JP6140404B2 - 呼気ガス分析装置の遅れ時間の校正 - Google Patents
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Description
呼気ガス分析には、呼吸代謝に関する指標を求める呼吸代謝測定や胃のピロリ菌の存在を検査するピロリ菌検査等、各種のものがあるが、ここでは呼吸代謝測定用の呼気ガス分析装置を例に説明する。
装置は、図6(A)に示すように、センサ部71と、呼吸流量センサ72、サンプリング回路74、制御部75、ガス分析計76、ガス輸送部77を有する。
流量信号線73は、呼吸流量センサ72で測定した呼吸流量データを制御部75に伝送する。
サンプリング回路74には、通常、サンプリングチューブ又はキャピラリと称する細管が用いられる。
測定ガスとは、測定の対象となるガスである。呼吸代謝測定用の呼気ガス分析では、呼吸で酸素を体内に取り込まれる酸素ガスと、体内の代謝によって産生され排泄される炭酸ガスを測定するため、測定ガスは酸素ガスと炭酸ガスである。このため、ガス分析計76は酸素ガス分析計と炭酸ガス分析計である。酸素ガスと炭酸ガスのいずれか一方を測定し、他方は計算によって求めることもできる。目的によってはこれ以外のガスを追加して測定することもある。
呼吸代謝測定以外の呼気ガス分析では、測定ガスを分析するガス分析計を用いる。
また、流量に関する諸データから、例えば1回の呼出量(1回呼気量)や1回の吸気量(1回吸気量)などの、気量に関する諸データを求める。気量に関するデータは、流量に関するデータを所定の時間、例えば1回の吸気の間、積分して求める。
一方、制御部75は、ガス分析計76の出力を受け取り、例えば、1回の呼気の酸素ガスの平均濃度(1回呼気平均酸素濃度)や1回の吸気の平均酸素ガス濃度(1回吸気平均酸素濃度)等の、ガス濃度に関する諸データを求める。
また、流量に関するデータとガス濃度に関するデータを組み合わせて、測定ガスの量、例えば、1回の吸気と呼気の酸素ガス量と炭酸ガス量、1分間あたりの呼気と吸気の酸素ガス量と炭酸ガス量などを求めることができる。
さらに、呼気と吸気のガス量を比較すると、各種の呼吸代謝データを得ることができる。例えば、1回の呼吸時の呼気と吸気の酸素ガス量を比較すると1回呼吸時酸素ガス摂取量を求めることができる。同様に、呼気と吸気の炭酸ガス量を比較すると、1回呼吸時炭酸ガス排泄量を求めることができる。これらのデータを1分間あたりの値に換算すると、分時酸素ガス摂取量、分時炭酸ガス排泄量などを求めることができる。
一方、呼吸気のサンプルガスはセンサ部72内部で採取し、サンプリング回路74を経由して、ガス分析計76に輸送され、分析される。
つまり、ガス分析データは、図6(C)に示すように、呼吸流量測定データが得られた時刻tから時間tdだけ遅れて得られる。この時間tdを遅れ時間という。
このため、呼気ガス分析で、測定ガスの量に関するデータを得るには、時刻tの流量データと、時刻t+tdのガス濃度データを組み合わせなければならない。
従来の遅れ時間tdの校正法を図7に示す。校正時に、図6(A)に示すように、サンプリング回路74のサンプルガス採取部にステップ状の校正用ガスを流し、それをガス分析計76で測定し、校正ガスの入力開始時からガス分析計76の出力が得られるまでの時間tdを測定して、遅れ時間tdを得ていた。
この影響を取り除くため、サンプリング回路74内のサンプルガスを定流量にする技術が開示されている(例えば特許文献1など)。
しかし、サンプリング回路74内のサンプルガスを定流量にしても、校正時と測定環境の状態が変化したり、サンプルガスの状態(ガス密度)が変化すると、サンプルガスの体積が変化して、サンプリング回路74内のガス輸送時間が変化し、遅れ時間tdが変化する(図7(D)参照)。
これを防止するために、サンプリング回路74内のガス輸送速度を一定にする技術が開示されている(例えば特許文献2など)。
しかし、実際には、校正ガスをステップ状に入力しても、ガス分析計の出力は、図7(B)のように、漸増する曲線として得られる。これは、サンプルガスがサンプリング回路74内を輸送される間にガス拡散等が生じるためである。
図7(B)のようガス分析計の出力が漸増すると遅れ時間を正確に決定することはできない。
また、高価な校正用ガスを多量に使用するため不経済である。
一方、校正ガス供給手段では、通常は電磁弁を開いて校正ガスを供給するが、電磁弁の開閉にはゆらぎが存在する。同様に、ガス分析計の作動等にもゆらぎがある。このため、校正した遅れ時間tdもゆらぎを有する。
つまり、従来の校正法で得た遅れ時間tdは、本質的に不正確さとゆらぎを有していた。
本発明はこれらの問題を解決し、正確な遅れ時間tdを求めて、正確な呼気ガス分析データを得ることができるようにすることを目的とする。
呼吸気の流量を測定する呼吸気流量測定手段と、
前記呼吸気に含まれる測定ガスのガス濃度を測定するガス濃度測定手段と、
前記呼吸気の一部をサンプルガスとして前記ガス濃度測定手段に輸送するサンプリング手段と、
前記サンプリング手段に校正ガスを供給する校正ガス供給手段と、
前記校正ガス供給手段から前記サンプリング手段に前記校正ガスを供給して前記ガス濃度測定手段により前記校正ガスのガス濃度を測定し、前記校正ガスを供給した時刻から前記校正ガスのガス濃度が得られた時刻までの時間を遅れ時間として測定する遅れ時間測定手段とを有し、
予め、前記校正ガス供給手段から前記校正ガスを供給して前記遅れ時間測定手段で前記遅れ時間を測定しておき、
測定時に、前記流量と、前記流量から前記遅れ時間だけ遅れて測定される前記ガス濃度を組み合わせて呼気ガス分析をおこなう呼気ガス分析装置において、
前記校正ガス供給手段は、前記校正ガスに含まれる測定ガスのガス濃度がパルス状に変化するパルス化校正ガスを供給するようにしたパルス化校正ガス供給手段であることを特徴とする、呼気ガス分析装置とした。
前記パルス化校正ガスのパルス幅を20ms以下にした。
前記遅れ時間測定手段は、前記パルス化校正ガスの立下り開始時から前記ガス濃度測定手段の出力の立ち下がり開始時までの時間を測定して前記遅れ時間とするようにした。
前記パルス化校正ガスを複数回供給して得られる複数個の遅れ時間の平均値を前記遅れ時間とするようにした。
前記校正ガス供給手段は、
所定の校正ガスのガス濃度を有する第1校正ガスを供給する第1校正ガス供給手段と、
前記第1校正ガスと校正ガスのガス濃度が異なる第2校正ガスを供給する第2校正ガス供給手段と、
前記第1校正ガスと前記第2校正ガスのいずれかを選択して前記サンプリング手段に供給する校正ガス選択手段と
を有し、
前記校正ガス選択手段で、前記第1校正ガスと前記第2校正ガスの一方の校正ガスを選択しておき、短時間、他方の校正ガスを選択して、校正ガスに含まれる測定ガスのガス濃度をパルス状に変化させて前記パルス化校正ガスを得るようにした。
前記の2つの校正ガスは、標準的な大気ガスと近似したガス組成の校正ガスと、標準的な人の呼気ガスと近似したガス組成の校正ガスとした。
前記の2つの校正ガスの一方は大気ガスとした。
よ
前記校正ガス選択手段で前記第1校正ガスと前記第2校正ガスを交互に複数回選択するようにした。
前記サンプルガスの輸送速度を一定にするようにした。
このとき、遅れ時間測定手段により、校正ガスを供給した後、校正ガスの測定ガスのガス濃度がガス濃度測定手段で測定されるまでの時間を遅れ時間tdとして測定する。
校正ガスのガス濃度がパルス状に変化し、ガス濃度測定手段の出力(ガス濃度データ)もパルス状に変化するため、従来の構成法と比較して、遅れ時間tdを正確に求めることができる。
このため、より正確な呼気ガス分析が可能になる。また、パルス応答から遅れ時間tdを測定するため、遅れ時間の校正を短時間でおこなうことができ、校正に要する時間と労力を省力化することができる。さらに、測定ガスの使用量を少なくすることができるため、経済的である。
校正ガスのガス濃度が短時間、変化し、ガス濃度測定手段の出力も細いパルス状に変化するため、遅れ時間tdをより正確に求めることができる。
このため、より正確な呼気ガス分析が可能になる。また、パルス応答から遅れ時間tdを測定するため、遅れ時間の校正を短時間でおこなうことができ、校正に要する時間と労力を省力化することができる。さらに、測定ガスの使用量を少なくすることができるため、経済的である。
前記校正ガス供給手段は、
所定の校正ガスのガス濃度を有する第1校正ガスを供給する第1校正ガス供給手段と、
前記第1校正ガスとガス濃度が異なる第2校正ガスを供給する第2校正ガス供給手段と、
前記第1校正ガスと前記第2校正ガスのいずれかを選択して前記サンプリング手段に供給する校正ガス選択手段と
を有し、
前記校正ガス選択手段で、前記第1校正ガスと前記第2校正ガスの一方の校正ガスを選択しておき、短時間、他方の校正ガスを選択して、校正ガスに含まれる測定ガスのガス濃度をパルス状に変化させて前記パルス化校正ガスを得るようにした。
前記の2つの校正ガスは、標準的な大気ガスと近似したガス組成の校正ガスと、標準的な人の呼気ガスと近似したガス組成の校正ガスとした。
前記の2つの校正ガスの一方は大気ガスとした。
請求項6記載の発明で、請求項3から請求項5のいずれかに記載した呼気ガス分析装置において、
前記校正ガス選択手段で前記第1校正ガスと前記第2校正ガスを交互に複数回選択するようにした。
前記サンプルガスの輸送速度を一定にするようにした。
このため、呼気ガス分析を従来よりも正確におこなうことができる。
遅れ時間の校正の回路には、電磁弁の応答時間やガス輸送時間、ガス分析計の応答時間等、ゆらぎの要因が存在するため、1回の校正では、遅れ時間は不確実さを有し、校正ごとにばらつきが生じる。
本請求項記載の発明により、このようなゆらぎの影響を取り除いて、ばらつきを無くし、正確な遅れ時間を求めることができる。
請求項1の方法よりもさらに正確に遅れ時間tdを測定することができ、呼気ガス分析もさらに正確におこなうことができる。
実際の生体の呼気ガス分析では、酸素ガスと炭酸ガスがほぼパルス状に変化する。
本請求項記載の発明により、請求項1又は2で従来よりも正確に測定できるようになった遅れ時間の測定を、さらに生体での呼気ガス分析に近づけ、請求項1又は2よりもさらに正確に遅れ時間を校正できる。
このため、請求項1又は2よりもさらに正確な呼気ガス分析が可能になった。
このため、請求項3記載の発明よりもさらに、遅れ時間を正確に測定でき、請求項3記載の発明よりもさらに正確な呼気ガス分析をおこなうことができる。
このため、吸気の校正では誤差が無くなり、請求項4よりも正確な遅れ時間を測定できる。
しかも、吸気校正ガスとその供給回路を必要としないため、コスト削減になり、故障の低減にも繋がる。
このため、従来よりも正確に遅れ時間を測定できる請求項3〜5記載の発明に存在するゆらぎの影響を取り除いたため、請求項3〜5に記載した発明よりもさらに正確に遅れ時間を測定でき、さらに正確に呼気ガス分析をおこなうことができる。
サンプルガスの輸送速度を一定にすると、遅れ時間を一定にすることができる。遅れ時間は請求項1〜6記載の発明により、従来よりも正確に求めることができる。
このため、本請求項記載の発明により、従来よりも、また、請求項1〜6記載の発明よりもさらに正確に遅れ時間を測定し、正確な呼気ガス分析をおこなうことができる。
呼気ガス分析をおこなうに当たり、サンプリング回路4をパルス化校正ガス供給手段Aに接続し、校正ガスを供給してガス分析をおこない、遅れ時間を測定して、遅れ時間tdの校正をおこなう。
実際の人の呼気ガス分析をおこなう際は、呼吸気の流量と呼吸気ガスの濃度を測定し、予め求めておいた遅れ時間を用いて、呼吸気の流量と呼吸気ガスの濃度から、呼吸代謝に関する各種指標を求める。
本発明は、この遅れ時間を正確に求めることを目的とする。
呼吸気の一部をサンプルガスとして採取してガス分析計に輸送してガス分析をおこなう呼気ガス分析装置において、
前記サンプルガスの採取部にパルス状の校正ガスを供給するパルス化校正ガス供給手段と、
前記パルス化校正ガス供給手段により校正ガスを供給して前記ガス分析計で測定結果を得るまでの遅れ時間を測定する遅れ時間測定手段と
を有する遅れ時間校正手段
を設けた呼気ガス分析装置である。
呼気ガス分析時には、図1(A)に示すように、サンプリング回路4をセンサ部1に接続して、センサ部1内部を通過する呼吸気の一部をガス分析計6に輸送して、呼気ガスを分析するが、遅れ時間tdの校正時には、サンプリング回路4をセンサ部1から取り外して、パルス化校正ガス供給手段Aに接続して校正をおこなう。
パルス化校正ガス供給手段Aは、図3(B)に示すように、校正ガスを供給する校正ガス供給部G1と、校正ガス供給部G1とサンプリング回路4の間に設けた電磁バルブV1と、バルブV1とサンプリング回路4を接続するコネクタCを有する。
電磁バルブV1を閉じて、ガス輸送部7を作動させると、図には記載していないが、大気を、サンプリング回路4を経由してガス分析計6に輸送し、ガス分析をおこなうようにしている。大気の組成は、酸素ガスが約21%、窒素ガスが約78%である。
校正ガス供給部G1には、測定ガスの濃度が大気と異なる校正ガスを入れており、バルブV1を開くと、大気の代わりに校正ガスを、サンプリング回路4を経由してガス分析計6に導入し、ガス分析をおこなうようにしている。
従来の校正では、バルブV1を開いて長い時間、校正ガスを供給し、図7に示すように、ガス分析計76の出力を得て、遅れ時間tdを求めていた。
しかし、図7(B)から判るように、どの点までを測定していいのかわからず、遅れ時間の測定が不正確になり、しかも、校正ガスの消費量が多くなり不経済であるという問題があった。
これに対して、請求項1記載の発明では、バルブV1を短時間、開いて、図1(B)に示すように、パルス状の校正ガスを、サンプリング回路4を経由してガス分析計6に導入する。
このとき、ガス分析計6の出力は、図2(B)のガス分析計出力のように、ガス濃度がパルス状に変化する。このときの時間差tdを測定すると、遅れ時間を求めることができる。
そこで、本請求項記載の発明の遅れ時間測定手段により、パルス状の校正ガスを供給してガス分析計6のパルス出力が得られるまでの時間を測定すると、遅れ時間tdを求めるようにした。
遅れ時間tdは、図1(B)に示すように、校正ガスのパルスの立ち上がりからガス分析計6の出力のパルスの立ち上がり時刻までを測定して求めることができる。校正ガスのパルスの立ち下がりからガス分析計6の出力のパルスの立ち下がり時刻までを測定してもよい。
本請求項記載の発明により、従来の構成法と比較して、遅れ時間tdを正確に求めることができるため、より正確な呼気ガス分析が可能になる。また、校正時間を短縮することができるため、校正に要する労力を省力化することができる。さらに、校正用のガスの使用量を少なくすることができるため、経済的である。
しかし、校正ガスをパルス状に供給しても、ガス分析計の出力は図1(C)〜(E)のように、立ち上がりは漸増する。このため、より正確に遅れ時間を測定するには、校正ガスのパルス幅を小さくするほうが、遅れ時間は正確に測定できる。
こそこで、実際のガス分析計の応答時間から、請求項1では、パルス幅は20mS以下とした。この程度のパルス幅では、ガス分析計の出力が真値を示す前に校正ガスは立ち下がるため、図1(E)のような応答が得られる。
このような応答では図1(C)や(D)よりも正確に遅れ時間を決定できる。
それでも、ガス分析計の立ち上りは漸増するため、不正確さを内蔵する。
しかし、校正ガスのパルスの立下り時には、ガス分析計は即時的に応答してたち下がる。
そこで請求項1では、校正ガスのパルスの立下りと、ガス分析計の出力の立下りの時間差を測定して、遅れ時間tdとするようにした。
このようにすることで、従来よりも、正確に遅れ時間を測定できるようになった。
このため、呼気ガス分析もより正確におこなえるようになった。
そこで請求項2記載の発明では、図2に示すように、パルス状の校正ガスを複数回発生し、これをガス分析計で測定し、得られた複数の遅れ時間の平均をとり、遅れ時間とした。
本請求項記載の発明により、このような測定系のゆらぎの影響を取り除いて、ばらつきを無くし、正確な遅れ時間を求めることができる。
請求項1の方法よりもさらに正確に遅れ時間tdを測定することができ、呼気ガス分析もさらに正確におこなうことができる。
パルス化校正ガス供給部Aは、図3(A)のように、測定対象ガスのガス濃度がある値の第1の校正ガスを供給する第1ガス供給部G1と、第1の校正ガスと測定ガスの濃度が異なる第2の校正ガスを供給する第2ガス供給部G2と、第1ガス供給部G1をガス分析計に流すバルブ1と、第2ガス供給部G2のガスをガス分析計に流すバルブ2とを有する。
バルブ1を短時間開いて閉じ、続いてバルブ2を短時間開いて閉じると、請求項3記載の発明を実現することができる。
実際の生体の呼気ガス分析では、酸素ガスと炭酸ガスがほぼパルス状に変化する。
本請求項記載の発明により、請求項1又は2で従来よりも正確に測定できるようになった遅れ時間の測定を、さらに生体での呼気ガス分析に近づけ、請求項1又は2よりもさらに正確に遅れ時間を校正できる。
このため、請求項1又は2よりもさらに正確な呼気ガス分析が可能になった。
このため、請求項3記載の発明よりもさらに、遅れ時間を正確に測定でき、請求項3記載の発明よりもさらに正確な呼気ガス分析をおこなうことができる。
この発明は、図3(B)のように、パルス化校正ガス供給部Aを構成することで実現できる。
このため、吸気の校正では誤差が無くなり、請求項4よりも正確な遅れ時間を測定できる。
しかも、吸気校正ガスとその供給回路を必要としないため、コスト削減になり、故障の低減にも繋がる。
この様子を図4に示す。図4(A)は校正ガスの保区定ガス濃度がゼロとf1の間で、図4(B)は校正ガスの保区定ガス濃度がf1とf2の間で、それぞれ変化するようにしている。
請求項4の発明の校正ガスを複数個発生し、そのときのガス分析計の出力が図4(B)である。
このため、従来よりも正確に遅れ時間を測定できる請求項3〜5記載の発明に存在するゆらぎの影響を取り除いたため、請求項3〜5に記載した発明よりもさらに正確に遅れ時間を測定でき、さらに正確に呼気ガス分析をおこなうことができる。
本発明は、図5(A)のように、サンプリング回路4にサンプルガス輸送手段(ポンプ)Pを接続し、PLL法等によりポンプを正確に制御し、ガス分析計6に導入するサンプルガスの輸送速度を一定にしている。
請求項7記載の発明により、請求項1〜6記載の発明の校正を、サンプリング回路を輸送されるサンプルガスの輸送速度を一定にして、おこなう。
サンプルガスの輸送速度を一定にすると、遅れ時間を一定にすることができる。遅れ時間は請求項1〜6記載の発明により、従来よりも正確に求めることができる。
このため、本請求項記載の発明により、従来よりも、また、請求項1〜6記載の発明よりもさらに正確に遅れ時間を測定し、正確な呼気ガス分析をおこなうことができる。
4、74:サンプリング回路 5、75:制御部
6、76:ガス分析計 7、77:ガス輸送部
8:環境状態測定部 td:遅れ時間
τ、τw、τm、τn:校正ガスとガス分析計の出力のパルス幅
G1、G2:校正ガス供給部 V1、V2:バルブ
A:校正ガス供給部 C:サンプリング回路のコネクタ
78:呼吸マスク M:被検者
Claims (7)
- 呼吸気の流量を測定する呼吸気流量測定手段と、
前記呼吸気に含まれる測定ガスのガス濃度を測定するガス濃度測定手段と、
前記呼吸気の一部をサンプルガスとして前記ガス濃度測定手段に輸送するサンプリング手段と、
前記サンプリング手段に校正ガスを供給する校正ガス供給手段と、
前記校正ガス供給手段から前記サンプリング手段に前記校正ガスを供給して前記ガス濃度測定手段により前記校正ガスのガス濃度を測定し、前記校正ガスを供給した時刻から前記校正ガスのガス濃度が得られた時刻までの時間を遅れ時間として測定する遅れ時間測定手段とを有し、
予め、前記校正ガス供給手段から前記校正ガスを供給して前記遅れ時間測定手段で前記遅れ時間を測定しておき、
測定時に、前記流量と、前記流量から前記遅れ時間だけ遅れて測定される前記ガス濃度を組み合わせて呼気ガス分析をおこなう呼気ガス分析装置において、
前記校正ガス供給手段は、前記校正ガスに含まれる測定ガスのガス濃度がパルス状に変化するパルス化校正ガスを供給するようにしたパルス化校正ガス供給手段であり、
前記パルス化校正ガスのパルス幅は、20ms以下であり、
前記遅れ時間測定手段は、前記パルス化校正ガスの立ち上がり開始時から前記ガス濃度測定手段の出力の立ち上がり開始時までの時間を測定し、又は、前記パルス化校正ガスの立ち下り開始時から前記ガス濃度測定手段の出力の立ち下がり開始時までの時間を測定して前記遅れ時間とした
ことを特徴とする、呼気ガス分析装置。 - 前記パルス化校正ガスを複数回供給して得られる複数個の遅れ時間の平均値を前記遅れ時間とするようにしたことを特徴とする、請求項1に記載した呼気ガス分析装置。
- 前記校正ガス供給手段は、
所定の校正ガスのガス濃度を有する第1校正ガスを供給する第1校正ガス供給手段と、
前記第1校正ガスとガス濃度が異なる第2校正ガスを供給する第2校正ガス供給手段と、
前記第1校正ガスと前記第2校正ガスのいずれかを選択して前記サンプリング手段に供給する校正ガス選択手段と
を有し、
前記校正ガス選択手段で、前記第1校正ガスと前記第2校正ガスの一方の校正ガスを選択しておき、短時間、他方の校正ガスを選択して、校正ガスに含まれる測定ガスのガス濃度をパルス状に変化させて前記パルス化校正ガスを得るようにしたことを特徴とする、請求項1又は請求項2に記載した呼気ガス分析装置。 - 前記の2つの校正ガスは、標準的な大気ガスと近似したガス組成の校正ガスと、標準的な人の呼気ガスと近似したガス組成の校正ガスであることを特徴とする、請求項3に記載の呼気ガス分析装置。
- 前記の2つの校正ガスの一方は大気ガスであることを特徴とする、請求項3又は請求項4記載の呼気ガス分析装置。
- 前記校正ガス選択手段で前記第1校正ガスと前記第2校正ガスを交互に複数回選択するようにしたことを特徴とする、請求項3から請求項5のいずれかに記載した呼気ガス分析装置。
- 前記サンプルガスの輸送速度を一定にするようにした、請求項1から請求項6のいずれかに記載した呼気ガス分析装置。
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