JP6033207B2 - 外部短絡試験装置および外部短絡試験方法 - Google Patents

Description

本発明は、リチウムイオン電池等の蓄電デバイスを対象とする外部短絡試験を行うための外部短絡試験装置および外部短絡試験方法に関する。

移動情報端末機器、あるいはＥＶ（Electric Vehicle）、ＨＥＶ（Hybrid Electric Vehicle）など、様々な分野で用いられるリチウムイオン電池のような蓄電デバイスは、用途がますます拡大されている。その中で、大容量化、軽量化、あるいは大型化の観点から、それぞれの電池の用途に応じた高性能化が進められている。このような高性能化が進む中で、蓄電デバイスの安全性の向上が求められると同時に、安全性を評価する技術の向上も求められている。

蓄電デバイスの安全性評価の一つに外部短絡試験（例えば、非特許文献１参照。）がある。外部短絡試験は、蓄電デバイスの取り扱い中に、治工具類やその他導電性の物が蓄電デバイスの端子（正極端子と負極端子）に接触して、蓄電デバイスが短絡するといった不慮の事故を想定した短絡試験であり、その時の蓄電デバイスの事象を評価するものである。しかしながら、従来の特性評価装置は、蓄電デバイスの特性を評価するためや、蓄電デバイス自身が短絡していないかを評価・検査する装置であった（例えば、特許文献１参照。）。

特開平１１−２８８７４３号公報（段落００１８〜００２４、図１）

「電池工業会規格 ＳＢＡ Ｓ １１０１：２０１１「産業用リチウム二次電池の安全性試験（単電池及び電池システム）」 ８．２．１ 外部短絡試験」、社団法人電池工業会、2011年、ｐ７

そのため、従来の特性評価装置では、外部短絡時に実際に蓄電デバイスに流れる大電流を測定することや、その時の電圧降下を正確に評価することができなかった。例えば特許文献１では、インダクタンス成分吸収回路を用い、測定用端子を電極端子に接触させた際に流れる電流を測定している。そのため、実際の短絡時を想定した純粋な短絡による大電流を評価できず、また、接触の際に火花放電が発生する可能性があり、十分な電流の取り出しもできなかった。

この発明は、上記のような問題点を解決するためになされたものであり、蓄電デバイスで外部短絡が生じた際の事象を正確に評価できる外部短絡試験装置および外部短絡試験方法を提供することを目的としている。

本発明にかかる蓄電デバイスの外部短絡試験装置は、蓄電デバイスの正極端子と負極端子との間を短絡させる外部短絡回路によって、前記蓄電デバイスの外部短絡試験を行う装置であって、前記外部短絡回路には、前記正極端子と前記負極端子に各別に接続されて対をなす長尺状の端子と、前記外部短絡回路に挿入された開閉器と、が設けられ、前記長尺状の端子は、前記正極端子と前記負極端子に各別に接続された際、前記長尺方向に沿って前記正極端子と前記負極端子の間隔よりも狭い間隔で並ぶ平行導体を形成することを特徴とする。

本発明にかかる蓄電デバイスの外部短絡試験方法は、開閉器が挿入された外部短絡回路を用いて蓄電デバイスの正極端子と負極端子との間に短絡を生じさせ、前記蓄電デバイスの外部短絡試験を行う方法であって、前記開閉器を開にした状態で、前記外部短絡回路の対をなす端子を前記正極端子と前記負極端子に各別に接続する工程と、前記開閉器を開から閉に切り替え、前記短絡を生じさせる工程と、少なくとも前記短絡時に前記外部短絡回路に流れる電流を測定する工程と、を含み、前記対をなす端子は、それぞれ長尺状をなすとともに、前記正極端子と前記負極端子に各別に接続された際、前記長尺方向に沿って前記正極端子と前記負極端子の間隔よりも狭い間隔で並ぶ平行導体が形成されることを特徴とする。

この発明によれば、蓄電デバイスとの接続時に火花等が発生することなく、かつ、短絡時に発生するインダクタンス成分が抑制でき、大電流を計測することができるので、蓄電デバイスで外部短絡が生じた際の事象を正確に評価することができる。

本発明の実施の形態１にかかる蓄電デバイスの外部短絡試験装置の主要な構成要素を示すブロック図である。 本発明の実施の形態１にかかる蓄電デバイスの外部短絡試験装置および外部短絡試験方法の試験対象となる蓄電デバイスの外観を示す斜視図である。 本発明の実施の形態１にかかる外部短絡試験装置の端子部材に箱形の蓄電デバイスを接続した状態を示す斜視図である。 本発明の実施の形態１の変形例にかかる外部短絡試験装置の端子部材に円柱形の蓄電デバイスを接続した状態を示す斜視図である。

実施の形態１．
図１〜図４は、本発明の実施の形態１にかかる外部短絡試験装置および外部短絡試験方法について説明するためのもので、図１は蓄電デバイスの外部短絡試験装置の主要な構成要素である回路構成機器の関係を示すブロック図、図２は試験対象の一例である箱形の蓄電デバイスの外観を示す斜視図、図３は外部短絡試験装置の端子部材に箱形の蓄電デバイスを接続した状態を示す斜視図である。また、図４は端子部材の構成を変えた変形例として、ケーブルを用いた端子部材に、試験対象として円柱形の蓄電デバイスを接続した状態を示す斜視図である。

本発明の実施の形態１にかかる蓄電デバイスの外部短絡試験装置１０は、図１に示すように、試験対象の蓄電デバイス９０に対して、外部短絡を生じさせるための外部短絡回路５を備えたものであり、蓄電デバイス９０の両端子に接続する端子部２と、外部短絡回路５の開閉を行う開閉器である真空スイッチ３と、外部短絡回路５に流れる電流を計測するためのシャント抵抗４と、外部短絡試験における制御と試験中に必要なデータを計測する計測制御部６とを備えている。

外部短絡試験装置１０の詳細な説明に先立ち、はじめに試験対象である蓄電デバイス９０の基本的な構成について説明する。
試験対象である蓄電デバイス９０は、図２に示すように、例えば、箱状の容器９２の一面から、正極端子９１Ａと負極端子９１Ｂ（まとめて電極端子９１）が外部に露出するいわゆる箱形のリチウム電池である。電極端子９１は、電気接続を行うための端子面９１ｆと、端子面９１ｆの中央部分から突出し、例えば締結用のネジが切られた突出部９１ｐとで構成され、それぞれ間隔をあけて配置されている。したがって、このような形態の蓄電デバイス９０を試験する時は、端子部２がそれぞれ端子面９と接触するように接続を行う。

端子部２は、上述したように、蓄電デバイス９０の電極端子９１に各別に取り付けるものであり、従来は、先端に設けられたクリップ等を電極端子の突出部９１ｐに挟み込むなどして外部回路との電気接続を行うように構成されていた。しかし、本実施の形態にかかる外部短絡試験装置１０では、図３に示すように、端子部２を構成するそれぞれの端子体２Ａ、２Ｂは、電極端子９１を取り付けるための長穴２ｓが設けられた長尺状の取付板部２ｔと取付板部２ｔに対して長尺方向を揃えた平板部２ｐとを一体化して形成したものである。そして、取付板部２ｔを一方の電極端子９１（例えば正極端子９１Ａ）に取り付けた際に、平板部２ｐの平坦な面が、両電極端子９１間を結ぶ線と長尺方向の線を含む面に平行になるように構成されている。

さらに、両端子体２Ａ、２Ｂを蓄電デバイス９０に接続する際には、端子体２Ａ、２Ｂは、両端の位置を揃え、平板部２ｐどうしが所定の間隔Ｇｅをあけて対向するように、互いに平行になるように配置する。つまり、端子部２は、試験対象である蓄電デバイス９０に取り付けられると、蓄電デバイスとの電気接続端子であると同時に、所定の間隔Ｇｅをあけた導体の平行平板部材として機能するように構成している。また、端子部２のうち、電極端子９１と接触する部分（例えば、取付板部２ｔ）の表面は、端子面９１ｆと同じか、それ以上の大きさになるように形状を調整している。

また、取付板部２ｔには、長尺方向に沿って長穴２ｓが形成されており、長尺方向の任意の位置で電極端子９１との取り付けができるように構成されている。そのため、電極端子９１を取り付けた位置に応じて電流が流れる経路長が変化し、外部短絡回路５としての抵抗値を調整することができる。

つまり、端子部２は、電極端子９１との接触面を広くすること、端子体２Ａ、２Ｂの平板部２ｐが、互いに絶縁距離（間隔Ｇｅ）を保ちながら平行に配置することを両立している。そのため、短絡時の大電流が発生したときのインダクタンス成分を抑制することができ、より大電流を取り出すことができ、蓄電デバイス９０を評価することができる。さらに、長穴２ｓ内の任意の位置に電極端子９１をスライドさせ固定できるようにしたことで、正極端子９１Ａから負極端子９１Ｂまでの外部短絡回路５の経路長を長くしたり、短くしたりすることで、外部短絡回路５の抵抗値を所望の値に調整することができる。

真空スイッチ３は、外部短絡回路５の開閉を行うためのものであり、短絡試験で流れる電流に対応し、任意のタイミングで開閉ができるように構成されている。とくに、開から閉への切り替えの際に、ステップ状に入り切りでき、ノイズ発生が少なく、切替特性に優れた開閉器であれば、真空スイッチに限ることはない。なお、真空スイッチ３は、上述した端子部２を蓄電デバイス９０に取り付ける際を含め、通常は開いており、計測制御部６による制御あるいは手動制御により、開閉を切り替えるようにしている。

シャント抵抗４については、短絡試験で流れる電流に対応する仕様であれば、基本的には一般的にシャント抵抗として使用されているものでよい。

計測制御部６は、短絡時の蓄電デバイス９０の事象を評価するため、電流、電圧、温度等の物理量を計測するとともに、上述した真空スイッチ３の切り替えを制御する機能を有している。本実施の形態においては、シャント抵抗４にかかる電圧を測定する計測線６ａと、蓄電デバイス９０の端子電圧を測定するための計測線６ｂと、蓄電デバイス９０の温度を測るための、例えば一端に熱電対や白金測温体などの温度センサーが接続された温度計測線６ｃなどが接続されている。また、真空スイッチ３の動作を制御する制御用ライン６ｄが接続されている。なお、計測制御部６は、ハードウェアーとして、ひとつの機器で構成する必要はなく、複数の機器を組み合わせたものでもよい。

なお、本実施の形態では、短絡試験時の電流の計測手段にシャント抵抗４を用いているが、例えば、ケーブルまわりの磁場によって電流を測定するＣＴ（Current Transformer）を用いてもよい。また、短絡前後の蓄電デバイス９０の様子を確認するため撮影機器を備えてもよい。また、測定は、任意の期間測定するようにしてもよいが、例えば、閉に切り替えた直後の期間については、測定周期が短い詳細なデータを測定したい場合は、真空スイッチ３を閉にするタイミングをトリガーとして詳細なデータ計測を開始するようにしてもよい。あるいは、電流値の変化を検知して開始するようにしてもよく、さらに所定期間を過ぎると測定周期が長くなるように切り替えるようにしてもよい。

次に上述した外部短絡試験装置１０を用いた蓄電デバイス９０の外部短絡試験方法について説明する。
まず、図１に示す構成となるように上述した外部短絡試験装置１０と蓄電デバイス９０を準備する。この蓄電デバイス９０を外部短絡回路５に接続するにあたり、外部短絡回路５の抵抗値を決める。そもそも外部短絡試験や評価では、蓄電デバイス９０を短絡させる時の外部短絡回路５の抵抗値を決めて、その抵抗値で短絡させた場合の蓄電デバイス９０に生ずる現象を評価するものである。そのため、蓄電デバイス９０の試験や評価では、この蓄電デバイスに接続する外部短絡回路５の抵抗値を、規格や仕様、または客先の要求に合わせて決めた値で試験、評価する。

例えば、外部短絡回路５の抵抗値は、非特許文献１に示す規格によると、それぞれの単電池（蓄電デバイス９０に対応）を、正極端子（９１Ａに対応）および負極端子（９１Ｂに対応）を総計３０±１０ｍΩの外部抵抗（外部短絡回路５に対応）に接続して短絡させると記載がある。この規格を適用する場合、予め測定して分かっている総計３０±１０ｍΩになるように、外部短絡回路５に蓄電デバイス９０の正極端子９１Ａおよび負極端子９１Ｂに端子部２を接続する。本発明による実施の形態１では、一例として非特許文献１の規格に示される抵抗値を用いるが、本発明は外部短絡回路５の抵抗値を様々な値に可変設定できる。なお、外部短絡回路５の抵抗値の調整において、例えば、端子部２での経路長を最大限にとった場合の抵抗値よりも高い抵抗値で短絡事象を評価したい場合は、外部短絡回路５の途中に抵抗機器を接続してもよい。

次に、蓄電デバイス９０への端子部２の接続方法について説明する。
本発明の実施の形態にかかる外部短絡試験装置１０では、蓄電デバイス９０の電極端子９１は、端子部２の長尺方向において、任意の位置に取り付けられる。そのため、予め抵抗測定機器を用いて、端子部２の長尺方向における、外部短絡回路５全経路の抵抗値が３０±１０ｍΩとなる範囲を特定し、その範囲内で蓄電デバイス９０の電極端子９１を取り付ける。

取り付ける際は、例えば、蓄電デバイス９０が、図２に示すような形状の場合、容器９２から露出した正極端子９１Ａと負極端子９１Ｂの突出部９１ｐを各端子体２Ａ、２Ｂの取付板部２ｔの長穴２ｓに通し、上からナット７で締め付ける。この時、取り付け位置を微妙にずらしたい場合は、端子部２の長穴２ｓに沿って蓄電デバイス９０をスライドさせることで簡単に調整できる。また、端子部２において事前に測定した抵抗値をメモリとして、取付板部２ｔ等に目印等を付けておけば、外部短絡回路５の抵抗値の設定が容易に分かる。その際、蓄電デバイス９０と接続する端子部２の構成に関しては、本実施の形態に示すような平板状ではなく、後述する変形例のようにケーブルで構成してもよい。

なお、外部短絡回路５の抵抗値を測定する際には、蓄電デバイス９０は、外部短絡回路５から取外した状態（端子部２と接続していない状態）で測定する。また、外部短絡回路５の抵抗値の総計を測定するため、外部短絡回路５全体を閉回路にする必要があり、外部短絡回路５に接続している真空スイッチ３をＯＮ（閉）状態にして、外部短絡回路５の抵抗値を測定する。抵抗値の測定が終われば、外部短絡回路５にある真空スイッチ３を必ずＯＦＦ（開）状態にし、回路をオープンにしなければならない。これにて、所望の抵抗値を得る端子部２の接続範囲が決定し、その範囲内において、蓄電デバイス９０の正極端子９１Ａと負極端子９１Ｂをそれぞれ接続する。

どのような場合でも、蓄電デバイス９０と端子部２との接続あるいは接続の解除を行う際は、外部短絡回路５に接続された真空スイッチ３がＯＦＦ状態になっていることを毎回必ず確認する。さもなければ、もし真空スイッチ３がＯＮ状態である場合に蓄電デバイス９０を外部短絡回路５に接続すると、その瞬間に短絡が生じ、適正な試験ができない。さらには、端子部２と電極端子９１間での火花等の発生による、電極端子９１の損傷や、試験対象である蓄電デバイス９０自体の状態変化が発生してしまい、試験対象として扱えなくなる可能性がある。

次に、短絡時の蓄電デバイス９０の現象を評価できるよう測定機器類を準備する。
本発明による外部短絡試験装置１０は、上述したように短絡時の電流、電圧、温度を評価する計測制御部６を備え、計測制御部６には、計測用のケーブル（計測線６ａ〜６ｄ等）が接続できるようになっている。そこで、図１に示すように、計測線６ａをシャント抵抗４の両端に接続し、シャント抵抗４にかかる微小電圧を計測できるようにする。短絡電流は、計測した電圧とシャント抵抗の抵抗値に基づいて容易に換算できる。なお、試験対象に応じて、シャント抵抗４を入れ替えることがない限り、計測線６ａは接続したままにしていてもよい。

計測線６ｂを正極端子９１Ａ、負極端子９１Ｂにそれぞれ接続し、蓄電デバイス９０の電圧を計測できるようにする。また、温度計測線６ｃの一端に接続された熱電対や白金測温体などの温度センサー部分を蓄電デバイス９０の容器９２表面に取り付け、蓄電デバイス９０の温度を測定できるようにする。温度計測箇所は、蓄電デバイス９０の表面のみならず、蓄電デバイス９０と端子部２との接続箇所や、端子部２の表面上であってもよい。参考として環境温度を測定してもよい。そして、短絡時の様子を観察するため、撮影機器をセットしてもよい。

これにより、蓄電デバイス９０の外部短絡試験を実施するための準備は完了し、外部短絡試験を開始できる。準備が整った段階では、真空スイッチ３はＯＦＦ状態であり、外部短絡回路５は開状態で、電流が流れない。この状態で、外部短絡回路５に接続した真空スイッチ３をＯＮにして蓄電デバイス９０を短絡させる。真空スイッチ３の開閉によりはじめて外部短絡回路５が閉になるので、従来のように、短絡時に火花放電が発生することを抑制できる。そのため、従来のように、測定用端子を蓄電デバイス９０に接触させることで外部短絡回路を生じさせていた場合に起こっていた接触不良の問題が解消できることとなる。これにより短絡前後の蓄電デバイス９０の状態を測定機器（計測制御部６）で確実に計測することができ、また状態を観察することで蓄電デバイス９０の試験、評価ができる。

＜端子部等の変形例＞
なお、上記実施の形態においては、端子部で導体の平行平板を形成する例を示したが、これに限ることはなく、導体が一定の間隙を有して平行に並ぶような形態であればよい。また、蓄電デバイスが箱形（直方体）の場合を想定した構成について説明したが、試験対象となる蓄電デバイスの形状に限りがあるわけではない。そこで、本変形例においては、端子部を可撓性のあるケーブルで構成し、円柱形で端子が軸方向の両端から露出する蓄電デバイスを用いた例について図４を用いて説明する。図中、上記実施の形態１で説明したものに対応し、変形したものについては数字の直後に「Ｖ」を付した符号をつけている。また、それ以外の主な構成要素については、図１に示す構成と同じであり、詳細な説明は省略する。

図４に示すように、本変形例においては、端子部２Ｖのうち、平行に並ぶ導体を形成するのはケーブル２Ｖｐである。そして、蓄電デバイス９０Ｖは、円柱形をなし、図示しない端子が両端から分かれて露出しているものである。ケーブル２Ｖｐには、蓄電デバイス９０Ｖを取り付けるための中継ブロック２Ｖｒが長尺方向に沿って複数あり、蓄電デバイス９０Ｖを取り付けた中継ブロック２Ｖｒによって、経路長が変化し、外部短絡回路５の抵抗値を変化させることができる。なお、ケーブル２Ｖｐは、丸型ケーブルに限らず平角ケーブルでもよい。

このとき、中継ブロック２Ｖｒを、ケーブル２Ｖｐに沿ってスライドできるようにしておくと、選択した中継ブロック２Ｖｒの位置をスライドさせることで、抵抗値を微妙に調整することができるようになる。また、前もって所望の抵抗値となる接続箇所を特定し、先に中継ブロック２Ｖｒの準備（位置設定）をしておくこともできる。いずれの場合も端子部２Ｖでは、一定以下の間隔をあけた平行導体が形成されるようケーブル２Ｖｐ間を近づけて配置する。

次に、蓄電デバイス９０Ｖへの端子部２Ｖの接続方法について説明する。
円柱型の蓄電デバイス９０Ｖの両端に対し、図示しない正極端子、負極端子をそれぞれ覆うように取付部材２Ｖｔを取り付ける。そして、ケーブル２Ｖｐ上の選択した中継ブロック２Ｖｒに蓄電デバイス９０Ｖに取り付けた取付部材２Ｖｔをネジ８等で接続する。その後、ケーブル２Ｖｐを一定以下の隙間で平行に並ぶように配置する。

このとき、正極端子側の取付部材２Ｖｔ、中継ブロック２Ｖｒ、およびケーブル２Ｖｐに対して、負極端子側の取付部材２Ｖｔ、中継ブロック２Ｖｒ、およびケーブル２Ｖｐが互いに接触しないよう、例えばテープ等で絶縁処理をしておく。すると、平行導体間を短絡させることなく、間隔をできるだけ短い一定以下に容易に保つことができる。

なお、本変形例では、両端子が反対の面から露出する蓄電デバイス９０Ｖに対して、ケーブル２Ｖｐを用いた端子部２Ｖの例を示したが、これに限ることはない。図３に示すような平板部２ｐを用いて平行平板を形成してもよく、その場合、例えば、長穴２ｓを有する取付板部２ｔを平板部２ｐに対して直角に折り曲げるようにして一体化もしくは接続すればよい。

つまり、実施の形態１における平板部２ｐを用いて平行平板を形成する端子部２でも、変形例のように可撓性のあるケーブル２Ｖｐで平行導体を形成する端子部２Ｖでも、蓄電デバイスの電極間の間隔よりも狭い間隔で並ぶようにした。これにより、外部短絡回路５におけるインダクタンスＬｚを下げることができる。

例えば、平板部２ｐを用いて平行平板を形成する端子部２の場合、間隔Ｇｅを蓄電デバイス９０の正極端子９１Ａと負極端子９１Ｂの間隔Ｗｔよりも狭くなるようにした。すると、インダクタンスＬｚは、間隔Ｇｅと平行平板の幅Ｗｐと係数Ａを用いて、式（１）のような関係になる。
Ｌｚ＝Ａ（Ｇｅ／Ｗｐ） ・・・（１）

一方、変形例のように可撓性のあるケーブル２Ｖｐで平行導体を形成する端子部２Ｖでも、蓄電デバイス９０Ｖの端子間距離（間隔Ｗｔ）よりも、導線部分の中心間の距離Ｇｃが狭くなるようにした。これにより、インダクタンスＬｚは、導線部分の中心間の距離Ｇｃと導線の半径Ｒｃと係数Ｂを用いて、式（２）のような関係になる。
Ｌｚ＝Ｂｌｏｇ（Ｇｃ／Ｒｃ） ・・・（２）

どちらの場合も、間隔ＧｅまたはＧｃを端子間の間隔Ｗｔよりも狭めることで、インダクタンス成分を抑制する。そして、外部短絡回路５に設けた真空スイッチ３をＯＮにすることで、はじめて短絡発生するので、端子部２あるいは２Ｖ（以降、まとめて端子部２）の間隔を上述した条件に設定した状態で短絡を開始できる。そのため、どのような形状の蓄電デバイス９０あるいは９０Ｖ（以降、まとめて蓄電デバイス９０）に対しても短絡時に発生するインダクタンス成分が抑制でき、大電流を計測することができる。

また、外部短絡回路５内で開閉を行うので、測定用端子と蓄電デバイスの端子が触れた瞬間に短絡が生じる場合とは異なり、短絡時の火花放電を抑制できる。さらには、蓄電デバイス９０と端子部２との短絡発生時の実質的な接続面積を、端子部２の面積と同程度に確保することができ、蓄電デバイス９０から大電流を取り出すことができる。そのため、接触不良による測定不良、さらには測定不能の発生を防止し、蓄電デバイス９０で外部短絡が生じた際の事象を正確に評価することができる。

また、端子部２に接続する蓄電デバイス９０の接続位置を端子部２内の長尺方向における任意の位置に接続できる機構とすることで、外部短絡回路全体の経路長を調整することができ、所望の外部回路抵抗値で短絡試験することができる。そのため、実際の短絡事象を想定して外部短絡回路の抵抗値を可変させた試験や、蓄電デバイス９０に関する様々な安全規格に対応した試験ができる。同時に短絡時の蓄電デバイス９０の電圧、電流、温度がどのような挙動を示すのかを評価することができる。さらに言えば、規格に示される抵抗値以下の外部短絡回路とした、更に厳しい条件下での試験もでき、蓄電デバイス９０を評価することができる。

以上のように、本発明の実施の形態１にかかる外部短絡試験装置１０によれば、蓄電デバイス９０の正極端子９１Ａと負極端子９１Ｂとの間を短絡させる外部短絡回路５によって、蓄電デバイス９０の外部短絡試験を行う装置であって、外部短絡回路５には、正極端子９１Ａと負極端子９１Ｂに各別に接続されて対をなす長尺状の端子（端子部２）と、外部短絡回路５に挿入された開閉器（真空スイッチ３）と、が設けられ、長尺状の端子（端子部２）は、正極端子９１Ａと負極端子９１Ｂに各別に接続された際、長尺方向に沿って正極端子９１Ａと負極端子９１Ｂの間隔Ｗｔよりも狭い間隔Ｇｅ（または中心間距離Ｇｃ）で並ぶ平行導体を形成するように構成したので、蓄電デバイス９０との接続時に火花等が発生することなく、かつ、短絡時に発生するインダクタンス成分が抑制でき、大電流を計測することができるので、蓄電デバイス９０で外部短絡が生じた際の事象を正確に評価することができる。

また、長尺状の端子（端子部２）は、電流の経路長を調節できるように構成されているので、外部短絡回路５の抵抗値を、例えば規格に応じた所望の抵抗値に調整することができる。その際、長尺状の端子（端子部２）は、正極端子９１Ａと負極端子９１Ｂとの接続位置を長尺方向において変更できるので、容易に所望の抵抗値に調整することができる。

なお、平行導体を、長尺状の端子（端子部２）を構成する平板部材（平板部２ｐ）によって形成するようにすれば、容易に平行導体の隙間を調整できる。

あるいは、平行導体を、長尺状の端子（端子部２Ｖ）を構成するケーブル部材（ケーブル２Ｖｐ）によって形成されるので、様々な形状の蓄電デバイス９０に容易に対応できる。

また、本実施の形態１にかかる蓄電デバイス９０の外部短絡試験方法によれば、開閉器（真空スイッチ３）が挿入された外部短絡回路５を用いて蓄電デバイス９０の正極端子９１Ａと負極端子９１Ｂとの間に短絡を生じさせ、蓄電デバイス９０の外部短絡試験を行う方法であって、開閉器（真空スイッチ３）を開にした状態で、外部短絡回路５の対をなす端子（端子部２）を正極端子９１Ａと負極端子９１Ｂに各別に接続する工程と、開閉器（真空スイッチ３）を開から閉に切り替え、短絡を生じさせる工程と、少なくとも短絡時に外部短絡回路５に流れる電流を測定する工程と、を含み、対をなす端子（端子部２）は、それぞれ（端子体２Ａ、２Ｂ）長尺状をなすとともに、正極端子９１Ａと負極端子９１Ｂに各別に接続された際、長尺方向に沿って正極端子９１Ａと負極端子９１Ｂの間隔Ｗｔよりも狭い間隔Ｇｅ（または中心間距離Ｇｃ）で並ぶ平行導体が形成されるように構成したので、蓄電デバイス９０との接続時に火花等が発生することなく、かつ、短絡時に発生するインダクタンス成分が抑制でき、大電流を計測することができるので、蓄電デバイス９０で外部短絡が生じた際の事象を正確に評価することができる。

２，２Ｖ：端子部、 ２ｐ：平板部（平行導体）、 ２ｓ：長穴、 ２ｔ：取付板部、
２Ｖｒ：中継ブロック、 ２Ｖｐ：ケーブル（平行導体）、 ２Ｖｔ：端子ブロック、
３：真空スイッチ（開閉器）、 ４：シャント抵抗、 ５：外部短絡回路、 ６：計測制御部、 ９０：蓄電デバイス、 ９１：電極端子、
Ｇｅ：平行導体（平板）の間隙、 Ｇｃ：平行導体（ケーブルの中心間）の間隔。

Claims (6)

1. 蓄電デバイスの正極端子と負極端子との間を短絡させる外部短絡回路によって、前記蓄電デバイスの外部短絡試験を行う装置であって、
   前記外部短絡回路には、
   前記正極端子と前記負極端子に各別に接続されて対をなす長尺状の端子と、
   前記外部短絡回路に挿入された開閉器と、が設けられ、
   前記長尺状の端子は、前記正極端子と前記負極端子に各別に接続された際、前記長尺方向に沿って前記正極端子と前記負極端子の間隔よりも狭い間隔で並ぶ平行導体を形成することを特徴とする外部短絡試験装置。
2. 前記長尺状の端子は、電流の経路長を調節できるように構成されていることを特徴とする請求項１に記載の外部短絡試験装置。
3. 前記長尺状の端子は、前記正極端子と前記負極端子との接続位置を前記長尺方向において変更できることを特徴とする請求項２に記載の外部短絡試験装置。
4. 前記平行導体は、前記長尺状の端子を構成する平板部材によって形成されることを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の外部短絡試験装置。
5. 前記平行導体は、前記長尺状の端子を構成するケーブル部材によって形成されることを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の外部短絡試験装置。
6. 開閉器が挿入された外部短絡回路を用いて蓄電デバイスの正極端子と負極端子との間に短絡を生じさせ、前記蓄電デバイスの外部短絡試験を行う方法であって、
   前記開閉器を開にした状態で、前記外部短絡回路の対をなす端子を前記正極端子と前記負極端子に各別に接続する工程と、
   前記開閉器を開から閉に切り替え、前記短絡を生じさせる工程と、
   少なくとも前記短絡が生じた時に前記外部短絡回路に流れる電流を測定する工程と、を含み、
   前記対をなす端子は、それぞれ長尺状をなすとともに、前記正極端子と前記負極端子に各別に接続された際、前記長尺方向に沿って前記正極端子と前記負極端子の間隔よりも狭い間隔で並ぶ平行導体が形成されることを特徴とする外部短絡試験方法。

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