JP6023574B2 - 基板穴明け装置及び基板穴明け方法 - Google Patents
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Description
全体制御部9は、プリント基板1に連続的に穴を明けるよう各部を制御するが、最初の穴の加工動作においては、以下のように制御する。図3は、この場合におけるフローチャートである。
ドリル4による1回目の基板上面検出の際、ドリル4がプリント基板1に接触し、わずかの深さであるが、穴を明けてしまう。ドリル4による2回目の基板上面検出は、再び当該部分で行うので、精度は微妙に悪くなる現象が起こる。従って、この現象の影響を受けない1回目の基板上面検出位置D1を基準にするのである。
3:基板押付け部
4:ドリル
5:テーブル駆動部
6:ドリル回転駆動部
7:基板押付け部駆動部
8:ドリル駆動部
9:全体制御部
10:押付け部基板当接位置検出部
11:ドリル先端基板当接位置検出部
Claims (4)
- 基板押付け部を降下させてテーブルに載置された基板を押付け、ドリルを降下させて止まり穴の加工を連続的に行う基板穴明け装置において、穴を明ける毎に前記基板押付け部を降下させて前記基板に当接する位置を検出する第一の検出手段と、穴を明ける毎に前記ドリルを降下させて先端が前記基板に当接する位置を検出する第二の検出手段と、前記第一及び第二検出手段による検出位置の差を前の穴位置のものと比較し、所定範囲内にあれば、前記第二検出手段の検出動作に続いて、当該第二検出手段による検出位置を基準にした深さまで穴を明けるよう制御する手段とを含むことを特徴とする基板穴明け装置。
- 請求項1に記載の基板穴明け装置において、最初の穴を明ける場合、前記第一及び第二検出手段による検出動作をそれぞれ2回行い、当該2回における前記第一及び第二検出手段による検出位置の差を比較し、所定範囲内にあれば、2回目の前記第二検出手段の検出動作に続いて、1回目の前記第二検出手段による検出位置を基準にした深さまで穴を明けるよう制御する手段とを含むことを特徴とする基板穴明け装置。
- 基板押付け部を降下させてテーブルに載置された基板を押付け、ドリルを降下させて止まり穴の加工を連続的に行う基板穴明け装置における基板穴明け方法において、穴を明ける毎に前記基板押付け部を降下させて前記基板に当接する位置を検出する第一のステップと、穴を明ける毎に前記ドリルを降下させて先端が前記基板に当接する位置を検出する第二のステップと、前記第一及び第二のステップにおける検出位置の差を前の穴位置のものと比較し、所定範囲内にあれば、前記第二ステップに続いて、当該第二ステップにおける検出位置を基準にした深さまで穴を明けるステップとを含むことを特徴とする基板穴明け方法。
- 請求項3に記載の基板穴明け方法において、最初の穴を明ける場合、前記第一及び第二ステップをそれぞれ2回行い、当該2回における前記第一及び第二ステップにおける検出位置の差を比較し、所定範囲内にあれば、2回目の前記第二ステップに続いて、1回目の前記第二ステップにおける検出位置を基準にした深さまで穴を明けるステップとを含むことを特徴とする基板穴明け方法。
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