JP6041858B2 - Method and apparatus for detecting display unevenness of display device - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title description 85
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims description 64
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 55
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 21
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 15
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 9
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims description 3
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 102
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 40
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 21
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 9
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 6
- 238000003705 background correction Methods 0.000 description 5
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
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- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
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- G09G3/34—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
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- H—ELECTRICITY
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- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N17/00—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
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- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/66—Transforming electric information into light information
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- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2320/00—Control of display operating conditions
- G09G2320/02—Improving the quality of display appearance
- G09G2320/0233—Improving the luminance or brightness uniformity across the screen
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- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2320/00—Control of display operating conditions
- G09G2320/02—Improving the quality of display appearance
- G09G2320/0285—Improving the quality of display appearance using tables for spatial correction of display data
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- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2320/00—Control of display operating conditions
- G09G2320/02—Improving the quality of display appearance
- G09G2320/029—Improving the quality of display appearance by monitoring one or more pixels in the display panel, e.g. by monitoring a fixed reference pixel
- G09G2320/0295—Improving the quality of display appearance by monitoring one or more pixels in the display panel, e.g. by monitoring a fixed reference pixel by monitoring each display pixel
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- G—PHYSICS
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- G09G2320/00—Control of display operating conditions
- G09G2320/06—Adjustment of display parameters
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-
- G—PHYSICS
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- G09G2360/145—Detecting light within display terminals, e.g. using a single or a plurality of photosensors the light originating from the display screen
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Description
本発明は、表示デバイスの表示むらを検出する方法と装置に関する。 The present invention relates to a method and apparatus for detecting display unevenness of a display device.
表示デバイスが表示した画像を撮影し、撮影した画像データと表示用の画像データとの比較により表示デバイスの表示むらを検出することは、それを基に割り出した補正内容で表示用の画像データを補正することにより表示むらを解消する上で有用である。関連する技術は、日本国特許庁公開特許公報特開2010−57149号公報や同特開2005−150349号公報に開示されている。 Taking an image displayed by the display device and detecting the display unevenness of the display device by comparing the captured image data with the image data for display means that the image data for display is obtained with the correction content determined based on the detected display data. It is useful to eliminate display unevenness by correcting the correction. Related techniques are disclosed in Japanese Patent Office Published Patent Publication Nos. 2010-57149 and 2005-150349.
表示デバイスの表示むらを検出する上で、本発明者らは、検出精度のさらなる向上を図るべく、表示デバイスが表示した画像を撮影して得た画像データの具体的な解析方法を検討した。その過程で、画像データの具体的な解析の仕方が表示むらの検出精度に影響を及ぼすことが判明した。本発明は係る問題に鑑みてなされたもので、本発明の目的は、表示デバイスの表示むらをより高い精度で検出する方法と装置を提供することにある。 In detecting the display unevenness of the display device, the present inventors examined a specific analysis method of image data obtained by photographing an image displayed by the display device in order to further improve the detection accuracy. In the process, it was found that the specific analysis method of the image data affects the detection accuracy of display unevenness. The present invention has been made in view of such problems, and an object of the present invention is to provide a method and apparatus for detecting display unevenness of a display device with higher accuracy.
本発明の側面は、
表示デバイスが表示した画像を撮影して得た出力画像データに基づいて、前記表示デバイスの各画素の画素値を取得する画素値取得ステップと、
前記表示デバイスの各画素の微分画素値を取得する微分ステップと、
前記表示デバイスの前記微分画素値が所定のむら判定閾値を超える画素の分布に基づいて、前記表示デバイスにおける前記表示むらの発生エリアを検出するむらエリア検出ステップと、
前記発生エリアに属する各画素の前記画素値又は前記微分画素値に基づいて、前記発生エリアの表示むら強度値を取得する強度値取得ステップと、
前記強度値が所定のむら強度閾値を超える前記発生エリアを、前記表示むらとして検出する表示むら検出ステップと、
を含む表示デバイスの表示むら検出方法にある。Aspects of the present invention include
Based on output image data obtained by photographing an image displayed by the display device, a pixel value acquisition step of acquiring a pixel value of each pixel of the display device;
A differentiation step of obtaining a differential pixel value of each pixel of the display device;
An uneven area detecting step for detecting an area where the display unevenness occurs in the display device based on a distribution of pixels in which the differential pixel value of the display device exceeds a predetermined unevenness determination threshold;
An intensity value acquisition step of acquiring a display unevenness intensity value of the generation area based on the pixel value or the differential pixel value of each pixel belonging to the generation area;
Display unevenness detecting step for detecting the occurrence area where the intensity value exceeds a predetermined unevenness intensity threshold as the display unevenness; and
The present invention relates to a method for detecting display unevenness of a display device including:
また、本発明の他の側面は、
表示デバイスが表示した画像を撮影して得た出力画像データの各画素値を前記表示デバイスの各画素に割り当てて、前記表示デバイスの各画素の画素値を取得する画素値取得手段と、
前記表示デバイスの各画素の微分画素値を取得する微分手段と、
前記表示デバイスの各画素の前記微分画素値を所定のむら判定閾値と比較する画素値比較手段と、
前記微分画素値が前記むら判定閾値を超えた画素の分布に基づいて、前記表示デバイスにおける前記表示むらの発生エリアを検出するむらエリア検出手段と、
前記発生エリアに属する各画素の前記画素値又は前記微分画素値に基づいて、前記発生エリアの表示むら強度値を取得する強度値取得手段と、
前記強度値を所定のむら強度閾値と比較する強度値比較手段と、
前記強度値が所定のむら強度閾値を超えた前記発生エリアを、前記表示むらとして検出する表示むら検出手段と、
を備える表示デバイスの表示むら検出装置にある。Another aspect of the present invention is:
A pixel value obtaining unit that assigns each pixel value of output image data obtained by photographing an image displayed by the display device to each pixel of the display device, and obtains a pixel value of each pixel of the display device;
Differentiating means for obtaining a differential pixel value of each pixel of the display device;
Pixel value comparison means for comparing the differential pixel value of each pixel of the display device with a predetermined unevenness determination threshold;
An uneven area detecting unit that detects an occurrence area of the display unevenness in the display device based on a distribution of pixels in which the differential pixel value exceeds the unevenness determination threshold;
Intensity value acquisition means for acquiring a display unevenness intensity value of the generation area based on the pixel value or the differential pixel value of each pixel belonging to the generation area;
Intensity value comparing means for comparing the intensity value with a predetermined uneven intensity threshold;
Display unevenness detecting means for detecting the occurrence area where the intensity value exceeds a predetermined unevenness intensity threshold as the display unevenness;
The display unevenness detecting device of the display device comprising:
本発明の側面によれば、微分画素値がむら判定閾値を超える画素の分布から、表示デバイスのむらの発生エリアをまず検出する。そして、各発生エリアの画素値又は微分画素値から取得した各発生エリアの表示むら強度値がむら強度閾値を超える発生エリアを、最終的に表示むらとして検出する。このため、まずは、表示むらの候補となるエリアが、表示むらの発生エリアとして一次的に検出される。そして、検出された発生エリアを表示むらの強度値の高さで絞り込むことで、視覚上むらとして認識される表示むらが最終的に検出される。よって、微分画素値の分布から単純に表示むらを検出するのに比べて、表示デバイスの表示むらをより高い精度で検出することができる。 According to the aspect of the present invention, the unevenness generation area of the display device is first detected from the distribution of pixels in which the differential pixel value exceeds the unevenness determination threshold. Then, the occurrence area in which the display unevenness intensity value of each occurrence area acquired from the pixel value or the differential pixel value of each occurrence area exceeds the unevenness intensity threshold is finally detected as display unevenness. For this reason, first, an area that is a candidate for display unevenness is primarily detected as an area where display unevenness occurs. Then, by narrowing down the detected occurrence area by the intensity value of the display unevenness, display unevenness that is recognized as visual unevenness is finally detected. Therefore, the display unevenness of the display device can be detected with higher accuracy than simply detecting the display unevenness from the distribution of the differential pixel values.
以下、本発明の表示むら検出方法を適用した表示むら検出装置の実施形態について説明する。本発明の表示むら検出装置は、表示デバイスの製造工程における検査ライン(図示せず)等に組み込むインライン形式で構成してもよく、検査ライン等から切り離して独立させたスタンドアローン形式で構成してもよい。 Hereinafter, embodiments of a display unevenness detection apparatus to which the display unevenness detection method of the present invention is applied will be described. The display unevenness detection apparatus of the present invention may be configured in an in-line format incorporated in an inspection line (not shown) or the like in the manufacturing process of the display device, or configured in a stand-alone format separated from the inspection line. Also good.
また、本発明の表示むら検出装置で表示むらを検出することができる表示デバイスとしては、例えば、液晶パネルディスプレイやプラズマパネルディスプレイ、有機ELディスプレイ等がある。以下の実施形態では、表示デバイスが液晶パネルディスプレイである場合を例に取って説明する。 Examples of display devices that can detect display unevenness with the display unevenness detection apparatus of the present invention include a liquid crystal panel display, a plasma panel display, and an organic EL display. In the following embodiments, a case where the display device is a liquid crystal panel display will be described as an example.
図1に示すように、本実施形態の表示むら検出装置1は、スタンドアローン形式で構成されており、液晶パネルディスプレイ3(表示デバイスに相当)が表示するテストパターン等の画像をCCDカメラ5で撮影して得た出力画像データから、液晶パネルディスプレイ3の表示むらを検出する。表示むら検出装置1は、処理能力上支障がなければ、例えばパーソナルコンピュータ等によって構成することができる。 As shown in FIG. 1, the display unevenness detection apparatus 1 of the present embodiment is configured in a stand-alone format, and an image such as a test pattern displayed on a liquid crystal panel display 3 (corresponding to a display device) is displayed by a CCD camera 5. The display unevenness of the liquid crystal panel display 3 is detected from the output image data obtained by photographing. The display unevenness detection device 1 can be configured by, for example, a personal computer or the like if there is no problem in processing capability.
表示むら検出装置1は、CPU(中央処理装置)、RAM(ランダムアクセスメモリ)、ROM(リードオンリーメモリ)、ハードディスク等を有している。CPUは、ROM又はハードディスクに格納されたプログラムを実行することで、液晶パネルディスプレイ3の表示むらの検出処理を実行する。 The display unevenness detection device 1 includes a CPU (Central Processing Unit), a RAM (Random Access Memory), a ROM (Read Only Memory), a hard disk, and the like. The CPU executes a program stored in the ROM or the hard disk, thereby executing display unevenness detection processing on the liquid crystal panel display 3.
表示むら検出装置1が行う液晶パネルディスプレイ3の表示むらの検出処理は、図2に示すように、出力画像データ取得処理(ステップS1)、アドレッシング及びモアレ除去処理(ステップS3)、微分処理(ステップS5)、微分閾値判定(一次閾値判定、二値化)処理(ステップS7)、むら強度計算処理(ステップS9)、むら強度閾値判定(二次閾値判定)処理(ステップS11)、及び、結果出力処理(ステップS13)を含んでいる。 As shown in FIG. 2, the display unevenness detection process performed by the display unevenness detection device 1 includes an output image data acquisition process (step S1), an addressing and moire removal process (step S3), and a differential process (step S5), differential threshold determination (primary threshold determination, binarization) processing (step S7), uneven intensity calculation processing (step S9), uneven intensity threshold determination (secondary threshold determination) processing (step S11), and result output Processing (step S13) is included.
ステップS1の出力画像データ取得処理では、例えば表示むら検出装置1から液晶パネルディスプレイ3に供給した入力画像データにより液晶パネルディスプレイ3にテストパターン等の画像を表示させ、その表示画面を撮影したCCDカメラ5からの映像信号を、液晶パネルディスプレイ3の出力画像データとして表示むら検出装置1が取得する。 In the output image data acquisition process in step S1, for example, a CCD camera that displays an image such as a test pattern on the liquid crystal panel display 3 based on the input image data supplied from the display unevenness detection device 1 to the liquid crystal panel display 3 and shoots the display screen. The display unevenness detection apparatus 1 acquires the video signal from 5 as output image data of the liquid crystal panel display 3.
ここで、液晶パネルディスプレイ3に発生する表示むらには、輝度むらと色むらとがあり、本実施形態の表示むら検出装置1では、輝度むらと色むらをいずれも検出することができる。そのために、液晶パネルディスプレイ3には、RGB値パターンを適宜変えて、輝度むらの検出に適した画像や色むらの検出に適した画像を表示させる。そして、各画像について表示むら検出装置1は、以下の手順による表示むらの検出動作を行う。 Here, the display unevenness generated in the liquid crystal panel display 3 includes the brightness unevenness and the color unevenness, and the display unevenness detecting device 1 of the present embodiment can detect both the brightness unevenness and the color unevenness. For this purpose, the liquid crystal panel display 3 displays an image suitable for detecting luminance unevenness and an image suitable for detecting color unevenness by appropriately changing the RGB value pattern. Then, the display unevenness detection apparatus 1 performs the display unevenness detection operation according to the following procedure for each image.
ステップS3のアドレッシング処理では、CCDカメラ5のCCDセンサの各画素を液晶パネルディスプレイ3の各画素に割り付けて、出力画像データを構成するCCDセンサの各画素の画素値から、液晶パネルディスプレイ3の各画素の画素値を割り出す。 In the addressing process of step S3, each pixel of the CCD sensor of the CCD camera 5 is assigned to each pixel of the liquid crystal panel display 3, and each pixel value of the liquid crystal panel display 3 is determined from the pixel value of each pixel of the CCD sensor constituting the output image data. Determine the pixel value of a pixel.
なお、表示デバイスが有機ELパネルディスプレイやプラズマパネルディスプレイである場合にも、1つの発光素子を1つの画素としてアドレッシング処理を行う。 Even when the display device is an organic EL panel display or a plasma panel display, an addressing process is performed using one light emitting element as one pixel.
ところで、液晶パネルディスプレイ3とCCDセンサは、それぞれ画素をマトリクス状に配置した格子パターンを有している。そして、CCDカメラ5は液晶パネルディスプレイ3よりも多くの画素を有しているので、液晶パネルディスプレイ3の1つの画素からの画像光はCCDカメラ5の複数の画素によって受光されることになる。そこで、液晶パネルディスプレイ3の各画素の画素値は、例えば、その画素に対応するCCDカメラ5の複数の画素のうち最も画素値の高い画素に基づいて決定することになる。 By the way, the liquid crystal panel display 3 and the CCD sensor each have a lattice pattern in which pixels are arranged in a matrix. Since the CCD camera 5 has more pixels than the liquid crystal panel display 3, image light from one pixel of the liquid crystal panel display 3 is received by a plurality of pixels of the CCD camera 5. Therefore, the pixel value of each pixel of the liquid crystal panel display 3 is determined based on the pixel having the highest pixel value among the plurality of pixels of the CCD camera 5 corresponding to the pixel, for example.
このとき、CCDカメラ5が液晶パネルディスプレイ3の整数倍の画素を有していれば、CCDカメラ5の画素周期と液晶パネルディスプレイ3の画素周期との間に位相差が生じない。そのため、液晶パネルディスプレイ3の各画素が同じ画素値で発光した場合、各画素に対応するCCDカメラ5の画素のうち最も画素値が高い画素は、互いに同じ画素値となる。したがって、液晶パネルディスプレイ3の表示画像を撮影したCCDカメラ5の撮影画像中にはモアレ縞が発生しない。 At this time, if the CCD camera 5 has pixels that are integral multiples of the liquid crystal panel display 3, no phase difference occurs between the pixel period of the CCD camera 5 and the pixel period of the liquid crystal panel display 3. Therefore, when the pixels of the liquid crystal panel display 3 emit light with the same pixel value, the pixels with the highest pixel value among the pixels of the CCD camera 5 corresponding to each pixel have the same pixel value. Therefore, moire fringes do not occur in the captured image of the CCD camera 5 that captured the display image of the liquid crystal panel display 3.
しかし、CCDカメラ5が液晶パネルディスプレイ3の整数倍でない数の画素を有していると、CCDカメラ5の画素周期と液晶パネルディスプレイ3の画素周期との間に位相差が生じる。そのため、液晶パネルディスプレイ3の各画素が同じ画素値で発光した場合でも、各画素に対応するCCDカメラ5の画素のうち最も画素値が高い画素は、互いに同じ画素値にはならなくなる。これが原因となって、液晶パネルディスプレイ3の表示画像を撮影したCCDカメラ5の撮影画像中にモアレ縞が発生する。 However, if the CCD camera 5 has a number of pixels that is not an integral multiple of the liquid crystal panel display 3, a phase difference occurs between the pixel period of the CCD camera 5 and the pixel period of the liquid crystal panel display 3. Therefore, even when each pixel of the liquid crystal panel display 3 emits light with the same pixel value, the pixel with the highest pixel value among the pixels of the CCD camera 5 corresponding to each pixel does not have the same pixel value. This causes moiré fringes in the captured image of the CCD camera 5 that captured the display image on the liquid crystal panel display 3.
このモアレ縞を含んだ状態のままCCDカメラ5からの出力画像データを液晶パネルディスプレイ3の表示むらの検出に使用すると、表示むらの誤検出につながる可能性がある。 If the output image data from the CCD camera 5 is used for detecting the display unevenness of the liquid crystal panel display 3 while including the moire fringes, there is a possibility that the display unevenness is erroneously detected.
そこで、ステップS3では、アドレッシング処理と共にモアレ除去処理を行う。モアレ除去処理では、例えば、本出願人が特開2004−317329号公報に係る出願で提案した、CCDセンサの各画素とその周辺画素の画素値を加算又は平均化する手法を利用して、出力画像データ中のモアレ成分を除去する。 In step S3, therefore, the moire removal process is performed together with the addressing process. In the moiré removal processing, for example, output using the technique of adding or averaging the pixel values of each pixel of the CCD sensor and the surrounding pixels proposed by the applicant of the application according to Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-317329. Remove moire components in image data.
なお、表示デバイスが有機ELパネルディスプレイやプラズマパネルディスプレイである場合にも、発光素子がマトリクス状の格子パターンで配置されているので、同様のモアレ除去処理をアドレッシング処理と共に行うのが有効である。但し、モアレ除去処理は必須ではなく、表示むらの検出に際してモアレ縞の発生が支障にならない程度である場合等には、モアレ除去処理を省略してもよい。 Even when the display device is an organic EL panel display or a plasma panel display, it is effective to perform the same moire removal process together with the addressing process because the light emitting elements are arranged in a matrix lattice pattern. However, the moire removal process is not essential, and the moire removal process may be omitted when the generation of the moire fringes is not hindered when the display unevenness is detected.
ステップS5の微分処理では、ステップS3で行ったアドレッシング処理及びモアレ除去処理後の液晶パネルディスプレイ3の各画素の画素値を微分して、微分画素値を取得する。この微分画素値は、対象画素とその周辺画素との画素値の差分を求める一般的な微分処理によって求めてもよい。 In the differentiation process of step S5, the pixel value of each pixel of the liquid crystal panel display 3 after the addressing process and the moire removal process performed in step S3 is differentiated to obtain a differential pixel value. The differential pixel value may be obtained by a general differentiation process for obtaining a difference between pixel values of the target pixel and its surrounding pixels.
しかし、本実施形態では、ステップS5の微分処理において、図3に示すように、液晶パネルディスプレイ3の各画素の画素値の強調処理(ステップS51)、積分処理(ステップS51)と、液晶パネルディスプレイ3の各画素の画素値と積分画素値の差分処理(ステップS53)とを行う。 However, in the present embodiment, in the differentiation process in step S5, as shown in FIG. 3, the pixel value enhancement process (step S51), the integration process (step S51), and the liquid crystal panel display of each pixel of the liquid crystal panel display 3 are performed. Difference processing between the pixel value of each pixel 3 and the integral pixel value (step S53) is performed.
ステップS51の積分処理では、図2のステップS3で行ったアドレッシング処理及びモアレ除去処理後の液晶パネルディスプレイ3の各画素の画素値を、空間フィルタを用いて周辺画素の画素値と平均化して積分し、積分画素値を取得する。 In the integration process in step S51, the pixel value of each pixel of the liquid crystal panel display 3 after the addressing process and the moire removal process performed in step S3 of FIG. 2 is averaged and integrated with the pixel values of the surrounding pixels using a spatial filter. Then, the integrated pixel value is acquired.
ここで使用する空間フィルタは、液晶パネルディスプレイ3に発生し得る表示むらをカバーするマトリクス形状を有する必要がある。そのため、空間フィルタは、液晶パネルディスプレイ3に発生し得る表示むらに対応したカーネルサイズを有している。例えば、表示むらが最大で液晶パネルディスプレイ3の100×100画素分の大きさを有する可能性があれば、積分に使用する空間フィルタも100×100のカーネルサイズのものとする。ちなみに、各カーネルの値は「1」、係数はカーネル数の逆数(=1/(100×100))である。 The spatial filter used here needs to have a matrix shape that covers display unevenness that may occur in the liquid crystal panel display 3. Therefore, the spatial filter has a kernel size corresponding to display unevenness that may occur in the liquid crystal panel display 3. For example, if there is a possibility that the display unevenness has a size of 100 × 100 pixels of the liquid crystal panel display 3 at the maximum, the spatial filter used for integration is also of a kernel size of 100 × 100. Incidentally, the value of each kernel is “1”, and the coefficient is the reciprocal of the number of kernels (= 1 / (100 × 100)).
なお、空間フィルタを用いてステップS51の積分処理を行う際、積分する対象画素(積分画素値の取得対象画素)が液晶パネルディスプレイ3の上下左右の外周辺のいずれかに近づくと、空間フィルタの一部のカーネル列が液晶パネルディスプレイ3の外側にはみ出るようになる。 When the integration process of step S51 is performed using the spatial filter, if the target pixel to be integrated (the acquisition target pixel of the integrated pixel value) approaches any of the upper, lower, left, and right outer peripheries of the liquid crystal panel display 3, the spatial filter Some kernel rows protrude outside the liquid crystal panel display 3.
ここで、図4及び図5を参照して、液晶パネルディスプレイ3の各画素の画素値を積分用の空間フィルタ40(表示デバイスの表示むらの形状及び大きさに対応したカーネルサイズの空間フィルタ)を用いて積分する場合を例に取って説明する。なお、ここで説明する例では、図4の一番右や図5の一番下にそれぞれ示すサンプルのように、模式的に空間フィルタ40のカーネルサイズを7×7とする。この空間フィルタ40は、各カーネル値を「1」とし、各カーネルの係数を全カーネル数の逆数(=1/(7×7))としている。 4 and 5, the pixel value of each pixel of the liquid crystal panel display 3 is integrated with the integration spatial filter 40 (kernel size spatial filter corresponding to the shape and size of the display unevenness of the display device). A case where integration is performed using will be described as an example. In the example described here, the kernel size of the spatial filter 40 is schematically set to 7 × 7 as in the samples shown on the rightmost side of FIG. 4 and the bottom side of FIG. In this spatial filter 40, each kernel value is “1”, and the coefficient of each kernel is the reciprocal of the total number of kernels (= 1 / (7 × 7)).
まず、図4では、液晶パネルディスプレイ3の左辺31に対する空間フィルタ40の位置関係と、有効カーネル列との関係を示している。この例では、左辺31から3画素目までの画素を空間フィルタ40で積分する際に(図4の上から3番目までの例を参照)、空間フィルタ40の左側のカーネル列(1列〜3列)が液晶パネルディスプレイ3の左辺31を越えて外側にはみ出る。 First, FIG. 4 shows the relationship between the positional relationship of the spatial filter 40 with respect to the left side 31 of the liquid crystal panel display 3 and the effective kernel sequence. In this example, when the pixels from the left side 31 to the third pixel are integrated by the spatial filter 40 (see the third example from the top in FIG. 4), the leftmost kernel column (1 to 3) Column) protrudes beyond the left side 31 of the liquid crystal panel display 3.
液晶パネルディスプレイ3の外側にはみ出るカーネル列には対応する画素列が存在しないので、このカーネル列を積分処理の際に無効とする必要がある。そこで、左辺31の外側にはみ出る空間フィルタ40のカーネル列については、カーネルを無効(カーネル値=「0」)とする。 Since there is no corresponding pixel column in the kernel column that protrudes outside the liquid crystal panel display 3, it is necessary to invalidate this kernel column in the integration process. Therefore, the kernel is invalidated (kernel value = “0”) for the kernel string of the spatial filter 40 that protrudes outside the left side 31.
また、左辺31から4画素目以降の画素を空間フィルタ40で積分する際には(図4の上から4番目以降の例を参照)、空間フィルタ40の全体が液晶パネルディスプレイ3の内側に収まる。この場合には、全カーネルについて対応する画素がそれぞれ存在するので、原則的には、無効とするカーネル(列)は必要ない。 Further, when the pixels after the fourth pixel from the left side 31 are integrated by the spatial filter 40 (see the fourth and subsequent examples from the top in FIG. 4), the entire spatial filter 40 fits inside the liquid crystal panel display 3. . In this case, since corresponding pixels exist for all kernels, in principle, no invalid kernel (column) is necessary.
なお、液晶パネルディスプレイ3の右辺の近傍エリア内に存在する積分対象画素については、図4を左右反転した内容の空間フィルタ40を用いて、積分処理を行えばよい。 It should be noted that the integration target pixel existing in the area near the right side of the liquid crystal panel display 3 may be integrated using the spatial filter 40 whose contents are reversed in the left-right direction in FIG.
図5に示すように、液晶パネルディスプレイ3の上辺35に空間フィルタ40が近接する場合も、同様にすることができる。即ち、積分対象画素が上辺35から3画素目までにある場合は(図5の右から3番目までの例を参照)、空間フィルタ40の上側のカーネル列(1列〜3列)が液晶パネルディスプレイ3の上辺35を越えて外側にはみ出る。そこで、上辺35の外側にはみ出る空間フィルタ40のカーネル列については、カーネルを無効(カーネル値=「0」)とする。 As shown in FIG. 5, the same can be done when the spatial filter 40 is close to the upper side 35 of the liquid crystal panel display 3. That is, when the integration target pixel is from the upper side 35 to the third pixel (see the third example from the right in FIG. 5), the upper kernel column (1st to 3rd columns) of the spatial filter 40 is the liquid crystal panel. It protrudes beyond the upper side 35 of the display 3. Therefore, the kernel is invalidated (kernel value = “0”) for the kernel string of the spatial filter 40 that protrudes outside the upper side 35.
また、積分対象画素が上辺35から4画素目以降である場合は(図5の右から4番目〜一番左の例を参照)、空間フィルタ40の全体が液晶パネルディスプレイ3の内側に収まるので、原則的には空間フィルタ40に無効とするカーネル(列)を設定する必要はない。 In addition, when the integration target pixel is the fourth and subsequent pixels from the upper side 35 (see the fourth to the leftmost example from the right in FIG. 5), the entire spatial filter 40 fits inside the liquid crystal panel display 3. In principle, there is no need to set an invalid kernel (column) in the spatial filter 40.
なお、液晶パネルディスプレイ3の下辺の近傍エリア内に存在する積分対象画素については、図5を上下反転した内容の空間フィルタ40を用いて、積分処理を行えばよい。 It should be noted that the integration target pixel existing in the area near the lower side of the liquid crystal panel display 3 may be integrated using the spatial filter 40 whose contents are upside down in FIG.
ところで、バックライトを用いる液晶パネルディスプレイ3では、特に、画面の外周縁部に光源を配置して画面中央まで導光板を用いて導光する場合、導光板における光の減衰によって、画面の外周辺付近の輝度に比べて画面中央の輝度が相対的に低くなるシェーディングが発生しやすい。このシェーディングは、プラズマパネルディスプレイや有機ELパネルディスプレイ等の、バックライトを使用しない表示デバイスにおいても発生することがある。 By the way, in the liquid crystal panel display 3 using the backlight, particularly when the light source is arranged at the outer peripheral edge of the screen and guided to the center of the screen using the light guide plate, the outer periphery of the screen is caused by the attenuation of light in the light guide plate. Shading is likely to occur in which the brightness at the center of the screen is relatively lower than the brightness in the vicinity. This shading may also occur in a display device that does not use a backlight, such as a plasma panel display or an organic EL panel display.
そこで、本実施形態では、積分対象画素が液晶パネルディスプレイ3の外周辺の近くにあるときに、近くの辺の延在方向と同じ方向の方向性を空間フィルタ40に持たせ、その辺の延在方向と直交する方向の感度を落として、積分画素値に対してシェーディング補正を行うようにしている。 Therefore, in the present embodiment, when the integration target pixel is near the outer periphery of the liquid crystal panel display 3, the spatial filter 40 has the directionality in the same direction as the extension direction of the nearby side, and the extension of the side is performed. The sensitivity in the direction orthogonal to the current direction is reduced, and shading correction is performed on the integrated pixel value.
例えば、図4に示す液晶パネルディスプレイ3の左辺31の付近では、左辺31から感度補正ライン32までの7画素幅に亘る、左辺31の近傍エリア33でシェーディングが発生しやすいものとする。その場合は、空間フィルタ40により積分する対象画素が近傍エリア33内に存在するときに、空間フィルタ40に左辺31の延在方向への方向性を持たせる。そして、左辺31と直交する方向(横方向)の有効なカーネル列を原則として3列とし、カーネルサイズを縦×横=7×3とする。 For example, in the vicinity of the left side 31 of the liquid crystal panel display 3 shown in FIG. 4, it is assumed that shading is likely to occur in the vicinity area 33 of the left side 31 that spans seven pixels from the left side 31 to the sensitivity correction line 32. In that case, when the target pixel to be integrated by the spatial filter 40 exists in the neighborhood area 33, the spatial filter 40 is given directionality in the extending direction of the left side 31. In principle, the effective kernel columns in the direction orthogonal to the left side 31 (horizontal direction) are three columns, and the kernel size is vertical × horizontal = 7 × 3.
但し、図4の一番上の例では、空間フィルタ40の中央積分対象画素の左隣の画素に重なる有効としたいカーネル列が空間フィルタ40の左辺31から外側にはみ出てしまうので、例外的に、有効なカーネルサイズを縦×横=7×2とする。 However, in the uppermost example of FIG. 4, an effective kernel sequence that overlaps the pixel adjacent to the left of the central integration target pixel of the spatial filter 40 protrudes from the left side 31 of the spatial filter 40 to the outside. The effective kernel size is vertical × horizontal = 7 × 2.
同様に、図5に示す液晶パネルディスプレイ3の上辺35の付近では、上辺35から感度補正ライン36までの7画素幅に亘る、上辺35の近傍エリア37でシェーディングが発生しやすいものとする。その場合は、空間フィルタ40により積分する対象画素が近傍エリア37内に存在するときに、空間フィルタ40に上辺35の延在方向への方向性を持たせる。そして、上辺35と直交する方向(縦方向)の有効なカーネル列を原則として3列とし、カーネルサイズを縦×横=3×7とする。 Similarly, in the vicinity of the upper side 35 of the liquid crystal panel display 3 shown in FIG. 5, it is assumed that shading is likely to occur in the vicinity area 37 of the upper side 35 over the 7-pixel width from the upper side 35 to the sensitivity correction line 36. In that case, when the target pixel to be integrated by the spatial filter 40 exists in the neighborhood area 37, the spatial filter 40 is given directionality in the extending direction of the upper side 35. Then, the effective kernel rows in the direction orthogonal to the upper side 35 (vertical direction) are basically three rows, and the kernel size is vertical × horizontal = 3 × 7.
但し、図5の一番右の例では、積分対象画素の上隣の画素に重なる有効としたいカーネル列が空間フィルタ40の上辺35から外側にはみ出てしまうので、例外的に、有効なカーネルサイズを縦×横=2×7とする。 However, in the rightmost example of FIG. 5, the effective kernel size that overlaps with the upper adjacent pixel of the integration target pixel protrudes outward from the upper side 35 of the spatial filter 40. Is vertical × horizontal = 2 × 7.
また、液晶パネルディスプレイ3の右辺から感度補正ライン(図示せず)までの7画素幅に亘る、右辺の近傍エリア内に存在する積分対象画素にシェーディングが発生しやすい場合は、図4を左右反転した内容の空間フィルタ40を用いて積分処理を行えばよい。同様に、液晶パネルディスプレイ3の下辺から感度補正ライン(図示せず)までの7画素幅に亘る、下辺の近傍エリア内に存在する積分対象画素にシェーディングが発生しやすい場合は、図5を上下反転した内容の空間フィルタ40を用いて、積分処理を行えばよい。 If shading is likely to occur in the integration target pixel existing in the area near the right side over the 7-pixel width from the right side of the liquid crystal panel display 3 to the sensitivity correction line (not shown), the image shown in FIG. Integration processing may be performed using the spatial filter 40 having the above contents. Similarly, when shading is likely to occur in the integration target pixel existing in the area near the lower side over the width of 7 pixels from the lower side of the liquid crystal panel display 3 to the sensitivity correction line (not shown), Integration processing may be performed using the spatial filter 40 having the inverted contents.
このように、液晶パネルディスプレイ3の外周辺の付近の積分対象画素については、使用する空間フィルタ40に近くの辺の延在方向への方向性を持たせて、有効なカーネルサイズを縦×横=7×2又は2×7や、7×3又は3×7とした空間フィルタ40を用いることで、積分対象画素の画素値を積分する際にシェーディング補正を同時に行うことができる。 As described above, for the integration target pixels in the vicinity of the outer periphery of the liquid crystal panel display 3, the spatial filter 40 to be used has a direction in the extending direction of the nearby side, and the effective kernel size is set to the vertical × horizontal direction. = 7 × 2 or 2 × 7, or 7 × 3 or 3 × 7, the spatial filter 40 can be used to simultaneously perform shading correction when integrating the pixel values of the integration target pixels.
なお、積分対象画素が感度補正ライン32,36よりも液晶パネルディスプレイ3の内側に存在するとき、その画素の積分に用いる空間フィルタ40の有効なカーネルサイズは、原則的に7×7とすることができる。但し、積分対象画素が近傍エリア33,37内から感度補正ライン32,36を越えて液晶パネルディスプレイ3の内側に移った途端に、空間フィルタ40の有効なカーネルサイズが縦×横=7×3又は3×7から7×7に変わるのは、積分特性が急に変化するので好ましくない。 In addition, when the integration target pixel exists inside the liquid crystal panel display 3 with respect to the sensitivity correction lines 32 and 36, the effective kernel size of the spatial filter 40 used for integration of the pixel is basically 7 × 7. Can do. However, the effective kernel size of the spatial filter 40 is vertical × horizontal = 7 × as soon as the integration target pixel moves from the vicinity areas 33 and 37 to the inside of the liquid crystal panel display 3 beyond the sensitivity correction lines 32 and 36. Changing from 3 or 3 × 7 to 7 × 7 is not preferable because the integral characteristic changes abruptly.
そこで、近傍エリア33,37よりも内側にある積分対象画素が感度補正ライン32,36の近くにあるうちは、近傍エリア33,37から遠ざかるにつれて、空間フィルタ40の有効なカーネルサイズを、縦×横=7×5又は5×7、7×7と徐々に変化させるようにしてもよい。 Therefore, as long as the integration target pixel located inside the neighboring areas 33 and 37 is near the sensitivity correction lines 32 and 36, the effective kernel size of the spatial filter 40 is set to the vertical x as the distance from the neighboring areas 33 and 37 increases. The width may be gradually changed to 7 × 5, 5 × 7, or 7 × 7.
ところで、上述した縦×横=7×7のカーネルサイズはあくまで説明上の一例であり、空間フィルタのカーネルサイズは、液晶パネルディスプレイ3に発生し得る表示むらに対応するサイズである限り任意である。そして、液晶パネルディスプレイ3の外周辺に近い積分対象画素の積分に用いる空間フィルタについては、図4及び図5に示した空間フィルタ40のように、近くの辺の延在方向と直交する方向の有効カーネル列数を可変とし、感度に方向性を持たせる。 By the way, the above-described kernel size of vertical × horizontal = 7 × 7 is merely an example for explanation, and the kernel size of the spatial filter is arbitrary as long as it is a size corresponding to display unevenness that may occur in the liquid crystal panel display 3. . And about the spatial filter used for integration of the integration object pixel near the outer periphery of the liquid crystal panel display 3, like the spatial filter 40 shown in FIG.4 and FIG.5, the direction orthogonal to the extension direction of a near edge | side is used. The number of effective kernel columns is variable, and the sensitivity has directionality.
例えば、空間フィルタが15×15のカーネルサイズを有している場合は、積分対象画素が近傍エリア33,37から遠ざかるにつれて、空間フィルタの有効なカーネルサイズを、縦×横=15×3又は3×15から順次、15×5又は5×15、15×7又は7×15、15×9又は9×15、15×11又は11×15、15×13又は13×15、15×15へと、多くの段階を経て変化させることができる。 For example, when the spatial filter has a kernel size of 15 × 15, the effective kernel size of the spatial filter is set to vertical × horizontal = 15 × 3 or 3 as the integration target pixel moves away from the neighboring areas 33 and 37. From x15 to 15x5 or 5x15, 15x7 or 7x15, 15x9 or 9x15, 15x11 or 11x15, 15x13 or 13x15, 15x15 Can be changed through many stages.
なお、上述したシェーディング補正を考慮する必要がない場合でも、図4及び図5に示した空間フィルタ40のように、無効カーネルとした液晶パネルディスプレイ3の外周辺側のカーネル列と同じかそれに近い列数のカーネルを、液晶パネルディスプレイ3の中央側のカーネル列においても無効化してもよい。そのようにすれば、液晶パネルディスプレイ3の左辺31や上辺35(あるいは、右辺や下辺)と直交する方向における空間フィルタ40の方向性(感度)を、積分対象画素に対して均等にすることができる。即ち、シェーディング補正を考慮する必要がないときに、液晶パネルディスプレイ3の中央側にも無効のカーネル列を設定するか否かは任意である。 Even when it is not necessary to consider the above-described shading correction, like the spatial filter 40 shown in FIGS. 4 and 5, it is the same as or close to the kernel row on the outer peripheral side of the liquid crystal panel display 3 as an invalid kernel. The kernel of the number of columns may be invalidated also in the kernel column on the center side of the liquid crystal panel display 3. By doing so, the directionality (sensitivity) of the spatial filter 40 in the direction orthogonal to the left side 31 and the upper side 35 (or the right side and the lower side) of the liquid crystal panel display 3 can be made equal to the integration target pixel. it can. In other words, when it is not necessary to consider shading correction, whether or not to set an invalid kernel row on the center side of the liquid crystal panel display 3 is arbitrary.
また、液晶パネルディスプレイ3の四隅においては、例えば図6に示すように、左辺31と上辺35の2つの近傍エリア33,37が重複する。そこで、近傍エリア33,37が重複する領域39内に積分対象画素があるときには、図4及び図5に示した空間フィルタ40でそれぞれ無効化したカーネル列を合計して、空間フィルタ40の左右及び上下の2〜3列ずつのカーネルを無効とすればよい。この場合にも、シェーディング補正を考慮する必要がないときに、液晶パネルディスプレイ3の中央側にも無効のカーネル列を縦方向及び横方向にそれぞれ設定するか否かは任意である。 Further, at the four corners of the liquid crystal panel display 3, for example, as shown in FIG. 6, two neighboring areas 33 and 37 of the left side 31 and the upper side 35 overlap. Therefore, when there are integration target pixels in the region 39 where the neighboring areas 33 and 37 overlap, the kernel columns invalidated by the spatial filter 40 shown in FIGS. What is necessary is just to invalidate the kernels in the upper and lower rows. Also in this case, when it is not necessary to consider the shading correction, whether or not to set invalid kernel rows in the center side of the liquid crystal panel display 3 in the vertical direction and the horizontal direction is arbitrary.
ところで、液晶パネルディスプレイ3の表示むらには、縦横両方向にそれぞれある程度のサイズを有するものもあれば、縦方向又は横方向のサイズが小さい線状のむらもある。縦横両方向にある程度のサイズを有する表示むらに比べると線状のむらは、むらの範囲(面積)が小さいため、積分処理を行うと周辺画素の画素値に引っ張られて積分画素値が低くなり、表示むらとして検出しづらくなる傾向がある。 By the way, the display unevenness of the liquid crystal panel display 3 includes a display having a certain size in both the vertical and horizontal directions, and a linear unevenness having a small size in the vertical or horizontal direction. Compared with display unevenness that has a certain size in both the vertical and horizontal directions, the linear unevenness has a smaller range (area) of the unevenness. Therefore, when integration processing is performed, the integrated pixel value is lowered by being pulled by the pixel values of surrounding pixels. It tends to be difficult to detect as unevenness.
そこで、縦方向又は横方向にサイズが小さい線状むらを検出する際に行う、図2のステップS5の微分処理では、図7に示すように、図3のステップS51の積分処理及びステップS53の差分処理を同じように実行する前に、強調処理(ステップS50)を前処理として行ってもよい。 Therefore, in the differentiation process in step S5 of FIG. 2 performed when detecting linear unevenness having a small size in the vertical direction or the horizontal direction, as shown in FIG. 7, the integration process in step S51 in FIG. Before executing the difference process in the same manner, the enhancement process (step S50) may be performed as a preprocess.
ステップS50の強調処理では、縦方向又は横方向の線状むらの画素値を線状むらの延在方向において平均化しノイズ成分を低減させる。図8は、縦方向に延在する線状むらの強調処理を行う場合を示している。この場合は、線状むらと同じく縦方向に方向性がある(有効カーネルが配列された)強調処理用の空間フィルタ50(強調用空間フィルタ)を用いる。この空間フィルタ50は、n×nのカーネルサイズでその横方向中央の縦1列のみ、有効カーネル(カーネル値=「1」)とし、その他を無効カーネル(カーネル値=「0」)とする。有効カーネルの係数は、有効カーネル数nの逆数(=1/n)である。なお、図8ではn=9の場合を示している。 In the enhancement processing in step S50, the pixel values of the vertical or horizontal linear unevenness are averaged in the extending direction of the linear unevenness to reduce the noise component. FIG. 8 shows a case where enhancement processing of linear unevenness extending in the vertical direction is performed. In this case, the spatial filter 50 (emphasis spatial filter) for emphasis processing that has directionality in the vertical direction (in which effective kernels are arranged) is used as in the case of linear unevenness. This spatial filter 50 has an n × n kernel size and only one vertical column at the center in the horizontal direction is a valid kernel (kernel value = “1”), and the others are invalid kernels (kernel value = “0”). The coefficient of the effective kernel is an inverse number (= 1 / n) of the effective kernel number n. FIG. 8 shows a case where n = 9.
この空間フィルタ50を用いた図7のステップS50における線状むらの強調処理では、線状むら部分の画素値が縦方向の有効カーネル数nと同じ周辺画素の画素値と平均化される。これにより、線状むらの縦方向の境界が明確化され、表示むらとして検出されやすいようになる。 In the linear unevenness enhancement process in step S50 of FIG. 7 using the spatial filter 50, the pixel values of the linear unevenness portion are averaged with the pixel values of peripheral pixels having the same effective kernel number n in the vertical direction. As a result, the vertical boundary of the linear unevenness is clarified, and the display unevenness is easily detected.
なお、横方向に延在する線状むらの強調処理には、横方向に方向性がある強調処理用の空間フィルタ(図示せず)を用いればよい。また、ドット状に密集した点状欠陥については、この強調処理を行うことで画素値が周辺画素の画素値に合わせて下がるので、表示むらとして誤検出されにくくなる。 It should be noted that a spatial filter (not shown) for enhancement processing that has directionality in the horizontal direction may be used for the enhancement processing of the linear unevenness extending in the horizontal direction. Further, with respect to dot-like defects that are densely arranged in a dot shape, the pixel value is lowered in accordance with the pixel values of the peripheral pixels by performing this emphasis process, so that it is difficult to be erroneously detected as display unevenness.
以上に説明したステップS50の強調処理を行う場合は、強調処理後の液晶パネルディスプレイ3の各画素の画素値を用いて図7のステップS51の積分処理を行い、積分画素値を取得することになる。この積分処理の際に、図4及び図5を参照して説明したように、積分対象画素と液晶パネルディスプレイ3の外周辺との位置関係に応じて、空間フィルタ50の一部のカーネル列を無効化するようにしてもよい。 When performing the enhancement processing in step S50 described above, the integration processing in step S51 in FIG. 7 is performed using the pixel values of each pixel of the liquid crystal panel display 3 after the enhancement processing, and the integration pixel value is obtained. Become. During the integration process, as described with reference to FIGS. 4 and 5, a part of the kernel string of the spatial filter 50 is changed according to the positional relationship between the integration target pixel and the outer periphery of the liquid crystal panel display 3. You may make it invalidate.
次に、図3や図7のステップS53の差分処理では、ステップS51の積分処理を行う前の液晶パネルディスプレイ3の各画素の画素値と、ステップS51の積分処理後の積分画素値の差分を求めて、これを液晶パネルディスプレイ3の各画素の微分画素値として取得する。以上で、図2のステップS5の微分処理が終了する。 Next, in the difference process in step S53 in FIG. 3 or FIG. 7, the difference between the pixel value of each pixel of the liquid crystal panel display 3 before the integration process in step S51 and the integration pixel value after the integration process in step S51 is calculated. This is obtained and obtained as a differential pixel value of each pixel of the liquid crystal panel display 3. This completes the differentiation process in step S5 of FIG.
なお、図3のステップS51の脇に示す2つのグラフは、ステップS51の積分処理前と処理後の、液晶パネルディスプレイ3のある横方向の1ラインにおける画素値分布を示している。この2つのグラフを比較すると分かるように、図3や図7のステップS51の積分処理を行うと、液晶パネルディスプレイ3の画素値変化の低周波成分が抽出される。液晶パネルディスプレイ3の画素全体に亘って画素値のオフセットが発生している場合は、抽出した低周波成分にこのオフセット分が含まれる。 Note that the two graphs shown beside step S51 in FIG. 3 show pixel value distributions in one horizontal line of the liquid crystal panel display 3 before and after the integration process in step S51. As can be seen by comparing these two graphs, the low frequency component of the change in the pixel value of the liquid crystal panel display 3 is extracted when the integration process in step S51 of FIG. 3 or FIG. 7 is performed. When an offset of the pixel value occurs over the entire pixel of the liquid crystal panel display 3, this offset is included in the extracted low frequency component.
また、図3のステップS53の脇に示すグラフは、ステップS53の差分処理後の、液晶パネルディスプレイ3のある横方向の1ラインにおける画素値分布を示している。このグラフを見ると分かるように、上述した図3や図7のステップS53による差分処理を行うと、液晶パネルディスプレイ3の画素値変化から低周波成分を除去した、高周波成分のみが抽出される。液晶パネルディスプレイ3の画素全体に亘って画素値のオフセットが発生している場合にも、オフセット分は低周波成分として排除される。 Also, the graph shown beside step S53 in FIG. 3 shows the pixel value distribution in one horizontal line with the liquid crystal panel display 3 after the difference processing in step S53. As can be seen from this graph, when the difference processing in step S53 of FIG. 3 and FIG. 7 described above is performed, only the high frequency component is extracted by removing the low frequency component from the pixel value change of the liquid crystal panel display 3. Even when an offset of the pixel value occurs over the entire pixel of the liquid crystal panel display 3, the offset is excluded as a low frequency component.
したがって、図2のステップS5の微分処理において、上述した図3や図7のステップS51やステップS53の積分処理や差分処理を行うことで、対象画素とその周辺画素との画素値の差分を求める一般的な微分処理を行うのに比べて、表示むらに起因して周辺画素との間に画素値のギャップがある液晶パネルディスプレイ3の画素のエリアを、高い精度で検出することができる。 Therefore, in the differentiation process in step S5 in FIG. 2, the difference between the pixel values of the target pixel and its surrounding pixels is obtained by performing the integration process and the difference process in steps S51 and S53 in FIG. 3 and FIG. Compared with performing general differentiation processing, it is possible to detect the pixel area of the liquid crystal panel display 3 having a gap in pixel value between peripheral pixels due to display unevenness with high accuracy.
ところで、図3のステップS51の積分処理では、図2のステップS3で行ったアドレッシング処理及びモアレ除去処理後の液晶パネルディスプレイ3の各画素の画素値を積分する。これに対し、図7のステップS51の積分処理では、ステップS50の強調処理後の液晶パネルディスプレイ3の各画素の画素値を積分する。即ち、同じ積分処理であっても、積分処理に用いる液晶パネルディスプレイ3の各画素の画素値が、図3のステップS51の積分処理と図7のステップS51の積分処理とでは異なる。 Incidentally, in the integration process in step S51 of FIG. 3, the pixel values of the respective pixels of the liquid crystal panel display 3 after the addressing process and the moire removal process performed in step S3 of FIG. 2 are integrated. On the other hand, in the integration process in step S51 of FIG. 7, the pixel values of the pixels of the liquid crystal panel display 3 after the enhancement process in step S50 are integrated. That is, even in the same integration process, the pixel value of each pixel of the liquid crystal panel display 3 used for the integration process is different between the integration process in step S51 in FIG. 3 and the integration process in step S51 in FIG.
そのため、縦横両方向にある程度のサイズを有するむらと、縦方向又は横方向の線状むらとを、共に表示むらとして検出する場合は、図3の手順による微分処理と図7の手順による微分処理とをそれぞれ行う必要がある。その場合は、図3の手順による微分処理と、図7の手順による微分処理とを、シリアル又はパラレルに行えばよい。 Therefore, when detecting unevenness having a certain size in both the vertical and horizontal directions and the linear unevenness in the vertical or horizontal direction as display unevenness, the differential processing according to the procedure of FIG. 3 and the differential processing according to the procedure of FIG. It is necessary to do each. In that case, the differentiation process according to the procedure of FIG. 3 and the differentiation process according to the procedure of FIG. 7 may be performed serially or in parallel.
ここで、図2のステップS5による微分処理前後の液晶パネルディスプレイ3の出力画像データのイメージと画素値を、図9及び図10を参照して説明する。 Here, the image and pixel value of the output image data of the liquid crystal panel display 3 before and after the differentiation process in step S5 of FIG. 2 will be described with reference to FIGS.
まず、図2のステップS5による微分処理前の液晶パネルディスプレイ3の出力画像データ中に、図9(a)に示すイメージの表示むらが存在しているものとする。このときの、液晶パネルディスプレイ3の対応する画素の画素値は、図9(b)のような値となっている。なお、説明を容易にするため、図9(b)では、各画素の画素値をRGBの各値ではなく画面の濃淡を示す輝度を正規化した値(平均値=100)で示している。 First, it is assumed that the image display unevenness shown in FIG. 9A exists in the output image data of the liquid crystal panel display 3 before the differential processing in step S5 of FIG. The pixel value of the corresponding pixel of the liquid crystal panel display 3 at this time is a value as shown in FIG. In order to facilitate the description, in FIG. 9B, the pixel value of each pixel is represented by a value (average value = 100) obtained by normalizing the luminance indicating the shading of the screen instead of each RGB value.
そこで、図9(b)に示す画素値に対して図2のステップS5による微分処理を施すと、図10(b)に示すように、平均よりも画素値が高い画素だけ画素値が1000となり、その他の画素は画素値が0になる。これをイメージで表すと、図10(a)に示すように、表示むらとその周辺とのコントラスト差が、図9(a)に示す微分処理前のコントラスト差よりも大きくなって、表示むらが明確になっている。 Therefore, when the differentiation process in step S5 in FIG. 2 is performed on the pixel value shown in FIG. 9B, the pixel value becomes 1000 only for pixels having a pixel value higher than the average, as shown in FIG. 10B. The pixel values of other pixels are 0. When this is represented by an image, as shown in FIG. 10A, the contrast difference between the display unevenness and the periphery thereof becomes larger than the contrast difference before the differentiation processing shown in FIG. It is clear.
次に、図2のステップS7の微分閾値判定(一次閾値判定)処理では、図10(b)に示す画素値、つまり、液晶パネルディスプレイ3の各画素の微分画素値を、むら判定閾値と比較して二値化する。むら判定閾値は、液晶パネルディスプレイ3の表示むらが発生している可能性のあるエリア(表示むらの発生エリア)の画素であるかどうかを、微分画素値によって判断するための閾値である。 Next, in the differential threshold value determination (primary threshold value determination) process in step S7 of FIG. 2, the pixel value shown in FIG. 10B, that is, the differential pixel value of each pixel of the liquid crystal panel display 3 is compared with the unevenness determination threshold value. And binarize. The unevenness determination threshold value is a threshold value for determining whether or not a pixel in an area where display unevenness of the liquid crystal panel display 3 may occur (display unevenness generation area) is based on the differential pixel value.
そして、図11に示すように、微分画素値がむら判定閾値を超える画素にはラベル値を割り当て、微分画素値がむら判定閾値以下の画素には「0」を割り当てる。ラベル値は、むら判定閾値を超えた画素が隣接する集合体を1つの表示むらの発生エリアとして、各表示むらの発生エリアに対してユニークに付与される値である。したがって、同じ表示むらの発生エリア内の画素には同じラベル値が割り当てられる。なお、ラベル値には「1」以上の整数が使用される。 Then, as illustrated in FIG. 11, a label value is assigned to a pixel whose differential pixel value exceeds the unevenness determination threshold value, and “0” is assigned to a pixel whose differential pixel value is equal to or less than the unevenness determination threshold value. The label value is a value uniquely given to each display unevenness generation area, with an aggregate of adjacent pixels exceeding the unevenness determination threshold as one display unevenness generation area. Therefore, the same label value is assigned to the pixels in the same display unevenness occurrence area. An integer greater than or equal to “1” is used for the label value.
続いて、図2のステップS9のむら強度計算処理では、表示むらの発生エリア毎に表示むらの強度を計算する。表示むらの強度には、例えば、Semiconductor Equipment and Materials International (SEMI、登録商標)が規格化したSEMU(SEMI MURA)値を用いることができる。ここで、SEMU値の計算方法について説明する。 Subsequently, in the unevenness intensity calculation process of step S9 in FIG. 2, the intensity of display unevenness is calculated for each display unevenness occurrence area. For the strength of display unevenness, for example, a SEMU (SEMI MURA) value standardized by Semiconductor Equipment and Materials International (SEMI, registered trademark) can be used. Here, a method for calculating the SEMU value will be described.
SEMU値の計算には、表示むらの発生エリアの平均コントラストCxと、表示むらの発生エリアの面積Sxと、人間による感知限界の表示むらの濃さCjndとが必要である。平均コントラストCxは、表示むらの発生エリアの周辺画素の輝度を100%とした場合の、パーセンテージで表した表示むらの発生エリアの輝度(エリア内画素の輝度平均値)である。面積Sxはmm2 で表す。感知限界の表示むらの濃さCjndは、表示むらの発生エリアの面積Sxの関数F(Sx)によって表される。The calculation of the SEMU value requires the average contrast Cx of the display unevenness generation area, the area Sx of the display unevenness generation area, and the density Cjnd of the display unevenness of the human detection limit. The average contrast Cx is the luminance of the display unevenness occurrence area (the average luminance value of the pixels in the area) expressed as a percentage when the luminance of the peripheral pixels of the display unevenness generation area is 100%. The area Sx is expressed in mm 2 . The density Cjnd of the display unevenness of the detection limit is expressed by a function F (Sx) of the area Sx of the display unevenness occurrence area.
上述した平均コントラストCxを表示むらの各発生エリアについて求めるには、各発生エリアについて、フォアグラウンド(Fore Ground:FG)とバックグラウンド(Back Ground:BG)とを設定する必要がある。例えば、図9(a)及び図10(a)に示した形状の表示むらの発生エリアの場合は、図12に示すように、表示むらの発生エリアがFGとなり、FGから2画素隔てた周辺2画素幅の環状エリアがBGとなる。そこで、FGに属する各画素とBGに属する各画素について、それぞれ平均輝度値を求めて、FG値及びBG値とする。 In order to obtain the above-described average contrast Cx for each occurrence area of display unevenness, it is necessary to set a foreground (Foreground: FG) and a background (Back Ground: BG) for each occurrence area. For example, in the case of the display unevenness generation area having the shape shown in FIGS. 9A and 10A, the display unevenness generation area is FG as shown in FIG. 12, and the periphery is 2 pixels away from FG. A circular area having a width of 2 pixels is BG. Therefore, an average luminance value is obtained for each pixel belonging to FG and each pixel belonging to BG, and set as an FG value and a BG value.
次に、下式(1)
Cx=(FG値−BG値)/BG値・・・(1)
を用いて、FG値及びBG値から平均コントラストCxを求める。Next, the following formula (1)
Cx = (FG value−BG value) / BG value (1)
The average contrast Cx is obtained from the FG value and the BG value.
また、下式(2)を用いて、
Cjnd=F(Sx)=1.97×(1/Sx0.33)+0.72・・・(2)
感知限界の表示むらの濃さCjndを求める。Moreover, using the following formula (2),
Cjnd = F (Sx) = 1.97 × (1 / Sx 0.33 ) +0.72 (2)
The display unevenness density Cjnd of the detection limit is obtained.
そして、下式(3)を用いて、
SEMU値=|Cx|/Cjnd・・・(3)
SEMU値を求める。And using the following formula (3),
SEMU value = | Cx | / Cjnd (3)
Obtain the SEMU value.
以上のように、SEMU値の計算には平均コントラストCxや面積Sxを用いるので、表示むらの発生エリアの正確な形状が分かっていることが必要である。その点からすると、図7のステップS50の強調処理を行って表示むらの発生エリアを特定する線状むらについては、SEMU値によってむら強度を計算する対象から除外してもよい。その理由は、線状むらの場合、表示むらの発生エリアとして認識される形状が、前段の強調処理によって、本来の線状むらの形状から多少変化する可能性があるからである。 As described above, since the average contrast Cx and the area Sx are used to calculate the SEMU value, it is necessary to know the exact shape of the display unevenness generation area. From this point of view, the linear unevenness that specifies the area where the display unevenness is generated by performing the emphasis process in step S50 of FIG. 7 may be excluded from the target for calculating the unevenness intensity based on the SEMU value. The reason is that, in the case of linear unevenness, the shape recognized as the display unevenness generation area may be slightly changed from the original linear unevenness shape by the preceding emphasis processing.
さらに、図2のステップS11のむら強度閾値判定(二次閾値判定)処理では、ステップS9で計算した表示むらの発生エリアのむら強度の値(SEMU値)を、強度閾値と比較する。強度閾値は、最終的に表示むらとして検出する表示むらの発生エリアをむら強度の値によって判定するための閾値である。この強度閾値は、表示むらとして検出する表示むらの発生エリアの最低のむら強度値に設定される。 Further, in the unevenness intensity threshold value determination (secondary threshold value determination) process in step S11 of FIG. 2, the unevenness intensity value (SEMU value) of the display unevenness occurrence area calculated in step S9 is compared with the intensity threshold value. The intensity threshold value is a threshold value for determining a display unevenness occurrence area that is finally detected as display unevenness based on the uneven intensity value. This intensity threshold value is set to the lowest unevenness intensity value of the display unevenness occurrence area detected as display unevenness.
そして、むら強度値が強度閾値を超える表示むらの発生エリアは、表示むらとして検出する。一方、むら強度値が強度閾値を超えない表示むらの発生エリアは、表示むらとして検出しない。検出した表示むらは、最後に、ステップS13の結果出力処理において、液晶パネルディスプレイ3における画素位置とむら強度値とを関連付けて、表示むらの検出結果情報として、表示むら検出装置1の外部に出力する。 A display unevenness occurrence area where the unevenness intensity value exceeds the intensity threshold is detected as display unevenness. On the other hand, a display unevenness occurrence area where the unevenness intensity value does not exceed the intensity threshold is not detected as display unevenness. Finally, the detected display unevenness is output to the outside of the display unevenness detection device 1 as display unevenness detection result information by associating the pixel position and the unevenness intensity value in the liquid crystal panel display 3 in the result output process of step S13. To do.
以上が、表示むら検出装置1が行う液晶パネルディスプレイ3の表示むら検出処理の全容である。そして、本実施形態では、図2のフローチャートにおけるステップS3が、請求項中の画素値取得手段(画素値取得ステップ)に対応する処理となっている。また、本実施形態では、図2中のステップS5が、請求項中の微分手段(微分ステップ)に対応する処理となっており、図2中のステップS7が、請求項中の画素値比較手段及びむらエリア検出手段(エリア検出ステップ)に対応する処理となっている。 The above is the whole of the display unevenness detection processing of the liquid crystal panel display 3 performed by the display unevenness detection device 1. In the present embodiment, step S3 in the flowchart of FIG. 2 is processing corresponding to the pixel value acquisition means (pixel value acquisition step) in the claims. Further, in the present embodiment, step S5 in FIG. 2 is processing corresponding to differentiation means (differentiation step) in the claims, and step S7 in FIG. 2 is pixel value comparison means in the claims. The processing corresponds to the uneven area detecting means (area detecting step).
さらに、本実施形態では、図2中のステップS9が、強度値取得手段(強度値取得ステップ)に対応する処理となっており、図2中のステップS11が、請求項中の強度値比較手段及び表示むら検出手段(表示むら検出ステップ)に対応する処理となっている。 Furthermore, in this embodiment, step S9 in FIG. 2 is processing corresponding to the intensity value acquisition means (intensity value acquisition step), and step S11 in FIG. 2 is intensity value comparison means in the claims. In addition, the processing corresponds to display unevenness detecting means (display unevenness detecting step).
また、本実施形態では、図7のフローチャートにおけるステップS50が、請求項中の強調手段(強調ステップ)に対応する処理となっている。さらに、本実施形態では、図3及び図7のフローチャートにおけるステップS51が、請求項中の積分手段(積分ステップ)に対応する処理となっており、図3及び図7中のステップS53が、請求項中の差分手段(差分ステップ)に対応する処理となっている。 Further, in the present embodiment, step S50 in the flowchart of FIG. 7 is processing corresponding to emphasis means (emphasis step) in the claims. Furthermore, in this embodiment, step S51 in the flowcharts of FIGS. 3 and 7 is processing corresponding to the integration means (integration step) in the claims, and step S53 in FIGS. 3 and 7 is charged. The processing corresponds to the difference means (difference step) in the paragraph.
なお、表示むら検出装置1が出力する表示むらの検出結果情報は、例えば、液晶パネルディスプレイ3が個々の表示むらの有無やその内容に応じて記憶保持する、表示むら解消用の入力画像データに対する補正データを生成するのに、利用することができる。特に、液晶パネルディスプレイ3の出荷検査ライン等に表示むら検出装置1をインラインで設ければ、表示むら検出工程を前後の工程と連携させることができる。 The display unevenness detection result information output from the display unevenness detection device 1 is, for example, for input image data for eliminating display unevenness that is stored and held in accordance with the presence or absence of individual display unevenness and the content thereof. It can be used to generate correction data. In particular, if the display unevenness detection device 1 is provided in-line on a shipping inspection line or the like of the liquid crystal panel display 3, the display unevenness detection process can be linked with the preceding and subsequent processes.
その場合は、出荷検査ラインを統括管理するコントローラ(図示せず)や、ライン上の各工程を個別管理するユニットコントローラ(図示せず、表示むら検出工程に関しては、表示むら検出装置1がこれに相当)が、以下の手順を実行することになる。 In that case, a controller (not shown) that manages the shipping inspection line as a whole and a unit controller (not shown) that individually manages each process on the line, the display unevenness detection device 1 provides the display unevenness detection process. However, the following procedure is executed.
即ち、図13に示すように、ステップS101において、図2のフローチャートを参照して説明した、表示むら検出装置1による表示むらの検出処理を行い、続いて、表示むら検出装置1が出力する表示むらの検出結果情報から、表示むらの有無を検出する(ステップS103)。表示むらが存在しない場合は(ステップS103でNO)、良品と判定して、検査対象の液晶パネルディスプレイ3に関する検査工程を終了する。 That is, as shown in FIG. 13, in step S101, the display unevenness detection apparatus 1 described with reference to the flowchart of FIG. 2 performs the display unevenness detection process, and subsequently the display unevenness detection apparatus 1 outputs the display. The presence or absence of display unevenness is detected from the unevenness detection result information (step S103). If there is no display unevenness (NO in step S103), it is determined as a non-defective product and the inspection process for the liquid crystal panel display 3 to be inspected is terminated.
一方、表示むらが存在する場合は(ステップS103でYES)、その液晶パネルディスプレイ3について表示むら検出装置1が、表示むらを検出した旨の検査結果情報を出力した回数を、設定回数と比較する(ステップS105)。そして、出力回数が設定回数を超えた場合は(ステップS105でYES)、不良品と判定して、検査対象の液晶パネルディスプレイ3に関する検査工程を終了する。 On the other hand, if there is display unevenness (YES in step S103), the number of times that the display unevenness detection device 1 outputs the inspection result information indicating that display unevenness has been detected for the liquid crystal panel display 3 is compared with the set number of times. (Step S105). If the number of outputs exceeds the set number (YES in step S105), it is determined as a defective product, and the inspection process for the liquid crystal panel display 3 to be inspected is terminated.
一方、表示むらを検出したとの検出結果情報の出力回数が設定回数を超えていない場合は(ステップS105でNO)、表示むら検出装置1が検出した表示むらを解消するための入力画像データに対する補正データの生成処理を行う(ステップS107)。 On the other hand, when the output number of detection result information indicating that display unevenness has been detected does not exceed the set number of times (NO in step S105), input image data for eliminating display unevenness detected by the display unevenness detection device 1 is output. Correction data generation processing is performed (step S107).
補正データの生成処理は、出荷検査ラインの補正データ生成ユニット(図示せず)が有しているユニットコントローラが実行する。生成した補正データは、液晶パネルディスプレイ3が内蔵するドライバ回路のフラッシュメモリ(図示せず)に、ユニットコントローラによって新規に書き込まれるか、上書き更新される。この補正データが適切な内容であれば、ドライバ回路に入力画像データが入力された際に、フラッシュメモリから読み出した補正データによって、表示むらを相殺する補正が入力画像データに施され、液晶パネルディスプレイ3の表示画面から表示むらがなくなることになる。 The correction data generation processing is executed by a unit controller included in a correction data generation unit (not shown) of the shipping inspection line. The generated correction data is newly written or overwritten and updated by a unit controller in a flash memory (not shown) of a driver circuit built in the liquid crystal panel display 3. If the correction data is appropriate, when the input image data is input to the driver circuit, the input image data is corrected by the correction data read from the flash memory so as to cancel the display unevenness. The display unevenness from the display screen 3 is eliminated.
そして、ステップS107の補正データの生成処理後に、再度、ステップS101にリターンし、図2のフローチャートを参照して説明した、表示むら検出装置1による表示むらの検出処理を行う。したがって、表示むらの検出処理と液晶パネルディスプレイ3の補正データの更新を設定回数繰り返しても、表示むら検出装置1によって表示むらが検出され続ける場合は、その液晶パネルディスプレイ3は不良品と判定されることになる。 Then, after the correction data generation process of step S107, the process returns to step S101 again, and the display unevenness detection process by the display unevenness detection apparatus 1 described with reference to the flowchart of FIG. 2 is performed. Therefore, if display unevenness is detected by the display unevenness detection device 1 even after the display unevenness detection process and the correction data update of the liquid crystal panel display 3 are repeated a set number of times, the liquid crystal panel display 3 is determined to be defective. Will be.
以上に説明したように、本実施形態の表示むら検出装置1によれば、CCDカメラ5から取得した液晶パネルディスプレイ3の表示画像の出力画像データから液晶パネルディスプレイ3の各画素の画素値を取得し、さらに微分画素値を取得して、むら判定閾値と比較するようにした。そして、微分画素値がむら判定閾値を超えた隣接画素群を、表示むらの発生エリアとしてまず検出するようにした。 As described above, according to the display unevenness detection apparatus 1 of the present embodiment, the pixel value of each pixel of the liquid crystal panel display 3 is acquired from the output image data of the display image of the liquid crystal panel display 3 acquired from the CCD camera 5. In addition, the differential pixel value is acquired and compared with the unevenness determination threshold value. Then, an adjacent pixel group whose differential pixel value has exceeded the unevenness determination threshold is first detected as a display unevenness occurrence area.
続いて、各表示むらの発生エリア毎に表示むらの強度を計算し、その値をむら強度閾値と比較して、むら強度閾値を超える場合に、その発生エリアを表示むらとして最終的に検出するようにした。 Subsequently, the intensity of display unevenness is calculated for each display unevenness occurrence area, the value is compared with the unevenness intensity threshold value, and when the unevenness intensity threshold is exceeded, the occurrence area is finally detected as display unevenness. I did it.
このため、まずは、表示むらの候補となるエリアが、表示むらの発生エリアとして一次的に検出される。そして、検出された発生エリアを表示むらの強度値の高さで絞り込むことで、視覚上でも認識される明らかな表示むらが最終的に検出される。よって、微分画素値の分布から単純に表示むらを検出するのに比べて、液晶パネルディスプレイ3の表示むらをより高い精度で検出することができる。 For this reason, first, an area that is a candidate for display unevenness is primarily detected as an area where display unevenness occurs. Then, by narrowing down the detected generation area by the height of the intensity value of display unevenness, clear display unevenness that can be recognized visually is finally detected. Therefore, the display unevenness of the liquid crystal panel display 3 can be detected with higher accuracy than simply detecting the display unevenness from the distribution of the differential pixel values.
なお、線状むらの検出のために、強調処理を含む図7のフローチャートの微分処理を、図3のフローチャートの微分処理と共に行う構成は、省略してもよい。また、図3や図7のステップS51の積分処理の際に、図4及び図5を参照して説明したように、積分対象画素と液晶パネルディスプレイ3の外周辺との位置関係に応じて、空間フィルタ50の一部のカーネル列を無効化する構成は、省略してもよい。さらに、表示むらの強度は、SEMU値以外の値で評価してもよい。 Note that the configuration in which the differentiation process of the flowchart of FIG. 7 including the enhancement process is performed together with the differentiation process of the flowchart of FIG. 3 to detect linear unevenness may be omitted. Further, during the integration process in step S51 of FIGS. 3 and 7, as described with reference to FIGS. 4 and 5, according to the positional relationship between the integration target pixel and the outer periphery of the liquid crystal panel display 3, A configuration for invalidating a part of the kernel string of the spatial filter 50 may be omitted. Further, the intensity of display unevenness may be evaluated by a value other than the SEMU value.
そして、冒頭においても述べたように、本発明の表示むら検出方法とこの方法を適用した表示むら検出装置は、上述した実施形態で説明した液晶パネルディスプレイ3の他、プラズマパネルディスプレイや有機ELディスプレイ等の表示デバイスにおける表示むらの検出にも利用可能である。 As described at the beginning, the display unevenness detection method of the present invention and the display unevenness detection apparatus to which this method is applied include a plasma panel display and an organic EL display in addition to the liquid crystal panel display 3 described in the above embodiment. It is also possible to detect display unevenness in a display device such as the above.
表示デバイスの表示むらを画像処理により検出する際に広く適用可能である。 The present invention can be widely applied when detecting display unevenness of a display device by image processing.
1 表示むら検出装置
3 液晶パネルディスプレイ
5 CCDカメラ
31 左辺
32,36 感度補正ライン
33,37 近傍エリア
35 上辺
39 領域
40,50 空間フィルタDESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Display unevenness detection apparatus 3 Liquid crystal panel display 5 CCD camera 31 Left side 32,36 Sensitivity correction line 33,37 Neighborhood area 35 Upper side 39 Area 40,50 Spatial filter
Claims (2)
前記表示デバイスの表示むらの形状及び大きさに対応したカーネルサイズの空間フィルタを用いて前記表示デバイスの各画素値を周辺画素の画素値と平均化することで積分し、前記表示デバイスの各画素の積分画素値を取得する積分ステップと、
前記表示デバイスの各画素における前記画素値と前記積分画素値との差分により、前記表示デバイスの各画素の微分画素値を取得する差分ステップと、
前記表示デバイスの前記微分画素値が所定のむら判定閾値を超える画素の分布に基づいて、前記表示デバイスにおける前記表示むらの発生エリアを検出するむらエリア検出ステップと、
前記発生エリアに属する各画素の前記画素値又は前記微分画素値に基づいて前記発生エリアの平均コントラストを算出すると共に、前記発生エリアの面積に基づいて感知限界の表示むらの濃さを算出し、前記算出した平均コントラストと感知限界の表示むらの濃さとに基づいて前記発生エリアの表示むら強度を示すSEMU値を取得する強度値取得ステップと、
前記SEMU値が所定のむら強度閾値を超える前記発生エリアを、前記表示むらとして検出する表示むら検出ステップと、を含み、
前記積分画素値の取得対象画素が前記表示デバイスの各外周辺からシェーディングが発生しやすい感度補正ラインまでの近傍エリアのいずれかに属する場合に、前記積分ステップにおいて、前記取得対象画素が属する近傍エリアに対応する辺の延在方向への方向性を持たせるように前記延在方向と直交する方向の光の感度を下げた前記空間フィルタを用いて、前記取得対象画素の画素値を積分するようにした
表示デバイスの表示むら検出方法。 Based on output image data obtained by photographing an image displayed by the display device, a pixel value acquisition step of acquiring a pixel value of each pixel of the display device;
Each pixel value of the display device is integrated by averaging each pixel value of the display device with a pixel value of a surrounding pixel using a kernel size spatial filter corresponding to the shape and size of the display unevenness of the display device, and each pixel of the display device An integration step for obtaining an integration pixel value of
A difference step of obtaining a differential pixel value of each pixel of the display device by a difference between the pixel value and the integral pixel value in each pixel of the display device;
An uneven area detecting step for detecting an area where the display unevenness occurs in the display device based on a distribution of pixels in which the differential pixel value of the display device exceeds a predetermined unevenness determination threshold;
Calculate the average contrast of the generation area based on the pixel value or the differential pixel value of each pixel belonging to the generation area, and calculate the density of the display unevenness of the detection limit based on the area of the generation area, An intensity value acquisition step of acquiring a SEMU value indicating the display unevenness intensity of the occurrence area based on the calculated average contrast and the display unevenness density of the detection limit;
A display unevenness detecting step of detecting the occurrence area in which the SEMU value exceeds a predetermined unevenness intensity threshold as the display unevenness ,
When the acquisition target pixel of the integration pixel value belongs to any one of the vicinity areas from the outer periphery of the display device to the sensitivity correction line where shading is likely to occur, in the integration step, the vicinity area to which the acquisition target pixel belongs The pixel value of the acquisition target pixel is integrated using the spatial filter in which the sensitivity of light in the direction orthogonal to the extending direction is lowered so as to have directionality in the extending direction of the side corresponding to The display unevenness detection method of the display device.
前記表示デバイスの表示むらの形状及び大きさに対応したカーネルサイズの空間フィルタを用いて前記表示デバイスの各画素値を周辺画素の画素値と平均化することで積分し、前記表示デバイスの各画素の積分画素値を取得する積分手段と、
前記表示デバイスの各画素における前記画素値と前記積分画素値との差分により、前記表示デバイスの各画素の微分画素値を取得する差分手段と、
前記表示デバイスの各画素の前記微分画素値を所定のむら判定閾値と比較する画素値比較手段と、
前記微分画素値が前記むら判定閾値を超えた画素の分布に基づいて、前記表示デバイスにおける前記表示むらの発生エリアを検出するむらエリア検出手段と、
前記発生エリアに属する各画素の前記画素値又は前記微分画素値に基づいて前記発生エリアの平均コントラストを算出すると共に、前記発生エリアの面積に基づいて感知限界の表示むらの濃さを算出し、前記算出した平均コントラストと感知限界の表示むらの濃さとに基づいて、前記発生エリアの表示むら強度を示すSEMU値を取得する強度値取得手段と、
前記SEMU値を所定のむら強度閾値と比較する強度値比較手段と、
前記SEMU値が所定のむら強度閾値を超えた前記発生エリアを、前記表示むらとして検出する表示むら検出手段と、を備え、
前記積分手段は、前記積分画素値の取得対象画素が前記表示デバイスの各外周辺からシェーディングが発生しやすい感度補正ラインまでの近傍エリアのいずれかに属する場合に、前記取得対象画素が属する近傍エリアに対応する辺の延在方向への方向性を持たせるように前記延在方向と直交する方向の光の感度を下げた前記空間フィルタを用いて、前記取得対象画素の画素値を積分する、
表示デバイスの表示むら検出装置。
A pixel value obtaining unit that assigns each pixel value of output image data obtained by photographing an image displayed by the display device to each pixel of the display device, and obtains a pixel value of each pixel of the display device;
Each pixel value of the display device is integrated by averaging each pixel value of the display device with a pixel value of a surrounding pixel using a kernel size spatial filter corresponding to the shape and size of the display unevenness of the display device, and each pixel of the display device An integration means for obtaining an integral pixel value of
Difference means for obtaining a differential pixel value of each pixel of the display device by a difference between the pixel value and the integrated pixel value in each pixel of the display device;
Pixel value comparison means for comparing the differential pixel value of each pixel of the display device with a predetermined unevenness determination threshold;
An uneven area detecting unit that detects an occurrence area of the display unevenness in the display device based on a distribution of pixels in which the differential pixel value exceeds the unevenness determination threshold;
Calculate the average contrast of the generation area based on the pixel value or the differential pixel value of each pixel belonging to the generation area, and calculate the density of the display unevenness of the detection limit based on the area of the generation area, Intensity value acquisition means for acquiring a SEMU value indicating the display unevenness intensity of the occurrence area based on the calculated average contrast and the display unevenness density of the detection limit;
Intensity value comparing means for comparing the SEMU value with a predetermined uneven intensity threshold;
Display unevenness detecting means for detecting the occurrence area where the SEMU value exceeds a predetermined unevenness intensity threshold as the display unevenness ,
The integration means, when the acquisition target pixel of the integration pixel value belongs to any one of the vicinity areas from each outer periphery of the display device to a sensitivity correction line where shading is likely to occur, the neighboring area to which the acquisition target pixel belongs The pixel value of the acquisition target pixel is integrated using the spatial filter in which the sensitivity of the light in the direction orthogonal to the extending direction is lowered so as to have directionality in the extending direction of the side corresponding to
Display unevenness detection device for display device.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2012/055273 WO2013128617A1 (en) | 2012-03-01 | 2012-03-01 | Display unevenness detection method and device for display device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2013128617A1 JPWO2013128617A1 (en) | 2015-07-30 |
JP6041858B2 true JP6041858B2 (en) | 2016-12-14 |
Family
ID=49081861
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014501916A Active JP6041858B2 (en) | 2012-03-01 | 2012-03-01 | Method and apparatus for detecting display unevenness of display device |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6041858B2 (en) |
KR (1) | KR101640118B1 (en) |
CN (1) | CN104160439B (en) |
TW (1) | TWI501626B (en) |
WO (1) | WO2013128617A1 (en) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104137171B (en) * | 2012-03-01 | 2017-03-29 | 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 | The uneven detection method of display of display device and its device |
CN107408367B (en) * | 2015-03-20 | 2020-08-07 | 华为技术有限公司 | Method, device and system for correcting unevenness of display screen |
CN106231295A (en) * | 2016-08-04 | 2016-12-14 | 惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司 | A kind of display screen image quality automatic checkout system, detection method and application thereof |
KR101796497B1 (en) * | 2016-09-12 | 2017-11-14 | (주)코텍 | Apparatus and method for designing light guiding plate pattern |
TW201822709A (en) * | 2016-12-30 | 2018-07-01 | 曦威科技股份有限公司 | Real-time heart rate detection method and real-time heart rate detection system therefor |
CN108281120B (en) * | 2018-01-27 | 2020-04-10 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | Mura repairing method of display panel |
CN110782829A (en) * | 2018-07-30 | 2020-02-11 | 联士光电(深圳)有限公司 | Micro-LED light field uniformity modulation method |
CN109472775A (en) * | 2018-10-16 | 2019-03-15 | 深圳市华星光电技术有限公司 | Display periphery detection system and its method |
JP2020086419A (en) * | 2018-11-28 | 2020-06-04 | 雄二 橋本 | Adjustment method and adjustment system for obtaining uniformity of plural control objects and conveyer device and adjusted equipment |
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KR102575130B1 (en) * | 2018-12-26 | 2023-09-05 | 주식회사 엘엑스세미콘 | Dmura compensation driver |
CN111652865B (en) | 2020-05-29 | 2022-04-08 | 惠州市华星光电技术有限公司 | Mura detection method, device and readable storage medium |
CN111796441B (en) * | 2020-07-30 | 2023-03-24 | 固安浩瀚光电科技有限公司 | Development device for independent Mura restoration framework of liquid crystal display panel secondary development |
CN112184723B (en) * | 2020-09-16 | 2024-03-26 | 杭州三坛医疗科技有限公司 | Image processing method and device, electronic equipment and storage medium |
CN115793299B (en) * | 2023-02-06 | 2023-06-13 | 康惠(惠州)半导体有限公司 | Device and method for detecting brightness uniformity of touch TFT display screen |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06308918A (en) * | 1993-04-21 | 1994-11-04 | Fujitsu Ltd | Control method for displaying screen and control device for displaying screen |
JP2002122511A (en) * | 2000-10-17 | 2002-04-26 | Advanced Display Inc | Display unevenness detector and detection method |
JP2004354465A (en) * | 2003-05-27 | 2004-12-16 | Micronics Japan Co Ltd | Lighting inspecting device for liquid crystal display panel |
JP2005121724A (en) * | 2003-10-14 | 2005-05-12 | Sankyo Kk | Adjusting method of flat display apparatus |
KR100559870B1 (en) * | 2003-11-04 | 2006-03-13 | 현대자동차주식회사 | A method for changing traveling lane |
JP2005150349A (en) | 2003-11-14 | 2005-06-09 | Tdk Corp | Method for manufacturing laminated electronic component |
JP2005165387A (en) * | 2003-11-28 | 2005-06-23 | Seiko Epson Corp | Method and device for detecting stripe defective of picture and display device |
US8184923B2 (en) * | 2004-04-19 | 2012-05-22 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Image analysis method, image analysis program, pixel evaluation system having the image analysis method, and pixel evaluation system having the image analysis program |
JP2005331929A (en) * | 2004-04-19 | 2005-12-02 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | Image analysis method, image analysis program, and pixel evaluation system therewith |
JP2006135381A (en) * | 2004-11-02 | 2006-05-25 | Olympus Corp | Calibration method and calibration apparatus |
JP2006210043A (en) * | 2005-01-26 | 2006-08-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Image evaluation method of plasma display panel |
JP4681033B2 (en) | 2008-07-31 | 2011-05-11 | 株式会社イクス | Image correction data generation system, image data generation method, and image correction circuit |
TW201022653A (en) * | 2008-12-10 | 2010-06-16 | Ind Tech Res Inst | Inspection method and system for display |
JP5371099B2 (en) * | 2009-05-19 | 2013-12-18 | 株式会社日本マイクロニクス | Visual inspection device and visual inspection method |
JP5026545B2 (en) * | 2010-03-30 | 2012-09-12 | シャープ株式会社 | Display device, luminance unevenness correction method, correction data creation device, and correction data creation method |
JP4968380B2 (en) * | 2010-03-03 | 2012-07-04 | カシオ計算機株式会社 | Contact state detection method, touch panel device, and display device |
JP5310811B2 (en) * | 2011-09-06 | 2013-10-09 | ソニー株式会社 | Temperature unevenness correction amount determination method, display device, temperature unevenness correction amount determination device, temperature unevenness correction device, and program |
CN104137171B (en) * | 2012-03-01 | 2017-03-29 | 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 | The uneven detection method of display of display device and its device |
-
2012
- 2012-03-01 WO PCT/JP2012/055273 patent/WO2013128617A1/en active Application Filing
- 2012-03-01 KR KR1020147026918A patent/KR101640118B1/en active IP Right Grant
- 2012-03-01 CN CN201280071032.XA patent/CN104160439B/en active Active
- 2012-03-01 JP JP2014501916A patent/JP6041858B2/en active Active
- 2012-05-04 TW TW101115957A patent/TWI501626B/en active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN104160439B (en) | 2017-03-01 |
JPWO2013128617A1 (en) | 2015-07-30 |
CN104160439A (en) | 2014-11-19 |
TW201338501A (en) | 2013-09-16 |
TWI501626B (en) | 2015-09-21 |
WO2013128617A1 (en) | 2013-09-06 |
KR20140133882A (en) | 2014-11-20 |
KR101640118B1 (en) | 2016-07-15 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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