JP5920976B2 - Silica particles and method for producing the same, resin composition for semiconductor encapsulation and method for producing the same - Google Patents

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Description

本発明は、シリカ粒子及びその製造方法、半導体封止用樹脂組成物及びその製造方法に関し、特に粒径が小さいシリカ粒子であって純度が高いものを製造できる製造方法に関する。   The present invention relates to silica particles and a method for producing the same, a resin composition for encapsulating a semiconductor, and a method for producing the same, and more particularly to a production method capable of producing silica particles having a small particle size and high purity.

従来、熱硬化性樹脂などの樹脂中にシリカ粒子を含有させた樹脂組成物が知られている。樹脂中にシリカ粒子を含有・分散させることにより樹脂組成物に対して耐熱性を向上したり、物理的強度を向上したりできる。   Conventionally, a resin composition in which silica particles are contained in a resin such as a thermosetting resin is known. By including and dispersing silica particles in the resin, the heat resistance of the resin composition can be improved and the physical strength can be improved.

ところで、半導体素子は年々そのプロセスの微細化が進行している。半導体素子はプロセスを微細化することにより体積効率の向上、消費電力の低減、動作速度の向上などの性能向上が期待できる。   By the way, the miniaturization of the process of the semiconductor element is progressing year by year. Semiconductor elements can be expected to improve performance by miniaturizing the process, such as improving volume efficiency, reducing power consumption, and improving operating speed.

このように半導体素子の性能向上を安定して実現するためには半導体の熱的安定性などを確保する必要がある。そうすることにより半導体素子の耐久性を向上することができる。例えば、半導体素子を保護するために樹脂組成物にて封止することなどが行われるが、その樹脂組成物の熱的特性、機械的特性が半導体素子の耐久性に直接影響することになる。   Thus, in order to stably improve the performance of the semiconductor element, it is necessary to ensure the thermal stability of the semiconductor. By doing so, the durability of the semiconductor element can be improved. For example, in order to protect the semiconductor element, sealing with a resin composition is performed, but the thermal characteristics and mechanical characteristics of the resin composition directly affect the durability of the semiconductor element.

このような樹脂組成物として先述したようなシリカ粒子を分散させた樹脂組成物を採用することがあるが、半導体素子を製造するプロセスの微細化に伴い、樹脂組成物に分散するシリカ粒子の粒径も小さくすることが求められている。例えば数nm〜十数nmのオーダーのプロセスで加工された半導体素子に対しては、同様に数nm〜数十nmの粒径をもつシリカ粒子を採用することが求められる。   A resin composition in which silica particles are dispersed as described above may be adopted as such a resin composition. However, as the process for producing a semiconductor element is miniaturized, the particles of silica particles dispersed in the resin composition are used. It is also required to reduce the diameter. For example, for a semiconductor device processed by a process on the order of several nm to several tens of nm, it is required to similarly employ silica particles having a particle diameter of several nm to several tens of nm.

ここで、数nmから数十nm程度の粒径をもつシリカ粒子を製造する方法としては水ガラスを原料として製造する方法(特許文献1)や、シリカ前駆体としてのアルコキシドを原料にするものなどが知られている。   Here, as a method for producing silica particles having a particle size of about several nanometers to several tens of nanometers, a method of producing water glass as a raw material (Patent Document 1), a method using alkoxide as a silica precursor as a raw material, etc. It has been known.

ところで、半導体素子の微細化・高集積化に伴い、外部からのα線などによる影響が大きくなっている。例えば半導体素子としてメモリ素子を例に挙げると、メモリ素子は電荷の蓄積の有無により記憶するデータの種類を保持するが、微細化によって、蓄積される電荷の大きさも小さくなって、外部から照射されるα線によって変化する程度の電荷によってデータの種類が変化していまい、結果、予期しないデータの変化が生じてしまう。また、半導体素子に流れる電流の大きさも小さくなるため、α線により生じる電流(ノイズ)が信号の大きさと比べても相対的に大きくなってしまい誤動作が危惧される。そのために、半導体素子を封止する樹脂組成物についてもα線生成量が少ないことが求められる。   By the way, with the miniaturization and high integration of semiconductor elements, the influence of external α rays and the like is increasing. For example, when a memory element is taken as an example of a semiconductor element, the memory element retains the type of data to be stored depending on the presence or absence of charge accumulation. The type of data changes depending on the amount of electric charge that changes depending on the alpha rays, resulting in unexpected data changes. In addition, since the magnitude of the current flowing through the semiconductor element is also reduced, the current (noise) generated by the α rays is relatively larger than the magnitude of the signal, and there is a risk of malfunction. Therefore, the resin composition for sealing the semiconductor element is also required to have a small α-ray generation amount.

従来、純度が高いシリカ粒子を製造する方法としては高純度の金属ケイ素や四塩化ケイ素などの精製が容易なケイ素化合物を製造し、その後、高純度のケイ素化合物からシリカ粒子を製造する方法が採用されていた。例えば金属ケイ素を酸化してシリカ粒子を得る方法からはサブマイクロメートルからマイクロメートルオーダーのシリカ粒子を好適に得ることが可能になり、アルコキシドを経由した方法からはナノメートルから数十ナノメートルオーダーのものが好適に得られた。   Conventionally, as a method for producing high-purity silica particles, a method of producing a highly pure silicon compound such as high-purity metallic silicon or silicon tetrachloride and then producing a silica particle from a high-purity silicon compound has been adopted. It had been. For example, it is possible to suitably obtain sub-micrometer to micrometer order silica particles from a method of oxidizing metal silicon to obtain silica particles, and from a method via alkoxide to a nanometer to several tens of nanometer order. Things were obtained favorably.

特許第3463328号Japanese Patent No. 3463328

上記実情の中、本発明者らはナノメートルオーダーのシリカ粒子について樹脂組成物に分散させた後の特性を評価した。その結果、高い純度をもちナノメートルオーダーのシリカ粒子については物理的特性が充分でない場合があることを見出した。   In the above circumstances, the present inventors evaluated the properties after dispersing nanometer-order silica particles in the resin composition. As a result, it has been found that the physical properties of silica particles having high purity and of nanometer order may not be sufficient.

本発明は上記発見された課題を解決しようとして案出されたものであり、高純度で且つ高い物理的特性をもつシリカ粒子を製造できるシリカ粒子の製造方法を提供することを解決すべき課題とする。   The present invention has been devised in order to solve the above-discovered problems, and it is an object to be solved to provide a method for producing silica particles capable of producing silica particles having high purity and high physical properties. To do.

従来、体積平均粒径として2nm〜100nmの範囲をもち、且つ、α線生成量範囲を小さくしたり、ウランやトリウムなどの不純物の濃度を低減したシリカ粒子を得ようとすると、金属ケイ素に対して純度を高くした後、その純度が高い金属ケイ素からアルコキシドを生成することにより純度が高いシリカを得る方法、金属ケイ素から四塩化ケイ素などの精製操作が容易なケイ素化合物を生成し、生成したケイ素化合物の純度を向上することにより、ウランなどのα線源の量を低くした後にシリカを得る方法により、純度が高いシリカ粒子を製造していた。   Conventionally, when trying to obtain silica particles having a volume average particle diameter in the range of 2 nm to 100 nm and reducing the α-ray generation range or reducing the concentration of impurities such as uranium and thorium, After obtaining high purity, a method for obtaining high purity silica by producing alkoxide from high purity metal silicon, silicon silicon produced by producing a silicon compound such as silicon tetrachloride from silicon silicon that is easy to purify. By improving the purity of the compound, silica particles having a high purity were produced by a method of obtaining silica after reducing the amount of α-ray source such as uranium.

本発明者らの鋭意研究によると、アルコキシドから製造されたシリカ粒子はα線源の量や、粒径については満足できるものが製造できるものの、物理的特性(代表的には真密度。水ガラスから製造されたシリカ粒子においては2.2g/cmであり、金属アルコキシドから合成されるナノシリカは、密度が低く、ポーラスも多い。)が充分なものでは無かった。例えば密度が低いと充分な機械的特性を発揮させることが困難であった。とはいっても、水ガラスから製造したシリカ粒子はウランなどのα線源が除去されておらずα線の発生は避けられなかった。ここで、水ガラスの状態でウランなどのα線源を除去することは困難であった。 According to the diligent research of the present inventors, although silica particles produced from alkoxide can be produced with satisfactory α-ray source amount and particle size, physical properties (typically true density, water glass) In the silica particles produced from the above, it was 2.2 g / cm 3 , and nanosilica synthesized from metal alkoxide has a low density and a lot of porous). For example, when the density is low, it is difficult to exhibit sufficient mechanical properties. However, silica particles produced from water glass have not been freed of α-ray sources such as uranium, and generation of α-rays cannot be avoided. Here, it was difficult to remove α-ray sources such as uranium in the state of water glass.

しかしながら、従来は粒径が小さく且つα線の発生量が少ないシリカ粒子までは要求されても、更に真密度を高くしたシリカ粒子まで得ようとする要求は存在せず、これらの性質を両立させることは行われてはいなかった。   However, in the past, there was no requirement to obtain silica particles with a higher true density, even though silica particles with a small particle size and a small amount of α-rays were required. That was not done.

この課題を解決する目的で、本発明者らが鋭意検討を行った結果、高純度な金属ケイ素から一旦水ガラスを経由してシリカ粒子を製造することにより高い純度と高い物理的特性とが両立できることを見出し以下の発明を完成した。
(1)上記課題を解決するシリカ粒子は、真密度が2.1g/cm以上、粒子単体の表面におけるα線生成量が0.001c/cm・h以下、アルミニウム含有量が50ppmから5000ppm、体積平均粒径が2nmから100nmである、ことを特徴する。
As a result of intensive studies by the present inventors for the purpose of solving this problem, high purity and high physical properties are both achieved by producing silica particles from high-purity metallic silicon once through water glass. The following invention was completed by finding out what can be done.
(1) A silica particle that solves the above problems has a true density of 2.1 g / cm 3 or more, an α-ray generation amount of 0.001 c / cm 2 · h or less on the surface of a single particle, and an aluminum content of 50 ppm to 5000 ppm. The volume average particle size is 2 nm to 100 nm.

本明細書中において「真密度」とは一次粒子について独立して測定した値である。つまり、一次粒子内に空隙を内包する場合でもその空隙と共に測定した値である。具体的には以下の様に測定する。ガス置換式密度計 AccupycII(島津製作所製)にて、サンプルホルダにサンプルを入れた後、ヘリウムガスを充填し、ヘリウムガスの充填量とサンプルの重量から真密度を算出する。   In the present specification, the “true density” is a value measured independently for primary particles. That is, even when a void is included in the primary particles, the value is measured together with the void. Specifically, the measurement is performed as follows. After the sample is put in the sample holder with a gas displacement density meter AccupycII (manufactured by Shimadzu Corporation), helium gas is filled, and the true density is calculated from the helium gas filling amount and the sample weight.

本明細書において「α線生成量」とは以下の方法にて測定した値である。α線生成量の測定は装置として住化分析センター製LACS-4000Mを用い、測定面積を1000cmから4000cm、印加電圧を1.90kVに調製し99時間カウントした値から算出したものである。
(2)上記課題を解決するシリカ粒子は、真密度が2.1g/cm以上、トリウム含有量が30ppb以下、ウラン含有量が1ppb以下、アルミニウム含有量が50ppmから5000ppm、体積平均粒径が2nmから100nmである、ことを特徴する。
In this specification, “α ray generation amount” is a value measured by the following method. The α-ray generation amount was calculated from a value obtained by using a LACS-4000M manufactured by Sumika Chemical Analysis Center as an apparatus, adjusting the measurement area from 1000 cm 2 to 4000 cm 2 , applying the applied voltage to 1.90 kV, and counting for 99 hours.
(2) Silica particles that solve the above problems have a true density of 2.1 g / cm 3 or more, a thorium content of 30 ppb or less, a uranium content of 1 ppb or less, an aluminum content of 50 ppm to 5000 ppm, and a volume average particle size. It is characterized by being 2 nm to 100 nm.

これら(1)及び(2)はそれぞれ以下の(3)に示す構成要素を付加することが可能である。(3)トリウム及びウランの含有量の合計が1ppb以下である。
(4)上記課題を解決するシリカ粒子の製造方法は、上述の(1)〜(3)のうちの何れか1つに記載のシリカ粒子について製造する方法である。そして、α線源の量を低減した、金属ケイ素及びケイ素化合物の何れかであるケイ素含有物を得る精製工程と、アルカリ金属ケイ酸塩溶液を前記ケイ素含有物から製造するアルカリ金属ケイ酸塩溶液製造工程と、得られたアルカリ金属ケイ酸塩溶液から水性シリカゾルを形成する水性シリカゾル形成工程と、を有することを特徴とする。
These (1) and (2) can be added with the components shown in the following (3). (3) The total content of thorium and uranium is 1 ppb or less.
(4) A method for producing silica particles that solves the above problems is a method for producing the silica particles according to any one of the above (1) to (3). And the refinement | purification process which obtains the silicon containing material which is either metal silicon and the silicon compound which reduced the quantity of alpha ray source, and the alkali metal silicate solution which manufactures an alkali metal silicate solution from the said silicon containing material It has a manufacturing process and the aqueous silica sol formation process which forms aqueous silica sol from the obtained alkali metal silicate solution, It is characterized by the above-mentioned.

(4)に開示の製造方法は以下の(5)に記載の構成要素を付加することが可能である。(5)前記水性シリカゾル形成工程は、(a)コロイダルシリカの粒子径が4〜30nmであり、かつpHが2〜9であり、そしてアルミニウム含有量がAl/SiOモル比で0〜0.0008の割合で有するシリカゾルに、Al/SiOモル比が0.0006を越えるが、0.004以下になるように、アルミン酸アルカリ水溶液を添加する工程、(b)上記(a)工程により得られたシリカゾルを80〜250℃で0.5〜20時間加熱する工程、(c)上記(b)工程で得られたシリカゾルを陽イオン交換樹脂又は陽イオン交換樹脂と陰イオン交換樹脂に接触させることにより、pHが2〜5の酸性シリカゾルを生成させる工程、をもつ。
(6)上記課題を解決するシリカ粒子は、(4)又は(5)の製造方法にて製造しうることを特徴とする。
(7)上記課題を解決する半導体封止用樹脂組成物は、上述の(1)〜(3)及び(6)のうちの何れか1つに記載のシリカ粒子と、前記シリカ粒子を分散する樹脂組成物と、を有することを特徴とする。
(8)上記課題を解決する半導体封止用樹脂組成物の製造方法は、上述の(4)又は(5)に記載の製造方法にてシリカ粒子を製造する工程と、得られたシリカ粒子を樹脂組成物中に分散する工程と、有する。
The manufacturing method disclosed in (4) can add the constituent elements described in the following (5). (5) In the aqueous silica sol forming step, (a) the colloidal silica has a particle size of 4 to 30 nm, a pH of 2 to 9, and an aluminum content of 0 in terms of Al 2 O 3 / SiO 2 molar ratio. A step of adding an alkali aluminate aqueous solution to a silica sol having a ratio of ˜0.0008 so that the Al 2 O 3 / SiO 2 molar ratio exceeds 0.0006 but is 0.004 or less, (b) (A) a step of heating the silica sol obtained in the step at 80 to 250 ° C. for 0.5 to 20 hours, (c) a step of the silica sol obtained in the step (b) above with a cation exchange resin or a cation exchange resin and an anion. A step of producing an acidic silica sol having a pH of 2 to 5 by contacting with an ion exchange resin.
(6) The silica particles that solve the above-described problems can be produced by the production method (4) or (5).
(7) The resin composition for semiconductor sealing which solves the said subject disperse | distributes the silica particle as described in any one of said (1)-(3) and (6), and the said silica particle. And a resin composition.
(8) The manufacturing method of the resin composition for semiconductor sealing which solves the said subject is the process of manufacturing a silica particle with the manufacturing method as described in said (4) or (5), and the obtained silica particle. And a step of dispersing in the resin composition.

上述のシリカ粒子は真密度が上述の範囲にあるため、高い物理的特性を示す。そのため、高い機械的特性が求められる用途(半導体封止用樹脂組成物など)に適用するのに好適なものになっている。   Since the above-mentioned silica particles have a true density in the above-described range, they exhibit high physical properties. Therefore, it is suitable for use in applications (such as a resin composition for semiconductor encapsulation) that require high mechanical properties.

本発明のシリカ粒子及びその製造方法、並びに、半導体封止用樹脂組成物及びその製造方法について実施形態に基づき以下詳細に説明を行う。   The silica particles of the present invention and the production method thereof, and the semiconductor sealing resin composition and the production method thereof will be described in detail below based on the embodiments.

(シリカ粒子)
本実施形態のシリカ粒子は真密度が2.1g/cm以上であり、望ましくは2.2g/cm以上であることが望ましい。例えば従来の製造方法であるシランを経由して製造されたシリカ粒子は1.6g/cm程度の値を示し、明確に識別できる。シランを経由して製造されたシリカ粒子は結晶構造が密で無いために真密度が低いことが推認される。ここで、後に説明する本実施形態のシリカ粒子の製造方法により製造しうるものも本実施形態のシリカ粒子の1つである。
(Silica particles)
The silica particles of the present embodiment have a true density of 2.1 g / cm 3 or more, desirably 2.2 g / cm 3 or more. For example, silica particles produced via silane which is a conventional production method show a value of about 1.6 g / cm 3 and can be clearly identified. It is presumed that the silica particles produced via silane have a low true density because the crystal structure is not dense. Here, what can be manufactured with the manufacturing method of the silica particle of this embodiment demonstrated later is one of the silica particles of this embodiment.

本実施形態のシリカ粒子は以下の(a)及び(b)のうちの少なくとも一方を充足する。(a)粒子単体の表面におけるα線生成量が0.001c/cm・h以下であることが望ましい。(b)トリウム含有量が30ppb以下、ウラン含有量が1ppb以下、特にはトリウムとウランとの含有量の和が1ppb以下であることが望ましい。つまり、α線の発生量が制限されていることを意味する。このような範囲は特に純度の向上を行わない場合には到底達成し得ない値である。 The silica particles of this embodiment satisfy at least one of the following (a) and (b). (A) It is desirable that the α ray generation amount on the surface of a single particle is 0.001 c / cm 2 · h or less. (B) It is desirable that the thorium content is 30 ppb or less, the uranium content is 1 ppb or less, and particularly the sum of the thorium and uranium contents is 1 ppb or less. That is, it means that the amount of α rays generated is limited. Such a range is a value that can hardly be achieved unless the purity is improved.

本実施形態のシリカ粒子はアルミニウム含有量が50ppmから5000ppmである。アルミニウムの含有量をこの範囲にすることによりシリカ表面が活性化され表面処理がしやすくなる。   The silica particles of this embodiment have an aluminum content of 50 ppm to 5000 ppm. By making the aluminum content within this range, the silica surface is activated and the surface treatment is facilitated.

アルミニウムの含有量の望ましい下限としては、500ppm、100ppm、50ppmが例示でき、望ましい上限としては1000ppm、3000ppm、5000ppmが例示できる。アルミニウムはどのように含まれていても良いが、アルミナの形態にて含まれることが予想される。なお、アルミニウムはシリカ粒子中において一次粒子内にシリカと共に含有されるものであり、シリカ粒子(アルミニウムの含有量が前述の範囲外のもの)の一次粒子と共にアルミナの一次粒子が結合した二次粒子として存在するものでは無い。   As desirable lower limits of the aluminum content, 500 ppm, 100 ppm and 50 ppm can be exemplified, and as desirable upper limits, 1000 ppm, 3000 ppm and 5000 ppm can be exemplified. Aluminum may be included in any way, but is expected to be included in the form of alumina. In addition, aluminum is contained in silica particles together with silica in primary particles, and secondary particles in which primary particles of alumina are combined with primary particles of silica particles (aluminum content outside the above range). It does not exist as.

本実施形態のシリカ粒子は体積平均粒径が2nmから100nmである。体積平均粒径の測定はレーザ散乱法にて測定したものである。体積平均粒径として好ましい下限としては5nm、10nmが挙げられ、好ましい上限としては50nm、100nmが挙げられる。   The silica particles of this embodiment have a volume average particle size of 2 nm to 100 nm. The volume average particle size is measured by a laser scattering method. The preferred lower limit for the volume average particle diameter is 5 nm or 10 nm, and the preferred upper limit is 50 nm or 100 nm.

本実施形態のシリカ粒子は真球度が0.9以上であることが望ましく、0.95以上であることが更に望ましい。真球度の測定は、SEMで写真を撮り、その観察される粒子の面積と周囲長から、(真球度)={4π×(面積)÷(周囲長)}で算出される値として算出する。1に近づくほど真球に近い。具体的には画像処理装置(シスメックス株式会社:FPIA−3000)を用い、無作為に抽出した100個の粒子について測定した平均値を採用する。 The silica particles of the present embodiment preferably have a sphericity of 0.9 or more, and more preferably 0.95 or more. The sphericity is measured by taking a photograph with an SEM, and calculating from (Sphericality) = {4π × (Area) ÷ (Ambient Length) 2 } from the area and circumference of the observed particle. calculate. The closer to 1, the closer to a true sphere. Specifically, an average value measured for 100 particles randomly extracted using an image processing apparatus (Sysmex Corporation: FPIA-3000) is employed.

(シリカ粒子の製造方法)
本実施形態のシリカ粒子の製造方法は上述した本実施形態のシリカ粒子を製造する方法である。本製造方法は精製工程とアルカリ金属ケイ酸塩溶液製造工程と水性シリカゾル形成工程とを有する。
(Method for producing silica particles)
The manufacturing method of the silica particle of this embodiment is a method of manufacturing the silica particle of this embodiment mentioned above. This production method includes a purification step, an alkali metal silicate solution production step, and an aqueous silica sol formation step.

精製工程は原料となるケイ素含有物(金属ケイ素、ケイ素化合物)におけるα線源の量を低減する工程である。本明細書において「α線源」とはα線を放出する元素を示し、その低減の程度は上述した実施形態のシリカ粒子を製造することができる程度にする。低減の方法は特に限定されない。例えば、精製が容易なケイ素化合物を経由して行う方法、ゾーンメルティング法、単結晶を析出させる方法などが挙げられる。また、これらの方法を複数回行ったり、組み合わせたりすることもできる。   The purification step is a step of reducing the amount of α-ray source in the silicon-containing material (metal silicon, silicon compound) as a raw material. In this specification, “α-ray source” refers to an element that emits α-rays, and the degree of reduction is such that the silica particles of the above-described embodiment can be produced. The reduction method is not particularly limited. For example, a method using a silicon compound that is easy to purify, a zone melting method, a method of depositing a single crystal, and the like can be mentioned. Further, these methods can be performed a plurality of times or combined.

アルカリ金属ケイ酸塩溶液製造工程はアルカリ金属ケイ酸塩溶液をケイ素含有物から製造する工程である。アルカリ金属としては特に限定しないがナトリウムが好ましい。金属ケイ酸のナトリウム塩水溶液は一般的に水ガラスと称されるものが汎用できる。金属ケイ素を直接、アルカリ金属を含む溶液に溶解させたり、金属ケイ素を酸素と反応させてシリカを形成した後に溶解させることができる。特に非晶質のシリカを用いた方が溶解性が向上できる。また、結晶性のシリカであっても、溶解性を向上することを目的としてアモルファス化して溶解性を向上して用いることができる。金属ケイ素と酸素とを反応してシリカを得る方法としては爆燃法(VMC法)と称される方法が採用できる。VMC法は比表面積が大きい(粒子状)であり且つアモルファス状のシリカを得ることができる。VMC法は、酸素を含む雰囲気中でバーナーにより化学炎を形成し、この化学炎中に金属ケイ素粉末を粉塵雲が形成される程度の量投入し、爆燃を起こして球状の酸化物粒子を得る方法である。アルミニウムの含有量について調製を行う場合には前述の精製工程においてケイ素含有物に対してアルミニウムの含有量を制御するか、本工程においてアルカリ金属ケイ酸塩溶液中のアルミニウムの含有量を調整することにより行う。   The alkali metal silicate solution manufacturing process is a process of manufacturing an alkali metal silicate solution from a silicon-containing material. Although it does not specifically limit as an alkali metal, Sodium is preferable. As the aqueous sodium salt solution of metal silicate, a so-called water glass can be generally used. Metallic silicon can be dissolved directly in a solution containing an alkali metal, or can be dissolved after reacting metallic silicon with oxygen to form silica. In particular, the use of amorphous silica can improve the solubility. Even crystalline silica can be used by improving the solubility by making it amorphous for the purpose of improving the solubility. As a method for obtaining silica by reacting metallic silicon and oxygen, a method called deflagration method (VMC method) can be adopted. The VMC method has a large specific surface area (particulate) and can obtain amorphous silica. In the VMC method, a chemical flame is formed by a burner in an atmosphere containing oxygen, and metal silicon powder is introduced into the chemical flame in such an amount that a dust cloud is formed, and deflagration is caused to obtain spherical oxide particles. Is the method. When preparing the aluminum content, control the aluminum content with respect to the silicon-containing material in the above-described purification process, or adjust the aluminum content in the alkali metal silicate solution in this step. To do.

水性シリカゾル形成工程は得られたアルカリ金属ケイ酸塩溶液(アルカリ性シリカゾルを含む)から水性シリカゾルを形成する工程である。アルカリ金属ケイ酸塩溶液に対して酸を添加することによりコロイドシリカが生成する。例えばpHは2〜9が好ましい。特にpH4〜7が好ましい。このpH4〜7のシリカゾルは、アルカリ金属ケイ酸塩溶液を陽イオン交換樹脂又は陽イオン交換樹脂と陰イオン交換樹脂で処理し、pH2〜5の酸性シリカゾルを製造した後、アルカリ金属水酸化物水溶液、アンモニア水、アミン、第4級アンモニウム水酸化物水溶液などの塩基を添加し、pHを4〜7に調整することにより製造出来る。このゾルは製造後直ちに用いることが好ましい(例えば(a)工程。(a)工程の後には以下に説明する(b)工程、(c)工程が適用される)。   The aqueous silica sol forming step is a step of forming an aqueous silica sol from the obtained alkali metal silicate solution (including the alkaline silica sol). Colloidal silica is formed by adding acid to the alkali metal silicate solution. For example, the pH is preferably 2-9. PH 4-7 is particularly preferable. This silica sol having a pH of 4 to 7 is obtained by treating an alkali metal silicate solution with a cation exchange resin or a cation exchange resin and an anion exchange resin to produce an acidic silica sol having a pH of 2 to 5, followed by an alkali metal hydroxide aqueous solution. It can be produced by adding a base such as aqueous ammonia, amine, aqueous quaternary ammonium hydroxide and adjusting the pH to 4-7. This sol is preferably used immediately after production (for example, step (a). Step (b) and step (c) described below are applied after step (a)).

ここで、アルカリ金属ケイ酸塩溶液中に含まれるSiO2 濃度は特に限定されないが、5〜50質量%が好ましい。そして生成したコロイダルシリカの粒子径は、BET法による比表面積又はシアーズ法による比表面積からの換算粒子径で4〜30nmにすることが例示できる。シアーズ法は、アナレティカル・ケミストリー(ANALYTICAL CHEMISTRY)第28巻第12号(1956年12月)第1981頁に説明されている様に、水酸化ナトリウムを用いた滴定による比表面積から換算される粒子径の測定方法である。 Here, the SiO 2 concentration contained in the alkali metal silicate solution is not particularly limited, but is preferably 5 to 50% by mass. The particle size of the produced colloidal silica can be exemplified as 4 to 30 nm in terms of the converted particle size from the specific surface area by the BET method or the specific surface area by the Sears method. The Sears method is a particle converted from a specific surface area by titration with sodium hydroxide as described in ANALYTIC CHEMISTRY Vol. 28 No. 12 (December 1956) p. 1981. This is a diameter measurement method.

(a)工程において使用するアルミン酸アルカリ水溶液としてはアルミン酸ナトリウム、アルミン酸カリウム、アルミン酸第4級アンモニウム、アルミン酸グアニジンなどの水溶液を用いることが出来るが、工業薬品として市販されているアルミン酸ナトリウム水溶液が特に好ましい。アルミン酸ナトリウム水溶液のNa2 O/Al2 3 モル比は1.2〜2.0が好ましい。 As the aqueous aluminate solution used in the step (a), an aqueous solution of sodium aluminate, potassium aluminate, quaternary ammonium aluminate, guanidine aluminate or the like can be used, but aluminate commercially available as an industrial chemical. An aqueous sodium solution is particularly preferred. The Na 2 O / Al 2 O 3 molar ratio of the aqueous sodium aluminate solution is preferably 1.2 to 2.0.

(a)工程において、pH2〜9のシリカゾルへのアルミン酸アルカリ水溶液の添加は攪拌下に0〜80℃、好ましくは5〜60℃で行なうことが出来る。攪拌はサタケ式、ファウドラー式、ディスパー型攪拌機、ホモミキサーなどにより行なうことが出来るが、攪拌速度は強い方が好ましい。添加するアルミン酸アルカリ水溶液はAl2 3 濃度0.5〜10重量%で用いるのが好ましい。アルミン酸アルカリ水溶液の添加時間は長くても差しつかえないが、通常10分以内がよい。 In the step (a), the addition of the aqueous alkali aluminate solution to the silica sol having a pH of 2 to 9 can be performed at 0 to 80 ° C., preferably 5 to 60 ° C. with stirring. Stirring can be performed by a Satake type, a Faudler type, a Disper type stirrer, a homomixer, or the like, but a stronger stirring speed is preferred. The alkali aluminate aqueous solution to be added is preferably used at an Al 2 O 3 concentration of 0.5 to 10% by weight. Although the addition time of the alkali aluminate aqueous solution may be long, it is usually within 10 minutes.

(a)工程において、シリカゾルに対するアルミン酸アルカリ水溶液(例えばアルミン酸ナトリウム水溶液)の添加量は、添加後のシリカゾルのAl2 3 /SiO2 モル比で0.0006を越えるが、0.004以下が好ましい。特に0.0008を越えるが、0.004以下が好ましい。(a)工程で得られるシリカゾルはpHが5〜11である。pH6〜10が更に好ましい。 In step (a), the amount of alkali aluminate aqueous solution (for example, sodium aluminate aqueous solution) added to the silica sol exceeds 0.0006 in terms of the Al 2 O 3 / SiO 2 molar ratio of the silica sol after the addition, but is 0.004 or less. Is preferred. In particular, it exceeds 0.0008 but is preferably 0.004 or less. The silica sol obtained in the step (a) has a pH of 5 to 11. More preferred is pH 6-10.

(b)工程は(a)工程で得たシリカゾルを加熱処理する工程であり、加熱温度は80〜250℃、特に100〜200℃が好ましい。加熱時間は0.5〜20時間が好ましい。(b)工程の加熱にはSUS製やガラス製の装置及び加圧装置を使用することが出来る。   (B) A process is a process of heat-processing the silica sol obtained at the (a) process, and heating temperature is 80-250 degreeC, Especially 100-200 degreeC is preferable. The heating time is preferably 0.5 to 20 hours. For the heating in the step (b), a SUS or glass device and a pressure device can be used.

(c)工程における陽イオン交換樹脂又は陽イオン交換樹脂と陰イオン交換樹脂との接触は0〜60℃で使用できるが、特に5〜50℃が好ましい。陽イオン交換樹脂としては水素型強酸性陽イオン交換樹脂が好ましく、市販の工業製品として容易に入手される。その例としては商品名アンバーライトIR−120Bが挙げられる。陰イオン交換樹脂としては水酸基型強塩基性陰イオン交換樹脂が好ましく、市販の工業製品として容易に入手される。その例としては商品名アンバーライトIRA−410が挙げられる。   The contact between the cation exchange resin or the cation exchange resin and the anion exchange resin in the step (c) can be used at 0 to 60 ° C, and 5 to 50 ° C is particularly preferable. The cation exchange resin is preferably a hydrogen-type strongly acidic cation exchange resin, and is easily obtained as a commercial industrial product. As an example, the trade name Amberlite IR-120B can be mentioned. As the anion exchange resin, a hydroxyl type strongly basic anion exchange resin is preferable, and it is easily obtained as a commercial industrial product. An example of this is the trade name Amberlite IRA-410.

(c)工程においてシリカゾルとイオン交換樹脂との接触は、イオン交換樹脂を充填したカラム中にシリカゾルを通液させることにより好ましく行なうことが出来、シリカゾルのカラムを通過させる速度は1時間当りの空間速度1〜10程度が好ましい。(c)工程のシリカゾルと陽イオン交換樹脂及び陰イオン交換樹脂との接触においては、はじめに陽イオン交換樹脂と接触し、次いで陰イオン交換樹脂と接触するのが好ましく、このシリカゾルを再び陽イオン交換樹脂と接触させると更に好ましい。   In the step (c), the contact between the silica sol and the ion exchange resin can be preferably carried out by passing the silica sol through a column filled with the ion exchange resin, and the speed of passing the silica sol through the column is the space per hour. A speed of about 1 to 10 is preferable. In the contact of the silica sol with the cation exchange resin and the anion exchange resin in the step (c), it is preferable that the silica sol is first contacted with the cation exchange resin and then contacted with the anion exchange resin. More preferably, it is brought into contact with a resin.

(c)工程において(b)工程で得られたシリカゾルを希釈せず、そのままのSiO2 濃度で通液することが出来るが、希釈して通液した場合、又は(c)工程により得られたシリカゾルのSiO2 濃度が低下した場合には、蒸発法や微細多孔性膜を用いる方法などの方法で濃縮することによりSiO2 濃度を高めることが出来る。 In the step (c), the silica sol obtained in the step (b) can be passed through without dilution, and the SiO 2 concentration can be passed as it is, but when diluted and passed, or obtained by the step (c). If the SiO 2 concentration of the silica sol was decreased, it can increase the SiO 2 concentration by concentration by a method such as a method using a vaporization method or microporous membrane.

(c)工程により得られた酸性シリカゾルのpHは2〜5である。(a)、(b)及び(c)の各工程におけるシリカゾルの粒子径は、BET法による比表面積又はシアーズ法による比表面積からの換算粒子径として求めることができる。   The pH of the acidic silica sol obtained by the step (c) is 2-5. The particle size of the silica sol in each step of (a), (b) and (c) can be determined as a specific particle size from the specific surface area by the BET method or the specific surface area by the Sears method.

(半導体封止用樹脂組成物)
本実施形態の半導体封止用樹脂組成物は上述のシリカ粒子と樹脂組成物とを混合したものである。シリカ粒子と樹脂組成物との混合比は特に限定しないが、シリカ粒子の量が多い方が熱的安定性に優れたものになる。
(Resin composition for semiconductor encapsulation)
The resin composition for semiconductor encapsulation of this embodiment is a mixture of the above-described silica particles and a resin composition. The mixing ratio of the silica particles and the resin composition is not particularly limited, but the larger the amount of silica particles, the better the thermal stability.

樹脂組成物は何らかの条件下で硬化可能な組成物である。例えば、プレポリマーと硬化剤との混合物である。硬化剤は硬貨直前に混合しても良い。樹脂組成物としてはその種類は特に限定しない。例えば、エポキシ基、オキセタン基、水酸基、ブロックされたイソシアネート基、アミノ基、ハーフエステル基、アミック基、カルボキシ基及び炭素-炭素二重結合基を化学構造中に有することが望ましい。これらの官能基は好適な反応条件を設定することで互いに結合可能な官能基(重合性官能基)であり、適正な反応条件を選択することにより樹脂組成物を硬化させることができる。硬化させるための好適な反応条件としては単純に加熱や光照射を行ったり、熱や光照射によりラジカルやイオン(アニオン、カチオン)などの反応性種を生成したり、それらの官能基間を結合する反応開始剤(重合開始剤)を添加して加熱や光照射を行うことなどである。重合反応に際して必要な化合物を硬化剤として添加したり、その反応に対する触媒を添加することもできる。   The resin composition is a composition that can be cured under some conditions. For example, a mixture of a prepolymer and a curing agent. The curing agent may be mixed immediately before the coin. The type of the resin composition is not particularly limited. For example, it is desirable to have an epoxy group, oxetane group, hydroxyl group, blocked isocyanate group, amino group, half ester group, amic group, carboxy group and carbon-carbon double bond group in the chemical structure. These functional groups are functional groups (polymerizable functional groups) that can be bonded to each other by setting suitable reaction conditions, and the resin composition can be cured by selecting appropriate reaction conditions. Suitable reaction conditions for curing include simple heating and light irradiation, generation of reactive species such as radicals and ions (anions and cations) by heat and light irradiation, and bonding between these functional groups. For example, adding a reaction initiator (polymerization initiator) to perform heating or light irradiation. A compound necessary for the polymerization reaction can be added as a curing agent, or a catalyst for the reaction can be added.

樹脂組成物としては重合により高分子材料を形成する単量体や、上述したような重合性官能基により修飾した高分子材料が好ましいものとして挙げられる。例えば、硬化前の、エポキシ樹脂、アクリル樹脂、ウレタン樹脂などのプレポリマーが好適である。特に熱的安定性の高いものにする場合にはエポキシ樹脂を主体として組成物を構成することが望ましい。   Preferred examples of the resin composition include a monomer that forms a polymer material by polymerization and a polymer material modified with a polymerizable functional group as described above. For example, a prepolymer such as an epoxy resin, an acrylic resin, or a urethane resin before curing is suitable. In particular, when the thermal stability is high, it is desirable that the composition is composed mainly of an epoxy resin.

本発明のシリカ粒子及びその製造方法について実施例に基づき詳細に説明を行う。
(試験例1)
・精製工程及びアルカリ金属ケイ酸塩溶液製造工程:高純度(低トリウム、低ウラン)の水ガラス作成
水酸化ナトリウム30質量部を水75質量部に溶解させた後、アドマファイン25H/75C(体積平均粒径0.5μm)45質量部を加えて溶解するまで攪拌し、水ガラス溶液を生成した。アドマファイン25H/75Cは金属シリカ粉末と酸素とを反応させて製造されたシリカ粒子であり、原料となる金属ケイ素としてはウラン及びトリウムの量が最終的なシリカ粒子を製造したときに1ppb以下になるように生成されているものである。
・水性シリカゾル形成工程
上述した水ガラス溶液に0.2質量%の硝酸ナトリウムを加えたのち、陽イオン交換樹脂及び陰イオン交換樹脂を適宜通過させてpHを4〜7の範囲に調節し、減圧下で加熱攪拌(90℃)することでコロイドシリカを生成させた。その後、1質量%のアルミン酸ナトリウム水溶液を添加して加熱処理した。アルミン酸ナトリウム水溶液の添加量はコロイドシリカ(シリカゾル)に対するアルミン酸ナトリウムの量が、アルミナとして7000ppmになる量とした。加熱温度は80℃程度とし、加熱時間は3日間程度とした。
The silica particles of the present invention and the production method thereof will be described in detail based on examples.
(Test Example 1)
-Purification process and alkali metal silicate solution manufacturing process: Preparation of water glass of high purity (low thorium, low uranium) After dissolving 30 parts by mass of sodium hydroxide in 75 parts by mass of water, Admafine 25H / 75C (volume 45 parts by mass (average particle size 0.5 μm) was added and stirred until dissolved to produce a water glass solution. Admafine 25H / 75C is a silica particle produced by reacting metal silica powder and oxygen. The amount of uranium and thorium used as the raw material metal silicon is less than 1 ppb when the final silica particle is produced. It is generated so that it becomes.
-Aqueous silica sol formation process After adding 0.2 mass% sodium nitrate to the water glass solution mentioned above, pH is adjusted to the range of 4-7 by passing cation exchange resin and anion exchange resin suitably, and pressure reduction Colloidal silica was produced by heating and stirring (90 ° C.) below. Then, 1 mass% sodium aluminate aqueous solution was added and heat-processed. The amount of sodium aluminate aqueous solution added was such that the amount of sodium aluminate relative to colloidal silica (silica sol) was 7000 ppm as alumina. The heating temperature was about 80 ° C., and the heating time was about 3 days.

その結果、体積平均粒径が10nmのシリカ粒子を得た。得られたシリカ粒子は原料としたアドマファイン25H/75Cと同様にウラン及びトリウムの含有量は0.1ppb未満であった。また、比重は2.2g/cmであった。 As a result, silica particles having a volume average particle diameter of 10 nm were obtained. The obtained silica particles had a uranium and thorium content of less than 0.1 ppb, similar to Admafine 25H / 75C used as a raw material. The specific gravity was 2.2 g / cm 3 .

(試験例2)
イオン交換樹脂を通過させてpH調整した後の、減圧下での加熱攪拌の温度を90℃から95℃に上げて体積平均粒径が50nmのシリカ粒子を得た以外は試験例1と同じ方法で製造した。得られたシリカ粒子は原料としたアドマファイン25H/75Cと同様にウラン及びトリウムの含有量は0.1ppb未満であった。また、比重は2.2g/cm3であった。
(Test Example 2)
The same method as in Test Example 1 except that after adjusting the pH by passing an ion exchange resin, the temperature of heating and stirring under reduced pressure was increased from 90 ° C. to 95 ° C. to obtain silica particles having a volume average particle size of 50 nm. Manufactured with. The obtained silica particles had a uranium and thorium content of less than 0.1 ppb, similar to Admafine 25H / 75C used as a raw material. The specific gravity was 2.2 g / cm3.

(試験例3:市販の水ガラスから製造したシリカ粒子について)
市販の水ガラス(ケイ酸ソーダ 3号 富士化学社製)を用いた以外は前述の試験例1と同様の方法にてシリカ粒子を製造した。得られたシリカ粒子についての物性を示すと、体積平均粒径約10nm、α線:0.03c/cmh未満、比重2.2g/cm、トリウム含有量:150ppb、ウラン含有量:4ppbであり、α線量、トリウム含有量、ウラン含有量がすべて本発明の範囲外であった。
(Test Example 3: Silica particles produced from commercially available water glass)
Silica particles were produced in the same manner as in Test Example 1 except that a commercially available water glass (sodium silicate No. 3 manufactured by Fuji Chemical Co., Ltd.) was used. The physical properties of the obtained silica particles are as follows. Volume average particle size is about 10 nm, α-ray: less than 0.03 c / cm 2 h, specific gravity 2.2 g / cm 3 , thorium content: 150 ppb, uranium content: 4 ppb The α dose, thorium content, and uranium content were all outside the scope of the present invention.

Claims (7)

真密度が2.g/cm以上、
粒子単体の表面におけるα線生成量が0.001c/cm・h以下、
アルミニウム含有量が50ppmから5000ppm、
体積平均粒径が2nmから100nmである、
ことを特徴とするシリカ粒子。
True density is 2. 2 g / cm 3 or more,
Α-ray generation amount on the surface of a single particle is 0.001 c / cm 2 · h or less,
Aluminum content from 50ppm to 5000ppm,
The volume average particle size is from 2 nm to 100 nm,
Silica particles characterized by that.
真密度が2.g/cm以上、
トリウム含有量が30ppb以下、ウラン含有量が1ppb以下、
アルミニウム含有量が50ppmから5000ppm、
体積平均粒径が2nmから100nmである、
ことを特徴とするシリカ粒子。
True density is 2. 2 g / cm 3 or more,
Thorium content is 30 ppb or less, uranium content is 1 ppb or less,
Aluminum content from 50ppm to 5000ppm,
The volume average particle size is from 2 nm to 100 nm,
Silica particles characterized by that.
トリウム及びウランの含有量の合計が1ppb以下である請求項1又は2に記載のシリカ粒子。   The silica particles according to claim 1 or 2, wherein the total content of thorium and uranium is 1 ppb or less. 請求項1〜3のうちの何れか1項に記載のシリカ粒子を製造する方法であって、
α線源の量を低減した、金属ケイ素及びケイ素化合物の何れかであるケイ素含有物を得る精製工程と、
アルカリ金属ケイ酸塩溶液を前記ケイ素含有物から製造するアルカリ金属ケイ酸塩溶液製造工程と、
得られたアルカリ金属ケイ酸塩溶液から水性シリカゾルを形成する水性シリカゾル形成工程と、
を有することを特徴とするシリカ粒子の製造方法。
A method for producing silica particles according to any one of claims 1 to 3,
a purification step of obtaining a silicon-containing material that is either metal silicon or a silicon compound with a reduced amount of α-ray source;
An alkali metal silicate solution production process for producing an alkali metal silicate solution from the silicon-containing material,
An aqueous silica sol forming step of forming an aqueous silica sol from the obtained alkali metal silicate solution;
The manufacturing method of the silica particle characterized by having.
前記水性シリカゾル形成工程は、
(a)コロイダルシリカの粒子径が4〜30nmであり、かつpHが2〜9であり、そしてアルミニウム含有量がAl/SiOモル比で0〜0.0008の割合で有するシリカゾルに、Al/SiOモル比が0.0006を越えるが、0.004以下になるように、アルミン酸アルカリ水溶液を添加する工程、
(b)上記(a)工程により得られたシリカゾルを80〜250℃で0.5〜20時間加熱する工程、
(c)上記(b)工程で得られたシリカゾルを陽イオン交換樹脂又は陽イオン交換樹脂と陰イオン交換樹脂に接触させることにより、pHが2〜5の酸性シリカゾルを生成させる工程、
をもつ請求項4に記載のシリカ粒子の製造方法。
The aqueous silica sol forming step includes
(A) A silica sol having a colloidal silica particle diameter of 4 to 30 nm, a pH of 2 to 9, and an aluminum content of Al 2 O 3 / SiO 2 molar ratio of 0 to 0.0008 Adding an alkali aluminate aqueous solution so that the Al 2 O 3 / SiO 2 molar ratio exceeds 0.0006 but is 0.004 or less,
(B) a step of heating the silica sol obtained by the step (a) at 80 to 250 ° C. for 0.5 to 20 hours,
(C) A step of producing an acidic silica sol having a pH of 2 to 5 by contacting the silica sol obtained in the step (b) with a cation exchange resin or a cation exchange resin and an anion exchange resin,
The method for producing silica particles according to claim 4, wherein:
請求項1〜3のうちの何れか1項に記載のシリカ粒子と、
前記シリカ粒子を分散する樹脂組成物と、
を有することを特徴とする半導体封止用樹脂組成物。
The silica particles according to any one of claims 1 to 3 ,
A resin composition in which the silica particles are dispersed;
The resin composition for semiconductor sealing characterized by having.
請求項6に記載の半導体封止用樹脂組成物を製造する方法であって、
請求項4又は5に記載の製造方法にてシリカ粒子を製造する工程と、
得られたシリカ粒子を樹脂組成物中に分散する工程と、
有する半導体封止用樹脂組成物の製造方法。
A method for producing a semiconductor sealing resin composition according to claim 6, comprising:
A step of producing silica particles by the production method according to claim 4 or 5,
A step of dispersing the obtained silica particles in a resin composition;
The manufacturing method of the resin composition for semiconductor sealing which has this.
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