JP6011846B2 - X線応力測定方法 - Google Patents
X線応力測定方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6011846B2 JP6011846B2 JP2012150939A JP2012150939A JP6011846B2 JP 6011846 B2 JP6011846 B2 JP 6011846B2 JP 2012150939 A JP2012150939 A JP 2012150939A JP 2012150939 A JP2012150939 A JP 2012150939A JP 6011846 B2 JP6011846 B2 JP 6011846B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- stress
- ray
- normal
- measurement
- test object
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Landscapes
- Force Measurement Appropriate To Specific Purposes (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
一方、X線回折現象を利用してひずみ測定が行われるため、多相材料においては測定に関与する構成相が1つに限定される性質もある。その結果、X線応力測定には微視的な応力状態(ミクロ応力)の影響が現れることも知られている。研削加工後の鋼材や、鉄道レール等のX線応力測定においては3軸応力が測定され、これらのsin2Ψ線図は、いわゆるΨスプリットと称される楕円状の分布を示す場合がしばしばある。
3軸応力は、被検物の表面(x−y平面)に沿った成分(x軸、y軸方向の成分)と、該表面の法線に沿った方向(垂直方向、z軸方向)の成分とを持った、3次元方向の応力を同時に含む応力状態である。
このようなミクロレベルの3軸応力状態を解明する上では、結晶格子レベルの現象を利用することと、構成相ごとに回折線が別々に分離する性質を利用できることからX線応力測定技術が最適であり、しかも実用的な利用も期待できるという利点がある。
6方向の格子ひずみ分布(sin2Ψ線図)を用いるために、測定と解析に、複雑な装置と多大な測定時間とを要するという問題がある。このような方法では、実験室での実施では特に問題は生じないが、建設現場、被検物が敷設された現場、生産ラインなど、比較的迅速な測定作業が求められる現場などでは適用が困難である。
基本的なエリアディテクタ方式の3軸応力測定法では、例えば、回折環の中心角を1度間隔に解析すると、回折環全体からは合計360個の格子ひずみが得られるので、6個の3軸応力成分の決定に対して十分なデータが得られる。
尚、現場での測定や実用性を考慮すると、試料の設定の影響を受けやすくなる回折データの絶対値の使用をなるべく避け、相対的な変化を利用することが望ましい。この点から、以下の説明では、平面応力測定法(sin2Ψ法)のような、回折データの相対的変化を通した3軸応力測定法について述べる。
〔式(1)〕
ここで、dは格子面間隔、θはブラッグ角、λはX線の波長、nは回折次数である。以下、n=1を用いる。
回折X線は、照射点(X線照射の標的となる測定点)を頂点とする円錐の側面を形成するように発生するため、入射X線に対して垂直にエリアディテクタを置くと、ほぼ円形の回折環が測定される。
デールらの測定方法では、回折環の一端の回折強度分布測定を通してθを決定し、応力計算に用いる。
これに対して、基本的なエリアディテクタ方式の3軸応力測定法では、図8のように最初に回折環半径Rが得られ、次いで次式(2)を用いてブラッグ角θ(単位:ラジアン)を得る。
〔式(2)〕
ここで、CLは、X線照射点と検出器との距離である。
〔式(3)〕
ここで、Δdは、格子面間隔dの変化量、即ち、無ひずみ時のdの値をd0としたとき
に、Δd=d−d0である。
また、Δθは、ブラッグ角θの変化量、即ち、無ひずみ時のθの値をθ0としたときに
、Δθ=θ−θ0である。
各剪断応力(τxy、τxz、τyz)とを次式(4)のように表記する。尚、τxyは、xy面のずれを生じさせる応力を表し、同様に、τxzは、xz面のずれを生じさせる応力を表し、τyzは、yz面のずれを生じさせる応力を表している。
〔式(4)〕
〔式(5)〕
ここで、Eは縦弾性定数、vはポアソン比である(いずれも回折弾性定数)。
〔式(6)〕
ここで、
ηは、ブラッグ角θの補角〔(π/2)−θ〕であり、
Ψ0は、測定点における被検物表面に対する法線と入射ビームとのなす角であり、
φ0は、被検物表面への入射ビームの投影とx軸とのなす角である。
εα:中心角α方向のひずみ、
επ+α:εαに対して中心角がπだけ異なる方向のひずみ、
ε-α:中心角−α方向のひずみ、
επ-α:ε-αに対して中心角がπだけ異なる方向のひずみ
について考え、これらを用いて次式(7)で表されるa1〜a3を求める。
〔式(7)〕
。
〔式(8)〕
ここで、ΦおよびΨは、それぞれ、次式(9)のとおりである。
〔式(9)〕
〔式(10)〕
〔式(11)〕
上記式(10)を上記式(11)へ代入して整理すると、φ0=0°のとき次式(12
)が得られる。
〔式(12)〕
上記式(12)から、全ての剪断応力成分(τxy、τxz、τyz)と、x軸z軸の応力関係式(σx−σz)とが得られる。
〔式(13)〕
ここで、Φは、εαによって求められた上記式(7)のa3を、cos2αに対して直線近
似したときの傾きであり、測定により得ることができる。
既に、上記式(12)によって、上記式(13)の右辺の(σx−σz)とτxzが判明しているので、上記式(13)とΦとから、(σy−σz)が決定できる。
の関係を用いる。
〔式(14)〕
ここで、Xは、次式(15)のように表される。
〔式(15)〕
上記式(15)のとおり、Xは、ここまでに判明した応力成分と既知数だけからなり、計算により値が確定する。従って、得られたXを上記式(14)に代入すると、Eおよびvは既知であるから、σzが判明する。
このようなσzは、回折環全体から得られる360個のデータの1つ1つからσzが得られるが、ばらつきの影響を考慮して、それらの平均値を採用することが好ましい。
σzと、既に得られている応力関係式(σx−σz)と(σy−σz)とから、σxとσyが
判明し、その結果、6個の3軸応力成分(σx、σy、σz、τxy、τyz、τxz)がすべて
判明する。
および180°方向だけから測定した回折環の半径変化にσyの作用が反映され難く、結
果、σy成分についての測定精度が低くなる。
一方、上記したデール(Dolle)らの方法は、X線3軸応力測定法の標準法とも言える
ものであるが、上記したとおり6方向に対する〔2θとsin2Ψとの関係〕を必要とするため、計測時間を要するという問題があり、また、スラストベアリングなどの溝部や狭いスペースを有する機械部品等においては必要な〔2θとsin2Ψとの関係〕についての計測データが得られないケースも起こり得る。
(1)被検物にX線を照射して得られる回折環に基いて被検物内に存在する応力を測定するX線応力測定方法であって、
被検物表面の測定点において直交するxy座標を被検物表面に規定しかつ該測定点における該被検物表面の法線をz軸と規定して、該測定点に対して、下記(I)で規定される垂直入射方向と1つの斜め入射方向にてX線を照射し、それぞれに回折環を得、
垂直入射方向の回折環からは、剪断応力τxz、τyzを得、
斜め入射方向の回折環からは、剪断応力τxy、および、〔x軸方向、z軸方向の応力の関係式(σx−σz)〕、および、〔y軸方向、z軸方向の応力の関係式(σy−σz)〕を得、
以上によって得られた剪断応力および応力の関係式からz軸方向の応力σzを求め、こ
れらをもって、6個の3軸応力成分σx、σy、σz、τxy、τyz、τxzを得ることを特徴
とする、X線応力測定方法。
(I)測定点における被検物表面の法線に沿って測定点へ向かう垂直入射方向と、該法線から所定の入射角度Ψ0だけ傾いて測定点へ向かう1つの斜め入射方向であって、該斜
め入射方向は、被検物表面に投影したときに、その投影がxy座標のx軸に一致する方向である、前記垂直入射方向と斜め入射方向。
(2)z軸方向の応力σzを、垂直入射方向および斜め入射方向の回折環から複数得られ
る応力σzの平均値とする、上記(1)記載のX線応力測定方法。
(3)被検物が溝の底面であって、上記xy座標のx軸の方向を、該溝の長手方向に一致するように規定する、上記(1)または(2)記載のX線応力測定方法。
上記した基本的なエリアディテクタ方式による3軸応力測定法では、測定点における被検物表面の法線について対称な一対の入射方向だけを用いている。この一対の入射方向は、図9に示すように、これらを被検物表面に投影したとき、測定点において被検物表面上に規定したxy直交座標のx軸に一致し(その投影方向をx軸とすると考えることもできる)、互いに対向する方向である。即ち、一対の入射方向の投影の一方を規準方向としてφ0=0°の方向としたとき、他方はφ0=180°の方向である。
だけ傾いて測定点へ向かう1つの斜め入射方向である。
本発明の方法によって、高い精度の測定を可能としながらも、例えば幅が狭く深い溝の底面など、X線照射の方向が限定されるような場合でも、X線3軸応力の測定が可能になる。
本発明では、図1に示すように、被検物表面の測定点に上記したようにxyz座標を規定し、該測定点に対して2つの入射方向(垂直入射方向、斜め入射方向)にてX線を照射し、それぞれに回折環を得る。
斜め入射方向は、それを被検物表面に投影したときに、その投影がxy座標のx軸に一致する方向である(斜め入射方向を被検物表面に投影したときの方向をx軸として定めてもよい)。被検物表面に対してxy座標は任意の向きに設定してよい。
前記の2つの入射方向でのX線の照射において、垂直入射方向の回折環からは、剪断応力τxz、τyzを得る。
また、斜め入射方向の回折環からは、剪断応力τxy、および、〔x軸方向、z軸方向の応力の関係式(σx−σz)〕、および、〔y軸方向、z軸方向の応力の関係式(σy−σz)〕を得る。
以上によって得られた剪断応力τxz、τyz、および、応力の関係式(σx−σz)、(σy−σz)からz軸方向の応力σzを求め、これらから、6個の3軸応力成分σx、σy、σz、τxy、τyz、τxzを得る。
る回折環を使用し、それによって、必要な回折環の測定数を減らしている。
本発明における、2つの入射方向のX線照射の回折環から応力を求める計算手法は次のとおりである。
垂直入射方向(Ψ0=0°の法線方向)からのX線ビーム照射による回折環を使用する
場合、上記式(10)は次式のようになる。
〔式(16)〕
上記式(16)から、剪断応力τxz、τyzが次式のように得られる。
〔式(17)〕
く、従って、垂直入射方向は、これらの剪断応力の測定には最適な条件を与える。
以上のように、垂直入射方向のX線照射によって、剪断応力τxz、τyzが得られる。
上記式(17)のとおりτxzが得られると、上記式(10)の第一式から(σx−σz)が、次式のように得られる。
〔式(18)〕
同様に、上記式(17)の第二式から得られるτyzを用いると、上記式(7)のa3を
利用して、(σy−σz)に関する次の関係式が導出される。
〔式(19)〕
上記式(19)の右辺には(σx−σz)とτxzとが含まれているが、これらは既に決定済みの応力成分である。その結果、上式によって(σy−σz)を決定することができる。
φ0=0°)についての上記式(8)の第二式のa2(0)の関係を用いτxyが求められる。
即ち、同式中のτyzは、既に上記式(17)から得られているので、上記式(10)の第二式より次式の関係が得られる。
〔式(20)〕
−σz)〕、および、〔y軸方向、z軸方向の応力の関係式(σy−σz)〕)から、さら
に各垂直応力成分を明らかにするためには、上記式(5)から導かれる次の関係を用いる。
〔式(21)〕
ここで、上記式中のXは次式のように表される。
〔式(22)〕
こうして得られたXを上記式(21)に代入するとσzが決定できる。このとき、σzは、回折環全体から複数得られるのでその平均値を取ることが好ましい。
σzと、すでに得られている(σx−σz)、(σy−σz)とから、σxとσyが判明する
。その結果、6個の3軸応力成分(σx、σy、σz、τxy、τyz、τxz)が、全て判明す
る。
とりわけ、本願発明では、X線の斜め入射方向が1つだけであるから、幅が狭く深い溝における溝内の底面など、X線を照射する方向が限定される用途に対して特に有用となる。例えば、溝の底面を3軸応力の測定対象とする場合には、X線の斜め入射方向を測定面に投影したときの方向をx軸として、それが該溝の長手方向に一致するように、該X線を入射させればよい。
尚、本発明の応力測定方法は、3軸応力を求めるステップを有するので、X線3軸応力測定方法と呼ぶことができるが、当然に、1軸、2軸の応力測定に利用してもよい。
照射に用いられるX線は、従来公知のX線応力測定法に用いられる特性X線であってよく、例えば、Crターゲットを有するX線管球によるCrKα特性X線などが好ましいものとして挙げられる。
エリアディテクタによって回折環を全体的に検地し解析する装置が好ましいものとして挙げられる。
イメージングプレートは、上記特許文献1に記載されたとおり、X線エネルギーをいったん蓄積した後に、光による励起によって蛍光を発生する光輝尽性発光現象を利用して回折環の全体画像を撮像する放射線画像センサであって、例えば、BaFBr:Eu2+などの輝尽性蛍光体の微結晶を、プラスチックフィルムの表面に塗布して形成され、X線が入射すると輝尽性蛍光体中にこのX線エネルギーが蓄積される。
イメージングプレートの中心部には、図1に示すように、通常、X線照射管が貫通する貫通孔が形成されており、そこから測定点に向かって特性X線を照射し、回折環となって戻ってきた反射X線を、その周囲で受光する構成となっている。
イメージングプレートとその中央に位置するコリメーターとの組は、1組だけを用意し、必要な入射方向へと配置位置を変えて、即ち、1組で多方向の測定を兼用して、測定を行うように構成してもよいし、必要な全ての照射方向の分だけの組を用意してもよい。
ける照射角度を参照してよい。
Ψ0は、45°が最も好ましく、他のΨ0の場合には、Ψ0=45°の場合に対して(sin2Ψ0)倍の測定感度(精度)となる。Ψ0<45°では、Ψ0が0°に近いほど、X線吸
収の影響が少なく、良好な回折環が得られる。45°<Ψ0では、Ψ0が90°に近づくと、X線浸入深さを浅くできるため、表面部の測定に適する。
本実施例では、本発明による応力測定法の検証のため、シミュレーションを行った結果を示す。当該シミュレーションは、実際の被検物とX線とを用いたものではないが、充分に一実施例として示すことができるものである。
先ず、次式(23)のような単純な応力成分を仮定した。
〔式(23)〕
そして、標準的な特性X線であるCrKα線の照射による鋼(フェライト)の211回折の測定を想定して、以下に示す計算条件を設定した。
材料 :鋼(フェライト)
ヤング率 :206.0(GPa)
ポアソン比 :0.28
回折面のミラー指数(hkl) :211
応力の無い状態での回折角度 :156.4(度)
X線入射角度(法線との間の角度)Ψ0 :30.0(度)、0.0(度)
材料とディテクタとの間の距離 :100.0(mm)
計算に用いたひずみεα の数 :360
角度αの間隔(インターバル) :1.0(度)
このεαを仮想的に測定データと見なして本願発明の各応力計算法を適用し、応力値が正しく逆解析できるかを検証した。
図2は、角度α(単位:度)とひずみεαとの関係を示すグラフ図であって、図2(a)は順解析計算によって得られた(斜め入射:φ0=0°およびΨ0=30°)に対するεα分布を示し、図2(b)は、(垂直入射:φ0=0°およびΨ0=0°)に対するεα分布を示すグラフ図である。
図2(a)、(b)にそれぞれ示したεα分布から、上記式(7)の第一式のa1を求
め、該a1とcosαとの関係として図示した結果を、図3(a)にグラフ図として示す。
また、同様に、上記式(7)の第二式のa2を求め、該a2とsinαとの関係を図3(b
)にグラフ図として示す。
図3(a)、(b)のグラフ図から明らかなとおり、両グラフ図ともプロット点は直線分布を示している。前者の直線の勾配からは剪断応力τxzが得られ、後者の直線の勾配からはτyzが得られる。
。これらの関係を、それぞれ図4(a)〜(c)に示す。
図4(a)〜(c)のグラフ図から明らかなとおり、いずれのグラフにおいても直線関係が認められる。
a1とcosαとの関係の傾きと、既に得られているτxzを上記式(18)に代入すると、
垂直応力成分の差(σx−σz)が得られる。
また、a2とsinαとの関係の傾きと、既に得られているτyzを上記式(20)に代入すると剪断応力τxyが得られる。
さらに、a3とcos2αとの関係の傾きと、既に得られている(σx−σz)とτxzとを上
記式(19)に代入すると垂直応力成分の差(σy−σz)が得られる。
その結果、σz、(σx−σz)、(σy−σz)が判明するので、3種類の垂直応力成分
σx、σy、σzが決定できる。
こうして3軸応力成分σx、σy、σz、τxy、τyz、τxzのすべてが確定する。
〔式(24)〕
果より、本発明のX線応力測定法の妥当性を確認することができた。
本実施例では、具体的な適用例として、平面研削加工(grinding)した鋼材(S50C)について本発明の方法を適用し、表面の残留応力を調べた。
試験片は、素材を長さ60mm、幅9mm、厚さ4mmの短冊状に切り出した後、表面を研削加工して残留応力を付与したものである。
X線測定にはイメージングプレートを二次元検出器として用い、CrKα線によるαFe−211回折環を2方向について計測した。
主なX線条件は、次のとおりである。
特性X線 :CrKα
回折面のミラー指数(hkl) :αFe−211
X線管の電圧 :20(kV)
X線管の電流 :1(mA)
コリメーターの直径 :1(mm)
試料に対するX線の入射角度Ψ0 :0(度)、30(度)
図5は、イメージングプレートを用いて測定して得られた回折環の画像であって、図5(a)は垂直入射方向の場合、図5(b)は斜め入射方向の場合を示している。
次に、図5(a)、(b)の各回折環を画像解析し、各回折環全周から半径を求め、それを回折角2θに変換してグラフ化した。図6(a)、(b)はそれぞれのグラフを示したものである。
図6(a)、(b)の各グラフ図から明らかなとおり、2θは、回折環上において一定ではなく、試験片の残留応力により中央部(α=180°)付近にピークを取るような分布を示していることが判明した。
垂直入射の場合(図7(a))、および、斜め入射の場合(図7(b))ともに、実験誤差範囲で直線的な分布傾向が得られており、本発明の応力測定理論の予想と一致していることが分かる。
そこで、これら図7(a)、(b)の線図を用いて本発明の応力計算法により求めた残留応力値を下記表1にまとめて示す。表中の各応力の値の単位はMPaである。また、比較のため、Dolle-Hauk法による応力測定結果を併記した。
なお、垂直応力成分の個々の値については、本発明の方法、Dolle-Hauk法ともに、応力計算に使用する2θ0値の精度の影響を強く受け、さらに、装置ごとの機差も重畳すると
考えられるので、適宜の補正を加えることが好ましい。
成分についての測定精度が改善され、X線3軸応力測定法の有用性がより高くなった。
また、軸受部品は、転がり疲労を受けるため微視的な3軸残留応力状態の出現が予想される部品の一つと考えられ、玉が転がる溝内が最重要部分となるが、X線応力測定においては測定スペース(とりわけ照射方向)の制限の問題がある。よって、形状面からX線照射方向が制限されるような被験体特有の条件に対応したX線3軸応力測定法が必要となる。これに対して、本発明では、照射面の法線の方向(垂直入射方向)と、溝と平行に傾斜させた一方向(斜め入射方向)からのX線照射との計2方向からの照射によってX線3軸応力測定できるので、照射方向が限定された用途に対応することが可能である。
Claims (2)
- 被検物にX線を照射して得られる回折環に基いて被検物内に存在する応力を測定するX線応力測定方法であって、
前記被検物は、溝の底面であり、
被検物表面の測定点において直交するxy座標を被検物表面に規定し、かつ、該xy座標のx軸の方向を、前記溝の長手方向に一致するように規定し、かつ該測定点における該被検物表面の法線をz軸と規定して、該測定点に対して、下記(I)で規定される垂直入射方向と1つの斜め入射方向にてX線を照射し、それぞれに回折環を得、
垂直入射方向の回折環からは、剪断応力τxz、τyzを得、
斜め入射方向の回折環からは、剪断応力τxy、および、〔x軸方向、z軸方向の応力の関係式(σx−σz)〕、および、〔y軸方向、z軸方向の応力の関係式(σy−σz)〕を得、
以上によって得られた剪断応力および応力の関係式からz軸方向の応力σzを求め、これらをもって、6個の3軸応力成分σx、σy、σz、τxy、τyz、τxzを得ることを特徴とする、X線応力測定方法。
(I)測定点における被検物表面の法線に沿って測定点へ向かう垂直入射方向と、該法線から所定の入射角度Ψ0だけ傾いて測定点へ向かう1つの斜め入射方向であって、該斜め入射方向は、被検物表面に投影したときに、その投影がxy座標のx軸に一致する方向である、前記垂直入射方向と斜め入射方向。 - z軸方向の応力σzを、垂直入射方向および斜め入射方向の回折環から複数得られる応力σzの平均値とする、請求項1記載のX線応力測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012150939A JP6011846B2 (ja) | 2012-07-04 | 2012-07-04 | X線応力測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012150939A JP6011846B2 (ja) | 2012-07-04 | 2012-07-04 | X線応力測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014013203A JP2014013203A (ja) | 2014-01-23 |
JP6011846B2 true JP6011846B2 (ja) | 2016-10-19 |
Family
ID=50108955
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012150939A Active JP6011846B2 (ja) | 2012-07-04 | 2012-07-04 | X線応力測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6011846B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5967491B2 (ja) * | 2014-02-04 | 2016-08-10 | パルステック工業株式会社 | X線回折測定装置およびx線回折測定装置におけるx線入射角検出方法 |
JP6037237B2 (ja) * | 2014-02-04 | 2016-12-07 | パルステック工業株式会社 | X線回折測定装置およびx線回折測定装置による測定方法 |
JP5962737B2 (ja) * | 2014-11-04 | 2016-08-03 | パルステック工業株式会社 | X線回折測定装置およびx線回折測定方法 |
JP6246965B1 (ja) * | 2017-04-21 | 2017-12-13 | パルステック工業株式会社 | X線回折測定装置を用いた軸力評価方法 |
JP2019128307A (ja) * | 2018-01-26 | 2019-08-01 | 国立大学法人東北大学 | 搬送物の応力測定装置 |
JP7033246B2 (ja) * | 2018-01-29 | 2022-03-10 | パルステック工業株式会社 | 搬送物の応力測定装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5229671Y1 (ja) * | 1975-03-06 | 1977-07-06 | ||
JP4276106B2 (ja) * | 2004-02-24 | 2009-06-10 | 財団法人鉄道総合技術研究所 | X線回折装置及びx線回折システム |
JP5339253B2 (ja) * | 2009-07-24 | 2013-11-13 | 国立大学法人金沢大学 | X線応力測定方法 |
-
2012
- 2012-07-04 JP JP2012150939A patent/JP6011846B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2014013203A (ja) | 2014-01-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5339253B2 (ja) | X線応力測定方法 | |
JP6011846B2 (ja) | X線応力測定方法 | |
Ramirez-Rico et al. | Stress measurement using area detectors: a theoretical and experimental comparison of different methods in ferritic steel using a portable X-ray apparatus | |
CN106164618A (zh) | 使用多角度x射线反射散射测量(XRS)用于测量周期结构的方法和系统 | |
Boyle et al. | Approaches to water content correction and calibration for µXRF core scanning: comparing X-ray scattering with simple regression of elemental concentrations | |
Tanaka | X-ray measurement of triaxial residual stress on machined surfaces by the cosα method using a two-dimensional detector | |
Ramadhan et al. | Mapping residual strain induced by cold working and by laser shock peening using neutron transmission spectroscopy | |
Alshibli et al. | Strain tensor determination of compressed individual silica sand particles using high-energy synchrotron diffraction | |
JP5713357B2 (ja) | X線応力測定方法とその装置 | |
Liu et al. | In situ measurement of elastic and total strains during ambient and high temperature deformation of a polygranular graphite | |
Zhu et al. | Raman analysis of three-dimensionally graded stress tensor components in sapphire | |
Schajer et al. | Why is it so challenging to measure residual stresses? | |
Sasaki | New generation X-ray stress measurement using debye ring image data by two-dimensional detection | |
Meade et al. | High precision powder x‐ray diffraction measurements at high pressures | |
Montalto et al. | Quality control and structural assessment of anisotropic scintillating crystals | |
Zhao et al. | Method for correction of rotation errors in Micro-CT System | |
JPS61175554A (ja) | X線回析を用いる金属管の非破壊検査方法 | |
CN110514681B (zh) | 一种利用双能衍射测量应变分布的方法及装置 | |
Sasaki et al. | Two-dimensional imaging of Debye-Scherrer ring for tri-axial stress analysis of industrial materials | |
Said et al. | Quantifying surface roughness on UO2 fuel pellets using optical techniques | |
Hawreliak et al. | Nanosecond x-Ray diffraction from polycrystalline and amorphous materials in a pinhole camera geometry suitable for laser shock compression experiments | |
Mitsui et al. | Development of Debye-ring measurement system using SOI pixel detector | |
Tomandl et al. | High resolution imaging of 2D distribution of lithium in thin samples measured with multipixel detectors in sandwich geometry | |
Macherauch et al. | A modified diffractometer for x-ray stress measurements | |
Bruno et al. | Procedures for interface residual stress determination using neutron diffraction: Mo-coated steel gear wheel |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150618 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20160519 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160524 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160725 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160809 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160907 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6011846 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |