JP5942558B2 - Microcavity formation method - Google Patents

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Description

本発明は、パルスレーザ光によって外部に連通した微小空洞を形成する方法に関し、特に、シリカガラス等の被加工物に対しパルスレーザ光の集光照射によって、被加工物を局所的に改質させて改質領域を形成し、該改質領域をエッチングにより除去することにより、微小孔,微小溝,微小凹部等の微小空洞を形成する方法に関する。   The present invention relates to a method for forming a microcavity communicating with the outside by using a pulsed laser beam, and in particular, by locally condensing a workpiece such as silica glass by focused laser beam irradiation. The present invention relates to a method of forming a minute cavity such as a minute hole, a minute groove, and a minute recess by forming a modified region and removing the modified region by etching.

従来、微小孔,微小溝,微小凹部等の外部に連通した微小空洞を有するガラス材料は、マイクロノズルやバイオチップ・ケミストリーチップなどとしての利用が期待されている。そして、パルスレーザ光、特にフェムト秒レーザを用いてガラスに微小構造を形成する手法では、3次元的な構造への加工を行うことが可能である等の長所を有している。   Conventionally, a glass material having a minute cavity communicating with the outside such as a minute hole, a minute groove, and a minute recess is expected to be used as a micro nozzle, a biochip, a chemistry chip, or the like. The technique of forming a microstructure on glass using pulsed laser light, particularly femtosecond laser, has the advantage that it can be processed into a three-dimensional structure.

フェムト秒レーザを用いてガラスに微小構造を形成する技術として、例えば特許文献1に示す技術が知られている。この技術は、シリカガラス等の透明材料からなる被加工物に対し、パルスの持続時間がフェムト秒乃至ピコ秒オーダのパルスレーザ光を集光して照射し、この際、パルスレーザ光の照射位置を、少なくとも1箇所は該被加工物の表面上である位置を含めて走査することで、前記被加工物における前記表面上から内部にかけて、パルスレーザ光の照射によって改質された改質領域を形成し、この改質領域を、前記表面上を始点としてエッチングにより除去することで、前記改質領域が除去された跡の孔を形成するようにしている。   As a technique for forming a microstructure on glass using a femtosecond laser, for example, a technique disclosed in Patent Document 1 is known. This technology focuses and irradiates a work piece made of a transparent material such as silica glass with a pulse laser beam having a pulse duration of femtosecond to picosecond order. Scanning at least one location including a position on the surface of the work piece, so that a modified region modified by irradiation with a pulsed laser beam is formed from the surface to the inside of the work piece. The modified region is formed and removed by etching with the surface as a starting point, thereby forming a hole in the trace from which the modified region has been removed.

ところで、前記従来技術では、エッチングの進行は被加工物の表面から内部へ進むため、特に、エッチング液の入口付近では、孔径が奥側よりも大きくなったり、孔縁にバリが生じたり、孔形状が不安定になったり、孔の周囲が変質したり等、品質の低下のおそれがある。また、レーザ加工により被加工物の表面又は裏面を含むように改質領域を形成した場合、パルスレーザ光が被加工物の表面又は裏面で乱反射や屈折等を生じることに起因して、改質領域の加工精度が低下するおそれがある。   By the way, in the prior art, since the progress of the etching proceeds from the surface of the workpiece to the inside, the hole diameter becomes larger than the back side, the burrs are generated at the hole edge, especially in the vicinity of the etching solution inlet, There is a risk of quality deterioration, such as the shape becoming unstable or the surroundings of the hole being altered. In addition, when the modified region is formed by laser processing so as to include the front or back surface of the workpiece, the modified laser light causes irregular reflection or refraction at the front or back surface of the workpiece. There is a risk that the processing accuracy of the region is lowered.

そこで、特許文献2に記載される従来技術では、パルスレーザ光の照射により平板状の被加工物の内部のみに改質領域を形成し、この後、被加工物の表面と裏面の改質領域に対応する部分を開口して他の部分を覆うようにエッチング保護膜を形成し、次に、被加工物及びエッチング保護膜をエッチング液に浸し、改質領域を挟んで向かい合う表面と裏面の前記開口の間の材料を除去して貫通孔を形成するようにしている。   Therefore, in the prior art described in Patent Document 2, a modified region is formed only inside a flat workpiece by irradiation with pulsed laser light, and thereafter, a modified region on the front and back surfaces of the workpiece. An etching protective film is formed so as to cover the other part by opening the part corresponding to the above, and then the work piece and the etching protective film are immersed in an etching solution, and the front and back surfaces facing each other across the modified region The material between the openings is removed to form a through hole.

しかしながら、後者の従来技術によれば、改質領域に対応する特定の位置に前記開口を残してエッチング保護膜を形成しなければならず、前記開口及びエッチング保護膜の形成自体に精度を要し、工数がかかってしまう。
また、前記開口と改質領域の径が一致しなかったり、ずれてしまった場合には、完成後の貫通孔に段差が生じたり、同軸度にばらつきを生じたり等するおそれもある。
However, according to the latter prior art, the etching protection film must be formed leaving the opening at a specific position corresponding to the modified region, and the formation of the opening and the etching protection film itself requires accuracy. , It takes man-hours.
In addition, when the diameters of the opening and the modified region do not coincide with each other or are shifted, there is a possibility that a step is formed in the completed through hole or the coaxiality varies.

特開2002−210730号公報JP 2002-210730 A 特開2004−351494号公報JP 2004-351494 A

本発明は、上記従来事情に対処することを課題の一例とするものである。すなわち、外部に露出した微小空洞の形成において、寸法精度の高い安定した形状の微小空洞を形成すること、微小空洞周囲の品質低下を防ぐこと、生産性を向上すること等、が本発明の目的である。   This invention makes it an example of a subject to cope with the said conventional situation. That is, in the formation of a microcavity exposed to the outside, the object of the present invention is to form a microcavity having a stable shape with high dimensional accuracy, to prevent deterioration of the quality around the microcavity, and to improve productivity. It is.

上記課題を解決するための一手段は、被加工物にパルスレーザ光の集光照射を行って、前記被加工物内に外部に露出しない連続する改質領域を形成するレーザ加工工程と、前記被加工物の一部を機械加工により除去することで前記改質領域に露出部分を形成する機械加工工程と、前記露出部分を始点にして前記改質領域をエッチング除去し微小空洞を形成するエッチング工程と、を含み、前記機械加工工程では、機械加工によって前記被加工物に前記改質領域に連通する連通孔を形成することを特徴とする。
この微小空洞形成方法によれば、レーザ加工工程では、被加工物の表面や裏面にパルスレーザ光を集光照射しないため、被加工物の内部にのみに、寸法精度の高い安定した形状の改質領域を形成することができる。
そして、機械加工工程では、エッチング保護膜を形成する工程や被加工物の改質領域以外の部分をエッチングする工程等を要することなく、機械加工のみによって、改質領域に露出部分を形成することができる。
次に、エッチング工程では、改質領域を、前記露出部分を始点にしてエッチング除去することで、その除去の跡として、寸法精度の高い安定した形状の微小空洞を得ることができる。
なお、前記機械加工とは、工具や工作機械を用いて被加工物の一部を外側から削る加工を意味し、この機械加工には、研削加工、研磨加工、切削加工を含むが、レーザ加工やエッチング処理は含まない。
更にこの手段では、被加工物に対し、改質領域に連通する部分のみを孔加工するため、機械加工による削り代が少なく、歩留まりのよいスピーディな加工が可能である。
One means for solving the above-mentioned problems is a laser processing step of performing focused irradiation of pulsed laser light on a workpiece to form a continuous modified region not exposed to the outside in the workpiece, A machining process for forming an exposed portion in the modified region by removing a part of the workpiece by machining, and an etching for removing the modified region by etching from the exposed portion to form a microcavity It is seen including a step, and in the machining process, and forming a communication hole communicating with the reforming area in the workpiece by machining.
According to this microcavity forming method, in the laser processing step, pulse laser light is not focused and irradiated on the front surface or back surface of the work piece, so that only the inside of the work piece has a stable shape with high dimensional accuracy. A quality region can be formed.
In the machining process, an exposed portion is formed in the modified region only by machining without requiring a step of forming an etching protective film or a step of etching a portion other than the modified region of the workpiece. Can do.
Next, in the etching step, the modified region is removed by etching with the exposed portion as a starting point, so that a microcavity having a stable shape with high dimensional accuracy can be obtained as a trace of the removal.
In addition, the said machining means the process which cuts off a part of workpiece from the outside using a tool or a machine tool, and this machining includes grinding, polishing, and cutting, but laser processing Etching is not included.
Further, with this means, since only the portion communicating with the modified region is drilled in the workpiece, machining allowance is small and speedy machining with a good yield is possible.

また、他の手段では、前記微小空洞として貫通孔を形成するようにしたことを特徴とする。前記貫通孔は、例えばマイクロノズル等として有用である。   Another means is characterized in that a through hole is formed as the microcavity. The through hole is useful as, for example, a micro nozzle.

また、他の手段では、特に生産性の良好な加工方法として、前記機械加工が、研削加工、研磨加工、又は切削加工であることを特徴とする。
ここで、前記研削加工には、ラッピング、平面研削、ホーニング、超音波研削加工等を含む。前記研磨加工には、機械研磨、化学機械研磨、バレル研磨、バフ研磨、ブラシ研磨等を含む。また、前記切削加工には、ドリル穿孔、超音波切削加工、ダイヤモンド切削加工、フライス加工、旋盤加工等を含む。
In another means, the machining is grinding, polishing or cutting as a processing method with particularly good productivity.
Here, the grinding includes lapping, surface grinding, honing, ultrasonic grinding and the like. The polishing process includes mechanical polishing, chemical mechanical polishing, barrel polishing, buff polishing, brush polishing, and the like. The cutting includes drill drilling, ultrasonic cutting, diamond cutting, milling, lathe processing, and the like.

また、他の手段では、前記機械加工工程では、機械加工によって前記被加工物の表面を同厚みで除去することを特徴とする。
この手段は、特に、前記微小空洞として、ストレート孔を形成するのに適している。
In another means, in the machining step, the surface of the workpiece is removed with the same thickness by machining.
This means is particularly suitable for forming a straight hole as the microcavity.

また、他の手段では、前記レーザ加工工程後に、前記機械加工を前記被加工物の一面側のみに施して前記改質領域に前記露出部分を形成し、
次に前記露出部分を始点にして前記改質領域を前記エッチング工程によりエッチング除去して前記微小空洞を形成し、
次に前記機械加工を前記被加工物のもう一方の面側に施して前記貫通孔を形成するようにしたことを特徴とする。
In another means, after the laser processing step, the machining is performed only on one surface side of the workpiece to form the exposed portion in the modified region,
Next, the modified region is etched away by the etching process starting from the exposed portion to form the microcavity,
Next, the machining is performed on the other surface side of the workpiece to form the through hole.

本発明は、以上説明したように構成されているので、寸法精度の高い安定した形状の微小空洞を形成すること、微小空洞周囲の品質低下を防ぐこと、生産性を向上すること等、本発明の目的を達成することができる。   Since the present invention is configured as described above, the present invention includes forming a microcavity having a stable shape with high dimensional accuracy, preventing quality deterioration around the microcavity, improving productivity, etc. Can achieve the purpose.

本発明に係る微小空洞形成方法の一例を示す模式図であり、(a)は加工前の被加工物、(b)はレーザ加工により改質領域を形成した状態、(c)は機械加工により改質領域を露出させた状態、(d)は微小空洞が形成された状態を示す。It is a schematic diagram which shows an example of the microcavity formation method which concerns on this invention, (a) is the to-be-processed object before a process, (b) is the state which formed the modified area | region by laser processing, (c) is by machining A state in which the modified region is exposed, (d) shows a state in which a microcavity is formed. レーザ加工工程の一例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows an example of a laser processing process. エッチング工程の一例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows an example of an etching process. 本発明に係る微小空洞形成方法の他例を示す模式図であり、(a)は加工前の被加工物、(b)はレーザ加工により改質領域を形成した状態、(c)は機械加工により改質領域を露出させた状態、(d)は微小空洞が形成された状態を示す。It is a schematic diagram which shows the other example of the microcavity formation method which concerns on this invention, (a) is the to-be-processed object before a process, (b) is the state which formed the modified area | region by laser processing, (c) is machining (D) shows a state in which a microcavity is formed. 微小空洞を有底孔とした一例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows an example which used the microcavity as the bottomed hole. 微小空洞を有底孔とした他例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the other example which used the microcavity as the bottomed hole. 図1の微小空洞形成方法の変更例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the example of a change of the microcavity formation method of FIG. 図4の微小空洞形成方法の変更例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the example of a change of the microcavity formation method of FIG.

以下、本発明の特に好ましい実施形態を、図面に基づいて詳細に説明する。
本実施の形態の微小空洞形成方法は、図1〜3に示すように、被加工物10にレーザ加工装置20から発せられるパルスレーザ光aの集光照射を行って、被加工物10内に外部に露出しない連続する改質領域11を形成するレーザ加工工程と、被加工物10の一部を機械加工により除去することで前記改質領域11に露出部分11aを形成する機械加工工程と、前記露出部分11aを始点にして前記改質領域11をエッチング除去し微小空洞12を形成するエッチング工程とを有する。
Hereinafter, particularly preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
In the microcavity forming method of the present embodiment, as shown in FIGS. 1 to 3, a focused laser beam a emitted from a laser processing apparatus 20 is focused on the workpiece 10 and the workpiece 10 is irradiated with the focused laser beam. A laser processing step of forming a continuous modified region 11 not exposed to the outside, and a machining step of forming an exposed portion 11a in the modified region 11 by removing a part of the workpiece 10 by machining; And an etching step of forming the microcavity 12 by etching away the modified region 11 starting from the exposed portion 11a.

被加工物10は、平板状の透明なシリカガラスであり、例えば、厚みが数ミリ程度の薄板状のものを用いる。   The workpiece 10 is a flat transparent silica glass, and for example, a thin plate having a thickness of about several millimeters is used.

レーザ加工装置20は、パルスレーザ光aを発する発光源21と、パルスレーザ光aを集光するレンズ22とを具備している。
パルスレーザ光aは、加工閾値以上のレーザ強度を有している必要がある。具体的には、パルスレーザ光aのパルス幅は150fs〜1psで、繰返し周期1kHz〜300kHz、波長780nm〜800nm、平均出力1W前後のものが使用可能である。特に、微小空洞12の内面をより平滑にするためには、パルスレーザ光aの繰返し周期を大きくして、レーザ強度は小さく抑えることが好ましい。
The laser processing apparatus 20 includes a light emitting source 21 that emits pulsed laser light a and a lens 22 that focuses the pulsed laser light a.
The pulsed laser light a needs to have a laser intensity that is equal to or higher than a processing threshold. Specifically, the pulse width of the pulse laser beam a can be 150 fs to 1 ps, a repetition period of 1 kHz to 300 kHz, a wavelength of 780 nm to 800 nm, and an average output of about 1 W can be used. In particular, in order to make the inner surface of the microcavity 12 smoother, it is preferable to increase the repetition period of the pulsed laser light a and to keep the laser intensity small.

より好ましいパルスレーザ光aとしては、1ps以下のパルス幅を持つパルスレーザ光が用いられる。なぜならば、パルス幅の短いレーザは10TW/cm以上のレーザ強度を有しており、シリカガラスが当該強度を有するパルスレーザ光を多光子吸収することで、シリカガラスの改質を引き起こすことができるためである。多光子吸収されたパルスレーザ光は熱拡散をほとんど起こさず、レーザ集光照射部近傍のみを改質させることができるため、本実施形態のような微小加工には非常に好適である。 As a more preferable pulse laser beam a, a pulse laser beam having a pulse width of 1 ps or less is used. This is because a laser with a short pulse width has a laser intensity of 10 TW / cm 2 or more, and the silica glass absorbs a pulsed laser beam having the intensity to cause multiphoton absorption, thereby causing the silica glass to be modified. This is because it can. The multi-photon absorbed pulsed laser light hardly causes thermal diffusion, and can modify only the vicinity of the laser focused irradiation part, and is therefore very suitable for microfabrication like this embodiment.

また、被加工物10(シリカガラス)内部での改質を空間選択的に起こすためには、パルスレーザ光aの波長が被加工物10を透過する波長であることが好ましい。なぜならば、被加工物10にパルスレーザ光aを照射する際に、使用するパルスレーザ光aの波長が被加工物10の固有吸収内であると、被加工物10の表面でレーザの吸収が起こって当該部分が改質してしまうために、被加工物10内部への加工を行う際の妨げになりやすいからである。   Further, in order to cause spatial modification selectively within the workpiece 10 (silica glass), it is preferable that the wavelength of the pulsed laser light a is a wavelength that transmits the workpiece 10. This is because when the pulse laser beam a is irradiated onto the workpiece 10, if the wavelength of the pulse laser beam a to be used is within the intrinsic absorption of the workpiece 10, the laser is absorbed on the surface of the workpiece 10. This is because the portion is modified and the portion is modified, which is likely to hinder the processing of the workpiece 10.

本実施形態の微小空洞形成方法では、レーザ加工工程の前工程として、被加工物10における、少なくともレーザ照射側の面(より好ましくは表裏両面)に、研磨加工を施す。この研磨加工は、パルスレーザ光aがシリカガラス表面の凹凸等の影響により屈折や散乱等してしまうのを防ぐためである。
被加工物10は、前記前工程の研磨の後、載置台30に載置される。
In the microcavity forming method of the present embodiment, as a pre-process of the laser processing step, at least the laser irradiation side surface (more preferably the front and back surfaces) of the workpiece 10 is polished. This polishing process is for preventing the pulsed laser light a from being refracted or scattered due to the influence of irregularities on the surface of the silica glass.
The workpiece 10 is mounted on the mounting table 30 after the polishing in the previous step.

レーザ加工工程では、上述した条件に適合したパルスレーザ光aを、図1(b)及び図2に示すように、レンズ22で集光して被加工物10に照射し、パルスレーザ光aの焦点の近傍の被加工物10の改質を行う。そして載置台をXYZステージ等の手段により移動させて焦点を走査させながら被加工物10の改質を行ってゆく。   In the laser processing step, as shown in FIGS. 1B and 2, the pulsed laser beam a that meets the above-described conditions is condensed by the lens 22 and irradiated onto the workpiece 10. The workpiece 10 in the vicinity of the focal point is modified. Then, the workpiece 10 is reformed while moving the mounting table by means of an XYZ stage or the like and scanning the focal point.

ここで、パルスレーザ光aによる改質は、被加工物10に、貫通孔や有底孔等のように厚み方向へ連続する微小空洞を形成する場合には、被加工物10の加工領域における表面から最も深い位置を起点a1として、表側へ向かって焦点を走査させて行うことが好ましい。すなわち、仮に前記と逆に表側から裏側へ向かう走査をした場合には、照射したパルスレーザ光aが被加工物10(シリカガラス)の先に改質された部分によって屈折・散乱してしまうおそれがある。そこで、本実施形態では、このようなことを防ぐために、前記のように走査する。   Here, the modification by the pulsed laser beam a is performed in the processing region of the workpiece 10 when a minute cavity continuous in the thickness direction such as a through hole or a bottomed hole is formed in the workpiece 10. It is preferable that the focus is scanned toward the front side with the deepest position from the surface as the starting point a1. In other words, if the scanning is performed from the front side to the back side, contrary to the above, the irradiated pulse laser beam a may be refracted and scattered by the modified part of the workpiece 10 (silica glass). There is. Therefore, in this embodiment, scanning is performed as described above in order to prevent such a situation.

前記レーザ加工工程によって、被加工物10内には、外部に露出しない連続した改質領域11が形成される。この改質領域11は、図1に示す一例によれば、被加工物10の厚み方向へ連続する略円柱状に形成される。   By the laser processing step, a continuous modified region 11 that is not exposed to the outside is formed in the workpiece 10. According to the example shown in FIG. 1, the modified region 11 is formed in a substantially cylindrical shape that is continuous in the thickness direction of the workpiece 10.

次に、前記機械加工工程では、図1(c)に示すように、被加工物10の表層部13と裏層部14が研磨加工によって削り取られる。
ここで、前記表層部13と裏層部14は、被加工物10の厚み方向において、改質領域11を挟むようにして両側に位置する部位である。前記表層部13には、改質領域11におけるレーザ走査方向の一端側(図示例によれば上端側)の一部分が含まれる。同様に、前記裏層部14には、改質領域11におけるレーザ走査方向の他端側の一部分が含まれる。
したがって、これら表層部13及び裏層部14が除去されると、改質領域11の両端側には、外部に露出した露出部分11aが形成される。
Next, in the machining step, as shown in FIG. 1C, the surface layer portion 13 and the back layer portion 14 of the workpiece 10 are scraped off by polishing.
Here, the surface layer portion 13 and the back layer portion 14 are portions located on both sides so as to sandwich the modified region 11 in the thickness direction of the workpiece 10. The surface layer portion 13 includes a part of one end side (upper end side in the illustrated example) of the modified region 11 in the laser scanning direction. Similarly, the back layer portion 14 includes a portion of the modified region 11 on the other end side in the laser scanning direction.
Therefore, when the surface layer portion 13 and the back layer portion 14 are removed, exposed portions 11 a exposed to the outside are formed on both end sides of the modified region 11.

前記研磨加工は、好ましい具体例としては、機械研磨、化学機械研磨、バレル研磨、バフ研磨、ブラシ研磨等であり、図1の一例では、被加工物10の表面と、裏面とを、それぞれ、全面にわたって略同厚みに削り取るようにしている。
なお、前記研磨加工に換えて、研削加工により表層部13と裏層部14を削り取っても良いし、研削加工と前記研磨加工を組み合わせ、研削加工後に前記研磨加工を行って、表層部13と裏層部14を削り取っても良い。研削加工の好ましい具体例としては、平面研削、ホーニング、超音波研削加工等が挙げられる。
The polishing process includes mechanical polishing, chemical mechanical polishing, barrel polishing, buffing, brush polishing, and the like as preferable specific examples. In one example of FIG. 1, the surface and the back surface of the workpiece 10 are respectively The entire surface is scraped to approximately the same thickness.
Instead of the polishing process, the surface layer part 13 and the back layer part 14 may be scraped off by grinding, or the grinding process and the polishing process are combined, and the polishing process is performed after the grinding process. The back layer portion 14 may be scraped off. Preferable specific examples of grinding include surface grinding, honing, ultrasonic grinding, and the like.

次に、エッチング工程では、前記のようにしてレーザ加工工程及び機械加工工程を終えた被加工物10を、エッチング槽40内に浸漬することで、露出部分11aを始点にして改質領域11をエッチング除去し、微小空洞12を形成する。
エッチング槽40の中に入れるエッチャント41としては、水酸化カリウム水溶液を用いる。水酸化カリウム水溶液の濃度は、50wt%のものから0.1wt%の希薄な水溶液まで適用可能である。この濃度範囲の水酸化カリウム水溶液を用いれば、被加工物10(シリカガラス)の未改質領域を適度にエッチングし易く、この未改質領域のエッチングによって、形成後の微小空洞12(貫通孔)の内面にテーパーが生じるのを防ぐことができる。
Next, in the etching process, the workpiece 10 that has been subjected to the laser processing process and the machining process as described above is immersed in the etching tank 40, so that the modified region 11 is formed starting from the exposed portion 11a. Etching is removed to form the microcavity 12.
As an etchant 41 to be put in the etching tank 40, a potassium hydroxide aqueous solution is used. The concentration of the potassium hydroxide aqueous solution is applicable from 50 wt% to a dilute aqueous solution of 0.1 wt%. If an aqueous potassium hydroxide solution in this concentration range is used, the unmodified region of the workpiece 10 (silica glass) can be easily etched moderately, and the etched microcavity 12 (through-hole) can be formed by etching the unmodified region. ) Can be prevented from being tapered.

また、エッチング槽40内のエッチャント41は、エッチング槽40の下部側に設けられるヒータ42によって適温に加熱される。エッチャント41の液温は、20℃から60℃の範囲内、特に50℃から60℃の範囲内にあることが好ましい。なぜならば、液温が60℃より高いと被加工物10(シリカガラス)の未改質領域をエッチングし過ぎてしまうおそれがあり、逆に液温が20℃より低いと、微小空洞12の深さ方向へのエッチングの進行が殆ど進行しなくなるからである。   The etchant 41 in the etching tank 40 is heated to an appropriate temperature by a heater 42 provided on the lower side of the etching tank 40. The liquid temperature of the etchant 41 is preferably in the range of 20 ° C. to 60 ° C., particularly in the range of 50 ° C. to 60 ° C. This is because if the liquid temperature is higher than 60 ° C., the unmodified region of the workpiece 10 (silica glass) may be excessively etched, and conversely if the liquid temperature is lower than 20 ° C., the depth of the microcavity 12 may be increased. This is because the etching in the vertical direction hardly proceeds.

そして、エッチングにより改質領域11を除去した被加工物10から、付着したエッチャント41を、洗浄等の手段により除去する。このようにして、被加工物10には、ストレートな貫通孔状の微小空洞12が形成される。   Then, the attached etchant 41 is removed from the workpiece 10 from which the modified region 11 has been removed by etching, by means such as cleaning. In this way, a straight through-hole-shaped microcavity 12 is formed in the workpiece 10.

上記微小空洞形成方法によれば、被加工物10の表面及び裏面にはパルスレーザ光aを集光照射しないため、不要な改質部分を形成することなく、被加工物10の内部にのみに、寸法精度の高い安定した形状の改質領域11を形成することができる。
また、機械加工のみによって、改質領域11に露出部分11aを形成するようにしているため、従来技術のようにエッチング保護膜を形成する工程や被加工物の改質領域以外の部分をエッチングする工程等を要することなく、加工設備を簡素化できる上、加工スピードも比較的速い。
そして、エッチング工程では、従来技術のように被加工物の表層側の未改質領域から深層側の改質領域に跨る範囲でエッチングを行うことなく、改質領域11のみにエッチングを行うようにしているため、改質領域11を除去した後の微小空洞12の内面の連続性を良好にすることができる。
よって、微小空洞12周囲の品質低下が少ない上、寸法精度の高い、安定した形状の高品質な微小空洞12を得ることができ、しかも、簡素な生産設備でもって生産性を向上することができる。
According to the above microcavity formation method, the front and back surfaces of the workpiece 10 are not focused and irradiated with the pulsed laser beam a, so that only unnecessary portions of the workpiece 10 are formed without forming unnecessary modified portions. The reformed region 11 having a stable shape with high dimensional accuracy can be formed.
Further, since the exposed portion 11a is formed in the modified region 11 only by machining, the portion other than the step of forming an etching protective film and the modified region of the work piece are etched as in the prior art. The processing equipment can be simplified and the processing speed is relatively fast without the need for processes.
In the etching step, etching is performed only on the modified region 11 without performing etching in a range extending from the unmodified region on the surface layer side of the workpiece to the modified region on the deep layer side as in the prior art. Therefore, the continuity of the inner surface of the microcavity 12 after removing the modified region 11 can be improved.
Therefore, quality deterioration around the microcavity 12 is small, a high-quality microcavity 12 having a stable shape with high dimensional accuracy can be obtained, and productivity can be improved with simple production equipment. .

次に、本発明に係る微小空洞形成方法の他例を、図4に基づいて説明する。
なお、以下に示す微小空洞形成方法の他例は、上記微小空洞形成方法を一部変更したものであるため、主にその変更箇所について詳細に説明し、重複する詳細説明を省略する。
Next, another example of the microcavity forming method according to the present invention will be described with reference to FIG.
In addition, since the other example of the microcavity formation method shown below changes a part of the said microcavity formation method, it mainly demonstrates the change location in detail and abbreviate | omits the overlapping detailed description.

図4に示す微小空洞形成方法は、上記微小空洞形成方法(図1参照)に対し、機械加工工程(図4(c)参照)を変更したものである。
すなわち、この微小空洞形成方法の機械加工工程では、レーザ加工工程を経た被加工物10に対し、機械加工によって改質領域11に連通する連通孔15を穿設する。
The microcavity forming method shown in FIG. 4 is obtained by changing the machining step (see FIG. 4C) with respect to the microcavity forming method (see FIG. 1).
That is, in the machining process of this microcavity forming method, the communication hole 15 communicating with the modified region 11 is formed by machining on the workpiece 10 that has undergone the laser machining process.

前記機械加工は、ドリル等の穿孔工具を用いる工作機械(例えば、ボール盤等)による切削加工であり、被加工物10の表面と裏面の両面に対し、それぞれ施される。
各連通孔15の深さは、少なくとも改質領域11のレーザ走査方向の端部に届く深さとされる。したがって、前記機械加工によって被加工物10の表面と裏面に連通孔15が穿設されると、改質領域11の両端側には、外部に露出した露出部分11aが形成される。
The machining is cutting with a machine tool (for example, a drilling machine) using a drilling tool such as a drill, and is applied to both the front surface and the back surface of the workpiece 10.
Each communication hole 15 has a depth that reaches at least the end of the modified region 11 in the laser scanning direction. Therefore, when the communication holes 15 are formed on the front and back surfaces of the workpiece 10 by the machining, exposed portions 11a exposed to the outside are formed on both end sides of the modified region 11.

次に、エッチング工程では、前記のようにしてレーザ加工工程及び機械加工工程を終えた被加工物10を、上述した微小空洞形成方法(図1及び図3参照)と同様に、エッチング槽40内に浸漬すことで、露出部分11aを始点にして改質領域11をエッチング除去し、微小空洞16を得る。   Next, in the etching step, the workpiece 10 that has been subjected to the laser processing step and the machining step as described above is placed in the etching tank 40 in the same manner as the above-described microcavity formation method (see FIGS. 1 and 3). In this way, the modified region 11 is removed by etching with the exposed portion 11a as a starting point, and the microcavity 16 is obtained.

この微小空洞16は、改質領域11をエッチング除去することにより形成された円筒状部分16aと、該円筒状部分16aの両端に連続する前記連通孔15,15とからなる空間であり、被加工物10を厚さ方向へ貫通して被加工物10の外部に連通している。   The microcavity 16 is a space including a cylindrical portion 16a formed by etching away the modified region 11, and the communication holes 15 and 15 continuous at both ends of the cylindrical portion 16a. The workpiece 10 penetrates in the thickness direction and communicates with the outside of the workpiece 10.

なお、図1及び図4に示す例では、被加工物10を貫通するようにして微小空洞を形成したが、他例としては、図5や図6に示すように有底孔状の微小空洞17,18を形成することも可能である。   In the example shown in FIGS. 1 and 4, the microcavity is formed so as to penetrate the workpiece 10. However, as another example, a microcavity having a bottomed hole shape as shown in FIGS. 5 and 6 is used. 17 and 18 can also be formed.

図5に示す微小空洞17は、図1に示す微小空洞形成方法において、機械加工工程(図1(c)参照)にて、被加工物10から表層部13のみを削り、裏層部14を削らないようにしている。したがって、次のエッチング工程にて改質領域11がエッチング除去された後には、有底孔状の微小空洞17が形成される。   The microcavity 17 shown in FIG. 5 is formed by removing only the surface layer portion 13 from the workpiece 10 and machining the back layer portion 14 in the machining step (see FIG. 1C) in the microcavity forming method shown in FIG. I try not to cut. Therefore, after the modified region 11 is removed by etching in the next etching step, the bottomed hole-shaped microcavity 17 is formed.

図6に示す微小空洞18は、図4に示す微小空洞形成方法において、機械加工工程(図4(c)参照)にて、被加工物10に対し表面側の連通孔15のみを穿設している。したがって、次のエッチング工程にて改質領域11がエッチング除去された後には、改質領域11が除去された跡の円筒状部分18aと表面側の連通孔15とからなる、有底孔状の微小空洞18が形成される。   The microcavity 18 shown in FIG. 6 is formed by drilling only the surface side communication hole 15 in the workpiece 10 in the microcavity forming method shown in FIG. 4 in the machining step (see FIG. 4C). ing. Therefore, after the modified region 11 is removed by etching in the next etching step, the bottomed hole-like shape comprising the cylindrical portion 18a of the trace from which the modified region 11 has been removed and the communication hole 15 on the surface side is formed. A microcavity 18 is formed.

また、図4(d)及び図6に示す微小空洞16,18では、円筒状部分16a,18aよりも連通孔15の内径を大きくしているが、これらの孔径を略同径にしたり、円筒状部分16a,18aよりも連通孔15の内径を小さくしたり等することも可能である。   Further, in the microcavities 16 and 18 shown in FIG. 4D and FIG. 6, the inner diameter of the communication hole 15 is made larger than that of the cylindrical portions 16a and 18a. It is also possible to make the inner diameter of the communication hole 15 smaller than the shaped portions 16a and 18a.

また、上記形態では、被加工物10の厚み方向に長尺な微小空間を形成したが、他例としては、被加工物10の厚み方向に対し傾斜した微小空間や、厚み方向に対し略直交する微小空間等とすることも可能である。   Moreover, in the said form, although the elongate minute space was formed in the thickness direction of the to-be-processed object 10, as an other example, the minute space inclined with respect to the thickness direction of the to-be-processed object 10 or substantially orthogonal to the thickness direction It is also possible to make a minute space or the like.

微小空洞12,16,17,18の径寸法は、0.5μm〜25μmである。
また、上記形態では、略円筒状の微小空洞を例示したが、この微小空洞の形状は、例えば、角筒状や、溝状、凹部等、円筒状以外の任意の形状とすることが可能である。
The diameter of the microcavities 12, 16, 17, and 18 is 0.5 μm to 25 μm.
Moreover, although the substantially cylindrical microcavity was illustrated in the said form, the shape of this microcavity can be made into arbitrary shapes other than cylindrical shapes, such as square tube shape, groove shape, a recessed part, for example. is there.

また、上記形態では、平板状の被加工物10に対し微小空洞を形成したが、他例としては、平板状以外の立体形状(例えば、立方体や直方体、球等)に対し、上記同様の微小空洞を形成することが可能である。   Moreover, in the said form, although the micro cavity was formed with respect to the flat plate-shaped to-be-processed object 10, as another example, it is the same micro as above with respect to solid shapes other than flat shape (for example, a cube, a rectangular parallelepiped, a sphere, etc.). It is possible to form a cavity.

また、上記形態では、被加工物10をシリカガラスとしたが、この被加工物10は、例えば、ホウケイ酸ガラス、ソーダ石灰ガラス、サファイア、タンタル酸リチウム、ニオブ酸リチウム等のように、シリカガラス以外の材料とすることも可能である。   Moreover, in the said form, although the to-be-processed object 10 was made into silica glass, this to-be-processed object 10 is silica glass like borosilicate glass, soda-lime glass, sapphire, lithium tantalate, lithium niobate etc., for example. Other materials can be used.

また、上記形態では、エッチング工程でのエッチャント41として水酸化カリウム水溶液を用いたが、エッチャントの他例としては、フッ酸、バファードフッ酸、フッ酸及び硫酸、塩酸、硝酸、リン酸等との混合液等を用いることも可能である。   Moreover, in the said form, although potassium hydroxide aqueous solution was used as the etchant 41 in an etching process, as other examples of an etchant, mixing with a hydrofluoric acid, a buffered hydrofluoric acid, a hydrofluoric acid, a sulfuric acid, hydrochloric acid, nitric acid, phosphoric acid, etc. It is also possible to use a liquid or the like.

また、レーザ加工工程後に、機械加工を被加工物10の一面側のみに施して改質領域11に露出部分11aを形成し、次に露出部分11aを始点にして改質領域11をエッチング工程によりエッチング除去して、微小空洞12又は16を形成し、次に機械加工を被加工物10のもう一方の面側に施して貫通孔を形成するように、本実施の形態の微小空洞形成方法を変更しても良い。例えば、図1の微小空洞形成方法の変更例を図7に示すと共に、図4の微小空洞形成方法の変更例を図8に、それぞれ示す。   Further, after the laser processing step, machining is performed only on one surface side of the workpiece 10 to form an exposed portion 11a in the modified region 11, and the modified region 11 is then etched by using the exposed portion 11a as a starting point. The microcavity forming method according to the present embodiment is formed so that the microcavity 12 or 16 is formed by etching and then machining is performed on the other surface side of the workpiece 10 to form a through hole. It may be changed. For example, FIG. 7 shows a modified example of the microcavity forming method of FIG. 1, and FIG. 8 shows a modified example of the microcavity forming method of FIG.

図7の微小空洞形成方法が図1と異なる点は、図7では被加工物10の一面側である表層部13のみを、まず研磨加工によって削り取り(図7(c)参照)、改質領域11に露出部分11aを形成し、次に改質領域11をエッチング除去して微小空洞12を形成後(図7(d)参照)、被加工物10のもう一方の面側である裏層部14を研磨加工によって削り取り(図7(e)参照)、貫通孔を形成(図7(f)参照)している点である。即ち、裏層部14の研磨加工を、改質領域11のエッチング工程後にしている点で、図1と異なる。従って、図1の微小空洞形成方法が有する効果は、図7の微小空洞形成方法も有する。   The microcavity forming method in FIG. 7 differs from that in FIG. 1 in that only the surface layer portion 13 on one surface side of the workpiece 10 in FIG. 7 is first scraped off by polishing (see FIG. 7C), and the modified region 11 is formed with an exposed portion 11a, and then the modified region 11 is removed by etching to form a microcavity 12 (see FIG. 7D), and then the back layer portion on the other surface side of the workpiece 10 14 is scraped off by polishing (see FIG. 7E), and through holes are formed (see FIG. 7F). That is, it differs from FIG. 1 in that the polishing of the back layer portion 14 is performed after the etching process of the modified region 11. Therefore, the effect of the microcavity forming method of FIG. 1 also has the microcavity forming method of FIG.

また図8の微小空洞形成方法が図4と異なる点は、図8ではまず被加工物10の一面側のみに連通孔15をドリル等を用いた切削加工で穿設し(図8(c)参照)、次に改質領域11をエッチング除去して微小空洞16を形成後(図8(d)参照)、被加工物10のもう一方の面側に連通孔15を穿設して、貫通孔を形成(図8(e)参照)している点である。即ち、一方の連通孔15を穿設する切削加工を、改質領域11のエッチング工程後にしている点で、図4と異なる。従って、図4の微小空洞形成方法が有する効果は、図8の微小空洞形成方法も有する。   8 differs from FIG. 4 in that in FIG. 8, first, a communication hole 15 is drilled only on one surface side of the workpiece 10 by cutting using a drill or the like (FIG. 8C). Next, after the modified region 11 is removed by etching to form the microcavity 16 (see FIG. 8D), the communication hole 15 is formed on the other surface side of the workpiece 10 to penetrate therethrough. A hole is formed (see FIG. 8E). That is, it differs from FIG. 4 in that the cutting process for forming one communication hole 15 is performed after the etching process of the modified region 11. Therefore, the effect of the microcavity forming method of FIG. 4 is also the microcavity forming method of FIG.

10:被加工物
11:改質領域
11a:露出部分
12,16,17,18:微小空洞
15:連通孔
a:パルスレーザ光
10: Workpiece 11: Modified region 11a: Exposed portion 12, 16, 17, 18: Micro cavity 15: Communication hole a: Pulsed laser beam

Claims (5)

被加工物にパルスレーザ光の集光照射を行って、前記被加工物内に外部に露出しない連続する改質領域を形成するレーザ加工工程と、前記被加工物の一部を機械加工により除去することで前記改質領域に露出部分を形成する機械加工工程と、前記露出部分を始点にして前記改質領域をエッチング除去し微小空洞を形成するエッチング工程と、を含み、
前記機械加工工程では、機械加工によって前記被加工物に前記改質領域に連通する連通孔を形成することを特徴とする微小空洞形成方法。
A laser processing step for forming a continuous modified region that is not exposed to the outside in the workpiece by performing focused laser beam irradiation on the workpiece, and removing a part of the workpiece by machining wherein the machining step of forming an exposed part to the reforming area, seen including an etching step, a forming microcavities removed by etching the modified region to the exposed portion to the starting point by,
In the machining step, the microcavity forming method is characterized in that a communication hole communicating with the modified region is formed in the workpiece by machining .
前記微小空洞として貫通孔を形成するようにしたことを特徴とする請求項1記載の微小空洞形成方法。   2. The method of forming a microcavity according to claim 1, wherein a through hole is formed as the microcavity. 前記機械加工が、研削加工、研磨加工、又は切削加工であることを特徴とする請求項1又は2記載の微小空洞形成方法。   The method for forming a microcavity according to claim 1 or 2, wherein the machining is grinding, polishing, or cutting. 前記機械加工工程では、機械加工によって前記被加工物の少なくとも一面を、全面にわたって略同厚みに除去することを特徴とする請求項1乃至3何れか1項記載の微小空洞形成方法。   4. The method for forming a microcavity according to claim 1, wherein in the machining step, at least one surface of the workpiece is removed by machining so as to have substantially the same thickness over the entire surface. 5. 前記レーザ加工工程後に、前記機械加工を前記被加工物の一面側のみに施して前記改質領域に前記露出部分を形成し、After the laser processing step, the machining is performed only on one surface side of the workpiece to form the exposed portion in the modified region,
次に前記露出部分を始点にして前記改質領域を前記エッチング工程によりエッチング除去して前記微小空洞を形成し、  Next, the modified region is etched away by the etching process starting from the exposed portion to form the microcavity,
次に前記機械加工を前記被加工物のもう一方の面側に施して前記貫通孔を形成するようにしたことを特徴とする請求項2乃至4の何れか1項記載の微小空洞形成方法。  5. The method for forming a microcavity according to claim 2, wherein the machining is performed on the other surface side of the workpiece to form the through hole.
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