部43は、カウンタ回路423をリセットすると共に、カウンタ回路423のカウントをスタートしてもよい。
In step S215, the droplet output
ステップS216において、ドロップレット出力計算制御部43は、ステップS211で算出したドロップレット271の体積VとステップS214で読み込んだドロップレット271の個数Nとに基づいて、出力積算量Vsumを更新してもよい。
ドロップレット出力計算制御部43は、ドロップレット271の体積Vとドロップレットの個数Nとを乗算した値V・Nを出力積算量Vsumに加算することによって、出力積算量Vsumを更新してもよい。
V・Nは、計測間隔Kの間で、チャンバ2内に出力されたドロップレット271の量に相当し得る。
In step S216, the droplet output
The droplet output
V · N may correspond to the amount of
ステップS217において、ドロップレット出力計算制御部43は、ターゲット生成制御部74から出力される、ドロップレット出力計算処理の実行停止信号が入力されたか否かを判定してもよい。
ドロップレット出力計算処理の実行停止信号は、ターゲット生成制御部74がドロップレット出力計算制御部43にドロップレット出力計算処理を実行停止させるための制御信号であってもよい。
ドロップレット出力計算制御部43は、当該実行停止信号が入力されればドロップレット271の出力積算量Vsumの計算を停止してもよい。一方、ドロップレット出力計算制御部43は、当該実行停止信号が入力されなければステップS204に移行してもよい。
In step S217, the droplet output
The execution stop signal for the droplet output calculation process may be a control signal for the target
The droplet output
図8A及び図8Bを用いて、ドロップレット出力計算制御部43がドロップレット271の直径Dを算出する処理について説明する。
A process in which the droplet output
ステップS2901において、ドロップレット出力計算制御部43は、図7のステップS207で取得した画像データに含まれるドロップレット271の影の像から当該ドロップレット271の直径Dを算出してもよい。
In step S2901, the droplet output
撮像部412を構成するイメージセンサ412aで撮像されたドロップレット271の画像データは、1回の撮像において図8Bに例示するような画像を示してもよい。
ドロップレット出力計算制御部43は、画像データに含まれるドロップレット271の像において、ドロップレット271の進行方向に垂直な方向におけるドロップレット271の像の幅をドロップレット271の直径Dとしてもよい。
略球形の1つのドロップレット271に対応する影が1つの像として略球形に撮像されていれば、ドロップレット出力計算制御部43は、次のような方法で直径Dを算出してもよい。すなわち、ドロップレット出力計算制御部43は、ドロップレット271の像の進行方向における幅と当該進行方向に垂直な方向における幅との平均値をドロップレット271の直径Dとしてもよい。
The image data of the
The droplet output
If a shadow corresponding to one substantially
図8Bに示すように、イメージセンサ412aの撮像時間Δtをどのように設定するかによって、1回の撮像で取得された画像データには、複数のドロップレット271が含まれ得る。
第1実施形態では、1回の撮像で取得される画像データに複数のドロップレット271が含まれるように、イメージセンサ412aの撮像時間Δtを次のように設定してもよい。
As shown in FIG. 8B, depending on how the imaging time Δt of the
In the first embodiment, the imaging time Δt of the
イメージセンサ412aの撮像範囲Ay×Bzにおいて、ドロップレット271の進行方向における撮像範囲の長さをAとする。順次出力された隣り合う2つのドロップレット271間の距離であって、ドロップレット271の進行方向における距離をdとする。ドロップレット271の進行速度をvとする。ここで、転写光学系412bが拡大光学系である場合、Aはドロップレット271の進行方向における撮像範囲の実際の長さに換算した値としてよい。また、A及びdは、イメージセンサ412aが撮像する、ピクセル数単位の量で定義されてもよい。A及びdがピクセル数単位の量で定義される場合、vも単位時間当たりの通過ピクセル数として定義されてもよい。
このとき、第1実施形態では、撮像時間Δtを次式の関係を満たすように設定してもよい。
Δt<d/v
上記右辺のd/vは、順次出力された隣り合う2つのドロップレット271の像が、分別不可能なまでに重ならない時間を意味し得る。
これにより、撮像部412を構成するイメージセンサ412aは、1回の撮像において、順次出力された隣り合う2つのドロップレット271の像が重ならないように撮像し得る。
In the imaging range Ay × Bz of the
At this time, in the first embodiment, the imaging time Δt may be set so as to satisfy the relationship of the following equation.
Δt <d / v
The d / v on the right side may mean a time in which images of two
Thereby, the
更に、第1実施形態では、撮像時間Δtを次式の関係を満たすように設定してもよい。
Δt>(d−A)/v
上記右辺の(d−A)/vは、順次出力された隣り合う2つのドロップレット271の像が撮像範囲の中に含まれ得る時間を意味し得る。
これにより、撮像部412を構成するイメージセンサ412aは、1回の撮像において、順次出力された隣り合う2つのドロップレット271の像が撮像範囲に含まれるように撮像し得る。
よって、撮像時間Δtが、(d−A)/v<Δt<d/vであれば、順次出力された隣り合う2つのドロップレット271の像が重ならず毎回撮像範囲に含まれるように撮像し得る。
なお、d≦Aの場合、撮像時間Δtは、0<Δt<d/vと設定されてもよい。
上記のように設定された撮像時間Δtで、撮像部412は、計測間隔Kごとに繰り返しドロップレット271の撮像を行い得る。
Furthermore, in the first embodiment, the imaging time Δt may be set so as to satisfy the relationship of the following equation.
Δt> (d−A) / v
The (d−A) / v on the right side may mean a time during which images of two
Thereby, the
Therefore, if the imaging time Δt is (d−A) / v <Δt <d / v, imaging is performed so that the images of two
When d ≦ A, the imaging time Δt may be set as 0 <Δt <d / v.
With the imaging time Δt set as described above, the imaging unit 412 can repeatedly image the
なお、ドロップレット271の進行速度vは、予め定められた速度に設定されてもよい。
また、ドロップレット271の進行速度vは、次のような方法で算出されてもよい。特に、図8Bに示すように、1回の撮像で取得される画像データにおいて1つのドロップレット271に対応する影が1つの像として撮像されていれば、進行速度vは、次のような方法で算出されてもよい。
ドロップレット出力計算制御部43は、異なるタイミングで同一のドロップレット271を撮像して取得された2つの画像データを比較してもよい。ドロップレット出力計算制御部43は、当該2つの画像データ間における特定のドロップレット271の像の変位を、計測間隔Kの間にドロップレット271が進行した距離として算出してもよい。ドロップレット出力計算制御部43は、算出したドロップレット271の進行距離を計測間隔Kで除算することによって、ドロップレット271の進行速度vを算出し得る。
The traveling speed v of the
Further, the traveling speed v of the
The droplet output
[5.3 作用]
第1実施形態では、EUV光生成装置1の稼働中にリアルタイムで、チャンバ2内に実際に出力されたドロップレット271の直径Dを個別に計測し得る。よって、第1実施形態では、チャンバ2内に実際に出力されたドロップレット271が均一な大きさであるかをEUV光生成装置1の稼働中でもリアルタイムで正確に計測し得る。
更に、第1実施形態では、EUV光生成装置1の稼働中にリアルタイムで、チャンバ2内に実際に出力された2つのドロップレット271間の距離を計測し得る。
また、第1実施形態では、EUV光生成装置1の稼働中にリアルタイムで、チャンバ2内に実際に出力されたドロップレット271を検出してその個数Nをカウントし得る。このため、第1実施形態では、チャンバ2内に実際に出力されたドロップレット271の出力積算量Vsumを計算し得る。よって、第1実施形態では、EUV光生成装置1の稼働中でもリアルタイムでターゲット27の残量を正確に計測し得る。
[5.3 Action]
In the first embodiment, the diameter D of the
Furthermore, in the first embodiment, the distance between the two
In the first embodiment, the number N of the
[5.4 第1実施形態の変形例]
図9を用いて、第1実施形態の変形例に係るEUV光生成装置1が備えるターゲット残量計測システムについて説明する。
第1実施形態の変形例に係るEUV光生成装置1が備えるターゲット残量計測システムの構成は、図9のようにドロップレット形成機構73及びドロップレットカウンタ部42の構成が、図5に示す第1実施形態の構成と異なる。その他の構成は、図5の第1実施形態の構成と同様である。
第1実施形態の変形例に係るEUV光生成装置1が備えるターゲット残量計測システムの動作は、図6〜図8の第1実施形態の動作と一部同様である。
第1実施形態と同様の構成及び動作については説明を省略する。
[5.4 Modification of First Embodiment]
With reference to FIG. 9, a description will be given of a target remaining amount measuring system provided in the EUV light generation apparatus 1 according to a modification of the first embodiment.
The configuration of the remaining target amount measurement system included in the EUV light generation apparatus 1 according to the modification of the first embodiment is similar to the configuration of the
The operation of the remaining target amount measurement system included in the EUV light generation apparatus 1 according to the modification of the first embodiment is partly the same as the operation of the first embodiment of FIGS.
The description of the same configuration and operation as in the first embodiment is omitted.
図5の第1実施形態に係るドロップレット形成機構73は、コンティニュアスジェット方式によりドロップレット271を形成し得る。
図9の変形例に係るドロップレット形成機構73は、静電引出し方式によりドロップレット271を形成してもよい。
図9の変形例に係るドロップレット形成機構73は、ターゲット帯電電極733と、DC電圧電源734と、引出電極735と、パルス電圧電源736とを含んでもよい。
The
The
The
ターゲット帯電電極733は、タンク261内のノズル262付近に固定されてもよい。タンク261内に固定されたターゲット帯電電極733は、DC電圧電源734と接続されてもよい。DC電圧電源734は、ターゲット帯電電極733に電圧を印加してもよい。
これに伴って、ターゲット帯電電極733と接するターゲット27にも電圧が印加され得る。
The
Accordingly, a voltage can be applied to the
引出電極735は、円環形状に形成されてもよい。引出電極735は、ノズル孔262aと間隔をあけてターゲット進行経路272上に設けられてもよい。円環形状の引出電極735の中心軸とノズル262の中心軸とは同一直線上にあってもよい。
引出電極735は、パルス電圧電源736と接続されてもよい。パルス電圧電源736は、パルス電圧を引出電極735に印加してもよい。
パルス電圧が印加された引出電極735は、ターゲット27との間に静電気力を発生させ得る。ターゲット27と引出電極735との間に静電気力が発生することによって、ターゲット27は、ノズル孔262aから突出し、やがて分離され得る。分離されたターゲット27は、自己の表面張力によって自由界面を形成してドロップレット271を形成し得る。このとき、ドロップレット271は帯電していてもよい。
The
The
The
パルス電圧電源736は、ターゲット生成制御部74と接続されてもよい。ターゲット生成制御部74は、チャンバ2内にドロップレット271を出力すべきタイミングに合わせて、パルス電圧電源736に出力要求信号を出力してもよい。
パルス電圧電源736は、ターゲット生成制御部74からの出力要求信号に基づいて、引出電極735に対してパルス電圧を印加してもよい。
静電引き出し方式においては、引出電極735に任意のタイミングでパルス電圧を印加することで、引出電極735とターゲット27との間に静電気力を生じさせ、任意のタイミングでドロップレット271を出力し得る。
The pulse voltage power source 736 may be connected to the target
The pulse voltage power source 736 may apply a pulse voltage to the
In the electrostatic extraction method, an electrostatic force can be generated between the
パルス電圧電源736と接続されたターゲット生成制御部74は、パルス電圧電源736との接続から分岐して、ドロップレットカウンタ部42のカウンタ回路423と接続されてもよい。ターゲット生成制御部74は、パルス電圧電源736に出力する出力要求信号をカウンタ回路423にも同時に出力し得る。
The target
図9の変形例に係るドロップレットカウンタ部42は、光源部421及び受光部422を備えずに、カウンタ回路423を備えてもよい。
カウンタ回路423は、パルス電圧電源736と接続されたターゲット生成制御部74から出力要求信号が入力されてもよい。カウンタ回路423は、入力された出力要求信号をカウントして、チャンバ2内に出力されたドロップレット271の個数Nとみなしてもよい。
The droplet counter unit 42 according to the modification of FIG. 9 may include the
The
上記構成によって、第1実施形態の変形例では、ドロップレットカウンタ部42が光源部421及び受光部422を備えなくとも、ドロップレット271の個数Nをカウントし得ると共に出力積算量Vsumを計算し得る。
よって、第1実施形態の変形例では、ドロップレットカウンタ部42から光源部421及び受光部422を省き得るため、EUV光生成装置1が備えるターゲット残量計測システムを簡略化し得る。
With the above configuration, in the modification of the first embodiment, even if the droplet counter unit 42 does not include the light source unit 421 and the light receiving unit 422, the number N of
Therefore, in the modification of the first embodiment, since the light source unit 421 and the light receiving unit 422 can be omitted from the droplet counter unit 42, the target remaining amount measurement system provided in the EUV light generation apparatus 1 can be simplified.
[6.第2実施形態のEUV光生成装置が備えるターゲット残量計測システム]
[6.1 構成]
図10を用いて、第2実施形態に係るEUV光生成装置1が備えるターゲット残量計測システムの構成について説明する。
第2実施形態に係るEUV光生成装置1が備えるターゲット残量計測システムの構成は、図10のようにドロップレットカウンタ部42を省いている構成が、図5に示す第1実施形態の構成と異なる。その他の構成は、第1実施形態の構成と同様である。
第1実施形態と同様の構成については説明を省略する。
[6. Target remaining amount measurement system provided in EUV light generation apparatus of second embodiment]
[6.1 Configuration]
The configuration of the target remaining amount measurement system provided in the EUV light generation apparatus 1 according to the second embodiment will be described with reference to FIG.
In the configuration of the target remaining amount measurement system provided in the EUV light generation apparatus 1 according to the second embodiment, the configuration in which the droplet counter unit 42 is omitted as shown in FIG. 10 is the same as the configuration of the first embodiment shown in FIG. Different. Other configurations are the same as those of the first embodiment.
The description of the same configuration as in the first embodiment is omitted.
第1実施形態では、ドロップレット271の個数Nは、ドロップレットカウンタ部42のカウンタ回路423によって実際にカウントされてもよい。第1実施形態では、ドロップレット出力計算制御部43は、カウンタ回路423で実際にカウントされた個数Nを用いて、ターゲット27の出力積算量Vsumを計算してもよい。
第2実施形態では、ドロップレット271の個数Nは、ドロップレット271の生成周波数f及び計測間隔Kから算出してもよい。第2実施形態では、ドロップレット出力計算制御部43は、生成周波数f及び計測間隔Kから算出した個数Nを用いて、ターゲット27の出力積算量Vsumを計算してもよい。
In the first embodiment, the number N of
In the second embodiment, the number N of
なお、第1実施形態では、ドロップレット画像計測部41の光源411aの点灯時間Δτが、ドロップレット271の生成周期(例えば10μs程度)よりも十分に短くてもよい(例えば10ns〜100ns)。
第2実施形態では、ドロップレット画像計測部41の光源411aの点灯時間Δτは、ドロップレット271の生成周期と同程度か短くてもよい。ドロップレット271の生成周期は、例えば10μs程度でもよい。第2実施形態の点灯時間Δτは、例えば1〜5μs程度でもよい。但し、これらの値は例示に過ぎず、実施する装置に合わせて適宜選択されるとよい。
In the first embodiment, the lighting time Δτ of the
In the second embodiment, the lighting time Δτ of the
[6.2 動作]
図10〜図12を用いて、第2実施形態に係るEUV光生成装置1が備えるターゲット残量計測システムの動作について説明する。
第2実施形態に係るEUV光生成装置1が備えるターゲット残量計測システムの動作は、図11及び図12のようにドロップレット出力計算処理及びドロップレットの直径算出に係る処理が、図7及び図8に示す第1実施形態の動作と異なる。その他の動作は、第1実施形態の動作と同様である。
第1実施形態と同様の動作については説明を省略する。
[6.2 Operation]
The operation of the target remaining amount measuring system provided in the EUV light generation apparatus 1 according to the second embodiment will be described with reference to FIGS.
The operation of the target remaining amount measurement system provided in the EUV light generation apparatus 1 according to the second embodiment is similar to the droplet output calculation process and the droplet diameter calculation process illustrated in FIGS. 8 is different from the operation of the first embodiment shown in FIG. Other operations are the same as those in the first embodiment.
The description of the same operation as that of the first embodiment is omitted.
図11を用いて、ドロップレット出力計算制御部43のドロップレット出力計算処理について説明する。
ドロップレット出力計算制御部43は、図6のステップS20において出力されたドロップレット出力計算処理の実行開始信号が入力されると、以下の処理を行ってもよい。
The droplet output calculation process of the droplet output
When the droplet output
ステップS221において、ドロップレット出力計算制御部43は、出力積算量Vsum=0として出力積算量Vsumをリセットしてもよい。
In step S221, the droplet output
ステップS222において、ドロップレット出力計算制御部43は、タイマTをリセットすると共に、タイマTの計時をスタートしてもよい。
In step S222, the droplet output
ステップS223において、ドロップレット出力計算制御部43は、イメージセンサ412aのシャッタを開くタイミングであれば、当該シャッタを開くためのシャッタ信号をイメージセンサ412aに出力してもよい。
ドロップレット出力計算制御部43は、当該シャッタを開くためのシャッタ信号を出力した際のタイマTの値を記憶してもよい。
In step S223, the droplet output
The droplet output
ステップS224において、ドロップレット出力計算制御部43は、ドロップレット画像計測部41の光源411aを点灯するタイミングであれば、所定の点灯時間Δτだけ点灯信号を当該光源411aに出力してもよい。
In step S224, the droplet output
ステップS225において、ドロップレット出力計算制御部43は、所定の撮像時間Δtが経過するとイメージセンサ412aのシャッタを閉じるためのシャッタ信号をイメージセンサ412aに出力してもよい。
撮像時間Δtは、ステップS223でイメージセンサ412aのシャッタを開いてから、このステップS225でシャッタを閉じるまでの時間であってもよい。
ドロップレット出力計算制御部43は、当該シャッタを閉じるためのシャッタ信号を出力した際のタイマTの値を記憶してもよい。
In step S225, the droplet output
The imaging time Δt may be the time from when the shutter of the
The droplet output
ステップS226において、ドロップレット出力計算制御部43は、ステップS225で撮像したドロップレット271の影の像に係る画像データを画像取得制御部413から取得してもよい。
In step S226, the droplet output
ステップS227において、ドロップレット出力計算制御部43は、ステップS226で取得した画像データにドロップレット271が含まれているか否かを判定してもよい。
ドロップレット出力計算制御部43は、取得した画像データにドロップレット271が含まれていればステップS228に移行してもよい。一方、ドロップレット出力計算制御部43は、取得した画像データにドロップレット271が含まれていなければステップS229に移行してもよい。
In step S227, the droplet output
If the
ステップS228において、ドロップレット出力計算制御部43は、取得した画像データに含まれるドロップレット271の直径Dと、ドロップレット271の生成周波数fとを算出してもよい。
なお、ドロップレット271の直径D及びドロップレット271の生成周波数fを算出する処理については、図12Aを用いて後述する。
In step S228, the droplet output
The process of calculating the diameter D of the
ステップS229において、ドロップレット出力計算制御部43は、ドロップレット271の直径DをD=0に設定し、ドロップレット271の生成周波数fをf=0に設定してもよい。
ドロップレット出力計算制御部43は、ステップS226で取得した画像データにドロップレット271が含まれていなければ、ドロップレット271の直径DをD=0及びドロップレット271の生成周波数fをf=0とみなし得る。
In step S229, the droplet output
If the
ステップS230において、ドロップレット出力計算制御部43は、ステップS228又はステップS229で算出したドロップレット271の直径Dに基づいて、ドロップレット271の体積Vを算出してもよい。
ドロップレット出力計算制御部43は、ドロップレット271の体積Vを、V=(4/3)π(D/2)3の式で算出してもよい。
In step S230, the droplet output
The droplet output
ステップS231において、ドロップレット出力計算制御部43は、ステップS225で記憶したタイマTの値とステップS230でのタイマTの値との差分であるΔTが、所定の計測間隔Kより大きいか否かを判定してもよい。
ドロップレット出力計算制御部43は、ΔTが計測間隔Kより大きくなければ待機してもよい。一方、ドロップレット出力計算制御部43は、ΔTが計測間隔Kより大きければステップS232に移行してもよい。
In step S231, the droplet output
The droplet output
ステップS232において、ドロップレット出力計算制御部43は、タイマTをリセットすると共に、タイマTの計時をスタートしてもよい。
In step S232, the droplet output
ステップS233において、ドロップレット出力計算制御部43は、ステップS228で算出したドロップレット271の生成周波数fと計測間隔Kとに基づいて、ドロップレット271の個数Nを算出してもよい。
ドロップレット出力計算制御部43は、ドロップレット271の生成周波数fと計測間隔Kとを乗算した値K・fを、ドロップレット271の個数Nとしてもよい。
In step S233, the droplet output
The droplet output
ステップS234において、ドロップレット出力計算制御部43は、ステップS230で算出したドロップレット271の体積VとステップS233で算出したドロップレット271の個数Nとに基づいて、出力積算量Vsumを更新してもよい。
ドロップレット出力計算制御部43は、ドロップレット271の体積Vとドロップレットの個数Nとを乗算した値V・Nを出力積算量Vsumに加算することによって、出力積算量Vsumを更新してもよい。
In step S234, the droplet output
The droplet output
ステップS235において、ドロップレット出力計算制御部43は、ターゲット生成制御部74から出力される、ドロップレット出力計算処理の実行停止信号が入力されたか否かを判定してもよい。
ドロップレット出力計算制御部43は、当該実行停止信号が入力されればドロップレット271の出力積算量Vsumの計算を停止してもよい。一方、ドロップレット出力計算制御部43は、当該実行停止信号が入力されなければステップS223に移行してもよい。
In step S235, the droplet output
The droplet output
図12A及び図12Bを用いて、ドロップレット出力計算制御部43がドロップレット271の直径D及びドロップレット271の生成周波数fを算出する処理について説明する。
A process in which the droplet output
第2実施形態の点灯時間Δτは、ドロップレット271の生成周期と同程度か短くてもよい。このため、第2実施形態では、図12Bに示すように、1回の撮像で取得された画像データには、1つのドロップレット271の影の像が、複数連なった像として撮像される場合があり得る。1つのドロップレット271の影の像が複数連なった像を、1つのドロップレット271の「影像軌跡」ともいう。
このとき、以下の処理を行って、ドロップレット271の直径D及びドロップレット271の生成周波数fを算出してもよい。
The lighting time Δτ of the second embodiment may be approximately the same as or shorter than the generation period of the
At this time, the diameter D of the
ステップS2281において、ドロップレット出力計算制御部43は、図11のステップS227で取得した画像データに含まれる複数のドロップレット271の影の像から、1つのドロップレット271の影像軌跡を特定してもよい。1つのドロップレット271の影像軌跡は、例えば、図12Bにおいては影像軌跡271eに相当し得る。
In step S2281, the droplet output
ステップS2282において、ドロップレット出力計算制御部43は、ステップS2281で特定した影像軌跡からドロップレット271の直径Dを算出してもよい。
ドロップレット出力計算制御部43は、ドロップレット271の進行方向に垂直な方向における影像軌跡の幅をドロップレット271の直径Dとしてもよい。
In step S2282, the droplet output
The droplet output
ステップS2283において、ドロップレット出力計算制御部43は、ステップS2281で特定した影像軌跡の長さLを算出してもよい。
影像軌跡の長さLは、ドロップレット271の進行方向における影像軌跡の長さであってもよい。
In step S2283, the droplet output
The length L of the image trajectory may be the length of the image trajectory in the traveling direction of the
ステップS2284において、ドロップレット出力計算制御部43は、順次出力された隣り合う2つのドロップレット271の影像軌跡間の距離dを算出してもよい。
図12Bの例では、ステップS2281で特定した影像軌跡271eと、これの直近の影像軌跡271fとの間の距離dを算出してもよい。
影像軌跡間の距離dは、順次出力された隣り合う2つのドロップレット271の影像軌跡間の距離であって、ドロップレット271の進行方向における距離であってもよい。
In step S2284, the droplet output
In the example of FIG. 12B, the distance d between the
The distance d between the image trajectories is a distance between the image trajectories of two
ステップS2285において、ドロップレット出力計算制御部43は、ステップS2282で算出した直径Dと、ステップS2283で算出した長さLとに基づいて、ドロップレット271の進行速度vを算出してもよい。
ドロップレット出力計算制御部43は、ドロップレット271の進行速度vを次式から算出してもよい。
v=(L−D)/Δτ
上記右辺の(L−D)は、点灯時間Δτの間に1つのドロップレット271が進行した距離を意味し得る。
In step S2285, the droplet output
The droplet output
v = (L−D) / Δτ
(LD) on the right side can mean the distance that one
ステップS2286において、ドロップレット出力計算制御部43は、ステップS2284で算出した距離dと、ステップS2285で算出した進行速度vとに基づいて、ドロップレット271の生成周波数fを算出してもよい。
ドロップレット出力計算制御部43は、ドロップレット271の生成周波数fを次式から算出してもよい。
f=v/d
In step S2286, the droplet output
The droplet output
f = v / d
なお、第2実施形態の撮像時間Δtも、第1実施形態と同様に、次式を満たし得る。
(d−A)/v<Δt<d/v
このため、第2実施形態においても、撮像部412を構成するイメージセンサ412aは、順次出力された隣り合う2つのドロップレット271の影像軌跡を、互いの影像軌跡が重ならないようにして毎回撮像し得る。
Note that the imaging time Δt of the second embodiment can also satisfy the following equation, as in the first embodiment.
(D−A) / v <Δt <d / v
Therefore, also in the second embodiment, the
[6.3 作用]
第2実施形態では、ドロップレットカウンタ部42を備えなくとも、ドロップレット271の直径D及び生成周波数fを算出し得ると共に出力積算量Vsumを計算し得る。
よって、第2実施形態は、ドロップレットカウンタ部42全体を省き得るため、EUV光生成装置1が備えるターゲット残量計測システムを更に簡略化し得る。
[6.3 Action]
In the second embodiment, even if the droplet counter unit 42 is not provided, the diameter D and the generation frequency f of the
Therefore, since the second embodiment can omit the entire droplet counter unit 42, the target remaining amount measurement system provided in the EUV light generation apparatus 1 can be further simplified.
[6.4 第2実施形態の変形例]
図13を用いて、第2実施形態の変形例に係るEUV光生成装置が備えるターゲット残量計測システムについて説明する。
第2実施形態の変形例に係るEUV光生成装置1が備えるターゲット残量計測システムの構成は、図10の第2実施形態の構成と同様である。
第2実施形態の変形例に係るEUV光生成装置1が備えるターゲット残量計測システムの動作は、図13のようにドロップレット出力計算処理が、図11に示す第2実施形態の動作と異なる。その他の動作は、第2実施形態と同様である。
第2実施形態と同様の構成及び動作については説明を省略する。
[6.4 Modification of Second Embodiment]
A target remaining amount measuring system provided in an EUV light generation apparatus according to a modification of the second embodiment will be described with reference to FIG.
The configuration of the target remaining amount measurement system provided in the EUV light generation apparatus 1 according to the modification of the second embodiment is the same as the configuration of the second embodiment in FIG.
The operation of the remaining target amount measurement system provided in the EUV light generation apparatus 1 according to the modification of the second embodiment differs from the operation of the second embodiment shown in FIG. 11 in the droplet output calculation process as shown in FIG. Other operations are the same as those in the second embodiment.
The description of the same configuration and operation as in the second embodiment is omitted.
第2実施形態では、ドロップレット271の生成周波数fは、順次出力された隣り合う2つのドロップレットの影像軌跡間の距離dとドロップレット271の進行速度vとから算出してもよい。
第2実施形態の変形例では、ドロップレット271の生成周波数fが固定値であってもよい。
In the second embodiment, the generation frequency f of the
In the modification of the second embodiment, the generation frequency f of the
図13を用いて、ドロップレット出力計算制御部43のドロップレット出力計算処理について説明する。
ドロップレット出力計算制御部43は、図6のステップS20において出力されたドロップレット出力計算処理の実行開始信号が入力されると、以下の処理を行ってもよい。
The droplet output calculation process of the droplet output
When the droplet output
ステップS241において、ドロップレット出力計算制御部43は、図11のステップS211と同様の処理を行ってもよい。
In step S241, the droplet output
ステップS242において、ドロップレット出力計算制御部43は、ドロップレット271の生成周波数fをf=f0に設定してもよい。
生成周波数f0は、予め定められた生成周波数fの固定値であってもよい。生成周波数f0は、例えば、オペレータの操作によってターゲット生成制御部74に入力されてもよいし、EUV光生成制御部5やネットワークを介して入力されてもよい。
In step S242, the droplet output
The generation frequency f0 may be a fixed value of a predetermined generation frequency f. The generation frequency f0 may be input to the target
ステップS243〜ステップS248において、ドロップレット出力計算制御部43は、図11のステップS222〜ステップS227と同様の処理を行ってもよい。
In step S243 to step S248, the droplet output
ステップS249において、ドロップレット出力計算制御部43は、取得した画像データに含まれるドロップレット271の直径Dを算出してもよい。
なお、ドロップレット271の直径Dを算出する処理については、図12AのステップS2281及びステップS2282と同様である。
In step S249, the droplet output
Note that the process of calculating the diameter D of the
ステップS250において、ドロップレット出力計算制御部43は、ドロップレット271の直径DをD=0に設定してもよい。
ドロップレット出力計算制御部43は、ステップS247で取得した画像データにドロップレット271が含まれていなければ、ドロップレット271の直径DをD=0とみなし得る。
In step S250, the droplet output
If the
ステップS251〜ステップS256において、ドロップレット出力計算制御部43は、図11のステップS230〜ステップS235と同様の処理を行ってもよい。
In step S251 to step S256, the droplet output
[7.第3実施形態のEUV光生成装置が備えるターゲット残量計測システム]
[7.1 構成]
図14を用いて、第3実施形態に係るEUV光生成装置1が備えるターゲット残量計測システムの構成について説明する。
第3実施形態に係るEUV光生成装置1が備えるターゲット残量計測システムの構成は、図14のように圧力調節機構72及びターゲット生成制御部74の構成が、図10に示す第2実施形態の構成と異なる。その他の構成は、第2実施形態の構成と同様である。
第2実施形態と同様の構成については説明を省略する。
[7. Target remaining amount measurement system provided in EUV light generation apparatus of third embodiment]
[7.1 Configuration]
The configuration of the target remaining amount measurement system provided in the EUV light generation apparatus 1 according to the third embodiment will be described with reference to FIG.
The configuration of the target remaining amount measurement system provided in the EUV light generation apparatus 1 according to the third embodiment is the same as that of the second embodiment shown in FIG. Different from the configuration. Other configurations are the same as those of the second embodiment.
The description of the same configuration as that of the second embodiment is omitted.
第1実施形態では、ターゲット残量管理処理(図6のステップS10)の初期量V0は、前回のターゲット残量管理処理において算出し記憶しておいた残量Vresを用いてもよい。
第2実施形態では、ターゲット残量管理処理の初期量V0は、第1実施形態と同様でもよい。
第3実施形態では、ターゲット残量管理処理の初期量V0を、ターゲット27の残量Vresを算出する前に圧力調節機構72を用いて実際に計測してもよい。
In the first embodiment, the remaining amount Vres calculated and stored in the previous remaining target amount management process may be used as the initial amount V0 of the remaining target amount management process (step S10 in FIG. 6).
In the second embodiment, the initial amount V0 of the target remaining amount management process may be the same as in the first embodiment.
In the third embodiment, the initial amount V0 of the target remaining amount management process may be actually measured using the
図14の第3実施形態に係る圧力調節機構72は、圧力調節器721と、配管722〜725と、継手726a及び継手726bと、圧力センサ727と、ガスタンク728と、排気ポンプ729と、バルブV1〜V4とを含んでもよい。
14 includes a
圧力調節器721及び配管722は、図10の第2実施形態と同様の構成であってもよい。
配管723は、圧力調節器721と配管722とを継手726aを介して連結してもよい。
配管724は、圧力センサ727とガスタンク728とを連結してもよい。
配管725は、ガスタンク728と排気ポンプ729とを連結してもよい。
継手726a及び圧力調節器721の間の配管723と、圧力センサ727及びガスタンク728の間の配管724とは継手726bを介して連結されてもよい。
ターゲット供給部26のタンク261、圧力調節器721、圧力センサ727、ガスタンク728、及び排気ポンプ729は、その内部が配管722〜725によって互いに連通してもよい。
配管722〜725は、図示しない断熱材等で覆われてもよい。配管722〜725には、図示しないヒータが設置されてもよい。配管722〜725内の温度は、ターゲット供給部26のタンク261内の温度と同じ温度に保たれてもよい。
The
The
The
The
A
The
The
圧力センサ727は、配管722〜725を含む圧力調節機構72の各構成部内やタンク261内の空間Sxの圧力を検出してもよい。
タンク261内の空間Sxは、タンク261内のターゲット27を収容可能な全空間の内、ターゲット27が収容されていない部分の空間であってもよい。
圧力センサ727は、ターゲット生成制御部74に接続されてもよい。圧力センサ727は、検出した圧力の検出信号をターゲット生成制御部74に出力してもよい。
The
The space Sx in the
The
ガスタンク728は、所定容積の内部空間を含んでもよい。
ガスタンク728の外周部は、図示しない断熱材等で覆われてもよい。ガスタンク728の外周部には、図示しないヒータが設置されてもよい。ガスタンク728内の温度は、ターゲット供給部26のタンク261内の温度と同じ温度に保たれてもよい。
The
The outer periphery of the
排気ポンプ729は、配管722〜725を含む圧力調節機構72の各構成部内やタンク261内の空間Sxのガスを排気してもよい。排気ポンプ729は、ターゲット生成制御部74と接続されてもよい。
The
バルブV1は、継手726aとタンク261との間の配管722に設けられてもよい。
バルブV2は、継手726bと圧力調節器721との間の配管723に設けられてもよい。
バルブV3は、継手726bとガスタンク728との間の配管724に設けられてもよい。
バルブV4は、ガスタンク728と排気ポンプ729との間の配管725に設けられてもよい。
バルブV1〜V4は、その開閉動作によって配管722〜725内のガスの流れを規制してもよい。
バルブV1〜V4は、ソレノイドバルブであってもよい。バルブV1〜V4は、それぞれターゲット生成制御部74と接続されてもよい。
The valve V1 may be provided in a
The valve V2 may be provided in the
The valve V3 may be provided in the
The valve V4 may be provided in a
The valves V1 to V4 may regulate the gas flow in the
The valves V1 to V4 may be solenoid valves. The valves V1 to V4 may be connected to the target
ターゲット生成制御部74は、排気ポンプ729に作動信号又は作動停止信号を出力して、排気ポンプ729の排気動作を制御してもよい。
ターゲット生成制御部74は、バルブV1〜V4にバルブ開信号又はバルブ閉信号をそれぞれ出力して、バルブV1〜V4の開閉動作をそれぞれ制御してもよい。
The target
The target
ターゲット生成制御部74は、ターゲット初期量算出部742を含んでもよい。ターゲット初期量算出部742は、タンク261内に収容されたターゲット27の初期量V0を算出するプログラムであってもよい。
ターゲット生成制御部74は、ターゲット初期量算出部742を用いて、圧力調節機構72の各構成部内やタンク261内の空間Sxの容積及び圧力に基づいて、タンク261内に収容されたターゲット27の初期量V0を算出してもよい。ターゲット生成制御部74は、算出したターゲット27の初期量V0を記憶してもよい。ターゲット生成制御部74は、ターゲット27の初期量V0を算出した時刻を更に対応付けて記憶してもよい。
The target
The target
[7.2 動作]
図14〜図16を用いて、第3実施形態に係るEUV光生成装置1が備えるターゲット残量計測システムの動作について説明する。
第3実施形態に係るEUV光生成装置1が備えるターゲット残量計測システムの動作は、図15及び図16のようにターゲット残量管理処理及びターゲット初期量計測に係る処理が、第2実施形態の動作と異なる。その他の動作は、第2実施形態と同様である。
第2実施形態と同様の動作については説明を省略する。
[7.2 Operation]
The operation of the target remaining amount measurement system provided in the EUV light generation apparatus 1 according to the third embodiment will be described with reference to FIGS.
The operation of the target remaining amount measurement system provided in the EUV light generation apparatus 1 according to the third embodiment is the same as that of the second embodiment with respect to the target remaining amount management process and the process related to the target initial amount measurement as shown in FIGS. Different from operation. Other operations are the same as those in the second embodiment.
Description of operations similar to those of the second embodiment is omitted.
図15を用いて、ターゲット生成制御部74のターゲット残量管理に係る処理について説明する。
ターゲット生成制御部74は、EUV光生成制御部5から出力された、ターゲット残量計測を実行するための制御信号が入力されると、以下の処理を行ってもよい。
With reference to FIG. 15, processing related to target remaining amount management of the target
The target
ステップS11において、ターゲット生成制御部74は、タンク261内に収容されたターゲット27の初期量V0を計測する処理を実行してもよい。
なお、ターゲット27の初期量V0を計測する処理については、図16を用いて後述する。
In step S <b> 11, the target
The process of measuring the initial amount V0 of the
ステップS20において、ターゲット生成制御部74は、ドロップレット出力計算処理の実行開始信号をドロップレット出力計算制御部43に出力してもよい。
当該実行開始信号が入力されたドロップレット出力計算制御部43は、ドロップレット出力計算処理を実行し得る。
第3実施形態のドロップレット出力計算処理は、第2実施形態のドロップレット出力計算処理(図11)又は第2実施形態の変形例のドロップレット出力計算処理(図13)と同様であってもよい。
In step S <b> 20, the target
The droplet output
The droplet output calculation process of the third embodiment may be the same as the droplet output calculation process of the second embodiment (FIG. 11) or the droplet output calculation process of the modification of the second embodiment (FIG. 13). Good.
ステップS30において、ターゲット生成制御部74は、ステップS20で計算したドロップレット271の出力積算量Vsumを読み込んでもよい。
In step S30, the target
ステップS40において、ターゲット生成制御部74は、タンク261に収容されたターゲット27の残量Vresを算出してもよい。
ターゲット生成制御部74は、ステップS10で計測した初期量V0から、ステップS30で読み込んだ出力積算量Vsumを減算することによって、残量Vresを算出してもよい。
In step S <b> 40, the target
The target
ステップS50において、ターゲット生成制御部74は、ステップS40で算出したターゲット27の残量Vresを外部表示装置に表示してもよい。
In step S50, the target
ステップS60において、ターゲット生成制御部74は、ステップS40で算出したターゲット27の残量VresがVLより小さいか否かを判定してもよい。
VLは、図6の説明と同様、タンク261に収容されたターゲット27の残量Vresにおける下限量であってもよい。
ターゲット生成制御部74は、残量Vresが下限量VLより小さくなければステップS20に移行してもよい。一方、ターゲット生成制御部74は、残量Vresが下限量VLより小さければステップS70に移行してもよい。
In step S60, the target
Similarly to the description of FIG. 6, the VL may be a lower limit amount in the remaining amount Vres of the
If the remaining amount Vres is not smaller than the lower limit amount VL, the target
ステップS70において、ターゲット生成制御部74は、タンク261に収容されたターゲット27の残量Vresが少ないことをEUV光生成制御部5に通知してもよい。同時に、ターゲット生成制御部74は、タンク261に収容されたターゲット27の残量Vresが少ないことを外部表示装置に表示してもよい。
In step S <b> 70, the target
図16を用いて、ターゲット生成制御部74のターゲット27の初期量V0を計測する処理について説明する。
A process of measuring the initial amount V0 of the
ステップS1101において、ターゲット生成制御部74は、バルブV1及びバルブV2に閉信号を出力して、バルブV1及びバルブV2を閉じてもよい。加えて、ターゲット生成制御部74は、バルブV3及びバルブV4に開信号を出力して、バルブV3及びバルブV4を開いてもよい。
バルブV1よりタンク261側の配管722及びバルブV2より圧力調節器721側の配管723を除く配管722〜725、圧力センサ727、並びにガスタンク728は、排気ポンプ729と連通し得る。
In step S1101, the target
The
ステップS1102において、ターゲット生成制御部74は、排気ポンプ729に作動信号を出力して、排気ポンプ729の排気動作を作動させてもよい。
バルブV1よりタンク261側の配管722及びバルブV2より圧力調節器721側の配管723を除く配管722〜725内の空間、並びにガスタンク728内の空間を、「空間S1」ともいう。
排気ポンプ729ポンプの排気動作により、空間S1のガスが排気され得る。
In step S1102, the target
The space in the
The gas in the space S1 can be exhausted by the exhaust operation of the
ステップS1103において、ターゲット生成制御部74は、圧力センサ727の検出値PがPLより小さいか否かを判定してもよい。
PLは、真空状態に近い圧力値であってもよい。PLは、例えば1hPa程度であってもよい。
ターゲット生成制御部74は、圧力センサ727の検出値PがPLより小さくなければ待機してもよい。一方、ターゲット生成制御部74は、圧力センサ727の検出値PがPLより小さくなればステップS1104に移行してもよい。
ステップS1102で内部のガスが排気された空間S1の圧力が、真空状態に近い圧力まで減圧され得る。
In step S1103, the target
PL may be a pressure value close to a vacuum state. The PL may be about 1 hPa, for example.
The target
The pressure in the space S1 from which the internal gas is exhausted in step S1102 can be reduced to a pressure close to a vacuum state.
ステップS1104において、ターゲット生成制御部74は、バルブV1に開信号を出力して、バルブV1を開いてもよい。
バルブV1よりタンク261側の配管722内の空間、及びタンク261内の空間Sxを、「空間S2」ともいう。
ステップS1103で減圧された空間S1の圧力と空間S2の圧力との圧力差によって、空間S2のガスが、空間S1を介して排気され得る。
In step S1104, the target
The space in the
The gas in the space S2 can be exhausted through the space S1 due to the pressure difference between the pressure in the space S1 decompressed in step S1103 and the pressure in the space S2.
ステップS1105において、ターゲット生成制御部74は、圧力センサ727の検出値PがPLより小さいか否かを判定してもよい。
ターゲット生成制御部74は、圧力センサ727の検出値PがPLより小さくなければ待機してもよい。一方、ターゲット生成制御部74は、圧力センサ727の検出値PがPLより小さくなればステップS1106に移行してもよい。
ステップS1104で排気された空間S1及び空間S2の圧力が、真空状態に近い圧力まで減圧され得る。
In step S1105, the target
The target
The pressure in the space S1 and the space S2 exhausted in step S1104 can be reduced to a pressure close to a vacuum state.
ステップS1106において、ターゲット生成制御部74は、バルブV3に閉信号を出力して、バルブV3を閉じてもよい。
バルブV1より継手726a側の配管722内の空間、バルブV2より継手726a側の配管723内の空間、及びバルブV3より圧力センサ727側の配管724内の空間を、「空間S3」ともいう。
バルブV3を閉じることにより、空間S2及び空間S3が、真空状態に近い圧力のまま密閉され得る。
更に、ターゲット生成制御部74は、バルブV4に閉信号を出力して、バルブV4を閉じてもよい。
バルブV3よりガスタンク728側の配管724内の空間、及びガスタンク728内の空間を、「空間S4」ともいう。
バルブV4を閉じることにより、空間S4が、真空状態に近い圧力のまま密閉され得る。
In step S1106, the target
The space in the
By closing the valve V3, the space S2 and the space S3 can be sealed with a pressure close to a vacuum state.
Further, the target
The space in the
By closing the valve V4, the space S4 can be sealed with a pressure close to a vacuum state.
ステップS1107において、ターゲット生成制御部74は、排気ポンプ729に作動停止信号を出力して、排気ポンプ729の排気動作を停止してもよい。
In step S1107, the target
ステップS1108において、ターゲット生成制御部74は、圧力調節器721に圧力設定値P1を設定してもよい。圧力調節器721は、圧力設定値P1に相当する不活性ガスをガスボンベ9から給気し得る。
圧力設定値P1は、PLよりも十分に大きい圧力の値であってもよい。P1は、例えば1013hPa程度であってもよい。
In step S1108, the target
The pressure set value P1 may be a pressure value sufficiently larger than PL. P1 may be about 1013 hPa, for example.
ステップS1109において、ターゲット生成制御部74は、バルブV2に開信号を出力して、バルブV2を開いてもよい。
バルブV2より圧力調節器721側の配管723及び圧力調節器721と、ステップS1106で密閉された空間S2及び空間S3とが連通し得る。
これにより、圧力調節器721は、空間S2及び空間S3の圧力が圧力値P1となるまで、不活性ガスを空間S2及び空間S3に給気し得る。
In step S1109, the target
The piping 723 and the
Thereby, the
ステップS1110において、ターゲット生成制御部74は、圧力センサ727の検出値Pが、ステップS1109で給気された不活性ガスの圧力値P1と同等になったか否かを判定してもよい。
ターゲット生成制御部74は、圧力センサ727の検出値Pが不活性ガスの圧力値P1と同等でなければ待機してもよい。一方、ターゲット生成制御部74は、圧力センサ727の検出値Pが不活性ガスの圧力値P1と同等になればステップS1111に移行してもよい。
ステップS1109で圧力調節器721と連通した空間S2及び空間S3の圧力が、ステップS1108で圧力調節器721に設定された不活性ガスの圧力値P1まで加圧され得る。
In step S1110, the target
The target
The pressure in the space S2 and the space S3 communicated with the
ステップS1111において、ターゲット生成制御部74は、バルブV2に閉信号を出力して、バルブV2を閉じてもよい。
ステップS1110において加圧された空間S2及び空間S3が、圧力値P1のまま密閉され得る。
In step S1111, the target
The space S2 and the space S3 pressurized in step S1110 can be sealed with the pressure value P1.
ステップS1112において、ターゲット生成制御部74は、圧力センサ727の検出値Pを読み込むと共に、読み込んだ検出値PをP2として記憶してもよい。
ステップS1111で密閉された空間S2及び空間S3の圧力が、圧力値P2として記憶され得る。
In step S1112, the target
The pressures in the space S2 and the space S3 sealed in step S1111 can be stored as the pressure value P2.
ステップS1113において、ターゲット生成制御部74は、バルブV3に開信号を出力して、バルブV3を開いてもよい。
ステップS1111で密閉された空間S2及び空間S3と、ステップS1106で密閉された空間S4とが連通し得る。
ステップS1111で密閉された空間S2及び空間S3から、ステップS1106で密閉された空間S4に、その圧力差によって不活性ガスが流入し得る。そして、空間S2及び空間S3の圧力と空間S4の圧力とは、圧力値P2よりも低い圧力で平衡状態となり得る。
In step S1113, the target
The space S2 and the space S3 sealed in step S1111 can communicate with the space S4 sealed in step S1106.
An inert gas can flow into the space S4 sealed in step S1106 from the spaces S2 and S3 sealed in step S1111 due to the pressure difference. The pressure in the space S2 and the space S3 and the pressure in the space S4 can be in an equilibrium state at a pressure lower than the pressure value P2.
ステップS1114において、ターゲット生成制御部74は、圧力センサ727の検出値Pを読み込むと共に、読み込んだ検出値PをP3として記憶してもよい。
ステップS1113で連通した空間S2〜S4の圧力が、圧力値P3として記憶され得る。
In step S1114, the target
The pressure in the spaces S2 to S4 communicated in step S1113 can be stored as the pressure value P3.
ステップS1115において、ターゲット生成制御部74は、空間S2及び空間S3の容積Vxを算出してもよい。
ターゲット生成制御部74は、空間S2及び空間S3内の容積Vxを次式から算出してもよい。
Vx=P3・Vg/(P2−P3)
Vgは、空間S4の容積であってもよい。P2及びP3は、ステップS1112及びステップS1114で読み込んだ圧力値であってもよい。
なお、ターゲット生成制御部74は、断熱膨張の式(PVγ=一定)からVxを算出してもよい。
In step S1115, the target
The target
Vx = P3 · Vg / (P2-P3)
Vg may be the volume of the space S4. P2 and P3 may be the pressure values read in step S1112 and step S1114.
The target
ステップS1116において、ターゲット生成制御部74は、ステップS1115で算出した容積Vxと所定値Vinとに基づいて、ターゲット27の初期量V0を算出してもよい。
所定値Vinは、バルブV1よりタンク261側の配管722内の空間、タンク261内の全収容空間、及び空間S3の容積である。Vinは、予め算出されてもよい。
ターゲット生成制御部74は、初期量V0を次式から算出してもよい。
V0=Vin−Vx
右辺(Vin−Vx)は、前回のターゲット残量管理処理において算出した残量Vresに相当し得る。
In step S1116, the target
The predetermined value Vin is the space in the
The target
V0 = Vin−Vx
The right side (Vin−Vx) may correspond to the remaining amount Vres calculated in the previous target remaining amount management process.
ステップS1117において、ターゲット生成制御部74は、バルブV3に閉信号を出力して、バルブV3を閉じてもよい。
空間S2及び空間S3と、空間S4との連通を遮断し、ガスタンク728への不活性ガスの流れを遮断し得る。
更に、ターゲット生成制御部74は、バルブV1及びバルブV2に開信号を出力して、バルブV1及びバルブV2を開いてもよい。
圧力調節器721と、空間S2及び空間S3とが連通し得る。
以上の処理以降、ターゲット27をチャンバ2内へ供給する場合は、圧力調節器721に圧力値を設定してもよい。これによって、タンク261に収容されたターゲット27が、設定圧力で加圧され得る。加圧されたターゲット27は、ノズル262を介してチャンバ2内へ供給され得る。
In step S1117, the target
The communication between the space S2 and the space S3 and the space S4 can be cut off, and the flow of the inert gas to the
Furthermore, the target
The
After the above processing, when supplying the
[7.3 作用]
第3実施形態では、ターゲット27の初期量V0を実際に計測した値を用いて、ターゲット27の残量Vresを算出(図15のステップS40)し得る。
このため、第3実施形態では、第1実施形態及び第2実施形態と比べて、ターゲット27の残量Vresをより正確に計測し得る。
[7.3 Action]
In the third embodiment, the remaining amount Vres of the
For this reason, in 3rd Embodiment, the residual amount Vres of the
[8.その他]
[8.1 各制御部のハードウェア環境]
当業者は、汎用コンピュータまたはプログラマブルコントローラにプログラムモジュールまたはソフトウェアアプリケーションを組み合わせて、ここに述べられる主題が実行されることを理解するだろう。一般的に、プログラムモジュールは、本開示に記載されるプロセスを実行できるルーチン、プログラム、コンポーネント、データストラクチャー等を含む。
[8. Others]
[8.1 Hardware environment of each control unit]
Those skilled in the art will appreciate that the subject matter described herein can be implemented by combining program modules or software applications with a general purpose computer or programmable controller. Generally, program modules include routines, programs, components, data structures, etc. that can perform the processes described in this disclosure.
図17は、開示される主題の様々な側面が実行され得る例示的なハードウェア環境を示すブロック図である。図17の例示的なハードウェア環境100は、処理ユニット1000と、ストレージユニット1005と、ユーザインターフェイス1010と、パラレルI/Oコントローラ1020と、シリアルI/Oコントローラ1030と、A/D、D/Aコンバータ1040とを含んでもよいが、ハードウェア環境100の構成は、これに限定されない。
FIG. 17 is a block diagram illustrating an example hardware environment in which various aspects of the disclosed subject matter may be implemented. The
処理ユニット1000は、中央処理ユニット(CPU)1001と、メモリ1002と、タイマ1003と、画像処理ユニット(GPU)1004とを含んでもよい。メモリ1002は、ランダムアクセスメモリ(RAM)とリードオンリーメモリ(ROM)とを含んでもよい。CPU1001は、市販のプロセッサのいずれでもよい。デュアルマイクロプロセッサや他のマルチプロセッサアーキテクチャが、CPU1001として使用されてもよい。
The
図17におけるこれらの構成物は、本開示において記載されるプロセスを実行するために、相互に接続されていてもよい。 These components in FIG. 17 may be interconnected to perform the processes described in this disclosure.
動作において、処理ユニット1000は、ストレージユニット1005に保存されたプログラムを読み込んで、実行してもよい、また、処理ユニット1000は、ストレージユニット1005からプログラムと一緒にデータを読み込んでもよい、また、処理ユニット1000は、ストレージユニット1005にデータを書き込んでもよい。CPU1001は、ストレージユニット1005から読み込んだプログラムを実行してもよい。メモリ1002は、CPU1001によって実行されるプログラムおよびCPU1001の動作に使用されるデータを、一時的に保管する作業領域であってもよい。タイマ1003は、時間間隔を計測して、プログラムの実行に従ってCPU1001に計測結果を出力してもよい。GPU1004は、ストレージユニット1005から読み込まれるプログラムに従って、画像データを処理し、処理結果をCPU1001に出力してもよい。
In operation, the
パラレルI/Oコントローラ1020は、EUV光生成制御部5、レーザ光進行方向制御部34、ターゲット生成制御部74、温度制御部714、ドロップレット出力計算制御部43、イメージセンサ412a、及び画像取得制御部413等の、処理ユニット1000と通信可能なパラレルI/Oデバイスに接続されてもよく、処理ユニット1000とそれらパラレルI/Oデバイスとの間の通信を制御してもよい。シリアルI/Oコントローラ1030は、ヒータ電源712、ピエゾ電源732、圧力調節器721、カウンタ回路423、光源411a、光源421a、DC電圧電源734、パルス電圧電源736、及び排気ポンプ729等の、処理ユニット1000と通信可能なシリアルI/Oデバイスに接続されてもよく、処理ユニット1000とそれらシリアルI/Oデバイスとの間の通信を制御してもよい。A/D、D/Aコンバータ1040は、アナログポートを介して、温度センサや圧力センサ、真空計各種センサ、ターゲットセンサ4、光センサ422a、及び液面レベルセンサ8等のアナログデバイスに接続されてもよく、処理ユニット1000とそれらアナログデバイスとの間の通信を制御したり、通信内容のA/D、D/A変換を行ってもよい。
The parallel I /
ユーザインターフェイス1010は、操作者が処理ユニット1000にプログラムの停止や、割込みルーチンの実行を指示できるように、処理ユニット1000によって実行されるプログラムの進捗を操作者に表示してもよい。
The user interface 1010 may display to the operator the progress of the program executed by the
例示的なハードウェア環境100は、本開示におけるEUV光生成制御部5、レーザ光進行方向制御部34、ターゲット生成制御部74、温度制御部714、ドロップレット出力計算制御部43、及び画像取得制御部413の構成に適用されてもよい。当業者は、それらのコントローラが分散コンピューティング環境、すなわち、通信ネットワークを介して繋がっている処理ユニットによってタスクが実行される環境において実現されてもよいことを理解するだろう。本開示において、EUV光生成制御部5、レーザ光進行方向制御部34、ターゲット生成制御部74、温度制御部714、ドロップレット出力計算制御部43、及び画像取得制御部413は、イーサネットやインターネットといった通信ネットワークを介して互いに接続されてもよい。分散コンピューティング環境において、プログラムモジュールは、ローカルおよびリモート両方のメモリストレージデバイスに保存されてもよい。
The
[8.2 光センサの電気回路]
ドロップレットカウンタ部42の受光部422に含まれる光センサ422aは、図18に示すような電気回路で構成されてもよい。
光センサ422aは、フォトダイオードと、増幅器と、コンパレータとを組み合わせた回路であってもよい。
光源部421から出射された連続レーザ光がドロップレット271に照射された場合、フォトダイオードで受光される光量は、連続レーザ光のみを受光した場合の光量に比べてドロップレット271の影の影響で低くなり得る。このため、フォトダイオードで光電変換され増幅器から出力された出力信号Vpは、基準電位Vsより低くてもよい。
一方、光源部421から出射された連続レーザ光がドロップレット271に照射されていないとき、フォトダイオードで光電変換され増幅器から出力された出力信号Vpは、基準電位Vsより高くてもよい。
コンパレータから出力される検出信号Vcは、出力信号Vpが基準電位Vsより高い電位であれば、ローレベルの電位Vlであり得る。
コンパレータから出力される検出信号Vcは、出力信号Vpが基準電位Vsより低い電位になると、ハイレベルの電位Vhとなり得る。
コンパレータと接続されたカウンタ回路423は、ハイレベルの電位Vhのときにドロップレット271が出力されたとして、ドロップレット271の個数Nをカウントし得る。
[8.2 Electrical circuit of optical sensor]
The
The
When the continuous laser beam emitted from the light source unit 421 is irradiated on the
On the other hand, when the
The detection signal Vc output from the comparator can be a low-level potential Vl if the output signal Vp is a potential higher than the reference potential Vs.
The detection signal Vc output from the comparator can be a high-level potential Vh when the output signal Vp is lower than the reference potential Vs.
The
[8.3 その他の変形例]
ドロップレット画像計測部41は、イメージセンサ412aの撮像時間Δtが光源411aの点灯時間Δτと同程度であれば、光源411aから連続レーザ光を出力させてもよい。
ドロップレット画像計測部41は、光源部411と撮像部412とをターゲット進行経路272を挟んで対向させなくてもよい。例えば、光源部411のウインドウ411cと撮像部412のウインドウ412cとが同じ方向を向くように配置してもよい。撮像部412は、ドロップレット271の影ではなくドロップレット271からの反射光を撮像し得る。光源部411のウインドウ411cと撮像部412のウインドウ412cとの配置は、ドロップレット271からの反射光を撮像し得る配置であればよい。
[8.3 Other Modifications]
The droplet image measurement unit 41 may output continuous laser light from the
The droplet image measurement unit 41 may not make the light source unit 411 and the imaging unit 412 face each other across the
ドロップレットカウンタ部42は、光源部421と受光部422とをターゲット進行経路272を挟んで対向させなくてもよい。例えば、光源部421のウインドウ421cと受光部422のウインドウ422cとが同じ方向を向くように配置してもよい。受光部422は、ドロップレット271からの反射光を検出し得る。光源部421のウインドウ421cと受光部422のウインドウ422cとの配置は、ドロップレット271からの反射光を検出し得る配置であればよい。
The droplet counter unit 42 may not face the light source unit 421 and the light receiving unit 422 across the
イメージセンサ412aのシャッタ開閉を制御するシャッタ信号は、ドロップレット出力計算制御部43が出力するのではなく、画像取得制御部413が出力してもよい。
The shutter signal for controlling the opening and closing of the shutter of the
ドロップレット出力計算処理(図7、図11、図13)は、ターゲット残量管理処理(図6、図15)の一環として実行されなくてもよい。ドロップレット出力計算制御部43は、ターゲット生成制御部74からの実行開始信号によらず、独自にドロップレット出力計算処理を実行してもよい。
The droplet output calculation process (FIGS. 7, 11, and 13) may not be executed as part of the remaining target amount management process (FIGS. 6 and 15). The droplet output
EUV光生成制御部5、ターゲット生成制御部74、温度制御部714、ドロップレット出力計算制御部43、及び画像取得制御部413は、その一部又は全部を組み合わせて一体の制御部として構成されてもよい。
The EUV light
上記で説明した実施形態は、変形例を含めて各実施形態同士で互いの技術を適用し得ることは、当業者には明らかであろう。 It will be apparent to those skilled in the art that the embodiments described above can apply each other's techniques to each other, including modifications.
例えば、第1実施形態のEUV光生成装置1が備えるドロップレットカウンタ部42を、第3実施形態のEUV光生成装置1に適用してもよい。このとき、第3実施形態のドロップレット出力計算制御部43が行うドロップレット出力計算処理は、第1実施形態のドロップレット出力計算処理(図7)を適用し得る。
For example, the droplet counter unit 42 included in the EUV light generation apparatus 1 of the first embodiment may be applied to the EUV light generation apparatus 1 of the third embodiment. At this time, the droplet output calculation process (FIG. 7) of the first embodiment can be applied to the droplet output calculation process performed by the droplet output
第1〜第3実施形態のドロップレット形成機構73は、コンティニュアスジェット方式を用いたが、第1実施形態の変形例で用いた静電引出し方式を用いてもよい。
Although the
第3実施形態の圧力調節機構72を、第1及び第2実施形態のEUV光生成装置1に適用してもよい。ターゲット27の初期量V0が実測に基づいて求められるため、タンク261に収容されたターゲット27の残量Vresをより正確に算出し得る。
The
第1〜第3実施形態のEUV光生成装置1は、ドロップレット画像計測部41を用いて残量Vresを計測するだけではなく、液面レベルセンサ8とも併用して残量Vresを計測してもよい。 The EUV light generation apparatus 1 of the first to third embodiments not only measures the remaining amount Vres using the droplet image measurement unit 41 but also measures the remaining amount Vres in combination with the liquid level sensor 8. Also good.
上記の説明は、制限ではなく単なる例示を意図したものである。従って、添付の特許請求の範囲を逸脱することなく本開示の実施形態に変更を加えることができることは、当業者には明らかであろう。 The above description is intended to be illustrative only and not limiting. Thus, it will be apparent to one skilled in the art that modifications may be made to the embodiments of the present disclosure without departing from the scope of the appended claims.
本明細書及び添付の特許請求の範囲全体で使用される用語は、「限定的でない」用語と解釈されるべきである。例えば、「含む」又は「含まれる」という用語は、「含まれるものとして記載されたものに限定されない」と解釈されるべきである。「有する」という用語は、「有するものとして記載されたものに限定されない」と解釈されるべきである。また、本明細書、及び添付の特許請求の範囲に記載される不定冠詞「1つの」は、「少なくとも1つ」又は「1又はそれ以上」を意味すると解釈されるべきである。 Terms used throughout this specification and the appended claims should be construed as "non-limiting" terms. For example, the terms “include” or “included” should be interpreted as “not limited to those described as included”. The term “comprising” should be interpreted as “not limited to what is described as having”. Also, the indefinite article “a” or “an” in the specification and the appended claims should be interpreted to mean “at least one” or “one or more”.
1 …EUV光生成装置
2 …チャンバ
26 …ターゲット供給部
261 …タンク
27 …ターゲット
271 …ドロップレット
41 …ドロップレット画像計測部
412 …撮像部
42 …ドロップレットカウンタ部
43 …ドロップレット出力計算制御部(controller)
431 …ドロップレット直径算出部
5 …EUV光生成制御部(controller)
7 …ターゲット生成装置
72 …圧力調節機構
74 …ターゲット生成制御部(controller)
741 …ターゲット残量算出部
742 …ターゲット初期量算出部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... EUV
431 ... droplet
7 ...
741 ... Target remaining amount calculation unit 742 ... Target initial amount calculation unit
Claims (3)
前記出力された隣り合う2つのドロップレットの像が重なることのない撮像時間で、繰り返しドロップレットの撮像を行う撮像部を備え、
前記ドロップレットの進行方向における前記2つのドロップレットの像の距離をdとし前記ドロップレットの進行速度をvとすると、
前記撮像部の1回の撮像時間Δtが、Δt<d/vであり、
前記ドロップレットの進行方向における前記撮像部の撮像範囲の長さをAとすると、
前記撮像部の1回の撮像時間Δtが、Δt>(d−A)/vの関係を満たすように設定されるチャンバと、
前記チャンバ内でレーザ光が照射されると極端紫外光を生成するターゲットを収容し、該ターゲットを前記ドロップレットとして前記チャンバ内へ出力するターゲット生成装置と、
前記チャンバ内に出力され前記撮像部で撮像された前記ドロップレットの画像データを計測するドロップレット画像計測部と、
前記画像データに基づいて前記ドロップレットの直径を算出するドロップレット直径算出部と、
前記チャンバ内に出力された前記ドロップレットの出力積算量を前記直径に基づいて計算するドロップレット出力計算制御部と、
前記ドロップレットを前記チャンバ内へ出力する前に前記ターゲット生成装置に収容された前記ターゲットの初期量と前記出力積算量とに基づいて、前記ターゲット生成装置に収容された前記ターゲットの残量を算出するターゲット残量算出部と、
を備える極端紫外光生成装置。 A chamber in which droplets are sequentially output,
An imaging unit that repeatedly images the droplets in an imaging time in which the images of the two adjacent droplets that are output do not overlap;
When the distance between the images of the two droplets in the traveling direction of the droplet is d and the traveling speed of the droplet is v,
One imaging time Δt of the imaging unit is Δt <d / v,
When the length of the imaging range of the imaging unit in the traveling direction of the droplet is A,
A chamber set so that one imaging time Δt of the imaging unit satisfies a relationship of Δt> (d−A) / v;
A target generating device that accommodates a target that generates extreme ultraviolet light when irradiated with laser light in the chamber, and outputs the target as the droplet into the chamber;
A droplet image measurement unit that measures the image data of the droplet output to the chamber and imaged by the imaging unit;
A droplet diameter calculation unit for calculating the diameter of the droplet based on the image data;
A droplet output calculation control unit that calculates an integrated output amount of the droplets output into the chamber based on the diameter;
Calculate the remaining amount of the target accommodated in the target generation device based on the initial amount of the target accommodated in the target generation device and the integrated output amount before outputting the droplet into the chamber. A target remaining amount calculation unit to perform,
Bei example Ru extremes ultraviolet light generating apparatus.
前記ドロップレット出力計算制御部は、前記ドロップレットの個数と前記直径とに基づいて前記出力積算量を計算する
請求項1に記載の極端紫外光生成装置。 A droplet counter unit that counts the number of droplets output into the chamber;
The extreme ultraviolet light generation device according to claim 1 , wherein the droplet output calculation control unit calculates the output integrated amount based on the number of the droplets and the diameter.
前記ターゲットを収容するタンクと、
前記タンク内へガスを給気すると共に前記タンク内の圧力を調節する圧力調節機構と、
前記ターゲットが収容された前記タンク内に前記ガスが給気された後の該タンク内の圧力に基づいて前記初期量を算出するターゲット初期量算出部と、
を備える
請求項1に記載の極端紫外光生成装置。 The target generator is
A tank containing the target;
A pressure adjusting mechanism for supplying gas into the tank and adjusting the pressure in the tank;
A target initial amount calculation unit that calculates the initial amount based on the pressure in the tank after the gas is supplied into the tank in which the target is accommodated;
The extreme ultraviolet light generation device according to claim 1 .
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013046932A JP6168797B2 (en) | 2013-03-08 | 2013-03-08 | Extreme ultraviolet light generator |
US14/201,327 US9538629B2 (en) | 2013-03-08 | 2014-03-07 | Chamber for extreme ultraviolet light generation apparatus, and extreme ultraviolet light generation apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013046932A JP6168797B2 (en) | 2013-03-08 | 2013-03-08 | Extreme ultraviolet light generator |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014175474A JP2014175474A (en) | 2014-09-22 |
JP6168797B2 true JP6168797B2 (en) | 2017-07-26 |
Family
ID=51487382
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013046932A Active JP6168797B2 (en) | 2013-03-08 | 2013-03-08 | Extreme ultraviolet light generator |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9538629B2 (en) |
JP (1) | JP6168797B2 (en) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10723497B2 (en) * | 2014-11-03 | 2020-07-28 | Vanrx Pharmasystems Inc. | Apparatus and method for monitoring and controlling the filling of a container with a pharmaceutical fluid in an aseptic environment |
WO2014189055A1 (en) * | 2013-05-21 | 2014-11-27 | ギガフォトン株式会社 | Extreme ultraviolet light generating apparatus |
WO2016147255A1 (en) | 2015-03-13 | 2016-09-22 | ギガフォトン株式会社 | Target image-capture device and extreme-ultraviolet-light generation device |
US9678431B2 (en) | 2015-03-16 | 2017-06-13 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | EUV lithography system and method with optimized throughput and stability |
WO2017130323A1 (en) * | 2016-01-27 | 2017-08-03 | ギガフォトン株式会社 | Target supply device and extreme ultraviolet light generating device |
JP6237825B2 (en) * | 2016-05-27 | 2017-11-29 | ウシオ電機株式会社 | High temperature plasma raw material supply device and extreme ultraviolet light source device |
WO2017208340A1 (en) | 2016-05-31 | 2017-12-07 | ギガフォトン株式会社 | Extreme ultraviolet light generation device and method for controlling extreme ultraviolet light generation device |
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Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20060255298A1 (en) | 2005-02-25 | 2006-11-16 | Cymer, Inc. | Laser produced plasma EUV light source with pre-pulse |
US7378673B2 (en) | 2005-02-25 | 2008-05-27 | Cymer, Inc. | Source material dispenser for EUV light source |
US7405416B2 (en) | 2005-02-25 | 2008-07-29 | Cymer, Inc. | Method and apparatus for EUV plasma source target delivery |
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JP5856898B2 (en) * | 2011-06-02 | 2016-02-10 | ギガフォトン株式会社 | Extreme ultraviolet light generation apparatus and extreme ultraviolet light generation method |
JP5846572B2 (en) * | 2011-07-27 | 2016-01-20 | ギガフォトン株式会社 | Chamber apparatus, extreme ultraviolet light generation apparatus, and control method of extreme ultraviolet light generation apparatus |
-
2013
- 2013-03-08 JP JP2013046932A patent/JP6168797B2/en active Active
-
2014
- 2014-03-07 US US14/201,327 patent/US9538629B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9538629B2 (en) | 2017-01-03 |
US20140253716A1 (en) | 2014-09-11 |
JP2014175474A (en) | 2014-09-22 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
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|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A601 | Written request for extension of time |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R250 | Receipt of annual fees |
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