JP6147154B2 - Manufacturing method of glass substrate of cover glass for electronic device - Google Patents

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Description

本発明は、携帯機器(携帯型電子機器)の表示画面のカバー部材として用いられる携帯機器用カバーガラスと、タッチセンサのカバー部材として用いられるタッチセンサ用カバーガラスとを含む電子機器用カバーガラスのガラス基板の製造方法に関する。   The present invention relates to a cover glass for an electronic device including a cover glass for a portable device used as a cover member for a display screen of a portable device (portable electronic device) and a cover glass for a touch sensor used as a cover member for the touch sensor. The present invention relates to a method for manufacturing a glass substrate.

スマートフォンを含む携帯電話や、スレートPC(Personal Computer)や、PDA(Personal Digital Assistant)などの携帯機器では、液晶などの表示装置を保護するために、表示装置の外側にカバーガラスが配置される。また、タッチセンサにおいても、センサー基板を保護するためにカバーガラスが配置される。   In a portable device such as a smartphone, a slate PC (Personal Computer), and a PDA (Personal Digital Assistant), a cover glass is disposed outside the display device in order to protect the display device such as a liquid crystal. Also in the touch sensor, a cover glass is disposed to protect the sensor substrate.

一般に、カバーガラスは、大きい一枚板のガラス素板から任意の形状のガラス基板を分離させ、この分離させたガラス基板にさらに印刷などの加工をすることにより製造される。ガラス素板からガラス基板を分離させる方法としては、機械加工だけでなく、エッチング処理を用いた方式が知られている。   In general, a cover glass is manufactured by separating a glass substrate of an arbitrary shape from a large single glass plate, and further processing such as printing on the separated glass substrate. As a method for separating the glass substrate from the glass base plate, not only machining but also a method using an etching process is known.

特許文献1では、レジストパターンを主表面に形成したガラス素板をエッチング処理して、ガラス素板から所望の形状のガラス基板を分離させている。特許文献1では、このようにエッチング処理で外形を形成することにより、端面は鏡面となって非常に高い平滑性を有し、機械加工では必ず生じるマイクロクラックが生じないと述べている。また、機械加工では困難な複雑な形状であっても、エッチング処理であれば容易に加工することができるという利点もあると述べている。   In patent document 1, the glass base plate which formed the resist pattern in the main surface is etched, and the glass substrate of a desired shape is isolate | separated from the glass base plate. Patent Document 1 states that by forming the outer shape by the etching process in this way, the end surface becomes a mirror surface and has extremely high smoothness, and microcracks that are inevitably generated in machining are not generated. It also states that there is an advantage that even a complicated shape difficult to machine can be easily processed by an etching process.

特許文献2では、板状のガラス基板の主表面に形成したレジストパターンをマスクとして、ガラス基板を第1エッチングすることにより所望の形状に切り抜いてガラス基材を得た後、さらにガラス基材の厚さ方向の流れを持つエッチャント中でガラス基材を第2エッチングしている。特許文献2ではこのようにして端面に突出する尖り部分を低減し、機械的強度が高いガラス基材を得ることができると述べている。   In Patent Document 2, after a glass substrate is cut into a desired shape by first etching the glass substrate using a resist pattern formed on the main surface of the plate-like glass substrate as a mask, a glass substrate is further obtained. The glass substrate is second etched in an etchant having a flow in the thickness direction. Patent Document 2 states that a pointed portion protruding from the end face can be reduced in this way, and a glass substrate having high mechanical strength can be obtained.

特許文献3では、多数の素材板ガラスを、剥離可能な固着材を介して一体的に積み重ねてなる素材ガラスブロックを設け、該素材ガラスブロックを分割して小面積の分割ガラスブロックを形成し、平坦な研磨面を有する回転研磨盤により分割ガラスブロックの端面を研磨した後、該端面を外周に多数の可撓性のブラシ材を放射状に設けた回転ブラシにより研磨して各分割板ガラスの縁部を面取りしている。特許文献3ではこのようにして、多数のガラス板を一括研磨し、生産性を向上させられると述べている。   In Patent Document 3, a material glass block in which a large number of material plate glasses are integrally stacked via a peelable fixing material is provided, and the material glass block is divided to form a divided glass block having a small area. After polishing the end surface of the divided glass block with a rotary polishing machine having a smooth polishing surface, the edge of each divided plate glass is polished by rotating the end surface with a rotating brush provided with a large number of flexible brush materials radially on the outer periphery. Chamfered. Patent Document 3 states that productivity can be improved by polishing a large number of glass plates at the same time.

特開2009−167086号公報JP 2009-167086 A 特開2009−227523号公報JP 2009-227523 A 特開2010−269389号公報JP 2010-269389 A

しかしながら、特許文献1の製造方法では、ガラス基板の端面形状は完全に平坦ではなく、エッチング分離特有の尖り形状が発生していた。特許文献2の製造方法では、ガラス基板の端面の尖り形状の尖り高さは低減されても、その形状は縮小した形で残ってしまっていた。   However, in the manufacturing method of Patent Document 1, the end face shape of the glass substrate is not completely flat, and a sharp shape peculiar to etching separation occurs. In the manufacturing method of Patent Document 2, even if the sharpness of the sharp shape of the end face of the glass substrate is reduced, the shape remains in a reduced form.

ここで、特許文献1の製造方法でエッチング成形した後に、ガラス基板の端面を回転砥石を用いて機械研磨することも可能である。しかしながら機械研磨では1枚ずつ研磨を行わなくてはならないため(枚葉研磨)、生産性が低いという問題がある。また複雑な形状データを入力し、精密な加工装置を用いて研磨を行う必要があり、この点においても生産性が低くなってしまう。   Here, it is also possible to mechanically polish the end face of the glass substrate by using a rotating grindstone after etching by the manufacturing method of Patent Document 1. However, mechanical polishing has to be performed one by one (single wafer polishing), which has a problem of low productivity. In addition, it is necessary to input complicated shape data and perform polishing using a precise processing apparatus, which also reduces productivity.

また、特許文献3に記載されているように、生産性を上げるために積層してブラシによって一括研磨することも考えられる。しかし、エッチング処理によって外形加工をしたガラス基板は、端面に尖り形状が形成されるために外形の寸法精度が不安定である。またガラス基板の端面には、残留した耐エッチング層の端が突出している。これらのことから、複数枚のガラス基板を積層したとき正確な位置合わせが困難であり、ガラス基板同士が少しずつずれた状態で積層される。これをブラシ研磨すると積層体の表面を全体的に研磨することから、あるガラス基板において突出した側の端面は研磨過剰となり、引っ込んだ側の端面は研磨不足になる。すなわち端面ごとに研磨の程度が異なってしまい、加工ばらつきが生じてしまうという問題がある。   In addition, as described in Patent Document 3, it is conceivable to stack and polish with a brush in order to increase productivity. However, a glass substrate that has been subjected to outer shape processing by etching treatment has a sharp shape on the end surface, and thus the dimensional accuracy of the outer shape is unstable. Further, the end of the remaining etching resistant layer protrudes from the end surface of the glass substrate. For these reasons, when a plurality of glass substrates are laminated, accurate alignment is difficult, and the glass substrates are laminated in a state of being slightly shifted. When this is brush-polished, the entire surface of the laminate is polished, so that the protruding end face of a glass substrate is overpolished and the retracted end face is underpolished. That is, there is a problem that the degree of polishing differs for each end face, resulting in processing variations.

そこで本発明は、ガラス基板を複数枚積層した積層体を研磨した際に、各ガラス基板の端面を加工ばらつきなくそれぞれ均一に平坦化することができる電子機器用カバーガラスのガラス基板の製造方法を提供することを目的としている。   Therefore, the present invention provides a method for producing a glass substrate for a cover glass for an electronic device, which can uniformly flatten the end face of each glass substrate without processing variations when a laminated body in which a plurality of glass substrates are laminated is polished. It is intended to provide.

上記課題を解決するために、本発明にかかる電子機器用カバーガラスのガラス基板の製造方法の代表的な構成は、1枚のガラス素板から得られ、厚さ方向での断面視で側方を向いた凸部が端面に形成された電子機器用カバーガラスの形状のガラス基板を厚さ方向に複数枚積層する積層工程と、積層工程で得られたガラス基板の積層体の側面を研磨する研磨工程とを有し、研磨工程では、弾性変形可能な研磨基体と、研磨基体の表面に設けられ研磨基体とともに変形可能な研磨パッドとを有する研磨具を用いて、積層体の側面をなす複数枚の前記ガラス基板の端面に対して、研磨パッドを介して研磨基体を当接させ、研磨基体を回転させながら当該端面を研磨することを特徴とする。   In order to solve the above problems, a typical structure of a method for producing a glass substrate of a cover glass for an electronic device according to the present invention is obtained from a single glass base plate, and is laterally viewed in a sectional view in the thickness direction. A lamination step of laminating a plurality of glass substrates in the thickness direction in the shape of a cover glass for an electronic device in which convex portions facing the surface are formed on the end surface, and polishing the side surface of the glass substrate laminate obtained in the lamination step A polishing step, and a polishing tool having a polishing base that is elastically deformable and a polishing pad that is provided on a surface of the polishing base and is deformable together with the polishing base. A polishing substrate is brought into contact with an end surface of the glass substrate through a polishing pad, and the end surface is polished while rotating the polishing substrate.

上記構成によれば、複数のガラス基板の積層体を一括研磨する際に、研磨基体および研磨パッドが弾性変形し、積層体の側面の形状に倣う(追随する)ため、積層体の各ガラス基板の端面の凸部(頂部)に均等に研磨作用が生じる。したがって、ガラス基板を複数枚積層した積層体を研磨した際に、各ガラス基板の端面を加工ばらつきなくそれぞれ均一に平坦化することができる。また、研磨基体が弾性変形可能であることから、研磨による取代は研磨具の位置ではなく、研磨具の積層体に対する圧力によって制御される。このため積層体と研磨具の回転軸との距離に厳密な位置関係は不要であり、制御を容易にすることができるため、生産性を向上させることができる。   According to the above configuration, when a laminated body of a plurality of glass substrates is collectively polished, the polishing substrate and the polishing pad are elastically deformed and follow (follow) the shape of the side surface of the laminated body. A polishing action is evenly produced on the convex portions (top portions) of the end surfaces of the steel plates. Therefore, when a laminated body in which a plurality of glass substrates are laminated is polished, the end surfaces of the glass substrates can be uniformly planarized without processing variations. Further, since the polishing base is elastically deformable, the machining allowance by polishing is controlled not by the position of the polishing tool but by the pressure applied to the laminate of the polishing tool. For this reason, a strict positional relationship is not necessary for the distance between the laminate and the rotating shaft of the polishing tool, and control can be facilitated, so that productivity can be improved.

研磨基体は、可撓性を有し内部に導入される流体圧によって所定の円柱形に変形されるバルーン部材であり、前記研磨具が、該バルーン部材の円柱形の側面に前記研磨パッドを貼着したものが好ましい。   The polishing base is a balloon member that has flexibility and is deformed into a predetermined cylindrical shape by fluid pressure introduced into the inside, and the polishing tool attaches the polishing pad to the cylindrical side surface of the balloon member. The one worn is preferred.

この場合、バルーン部材が可撓性を有するとともに流体圧による形状保持力を有するため、バルーン部材に貼着された研磨パッドは積層体の各ガラス基板の端面に対し、一定圧力で当接する。これにより、各ガラス基板の端面の尖り高さの大きい部分ほど付勢圧力が大きくなり、各ガラス基板の端面の特有の尖り形状に追随して、尖り高さの大きい部分から優先して均一に研磨することができる。また、研磨の量(研磨速度)が圧力によって調整されることから、積層体の側面での形状に倣って端面を研磨でき、ガラス基板と研磨具の回転軸との距離に厳密な位置関係は不要である。   In this case, since the balloon member is flexible and has shape retention force due to fluid pressure, the polishing pad attached to the balloon member comes into contact with the end surface of each glass substrate of the laminate at a constant pressure. As a result, the biasing pressure increases as the sharpness of the end face of each glass substrate increases, following the specific sharpness of the end face of each glass substrate, and preferentially uniform from the high sharpness part. Can be polished. In addition, since the amount of polishing (polishing rate) is adjusted by pressure, the end face can be polished following the shape of the side surface of the laminate, and the exact positional relationship between the distance between the glass substrate and the rotating shaft of the polishing tool is It is unnecessary.

積層工程において、ガラス基板を複数枚積層して厚さ方向の両端から厚さ方向の中心に向けて付勢することによって、積層体をなすことが好ましい。この場合、厚さ方向の両端から付勢することで複数枚のガラス基板がまとまった積層体をなし、研磨工程終了後に、その付勢を解除すれば、当該積層体は複数枚のガラス基板に分離する。そのため、接着や剥離を行う工程が必要なくなる。したがって、ガラス基板の積層と積層したガラス基板の分離を容易に行うことができる。   In the laminating step, it is preferable to form a laminated body by laminating a plurality of glass substrates and urging them from both ends in the thickness direction toward the center in the thickness direction. In this case, by urging from both ends in the thickness direction, a laminated body in which a plurality of glass substrates are assembled is formed, and if the urging is released after the polishing process is finished, the laminated body is applied to the plurality of glass substrates. To separate. This eliminates the need for bonding and peeling processes. Therefore, it is possible to easily separate the glass substrate and the laminated glass substrate.

研磨具を複数用いて、複数方向から同時にガラス基板の端面を研磨することが好ましい。これにより、研磨時間を短縮することができる。   It is preferable to polish the end face of the glass substrate simultaneously from a plurality of directions using a plurality of polishing tools. Thereby, polishing time can be shortened.

ガラス基板の表面に耐エッチング層を有した状態で研磨具を用いて研磨することが好ましい。これにより、ガラス基板の表面が耐エッチング層によって保護されていることから、端面を研磨する工程においてガラス基板の表面に傷がつくことを防止することができる。   Polishing is preferably performed using a polishing tool in a state where an etching resistant layer is provided on the surface of the glass substrate. Thereby, since the surface of the glass substrate is protected by the etching resistant layer, it is possible to prevent the surface of the glass substrate from being damaged in the step of polishing the end face.

粗研磨用の研磨具を用いて粗研磨した後、仕上げ研磨用の研磨具を用いて仕上げ研磨することが好ましい。これにより、ガラス基板の端面の表面をより円滑に研磨することができる。   After rough polishing using a polishing tool for rough polishing, it is preferable to perform final polishing using a polishing tool for final polishing. Thereby, the surface of the end surface of the glass substrate can be more smoothly polished.

本発明によれば、ガラス基板を複数枚積層した積層体を研磨した際に、各ガラス基板の端面を加工ばらつきなくそれぞれ均一に平坦化することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, when grind | polishing the laminated body which laminated | stacked several glass substrates, the end surface of each glass substrate can be each uniformly planarized without process variation.

ガラス素板に対し、上方および下方からエッチングすることにより、エッチング分離したガラス基板の部分断面図である。It is a fragmentary sectional view of the glass substrate which carried out etching isolation | separation by etching with respect to a glass base plate from upper direction and the downward direction. ガラス基板の積層工程において、積層体を形成する過程を説明する図である。It is a figure explaining the process in which a laminated body is formed in the lamination process of a glass substrate. 研磨具によりガラス基板の積層体を研磨する様子を説明する側面図である。It is a side view explaining a mode that the laminated body of a glass substrate is grind | polished with an abrasive | polishing tool. 図3の研磨する様子を説明する平面図である。It is a top view explaining a mode that grinding | polishing of FIG. ガラス基板の積層体が研磨されていく過程を示す部分断面図である。It is a fragmentary sectional view which shows the process in which the laminated body of a glass substrate is grind | polished. 粗研磨用の研磨具と仕上げ研磨用の研磨具を用いて、複数方向から同時に積層体を研磨する様子を説明する側面図である。It is a side view explaining a mode that a laminated body is grind | polished simultaneously from several directions using the polishing tool for rough polishing, and the polishing tool for final polishing. 図6の研磨する様子を説明する平面図である。It is a top view explaining a mode that grinding | polishing of FIG.

以下に添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。かかる実施形態に示す寸法、材料、その他具体的な数値などは、発明の理解を容易とするための例示に過ぎず、特に断る場合を除き、本発明を限定するものではない。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能、構成を有する要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略し、また本発明に直接関係のない要素は図示を省略する。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The dimensions, materials, and other specific numerical values shown in the embodiments are merely examples for facilitating understanding of the invention, and do not limit the present invention unless otherwise specified. In the present specification and drawings, elements having substantially the same function and configuration are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted, and elements not directly related to the present invention are not illustrated. To do.

図1はガラス基板100を説明する図である。ガラス基板100の外周は、一般的には略矩形状である。ガラス基板100は、例えば携帯端末の表示画面を保護する電子機器用カバーガラスとして用いられるものである。電子機器用カバーガラスには、携帯機器(携帯型電子機器)の表示画面のカバー部材として用いられる携帯機器用カバーガラスと、タッチセンサのカバー部材として用いられるタッチセンサ用カバーガラス、および筐体に着脱自在に取り付けられる外付けの保護カバーガラスを含む。   FIG. 1 is a view for explaining a glass substrate 100. The outer periphery of the glass substrate 100 is generally substantially rectangular. The glass substrate 100 is used as a cover glass for an electronic device that protects a display screen of a mobile terminal, for example. The cover glass for an electronic device includes a cover glass for a portable device used as a cover member for a display screen of a portable device (portable electronic device), a cover glass for a touch sensor used as a cover member for a touch sensor, and a housing. Includes an external protective cover glass that is detachably attached.

図1(b)はガラス素板を示す図である。ガラス基板100は、大判のガラス素板180からエッチング処理によって分離される。詳しくは、大判のガラス素板180の両主表面にガラス基板100の形状の加工パターン182(溝)を有する耐エッチング層102(レジスト層)を形成し、加工パターン182に沿ってガラス素板を溶解させることにより、電子機器用カバーガラスの形状のガラス基板100をガラス素板180から分離する。   FIG.1 (b) is a figure which shows a glass base plate. The glass substrate 100 is separated from the large-sized glass base plate 180 by an etching process. Specifically, an etching resistant layer 102 (resist layer) having a processing pattern 182 (groove) in the shape of the glass substrate 100 is formed on both main surfaces of a large glass base plate 180, and the glass base plate is formed along the processing pattern 182. By melting, the glass substrate 100 in the shape of a cover glass for electronic equipment is separated from the glass base plate 180.

図1(c)はエッチング処理によって分離した直後のガラス基板100の部分断面図であり、図1(a)のA−A断面図である。ガラス基板100の上面と下面の両主表面には、耐エッチング層102が残留した状態である。ガラス基板100の端面には、断面視において厚さ方向の略中央部分に凸部104が形成されている。この凸部104は、ガラス素板180の両面からエッチングした結果、ガラス基板100が分離する際に最後に溶解した部分である。本実施形態では、凸部104の尖り高さHが50〜200μmとなっている。   FIG.1 (c) is a fragmentary sectional view of the glass substrate 100 just after isolate | separating by an etching process, and is AA sectional drawing of Fig.1 (a). The etching resistant layer 102 remains on both the upper and lower main surfaces of the glass substrate 100. On the end surface of the glass substrate 100, a convex portion 104 is formed at a substantially central portion in the thickness direction in a sectional view. This convex part 104 is the part melt | dissolved last, when the glass substrate 100 isolate | separates as a result of etching from both surfaces of the glass base plate 180. FIG. In this embodiment, the sharpness height H of the convex portion 104 is 50 to 200 μm.

なお、本実施形態のガラス基板100のように両面エッチングするのではなく、例えば上方から片面のみをエッチングしてガラス基板100を分離させてもよい。この場合には、凸部104はガラス基板100の下面(エッチング面と反対側の面)付近に形成される。その場合においても本発明は全く同様に適用することができ、発明の利益を享受することができる。   Instead of performing double-sided etching as in the glass substrate 100 of the present embodiment, for example, only one side may be etched from above to separate the glass substrate 100. In this case, the convex part 104 is formed in the vicinity of the lower surface (surface opposite to the etching surface) of the glass substrate 100. Even in that case, the present invention can be applied in exactly the same manner, and the benefits of the invention can be enjoyed.

図2は、ガラス基板100の積層工程において、積層体110を形成する過程を説明する図である。まず、図2(a)に示すように、ガラス基板100は厚さ方向に複数枚積層する(例えば積層枚数10〜50枚)。その後、図2(b)に示すように、複数枚積層したガラス基板100の厚さ方向の両端から、積層手段106によって積層方向の内向きに付勢する。この付勢により、積層された複数枚のガラス基板100が固定され、支持されるため、積層体110が形成される。   FIG. 2 is a diagram for explaining a process of forming the stacked body 110 in the stacking process of the glass substrate 100. First, as shown in FIG. 2A, a plurality of glass substrates 100 are laminated in the thickness direction (for example, 10 to 50 laminated sheets). Thereafter, as shown in FIG. 2B, the laminating means 106 urges the glass substrate 100 laminated in a plurality of layers inward in the laminating direction from both ends in the thickness direction. By this urging, the plurality of laminated glass substrates 100 are fixed and supported, so that the laminated body 110 is formed.

本実施形態では、積層手段106は、積層体110の中央を中心軸として回転可能な軸部112と、軸部112の先端に設けられ積層体110に当接して押圧するためのフランジ部114とを備えて構成されている。軸部112が回転することで積層体110は回転することができる。   In the present embodiment, the stacking means 106 includes a shaft portion 112 that can rotate around the center of the stack 110 and a flange portion 114 that is provided at the tip of the shaft 112 and presses against the stack 110. It is configured with. The laminated body 110 can rotate by rotating the shaft portion 112.

このように、厚さ方向の両端から付勢することで複数枚のガラス基板100がまとまった積層体110をなしている。したがって、研磨工程終了後にその付勢を解除すれば、当該積層体110は複数枚のガラス基板100に分離する。すなわち、ガラス基板100の積層および積層したガラス基板100の分離を容易に行うことができる。   In this manner, a laminated body 110 in which a plurality of glass substrates 100 are gathered is formed by urging from both ends in the thickness direction. Therefore, if the bias is released after the polishing process is finished, the laminate 110 is separated into a plurality of glass substrates 100. That is, the glass substrate 100 can be easily laminated and the laminated glass substrate 100 can be easily separated.

ただし、エッチング処理によって外形加工をしたガラス基板は、端面に尖り形状が形成されるために外形の寸法精度が不安定である。またガラス基板の端面には、残留した耐エッチング層の端が突出している。これらのことから、複数枚のガラス基板を積層したとき正確な位置合わせが困難であり、図2(b)に示すようにガラス基板同士が少しずつずれた状態で積層される。   However, a glass substrate that has been subjected to outer shape processing by etching processing has a sharp shape on the end surface, and thus the dimensional accuracy of the outer shape is unstable. Further, the end of the remaining etching resistant layer protrudes from the end surface of the glass substrate. For these reasons, when a plurality of glass substrates are laminated, accurate alignment is difficult, and the glass substrates are laminated in a slightly shifted state as shown in FIG.

図3は、研磨具200によりガラス基板100の積層体110を研磨する様子を説明する側面図である。図4は、図3の平面図である。これらの図に示されるように、研磨具200は、弾性変形可能な研磨基体202と、研磨基体202の表面に設けられ研磨基体202とともに変形可能な研磨パッド204とを有する。   FIG. 3 is a side view for explaining how the laminated body 110 of the glass substrate 100 is polished by the polishing tool 200. FIG. 4 is a plan view of FIG. As shown in these drawings, the polishing tool 200 includes an elastically deformable polishing base 202 and a polishing pad 204 provided on the surface of the polishing base 202 and deformable together with the polishing base 202.

本実施形態において研磨具200は、研磨基体202と研磨パッド204から構成される。研磨基体202は、可撓性を有し内部に導入される流体圧によって所定の円柱形に変形されるバルーン部材である。流体は空気などの気体であってもよいし、水などの液体であってもよい。研磨パッド204は研磨基体202の円柱形の側面に交換可能に貼着されている。   In the present embodiment, the polishing tool 200 includes a polishing base 202 and a polishing pad 204. The polishing substrate 202 is a balloon member that has flexibility and is deformed into a predetermined cylindrical shape by a fluid pressure introduced therein. The fluid may be a gas such as air or a liquid such as water. The polishing pad 204 is attached to the cylindrical side surface of the polishing substrate 202 in an exchangeable manner.

研磨基体202の材料としては、例えば天然ゴム、硬度が20〜50度の天然ゴムに近い合成ゴム(例えば、IIR)またはゴム状樹脂が用いられる。研磨基体202の厚さは全体にわたって均一で、約0.5〜2mm(通常1mm程度の等厚)である。研磨基体202は、研磨する積層体110の大きさや外周形状に応じて複数種類用意することが好ましい。   As a material of the polishing base 202, for example, natural rubber, synthetic rubber (for example, IIR) close to natural rubber having a hardness of 20 to 50 degrees or rubber-like resin is used. The thickness of the polishing substrate 202 is uniform throughout, and is about 0.5 to 2 mm (usually about 1 mm). It is preferable to prepare a plurality of types of polishing substrates 202 according to the size and outer peripheral shape of the laminate 110 to be polished.

研磨パッド204は、例えば発泡ポリウレタン、フェルト、または不織布等の繊維性の布や合成樹脂等を材料とする厚さ1mm程度のシート材によって形成されたものである。   The polishing pad 204 is formed of a sheet material having a thickness of about 1 mm made of, for example, a fibrous cloth such as foamed polyurethane, felt, or nonwoven fabric, or a synthetic resin.

本実施形態の研磨具200は、積層体110と研磨パッド204の間に研磨液を供給して行う。研磨液には、研磨材である研磨砥粒を分散させた溶液状(遊離砥粒)のものを用いる。研磨砥粒としては、アルミナ、ダイヤモンドパウダー、酸化セリウム、コロイダルシリカ等のガラス基板の研磨に使用される砥粒であれば特に限定されないが、遊離砥粒としては、コロイダルシリカを用いるのが好ましい。   The polishing tool 200 of this embodiment is performed by supplying a polishing liquid between the laminate 110 and the polishing pad 204. As the polishing liquid, a solution in which abrasive grains that are abrasives are dispersed (free abrasive grains) is used. Although it will not specifically limit if it is an abrasive grain used for grinding | polishing of glass substrates, such as an alumina, diamond powder, a cerium oxide, colloidal silica, as an abrasive grain, It is preferable to use colloidal silica as a free abrasive grain.

ここで図6に示すように、研磨具200は研磨具固定部115によって支持されている。研磨具固定部115は、研磨具200の略中央を中心軸として回転可能な軸部116と、軸部116の先端に設けられ研磨具200を固定するフランジ部118とを、研磨具200を挟んだ上下に対向する位置に備えて構成されている。研磨具固定部115の軸部116が回転することにより、研磨具200が回転する。また研磨具固定部115は、被研磨面に対して離接方向に移動可能となっていて、一定の圧力で積層体110に付勢される。   Here, as shown in FIG. 6, the polishing tool 200 is supported by the polishing tool fixing portion 115. The polishing tool fixing portion 115 sandwiches the polishing tool 200 between a shaft portion 116 that can rotate about the center of the polishing tool 200 as a central axis, and a flange portion 118 that is provided at the tip of the shaft portion 116 and fixes the polishing tool 200. It is configured to be provided at a position facing vertically. When the shaft portion 116 of the polishing tool fixing portion 115 rotates, the polishing tool 200 rotates. Further, the polishing tool fixing portion 115 is movable in the direction of separating from the surface to be polished, and is biased toward the laminate 110 with a constant pressure.

上記構成の研磨具200を用いることにより、図3に示すように、研磨基体202は積層体110の側面の形状に倣って、各ガラス基板100の端面に同様の圧力で当接する。したがって各ガラス基板がずれた状態で積層されていても、それぞれのガラス基板の端面を加工ばらつきなく均一に平坦化することができる。   By using the polishing tool 200 having the above-described configuration, the polishing base 202 is brought into contact with the end surface of each glass substrate 100 with the same pressure, following the shape of the side surface of the laminate 110, as shown in FIG. Therefore, even if the glass substrates are stacked in a shifted state, the end surfaces of the respective glass substrates can be uniformly flattened without processing variations.

図4(a)〜図4(c)のように、研磨具200を用いて、積層体110の側面をなす複数枚のガラス基板100の端面に対して、研磨パッド204を介して研磨基体202を当接させ、研磨基体202を回転させながらガラス基板100の端面を研磨する。同時にガラス基板100の積層体110を積層手段106とともにゆっくり回転させることにより、被研磨面を移動させながら積層体110の全周を研磨する。   As shown in FIG. 4A to FIG. 4C, the polishing base body 202 is interposed via the polishing pad 204 with respect to the end surfaces of the plurality of glass substrates 100 forming the side surface of the laminate 110 using the polishing tool 200. The end surface of the glass substrate 100 is polished while the polishing substrate 202 is rotated. At the same time, by slowly rotating the laminate 110 of the glass substrate 100 together with the laminate means 106, the entire circumference of the laminate 110 is polished while moving the surface to be polished.

研磨面はゆっくり回転する積層体110の外周形状によって離接方向に変位するが、上述したように研磨具固定部115が一定の圧力で付勢していることにより、研磨パッド204はこの前後運動に追随して研磨面に一定の圧力で当接する。なお、図4において破線で描かれた円形は、研磨具固定部115が一番外側に変位したときの基準位置を示している。また、研磨具200を積層体110に対して一定の圧力で加圧するように支持するために、研磨具固定部115の軸部116の位置は固定しない。したがって、積層体と研磨具200の116との距離に厳密な位置関係(制御)は不要であり、制御を容易にすることができるため、生産性を向上させることができる。   The polishing surface is displaced in the direction of separation due to the outer peripheral shape of the laminate 110 that rotates slowly. As described above, the polishing pad 204 is moved forward and backward by the polishing tool fixing portion 115 being biased with a constant pressure. Following this, it comes into contact with the polishing surface with a constant pressure. In addition, the circle drawn with a broken line in FIG. 4 shows the reference position when the polishing tool fixing part 115 is displaced to the outermost side. Further, the position of the shaft portion 116 of the polishing tool fixing portion 115 is not fixed in order to support the polishing tool 200 so as to pressurize the laminated body 110 with a constant pressure. Therefore, a strict positional relationship (control) is not required for the distance between the laminate and the polishing tool 200, and control can be facilitated, so that productivity can be improved.

ここで、研磨面である積層体110の側面は、ガラス基板100のずれによる凹凸を有する。しかし、研磨パッド204が貼着されている研磨基体202が弾性材料からなるために、図3に示すように、その凹凸の変位を吸収して各ガラス基板100の端面に一定圧力で当接する。   Here, the side surface of the laminate 110 that is the polishing surface has irregularities due to the shift of the glass substrate 100. However, since the polishing base body 202 to which the polishing pad 204 is adhered is made of an elastic material, as shown in FIG. 3, it absorbs the displacement of the unevenness and comes into contact with the end face of each glass substrate 100 with a constant pressure.

図5はガラス基板100の積層体110が研磨されていく過程を示す部分断面図であって、図5(a)は研磨開始時、図5(b)は研磨終了時の様子を説明する図である。図5(a)に示されるように、研磨基体202および研磨パッド204が弾性変形し、積層体110の側面の形状に倣う(追随する)。このため、積層体110内の各ガラス基板100の端面の凸部104(頂部)に均等に研磨作用が生じる。そして図5(b)に示すように、各ガラス基板100のずれはそのままに、各ガラス基板100において同様に凸部104が研磨されて、各ガラス基板100の端面が同様に平坦化される。   FIGS. 5A and 5B are partial cross-sectional views showing a process in which the laminated body 110 of the glass substrate 100 is polished. FIG. 5A illustrates a state at the start of polishing and FIG. 5B illustrates a state at the end of the polishing. It is. As shown in FIG. 5A, the polishing base body 202 and the polishing pad 204 are elastically deformed to follow (follow) the shape of the side surface of the laminate 110. For this reason, a grinding | polishing effect | action arises uniformly in the convex part 104 (top part) of the end surface of each glass substrate 100 in the laminated body 110. FIG. And as shown in FIG.5 (b), the convex part 104 is grind | polished similarly in each glass substrate 100, and the end surface of each glass substrate 100 is similarly planarized, with the shift | offset | difference of each glass substrate 100 as it is.

具体的には、研磨前の各ガラス基板100の凸部104の尖り高さHが50〜200μmとなっていたが、研磨後には、各ガラス基板100の凸部104が消滅し、尖り高さHを25〜100μmに半減させることができる。また、積層枚数を30枚としたときに、研磨後の複数のガラス基板100の尖り高さHの個体間のばらつきの幅(尖り高さHが最大の個体と最小の個体との差)が10μm以下であり、複数のガラス基板100に対する加工の均一性を向上させることができる。なお、特許文献2に示すような浸漬式のエッチング方法にて、積層枚数30枚の積層体に対して同様の処理を行ったところ、尖り高さHが50〜200μmが40〜160μmであり、複数のガラス基板100の尖り高さHの個体間のばらつきの幅(尖り高さHが最大の個体と最小の個体との差)が20μm程度であった。   Specifically, the sharpness H of the convex portion 104 of each glass substrate 100 before polishing was 50 to 200 μm, but after the polishing, the convex portion 104 of each glass substrate 100 disappeared and the sharpness was increased. H can be halved to 25-100 μm. In addition, when the number of stacked layers is 30, the width of variation between the individual sharpness heights H of the plurality of glass substrates 100 after polishing (difference between the individual having the largest sharpness height H and the individual having the smallest sharpness height H) is The thickness is 10 μm or less, and the processing uniformity for the plurality of glass substrates 100 can be improved. In addition, in the immersion etching method as shown in Patent Document 2, when the same treatment was performed on the laminate of 30 laminated sheets, the sharpness height H was 50 to 200 μm was 40 to 160 μm, The width of variation between individuals having a sharp height H of a plurality of glass substrates 100 (difference between the individual having the largest sharp height H and the individual having the smallest sharp height H) was about 20 μm.

このように、本発明によれば、ガラス基板100を複数枚積層した積層体110を研磨した際に、各ガラス基板100同士に若干のずれ(不揃い)があったとしても、各ガラス基板100の端面を加工ばらつきなくそれぞれ均一に平坦化することができる。   Thus, according to the present invention, even when there is a slight shift (unevenness) between the glass substrates 100 when the laminated body 110 in which a plurality of glass substrates 100 are stacked is polished, The end surfaces can be evenly flattened without any processing variations.

また、本実施形態では、ガラス基板100の表面に耐エッチング層102を有した状態で積層体110を形成して研磨しているので、ガラス基板100の表面が耐エッチング層102によって保護されている。そのため、端面を研磨する工程においてガラス基板100の表面に傷がつくことを防止することができる。   In this embodiment, since the laminate 110 is formed and polished with the etching resistant layer 102 on the surface of the glass substrate 100, the surface of the glass substrate 100 is protected by the etching resistant layer 102. . Therefore, it is possible to prevent the surface of the glass substrate 100 from being damaged in the step of polishing the end surface.

なお、図6および図7に示されるように、研磨具200を複数用いて、複数方向から同時にガラス基板100の端面を研磨することも可能である。これにより、研磨時間を短縮することができる。   6 and 7, it is also possible to polish the end face of the glass substrate 100 simultaneously from a plurality of directions using a plurality of polishing tools 200. Thereby, polishing time can be shortened.

また、図6に示されるように、研磨具200を粗研磨用として、さらに仕上げ研磨用の研磨具220を準備しておき、粗研磨用の研磨具200を用いて粗研磨した後、予め待機させておいた仕上げ研磨用の研磨具220に交換して仕上げ研磨することも可能である。これにより、ガラス基板100の端面の表面をより円滑に研磨することができる。   As shown in FIG. 6, the polishing tool 200 is used for rough polishing, and a polishing tool 220 for final polishing is prepared. After the rough polishing is performed using the polishing tool 200 for rough polishing, a standby is performed in advance. It is also possible to finish polishing by exchanging with the polishing tool 220 for finishing polishing. Thereby, the surface of the end surface of the glass substrate 100 can be more smoothly polished.

例えば、粗研磨用の研磨具200では研磨材の遊離砥粒として酸化セリウムを用いる一方で、仕上げ研磨用の研磨具220では、酸化セリウムよりも微細な粒径のコロイダルシリカを用いることで研磨工程に適した研磨材を用いることが可能である。この場合、研磨具200、220の研磨パッドは、それぞれの研磨材に適した材質のものにする。また、粗研磨用の研磨具200の研磨基体202の圧力よりも仕上げ研磨用の研磨具220の研磨基体202の内圧や付勢力を低くしたり、研磨基体202のサイズや形状、曲率などの他のパラメータを調整したりすることも可能である。このような粗研磨と仕上げ研磨の研磨具を切り替えるためには、研磨パッド204を研磨基体202に対して交換する方法、研磨具200を研磨具固定部115に対して交換する方法、および研磨具200を備えた研磨具固定部115ごと交換または切り換える方法が可能である。   For example, the polishing tool 200 for rough polishing uses cerium oxide as the free abrasive grains of the abrasive, while the polishing tool 220 for final polishing uses a colloidal silica having a particle diameter finer than that of cerium oxide to polish the polishing process. It is possible to use an abrasive suitable for the above. In this case, the polishing pads of the polishing tools 200 and 220 are made of a material suitable for each polishing material. Further, the internal pressure or biasing force of the polishing base 202 of the polishing tool 220 for final polishing is made lower than the pressure of the polishing base 202 of the polishing tool 200 for rough polishing, and the size, shape, curvature, etc. of the polishing base 202 are other than that. It is also possible to adjust the parameters. In order to switch between such rough polishing and finish polishing tools, a method of replacing the polishing pad 204 with the polishing base 202, a method of replacing the polishing tool 200 with the polishing tool fixing portion 115, and a polishing tool A method of exchanging or switching the entire polishing tool fixing unit 115 including 200 is possible.

以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。当業者であれば、特許請求の範囲に記載された範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。   As mentioned above, although preferred embodiment of this invention was described referring an accompanying drawing, it cannot be overemphasized that this invention is not limited to the example which concerns. It will be apparent to those skilled in the art that various changes and modifications can be made within the scope of the claims, and these are naturally within the technical scope of the present invention. Understood.

例えば、本実施形態では、ガラス基板100の表面に耐エッチング層102を有した状態で研磨具200を用いて研磨しているが、耐エッチング層102を有さない状態のガラス基板100であっても積層体110を構成して研磨することができる。なおその場合、主表面に傷が入らないようにスペーサーを介することが好ましい。   For example, in the present embodiment, the glass substrate 100 is polished using the polishing tool 200 with the etching resistant layer 102 on the surface of the glass substrate 100, but the glass substrate 100 has no etching resistant layer 102. Also, the laminate 110 can be constituted and polished. In this case, it is preferable to use a spacer so that the main surface is not damaged.

本実施形態では、研磨材として遊離砥粒を用いたが、固定砥粒を含有する研磨パッドを用いてもよい。この固定砥粒について具体例を挙げるとすれば、アルミナ、アルミナ水和物、炭化珪素、ジルコニア、酸化チタン、シリカ、酸化セリウムのいずれか一つ、あるいは複数を含有してなるのが好ましい。   In this embodiment, loose abrasive grains are used as the abrasive, but a polishing pad containing fixed abrasive grains may be used. If a specific example is given about this fixed abrasive, it is preferable to contain any one or more of alumina, alumina hydrate, silicon carbide, zirconia, titanium oxide, silica, cerium oxide.

本発明は、携帯機器(携帯型電子機器)の表示画面のカバー部材として用いられる携帯機器用カバーガラスと、タッチセンサのカバー部材として用いられるタッチセンサ用カバーガラスとを含む電子機器用カバーガラスのガラス基板の製造方法として利用することができる。   The present invention relates to a cover glass for an electronic device including a cover glass for a portable device used as a cover member for a display screen of a portable device (portable electronic device) and a cover glass for a touch sensor used as a cover member for the touch sensor. It can utilize as a manufacturing method of a glass substrate.

100…ガラス基板、102…耐エッチング層、104…凸部、106…積層手段、110…積層体、112…軸部、114…フランジ部、115…研磨具固定部、116…軸部、118…フランジ部、180…ガラス素板、182…加工パターン、200…研磨具(粗研磨用の研磨具)、202…研磨基体、204…研磨パッド、220…仕上げ研磨用の研磨具 DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 ... Glass substrate, 102 ... Etch-resistant layer, 104 ... Convex part, 106 ... Laminating means, 110 ... Laminated body, 112 ... Shaft part, 114 ... Flange part, 115 ... Polishing tool fixing part, 116 ... Shaft part, 118 ... Flange portion, 180 ... glass base plate, 182 ... processing pattern, 200 ... polishing tool (polishing tool for rough polishing), 202 ... polishing substrate, 204 ... polishing pad, 220 ... polishing tool for final polishing

Claims (6)

1枚のガラス素板から得られ、厚さ方向での断面視で側方を向いた凸部が端面に形成された電子機器用カバーガラスの形状のガラス基板を厚さ方向に複数枚積層する積層工程と、
前記積層工程で得られた前記ガラス基板の積層体の側面を研磨する研磨工程と
を有し、
前記研磨工程では、弾性変形可能な研磨基体と、前記研磨基体の表面に設けられ前記研磨基体とともに変形可能な研磨パッドとを有する研磨具を用いて、前記積層体の側面をなす複数枚の前記ガラス基板の端面に対して、前記研磨パッドを介して前記研磨基体を当接させ、前記研磨基体を回転させながら前記端面を研磨することを特徴とする電子機器用カバーガラスのガラス基板の製造方法。
A plurality of glass substrates in the shape of a cover glass for an electronic device, which are obtained from a single glass base plate and have convex portions formed on the end face in a cross-sectional view in the thickness direction, are laminated in the thickness direction. Lamination process;
A polishing step of polishing a side surface of the laminate of the glass substrates obtained in the lamination step,
In the polishing step, using a polishing tool having an elastically deformable polishing base and a polishing pad provided on the surface of the polishing base and deformable together with the polishing base, a plurality of the side surfaces of the laminate are formed. A method for producing a glass substrate for a cover glass for an electronic device, wherein the polishing substrate is brought into contact with an end surface of the glass substrate via the polishing pad, and the end surface is polished while rotating the polishing substrate. .
前記研磨基体が、可撓性を有し内部に導入される流体圧によって所定の円柱形に変形されるバルーン部材であり、前記研磨具が、該バルーン部材の円柱形の側面に前記研磨パッドを貼着したものであることを特徴とする請求項1に記載の電子機器用カバーガラスのガラス基板の製造方法。   The polishing base is a balloon member that has flexibility and is deformed into a predetermined cylindrical shape by fluid pressure introduced into the inside, and the polishing tool has the polishing pad on the cylindrical side surface of the balloon member. The manufacturing method of the glass substrate of the cover glass for electronic devices of Claim 1 characterized by the above-mentioned. 前記積層工程において、前記ガラス基板を複数枚積層して厚さ方向の両端から厚さ方向の中心に向けて付勢することによって、前記積層体をなすものであることを特徴とする請求項1または2に記載の電子機器用カバーガラスのガラス基板の製造方法。   2. The stacking step is characterized in that the stacked body is formed by stacking a plurality of the glass substrates and urging them from both ends in the thickness direction toward the center in the thickness direction. Or the manufacturing method of the glass substrate of the cover glass for electronic devices of 2. 前記研磨具を複数用いて、複数方向から同時に前記ガラス基板の端面を研磨することを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の電子機器用カバーガラスのガラス基板の製造方法。   The method for producing a glass substrate of a cover glass for an electronic device according to any one of claims 1 to 3, wherein an end face of the glass substrate is simultaneously polished from a plurality of directions by using a plurality of the polishing tools. 前記ガラス基板の表面に耐エッチング層を有した状態で前記研磨具を用いて研磨することを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載の電子機器用カバーガラスのガラス基板の製造方法。   5. The glass substrate for an electronic device cover glass according to claim 1, wherein the glass substrate is polished with the polishing tool in a state having an etching resistant layer on the surface of the glass substrate. Method. 粗研磨用の前記研磨具を用いて粗研磨した後、仕上げ研磨用の前記研磨具を用いて仕上げ研磨することを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載の電子機器用カバーガラスのガラス基板の製造方法。   6. The electronic device cover according to claim 1, wherein rough polishing is performed using the polishing tool for rough polishing, and then final polishing is performed using the polishing tool for final polishing. 6. Manufacturing method of glass substrate of glass.
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