JP6136414B2 - Photosensitive resin composition, photosensitive element, method for manufacturing substrate with resist pattern, and method for manufacturing printed wiring board - Google Patents

Photosensitive resin composition, photosensitive element, method for manufacturing substrate with resist pattern, and method for manufacturing printed wiring board Download PDF

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Description

本発明は、感光性樹脂組成物、感光性エレメント、レジストパターン付き基板の製造方法及びプリント配線板の製造方法に関する。   The present invention relates to a photosensitive resin composition, a photosensitive element, a method for producing a substrate with a resist pattern, and a method for producing a printed wiring board.

プリント配線板の製造分野においては、エッチング処理又はめっき処理に用いられるレジスト材料として、感光性樹脂組成物が広く用いられている。感光性樹脂組成物は、支持フィルムと、該支持フィルム上に感光性樹脂組成物を用いて形成された層(以下、「感光性樹脂組成物層」ともいう)とを備える感光性エレメント(積層体)として用いられることが多い。   In the field of manufacturing printed wiring boards, a photosensitive resin composition is widely used as a resist material used for etching treatment or plating treatment. A photosensitive resin composition includes a support film and a photosensitive element (laminated layer) including a layer formed on the support film using the photosensitive resin composition (hereinafter also referred to as “photosensitive resin composition layer”). Often used as a body).

プリント配線板は、例えば以下のようにして製造される。まず、感光性エレメントの感光性樹脂組成物層を回路形成用基板上に積層(ラミネート)する(積層工程)。次に、感光性樹脂組成物層の所定部分に活性光線を照射して露光部を硬化させる(露光工程)。その後、支持フィルムを剥離して除去した後、未露光部を基板上から除去(現像)することにより、回路形成用基板上に、感光性樹脂組成物の硬化物(以下、「レジスト硬化物」ともいう)からなるレジストパターンが形成される(現像工程)。得られたレジストパターンに対しエッチング処理又はめっき処理を施して基板上に回路を形成した後(回路形成工程)、最終的にレジストを剥離し除去して(剥離工程)、プリント配線板が製造される。   A printed wiring board is manufactured as follows, for example. First, the photosensitive resin composition layer of the photosensitive element is laminated (laminated) on the circuit forming substrate (lamination step). Next, a predetermined part of the photosensitive resin composition layer is irradiated with actinic rays to cure the exposed part (exposure process). Then, after peeling off and removing the support film, the unexposed portion is removed (developed) from the substrate, whereby a cured product of the photosensitive resin composition (hereinafter, “resist cured product”) is formed on the circuit forming substrate. A resist pattern is also formed (development process). The resulting resist pattern is etched or plated to form a circuit on the substrate (circuit formation process), and finally the resist is removed and removed (peeling process) to produce a printed wiring board. The

露光の方法としては、従来、水銀灯を光源としてフォトマスクを介して露光する方法が用いられている。また、近年、DLP(Digital Light Processing)又はLDI(Laser Direct Imaging)と呼ばれる、パターンを感光性樹脂組成物層に直接描画する直接描画露光法が提案されている。この直接描画露光法は、フォトマスクを介した露光法よりも位置合わせ精度が良好であり、且つ高精細なパターンが得られることから、高密度パッケージ基板作製のために導入されている。   As an exposure method, conventionally, a method of exposing via a photomask using a mercury lamp as a light source has been used. In recent years, a direct drawing exposure method called DLP (Digital Light Processing) or LDI (Laser Direct Imaging) for directly drawing a pattern on a photosensitive resin composition layer has been proposed. This direct drawing exposure method has been introduced for the production of a high-density package substrate because it has better alignment accuracy than the exposure method through a photomask and a high-definition pattern can be obtained.

一般に露光工程では、生産効率の向上のために露光時間を短縮する必要がある。しかし、上述の直接描画露光法では、光源にレーザ等の単色光を用いるほか、基板を走査しながら光線を照射するため、従来のフォトマスクを介した露光方法と比べて多くの露光時間を要する傾向がある。そのため、露光時間を短縮して生産効率を高めるためには、従来よりも感光性樹脂組成物の感度を向上させる必要がある。   In general, in the exposure process, it is necessary to shorten the exposure time in order to improve production efficiency. However, in the above-described direct drawing exposure method, in addition to using monochromatic light such as a laser as a light source and irradiating a light beam while scanning the substrate, a long exposure time is required as compared with an exposure method using a conventional photomask. Tend. Therefore, in order to shorten the exposure time and increase the production efficiency, it is necessary to improve the sensitivity of the photosensitive resin composition than before.

一方で、近年のプリント配線板の高密度化に伴い、解像度(解像性)及び密着性に優れたレジストパターンを形成可能な感光性樹脂組成物の要求が高まっている。特に、パッケージ基板作製において、L/S(ライン幅/スペース幅)が10/10(単位:μm)以下のレジストパターンを形成することが可能な感光性樹脂組成物が求められている。   On the other hand, with the recent increase in the density of printed wiring boards, there is an increasing demand for a photosensitive resin composition capable of forming a resist pattern excellent in resolution (resolution) and adhesion. In particular, a photosensitive resin composition capable of forming a resist pattern having an L / S (line width / space width) of 10/10 (unit: μm) or less in package substrate production is required.

これらの要求に対して、従来、種々の感光性樹脂組成物が検討されている。例えば、特許文献1には、スチリルピリジン化合物を増感色素として用いることで、上述の要求される特性を向上させた感光性樹脂組成物が開示されている。また、特許文献2及び3には、(メタ)アクリル酸ベンジル由来の構造を含む特定のバインダーポリマーを用いることで、上述の要求される特性を向上させた感光性樹脂組成物が開示されている。   Conventionally, various photosensitive resin compositions have been studied in response to these requirements. For example, Patent Document 1 discloses a photosensitive resin composition in which the above required characteristics are improved by using a styrylpyridine compound as a sensitizing dye. Patent Documents 2 and 3 disclose a photosensitive resin composition in which the above-described required properties are improved by using a specific binder polymer containing a structure derived from benzyl (meth) acrylate. .

中国特許出願公開第101738861号明細書Chinese Patent Application No. 101738861 特開2006−234995号公報JP 2006-234959 A 国際公開第08/078483号パンフレットInternational Publication No. 08/078483 Pamphlet

しかし、特許文献1に開示されているスチリルピリジン化合物については、その当時によく用いられていた他の増感色素と比べて、感度は充分に高かったものの、解像度は高いとは言い難いものであった。そのため、感光性樹脂組成物の高解像度化という観点では、スチリルピリジン化合物は積極的に用いられなかった。   However, the styrylpyridine compound disclosed in Patent Document 1 has a sufficiently high sensitivity compared with other sensitizing dyes often used at that time, but it is difficult to say that the resolution is high. there were. Therefore, a styrylpyridine compound has not been actively used from the viewpoint of increasing the resolution of the photosensitive resin composition.

本発明は、解像度及び密着性に優れるレジストパターンを、優れた感度で形成可能な感光性樹脂組成物、この感光性樹脂組成物を用いた感光性エレメント、レジストパターン付き基板の製造方法及びプリント配線板の製造方法を提供することを目的とする。   The present invention relates to a photosensitive resin composition capable of forming a resist pattern having excellent resolution and adhesion with excellent sensitivity, a photosensitive element using the photosensitive resin composition, a method for producing a substrate with a resist pattern, and printed wiring. It aims at providing the manufacturing method of a board.

本発明者らは、上記課題を解決するべく鋭意検討を重ねた結果、一般式(1)で示されるスチリルピリジン化合物と、(メタ)アクリル酸及び(メタ)アクリル酸ベンジルに由来する構造単位を有するバインダーポリマーと、エチレン性不飽和結合基を有する光重合性化合物と、光重合開始剤とを組み合わせることにより、解像度及び密着性に優れるレジストパターンを、優れた感度で形成可能な感光性樹脂組成物が得られることを見出し、本発明を完成するに至った。   As a result of intensive studies to solve the above problems, the present inventors have obtained a structural unit derived from a styrylpyridine compound represented by the general formula (1), (meth) acrylic acid and benzyl (meth) acrylate. Photosensitive resin composition capable of forming a resist pattern having excellent resolution and adhesion with excellent sensitivity by combining a binder polymer having a photopolymerizable compound having an ethylenically unsaturated bond group and a photopolymerization initiator The present inventors have found that a product can be obtained, and have completed the present invention.

すなわち、本発明の第一の態様は、(A)(メタ)アクリル酸及び(メタ)アクリル酸ベンジルに由来する構造単位を有するバインダーポリマーと、(B)エチレン性不飽和結合基を有する光重合性化合物と、(C)光重合開始剤と、(D)一般式(1)で示されるスチリルピリジン化合物と、を含有する感光性樹脂組成物である。   That is, the first aspect of the present invention is (A) a binder polymer having a structural unit derived from (meth) acrylic acid and benzyl (meth) acrylate, and (B) photopolymerization having an ethylenically unsaturated bond group. It is a photosensitive resin composition containing a functional compound, (C) a photopolymerization initiator, and (D) a styrylpyridine compound represented by the general formula (1).

式(1)中、R、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1〜20のアルキル基、炭素数1〜6のアルコキシ基、炭素数1〜6のアルキルエステル基、アミノ基、炭素数1〜20のアルキルアミノ基、カルボキシル基、シアノ基、ニトロ基、アセチル基又は(メタ)アクリル基を示し、a、b及びcはそれぞれ独立に0〜5の整数を示す。但し、aが2以上の場合、複数存在するRはそれぞれ同一でも異なっていてもよく、bが2以上の場合、複数存在するRはそれぞれ同一でも異なっていてもよく、cが2以上の場合、複数存在するRはそれぞれ同一でも異なっていてもよい。 In formula (1), R 1 , R 2 and R 3 are each independently an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, an alkyl ester group having 1 to 6 carbon atoms, or an amino group. , An alkylamino group having 1 to 20 carbon atoms, a carboxyl group, a cyano group, a nitro group, an acetyl group or a (meth) acryl group, and a, b and c each independently represent an integer of 0 to 5. However, when a is 2 or more, a plurality of R 1 may be the same or different, and when b is 2 or more, a plurality of R 2 may be the same or different, and c is 2 or more. In the case, a plurality of R 3 may be the same or different.

上記感光性樹脂組成物は、上記の態様をとることによって、解像度及び密着性に優れるレジストパターンを、優れた感度で形成することができる。上記感光性樹脂組成物によれば、L/S(ライン幅/スペース幅)が10/10(単位:μm)以下のレジストパターンを形成することが可能となる。   The said photosensitive resin composition can form the resist pattern which is excellent in the resolution and adhesiveness with the outstanding sensitivity by taking said aspect. According to the photosensitive resin composition, a resist pattern having L / S (line width / space width) of 10/10 (unit: μm) or less can be formed.

上記感光性樹脂組成物は、感度、並びに形成されるレジストパターンの解像度及び密着性をより向上する点から、(C)光重合開始剤が、下記一般式(2)で表される2,4,5−トリアリールイミダゾール二量体及びその誘導体からなる群より選択される少なくとも1種を含有することが好ましい。   From the point that the photosensitive resin composition further improves the sensitivity and the resolution and adhesion of the resist pattern to be formed, (C) the photopolymerization initiator is represented by the following general formula (2) 2, 4 It is preferable to contain at least one selected from the group consisting of, 5-triarylimidazole dimer and derivatives thereof.

式(2)中、Ar、Ar、Ar及びArは、それぞれ独立に、アルキル基、アルケニル基及びアルコキシ基からなる群より選ばれる少なくとも1種の置換基で置換されていてもよいアリール基を示し、X及びXは、それぞれ独立に、ハロゲン原子、アルキル基、アルケニル基又はアルコキシ基を示し、p及びqは、それぞれ独立に、1〜5の整数を示す。但し、pが2以上の場合、複数存在するXはそれぞれ同一でも異なっていてもよく、qが2以上の場合、複数存在するXはそれぞれ同一でも異なっていてもよい。 In formula (2), Ar 1 , Ar 2 , Ar 3 and Ar 4 may each independently be substituted with at least one substituent selected from the group consisting of an alkyl group, an alkenyl group and an alkoxy group. Represents an aryl group, X 1 and X 2 each independently represent a halogen atom, an alkyl group, an alkenyl group or an alkoxy group, and p and q each independently represents an integer of 1 to 5. However, when p is 2 or more, a plurality of X 1 may be the same or different, and when q is 2 or more, a plurality of X 2 may be the same or different.

本発明の第二の態様は、支持フィルムと、前記支持フィルム上に設けられた上記第一の態様の感光性樹脂組成物の塗膜である感光性樹脂組成物層と、を備える感光性エレメントである。このような感光性エレメントを用いることにより、特に、解像度及び密着性に優れたレジストパターンを、優れた感度で効率的に形成することができる。   A second aspect of the present invention is a photosensitive element comprising: a support film; and a photosensitive resin composition layer that is a coating film of the photosensitive resin composition of the first aspect provided on the support film. It is. By using such a photosensitive element, in particular, a resist pattern excellent in resolution and adhesion can be efficiently formed with excellent sensitivity.

本発明の第三の態様は、基板上に、上記第一の態様の感光性樹脂組成物の塗膜である感光性樹脂組成物層を積層する積層工程と、前記感光性樹脂組成物層の少なくとも一部の領域に活性光線を照射して、前記領域を光硬化させて硬化物領域を形成する露光工程と、前記感光性樹脂組成物層の前記硬化物領域以外の領域を前記基板上から除去して、前記基板上に前記硬化物領域からなるレジストパターンを形成する現像工程とを有するレジストパターン付き基板の製造方法である。上記レジストパターン付き基板の製造方法によれば、解像度及び密着性に優れるレジストパターンを、優れた感度で効率的に形成することができる。   According to a third aspect of the present invention, there is provided a lamination step of laminating a photosensitive resin composition layer, which is a coating film of the photosensitive resin composition of the first aspect, on a substrate, and the photosensitive resin composition layer. An exposure step of irradiating at least a part of the region with actinic rays and photocuring the region to form a cured product region; and regions other than the cured product region of the photosensitive resin composition layer from above the substrate And a developing process for forming a resist pattern comprising the cured product region on the substrate by removing the resist pattern. According to the above method for producing a substrate with a resist pattern, a resist pattern having excellent resolution and adhesion can be efficiently formed with excellent sensitivity.

上記レジストパターン付き基板の製造方法において、照射する活性光線の波長は、340nm〜430nmの範囲内とすることが好ましい。これにより、解像度及び密着性がより良好なレジストパターンを、優れた感度で更に効率的に形成することができる。   In the above method for producing a substrate with a resist pattern, the wavelength of the actinic ray to be irradiated is preferably in the range of 340 nm to 430 nm. Thereby, a resist pattern with better resolution and adhesion can be formed more efficiently with excellent sensitivity.

本発明の第四の態様は、上記レジストパターン付き基板の製造方法によりレジストパターンが形成された基板をエッチング処理又はめっき処理する工程を含むプリント配線板の製造方法である。この製造方法によれば、高密度パッケージ基板のような高密度化した配線を有するプリント配線板を、優れた精度で生産性よく、効率的に製造することができる。   The 4th aspect of this invention is a manufacturing method of a printed wiring board including the process of carrying out the etching process or the plating process of the board | substrate with which the resist pattern was formed by the manufacturing method of the said board | substrate with a resist pattern. According to this manufacturing method, a printed wiring board having high-density wiring such as a high-density package substrate can be efficiently manufactured with excellent accuracy and high productivity.

本発明によれば、解像度及び密着性に優れるレジストパターンを、優れた感度で形成可能な感光性樹脂組成物、並びにこれを用いた感光性エレメント、レジストパターン付き基板の製造方法及びプリント配線板の製造方法を提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the photosensitive resin composition which can form the resist pattern excellent in resolution and adhesiveness with the outstanding sensitivity, the photosensitive element using the same, the manufacturing method of a board | substrate with a resist pattern, and printed wiring board A manufacturing method can be provided.

本発明の感光性エレメントの一実施形態を示す模式断面図である。It is a schematic cross section which shows one Embodiment of the photosensitive element of this invention. セミアディティブ工法によるプリント配線板の製造工程の一例を模式的に示す斜視図である。It is a perspective view which shows typically an example of the manufacturing process of the printed wiring board by a semi-additive construction method.

以下、本発明を実施するための形態について詳細に説明する。但し、本発明は以下の実施形態に限定されるものではない。なお、本明細書において、(メタ)アクリル酸とは、アクリル酸又はメタクリル酸を意味し、(メタ)アクリレートとは、アクリレート又はメタクリレートを意味し、(メタ)アクリロイルオキシ基とは、アクリロイルオキシ基又はメタクリロイルオキシ基を意味する。(ポリ)エチレンオキシ基とは、エチレンオキシ基又は2以上のエチレン基がエーテル結合で連結したポリエチレンオキシ基の少なくとも1種を意味する。(ポリ)プロピレンオキシ基とは、プロピレンオキシ基又は2以上のプロピレン基がエーテル結合で連結したポリプロピレンオキシ基の少なくとも1種を意味する。更に「EO変性」とは、(ポリ)エチレンオキシ基を有する化合物であることを意味し、「PO変性」とは、(ポリ)プロピレンオキシ基を有する化合物であることを意味し、「EO・PO変性」とは、(ポリ)エチレンオキシ基及び(ポリ)プロピレンオキシ基の双方を有する化合物であることを意味する。   Hereinafter, embodiments for carrying out the present invention will be described in detail. However, the present invention is not limited to the following embodiments. In this specification, (meth) acrylic acid means acrylic acid or methacrylic acid, (meth) acrylate means acrylate or methacrylate, and (meth) acryloyloxy group means acryloyloxy group. Or means a methacryloyloxy group. (Poly) ethyleneoxy group means at least one ethyleneoxy group or polyethyleneoxy group in which two or more ethylene groups are linked by an ether bond. (Poly) propyleneoxy group means at least one propyleneoxy group or a polypropyleneoxy group in which two or more propylene groups are linked by an ether bond. Furthermore, “EO-modified” means a compound having a (poly) ethyleneoxy group, and “PO-modified” means a compound having a (poly) propyleneoxy group. “PO-modified” means a compound having both a (poly) ethyleneoxy group and a (poly) propyleneoxy group.

本明細書において「工程」との語は、独立した工程だけではなく、他の工程と明確に区別できない場合であってもその工程の所期の目的が達成されれば、本用語に含まれる。また「〜」を用いて示された数値範囲は、「〜」の前後に記載される数値をそれぞれ最小値及び最大値として含む範囲を示す。更に組成物中の各成分の含有量は、組成物中に各成分に該当する物質が複数存在する場合、特に断らない限り、組成物中に存在する当該複数の物質の合計量を意味する。   In this specification, the term “process” is not limited to an independent process, and is included in the term if the intended purpose of the process is achieved even when it cannot be clearly distinguished from other processes. . Moreover, the numerical range shown using "to" shows the range which includes the numerical value described before and behind "to" as a minimum value and a maximum value, respectively. Furthermore, the content of each component in the composition means the total amount of the plurality of substances present in the composition unless there is a specific notice when there are a plurality of substances corresponding to each component in the composition.

<感光性樹脂組成物>
本実施形態の感光性樹脂組成物は、(A)成分:(メタ)アクリル酸に由来する構造単位及び(メタ)アクリル酸ベンジルに由来する構造単位を有するバインダーポリマーと、(B)成分:エチレン性不飽和結合基を有する光重合性化合物と、(C)成分:光重合開始剤と、(D)一般式(1)で示されるスチリルピリジン化合物と、を含有する。上記感光性樹脂組成物は、必要に応じて更にその他の成分を含んでいてもよい。
<Photosensitive resin composition>
The photosensitive resin composition of this embodiment comprises (A) component: a binder polymer having a structural unit derived from (meth) acrylic acid and a structural unit derived from benzyl (meth) acrylate, and (B) component: ethylene. A photopolymerizable compound having a polymerizable unsaturated bond group, (C) component: a photopolymerization initiator, and (D) a styrylpyridine compound represented by the general formula (1). The photosensitive resin composition may further contain other components as necessary.

(メタ)アクリル酸に由来する構造単位及び(メタ)アクリル酸ベンジルに由来する構造単位を有するバインダーポリマーと、エチレン性不飽和結合基を有する光重合性化合物と、光重合開始剤と、一般式(1)で示されるスチリルピリジン化合物とを含むことで、解像度及び密着性のいずれにも優れるレジストパターンを、優れた感度で形成可能な感光性樹脂組成物を構成することができる。   A binder polymer having a structural unit derived from (meth) acrylic acid and a structural unit derived from benzyl (meth) acrylate, a photopolymerizable compound having an ethylenically unsaturated bond group, a photopolymerization initiator, and a general formula By including the styrylpyridine compound represented by (1), a photosensitive resin composition capable of forming a resist pattern excellent in both resolution and adhesion with excellent sensitivity can be formed.

(A)成分:バインダーポリマー
上記感光性樹脂組成物は、(A)成分として、(メタ)アクリル酸に由来する構造単位、及び(メタ)アクリル酸ベンジルに由来する構造単位を有するバインダーポリマーの少なくとも1種を含む。
(A) Component: Binder Polymer The photosensitive resin composition is at least a binder polymer having a structural unit derived from (meth) acrylic acid and a structural unit derived from benzyl (meth) acrylate as the component (A). Contains one species.

上記バインダーポリマーは、例えば、重合性単量体(モノマー)として、(メタ)アクリル酸、(メタ)アクリル酸ベンジル及び必要に応じて用いられるその他の重合性単量体を、常法により、ラジカル重合させることにより得られる。   The binder polymer is, for example, as a polymerizable monomer (monomer), (meth) acrylic acid, benzyl (meth) acrylate, and other polymerizable monomers used as necessary in a radical manner. It is obtained by polymerizing.

その他の重合性単量体としては、(メタ)アクリル酸及び(メタ)アクリル酸ベンジルと重合可能であり、(メタ)アクリル酸及び(メタ)アクリル酸ベンジルとは異なる重合性単量体であれば、特に制限はない。その他の重合性単量体としては、(メタ)アクリル酸アルキルエステル、(メタ)アクリル酸シクロアルキルエステル、(メタ)アクリル酸ベンジル誘導体、(メタ)アクリル酸フルフリル、(メタ)アクリル酸テトラヒドロフルフリル、(メタ)アクリル酸イソボルニル、(メタ)アクリル酸アダマンチル、(メタ)アクリル酸ジシクロペンタニル、(メタ)アクリル酸ジメチルアミノエチル、(メタ)アクリル酸ジエチルアミノエチル、(メタ)アクリル酸グリシジル、2,2,2−トリフルオロエチル(メタ)アクリレート、2,2,3,3−テトラフルオロプロピル(メタ)アクリレート、(メタ)アクリル酸ジシクロペンテニルオキシエチル、(メタ)アクリル酸ジシクロペンタニルオキシエチル、(メタ)アクリル酸イソボルニルオキシエチル、(メタ)アクリル酸シクロヘキシルオキシエチル、(メタ)アクリル酸アダマンチルオキシエチル、(メタ)アクリル酸ジシクロペンテニルオキシプロピルオキシエチル、(メタ)アクリル酸ジシクロペンタニルオキシプロピルオキシエチル、(メタ)アクリル酸ジシクロペンテニルオキシプロピルオキシエチル、(メタ)アクリル酸アダマンチルオキシプロピルオキシエチル等の(メタ)アクリル酸エステル;α−ブロモアクリル酸、α−クロロアクリル酸、β−フリル(メタ)アクリル酸、β−スチリル(メタ)アクリル酸等の(メタ)アクリル酸誘導体;スチレン、ビニルトルエン、α−メチルスチレン等のα−位又は芳香族環において置換されている重合可能なスチレン誘導体;ジアセトンアクリルアミド等のアクリルアミド;アクリロニトリル;ビニル−n−ブチルエーテル等のビニルアルコールのエーテル化合物;マレイン酸;マレイン酸無水物;マレイン酸モノメチル、マレイン酸モノエチル、マレイン酸モノイソプロピル等のマレイン酸モノエステル;フマル酸、ケイ皮酸、α−シアノケイ皮酸、イタコン酸、クロトン酸、プロピオール酸等の不飽和カルボン酸誘導体;などが挙げられる。これらは1種単独で又は2種類以上を任意に組み合わせて用いることができる。 Other polymerizable monomers can be polymerized with (meth) acrylic acid and benzyl (meth) acrylate, and may be different from (meth) acrylic acid and benzyl (meth) acrylate. There is no particular limitation. Other polymerizable monomers include (meth) acrylic acid alkyl ester, (meth) acrylic acid cycloalkyl ester, (meth) acrylic acid benzyl derivative, (meth) acrylic acid furfuryl, (meth) acrylic acid tetrahydrofurfuryl. , Isobornyl (meth) acrylate, adamantyl (meth) acrylate, dicyclopentanyl (meth) acrylate, dimethylaminoethyl (meth) acrylate, diethylaminoethyl (meth) acrylate, glycidyl (meth) acrylate, 2 , 2,2-trifluoroethyl (meth) acrylate, 2,2,3,3-tetrafluoropropyl (meth) acrylate, dicyclopentenyloxyethyl (meth) acrylate, dicyclopentanyloxy (meth) acrylate Ethyl, isobornyl (meth) acrylate Oxyethyl, cyclohexyloxyethyl (meth) acrylate, adamantyloxyethyl (meth) acrylate, dicyclopentenyloxypropyloxyethyl (meth) acrylate, dicyclopentanyloxypropyloxyethyl (meth) acrylate, (meth) (Meth) acrylic acid esters such as dicyclopentenyloxypropyloxyethyl acrylate, adamantyloxypropyloxyethyl (meth) acrylate; α-bromoacrylic acid, α-chloroacrylic acid, β-furyl (meth) acrylic acid, (meth) acrylic acid derivatives such as β-styryl (meth) acrylic acid; polymerizable styrene derivatives substituted at the α-position or aromatic ring such as styrene, vinyltoluene, α-methylstyrene; diacetone acrylamide, etc. Acrylic Bromide; acrylonitrile; ether compound of vinyl alcohol and vinyl -n- butyl ether maleic acid; maleic anhydride; monomethyl maleate, monoethyl maleate, maleic acid monoesters such as maleic acid monoisopropyl; full circle acid, cinnamic And unsaturated carboxylic acid derivatives such as acid, α-cyanocinnamic acid, itaconic acid, crotonic acid, and propiolic acid. These can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

上記バインダーポリマー中の、(メタ)アクリル酸に由来する構造単位の含有率は、現像性及び剥離特性を効果的に発揮させる観点から、バインダーポリマーを構成する重合性単量体に由来する構造単位の全質量を基準(100質量%、以下同様)として、1質量%〜99質量%であることが好ましく、5質量%〜80質量%であることがより好ましく、10質量%〜60質量%であることが更に好ましく、15質量%〜50質量%であることが特に好ましい。   The content rate of the structural unit derived from (meth) acrylic acid in the binder polymer is a structural unit derived from the polymerizable monomer constituting the binder polymer from the viewpoint of effectively exhibiting developability and peeling properties. 1 mass% to 99 mass%, more preferably 5 mass% to 80 mass%, and more preferably 10 mass% to 60 mass%. More preferably, it is particularly preferably 15% by mass to 50% by mass.

上記バインダーポリマー中の、(メタ)アクリル酸ベンジルに由来する構造単位の含有率は、解像度及び剥離性に優れる点から、バインダーポリマーを構成する重合性単量体に由来する構造単位の全質量を基準(100質量%、以下同様)として、3質量%〜85質量%であることが好ましく、5質量%〜75質量%であることがより好ましく、10質量%〜70質量%であることが更に好ましく、10質量%〜50質量%であることが特に好ましい。解像度に優れる点からは、この含有率が3質量%以上であることが好ましく、5質量%以上であることがより好ましく、10質量%以上であることが更に好ましい。また、剥離性及び密着性に優れる点からは、この含有率が85質量%以下であることが好ましく、75質量%以下であることがより好ましく、70質量%以下であることが更に好ましく、50質量%以下であることが特に好ましい。   The content of the structural unit derived from benzyl (meth) acrylate in the binder polymer is the total mass of the structural unit derived from the polymerizable monomer constituting the binder polymer from the point of excellent resolution and peelability. As a reference (100% by mass, the same applies hereinafter), it is preferably 3% by mass to 85% by mass, more preferably 5% by mass to 75% by mass, and further more preferably 10% by mass to 70% by mass. The content is preferably 10% by mass to 50% by mass. From the viewpoint of excellent resolution, the content is preferably 3% by mass or more, more preferably 5% by mass or more, and still more preferably 10% by mass or more. Moreover, from the point which is excellent in peelability and adhesiveness, it is preferable that this content rate is 85 mass% or less, It is more preferable that it is 75 mass% or less, It is further more preferable that it is 70 mass% or less, 50 It is particularly preferable that the content is not more than mass%.

また、バインダーポリマーは、現像性及び剥離特性を向上させる観点から、(メタ)アクリル酸アルキルエステルに由来する構造単位を更に有することが好ましい。   Moreover, it is preferable that a binder polymer further has the structural unit derived from the (meth) acrylic-acid alkylester from a viewpoint of improving developability and a peeling characteristic.

(メタ)アクリル酸アルキルエステルとしては、炭素数が1〜12のアルキル基を有する(メタ)アクリル酸アルキルエステルが好ましく、炭素数1〜8のアルキル基を有する(メタ)アクリル酸アルキルエステルがより好ましい。(メタ)アクリル酸アルキルエステルとしては例えば、(メタ)アクリル酸メチル、(メタ)アクリル酸エチル、(メタ)アクリル酸プロピル、(メタ)アクリル酸ブチル、(メタ)アクリル酸ペンチル、(メタ)アクリル酸ヘキシル、(メタ)アクリル酸ヘプチル、(メタ)アクリル酸オクチル、(メタ)アクリル酸2−エチルヘキシル、(メタ)アクリル酸ノニル、(メタ)アクリル酸デシル、(メタ)アクリル酸ウンデシル、(メタ)アクリル酸ドデシルが挙げられる。これらは1種単独で又は2種以上を任意に組み合わせて用いることができる。   The (meth) acrylic acid alkyl ester is preferably a (meth) acrylic acid alkyl ester having an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, more preferably a (meth) acrylic acid alkyl ester having an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms. preferable. Examples of (meth) acrylic acid alkyl esters include methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, propyl (meth) acrylate, butyl (meth) acrylate, pentyl (meth) acrylate, and (meth) acrylic. Hexyl acid, heptyl (meth) acrylate, octyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, nonyl (meth) acrylate, decyl (meth) acrylate, undecyl (meth) acrylate, (meth) An example is dodecyl acrylate. These can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

バインダーポリマーが、(メタ)アクリル酸アルキルエステルに由来する構造単位を有する場合、その含有率は、剥離性、解像度及び密着性に優れる点では、バインダーポリマーを構成する重合性単量体に由来する構造単位の全質量(100質量%)を基準として1質量%〜30質量%であることが好ましく、1質量%〜20質量%であることがより好ましく、2質量%〜10質量%であることが更に好ましい。剥離性に優れる点では、この含有量が1質量%以上であることが好ましく、2質量%以上であることがより好ましい。また、解像度及び密着性に優れる点では、この含有量が30質量%以下であることが好ましく、20質量%以下であることがより好ましく、10質量%以下であることが更に好ましい。   When the binder polymer has a structural unit derived from an alkyl (meth) acrylate, the content is derived from the polymerizable monomer constituting the binder polymer in terms of excellent peelability, resolution and adhesion. It is preferably 1% by mass to 30% by mass based on the total mass (100% by mass) of the structural unit, more preferably 1% by mass to 20% by mass, and 2% by mass to 10% by mass. Is more preferable. In terms of excellent peelability, the content is preferably 1% by mass or more, and more preferably 2% by mass or more. In view of excellent resolution and adhesion, the content is preferably 30% by mass or less, more preferably 20% by mass or less, and further preferably 10% by mass or less.

バインダーポリマーの酸価は、現像性及び密着性に優れる点では、90mgKOH/g〜250mgKOH/gであることが好ましく、100mgKOH/g〜240mgKOH/gであることがより好ましく、120mgKOH/g〜235mgKOH/gであることが更に好ましく、130mgKOH/g〜230mgKOH/gであることが特に好ましい。現像時間を短縮する点からは、この酸価は90mgKOH/g以上であることが好ましく、100mgKOH/g以上であることがより好ましく、120mgKOH/g以上であることが更に好ましく、130mgKOH/g以上であることが特に好ましい。また感光性樹脂組成物の硬化物の密着性を充分に達成する点からは、この酸価は250mgKOH/g以下であることが好ましく、240mgKOH/g以下であることがより好ましく、235mgKOH/g以下であることが更に好ましく、230mgKOH/g以下であることが特に好ましい。   The acid value of the binder polymer is preferably 90 mgKOH / g to 250 mgKOH / g, more preferably 100 mgKOH / g to 240 mgKOH / g, and more preferably 120 mgKOH / g to 235 mgKOH / g in terms of excellent developability and adhesion. g is more preferable, and 130 mgKOH / g to 230 mgKOH / g is particularly preferable. From the viewpoint of shortening the development time, the acid value is preferably 90 mgKOH / g or more, more preferably 100 mgKOH / g or more, further preferably 120 mgKOH / g or more, and 130 mgKOH / g or more. It is particularly preferred. From the viewpoint of sufficiently achieving the adhesion of the cured product of the photosensitive resin composition, the acid value is preferably 250 mgKOH / g or less, more preferably 240 mgKOH / g or less, and 235 mgKOH / g or less. It is more preferable that it is 230 mgKOH / g or less.

バインダーポリマーの重量平均分子量(Mw)は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)により測定(標準ポリスチレンを用いた検量線により換算)した場合、現像性及び密着性に優れる点では、10000〜200000であることが好ましく、15000〜100000であることがより好ましく、20000〜80000であることが更に好ましく、23000〜60000であることが特に好ましい。現像性に優れる点では、200000以下であることが好ましく、100000以下であることがより好ましく、80000以下であることが更に好ましく、60000以下であることが特に好ましい。密着性に優れる点では、10000以上であることが好ましく、15000以上であることがより好ましく、20000以上であることが更に好ましく、23000以上であることが特に好ましい。   The weight average molecular weight (Mw) of the binder polymer is 10,000 to 200,000 in terms of excellent developability and adhesion when measured by gel permeation chromatography (GPC) (converted by a calibration curve using standard polystyrene). It is preferably 15000 to 100,000, more preferably 20000 to 80000, and particularly preferably 23,000 to 60000. In terms of excellent developability, it is preferably 200000 or less, more preferably 100000 or less, still more preferably 80000 or less, and particularly preferably 60000 or less. In terms of excellent adhesion, it is preferably 10,000 or more, more preferably 15,000 or more, further preferably 20,000 or more, and particularly preferably 23,000 or more.

GPCの検量線は、標準ポリスチレンの5サンプルセット(PStQuick MP−H、PStQuick B[東ソー(株)製、商品名])を用いて3次式で近似する。GPCの条件を以下に示す。
・装置:(ポンプ:L−2130型[(株)日立ハイテクノロジーズ製])、(検出器:L−2490型RI[(株)日立ハイテクノロジーズ製])、(カラムオーブン:L−2350[(株)日立ハイテクノロジーズ製])
・カラム:Gelpack GL−R440 + Gelpack GL−R450 + Gelpack GL−R400M(計3本)(日立化成(株)製、商品名)
・カラムサイズ:10.7mmI.D.×300mm
・溶離液:テトラヒドロフラン
・試料濃度:10mg/2mL
・注入量:200μL
・流量:2.05mL/分
・測定温度:25℃
The GPC calibration curve is approximated by a cubic equation using a standard polystyrene 5 sample set (PStQuick MP-H, PStQuick B [trade name, manufactured by Tosoh Corp.]). The GPC conditions are shown below.
Apparatus: (Pump: L-2130 type [manufactured by Hitachi High-Technologies Corporation]), (Detector: L-2490 type RI [manufactured by Hitachi High-Technologies Corporation]), (Column oven: L-2350 [( Made by Hitachi High-Technologies Corporation]])
Column: Gelpack GL-R440 + Gelpack GL-R450 + Gelpack GL-R400M (three in total) (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.)
Column size: 10.7 mmI. D. × 300mm
・ Eluent: Tetrahydrofuran ・ Sample concentration: 10 mg / 2 mL
・ Injection volume: 200 μL
・ Flow rate: 2.05 mL / min ・ Measurement temperature: 25 ° C.

バインダーポリマーの分散度(重量平均分子量/数平均分子量)は、解像度及び密着性に優れる点では、3.0以下であることが好ましく、2.8以下であることがより好ましく、2.5以下であることが更に好ましい。   The degree of dispersion (weight average molecular weight / number average molecular weight) of the binder polymer is preferably 3.0 or less, more preferably 2.8 or less, and more preferably 2.5 or less in terms of excellent resolution and adhesion. More preferably.

バインダーポリマーは、必要に応じて340nm〜430nmの範囲内の波長を有する光に対して感光性を有する特性基をその分子内に有していてもよい。上記特性基としては後述する増感色素から水素原子を少なくとも1つ取り除いて構成される基を挙げることができる。   The binder polymer may have a characteristic group in its molecule that has photosensitivity to light having a wavelength in the range of 340 nm to 430 nm, if necessary. Examples of the characteristic group include a group constituted by removing at least one hydrogen atom from a sensitizing dye described later.

(A)成分としては、1種類のバインダーポリマーを単独で使用してもよく、2種類以上のバインダーポリマーを任意に組み合わせて使用してもよい。   As the component (A), one type of binder polymer may be used alone, or two or more types of binder polymers may be used in any combination.

上記感光性樹脂組成物における(A)成分の含有量は、フィルム形成性、感度及び解像度に優れる点では、(A)成分及び(B)成分の総量100質量部中に、30質量部〜70質量部であることが好ましく、35質量部〜65質量部であることがより好ましく、40質量部〜60質量部であることが特に好ましい。フィルム(感光性樹脂組成物層)の形成性の点からは、この含有量は30質量部以上であることが好ましく、35質量部以上であることがより好ましく、40質量部以上であることが更に好ましい。また、感度及び解像度が充分に得られる点からは、この含有量は70質量部以下であることが好ましく、65質量部以下であることがより好ましく、60質量部以下であることが更に好ましい。   The content of the component (A) in the photosensitive resin composition is 30 parts by mass to 70 parts by mass in 100 parts by mass of the total amount of the component (A) and the component (B) in terms of excellent film formability, sensitivity, and resolution. The mass is preferably 35 parts by mass, more preferably 35 parts by mass to 65 parts by mass, and particularly preferably 40 parts by mass to 60 parts by mass. From the viewpoint of formability of the film (photosensitive resin composition layer), the content is preferably 30 parts by mass or more, more preferably 35 parts by mass or more, and 40 parts by mass or more. Further preferred. Further, from the viewpoint of sufficiently obtaining sensitivity and resolution, the content is preferably 70 parts by mass or less, more preferably 65 parts by mass or less, and further preferably 60 parts by mass or less.

(B)成分:光重合性化合物
次に、光重合性化合物(以下「(B)成分」ともいう。)について説明する。(B)成分である光重合性化合物は、エチレン性不飽和結合基を有する光重合性化合物の少なくとも1種を必須成分として含む。
(B) Component: Photopolymerizable Compound Next, the photopolymerizable compound (hereinafter also referred to as “component (B)”) will be described. (B) The photopolymerizable compound which is a component contains at least 1 sort (s) of the photopolymerizable compound which has an ethylenically unsaturated bond group as an essential component.

上記感光性樹脂組成物は(B)成分として、エチレン性不飽和結合基を有する化合物を含有する。エチレン性不飽和結合基を有する化合物としては、分子内にエチレン性不飽和結合基を1つ有する化合物、分子内にエチレン性不飽和結合基を2つ有する化合物、分子内にエチレン性不飽和結合基を3つ以上有する化合物等が挙げられる。   The said photosensitive resin composition contains the compound which has an ethylenically unsaturated bond group as (B) component. The compound having an ethylenically unsaturated bond group includes a compound having one ethylenically unsaturated bond group in the molecule, a compound having two ethylenically unsaturated bond groups in the molecule, and an ethylenically unsaturated bond in the molecule. Examples thereof include compounds having 3 or more groups.

上記(B)成分は、光重合性化合物として分子内にエチレン性不飽和結合基を2つ有する化合物の少なくとも1種を含むことが好ましい。上記(B)成分が光重合性化合物として、分子内にエチレン性不飽和結合基を2つ有する化合物を含む場合、その含有量は(A)成分及び(B)成分の総量100質量部中に、5質量部〜70質量部であることが好ましく、5質量部〜65質量部であることがより好ましく、10質量部〜60質量部であることが更に好ましい。   It is preferable that the said (B) component contains at least 1 sort (s) of the compound which has two ethylenically unsaturated bond groups in a molecule | numerator as a photopolymerizable compound. When the component (B) contains a compound having two ethylenically unsaturated bond groups in the molecule as the photopolymerizable compound, the content thereof is in 100 parts by mass of the total amount of the component (A) and the component (B). It is preferably 5 parts by mass to 70 parts by mass, more preferably 5 parts by mass to 65 parts by mass, and still more preferably 10 parts by mass to 60 parts by mass.

分子内にエチレン性不飽和結合基を2つ有する化合物としては、例えば、ビスフェノール型ジ(メタ)アクリレート化合物、水添ビスフェノールA系ジ(メタ)アクリレート化合物、分子内にウレタン結合を有するジ(メタ)アクリレート化合物、分子内に(ポリ)エチレンオキシ基及び(ポリ)プロピレンオキシ基の双方を有するポリアルキレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパンジ(メタ)アクリレート等が挙げられる。   Examples of the compound having two ethylenically unsaturated bond groups in the molecule include a bisphenol type di (meth) acrylate compound, a hydrogenated bisphenol A di (meth) acrylate compound, and a di (meta) having a urethane bond in the molecule. ) Acrylate compound, polyalkylene glycol di (meth) acrylate having both (poly) ethyleneoxy group and (poly) propyleneoxy group in the molecule, and trimethylolpropane di (meth) acrylate.

上記(B)成分は光重合性化合物として、解像度及び剥離特性を向上させる観点から、ビスフェノール型ジ(メタ)アクリレート化合物、水添ビスフェノールA系ジ(メタ)アクリレート化合物及び分子内に(ポリ)エチレンオキシ基と(ポリ)プロピレンオキシ基とを有するポリアルキレングリコールジ(メタ)アクリレートからなる群より選ばれる分子内にエチレン性不飽和結合基を2つ有する化合物の少なくとも1種を含むことが好ましく、ビスフェノール型ジ(メタ)アクリレート化合物の少なくとも1種を含むことがより好ましく、エチレンオキシ基を有し、前記エチレンオキシ基の構造単位数が8以下であるビスフェノール型ジ(メタ)アクリレート化合物の少なくとも1種を含むことが更に好ましい。   The component (B) is a photopolymerizable compound, and from the viewpoint of improving resolution and peeling properties, a bisphenol-type di (meth) acrylate compound, a hydrogenated bisphenol A di (meth) acrylate compound, and (poly) ethylene in the molecule. It preferably contains at least one compound having two ethylenically unsaturated bond groups in the molecule selected from the group consisting of polyalkylene glycol di (meth) acrylates having an oxy group and a (poly) propyleneoxy group, More preferably, it contains at least one bisphenol-type di (meth) acrylate compound, has an ethyleneoxy group, and has at least one bisphenol-type di (meth) acrylate compound having 8 or less structural units of the ethyleneoxy group. More preferably, it contains a seed.

上記ビスフェノール型ジ(メタ)アクリレート化合物としては、下記一般式(3)で表される化合物が挙げられる。   Examples of the bisphenol di (meth) acrylate compound include compounds represented by the following general formula (3).

上記一般式(3)中、R及びRはそれぞれ独立に、水素原子又はメチル基を示す。XO及びYOはそれぞれ独立に、エチレンオキシ基又はプロピレンオキシ基を示す。(XO)m1、(XO)m2、(YO)n1、及び(YO)n2はそれぞれ(ポリ)エチレンオキシ基又は(ポリ)プロピレンオキシ基を示す。m1、m2、n1及びn2はそれぞれ独立に、0〜40を示す。m1、m2、n1及びn2は構造単位の構造単位数を示す。従って単一の分子においては整数値を示し、複数種の分子の集合体としては平均値である有理数を示す。以下、構造単位の構造単位数については同様である。 In the general formula (3), R 4 and R 5 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group. XO and YO each independently represent an ethyleneoxy group or a propyleneoxy group. (XO) m1 , (XO) m2 , (YO) n1 , and (YO) n2 each represent a (poly) ethyleneoxy group or a (poly) propyleneoxy group. m1, m2, n1, and n2 each independently represent 0-40. m1, m2, n1, and n2 represent the number of structural units. Therefore, an integer value is shown in a single molecule, and a rational number that is an average value is shown as an aggregate of a plurality of types of molecules. Hereinafter, the same applies to the number of structural units.

上記化合物中にプロピレンオキシ基を有する場合、上記化合物中におけるプロピレンオキシ基の構造単位の総数は、レジストの解像性に優れる点から2以上であることが好ましく、3以上であることがより好ましい。また、現像性の観点から5以下であることが好ましい。   When the compound has a propyleneoxy group, the total number of structural units of the propyleneoxy group in the compound is preferably 2 or more, more preferably 3 or more from the viewpoint of excellent resist resolution. . Moreover, it is preferable that it is 5 or less from a developable viewpoint.

上記化合物中にエチレンオキシ基を有する場合、上記化合物中におけるエチレンオキシ基の構造単位の総数は、現像性に優れる点からは、4以上であることが好ましく、6以上であることがより好ましく、8以上であることが更に好ましい。また、解像性の観点から16以下であることが好ましく、14以下であることがより好ましい。   When the compound has an ethyleneoxy group, the total number of structural units of the ethyleneoxy group in the compound is preferably 4 or more, more preferably 6 or more, from the viewpoint of excellent developability. More preferably, it is 8 or more. Moreover, it is preferable that it is 16 or less from a viewpoint of resolution, and it is more preferable that it is 14 or less.

上記一般式(3)で表される化合物のうち、2,2−ビス(4−(メタクリロキシドデカエトキシテトラプロポキシ)フェニル)プロパンは、FA−3200MY(日立化成(株)製、製品名)、2,2−ビス(4−(メタクリロキシジエトキシ)フェニル)プロパンは、FA−324M(日立化成(株)製、製品名)として商業的に入手可能であり、2,2−ビス(4−(メタクリロキシペンタエトキシ)フェニル)プロパンは、BPE−500(新中村化学工業(株)製、製品名)又はFA−321M(日立化成(株)製、製品名)として商業的に入手可能であり、2,2−ビス(4−(メタクリロキシペンタデカエトキシ)フェニル)プロパンは、BPE−1300(新中村化学工業(株)製、製品名)として商業的に入手可能である。これらは1種単独で又は2種類以上を任意に組み合わせて使用される。   Among the compounds represented by the general formula (3), 2,2-bis (4- (methacryloxide decaethoxytetrapropoxy) phenyl) propane is FA-3200MY (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., product name), 2,2-bis (4- (methacryloxydiethoxy) phenyl) propane is commercially available as FA-324M (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., product name), and 2,2-bis (4- (Methacryloxypentaethoxy) phenyl) propane is commercially available as BPE-500 (manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., product name) or FA-321M (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., product name). 2,2-bis (4- (methacryloxypentadecaethoxy) phenyl) propane is commercially available as BPE-1300 (manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., product name).These may be used alone or in any combination of two or more.

上記感光性樹脂組成物が(B)成分としてビスフェノール型ジ(メタ)アクリレート化合物を含む場合、その含有量としては、(A)成分及び(B)成分の総量100質量部中に、1質量部〜65質量部であることが好ましく、5質量部〜60質量部であることがより好ましく、10質量部〜55質量部であることが更に好ましい。   When the photosensitive resin composition contains a bisphenol type di (meth) acrylate compound as the component (B), the content thereof is 1 part by mass in 100 parts by mass of the total amount of the component (A) and the component (B). It is preferably ~ 65 parts by mass, more preferably 5 parts by mass to 60 parts by mass, and still more preferably 10 parts by mass to 55 parts by mass.

水添ビスフェノールA系ジ(メタ)アクリレート化合物としては、2,2−ビス(4−(メタクリロキシペンタエトキシ)シクロヘキシル)プロパンが挙げられる。上記感光性樹脂組成物が水添ビスフェノールA系ジ(メタ)アクリレート化合物を含む場合、その含有量としては、(A)成分及び(B)成分の総量100質量部中に、1質量部〜50質量部であることが好ましく、5質量部〜40質量部であることがより好ましい。   Examples of the hydrogenated bisphenol A di (meth) acrylate compound include 2,2-bis (4- (methacryloxypentaethoxy) cyclohexyl) propane. When the said photosensitive resin composition contains hydrogenated bisphenol A type | system | group di (meth) acrylate compound, as the content, 1 mass part-50 in 100 mass parts of total amounts of (A) component and (B) component. It is preferable that it is a mass part, and it is more preferable that it is 5 mass parts-40 mass parts.

上記(B)成分は、レジストパターンの屈曲性を向上させる観点から、その他の光重合性化合物としてポリアルキレングリコールジ(メタ)アクリレートの少なくとも1種を含むことが好ましい。上記感光性樹脂組成物がポリアルキレングリコールジ(メタ)アクリレートを含む場合、その含有量としては、(A)成分及び(B)成分の総量100質量部中に、5質量部〜30質量部であることが好ましく、10質量部〜25質量部であることがより好ましい。   The component (B) preferably contains at least one polyalkylene glycol di (meth) acrylate as another photopolymerizable compound from the viewpoint of improving the flexibility of the resist pattern. When the photosensitive resin composition contains a polyalkylene glycol di (meth) acrylate, the content thereof is 5 to 30 parts by mass in 100 parts by mass of the total amount of the component (A) and the component (B). It is preferable that it is 10 mass parts-25 mass parts.

ポリアルキレングリコールジ(メタ)アクリレート化合物としては、分子内に(ポリ)エチレンオキシ基及び(ポリ)プロピレンオキシ基の双方を有するポリアルキレングリコールジ(メタ)アクリレートが好ましい。ポリアルキレングリコールジ(メタ)アクリレートの分子内において、(ポリ)エチレンオキシ基及び(ポリ)プロピレンオキシ基は、それぞれ連続してブロック的に存在しても、ランダムに存在してもよい。なお、(ポリ)プロピレンオキシ基におけるプロピレンオキシ基は、n−プロピレンオキシ基又はイソプロピレンオキシ基のいずれであってもよい。また、(ポリ)イソプロピレンオキシ基において、プロピレン基の2級炭素が酸素原子に結合していてもよく、1級炭素が酸素原子に結合していてもよい。   As the polyalkylene glycol di (meth) acrylate compound, polyalkylene glycol di (meth) acrylate having both a (poly) ethyleneoxy group and a (poly) propyleneoxy group in the molecule is preferable. In the molecule of the polyalkylene glycol di (meth) acrylate, the (poly) ethyleneoxy group and the (poly) propyleneoxy group may be successively present in blocks or randomly. The propyleneoxy group in the (poly) propyleneoxy group may be either an n-propyleneoxy group or an isopropyleneoxy group. In the (poly) isopropyleneoxy group, the secondary carbon of the propylene group may be bonded to an oxygen atom, or the primary carbon may be bonded to an oxygen atom.

ポリアルキレングリコールジ(メタ)アクリレートは、(ポリ)n−ブチレンオキシ基、(ポリ)イソブチレンオキシ基、(ポリ)n−ペンチレンオキシ基、(ポリ)ヘキシレンオキシ基、これらの構造異性体等である炭素原子数4〜6程度の(ポリ)アルキレンオキシ基等を有していてもよい。   Polyalkylene glycol di (meth) acrylate is (poly) n-butyleneoxy group, (poly) isobutyleneoxy group, (poly) n-pentyleneoxy group, (poly) hexyleneoxy group, structural isomers thereof, etc. (Poly) alkyleneoxy group having about 4 to 6 carbon atoms and the like.

上記(B)成分は、光重合性化合物として分子内にエチレン性不飽和結合基を3つ以上有する光重合性化合物の少なくとも1種を含んでいてもよい。   The component (B) may contain at least one photopolymerizable compound having three or more ethylenically unsaturated bond groups in the molecule as the photopolymerizable compound.

エチレン性不飽和結合基を3つ以上有する化合物としては、例えば、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、EO変性トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート(エチレンオキシ基の構造単位数が1〜5のもの)、PO変性トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、EO及びPO変性トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、テトラメチロールメタントリ(メタ)アクリレート及びテトラメチロールメタンテトラ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、エトキシ化ペンタエリスリトールテトラアクリレート又はジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレートが挙げられる。これらは1種単独で又は2種類以上を組み合わせて用いることができる。   Examples of the compound having three or more ethylenically unsaturated bond groups include trimethylolpropane tri (meth) acrylate, EO-modified trimethylolpropane tri (meth) acrylate (one having 1 to 5 structural units of ethyleneoxy group) ), PO-modified trimethylolpropane tri (meth) acrylate, EO and PO-modified trimethylolpropane tri (meth) acrylate, tetramethylolmethane tri (meth) acrylate and tetramethylolmethanetetra (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) Examples include acrylate, ethoxylated pentaerythritol tetraacrylate, or dipentaerythritol hexa (meth) acrylate. These can be used alone or in combination of two or more.

テトラメチロールメタントリアクリレートは、A−TMM−3(新中村化学工業(株)製、製品名)として、EO変性トリメチロールプロパントリメタクリレートは、TMPT21E及びTMPT30E(日立化成(株)製、サンプル名)として、ペンタエリスリトールトリアクリレートは、SR444(サートマー(株)製、製品名)として、ジペンタエリスリトールヘキサアクリレートは、A−DPH(新中村化学工業(株)製、製品名)として、エトキシ化ペンタエリスリトールテトラアクリレートは、ATM−35E(新中村化学工業(株)製、製品名))として商業的に入手可能である。   Tetramethylol methane triacrylate is A-TMM-3 (manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., product name), and EO-modified trimethylol propane trimethacrylate is TMPT21E and TMPT30E (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., sample name). Pentaerythritol triacrylate is SR444 (product name, manufactured by Sartomer Co., Ltd.), and dipentaerythritol hexaacrylate is A-DPH (product name, manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd.), ethoxylated pentaerythritol. Tetraacrylate is commercially available as ATM-35E (manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., product name)).

上記(B)成分が、光重合性化合物として、分子内にエチレン性不飽和結合基を3つ以上有する光重合性化合物を含む場合、その含有量は、解像度、密着性、レジスト形状及び硬化後の剥離特性をバランスよく向上させる観点から、(A)成分及び(B)成分の総量100質量部中に、3質量部〜30質量部であることが好ましく、5質量部〜25質量部であることがより好ましく、5質量部〜20質量部であることが更に好ましい。   When the component (B) contains a photopolymerizable compound having three or more ethylenically unsaturated bond groups in the molecule as the photopolymerizable compound, the content thereof is resolution, adhesion, resist shape and after curing. From the viewpoint of improving the release properties in a well-balanced manner, the total amount of the component (A) and the component (B) is preferably 3 parts by mass to 30 parts by mass, and preferably 5 parts by mass to 25 parts by mass. It is more preferable that it is 5 to 20 parts by mass.

上記(B)成分は、解像度、密着性、レジスト形状及び硬化後の剥離特性をバランスよく向上させる点、又はスカム発生の抑制の点から、その他の光重合性化合物として分子内にエチレン性不飽和結合基を1つ有する光重合性化合物を含んでもよい。   The above component (B) is ethylenically unsaturated in the molecule as another photopolymerizable compound from the viewpoint of improving the resolution, adhesion, resist shape, and release properties after curing in a well-balanced manner, or suppressing the occurrence of scum. You may include the photopolymerizable compound which has one coupling group.

分子内にエチレン性不飽和結合基を1つ有する光重合性化合物としては、例えば、ノニルフェノキシポリエチレンオキシアクリレート、フタル酸化合物及び(メタ)アクリル酸アルキルエステルが挙げられる。上記の中でも、解像度、密着性、レジスト形状及び硬化後の剥離特性をバランスよく向上させる観点から、ノニルフェノキシポリエチレンオキシアクリレート又はフタル酸化合物を含むことが好ましい。   Examples of the photopolymerizable compound having one ethylenically unsaturated bond group in the molecule include nonylphenoxypolyethyleneoxyacrylate, phthalic acid compound, and (meth) acrylic acid alkyl ester. Among the above, it is preferable that nonylphenoxypolyethyleneoxyacrylate or a phthalic acid compound is included from the viewpoint of improving the resolution, adhesion, resist shape, and release property after curing in a well-balanced manner.

上記(B)成分が、光重合性化合物として、分子内にエチレン性不飽和結合基を1つ有する光重合性化合物を含む場合、その含有量は(A)成分及び(B)成分の総量100質量部中に、1質量部〜20質量部であることが好ましく、3質量部〜15質量部であることがより好ましく、5質量部〜12質量部であることが更に好ましい。   When the component (B) includes a photopolymerizable compound having one ethylenically unsaturated bond group in the molecule as the photopolymerizable compound, the content thereof is a total of 100 components (A) and (B). The mass part is preferably 1 part by mass to 20 parts by mass, more preferably 3 parts by mass to 15 parts by mass, and still more preferably 5 parts by mass to 12 parts by mass.

上記感光性樹脂組成物における(B)成分全体の含有量は、(A)成分及び(B)成分の総量100質量部に対して30質量部〜70質量部とすることが好ましく、35質量部〜65質量部とすることがより好ましく、35質量部〜60質量部とすることが特に好ましい。この含有量が30質量部以上であると、充分な感度及び解像度が得られ易くなる傾向がある。この含有量が70質量部以下であると、フィルム(感光性樹脂組成物層)を形成し易くなる傾向があり、また良好なレジスト形状が得られ易くなる傾向がある。   The total content of the component (B) in the photosensitive resin composition is preferably 30 parts by mass to 70 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total amount of the components (A) and (B), and 35 parts by mass. It is more preferable to set it as -65 mass parts, and it is especially preferable to set it as 35 mass parts-60 mass parts. When the content is 30 parts by mass or more, sufficient sensitivity and resolution tend to be easily obtained. When the content is 70 parts by mass or less, a film (photosensitive resin composition layer) tends to be easily formed, and a good resist shape tends to be easily obtained.

(C)成分:光重合開始剤
上記感光性樹脂組成物は、(C)成分として光重合開始剤の少なくとも1種を含む。(C)成分は、感度及び密着性を向上させる点から、上記一般式(2)で示される2,4,5−トリアリールイミダゾール二量体及びその誘導体からなる群より選択される少なくとも1種を含むことが好ましい。
Component (C): Photopolymerization initiator The photosensitive resin composition contains at least one photopolymerization initiator as the component (C). Component (C) is at least one selected from the group consisting of 2,4,5-triarylimidazole dimer represented by the above general formula (2) and derivatives thereof from the viewpoint of improving sensitivity and adhesion. It is preferable to contain.

式(2)中、Ar、Ar、Ar及びArは、それぞれ独立に、アルキル基、アルケニル基及びアルコキシ基からなる群より選ばれる少なくとも1種の置換基で置換されていてもよいアリール基を示し、X及びXは、それぞれ独立に、ハロゲン原子、アルキル基、アルケニル基又はアルコキシ基を示し、p及びqは、それぞれ独立に、1〜5の整数を示す。但し、pが2以上の場合、複数存在するXはそれぞれ同一でも異なっていてもよく、qが2以上の場合、複数存在するXはそれぞれ同一でも異なっていてもよい。 In formula (2), Ar 1 , Ar 2 , Ar 3 and Ar 4 may each independently be substituted with at least one substituent selected from the group consisting of an alkyl group, an alkenyl group and an alkoxy group. Represents an aryl group, X 1 and X 2 each independently represent a halogen atom, an alkyl group, an alkenyl group or an alkoxy group, and p and q each independently represents an integer of 1 to 5. However, when p is 2 or more, a plurality of X 1 may be the same or different, and when q is 2 or more, a plurality of X 2 may be the same or different.

及びXのうち少なくとも1つは塩素原子であることが好ましい。
Ar、Ar、Ar及びArが、それぞれ独立に前記置換基を有する場合、置換基の数は1〜5であることが好ましく、1〜3であることがより好ましく、1であることが更に好ましい。また、Ar、Ar、Ar及びArが、それぞれ独立に前記置換基を有する場合、その置換位置は特に限定されず、オルト位又はパラ位であることが好ましい。
p及びqは、それぞれ独立に、1〜5の整数であり、1〜3の整数であることがより好ましく、1であることが更に好ましい。
It is preferable that at least one of X 1 and X 2 is a chlorine atom.
When Ar 1 , Ar 2 , Ar 3 and Ar 4 each independently have the substituent, the number of substituents is preferably 1 to 5, more preferably 1 to 3, and more preferably 1. More preferably. Further, when Ar 1 , Ar 2 , Ar 3 and Ar 4 each independently have the substituent, the substitution position is not particularly limited, and is preferably the ortho position or the para position.
p and q are each independently an integer of 1 to 5, more preferably an integer of 1 to 3, and still more preferably 1.

上記一般式(2)で示される2,4,5−トリアリールイミダゾール二量体又はその誘導体としては、例えば、2−(o−クロロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、2−(o−クロロフェニル)−4,5−ジ(メトキシフェニル)イミダゾール二量体、2−(o−フルオロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、2−(o−メトキシフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、2−(p−メトキシフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体が挙げられる。なお、2つの2,4,5−トリアリールイミダゾールのアリール基の置換基は同一で対象な化合物を与えてもよいし、相違して非対称な化合物を与えてもよい。これらは、1種類を単独で又は2種類以上を組み合わせて使用される。   Examples of the 2,4,5-triarylimidazole dimer represented by the general formula (2) or a derivative thereof include 2- (o-chlorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2- ( o-chlorophenyl) -4,5-di (methoxyphenyl) imidazole dimer, 2- (o-fluorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2- (o-methoxyphenyl) -4,5 -Diphenylimidazole dimer, 2- (p-methoxyphenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer. In addition, the substituents of the aryl groups of two 2,4,5-triarylimidazoles may be the same to give the target compound, or differently give an asymmetric compound. These are used singly or in combination of two or more.

(C)成分である光重合開始剤としては、上記一般式(2)で示される2,4,5−トリアリールイミダゾール二量体又はその誘導体以外にも、通常用いられるその他の光重合開始剤を含有していてもよい。その他の光重合開始剤としては、ベンゾフェノン、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルホリノフェニル)−ブタノン−1、2−メチル−1−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルホリノ−プロパノン−1等の芳香族ケトン;アルキルアントラキノン等のキノン類;ベンゾインアルキルエーテル等のベンゾインエーテル化合物;ベンゾイン、アルキルベンゾイン等のベンゾイン化合物;ベンジルジメチルケタール等のベンジル誘導体;2−(2−クロロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、2−(2−フルオロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体等の2,4,5−トリアリールイミダゾール二量体;9−フェニルアクリジン、1,7−(9,9’−アクリジニル)ヘプタン等のアクリジン誘導体が挙げられる。   As the photopolymerization initiator (C), other than the 2,4,5-triarylimidazole dimer represented by the general formula (2) or a derivative thereof, other photopolymerization initiators that are usually used. May be contained. Other photopolymerization initiators include benzophenone, 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) -butanone-1,2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2- Aromatic ketones such as morpholino-propanone-1; quinones such as alkylanthraquinones; benzoin ether compounds such as benzoin alkyl ether; benzoin compounds such as benzoin and alkylbenzoin; benzyl derivatives such as benzyldimethyl ketal; 2- (2-chlorophenyl) ) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2,4,5-triarylimidazole dimer such as 2- (2-fluorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer; 9-phenylacridine, Acryl such as 1,7- (9,9′-acridinyl) heptane Emissions derivatives.

上記感光性樹脂組成物における(C)成分の含有量は、(A)成分及び(B)成分の総量100質量部に対して0.1質量部〜10質量部であることが好ましく、1質量部〜7質量部であることがより好ましく、2質量部〜6質量部であることが更に好ましく、3質量部〜5質量部であることが特に好ましい。(C)成分の含有量が0.1質量部以上であると良好な感度、解像度又は密着性が得られ易くなる傾向があり、10質量部以下であると良好なレジスト形状を得られ易くなる傾向がある。   The content of the component (C) in the photosensitive resin composition is preferably 0.1 parts by mass to 10 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total amount of the components (A) and (B). It is more preferably from 7 parts by mass to 7 parts by mass, further preferably from 2 parts by mass to 6 parts by mass, and particularly preferably from 3 parts by mass to 5 parts by mass. When the content of the component (C) is 0.1 parts by mass or more, good sensitivity, resolution, or adhesion tends to be obtained, and when it is 10 parts by mass or less, a good resist shape is easily obtained. Tend.

(D)成分:増感色素
本実施形態の感光性樹脂組成物は、(D)成分として、下記一般式(1)で示されるスチリルピリジン化合物の少なくとも1種が必須成分として用いられる。(D)成分である増感色素は1種単独で、又は2種以上を組み合わせて用いることができる。
Component (D): Sensitizing dye In the photosensitive resin composition of the present embodiment, at least one styrylpyridine compound represented by the following general formula (1) is used as an essential component as the component (D). (D) The sensitizing dye which is a component can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

式(1)中、R、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1〜20のアルキル基、炭素数1〜6のアルコキシ基、炭素数1〜6のアルキルエステル基、アミノ基、炭素数1〜20のアルキルアミノ基、カルボキシル基、シアノ基、ニトロ基、アセチル基又は(メタ)アクリル基を示し、a、b及びcはそれぞれ独立に0〜5の整数を示す。但し、aが2以上の場合、複数存在するRはそれぞれ同一でも異なっていてもよく、bが2以上の場合、複数存在するRはそれぞれ同一でも異なっていてもよく、cが2以上の場合、複数存在するRはそれぞれ同一でも異なっていてもよい。 In formula (1), R 1 , R 2 and R 3 are each independently an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, an alkyl ester group having 1 to 6 carbon atoms, or an amino group. , An alkylamino group having 1 to 20 carbon atoms, a carboxyl group, a cyano group, a nitro group, an acetyl group or a (meth) acryl group, and a, b and c each independently represent an integer of 0 to 5. However, when a is 2 or more, a plurality of R 1 may be the same or different, and when b is 2 or more, a plurality of R 2 may be the same or different, and c is 2 or more. In the case, a plurality of R 3 may be the same or different.

感度をより向上できる観点から、式(1)中、R、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1〜20のアルキル基、炭素数1〜6のアルコキシ基、炭素数1〜6のアルキルエステル基、アミノ基又は炭素数1〜20のアルキルアミノ基であることが好ましい。
また、a、b及びcは、それぞれ独立に0〜5の整数を示し、0〜3の整数が好ましく、0〜2の整数がより好ましい。
From the viewpoint of further improving the sensitivity, wherein (1), R 1, R 2 and R 3 are independently an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, 1 to carbon atoms Preferably, it is a 6 alkyl ester group, an amino group, or an alkylamino group having 1 to 20 carbon atoms.
Moreover, a, b, and c show the integer of 0-5 each independently, the integer of 0-3 is preferable, and the integer of 0-2 is more preferable.

上記一般式(1)で表されるスチリルピリジン化合物としては、例えば、3,5−ジベンジリデンジシクロペンタノ[b,e]−4−フェニルピリジン、3,5−ビス(4−メチルベンジリデンジシクロペンタノ[b,e])−4−(4−メチルフェニル)ピリジン、3,5−ビス(4−メトキシベンジリデンジシクロペンタノ[b,e])−4−(4−メトキシフェニル)ピリジン、3,5−ビス(4−アミノベンジリデンジシクロペンタノ[b,e])−4−(4−アミノフェニル)ピリジン、3,5−ビス(4−ジメチルアミノベンジリデンジシクロペンタノ[b,e])−4−(4−ジメチルアミノフェニル)ピリジン、3,5−ビス(4−カルボキシベンジリデンジシクロペンタノ[b,e])−4−(4−カルボキシフェニル)ピリジン、3,5−ビス(4−アセチルベンジリデンジシクロペンタノ[b,e])−4−(4−アセチルフェニル)ピリジン、3,5−ビス(4−シアノベンジリデンジシクロペンタノ[b,e])−4−(4−シアノフェニル)ピリジン、3,5−ビス(4−ニトロベンジリデンジシクロペンタノ[b,e])−4−(4−ニトロフェニル)ピリジン、3,5−ビス(4−アクリロイルベンジリデンジシクロペンタノ[b,e])−4−(4−アクリロイルフェニル)ピリジン、及び3,5−ビス(2、4−ジメトキシベンジリデンジシクロペンタノ[b,e])−4−(2,4−ジメトキシフェニル)ピリジンが挙げられる。   Examples of the styrylpyridine compound represented by the general formula (1) include 3,5-dibenzylidenedicyclopentano [b, e] -4-phenylpyridine, 3,5-bis (4-methylbenzylidene diene). Cyclopentano [b, e])-4- (4-methylphenyl) pyridine, 3,5-bis (4-methoxybenzylidenedicyclopentano [b, e])-4- (4-methoxyphenyl) pyridine 3,5-bis (4-aminobenzylidenedicyclopentano [b, e])-4- (4-aminophenyl) pyridine, 3,5-bis (4-dimethylaminobenzylidenedicyclopentano [b, e])-4- (4-dimethylaminophenyl) pyridine, 3,5-bis (4-carboxybenzylidenedicyclopentano [b, e])-4- (4-carboxyphenyl) Lysine, 3,5-bis (4-acetylbenzylidenedicyclopentano [b, e])-4- (4-acetylphenyl) pyridine, 3,5-bis (4-cyanobenzylidenedicyclopentano [b, e])-4- (4-cyanophenyl) pyridine, 3,5-bis (4-nitrobenzylidenedicyclopentano [b, e])-4- (4-nitrophenyl) pyridine, 3,5-bis (4-acryloylbenzylidenedicyclopentano [b, e])-4- (4-acryloylphenyl) pyridine and 3,5-bis (2,4-dimethoxybenzylidenedicyclopentano [b, e])- 4- (2,4-dimethoxyphenyl) pyridine is mentioned.

一般式(1)で表されるスチリルピリジン化合物は、例えば、ベンズアルデヒド誘導体、環状アルキルケトン及び酢酸アンモニウムの縮合反応により合成できる。   The styrylpyridine compound represented by the general formula (1) can be synthesized, for example, by a condensation reaction of a benzaldehyde derivative, a cyclic alkyl ketone, and ammonium acetate.

上記感光性樹脂組成物における(D)成分の総含有量は、(A)成分及び(B)成分の総量100質量部に対して0.01質量部〜10質量部とすることが好ましく、0.05質量部〜5質量部とすることがより好ましく、0.1質量部〜3質量部とすることが更に好ましい。この含有量が0.01質量部以上であると、感度及び解像度が得られ易くなる傾向があり、10質量部以下であると、充分に良好なレジスト形状が得られ易くなる傾向がある。   The total content of the component (D) in the photosensitive resin composition is preferably 0.01 parts by mass to 10 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total amount of the components (A) and (B). It is more preferable to set it as 0.05 mass part-5 mass parts, and it is still more preferable to set it as 0.1 mass part-3 mass parts. When the content is 0.01 parts by mass or more, sensitivity and resolution tend to be easily obtained. When the content is 10 parts by mass or less, a sufficiently good resist shape tends to be easily obtained.

(E)成分:アミン化合物
上記感光性樹脂組成物は、(E)成分としてアミン化合物の少なくとも1種を含むことが好ましい。アミン化合物としては、ビス[4−(ジメチルアミノ)フェニル]メタン、ビス[4−(ジエチルアミノ)フェニル]メタン、ロイコクリスタルバイオレット等が挙げられる。これらは1種単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。
(E) component: amine compound It is preferable that the said photosensitive resin composition contains at least 1 sort (s) of an amine compound as (E) component. Examples of the amine compound include bis [4- (dimethylamino) phenyl] methane, bis [4- (diethylamino) phenyl] methane, and leuco crystal violet. These can be used alone or in combination of two or more.

感光性樹脂組成物が(E)成分を含む場合、その含有量は、(A)成分及び(B)成分の総量100質量部に対して0.01質量部〜10質量部とすることが好ましく、0.05〜5質量部とすることがより好ましく、0.1質量部〜2質量部とすることが特に好ましい。この含有量が0.01質量部以上であると充分な感度が得られ易くなる傾向がある。この含有量が10質量部以下であると、フィルム形成後、過剰な(E)成分が異物として析出することが抑制される傾向がある。   When the photosensitive resin composition includes the component (E), the content is preferably 0.01 parts by mass to 10 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total amount of the components (A) and (B). 0.05 to 5 parts by mass, more preferably 0.1 to 2 parts by mass. If this content is 0.01 parts by mass or more, sufficient sensitivity tends to be obtained. If the content is 10 parts by mass or less, it is likely that excessive (E) component is prevented from being precipitated as a foreign substance after film formation.

(その他の成分)
上記感光性樹脂組成物は、必要に応じて、分子内に少なくとも1つのカチオン重合可能な環状エーテル基を有する光重合性化合物(オキセタン化合物等)、カチオン重合開始剤、マラカイトグリーン、ビクトリアピュアブルー、ブリリアントグリーン、メチルバイオレット等の染料、トリブロモフェニルスルホン、ジフェニルアミン、ベンジルアミン、トリフェニルアミン、ジエチルアニリン、2−クロロアニリン等の光発色剤、熱発色防止剤、4−トルエンスルホンアミド等の可塑剤、顔料、充填剤、消泡剤、難燃剤、安定剤、密着性付与剤、レベリング剤、剥離促進剤、酸化防止剤、香料、イメージング剤、熱架橋剤などを含有してもよい。これらは、1種単独で又は2種類以上を組み合わせて使用される。感光性樹脂組成物がその他の成分を含む場合、これらの含有量は、(A)成分及び(B)成分の総量100質量部に対して、それぞれ0.01質量部〜20質量部程度とすることが好ましい。
(Other ingredients)
The above-mentioned photosensitive resin composition may contain, if necessary, a photopolymerizable compound (such as an oxetane compound) having at least one cationically polymerizable cyclic ether group in the molecule, a cationic polymerization initiator, malachite green, Victoria pure blue, Dye such as brilliant green and methyl violet, photochromic agent such as tribromophenylsulfone, diphenylamine, benzylamine, triphenylamine, diethylaniline and 2-chloroaniline, thermochromic inhibitor, plasticizer such as 4-toluenesulfonamide , Pigments, fillers, antifoaming agents, flame retardants, stabilizers, adhesion-imparting agents, leveling agents, peeling accelerators, antioxidants, perfumes, imaging agents, thermal crosslinking agents, and the like. These are used individually by 1 type or in combination of 2 or more types. When the photosensitive resin composition contains other components, these contents are about 0.01 parts by mass to 20 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total amount of the component (A) and the component (B), respectively. It is preferable.

[感光性樹脂組成物の溶液]
本実施形態の感光性樹脂組成物は、有機溶剤の少なくとも1種を更に含んでいてもよい。有機溶剤としては、メタノール、エタノール等のアルコール溶剤;アセトン、メチルエチルケトン等のケトン溶剤;メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、プロピレングリコールモノメチルエーテル等のグリコールエーテル溶剤;トルエン等の芳香族炭化水素溶剤;N,N−ジメチルホルムアミド等の非プロトン性極性溶剤;などが挙げられる。これらは1種単独でも、2種以上を混合して用いてもよい。上記感光性樹脂組成物に含まれる有機溶剤の含有量は目的等に応じて適宜選択することができる。例えば、固形分が30質量%〜60質量%程度となる溶液として用いることができる。以下、有機溶剤を含む感光性樹脂組成物を「塗布液」ともいう。
[Solution of photosensitive resin composition]
The photosensitive resin composition of this embodiment may further contain at least one organic solvent. Organic solvents include alcohol solvents such as methanol and ethanol; ketone solvents such as acetone and methyl ethyl ketone; glycol ether solvents such as methyl cellosolve, ethyl cellosolve, and propylene glycol monomethyl ether; aromatic hydrocarbon solvents such as toluene; N, N- And aprotic polar solvents such as dimethylformamide. These may be used alone or in combination of two or more. Content of the organic solvent contained in the said photosensitive resin composition can be suitably selected according to the objective etc. For example, it can be used as a solution having a solid content of about 30% by mass to 60% by mass. Hereinafter, the photosensitive resin composition containing the organic solvent is also referred to as “coating liquid”.

上記塗布液を、後述する支持フィルム、金属板等の表面上に塗布し、乾燥させることにより、上記感光性樹脂組成物の塗膜である感光性樹脂組成物層を形成することができる。金属板としては特に制限されず、目的等に応じて適宜選択できる。金属板としては、銅、銅系合金、ニッケル、クロム、鉄、ステンレス等の鉄系合金などの金属板を挙げることができる。金属板として、好ましくは銅、銅系合金、鉄系合金等の金属板が挙げられる。   The said coating liquid is apply | coated on surfaces, such as a support film mentioned later and a metal plate, and the photosensitive resin composition layer which is a coating film of the said photosensitive resin composition can be formed by making it dry. It does not restrict | limit especially as a metal plate, According to the objective etc., it can select suitably. Examples of the metal plate include metal plates such as copper, copper alloys, iron alloys such as nickel, chromium, iron, and stainless steel. As a metal plate, Preferably, metal plates, such as copper, a copper-type alloy, and an iron-type alloy, are mentioned.

形成される感光性樹脂組成物層の厚みは特に制限されず、その用途により適宜選択できる。例えば、乾燥後の厚みで1μm〜100μm程度であることが好ましい。金属板上に感光性樹脂組成物層を形成した場合、感光性樹脂組成物層の表面を、保護フィルムで被覆してもよい。保護フィルムとしては、ポリエチレン、ポリプロピレン等の重合体フィルムなどが挙げられる。   The thickness of the photosensitive resin composition layer to be formed is not particularly limited and can be appropriately selected depending on the application. For example, the thickness after drying is preferably about 1 μm to 100 μm. When the photosensitive resin composition layer is formed on the metal plate, the surface of the photosensitive resin composition layer may be covered with a protective film. Examples of the protective film include polymer films such as polyethylene and polypropylene.

上記感光性樹脂組成物は、後述する感光性エレメントの感光性樹脂組成物層の形成に適用することができる。すなわち本発明の別の実施形態は、(A)成分:(メタ)アクリル酸に由来する構造単位及び(メタ)アクリル酸ベンジルに由来する構造単位を有するバインダーポリマーと、(B)成分:エチレン性不飽和結合基を有する光重合性化合物と、(C)成分:光重合開始剤と、(D)成分:一般式(1)で示されるスチリルピリジン化合物と、を含有する感光性樹脂組成物の感光性エレメントへの応用である。また本実施形態の感光性樹脂組成物は、後述するレジストパターン付き基板の製造方法に使用できる。すなわち本発明の別の実施形態は、(A)成分:(メタ)アクリル酸に由来する構造単位及び(メタ)アクリル酸ベンジルに由来する構造単位を有するバインダーポリマーと、(B)成分:エチレン性不飽和結合基を有する光重合性化合物と、(C)成分:光重合開始剤と、(D)成分:一般式(1)で示されるスチリルピリジン化合物と、を含有する感光性樹脂組成物のレジストパターン付き基板の製造方法への応用である。   The said photosensitive resin composition is applicable to formation of the photosensitive resin composition layer of the photosensitive element mentioned later. That is, another embodiment of the present invention comprises (A) component: a binder polymer having a structural unit derived from (meth) acrylic acid and a structural unit derived from benzyl (meth) acrylate, and (B) component: ethylenic. A photosensitive resin composition comprising a photopolymerizable compound having an unsaturated bond group, (C) component: a photopolymerization initiator, and (D) component: a styrylpyridine compound represented by the general formula (1). Application to photosensitive elements. Moreover, the photosensitive resin composition of this embodiment can be used for the manufacturing method of the board | substrate with a resist pattern mentioned later. That is, another embodiment of the present invention comprises (A) component: a binder polymer having a structural unit derived from (meth) acrylic acid and a structural unit derived from benzyl (meth) acrylate, and (B) component: ethylenic. A photosensitive resin composition comprising a photopolymerizable compound having an unsaturated bond group, (C) component: a photopolymerization initiator, and (D) component: a styrylpyridine compound represented by the general formula (1). This is an application to a method for manufacturing a substrate with a resist pattern.

<感光性エレメント>
本発明の感光性エレメントは、支持フィルムと、該支持フィルム上に設けられた上記感光性樹脂組成物の塗膜である感光性樹脂組成物層とを備える。なお、上記塗膜は上記感光性樹脂組成物が未硬化状態のものである。上記感光性エレメントは、必要に応じて保護フィルム等のその他の層を有していてもよい。
<Photosensitive element>
The photosensitive element of this invention is equipped with the support film and the photosensitive resin composition layer which is a coating film of the said photosensitive resin composition provided on this support film. The coating film is one in which the photosensitive resin composition is in an uncured state. The said photosensitive element may have other layers, such as a protective film, as needed.

図1に、上記感光性エレメントの一実施形態を示す。図1に示す感光性エレメント1では、支持フィルム2、上記感光性樹脂組成物の塗膜である感光性樹脂組成物層3、保護フィルム4がこの順に積層されている。感光性エレメント1は、例えば、以下のようにして得ることができる。支持フィルム2上に、有機溶剤を含む上記感光性樹脂組成物である塗布液を塗布して塗布層を形成し、これを乾燥することで感光性樹脂組成物層3を形成する。次いで、感光性樹脂組成物層3の支持フィルム2とは反対側の面を保護フィルム4で被覆することにより、支持フィルム2と、該支持フィルム2上に積層された感光性樹脂組成物層3と、該感光性樹脂組成物層3上に積層された保護フィルム4とを備える、本実施形態の感光性エレメント1が得られる。感光性エレメント1は、保護フィルム4を必ずしも備えなくてもよい。   FIG. 1 shows an embodiment of the photosensitive element. In the photosensitive element 1 shown in FIG. 1, a support film 2, a photosensitive resin composition layer 3 that is a coating film of the photosensitive resin composition, and a protective film 4 are laminated in this order. The photosensitive element 1 can be obtained as follows, for example. On the support film 2, the coating liquid which is the said photosensitive resin composition containing an organic solvent is apply | coated, an application layer is formed, and the photosensitive resin composition layer 3 is formed by drying this. Next, the surface of the photosensitive resin composition layer 3 opposite to the support film 2 is covered with a protective film 4, thereby supporting the support film 2 and the photosensitive resin composition layer 3 laminated on the support film 2. And the photosensitive element 1 of this embodiment provided with the protective film 4 laminated | stacked on this photosensitive resin composition layer 3 is obtained. The photosensitive element 1 does not necessarily have to include the protective film 4.

支持フィルム2としては、ポリエチレンテレフタレート等のポリエステル、ポリプロピレン、ポリエチレンなどの耐熱性及び耐溶剤性を有する重合体フィルムを用いることができる。   As the support film 2, a polymer film having heat resistance and solvent resistance such as polyester such as polyethylene terephthalate, polypropylene, and polyethylene can be used.

支持フィルム(重合体フィルム)2の厚みは、1μm〜100μmであることが好ましく、5μm〜50μmであることがより好ましく、5μm〜30μmであることが更に好ましい。支持フィルム2の厚みが1μm以上であることで、支持フィルム2を剥離する際に支持フィルム2が破れることを抑制できる。また、支持フィルム2の厚みが100μm以下であることで解像度の低下が抑制される。   The thickness of the support film (polymer film) 2 is preferably 1 μm to 100 μm, more preferably 5 μm to 50 μm, and still more preferably 5 μm to 30 μm. When the thickness of the support film 2 is 1 μm or more, the support film 2 can be prevented from being broken when the support film 2 is peeled off. Moreover, the fall of the resolution is suppressed because the thickness of the support film 2 is 100 micrometers or less.

保護フィルム4としては、感光性樹脂組成物層3に対する接着力が、支持フィルム2の感光性樹脂組成物層3に対する接着力よりも小さいものが好ましい。また低フィッシュアイのフィルムが好ましい。ここで、「フィッシュアイ」とは、材料を熱溶融し、混練、押し出し、2軸延伸、キャスティング法等によりフィルムを製造する際に、材料の異物、未溶解物、酸化劣化物等がフィルム中に取り込まれたものを意味する。すなわち、「低フィッシュアイ」とは、フィルム中の上記異物等が少ないことを意味する。   The protective film 4 preferably has a smaller adhesive force to the photosensitive resin composition layer 3 than the adhesive force of the support film 2 to the photosensitive resin composition layer 3. A low fisheye film is preferred. Here, “fish eye” means that when a material is heat-melted, kneaded, extruded, biaxially stretched, casting method, etc., foreign materials, undissolved materials, oxidatively deteriorated materials, etc. are present in the film. It means what was taken in. That is, “low fish eye” means that the above-mentioned foreign matter or the like in the film is small.

具体的に、保護フィルム4としては、ポリエチレンテレフタレート等のポリエステル、ポリプロピレン、ポリエチレン等のポリオレフィンなどの耐熱性及び耐溶剤性を有する重合体フィルムを用いることができる。市販のものとしては、王子製紙株式会社製のアルファンMA−410、E−200、信越フィルム株式会社製等のポリプロピレンフィルム、帝人株式会社製のPS−25等のPSシリーズのポリエチレンテレフタレートフィルムが挙げられる。なお、保護フィルム4は支持フィルム2と同一のものでもよい。   Specifically, as the protective film 4, a polymer film having heat resistance and solvent resistance such as polyester such as polyethylene terephthalate, polyolefin such as polypropylene and polyethylene can be used. Examples of commercially available products include polypropylene films such as Alphan MA-410 and E-200 manufactured by Oji Paper Co., Ltd., Shin-Etsu Film Co., Ltd., and PS series polyethylene terephthalate films such as PS-25 manufactured by Teijin Limited. It is done. The protective film 4 may be the same as the support film 2.

保護フィルム4の厚みは1μm〜100μmであることが好ましく、5μm〜50μmであることがより好ましく、5μm〜30μmであることが更に好ましく、15μm〜30μmであることが特に好ましい。保護フィルム4の厚みが1μm以上であると、保護フィルム4を剥がしながら、感光性樹脂組成物層3及び支持フィルム2を基板上にラミネートする際、保護フィルム4が破れることを抑制できる。保護フィルム4の厚みが100μm以下であると、取扱い性と廉価性に優れる。   The thickness of the protective film 4 is preferably 1 μm to 100 μm, more preferably 5 μm to 50 μm, still more preferably 5 μm to 30 μm, and particularly preferably 15 μm to 30 μm. When the thickness of the protective film 4 is 1 μm or more, the protective film 4 can be prevented from being broken when the photosensitive resin composition layer 3 and the support film 2 are laminated on the substrate while peeling off the protective film 4. When the thickness of the protective film 4 is 100 μm or less, it is excellent in handleability and inexpensiveness.

本実施形態の感光性エレメントは、具体的には例えば以下のようにして製造することができる。上記(A)成分:バインダーポリマー、上記(B)成分:光重合性化合物、上記(C)光重合開始剤、及び上記(D)成分:増感色素を上記有機溶剤に溶解した塗布液を準備する工程と、上記塗布液を支持フィルム2上に塗布して塗布層を形成する工程と、上記塗布層を乾燥して感光性樹脂組成物層3を形成する工程と、を含む製造方法で製造することができる。   Specifically, the photosensitive element of this embodiment can be manufactured as follows, for example. (A) component: binder polymer, (B) component: photopolymerizable compound, (C) photopolymerization initiator, and (D) component: a coating solution prepared by dissolving a sensitizing dye in the organic solvent. And a step of forming the coating layer by applying the coating solution on the support film 2 and a step of forming the photosensitive resin composition layer 3 by drying the coating layer. can do.

感光性樹脂組成物の溶液の支持フィルム2上への塗布は、ロールコート、コンマコート、グラビアコート、エアーナイフコート、ダイコート、バーコート等の公知の方法により行うことができる。   Application of the photosensitive resin composition solution onto the support film 2 can be performed by a known method such as roll coating, comma coating, gravure coating, air knife coating, die coating, or bar coating.

上記塗布層の乾燥は、塗布層から有機溶剤の少なくとも一部を除去することができれば特に制限はない。70℃〜150℃にて、5分〜30分間程度行うことが好ましい。乾燥後、感光性樹脂組成物層3中の残存有機溶剤量は、後の工程での有機溶剤の拡散を防止する観点から、2質量%以下とすることが好ましい。   The drying of the coating layer is not particularly limited as long as at least a part of the organic solvent can be removed from the coating layer. It is preferable to carry out at 70 to 150 ° C. for about 5 to 30 minutes. After drying, the amount of the remaining organic solvent in the photosensitive resin composition layer 3 is preferably 2% by mass or less from the viewpoint of preventing diffusion of the organic solvent in the subsequent step.

感光性エレメントにおける感光性樹脂組成物層3の厚みは、用途により適宜選択することができる。乾燥後の厚みで1μm〜100μmであることが好ましく、1μm〜50μmであることがより好ましく、5μm〜40μmであることが更に好ましい。感光性樹脂組成物層3の厚みが1μm以上であることで、工業的な塗工が容易になる。感光性樹脂組成物層3の厚みが100μm以下であると、密着性及び解像度が充分に得られる傾向がある。   The thickness of the photosensitive resin composition layer 3 in the photosensitive element can be appropriately selected depending on the application. The thickness after drying is preferably 1 μm to 100 μm, more preferably 1 μm to 50 μm, and still more preferably 5 μm to 40 μm. Industrial coating becomes easy because the thickness of the photosensitive resin composition layer 3 is 1 μm or more. When the thickness of the photosensitive resin composition layer 3 is 100 μm or less, adhesion and resolution tend to be sufficiently obtained.

上記感光性樹脂組成物層3の紫外線に対する透過率は、波長350nm〜420nmの範囲の紫外線に対して5%〜75%であることが好ましく、10%〜65%であることがより好ましく、15%〜55%であることが特に好ましい。この透過率が5%以上であると、充分な密着性が得られ易くなる傾向がある。この透過率が75%以下であると、充分な解像度が得られ易くなる傾向がある。なお、上記透過率は、UV分光計により測定することができる。
UV分光計としては、(株)日立製作所製の228A型Wビーム分光光度計が挙げられる。
The transmittance of the photosensitive resin composition layer 3 with respect to ultraviolet rays is preferably 5% to 75%, more preferably 10% to 65%, with respect to ultraviolet rays having a wavelength in the range of 350 nm to 420 nm. % To 55% is particularly preferable. When the transmittance is 5% or more, sufficient adhesion tends to be obtained. When this transmittance is 75% or less, sufficient resolution tends to be easily obtained. The transmittance can be measured with a UV spectrometer.
An example of the UV spectrometer is a 228A type W beam spectrophotometer manufactured by Hitachi, Ltd.

感光性エレメントは、更にクッション層、接着層、光吸収層、ガスバリア層等の中間層等を有していてもよい。これらの中間層としては、例えば、特開2006−098982号公報に記載の中間層を本発明においても適用することができる。   The photosensitive element may further include an intermediate layer such as a cushion layer, an adhesive layer, a light absorption layer, and a gas barrier layer. As these intermediate layers, for example, the intermediate layers described in JP-A-2006-098982 can also be applied in the present invention.

得られた感光性エレメントの形態は特に制限されない。例えば、シート状であってもよく、又は巻芯にロール状に巻き取った形状であってもよい。ロール状に巻き取る場合、支持フィルム2が外側になるように巻き取ることが好ましい。巻芯としては、ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ABS樹脂(アクリロニトリル−ブタジエン−スチレン共重合体)等のプラスチックなどが挙げられる。このようにして得られたロール状の感光性エレメントロールの端面には、端面保護の見地から端面セパレータを設置することが好ましく、耐エッジフュージョンの見地から防湿端面セパレータを設置することが好ましい。梱包方法としては、透湿性の小さいブラックシートに包んで包装することが好ましい。   The form of the obtained photosensitive element is not particularly limited. For example, it may be in the form of a sheet, or may be in the form of a roll wound around a core. When winding in roll form, it is preferable to wind up so that the support film 2 may become an outer side. Examples of the winding core include plastics such as polyethylene resin, polypropylene resin, polystyrene resin, polyvinyl chloride resin, and ABS resin (acrylonitrile-butadiene-styrene copolymer). From the viewpoint of end face protection, it is preferable to install an end face separator on the end face of the roll-shaped photosensitive element roll thus obtained, and it is preferable to install a moisture-proof end face separator from the standpoint of edge fusion resistance. As a packaging method, it is preferable to wrap and package in a black sheet with low moisture permeability.

本実施形態の感光性エレメントは、例えば、後述するレジストパターン付き基板の製造方法に好適に用いることができる。   The photosensitive element of this embodiment can be used suitably for the manufacturing method of the board | substrate with a resist pattern mentioned later, for example.

<レジストパターン付き基板の製造方法>
上記感光性樹脂組成物を用いて、レジストパターン付き基板を製造することができる。本実施形態のレジストパターン付き基板の製造方法は、(i)上記感光性樹脂組成物の塗膜である感光性樹脂組成物層を基板上に積層する積層工程と、(ii)上記感光性樹脂組成物層の少なくとも一部の領域に活性光線を照射して、上記領域を露光させて硬化物領域を形成する露光工程と、(iii)上記感光性樹脂組成物層の上記硬化物領域以外の領域を上記基板上から除去して、上記基板上に上記硬化物領域からなるレジストパターンを形成する現像工程と、を有する。上記レジストパターン付き基板の製造方法は必要に応じて更にその他の工程を有していてもよい。
<Method for manufacturing substrate with resist pattern>
A substrate with a resist pattern can be produced using the photosensitive resin composition. The method for producing a substrate with a resist pattern according to this embodiment includes (i) a lamination step of laminating a photosensitive resin composition layer, which is a coating film of the photosensitive resin composition, on the substrate, and (ii) the photosensitive resin. An exposure step of irradiating at least a part of the composition layer with actinic rays to expose the region to form a cured product region; and (iii) other than the cured product region of the photosensitive resin composition layer. A development step of removing the region from the substrate and forming a resist pattern comprising the cured product region on the substrate. The manufacturing method of the said board | substrate with a resist pattern may have another process further as needed.

(i)積層工程
まず、上記感光性樹脂組成物の塗膜である感光性樹脂組成物層3を基板上に積層する。基板としては、絶縁層と該絶縁層上に形成された導体層とを備える基板(回路形成用基板)を用いることができる。
(I) Lamination process First, the photosensitive resin composition layer 3 which is a coating film of the said photosensitive resin composition is laminated | stacked on a board | substrate. As the substrate, a substrate (circuit forming substrate) including an insulating layer and a conductor layer formed on the insulating layer can be used.

感光性樹脂組成物層3の基板上への積層は、例えば、上記感光性エレメントが保護フィルム4を有している場合には、保護フィルム4を除去した後、感光性エレメントの感光性樹脂組成物層3を加熱しながら上記基板に圧着することにより行われる。これにより、基板と感光性樹脂組成物層3と支持フィルム2とがこの順に積層された積層体が得られる。   For example, when the photosensitive element has the protective film 4, the photosensitive resin composition layer 3 is laminated on the substrate after the protective film 4 is removed and then the photosensitive resin composition of the photosensitive element. This is performed by pressing the physical layer 3 to the substrate while heating. Thereby, the laminated body by which the board | substrate, the photosensitive resin composition layer 3, and the support film 2 were laminated | stacked in this order is obtained.

この積層工程は、密着性及び追従性の見地から、減圧下で行うことが好ましい。圧着の際の感光性樹脂組成物層3及び基板の少なくとも一方に対する加熱は、70℃〜130℃の温度で行うことが好ましく、0.1MPa〜1.0MPa程度(1kgf/cm〜10kgf/cm程度)の圧力で圧着することが好ましい。これらの条件には特に制限されず、必要に応じて適宜選択される。なお、感光性樹脂組成物層3を70℃〜130℃に加熱すれば、予め基板を予熱処理することは必要ではない。回路形成用基板の予熱処理を行うことで密着性及び追従性を更に向上させることができる。 This lamination step is preferably performed under reduced pressure from the viewpoint of adhesion and followability. Heating at least one of the photosensitive resin composition layer 3 and the substrate at the time of pressure bonding is preferably performed at a temperature of 70 ° C. to 130 ° C., and about 0.1 MPa to 1.0 MPa (1 kgf / cm 2 to 10 kgf / cm). It is preferable to perform pressure bonding at a pressure of about 2 ). These conditions are not particularly limited, and are appropriately selected as necessary. In addition, if the photosensitive resin composition layer 3 is heated to 70 ° C. to 130 ° C., it is not necessary to pre-heat the substrate in advance. Adhesion and follow-up can be further improved by pre-heat treatment of the circuit forming substrate.

(ii)露光工程
露光工程では、上記のようにして基板上に形成された感光性樹脂組成物層3の少なくとも一部の領域に活性光線を照射することで、活性光線が照射された露光部が光硬化して、潜像が形成される。この際、感光性樹脂組成物層3上に存在する支持フィルム2が活性光線に対して透明である場合には、支持フィルム2を通して活性光線を照射することができる。一方、支持フィルム2が活性光線に対して遮光性を示す場合には、支持フィルム2を除去した後で感光性樹脂組成物層3に活性光線を照射する。
(Ii) Exposure Step In the exposure step, an exposed portion irradiated with actinic rays by irradiating at least a part of the photosensitive resin composition layer 3 formed on the substrate as described above with actinic rays. Is photocured to form a latent image. Under the present circumstances, when the support film 2 which exists on the photosensitive resin composition layer 3 is transparent with respect to actinic light, it can irradiate actinic light through the support film 2. FIG. On the other hand, when the support film 2 shows a light-shielding property against actinic rays, the photosensitive resin composition layer 3 is irradiated with actinic rays after the support film 2 is removed.

露光方法としては、アートワークと呼ばれるネガ又はポジマスクパターンを通して活性光線を画像状に照射する方法(マスク露光法)が挙げられる。また、LDI(Laser Direct Imaging)露光法、DLP(Digital Light Processing)露光法等の直接描画露光法により活性光線を画像状に照射する方法を採用してもよい。   Examples of the exposure method include a method of irradiating an actinic ray in an image form through a negative or positive mask pattern called an artwork (mask exposure method). Alternatively, a method of irradiating actinic rays in an image form by a direct drawing exposure method such as an LDI (Laser Direct Imaging) exposure method or a DLP (Digital Light Processing) exposure method may be employed.

活性光線の光源としては特に制限されず、公知の光源を用いることができる。例えば、カーボンアーク灯、水銀蒸気アーク灯、高圧水銀灯、キセノンランプ、アルゴンレーザ等のガスレーザ、YAGレーザ等の固体レーザ、半導体レーザ及び窒化ガリウム系青紫色レーザ等の紫外線、可視光等を有効に放射するものが用いられる。   The light source for actinic rays is not particularly limited, and a known light source can be used. For example, carbon arc lamps, mercury vapor arc lamps, high-pressure mercury lamps, xenon lamps, gas lasers such as argon lasers, solid-state lasers such as YAG lasers, ultraviolet rays such as semiconductor lasers and gallium nitride blue-violet lasers, and visible light are effectively emitted. What to do is used.

活性光線の波長(露光波長)としては、本発明の効果をより確実に得る観点から、340nm〜430nmの範囲内とすることが好ましく、350nm〜420nmの範囲内とすることがより好ましい。   The wavelength of the actinic ray (exposure wavelength) is preferably in the range of 340 nm to 430 nm, more preferably in the range of 350 nm to 420 nm, from the viewpoint of obtaining the effects of the present invention more reliably.

(iii)現像工程
現像工程では、上記感光性樹脂組成物層3の未硬化部分が回路形成用基板上から現像処理により除去されることで、感光性樹脂組成物層3が光硬化した硬化物であるレジストパターンが基板上に形成される。感光性樹脂組成物層3上に支持フィルム2が存在している場合には、支持フィルム2を除去してから、未露光部分の除去(現像)を行う。現像処理には、ウェット現像とドライ現像とがあるが、ウェット現像が広く用いられている。
(Iii) Development step In the development step, the uncured portion of the photosensitive resin composition layer 3 is removed from the circuit forming substrate by a development treatment, whereby the cured product obtained by photo-curing the photosensitive resin composition layer 3. A resist pattern is formed on the substrate. When the support film 2 exists on the photosensitive resin composition layer 3, the support film 2 is removed, and then the unexposed portion is removed (development). Development processing includes wet development and dry development, and wet development is widely used.

ウェット現像による場合、感光性樹脂組成物に対応した現像液を用いて、公知の現像方法により現像する。現像方法としては、ディップ方式、トル方式、スプレー方式、ブラッシング、スラッピング、スクラッング、揺動浸漬等を用いた方法が挙げられ、解像度向上の観点からは、高圧スプレー方式が最も適している。これら2種以上の方法を組み合わせて現像を行ってもよい。 In the case of wet development, development is performed by a known development method using a developer corresponding to the photosensitive resin composition. As a developing method, dipping method, Pa Torr method, spraying method, brushing, slapping, scratcher bi ring, include methods using reciprocal dipping, etc., from the viewpoint of improved resolution, high-pressure spray system is most suitable Yes. You may develop by combining these 2 or more types of methods.

現像液は上記感光性樹脂組成物の構成に応じて適宜選択される。現像液としては、アルカリ性水溶液、水系現像液、有機溶剤系現像液等が挙げられる。   The developer is appropriately selected according to the configuration of the photosensitive resin composition. Examples of the developer include an alkaline aqueous solution, an aqueous developer, an organic solvent developer, and the like.

上記アルカリ性水溶液は、現像液として用いられる場合、安全且つ安定であり、操作性が良好である。アルカリ性水溶液の塩基としては、リチウム、ナトリウム又はカリウムの水酸化物等の水酸化アルカリ;リチウム、ナトリウム、カリウム若しくはアンモニウムの炭酸塩又は重炭酸塩等の炭酸アルカリ;リン酸カリウム、リン酸ナトリウム等のアルカリ金属リン酸塩;ピロリン酸ナトリウム、ピロリン酸カリウム等のアルカリ金属ピロリン酸塩などが用いられる。   The alkaline aqueous solution is safe and stable when used as a developer, and has good operability. Examples of the base of the alkaline aqueous solution include alkali hydroxides such as lithium, sodium, or potassium hydroxide; alkali carbonates such as lithium, sodium, potassium, or ammonium carbonate or bicarbonate; potassium phosphate, sodium phosphate, and the like. Alkali metal phosphates; alkali metal pyrophosphates such as sodium pyrophosphate and potassium pyrophosphate are used.

現像に用いるアルカリ性水溶液としては、0.1質量%〜5質量%炭酸ナトリウムの希薄溶液、0.1質量%〜5質量%炭酸カリウムの希薄溶液、0.1質量%〜5質量%水酸化ナトリウムの希薄溶液、0.1質量%〜5質量%四ホウ酸ナトリウムの希薄溶液等が好ましい。アルカリ性水溶液のpHは9〜11の範囲とすることが好ましい。またその温度は、感光性樹脂組成物層3のアルカリ現像性に合わせて調節される。アルカリ性水溶液中には、表面活性剤、消泡剤、現像を促進させるための少量の有機溶剤等を含有させてもよい。   Examples of the alkaline aqueous solution used for development include a dilute solution of 0.1% by mass to 5% by mass of sodium carbonate, a dilute solution of 0.1% by mass to 5% by mass of potassium carbonate, and 0.1% by mass to 5% by mass of sodium hydroxide. A dilute solution of 0.1 mass% to 5 mass% of sodium tetraborate is preferred. The pH of the alkaline aqueous solution is preferably in the range of 9-11. The temperature is adjusted in accordance with the alkali developability of the photosensitive resin composition layer 3. The alkaline aqueous solution may contain a surfactant, an antifoaming agent, a small amount of an organic solvent for promoting development, and the like.

上記水系現像液は、例えば、水又はアルカリ性水溶液と1種以上の有機溶剤とからなる現像液である。ここで、アルカリ性水溶液の塩基としては、先に述べた物質以外に、ホウ砂、メタケイ酸ナトリウム、水酸化テトラメチルアンモニウム、エタノールアミン、エチレンジアミン、ジエチレントリアミン、2−アミノ−2−ヒドロキシメチル−1,3−プロパンジオール、1,3−ジアミノ−2−プロパノール、モルホリン等が挙げられる。水系現像液のpHは、現像が充分に行われる範囲でできるだけ小さくすることが好ましく、pH8〜12とすることが好ましく、pH9〜10とすることがより好ましい。   The aqueous developer is, for example, a developer composed of water or an alkaline aqueous solution and one or more organic solvents. Here, as the base of the alkaline aqueous solution, in addition to the substances described above, borax, sodium metasilicate, tetramethylammonium hydroxide, ethanolamine, ethylenediamine, diethylenetriamine, 2-amino-2-hydroxymethyl-1,3 -Propanediol, 1,3-diamino-2-propanol, morpholine and the like. The pH of the aqueous developer is preferably as low as possible within a range where development is sufficiently performed, preferably 8 to 12, and more preferably 9 to 10.

水系現像液に用いる有機溶剤としては、アセトン、酢酸エチル、炭素原子数1〜4のアルコキシ基をもつアルコキシエタノール、エチルアルコール、イソプロピルアルコール、ブチルアルコール、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールモノブチルエーテル等が挙げられる。これらは、1種単独で又は2種類以上を組み合わせて使用される。水系現像液における有機溶剤の含有率は、通常2質量%〜90質量%とすることが好ましい。またその温度は、アルカリ現像性に合わせて調整することができる。水系現像液中には、界面活性剤、消泡剤等を少量混入することもできる。   Examples of the organic solvent used in the aqueous developer include acetone, ethyl acetate, alkoxyethanol having an alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms, ethyl alcohol, isopropyl alcohol, butyl alcohol, diethylene glycol monomethyl ether, diethylene glycol monoethyl ether, diethylene glycol monobutyl ether. Etc. These are used individually by 1 type or in combination of 2 or more types. The content of the organic solvent in the aqueous developer is usually preferably 2% by mass to 90% by mass. Moreover, the temperature can be adjusted according to alkali developability. A small amount of a surfactant, an antifoaming agent or the like can be mixed in the aqueous developer.

有機溶剤系現像液に用いられる有機溶剤としては、1,1,1−トリクロロエタン、N−メチルピロリドン、N,N−ジメチルホルムアミド、シクロヘキサノン、メチルイソブチルケトン、γ−ブチロラクトン等が挙げられる。これらの有機溶剤に、引火防止のため、1質量%〜20質量%の範囲で水を添加して有機溶剤系現像液とすることが好ましい。   Examples of the organic solvent used in the organic solvent developer include 1,1,1-trichloroethane, N-methylpyrrolidone, N, N-dimethylformamide, cyclohexanone, methyl isobutyl ketone, and γ-butyrolactone. It is preferable to add an organic solvent-based developer to these organic solvents in order to prevent ignition by adding water in the range of 1% by mass to 20% by mass.

上記レジストパターン付き基板の製造方法では、未露光部分を除去した後、必要に応じて60℃〜250℃程度の加熱又は0.2J/cm〜10J/cm程度の露光を行うことにより、レジストパターンを更に硬化する工程を更に含んでもよい。 The resist in the patterned substrate manufacturing method, by performing after the removal of the unexposed portions, the order of 60 ° C. to 250 DEG ° C. heating or 0.2J / cm 2 ~10J / cm 2 about exposure as necessary, A step of further curing the resist pattern may be further included.

<プリント配線板の製造方法>
本発明のプリント配線板の製造方法は、上記レジストパターン付き基板の製造方法によりレジストパターンが形成された基板をエッチング処理又はめっき処理して、導体パターンを形成する工程を含む。前記基板としては、絶縁層と該絶縁層上に形成された導体層とを備える基板(回路形成用基板)を用いることが好ましい。プリント配線板の製造方法は、必要に応じてレジスト除去工程等のその他の工程を含んでいてもよい。基板のエッチング処理又はめっき処理は、形成されたレジストパターンをマスクとして、基板の導体層等に対して行われる。
<Method for manufacturing printed wiring board>
The method for producing a printed wiring board of the present invention includes a step of forming a conductor pattern by etching or plating the substrate on which the resist pattern is formed by the method for producing a substrate with a resist pattern. As the substrate, a substrate (circuit forming substrate) including an insulating layer and a conductor layer formed on the insulating layer is preferably used. The manufacturing method of a printed wiring board may include other processes, such as a resist removal process, as needed. Etching or plating of the substrate is performed on the conductor layer of the substrate using the formed resist pattern as a mask.

エッチング処理では、基板上に形成されたレジストパターン(硬化レジスト)をマスクとして、硬化レジストによって被覆されていない回路形成用基板の導体層をエッチング除去し、導体パターンを形成する。エッチング処理の方法は、除去すべき導体層に応じて適宜選択される。エッチング液としては、塩化第二銅溶液、塩化第二鉄溶液、アルカリエッチング溶液、過酸化水素エッチング液等が挙げられる。これらの中でもエッチファクタが良好な点から、塩化第二鉄溶液を用いることが好ましい。   In the etching process, using the resist pattern (cured resist) formed on the substrate as a mask, the conductor layer of the circuit forming substrate not covered with the cured resist is removed by etching to form a conductor pattern. The etching method is appropriately selected according to the conductor layer to be removed. Examples of the etching solution include cupric chloride solution, ferric chloride solution, alkaline etching solution, hydrogen peroxide etching solution and the like. Among these, it is preferable to use a ferric chloride solution because it has a good etch factor.

一方、めっき処理では、基板上に形成されたレジストパターン(硬化レジスト)をマスクとして、硬化レジストによって被覆されていない回路形成用基板の導体層上に銅及び半田などをめっきする。めっき処理の後、硬化レジストを除去し、更にこの硬化レジストによって被覆されていた導体層をエッチング処理して、導体パターンを形成する。めっき処理の方法は、電解めっき処理であっても、無電解めっき処理であってもよい。めっき処理としては、硫酸銅めっき、ピロリン酸銅めっき等の銅めっき、ハイスローはんだめっき等のはんだめっき、ワット浴(硫酸ニッケル−塩化ニッケル)めっき、スルファミン酸ニッケル等のニッケルめっき、ハード金めっき、ソフト金めっき等の金めっきなどが挙げられる。   On the other hand, in the plating process, copper, solder, or the like is plated on the conductor layer of the circuit forming substrate that is not covered with the cured resist, using the resist pattern (cured resist) formed on the substrate as a mask. After the plating treatment, the hardened resist is removed, and the conductor layer covered with the hardened resist is etched to form a conductor pattern. The method of plating treatment may be electrolytic plating treatment or electroless plating treatment. The plating treatment includes copper plating such as copper sulfate plating and copper pyrophosphate plating, solder plating such as high-throw solder plating, watt bath (nickel sulfate-nickel chloride) plating, nickel plating such as nickel sulfamate, hard gold plating, and soft plating. Examples thereof include gold plating such as gold plating.

上記エッチング処理及びめっき処理の後、基板上のレジストパターンは除去(剥離)される。レジストパターンの除去は、例えば、上記現像工程に用いたアルカリ性水溶液より更に強アルカリ性の水溶液を用いて行うことができる。この強アルカリ性の水溶液としては、1質量%〜10質量%水酸化ナトリウム水溶液、1質量%〜10質量%水酸化カリウム水溶液等が用いられる。中でも1質量%〜10質量%水酸化ナトリウム水溶液又は水酸化カリウム水溶液を用いることが好ましく、1質量%〜5質量%水酸化ナトリウム水溶液又は水酸化カリウム水溶液を用いることがより好ましい。アルカリ性水溶液の付与方式としては、浸漬方式、スプレー方式等が挙げられ、これらは1種単独で用いても併用してもよい。   After the etching process and the plating process, the resist pattern on the substrate is removed (peeled). The resist pattern can be removed using, for example, a stronger alkaline aqueous solution than the alkaline aqueous solution used in the development step. As this strongly alkaline aqueous solution, a 1% by mass to 10% by mass sodium hydroxide aqueous solution, a 1% by mass to 10% by mass potassium hydroxide aqueous solution and the like are used. Among them, it is preferable to use a 1% by mass to 10% by mass sodium hydroxide aqueous solution or a potassium hydroxide aqueous solution, and it is more preferable to use a 1% by mass to 5% by mass sodium hydroxide aqueous solution or a potassium hydroxide aqueous solution. Examples of the application method of the alkaline aqueous solution include a dipping method and a spray method, and these may be used alone or in combination.

めっき処理を施してからレジストパターンを除去した場合、更にエッチング処理によって硬化レジストで被覆されていた導体層を除去し、導体パターンを形成することで所望のプリント配線板を製造することができる。エッチング処理の方法は、除去すべき導体層に応じて適宜選択される。例えば、上述のエッチング液を適用することができる。   When the resist pattern is removed after the plating process, a desired printed wiring board can be manufactured by further removing the conductor layer covered with the cured resist by the etching process and forming the conductor pattern. The etching method is appropriately selected according to the conductor layer to be removed. For example, the above-described etching solution can be applied.

本発明のプリント配線板の製造方法は、単層プリント配線板のみならず多層プリント配線板の製造にも適用可能であり、また小径スルーホールを有するプリント配線板等の製造にも適用可能である。   The printed wiring board manufacturing method of the present invention can be applied not only to a single-layer printed wiring board but also to a multilayer printed wiring board, and also to a printed wiring board having a small-diameter through hole. .

本実施形態の感光性樹脂組成物は、配線板の製造に好適に使用することができる。すなわち、本発明の好適な実施形態の一つは、(A)成分:(メタ)アクリル酸に由来する構造単位及び(メタ)アクリル酸ベンジルに由来する構造単位を有するバインダーポリマーと、(B)成分:エチレン性不飽和結合基を有する光重合性化合物と、(C)成分:光重合開始剤と、(D)成分:一般式(1)で示されるスチリルピリジン化合物と、を含有する感光性樹脂組成物のプリント配線板の製造への応用である。また、より好適な実施形態は、上記感光性樹脂組成物の高密度パッケージ基板の製造への応用であり、上記感光性樹脂組成物のセミアディティブ工法への応用である。以下に、セミアディティブ工法による配線板の製造工程の一例について図面を参照しながら説明する。   The photosensitive resin composition of this embodiment can be used suitably for manufacture of a wiring board. That is, one of the preferred embodiments of the present invention includes (A) component: a binder polymer having a structural unit derived from (meth) acrylic acid and a structural unit derived from benzyl (meth) acrylate, and (B) Component: a photopolymerizable compound having an ethylenically unsaturated bond group; (C) component: a photopolymerization initiator; and (D) component: a styrylpyridine compound represented by the general formula (1). This is an application of the resin composition to the production of a printed wiring board. A more preferred embodiment is application of the photosensitive resin composition to the production of a high-density package substrate, and application of the photosensitive resin composition to a semi-additive construction method. Below, an example of the manufacturing process of the wiring board by a semi-additive construction method is demonstrated, referring drawings.

図2(a)では、絶縁層15上に導体層10が形成された基板(回路形成用基板)を準備する。導体層10は、例えば、金属銅層である。図2(b)では、上記積層工程により、基板の導体層10上に感光性樹脂組成物層32を積層する。図2(c)では、感光性樹脂組成物層32上にマスク20を積層し、活性光線50を照射して、マスク20が積層された領域以外の領域を露光して光硬化部を形成する。図2(d)では、上記露光工程により形成された光硬化部以外の領域を現像工程により、基板上から除去することにより、基板上に光硬化部であるレジストパターン30を形成する。図2(e)では、光硬化部であるレジストパターン30をマスクとしためっき処理により、導体層10上にめっき層42を形成する。図2(f)では、光硬化部であるレジストパターン30を強アルカリの水溶液により剥離した後、フラッシュエッチング処理により、めっき層42の一部とレジストパターン30でマスクされていた導体層10とを除去して回路パターン40を形成する。図2ではマスク20を用いてレジストパターン30を形成する方法について説明したが、マスク20を用いずに直接描画露光法によりレジストパターン30を形成してもよい。   In FIG. 2A, a substrate (circuit forming substrate) in which the conductor layer 10 is formed on the insulating layer 15 is prepared. The conductor layer 10 is, for example, a metal copper layer. In FIG.2 (b), the photosensitive resin composition layer 32 is laminated | stacked on the conductor layer 10 of a board | substrate by the said lamination process. In FIG.2 (c), the mask 20 is laminated | stacked on the photosensitive resin composition layer 32, actinic light 50 is irradiated, area | regions other than the area | region where the mask 20 was laminated | stacked are exposed, and a photocuring part is formed. . In FIG. 2D, the resist pattern 30 which is a photocuring part is formed on a board | substrate by removing areas other than the photocuring part formed by the said exposure process from a board | substrate by a image development process. In FIG. 2E, a plating layer 42 is formed on the conductor layer 10 by plating using the resist pattern 30 that is a photocured portion as a mask. In FIG. 2F, after the resist pattern 30 which is a photocured portion is peeled off with a strong alkaline aqueous solution, a part of the plating layer 42 and the conductor layer 10 masked by the resist pattern 30 are removed by flash etching. The circuit pattern 40 is formed by removing. Although the method of forming the resist pattern 30 using the mask 20 has been described with reference to FIG. 2, the resist pattern 30 may be formed by direct drawing exposure without using the mask 20.

以下、本発明を実施例により具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。   EXAMPLES The present invention will be specifically described below with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.

(実施例1)
(感光性樹脂組成物の溶液の調製)
表2及び表3に示す(A)〜(E)成分を同表に示す配合量(g単位)で、アセトン9g、トルエン5g及びメタノール5gと混合することにより、実施例1〜3及び比較例1〜4の感光性樹脂組成物の溶液をそれぞれ調製した。表2及び表3に示す(A)成分の配合量は不揮発分の質量(固形分量)である。表2及び表3に示す各成分の詳細については、以下のとおりである。なお、「−」は未配合を意味する。
Example 1
(Preparation of solution of photosensitive resin composition)
By mixing the components (A) to (E) shown in Tables 2 and 3 with 9 g of acetone, 5 g of toluene and 5 g of methanol in the blending amounts (g units) shown in the same table, Examples 1 to 3 and Comparative Example Solutions of 1 to 4 photosensitive resin compositions were respectively prepared. The blending amount of the component (A) shown in Tables 2 and 3 is the mass (solid content) of the nonvolatile content. Details of each component shown in Tables 2 and 3 are as follows. “-” Means not blended.

(A)バインダーポリマー
[バインダーポリマ(A−1)の合成]
重合性単量体(モノマ)であるメタクリル酸90g、メタクリル酸メチル6g、スチレン150及びメタクリル酸ベンジル54g(質量比30/2/50/18)と、アゾビスイソブチロニトリル1.5gとを混合して得た溶液を「溶液a」とした。
(A) Binder polymer [synthesis of binder polymer (A-1)]
90 g of methacrylic acid which is a polymerizable monomer (monomer), 6 g of methyl methacrylate, styrene 150 and 54 g of benzyl methacrylate (mass ratio 30/2/50/18) and 1.5 g of azobisisobutyronitrile. The solution obtained by mixing was designated as “Solution a”.

メチルセロソルブ60g及びトルエン40gの混合液(質量比3:2)100gに、アゾビスイソブチロニトリル0.5gを溶解して得た溶液を「溶液b」とした。   A solution obtained by dissolving 0.5 g of azobisisobutyronitrile in 100 g of a mixed solution (mass ratio 3: 2) of 60 g of methyl cellosolve and 40 g of toluene was designated as “Solution b”.

撹拌機、還流冷却器、温度計、滴下ロート及び窒素ガス導入管を備えたフラスコに、メチルセロソルブ180g及びトルエン120gの混合液(質量比3:2)300gを投入し、フラスコ内に窒素ガスを吹き込みつつ撹拌しながら加熱し、80℃まで昇温させた。   A flask equipped with a stirrer, reflux condenser, thermometer, dropping funnel and nitrogen gas introduction tube was charged with 300 g of a mixture of 180 g of methyl cellosolve and 120 g of toluene (mass ratio 3: 2), and nitrogen gas was introduced into the flask. The mixture was heated with stirring while being blown, and the temperature was raised to 80 ° C.

フラスコ内の上記混合液に、上記溶液aを4時間かけて滴下した後、撹拌しながら80℃にて2時間保温した。次いで、フラスコ内の溶液に、上記溶液bを10分間かけて滴下した後、フラスコ内の溶液を撹拌しながら80℃にて3時間保温した。更に、フラスコ内の溶液を30分間かけて90℃まで昇温させ、90℃にて2時間保温した後、冷却してバインダーポリマ(A−1)の溶液を得た。   The solution a was added dropwise to the mixed solution in the flask over 4 hours, and then kept at 80 ° C. for 2 hours with stirring. Next, the solution b was added dropwise to the solution in the flask over 10 minutes, and then the solution in the flask was kept at 80 ° C. for 3 hours while stirring. Further, the temperature of the solution in the flask was raised to 90 ° C. over 30 minutes, kept at 90 ° C. for 2 hours, and then cooled to obtain a binder polymer (A-1) solution.

バインダーポリマ(A−1)の不揮発分(固形分)は47.4質量%であり、重量平均分子量は44000であり、酸価は196mgKOH/g、分散度は1.6であった。   The binder polymer (A-1) had a non-volatile content (solid content) of 47.4% by mass, a weight average molecular weight of 44,000, an acid value of 196 mgKOH / g, and a dispersity of 1.6.

なお、重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー法(GPC)によって測定し、標準ポリスチレンの検量線を用いて換算することにより導出した。GPCの条件を以下に示す。   The weight average molecular weight was measured by gel permeation chromatography (GPC) and derived by conversion using a standard polystyrene calibration curve. The GPC conditions are shown below.

GPC条件
ポンプ:日立 L−6000型(株式会社日立製作所製)
カラム:以下の計3本、カラム仕様:10.7mmφ×300mm
Gelpack GL−R440
Gelpack GL−R450
Gelpack GL−R400M(以上、日立化成株式会社製、商品名) 溶離液:テトラヒドロフラン(THF)
試料濃度:固形分が40%の樹脂溶液を120mg採取し、5mLのTHFに溶解して試料を調製した。
測定温度:40℃
注入量:200μL
圧力:49Kgf/cm(4.8MPa)
流量:2.05mL/分
検出器:日立 L−3300型RI(株式会社日立製作所製)
GPC conditions Pump: Hitachi L-6000 type (manufactured by Hitachi, Ltd.)
Column: 3 in total, column specifications: 10.7 mmφ x 300 mm
Gelpack GL-R440
Gelpack GL-R450
Gelpack GL-R400M (Hitachi Chemical Co., Ltd., trade name) Eluent: Tetrahydrofuran (THF)
Sample concentration: 120 mg of a resin solution having a solid content of 40% was collected and dissolved in 5 mL of THF to prepare a sample.
Measurement temperature: 40 ° C
Injection volume: 200 μL
Pressure: 49Kgf / cm 2 (4.8MPa)
Flow rate: 2.05 mL / min Detector: Hitachi L-3300 type RI (manufactured by Hitachi, Ltd.)

[バインダーポリマ(A−2)〜(A−4)の合成]
重合性単量体(モノマ)として、表1に示す材料を同表に示す質量比で用いたほかは、バインダーポリマ(A−1)の溶液を得るのと同様にしてバインダーポリマ(A−2)〜(A−4)の溶液を得た。
[Synthesis of Binder Polymers (A-2) to (A-4)]
As the polymerizable monomer (monomer), the binder polymer (A-2) was obtained in the same manner as the solution of the binder polymer (A-1) except that the materials shown in Table 1 were used in the mass ratio shown in the same table. ) To (A-4) were obtained.

バインダーポリマ(A−1)〜(A−4)について、重合性単量体(モノマ)の質量比(%)、酸価及び重量平均分子量及び分散度を表1に示す。なお、「−」は未配合を意味する。   Table 1 shows the mass ratio (%), acid value, weight average molecular weight, and degree of dispersion of the polymerizable monomers (monomers) for the binder polymers (A-1) to (A-4). “-” Means not blended.

(B)光重合性化合物
・FA−321M(日立化成株式会社製、商品名):2,2−ビス(4−(メタクリロキシペンタエトキシ)フェニル)プロパン
・FA−324M(日立化成株式会社製、商品名):2,2−ビス(4−(メタクリロキシジエトキシ)フェニル)プロパン
・FA−3200MY(日立化成株式会社製、商品名):2,2−ビス(4−(メタクリロキシエトキシプロポキシ)フェニル)プロパン(エチレンオキサイド平均12mol及びプロピレンオキサイド平均4mol付加物)
(B) Photopolymerizable compound FA-321M (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., trade name): 2,2-bis (4- (methacryloxypentaethoxy) phenyl) propane FA-324M (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., Product name): 2,2-bis (4- (methacryloxydiethoxy) phenyl) propane FA-3200MY (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.): 2,2-bis (4- (methacryloxyethoxypropoxy) Phenyl) propane (ethylene oxide average 12 mol and propylene oxide average 4 mol adduct)

(C)光重合開始剤
・B−CIM(Hampford社製、製品名):2,2’−ビス(2−クロロフェニル)−4,4’,5,5’−テトラフェニルビスイミダゾール[2−(2−クロロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体]
(C) Photopolymerization initiator B-CIM (product name, manufactured by Hampford): 2,2′-bis (2-chlorophenyl) -4,4 ′, 5,5′-tetraphenylbisimidazole [2- ( 2-chlorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer]

(D)増感色素
・2,4−DMOP−DSP(合成サンプル名):3,5−ビス(2、4−ジメトキシベンジリデンジシクロペンタノ[b,e])−4−(2、4−ジメトキシフェニル)ピリジン
・PYR−1(株式会社日本化学工業所製):1−フェニル−3−(4−メトキシスチリル)−5−(4−メトキシフェニル)ピラゾリン
・EAB(保土ヶ谷化学工業株式会社製 商品名):4,4’−ジエチルアミノベンゾフェノン
・H−MOP−DSP(合成サンプル名):4,6−ビス(4−メトキシベンジリデンジシクロヘキサノ[b,e])−5−(4−メトキシフェニル)ピリジン
(D) Sensitizing dye 2,4-DMOP-DSP (synthetic sample name): 3,5-bis (2,4-dimethoxybenzylidenedicyclopentano [b, e])-4- (2,4- Dimethoxyphenyl) pyridine • PYR-1 (manufactured by Nippon Chemical Industry Co., Ltd.): 1-phenyl-3- (4-methoxystyryl) -5- (4-methoxyphenyl) pyrazoline • EAB (manufactured by Hodogaya Chemical Co., Ltd.) Name): 4,4′-diethylaminobenzophenone H-MOP-DSP (synthetic sample name): 4,6-bis (4-methoxybenzylidenedicyclohexano [b, e])-5- (4-methoxyphenyl) Pyridine

(E)アミン化合物
・LCV(山田化学株式会社製、製品名):ロイコクリスタルバイオレット
(E) Amine compound LCV (manufactured by Yamada Chemical Co., Ltd., product name): Leuco Crystal Violet

染料
・MKG(大阪有機化学工業株式会社製、製品名):マラカイトグリーン
Dye ・ MKG (Osaka Organic Chemical Co., Ltd., product name): Malachite Green

<感光性エレメントの作製>
上記で得られた感光性樹脂組成物の溶液を、それぞれ厚さ16μmのポリエチレンテレフタレートフィルム(東レ(株)製、製品名「FB−40」)上に塗布し、70℃及び110℃の熱風対流式乾燥器で順次乾燥処理して、乾燥後の膜厚が25μmである感光性樹脂組成物層を形成した。この感光性樹脂組成物層上に保護フィルム(王子製紙(株)製、製品名「E−200K」)を貼り合わせ、ポリエチレンテレフタレートフィルム(支持フィルム)と、感光性樹脂組成物層と、保護フィルムとが順に積層された感光性エレメントをそれぞれ得た。
<Production of photosensitive element>
The photosensitive resin composition solution obtained above was applied onto a polyethylene terephthalate film having a thickness of 16 μm (product name “FB-40” manufactured by Toray Industries, Inc.), and hot air convection at 70 ° C. and 110 ° C. A photosensitive resin composition layer having a dried film thickness of 25 μm was formed by sequentially drying with a type dryer. A protective film (manufactured by Oji Paper Co., Ltd., product name “E-200K”) is bonded onto the photosensitive resin composition layer, and a polyethylene terephthalate film (support film), the photosensitive resin composition layer, and the protective film are bonded. A photosensitive element in which and were sequentially laminated was obtained.

<積層基板の作製>
ガラスエポキシ材と、その両面に形成された銅箔(厚さ16μm)とからなる銅張積層板(日立化成株式会社製、製品名「MCL−E−679F」)(以下、「基板」という。)を加熱して80℃に昇温させた後、実施例1〜3及び比較例1〜4に係る感光性エレメントを、基板の銅表面にラミネート(積層)した。ラミネートは、保護フィルムを除去しながら、各感光性エレメントの感光性樹脂組成物層が基板の銅表面に密着するようにして、温度120℃、ラミネート圧力4kgf/cm(0.4MPa)の条件下で行った。このようにして、基板の銅表面上に感光性樹脂組成物層及びポリエチレンテレフタレートフィルムが積層された積層基板を得た。
<Production of laminated substrate>
Copper-clad laminate (product name “MCL-E-679F” manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) (hereinafter referred to as “substrate”) made of glass epoxy material and copper foil (thickness 16 μm) formed on both surfaces thereof. ) Was heated to 80 ° C., and the photosensitive elements according to Examples 1 to 3 and Comparative Examples 1 to 4 were laminated (laminated) on the copper surface of the substrate. Lamination is performed under conditions of a temperature of 120 ° C. and a lamination pressure of 4 kgf / cm 2 (0.4 MPa) so that the photosensitive resin composition layer of each photosensitive element is in close contact with the copper surface of the substrate while removing the protective film. Went under. Thus, the laminated substrate by which the photosensitive resin composition layer and the polyethylene terephthalate film were laminated | stacked on the copper surface of the board | substrate was obtained.

得られた積層基板を放冷し、23℃になった時点で、積層基板のポリエチレンテレフタレートフィルム上に、濃度領域0.00〜2.00、濃度ステップ0.05、タブレットの大きさ20mm×187mm、各ステップの大きさが3mm×12mmである41段ステップタブレットを有するフォトツールを密着させた。波長355nmの半導体レーザを光源とするオルボテック社製直描露光機「Paragon 9000M」(製品名)を使用して、100mJ/cmのエネルギー量(露光量)でフォトツール及びポリエチレンテレフタレートフィルムを介して感光性樹脂組成物層に対して露光を行った。 The obtained laminated substrate was allowed to cool and when the temperature reached 23 ° C., on the polyethylene terephthalate film of the laminated substrate, a concentration region of 0.00 to 2.00, a concentration step of 0.05, and a tablet size of 20 mm × 187 mm. A photo tool having a 41-step tablet having a size of 3 mm × 12 mm for each step was brought into close contact. Using a direct drawing exposure machine “Paragon 9000M” (product name) manufactured by Orbotech using a semiconductor laser having a wavelength of 355 nm as a light source, with a photo tool and a polyethylene terephthalate film at an energy amount (exposure amount) of 100 mJ / cm 2 Exposure was performed with respect to the photosensitive resin composition layer.

<感度の評価>
露光後、積層基板からポリエチレンテレフタレートフィルムを剥離し、感光性樹脂組成物層を露出させ、1質量%炭酸ナトリウム水溶液を30℃にて60秒間スプレーすることにより、未露光部分を除去した。このようにして、基板の銅表面上に感光性樹脂組成物の硬化物からなるレジストパターンを形成した。レジストパターン(硬化膜)として得られたステップタブレットの残存段数(ステップ段数)を測定することにより、感光性樹脂組成物の感度を評価した。感度は、上記ステップ段数が23段となるエネルギー量(単位:mJ/cm)により示され、この数値が低いほど感度が良好であることを意味する。結果を表4及び表5に示す。
<Evaluation of sensitivity>
After the exposure, the polyethylene terephthalate film was peeled from the laminated substrate, the photosensitive resin composition layer was exposed, and a 1% by mass aqueous sodium carbonate solution was sprayed at 30 ° C. for 60 seconds to remove unexposed portions. Thus, the resist pattern which consists of hardened | cured material of the photosensitive resin composition was formed on the copper surface of a board | substrate. The sensitivity of the photosensitive resin composition was evaluated by measuring the number of remaining steps (step number) of the step tablet obtained as a resist pattern (cured film). Sensitivity is indicated by the amount of energy (unit: mJ / cm 2 ) at which the number of step steps is 23, and the lower this value, the better the sensitivity. The results are shown in Tables 4 and 5.

<解像度及び密着性の評価>
ライン幅(L)/スペース幅(S)(以下、「L/S」と記す。)が3/3〜30/30(単位:μm)である描画パターンを用いて、41段ステップタブレットの残存段数が23段となるエネルギー量で上記積層基板の感光性樹脂組成物層に対して露光(描画)を行った。露光後、上記感度の評価と同様の現像処理を行った。
<Evaluation of resolution and adhesion>
The remaining 41-step tablet using a drawing pattern having a line width (L) / space width (S) (hereinafter referred to as “L / S”) of 3/3 to 30/30 (unit: μm) Exposure (drawing) was performed on the photosensitive resin composition layer of the laminated substrate with an energy amount of 23 steps. After the exposure, the same development processing as in the sensitivity evaluation was performed.

現像後、スペース部分(未露光部分)が残渣なく除去され、且つライン部分(露光部分)が蛇行及び欠けを生じることなく形成されたレジストパターンにおけるライン幅/スペース幅の値のうちの最小値により、解像度及び密着性を評価した。この数値が小さいほど解像度及び密着性が共に良好であることを意味する。結果を表4及び表5に示す。   After development, the space portion (unexposed portion) is removed without residue, and the line portion (exposed portion) is formed with the minimum value of the line width / space width values in the resist pattern formed without meandering and chipping. The resolution and adhesion were evaluated. A smaller value means better resolution and adhesion. The results are shown in Tables 4 and 5.

表4及び表5から明らかなように、(メタ)アクリル酸及び(メタ)アクリル酸ベンジルを有するバインダーポリマーと、エチレン性不飽和結合基を有する光重合性化合物と、光重合開始剤と、一般式(1)で示されるスチリルピリジン化合物とを含有する感光性樹脂組成物から形成されたレジストパターンは、感度、解像度及び密着性のいずれにも優れていた。   As is clear from Tables 4 and 5, a binder polymer having (meth) acrylic acid and benzyl (meth) acrylate, a photopolymerizable compound having an ethylenically unsaturated bond group, a photopolymerization initiator, The resist pattern formed from the photosensitive resin composition containing the styrylpyridine compound represented by the formula (1) was excellent in all of sensitivity, resolution, and adhesion.

1…感光性エレメント、2…支持フィルム、3…感光性樹脂組成物層、4…保護フィルム、10…導体層、15…絶縁層、20…マスク、30…レジストパターン、32…感光性樹脂組成物層、40…回路パターン、42…めっき層 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Photosensitive element, 2 ... Support film, 3 ... Photosensitive resin composition layer, 4 ... Protective film, 10 ... Conductive layer, 15 ... Insulating layer, 20 ... Mask, 30 ... Resist pattern, 32 ... Photosensitive resin composition Material layer, 40 ... circuit pattern, 42 ... plating layer

Claims (6)

(A)(メタ)アクリル酸及び(メタ)アクリル酸ベンジルに由来する構造単位を有するバインダーポリマーと、
(B)エチレン性不飽和結合基を有する光重合性化合物と、
(C)光重合開始剤と、
(D)下記一般式(1)で示されるスチリルピリジン化合物と、を含有する感光性樹脂組成物。

〔式(1)中、R、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1〜20のアルキル基、炭素数1〜6のアルコキシ基、炭素数1〜6のアルキルエステル基、アミノ基、炭素数1〜20のアルキルアミノ基、カルボキシル基、シアノ基、ニトロ基、アセチル基又は(メタ)アクリル基を示し、a、b及びcはそれぞれ独立に0〜5の整数を示す。但し、aが2以上の場合、複数存在するRはそれぞれ同一でも異なっていてもよく、bが2以上の場合、複数存在するRはそれぞれ同一でも異なっていてもよく、cが2以上の場合、複数存在するRはそれぞれ同一でも異なっていてもよい。〕
(A) a binder polymer having a structural unit derived from (meth) acrylic acid and benzyl (meth) acrylate;
(B) a photopolymerizable compound having an ethylenically unsaturated bond group;
(C) a photopolymerization initiator;
(D) A photosensitive resin composition containing a styrylpyridine compound represented by the following general formula (1).

Wherein (1), R 1, R 2 and R 3 are independently an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, an alkyl ester group having 1 to 6 carbon atoms, amino Group, a C1-C20 alkylamino group, a carboxyl group, a cyano group, a nitro group, an acetyl group or a (meth) acryl group, a, b and c each independently represents an integer of 0 to 5. However, when a is 2 or more, a plurality of R 1 may be the same or different, and when b is 2 or more, a plurality of R 2 may be the same or different, and c is 2 or more. In the case, a plurality of R 3 may be the same or different. ]
(C)光重合開始剤が、下記一般式(2)で示される2,4,5−トリアリールイミダゾール二量体及びその誘導体からなる群より選択される少なくとも1種を含有する、請求項1に記載の感光性樹脂組成物。

[式(2)中、Ar、Ar、Ar及びArは、それぞれ独立に、アルキル基、アルケニル基及びアルコキシ基からなる群より選ばれる少なくとも1種の置換基で置換されていてもよいアリール基を示し、X及びXは、それぞれ独立に、ハロゲン原子、アルキル基、アルケニル基又はアルコキシ基を示し、p及びqは、それぞれ独立に、1〜5の整数を示す。但し、pが2以上の場合、複数存在するXはそれぞれ同一でも異なっていてもよく、qが2以上の場合、複数存在するXはそれぞれ同一でも異なっていてもよい。]
(C) The photopolymerization initiator contains at least one selected from the group consisting of 2,4,5-triarylimidazole dimers represented by the following general formula (2) and derivatives thereof. The photosensitive resin composition as described in 2.

[In Formula (2), Ar 1 , Ar 2 , Ar 3 and Ar 4 may each independently be substituted with at least one substituent selected from the group consisting of an alkyl group, an alkenyl group and an alkoxy group. A good aryl group, X 1 and X 2 each independently represent a halogen atom, an alkyl group, an alkenyl group or an alkoxy group; p and q each independently represent an integer of 1 to 5; However, when p is 2 or more, a plurality of X 1 may be the same or different, and when q is 2 or more, a plurality of X 2 may be the same or different. ]
支持フィルムと、前記支持フィルム上に設けられた請求項1又は請求項2に記載の感光性樹脂組成物の塗膜である感光性樹脂組成物層と、を備える感光性エレメント。   A photosensitive element comprising: a support film; and a photosensitive resin composition layer that is a coating film of the photosensitive resin composition according to claim 1 or 2 provided on the support film. 基板上に、請求項1又は請求項2に記載の感光性樹脂組成物の塗膜である感光性樹脂組成物層を積層する積層工程と、
前記感光性樹脂組成物層の少なくとも一部の領域に活性光線を照射して、前記領域を光硬化させて硬化物領域を形成する露光工程と、
前記感光性樹脂組成物層の前記硬化物領域以外の領域を前記基板上から除去して、前記基板上に前記硬化物領域からなるレジストパターンを形成する現像工程と、
を有するレジストパターン付き基板の製造方法。
A laminating step of laminating a photosensitive resin composition layer which is a coating film of the photosensitive resin composition according to claim 1 or 2 on a substrate;
An exposure step of irradiating at least a part of the photosensitive resin composition layer with actinic rays and photocuring the region to form a cured product region;
A development step of removing a region other than the cured product region of the photosensitive resin composition layer from the substrate and forming a resist pattern including the cured product region on the substrate;
The manufacturing method of the board | substrate with a resist pattern which has this.
前記活性光線の波長が340nm〜430nmの範囲内である請求項4に記載のレジストパターン付き基板の製造方法。   The method for producing a substrate with a resist pattern according to claim 4, wherein the wavelength of the active light is in a range of 340 nm to 430 nm. 請求項4又は請求項5に記載のレジストパターン付き基板の製造方法によりレジストパターンが形成された基板をエッチング処理又はめっき処理する工程を含むプリント配線板の製造方法。   A method for producing a printed wiring board, comprising a step of etching or plating a substrate on which a resist pattern is formed by the method for producing a substrate with a resist pattern according to claim 4 or 5.
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100599810B1 (en) * 2004-11-30 2006-07-12 삼성에스디아이 주식회사 Photo sensitive resin composition, method for preparating the same, and dry film resist comprising the same
TWI290931B (en) * 2005-07-01 2007-12-11 Eternal Chemical Co Ltd Photoimageable composition
JP2008058636A (en) * 2006-08-31 2008-03-13 Fujifilm Corp Pattern forming material and pattern forming method
CN101738861B (en) * 2008-11-10 2012-07-25 日立化成工业株式会社 Light-sensitive resin composite and method for manufacturing printed circuit board using same
CN103543608A (en) * 2009-02-26 2014-01-29 日立化成工业株式会社 Photosensitive resin composition, and photosensitive element, resist pattern formation method and printed circuit board production method each utilizing same
KR20130088166A (en) * 2010-11-17 2013-08-07 히타치가세이가부시끼가이샤 Photosensitive resin composition, photosensitive element, method for forming resist pattern, and method for manufacturing printed wiring board
WO2012101908A1 (en) * 2011-01-25 2012-08-02 日立化成工業株式会社 Photosensitive resin composition, photosensitive element, method for producing resist pattern, and method for manufacturing printed wiring board

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