JP6071929B2 - Semiconductor device - Google Patents

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Description

本発明の実施形態は、半導体装置に関する。   Embodiments described herein relate generally to a semiconductor device.

メモリチップとこのメモリチップの動作を制御するコントローラチップとを配線基板上に搭載した半導体装置が知られている。この種の半導体装置は、例えば一種類のコントローラチップと、端子の配列などが違う様々な仕様のメモリチップと、を適宜組み合わせたものを選択的に用いることへのニーズがある。   A semiconductor device is known in which a memory chip and a controller chip for controlling the operation of the memory chip are mounted on a wiring board. This type of semiconductor device has a need to selectively use a combination of, for example, one type of controller chip and memory chips having various specifications with different terminal arrangements.

ところで、このような要求を満足させようとする場合、メモリチップにおける端子の配列の違いが要因となって、メモリチップとコントローラチップとの端子間の接続構造が複雑になるおそれがある。   By the way, when it is going to satisfy such a request | requirement, there exists a possibility that the connection structure between the terminals of a memory chip and a controller chip may become complicated by the difference in the arrangement of the terminals in a memory chip.

米国特許出願公開第2013/0114323号明細書US Patent Application Publication No. 2013/0114323

具体的には、上述したメモリチップとコントローラチップとの端子間を、配線基板を介して三次元的に配線(立体配線)する必要性などが増大し、この結果、配線基板の層数の増加を余儀なくされる可能性がある。さらに、配線基板上の異なる層の配線同士が、三次元的に交差する状況などが増えることも想定され、このような場合、伝送線路特性の悪化が懸念される。   Specifically, the need for three-dimensional wiring (three-dimensional wiring) between the terminals of the memory chip and the controller chip described above via a wiring board increases, and as a result, the number of wiring board layers increases. May be forced. Furthermore, it is assumed that wirings of different layers on the wiring board cross three-dimensionally. In such a case, there is a concern about deterioration of transmission line characteristics.

そこで、本発明が解決しようとする課題は、メモリチップとコントローラチップとの合理的な接続によって、基板層数の増加を抑えつつ所望の伝送線路特性を確保できる半導体装置を提供することである。   Therefore, the problem to be solved by the present invention is to provide a semiconductor device capable of ensuring desired transmission line characteristics while suppressing an increase in the number of substrate layers by rational connection between a memory chip and a controller chip.

実施の形態の半導体装置は、配線基板、第1及び第2のメモリチップ、並びにコントローラチップを備えている。配線基板は、矩形状に構成されており、第1の辺部と、前記第1の辺部と対向する第2の辺部と、前記第1の辺部側にそれぞれ配列された第1中継端子群及び第2中継端子群と、前記第1中継端子群と前記第2中継端子群とを接続する配線パターンと、前記第2の辺部側に配列された第3中継端子群と、を有する。第1のメモリチップは、矩形状に構成されており、前記第1の辺部側に配置される第3の辺部と、前記第3の辺部に沿って配列されていると共に、ボンディングワイヤを介して前記第1中継端子群に電気的に接続されたメモリ側第1バス端子群と、を有する。第2のメモリチップは、矩形状に構成されており、前記第2の辺部側に配置される第4の辺部と、前記第4の辺部に沿って配列されていると共に、ボンディングワイヤを介して前記第3中継端子群に電気的に接続されたメモリ側第2バス端子群と、を有する。コントローラチップは、矩形状に構成されており、前記第1の辺部側に配置される第5の辺部と、前記第5の辺部に沿って配列されていると共に、ボンディングワイヤを介して前記第2中継端子群に電気的に接続されたコントローラ側第1バス端子群と、前記第2の辺部側に配置される第6の辺部と、前記第6の辺部に沿って配列されていると共に、ボンディングワイヤを介して前記第3中継端子群に電気的に接続されたコントローラ側第2バス端子群と、を有する。さらに、前記メモリ側第1バス端子群と前記コントローラ側第1バス端子群とは、それぞれビット番号順に配列されていると共に、ビット番号が増加する方向を互いに逆向きにして配列されている。また、前記メモリ側第2バス端子群と前記コントローラ側第2バス端子群とは、それぞれビット番号順に配列されていると共に、ビット番号が増加する方向を互いに同じ向きにして配列されている。さらに、第1のメモリチップは、配線基板上に設けられている。また、第2のメモリチップは、第1のメモリチップ上に設けられている。さらに、コントローラチップは、第2のメモリチップ上に設けられている。   The semiconductor device according to the embodiment includes a wiring board, first and second memory chips, and a controller chip. The wiring board is configured in a rectangular shape, and the first relay is arranged on the first side, the second side facing the first side, and the first side. A terminal group, a second relay terminal group, a wiring pattern connecting the first relay terminal group and the second relay terminal group, and a third relay terminal group arranged on the second side portion side, Have. The first memory chip has a rectangular shape, and is arranged along the third side portion disposed on the first side portion side and the third side portion, and a bonding wire. And a memory-side first bus terminal group electrically connected to the first relay terminal group via the first and second relay terminal groups. The second memory chip has a rectangular shape, is arranged along the fourth side portion arranged on the second side portion side, the fourth side portion, and a bonding wire. And a memory-side second bus terminal group electrically connected to the third relay terminal group via the first and second relay terminal groups. The controller chip is configured in a rectangular shape, and is arranged along the fifth side portion disposed on the first side portion side and the fifth side portion, and via a bonding wire. A controller-side first bus terminal group electrically connected to the second relay terminal group, a sixth side disposed on the second side, and an array along the sixth side And a controller-side second bus terminal group electrically connected to the third relay terminal group via a bonding wire. Further, the memory-side first bus terminal group and the controller-side first bus terminal group are arranged in the order of bit numbers, respectively, and are arranged with the directions in which the bit numbers increase in opposite directions. The memory-side second bus terminal group and the controller-side second bus terminal group are arranged in the order of bit numbers, and are arranged in the same direction in which the bit numbers increase. Furthermore, the first memory chip is provided on the wiring board. The second memory chip is provided on the first memory chip. Further, the controller chip is provided on the second memory chip.

第1の実施形態に係る半導体装置を平面方向から透視した状態を示す図。The figure which shows the state which saw through the semiconductor device which concerns on 1st Embodiment from the plane direction. 図1の半導体装置が備える配線基板の配線パターンおよびコントローラチップの端子群のレイアウトを示す図。FIG. 2 is a diagram illustrating a wiring pattern of a wiring board provided in the semiconductor device of FIG. 1 and a layout of a terminal group of a controller chip. 図1の半導体装置を矢視A方向から透視した状態を示す矢視図。The arrow view which shows the state which saw through the semiconductor device of FIG. 1 from arrow A direction. 図1の半導体装置が備えるメモリチップの構成を示す平面図。FIG. 2 is a plan view illustrating a configuration of a memory chip included in the semiconductor device of FIG. 1. 比較例1の半導体装置を平面方向から透視した状態を示す図。The figure which shows the state which saw through the semiconductor device of the comparative example 1 from the plane direction. 第2の実施形態に係る半導体装置を平面方向から透視した状態を示す図。The figure which shows the state which saw through the semiconductor device which concerns on 2nd Embodiment from the plane direction. 図6の半導体装置が備える論理反転部によるビット並びの入れ替え有り/無しのイメージを示す図。FIG. 7 is a diagram illustrating an image with / without replacement of bit arrangement by a logic inversion unit included in the semiconductor device of FIG. 6. 第3の実施形態に係る半導体装置を平面方向から透視した状態を示す図。The figure which shows the state which saw through the semiconductor device which concerns on 3rd Embodiment from the plane direction. 図8の半導体装置が備える配線基板の配線パターンのレイアウトを示す図。FIG. 9 is a diagram showing a layout of a wiring pattern of a wiring board included in the semiconductor device of FIG. 8. 図8の半導体装置を矢視B方向から透視した状態を示す矢視図。The arrow view which shows the state which saw through the semiconductor device of FIG. 8 from the arrow B direction. 比較例2の半導体装置を平面方向から透視した状態を示す図。The figure which shows the state which saw through the semiconductor device of the comparative example 2 from the plane direction. 図11の半導体装置が備える配線基板の配線パターンのレイアウトを示す図。FIG. 12 is a diagram showing a layout of a wiring pattern of a wiring board provided in the semiconductor device of FIG. 11. 第4の実施形態に係る半導体装置を平面方向から透視した状態を示す図。The figure which shows the state which saw through the semiconductor device which concerns on 4th Embodiment from the plane direction. 図13の半導体装置が備える配線基板の配線パターンのレイアウトを示す図。FIG. 14 is a diagram showing a layout of a wiring pattern of a wiring board provided in the semiconductor device of FIG. 13. 図13の半導体装置を矢視C方向から透視した状態を示す矢視図。The arrow view which shows the state which saw through the semiconductor device of FIG. 13 from the arrow C direction. 比較例3の半導体装置を平面方向から透視した状態を示す図。The figure which shows the state which saw through the semiconductor device of the comparative example 3 from the plane direction. 図16の半導体装置が備える配線基板の配線パターンのレイアウトを示す図。FIG. 17 is a diagram showing a layout of a wiring pattern of a wiring board included in the semiconductor device of FIG. 16.

以下、実施の形態を図面に基づき説明する。
<第1の実施の形態>
図1〜図3に示すように、本実施形態の半導体装置30は、配線基板26と、メモリチップ21、22(第1のメモリチップ)と、メモリチップ23、24(第2のメモリチップ)と、コントローラチップ25と、封止樹脂層28と、半田ボール27と、を備えた例えばFBGA(Fine pitch Ball Grid Array)などの半導体パッケージである。
Hereinafter, embodiments will be described with reference to the drawings.
<First Embodiment>
As shown in FIGS. 1 to 3, the semiconductor device 30 of this embodiment includes a wiring board 26, memory chips 21 and 22 (first memory chip), and memory chips 23 and 24 (second memory chip). And a semiconductor package such as an FBGA (Fine Pitch Ball Grid Array) including a controller chip 25, a sealing resin layer 28, and solder balls 27.

図1、図2に示すように、配線基板26は、配線パターンT1(第1の配線パターン)を含む複数の配線パターンが、表層や内層に形成された矩形状(長方形)のプリント配線板である。配線基板26は、互いに対向する一対の短辺の他、一対の長辺として、辺部26a(第1の辺部)と、この辺部26aと対向する辺部(第2の辺部)26bと、を有する。配線基板26の一方の主面(チップの搭載面)には、第1中継端子群7d…3d…0d、第2中継端子群0e…3e…7e、第3中継端子群8d…11d…15d、がそれぞれ形成されている。   As shown in FIGS. 1 and 2, the wiring board 26 is a rectangular (rectangular) printed wiring board in which a plurality of wiring patterns including a wiring pattern T1 (first wiring pattern) are formed on a surface layer or an inner layer. is there. The wiring substrate 26 includes a pair of short sides, a pair of long sides, a side part 26a (first side part), and a side part (second side part) 26b opposite to the side part 26a. Have. On one main surface (chip mounting surface) of the wiring board 26, a first relay terminal group 7d ... 3d ... 0d, a second relay terminal group 0e ... 3e ... 7e, a third relay terminal group 8d ... 11d ... 15d, Are formed respectively.

第1中継端子群7d…3d…0d及び第2中継端子群0e…3e…7eは、配線基板26の辺部26a側にそれぞれ配列されている。複数の配線パターンT1は、図2に示すように、第1中継端子群7d…3d…0dと第2中継端子群0e…3e…7eとを電気的に接続する。第3中継端子群8d…11d…15dは、配線基板26の辺部26b側に配列されている。また、図3に示すように、配線基板26の他方の主面(チップの非搭載面)には、上述した半田ボール27が外部接続端子として設けられている。   The first relay terminal groups 7d ... 3d ... 0d and the second relay terminal groups 0e ... 3e ... 7e are arranged on the side 26a side of the wiring board 26, respectively. As shown in FIG. 2, the plurality of wiring patterns T1 electrically connect the first relay terminal groups 7d ... 3d ... 0d and the second relay terminal groups 0e ... 3e ... 7e. The third relay terminal groups 8d to 11d are arranged on the side 26b side of the wiring board 26. Further, as shown in FIG. 3, the solder ball 27 described above is provided as an external connection terminal on the other main surface (chip non-mounting surface) of the wiring board 26.

図1、図3、図4に示すように、メモリチップ21、22、23、24は、それぞれ矩形状(長方形)の不揮発性半導体記憶素子であって、例えばNAND型のフラッシュメモリチップである。メモリチップ21、22は、互いに対向する一対の短辺と、辺部21a、22a(第3の辺部)を含む互いに対向する一対の長辺と、を有する。一方、メモリチップ23、24は、互いに対向する一対の短辺と、辺部23a、24a(第4の辺部)を含む互いに対向する一対の長辺と、を有する。   As shown in FIGS. 1, 3, and 4, the memory chips 21, 22, 23, and 24 are each a rectangular (rectangular) nonvolatile semiconductor memory element, for example, a NAND flash memory chip. The memory chips 21 and 22 have a pair of short sides facing each other and a pair of long sides facing each other including the side portions 21a and 22a (third side portions). On the other hand, the memory chips 23 and 24 have a pair of short sides facing each other and a pair of long sides facing each other including the side portions 23a and 24a (fourth side portions).

これらのメモリチップ21、22、23、24は、図3に示すように、配線基板26の一方の主面側に、それぞれ図示しない絶縁性樹脂を介して順に積層された状態で実装されている。つまり、第1のメモリチップとしてのメモリチップ21、22、及び第2のメモリチップとしてのメモリチップ23、24は、配線基板26上にそれぞれ複数個ずつ(本実施形態では2個ずつ)搭載されている。また、図1、図3に示すように、メモリチップ21、22は、それらの辺部21a、22aに沿って、メモリ側第1バス端子群7b…3b…0b、及び7c…3c…0cがそれぞれ配列されている。一方、メモリチップ23、24は、それらの辺部23a、24aに沿って、メモリ側第2バス端子群8b…11b…15b、及び8c…(11c)…15cがそれぞれ配列されている。   As shown in FIG. 3, these memory chips 21, 22, 23, and 24 are mounted on one main surface side of the wiring board 26 in a state where they are sequentially stacked via an insulating resin (not shown). . That is, a plurality of memory chips 21 and 22 as first memory chips and a plurality of memory chips 23 and 24 as second memory chips are mounted on the wiring board 26 (two in this embodiment). ing. As shown in FIGS. 1 and 3, the memory chips 21 and 22 have memory side first bus terminal groups 7b ... 3b ... 0b and 7c ... 3c ... 0c along the side portions 21a, 22a. Each is arranged. On the other hand, in the memory chips 23, 24, memory side second bus terminal groups 8b ... 11b ... 15b and 8c ... (11c) ... 15c are arranged along the side portions 23a, 24a, respectively.

また、図1に示すように、メモリチップ21、22の辺部21a、22aは、配線基板26の辺部26a側にそれぞれ配置されている。一方、メモリチップ23、24の辺部23a、24aは、配線基板26の辺部26b側にそれぞれ配置されている。ここで、図3に示すように、第1のメモリチップとしてのメモリチップ21、22と、第2のメモリチップとしてのメモリチップ23、24とは、互いに同一の構造(ただしチップの非搭載面を下とした場合におけるメモリチップ21〜24の厚さを除く)のメモリチップである。すなわち、図1に示すように、第2のメモリチップとしてのメモリチップ23、24は、第1のメモリチップとしてのメモリチップ21、22を、配線基板26の表面に沿った方向に180度回転させた状態のものが適用されている。   Further, as shown in FIG. 1, the side portions 21 a and 22 a of the memory chips 21 and 22 are arranged on the side portion 26 a side of the wiring substrate 26, respectively. On the other hand, the side parts 23 a and 24 a of the memory chips 23 and 24 are respectively arranged on the side part 26 b side of the wiring board 26. Here, as shown in FIG. 3, the memory chips 21 and 22 as the first memory chip and the memory chips 23 and 24 as the second memory chip have the same structure (however, the non-mounting surface of the chip). Is the memory chip excluding the thickness of the memory chips 21 to 24). That is, as shown in FIG. 1, the memory chips 23 and 24 as the second memory chips rotate the memory chips 21 and 22 as the first memory chips by 180 degrees in the direction along the surface of the wiring board 26. The thing of letting it be applied is applied.

このようにして配置されたメモリチップ21、22のメモリ側第1バス端子群7b…3b…0b及び7c…3c…0cは、図1、図3に示すように、それぞれ、ボンディングワイヤWを介して第1中継端子群7d…3d…0dに電気的に接続されている。一方、メモリチップ23、24のメモリ側第2バス端子群8b…11b…15b、及び8c…(11c)…15cは、図1、図3に示すように、それぞれ、ボンディングワイヤWを介して第3中継端子群8d…11d…15dに電気的に接続されている。   The memory side first bus terminal groups 7b... 3b... 0b and 7c... 3c... 0c of the memory chips 21 and 22 arranged in this way are respectively connected via bonding wires W as shown in FIGS. The first relay terminal groups 7d... 3d. On the other hand, the memory-side second bus terminal groups 8b ... 11b ... 15b and 8c ... (11c) ... 15c of the memory chips 23, 24 are respectively connected via bonding wires W as shown in FIGS. 3 relay terminal groups 8d ... 11d ... 15d are electrically connected.

図1〜図3に示すように、コントローラチップ25は、メモリチップ21、22、23、24の動作をそれぞれ制御する矩形状(長方形)の半導体制御素子である。コントローラチップ25は、互いに対向する一対の長辺の他、一対の短辺として、辺部25a(第5の辺部)と、この辺部25aと対向する辺部(第6の辺部)25bと、を有する。コントローラチップ25は、図3に示すように、メモリチップ24の上部に図示しない絶縁性樹脂を介して積層された状態で実装されている。また、図1、図2に示すように、コントローラチップ25の辺部25a、25bは、それぞれ、配線基板26の辺部26a、26b側に配置されている。より詳細には、コントローラチップ25は、配線基板26の厚さ方向(平面方向)からみて、メモリチップ24上の一方の短辺(図1中の左)側に偏在した位置に搭載されている。   As shown in FIGS. 1 to 3, the controller chip 25 is a rectangular (rectangular) semiconductor control element that controls the operations of the memory chips 21, 22, 23, and 24. The controller chip 25 includes a pair of short sides, a pair of short sides, a side portion 25a (fifth side portion), and a side portion (sixth side portion) 25b that faces the side portion 25a. Have. As shown in FIG. 3, the controller chip 25 is mounted on the top of the memory chip 24 in a state of being laminated via an insulating resin (not shown). As shown in FIGS. 1 and 2, the side portions 25 a and 25 b of the controller chip 25 are disposed on the side portions 26 a and 26 b side of the wiring substrate 26, respectively. More specifically, the controller chip 25 is mounted at a position unevenly distributed on one short side (left side in FIG. 1) on the memory chip 24 as viewed from the thickness direction (planar direction) of the wiring board 26. .

さらに、図1〜図3に示すように、コントローラチップ25は、コントローラ側第1バス端子群0a…3a…7a及びコントローラ側第2バス端子群8a…11a…15aを備えている。コントローラ側第1バス端子群0a…3a…7aは、辺部25aに沿って配列されていると共に、ボンディングワイヤWを介して第2中継端子群0e…3e…7eに電気的に接続されている。一方、コントローラ側第2バス端子群8a…11a…15aは、辺部25bに沿って配列されていると共に、ボンディングワイヤWを介して第3中継端子群8d…11d…15dに電気的に接続されている。   Furthermore, as shown in FIGS. 1-3, the controller chip 25 is provided with controller side 1st bus terminal group 0a ... 3a ... 7a and controller side 2nd bus terminal group 8a ... 11a ... 15a. The controller side first bus terminal groups 0a ... 3a ... 7a are arranged along the side 25a and are electrically connected to the second relay terminal groups 0e ... 3e ... 7e via bonding wires W. . On the other hand, the controller side second bus terminal groups 8a... 11a... 15a are arranged along the side portions 25b and are electrically connected to the third relay terminal groups 8d. ing.

上述したボンディングワイヤWは、例えば金、銀、銅などを材料として用いる。また、コントローラチップ25及びメモリチップ21、22、23、24に形成された上記各端子群は、例えばアルミニウムなどを材料として用いる。さらに、図3に示すように、封止樹脂層28は、ボンディングワイヤWと共にメモリチップ(第1のメモリチップ)21、22と、メモリチップ(第2のメモリチップ)23、24と、コントローラチップ25と、を配線基板26上で封止する。   The bonding wire W described above uses, for example, gold, silver, copper, or the like as a material. The terminal groups formed on the controller chip 25 and the memory chips 21, 22, 23, 24 use, for example, aluminum as a material. Further, as shown in FIG. 3, the sealing resin layer 28 includes the bonding chips W and the memory chips (first memory chips) 21 and 22, the memory chips (second memory chips) 23 and 24, and the controller chip. 25 is sealed on the wiring board 26.

また、図1に示すように、本実施形態の半導体装置30では、I/O(データ入出力)バスのI/O端子番号が0番〜15番に関するポートとなるコントローラ側第1バス端子群0a…3a…7a、コントローラ側第2バス端子群8a…11a…15a、メモリ側第1バス端子群7b…3b…0b、7c…3c…0c、メモリ側第2バス端子群8b…11b…15b、8c…15cといったデータ入出力端子(I/O端子)を主に例示している。ただし、本実施形態の半導体装置30は、このようなI/Oバス以外の他のバスのポートとなる例えばリードイネーブル端子、ライトイネーブル端子、コマンドラッチイネーブル端子、アドレスラッチイネーブル端子なども、コントローラチップ25及びメモリチップ21、22、23、24に設けられている。   As shown in FIG. 1, in the semiconductor device 30 of this embodiment, the controller-side first bus terminal group in which the I / O terminal numbers of the I / O (data input / output) bus are ports related to the 0th to 15th ports. 0a ... 3a ... 7a, controller side second bus terminal group 8a ... 11a ... 15a, memory side first bus terminal group 7b ... 3b ... 0b, 7c ... 3c ... 0c, memory side second bus terminal group 8b ... 11b ... 15b , 8c... 15c, data input / output terminals (I / O terminals) are mainly exemplified. However, the semiconductor device 30 according to the present embodiment includes, for example, a read enable terminal, a write enable terminal, a command latch enable terminal, an address latch enable terminal, and the like which are ports of buses other than the I / O bus, as well as a controller chip. 25 and the memory chips 21, 22, 23, 24.

ここで、本実施形態の半導体装置30におけるコントローラチップ25とメモリチップ21、22、23、24との合理的な接続構造について説明する。図1に示すように、半導体装置30におけるI/Oバスのビット番号0番(I/O0番)〜ビット番号7番(I/O7番)に関するポートとなるメモリ側第1バス端子群7b…3b…0b、7c…3c…0cと、コントローラ側第1バス端子群0a…3a…7aとは、それぞれビット番号順に配列されていると共に、ビット番号の増加する方向(下位のビット番号から上位のビット番号へと向かう方向)を、互いに逆向き(正反対の向き)にして配列されている。   Here, a rational connection structure between the controller chip 25 and the memory chips 21, 22, 23, and 24 in the semiconductor device 30 of the present embodiment will be described. As shown in FIG. 1, the first bus terminal group 7b on the memory side serving as a port related to bit number 0 (I / O0) to bit number 7 (I / O7) of the I / O bus in the semiconductor device 30. 3b... 0b, 7c... 3c... 0c and the controller side first bus terminal group 0a... 3a... 7a are arranged in the order of bit numbers. The bit numbers are arranged in the opposite directions (direct directions).

さらに、図1に示すように、半導体装置30におけるI/Oバスのビット番号8番(I/O8番)〜ビット番号15番(I/O15番)に関するポートとなるメモリ側第2バス端子群8b…11b…15b、8c…(11c)…15cとコントローラ側第2バス端子群8a…11a…15aとは、それぞれビット番号順に配列されていると共に、ビット番号が増加する方向を、互いに同じ向き(同一方向)にして配列されている。   Further, as shown in FIG. 1, a memory-side second bus terminal group that is a port related to bit number 8 (I / O 8) to bit number 15 (I / O 15) of the I / O bus in the semiconductor device 30. 8b ... 11b ... 15b, 8c ... (11c) ... 15c and the controller side second bus terminal group 8a ... 11a ... 15a are arranged in the order of bit numbers, and the direction in which the bit numbers increase is the same as each other. They are arranged in the same direction.

このような並びでコントローラチップ25側とメモリチップ21、22、23、24側との各端子群を配列させることで、図1、図2に示すように、配線基板26の厚さ方向(平面方向)からみて、複数のボンディングワイヤW同士や複数の配線パターンT1同士を交差(クロス)させることなく、コントローラチップ25とメモリチップ21、22、23、24との端子間を電気的に接続することが可能となる。   By arranging the terminal groups on the controller chip 25 side and the memory chips 21, 22, 23, and 24 side in this arrangement, as shown in FIG. 1 and FIG. Direction), the terminals of the controller chip 25 and the memory chips 21, 22, 23, and 24 are electrically connected without crossing the bonding wires W and the wiring patterns T1. It becomes possible.

これに対して、図5に示すように、比較例1の半導体装置40は、コントローラチップ25に代えて、コントローラチップ45を備えている。コントローラチップ45は、コントローラ側第1バス端子群及びコントローラ側第2バス端子群におけるビット番号が増加する方向が、コントローラチップ25とは、正反対に配列されている。つまり、比較例1における半導体装置40のメモリ側第1バス端子群7b…3b…0b、7c…3c…0cと、コントローラ側第1バス端子群7a…3a…0aとは、ビット番号が増加する方向を、互いに同じ向きにして配列されている。   On the other hand, as shown in FIG. 5, the semiconductor device 40 of Comparative Example 1 includes a controller chip 45 instead of the controller chip 25. The controller chip 45 is arranged in the opposite direction to the controller chip 25 in the direction in which the bit numbers in the controller side first bus terminal group and the controller side second bus terminal group increase. That is, the memory-side first bus terminal groups 7b ... 3b ... 0b, 7c ... 3c ... 0c and the controller-side first bus terminal groups 7a ... 3a ... 0a of the semiconductor device 40 in Comparative Example 1 have an increased bit number. They are arranged in the same direction.

さらに、図5に示すように、比較例1における半導体装置40のメモリ側第2バス端子群8b…11b…15b、8c…(11c)…15cとコントローラ側第2バス端子群15a…11a…8aとは、ビット番号が増加する方向を、互いに逆向きにして配列されている。この結果、図5に示すように、配線基板26の厚さ方向(平面方向)からみて、複数のボンディングワイヤW同士及び複数の配線パターンT1同士が交差する状態で、コントローラチップ25とメモリチップ21、22、23、24との端子間が電気的に接続されることになる。   Further, as shown in FIG. 5, the memory-side second bus terminal groups 8b ... 11b ... 15b, 8c ... (11c) ... 15c and the controller-side second bus terminal groups 15a ... 11a ... 8a of the semiconductor device 40 in Comparative Example 1. Are arranged with the bit numbers increasing in opposite directions. As a result, as shown in FIG. 5, when viewed from the thickness direction (planar direction) of the wiring board 26, the controller chip 25 and the memory chip 21 in a state where the plurality of bonding wires W and the plurality of wiring patterns T1 intersect each other. , 22, 23, and 24 are electrically connected.

このため、比較例1の半導体装置40は、複数の配線パターンT1同士を配線基板26内で三次元的に配線(立体配線)する必要があるので、基板層数の増加を招き、これに伴い、製造コストの増加や製品サイズの増大などが懸念される。さらに、この際、配線基板26における異なる層の配線同士が三次元的に交差するため、伝送線路特性(伝送線路の特性インピーダンス)などの悪化が懸念される。   For this reason, since the semiconductor device 40 of Comparative Example 1 needs to wire a plurality of wiring patterns T1 three-dimensionally (three-dimensional wiring) in the wiring substrate 26, the number of substrate layers is increased. There are concerns about an increase in manufacturing cost and an increase in product size. Further, at this time, since wirings of different layers in the wiring board 26 cross three-dimensionally, there is a concern about deterioration of transmission line characteristics (characteristic impedance of the transmission line) and the like.

一方、本実施形態の半導体装置30によれば、図1、図2に示すように、コントローラチップ25側とメモリチップ21、22、23、24側との各端子群を適切な並びで配列させることで、当該コントローラチップとメモリチップとを合理的に接続することができ、これにより基板層数の増加を抑えつつ所望の伝送線路特性を確保することができる。   On the other hand, according to the semiconductor device 30 of the present embodiment, as shown in FIGS. 1 and 2, the terminal groups on the controller chip 25 side and the memory chips 21, 22, 23, and 24 side are arranged in an appropriate arrangement. As a result, the controller chip and the memory chip can be rationally connected, thereby ensuring desired transmission line characteristics while suppressing an increase in the number of substrate layers.

<第2の実施の形態>
次に、第2の実施形態を図6、図7に基づき説明する。なお、図6において、図1〜図4に示した第1の実施形態中の構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付与し重複する説明を省略する。
<Second Embodiment>
Next, a second embodiment will be described with reference to FIGS. In FIG. 6, the same constituent elements as those in the first embodiment shown in FIGS. 1 to 4 are given the same reference numerals and redundant description is omitted.

第2の実施形態の半導体装置50は、第1の実施形態の半導体装置30が備えていた図1に示すメモリチップ21、22(第1のメモリチップ)及びメモリチップ23、24(第2のメモリチップ)に代えて、図6に示すように、メモリチップ41、42(第1のメモリチップ)及びメモリチップ43、44(第2のメモリチップ)を備えている。また、本実施形態の半導体装置50は、図6、図7に示すように、論理反転部として機能するレジスタ55をさらに備えている。   The semiconductor device 50 according to the second embodiment includes the memory chips 21 and 22 (first memory chip) and the memory chips 23 and 24 (second memory) shown in FIG. 1 included in the semiconductor device 30 according to the first embodiment. In place of the memory chip), as shown in FIG. 6, memory chips 41 and 42 (first memory chip) and memory chips 43 and 44 (second memory chip) are provided. In addition, the semiconductor device 50 of this embodiment further includes a register 55 that functions as a logic inversion unit, as shown in FIGS.

図6に示すように、第2のメモリチップとしてのメモリチップ43、44は、第1のメモリチップとしてのメモリチップ41、42を、配線基板26の表面に沿った方向に180度回転させた状態のものが適用されている。ここで、メモリチップ41、42、43、44は、図6に示すように、メモリ側第1バス端子群0b…3b…7b、0c…3c…7c及びメモリ側第2バス端子群15b…11b…8b、15c…(11c)…8cにおけるビット番号が増加する方向が、図1に示すメモリチップ21、22、23、24とは、正反対に配列されている。   As shown in FIG. 6, the memory chips 43 and 44 as the second memory chips rotate the memory chips 41 and 42 as the first memory chip by 180 degrees in the direction along the surface of the wiring board 26. The thing of the state is applied. Here, as shown in FIG. 6, the memory chips 41, 42, 43, and 44 have memory side first bus terminal groups 0b ... 3b ... 7b, 0c ... 3c ... 7c and memory side second bus terminal groups 15b ... 11b. ... 8b, 15c... (11c)... 8c are arranged in the opposite direction to the memory chips 21, 22, 23, and 24 shown in FIG.

このため、第1の実施形態において、図5に示したように、配線基板26の厚さ方向(平面方向)からみて、複数のボンディングワイヤW同士及び複数の配線パターンT1同士が交差する状態で、コントローラチップ25とメモリチップ41、42、43、44との端子間が接続されることが懸念される。   Therefore, in the first embodiment, as shown in FIG. 5, the plurality of bonding wires W and the plurality of wiring patterns T <b> 1 intersect with each other when viewed from the thickness direction (planar direction) of the wiring board 26. There is a concern that the terminals of the controller chip 25 and the memory chips 41, 42, 43, 44 are connected.

そこで、レジスタ55は、図6、図7に示すように、コントローラチップ25におけるコントローラ側第1バス端子群とコントローラ側第2バス端子群とのうちの少なくとも一方の端子群に対応するビット番号の並び順を、論理的に反転させる。本実施形態では、レジスタ55は、例えば、所定の外部信号をコントローラチップ25側へ出力することなどによって、図6に示すように、コントローラ側第1バス端子群とコントローラ側第2バス端子群との両方についてビット番号の並び順を、論理的に反転(並び順を、図1に示した0a…3a…7a及び8a…11a…15aから、図6に示すように7a…3a…0a及び15a…11a…8aへ反転)させる。   Therefore, as shown in FIGS. 6 and 7, the register 55 has a bit number corresponding to at least one of the controller-side first bus terminal group and the controller-side second bus terminal group in the controller chip 25. The order of arrangement is logically reversed. In the present embodiment, the register 55 outputs a predetermined external signal to the controller chip 25 side, for example, as shown in FIG. 6, and the controller side first bus terminal group and the controller side second bus terminal group 1 is logically reversed (from 0a... 3a... 7a and 8a... 11a... 15a shown in FIG. 1 to 7a... 3a... 0a and 15a as shown in FIG. (Reverse to 11a ... 8a).

なお、レジスタ55は、コントローラチップ25自体に搭載されていてもよいし、図6に示すように、コントローラチップ25とは個別の素子として構成されていてもよい。また、図6では、ビット番号の並び順の反転を視覚的にわかりやすくするために、コントローラ側第1バス端子群及びコントローラ側第2バス端子群との図6中での符号の並びを、図1中での符号の並びと、正反対にして図示している。さらに、図6では、配線基板26の第1中継端子群0d…3d…7dと第2中継端子群7e…3e…0eとの間を電気的に接続する複数の配線パターンT1同士が交差(クロス)していないことを模式的に点線で図示している。   The register 55 may be mounted on the controller chip 25 itself, or may be configured as a separate element from the controller chip 25 as shown in FIG. Further, in FIG. 6, in order to make it easier to visually understand the reversal of the order of arrangement of the bit numbers, the arrangement of the symbols in FIG. 6 with the controller side first bus terminal group and the controller side second bus terminal group is It is shown opposite to the arrangement of the symbols in FIG. Further, in FIG. 6, a plurality of wiring patterns T1 that electrically connect the first relay terminal groups 0d... 3d... 7d and the second relay terminal groups 7e. ) Is schematically shown by dotted lines.

このように本実施形態の半導体装置50においても、I/Oバスのビット番号0番(I/O0番)〜ビット番号7番(I/O7番)に関するポートとなるメモリ側第1バス端子群0b…3b…7b、0c…3c…7cと、コントローラ側第1バス端子群7a…3a…0aとは、それぞれビット番号順に配列されていると共に、ビット番号が増加する方向を、互いに逆向きにして配列されている。さらに、I/Oバスのビット番号8番(I/O8番)〜ビット番号15番(I/O15番)に関するポートとなるメモリ側第2バス端子群15b…11b…8b、15c…(11c)…8cとコントローラ側第2バス端子群15a…11a…8aとは、それぞれビット番号順に配列されていると共に、ビット番号が増加する方向を、互いに同じ向きにして配列されている。   As described above, also in the semiconductor device 50 of the present embodiment, the memory-side first bus terminal group serving as a port related to bit number 0 (I / O0) to bit number 7 (I / O7) of the I / O bus. 0b... 3b... 7b, 0c... 3c... 7c and the controller-side first bus terminal group 7a... 3a. Are arranged. Further, the memory side second bus terminal groups 15b ... 11b ... 8b, 15c ... (11c) which are ports related to bit number 8 (I / O8) to bit number 15 (I / O15) of the I / O bus. 8c and controller-side second bus terminal group 15a ... 11a ... 8a are arranged in the order of bit numbers, and the bit numbers increase in the same direction.

したがって、本実施形態の半導体装置50によれば、レジスタ55によるビット番号の並び順の反転機能を活用しつつ、コントローラチップ25側とメモリチップ41、42、43、44側との各端子群を適宜配列させることで、図6に示すように、複数のボンディングワイヤW同士や複数の配線パターンT1同士を交差させることなく、コントローラチップ25とメモリチップ41、42、43、44との端子間を電気的に接続することが可能となる。これにより、配線基板26の基板層数の増加を抑えることができると共に良好な伝送線路特性を得ることができる。   Therefore, according to the semiconductor device 50 of the present embodiment, the terminal groups on the controller chip 25 side and the memory chips 41, 42, 43, and 44 side are set while utilizing the function of reversing the order of bit numbers by the register 55. By arranging them appropriately, as shown in FIG. 6, between the terminals of the controller chip 25 and the memory chips 41, 42, 43, 44 without crossing a plurality of bonding wires W and a plurality of wiring patterns T <b> 1. It becomes possible to connect electrically. Thereby, an increase in the number of substrate layers of the wiring substrate 26 can be suppressed, and good transmission line characteristics can be obtained.

<第3の実施の形態>
次に、第3の実施形態を図8〜図10(及び比較例2を示す図11、図12)に基づき説明する。なお、図8〜図10において、図1〜図4に示した第1の実施形態中の構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付与し重複する説明を省略する。
<Third Embodiment>
Next, a third embodiment will be described based on FIGS. 8 to 10 (and FIGS. 11 and 12 showing a comparative example 2). 8 to 10, the same components as those in the first embodiment illustrated in FIGS. 1 to 4 are denoted by the same reference numerals and redundant description is omitted.

第3の実施形態の半導体装置70は、第1の実施形態の半導体装置30が備えていた配線基板26に代えて、図8〜図10に示すように、配線基板76を備えている。また、半導体装置70は、第2の実施形態と同様にレジスタ55を備えている。   The semiconductor device 70 according to the third embodiment includes a wiring substrate 76 as shown in FIGS. 8 to 10 instead of the wiring substrate 26 included in the semiconductor device 30 according to the first embodiment. Further, the semiconductor device 70 includes a register 55 as in the second embodiment.

図8、図9に示すように、配線基板76は、配線パターンT1(第1の配線パターン)及び配線パターンT2(第2の配線パターン)を含む複数の配線パターンが、表層や内層に形成された矩形状のプリント配線板である。配線基板76の一方の主面(チップの搭載面)には、第1中継端子群7d…3d…0d、第2中継端子群7e…3e…0e、第3中継端子群8d…11d…15d、第4中継端子群8e…11e…15e、がそれぞれ形成されている。   As shown in FIGS. 8 and 9, the wiring board 76 has a plurality of wiring patterns including a wiring pattern T1 (first wiring pattern) and a wiring pattern T2 (second wiring pattern) formed on the surface layer and the inner layer. A rectangular printed wiring board. On one main surface (chip mounting surface) of the wiring board 76, a first relay terminal group 7d ... 3d ... 0d, a second relay terminal group 7e ... 3e ... 0e, a third relay terminal group 8d ... 11d ... 15d, The fourth relay terminal groups 8e ... 11e ... 15e are formed.

図8、図9に示すように、第1中継端子群7d…3d…0d及び第2中継端子群7e…3e…0eは、配線基板76の辺部76a(第1の辺部)側にそれぞれ配列されている。複数の配線パターンT1は、第1中継端子群7d…3d…0dと第2中継端子群7e…3e…0eとを電気的に接続する。一方、第3中継端子群8d…11d…15d及び第4中継端子群8e…11e…15eは、配線基板76の辺部76b(第2の辺部)側にそれぞれ配列されている。複数の配線パターンT2は、第3中継端子群8d…11d…15dと第4中継端子群8e…11e…15eとを電気的に接続する。   As shown in FIGS. 8 and 9, the first relay terminal groups 7d... 3d... 0d and the second relay terminal groups 7e... 3e... 0e are on the side 76a (first side) side of the wiring board 76, respectively. It is arranged. The plurality of wiring patterns T1 electrically connect the first relay terminal groups 7d ... 3d ... 0d and the second relay terminal groups 7e ... 3e ... 0e. On the other hand, the third relay terminal groups 8d ... 11d ... 15d and the fourth relay terminal groups 8e ... 11e ... 15e are arranged on the side 76b (second side) side of the wiring board 76, respectively. The plurality of wiring patterns T2 electrically connect the third relay terminal groups 8d ... 11d ... 15d and the fourth relay terminal groups 8e ... 11e ... 15e.

図10に示すように、コントローラチップ25は、配線基板76の一方の主面の直上に搭載されている。また、図8、図9に示すように、コントローラチップ25は、配線基板26の厚さ方向(平面方向)からみて、配線基板76の中央部分に搭載されている。さらに、コントローラチップ25のコントローラ側第1バス端子群7a…3a…0aは、ボンディングワイヤWを介して第2中継端子群7e…3e…0eと電気的に接続されている。一方、コントローラチップ25のコントローラ側第2バス端子群8a…11a…15aは、ボンディングワイヤWを介して第4中継端子群8e…11e…15eと電気的に接続されている。   As shown in FIG. 10, the controller chip 25 is mounted immediately above one main surface of the wiring board 76. As shown in FIGS. 8 and 9, the controller chip 25 is mounted on the central portion of the wiring board 76 when viewed from the thickness direction (planar direction) of the wiring board 26. Further, the controller-side first bus terminal groups 7a ... 3a ... 0a of the controller chip 25 are electrically connected to the second relay terminal groups 7e ... 3e ... 0e via bonding wires W. On the other hand, the controller-side second bus terminal groups 8a ... 11a ... 15a of the controller chip 25 are electrically connected to the fourth relay terminal groups 8e ... 11e ... 15e via bonding wires W.

このようにして接続されたコントローラチップ25は、図10に示すように、封止樹脂層77によって、ボンディングワイヤWと共に配線基板76上で封止されている。一方、メモリチップ21、22、23、24は、封止樹脂層77上部に順に搭載されている。これらのメモリチップ21、22、23、24は、図10に示すように、コントローラチップ25を封止する封止樹脂層77及びメモリチップ接続用のボンディングワイヤWと共に、封止樹脂層78によって、配線基板76上で封止されている。   The controller chip 25 connected in this way is sealed on the wiring substrate 76 together with the bonding wires W by a sealing resin layer 77 as shown in FIG. On the other hand, the memory chips 21, 22, 23, and 24 are sequentially mounted on the sealing resin layer 77. As shown in FIG. 10, these memory chips 21, 22, 23, and 24 are encapsulated by a sealing resin layer 78 together with a sealing resin layer 77 for sealing the controller chip 25 and a bonding wire W for connecting the memory chip. Sealed on the wiring board 76.

ここで、本実施形態では、レジスタ55は、図8、図9に示すように、コントローラチップ25におけるコントローラ側第1バス端子群についてのビット番号の並び順を論理的に反転(並び順を、0a…3a…7aから、図8、図9に示すように7a…3a…0aへ反転)させる。   In this embodiment, as shown in FIGS. 8 and 9, the register 55 logically reverses the order of arrangement of the bit numbers for the controller-side first bus terminal group in the controller chip 25 (the order of arrangement is 7a... 3a... 7a as shown in FIG. 8 and FIG.

さらに、本実施形態の半導体装置70では、図8に示すように、メモリ側第1バス端子群7b…3b…0b、7c…3c…0cと第2中継端子群7e…3e…0eに電気的に接続されたコントローラ側第1バス端子群7a…3a…0aとの第1の組、及びメモリ側第2バス端子群8b…11b…15b、8c…11c…15cと第4中継端子群8e…11e…15eに電気的に接続されたコントローラ側第2バス端子群8a…11a…15aとの第2の組を対象として、前記第1及び第2の組の全ての端子群は、ビット番号順に配列され、さらに、第1の組の端子群同士及び第2の組の端子群同士は、それぞれ、ビット番号が増加する方向を互いに同じ向きにして配列されている。   Furthermore, in the semiconductor device 70 of the present embodiment, as shown in FIG. 8, the memory side first bus terminal groups 7b... 3b... 0b, 7c. The first set of controller-side first bus terminal groups 7a ... 3a ... 0a, and the memory-side second bus terminal groups 8b ... 11b ... 15b, 8c ... 11c ... 15c and the fourth relay terminal group 8e ... 11e... 15e electrically connected to the controller-side second bus terminal group 8a... 11a... 15a, all the terminal groups of the first and second groups are in bit number order. Furthermore, the first set of terminal groups and the second set of terminal groups are arranged so that the bit numbers increase in the same direction.

このような並びでコントローラチップ25側とメモリチップ21、22、23、24側との各端子群を配列させつつ、レジスタ55によるビット番号の並び順の反転を活用することで、図8、図9に示すように、配線基板76の厚さ方向(平面方向)からみて、複数のボンディングワイヤW同士や複数の配線パターンT1又はT2同士を交差(クロス)させることなく、コントローラチップ25とメモリチップ21、22、23、24との端子間を合理的に接続することができる。   By arranging the terminal groups on the controller chip 25 side and the memory chips 21, 22, 23, and 24 side in such an arrangement and utilizing the reversal of the arrangement order of the bit numbers by the register 55, FIG. 9, the controller chip 25 and the memory chip can be seen without crossing a plurality of bonding wires W or a plurality of wiring patterns T1 or T2 when viewed from the thickness direction (planar direction) of the wiring board 76. Terminals 21, 22, 23, and 24 can be rationally connected.

これに対して、図11、図12に示すように、レジスタ55を備えていない比較例2の半導体装置80では、メモリ側第1バス端子群7b…3b…0b、7c…3c…0cと第2中継端子群0e…3e…7eに電気的に接続されたコントローラ側第1バス端子群0a…3a…7aとの第1の組は、本実施形態の図8に示した半導体装置70とは異なり、ビット番号が増加する方向を、互いに逆向きにして配列されている。一方、メモリ側第2バス端子群15b…11b…8b、15c…11c…8cと第4中継端子群8e…11e…15eに電気的に接続されたコントローラ側第2バス端子群8a…11a…15aとの第2の組は、ビット番号が増加する方向を、互いに同じ向きにして配列されている。   On the other hand, as shown in FIGS. 11 and 12, in the semiconductor device 80 of the comparative example 2 that does not include the register 55, the first bus terminal groups 7b... 3b... 0b, 7c. The first set of controller side first bus terminal groups 0a ... 3a ... 7a electrically connected to the two relay terminal groups 0e ... 3e ... 7e is the semiconductor device 70 shown in FIG. 8 of the present embodiment. Unlikely, the bit numbers are arranged in the opposite directions. On the other hand, the controller side second bus terminal groups 8a ... 11a ... 15a electrically connected to the memory side second bus terminal groups 15b ... 11b ... 8b, 15c ... 11c ... 8c and the fourth relay terminal groups 8e ... 11e ... 15e. Are arranged in the same direction in which the bit numbers increase.

この結果、図12に模式的に示すように、配線基板76の厚さ方向(平面方向)からみて、複数の配線パターンT1同士が交差(クロス)する状態で、コントローラチップ25とメモリチップ21、22(第1のメモリチップ)との端子間が接続される事態を招く。このため、比較例2の半導体装置80は、複数の配線パターンT1同士を配線基板76内で立体配線する必要があるので、基板層数の増加や伝送線路特性の悪化が懸念される。   As a result, as schematically shown in FIG. 12, the controller chip 25 and the memory chip 21, with the plurality of wiring patterns T <b> 1 intersecting (crossing) when viewed from the thickness direction (planar direction) of the wiring substrate 76. 22 (first memory chip) is connected between the terminals. For this reason, in the semiconductor device 80 of the comparative example 2, since it is necessary to three-dimensionally wire the plurality of wiring patterns T1 within the wiring board 76, there is a concern about an increase in the number of board layers and a deterioration in transmission line characteristics.

一方、本実施形態の半導体装置70では、図8、図9に示すように、レジスタ55によるビット番号の並び順の反転機能を活用しつつ、コントローラチップ25側とメモリチップ21、22、23、24側との各端子群を適切な並びで配列させることで、ボンディングワイヤW同士や配線パターンT1又はT2同士を交差させることなく、コントローラチップ25とメモリチップ21、22、23、24との端子間を電気的に接続することができる。つまり、本実施形態の半導体装置70によれば、コントローラチップ25をメモリチップ24の上に配置する第1及び第2の実施形態のレイアウトとは異なり、コントローラチップ25を配線基板76の直上に配置する当該第3の実施形態のレイアウトにおいても、基板層数の増加を抑えつつ所望の伝送線路特性を確保することが可能となる。   On the other hand, in the semiconductor device 70 of the present embodiment, as shown in FIGS. 8 and 9, the controller chip 25 side and the memory chips 21, 22, 23, The terminals of the controller chip 25 and the memory chips 21, 22, 23, 24 are arranged without crossing the bonding wires W and the wiring patterns T 1 or T 2 by arranging the terminal groups on the 24 side in an appropriate arrangement. They can be electrically connected. That is, according to the semiconductor device 70 of the present embodiment, unlike the layouts of the first and second embodiments in which the controller chip 25 is disposed on the memory chip 24, the controller chip 25 is disposed directly on the wiring board 76. Also in the layout of the third embodiment, desired transmission line characteristics can be ensured while suppressing an increase in the number of substrate layers.

<第4の実施の形態>
次に、第4の実施形態を図13〜図15(及び比較例3を示す図16、図17)に基づき説明する。なお、図13〜図15において、図8〜図10に示した第3の実施形態中の構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付与し重複する説明を省略する。
<Fourth embodiment>
Next, a fourth embodiment will be described with reference to FIGS. 13 to 15 (and FIGS. 16 and 17 showing Comparative Example 3). 13 to 15, the same components as those in the third embodiment illustrated in FIGS. 8 to 10 are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.

第4の実施形態の半導体装置90は、第3の実施形態の半導体装置70が備えていた配線基板76に代えて、図13、図14に示すように、配線基板96を備えている。また、半導体装置90は、第3の実施形態と同様にレジスタ55を備えている。   A semiconductor device 90 according to the fourth embodiment includes a wiring substrate 96 as shown in FIGS. 13 and 14 instead of the wiring substrate 76 included in the semiconductor device 70 according to the third embodiment. Further, the semiconductor device 90 includes a register 55 as in the third embodiment.

図13、図14に示すように、複数の配線パターンT1によって互いに電気的に接続された第1中継端子群7d…3d…0d及び第2中継端子群0e…3e…7eは、配線基板96の辺部96a(第1の辺部)側にそれぞれ配列されている。一方、複数の配線パターンT2によって互いに電気的に接続された第3中継端子群8d…11d…15d及び第4中継端子群15e…11e…8eは、配線基板96の辺部96b(第2の辺部)側にそれぞれ配列されている。   As shown in FIGS. 13 and 14, the first relay terminal groups 7d... 3d... 0d and the second relay terminal groups 0e. They are respectively arranged on the side 96a (first side) side. On the other hand, the third relay terminal groups 8d... 11d... 15d and the fourth relay terminal groups 15e... 11e. Part) side.

メモリチップ21、22、23、24は、図15に示すように、配線基板96の一方の主面(チップの搭載面)上に順に積層されている。一方、コントローラチップ25は、単体で、配線基板96の一方の主面(チップの搭載面)上に搭載されている。より具体的には、コントローラチップ25は、配線基板96の基板表面に沿った方向において、メモリチップ21、22、23、24と並ぶ位置、つまり、図13に示すように、配線基板96の厚さ方向(平面方向)からみて、配線基板96上の一方の短辺(図13中の左)側に偏在した位置に配置されている。   As shown in FIG. 15, the memory chips 21, 22, 23, and 24 are sequentially stacked on one main surface (chip mounting surface) of the wiring board 96. On the other hand, the controller chip 25 is mounted alone on one main surface (chip mounting surface) of the wiring board 96. More specifically, the controller chip 25 is aligned with the memory chips 21, 22, 23, and 24 in the direction along the substrate surface of the wiring board 96, that is, as shown in FIG. When viewed from the vertical direction (planar direction), the wiring board 96 is arranged at a position unevenly distributed on one short side (left side in FIG. 13).

これらメモリチップ21、22、23、24及びコントローラチップ25は、図15に示すように、ボンディングワイヤWと共に、封止樹脂層98によって、配線基板96上で封止されている。   As shown in FIG. 15, the memory chips 21, 22, 23, 24 and the controller chip 25 are sealed on the wiring board 96 by a sealing resin layer 98 together with the bonding wires W.

ここで、本実施形態では、レジスタ55は、図13、図14に示すように、コントローラチップ25におけるコントローラ側第2バス端子群についてのビット番号の並び順を論理的に反転(並び順を、8a…11a…15aから、図13、図14に示すように15a…11a…8aへ反転)させる。   Here, in the present embodiment, as shown in FIGS. 13 and 14, the register 55 logically inverts the arrangement order of the bit numbers for the controller-side second bus terminal group in the controller chip 25 (the arrangement order is 8a... 11a... 15a are inverted to 15a... 11a... 8a as shown in FIGS.

さらに、本実施形態の半導体装置90では、図13に示すように、メモリ側第1バス端子群7b…3b…0b、7c…3c…0cと第2中継端子群0e…3e…7eに電気的に接続されたコントローラ側第1バス端子群0a…3a…7aとの第1の組、及びメモリ側第2バス端子群8b…11b…15b、8c…11c…15cと第4中継端子群15e…11e…8eに電気的に接続されたコントローラ側第2バス端子群15a…11a…8aとの第2の組を対象として、前記第1及び第2の組の全ての端子群は、ビット番号順に配列され、さらに、第1の組の端子群同士及び第2の組の端子群同士は、それぞれ、ビット番号が増加する方向を互いに逆向きにして配列されている。   Further, in the semiconductor device 90 of the present embodiment, as shown in FIG. 13, the memory side first bus terminal groups 7b... 3b... 0b, 7c... 3c ... 0c and the second relay terminal groups 0e. The first set of controller-side first bus terminal groups 0a ... 3a ... 7a, and the memory-side second bus terminal groups 8b ... 11b ... 15b, 8c ... 11c ... 15c and the fourth relay terminal group 15e ... 11e... 8e electrically connected to the controller-side second bus terminal group 15a... 11a... 8a, all the terminal groups of the first and second groups are in bit number order. Furthermore, the first set of terminal groups and the second set of terminal groups are arranged with their bit numbers increasing in opposite directions.

図13に示すように、コントローラチップ25とメモリチップ21、22、23、24とを配線基板96上に並べて配置する場合においても、コントローラチップ25側とメモリチップ21、22、23、24側との各端子群を適切な並びで配列させ、かつレジスタ55によるビット番号の並び順の反転を活用することで、図13、図14に示すように、配線基板96の厚さ方向からみて、複数のボンディングワイヤW同士や複数の配線パターンT1又はT2同士を交差させることなく、コントローラチップ25とメモリチップ21、22、23、24との端子間を電気的に接続することが可能となる。   As shown in FIG. 13, even when the controller chip 25 and the memory chips 21, 22, 23, and 24 are arranged side by side on the wiring board 96, the controller chip 25 side and the memory chips 21, 22, 23, and 24 side As shown in FIGS. 13 and 14, a plurality of terminal groups are arranged in an appropriate arrangement and the reversal of the arrangement order of the bit numbers by the register 55 is used, as shown in FIGS. It is possible to electrically connect the terminals of the controller chip 25 and the memory chips 21, 22, 23, and 24 without crossing the bonding wires W and the plurality of wiring patterns T1 or T2.

これに対して、図16、図17に示すように、レジスタ55を備えていない比較例3の半導体装置60では、メモリ側第1バス端子群7b…3b…0b、7c…3c…0cと第2中継端子群0e…3e…7eに電気的に接続されたコントローラ側第1バス端子群0a…3a…7aとの第1の組は、ビット番号が増加する方向を、互いに逆向きにして配列されている。一方、メモリ側第2バス端子群15b…11b…8b、15c…11c…8cと第4中継端子群8e…11e…15eに電気的に接続されたコントローラ側第2バス端子群8a…11a…15aとの第2の組は、本実施形態の図13に示した半導体装置90とは異なり、ビット番号が増加する方向を、互いに同じ向きにして配列されている。   On the other hand, as shown in FIGS. 16 and 17, in the semiconductor device 60 of the comparative example 3 that does not include the register 55, the first bus terminal groups 7b... 3b... 0b, 7c. The first set of controller side first bus terminal groups 0a... 3a... 7a electrically connected to two relay terminal groups 0e... 3e. Has been. On the other hand, the controller side second bus terminal groups 8a ... 11a ... 15a electrically connected to the memory side second bus terminal groups 15b ... 11b ... 8b, 15c ... 11c ... 8c and the fourth relay terminal groups 8e ... 11e ... 15e. Unlike the semiconductor device 90 shown in FIG. 13 of the present embodiment, the second set is arranged in such a way that the bit numbers increase in the same direction.

このため、図17に模式的に示すように、配線基板96の厚さ方向(平面方向)からみて、複数の配線パターンT2同士が交差する状態で、コントローラチップ25とメモリチップ23、24(第2のメモリチップ)との端子間が接続される結果を招く。したがって、比較例3の半導体装置60は、複数の配線パターンT2同士を配線基板96内で立体配線する必要性が生じ、基板層数の増加や伝送線路特性の悪化を余儀なくされる。   For this reason, as schematically shown in FIG. 17, the controller chip 25 and the memory chips 23 and 24 (the first chip) in a state where the plurality of wiring patterns T2 intersect each other when viewed from the thickness direction (planar direction) of the wiring board 96. As a result, the terminals of the two memory chips are connected. Therefore, in the semiconductor device 60 of Comparative Example 3, it is necessary to three-dimensionally wire the plurality of wiring patterns T2 in the wiring board 96, and the number of board layers is increased and the transmission line characteristics are inevitably deteriorated.

これに対して、本実施形態の半導体装置90では、図13、図14に示すように、レジスタ55によるビット番号の並び順の反転機能を活用しつつ、コントローラチップ25側とメモリチップ21、22、23、24側との各端子群を適切な並びで配列させることで、ボンディングワイヤW同士や配線パターンT1又はT2同士を交差させることなく、コントローラチップ25とメモリチップ21、22、23、24との端子間を電気的に接続することができる。つまり、本実施形態の半導体装置90によれば、コントローラチップ25をメモリチップ24の上に配置する第1及び第2の実施形態のレイアウトとは異なり、コントローラチップ25とメモリチップ21、22、23、24とを配線基板96上に並べて配置する当該第4の実施形態のレイアウトにおいても、配線基板96の基板層数の増加を抑制でき、しかも良好な伝送線路特性を得ることが可能となる。   On the other hand, in the semiconductor device 90 of the present embodiment, as shown in FIGS. 13 and 14, the controller chip 25 side and the memory chips 21 and 22 are utilized while utilizing the function of reversing the arrangement order of the bit numbers by the register 55. , 23, and 24, by arranging each terminal group in an appropriate arrangement, the controller chip 25 and the memory chips 21, 22, 23, 24 do not cross the bonding wires W or the wiring patterns T 1 or T 2. And the terminals can be electrically connected. That is, according to the semiconductor device 90 of the present embodiment, unlike the layouts of the first and second embodiments in which the controller chip 25 is disposed on the memory chip 24, the controller chip 25 and the memory chips 21, 22, 23 , 24 are arranged side by side on the wiring board 96, the increase in the number of substrate layers of the wiring board 96 can be suppressed, and good transmission line characteristics can be obtained.

以上、本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施することが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これらの実施形態やその変形例は、発明の範囲や要旨に含まれると共に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。   As mentioned above, although some embodiment of this invention was described, these embodiment is shown as an example and is not intending limiting the range of invention. These novel embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the spirit of the invention. These embodiments and modifications thereof are included in the scope and gist of the invention, and are included in the invention described in the claims and the equivalents thereof.

例えば、上述した第1〜第4の実施形態では、第1のメモリチップ(メモリチップ21、22)と第2のメモリチップ(メモリチップ23、24)とをそれぞれ2個ずつ搭載した半導体装置を例示したが、これに代えて、第1のメモリチップと第2のメモリチップとを4個ずつ搭載した半導体装置を他の実施の形態として適用してもよいし、さらには、第1のメモリチップと第2のメモリチップとを1つずつ搭載した半導体装置をさらにその他の実施の形態として適用することも可能である。   For example, in the above-described first to fourth embodiments, a semiconductor device in which two each of the first memory chip (memory chips 21 and 22) and the second memory chip (memory chips 23 and 24) are mounted is provided. Although illustrated, instead of this, a semiconductor device in which four first memory chips and four second memory chips are mounted may be applied as another embodiment, and further, the first memory chip may be applied. A semiconductor device in which a chip and a second memory chip are mounted one by one can also be applied as another embodiment.

0a…3a…7a,…コントローラ側第1バス端子群、0b…3b…7b,0c…3c…7c,…メモリ側第1バス端子群、0d…3d…7d,…第1中継端子群、0e…3e…7e,…第2中継端子群、8a…11a…15a,…コントローラ側第2バス端子群、8b…11b…15b,8c…11c…15c,…メモリ側第2バス端子群、8d…11d…15d,…第3中継端子群、8e…11e…15e,…第4中継端子群、21,22,41,42…メモリチップ(第1のメモリチップ)、21a,22a…辺部(第3の辺部)、23,24,43,44…メモリチップ(第2のメモリチップ)、23a,24a…辺部(第4の辺部)、25…コントローラチップ、25a…辺部(第5の辺部)、25b…辺部(第6の辺部)、26,76,96…配線基板、26a,76a,96a…辺部(第1の辺部)、26b,76b,96b…辺部(第2の辺部)、30,50,70,90…半導体装置、55…レジスタ、T1…配線パターン(第1の配線パターン)、T2…配線パターン(第2の配線パターン)、W…ボンディングワイヤ。   0a ... 3a ... 7a, controller side first bus terminal group, 0b ... 3b ... 7b, 0c ... 3c ... 7c, ... memory side first bus terminal group, 0d ... 3d ... 7d, ... first relay terminal group, 0e ... 3e ... 7e, ... second relay terminal group, 8a ... 11a ... 15a, ... controller side second bus terminal group, 8b ... 11b ... 15b, 8c ... 11c ... 15c, ... memory side second bus terminal group, 8d ... 11d ... 15d, ... third relay terminal group, 8e ... 11e ... 15e, ... fourth relay terminal group, 21,22,41,42 ... memory chip (first memory chip), 21a, 22a ... side (first) 3 side), 23, 24, 43, 44... Memory chip (second memory chip), 23a, 24a... Side part (fourth side part), 25... Controller chip, 25a. Side), 25b... Side part (sixth side part), 26 76, 96 ... wiring board, 26a, 76a, 96a ... side (first side), 26b, 76b, 96b ... side (second side), 30, 50, 70, 90 ... semiconductor device, 55... Register, T1... Wiring pattern (first wiring pattern), T2... Wiring pattern (second wiring pattern), W.

Claims (6)

第1の辺部と、前記第1の辺部と対向する第2の辺部と、前記第1の辺部側にそれぞれ配列された第1中継端子群及び第2中継端子群と、前記第1中継端子群と前記第2中継端子群とを接続する配線パターンと、前記第2の辺部側に配列された第3中継端子群と、を有する矩形状の配線基板と、
前記第1の辺部側に配置される第3の辺部と、前記第3の辺部に沿って配列されていると共に、ボンディングワイヤを介して前記第1中継端子群に電気的に接続されたメモリ側第1バス端子群と、を有する矩形状の第1のメモリチップと、
前記第2の辺部側に配置される第4の辺部と、前記第4の辺部に沿って配列されていると共に、ボンディングワイヤを介して前記第3中継端子群に電気的に接続されたメモリ側第2バス端子群と、を有する矩形状の第2のメモリチップと、
前記第1の辺部側に配置される第5の辺部と、前記第5の辺部に沿って配列されていると共に、ボンディングワイヤを介して前記第2中継端子群に電気的に接続されたコントローラ側第1バス端子群と、前記第2の辺部側に配置される第6の辺部と、前記第6の辺部に沿って配列されていると共に、ボンディングワイヤを介して前記第3中継端子群に電気的に接続されたコントローラ側第2バス端子群と、を有する矩形状のコントローラチップと、を備え、
前記メモリ側第1バス端子群と前記コントローラ側第1バス端子群とは、それぞれビット番号順に配列されていると共に、ビット番号が増加する方向を互いに逆向きにして配列され、
前記メモリ側第2バス端子群と前記コントローラ側第2バス端子群とは、それぞれビット番号順に配列されていると共に、ビット番号が増加する方向を互いに同じ向きにして配列され、
前記第1のメモリチップは前記配線基板上に設けられ、
前記第2のメモリチップは前記第1のメモリチップ上に設けられ、
前記コントローラチップは前記第2のメモリチップ上に設けられている、半導体装置。
A first side part, a second side part facing the first side part, a first relay terminal group and a second relay terminal group respectively arranged on the first side part side, and the first side part A rectangular wiring board having a wiring pattern connecting one relay terminal group and the second relay terminal group, and a third relay terminal group arranged on the second side,
A third side portion disposed on the first side portion side and the third side portion are arranged along the third side portion, and are electrically connected to the first relay terminal group via a bonding wire. A memory-side first bus terminal group, a rectangular first memory chip,
A fourth side disposed on the second side and the fourth side are arranged along the fourth side, and are electrically connected to the third relay terminal group via a bonding wire. A second memory chip having a rectangular shape having a second bus terminal group on the memory side;
The fifth side portion disposed on the first side portion side and the fifth side portion are arranged along the fifth side portion, and are electrically connected to the second relay terminal group through bonding wires. The first bus terminal group on the controller side, the sixth side disposed on the second side, the array along the sixth side, and the first side through the bonding wire. A controller-side second bus terminal group electrically connected to the three relay terminal groups, and a rectangular controller chip,
The memory-side first bus terminal group and the controller-side first bus terminal group are arranged in the order of bit numbers, respectively, and are arranged so that the directions in which the bit numbers increase are opposite to each other,
The memory-side second bus terminal group and the controller-side second bus terminal group are arranged in the order of bit numbers, respectively, and the directions in which the bit numbers increase are arranged in the same direction,
The first memory chip is provided on the wiring substrate;
The second memory chip is provided on the first memory chip;
The semiconductor device, wherein the controller chip is provided on the second memory chip.
前記コントローラ側第1バス端子群と前記コントローラ側第2バス端子群とのうちの少なくとも一方の端子群に対応するビット番号の並び順を、論理的に反転させる論理反転部、
をさらに備えた請求項1記載の半導体装置。
A logic inversion unit that logically inverts the order of bit numbers corresponding to at least one of the controller-side first bus terminal group and the controller-side second bus terminal group;
The semiconductor device according to claim 1, further comprising:
第1の辺部と、前記第1の辺部と対向する第2の辺部と、前記第1の辺部側にそれぞれ配列された第1中継端子群及び第2中継端子群と、前記第1中継端子群と前記第2中継端子群とを接続する第1の配線パターンと、前記第2の辺部側にそれぞれ配列された第3中継端子群及び第4中継端子群と、前記第3中継端子群と前記第4中継端子群とを接続する第2の配線パターンと、を有する矩形状の配線基板と、
前記第1の辺部側に配置される第3の辺部と、前記第3の辺部に沿って配列されていると共に、ボンディングワイヤを介して前記第1中継端子群に電気的に接続されたメモリ側第1バス端子群と、を有する矩形状の第1のメモリチップと、
前記第2の辺部側に配置される第4の辺部と、前記第4の辺部に沿って配列されていると共に、ボンディングワイヤを介して前記第3中継端子群に電気的に接続されたメモリ側第2バス端子群と、を有する矩形状の第2のメモリチップと、
前記第1の辺部側に配置される第5の辺部と、前記第5の辺部に沿って配列されていると共に、ボンディングワイヤを介して前記第2中継端子群に電気的に接続されたコントローラ側第1バス端子群と、前記第2の辺部側に配置される第6の辺部と、前記第6の辺部に沿って配列されていると共に、ボンディングワイヤを介して前記第4中継端子群に電気的に接続されたコントローラ側第2バス端子群と、を有する矩形状のコントローラチップと、
前記コントローラ側第1バス端子群と前記コントローラ側第2バス端子群とのうちの少なくとも一方の端子群に対応するビット番号の並び順を、論理的に反転させる論理反転部と、を備え、
前記メモリ側第1バス端子群と前記コントローラ側第1バス端子群との第1の組、及び前記メモリ側第2バス端子群と前記コントローラ側第2バス端子群との第2の組、を対象として、前記第1及び第2の組の全ての端子群は、ビット番号順に配列され、前記第1の組の端子群同士及び前記第2の組の端子群同士は、ぞれぞれ、ビット番号が増加する方向を互いに同じ向きにして配列され、
前記コントローラチップは前記配線基板上に設けられ、
前記第1のメモリチップは前記コントローラチップ上に設けられ、
前記第2のメモリチップは前記第1のメモリチップ上に設けられている、半導体装置。
A first side part, a second side part facing the first side part, a first relay terminal group and a second relay terminal group respectively arranged on the first side part side, and the first side part A first wiring pattern that connects one relay terminal group and the second relay terminal group, a third relay terminal group and a fourth relay terminal group that are arranged on the second side, and the third A rectangular wiring board having a second wiring pattern connecting the relay terminal group and the fourth relay terminal group;
A third side portion disposed on the first side portion side and the third side portion are arranged along the third side portion, and are electrically connected to the first relay terminal group via a bonding wire. A memory-side first bus terminal group, a rectangular first memory chip,
A fourth side disposed on the second side and the fourth side are arranged along the fourth side, and are electrically connected to the third relay terminal group via a bonding wire. A second memory chip having a rectangular shape having a second bus terminal group on the memory side;
The fifth side portion disposed on the first side portion side and the fifth side portion are arranged along the fifth side portion, and are electrically connected to the second relay terminal group through bonding wires. The first bus terminal group on the controller side, the sixth side disposed on the second side, the array along the sixth side, and the first side through the bonding wire. A rectangular controller chip having a controller-side second bus terminal group electrically connected to the four relay terminal groups;
A logic inverting unit that logically inverts the order of bit numbers corresponding to at least one of the controller-side first bus terminal group and the controller-side second bus terminal group;
A first set of the memory side first bus terminal group and the controller side first bus terminal group, and a second set of the memory side second bus terminal group and the controller side second bus terminal group; As a target, all the terminal groups of the first and second groups are arranged in the order of bit numbers, the first group of terminal groups and the second group of terminal groups, respectively, Arranged in the same direction of increasing bit numbers,
The controller chip is provided on the wiring board,
The first memory chip is provided on the controller chip;
The semiconductor device, wherein the second memory chip is provided on the first memory chip.
第1の辺部と、前記第1の辺部と対向する第2の辺部と、前記第1の辺部側にそれぞれ配列された第1中継端子群及び第2中継端子群と、前記第1中継端子群と前記第2中継端子群とを接続する第1の配線パターンと、前記第2の辺部側にそれぞれ配列された第3中継端子群及び第4中継端子群と、前記第3中継端子群と前記第4中継端子群とを接続する第2の配線パターンと、を有する矩形状の配線基板と、
前記第1の辺部側に配置される第3の辺部と、前記第3の辺部に沿って配列されていると共に、ボンディングワイヤを介して前記第1中継端子群に電気的に接続されたメモリ側第1バス端子群と、を有する矩形状の第1のメモリチップと、
前記第2の辺部側に配置される第4の辺部と、前記第4の辺部に沿って配列されていると共に、ボンディングワイヤを介して前記第3中継端子群に電気的に接続されたメモリ側第2バス端子群と、を有する矩形状の第2のメモリチップと、
前記第1の辺部側に配置される第5の辺部と、前記第5の辺部に沿って配列されていると共に、ボンディングワイヤを介して前記第2中継端子群に電気的に接続されたコントローラ側第1バス端子群と、前記第2の辺部側に配置される第6の辺部と、前記第6の辺部に沿って配列されていると共に、ボンディングワイヤを介して前記第4中継端子群に電気的に接続されたコントローラ側第2バス端子群と、を有する矩形状のコントローラチップと、
前記コントローラ側第1バス端子群と前記コントローラ側第2バス端子群とのうちの少なくとも一方の端子群に対応するビット番号の並び順を、論理的に反転させる論理反転部と、を備え、
前記メモリ側第1バス端子群と前記コントローラ側第1バス端子群との第1の組、及び前記メモリ側第2バス端子群と前記コントローラ側第2バス端子群との第2の組、を対象として、前記第1及び第2の組の全ての端子群は、ビット番号順に配列され、前記第1の組の端子群同士及び前記第2の組の端子群同士は、それぞれ、ビット番号が増加する方向を互いに逆向きにして配列され、
前記コントローラチップと前記第1のメモリチップとは前記配線基板上に設けられ、
前記第2のメモリチップは前記第1のメモリチップ上に設けられている、半導体装置。
A first side part, a second side part facing the first side part, a first relay terminal group and a second relay terminal group respectively arranged on the first side part side, and the first side part A first wiring pattern that connects one relay terminal group and the second relay terminal group, a third relay terminal group and a fourth relay terminal group that are arranged on the second side, and the third A rectangular wiring board having a second wiring pattern connecting the relay terminal group and the fourth relay terminal group;
A third side portion disposed on the first side portion side and the third side portion are arranged along the third side portion, and are electrically connected to the first relay terminal group via a bonding wire. A memory-side first bus terminal group, a rectangular first memory chip,
A fourth side disposed on the second side and the fourth side are arranged along the fourth side, and are electrically connected to the third relay terminal group via a bonding wire. A second memory chip having a rectangular shape having a second bus terminal group on the memory side;
The fifth side portion disposed on the first side portion side and the fifth side portion are arranged along the fifth side portion, and are electrically connected to the second relay terminal group through bonding wires. The first bus terminal group on the controller side, the sixth side disposed on the second side, the array along the sixth side, and the first side through the bonding wire. A rectangular controller chip having a controller-side second bus terminal group electrically connected to the four relay terminal groups;
A logic inverting unit that logically inverts the order of bit numbers corresponding to at least one of the controller-side first bus terminal group and the controller-side second bus terminal group;
A first set of the memory side first bus terminal group and the controller side first bus terminal group, and a second set of the memory side second bus terminal group and the controller side second bus terminal group; As a target, all the terminal groups of the first and second groups are arranged in the order of bit numbers, and the terminal groups of the first group and the terminal groups of the second group have bit numbers, respectively. Arranged in increasing directions opposite to each other,
The controller chip and the first memory chip are provided on the wiring board,
The semiconductor device, wherein the second memory chip is provided on the first memory chip.
前記第2のメモリチップは、前記第1のメモリチップを前記配線基板の表面に沿った方向に180度回転させた状態のものが適用されている、
請求項1ないし4のいずれか1項に記載の半導体装置。
The second memory chip is applied in a state where the first memory chip is rotated 180 degrees in a direction along the surface of the wiring board.
The semiconductor device according to claim 1.
前記第1及び第2のメモリチップは、前記配線基板上にそれぞれ複数個ずつ搭載されている、
請求項1ないし5のいずれか1項に記載の半導体装置。
A plurality of the first and second memory chips are mounted on the wiring board, respectively.
The semiconductor device according to claim 1.
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