JP5919965B2 - Material testing machine - Google Patents
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Description
この発明は、試験終了後の試験片を回収して廃棄する試験片回収装置を備えた材料試験機に関する。 The present invention relates to a material testing machine equipped with a test strip collecting apparatus that collects and discards test strips after completion of a test.
鉄鋼材料や合成樹脂材料などの品質評価のための材料試験において、試験に供される試験片を、試験位置に供給するところから、試験終了後に回収するに至るまで、機械動作により自動的に行うことにより、複数の試験片を連続して試験することができる材料試験機が知られている(特許文献1参照)。特許文献1に記載された材料試験機では、上つかみ具と下つかみ具とに把持させた状態で試験片に引張負荷を与える引張試験が終了し、破断した試験片を、先端に回収チャックが配設された回収アームと、回収アームを旋回させる回転シリンダとを備えた試験片回収装置によりつかみ具から回収している。そして、試験片を把持した回収チャックを、回収アームを旋回させて回収箱の上方に移動させたときに、回収チャックの把持力を解放することにより、試験片を回収箱に垂直落下させて廃棄している。 In material testing for quality evaluation of steel materials, synthetic resin materials, etc., it is automatically performed by machine operation from supplying test pieces to the test position to collecting them after the test is completed. Therefore, a material testing machine capable of continuously testing a plurality of test pieces is known (see Patent Document 1). In the material testing machine described in Patent Document 1, the tensile test for applying a tensile load to the test piece in a state of being gripped by the upper gripping tool and the lower gripping tool is completed, and the recovery chuck has a broken chuck at the tip. The specimen is collected from the gripper by a test piece collecting apparatus including a collecting arm arranged and a rotating cylinder for rotating the collecting arm. When the recovery chuck that holds the test piece is moved above the recovery box by turning the recovery arm, the gripping force of the recovery chuck is released, so that the test piece is dropped vertically into the recovery box and discarded. doing.
しかしながら、特許文献1に記載されたような試験片回収装置では、回収アームの旋回角度に制約があり、試験後の試験片を把持する回収チャックと回収箱との位置関係から、回収箱の底における破断試験片の落下位置は常に同じ位置となってしまう。このため、回収箱自体の容積は、試験後の試験片を回収するのに十分な大きさであっても、回収箱に投下された試験片は、回収箱の底面全体に均一に広がることはなく、一つの山として積み上げられることになる。こうして試験後の試験片が、回収箱の高さを超えて積み上げられると、回収アームの動作の妨げとなる。そうすると、試験後の試験片の回収ができなくなり、予め設定した数の試験片への材料試験が完了する前に、装置全体の動作が停止することになる。 However, in the test piece recovery apparatus described in Patent Document 1, there is a limitation on the turning angle of the recovery arm, and the bottom of the recovery box is determined based on the positional relationship between the recovery chuck that holds the test piece after the test and the recovery box. The breaking position of the fracture test piece at is always the same position. For this reason, even if the volume of the collection box itself is large enough to collect the test piece after the test, the test piece dropped in the collection box will not spread evenly over the entire bottom surface of the collection box. It will be piled up as one mountain. Thus, if the test pieces after the test are stacked beyond the height of the collection box, the operation of the collection arm is hindered. If it does so, it will become impossible to collect | recover the test pieces after a test, and operation | movement of the whole apparatus will be stopped before the material test to the preset number of test pieces is completed.
この発明は上記課題を解決するためになされたものであり、多量の試験片について材料試験を行う際に、設定した数の試験片に対する材料試験が終了するまで、試験片の回収動作を確実に行うことができる材料試験機を提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve the above problems, and when performing a material test on a large number of test pieces, the test piece can be reliably recovered until the material test for the set number of test pieces is completed. An object is to provide a material testing machine that can be used.
請求項1に記載の発明は、試験片を試験位置に供給する試験片供給装置と、上つかみ具と下つかみ具とに両端を把持させた試験片に負荷を与える負荷機構と、試験後の試験片を回収する試験片回収装置とを備えた材料試験機において、前記試験片回収装置は、前記下つかみ具に把持されている試験後の試験片を把持する第1把持部と、前記第1把持部を支持する第1アームと、前記第1アームを旋回させることにより前記第1把持部が試験片を把持して前記下つかみ具から試験片を回収する回収位置と、前記第1把持部による試験片への把持力を解放して試験片を廃棄する廃棄位置と、の間で前記第1把持部を移動させる第1移動機構と、を有する第1回収手段と、前記第1回収手段の上方に配設され、前記上つかみ具に把持されている試験後の試験片を把持する第2把持部と、前記第2把持部を支持する第2アームと、前記第2アームを旋回および直線移動させることにより前記第2把持部が試験片を把持して前記上つかみ具から試験片を回収する回収位置と、前記第2把持部による試験片への把持力を解放して試験片を廃棄する前記第1回収手段における試験片の廃棄位置とは水平方向において異なる廃棄位置と、の間で前記第2把持部を移動させる第2移動機構と、を有する第2回収手段と、を備えることを特徴とする。 The invention according to claim 1 is a test strip supply device that supplies a test strip to a test position, a load mechanism that applies a load to a test strip that is gripped at both ends by an upper grip and a lower grip, and a post-test In a material testing machine including a test strip recovery apparatus for recovering a test strip, the test strip recovery apparatus includes a first gripping unit that grips a test specimen after a test gripped by the lower gripping tool, and the first gripping unit. A first arm that supports one gripping portion, a collection position at which the first gripping portion grips the test piece by turning the first arm and collects the test piece from the lower gripping tool, and the first gripping And a first moving mechanism for moving the first gripping portion between a disposal position for releasing the gripping force on the test strip by the unit and discarding the test strip, and the first recovery A test arranged above the means and held by the upper grip A second gripping part for gripping the test piece, a second arm for supporting the second gripping part, and turning and linearly moving the second arm to cause the second gripping part to grip the test piece and The collection position for collecting the test piece from the upper gripping tool and the disposal position of the test piece in the first collecting means for releasing the gripping force on the test piece by the second gripping portion and discarding the test piece are in the horizontal direction. And a second collection mechanism having a second moving mechanism for moving the second gripping portion between different disposal positions.
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、前記第1移動機構は、回転軸により前記第1アームを軸支する第1回転モータであり、前記第2移動機構は、回転軸により前記第2アームを軸支する第2回転モータと、該第2回転モータに連結されたスライド機構とから成る。
The invention according to
請求項3に記載の発明は、請求項2に記載の発明において、前記第2移動機構は、前記第2把持部を、前記第2アームを軸支する第2回転モータを駆動して試験片を廃棄する廃棄位置の上方に配置された前記第1把持部の鉛直上方に移動させた後に、前記第2回転モータに連結されたスライド機構の駆動により、前記第2把持部を前記第1回収手段における試験片の廃棄位置の鉛直上方とは水平方向に異なる廃棄位置に移動させる。 According to a third aspect of the present invention, in the second aspect of the invention, the second moving mechanism drives the second gripping portion and a second rotary motor that pivotally supports the second arm to test specimens. The first gripping portion disposed above the disposal position for discarding the first gripping portion, and then moving the first gripping portion by driving a slide mechanism coupled to the second rotary motor. The test piece is moved to a different disposal position in the horizontal direction from the vertically upper position of the disposal position of the test piece.
請求項4に記載の発明は、請求項3に記載の発明において、前記第2回収手段は、前記第1アームまたは前記第1把持部の上面を払拭する払拭部材を備える。 According to a fourth aspect of the present invention, in the third aspect of the invention, the second recovery means includes a wiping member that wipes the upper surface of the first arm or the first gripping portion.
請求項1に記載の発明によれば、第2回収手段は、上つかみ具から試験後の試験片を回収する第2回収手段における試験片の廃棄位置が、第1回収手段における試験片の廃棄位置とは鉛直方向において異なる位置となるように、第2把持部を移動させる第2移動機構を有することから、廃棄された試験片が、回収箱の中で一山に積み上がることにより回収動作の障害となることがなく、多量の試験片について材料試験を行う際に、設定した数の試験片に対する材料試験が終了するまで、試験片の回収動作を確実に行うことができる。 According to the first aspect of the present invention, the second collection means has a test piece discard position in the second collection means for collecting the test piece after the test from the upper gripping tool. Since it has a second moving mechanism that moves the second gripping part so that it is different in the vertical direction from the position, the collected test pieces are collected in one pile in the collection box. When performing a material test on a large number of test pieces, the test piece can be reliably recovered until the material test for the set number of test pieces is completed.
請求項2および請求項3に記載の発明によれば、第2移動機構は、第2回転モータとスライド機構とにより構成されることから、簡易な構成でありながら、第2把持部を第1回収手段における試験片の廃棄位置の鉛直上方とは異なる廃棄位置に移動させることが可能となる。 According to the second and third aspects of the invention, since the second moving mechanism is configured by the second rotary motor and the slide mechanism, the second gripping portion is the first while the configuration is simple. It is possible to move the test piece to a different disposal position from a position vertically above the disposal position of the test piece.
請求項4に記載の発明によれば、第2回収手段は、第1アームまたは第1把持部の上面を払拭する払拭部材を備えることから、第2回収手段により上つかみ具から回収されるべき試験片が第1回収手段における第1アームや第1把持部に引っかかっても、払拭部材により払拭して取り除くことが可能となる。 According to the invention described in claim 4, since the second recovery means includes the wiping member for wiping the upper surface of the first arm or the first grip portion, the second recovery means should be recovered from the upper gripping tool. Even if the test piece is caught by the first arm or the first gripping portion of the first recovery means, it can be removed by wiping with the wiping member.
以下、この発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図1は、この発明に係る材料試験機の正面概要図である。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic front view of a material testing machine according to the present invention.
この材料試験機は、試験機本体1と試験片供給装置2および試験片回収装置50から構成され、試験片供給装置2に収容されたプラスチックなどの複数の試験片TPを、1片ずつ試験機本体1に配置し、試験後の試験片を回収箱21に廃棄するまでを、機械動作により自動的に行うものである。
This material testing machine includes a testing machine main body 1, a test
試験機本体1の基台18には、一対のフレーム12が立設されており、フレーム12内には、図示しない駆動機構により同期して回転する一対のねじ棹が配設されている。ねじ棹にはクロスヘッド11に内設されたナットが螺合しており、ねじ棹の回転によりクロスヘッド11は昇降する。このクロスヘッド11の昇降動作は、試験機本体1に接続された制御回路17により制御される。
A pair of
この試験機本体1においては、クロスヘッド11に試験力を検出するロードセル16を介して上つかみ具14が連結され、基台18に下つかみ具15が配設されており、上つかみ具14と下つかみ具15とにより両端を把持した試験片TPに対して、クロスヘッド11を上昇させることにより、引張試験を行う構成となっている。
In this testing machine main body 1, an
試験片供給装置2は、試験に供する複数の試験片TPを収容するとともに、試験片TPを1片ずつ、例えば、試験片TPを吸着パッドにより吸着保持する搬送ロボットなどの搬送機構(図示せず)により、試験機本体1の上つかみ具14および下つかみ具15による試験片TPの把持位置へと搬送する。
The test
試験片TPが上つかみ具14および下つかみ具15により把持されると、試験機本体1においては、制御回路17の制御によりクロスヘッド11が上昇し、試験片TPに引張負荷が加えられる。その時の試験力は、クロスヘッド11に配設されたロードセル16により検出され、その検出信号は、制御回路17に送られる。
When the test piece TP is gripped by the
試験片TPが破断すると、制御回路17の制御によりクロスヘッド11の上昇が停止し、引張試験は終了する。しかる後、上つかみ具14および下つかみ具15に把持されたままとなっている破断した試験後の試験片TPは、試験片回収装置50により回収され、回収箱21に廃棄される。
When the test piece TP is broken, the control of the
試験片回収装置50は、図1に示す試験機本体1の背面側に配設されており、下つかみ具15に把持された試験片TPを回収するための第1回収部51と、上つかみ具14に把持された試験片TPを回収するための第2回収部61とを備える。
The test
図2は、試験片回収装置50の要部を示す概要図であり、図3は、その側面概要図である。なお、図2は、図1の試験機本体1の背面側から、試験片回収装置50を見た図である。そして、図2および図3では、後述する第1回収部51における第1把持部57と第2回収部61における第2把持部67とが、それぞれ、下つかみ具15、上つかみ具14に把持された試験後の試験片TPを第1把持部57および第2把持部67に把持させて回収する回収位置に配置されている状態を示している。
FIG. 2 is a schematic diagram showing a main part of the test
第1回収部51は、支持部材52、53を介して、基台18に接続されている。また、第1回収部51は、下つかみ具15に把持されている試験片TPを把持して回収するための第1把持部57と、第1把持部57を支持する第1アーム56と、第1アーム56を旋回させる第1移動機構としての第1回転モータ54を備える。第1把持部57は、第1アーム56の先端部に配設され、第1把持部57に内設されたエアシリンダにより開閉可能な一対のフィンガー58を有する。
The
第1アーム56の第1把持部57が配設されている側とは逆側の端部は、第1回転モータ54の回転軸55に固定されている。これにより、第1アーム56は、第1回転モータ54の回転により旋回し、試験片TPを把持した第1把持部57を、回収箱21の上方である試験片TPの廃棄位置まで移動させる。
The end of the
第2回収部61は、支持部材62を介して、フレーム12に接続されている。支持部材62は、クロスヘッド11の昇降により上つかみ具14による試験片TPの把持位置が移動するのに合わせて、第2回収部61を移動させる昇降移動機構(図示せず)を備えている。また、第2回収部61は、上つかみ具14に把持されている試験片TPを把持して回収するための第2把持部67と、第2把持部67を支持する第2アーム66と、第2アーム66を旋回させる第2回転モータ64と、これらを直線的に移動させるスライド機構70を備える。
The
第2把持部67は、第2アーム66の先端部に配設され、第2把持部67に内設されたエアシリンダにより開閉可能な一対のフィンガー68を有する。第2アーム66の第2把持部67が配設されている側とは逆側の端部は、第2回転モータ64の回転軸65に固定されている。これにより、第2アーム66は、第2回転モータ64の回転により旋回し、試験片TPを把持した第2把持部67を、第1アーム56の旋回により試験片TPの廃棄位置まで移動した第1把持部57の鉛直上方に移動させる。
The
スライド機構70は、2本のレールが配設された可動部72と、レールと係合するブロックが配設された係合部71とを有する。可動部72は、第2回転モータ64に連結部材73を介して連結されており、係合部71は、支持部材62に連結されている。そして、可動部72は、図示を省略したエアシリンダ等の駆動により、図1および図2における紙面に垂直な方向であって、図3における紙面左右方向に移動可能に構成されている。これにより、第2把持部67は、試験片TPを把持した状態で、第2回転モータ64の回転により旋回するとともに、スライド機構70により直線移動する。なお、第2回転モータ64とスライド機構70は、この発明の第2移動機構を構成する。
The
次に、以上のように構成された材料試験機において、試験終了後の試験片TPの回収動作について説明する。図4は、第2回収部61により上つかみ具14から試験片TPを回収する様子を模式的に示す説明図である。図4(a)は、試験片回収動作が実行される前の状態、図4(b)は、試験片TPの回収動作が実行され、第2アーム66を旋回させて、一対のフィンガー68により試験片TPが把持される回収位置に移動した状態、図4(c)は、回収位置から第2アーム66を旋回させて、上つかみ具14から試験片TPを取り出した状態、図4(d)は、第2アーム66等を直線移動させた状態を図示している。なお、図4は、上つかみ具14および第2回収部61を、底面側から見た図である。また、図5は、第1回収部51および第2回収部61による試験片TPの廃棄動作を示す側面概要図である。
Next, the recovery operation of the test piece TP after the end of the test in the material testing machine configured as described above will be described. FIG. 4 is an explanatory view schematically showing how the
引張試験終了後の試験片TPは、その中央部で引きちぎられた破断片となり、上つかみ具14と下つかみ具15のそれぞれに把持されている。まず、第2回収部61においては、第2回転モータ64の駆動により回転軸65を回転させ、図4(a)に示す位置から図(b)に示す位置に第2アーム66を旋回させる。これにより、開いた状態の一対のフィンガー68を、その間に上つかみ具14に把持されている試験片TPが配置される位置に移動させる。図4(b)に示す状態で、エアシリンダにより一対のフィンガー68を閉じて試験片TPを一対のフィンガー68により挟み、上つかみ具14による試験片TPの把持を解除する。しかる後、図4(c)に示すように、一対のフィンガー68によって試験片TPが挟まれている状態で、第2アーム66を旋回させる。これにより、試験片TPが上つかみ具14から取り外される。この時、試験片TPは、図5に示す、第1回収部51における廃棄位置の鉛直上方の位置に配置される。
The test piece TP after the end of the tensile test becomes a broken piece torn at the center thereof, and is held by each of the upper gripping
第2アーム66の旋回の後に、さらに、図4(d)および図5に二点鎖線の仮想線で示す位置まで、上述したスライド機構70により第2アーム66を直線移動させ、一対のフィンガー68およびこれに把持された試験片TPを、第2回収部61における試験片TPの廃棄位置にまで移動させる。そして、一対のフィンガー68による上つかみ具14から取り外した試験片TPへの把持力を解放することにより、試験片TPを回収箱21に投下し、上つかみ具14からの試験片TPの回収が完了する。
After the turning of the
すなわち、スライド機構70は、第2アーム66を旋回させて第1回収部51における試験片の廃棄位置の鉛直上方に移動させた第2把持部67を、さらに、第1回収部51における試験片TPの廃棄位置の鉛直上方とは水平方向に異なる位置にまで直線移動させる。この第1回収部51における試験片TPの廃棄位置の鉛直上方とは水平方向に異なる位置は、第2回収部61における、回収箱21の上方の試験片TPの廃棄位置である。
That is, the
一方で、第1回収部51による下つかみ具15からの試験片TPの回収は、図4(a)から(c)を参照して説明した第2回収部61の動作と同様の動作により行われる。なお、第1回収部51においては、図4(c)に示す位置に一対のフィンガー58が移動した時に、この一対のフィンガー58による下つかみ具15から回収した試験片TPへの把持力を解放する。これにより、試験片TPを回収箱21に投下し、下つかみ具15からの試験片TPの回収が完了する。
On the other hand, the recovery of the test piece TP from the lower
この実施形態においては、第1回収部51における第1アーム56、第1回転モータ54、第1把持部57のぞれぞれは、第2回収部61における第2アーム66、第2回転モータ64、第2把持部67のそれぞれと同形の部材から構成されている。また、第1回収部51と第2回収部61とは、第1回転モータ54の回転軸55と第2回転モータ64の回転軸65の中心線が一致するように上下に配置され、第1アーム56と第2アーム66の旋回角度は同じ角度である。このため、第1アーム56と第2アーム66を、図4(b)に示す試験片TPの回収位置から、図4(c)に示す位置に旋回させると、図5に示すように、第1把持部57は、試験片TPへの把持力を解放する廃棄位置に移動し、第2把持部67は、第1把持部57の鉛直上方に移動する。第2回収部61においては、さらにスライド機構70により、可動部72に連結された第2回転モータ64、第2アーム66および第2把持部67を一体的に直線移動させる。これにより、第2把持部67を、第1回収部51における試験片TPの廃棄位置とは水平方向において異なる廃棄位置に移動させている。
In this embodiment, the
図5に示すように、回収箱21において第1回収部51により回収された試験片TPが落下する位置と、第2回収部61により回収された試験片TPが落下する位置とは異なることになり、試験片TPが、回収箱21の中で一つの山に積み重なることはない。したがって、予め設定しておいた数の試験片TPへの引張試験が終了する前に、回収箱21より高い位置に積み上がった試験後の試験片TPにより、第1アーム56の旋回動作が妨げられことはなく、設定した数の試験片に対する試験が終了するまで、試験片TPの回収動作を確実に続行することができる。
As shown in FIG. 5, the position where the test piece TP collected by the
次に、この発明の他の実施形態について説明する。図6は、他の実施形態に係る第1回収部51および第2回収部61による試験片TPの廃棄動作を示す側面概要図である。なお、上述した実施形態と同一の部材については、同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
Next, another embodiment of the present invention will be described. FIG. 6 is a schematic side view showing a test strip TP discarding operation by the
この実施形態においては、第2回収部61において、払拭部材69をさらに備える。この払拭部材69は、第1アーム56や第1把持部57の上面に引っかかり、第1把持部57による試験片TPへの把持力が解放されているにもかかわらず回収箱21の中に落下しなかった試験片TPを掃き落とすためのものである。
In this embodiment, the
払拭部材69は、図6に示すように、第2アーム66に配設され、先端が第1アーム56および第1把持部57の上面に達する箒様部材である。この払拭部材69は、第1回転モータ54および第2回転モータ64の駆動により、図6に実線で示す位置に、第1把持部57および第2把持部67が配置された後に、第2回収部61におけるスライド機構70により、可動部72、第2回転モータ64、第2アーム66および第2把持部67が、図6に2点鎖線で示す位置に直線移動するときに、第1アーム56および第1把持部57の上面を払拭する。
As shown in FIG. 6, the wiping
なお、払拭部材69の配設位置は、図6に示す態様に限定されるものではなく、第2回転モータ64の回転軸65や第2把持部67に配設してもよい。試験片TPの材質によっては、引張試験により試験片TPが伸びてしまい、破断片の伸びた部分が重力によって下方に垂れ下がる。このため、一対のフィンガー58を開いて第1把持部57による試験片TPへの把持力を解放しても、伸びた試験片TPがフィンガー58に引っかかり、回収箱21に落下しないことがある。このような場合には、払拭部材69を第2把持部67のフィンガー68の突出面に配設することにより、一対のフィンガー58に引っかかった試験片TPをより確実に掃き落とすことができる。
The disposition position of the wiping
1 試験機本体
2 試験片供給装置
11 クロスヘッド
12 フレーム
14 上つかみ具
15 下つかみ具
16 ロードセル
17 制御回路
18 基台
50 試験片回収装置
51 第1回収部
52 支持部材
53 支持部材
54 第1回転モータ
55 回転軸
56 第1アーム
57 第1把持部
58 フィンガー
61 第2回収部
62 支持部材
64 第2回転モータ
65 回転軸
66 第2アーム
67 第2把持部
68 フィンガー
69 払拭部材
71 係合部
72 可動部
73 連結部
TP 試験片
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Test machine
Claims (4)
前記試験片回収装置は、
前記下つかみ具に把持されている試験後の試験片を把持する第1把持部と、
前記第1把持部を支持する第1アームと、
前記第1アームを旋回させることにより前記第1把持部が試験片を把持して前記下つかみ具から試験片を回収する回収位置と、前記第1把持部による試験片への把持力を解放して試験片を廃棄する廃棄位置と、の間で前記第1把持部を移動させる第1移動機構と、
を有する第1回収手段と、
前記第1回収手段の上方に配設され、前記上つかみ具に把持されている試験後の試験片を把持する第2把持部と、
前記第2把持部を支持する第2アームと、
前記第2アームを旋回および直線移動させることにより前記第2把持部が試験片を把持して前記上つかみ具から試験片を回収する回収位置と、前記第2把持部による試験片への把持力を解放して試験片を廃棄する前記第1回収手段における試験片の廃棄位置とは水平方向において異なる廃棄位置と、の間で前記第2把持部を移動させる第2移動機構と、
を有する第2回収手段と、
を備えることを特徴とする材料試験機。 A test strip supply device for supplying a test strip to a test position, a load mechanism for applying a load to the test strip gripped at both ends by the upper gripper and the lower gripper, and a test strip recovery device for recovering the test strip after the test In a material testing machine equipped with
The test piece collecting apparatus is
A first gripping part for gripping a test piece after the test gripped by the lower gripping tool;
A first arm that supports the first gripping portion;
By rotating the first arm, the first gripping portion grips the test piece and collects the test piece from the lower gripping tool, and the gripping force to the test piece by the first gripping portion is released. A first moving mechanism for moving the first gripping portion between a disposal position for discarding the test piece,
First recovery means having
A second gripping part that is disposed above the first recovery means and grips the test specimen after the test gripped by the upper gripping tool;
A second arm that supports the second gripping portion;
The collection position at which the second gripping part grips the test piece and collects the test piece from the upper gripping tool by turning and linearly moving the second arm, and the gripping force on the test piece by the second gripping part A second moving mechanism for moving the second gripping portion between a disposal position different in the horizontal direction from the disposal position of the test piece in the first recovery means for releasing the test piece and disposing the test piece,
A second recovery means having
A material testing machine comprising:
前記第1移動機構は、回転軸により前記第1アームを軸支する第1回転モータであり、
前記第2移動機構は、回転軸により前記第2アームを軸支する第2回転モータと、該第2回転モータに連結されたスライド機構とから成る材料試験機。 The material testing machine according to claim 1,
The first moving mechanism is a first rotating motor that pivotally supports the first arm by a rotating shaft;
The second moving mechanism is a material testing machine including a second rotating motor that pivotally supports the second arm by a rotating shaft, and a slide mechanism connected to the second rotating motor.
前記第2移動機構は、前記第2把持部を、前記第2アームを軸支する第2回転モータを駆動して試験片を廃棄する廃棄位置の上方に配置された前記第1把持部の鉛直上方に移動させた後に、前記第2回転モータに連結されたスライド機構の駆動により、前記第2把持部を前記第1回収手段における試験片の廃棄位置の鉛直上方とは水平方向に異なる廃棄位置に移動させる材料試験機。 The material testing machine according to claim 2,
The second moving mechanism drives the second rotary motor that supports the second arm to drive the second rotary motor and discards the test piece. After moving upward, the second gripping portion is moved in the horizontal direction different from the vertical upper position of the test piece discarding position in the first recovery means by driving the slide mechanism connected to the second rotary motor. To move the material testing machine.
前記第2回収手段は、前記第1アームまたは前記第1把持部の上面を払拭する払拭部材を備える材料試験機。 The material testing machine according to claim 3,
The second tester is a material testing machine including a wiping member that wipes the upper surface of the first arm or the first gripping portion.
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