JP6164057B2

JP6164057B2 - 電波反射箱および電波反射箱の遅延スプレッド制御方法

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Publication number: JP6164057B2
Application number: JP2013235207A
Authority: JP
Inventors: 浩志北田
Original assignee: Murata Manufacturing Co Ltd
Current assignee: Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date: 2013-11-13
Filing date: 2013-11-13
Publication date: 2017-07-19
Anticipated expiration: 2033-11-13
Also published as: JP2015094709A

Description

本発明は、例えば被試験器の電磁波環境試験等に用いる電波反射箱および電波反射箱の遅延スプレッド制御方法に関する。

一般に、電波反射箱は、導体金属製の箱体と、箱体の内部に設けた攪拌装置とによって構成される。このような電波反射箱は、攪拌装置によって境界条件を変化させて箱体の内部に多数のモード分布を生じさせ、統計的に均一な電界分布を発生させる（例えば、特許文献１参照）。

特開２０１２−１２７６６７号公報

ところで、特許文献１には、電波反射箱内に例えば電波吸収体のような損失性媒質を１箇所に設け、損失性媒質の露出面積を調整することで、遅延スプレッド（遅延広がり）の制御を行う構成が開示されている。このとき、損失性媒質の露出面積を５通りまたは１０通り変化させて、周波数毎に遅延スプレッドをそれぞれ測定し、これにより、遅延スプレッドと損失性媒質の露出面積との関係（近似式）を求めている。

しかしながら、特許文献１の電波反射箱では、損失性媒質を電波反射箱内の１箇所だけに設けているから、電波の分布に偏りが生じ易く、被試験器の設置位置で等方性の環境を維持するのが難しい傾向がある。また、特許文献１の図１３に示すように、遅延スプレッドと損失性媒質の露出面積とは、非線形な関係になっている。このため、これらの関係を把握して近似式を取得するためには、例えば損失性媒質の露出面積を５通り以上変化させて、周波数毎に遅延スプレッドをそれぞれ測定する必要があり、近似式の取得に必要な時間が長くなるという問題がある。

本発明は上述した従来技術の問題に鑑みなされたもので、本発明の目的は、等方性環境を形成可能で、簡易な操作で遅延スプレッドを調整することができる電波反射箱および電波反射箱の遅延スプレッド制御方法を提供することにある。

上述した課題を解決するために、請求項１の発明は、内面が電波反射性材料からなる箱体と、前記箱体の内部に設けられ多数のモード分布を得る攪拌装置と、前記箱体の内部に設けられ平板状をなす電波吸収体とを備えた電波反射箱であって、前記箱体の内面には、予め決められた所定面積の電波吸収体を予め決められた所定間隔で複数枚設け、前記電波吸収体の枚数を変化させて測定した遅延スプレッドの測定結果に基づいて、複数枚の前記電波吸収体の面積の合計値を対数にしたものと遅延スプレッドとの関係を示す回帰直線を求め、前記回帰直線に基づいて、所望の遅延スプレッドが得られる前記電波吸収体の面積の合計値を特定し、特定した合計値となる枚数の前記電波吸収体を前記箱体の内面に設ける構成としている。

請求項２の発明では、前記箱体の内面には、縦方向と横方向に対して前記所定間隔をもって離間して複数枚の前記電波吸収体を設けている。

請求項３の発明では、前記箱体は、複数の前記内面によって内部空間が画成され、複数枚の前記電波吸収体は、複数の前記内面に設けている。

請求項４の発明は、内面が電波反射性材料からなる箱体と、前記箱体の内部に設けられ多数のモード分布を得る攪拌装置と、前記箱体の内部に設けられ平板状をなす電波吸収体とを備えた電波反射箱の遅延スプレッド制御方法であって、前記箱体の内面には、予め決められた所定面積の電波吸収体を予め決められた所定間隔で複数枚設けて、第１の遅延スプレッドを測定し、前記箱体の内面には、前記所定面積の電波吸収体を前記所定間隔で前記第１の遅延スプレッドを測定したときと異なる枚数設けて、第２の遅延スプレッドを測定し、前記第１の遅延スプレッドの測定結果と前記第２の遅延スプレッドの測定結果とに基づいて、複数枚の前記電波吸収体の面積の合計値を対数にしたものと遅延スプレッドとの関係を示す回帰直線を求め、前記回帰直線に基づいて、所望の遅延スプレッドが得られる前記電波吸収体の面積の合計値を特定し、特定した合計値となる枚数の前記電波吸収体を前記箱体の内面に設ける構成としている。

請求項１，４の発明によれば、箱体の内面には、所定面積の電波吸収体を所定間隔で複数枚設けると共に、電波吸収体の枚数を変化させて遅延スプレッドをそれぞれ測定する。ここで、発明者等が鋭意検討した結果、電波吸収体の面積と間隔を一定に保つと、複数枚の電波吸収体の面積の合計値を対数にしたものと、遅延スプレッドとの間には、ほぼ比例した関係が成り立つことを見出した。このため、電波吸収体の面積と間隔を一定に保持しつつ、電波吸収体の枚数を少なくとも２通り変化させるだけで、遅延スプレッドと複数枚の電波吸収体の面積の合計値との関係を、直線回帰によって求めることができる。この結果、回帰直線から所望の遅延スプレッドが得られる電波吸収体の面積の合計値を特定することができるから、特定した合計値となる枚数の電波吸収体を箱体の内面に設けることによって、遅延スプレッドを所望の値に調整することができる。

また、電波吸収体は所定間隔を空けて箱体の内面に設けるから、１箇所だけに集中して設けた場合に比べて、広い範囲に亘って電波吸収体を配置することができる。このため、電波分布の偏りを緩和することができ、被試験器の設置位置を等方性の環境に近付けることができる。

請求項２の発明によれば、箱体の内面には、縦方向と横方向に対して所定間隔をもって離間して複数枚の電波吸収体を設ける。このため、箱体の内面には、平面状に広がってほぼ均等な密度で複数枚の電波吸収体を配置することができ、電波分布の偏りを抑えることができる。

請求項３の発明によれば、複数枚の電波吸収体は複数の内面に設けたから、１面だけに設けた場合に比べて、電波分布の偏りを抑えて、被試験器の設置位置を等方性の環境に近付けることができる。

本発明の遅延スプレッド制御方法が適用される電波反射箱を、天井面を省いた状態で示す斜視図である。図１中の電波反射箱を示す縦断面図である。電波反射箱を図２中の矢示III−III方向からみた断面図である。電波反射箱の遅延スプレッド制御方法を示す流れ図である。箱体の１面の内面に合計８枚の電波吸収体を貼り付けた状態を示す模式図である。箱体の２面の内面に合計３２枚の電波吸収体を貼り付けた状態を示す模式図である。箱体の４面の内面に合計３６枚の電波吸収体を貼り付けた状態を示す模式図である。電波吸収体の面積の合計値と遅延スプレッドとの関係を示す特性線図である。

以下、本発明の実施の形態による電波反射箱の遅延スプレッド制御方法について添付図面に従って詳細に説明する。

図１ないし図３に、本発明による遅延スプレッド制御方法が適用される電波反射箱１を示す。電波反射箱１は、箱体２および攪拌装置９を備える。箱体２は、例えば直方体状に形成され、前，後，左，右の壁面２Ａ〜２Ｄ、床面２Ｅおよび天井面２Ｆの６面の内面を有している。これらの壁面２Ａ〜２Ｄ、床面２Ｅおよび天井面２Ｆは、例えば導電性金属材料によって形成されている。これにより、箱体２は、外部からの電磁波を遮断すると共に、内部の電磁波を反射する。

箱体２の前側の壁面２Ａには、開，閉可能な扉３が設けられる。この扉３も、壁面２Ａと同じ材料を用いて形成される。扉３を開くことにより、電波反射箱１内に被試験器（ＥＵＴ：Equipment Under Test）等の設置や交換を行うことができる。

箱体２の床面２Ｅには、左，右方向の一側（図２中の左側）に位置してターンテーブル４が設けられている。例えば携帯電話等の被試験器（図示せず）の電磁波環境試験を行うときには、ターンテーブル４上に被試験器が載置される。ターンテーブル４は、被試験器と一緒に、上，下方向に延びる回転軸Ｏを中心に任意の設定した速度で回転する。また、電波反射箱１の遅延スプレッドを測定するときには、ターンテーブル４上に基準アンテナ５が設置される。

基準アンテナ５は、例えばディスコーンアンテナ、標準ダイポールアンテナ等の基準アンテナによって構成される。この基準アンテナ５は、測定用アンテナ６Ａから放射された電磁波を受信する。なお、基準アンテナ５は、その位置が変更可能となるように、アンテナポジショナ（図示せず）に取付けてもよい。

測定用アンテナ装置６は、ターンテーブル４から離れた位置で箱体２の内部に設けられる。具体的には、測定用アンテナ装置６は、箱体２の左，右方向の他側（図２中の右側）に配置される。この測定用アンテナ装置６は、例えば送信可能な周波数帯が同一の複数個（例えば４個）の測定用アンテナ６Ａを備える。これらの測定用アンテナ６Ａは、例えばバイコニカルアンテナ等の広帯域アンテナによって構成され、箱体２の内部に電磁波を放射する。また、測定用アンテナ６Ａは、必要に応じて被試験器から放射される電磁波を受信する。

図２に示すように、測定用アンテナ６Ａおよび基準アンテナ５には、ネットワークアナライザ７が接続される。ネットワークアナライザ７は、基準アンテナ５によって受信した電磁波の電界強度、遅延プロファイル等を測定する。

なお、測定用アンテナ６Ａは、２個または３個設けてもよく、５個以上設けてもよい。また、測定用アンテナ６Ａは、必ずしも複数個設ける必要はなく、例えば測定用アンテナ６Ａを１個だけ設けてもよい。

箱体２の内部には、ターンテーブル４と測定用アンテナ装置６との間に位置して遮蔽部材８が設けられる。遮蔽部材８は、例えば箱体２と同じ導電性金属材料を用いて形成され、測定用アンテナ６Ａからの電磁波が直接的に基準アンテナ５に到達するのを遮断する。遮蔽部材８は、例えばＬ字状に折り曲げたアルミ板からなる衝立であり、前，後方向および左，右方向から傾斜した２枚の板体８Ａを備える。この遮蔽部材８は、箱体２の床面２Ｅに固定され、測定用アンテナ６Ａからの基準アンテナ５に直接向かう電磁波を反射する。これにより、遮蔽部材８は、測定用アンテナ６Ａからの直接的な電磁波（直接波）の受信レベルを減衰させる。なお、直接波の影響が少ない場合には、遮蔽部材８を省いてもよい。

攪拌装置９は、箱体２の天井面２Ｆに設けられ左，右方向に移動する反射板９Ａと、箱体２の右側の壁面２Ｄに設けられ上，下方向に移動する反射板９Ｂとを備える。反射板９Ａは、水平面から傾斜すると共に、スライド機構（図示せず）等によって左，右方向に移動する。一方、反射板９Ｂは、垂直面から傾斜すると共に、スライド機構（図示せず）等によって上，下方向に移動する。

これらの反射板９Ａ，９Ｂは、例えば箱体２と同じ導電性金属材料を用いて形成され、箱体２内の電界を攪拌して激しいフェージングを起こす機能を果たす。この攪拌装置９によって、箱体２の内部に多数のモード分布を得ることができ、例えばレイリーフェージング環境を形成することができる。

電波吸収体１０は、箱体２の壁面２Ａ〜２Ｄ、床面２Ｅおよび天井面２Ｆよりも電磁波の反射率が低下した材料によって平板状に形成される。電波吸収体１０の表面は、平面に限らず、ピラミッド形状、楔形形状等のように、凹凸を持つ形状でもよい。この電波吸収体１０は、電磁波の一部を吸収・反射し、残余を透過させる。

電波吸収体１０は、箱体２の壁面２Ａ〜２Ｄ、床面２Ｅおよび天井面２Ｆに対して、複数枚取り付けられる。このとき、電波吸収体１０は、着脱可能な手段によって箱体２に取り付けられる。なお、電波吸収体１０を箱体２に固定的に取り付け、不要な電波吸収体１０を例えば導電性の金属板等によって覆ってもよい。

ここで、複数枚の電波吸収体１０は、いずれも同じ所定面積Ｓをもった同じ形状に形成される。図２には、電波吸収体１０を正方形状に形成した場合を例示した。しかし、本発明では、電波吸収体１０の形状は正方形状に限らず、例えば長方形状、多角形状、円形状、楕円形状でもよい。

また、隣合う２枚の電波吸収体１０は、互いに直交する２つの方向として、縦方向と横方向に対して予め決められた所定間隔Ｌx，Ｌyだけ離間して配置される。複数枚（例えば４枚以上）の電波吸収体１０を２次元的に配置するときには、縦方向の所定間隔Ｌyと横方向の所定間隔Ｌxは、ほぼ同じ値に設定される。これにより、箱体２のうち電波吸収体１０が設けられた部位では、電波吸収体１０の面密度はほぼ一定に保持される。複数枚の電波吸収体１０は、箱体２の６面の内面のうち例えば壁面２Ｂの１面だけに設けてもよく、例えば壁面２Ｂ，２Ｃのように連続した複数面に亘って設けてもよい。電波吸収体１０は、その枚数に応じて、遅延スプレッドを調整する。

なお、箱体２の内面を磁性体材料によって形成した場合には、電波吸収体１０は、例えばフェライト磁石、NdFeB系磁石、SmCo系磁石等の硬質磁性材料を含むマグネットシートであってもよい。この場合、電波吸収体１０は、軟質な樹脂製シートに、磁力を帯びた硬質磁性材料を混入することによって形成される。硬質磁性材料の磁力によって、箱体２の壁面２Ａ〜２Ｄ、床面２Ｅ、天井面２Ｆに電波吸収体１０を容易に貼り付けることができる。また、不要な電波吸収体１０は容易に取り外すことができる。

本発明が適用される電波反射箱１は上述のような構成を有するもので、次に、実施の形態による電波反射箱の遅延スプレッド制御方法について、図４に示す手順に従って説明する。なお、第１，第２の遅延スプレッドＤＳ1，ＤＳ2を求める際には、例えば以下の文献に記載された内容に基づいて遅延スプレッドＤＳ1，ＤＳ2を算出する。

X.Chen, P.-S.Kildal, C.Orlenius, and J.Carlsson, "Channel sounding of loaded reverberation chamber for Over-the-Air testing of wireless devices - coherence bandwidth and delay spread versus average mode bandwidth", IEEE Antennas Wireless Propag. Lett., vol. 8, pp. 678-681, 2009.

図４中のステップ１では、第１の遅延スプレッド測定工程として、以下の操作によって第１の遅延スプレッドＤＳ1を測定する。まず、遅延スプレッドを測定するときは、ターンテーブル４上に基準アンテナ５を設置する。図５に示すように、箱体２の内面（例えば壁面２Ｂ）には、比較的少ない枚数として例えば８枚の電波吸収体１０を貼り付ける。この状態で、測定用アンテナ６Ａから電磁波を放射させると共に、攪拌装置９を連続的に動作させる。これにより、箱体２内の電磁界が攪拌され、激しいフェージングが起こる。基準アンテナ５は、箱体２の内面（各壁面２Ａ〜２Ｄ、床面２Ｅ、天井面２Ｆ）や攪拌装置９で反射した多重波を受信する。これにより、ネットワークアナライザ７を用いて基準アンテナ５と測定用アンテナ６Ａとの間の伝搬損を測定し、第１の遅延スプレッドＤＳ1を求める。

ステップ２では、第２の遅延スプレッド測定工程として、以下の操作によって第２の遅延スプレッドＤＳ2を測定する。このとき、図６に示すように、電波吸収体１０の貼り付け枚数を、第１の遅延スプレッドを測定したときとは異なる枚数に変更する。具体的には、第１の遅延スプレッドＤＳ1を測定したときよりも電波吸収体１０の枚数を増加させて、箱体２の内面（例えば壁面２Ｂ，２Ｃ）に、例えば３２枚の電波吸収体１０を貼り付ける。このとき、電波吸収体１０を貼り付ける箱体２の内面は、第１の遅延スプレッドＤＳ1を測定したときと同じ内面でもよく、異なる内面でもよい。また、電波吸収体１０を貼り付ける箱体２の内面は、１面に限らず連続した複数面でもよい。

この状態で、測定用アンテナ６Ａから電磁波を放射させると共に、攪拌装置９を連続的に動作させる。基準アンテナ５は、箱体２の内面（各壁面２Ａ〜２Ｄ、床面２Ｅ、天井面２Ｆ）や攪拌装置９で反射した多重波を受信する。これにより、ネットワークアナライザ７を用いて基準アンテナ５と測定用アンテナ６Ａとの間の伝搬損を測定し、第２の遅延スプレッドＤＳ2を求める。

ステップ３では、回帰直線演算工程として、第１，第２の遅延スプレッドＤＳ1，ＤＳ2の測定データを用いて、複数枚の電波吸収体１０の面積の合計値を対数にしたものと遅延スプレッドとの関係を示す回帰直線１１を求める。具体的には、図８に示すように、複数枚の電波吸収体１０の面積の合計値を対数にしたものを横軸とし、遅延スプレッドを縦軸としたときに、第１，第２の遅延スプレッドＤＳ1，ＤＳ2を結ぶ直線を回帰直線１１とする。この操作を周波数毎に行い、それぞれの周波数に対する回帰直線１１を特定する。

ステップ４では、遅延スプレッド設定工程として、以下の操作によって所望の遅延スプレッドＤＳaとなるように電波吸収体１０の枚数を調整する。具体的には、回帰直線１１に基づいて、所望の遅延スプレッドＤＳaが得られる電波吸収体１０の面積の合計値Ｓaを特定する。そして、特定した合計値Ｓaとなる枚数の電波吸収体１０を箱体２の内面に設ける。このとき、合計値Ｓaが単一の電波吸収体１０の面積（所定面積Ｓ）で割り切れず、枚数に端数が生じるときには、複数枚の電波吸収体１０の面積の合計値ができるだけ合計値Ｓaに近い値となるように、例えば端数の切り上げ、または切り捨てを行う。なお、複数枚の電波吸収体１０のうち外縁側に位置する１枚は、その一部を削除して、端数に応じた面積に調整してもよい。

これにより、電波反射箱１の遅延スプレッドを、所望の遅延スプレッドＤＳaに近い値に設定することができる。この状態で、ターンテーブル４上に携帯電話等の被試験器を載置することによって、遅延スプレッドＤＳaに調整された状態で、被試験器の各種の特性を測定することができる。

測定に用いる周波数を変更する場合には、その周波数に応じた回帰直線１１に基づいて、改めて電波吸収体１０の枚数を求める。そして、測定周波数に応じて、電波吸収体１０の枚数を変更する。

電波吸収体１０の面積の合計値と遅延スプレッドとの関係の一例として、箱体２に貼り付ける電波吸収体１０の枚数を複数通りに変更して、それぞれの枚数における遅延スプレッドを測定した。その結果を、図８に示す。なお、測定に用いた電磁波の周波数は１．９ＧＨｚとした。電波反射箱１は、前，後の長さ寸法が１２５ｃｍ、左，右の長さ寸法が１９０ｃｍ、高さ寸法が１８０ｃｍ、ターンテーブル４の直径寸法が６０ｃｍのものを使用した。また、図８中の三角形のマークは、一辺が１５ｃｍの正方形の電波吸収体１０を、縦方向および横方向に対してそれぞれ１５ｃｍの隙間を空けながら配置した場合の測定結果を示している。

図８に示すように、複数枚の電波吸収体１０の面積の合計値を対数にしたものを横軸とし、遅延スプレッドを縦軸とすると、両者は、ほぼ比例関係にあることが分かる。このとき、比例定数は負の値になり、電波吸収体１０の面積の合計値が増加するに従って、遅延スプレッドは減少する。このため、例えば８枚の電波吸収体１０を貼り付けたときの第１の遅延スプレッドＤＳ1と、３２枚の電波吸収体１０を貼り付けたときの第２の遅延スプレッドＤＳ2との２点の測定データを計測することによって、これらの比例関係に応じた回帰直線１１を求めることができる。

この結果、２点の測定データに基づく回帰直線１１を用いて、所望の遅延スプレッドＤＳaが得られる電波吸収体１０の枚数を容易に特定することができる。例えば所望の遅延スプレッドＤＳaとして９０ｎｓに設定する場合には、回帰直線１１に基づいて、電波吸収体１０の面積の合計値を０．５ｍ²程度に設定すればよいことが分かる。そこで、２２枚の電波吸収体１０を箱体２の内面に設けると、電波吸収体１０の面積の合計値が０．４９５ｍ²になるため、遅延スプレッドを所望の値である９０ｎｓ程度の値に設定することができる。

また、図８中に菱形のマークは、３０ｃｍの正方形の電波吸収体を、縦方向および横方向に対してそれぞれ１０ｃｍの隙間を空けながら８枚配置した場合の測定結果を示している。この結果から明らかなように、電波吸収体１０の所定面積Ｓや所定間隔Ｌx，Ｌyとは異なる条件で遅延スプレッドを測定すると、このときの遅延スプレッドは、回帰直線１１から外れた値になる。この理由は、例えば電波吸収体の面密度が変わると、箱体２内での電波の吸収割合が変わること等が考えられる。

従って、回帰直線１１を求めたときと同じ面積の電波吸収体１０を、同じ間隔で箱体２の内面に貼り付ける必要がある。即ち、電波吸収体１０の面密度は、回帰直線１１を求めたときと同じ状態に保持する必要がある。一方、電波吸収体１０の面密度を一定に保持できれば、箱体２の内面のうち１面だけに電波吸収体１０を設ける必要はなく、複数の内面に電波吸収体１０を設けることができる。このため、図７に示すように、例えば箱体２の壁面２Ａ〜２Ｃおよび天井面２Ｆのように複数の内面に電波吸収体１０を設けることができる。この結果、電波吸収体１０を１箇所に集中して設けた場合に比べて、電波吸収の偏りを抑制することができ、例えばターンテーブル４の上側に位置する試験領域で等方性環境を確保することができる。

また、特許文献１に記載された遅延スプレッドの制御方法では、予め設置した損失性媒質の面積で遅延スプレッドが決定されるため、制御可能な遅延スプレッドの範囲が制限されるという問題がある。これに対し、本実施の形態では、電波吸収体１０の枚数は、回帰直線１１を求めたときの２点の測定データの範囲に限らず、これらの範囲外でもよい。

例えば８枚の電波吸収体１０を貼り付けて第１の遅延スプレッドＤＳ1を測定し、３２枚の電波吸収体１０を貼り付けて第２の遅延スプレッドＤＳ2を測定したときであっても、電波吸収体１０の枚数は７枚以下にしてもよく、３３枚以上にしてもよい。即ち、遅延スプレッドと電波吸収体１０の面積の合計値との関係が回帰直線１１に従う限り、電波吸収体１０の枚数は特に制限されない。このため、遅延スプレッドの制御範囲を広げることができ、遅延スプレッドの設定自由度を高めることができる。

なお、電波吸収体１０の枚数が第１，第２の遅延スプレッドＤＳ1，ＤＳ2に比べて大きく異なるときには、遅延スプレッドと電波吸収体１０の面積の合計値との関係が回帰直線１１から外れる傾向がある。図８に示すように、例えば８枚の電波吸収体１０による測定データと、３２枚の電波吸収体１０による測定データとを用いて回帰直線１１を求めた場合、３２枚の倍以上の枚数である７０枚の電波吸収体１０を貼り付けたとき（電波吸収体１０の面積の合計値が１．５７５ｍ²）の遅延スプレッドの測定データは、回帰直線１１による遅延スプレッドとの差ΔＤＳが大きくなる。このため、設定誤差（差ΔＤＳ）を小さくするためには、第１，第２の遅延スプレッドＤＳ1，ＤＳ2のうち小さい値（例えば第２の遅延スプレッドＤＳ2）を測定したときの電波吸収体１０の枚数（例えば３２枚）を基準枚数として、回帰直線１１によって特定する電波吸収体１０の最大枚数は、基準枚数の１．５倍程度の範囲内に収めるのが好ましい。

かくして、実施の形態では、箱体２の内面には、一定サイズ（所定面積Ｓ）の電波吸収体１０を一定の間隔（所定間隔Ｌx，Ｌy）を空けて複数枚設けると共に、電波吸収体１０の枚数が異なる状態で遅延スプレッドＤＳ1，ＤＳ2をそれぞれ測定する。これにより、２点の測定データに基づいて、遅延スプレッドと複数枚の電波吸収体１０の面積の合計値との関係式を、直線回帰によって求めることができる。この結果、回帰直線１１から所望の遅延スプレッドＤＳaとなる電波吸収体１０の面積の合計値Ｓaを特定することができるから、特定した合計値Ｓaとなる枚数の電波吸収体１０を箱体２の内面に設けることによって、遅延スプレッドを所望の値に調整することができる。

また、電波吸収体１０は所定間隔Ｌx，Ｌyを空けて箱体２の内面に設けるから、１箇所だけに設けた場合に比べて、広い範囲に亘って電波吸収体１０を配置することができる。このため、電波分布の偏りを緩和することができ、被試験器の設置位置（試験領域）を等方性の環境に近付けることができる。これに加えて、複数枚の電波吸収体１０は箱体２の複数の内面に設けた場合には、電波分布の偏りの抑制効果を高めることができる。

また、箱体２の内面には、縦方向と横方向に対して所定間隔Ｌx，Ｌyをもって離間して複数枚の電波吸収体１０を設ける。このため、箱体２の内面に、平面状に広がってほぼ均等な密度で複数枚の電波吸収体１０を配置することができ、電波分布の偏りを抑えることができる。

さらに、電波吸収体１０の所定面積Ｓおよび所定間隔Ｌx，Ｌyはいずれも任意の値に設定することができるから、箱体２の大きさや形状に応じて、電波吸収体１０を選定し、配置することができる。

なお、前記実施の形態では、箱体２の壁面２Ａ〜２Ｃおよび天井面２Ｆに電波吸収体１０を設けた場合を例示したが、他の内面である壁面２Ｄや床面２Ｅに電波吸収体１０を設けてもよい。また、箱体２は直方体状に形成された場合を例に挙げて説明したが、他の形状でもよい。

また、前記実施の形態では、第１の遅延スプレッドＤＳ1と第２の遅延スプレッドＤＳ2との２点の測定データに基づいて回帰直線１１を求めるものとした。しかし、本発明はこれに限らず、複数枚の電波吸収体の面積の合計値と遅延スプレッドとの関係を精度よく求めるために、例えば３点または４点の測定データに基づいて回帰直線を求めてもよい。

また、前記実施の形態では、攪拌装置９は、反射板９Ａ，９Ｂを水平方向や垂直方向にスライド移動させる構成としたが、羽根状の反射板を回転させる構成としてもよい。

１電波反射箱
２箱体
３扉
４ターンテーブル
５基準アンテナ
６測定用アンテナ装置
６Ａ測定用アンテナ
７ネットワークアナライザ
８遮蔽部材
９攪拌装置
１０電波吸収体

Claims

内面が電波反射性材料からなる箱体と、前記箱体の内部に設けられ多数のモード分布を得る攪拌装置と、前記箱体の内部に設けられ平板状をなす電波吸収体とを備えた電波反射箱であって、
前記箱体の内面には、予め決められた所定面積の電波吸収体を予め決められた所定間隔で複数枚設け、
前記電波吸収体の枚数を変化させて測定した遅延スプレッドの測定結果に基づいて、複数枚の前記電波吸収体の面積の合計値を対数にしたものと遅延スプレッドとの関係を示す回帰直線を求め、
前記回帰直線に基づいて、所望の遅延スプレッドが得られる前記電波吸収体の面積の合計値を特定し、特定した合計値となる枚数の前記電波吸収体を前記箱体の内面に設けた電波反射箱。
前記箱体の内面には、縦方向と横方向に対して前記所定間隔をもって離間して複数枚の前記電波吸収体を設けてなる請求項１に記載の電波反射箱。
前記箱体は、複数の前記内面によって内部空間が画成され、
複数枚の前記電波吸収体は、複数の前記内面に設けてなる請求項１または２に記載の電波反射箱。
内面が電波反射性材料からなる箱体と、前記箱体の内部に設けられ多数のモード分布を得る攪拌装置と、前記箱体の内部に設けられ平板状をなす電波吸収体とを備えた電波反射箱の遅延スプレッド制御方法であって、
前記箱体の内面には、予め決められた所定面積の電波吸収体を予め決められた所定間隔で複数枚設けて、第１の遅延スプレッドを測定し、
前記箱体の内面には、前記所定面積の電波吸収体を前記所定間隔で前記第１の遅延スプレッドを測定したときと異なる枚数設けて、第２の遅延スプレッドを測定し、
前記第１の遅延スプレッドの測定結果と前記第２の遅延スプレッドの測定結果とに基づいて、複数枚の前記電波吸収体の面積の合計値を対数にしたものと遅延スプレッドとの関係を示す回帰直線を求め、
前記回帰直線に基づいて、所望の遅延スプレッドが得られる前記電波吸収体の面積の合計値を特定し、特定した合計値となる枚数の前記電波吸収体を前記箱体の内面に設ける電波反射箱の遅延スプレッド制御方法。