JP6058565B2 - 内部構造イメージング装置及び内部構造イメージング方法 - Google Patents
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Description
ミュオンとは、宇宙から地球に入射する一次宇宙線が地球の大気と反応する事により生じる二次宇宙線の一種である。ミュオンは、正または負の電荷を持ち、平均3〜4GeVの高いエネルギーを持つため、高い透過力を有する。
図1に示す本実施形態に係る内部構造イメージング装置10(以下、イメージング装置10とする)は、構造物11に外設された第1軌跡検出器12から構造物11に入射するミュオンの入射軌跡及び第1軌跡検出器12における通過時間を入力する第1入力部13と、構造物11に外設されるとともに第1軌跡検出器12に対向して設けられた第2軌跡検出器14から構造物11を通過した後のミュオンの出射軌跡及び第2軌跡検出器14における通過時間を入力する第2入力部15と、入射軌跡から想定される予想軌跡を計算して、この予想軌跡と出射軌跡とからミュオンの軌跡変位を計算する変位計算部17と、ミュオンの第1軌跡検出器12における通過時間と第2軌跡検出器14における通過時間との時間差に基づいてミュオンの平均エネルギーを計算する平均エネルギー計算部18と、ミュオンのそれぞれに対して計算された軌跡変位と平均エネルギーとの積を構造物11の内部に設定された投影面22に集積するデータ集積部19と、投影面22に集積された軌跡変位と平均エネルギーとの積を用いて物質の存在位置を判別して構造物11の内部構造物21を画像化する画像化部20と、を備える。
なお、図1では、上空から降り注ぐミュオンのうち2つのミュオンμi、μkの飛行軌跡を例示している。
θ:天頂角
Iv:天頂角0度でのミュオン強度
Jθ:天頂角θでのミュオン強度
第1入力部13は、入力した入射軌跡及び第1軌跡検出器12における通過時間を同時計数部16に出力する。
第2入力部15は、入力した出射軌跡及び第2軌跡検出器14における通過時間を同時計数部16に出力する。
投影面22とは、図2に示すように、内部構造物21が存在すると想定される面に設定された、内部構造物21の断層面をイメージングするための解析上の設定面である。この投影面22は、任意の面に設定可能である。
変位計算部17は、同時計数部16からミュオンμiの入射軌跡及び出射軌跡を入力する。そして、入射軌跡を延長してミュオンの偏向が無い場合に想定される予想軌跡(図中点線)を計算する。
Li:ミュオンμiの軌跡変位[m]
b:投影面と第2検出器との距離[m]
θi:ミュオンμiにおける予想軌跡と出射軌跡との角度差(散乱角)
v=D/ΔT・・・式(4)
Ei=1/2mv2=1/2m(D/ΔT)2・・・式(5)
t1:ミュオンμiの第1軌跡検出器における通過時間[s]
t2:ミュオンμiの第2軌跡検出器における通過時間[s]
ΔT:時間差[s]
D:検出器間の距離[m]
Ei:ミュオンμiの平均エネルギー[J]
m:ミュオンの質量[kg]
v:ミュオンμiの飛行速度[m/s]
第2入力部15は、第2軌跡検出器14からミュオンの出射軌跡及び第2軌跡検出器14における通過時間を入力する(S11)。
11 構造物
12 第1軌跡検出器
13 第1入力部
14 第2軌跡検出器
15 第2入力部
16 同時計数部
17 変位計算部
18 平均エネルギー計算部
19 データ集積部
20 画像化部
21 内部構造物
22 投影面
Claims (4)
- 構造物に外設された第1軌跡検出器から前記構造物に入射するミュオンの入射軌跡及び前記第1軌跡検出器における通過時間を入力する第1入力部と、
前記構造物に外設されるとともに前記第1軌跡検出器に対向して設けられた第2軌跡検出器から前記構造物を通過した後の前記ミュオンの出射軌跡及び前記第2軌跡検出器における通過時間を入力する第2入力部と、
前記入射軌跡から想定される予想軌跡を計算して、この予想軌跡と前記出射軌跡とから前記ミュオンの軌跡変位を計算する変位計算部と、
前記ミュオンの前記第1軌跡検出器における通過時間と前記第2軌跡検出器における通過時間との時間差に基づいて前記ミュオンの平均エネルギーを計算する平均エネルギー計算部と、
前記ミュオンのそれぞれに対して計算された前記軌跡変位と前記平均エネルギーとの積を前記構造物の内部に設定された投影面に集積するデータ集積部と、
前記投影面に集積された前記軌跡変位と前記平均エネルギーとの積を用いて物質の存在位置を判別して前記構造物の内部構造を画像化する画像化部と、を備えることを特徴とする内部構造イメージング装置。 - 前記画像化部は、前記軌跡変位と前記平均エネルギーとの積を用いて物質の存在位置を判別するとともに、この積と物質の放射長との関係に基づいて物質の原子番号を判別して前記構造物の前記内部構造を画像化することを特徴とする請求項1に記載の内部構造イメージング装置。
- 一定時間内に記第1軌跡検出器及び前記第2軌跡検出器のそれぞれで検出された前記入射軌跡と前記出射軌跡とを同一の前記ミュオンによる軌跡として選別する同時計数部をさらに備えることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の内部構造イメージング装置。
- 構造物に外設された第1軌跡検出器から前記構造物に入射するミュオンの入射軌跡及び前記第1軌跡検出器における通過時間を入力するステップと、
前記構造物に外設されるとともに前記第1軌跡検出器に対向して設けられた第2軌跡検出器から前記構造物を通過した後の前記ミュオンの出射軌跡及び前記第2軌跡検出器における通過時間を入力するステップと、
前記入射軌跡から想定される予想軌跡を計算して、この予想軌跡と前記出射軌跡とから前記ミュオンの軌跡変位を計算するステップと、
前記ミュオンの前記第1軌跡検出器における通過時間と前記第2軌跡検出器における通過時間との時間差に基づいて前記ミュオンの平均エネルギーを計算するステップと、
前記ミュオンのそれぞれに対して計算された前記軌跡変位と前記平均エネルギーとの積を前記構造物の内部に設定された投影面に集積するステップと、
前記投影面に集積された前記軌跡変位と前記平均エネルギーとの積を用いて物質の存在位置を判別して前記構造物の内部構造を画像化するステップと、を含むことを特徴とする内部構造イメージング方法。
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