JP6140989B2 - Multilayer substrate, circuit board, information processing device, sensor device, and communication device - Google Patents

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Description

本発明は、高周波信号を伝送する多層基板、回路基板、情報処理装置、センサー装置、および通信装置に関する。   The present invention relates to a multilayer board, a circuit board, an information processing apparatus, a sensor apparatus, and a communication apparatus that transmit a high-frequency signal.

プリント回路基板は、多層基板に表面実装部品や貫通実装部品を多数搭載している。
多層基板は、ガラス繊維に樹脂を浸透させた誘電体層と、薄い銅箔に対して必要な形状のみを残したパターンからなる導体層で形成される。
最近の多層基板では、給電や信号伝送の安定を図るため、電源やグランド(以下、GNDと略す)は、配線ではなく、ベタ(一面形成)にするのが一般的である。
A printed circuit board has a large number of surface mount components and penetration mount components mounted on a multilayer substrate.
The multilayer substrate is formed of a dielectric layer in which a resin is infiltrated into glass fibers and a conductor layer having a pattern that leaves only a necessary shape for a thin copper foil.
In recent multilayer boards, in order to stabilize power feeding and signal transmission, the power supply and ground (hereinafter abbreviated as GND) are generally solid (formed on one side) instead of wiring.

貫通実装部品のピンは、全て、スルーホールに挿入された後、スルーホールとピンをハンダ付けする。
この時、電源ピンやGNDピンでは、スルーホールがベタ形状の導体に接続されていて、ハンダ付けの際に多層基板の導体の熱容量が大きく、スルーホールの温度が十分に上がらず、ピンのハンダ付け不良が発生する課題がある。
After all the pins of the through-mounting component are inserted into the through holes, the through holes and the pins are soldered.
At this time, in the power supply pin and the GND pin, the through hole is connected to the solid conductor, and the heat capacity of the conductor of the multilayer board is large when soldering, and the temperature of the through hole does not rise sufficiently. There is a problem that improper attachment occurs.

このため、一般的な多層基板において、信号では円形状(ドリル加工後にはリング状)で設計されているスルーホールランドのアンチパッドを、電源やGNDでは放射線状のサーマルリング等を、スルーホールとベタとの間に挟んで接続することにより、熱がベタに逃げ難くし、スルーホールの温度を上げ易くしている。   For this reason, in general multi-layer boards, through-hole land antipads designed in a circular shape (ring shape after drilling) are used as signals, and radial thermal rings are used as through-holes in power supplies and GND. By sandwiching and connecting with the solid, the heat does not easily escape to the solid and the temperature of the through hole is easily increased.

しかし、この対策においても、回路規模が大きく、基板内の信号配線や電源プレーンが多い多層基板では、複数のGNDベタ層を設けたり、非GND層であっても部分的にGNDベタ形状を設けるため、ランドを放射線状にしても、接続されるベタ層の数が増えて熱容量が大きくなり、ハンダ付け不良の可能性が高まる課題がある。   However, even in this measure, a multilayer substrate having a large circuit scale and a large number of signal wirings and power planes in the substrate is provided with a plurality of GND solid layers, or even with a non-GND layer, a GND solid shape is partially provided. Therefore, even if the lands are formed in a radial shape, the number of solid layers to be connected increases, the heat capacity increases, and there is a problem that the possibility of poor soldering increases.

このため、高い接続信頼性が求められる用途では、多層基板のGNDベタの層数によらず、GNDピンを挿入するスルーホールに接続されるGNDベタの層数に上限を設ける場合がある。   For this reason, in applications where high connection reliability is required, an upper limit may be set on the number of GND solid layers connected to the through hole into which the GND pin is inserted, regardless of the number of GND solid layers of the multilayer board.

このような、多層基板に信号ピンとGNDピンが複数あるコネクタ部品を実装する場合、複数あるGNDピンがそれぞれどの層のGNDに接続されるかが、ランダムに設定される。
なお、前記背景技術に関連する先行技術文献として、下記特許文献がある。
When such a connector component having a plurality of signal pins and GND pins is mounted on a multilayer board, it is randomly set to which layer GND each of the plurality of GND pins is connected.
The following patent documents are given as prior art documents related to the background art.

特開2000−349192号公報JP 2000-349192 A 特開2003−204209号公報JP 2003-204209 A 特開2005−108893号公報JP 2005-108893 A 特開2009−21511号公報JP 2009-21511 A 特開2004−241680号公報JP 2004-241680 A

従来の多層基板は以上のように構成されているので、GNDピンを挿入するスルーホールが接続されるGNDベタの層数に上限を設けると、その位置でGNDピンが接続されないGNDベタが発生する。
GNDピンが信号ピンと隣接している場合、信号ピンが接続されている信号配線の基準となっているGNDベタが、信号ピンに隣接するGNDピンと接続されない場合が生じる。
Since the conventional multilayer substrate is configured as described above, if an upper limit is set for the number of layers of the GND plane to which the through hole for inserting the GND pin is connected, a GND plane in which the GND pin is not connected is generated at that position. .
When the GND pin is adjacent to the signal pin, there is a case where the GND solid which is the reference of the signal wiring to which the signal pin is connected is not connected to the GND pin adjacent to the signal pin.

この場合、信号電流に対向してGNDを流れる帰還電流の経路が不連続となる。
あるいは、別のGNDスルーホールと別のGNDベタ層を経由して、帰還電流の経路が遠回りになり、高周波信号の伝送が困難になる課題がある。
In this case, the path of the feedback current flowing through the GND facing the signal current is discontinuous.
Alternatively, there is a problem that it becomes difficult to transmit a high-frequency signal because the path of the feedback current becomes a detour through another GND through hole and another GND solid layer.

また、差動信号の場合は、正相信号ピンと逆相信号ピンとその周辺のGNDピンがあるが、正相信号に対する帰還電流経路と逆相信号に対する帰還電流経路が非対象になり、差動信号の一部がモード変換され、コモンノイズが発生する。
あるいは、逆に、コモンノイズの一部が差動に変換され、本来コモンノイズに対して高い耐性を持つ差動信号であっても、コモンノイズによる差動信号の劣化が生じる課題がある。
In the case of a differential signal, there are a positive phase signal pin, a negative phase signal pin, and a GND pin in the vicinity thereof, but the feedback current path for the positive phase signal and the feedback current path for the negative phase signal are not targeted. Part of the signal is mode-converted and common noise is generated.
Or, conversely, even if a part of the common noise is converted into differential and the differential signal is inherently highly resistant to the common noise, there is a problem that the differential signal is deteriorated due to the common noise.

本発明は以上のような課題を解消するためになされたものであり、高周波信号の伝送特性の劣化を回避する多層基板、回路基板、情報処理装置、センサー装置、および通信装置を得ることを目的とする。   The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to obtain a multilayer board, a circuit board, an information processing apparatus, a sensor apparatus, and a communication apparatus that avoid deterioration of transmission characteristics of high-frequency signals. And

本発明の多層基板は、1本当たりのグランド用スルーホールが接続可能なグランドベタの数が全てのグランドベタの数よりも少なく制限される場合に、信号用スルーホールに隣接する1本以上のグランド用スルーホールが、信号配線の上下面のそれぞれ直近に対向するグランドベタに接続され、信号用スルーホールが2本以上設けられ、2本以上の信号用スルーホールにそれぞれ接続される信号配線が2つ以上の層に配線され、1本当たりのグランド用スルーホールが接続可能なグランドベタの層数が信号配線が配線された層数の2倍より少なく制限される場合に、それぞれ異なる信号配線の上下面のそれぞれ直近に対向するグランドベタのうちの少なくとも1つのグランドベタが共通であり、それぞれ異なる信号用スルーホールに隣接する1本以上のグランド用スルーホールが、共通のグランドベタに接続されると共に、共通のグランドベタを挟んで上下面のそれぞれ直近に対向するグランドベタに接続される。 When the number of ground planes to which one ground through hole can be connected is limited to be less than the number of all ground planes, the multilayer substrate of the present invention has one or more adjacent ones. The signal through-hole for ground is connected to the nearest ground plane on the upper and lower surfaces of the signal wiring, and two or more signal through-holes are provided, and the signal wiring is connected to each of the two or more signal through-holes. Are connected to two or more layers, and the number of ground planes to which one ground through hole can be connected is limited to less than twice the number of layers to which signal wiring is routed. At least one of the ground planes facing each other on the upper and lower surfaces of the wiring is common and adjacent to different signal through holes. This more through holes for grounding is connected to the common ground solid are connected to respective ground solid which faces the last of the upper and lower surfaces across a common ground solid.

本発明によれば、1本当たりのグランド用スルーホールが接続可能なグランドベタの数が全てのグランドベタの数よりも少なく制限される場合に、信号用スルーホールに隣接する1本以上のグランド用スルーホールが、信号配線の上下面のそれぞれ直近に対向するグランドベタに接続されるようにした。
よって、信号配線と貫通ピンとの間で帰還電流の遠回りが無くなり、高周波信号の伝送特性の劣化を回避することができる効果がある。
According to the present invention, when the number of ground planes to which one ground through hole can be connected is limited to be smaller than the number of all ground planes, one or more grounds adjacent to the signal through hole are provided. The through-holes for use are connected to the ground planes that face each other on the upper and lower surfaces of the signal wiring.
Therefore, there is no effect of returning the feedback current between the signal wiring and the through pin, and there is an effect that it is possible to avoid the deterioration of the transmission characteristic of the high frequency signal.

本発明の目的を説明するための多層基板の一例を示す導体立体図である。It is a conductor three-dimensional view which shows an example of the multilayer substrate for demonstrating the objective of this invention. 図1の各層の導体パターン図である。It is a conductor pattern figure of each layer of FIG. 本発明の目的を説明するための多層基板の他の例を示す導体立体図である。It is a conductor three-dimensional view which shows the other example of the multilayer substrate for demonstrating the objective of this invention. 図3の各層の導体パターン図である。It is a conductor pattern figure of each layer of FIG. 本発明の実施の形態1による多層基板を示す導体立体図である。It is a conductor three-dimensional view which shows the multilayer substrate by Embodiment 1 of this invention. 図5の各層の導体パターン図である。It is a conductor pattern figure of each layer of FIG. 本発明の実施の形態2による多層基板を示す導体立体図である。It is a conductor three-dimensional view which shows the multilayer substrate by Embodiment 2 of this invention. 図7の各層の導体パターン図である。It is a conductor pattern figure of each layer of FIG.

実施の形態1.
図1は本発明の目的を説明するための多層基板の一例を示す導体立体図、図2は図1の各層の導体パターン図である。
図1および図2において、多層基板1は、導体12層から成り、千鳥格子配置の多ピンコネクタ(図示せず)挿入用のスルーホールのうち、2本の信号ピンとその周辺のGNDピンの合計7本のピン(図示せず)を挿入するスルーホールを含む範囲を示したものである。
Embodiment 1 FIG.
FIG. 1 is a three-dimensional conductor diagram illustrating an example of a multilayer substrate for explaining the object of the present invention, and FIG. 2 is a conductor pattern diagram of each layer of FIG.
1 and 2, the multilayer substrate 1 is composed of 12 conductor layers, and includes two signal pins and surrounding GND pins among through holes for inserting a multi-pin connector (not shown) arranged in a staggered pattern. A range including through holes into which a total of seven pins (not shown) are inserted is shown.

図1および図2において、101〜112はそれぞれ第1層から第12層である。
10は信号用スルーホールで、さらに、2本隣接した差動信号用の信号用スルーホールのうち、11が正相信号ピン挿入用スルーホール、12が逆相信号ピン挿入用スルーホールである。
20はGND用スルーホールで、さらに、5本のGND用スルーホールのうち、21〜25が左から順にならぶ個々のGNDピン挿入用スルーホールである。
1 and 2, reference numerals 101 to 112 denote a first layer to a twelfth layer, respectively.
Reference numeral 10 denotes a signal through hole. Of the two adjacent signal through holes for differential signals, 11 is a through-hole for inserting a positive phase signal pin, and 12 is a through hole for inserting a negative phase signal pin.
Reference numeral 20 denotes a GND through hole, and among the five GND through holes, reference numerals 21 to 25 denote individual GND pin insertion through holes arranged in order from the left.

30(網掛け範囲)は一面にGNDパターンが形成されたGNDベタである。
40は各層で信号用スルーホールに設けられたリング状ランド、50は同じくGND用スルーホールのリング状ランドである。
60はGNDベタ30と一体化されたGNDスルーホール用ランド、70はGNDベタ30内に設けられたリング状ランド40をGNDベタ30に接続させないためのアンチパッド、80は信号配線で、さらに、81が正相信号用配線、82が逆相信号用配線である。
Reference numeral 30 (shaded area) denotes a GND solid in which a GND pattern is formed on one surface.
Reference numeral 40 denotes a ring-shaped land provided in the signal through-hole in each layer, and reference numeral 50 denotes a ring-shaped land of the GND through-hole.
Reference numeral 60 denotes a GND through-hole land integrated with the GND plane 30, 70 denotes an antipad for preventing the ring-shaped land 40 provided in the GND plane 30 from being connected to the GND plane 30, 80 denotes a signal wiring, and 81 is a positive-phase signal wiring, and 82 is a negative-phase signal wiring.

この例に示した多層基板1は、正相信号と逆相信号が差動信号ペアを成し、コネクタピンアサインは、これら2本の信号用ピンが隣接していて、この2本を囲む周囲のピンがGNDとなっている場合に対応する。
また、多層基板1の層構成は、第2層102、第4層104、第6層106、第7層107、第9層109、第11層111がGNDベタで、それ以外の層で電源配線(図示せず)や信号配線が成される。
In the multilayer substrate 1 shown in this example, the positive phase signal and the negative phase signal form a differential signal pair, and the connector pin assignment is such that these two signal pins are adjacent to each other and surround the two. This corresponds to the case where the pin is GND.
The multilayer substrate 1 has a layer configuration in which the second layer 102, the fourth layer 104, the sixth layer 106, the seventh layer 107, the ninth layer 109, and the eleventh layer 111 are GND solids, and the other layers are power sources. Wiring (not shown) and signal wiring are formed.

また、コネクタは第1層101側に実装される。
このような構成の多層基板1においては、GNDベタのある6つの層は、図示した範囲で全く同じ導体パターンとなる。
この他の層にはGNDベタが無く、導体パターンは各スルーホールに設けられたランドのみとなる。
ただし、第3層103には正(逆)相信号ピン挿入用スルーホール11,12に、それぞれ正(逆)相信号用配線81,82が接続される。
The connector is mounted on the first layer 101 side.
In the multilayer substrate 1 having such a configuration, the six layers with GND solids have the same conductor pattern within the illustrated range.
This other layer has no solid GND, and the conductor pattern is only the land provided in each through hole.
However, positive (reverse) phase signal wirings 81 and 82 are connected to the third layer 103 in the through holes 11 and 12 for inserting normal (reverse) phase signal pins, respectively.

なお、GNDベタ30内にあるGNDスルーホール用ランド60は、前述したとおり、一般的にはサーマルリングが設けられ、ランドがリング状ではなく放射状になるが、本明細書では、図の単純化のため、リング状のままのランド形状とした。   The GND through-hole land 60 in the GND solid 30 is generally provided with a thermal ring as described above, and the lands are radial instead of ring-shaped. For this reason, the land shape remains in a ring shape.

この場合、信号電流はコネクタピン(図示せず)から正(逆)相信号ピン挿入用スルーホール11,12を経由し、正(逆)相信号用配線81,82に流れる。
一方、信号電流とは逆向きの帰還電流は、正(逆)相信号用配線81,82の上下面のそれぞれ直近に対向する第2層102と第4層104のGNDベタの中で、正(逆)相信号用配線81,82と直近の経路でほとんどが流れ、GNDスルーホール用ランド60を経由して、GNDピン挿入用スルーホールから、コネクタのGNDへ流れる。
In this case, the signal current flows from the connector pin (not shown) through the positive (reverse) phase signal pin insertion through holes 11 and 12 to the positive (reverse) phase signal wirings 81 and 82.
On the other hand, the feedback current in the direction opposite to the signal current is the positive current in the GND planes of the second layer 102 and the fourth layer 104 that are directly opposite to the upper and lower surfaces of the positive (reverse) phase signal wirings 81 and 82, respectively. Most of the current flows in the path closest to the (reverse) phase signal wirings 81, 82, and flows from the GND pin insertion through hole to the connector GND via the GND through hole land 60.

この時、信号電流の経路とGND電流の経路が、互いに最短経路となっている。
このような場合に、コネクタピンから正(逆)相信号用配線81,82までの高周波信号の伝送特性が良好になる。
At this time, the signal current path and the GND current path are the shortest paths.
In such a case, the transmission characteristic of the high frequency signal from the connector pin to the normal (reverse) phase signal wirings 81 and 82 is improved.

前述したように、コネクタピンは、全て、正(逆)相信号ピン挿入用スルーホール11,12、GNDピン挿入用スルーホール21〜25に挿入された後、スルーホールとピンをハンダ付けする。
この時、GNDピンでは、GNDピン挿入用スルーホール21〜25が数多くのGNDベタに接続されていて、ハンダ付けの際に多層基板1の数多くのGNDベタの熱容量が大きく、GNDピン挿入用スルーホール21〜25の温度が十分に上がらず、GNDピンのハンダ付け不良が発生する課題がある。
このため、高い接続信頼性が求められる用途では、1本当たりのGNDピン挿入用スルーホールに接続可能なGNDベタの層数が全てのGNDベタの層数よりも少なく制限される場合がある。
As described above, after all the connector pins are inserted into the through-holes 11 and 12 for inserting the positive (reverse) phase signal pins and the through-holes 21 to 25 for inserting the GND pins, the through-holes and the pins are soldered.
At this time, in the GND pin, the GND pin insertion through holes 21 to 25 are connected to a large number of GND planes, and the heat capacity of the large number of GND planes of the multi-layer substrate 1 is large when soldering. There is a problem in that the temperature of the holes 21 to 25 does not rise sufficiently and a soldering failure of the GND pin occurs.
For this reason, in applications where high connection reliability is required, the number of GND solid layers that can be connected to one GND pin insertion through hole may be limited to be less than the number of all GND solid layers.

図3および図4は、GNDピン挿入用スルーホール21〜25に対して、接続可能なGNDベタの層数が3に制限される場合を示す図である。
第1層101、第3層103、第5層105、第8層108、第10層110、第12層112は、図1および図2と同じである。
3 and 4 are diagrams showing a case where the number of GND solid layers connectable to the GND pin insertion through holes 21 to 25 is limited to three.
The first layer 101, the third layer 103, the fifth layer 105, the eighth layer 108, the tenth layer 110, and the twelfth layer 112 are the same as those in FIGS.

正相信号用配線81の上下面のそれぞれ直近に対向する第2層102と第4層104のGNDベタの中で、第2層102のGNDベタのみが、GNDピン挿入用スルーホール21、22に接続される。
GNDピン挿入用スルーホール23は、いずれの層にも接続されない。
このため、正相信号用配線81に対向してGNDを流れる帰還電流のうち第4層104の帰還電流は、正相信号ピン挿入用スルーホール11に近いGNDピン挿入用スルーホール21〜23に流れる経路が存在しない。
Among the GND planes of the second layer 102 and the fourth layer 104 facing the upper and lower surfaces of the positive-phase signal wiring 81 in the immediate vicinity, only the GND plane of the second layer 102 is the GND pin insertion through-holes 21, 22. Connected to.
The GND pin insertion through hole 23 is not connected to any layer.
For this reason, the feedback current of the fourth layer 104 out of the feedback current flowing through the GND facing the positive phase signal wiring 81 passes through the GND pin insertion through holes 21 to 23 close to the positive phase signal pin insertion through hole 11. There is no flowing path.

実際の多層基板1では、全GNDベタを共通化する別の小径スルーホールが図示した範囲外に存在し、そのうち最も近い小径スルーホールを経由し、GNDピン挿入用スルーホール21〜23が接続されている他のGNDベタの層を経由し、第4層104の帰還電流はGNDピン挿入用スルーホール21〜23に流れる。   In the actual multilayer substrate 1, there are other small-diameter through-holes that share all GND solids outside the illustrated range, and through the closest small-diameter through-holes, the GND pin insertion through-holes 21 to 23 are connected. The feedback current of the fourth layer 104 flows through the GND pin insertion through holes 21 to 23 through the other GND solid layer.

また、逆相信号用配線82に対しては、上下面のそれぞれ直近に対向する第2層102と第4層104のGNDベタの中で、第4層104のGNDベタのみが、GNDピン挿入用スルーホール24,25に接続される。
GNDピン挿入用スルーホール23は、いずれの層にも接続されない。
よって、逆相信号用配線82に対向してGNDを流れる帰還電流のうち第2層102の帰還電流は、正相信号に対する第4層の帰還電流と同じく、遠回りをする。
これらの要因により、2つの信号経路での高周波信号の伝送特性が大きく劣化する。
For the negative-phase signal wiring 82, only the GND plane of the fourth layer 104 among the GND planes of the second layer 102 and the fourth layer 104 facing each other on the upper and lower surfaces is the GND pin insertion. The through holes 24 and 25 are connected.
The GND pin insertion through hole 23 is not connected to any layer.
Therefore, the feedback current of the second layer 102 out of the feedback current that flows through the GND in opposition to the negative-phase signal wiring 82 goes around as well as the feedback current of the fourth layer for the positive-phase signal.
Due to these factors, the transmission characteristics of high-frequency signals in the two signal paths are greatly degraded.

さらに、正相信号経路に対する周囲のGND経路と、逆相信号経路に対する周囲のGND経路が、形状的に対称になっていないため、差動信号の電気エネルギーの一部がコモンの電気エネルギーに変換され、基板ひいてはシステムに対してコモンノイズを与えることになる。
逆に図示した部分にコモンノイズが来ると、その一部が差動の電気エネルギーに変換されて差動ノイズとなり、本来コモンノイズの影響を受けない差動信号であっても、コモンノイズにより差動波形が乱れる。
このように、GNDピン挿入用スルーホール21〜25が接続可能なGNDベタの数に制限がある多層基板1では、高周波信号の伝送特性の劣化、コモンノイズの発生、差動ノイズの重畳といった悪影響が生じる。
Furthermore, since the surrounding GND path for the positive phase signal path and the surrounding GND path for the negative phase signal path are not symmetrical in shape, a part of the electric energy of the differential signal is converted into common electric energy. As a result, common noise is given to the substrate and the system.
Conversely, when common noise comes to the part shown in the figure, a part of it is converted into differential electrical energy to become differential noise, and even differential signals that are not naturally affected by common noise are different due to common noise. The dynamic waveform is disturbed.
As described above, in the multilayer substrate 1 in which the number of GND solids to which the GND pin insertion through holes 21 to 25 can be connected is limited, there is an adverse effect such as deterioration of high-frequency signal transmission characteristics, generation of common noise, and superposition of differential noise. Occurs.

図5は本発明の実施の形態1による多層基板を示す導体立体図、図6は図5の各層の導体パターン図である。
図5および図6において、第1層101、第3層103、第5層105、第8層108、第10層110、第12層112は、図1および図2と同じである。
GNDピン挿入用スルーホール21〜25は、6つのGNDベタのうち、第2層102と第4層104のGNDベタに接続される。
残るもう1つの接続層は、個々のGNDピン挿入用スルーホール21〜25ごとに、第6層106、第7層107、第9層109、第11層111のいずれかを任意に選択して構わない。
5 is a conductor three-dimensional view showing the multilayer substrate according to Embodiment 1 of the present invention, and FIG. 6 is a conductor pattern diagram of each layer of FIG.
5 and 6, the first layer 101, the third layer 103, the fifth layer 105, the eighth layer 108, the tenth layer 110, and the twelfth layer 112 are the same as those in FIGS.
The GND pin insertion through holes 21 to 25 are connected to the GND layers of the second layer 102 and the fourth layer 104 among the six GND layers.
Another remaining connection layer is arbitrarily selected from the sixth layer 106, the seventh layer 107, the ninth layer 109, and the eleventh layer 111 for each of the GND pin insertion through holes 21 to 25. I do not care.

この構造とすることで、2本の正(逆)相信号用配線81,82を流れる信号電流に対向して第2層102と第4層104のGNDベタを流れる帰還電流の経路は、正(逆)相信号用配線81,82と直近の経路でほとんどが流れ、GNDスルーホール用ランド60を経由して、GNDピン挿入用スルーホール21〜25から、コネクタのGNDへ流れる。
この時、信号電流の経路とGND電流の経路が、互いに最短経路となっている。
With this structure, the path of the feedback current flowing through the GND planes of the second layer 102 and the fourth layer 104 opposite to the signal current flowing through the two positive (reverse) phase signal wirings 81 and 82 is positive. Most of the current flows in the path closest to the (reverse) phase signal wirings 81 and 82, and flows from the GND pin insertion through holes 21 to 25 to the connector GND via the GND through hole land 60.
At this time, the signal current path and the GND current path are the shortest paths.

これにより、正(逆)相信号用配線81,82とコネクタピンとの間で帰還電流の遠回りが無くなり、高周波信号の伝送特性の劣化が回避できる。
また、正相と逆相の周囲のGND経路の対称性が保たれるので、モード変換によるコモンノイズの発生が防げる。
特に、図6の第2層102と第4層104のGNDベタに示すように、信号用スルーホールの形状、GND用スルーホールの形状、グランドベタの形状および接続状態が、2本の正(逆)相信号用配線81,82に対して電磁気的に対称にしたので、コモンノイズの発生を特に防げる。
さらに、コモンノイズ起因の差動ノイズの発生も防げ、差動信号本来の耐ノイズ性能が保たれる。
Thereby, there is no detour of the feedback current between the normal (reverse) phase signal wirings 81 and 82 and the connector pin, and deterioration of the transmission characteristic of the high frequency signal can be avoided.
In addition, since the symmetry of the GND path around the normal phase and the reverse phase is maintained, the occurrence of common noise due to mode conversion can be prevented.
In particular, as shown in the GND planes of the second layer 102 and the fourth layer 104 in FIG. 6, the shape of the signal through hole, the shape of the GND through hole, the shape of the ground plane, and the connection state are two positive ( On the contrary, the generation of common noise can be particularly prevented because the phase signal wirings 81 and 82 are electromagnetically symmetrical.
Furthermore, the occurrence of differential noise due to common noise can be prevented, and the original noise resistance performance of differential signals can be maintained.

なお、本実施の形態1では、信号の種類として差動信号としたが、単相信号であっても構わない。
すなわち、1本の信号ピン挿入用スルーホールに対して少なくとも1本以上のGNDピン挿入用スルーホールが隣接していて、そ(れら)のGNDピン挿入用スルーホールが信号配線の上下面のそれぞれ直近に対向するGNDベタと接続されていれば、高周波信号の伝送特性劣化を防止できる。
ただし、この場合、差動信号ではないので、コモンノイズに対する耐性はもともと有していない。
In the first embodiment, the signal type is a differential signal, but it may be a single-phase signal.
That is, at least one GND pin insertion through hole is adjacent to one signal pin insertion through hole, and these GND pin insertion through holes are formed on the upper and lower surfaces of the signal wiring. If each is connected to the GND plane that is closest to each other, it is possible to prevent transmission characteristic deterioration of the high-frequency signal.
However, in this case, since it is not a differential signal, it does not have resistance against common noise.

以上により、本実施の形態1によれば、GNDピン挿入用スルーホール23が接続可能なGNDベタの層数が全てのGNDベタの層数よりも少なく制限される場合に、信号ピン挿入用スルーホール11,12に隣接するGNDピン挿入用スルーホール23が、正(逆)相信号用配線81,82の上下面のそれぞれ直近に対向する第2層102と第4層104のGNDベタに接続されるようにした。
よって、正(逆)相信号用配線81,82と貫通ピンとの間で帰還電流の遠回りが無くなり、高周波信号の伝送特性の劣化を回避することができる。
また、モード変換によるコモンノイズの発生が防げる。
As described above, according to the first embodiment, when the number of GND solid layers to which the GND pin insertion through hole 23 can be connected is limited to be smaller than the number of all GND solid layers, the signal pin insertion through A through pin 23 for inserting a GND pin adjacent to the holes 11 and 12 is connected to the GND planes of the second layer 102 and the fourth layer 104 that are directly opposite to the upper and lower surfaces of the normal (reverse) phase signal wirings 81 and 82, respectively. It was made to be.
Therefore, there is no return circuit of the feedback current between the positive (reverse) phase signal wirings 81 and 82 and the through pin, and deterioration of the transmission characteristic of the high frequency signal can be avoided.
In addition, the occurrence of common noise due to mode conversion can be prevented.

実施の形態2.
実施の形態1では、1ペアの差動信号があり、その周囲のGNDピン挿入用スルーホールが接続可能なGNDベタの層数が3に制限されていた例を示した。
一方、信号ピン(ペア)が複数あり、信号ピンの並びと配線接続先の並びが異なる場合は、ピンから引き出す配線の層を変えることで、スムーズな順序の入れ替えが行われる。
Embodiment 2. FIG.
In the first embodiment, an example in which there is one pair of differential signals and the number of GND solid layers to which the surrounding GND pin insertion through-holes can be connected is limited to three.
On the other hand, when there are a plurality of signal pins (pairs) and the arrangement of the signal pins is different from the arrangement of the wiring connection destinations, the order of the wiring can be changed smoothly by changing the wiring layer drawn from the pins.

しかし、このような事例において、2ペアの信号を、ペアごとに第3層103と第8層108に配線して実施の形態1の手法を用いると、共通なGNDピン挿入用スルーホールを接続すべきGNDベタが第2層102、第4層104、第7層107、第9層109の4つになり、接続数制限3を超えてしまう。
つまり、異なる信号(ペア)に対して共通な周辺GNDピンがあり、GNDピンが接続可能なGNDベタの数が、GNDピンが隣接する信号(ペア)数の2倍より少ない場合は、実施の形態1の形態だけでは必ずしも万能ではない。
However, in such a case, if two pairs of signals are wired to the third layer 103 and the eighth layer 108 for each pair and the method of the first embodiment is used, a common GND pin insertion through hole is connected. There are four solid GND layers, the second layer 102, the fourth layer 104, the seventh layer 107, and the ninth layer 109, and the connection number limit 3 is exceeded.
In other words, if there are common GND pins for different signals (pairs) and the number of GND solids to which the GND pins can be connected is less than twice the number of signals (pairs) adjacent to the GND pins, The form of form 1 alone is not necessarily all-purpose.

本実施の形態2は、そのような場合に対するものである。
図7は本発明の実施の形態2による多層基板を示す導体立体図、図8は図7の各層の導体パターン図である。
図7および図8において、13と14は差動信号ペアの正相信号と逆相信号の信号ピン挿入用スルーホール、83と84は差動信号ペアの正相信号用配線および逆相信号用配線である。
26〜29はGNDピン挿入用スルーホールである。
その他の符号は、実施の形態1と共通である。
The second embodiment is for such a case.
7 is a three-dimensional conductor diagram showing a multilayer substrate according to Embodiment 2 of the present invention, and FIG. 8 is a conductor pattern diagram of each layer of FIG.
7 and 8, reference numerals 13 and 14 are through-holes for inserting signal pins of the differential signal pair for the positive phase signal and the reverse phase signal, and 83 and 84 are wirings for the positive phase signal and the negative phase signal of the differential signal pair. Wiring.
Reference numerals 26 to 29 denote through holes for inserting a GND pin.
Other symbols are the same as those in the first embodiment.

この場合、2組の差動信号配線を、1層のGNDベタを挟んだ連続した配線層に配線する。
本実施の形態2では、1組目の差動信号用の正(逆)相信号用配線81,82は第3層103に、2組目の差動信号用の正(逆)相信号用配線83,84は第5層105に、それぞれ配線している。
このため、1組目の正(逆)相信号用配線81,82を挟む上下のGNDベタのうちの下側のGNDベタと、2組目の正(逆)相信号用配線83,84を挟む上下のGNDベタのうちの上側のGNDベタとが、共に第4層104のGNDベタで、共通である。
In this case, two sets of differential signal wirings are wired in a continuous wiring layer sandwiching one layer of GND solid.
In the second embodiment, the first set of positive (reverse) phase signal wires 81 and 82 for differential signals are provided on the third layer 103 for the positive (reverse) phase signals for the second set of differential signals. The wirings 83 and 84 are wired to the fifth layer 105, respectively.
For this reason, the lower GND plane of the upper and lower GND planes sandwiching the first set of normal (reverse) phase signal lines 81 and 82 and the second set of normal (reverse) phase signal lines 83 and 84 are connected. The upper GND solid of the sandwiched upper and lower GND solids is the same as the GND solid of the fourth layer 104.

GNDピン挿入用スルーホール21〜24は、差動信号用の正(逆)相信号ピン挿入用スルーホール11,12を囲むGNDピン挿入用スルーホールであり、少なくとも第2層102と第4層104の2つのGNDベタには接続される。
GNDピン挿入用スルーホール26〜29は、差動信号用の正(逆)相信号ピン挿入用スルーホール13,14を囲むGNDピン挿入用スルーホールであり、少なくとも第4層104と第6層106の2つのGNDベタには接続される。
GNDピン挿入用スルーホール25は、差動信号用の正(逆)相信号ピン挿入用スルーホール11,12を囲むGNDピン挿入用スルーホールであり、もう1組の差動信号用の正(逆)相信号ピン挿入用スルーホール13,14を囲むGNDピン挿入用スルーホールでもあり、共通である。
よって、GNDピン挿入用スルーホール25は、第2層102と第4層104と第6層106の3つのGNDベタに接続される。
The GND pin insertion through holes 21 to 24 are GND pin insertion through holes that surround the positive (reverse) phase signal pin insertion through holes 11 and 12 for differential signals, and are at least the second layer 102 and the fourth layer. It is connected to two GND solids 104.
The GND pin insertion through-holes 26 to 29 are GND pin insertion through-holes surrounding the positive (reverse) phase signal pin insertion through-holes 13 and 14 for differential signals, and at least the fourth layer 104 and the sixth layer. The two GND solid lines 106 are connected.
The GND pin insertion through hole 25 is a GND pin insertion through hole that surrounds the positive (reverse) phase signal pin insertion through holes 11 and 12 for differential signals. On the other hand, it is also a GND pin insertion through hole surrounding the phase signal pin insertion through holes 13 and 14, and is common.
Therefore, the GND pin insertion through hole 25 is connected to three GND planes of the second layer 102, the fourth layer 104, and the sixth layer 106.

この構造とすることで、2組の差動信号用の正(逆)相信号ピン挿入用スルーホール11,12および13,14を囲むGNDピン挿入用スルーホールに共通なGNDピン挿入用スルーホール25があって、2組の差動信号用の正(逆)相信号用配線81,82および83,84の帰還電流経路が異なるGNDベタの組み合わせとなっていて、さらに2組の差動信号用の信号ペアに対して共通なGNDピン挿入用スルーホールが接続可能なGNDベタの層数が、差動信号の(ペア)数2、あるいは、差動信号用の正(逆)相信号用配線81,82および83,84が配線された層数2の2倍の4より少なくても、2組の差動信号用の正(逆)相信号用配線81,82および83,84の上下層のGNDベタを流れる帰還電流は全て、差動信号用の正(逆)相信号ピン挿入用スルーホール11,12および13,14を囲む共通なGNDピン挿入用スルーホール25に直接流れる。   With this structure, a GND pin insertion through hole common to the GND pin insertion through holes surrounding the two pairs of positive (reverse) phase signal pin insertion through holes 11, 12 and 13, 14 for differential signals. 25, the positive (reverse) phase signal wirings 81, 82 and 83, 84 for two sets of differential signals have different feedback current paths, and two sets of differential signals. The number of GND solid layers to which a common GND pin insertion through-hole can be connected to a signal pair is 2 for differential signals (pairs) or for positive (reverse) phase signals for differential signals Even if the wirings 81, 82 and 83, 84 are less than four, which is twice the number of layers 2, two pairs of positive (reverse) phase signal wirings 81, 82 and 83, 84 for differential signals All feedback currents flowing through the lower GND solid are differential signals. Flowing a positive (reverse) common GND pin insertion directly into the through hole 25 surrounding the phase signal pin insertion through holes 11, 12 and 13, 14.

これにより、2組の差動信号のいずれでも帰還電流の遠回りが無くなり、高周波信号の伝送特性の劣化が回避できる。
また、2組の差動信号のいずれでも正相と逆相の周囲のGND経路の対称性が保たれるので、モード変換によるコモンノイズの発生が防げる。
さらに、2組の差動信号のいずれでもコモンノイズ起因の差動ノイズの発生も防げ、差動信号本来の耐ノイズ性能が保たれる。
As a result, there is no detour of the feedback current in any of the two sets of differential signals, and deterioration of the transmission characteristics of the high frequency signal can be avoided.
In addition, since the symmetry of the GND path around the positive phase and the negative phase is maintained in either of the two sets of differential signals, the occurrence of common noise due to mode conversion can be prevented.
Furthermore, the occurrence of differential noise due to common noise can be prevented in either of the two sets of differential signals, and the original noise resistance performance of the differential signals can be maintained.

なお、本実施の形態2では、2組の差動信号の例を示したが、3組以上であっても構わない。
この場合、ピンアサイン上、第3層103に配線する差動信号と第5層105に配線する差動信号とが分かれていても、あるいは交互であっても構わない。
また、本実施の形態2では、2組の差動信号用の正(逆)相信号用配線81,82および83,84を、第3層103と第5層105に配線したが、第8層108と第10層110の組み合わせでも構わない。
In the second embodiment, an example of two sets of differential signals is shown, but three or more sets may be used.
In this case, on the pin assignment, the differential signal wired to the third layer 103 and the differential signal wired to the fifth layer 105 may be separated or alternated.
In the second embodiment, the two pairs of positive (reverse) phase signal wirings 81, 82 and 83, 84 for differential signals are wired to the third layer 103 and the fifth layer 105. A combination of the layer 108 and the tenth layer 110 may be used.

また、図8において、GNDピン挿入用スルーホール21〜24,26〜29が接続されるGNDベタを2つしか示していないが、残る1つは、図示していない第7層107、第9層109、第11層111のいずれに接続しても構わない。
あるいは、GND挿入用スルーホール21〜24に対しては、図8ではGNDベタには接続されていない第6層106へ、GND挿入用スルーホール26〜29に対しては、図8ではGNDベタには接続されていない第2層102へ、それぞれ接続しても構わない。
In FIG. 8, only two GND planes to which the GND pin insertion through holes 21 to 24 and 26 to 29 are connected are shown, but the remaining ones are the seventh layer 107 and the ninth layer not shown. Either the layer 109 or the eleventh layer 111 may be connected.
Alternatively, the GND insertion through holes 21 to 24 are connected to the sixth layer 106 which is not connected to the GND plane in FIG. 8, and the GND insertion through holes 26 to 29 are connected to the GND plane in FIG. May be connected to the second layer 102 which is not connected to each other.

さらに、本実施の形態2では、信号の種類を差動信号としたが、単相信号であっても構わない。
すなわち、2本以上の信号ピン挿入用スルーホールに対して少なくとも1本以上のGNDピン挿入用スルーホールが隣接していて、そ(れら)のGNDピン挿入用スルーホールが共通のGNDベタに接続されると共に、共通のGNDベタを挟んで上下面のそれぞれ直近に対向するGNDベタと接続されていれば、高周波信号の伝送特性劣化を防止できる。
ただし、この場合、差動信号ではないので、コモンノイズに対する耐性はもともと有していない。
Furthermore, in Embodiment 2, the signal type is a differential signal, but it may be a single-phase signal.
That is, at least one or more GND pin insertion through holes are adjacent to two or more signal pin insertion through holes, and these GND pin insertion through holes have a common GND plane. If connected to the GND planes that face each other on the upper and lower surfaces across the common GND plane, the transmission characteristics of the high-frequency signal can be prevented from deteriorating.
However, in this case, since it is not a differential signal, it does not have resistance against common noise.

以上により、本実施の形態2によれば、差動信号用の正(逆)相信号ピン挿入用スルーホール11,12および13,14が2組以上設けられ、2組以上の差動信号用の正(逆)相信号ピン挿入用スルーホール11,12および13,14にそれぞれ接続される差動信号用の正(逆)相信号用配線81,82および83,84が2つ以上の層に配線され、1本当たりのGNDピン挿入用スルーホールが接続可能なGNDベタの層数が、差動信号用の正(逆)相信号用配線81,82および83,84が配線された層数の2倍より少なく制限される場合に、それぞれ異なる組の差動信号用の正(逆)相信号用配線81,82および83,84の上下面のそれぞれ直近に対向するGNDベタのうちの少なくとも1つのGNDベタが共通であり、それぞれ異なる組の差動信号用の正(逆)相信号ピン挿入用スルーホール11,12および13,14に隣接する1本以上のGNDピン挿入用スルーホール25が、共通のGNDベタに接続されると共に、共通のGNDベタを挟んで上下面のそれぞれ直近に対向するGNDベタに接続されるようにした。
よって、正(逆)相信号用配線81,82および83,84と貫通ピンとの間で帰還電流の遠回りが無くなり、高周波信号の伝送特性の劣化を回避することができる。
また、モード変換によるコモンノイズの発生が防げる。
As described above, according to the second embodiment, two or more sets of through holes 11, 12 and 13, 14 for inserting positive (reverse) phase signal pins for differential signals are provided, and for two or more sets of differential signals. Two or more layers of positive (reverse) phase signal wirings 81, 82 and 83, 84 for differential signals connected to through-holes 11, 12 and 13, 14 for inserting normal (reverse) phase signal pins The number of GND solid layers that can be connected to one GND pin insertion through hole is a layer in which the positive (reverse) phase signal wirings 81, 82 and 83, 84 for differential signals are wired. When the number is limited to less than twice the number of GND planes that are directly opposite to the upper and lower surfaces of the positive and reverse phase signal wirings 81, 82 and 83, 84 for different sets of differential signals, respectively. At least one GND plane is common and One or more GND pin insertion through holes 25 adjacent to the positive (reverse) phase signal pin insertion through holes 11, 12 and 13, 14 for different sets of differential signals are connected to a common GND plane. At the same time, they are connected to the GND planes that face each other on the upper and lower surfaces across the common GND plane.
Therefore, there is no detour of the feedback current between the positive (reverse) phase signal wires 81, 82 and 83, 84 and the through pin, and deterioration of the transmission characteristic of the high frequency signal can be avoided.
In addition, the occurrence of common noise due to mode conversion can be prevented.

なお、前記実施の形態に示した多層基板に部品を実装した回路基板を構成しても構わない。
従来の多層基板に部品を実装した回路基板を構成した場合、発生したコモンノイズが回路基板に伝搬し、コネクタが実装された回路基板上の回路の信号振幅やタイミングマージンの減少、あるいは誤動作の誘発につながる課題がある。
前記実施の形態に示した多層基板に部品を実装した回路基板を構成した場合、回路基板上の回路の信号振幅やタイミングマージンの減少、および誤動作の誘発を防止することができる。
Note that a circuit board in which components are mounted on the multilayer board described in the above embodiment may be configured.
When configuring a circuit board with components mounted on a conventional multilayer board, the generated common noise propagates to the circuit board, reducing the signal amplitude and timing margin of the circuit on the circuit board on which the connector is mounted, or inducing malfunctions. There is a problem that leads to
When a circuit board in which components are mounted on the multilayer board described in the above embodiment is configured, it is possible to prevent a signal amplitude and timing margin of a circuit on the circuit board from being reduced and to induce a malfunction.

また、前記実施の形態に示した多層基板に部品を実装した回路基板を用いて情報処理装置を構成しても構わない。
従来の多層基板に部品を実装した回路基板を用いて情報処理装置を構成した場合、発生したコモンノイズが回路基板に伝搬し、コネクタやケーブルを介して、情報処理装置内の他の回路基板の回路の信号振幅やタイミングマージンの減少、あるいは誤動作の誘発につながる課題がある。
前記実施の形態に示した多層基板に部品を実装した回路基板を用いて情報処理装置を構成した場合、情報処理装置内の他の回路基板の回路の信号振幅やタイミングマージンの減少、あるいは誤動作の誘発を防止することができる。
In addition, the information processing apparatus may be configured using a circuit board in which components are mounted on the multilayer board described in the above embodiment.
When an information processing apparatus is configured using a circuit board in which components are mounted on a conventional multilayer board, the generated common noise propagates to the circuit board and is connected to other circuit boards in the information processing apparatus via connectors and cables. There is a problem that leads to a decrease in the signal amplitude and timing margin of the circuit or the induction of malfunction.
When an information processing apparatus is configured using a circuit board in which components are mounted on the multilayer board described in the above embodiment, the signal amplitude or timing margin of a circuit on another circuit board in the information processing apparatus is reduced, or malfunction occurs. Induction can be prevented.

さらに、前記実施の形態に示した多層基板に部品を実装した回路基板とセンサーを用いてセンサー装置を構成しても構わない。
従来の多層基板に部品を実装した回路基板とセンサーを用いてセンサー装置を構成した場合、発生したコモンノイズが回路基板に伝搬し、センサー信号の電圧レベルに対するノイズになり、センサーの精度を劣化させる課題がある。
前記実施の形態に示した多層基板に部品を実装した回路基板とセンサーを用いてセンサー装置を構成した場合、センサーの精度の劣化を防止することができる。
Furthermore, a sensor device may be configured using a circuit board in which components are mounted on the multilayer board described in the above embodiment and a sensor.
When a sensor device is configured using a conventional circuit board with components mounted on a multilayer board and a sensor, the generated common noise propagates to the circuit board and becomes noise with respect to the voltage level of the sensor signal, degrading the accuracy of the sensor. There are challenges.
When a sensor device is configured using a circuit board in which components are mounted on the multilayer board described in the above embodiment and a sensor, deterioration in accuracy of the sensor can be prevented.

さらに、前記実施の形態に示した多層基板に部品を実装した回路基板とアンテナを用いて通信装置を構成しても構わない。
従来の多層基板に部品を実装した回路基板とアンテナを用いて通信装置を構成した場合、発生したコモンノイズにより放射ノイズが生じると、アンテナ装置への影響を与え、通信速度の低下や通信障害を引き起こす課題がある。
前記実施の形態に示した多層基板に部品を実装した回路基板とアンテナを用いて通信装置を構成した場合、通信速度の低下や通信障害を防止することができる。
Furthermore, a communication device may be configured using a circuit board in which components are mounted on the multilayer board described in the above embodiment and an antenna.
When a communication device is configured using a conventional circuit board with components mounted on a multilayer board and an antenna, radiation noise caused by the generated common noise will affect the antenna device, causing a reduction in communication speed and communication failure. There is a problem to cause.
When a communication device is configured using a circuit board in which components are mounted on the multilayer substrate described in the above embodiment and an antenna, a reduction in communication speed and communication failure can be prevented.

なお、本願発明はその発明の範囲内において、各実施の形態の自由な組み合わせ、あるいは各実施の形態の任意の構成要素の変形、もしくは各実施の形態において任意の構成要素の省略が可能である。   In the present invention, within the scope of the invention, any combination of the embodiments, or any modification of any component in each embodiment, or omission of any component in each embodiment is possible. .

1 多層基板、10 信号用スルーホール、11,13 正相信号ピン挿入用スルーホール、12,24 逆相信号ピン挿入用スルーホール、20 GND用スルーホール、21〜29 GNDピン挿入用スルーホール、30 GNDベタ、40,50 リング状ランド、60 GNDスルーホール用ランド、70 アンチパッド、80 信号配線、81,83 正相信号用配線、82,84 逆相信号用配線、101 第1層、102 第2層、103 第3層、104 第4層、105 第5層、106 第6層、107 第7層、108 第8層、109 第9層、110 第10層、111 第11層、112 第12層。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Multilayer substrate, 10 Signal through hole, 11, 13 Positive phase signal pin insertion through hole, 12, 24 Reverse phase signal pin insertion through hole, 20 GND through hole, 21-29 GND pin insertion through hole, 30 GND solid, 40, 50 ring land, 60 GND through hole land, 70 antipad, 80 signal wiring, 81, 83 positive phase signal wiring, 82, 84 negative phase signal wiring, 101 first layer, 102 2nd layer, 103 3rd layer, 104 4th layer, 105 5th layer, 106 6th layer, 107 7th layer, 108 8th layer, 109 9th layer, 110 10th layer, 111 11th layer, 112 12th layer.

Claims (8)

一面にグランドパターンが形成されたグランドベタから成る複数の層、および信号配線が形成された層を含み、
最上層にてグランド用の貫通ピンが挿入されるグランド用スルーホールが前記グランドベタおよび前記信号配線を含む複数の層を貫通するように形成され、
最上層にて信号用の貫通ピンが挿入される信号用スルーホールが、前記グランドベタの層を貫通し、前記信号配線に接続される多層基板であって、
1本当たりの前記グランド用スルーホールが接続可能な前記グランドベタの層数が全ての前記グランドベタの層数よりも少なく制限される場合に、
前記信号用スルーホールに隣接する1本以上の前記グランド用スルーホールが、前記信号配線の上下面のそれぞれ直近に対向する前記グランドベタに接続され
前記信号用スルーホールが2本以上設けられ、
2本以上の前記信号用スルーホールにそれぞれ接続される前記信号配線が2つ以上の層に配線され、
1本当たりの前記グランド用スルーホールが接続可能な前記グランドベタの層数が前記信号配線が配線された層数の2倍より少なく制限される場合に、
それぞれ異なる前記信号配線の上下面のそれぞれ直近に対向する前記グランドベタのうちの少なくとも1つの前記グランドベタが共通であり、
それぞれ異なる前記信号用スルーホールに隣接する1本以上の前記グランド用スルーホールが、共通の前記グランドベタに接続されると共に、共通の前記グランドベタを挟んで上下面のそれぞれ直近に対向する前記グランドベタに接続されること
を特徴とする多層基板。
Including a plurality of layers composed of a ground plane on which a ground pattern is formed on one surface, and a layer on which signal wiring is formed;
Is formed so that the ground through-hole for the penetration pin for grounding at the top layer is inserted through the plurality of layers including a pre-Symbol ground solid and the signal line,
A signal through hole into which a signal through pin is inserted in the uppermost layer is a multilayer substrate that penetrates the ground plane layer and is connected to the signal wiring,
When the through-hole ground per one number of layers of the ground solid connectable is less limited than the number of layers of all of said ground solid,
One or more of the through-holes for ground adjacent to the signal through-hole is connected to said ground solid which respectively face the nearest upper and lower surfaces of the signal lines,
Two or more signal through holes are provided,
The signal wirings connected to two or more signal through holes are wired in two or more layers, respectively.
In the case where the number of ground solid layers to which the ground through hole per one can be connected is limited to less than twice the number of layers in which the signal wiring is wired,
At least one of the ground planes facing each other on the upper and lower surfaces of the different signal wirings in common is common.
One or more ground through-holes adjacent to different signal through-holes are connected to a common ground plane, and the ground faces the top and bottom surfaces closest to each other across the common ground plane. A multilayer board characterized by being connected to a solid .
一面にグランドパターンが形成されたグランドベタから成る複数の層、および2本隣接した差動信号用の信号配線が形成された層を含み、
最上層にてグランド用の貫通ピンが挿入されるグランド用スルーホールが前記グランドベタおよび差動信号用の前記信号配線を含む複数の層を貫通するように形成され、
最上層にて信号用の貫通ピンが挿入される2本隣接した差動信号用の信号用スルーホールが、前記グランドベタの層を貫通し、差動信号用の前記信号配線に接続される多層基板であって、
1本当たりの前記グランド用スルーホールが接続可能な前記グランドベタの層数が全ての前記グランドベタの層数よりも少なく制限される場合に、
動信号用の前記信号用スルーホールに隣接する1本以上の前記グランド用スルーホールが、差動信号用の前記信号配線の上下面のそれぞれ直近に対向する前記グランドベタに接続され
前記信号用スルーホールに隣接する全ての前記グランド用スルーホールが、前記信号配線の上下面のそれぞれ直近に対向する前記グランドベタに接続され、
差動信号用の前記信号配線の上下面のそれぞれ直近に対向する前記グランドベタの範囲において、前記信号用スルーホールの形状、前記グランド用スルーホールの形状、前記グランドベタの形状および接続状態が、差動信号用の2本の前記信号配線に対して電磁気的におおむね対称であること
を特徴とする多層基板。
Including a plurality of layers composed of a ground plane having a ground pattern formed on one surface, and a layer formed with two adjacent signal wirings for differential signals;
Is formed so that the ground through-hole for the penetration pin for grounding at the top layer is inserted through the plurality of layers including a pre-Symbol the signal line for the ground solid and differential signals,
Signal through-hole of the differential signals adjacent two of the through pins for signals at the uppermost layer is inserted, through the layer of the ground solid, multilayer connected to the signal line for differential signal A substrate,
When the through-hole ground per one number of layers of the ground solid connectable is less limited than the number of layers of all of said ground solid,
One or more of the through-holes for ground adjacent to the signal through-hole for the differential signals are connected to the upper and lower surfaces of the signal lines for the differential signal to said ground solid which faces the last,
All the ground through-holes adjacent to the signal through-holes are connected to the ground planes that are respectively directly opposite the upper and lower surfaces of the signal wiring,
In the range of the ground planes facing the respective upper and lower surfaces of the signal wiring for differential signals, the shape of the signal through hole, the shape of the ground through hole, the shape of the ground plane, and the connection state are: A multilayer substrate characterized by being substantially electromagnetically symmetrical with respect to the two signal wirings for differential signals .
前記信号用スルーホールに隣接する全ての前記グランド用スルーホールが、前記信号配線の上下面のそれぞれ直近に対向する前記グランドベタに接続されること
を特徴とする請求項記載の多層基板。
All of the through-holes for grounding, the multilayer substrate according to claim 1, characterized in that it is connected to the ground solid which respectively face the nearest upper and lower surfaces of the signal lines adjacent to the signal through-hole.
差動信号用の前記信号用スルーホールが2組以上設けられ、
2組以上の差動信号用の前記信号用スルーホールにそれぞれ接続される差動信号用の前記信号配線が2つ以上の層に配線され、
1本当たりの前記グランド用スルーホールが接続可能な前記グランドベタの層数が差動信号用の前記信号配線が配線された層数の2倍より少なく制限される場合に、
れぞれ異なる組の差動信号用の前記信号配線の上下面のそれぞれ直近に対向する前記グランドベタのうちの少なくとも1つの前記グランドベタが共通であり、
れぞれ異なる組の差動信号用の前記信号用スルーホールに隣接する1本以上の前記グランド用スルーホールが、共通の前記グランドベタに接続されると共に、共通の前記グランドベタを挟んで上下面のそれぞれ直近に対向する前記グランドベタに接続されること
を特徴とする請求項2記載の多層基板。
The signal through-hole of the differential signal are provided two or more sets,
The signal lines for differential signals are connected to two or more sets of the signal through-hole of the differential signals are wired into two or more layers,
When the through-hole ground per one number of layers of the ground solid connectable said signal lines for the differential signal is limited less than twice the number of layers is wired,
At least one of said ground solid of said ground solid which respectively face the nearest upper and lower surfaces of the signal lines for their Re respective different sets of the differential signals are common,
Their Re respective different sets of one or more of the through-holes for ground adjacent to the signal through-hole of the differential signal, is connected to the ground solid of the common, the ground solid of the common sandwiched therebetween multilayer substrate according to claim 2, characterized in that it is connected to the ground solid which respectively face the nearest upper and lower surfaces.
請求項1から請求項のうちのいずれか1項記載の多層基板に部品を実装したこと
を特徴とする回路基板。
A circuit board, wherein a component is mounted on the multilayer board according to any one of claims 1 to 4 .
請求項記載の回路基板を用いたこと
を特徴とする情報処理装置。
An information processing apparatus using the circuit board according to claim 5 .
請求項記載の回路基板とセンサーを用いたこと
を特徴とするセンサー装置。
6. A sensor device comprising the circuit board according to claim 5 and a sensor.
請求項記載の回路基板とアンテナを用いたこと
を特徴とする通信装置。
A communication device comprising the circuit board according to claim 5 and an antenna.
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