JP6065886B2 - Metal film deposition method - Google Patents
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Description
本発明はニッケル皮膜を成膜するための成膜用金属溶液およびこれを用いた成膜方法に係り、特に、固体電解質膜を基材に接触させて該基材の表面に金属皮膜を成膜するに好適な成膜用金属溶液およびこれを用いた成膜方法に関する。 The present invention relates to a film forming metal solution for forming a nickel film and a film forming method using the same, and in particular, a solid electrolyte film is brought into contact with a substrate to form a metal film on the surface of the substrate. In particular, the present invention relates to a metal film for film formation and a film formation method using the same.
従来から、電子回路基材などを製造する際には、ニッケル回路パターンを形成すべく、基材の表面にニッケル皮膜が成膜される。たとえば、このような金属皮膜の成膜技術として、Siなどの半導体基材の表面に、無電解めっき処理などのめっき処理により金属皮膜を成膜したり(例えば、特許文献1参照)、スパッタリングなどのPVD法により金属皮膜を成膜したりする成膜技術が提案されている。 Conventionally, when manufacturing an electronic circuit substrate or the like, a nickel film is formed on the surface of the substrate to form a nickel circuit pattern. For example, as a technique for forming such a metal film, a metal film is formed on a surface of a semiconductor substrate such as Si by a plating process such as an electroless plating process (for example, see Patent Document 1), sputtering, or the like. A film forming technique for forming a metal film by the PVD method has been proposed.
しかしながら、無電解めっき処理などのめっき処理を行なった場合には、めっき処理後の水洗が必要であり、水洗された廃液を処理する必要があった。また、スパッタリングなどのPVD法により基材表面に成膜を行った場合には、被覆された金属皮膜に内部応力が生じるため、膜厚を厚膜化するには制限があり、特に、スパッタリングの場合には、高真空化でしか、成膜できない場合があった。 However, when a plating process such as an electroless plating process is performed, washing with water after the plating process is necessary, and it is necessary to treat the washed waste liquid. In addition, when a film is formed on the surface of the substrate by a PVD method such as sputtering, internal stress is generated in the coated metal film, so there is a limit to increasing the film thickness. In some cases, the film could only be formed with a high vacuum.
このような点を鑑みて、例えば、図4に示すように、多孔質体からなる陽極11と、陽極11と陰極となる基材Bとの間において陽極11側に金属イオンを含む溶液Lが接触するように配置された固体電解質膜13と、陽極11と基材Bとの間に電圧を印加する電源部(図示せず)と、を少なくとも備えた成膜装置が提案されている(例えば特許文献1)。
In view of such a point, for example, as shown in FIG. 4, a solution L containing metal ions on the
ここで、成膜装置のハウジング15には、金属イオンを含む水溶液Lを収容する収容部19が形成されており、収容部19の金属イオンを含む水溶液Lを陽極11を介して固体電解質膜13に供給可能なように、陽極11および固体電解質膜13が配置されている。
Here, the
このような成膜装置を用いて、陽極11と基材Bとの間に電源部で電圧を印加して、固体電解質膜13の内部に含有された金属イオンから金属を基材Bの表面に析出させることにより金属からなる金属被膜Fを、基材Bの表面に成膜することができる。
Using such a film forming apparatus, a voltage is applied between the
しかしながら、特許文献2に記載の技術を用いた場合、固体電解質膜13と基材Bとの間に水素ガスが発生し、この発生した水素ガスが固体電解質膜13と基材Bと間に滞留することがあった。滞留した水素ガスは、図4に示すように、気泡となって、固体電解質膜13とこれに圧着した基材Bと間に存在することになるため、この部分において金属の析出が妨げられることがあった。これにより、金属皮膜Fに未析出部(ボイド)が形成され、均一な金属皮膜が得られないことがあった。
However, when the technique described in Patent Document 2 is used, hydrogen gas is generated between the
本発明は、このような点を鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、固体電解質膜と基材とを接触させた状態で、これらの間に水素ガスが発生することを抑制することができる成膜用金属溶液およびこれを用いた成膜方法を提供することにある。 The present invention has been made in view of the above points, and its object is to suppress the generation of hydrogen gas between the solid electrolyte membrane and the base material in contact with each other. An object of the present invention is to provide a metal film for film formation that can be performed and a film formation method using the same.
発明者らは、鋭意検討を重ねた結果、イオンの状態で金属を溶解する溶媒が水である場合には、水の自己解離により存在する水素イオン(遊離水素)が、陰極である基材の表面に金属が析出する際に還元されて、水素ガスが発生すると考えた。そして、水よりも水素イオン濃度が小さい溶媒を用いることにより、水を溶媒に用いた場合に比べて、水素ガスの発生を抑制することができるとの新たな知見を得た。 As a result of intensive studies, the inventors have found that when the solvent that dissolves the metal in the ionic state is water, the hydrogen ions (free hydrogen) that exist due to the self-dissociation of water are the It was thought that hydrogen gas was generated by reduction when metal was deposited on the surface. And the new knowledge that generation | occurrence | production of hydrogen gas can be suppressed by using the solvent whose hydrogen ion concentration is smaller than water compared with the case where water is used for a solvent was acquired.
本発明は、発明者らのこの新たな知見に基づくものであり、本発明に係る成膜用金属溶液は、陽極と、陰極となる基材との間に固体電解質膜を配置し、該固体電解質膜を基材に接触させると共に、前記陽極と前記基材との間に電圧を印加し、該固体電解質膜の内部に含有された金属イオンから金属を前記基材の表面に析出することにより、前記金属からなる金属皮膜を前記基材の表面に成膜する際に、前記固体電解質膜に前記金属イオンを供給するための成膜用金属溶液であって、前記成膜用金属溶液は、溶媒と、該溶媒中にイオンの状態で溶解した前記金属を含み、前記成膜用金属溶液の水素イオン濃度は、25℃において0〜10−7.85mol/Lの範囲にあることを特徴とする。 The present invention is based on the inventors' new knowledge, and the metal film-forming solution according to the present invention includes a solid electrolyte membrane disposed between an anode and a base material serving as a cathode. By bringing the electrolyte membrane into contact with the base material, applying a voltage between the anode and the base material, and depositing metal on the surface of the base material from the metal ions contained in the solid electrolyte membrane A metal film for film formation for supplying the metal ions to the solid electrolyte film when forming the metal film made of the metal on the surface of the substrate, the metal film for film formation comprising: And a metal ion solution dissolved in an ionic state in the solvent, wherein a hydrogen ion concentration of the film-forming metal solution is in a range of 0 to 10 −7.85 mol / L at 25 ° C. .
本発明によれば、成膜用金属溶液の水素イオン濃度を、上述した範囲内に抑えることにより、固体電解質膜の陽極側から陰極側に移動する水素イオン(プロトン)の総量を低減することができ、固体電解質膜と基材とを接触させた状態で、これらの間に水素ガスが発生することを抑制することができる。 According to the present invention, it is possible to reduce the total amount of hydrogen ions (protons) that move from the anode side to the cathode side of the solid electrolyte membrane by suppressing the hydrogen ion concentration of the metal film for film formation within the above-described range. It is possible to suppress the generation of hydrogen gas between the solid electrolyte membrane and the substrate in contact with each other.
ここで、水素イオン濃度が、0mol/Lとは、成膜用金属溶液に水素イオンを含まないことをいい、水素イオン濃度の上限値である10−7.85mol/L(25℃時)は、水の自己解離における水素イオン濃度10−7mol/Lよりも当然低い値である。そして、発明者らの実験によれば、水素イオン濃度が10−7.85mol/L(25℃時)を超えた場合には、水素ガスの発生が起因して、均一な金属皮膜が成膜されないことがわかった。 Here, the hydrogen ion concentration of 0 mol / L means that the metal film for film formation does not contain hydrogen ions, and the upper limit of the hydrogen ion concentration of 10 −7.85 mol / L (at 25 ° C.) is Naturally, the value is lower than the hydrogen ion concentration of 10 −7 mol / L in the self-dissociation of water. According to the experiments by the inventors, when the hydrogen ion concentration exceeds 10 −7.85 mol / L (at 25 ° C.), a uniform metal film is not formed due to generation of hydrogen gas. I understood it.
なお、本発明では、溶質となる金属塩に水素を含まない場合には、成膜用金属溶液の水素イオン濃度と、溶媒の水素イオン濃度は一致し、成膜に用いられる大半の金属の場合は金属塩に水素を含まないので、成膜用金属溶液の水素イオン濃度は、溶媒の水素イオン濃度に一致する。 In the present invention, when the metal salt as a solute does not contain hydrogen, the hydrogen ion concentration of the metal solution for film formation matches the hydrogen ion concentration of the solvent, and the case of most metals used for film formation Since the metal salt does not contain hydrogen, the hydrogen ion concentration of the metal solution for film formation matches the hydrogen ion concentration of the solvent.
そして、このような溶媒としては、自己解離時に、水よりも水素イオン濃度が低い溶媒であることが好ましく、非プロトン性溶媒、アルコール系溶媒などを挙げることができ、これらの溶媒中に、金属がイオンの状態で存在する(すなわち、金属をイオンの状態で溶解することができる)溶媒である。 Such a solvent is preferably a solvent having a hydrogen ion concentration lower than that of water at the time of self-dissociation, and examples thereof include an aprotic solvent, an alcohol solvent, and the like. Is a solvent that exists in the ionic state (ie, the metal can be dissolved in the ionic state).
好ましい溶媒は、メタノール、エタノール、およびプロパノール(1−プロパノールまたは2−プロパノール)から選択される少なくとも1種からなるアルコール系溶媒、または、該アルコール系溶媒に水が添加された溶媒である。 A preferable solvent is an alcohol solvent composed of at least one selected from methanol, ethanol, and propanol (1-propanol or 2-propanol), or a solvent obtained by adding water to the alcohol solvent.
この態様によれば、メタノール、エタノール、およびプロパノールのそれぞれの水素イオン濃度は、10−8.35mol/L、10−8.55mol/L、10−8.25mol/Lであり、上述した10−7.85mol/L(25℃時)よりも低い濃度であるため、固体電解質膜と基材との間に水素ガスが発生し難い。また、メタノール、エタノール、およびプロパノールを用いた場合には、ニッケル、錫、銅等の金属をイオンの状態で溶解することができる。また、上述したように、水素イオン濃度が10−7.85mol/L(25℃時)以下の条件を満たすのであれば、アルコール系溶媒に、水が含有していてもよい。 According to this embodiment, methanol, ethanol, and each of the hydrogen ion concentration of propanol is 10 -8.35 a mol / L, 10 -8.55 mol / L, 10 -8.25 mol / L, the above-mentioned 10 -7.85 mol / Since the concentration is lower than L (at 25 ° C.), it is difficult for hydrogen gas to be generated between the solid electrolyte membrane and the substrate. Moreover, when methanol, ethanol, and propanol are used, metals such as nickel, tin, and copper can be dissolved in an ionic state. As described above, water may be contained in the alcohol solvent as long as the hydrogen ion concentration satisfies the condition of 10 −7.85 mol / L (at 25 ° C.) or less.
またより好ましい態様として、溶媒に溶解する金属は、水素よりもイオン化傾向が大きい金属である。水素よりもイオン化傾向が大きい金属はその析出時に水素が優先的に発生し易いため、本発明の如く水素イオン濃度を制限することは、特に有効である。これにより、金属の析出時に水素ガスが発生し難くなり、均一な金属皮膜が成膜可能となる。 In a more preferred embodiment, the metal dissolved in the solvent is a metal having a greater ionization tendency than hydrogen. Limiting the hydrogen ion concentration as in the present invention is particularly effective because a metal having a higher ionization tendency than hydrogen is likely to generate hydrogen preferentially during its precipitation. Thereby, it is difficult for hydrogen gas to be generated during the deposition of the metal, and a uniform metal film can be formed.
一方、析出させる金属種の中でも、水素よりも酸化還元電位が高い(イオン化傾向の小さい)金属(例えば、銅、銀など)は水素よりイオン化傾向が小さいために、析出時に金属が優先的に析出しやすいが、成膜条件によっては水素ガスが発生することもあるので、このような金属であっても、水素ガスが発生を抑制する効果を発揮することができる。 On the other hand, among the metal species to be precipitated, metals (for example, copper, silver, etc.) having a higher redox potential than hydrogen (small ionization tendency) have a lower ionization tendency than hydrogen, so that the metal is preferentially deposited at the time of deposition. However, since hydrogen gas may be generated depending on the film formation conditions, even such a metal can exert an effect of suppressing the generation of hydrogen gas.
前記水素よりもイオン化傾向が大きい金属は、ニッケルである。発明者らの実験からも明らかなように、上述した水素イオン濃度の範囲を満足したニッケルイオンを含む溶液を用いることにより、均一なニッケル皮膜を得ることができる。 The metal having a higher ionization tendency than hydrogen is nickel. As is clear from the experiments by the inventors, a uniform nickel film can be obtained by using a solution containing nickel ions that satisfies the above-described hydrogen ion concentration range.
上述した、成膜用金属溶液を用いた金属皮膜の成膜方法を以下に開示する。この成膜方法は、陽極と、陰極となる基材との間に固体電解質膜を配置し、該固体電解質膜を基材に接触させると共に、前記陽極と前記基材との間に電圧を印加し、該固体電解質膜の内部に含有された金属イオンから金属を前記基材の表面に析出することにより、前記金属からなる金属皮膜を前記基材の表面に成膜する。 A method for forming a metal film using the metal film for film formation described above is disclosed below. In this film formation method, a solid electrolyte membrane is disposed between an anode and a base material that becomes a cathode, the solid electrolyte membrane is brought into contact with the base material, and a voltage is applied between the anode and the base material. Then, a metal film made of the metal is formed on the surface of the base material by depositing a metal on the surface of the base material from metal ions contained in the solid electrolyte membrane.
この際に、前記成膜用金属溶液を前記固体電解質膜に接触させることにより、前記固体電解質膜に前記金属イオンを供給しながら、前記陽極と前記基材との間に電圧を印加して、前記基材の表面に前記金属皮膜を成膜する。 At this time, by bringing the metal solution for film formation into contact with the solid electrolyte membrane, while supplying the metal ions to the solid electrolyte membrane, a voltage is applied between the anode and the substrate, The metal film is formed on the surface of the substrate.
この態様によれば、固体電解質膜と基材とを接触させた状態で、金属イオンから金属を析出し、金属皮膜を成膜する際に生じる、特有の課題である水素ガスの発生を抑えつつ、金属皮膜を成膜することができる。 According to this aspect, while the solid electrolyte membrane and the substrate are in contact with each other, the metal is deposited from the metal ions, while suppressing the generation of hydrogen gas, which is a particular problem that occurs when forming the metal film. A metal film can be formed.
本発明によれば、固体電解質膜と基材とを接触させた状態で、これらの間に水素ガスが発生することを抑制することができる。 According to the present invention, it is possible to suppress the generation of hydrogen gas between the solid electrolyte membrane and the substrate in contact with each other.
以下に本発明の実施形態に係る金属皮膜の成膜方法を好適に実施することができる成膜装置について説明する。 Hereinafter, a film forming apparatus capable of suitably performing the metal film forming method according to the embodiment of the present invention will be described.
図1は、本発明の本実施形態に係る金属皮膜の成膜装置1Aの模式的概念図である。図2は、図1に示す金属皮膜Fの成膜装置1Aによる成膜方法を説明するための模式的断面図である。 FIG. 1 is a schematic conceptual diagram of a metal film deposition apparatus 1A according to this embodiment of the present invention. FIG. 2 is a schematic cross-sectional view for explaining a film forming method by the film forming apparatus 1A for the metal film F shown in FIG.
図1に示すように、本発明に係る成膜装置1Aは、金属イオンから金属を析出させて、該析出した金属からなる金属皮膜を基材Bの表面に成膜する装置である。ここで、基材Bは、アルミニウムなどの金属材料からなる基材、または樹脂またはシリコン基材の処理表面に金属下地層が形成されている基材を用いる。 As shown in FIG. 1, a film forming apparatus 1 </ b> A according to the present invention is an apparatus that deposits a metal from metal ions and forms a metal film made of the deposited metal on the surface of a base material B. Here, the base material B uses a base material made of a metal material such as aluminum, or a base material on which a metal underlayer is formed on the treated surface of a resin or silicon base material.
成膜装置1Aは、金属製の陽極11と、陽極11と陰極となる基材Bとの間において陽極11の表面に配置された固体電解質膜13と、陽極11と陰極となる基材Bとの間に電圧を印加する電源部14と、を少なくとも備えている。
The film forming apparatus 1A includes a
陽極11は、成膜用の金属イオンを含む溶液(以下、金属溶液という)Lを陽極11に供給するハウジング(金属イオン供給部)15内に収容されている。ハウジング15には上下方向に貫通した貫通部が形成され、その内部空間に陽極11が収容されている。固体電解質膜13には、陽極11の下面を覆うように凹部が形成されており、固体電解質膜13は、陽極11の下部を収容した状態で、ハウジング15の貫通部の下側開口を覆っている。
The
さらに、ハウジング15の貫通部において、陽極11の上面に接触し、陽極11を加圧するための接触加圧部(金属パンチ)19が配置されている。接触加圧部19は、陽極11を介して固体電解質膜13で基材Bの表面を加圧するものである。具体的には、接触加圧部19は、基材Bの表面のうち金属皮膜Fが成膜される成膜領域を均一に加圧するように、成膜領域に対応した陽極11の表面を加圧する。
Furthermore, a contact pressurizing part (metal punch) 19 for pressing the
本実施形態では、陽極11の下面が基材Bの成膜領域に一致した大きさとなっており、陽極11の上面と下面は同じ大きさである。したがって、後述する加圧手段16の推力により接触加圧部19で陽極11の上面(全面)を加圧すると、陽極11の下面(全面)で固体電解質膜13を介して基材Bの成膜領域(全領域)を均一に加圧することができる。
In this embodiment, the lower surface of the
さらに、ハウジング15の一方側には、金属溶液Lが収納された溶液タンク17が、供給管17aを介して接続されており、その他方側には、使用後の廃液を回収する廃液タンク18が、廃液管18aを介して接続されている。
Furthermore, a
ここで、供給管17aは、ハウジング15の、金属溶液Lの供給流路15aに接続されており、廃液管18aは、ハウジング15の、金属溶液Lの排出流路15bに接続されている。図2に示すように、ハウジング15の供給流路15aと排出流路15bとを繋ぐ流路には、多孔質からなる陽極11が配置されている。
Here, the
このように構成することにより、溶液タンク17に収納された金属溶液Lが、供給管17aを介してハウジング15の内部に供給される。ハウジング15内では、金属溶液Lが供給流路15aを通過し、供給流路15aから陽極11内に金属溶液Lが流れる。陽極11内を通過した金属溶液Lは、排出流路15bを流れ、廃液管18aを介して廃液タンク18に送ることができる。
With this configuration, the metal solution L stored in the
さらに、接触加圧部19には、加圧手段16が接続されている。加圧手段16は、陽極11を基材Bに向かって移動させることにより、固体電解質膜13を基材Bの成膜領域Eに加圧するものである。例えば、加圧手段16としては、油圧式または空気式のシリンダなどを挙げることができる。成膜装置1Aは、基材Bを固定し、陽極11に対して基材Bのアライメントを調整する基台21を備えている。
Further, the pressurizing means 16 is connected to the
陽極11は、金属溶液Lが透過し、かつ固体電解質膜に金属イオンを供給する、多孔質体からなる。このような多孔質体としては、(1)金属溶液Lに対して耐食性を有し、(2)陽極として作用可能な導電率を有し、(3)金属溶液Lを透過することができ、(4)後述する接触加圧部19を介して加圧手段16により加圧することができるものであれば、特に限定されるものではなく、たとえば、発泡チタンなど、めっき金属イオンよりもイオン化傾向が低く(あるいは、電極電位が高く)、開気孔の連続気泡体からなる発泡金属体などを挙げることができる。
The
また、上述した(3)の条件を満たすものであれば、特に限定されるものではないが、発泡金属体を用いる場合には、気孔率50〜95体積%程度、孔径50〜600μm程度、厚さ0.1〜50mm程度のものが好ましい。 Moreover, as long as the above condition (3) is satisfied, there is no particular limitation. However, when a metal foam body is used, the porosity is about 50 to 95% by volume, the pore diameter is about 50 to 600 μm, and the thickness. The thing of about 0.1-50 mm is preferable.
固体電解質膜13は、上述した金属溶液Lに接触させることにより、金属イオンを内部に含浸することができ、電圧を印加したときに基材Bの表面において金属イオン由来の金属が析出するとこができるのであれば、特に限定されるものではない。固体電解質膜の材質としては、たとえばデュポン社製のナフィオン(登録商標)などのフッ素系樹脂、炭化水素系樹脂、ポリアミック酸樹脂、旭硝子社製のセレミオン(CMV、CMD,CMFシリーズ)などのイオン交換機能を有した樹脂を挙げることができる。
The
ここで本実施形態では、金属皮膜Fを成膜する装置として陽極11を多孔質体としたが、後述するように、固体電解質膜13に金属イオンを供給することができるのであれば、陽極と固体電解質膜との間に間隙を設け、この間に金属溶液を流してもよい。
Here, in the present embodiment, the
このような成膜装置1Aを用いた金属皮膜の成膜方法を以下に説明する。まず、図1および2に示すように、まず、基台21に基材Bを配置し、陽極11に対して基材Bのアライメントを調整し基材Bの温度調整を行う。次に、多孔質体からなる陽極11の表面に固体電解質膜13を配置し、固体電解質膜13を基材Bに接触させる。
A metal film forming method using such a film forming apparatus 1A will be described below. First, as shown in FIGS. 1 and 2, first, the base material B is arranged on the
次に、加圧手段16を用いて、陽極11を基材Bに向かって移動させることにより、固体電解質膜13を基材Bの成膜領域Eに加圧する。これにより、陽極11を介して固体電解質膜13を加圧することができるので、固体電解質膜13を成膜領域の基材Bの表面に均一に倣わせることができる。すなわち、接触加圧部19により加圧された陽極11をバックアップ材として固体電解質膜13を基材に接触(加圧)しながら、より均一な膜厚の金属皮膜Fを成膜することができる。
Next, the
次に、電源部14を用いて、陽極11と陰極となる基材Bとの間に電圧を印加し、固体電解質膜13の内部に含有された金属イオンから金属を基材Bの表面に析出させる。陽極11は、金属製の接触加圧部19と直接的に接触しているので、接触加圧部19と導通している。したがって、電源部14により、陽極11と基材Bとの間に電圧を印加することができる。
Next, a voltage is applied between the
この際、陽極11内部に、金属溶液Lを流しながら金属皮膜の成膜を行う。このような結果、多孔質体からなる陽極11を用いることにより、金属溶液Lをその内部に透過させることができ、金属溶液Lを金属イオンとともに、固体電解質膜13に供給することができる。これにより、成膜時において、多孔質体である陽極11内部に、金属溶液Lを随時安定して供給することができる。供給された金属溶液Lは、陽極11内部を透過して、陽極11に隣接する固体電解質膜13に接触し、固体電解質膜13内に金属イオンが含浸される。
At this time, the metal film is formed while flowing the metal solution L inside the
そして、陽極11と、陰極となる基材Bと、の間に電圧を印加することにより、固体電解質膜13内の金属イオンは陽極11側から基材B側に移動し、固体電解質膜13の内部に含有された金属イオンから金属が基材Bの表面に析出される。これにより、金属皮膜Fを基材Bの表面に成膜することができる。
And by applying a voltage between the
これにより、固体電解質膜13で基材Bの成膜領域を均一に加圧することができるので、固体電解質膜13を基材Bの成膜領域に均一に倣わせた状態で金属皮膜を基材に成膜することができる。このような結果、バラつきの少ない均一な膜厚かつ均一な金属皮膜を基材の成膜領域となる表面に成膜することができる。
Thereby, since the
ところで、金属溶液Lは、溶媒と、溶媒中にイオンの状態で溶解した金属(金属イオン)を含むものである。本実施形態では、金属溶液の水素イオン濃度は、25℃において0〜10−7.85mol/Lの範囲にある。 By the way, the metal solution L contains a solvent and a metal (metal ion) dissolved in an ionic state in the solvent. In the present embodiment, the hydrogen ion concentration of the metal solution is in the range of 0 to 10 −7.85 mol / L at 25 ° C.
金属溶液Lの水素イオン濃度を、上述した範囲内に抑えることにより、固体電解質膜13の陽極側から陰極側に移動する水素イオン(プロトン)の総量を低減することができ、固体電解質膜13と基材Bとを接触させた状態で、これらの間に水素ガスが発生することを抑制することができる。
By suppressing the hydrogen ion concentration of the metal solution L within the above-described range, the total amount of hydrogen ions (protons) moving from the anode side to the cathode side of the
ここで、水素イオン濃度が0mol/Lとなる溶媒は、溶媒に水素イオンを含まないものである。このような溶媒としては、テトラヒドロフラン(THF)、アセトニトリル、N,Nジメチルホルムアミド(DMF)、ジメチルスルホキシド等の極性非プロトン性溶媒を挙げることができ、これら極性を有するため、後述するニッケル、錫、銅などの金属をイオンの状態で含むことができる。 Here, the solvent having a hydrogen ion concentration of 0 mol / L is one that does not contain hydrogen ions. Examples of such a solvent include polar aprotic solvents such as tetrahydrofuran (THF), acetonitrile, N, N dimethylformamide (DMF), dimethyl sulfoxide, and the like. Metals such as copper can be included in an ionic state.
さらに、金属溶液の水素イオン濃度が、10−7.85mol/L(25℃時)以下を満たす溶媒に、アルコール系溶媒を挙げることができる。また、上述した水素イオン濃度の条件を満たすものであれば、アルコール系溶媒に水が添加された溶媒であってもよい。 Furthermore, an alcohol solvent can be mentioned as a solvent in which the hydrogen ion concentration of the metal solution satisfies 10 −7.85 mol / L (at 25 ° C.) or less. In addition, a solvent in which water is added to an alcohol solvent may be used as long as it satisfies the above-described conditions of hydrogen ion concentration.
そして、このようなアルコール系溶媒のうち、ニッケル、錫、銅などの金属をイオンの状態で含むことができる溶媒としては、メタノール、エタノール、プロパノール(1−プロパノールまたは2−プロパノール)、または、これらの少なくとも2種を混合した溶媒を挙げることができる。また、これらのアルコール系溶媒に、わずかな水が添加されていた場合であっても、水分子とアルコール分子が一体となり、溶媒中の遊離水素の発生を抑えることができる。 Of these alcohol solvents, methanol, ethanol, propanol (1-propanol or 2-propanol), or these can be used as a solvent that can contain metals such as nickel, tin, and copper in an ionic state. The solvent which mixed at least 2 types of these can be mentioned. Moreover, even when a slight amount of water is added to these alcohol solvents, water molecules and alcohol molecules are integrated, and generation of free hydrogen in the solvent can be suppressed.
なお、ニッケル、錫、または銅を金属溶液に含有させた場合の金属溶液の水素イオン濃度は、アルコール系溶媒(場合によってはさらに水を含む溶媒)の水素イオン濃度と略一致する。 Note that the hydrogen ion concentration of the metal solution in the case where nickel, tin, or copper is contained in the metal solution is substantially the same as the hydrogen ion concentration of the alcohol-based solvent (a solvent further containing water in some cases).
また、溶媒にイオンの状態で溶解する金属は、電離可能な金属塩の状態で溶媒に投入され、溶媒中にイオンの状態で溶解するものであり、その金属として、コバルト、鉄、ニッケル、錫、銅、銀等の金属を挙げることができる。特に、これらの金属の中でも、水素よりもイオン化傾向が大きい金属である、ニッケル、錫などの金属が好ましい。 In addition, the metal that dissolves in the solvent in an ionic state is charged into the solvent in the form of an ionizable metal salt and dissolves in the solvent in an ionic state. As the metal, cobalt, iron, nickel, tin And metals such as copper and silver. In particular, among these metals, metals such as nickel and tin, which are metals having a higher ionization tendency than hydrogen, are preferable.
このような金属を用いることにより、陽極11と基材Bとの間に電圧を印加した際には、水素よりもイオン化傾向が大きい金属を、基材Bの表面に析出させることができる。この結果、金属皮膜Fを成膜する際に、水素ガスは発生し難く、均一な金属皮膜Fを得ることができる。
By using such a metal, when a voltage is applied between the
本発明を以下の実施例により説明する。
[実施例1]
塩化ニッケル(金属塩)をメタノール(溶媒)中に溶解させ、0.1Mニッケル溶液(金属溶液)を作製した。金基材上に固体電解質(デュポン社製:ナフィオンN117)及び多孔質ニッケル板を重ね合せた後、0.1Mニッケル溶液を多孔質ニッケル板上に滴下した。その後、多孔質ニッケルと銅基板を電気接続し、2.4Vの一定電位を60秒印可し、銅基材上にニッケルを成膜した。
The invention is illustrated by the following examples.
[Example 1]
Nickel chloride (metal salt) was dissolved in methanol (solvent) to prepare a 0.1M nickel solution (metal solution). After superposing a solid electrolyte (manufactured by DuPont: Nafion N117) and a porous nickel plate on a gold substrate, a 0.1 M nickel solution was dropped onto the porous nickel plate. Thereafter, the porous nickel and the copper substrate were electrically connected, and a constant potential of 2.4 V was applied for 60 seconds to form a nickel film on the copper base material.
[実施例2]
実施例1と同じように、ニッケル皮膜を成膜した。実施例1と相違する点は、溶媒をエタノールに変更した点である。
[Example 2]
A nickel film was formed in the same manner as in Example 1. The difference from Example 1 is that the solvent is changed to ethanol.
[実施例3]
実施例1と同じように、ニッケル皮膜を成膜した。実施例1と相違する点は、溶媒をプロパノール(1−プロパノール)に変更した点である。
[Example 3]
A nickel film was formed in the same manner as in Example 1. The difference from Example 1 is that the solvent is changed to propanol (1-propanol).
[実施例4]
実施例1と同じように、ニッケル皮膜を成膜した。実施例1と相違する点は、溶媒をメタノールと水との混合液体(メタノール90体積%:水10体積%)に変更した点である。
[Example 4]
A nickel film was formed in the same manner as in Example 1. The difference from Example 1 is that the solvent is changed to a mixed liquid of methanol and water (methanol 90 vol%: water 10 vol%).
[比較例1]
実施例1と同じように、ニッケル皮膜を成膜した。実施例1と相違する点は、溶媒をメタノールと水との混合液体(メタノール85体積%:水15体積%)に変更した点である。
[Comparative Example 1]
A nickel film was formed in the same manner as in Example 1. The difference from Example 1 is that the solvent is changed to a mixed liquid of methanol and water (85% by volume of methanol: 15% by volume of water).
[比較例2]
実施例1と同じように、ニッケル皮膜を成膜した。実施例1と相違する点は、溶媒を水に変更した点である。
[Comparative Example 2]
A nickel film was formed in the same manner as in Example 1. The difference from Example 1 is that the solvent is changed to water.
[比較例3]
実施例1と同じように、ニッケル皮膜を成膜した。実施例1と相違する点は、溶媒をブタノール(1−ブタノール)に変更した点である。
[Comparative Example 3]
A nickel film was formed in the same manner as in Example 1. The difference from Example 1 is that the solvent is changed to butanol (1-butanol).
<皮膜の目視観察>
実施例1〜4および比較例1〜3のニッケル皮膜を目視観察した。この結果を表1に示す。また、表1には、実施例1〜4および比較例1〜3において、25℃時における成膜用金属溶液(溶媒)の水素イオン濃度を算出した値(理論値)も合わせて示した。
<Visual observation of film>
The nickel films of Examples 1 to 4 and Comparative Examples 1 to 3 were visually observed. The results are shown in Table 1. Table 1 also shows values (theoretical values) obtained by calculating the hydrogen ion concentration of the film forming metal solution (solvent) at 25 ° C. in Examples 1 to 4 and Comparative Examples 1 to 3.
(結果)
実施例1〜4の場合には、得られたニッケル皮膜を目視確認したところ、ニッケルの析出が確認されると同時にその色調は一様であり、均一なニッケル皮膜が得られたことを確認した。なお、図3(a)は、実施例2に係るニッケル皮膜の写真である。
(result)
In the case of Examples 1 to 4, when the obtained nickel film was visually confirmed, it was confirmed that nickel precipitation was confirmed and the color tone was uniform and a uniform nickel film was obtained. . FIG. 3A is a photograph of the nickel film according to Example 2.
一方、比較例1の場合には、得られたニッケル皮膜を目視で確認したところ、ニッケルの析出が確認は確認されたが、その色調はまだら模様を呈しておりボイドの存在が確認された。 On the other hand, in the case of Comparative Example 1, when the obtained nickel film was visually confirmed, precipitation of nickel was confirmed, but the color tone showed a mottled pattern, and the presence of voids was confirmed.
比較例2の場合には、得られたニッケル皮膜を目視で確認したところ、その色調はまだら模様を呈しておりボイドの存在が確認された。なお、そのまだら模様は比較例1と比べ顕著であることが確認された(図3(b)参照)。 In the case of Comparative Example 2, when the obtained nickel film was visually confirmed, the color tone showed a mottled pattern, and the presence of voids was confirmed. In addition, it was confirmed that the mottled pattern is remarkable compared with the comparative example 1 (refer FIG.3 (b)).
比較例1および2の如き結果となった理由は、実施例1〜4に比べて、遊離水素が多いため、陽極と基材との間に電圧を印加した際に、水素イオン(プロトン)が還元され、固体電解質膜と基材との間に、水素ガスが発生したからであると考えられる。これにより、水素ガスが固体電解質膜と基材との間に溜まり、ニッケルの析出を阻害し、ボイド(未析出部)が発生し、まだら模様の皮膜になったものと考えられる。 The reason for the results as in Comparative Examples 1 and 2 is that there is more free hydrogen than in Examples 1 to 4, so that when a voltage is applied between the anode and the substrate, hydrogen ions (protons) are generated. This is probably because hydrogen gas was generated between the solid electrolyte membrane and the substrate. As a result, hydrogen gas accumulates between the solid electrolyte membrane and the base material, which inhibits nickel deposition, generates voids (undeposited portions), and is considered to be a mottled film.
比較例3の場合には、溶媒中に塩化ニッケルが溶解せず、ニッケル皮膜の析出は確認されなかった。これは、溶媒を構成する分子の炭素量が増えるに従って、分子の極性が低下し、ニッケルがイオンの状態で溶けなくなってしまったからであると考えられる。 In the case of Comparative Example 3, nickel chloride was not dissolved in the solvent, and deposition of a nickel film was not confirmed. This is presumably because the polarity of the molecules decreased as the amount of carbon in the molecules constituting the solvent increased, and nickel became insoluble in the ionic state.
以上、本発明の実施形態について詳述したが、本発明は、前記の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の精神を逸脱しない範囲で、種々の設計変更を行うことができるものである。 Although the embodiments of the present invention have been described in detail above, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various designs can be made without departing from the spirit of the present invention described in the claims. It can be changed.
本実施形態では、陽極に多孔質体からなる陽極を用いたが、固体電解質膜にニッケルイオンを好適に供給することができるのであれば、陽極に多孔質体を用いなくてもよく、たとえば、陽極と固体電解質膜との間にニッケル溶液を供給してもよい。 In the present embodiment, the anode made of a porous body is used as the anode. However, as long as nickel ions can be suitably supplied to the solid electrolyte membrane, the porous body need not be used for the anode. A nickel solution may be supplied between the anode and the solid electrolyte membrane.
1A:成膜装置、11:陽極、13:固体電解質膜、14:電源部、15:ハウジング(金属イオン供給部)、15a:供給流路、15b:排出流路、16:加圧手段、17溶液タンク、17a:供給管、18:廃液タンク、18a:廃液管、19:接触加圧部、21:基台、B:基材(陰極)、E:成膜領域、L:ニッケル溶液 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1A: Film-forming apparatus, 11: Anode, 13: Solid electrolyte membrane, 14: Power supply part, 15: Housing (metal ion supply part), 15a: Supply flow path, 15b: Discharge flow path, 16: Pressurization means, 17 Solution tank, 17a: supply pipe, 18: waste liquid tank, 18a: waste liquid pipe, 19: contact pressure unit, 21: base, B: substrate (cathode), E: film formation region, L: nickel solution
Claims (1)
前記金属皮膜の成膜方法は、
前記陽極に多孔質体からなる陽極を用い、前記陽極に前記成膜用金属溶液を流しつつ、前記陽極に流れている前記成膜用金属溶液を前記固体電解質膜に接触させながら、前記金属皮膜を成膜する、または、
前記陽極と前記固体電解質膜との間に、間隙を設け、前記間隙に前記成膜用金属溶液を流しつつ、前記間隙に流れている前記成膜用金属溶液を前記固体電解質膜に接触させながら、前記金属皮膜を成膜するものであり、
前記成膜用金属溶液は、溶媒と、該溶媒中にイオンの状態で溶解した前記金属を含み、
前記金属は、ニッケルであり、
前記溶媒は、メタノール、エタノール、およびプロパノールから選択される少なくとも1種からなるアルコール系溶媒、または、該アルコール系溶媒に水が添加された溶媒であり、
前記成膜用金属溶液の水素イオン濃度は、25℃において0〜10−7.85mol/Lの範囲にあることを特徴とする金属皮膜の成膜方法。 A solid electrolyte membrane is disposed between an anode and a base material serving as a cathode, the solid electrolyte membrane is brought into contact with the base material, and a voltage is applied between the anode and the base material, and the solid electrolyte membrane is provided. When the metal film made of the metal is deposited on the surface of the base material by precipitating the metal from the metal ions contained in the base material, the metal ion is applied to the solid electrolyte membrane. A method for forming a metal film using a metal film for film formation to supply ,
The method for forming the metal film is as follows:
Using the anode made of a porous material as the anode, flowing the film-forming metal solution through the anode, and bringing the film-forming metal solution flowing through the anode into contact with the solid electrolyte film, Or film
A gap is provided between the anode and the solid electrolyte membrane, and the film-forming metal solution flowing in the gap is brought into contact with the solid electrolyte film while the film-forming metal solution is allowed to flow through the gap. , To form the metal film,
The film forming metal solution includes a solvent and the metal dissolved in an ionic state in the solvent,
The metal is nickel;
The solvent is an alcohol solvent composed of at least one selected from methanol, ethanol, and propanol, or a solvent obtained by adding water to the alcohol solvent,
The hydrogen ion concentration of the film-forming metal solution, method of forming the metal coating, characterized in range near Rukoto of 0~10 -7.85 mol / L at 25 ° C..
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