JP5947377B2 - 極めて弱い光のマルチスペクトル二次元イメージング方法及びそのシステム - Google Patents
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Description
及びΨはスパース変換マトリックスである場合、式(1)は下記式(2)になる。
前記圧縮サンプリングは、DMD8と第1のレンズ1と第2のレンズ2とを組合わせ、二次元画像データ(すなわち、観察対象の二次元画像)を一次元データ序列に変換し、前記二次元画像の圧縮サンプリングを完成させるためのものであり、
フィルター6によって極めて弱い光の雑光(極めて弱い光に含まれている雑光)を除去し、その後、該極めて弱い光は、第1のレンズ1を通してDMD8上に画像を形成し、前記極めて弱い光が第2のレンズ2に向けて反射される確率を、所定の測定マトリックスに従ってDMD8のマイクロミラーごとに制御して、被測定信号(前記極めて弱い光)を変調し、第2のレンズ2によって光子のピント合わせを制御して、被測定信号(該極めて弱い光)を集光する。
前記スパース再構成は、中央処理手段5と光子検知装置のリニアアレイ4との組合わせによって完成するものであり、最適化アルゴリズムとDMD8における測定マトリックスを用い一次元データ序列から波長ごとの二次元画像である光子密度画像を再構成して前記観察対象の二次元画像を求める。
と表されるので、式(1)は下記式(2)で表される。
ここで、Φi,j、xjはそれぞれΦiとxのj番目の要素であり、測定マトリックスΦに従ってDMD8を毎回変化させ、k回の測定を繰り返すことにより、観測データyの全体を取得し、該波長のベクトル画像(二次元画像)の取得のためのデータが用意できる。
(ここでu,vは実数)と表示し、式(3)又は(4)の第1項をf(x)と記す場合、該アルゴリズムを以下のように表示できる。
が得られる。
(Φi,j、xjはそれぞれΦiとxのj番目の素子)である。測量マトリックスによってDMDを変え、k回の測量を繰り返したら、観測データyの全体が得られ、物理的に式(1)の過程を実現する。
2 第2レンズ
3 分光光度計
4 単一光子検知装置のリニアアレイ
5 中央処理手段
6 フィルター
7 DMD制御システム
8 DMD
Claims (8)
- 圧縮センシング理論とDLP技術を採用し、単一光子検知装置のリニアアレイを検知素子とし、高解像質の光学変調を実現するための極めて弱い光のマルチスペクトル二次元イメージング方法であって、該方法は、
1)圧縮サンプリングのステップと、
2)スパース再構成のステップと、を備え、
前記圧縮サンプリングは、DMD(8)と第1のレンズ(1)と第2のレンズ(2)とを組合わせ、観察対象の二次元画像を一次元データ序列に変換し、前記二次元画像の圧縮サンプリングを完成させるものであり、
フィルター(6)によって極めて弱い光に含まれている雑光を除去し、その後、該極めて弱い光は、前記第1のレンズ(1)を通して前記DMD(8)上に画像を形成し、前記極めて弱い光が前記第2のレンズ(2)に向けて反射される確率を、所定の測定マトリックスに従って前記DMD(8)のマイクロミラーごとに制御して、前記極めて弱い光を変調し、前記第2のレンズ(2)によって該極めて弱い光を集光し、
変調されて集光された極めて弱い光を分光光度計(3)によって分光した後、前記単一光子検知装置のリニアアレイ(4)によって異なる波長ごとに入射する前記極めて弱い光の光子数を観測して前記一次元データ序列を得るものであり、
前記スパース再構成は、中央処理手段(5)と前記単一光子検知装置のリニアアレイ(4)との組合わせによって完成するものであり、最適化アルゴリズムと前記測定マトリックスを用い、前記一次元データ序列から波長ごとの二次元画像である光子密度画像を再構成して前記観察対象の二次元画像を求めることを特徴とする極めて弱い光のマルチスペクトル二次元イメージング方法。 - 下記ステップを備えることを特徴とする請求項1に記載の極めて弱い光のマルチスペクトル二次元イメージング方法。
1)前記圧縮サンプリングは、観察対象の二次元画像を高次元から低次元へマッピングする過程であり、
x∈Rnを観察対象の二次元画像データ(nは二次元画像の画素数)、y∈Rkを観測データ(kは該観測データを得るために測定する測定数)、Φ∈Rk×nを前記測定マトリックスであるランダム投影マトリックス(k≪n)、e∈Rkを測定ノイズとすると、前記圧縮サンプリングの過程を下記式(1)で表示でき、
xが変換領域においてスパースである場合、Ψをスパース変換マトリックスであるウェーブレット変換マトリックスとすると、
と表されるので、式(1)は下記式(2)で表され、
2)式(1)における前記測定マトリックスはΦ={Φ1,…,Φi,…,Φk}と表され、ΦiはΦのi番目の行であり、√n×√nの二次元画像の列を直列に接続し、n×1の一次元列のベクトルに変換して式(1)におけるxに対応させたもので、そのうちの各要素は対応する位置における前記極めて弱い光の光子の密度を表し、
前記DMD(8)は、観察対象の二次元画像データと同じ解像度を有し、該DMD(8)から形成した1×nの一次元行のベクトル(その各要素は、各マイクロミラーが前記光子を第2のレンズ(2)に向けて反射する確率であり、該1×nの一次元行のベクトルを形成するには、マイクロミラーのマトリックス配列の列を直列に接続して列のベクトルを形成し、該列のベクトルを転置する)は、前記測定マトリックスΦの中の1行に対応し、
3)測定周期はTであり、この時間内において、前記DMD(8)は変わらず、前記分光光度計(3)は光を分光し、対応する波長の前記単一光子検知装置に入射させ、前記単一光子検知装置のリニアアレイ(4)におけるある波長に対応する検知装置に検知された前記光子数をNとすると、N/Tは観察対象の前記波長の光子密度画像と前記DMD(8)におけるランダム数のアレイΦiの内積値に相当し、該内積値は、式(1)における観測データyの要素(下記の式で表される)に対応し、
ここで、Φi,j、xjはそれぞれΦiとxのj番目の要素であり、前記測定マトリックスΦに従って前記DMD(8)を毎回変化させ、k回の測定を繰り返すことにより、観測データyの全体を取得し、
他の波長の二次元画像の観測データyの取得にも同様の方法を適用し、
4)前記スパース再構成は、前記観測データyと前記測定マトリックスΦが既知の状況で式(1)におけるxの解を求めるものであり、下記式(3)で表わされる最適化アルゴリズムによって解を求め、
ここでτは正の実数であり、xが変換領域においてスパースとすると、式(3)は下記式(4)で表示でき、
式(3)と式(4)において、第1項は最小二乗制約であり、第2項はxスパース度に対する制約であり、この2項の和は目標関数である。 - 前記最適化アルゴリズムは、離散ウェーブレット変換(DWT)を用いた可分近似を採用し、推測値に対してDWT変換を行い、変換係数を閾値処理し、その後、DWT逆変換を行い、新たな推測値を得て、前記DWT変換、前記閾値処理及び前記逆変換を反復し、且つ各反復において最良のステップファクターを算出することであり、
閾値処理関数を
(ここでu,vは実数)と表示し、式(3)又は(4)の第1項をf(x)と記すと、前記アルゴリズムを以下のように表示でき、
ここでαtは、正の実数であって反復回数に従って変化する値であり、αtI(ここでIは単位行列)を
に接近させる値、即ち、αtは下式
を満たす値であって、
最小二乗法によって該式の解を求め、この解
によりαtを決定することを特徴とする請求項1に記載の極めて弱い光のマルチスペクトル二次元イメージング方法。 - 圧縮センシング理論とDLP技術を採用し、単一光子検知装置のリニアアレイを検知素子とし、高解像質の光学変調を実現するための極めて弱い光のマルチスペクトル二次元イメージングシステムであって、
前記極めて弱い光マルチのスペクトル二次元イメージングシステムは、フィルター(6)と、第1のレンズ(1)と、DMD(8)と、第2のレンズ(2)と、分光光度計(3)と、異なる反応波長の単一光子検知装置によって構成された単一光子検知装置のリニアアレイ(4)と、中央処理手段(5)とを備え、
前記DMD(8)と前記第1のレンズ(1)と前記第2のレンズ(2)とを組合わせ、観察対象の二次元画像を一次元データ序列に変換し、前記二次元画像の圧縮サンプリングを完成させるものであり、前記フィルター(6)によって極めて弱い光に含まれている雑光を除去し、その後、該極めて弱い光は、前記第1のレンズ(1)を通して前記DMD(8)上に画像を形成し、前記極めて弱い光が前記第2のレンズ(2)に向けて反射される確率を、所定の測定マトリックスに従って前記DMD(8)のマイクロミラーごとに制御して、前記極めて弱い光を変調し、前記第2のレンズ(2)によって該極めて弱い光を集光し、
変調されて集合された極めて弱い光が前記分光光度計(3)によって分光された後、前記単一光子検知装置のリニアアレイ(4)によって異なる波長ごと入射する前記極めて弱い光の光子数を観測して前記一次元データ序列を得るものであり、
前記中央処理手段(5)は前記単一光子検知装置のリニアアレイ(4)と組合わせてスパース再構成を完成させ、前記測定マトリックスと最適化アルゴリズムによって波長ごとの二次元画像である光子密度画像を再構成して前記観察対象の二次元画像を求めることを特徴とする極めて弱い光のマルチスペクトル二次元イメージングシステム。 - 前記単一光子検知装置は計数型の単一光子検知装置を採用し、規定の時間内で光子を計数し、統計学の方法で光子数密度を算出し、該算出値を検知された光子の確率に換算して測定値とすることを特徴とする請求項4に記載の極めて弱い光のマルチスペクトル二次元イメージングシステム。
- 前記単一光子検知装置は、光子数識別能力を有する単一光子検知装置を採用し、出力する電気信号の振幅の大きさによって画像データを取得し、その出力する電気信号の振幅を光子密度の測定値とすることができることを特徴とする請求項4に記載の極めて弱い光のマルチスペクトル二次元イメージングシステム。
- 前記分光光度計は、光コリメータ部分と、分光部分と、角度測定部分と、光度観測部分とを備え、スペクトル分析と測定に用いられることを特徴とする請求項4に記載の極めて弱い光のマルチスペクトル二次元イメージングシステム。
- 前記分光光度計はプリズム分光光度計又は回折格子分光光度計であることを特徴とする請求項4又は7に記載の極めて弱い光のマルチスペクトル二次元イメージングシステム。
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