JP6009206B2 - 3次元計測装置 - Google Patents
3次元計測装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6009206B2 JP6009206B2 JP2012097903A JP2012097903A JP6009206B2 JP 6009206 B2 JP6009206 B2 JP 6009206B2 JP 2012097903 A JP2012097903 A JP 2012097903A JP 2012097903 A JP2012097903 A JP 2012097903A JP 6009206 B2 JP6009206 B2 JP 6009206B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- dark
- pattern
- parallax
- measurement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
計測対象物に、明暗の切り替わりが粗な粗領域と、この粗領域よりも明暗の切り替わりが密な密領域とを有する非周期的な明暗パターンを投影する投影手段と、
複数のカメラを有し、この複数のカメラで上記明暗パターンが投影された計測対象物の画像を複数取得する画像取得手段と、
上記画像取得手段により取得された上記計測対象物の画像同士の対応点を探索し、この探索された対応点間の距離を表わす視差情報を算出する対応点探索視差算出手段と、
上記対応点探索視差算出手段により算出された視差情報に基づいて、3次元距離情報を算出する3次元距離情報生成手段と
を備え、
上記投影手段は、上記粗領域と上記密領域とを入れ換える明暗パターン入れ換え手段を有していることを特徴とする。
上記明暗パターン入れ換え手段は、異なる上記明暗パターンを複数有しており、この複数の明暗パターンから2つの明暗パターンを選択して入れ換えると共に、
上記選択された2つの明暗パターンは、一方の明暗パターンの上記粗領域に対応する他方の明暗パターンの領域が上記密領域であり、一方の明暗パターンの上記密領域に対応する他方の明暗パターンの領域が上記粗領域である粗密相補パターンである。
上記明暗パターンは、マトリクスパターンであり、
上記選択された2つの明暗パターンのうち、一方の上記明暗パターンは、ランダムパターンであり、他方の上記明暗パターンは、この一方の上記明暗パターンの奇数行かつ奇数列のドットの明暗と、偶数行かつ偶数列のドットの明暗とが反転されたパターン、もしくは、奇数行かつ偶数列のドットの明暗と、偶数行かつ奇数列のドットの明暗とが反転されたパターンである。
上記投影手段は、上記明暗パターンを移動させる明暗パターン移動手段を有する。
上記対応点検索視差算出手段により算出された視差が、既定の基準を満たしているか否かを判定する視差判定手段と、
上記判定手段により上記基準を満たさないと判定された視差を、上記明暗パターン入れ換え手段により明暗パターンを入れ換えた上記計測対象物から算出される視差に置き換える視差置換手段と
を備える。
本発明の第1実施形態の3次元計測装置1は、図1に示すように、画像取得手段の一例の画像取得部2と、計測処理部3と、投影手段の一例のパターン投影部4とを備えている。
図5は、本発明の第2実施形態の3次元計測装置101の全体構成を示すブロック図である。この第2実施形態の3次元計測装置101は、画像取得部2と、計測処理部3と、パターン投影部104とを備えている。この実施形態の3次元計測装置101は、基本的には、第1実施形態と同様の構成である。なお、上記第1実施形態と同一構成部には同一番号を付して、それらの詳しい説明は省略する。
図7は、本発明の第3実施形態の3次元計測装置201の全体構成を示すブロック図である。この第3実施形態の3次元計測装置201は、画像取得部2と、計測処理部203と、パターン投影部104とを備えている。この実施形態の3次元計測装置201は、基本的には、第2実施形態と同様の構成である。なお、上記第2実施形態と同一構成部には同一番号を付して、それらの詳しい説明は省略する。
2 画像取得部
3,203 計測処理部
4,104 パターン投影部
21 第1カメラ
22 第2カメラ
23 画像取得回路
31 対応点探索視差算出部
32 視差判定部
33 視差置換部
34 3次元座標算出部
41 プロジェクタ
42 投影パターン入換部
43 アクチュエータ
Claims (4)
- 計測対象物に、明暗の切り替わりが粗な粗領域と、この粗な領域よりも明暗の切り替わりが密な密領域とを有する非周期的な明暗パターンを投影する投影手段と、
複数のカメラを有し、この複数のカメラで上記明暗パターンが投影された計測対象物の画像を複数取得する画像取得手段と、
上記画像取得手段により取得された上記計測対象物の画像同士の対応点を探索し、この探索された対応点間の距離を表わす視差情報を算出する対応点探索視差算出手段と、
上記対応点探索視差算出手段により算出された視差情報に基づいて、3次元距離情報を算出する3次元距離情報生成手段と
を備え、
上記投影手段は、上記粗領域と上記密領域とを入れ換える明暗パターン入れ換え手段を有していることを特徴とする3次元計測装置。 - 請求項1に記載の3次元計測装置において、
上記明暗パターン入れ換え手段は、異なる上記明暗パターンを複数有しており、この複数の明暗パターンから2つの明暗パターンを選択して入れ換えると共に、
上記選択された2つの明暗パターンは、一方の明暗パターンの上記粗領域に対応する他方の明暗パターンの領域が上記密領域であり、一方の明暗パターンの上記密領域に対応する他方の明暗パターンの領域が上記粗領域である粗密相補パターンであることを特徴とする3次元計測装置。 - 請求項2に記載の3次元計測装置において、
上記明暗パターンは、マトリクスパターンであり、
上記選択された2つの明暗パターンのうち、一方の上記明暗パターンは、ランダムパターンであり、他方の上記明暗パターンは、この一方の上記明暗パターンの奇数行かつ奇数列のドットの明暗と、偶数行かつ偶数列のドットの明暗とが反転されたパターン、もしくは、奇数行かつ偶数列のドットの明暗と、偶数行かつ奇数列のドットの明暗とが反転されたパターンであることを特徴とする3次元計測装置。 - 請求項1から3のいずれか1つに記載の3次元計測装置において、
上記対応点検索視差算出手段により算出された視差が、既定の基準を満たしているか否かを判定する視差判定手段と、
上記判定手段により上記基準を満たさないと判定された視差を、上記明暗パターン入れ換え手段により明暗パターンを入れ換えた上記計測対象物から算出される視差に置き換える視差置換手段と
を備えることを特徴とする3次元計測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012097903A JP6009206B2 (ja) | 2012-04-23 | 2012-04-23 | 3次元計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012097903A JP6009206B2 (ja) | 2012-04-23 | 2012-04-23 | 3次元計測装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013224895A JP2013224895A (ja) | 2013-10-31 |
JP6009206B2 true JP6009206B2 (ja) | 2016-10-19 |
Family
ID=49595040
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012097903A Active JP6009206B2 (ja) | 2012-04-23 | 2012-04-23 | 3次元計測装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6009206B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
MY177646A (en) * | 2014-02-28 | 2020-09-23 | Icm Airport Technics Australia Pty Ltd | Luggage processing station and system thereof |
JP6704607B2 (ja) * | 2015-03-11 | 2020-06-03 | 株式会社リコー | 撮像システム、画像処理システム、移動体制御システム、移動体装置、投光装置、物体検出方法、物体検出プログラム |
US11062468B2 (en) * | 2018-03-20 | 2021-07-13 | Magik Eye Inc. | Distance measurement using projection patterns of varying densities |
CN113613994B (zh) * | 2019-04-09 | 2024-06-18 | 株式会社Ihi | 形状导出装置及卸货装置 |
CN113748313B (zh) * | 2019-05-22 | 2023-11-21 | 欧姆龙株式会社 | 三维测量系统及三维测量方法 |
JP2022128717A (ja) * | 2021-02-24 | 2022-09-05 | ソニーグループ株式会社 | 光出力制御装置、および光出力制御方法、並びにプログラム |
JPWO2023008509A1 (ja) * | 2021-07-29 | 2023-02-02 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2921496B2 (ja) * | 1996-07-15 | 1999-07-19 | 三菱電機株式会社 | 画像処理装置および物体移載装置 |
JP2001091232A (ja) * | 1999-09-24 | 2001-04-06 | Sony Corp | 3次元形状計測装置および方法、並びに記録媒体 |
JP4110501B2 (ja) * | 1999-11-22 | 2008-07-02 | ソニー株式会社 | ランダムパターン生成装置とその方法、距離画像生成装置とその方法、およびプログラム提供媒体 |
JP5322206B2 (ja) * | 2008-05-07 | 2013-10-23 | 国立大学法人 香川大学 | 3次元形状の計測方法および装置 |
-
2012
- 2012-04-23 JP JP2012097903A patent/JP6009206B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2013224895A (ja) | 2013-10-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6009206B2 (ja) | 3次元計測装置 | |
EP3516626B1 (en) | Device and method for obtaining distance information from views | |
EP3531066B1 (en) | Three-dimensional scanning method including a plurality of lasers with different wavelengths, and scanner | |
EP2568253B1 (en) | Structured-light measuring method and system | |
JP4915859B2 (ja) | 物体の距離導出装置 | |
JP2009529824A (ja) | 3次元映像獲得用cmosステレオカメラ | |
JP4501587B2 (ja) | 3次元画像測定装置および方法 | |
EP3951314B1 (en) | Three-dimensional measurement system and three-dimensional measurement method | |
CN112602118B (zh) | 图像处理装置和三维测量系统 | |
US20170134716A1 (en) | Image capturing apparatus, control method for the same, and computer readable medium | |
JP2016040520A (ja) | 物体検出装置 | |
KR20170088859A (ko) | 비집속 플렌옵틱 데이터의 깊이를 추정하는 방법 및 장치 | |
CN104918031B (zh) | 深度恢复设备和方法 | |
JP3988574B2 (ja) | 画像処理装置 | |
WO2015159791A1 (ja) | 測距装置および測距方法 | |
JP6456084B2 (ja) | 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム | |
JP2014095631A (ja) | 3次元計測装置および3次元計測方法 | |
US20130076868A1 (en) | Stereoscopic imaging apparatus, face detection apparatus and methods of controlling operation of same | |
EP3584767A1 (en) | Depth-based image processing method, processing device and electronic device | |
JP6655869B2 (ja) | 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム | |
CN113411497A (zh) | 一种基于曲线交点和高斯曲线拟合的自动对焦方法和装置 | |
JP2015105899A (ja) | 3次元計測装置 | |
JP2018081378A (ja) | 画像処理装置、撮像装置、画像処理方法および画像処理プログラム | |
JP2008304331A (ja) | 三次元座標測定装置及び三次元座標測定装置において実行されるプログラム | |
CN105306920B (zh) | 用于提取眼睛中心点的方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150401 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20160316 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160322 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160412 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160913 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160914 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6009206 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |