JP6077879B2 - Semiconductor laser module - Google Patents

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Description

本発明は、光通信システムの信号用光源として用いられる半導体レーザを有する半導体レーザモジュールに関する。   The present invention relates to a semiconductor laser module having a semiconductor laser used as a signal light source in an optical communication system.

光通信システムにおいては、変調された電気信号を光信号に変換するためのモジュールとして、半導体レーザモジュールが広く用いられている(例えば、特許文献1参照)。   In an optical communication system, a semiconductor laser module is widely used as a module for converting a modulated electrical signal into an optical signal (see, for example, Patent Document 1).

上記のような半導体レーザモジュールは、図16に示すように、レーザ光を出力する半導体レーザ100と、半導体レーザ100に光学的に結合されるシングルモード光ファイバとしての光ファイバ110と、半導体レーザ100からの出射光を光ファイバ110に向けて集光するレンズ120と、を主に備える。   As shown in FIG. 16, the semiconductor laser module as described above includes a semiconductor laser 100 that outputs laser light, an optical fiber 110 as a single mode optical fiber that is optically coupled to the semiconductor laser 100, and the semiconductor laser 100. And a lens 120 that condenses the light emitted from the optical fiber 110 toward the optical fiber 110.

上記の半導体レーザモジュールに設置される半導体レーザ100には、高出力かつ高安定度の特性が要求される(例えば、特許文献2参照)。これは、光通信システムに用いられる光信号は、長距離にわたって敷設された光ファイバ内を伝送される間に、その強度が徐々に減衰していくためである。   The semiconductor laser 100 installed in the semiconductor laser module is required to have high output and high stability characteristics (see, for example, Patent Document 2). This is because the intensity of an optical signal used in an optical communication system is gradually attenuated while being transmitted through an optical fiber laid over a long distance.

特許文献2に開示された半導体レーザは、n型InP(インジウム・リン)からなる半導体基板上に、n型InGaAsP(インジウム・ガリウム・砒素・リン)からなるn型クラッド層、InGaAsPからなる光分離閉じ込め(SCH:Separate Confinement Heterostructure)層、InGaAsPからなる多重量子井戸(MQW:Multiple Quantum Well)構造の活性層、InGaAsPからなるSCH層、p型InPからなるp型クラッド層が順番に積層されてなる。   The semiconductor laser disclosed in Patent Document 2 has an n-type cladding layer made of n-type InGaAsP (indium / gallium / arsenic / phosphorus) on a semiconductor substrate made of n-type InP (indium / phosphorus), and an optical separation made of InGaAsP. A confinement (SCH) layer, an active layer having a multiple quantum well (MQW) structure composed of InGaAsP, an SCH layer composed of InGaAsP, and a p-type cladding layer composed of p-type InP are sequentially stacked. .

上記の半導体レーザにおいては、高出力化を実現するために、活性層及びSCH層における光閉じ込め係数を低減している。さらに、光の分布をn型クラッド層側に偏らせることにより、p型クラッド層内における価電子帯間光吸収による光損失を抑制している。このため、上記の半導体レーザの出力光のスポット形状及び光強度分布は、図17に示すように活性層を中心とした層厚方向に非対称なものとなる。   In the above semiconductor laser, the optical confinement coefficient in the active layer and the SCH layer is reduced in order to achieve high output. Furthermore, by deviating the light distribution toward the n-type cladding layer, light loss due to light absorption between valence bands in the p-type cladding layer is suppressed. For this reason, the spot shape and light intensity distribution of the output light of the semiconductor laser are asymmetric in the layer thickness direction with the active layer as the center, as shown in FIG.

特開2010−278201号公報JP 2010-278201 A 特許第3525257号明細書Japanese Patent No. 3525257

しかしながら、特許文献1に開示されたような従来の半導体レーザモジュールは、図16に示したように、半導体レーザ100の光軸とレンズ120の光軸とが同一直線上に位置している。このため、上記の半導体レーザ100として特許文献2に開示された半導体レーザを用いる場合には、非対称な光強度分布を有する出力光がその非対称性を保ったまま光ファイバ110に入射される。従って、図18に示すような対称な光強度分布を有するレーザ光を出力する半導体レーザを用いた場合と比較して、半導体レーザと光ファイバとの結合効率が悪いという問題があった。   However, in the conventional semiconductor laser module as disclosed in Patent Document 1, the optical axis of the semiconductor laser 100 and the optical axis of the lens 120 are located on the same straight line as shown in FIG. Therefore, when the semiconductor laser disclosed in Patent Document 2 is used as the semiconductor laser 100, output light having an asymmetric light intensity distribution is incident on the optical fiber 110 while maintaining the asymmetry. Therefore, there is a problem that the coupling efficiency between the semiconductor laser and the optical fiber is poor as compared with the case of using a semiconductor laser that outputs a laser beam having a symmetric light intensity distribution as shown in FIG.

本発明は、このような従来の課題を解決するためになされたものであって、非対称な光強度分布のレーザ光を出射する半導体レーザを備える半導体レーザモジュールにおいて、半導体レーザと光ファイバとの結合効率を向上させることが可能な半導体レーザモジュールを提供することを目的とする。   The present invention has been made to solve such a conventional problem, and in a semiconductor laser module including a semiconductor laser that emits laser light having an asymmetric light intensity distribution, the coupling between the semiconductor laser and the optical fiber is provided. An object of the present invention is to provide a semiconductor laser module capable of improving efficiency.

上記課題を解決するために、本発明の請求項1の半導体レーザモジュールは、
活性層を含む複数の半導体層が積層されてなる半導体レーザと、光ファイバと、当該半導体レーザからの出射光を当該光ファイバに向けて集光するレンズと、を備える半導体レーザモジュールであって、前記半導体レーザの前記出射光の光強度分布が、前記活性層を中心とした層厚方向に非対称であり、前記レンズの前記半導体レーザに対向する側の光学面が非球面形状をなし、前記レンズの光軸が、前記半導体レーザの光軸に対し、前記半導体レーザに向かう方向において前記非対称な光強度分布の偏りの小さい側に傾斜しており、前記半導体レーザの光軸と前記レンズの光軸とが、互いに平行ではなく所定の角度をなして交差し、前記所定の角度は、前記半導体レーザから前記レンズの前記半導体レーザに対向する前記光学面に入射した光の光強度分布が、前記光ファイバの光軸方向に垂直な方向に整形され、前記光学面に入射した光が、前記光ファイバの光軸に関して非対称性が緩和されて前記レンズの前記光ファイバに対向する光学面から出射されるように設定されている構成を有している。
In order to solve the above-described problem, a semiconductor laser module according to claim 1 of the present invention includes:
A semiconductor laser module comprising: a semiconductor laser in which a plurality of semiconductor layers including an active layer are stacked; an optical fiber; and a lens that collects emitted light from the semiconductor laser toward the optical fiber, The light intensity distribution of the emitted light of the semiconductor laser is asymmetric in the layer thickness direction centering on the active layer, and the optical surface of the lens facing the semiconductor laser is aspheric, and the lens The optical axis of the semiconductor laser and the optical axis of the lens are inclined with respect to the optical axis of the semiconductor laser in a direction toward the semiconductor laser in a direction with a small bias of the asymmetric light intensity distribution. DOO is crossed at a predetermined angle not parallel to each other, said predetermined angle is incident on the optical surface facing from the semiconductor laser in the semiconductor laser of the lens The light intensity distribution of the optical fiber is shaped in a direction perpendicular to the optical axis direction of the optical fiber, and the light incident on the optical surface is relaxed in asymmetry with respect to the optical axis of the optical fiber, and is applied to the optical fiber of the lens. It has the structure set so that it may radiate | emit from the optical surface which opposes .

この構成により、レンズの半導体レーザに対向する光学面が非球面形状をなし、半導体レーザの出射光の光軸とレンズの光軸とが互いに平行ではなく所定の角度をなして交差することにより、半導体レーザからレンズに入射した非対称な光強度分布のレーザ光が、光ファイバの光軸を中心とした上下方向に整形されてレンズから出射されるため、非対称な光強度分布のレーザ光を出射する半導体レーザと光ファイバとの結合効率を向上させることができる。   With this configuration, the optical surface of the lens facing the semiconductor laser has an aspherical shape, and the optical axis of the emitted light of the semiconductor laser and the optical axis of the lens are not parallel to each other but intersect at a predetermined angle, Laser light with an asymmetric light intensity distribution incident on the lens from the semiconductor laser is shaped in the vertical direction around the optical axis of the optical fiber and emitted from the lens, so that laser light with an asymmetric light intensity distribution is emitted. The coupling efficiency between the semiconductor laser and the optical fiber can be improved.

また、本発明の請求項2の半導体レーザモジュールは、前記半導体レーザを支持する支持部材をさらに備え、前記支持部材は、前記半導体レーザの光軸と前記レンズの光軸とが前記所定の角度をなして交差した状態で前記半導体レーザを支持するための傾斜面を有する構成を有している。   The semiconductor laser module according to claim 2 of the present invention further includes a support member for supporting the semiconductor laser, wherein the support member has an optical axis of the semiconductor laser and an optical axis of the lens at the predetermined angle. It has a configuration having an inclined surface for supporting the semiconductor laser in an intersecting state.

この構成により、半導体レーザの光軸をレンズの光軸に対して傾けることにより、非対称な光強度分布のレーザ光を出射する半導体レーザと光ファイバとの結合効率を向上させることができる。   With this configuration, by tilting the optical axis of the semiconductor laser with respect to the optical axis of the lens, the coupling efficiency between the semiconductor laser that emits laser light having an asymmetric light intensity distribution and the optical fiber can be improved.

また、本発明の請求項3の半導体レーザモジュールは、一方の端面と他方の端面とが互いに平行に形成された突き当てブロックと、前記半導体レーザを支持し、一端面において前記突き当てブロックの前記一方の端面に当接する支持部材と、前記レンズを保持し、当該保持したレンズの光軸と交差する端面を有するレンズホルダと、をさらに備え、前記レンズホルダは、前記半導体レーザの光軸と前記レンズの光軸とが前記所定の角度をなして交差した状態で、前記レンズの光軸と交差する前記端面の縁部において、前記突き当てブロックの前記他方の端面に固定される構成を有している。   According to a third aspect of the present invention, there is provided the semiconductor laser module according to the third aspect of the present invention, wherein the one end face and the other end face are formed in parallel with each other, the semiconductor laser is supported, and the end face of the abutting block is A support member that abuts one end surface; and a lens holder that holds the lens and has an end surface that intersects the optical axis of the held lens, the lens holder including the optical axis of the semiconductor laser and the optical axis of the semiconductor laser. In a state where the optical axis of the lens intersects with the predetermined angle, the edge of the end surface intersecting the optical axis of the lens is fixed to the other end surface of the abutting block. ing.

この構成により、レンズの光軸を半導体レーザの光軸に対して傾けることにより、非対称な光強度分布のレーザ光を出射する半導体レーザと光ファイバとの結合効率を向上させることができる。   With this configuration, by inclining the optical axis of the lens with respect to the optical axis of the semiconductor laser, the coupling efficiency between the semiconductor laser that emits laser light having an asymmetric light intensity distribution and the optical fiber can be improved.

また、本発明の請求項4の半導体レーザモジュールは、一方の端面と他方の端面とを有する突き当てブロックと、前記半導体レーザを支持し、一端面において前記突き当てブロックの前記一方の端面に当接する支持部材と、前記レンズを保持し、当該保持したレンズの光軸と交差する端面を有し、当該端面において前記突き当てブロックの前記他方の端面に当接して固定されるレンズホルダと、をさらに備え、前記突き当てブロックの前記他方の端面は、前記半導体レーザの光軸と前記レンズの光軸とが前記所定の角度をなして交差した状態で前記レンズホルダを固定するための傾斜面をなす構成を有している。   According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a semiconductor laser module comprising: an abutting block having one end face and the other end face; and supporting the semiconductor laser, wherein the one end face abuts against the one end face of the abutting block. A support member in contact with the lens holder, and a lens holder that holds the lens and has an end surface that intersects with the optical axis of the held lens, and is fixed in contact with the other end surface of the abutting block at the end surface. Further, the other end surface of the abutting block has an inclined surface for fixing the lens holder in a state where the optical axis of the semiconductor laser and the optical axis of the lens intersect with each other at the predetermined angle. It has a configuration to make.

この構成により、レンズの光軸を半導体レーザの光軸に対して傾けることにより、非対称な光強度分布のレーザ光を出射する半導体レーザと光ファイバとの結合効率を向上させることができる。   With this configuration, by inclining the optical axis of the lens with respect to the optical axis of the semiconductor laser, the coupling efficiency between the semiconductor laser that emits laser light having an asymmetric light intensity distribution and the optical fiber can be improved.

また、本発明の請求項5の半導体レーザモジュールは、前記半導体レーザは、InPからなる基板上に、活性層と、該活性層を挟むInGaAsPからなるn型クラッド層及びInPからなるp型クラッド層を設けてなる構成を有していても良い。   According to a fifth aspect of the present invention, in the semiconductor laser module according to the present invention, the semiconductor laser includes an active layer, an n-type clad layer made of InGaAsP and an p-type clad layer made of InP on the substrate made of InP. You may have the structure formed by providing.

本発明は、非対称な光強度分布のレーザ光を出射する半導体レーザを備える半導体レーザモジュールにおいて、半導体レーザと光ファイバとの結合効率を向上させることが可能な半導体レーザモジュールを提供するものである。   The present invention provides a semiconductor laser module that includes a semiconductor laser that emits laser light having an asymmetric light intensity distribution, and that can improve the coupling efficiency between the semiconductor laser and the optical fiber.

第1の実施形態としての半導体レーザモジュールの構成を示す側面図である。It is a side view showing the composition of the semiconductor laser module as a 1st embodiment. 第1の実施形態としての半導体レーザモジュールの構成を示す上面図である。It is a top view which shows the structure of the semiconductor laser module as 1st Embodiment. 第1の実施形態としての半導体レーザモジュールが備える半導体レーザの斜視図である。It is a perspective view of the semiconductor laser with which the semiconductor laser module as a 1st embodiment is provided. 第1の実施形態としての半導体レーザモジュールが備える半導体レーザの要部の構成を示す拡大断面図である。It is an expanded sectional view showing the composition of the principal part of the semiconductor laser with which the semiconductor laser module as a 1st embodiment is provided. 第1の実施形態としての半導体レーザモジュールが備える半導体レーザの屈折率特性を示すグラフである。It is a graph which shows the refractive index characteristic of the semiconductor laser with which the semiconductor laser module as 1st Embodiment is provided. 第1の実施形態としての半導体レーザモジュールが備える半導体レーザの出射光の光強度分布特性を示すグラフである。It is a graph which shows the light intensity distribution characteristic of the emitted light of the semiconductor laser with which the semiconductor laser module as 1st Embodiment is provided. 第1の実施形態としての半導体レーザモジュールの要部の構成を示す側面図である。It is a side view which shows the structure of the principal part of the semiconductor laser module as 1st Embodiment. 第1の実施形態としての半導体レーザモジュールが備える半導体レーザの光軸とレンズの光軸が交わる角度と結合損失の関係を示すグラフである。It is a graph which shows the relationship between the angle which the optical axis of the semiconductor laser with which the semiconductor laser module as 1st Embodiment is provided, and the optical axis of a lens cross, and coupling loss. 第2の実施形態としての半導体レーザモジュールの構成を示す側面図である。It is a side view which shows the structure of the semiconductor laser module as 2nd Embodiment. 第2の実施形態としての半導体レーザモジュールが備える突き当てブロック及びレンズホルダの構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the butting block and lens holder with which the semiconductor laser module as 2nd Embodiment is provided. 第2の実施形態としての半導体レーザモジュールの要部の構成を示す側面図である。It is a side view which shows the structure of the principal part of the semiconductor laser module as 2nd Embodiment. 第3の実施形態としての半導体レーザモジュールの構成を示す側面図である。It is a side view which shows the structure of the semiconductor laser module as 3rd Embodiment. 第3の実施形態としての半導体レーザモジュールが備える突き当てブロック及びレンズホルダの構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the butting block and lens holder with which the semiconductor laser module as 3rd Embodiment is provided. 第4の実施形態としての半導体レーザモジュールの構成を示す上面図である。It is a top view which shows the structure of the semiconductor laser module as 4th Embodiment. 第4の実施形態としての半導体レーザモジュールの要部の構成を示す側面図である。It is a side view which shows the structure of the principal part of the semiconductor laser module as 4th Embodiment. 従来の半導体レーザモジュールの要部の構成を示す側面図である。It is a side view which shows the structure of the principal part of the conventional semiconductor laser module. 従来の半導体レーザの出力光の非対称なスポット形状及び光強度分布を示す図である。It is a figure which shows the asymmetrical spot shape and light intensity distribution of the output light of the conventional semiconductor laser. 従来の半導体レーザの出力光の対称なスポット形状及び光強度分布を示す図である。It is a figure which shows the symmetrical spot shape and light intensity distribution of the output light of the conventional semiconductor laser.

以下、本発明に係る半導体レーザモジュールの実施形態について、図面を用いて説明する。なお、各図面上の各構成の寸法比は、実際の寸法比と必ずしも一致していない。   Embodiments of a semiconductor laser module according to the present invention will be described below with reference to the drawings. In addition, the dimensional ratio of each structure on each drawing does not necessarily correspond with the actual dimensional ratio.

(第1の実施形態)
まず、本発明の第1の実施形態としての半導体レーザモジュールの構成について説明する。
(First embodiment)
First, the configuration of the semiconductor laser module as the first embodiment of the present invention will be described.

図1,2に示すように、バタフライ型の半導体レーザモジュール1は、半導体レーザ10と、シングルモード光ファイバとしての光ファイバ11と、半導体レーザ10からの出射光を光ファイバ11に向けて集光するレンズ12と、基板13と、を主に備える。   As shown in FIGS. 1 and 2, the butterfly type semiconductor laser module 1 includes a semiconductor laser 10, an optical fiber 11 as a single mode optical fiber, and condensing emitted light from the semiconductor laser 10 toward the optical fiber 11. The lens 12 and the substrate 13 are mainly provided.

半導体レーザ10、レンズ12、及び基板13は、内部が中空の直方体状のパッケージ(筺体)14に格納されている。光ファイバ11は、パッケージ14の正面側の壁面14aに接続され、レンズ12により集光された光をパッケージ14の外部に導くようになっている。   The semiconductor laser 10, the lens 12, and the substrate 13 are housed in a rectangular parallelepiped package (casing) 14 having a hollow inside. The optical fiber 11 is connected to the wall surface 14 a on the front side of the package 14 and guides the light collected by the lens 12 to the outside of the package 14.

図2に示すように、パッケージ14の両側壁14b,14cには、半導体レーザモジュール1の動作を制御するための信号が入出力される複数の端子15が、所定間隔で取り付けられている。これらの端子15は、プリント基板(図示せず)上のパターンに半田付けされるようになっている。また、パッケージ14の前端下部及び後端下部にはフランジ部16が設けられ、フランジ部16には半導体レーザモジュール1を放熱板(図示せず)にネジ止めするための取り付け穴17が設けられている。   As shown in FIG. 2, a plurality of terminals 15 to / from which signals for controlling the operation of the semiconductor laser module 1 are input / output are attached to both side walls 14 b and 14 c of the package 14 at predetermined intervals. These terminals 15 are soldered to a pattern on a printed board (not shown). Further, a flange portion 16 is provided at a lower front end portion and a lower rear end portion of the package 14, and an attachment hole 17 for screwing the semiconductor laser module 1 to a heat radiating plate (not shown) is provided in the flange portion 16. Yes.

図1に示すように、パッケージ14内の底壁14dの上面には、ペルチェ素子18が固定されている。このペルチェ素子18上に上記の基板13が固定されている。   As shown in FIG. 1, a Peltier element 18 is fixed to the upper surface of the bottom wall 14 d in the package 14. The substrate 13 is fixed on the Peltier element 18.

さらに、パッケージ14の内部には、半導体レーザ10及びレンズ12に加え、光ファイバ11側から来る反射光などの戻り光を防止するアイソレータ19と、半導体レーザ10のレンズ12側と反対の光出射端面からわずかに出射される光を受光して半導体レーザ10の動作をモニタする受光素子20と、が格納されている。   Further, in addition to the semiconductor laser 10 and the lens 12, an isolator 19 that prevents return light such as reflected light coming from the optical fiber 11 side and a light emitting end face opposite to the lens 12 side of the semiconductor laser 10 are provided inside the package 14. And a light receiving element 20 that receives light slightly emitted from the light source and monitors the operation of the semiconductor laser 10.

基板13は、傾斜面としての上面13aを有する1つの上段部13bと、2つの下段部13c,13dとで形成されている。上段部13b上には、光(レーザ光)を出射する半導体レーザ10がチップキャリア21を介して固定されている。一方の下段部13c上には、レンズ12を保持するレンズホルダ22を支持する一対の突き当てブロック23,24と、アイソレータ19を支持する台座25と、が固定されている。また、他方の下段部13d上には、受光素子20を支持するPDサブマウント26が固定されている。   The substrate 13 is formed of one upper step portion 13b having an upper surface 13a as an inclined surface and two lower step portions 13c and 13d. A semiconductor laser 10 that emits light (laser light) is fixed on the upper stage portion 13 b via a chip carrier 21. A pair of abutting blocks 23 and 24 that support the lens holder 22 that holds the lens 12 and a pedestal 25 that supports the isolator 19 are fixed on the lower step 13c. A PD submount 26 that supports the light receiving element 20 is fixed on the other lower step portion 13d.

即ち、チップキャリア21、突き当てブロック23,24、台座25、及びPDサブマウント26は、基板13上に固定されている。ここで、基板13の上段部13bは、半導体レーザ10を支持する支持部材を構成する。   That is, the chip carrier 21, the abutting blocks 23 and 24, the pedestal 25, and the PD submount 26 are fixed on the substrate 13. Here, the upper stage portion 13 b of the substrate 13 constitutes a support member that supports the semiconductor laser 10.

ここで、突き当てブロック23,24は、一方の端面23a,24aと他方の端面23b,24bとがXZ平面に対して互いに平行に形成されている。基板13の上段部13bの一端面は一方の端面23a,24aに当接している。   Here, in the butting blocks 23 and 24, one end surfaces 23a and 24a and the other end surfaces 23b and 24b are formed in parallel to each other with respect to the XZ plane. One end surface of the upper stage portion 13b of the substrate 13 is in contact with one end surface 23a, 24a.

レンズホルダ22は、ステンレスなどの金属からなっており、レンズ12の光軸と直交する端面22aが突き当てブロック23,24の他方の端面23b,24bに当接した状態で、他方の端面23b,24bに半田、溶接もしくは接着剤で固定されている。   The lens holder 22 is made of a metal such as stainless steel, and the other end surface 23b, with the end surface 22a orthogonal to the optical axis of the lens 12 in contact with the other end surfaces 23b, 24b of the abutment blocks 23, 24. It is fixed to 24b with solder, welding or adhesive.

半導体レーザ10の光軸は、一対の突き当てブロック23,24の間を通過するようになっている。ここで、半導体レーザ10の光軸とは、半導体レーザ10の出射光の導波方向に沿った軸を意味する。   The optical axis of the semiconductor laser 10 passes between the pair of abutting blocks 23 and 24. Here, the optical axis of the semiconductor laser 10 means an axis along the waveguide direction of the emitted light of the semiconductor laser 10.

パッケージ14の壁面14aには、半導体レーザ10から出射されるレーザ光を外部に導くための円形の出射口が形成されており、その手前側には窓ガラス27が取り付けられている。光ファイバ11の先端部分に取り付けられた円筒状のフェルール28は、スリーブ29によってパッケージ14の壁面14aに固定され、さらにフェルール28の全体及び光ファイバ11の一部を取り囲む円筒状のカバー30が、パッケージ14の壁面14aに固定されている。   A circular emission port for guiding laser light emitted from the semiconductor laser 10 to the outside is formed on the wall surface 14a of the package 14, and a window glass 27 is attached to the front side thereof. A cylindrical ferrule 28 attached to the distal end portion of the optical fiber 11 is fixed to the wall surface 14a of the package 14 by a sleeve 29, and a cylindrical cover 30 surrounding the entire ferrule 28 and a part of the optical fiber 11 is provided. It is fixed to the wall surface 14 a of the package 14.

上記の構成により、半導体レーザ10から出射されたレーザ光は、レンズ12、アイソレータ19及び窓ガラス27を通ってパッケージ14の壁面14aに達し、光ファイバ11の一方の端部に入射する。そして、光ファイバ11に入射したレーザ光は、光ファイバ11内を伝搬して、光ファイバ11の他方の端部から出射される。   With the above configuration, the laser light emitted from the semiconductor laser 10 passes through the lens 12, the isolator 19, and the window glass 27, reaches the wall surface 14 a of the package 14, and enters one end portion of the optical fiber 11. The laser light incident on the optical fiber 11 propagates through the optical fiber 11 and is emitted from the other end of the optical fiber 11.

次に、本実施形態の半導体レーザモジュール1が備える半導体レーザ10の構成について説明する。   Next, the configuration of the semiconductor laser 10 provided in the semiconductor laser module 1 of the present embodiment will be described.

図3に示すように、半導体レーザ10は、例えば、n型InP(インジウム・リン)からなるn型半導体基板31の上に、n型InGaAsP(インジウム・ガリウム・砒素・リン)からなるn型クラッド層32、InGaAsPからなる光分離閉じ込め(SCH:Separate Confinement Heterostructure)層33、InGaAsPからなる活性層34、InGaAsPからなるSCH層35と、p型InPからなるp型クラッド層36と、が順番に積層されてなる。   As shown in FIG. 3, the semiconductor laser 10 includes, for example, an n-type cladding made of n-type InGaAsP (indium gallium arsenic / phosphorus) on an n-type semiconductor substrate 31 made of n-type InP (indium / phosphorus). A layer 32, an optical separation and confinement (SCH) layer 33 made of InGaAsP, an active layer 34 made of InGaAsP, an SCH layer 35 made of InGaAsP, and a p-type cladding layer 36 made of p-type InP are sequentially stacked. Being done.

図3において、n型クラッド層32、SCH層33、活性層34、SCH層35、及びp型クラッド層36はメサ型の光導波路を構成しており、このメサ型の光導波路の両側方にp型InPからなる下部埋め込み層37及びn型InPからなる上部埋め込み層38が形成されている。   In FIG. 3, an n-type clad layer 32, an SCH layer 33, an active layer 34, an SCH layer 35, and a p-type clad layer 36 constitute a mesa type optical waveguide, on both sides of the mesa type optical waveguide. A lower buried layer 37 made of p-type InP and an upper buried layer 38 made of n-type InP are formed.

p型InPからなるp型クラッド層36はSCH層35の上側及び上部埋め込み層38の上面に形成されており、このp型クラッド層36の上面には、p型InGaAsPからなるp型コンタクト層39が形成されている。さらに、このp型コンタクト層39の上面には、p型金属電極40が設けられている。また、n型半導体基板31の下面にはn型金属電極41が設けられている。   A p-type cladding layer 36 made of p-type InP is formed on the upper side of the SCH layer 35 and on the upper surface of the upper buried layer 38. A p-type contact layer 39 made of p-type InGaAsP is formed on the upper surface of the p-type cladding layer 36. Is formed. Further, a p-type metal electrode 40 is provided on the upper surface of the p-type contact layer 39. An n-type metal electrode 41 is provided on the lower surface of the n-type semiconductor substrate 31.

また、半導体レーザ10の劈開によって形成された光出射端面42a,42bには、それぞれ所定の反射率を有する誘電体膜(図示せず)が施されている。   Further, dielectric films (not shown) each having a predetermined reflectance are applied to the light emitting end faces 42 a and 42 b formed by cleaving the semiconductor laser 10.

活性層34は、図4の拡大断面図に示すように、井戸層34aと障壁層34bとが繰返し交互に積層された多重量子井戸(MQW:Multiple Quantum Well)構造を有する。即ち、活性層34は、複数の障壁層34bと、当該複数の障壁層34bの個数よりも1つ少ない個数の井戸層34aと、を有する。あるいは、活性層34は、2つの障壁層34bの間に1つの井戸層34aが挟まれた単一量子井戸(SQW:Single Quantum Well)構造を有するものであっても良い。   As shown in the enlarged sectional view of FIG. 4, the active layer 34 has a multiple quantum well (MQW) structure in which well layers 34a and barrier layers 34b are repeatedly and alternately stacked. That is, the active layer 34 has a plurality of barrier layers 34b and a number of well layers 34a that is one less than the number of the plurality of barrier layers 34b. Alternatively, the active layer 34 may have a single quantum well (SQW) structure in which one well layer 34a is sandwiched between two barrier layers 34b.

また、この活性層34の下側に位置するSCH層33は複数の層33a,33b,33cからなる多層構造を有する。同様に、活性層34の上側に位置するSCH層35は複数の層35a,35b,35cからなる多層構造を有する。   Further, the SCH layer 33 located below the active layer 34 has a multilayer structure composed of a plurality of layers 33a, 33b, and 33c. Similarly, the SCH layer 35 located above the active layer 34 has a multilayer structure composed of a plurality of layers 35a, 35b, and 35c.

ここで、活性層34における障壁層34bの屈折率をn、n型クラッド層32の屈折率をn、p型クラッド層36の屈折率をnとする。また、SCH層33を構成する各層33a,33b,33cの屈折率及び厚さをそれぞれn,n,n,t,t,tとし、同様に、SCH層35を構成する各層35a,35b,35cの屈折率及び厚さをn,n,n,t,t,tとする。 Here, the refractive index of the barrier layer 34b in the active layer 34 n s, a refractive index n a of the n-type cladding layer 32, the refractive index of the p-type cladding layer 36 and n b. Further, the refractive indexes and thicknesses of the layers 33a, 33b, and 33c constituting the SCH layer 33 are n 1 , n 2 , n 3 , t 1 , t 2 , and t 3 , respectively, and the SCH layer 35 is similarly configured. The refractive indexes and thicknesses of the respective layers 35a, 35b, and 35c are assumed to be n 1 , n 2 , n 3 , t 1 , t 2 , and t 3 .

そして、各屈折率の大小関係は、図5に示すように、活性層34から遠ざかる程小さくなるように設定され、かつ、InGaAsPからなるn型クラッド層32の屈折率nは、InPからなるp型クラッド層36の屈折率nより高い。 Then, the magnitude of each refractive index, as shown in FIG. 5, is set to be smaller enough away from the active layer 34, and a refractive index n a of the n-type cladding layer 32 made of InGaAsP is made of InP higher than the refractive index n b of the p-type cladding layer 36.

>n>n>n>n>n n s > n 1 > n 2 > n 3 > n a > n b

さらに、この半導体レーザ10においては、図5に示すように、各SCH層33,35を構成する隣接する層相互間の屈折率差が、活性層34からn型クラッド層32及びp型クラッド層36へそれぞれ向かう程小さくなるように設定されている。   Further, in this semiconductor laser 10, as shown in FIG. 5, the refractive index difference between adjacent layers constituting each SCH layer 33, 35 is changed from the active layer 34 to the n-type cladding layer 32 and the p-type cladding layer. It is set to become smaller as it goes to 36 respectively.

即ち、
−n>n−n>n−n>n−n>n−n
となるように設定されている。
That is,
n s −n 1 > n 1 −n 2 > n 2 −n 3 > n 3 −n b > n 3 −n a
It is set to become.

また、SCH層33,35を構成する各層33a,33b,33c,35a,35b,35cの厚みt,t,tは等しく設定されている。 The thicknesses t 1 , t 2 , and t 3 of the layers 33a, 33b, 33c, 35a, 35b, and 35c constituting the SCH layers 33 and 35 are set to be equal.

このように構成された半導体レーザ10では、p型金属電極40とn型金属電極41との間に直流電圧が印加されると、活性層34でレーザ光Pが生起され、そのレーザ光Pが図3に示した半導体レーザ10の光出射端面42a,42bから外部へ出射される。   In the semiconductor laser 10 configured as described above, when a DC voltage is applied between the p-type metal electrode 40 and the n-type metal electrode 41, the laser light P is generated in the active layer 34, and the laser light P is generated. The light is emitted from the light emitting end faces 42a and 42b of the semiconductor laser 10 shown in FIG.

この場合、図5の屈折率特性に示すように、SCH層33,35を構成する隣接する層相互間の屈折率差が、活性層34からn型クラッド層32及びp型クラッド層36へそれぞれ向かう程小さくなるように設定されているので、SCH層33,35内における活性層34の近傍領域の屈折率の高い領域においては屈折率が急激に低下し、n型クラッド層32及びp型クラッド層36の近傍領域の屈折率の低い領域においては、屈折率が緩慢に低下する。   In this case, as shown in the refractive index characteristics of FIG. 5, the refractive index difference between adjacent layers constituting the SCH layers 33 and 35 is changed from the active layer 34 to the n-type cladding layer 32 and the p-type cladding layer 36, respectively. In the SCH layers 33 and 35, the refractive index is drastically decreased in the high refractive index region in the vicinity of the active layer 34 in the SCH layers 33 and 35, so that the n-type cladding layer 32 and the p-type cladding layer In the region having a low refractive index in the region near the layer 36, the refractive index slowly decreases.

このため、光導波路内で光の集中度を緩和する、即ち、光閉じ込め係数を低くすることができ、内部損失が低下する。   For this reason, the concentration of light within the optical waveguide can be relaxed, that is, the optical confinement factor can be lowered, and the internal loss is reduced.

また、InGaAsPからなるn型クラッド層32の屈折率nは、InPからなるp型クラッド層36の屈折率nより高いので、半導体レーザ10の出射光の光強度分布は、活性層34を中心とした層厚方向に非対称となる。より詳細には、光強度分布は、n型クラッド層32とp型クラッド層36を同一屈折率にしたときの対称な特性A'(図6参照)に対して、特性A(図6参照)のようにn型クラッド層32側に偏って分布する。 The refractive index n a of the n-type cladding layer 32 made of InGaAsP is higher than the refractive index n b of the p-type cladding layer 36 made of InP, the light intensity distribution of the light emitted from the semiconductor laser 10, the active layer 34 It becomes asymmetric in the center layer thickness direction. More specifically, the light intensity distribution is a characteristic A (see FIG. 6) with respect to a symmetrical characteristic A ′ (see FIG. 6) when the n-type cladding layer 32 and the p-type cladding layer 36 have the same refractive index. Thus, the distribution is biased toward the n-type cladding layer 32 side.

このため、p型クラッド層36における価電子帯間光吸収による光損失の増加を抑制することができ、高出力なレーザ光を得ることができる。   For this reason, an increase in light loss due to light absorption between valence bands in the p-type cladding layer 36 can be suppressed, and high-power laser light can be obtained.

このように構成された半導体レーザ10は、半導体レーザモジュール1において上段部13b上にチップキャリア21を介してジャンクションダウンで固定されている。   The semiconductor laser 10 configured as described above is fixed to the upper stage portion 13b of the semiconductor laser module 1 by a junction down via the chip carrier 21.

なお、層厚方向に非対称な光強度分布を示す半導体レーザは、上記のように屈折率分布が非対称なクラッド構造を有するInP系の埋め込み型の半導体レーザに限定されず、例えば、屈折率分布が非対称なクラッド構造を有するGaAs(ガリウム・砒素)系のリッジ型あるいは埋め込みリッジ型の半導体レーザであっても良い。   The semiconductor laser exhibiting an asymmetric light intensity distribution in the layer thickness direction is not limited to the InP-based buried type semiconductor laser having a clad structure with an asymmetric refractive index distribution as described above. A GaAs (gallium arsenide) ridge type or buried ridge type semiconductor laser having an asymmetric cladding structure may be used.

次に、本実施形態の半導体レーザモジュール1の要部の構成について説明する。
図7に示すように、レンズ12は、半導体レーザ10に対向する側の光学面12aと、光ファイバ11に対向する側の光学面12bと、を有している。光学面12aは非球面形状をなしており、光学面12bはほぼ球面形状をなしている。このようなレンズ12としては、市場に出回っている非球面レンズを使用することができる。
なお、光学面12bは非球面形状をなしていても良い。
Next, the structure of the principal part of the semiconductor laser module 1 of the present embodiment will be described.
As shown in FIG. 7, the lens 12 has an optical surface 12 a that faces the semiconductor laser 10 and an optical surface 12 b that faces the optical fiber 11. The optical surface 12a has an aspherical shape, and the optical surface 12b has a substantially spherical shape. As such a lens 12, an aspherical lens on the market can be used.
The optical surface 12b may be aspherical.

また、図7はレンズ12が1枚のレンズからなる構成を示しているが、レンズ12は、2枚レンズ系の構成であっても良い。この場合は、半導体レーザ10に近い方のレンズの半導体レーザ10に対向する側の光学面が非球面形状をなしていれば良い。   7 shows a configuration in which the lens 12 is composed of one lens, the lens 12 may have a configuration of a two-lens system. In this case, the optical surface on the side facing the semiconductor laser 10 of the lens closer to the semiconductor laser 10 only needs to be aspherical.

半導体レーザ10の光軸とレンズ12の光軸とは、互いに平行ではなく所定の角度θをなして交差している。図7に示すように、レンズ12の光軸は、半導体レーザ10の光軸に対し、半導体レーザ10に向かう方向において非対称な光強度分布の偏りの小さい側に傾斜している。   The optical axis of the semiconductor laser 10 and the optical axis of the lens 12 are not parallel to each other but intersect each other at a predetermined angle θ. As shown in FIG. 7, the optical axis of the lens 12 is inclined with respect to the optical axis of the semiconductor laser 10 toward the side with a small bias of the asymmetric light intensity distribution in the direction toward the semiconductor laser 10.

レンズ12の光学面12aの形状は非球面形状であるため、所定の角度θを適切に選べば、半導体レーザ10からレンズ12の光学面12aに入射したレーザ光は、その非対称性が緩和されてレンズ12の光学面12bから出射されることとなる。そして、非対称性が緩和されたレーザ光が光ファイバ11に入射されることにより、半導体レーザ10と光ファイバ11の結合効率が向上することとなる。   Since the shape of the optical surface 12a of the lens 12 is an aspherical shape, the laser beam incident on the optical surface 12a of the lens 12 from the semiconductor laser 10 is relaxed if the predetermined angle θ is appropriately selected. The light is emitted from the optical surface 12 b of the lens 12. Then, the coupling efficiency between the semiconductor laser 10 and the optical fiber 11 is improved when the laser light with relaxed asymmetry is incident on the optical fiber 11.

従って、上記の角度θは、半導体レーザ10からレンズ12の光学面12aに入射した非対称な光強度分布のレーザ光が、光ファイバ11の光軸を中心としたZ軸方向に整形されてレンズ12の光学面12bから出射される角度に設定されることが望ましい。具体的な構成としては、図1に示すように、基板13の傾斜面13aのXY平面に対する傾斜角度をθとすることにより、半導体レーザ10の光軸をレンズ12の光軸に対して傾ける。   Therefore, the angle θ is set such that the laser light having an asymmetric light intensity distribution incident on the optical surface 12 a of the lens 12 from the semiconductor laser 10 is shaped in the Z-axis direction around the optical axis of the optical fiber 11. It is desirable that the angle is emitted from the optical surface 12b. As a specific configuration, as shown in FIG. 1, the optical axis of the semiconductor laser 10 is inclined with respect to the optical axis of the lens 12 by setting the inclination angle of the inclined surface 13 a of the substrate 13 to the XY plane as θ.

さらに、本願出願人は、図7の構成において、半導体レーザ10のレーザ光の出射点が光ファイバ11の光軸の延長線上に配置された場合に、半導体レーザ10と光ファイバ11との結合効率が良好な値となることを実験で確認している。なお、図7においては、レンズ12の中心点も光ファイバ11の光軸の延長線上に配置されているが、本構成は一例であり、必ずこのような構成とする必要はない。   Further, the applicant of the present application has determined that the coupling efficiency between the semiconductor laser 10 and the optical fiber 11 when the emission point of the laser beam of the semiconductor laser 10 is arranged on the extension of the optical axis of the optical fiber 11 in the configuration of FIG. It has been confirmed through experiments that the value is good. In FIG. 7, the center point of the lens 12 is also arranged on the extension line of the optical axis of the optical fiber 11. However, this configuration is an example, and it is not always necessary to use such a configuration.

図8に半導体レーザ10と光ファイバ11間の結合損失と角度θとの関係の一例を示す。図8のグラフから、角度θを0(ゼロ)度から増加させることにより結合損失が減少し、半導体レーザ10と光ファイバ11との結合効率が向上することが確認できる。   FIG. 8 shows an example of the relationship between the coupling loss between the semiconductor laser 10 and the optical fiber 11 and the angle θ. From the graph of FIG. 8, it can be confirmed that the coupling loss is reduced by increasing the angle θ from 0 (zero) degree, and the coupling efficiency between the semiconductor laser 10 and the optical fiber 11 is improved.

図8のグラフには示されていないが、角度θには最小の結合損失、言い換えれば最大の結合効率を得られる角度θが存在する。このときの角度θは、レンズ12の光学面12bから出射されるレーザ光の光強度分布が、光ファイバ11の光軸に関して最も対称となる角度である。 Although not shown in the graph of FIG. 8, the minimum coupling loss angle theta, the angle theta 0 obtained maximum coupling efficiency in other words there. The angle θ 0 at this time is an angle at which the light intensity distribution of the laser light emitted from the optical surface 12 b of the lens 12 is most symmetric with respect to the optical axis of the optical fiber 11.

なお、図1に示した傾斜面13aは、YZ平面内において右肩上がりに傾斜しているが、傾斜面13aの傾斜の向きはこれに限定されず、半導体レーザ10の出射光の偏りの方向やレンズ12の光学面12aの非球面形状に応じて、YZ平面内において右肩下がりに傾斜する場合もあり得る。   The inclined surface 13a shown in FIG. 1 is inclined upward in the YZ plane, but the inclination direction of the inclined surface 13a is not limited to this, and the direction of the bias of the emitted light of the semiconductor laser 10 is not limited to this. Depending on the aspherical shape of the optical surface 12 a of the lens 12, there may be a case where the lens 12 is inclined downwardly in the YZ plane.

さらに、図3等に示した半導体レーザ10に代えて、水平方向(X軸方向)に非対称な光強度分布のレーザ光を出射する半導体レーザを半導体レーザモジュール1に設置する場合には、傾斜面13aの傾斜の向きをXZ平面内において右肩上がりまたは右肩下がりに傾斜させても良い。   Furthermore, in place of the semiconductor laser 10 shown in FIG. 3 and the like, when a semiconductor laser that emits laser light having a light intensity distribution asymmetric in the horizontal direction (X-axis direction) is installed in the semiconductor laser module 1, an inclined surface is used. The inclination direction of 13a may be inclined upward or downward in the XZ plane.

ここで、水平方向(X軸方向)に非対称な光強度分布のレーザ光を出射する半導体レーザとしては、例えば、光導波路の光軸が光出射端面の法線に対して0(ゼロ)度ではない角度をなす斜め端面の半導体レーザが挙げられる。   Here, as a semiconductor laser that emits laser light having an asymmetric light intensity distribution in the horizontal direction (X-axis direction), for example, when the optical axis of the optical waveguide is 0 (zero) degree with respect to the normal of the light emitting end face A semiconductor laser having a slanted end surface that makes no angle.

また、図1には傾斜面13aを基板13に設けた例を示したが、基板13の上面をXY平面に平行としてチップキャリア21に傾斜面を設けても良い。あるいは、基板13及びチップキャリア21の両方に傾斜面を設けても良い。   1 shows an example in which the inclined surface 13a is provided on the substrate 13, the inclined surface may be provided on the chip carrier 21 with the upper surface of the substrate 13 being parallel to the XY plane. Alternatively, inclined surfaces may be provided on both the substrate 13 and the chip carrier 21.

以上説明したように、本実施形態の半導体レーザモジュール1は、半導体レーザ10の光軸を非球面形状の光学面12aを有するレンズ12の光軸に対して傾けることにより、非対称な光強度分布のレーザ光を出射する半導体レーザ10と光ファイバ11との結合効率を向上させることができる。   As described above, the semiconductor laser module 1 of the present embodiment has an asymmetric light intensity distribution by tilting the optical axis of the semiconductor laser 10 with respect to the optical axis of the lens 12 having the aspherical optical surface 12a. The coupling efficiency between the semiconductor laser 10 emitting laser light and the optical fiber 11 can be improved.

半導体レーザ10と光ファイバ11とを光結合するレンズ12としては、市場に出回っている非球面レンズを使用することができるため、安価かつ簡易な構成で半導体レーザ10と光ファイバ11との結合効率を向上させることができる。   As the lens 12 that optically couples the semiconductor laser 10 and the optical fiber 11, an aspherical lens that is available on the market can be used. Therefore, the coupling efficiency between the semiconductor laser 10 and the optical fiber 11 is low and simple. Can be improved.

(第2の実施形態)
続いて、本発明の第2の実施形態としての半導体レーザモジュール2について図面を参照しながら説明する。なお、第1の実施形態と同様の構成及び動作については適宜説明を省略する。
(Second Embodiment)
Next, a semiconductor laser module 2 as a second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. Note that the description of the same configuration and operation as in the first embodiment will be omitted as appropriate.

図9に示すように、本実施形態の半導体レーザモジュール2は、第1の実施形態の基板に代えて、チップキャリア21を介して半導体レーザ10を固定する1つの上段部53bと、2つの下段部53c,53dとを有する基板53を備える。   As shown in FIG. 9, the semiconductor laser module 2 of the present embodiment includes one upper stage portion 53 b that fixes the semiconductor laser 10 via a chip carrier 21 and two lower stages, instead of the substrate of the first embodiment. A substrate 53 having portions 53c and 53d is provided.

上段部53bの上面53aはXY平面に平行であり、その上に配置される半導体レーザ10の光軸もXY平面に平行となる。ここで、基板53の上段部53bは、半導体レーザ10を支持する支持部材を構成する。基板53の上段部53bの一端面は、一対の突き当てブロック23,24の一方の端面23a,24aに当接している。   The upper surface 53a of the upper stage portion 53b is parallel to the XY plane, and the optical axis of the semiconductor laser 10 disposed thereon is also parallel to the XY plane. Here, the upper stage portion 53 b of the substrate 53 constitutes a support member that supports the semiconductor laser 10. One end surface of the upper stage portion 53b of the substrate 53 is in contact with one end surface 23a, 24a of the pair of abutting blocks 23, 24.

図9,10に示すように、レンズ12を保持するレンズホルダ22は、レンズ12の光軸と直交する端面22aの縁部の任意の箇所Pにおいて、一対の突き当てブロック23,24の他方の端面23b,24bと半田、溶接もしくは接着剤で固定される。   As shown in FIGS. 9 and 10, the lens holder 22 that holds the lens 12 has the other of the pair of abutting blocks 23 and 24 at an arbitrary position P on the edge of the end surface 22 a orthogonal to the optical axis of the lens 12. The end faces 23b and 24b are fixed with solder, welding or adhesive.

次に、本実施形態の半導体レーザモジュール2の要部の構成について説明する。
図11に示すように、半導体レーザ10の光軸とレンズ12の光軸とは、互いに平行ではなく所定の角度θをなして交差している。第1の実施形態と同様に、レンズ12の光軸は、半導体レーザ10の光軸に対し、半導体レーザ10に向かう方向において非対称な光強度分布の偏りの小さい側に傾斜している。さらに、上記の角度θは、半導体レーザ10からレンズ12の光学面12aに入射した非対称な光強度分布のレーザ光が、光ファイバ11の光軸を中心としたZ軸方向に整形されてレンズ12の光学面12bから出射される角度に設定されている。
Next, the structure of the principal part of the semiconductor laser module 2 of the present embodiment will be described.
As shown in FIG. 11, the optical axis of the semiconductor laser 10 and the optical axis of the lens 12 are not parallel to each other but intersect each other at a predetermined angle θ. As in the first embodiment, the optical axis of the lens 12 is inclined with respect to the optical axis of the semiconductor laser 10 to the side where the light intensity distribution that is asymmetric in the direction toward the semiconductor laser 10 is small. Further, the angle θ is set such that the laser light having an asymmetric light intensity distribution incident on the optical surface 12 a of the lens 12 from the semiconductor laser 10 is shaped in the Z-axis direction around the optical axis of the optical fiber 11. Is set to an angle emitted from the optical surface 12b.

具体的には、図9に示すように、レンズホルダ22の端面22aが突き当てブロック23,24の他方の端面23b,24bに対してなす角度をθとすることにより、レンズ12の光軸を半導体レーザ10の光軸に対して傾けている。   Specifically, as shown in FIG. 9, the angle formed by the end surface 22a of the lens holder 22 with respect to the other end surfaces 23b, 24b of the abutting blocks 23, 24 is set to θ, so that the optical axis of the lens 12 is changed. It is tilted with respect to the optical axis of the semiconductor laser 10.

以上のように構成された半導体レーザモジュール2は、非球面形状の光学面12aを有するレンズ12の光軸を半導体レーザ10の光軸に対して傾けることにより、第1の実施形態と同様に、非対称な光強度分布のレーザ光を出射する半導体レーザ10と光ファイバ11との結合効率を向上させることができる。   In the semiconductor laser module 2 configured as described above, by tilting the optical axis of the lens 12 having the aspherical optical surface 12a with respect to the optical axis of the semiconductor laser 10, as in the first embodiment, The coupling efficiency between the optical fiber 11 and the semiconductor laser 10 that emits laser light having an asymmetric light intensity distribution can be improved.

なお、本実施形態においては、半導体レーザ10の光軸がXY平面に平行であるとしたが、基板53の上面53aを傾斜面として、第1の実施形態のように半導体レーザ10の光軸を傾けても良い。また、チップキャリア21に傾斜面を設けても良い。あるいは、基板53及びチップキャリア21の両方に傾斜面を設けても良い。   In the present embodiment, the optical axis of the semiconductor laser 10 is parallel to the XY plane, but the upper surface 53a of the substrate 53 is an inclined surface, and the optical axis of the semiconductor laser 10 is changed as in the first embodiment. You can tilt it. Further, the chip carrier 21 may be provided with an inclined surface. Alternatively, inclined surfaces may be provided on both the substrate 53 and the chip carrier 21.

また、本実施形態においては、レンズホルダ22の端面22aがレンズ12の光軸と直交するとしたが、必ずしもこの構成に限定されず、端面22aの法線とレンズ12の光軸の向きが一致しない状態でレンズ12がレンズホルダ22内に固定されていても良い。   In the present embodiment, the end surface 22a of the lens holder 22 is orthogonal to the optical axis of the lens 12. However, the present invention is not limited to this configuration, and the normal of the end surface 22a and the direction of the optical axis of the lens 12 do not match. The lens 12 may be fixed in the lens holder 22 in a state.

(第3の実施形態)
続いて、本発明の第3の実施形態としての半導体レーザモジュール3について図面を参照しながら説明する。なお、第1及び第2の実施形態と同様の構成及び動作については適宜説明を省略する。
(Third embodiment)
Next, a semiconductor laser module 3 as a third embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. Note that description of the configuration and operation similar to those of the first and second embodiments will be omitted as appropriate.

図12は、本実施形態の半導体レーザモジュール3の構成を示す側面図である。第2の実施形態と同様に、基板53は、チップキャリア21を介して半導体レーザ10を固定する1つの上段部53bと、2つの下段部53c,53dとで形成されている。上段部53bの上面53aはXY平面に平行であり、その上に配置される半導体レーザ10の光軸もXY平面に平行となる。ここで、基板53の上段部53bは、半導体レーザ10を支持する支持部材を構成する。   FIG. 12 is a side view showing the configuration of the semiconductor laser module 3 of the present embodiment. Similar to the second embodiment, the substrate 53 is formed of one upper step portion 53b for fixing the semiconductor laser 10 via the chip carrier 21 and two lower step portions 53c and 53d. The upper surface 53a of the upper stage portion 53b is parallel to the XY plane, and the optical axis of the semiconductor laser 10 disposed thereon is also parallel to the XY plane. Here, the upper stage portion 53 b of the substrate 53 constitutes a support member that supports the semiconductor laser 10.

また、図12,13に示すように、本実施形態の半導体レーザモジュール3は、第1及び第2の実施形態の突き当てブロックに代えて、XZ平面に平行な一方の端面63a,64aと、一方の端面63a,64aに対して所定の角度θをなす傾斜面としての他方の端面63b,64bとを有する突き当てブロック63,64を備える。   As shown in FIGS. 12 and 13, the semiconductor laser module 3 of the present embodiment has one end faces 63 a and 64 a parallel to the XZ plane, instead of the butting blocks of the first and second embodiments, Abutting blocks 63 and 64 having other end surfaces 63b and 64b as inclined surfaces having a predetermined angle θ with respect to the one end surfaces 63a and 64a are provided.

ここで、基板53の上段部53bの一端面は、突き当てブロック63,64の一方の端面63a,64aに当接している。また、図12,13に示すように、レンズ12を保持するレンズホルダ22は、レンズ12の光軸と直交する端面22aが突き当てブロック63,64の他方の端面63b,64bに当接した状態で、他方の端面63b,64bに半田、溶接もしくは接着剤で固定されている。半導体レーザ10の光軸は、一対の突き当てブロック63,64の間を通過するようになっている。   Here, one end surface of the upper stage portion 53b of the substrate 53 is in contact with one end surface 63a, 64a of the butting block 63, 64. As shown in FIGS. 12 and 13, the lens holder 22 that holds the lens 12 is in a state in which the end face 22 a orthogonal to the optical axis of the lens 12 is in contact with the other end faces 63 b and 64 b of the abutting blocks 63 and 64. Thus, the other end faces 63b and 64b are fixed with solder, welding or adhesive. The optical axis of the semiconductor laser 10 passes between the pair of abutting blocks 63 and 64.

突き当てブロック63,64が上記の傾斜面63b,64bを有することにより、図12,13に示すように、半導体レーザ10の光軸とレンズ12の光軸とは、互いに平行ではなく所定の角度θをなして交差する。第1及び第2の実施形態と同様に、この角度θは、半導体レーザ10からレンズ12の光学面12aに入射した非対称な光強度分布のレーザ光が、光ファイバ11の光軸を中心としたZ軸方向に整形されてレンズ12の光学面12bから出射される角度に設定されている。   Since the abutting blocks 63 and 64 have the inclined surfaces 63b and 64b, as shown in FIGS. 12 and 13, the optical axis of the semiconductor laser 10 and the optical axis of the lens 12 are not parallel to each other but at a predetermined angle. intersect at θ. Similar to the first and second embodiments, this angle θ is such that the laser light having an asymmetric light intensity distribution incident on the optical surface 12 a of the lens 12 from the semiconductor laser 10 is centered on the optical axis of the optical fiber 11. The angle is set at an angle that is shaped in the Z-axis direction and emitted from the optical surface 12b of the lens 12.

以上のように構成された半導体レーザモジュール3は、非球面形状の光学面12aを有するレンズ12の光軸を半導体レーザ10の光軸に対して傾けることにより、第1及び第2の実施形態と同様に、半導体レーザ10と光ファイバ11との結合効率を向上させることができる。   The semiconductor laser module 3 configured as described above is different from the first and second embodiments by tilting the optical axis of the lens 12 having the aspherical optical surface 12 a with respect to the optical axis of the semiconductor laser 10. Similarly, the coupling efficiency between the semiconductor laser 10 and the optical fiber 11 can be improved.

なお、本実施形態においては、半導体レーザ10の光軸がXY平面に平行であるとしたが、基板53の上面53aを傾斜面として、第1の実施形態のように半導体レーザ10の光軸を傾けても良い。また、チップキャリア21に傾斜面を設けても良い。あるいは、基板53及びチップキャリア21の両方に傾斜面を設けても良い。   In the present embodiment, the optical axis of the semiconductor laser 10 is parallel to the XY plane, but the upper surface 53a of the substrate 53 is an inclined surface, and the optical axis of the semiconductor laser 10 is changed as in the first embodiment. You can tilt it. Further, the chip carrier 21 may be provided with an inclined surface. Alternatively, inclined surfaces may be provided on both the substrate 53 and the chip carrier 21.

また、本実施形態においては、レンズホルダ22の端面22aがレンズ12の光軸と直交するとしたが、必ずしもこの構成に限定されず、端面22aの法線とレンズ12の光軸の向きが一致しない状態でレンズ12がレンズホルダ22内に固定されていても良い。   In the present embodiment, the end surface 22a of the lens holder 22 is orthogonal to the optical axis of the lens 12. However, the present invention is not limited to this configuration, and the normal of the end surface 22a and the direction of the optical axis of the lens 12 do not match. The lens 12 may be fixed in the lens holder 22 in a state.

(第4の実施形態)
第1〜第3の実施形態では、半導体レーザモジュールとしてバタフライ型を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、半導体レーザモジュールが同軸型であっても良い。以下、本発明の第4の実施形態としての同軸型の半導体レーザモジュール4について図面を参照しながら説明する。なお、第1〜第3の実施形態と同様の構成及び動作については適宜説明を省略する。
(Fourth embodiment)
In the first to third embodiments, the butterfly type has been described as an example of the semiconductor laser module. However, the present invention is not limited to this, and the semiconductor laser module may be a coaxial type. Hereinafter, a coaxial semiconductor laser module 4 according to a fourth embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. In addition, about the structure and operation | movement similar to 1st-3rd embodiment, description is abbreviate | omitted suitably.

図14,15に示すように、本実施形態の半導体レーザモジュール4は、底板71に固定されて用いられるCANパッケージ72と、CANパッケージ72から出射されたレーザ光が入射する光ファイバ11と、を主に備える。   As shown in FIGS. 14 and 15, the semiconductor laser module 4 of the present embodiment includes a CAN package 72 that is used while being fixed to a bottom plate 71, and an optical fiber 11 into which laser light emitted from the CAN package 72 is incident. Prepare mainly.

CANパッケージ72は、3本のリード73が背面側に向けて突出している円盤状のステム74と、ステム74の正面側に固定された中空で円筒状のキャップ75と、によってその外形が形成される。   The outer shape of the CAN package 72 is formed by a disc-shaped stem 74 in which three leads 73 protrude toward the back side, and a hollow and cylindrical cap 75 fixed to the front side of the stem 74. The

図15に示すように、キャップ75の中には、半導体レーザ10と、ステム74から延伸し、半導体レーザ10を支持固定するための保持ブロック76と、半導体レーザ10と保持ブロック76との間に配置されるチップキャリア77と、半導体レーザ10から出射されるレーザ光を光ファイバ11に結合させるレンズ12と、半導体レーザ10からのレーザ光を受光するフォトダイオード(不図示)と、が収められている。   As shown in FIG. 15, in the cap 75, the semiconductor laser 10, a holding block 76 extending from the stem 74 and supporting and fixing the semiconductor laser 10, and between the semiconductor laser 10 and the holding block 76 are included. A chip carrier 77 to be arranged, a lens 12 for coupling the laser light emitted from the semiconductor laser 10 to the optical fiber 11, and a photodiode (not shown) for receiving the laser light from the semiconductor laser 10 are housed. Yes.

ここで、保持ブロック76は半導体レーザ10を支持する支持部材を構成する。なお、図15はレンズ12が1枚のレンズからなる構成を示しているが、レンズ12は、2枚レンズ系の構成であっても良い。この場合においては、半導体レーザ10に近い方のレンズの半導体レーザ10に対向する側の光学面が非球面形状をなしていれば良い。   Here, the holding block 76 constitutes a support member that supports the semiconductor laser 10. Although FIG. 15 shows a configuration in which the lens 12 is composed of one lens, the lens 12 may have a configuration of a two-lens system. In this case, the optical surface on the side facing the semiconductor laser 10 of the lens closer to the semiconductor laser 10 only needs to be aspherical.

図14に示すように、底板71は、背面71a側から正面71b側に向かって段階的に径が狭まる貫通穴78を有している。CANパッケージ72は、貫通穴78の内部に配置される。   As shown in FIG. 14, the bottom plate 71 has a through hole 78 whose diameter gradually decreases from the back surface 71a side to the front surface 71b side. The CAN package 72 is disposed inside the through hole 78.

半導体レーザモジュール4は、さらに、CANパッケージ72のキャップ75と光ファイバ11とを結ぶホルダ79と、光ファイバ11の先端部分に取り付けられた円筒状のフェルール80をホルダ79に固定するスリーブ81と、CANパッケージ72、光ファイバ11、ホルダ79、及びスリーブ81を覆うカバー82と、を備える。   The semiconductor laser module 4 further includes a holder 79 that connects the cap 75 of the CAN package 72 and the optical fiber 11, a sleeve 81 that fixes a cylindrical ferrule 80 attached to the tip of the optical fiber 11 to the holder 79, A CAN package 72, an optical fiber 11, a holder 79, and a cover 82 covering the sleeve 81.

ホルダ79とスリーブ81とは溶接により連結固定される。また、カバー82は底板71と接着剤により連結固定される。また、フェルール80は、溶接によりスリーブ81内に固定される。   The holder 79 and the sleeve 81 are connected and fixed by welding. The cover 82 is connected and fixed to the bottom plate 71 with an adhesive. The ferrule 80 is fixed in the sleeve 81 by welding.

次に、本実施形態の半導体レーザモジュール4の要部の構成について説明する。
図15に示すように、保持ブロック76は、XY平面に対して所定の角度θをなす傾斜面としての上面76aを有する。保持ブロック76が上記の傾斜面76aを有することにより、図7に示すように、半導体レーザ10の光軸とレンズ12の光軸とは、互いに平行ではなく所定の角度θをなして交差する。第1〜第3の実施形態と同様に、この角度θは、半導体レーザ10からレンズ12の光学面12aに入射した非対称な光強度分布のレーザ光が、光ファイバ11の光軸を中心としたZ軸方向に整形されてレンズ12の光学面12bから出射される角度に設定されている。
Next, the structure of the principal part of the semiconductor laser module 4 of the present embodiment will be described.
As shown in FIG. 15, the holding block 76 has an upper surface 76a as an inclined surface that forms a predetermined angle θ with respect to the XY plane. Since the holding block 76 has the inclined surface 76a, as shown in FIG. 7, the optical axis of the semiconductor laser 10 and the optical axis of the lens 12 do not cross each other but form a predetermined angle θ. Similar to the first to third embodiments, this angle θ is such that the laser light with an asymmetric light intensity distribution incident on the optical surface 12 a of the lens 12 from the semiconductor laser 10 is centered on the optical axis of the optical fiber 11. The angle is set at an angle that is shaped in the Z-axis direction and emitted from the optical surface 12b of the lens 12.

以上のように構成された半導体レーザモジュール4は、半導体レーザ10の光軸を非球面形状の光学面12aを有するレンズ12の光軸に対して傾けることにより、第1〜第3の実施形態と同様に、半導体レーザ10と光ファイバ11との結合効率を向上させることができる。   The semiconductor laser module 4 configured as described above includes the first to third embodiments by tilting the optical axis of the semiconductor laser 10 with respect to the optical axis of the lens 12 having the aspherical optical surface 12a. Similarly, the coupling efficiency between the semiconductor laser 10 and the optical fiber 11 can be improved.

なお、本実施形態においては、保持ブロック76が傾斜面76aを有するとしたが、保持ブロック76の上面をXY平面に平行としてチップキャリア77に傾斜面を設けても良い。あるいは、保持ブロック76及びチップキャリア77の両方に傾斜面を設けても良い。   In the present embodiment, the holding block 76 has the inclined surface 76a. However, the chip carrier 77 may be provided with an inclined surface with the upper surface of the holding block 76 parallel to the XY plane. Alternatively, both the holding block 76 and the chip carrier 77 may be provided with inclined surfaces.

1〜4 半導体レーザモジュール
10 半導体レーザ
11 光ファイバ
12 レンズ
12a,12b 光学面
13,53 基板(支持部材)
13a,76a 上面(傾斜面)
13b,53b 上段部(支持部材)
13c,13d,53c,53d 下段部
14 パッケージ(筺体)
21,77 チップキャリア
22 レンズホルダ
22a 端面
23,24,63,64 突き当てブロック
23a,24a,63a,64a 一方の端面
23b,24b 他方の端面
31 n型半導体基板
32 n型クラッド層
33,35,33a,33b,33c,35a,35b,35c SCH層
34 活性層
36 p型クラッド層
42a,42b 光出射端面
53a 上面
63b,64b 他方の端面(傾斜面)
76 保持ブロック(支持部材)
1-4 Semiconductor laser module 10 Semiconductor laser 11 Optical fiber 12 Lens 12a, 12b Optical surface 13, 53 Substrate (support member)
13a, 76a Upper surface (inclined surface)
13b, 53b Upper part (support member)
13c, 13d, 53c, 53d Lower stage 14 Package (Housing)
21, 77 Chip carrier 22 Lens holder 22a End face 23, 24, 63, 64 Abutting block 23a, 24a, 63a, 64a One end face 23b, 24b The other end face 31 n-type semiconductor substrate 32 n-type cladding layer 33, 35, 33a, 33b, 33c, 35a, 35b, 35c SCH layer 34 active layer 36 p-type cladding layer 42a, 42b light emission end face 53a upper face 63b, 64b the other end face (inclined face)
76 Holding block (support member)

Claims (5)

活性層(34)を含む複数の半導体層が積層されてなる半導体レーザ(10)と、光ファイバ(11)と、当該半導体レーザからの出射光を当該光ファイバに向けて集光するレンズ(12)と、を備える半導体レーザモジュール(1,2,3,4)であって、
前記半導体レーザの前記出射光の光強度分布が、前記活性層を中心とした層厚方向に非対称であり、
前記レンズの前記半導体レーザに対向する側の光学面(12a)が非球面形状をなし、
前記レンズの光軸が、前記半導体レーザの光軸に対し、前記半導体レーザに向かう方向において前記非対称な光強度分布の偏りの小さい側に傾斜しており、前記半導体レーザの光軸と前記レンズの光軸とが、互いに平行ではなく所定の角度をなして交差し、
前記所定の角度は、前記半導体レーザから前記レンズの前記半導体レーザに対向する前記光学面に入射した光の光強度分布が、前記光ファイバの光軸方向に垂直な方向に整形され、前記光学面に入射した光が、前記光ファイバの光軸に関して非対称性が緩和されて前記レンズの前記光ファイバに対向する光学面(12b)から出射されるように設定されていることを特徴とする半導体レーザモジュール。
A semiconductor laser (10) in which a plurality of semiconductor layers including the active layer (34) are stacked, an optical fiber (11), and a lens (12) that condenses emitted light from the semiconductor laser toward the optical fiber. And a semiconductor laser module (1, 2, 3, 4) comprising:
The light intensity distribution of the emitted light of the semiconductor laser is asymmetric in the layer thickness direction around the active layer,
The optical surface (12a) of the lens facing the semiconductor laser has an aspherical shape,
The optical axis of the lens is inclined with respect to the optical axis of the semiconductor laser in a direction toward the semiconductor laser toward a small bias side of the asymmetric light intensity distribution, and the optical axis of the semiconductor laser and the lens The optical axes intersect with each other at a predetermined angle, not parallel to each other ,
The predetermined angle is such that a light intensity distribution of light incident on the optical surface of the lens facing the semiconductor laser from the semiconductor laser is shaped in a direction perpendicular to the optical axis direction of the optical fiber, and the optical surface The semiconductor laser is characterized in that the light incident on the optical fiber is set so that the asymmetry with respect to the optical axis of the optical fiber is relaxed and emitted from the optical surface (12b) of the lens facing the optical fiber. module.
前記半導体レーザを支持する支持部材(13,76)をさらに備え、
前記支持部材は、前記半導体レーザの光軸と前記レンズの光軸とが前記所定の角度をなして交差した状態で前記半導体レーザを支持するための傾斜面(13a,76a)を有することを特徴とする請求項1に記載の半導体レーザモジュール。
A support member (13, 76) for supporting the semiconductor laser;
The support member has inclined surfaces (13a, 76a) for supporting the semiconductor laser in a state where the optical axis of the semiconductor laser and the optical axis of the lens intersect each other at the predetermined angle. The semiconductor laser module according to claim 1.
一方の端面(23a,24a)と他方の端面(23b,24b)とが互いに平行に形成された突き当てブロック(23,24)と、
前記半導体レーザを支持し、一端面において前記突き当てブロックの前記一方の端面に当接する支持部材(53)と、
前記レンズを保持し、当該保持したレンズの光軸と交差する端面(22a)を有するレンズホルダ(22)と、をさらに備え、
前記レンズホルダは、前記半導体レーザの光軸と前記レンズの光軸とが前記所定の角度をなして交差した状態で、前記レンズの光軸と交差する前記端面の縁部において、前記突き当てブロックの前記他方の端面に固定されることを特徴とする請求項1に記載の半導体レーザモジュール。
An abutting block (23, 24) in which one end face (23a, 24a) and the other end face (23b, 24b) are formed in parallel with each other;
A support member (53) that supports the semiconductor laser and abuts the one end surface of the abutting block at one end surface;
A lens holder (22) for holding the lens and having an end surface (22a) intersecting the optical axis of the held lens;
The lens holder has the abutment block at an edge of the end surface that intersects the optical axis of the lens in a state where the optical axis of the semiconductor laser and the optical axis of the lens intersect at the predetermined angle. The semiconductor laser module according to claim 1, wherein the semiconductor laser module is fixed to the other end face of the semiconductor laser module.
一方の端面(63a,64a)と他方の端面(63b,64b)とを有する突き当てブロック(63,64)と、
前記半導体レーザを支持し、一端面において前記突き当てブロックの前記一方の端面に当接する支持部材(53)と、
前記レンズを保持し、当該保持したレンズの光軸と交差する端面(22a)を有し、当該端面において前記突き当てブロックの前記他方の端面に当接して固定されるレンズホルダ(22)と、をさらに備え、
前記突き当てブロックの前記他方の端面は、前記半導体レーザの光軸と前記レンズの光軸とが前記所定の角度をなして交差した状態で前記レンズホルダを固定するための傾斜面(63b,64b)をなすことを特徴とする請求項1に記載の半導体レーザモジュール。
An abutment block (63, 64) having one end face (63a, 64a) and the other end face (63b, 64b);
A support member (53) that supports the semiconductor laser and abuts the one end surface of the abutting block at one end surface;
A lens holder (22) that holds the lens and has an end face (22a) that intersects the optical axis of the held lens, and is fixed in contact with the other end face of the abutting block at the end face; Further comprising
The other end surface of the abutting block has inclined surfaces (63b, 64b) for fixing the lens holder in a state where the optical axis of the semiconductor laser and the optical axis of the lens intersect each other at the predetermined angle. The semiconductor laser module according to claim 1, wherein:
前記半導体レーザは、
InPからなる基板(31)上に、活性層(34)と、該活性層を挟むInGaAsPからなるn型クラッド層(32)及びInPからなるp型クラッド層(36)を設けてなることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の半導体レーザモジュール。
The semiconductor laser is
An active layer (34), an n-type cladding layer (32) made of InGaAsP sandwiching the active layer, and a p-type cladding layer (36) made of InP are provided on a substrate (31) made of InP. The semiconductor laser module according to any one of claims 1 to 4.
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